KR900008068A - 활성화층들을 가지는 전극의 시험 - Google Patents

활성화층들을 가지는 전극의 시험 Download PDF

Info

Publication number
KR900008068A
KR900008068A KR1019890010004A KR890010004A KR900008068A KR 900008068 A KR900008068 A KR 900008068A KR 1019890010004 A KR1019890010004 A KR 1019890010004A KR 890010004 A KR890010004 A KR 890010004A KR 900008068 A KR900008068 A KR 900008068A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electrode
cathode
support
tested
barrel
Prior art date
Application number
KR1019890010004A
Other languages
English (en)
Other versions
KR970000196B1 (ko
Inventor
코토우스키 스세판
부쎄 베른드
돈너르하크 베른드
Original Assignee
하르트무트 보오슈트
헤레우스 에렉트로덴 게엠베하
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 하르트무트 보오슈트, 헤레우스 에렉트로덴 게엠베하 filed Critical 하르트무트 보오슈트
Publication of KR900008068A publication Critical patent/KR900008068A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR970000196B1 publication Critical patent/KR970000196B1/ko

Links

Classifications

    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D17/00—Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/416—Systems
    • G01N27/4163—Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electrolytic Production Of Metals (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
  • Coating With Molten Metal (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

활성화층들을 가지는 전극의 시험
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 부분적으로 파단 표시된 하나의 전해조를 나타내며.
제2a도 및 제2b도는 시규의 활성화층에 대한 그리고 불할성화된 범위들을 가지는 전극에 대한 기포발생을 개략적으로 보임.

Claims (12)

  1. 불활성화된 표면 범위들의 검출을 위하역 전기 화학적 공정들을 위한 활성화된 층이 형성된 대체로 편평한 전극 특히 대강들에 대한 아연 전기도금을 위한 양극의 투시시험을 위한 방법에 있어서, 전극(8)이 전해조(3)내에로 그의 양극(5)과 음극(6)사이에서 시험하고자 하는 표면을 가지고 음극(6)에 향하여지게 설치되며 그리고 활성화층 위에의 단시감의 전압인가의 경우에 나타나는 기포발생이 검출되는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 제1항에있어서, 기포들(19)은 조명되어지며 이들의 발생은 카메라(18)의 도움으로 기록되어지는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 의한 방법의 실시를 위한 장치에 있어서 이 장치는 양극(5)과 음극(6)을 가지는 하나의 전해조와 그리고 또 시험하고자 하는 전극(8)에 대한 지지부(7)를 가지며 그리고 쎌의 통(3)은 시험하고자 하는 전극표면의 관찰을 위한 하나의 투명한 범위(14)를 가지는 것을 특징으로 하는 장치.
  4. 제3항에 있어서, 이 장치는 적어도 하나의 광원(9,10)을 가지는 것을 특징으로 하는 장치.
  5. 제4항에 있어서, 광원(9,10)은 통(3) 내부에서 지지부(7)와 전해조의 음극(6) 사이에 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 장치.
  6. 제5항에 있어서, 광원(9,10)은 냉각 공기로써 환류되는 것을 특징으로 하는 장치.
  7. 제3항에 있어서, 지지부(7)와 양극(5)사이의 간격은 지지부(7)와 음극(6) 사이의 간격보다 더 작은 것을 특징으로 하는 장치.
  8. 제3항에 있어서, 투명한 범위(14)는 음극(6)과 지지부(7)사이에 배열되어 있는 편평한 통 범위인 것을 특징으로 하는 장치.
  9. 제8항에 있어서, 투명한 범위(14)와 시험하고자 하는 전극(8)의 표면은 20° 및 80°사이의 각도를 이루는 것을 특징으로 하는 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기의 이루어진 각도는 40°와 60°사이에 놓여 있는 것을 특징으로 하는 장치.
  11. 제3항, 제8항에 내지 재10항중의 하나 또는 다수의 항에 있어서, 통(3)의 외측에 투명한 범위(14)의 근처에 하나의 카메라(18)가 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 장치.
  12. 제3항 내지 제11항중의 하나 또는 다수의 항에 있어서, 전해액으로서는 나트륨 쎌페이트 용액이 충전되는 것을 특징으로 하는 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019890010004A 1988-11-03 1989-07-13 활성화층들을 가지는 전극의 시험 KR970000196B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3837290A DE3837290A1 (de) 1988-11-03 1988-11-03 Pruefung von elektroden mit aktivierungsschichten
DEP3837290.8 1988-11-03

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR900008068A true KR900008068A (ko) 1990-06-02
KR970000196B1 KR970000196B1 (ko) 1997-01-06

Family

ID=6366377

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019890010004A KR970000196B1 (ko) 1988-11-03 1989-07-13 활성화층들을 가지는 전극의 시험

Country Status (9)

