KR930017662A - 넒은 비임 선속밀도 제어장치 및 방법 - Google Patents

넒은 비임 선속밀도 제어장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR930017662A
KR930017662A KR1019930001829A KR930001829A KR930017662A KR 930017662 A KR930017662 A KR 930017662A KR 1019930001829 A KR1019930001829 A KR 1019930001829A KR 930001829 A KR930001829 A KR 930001829A KR 930017662 A KR930017662 A KR 930017662A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
ion
ions
electrode
extraction
potential
Prior art date
Application number
KR1019930001829A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100251517B1 (ko
Inventor
커비 맥인타이어 쥬니어 에드와드
모오리스 벤베니스테 빅터
흐리니크 왈터
Original Assignee
프랑크 엠 사죠벡
이턴 코오포레이숀
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 프랑크 엠 사죠벡, 이턴 코오포레이숀 filed Critical 프랑크 엠 사죠벡
Publication of KR930017662A publication Critical patent/KR930017662A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100251517B1 publication Critical patent/KR100251517B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/317Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation
    • H01J37/3171Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation for ion implantation
    • H01J37/3172Maskless patterned ion implantation
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K15/00Electron-beam welding or cutting
    • B23K15/02Control circuits therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/08Ion sources; Ion guns

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

이온비임 소오스(10)는 소오스로 부터 양으로 대전된 이온을 추출하는 추출전극(34)부근에 가깝게 위치한 다중구멍(31)을 포함한다.
본 발명을 이용할때, 소오스를 여기시키는 이온들은 실리콘 웨이퍼를 이온비임 처리하는데 이용되는 넓은 비임(14)을 형성하도록 하류에 결합되어 있다.
추출전극에 가깝게 인접한 각각의 전극(40)을 소오스에 인접한 비임부로 부터 추출전극 뒷까지 중성전자를 백스트리밍을 금지하거나 허락하도록 바이어스할 수 있다.
이것은 비임부를 비중화시켜 불안정하게 한다. 비임부내의 양으로 대전된 이온이 비임을 탈출시키기 때문에 불안정한 이온비임의 세기가 감소한다.
절연판(50)은 추출전극에 가깝게 인접한 비임부를 분리하여 비임누출을 방지하고 비임부에 공통인 부가적인 억압 전극(70)이 제어할 수 있게 바이어스되어 비임부 세기 제어를 더 향상시킨다.
보통의 응용에서 비임은 원형비임이고 세기 제어는 비임중심에서 주어진 반경의 공통세기를 보장하도록 유지된다.

Description

넓은 비임 선속밀도 제어장치 및 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 공작물을 처리하는 이온주입장치의 개략도, 제2도는 이온비임 소오스의 부분 단면도, 제3도는 이온세기 제어전극의 어레이를 도시한 제2도에 근접한 제어전극 구조의 평면도.

Claims (10)

