KR930018591A - 투과성 메모리소자의 결함차폐장치 - Google Patents

Abstract

외부에서 메모리소자의 결함을 차폐해서 결함을 가진 메모리소자가 정상적인 메모리소자와 동일한 역할을 할수 있도록 한 메모리소자의 결함차폐장치를 제공코져 하는 것이다.

메모리소자 외부에 설치시킨 것으로서, 그의 내부에 복수개의 회로 유니트를 구비하고, 각 회로유니트에 각각 어드레스 저장장치와 데이타 저장장치가 설치되고, 그 어드레스 저장장치에 의해 메모리소자에 결함 어드레스가 있는지 여부를 탐지하여, 그 메모리소자의 동작을 제어할 것인가의 여부와 데이타 저장장치의 작동을 결정하고, 상기 어드레스 저장장치와 메모리소자의 읽기/쓰기 신호의 제어에 의하여, 그 데이타 저장장치가 메모리소자의 동작을 수행하여, 그 메모리소자의 결함 어드레스를 차폐하고 그의 기능을 대행할 수 있도록 한 것이다.

Description

투과성 메모리소자의 결함차폐장치

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제1도는 본 발명의 결함차폐장치의 응용회로도이다, 제2도는 본 발명의 결함차폐장치의 내부 구성표시도이다.

Claims (5)

1. 메모리소자 외부의 부가장치로서, 그 내부에 복수개의 회로 유니트(unit),를 구비하고, 그들 회로 유니트에 각각 어드레스 저장 장치와 데이타 저장장치가 설치되고, 그 어드레스 저장장치에 의해 메모리소자에 결함된 어드레스가 있는지를 탐지하여, 그 메모리소자의 동작을 제어할 것인지의 여부 및 데이타 저장장치의 작동을 결정하고, 상기 어드레스 저장장치와 메모리소자의 읽기/쓰기 신호의 제어에 의해 그 데이타 저장장치가 그 메모리소자의 동작을 대행하여, 메모리 소자의 결함된 어드레스를 차폐함과 아울러 그의 기능을 대행할 수 있도록 한 투과성 메모리소자의 결함차폐장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 각 어드레스 저장장치는, 각각 상기 메모리소자내의 결함된 어드레스를 기록하는 메모리장치 세트와, 그 메모리소자의 작동 어드레스를 잠시 저장하는 래치세트와, 그 래치세트내에 잠시 저장된 어드레스와 상기 메모리 세트에 저장된 메모리소자내의 결함 어드레스를 비교하여 양자가 일치되었을때 "비교일치"의 신호를 발생하는 비교기를 구비해서 이루어지고, 그들 어드레스 저장장치에 생긴 "비교일치"신호를 오아(OR)또는 기타의 방식으로 연접하여, 최정적으러 "일치"신호를 출력하도록 이루어진 투과성 메모리소자의 결함 차폐장치.
3. 제1항에 있어서, 상기 데이타 저장장치는, 1비트 이상의 메모리 소자를 설치하되, 그 메모리소자 기술은 에스램(SRAM)이나 이이피롬(EEPROM)으로 형성해서 이루어진 투과성 메모리소자의 결함차폐장치.
4. 제2항에 있어서, 상기 "일치"신호에 의해 상기 메모리소자의 신호버스의 작동을 제어하여, 만약 그 메모리 소자가 기동이나 그에 상당하는 제어신호를 출력하고 있지 않을때에는, 그 "일치"신호는 필히 "쓰기"의 출력가능 신호를 그 메모리소자에 보내도록 하고, 만약, 메모리소자에 출력기동신호가 존재하고 있을 때에는, 그 "일치"신호를 필히 그 메모리소자가 데이타신호를 출력하지 않도록하고, 또한, 그 메모리소자의 출력신호가 하이 임피던스 상태를 이루도록되어 있는 투과성 메모리소자의 결함차폐장치.
5. 제1항에 있어서, 상기 메모리소자는, 전연상기억소자(Full Associate Memory) 또는 N-Way Set 연상기억소자의 구성으로 되어있는 투과성 메모리소자의 결함차폐장치.

   ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.