KR970012763A - 스태틱형 랜덤 억세스 메모리 - Google Patents

스태틱형 랜덤 억세스 메모리 Download PDF

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니시무로 다이조
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Abstract

레이트 라이트 방식을 이용하여 기록에 필요한 총시간을 축소하고, 라이트 마진을 증대시켜 기록 및 판독 동작 시간에 낭비를 없앤다.
디코더 내의 어드레스 레지스터(101)와는 달리 라이트 어드레스를 보유하는 어드레스 레지스터(110)을 가지고 있다. 레지스터(101)에 보유되어 있는 어드레스와, 레지스터(110)에 보유되어 있는 어드레스 중 어느 것을 선택할 것인가는 패스 게이트(3)에 의해 제어된다. 판독 사이클과 기록 사이클의 전환에 있어서 기록 사이클에서 판독 사이클로 되는 때는 판독 어드레스를 고속으로 디코드하도록 판독 사이클로부터 기록 사이클로 되는 때는 기록 어드레스의 디코드에 지연 시간을 경과하도록, 패스 게이트(3 및 10)에 의해 디코드 경로의 성립을 제어한다.

Description

스태틱형 랜덤 억세스 메모리
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 실시예를 도시한 레이트 라이트 방식의 동기형 SRAM 의 요구 구성의 회로도.

Claims (6)

  1. 클럭 신호에 동기하여 억세스 동작을 행하고 기록 어드레스를 확정시킨 다음의 기록 사이클에서 데이타를 기록하는 레이트 라이트 방식을 갖는 스태틱형 랜덤 억세스 메모리(SRAM)에 있어서, 클럭 신호에 동기하여 어드레스 신호를 읽어 들여 보유 출력하는 제1의 어드레스 보유 회로와; 상기 제1의 어드레스 보유 회로에 보유된 어드레스 신호중 기록 어드레스 신호를 상기 클럭 신호에 동기하여 읽어 들여 보유 출력하는 제2의 어드레스 보유 회로와; 상기 제1의 어드레스 보유 회로에 보유된 어드레스 신호와 상기 제2의 어드레스 보유 회로에 보유된 어드레스 신호의 어느 일방을 선택하는 제1의 전환 수단; 및 판독 사이클과 기록 사이클의 전환에서 기록 사이클에서 판독 사이클로 될 때는 판독 어드레스를 고속으로 디코드하도록 상기 제1의 전환 회로의 제어와 함께 성립하는 제1경로와, 판독 사이클에서 기록 사이클로 될 때는 기록 어드레스의 디코드에 지연시간이 경과하도록 상기 제1의 전환 회로의 제어와 함께 성립하는 제2경로를 설치하고, 이들 제1 및 제2의 경로의 성립을 제어하는 제2의 전환 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 스태틱형 램던 억세스 메모리.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1의 전환 수단은 상기 스태틱형 랜덤 억세스 메모리에서의 외부로부터 인가되는 칩 셀렉트 신호와 라이트 인에이블 신호를 칩 내부에서 합성시킨 신호에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 스태틱형 랜덤 억세스 메모리.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제1의 전환 수단은 외부로부터 인가되는 데이타 출력 콘트롤 신호와 라이트 인에이블 신호를 칩 내부에서 합성시킨 신호인 것을 특징으로 하는 스태틱형 랜덤 억세스 메모리.
  4. 제1항에 있어서,상기 제2의 전환은 판독 사이클에서 기록 사이클로 될 때, 그 전의 기록 사이클에서의 최후의 기록 데이타를 금번의 기록 사이클의 가장 처음의 사이클에서 기록하기 위한 제3경로가 상기 제2경로로서 포함되는 것을 특징으로 하는 스태틱형 랜덤 억세스 메모리.
  5. 클럭 신호에 동기하여 억세스 동작을 행하고 기록 어드레스를 확정시킨 다음의 기록 사이클에서 데이타를 기록하는 레이트 라이트 방식을 갖는 스태틱형 랜덤 억세스 메모리(SRAM)에 있어서, 제1어드레스에 대응하는 메모리 셀과; 판독시에서의 판독 어드레스가 상기 제1어드레스일 때 상기 메모리 셀로의 억세스에 관련한 제1디코드 경로; 및 기록시에서의 기록 어드레스가 상기 제1어드레스일 때 상기 메모리 셀로의 억세스에 관련한 상기 제1의 디코드 경로와는 다른 제2의 디코드 경로를 구비하되, 적어도 제2의 디코드 경로는 제1의 디코드 경로에 비해 지연 수단이 부가되어 있는 것을 특징으로 하는 스태틱형 랜덤 억세스 메모리.
  6. 제5항에 있어서, 상기 제2의 디코드 경로는 이미 1개 전의 기록 사이클에서 확정한 어드레스에 따라 활성화되어 있는 상기 메모리 셀에 연결되는 워드 선의 선택 유지를 소정 시간만큼 상기 제1의 디코드 경로에 의한 판독시의 고속 억세스 동작을 방해하는 일없이 설치되도록 조정되는 것을 특징으로 하는 스태틱형 랜덤 억세스 메모리.
    ※참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960036712A 1995-08-31 1996-08-30 스태틱형 랜덤 억세스 메모리 KR100209542B1 (ko)

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US6687185B1 (en) * 2002-08-29 2004-02-03 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for setting and compensating read latency in a high speed DRAM
JP4808070B2 (ja) * 2006-05-18 2011-11-02 富士通セミコンダクター株式会社 半導体メモリおよび半導体メモリの動作方法
US9171600B2 (en) * 2013-09-04 2015-10-27 Naoki Shimizu Semiconductor memory device

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