  1. (가)다중탈출구멍(32)을 구비한 벽(32)에 의해 형성된 영역내에서 이온의 플라즈마를 생성시키는 단계와, (나)탈출구멍 부근의 추출전극(34)을 바이어스하여 상기 영역내에서 이온을 추출하여 이온을 구멍을 통해 가속시켜 이온비임을 형성하도록 결합된 다중 이온비임부를 형성하는 단계와, (다)다중 억압 전극(40)을 추출전극 바깥측에 위치시키는 단계와, (라)대전입자를 이온비임부에서 추출전극뒤쪽으로 끌어당겨 선택된 비임부를 감쇠시키므로 대전입자를 추출전극에 백스트리밍하게 하는 전기전위로 추출전극을 바이어스하여 이온비임내의 위치기능에 따라 이온비임을 제어하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이온비임을 형성하는 방법.
  2. 제1항에있어서, 다중 억압 전극 하류의 인접비임부를 전기적으로 절연시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이온비임을 형성하는 방법.
  3. 제1항에있어서, 바이어싱 단계는 주기전압을 각각의 억압 전극에 인가하고 대전입자의 백스트리밍을 허락하는 전압과 상기 백스트리밍을 금지하는 전압사이의 주기 전압의 더티사이클을 제어하므로 성취되는 것을 특징으로 하는 이온비임을 형성하는 방법.
  4. (가)제한영역내에서 이온을 발생시키고 이온을 제한공간에 탈출시켜 이온비임부를 형성하는 다중탈출구멍(31)을 지닌 제한공간을 형성하는 벽(31)을 포함하는 이온소오스(10)을 구비하고, 상기 이온비임부는 각각의 비임부보다 큰 비임단면을 구비한 이온비임을 형성하도록 결합되어 있고, (나)이온소오스에서 이온을 끌어당기는 전기전위로 유지된 전도 추출판(34)을 포함하는 추출수단을 포함하고 상기 전도 추출판은 제한영역을 여기시키는 이온을 추출판을 통과시키기 위해 상기 이온소오스의 벽의 다중 탈출구멍과 배열된 다중 추출구멍을 포함하고, (다)전도추출판을 여기시키는 비임부로 부터 전자의 백스트리밍을 금지하는 억압 전극(40)과 억압 전극상의 전위를 각각 제어하므로서 전자 백스트리밍을 제어하므로서 비임단면을 가로지르는 비임세기를 조절하는 바이어싱수단(60)을 포함하는 비임세기 제어수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 장치.
  5. 제4항에 있어서, 억압전극 하류에 있고 전자백스트리밍으로 인한 비중화된 비임부 사이의 전기적 상호작용을 금지하는 비임분리수단(50),(70)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  6. 제5항에 있어서, 비임 분리수단은 (가)전기 전위로 유지된 강철 절연판(50)과(나)제2고정 전기전위에 바이어스된 절연판 하류에 있고 전자를 절연을 통해 이동하는 것을 방지하는 전극(70)을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  7. (가)처리할 웨이퍼면의 영역의 크기의 비임 단면을 지닌 큰 이온비임을 형성하기 위해 결합된 다수의 매우 작은 단면 이온비임을 제공하는 이온소오스수단(10)과, (나)선택된 조그만 단면 이온비임에서 대전된 비임 중화 입자를 끌어내므로서 선택된 조그만 단면 이온비임을 전하를 비중화시키는 다수의 공간을 둔 전극(40)을 포함하는 이온 분배제어수단과, (다)조그만 단면이온 비임 서로를 전기적으로 절연시켜 일반적으로 대전된 중성의 조그만 단면이온 비임과 매우 인접한 비중성의 조그만 단면 이온비임사이의 전기인력을 금지시키는 비임분리수단(50),(70),(72)과, (라)이온 분배제어수단을 떠나는 이온들을 분해하여 이온을 웨이퍼 처리 궤도를 따르게 하는 분해수단(16)과, (마)상기 이온이 분해수단을 탈출한후, 상기 어떤 이온을 잡는 위치에 위치시키는 웨어퍼 처리 장소와, (바)이온 분배제어수단에 결합되어 공간을 둔 전극의 바이어싱 전위를 각각 제어하여 웨이퍼 처리장소에서 웨이퍼면과 충돌하는 이온의 제어된 이온분배를 제공하는 스위칭 수단(62)을 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 비임(14)을 제어된 궤도를 따르게 하여 웨이퍼(22)에 충돌시키는 이온 주입 장치.
  8. 제7항에 있어서, 각각의 제어전위에서 공간을 둔 전극을 전기적으로 바이어싱하는 전원 수단(60)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 주입장치.
  9. 제7항에 있어서, 비임분리수단은 고정된 전기전위로 유지된 채널을 지닌 절연판(50)과, 중성입자가 절연판의 채널이 이동하지 못하게 하는 전위로 바이어스된 절연판의 하류에 위치한 억압전극(70)을 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 주입장치.
  10. 제9항에 있어서, 절연판의 전위로 유지되고 억압전극의 하류에 위치한 부가적인 판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이온 주입장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930001829A 1992-02-18 1993-02-11 광폭 빔 선속밀도 제어장치 및 방법 KR100251517B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US837,277 1992-02-18
US07/837,277 US5218210A (en) 1992-02-18 1992-02-18 Broad beam flux density control

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR930017662A true KR930017662A (ko) 1993-09-20
KR100251517B1 KR100251517B1 (ko) 2000-04-15

Family

ID=25274035

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019930001829A KR100251517B1 (ko) 1992-02-18 1993-02-11 광폭 빔 선속밀도 제어장치 및 방법

Country Status (8)

