KR920019464A - 확인 회로를 구비한 플라즈마 토치 어셈블리 - Google Patents

Abstract

내용없음

Description

확인 회로를 구비한 플라즈마 토치 어셈블리

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제1도는 본 발명을 사용하는 플라즈마 시스템의 사시도,

제2도는 본 발명의 일실시예에 따른 배선 또는 배관도,

제3도는 제2도에 도시된 본 발명의 실시예에서 사용되는 플러그 및 전원소켓을 나타내는 것으로 제1도의 3-3선을 따라 취한 부분 절개 측면도.

Claims (30)

1. 토치 어셈블리의 소망하는 동작 파라메터를 결정하는 특징을 가지며, 상기 동작 파라메터에 정합되는 상기 토치에 전력 및 가스를 공급하기 위하여 상기 토치를 범용 제어 스테이션에 선택적으로 접속하는 코넥터 수단을 구비한 토치 어셈블리에 있어서, 상기 토치를 확인하기 위한 확인 회로 수단을 포함하는데, 상기 확인 회로 수단은 상기 토치의 특성에 유일한 전기 특성을 가지며 상기 확인 회로 수단을 검사하여 상기 전기특성을 감지하는 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
2. 제1항에 있어서, 상기 확인 회로 수단은 저항을 구비하고 상기 전기 특성은 상기 저항의 대략적인 저항치인 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
3. 제2항에 있어서, 상기 확인 회로를 검사하는 수단은 저항 양단 전압이 상기 전기 특성이 되도록 주지의 전류를 상기 저항을 통해 흐르게 하는 수단을 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
4. 제3항에 있어서, 하우징과 상기 토치 하우징에 상기 확인 회로 수단을 외치시키는 수단을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
5. 제3항에 있어서, 하우징을 추가로 포함하고 상기 코넥터 수단은 장착용 플러그 및 상기 플러그와 하우징 사이에 연장된 유연성 케이블을 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
6. 제5항에 있어서, 상기 플러그에 상기 확인 회로 수단을 위치시키기 위한 수단을 추가로 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
7. 제2항에 있어서, 하우징과 상기 토이 하우징에 상기 확인 회로 수단을 위치시키는 수단을 추가로 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
8. 제1항에 있어서, 하우징과 상기 토치 하우징에 상기 확인 회로 수단을 위치시키는 수단을 추가로 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
9. 제2항에 있어서, 하우징을 추가로 포함하고, 상기 코넥터 수단은 장착용 플러그 및 상기 플러그와 상기 하우징 사이에 연장된 유연성 케이블을 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
10. 제9항에 있어서, 상기 플러그에 상기 확인 회로수단을 위치시키는 수단을 추가로 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
11. 제1항에 있어서, 하우징을 추가로 포함하고 상기 코넥터 수단은 장착용 플러그 및 상기 플러그와 상기 하우징 사이에 연장된 유연성 케이블을 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
12. 제11항에 있어서, 상기 플러그에 상기 확인 회로 수단을 위치시키는 수단을 추가로 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
13. 제1항에 있어서, 상기 확인 회로 수단은 2개 이상의 저항을 구비한 저항 회로망을 포함하고 상기 전기 특성은 상기 각 저항의 저항치인 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
14. 제13항에 있어서, 상기 검사 수단은 상기 각 저항의 개별적인 저항치를 검출하는 수단을 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
15. 제14항에 있어서, 상기 각 저항의 검출 저항치를 디지털화하는 수단과, 디지털 좌표군에 할당되고 특수한 토치 어셈블리를 각각 나타내는 수치 세그멘트들을 갖는 2차원 디지탈 그리드에 상기 디지털 저항치의 각각을 비교하는 수단과 상기 저항의 검출 저항치를 포함하는 수치 세그멘트를 출력하는 수단을 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
