KR960005623A - 데이터메모리소자의 자기진단방법 - Google Patents
데이터메모리소자의 자기진단방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 데이터메모리소자의 자기진단방법에 관한 것으로, 버스레지스터(10)을 매개하여 수취한 어드레스 및 데이터를 제어레지스터(12)에서 디코딩하여 시프트레지스터(14)를 매개하여 데이터의 기록 또는 독출이 수행되는 데이터메모리소자에서 상기 제어레지스터(12)의 제어하에 상기 데이터메모리소자(16)에 대한 데이터저장위치를 지정하기 위한 어드레스와 데이터를 해당 데이터메모리소자(14)의 진단어드레스와 진단데이터로 설정하고, 그 진단어드레스에 대응하는 진단데이터를 상기 데이터메모리소자(16)에 저장한 다음 테스트레이터로서 재독취하여 상기 진단데이터와 비교함으로써 상기 데이터메모리소자(16)의 정상여부를 진단하게 되고, 상기 진단데이터와 상기 테스트데이터의 비교는 비교수단(10)에 의해 비트단위로 행해지며, 상기 데이터메모리소자(16)의 정상여부에 대한 판단결과는 확인을 위해 가시적인 표시가 이루어지도록 한 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 데이터메모리소자의 자기진단방법을 구현하는 장치의 구성예를 설명하는 도면,
제3도는 본 발명에 따른 데이터메모리소자의 자기진단방법을 설명하는 플로우챠드이다.
Claims (5)
- 버스레지스터(10)을 매개하여 수취한 어드레스 및 데이터를 제어레지스터(12)에서 디코딩하여 시프트레지스터(14)를 매개하여 데이터의 기록 또는 독출이 수행되는 데이터메모리소자에 있어서, 상기 제어레지스터(12)의 제어하에 상기 데이터메모리소자(16)에 대한 데이터저장위치를 지정하기 위한 어드레스와 데이터를 해당 데이터메모리소자(14)의 진단어드레스와 진단데이터로 설정하고, 그 진단어드레스에 대응하는 진단데이터를 상기 데이터메모리소자(16)에 저장한 다음 테스트레이터로서 재독취하여 상기 진단데이터와 비교함으로써 상기 데이터메모리소자(16)의 정상여부를 진단하도록 된 것을 특징으로 하는 데이터메모리소자의 자기진단방법.
- 제1항에 있어서, 상기 진단어드레스와 진단데이터는 그 진단어드레스와 진단데이터저장영역(18a,18b)이 확보된 추가적인 메모리소자(18)에 일시저장된 다음 상기 제어레지스터(12)의 제어하에 상기 진단데이터가 상기 데이터메모리소자(16)의 진단어드레스에 기록되어 테스트데이터로서 독취하고, 그 테스트데이터가 상기 진단데이터와 상호 비교되어 데이터메모리소자의 정상여부가 확인되도록 한 것을 특징으로 하는 데이터메모리소자의 자기진단방법.
- 제2항에 있어서, 상기 진단데이터와 상기 테스트데이터의 비교는 비교수단(20)에 의해 행해지는 것을 특징으로 하는 데이터메모리소자의 자기진단방법.
- 제3항에 있어서, 상기 비교수단(20)은 상기 진단데이터와 테스트데이터를 비트단위로 비교하는 것을 특징으로 하는 데이터메모리소자의 자기진단방법.
- 제1항 내지 제4항에 있어서, 상기 데이터메모리소자(16)의 정상여부에 대한 판단결과는 확인을 위해 가시적인 표시가 이루어지는 것을 특징으로 하는 데이터메모리소자의 자기진단방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940016407A KR960005623A (ko) | 1994-07-08 | 1994-07-08 | 데이터메모리소자의 자기진단방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940016407A KR960005623A (ko) | 1994-07-08 | 1994-07-08 | 데이터메모리소자의 자기진단방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960005623A true KR960005623A (ko) | 1996-02-23 |
Family
ID=66689364
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940016407A KR960005623A (ko) | 1994-07-08 | 1994-07-08 | 데이터메모리소자의 자기진단방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR960005623A (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020061193A (ko) * | 2001-01-15 | 2002-07-24 | (주)실리콘세븐 | 불량 메모리 블락을 리페어하는 반도체 메모리 장치의자동 리페어 방법 |
KR100421955B1 (ko) * | 2001-08-31 | 2004-03-11 | 엘지전자 주식회사 | 램테스팅 장치 |
KR100422946B1 (ko) * | 2001-06-29 | 2004-03-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 에러 검출기능을 갖는 롬 및 그것의 데이터 전달방법 |
-
1994
- 1994-07-08 KR KR1019940016407A patent/KR960005623A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020061193A (ko) * | 2001-01-15 | 2002-07-24 | (주)실리콘세븐 | 불량 메모리 블락을 리페어하는 반도체 메모리 장치의자동 리페어 방법 |
KR100422946B1 (ko) * | 2001-06-29 | 2004-03-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 에러 검출기능을 갖는 롬 및 그것의 데이터 전달방법 |
KR100421955B1 (ko) * | 2001-08-31 | 2004-03-11 | 엘지전자 주식회사 | 램테스팅 장치 |
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