KR970008544A - 리드가 분리된 노운 굳 다이 검사용 리드프레임 - Google Patents

리드가 분리된 노운 굳 다이 검사용 리드프레임 Download PDF

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Abstract

본 발명은 노운 굳 다이(known good die) 검사용 리드프레임에 관한 것으로, 리드프레임의 내부리드들을 복수개 분리하고, 그 분리된 내부리드들의 전기적 연결될 부분의 전ㆍ후(前後)면에 도금막을 형성하여, 그 리드프레임의 한쪽면을 복수회 사용하고, 다시 그 이면을 복수회 사용할 수 있기 때문에 저가(低價)ㆍ대량생산을 목적으로 하는 노운 굳 다이의 생산 목적에 부합할 수 있는 것을 특징으로 한다.

Description

리드가 분리된 노운 굳 다이 검사용 리드프레임
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 의한 노운 굳 다이 검사용 리드프레임이 연배열된 인쇄회로기판의 평면도.

Claims (5)

  1. 노운 굳 다이(kniwn good die) 검사용 리드프레임(이하 “리드프레임”이라 한다)에 있어서, 상기 리드프레임을 복수회 사용하기 위해 그 리드프레임의 내부리드 선단이 적어도 2이상 분리되며, 그 분리된 각각의 내부리드의 폭이 그 내부리드들의 분리되지 않은 부분의 폭에 대하여 적어도 크지 않은 것을 특징으로 하는 리드가 분리된 노운 굳 다이 검사용 리드프레임.
  2. 제1항에 있어서, 상기 내부리드들의 전기적 연결되는 부분 및 그 이면에 적어도 한면에 전기적 연결을 양호하게 하는 도금막이 형성된 것을 특징으로 하는 리드가 분리된 노운 굳 다이 검사용 리드프레임.
  3. 제2항에 있어서, 상기 도금막이 은(Ag) 도금막인 것을 특징으로 하는 리드가 분리된 노운 굳 다이 검사용 리드프레임.
  4. 제1항에 있어서, 상기 분리된 각각의 내부리드들간의 간격이 적어도 그 분리된 각각의 내부리드들간의 전기적 접촉이 되지 않도록 각각 이격된 것을 특징으로 하는 리드가 분리된 노운 굳 다이 검사용 리드프레임.
  5. 제1항에 있어서, 상기 내부리드들 및 상기 분리된 내부리드들 중의 어느 하나의 사이의 전기적 접촉 및 위치 변형 중의 어느 하나를 방지하기 위한 타이바 (tie-bar)가 소정의 위치에 형성된 것을 특징으로 하는 리드가 분리된 노운 굳 다이 검사용 리드프레임.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100725175B1 (ko) * 2004-08-05 2007-06-07 옵티멈 케어 인터내셔널 테크 인코포레이티드 칩 리드프레임 모듈
CN103077913A (zh) * 2013-01-22 2013-05-01 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 一种裸芯片老炼用引出装置及老炼方法

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CN103077913A (zh) * 2013-01-22 2013-05-01 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 一种裸芯片老炼用引出装置及老炼方法

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