Country Link
US (1) US5218210A (ko)
EP (1) EP0557067B1 (ko)
JP (1) JPH0652816A (ko)
KR (1) KR100251517B1 (ko)
CA (1) CA2089099C (ko)
DE (1) DE69303299T2 (ko)
SG (1) SG45353A1 (ko)
TW (1) TW218423B (ko)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2722213B1 (fr) * 1994-07-05 1996-09-20 Plasmion Dispositif pour creer un faisceau d'ions d'energie ajustable notamment pour le traitement au defile et sous vide de surfaces de grandes dimensions
US5959396A (en) * 1996-10-29 1999-09-28 Texas Instruments Incorporated High current nova dual slit electrode enchancement
US6534775B1 (en) * 2000-09-01 2003-03-18 Axcelis Technologies, Inc. Electrostatic trap for particles entrained in an ion beam
GB0127251D0 (en) * 2001-11-13 2002-01-02 Nordiko Ltd Apparatus
US7421973B2 (en) * 2003-11-06 2008-09-09 Axcelis Technologies, Inc. System and method for performing SIMOX implants using an ion shower
US7748344B2 (en) * 2003-11-06 2010-07-06 Axcelis Technologies, Inc. Segmented resonant antenna for radio frequency inductively coupled plasmas
US6872953B1 (en) 2004-05-20 2005-03-29 Axcelis Technologies, Inc. Two dimensional stationary beam profile and angular mapping
KR100653999B1 (ko) * 2005-06-29 2006-12-06 주식회사 하이닉스반도체 와이드빔을 이용한 불균일 이온주입장치 및 이온주입방법
US7446326B2 (en) * 2005-08-31 2008-11-04 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Technique for improving ion implanter productivity
CN103094032B (zh) * 2011-11-07 2016-08-10 北京中科信电子装备有限公司 一种多电极束流聚焦调节装置
US8673753B1 (en) 2012-12-03 2014-03-18 Advanced Ion Beam Technology, Inc. Multi-energy ion implantation
CN103681191B (zh) * 2013-11-26 2016-03-09 中国电子科技集团公司第四十八研究所 一种离子注入机宽束均匀性调节装置
JP6721486B2 (ja) * 2016-10-18 2020-07-15 東京エレクトロン株式会社 イオンビーム照射装置及び基板処理装置
US10573485B1 (en) * 2018-12-20 2020-02-25 Axcelis Technologies, Inc. Tetrode extraction apparatus for ion source
CN113278930B (zh) * 2021-04-25 2023-04-18 北京航空航天大学合肥创新研究院(北京航空航天大学合肥研究生院) 一种纳米团簇的束流密度控制装置及其使用方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3150156C2 (de) * 1981-12-18 1986-04-30 Gesellschaft für Schwerionenforschung mbH, 6100 Darmstadt Hochstrom-Ionenquelle
DE3708716C2 (de) * 1987-03-18 1993-11-04 Hans Prof Dr Rer Nat Oechsner Hochfrequenz-ionenquelle
US4883968A (en) * 1988-06-03 1989-11-28 Eaton Corporation Electron cyclotron resonance ion source
US5023458A (en) * 1989-01-04 1991-06-11 Eaton Corporation Ion beam control system
US4914305A (en) * 1989-01-04 1990-04-03 Eaton Corporation Uniform cross section ion beam system
US5089746A (en) * 1989-02-14 1992-02-18 Varian Associates, Inc. Production of ion beams by chemically enhanced sputtering of solids
US4952843A (en) * 1989-03-08 1990-08-28 Brown Ian G High current ion source

Also Published As

Publication number Publication date
DE69303299T2 (de) 1997-01-23
EP0557067B1 (en) 1996-06-26
CA2089099A1 (en) 1993-08-19
TW218423B (ko) 1994-01-01
CA2089099C (en) 2000-01-11
JPH0652816A (ja) 1994-02-25
US5218210A (en) 1993-06-08
DE69303299D1 (de) 1996-08-01
EP0557067A1 (en) 1993-08-25
SG45353A1 (en) 1998-01-16
KR100251517B1 (ko) 2000-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930017662A (ko) 넒은 비임 선속밀도 제어장치 및 방법
DE68926962T2 (de) Plasma elektronengewehr fur ionen aus einer entfernten quelle
US4587430A (en) Ion implantation source and device
Yushkov et al. Effect of multiple current spikes on the enhancement of ion charge states of vacuum arc plasmas
US5841235A (en) Source for the generation of large area pulsed ion and electron beams
JP2004525480A (ja) 低ビーム発散となる,低エネルギービームの抽出および減速
JPH04274149A (ja) 電子源
KR100454457B1 (ko) 이온빔 조사장치 및 이 장치용 플라즈마 점화방법
JP2946433B2 (ja) イオンビーム制御システム
JP2756704B2 (ja) イオンビーム照射装置における電荷中和装置
JP2713692B2 (ja) イオン打込み装置
KR940025403A (ko) 저에너지 중성입자빔의 생성방법 및 장치
US4329586A (en) Electron energy recovery system for negative ion sources
KR100735014B1 (ko) 이온주입장치의 매니플레이터
Yoshida et al. Grid-controlled extraction of low-charged ions from a laser ion source
JP3417176B2 (ja) イオン照射装置
SU638223A1 (ru) Ускоритель пр мого действи
SU1179813A1 (ru) Электромагнитная ловушка
JPH07169434A (ja) イオン注入装置
Hashimoto et al. Beam converter with magnetically guarded electron suppressor
SU1175342A1 (ru) Многощелева магнитна ловушка
JPH01186745A (ja) 質量分析装置用イオン源
KR0143342B1 (ko) 이온주입기의 이온 추출장치
Bennett Ion sources for multiply charged heavy ions
JPS61156625A (ja) イオン加工器

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20051230

Year of fee payment: 7

LAPS Lapse due to unpaid annual fee