16. 제8항에 있어서, 상기 확인 회로 수단은 2개 이상의 저항을 구비한 저항 회로망을 포함하고 상기 전기 특성은 상기 각 저항의 저항치인 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
17. 제16항에 있어서, 상기 검사 수단은 상기 각 저항의 개별적인 저항치를 검출하는 수단을 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
18. 제17항에 있어서, 상기 각 저항의 검출 저항치를 디지털화하는 수단과, 디지털 좌표군에 할당되고 특수한 토치 어셈블리를 각각 나타내는 수치 세그멘트들을 갖는 2차원 디지탈 그리드에 상기 디지털 저항치의 각각을 비교하는 수단과 상기 저항의 검출 저항치를 포함하는 수치 세그멘트를 출력하는 수단을 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
19. 제11항에 있어서, 상기 확인 회로 수단은 2개 이상의 저항을 구비한 저항 회로망을 포함하고 상기 전기 특성은 상기 각 저항의 저항치인 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
20. 제19항에 있어서, 상기 검사 수단은 상기 각 저항의 개별적인 저항치를 검출하는 수단을 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
21. 제20항에 있어서, 상기 각 저항의 검출 저항치를 디지털화하는 수단과, 디지털 좌표군에 할당되고 특수한 토치 어셈블리를 각각 나타내는 수치 세그멘트들을 갖는 2차원 디지탈 그리드에 상기 디지탈 저항치의 각각을 비교하는 수단과 상기 저항의 검출 저항치를 포함하는 수치 세그멘트를 출력하는 수단을 포함한 것을 특징으로 하는 토치 어셈블리.
22. 토치의 소망하는 동작 파라메터를 결정하는 특성을 갖는 토치 어셈블리를 자동으로 확인하는 시스템으로서, 상기 토치가 상기 동작 파라메터에 정합되는 상기 토치에 전력 및 가스를 공급하기 위하여 상기 토치 어셈블리를 범용 제어 스테이션에 선택적으로 접속하는 코넥터 수단과, 상기 토치 어셈블리를 확인하기 위한 것으로 상기 토치 어셈블리의 특성에 유일한 전기 특성을 갖는 확인 회로 수단과, 상기 전기 특성을 감지하도록 상기 확인 회로수단을 검사하는 수단을 포함하는 시스템에 있어서, 상기 토치 어셈블리가 상기 범용 제어 스테이션에 접속될때 상기 검사 수단을 작동시키기 위한, 상기 범용 제어 스테이션상의 수단과, 상기 검사 수단이 작동되었을때 상기 확인 회로수단의 전기 특성을 판독하기 위한, 상기 토치 어셈블리 외부의 수단을 포함한 것을 특징으로 하는 시스템.
23. 제22항에 있어서, 상기 토치 어셈블리의 상기 확인 회로 수단은 2개이상의 저항을 구비한 저항 회로망을 포함하고 상기 전기 특성은 상기 각 저항의 저항치인 것을 특징으로 하는 시스템.
24. 제23항에 있어서, 상기 판독 수단은 상기 각 저항의 개별적인 저항치를 검출하는 수단을 포함한 것을 특징으로 하는 시스템.
25. 제24항에 있어서, 상기 각 저항의 검출 저항치를 디지털화하는 상기 토치 어셈블리 외부의 수단과, 디지탈 좌표군에 할당되고 한쌍의 토치 어셈블리를 각각 나타내는 수치 세그멘트들을 갖는 2차원 디지탈 그리드에 상기 디지탈 저항치의 각각을 비교하는 수단과, 상기 각 저항의 검출 저항치를 포함하는 수치 세그멘트를 출력하는 수단을 포함한 것을 특징으로 하는 시스템.
26. 토치의 소망하는 동작 파라메터를 결정하는 특성을 갖는 토치 어셈블리를 자동으로 확인하는 방법으로서, 상기 토치가 상기 동작 파라메터에 정합되는 상기 토치에 전력 가스를 공급하기 위하여 상기 토치 어셈블리를 범용 제어 스테이션에 선택적으로 접속하기 위한 코넥터 수단을 갖고 있는 토치 어셈블리 자동확인 방법에 있어서, (a) 토치 어셈블리를 확인하기 위하여 상기 토치 어셈블리와 고정적으로 관련되고, 상기 토치 어셈블리의 상기 특성에 유일한 전기특성을 갖는 확인 회로 제공 단계와, (b) 상기 전기 특성을 감지하도록 상기 확인 회로를 검사하는 단계를 포함한 것을 특징으로 하는 확인 방법.
27. 제26항에 있어서, (c) 상기 감지된 전기 특성을 상기 전기 특성에 의해 특정 토치 어셈블리를 확인하는 테이블과 비교하는 단계를 추가로 포함한 것을 특징으로 하는 확인 방법.
28. 제27항에 있어서, (d)상기 확인된 토치 어셈블리를 대하여 소망하는 동작 파라메터를 설정하는 단계를 추가로 포함한 것을 특징으로 하는 확인 방법.
29. 제26항에 있어서, (c)상기 감지된 특성이 미확인 토치 어셈블리를 나타내는 미리 선택된 값일 경우에 상기 제어 스테이션을 중지시키는 단계를 추가로 포함한 것을 특징으로 하는 확인 방법.
30. 제28항에 있어서, 상기 토치 어셈블리는 플라즈마 토치이고 상기 소망하는 동작 파라메터는 아크 전류 및 플라즈마 가스를 포함한 것을 특징으로 하는 확인 방법.

    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.