Country Link
US (2) US4919766A (ko)
EP (1) EP0369103B1 (ko)
JP (1) JPH0762277B2 (ko)
KR (1) KR970000196B1 (ko)
AT (1) ATE81206T1 (ko)
BR (1) BR8905380A (ko)
CA (1) CA1290396C (ko)
DE (2) DE3837290A1 (ko)
ES (1) ES2034499T3 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5076906A (en) * 1991-01-31 1991-12-31 Raytheon Company Method for testing encapsulation integrity
US5916705A (en) * 1997-08-04 1999-06-29 Lockhead Martin Tactical Defense Systems, Inc. Fuel cell cathode testing device and method for using the same
US6248601B1 (en) 1999-04-19 2001-06-19 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Fix the glassivation layer's micro crack point precisely by using electroplating method
FI107192B (fi) 1999-11-09 2001-06-15 Outokumpu Oy Menetelmä elektrodin pinnanlaadun tarkistamiseksi
ES2168224B1 (es) * 2000-10-20 2003-02-16 Univ Valencia Politecnica Procedimiento electro-optico de analisis de procesos electroquimicos en tiempo real y dispositivo para su puesta en practica.
WO2015035528A1 (es) * 2013-09-13 2015-03-19 New Tech Copper Spa. Dispositivo de visualización portátil sumergible, para observación en el interior de celdas electrolíticas
JP6770843B2 (ja) * 2016-07-13 2020-10-21 国立大学法人九州大学 電極表面の観察装置ならびにそれを用いた観察方法
CN109234788A (zh) * 2018-08-03 2019-01-18 诚亿电子（嘉兴）有限公司 除胶再生机可视化检查方法
CN113092551A (zh) * 2021-04-29 2021-07-09 中国华能集团清洁能源技术研究院有限公司 一种具有多电极的工作电极、组合平行测试系统及其使用方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3384556A (en) * 1964-11-23 1968-05-21 Sperry Rand Corp Method of electrolytically detecting imperfections in oxide passivation layers
US3408270A (en) * 1965-06-25 1968-10-29 Anthony J Gentile Method for non-destructive testing of materials
EP0088192B1 (en) * 1982-03-05 1986-11-05 M & T Chemicals, Inc. Control of anode gas evolution in trivalent chromium plating bath
US4511838A (en) * 1982-03-31 1985-04-16 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Method for determining the point of zero zeta potential of semiconductor
HU199020B (en) * 1987-05-04 1989-12-28 Magyar Tudomanyos Akademia Method and apparatus for measuring the layer thickness of semiconductor layer structures

Also Published As

Publication number Publication date
US4963244A (en) 1990-10-16
ATE81206T1 (de) 1992-10-15
DE58902375D1 (de) 1992-11-05
DE3837290C2 (ko) 1992-01-16
ES2034499T3 (es) 1993-04-01
US4919766A (en) 1990-04-24
KR970000196B1 (ko) 1997-01-06
JPH0762277B2 (ja) 1995-07-05
DE3837290A1 (de) 1990-07-05
EP0369103A1 (de) 1990-05-23
JPH02179898A (ja) 1990-07-12
BR8905380A (pt) 1990-05-22
EP0369103B1 (de) 1992-09-30
CA1290396C (en) 1991-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900008068A (ko) 활성화층들을 가지는 전극의 시험
KR920700400A (ko) 전기화학적 발광을 측정하는 방법 및 장치
ES2148272T3 (es) Metodo de ensayo electroquimico y compuesto de p-fenilendiamina nuevo.
CN203519471U (zh) 一种缝隙腐蚀电化学性能试验装置
US5419201A (en) Methods and devices for electrochemically determining metal fatigue status
BR9607494A (pt) Método para avaliação da integridade de uma vedação
CN107796752A (zh) 一种测量钢在硫化氢腐蚀环境中氢致开裂性能的方法
US3530045A (en) Electrically responsive color-forming method of nondestructive testing
CN206648932U (zh) 一种涂层电化学测试装置
ATE127168T1 (de) Elektrolysezelle für gasentwickelnde elektrolytische prozesse.
ATE125579T1 (de) Elektrodenstruktur für elektrolytische zelle.
KR900018418A (ko) 베스내에서 퍼망가네이트를 재생시키는 방법 및 장치
CN206095899U (zh) 一种间距可调的电偶腐蚀测量电解槽装置
KR960024349A (ko) 법랑강판용 수소투과시간 시험장치
JP2005292050A (ja) 穴状欠陥の検出方法
JP2006275816A (ja) 絶縁性部材の検査方法及び検査装置
NO913101L (no) Fremgangsmaate og polymermateriale til minskning eller eliminering av filmdefekter som skyldes hydrogenutvikling under katodisk elektroavsetning
JPS5915851A (ja) 電解槽の取付け方法及びその電解槽
CN206095898U (zh) 一种面积可调的电偶腐蚀测量电解槽装置
CN114563341A (zh) 一种焊接接头微区氢扩散系数的测定装置及其测定方法和应用
JPS5698648A (en) Ozone electrode
SU631812A1 (ru) Электрохимический датчик
HUDSON The Absorption of Electrolytically Generated Hydrogen by Iron-nickel Alloys
Muenster et al. ELECI'ROCHEMICAL CALENDAR
Matsumoto et al. Application of Scanning Vibrating Electrode Technique to Detect Corrosion of Zinc and Zinc Alloy Layer Under Organic Coating

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee