JPH0762277B2 - 活性化層を有する電極を視認検査する方法及び装置 - Google Patents
活性化層を有する電極を視認検査する方法及び装置Info
- Publication number
- JPH0762277B2 JPH0762277B2 JP1285074A JP28507489A JPH0762277B2 JP H0762277 B2 JPH0762277 B2 JP H0762277B2 JP 1285074 A JP1285074 A JP 1285074A JP 28507489 A JP28507489 A JP 28507489A JP H0762277 B2 JPH0762277 B2 JP H0762277B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- anode
- cathode
- activation layer
- inspected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D17/00—Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/4163—Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Electrolytic Production Of Metals (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
- Coating With Molten Metal (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、活性化層を備えた実施的に平らな電気化学
処理用電極、特にスールバンド用のガルバニー直流によ
る亜鉛メッキ装置に用いられるアノード電極の不活性表
面領域を検査するための視認検査方法ならびに該方法を
実施するための装置に関する。
処理用電極、特にスールバンド用のガルバニー直流によ
る亜鉛メッキ装置に用いられるアノード電極の不活性表
面領域を検査するための視認検査方法ならびに該方法を
実施するための装置に関する。
［従来の技術］ スールバンドはたとえば亜鉛メッキされた自動車車体を
製造するために用いられるが、このスールバンドをガル
バニー直流電気で亜鉛メッキする場合、プラチナ金属酸
化物で被覆されたチタンアノードも使用される。このチ
タンアンノードはわずかの時間で活性を失ってしまうの
で、チタンアノードを取外した後に再活性化する必要が
ある。このために亜鉛メッキ装置全体が運転中断されざ
るをえず、このことによって製造が一時停止することに
なる。そこで望まれるのが−どっちみち他の理由から−
この装置の運転を停止する予定があるとき、その時を利
用して、このアノードが次の予定されている運転停止ま
で持ちこたえられるものなのかそれともそのアノードは
安全性の点からただちに交換されるべきものなのかの判
断をすることができることである。
製造するために用いられるが、このスールバンドをガル
バニー直流電気で亜鉛メッキする場合、プラチナ金属酸
化物で被覆されたチタンアノードも使用される。このチ
タンアンノードはわずかの時間で活性を失ってしまうの
で、チタンアノードを取外した後に再活性化する必要が
ある。このために亜鉛メッキ装置全体が運転中断されざ
るをえず、このことによって製造が一時停止することに
なる。そこで望まれるのが−どっちみち他の理由から−
この装置の運転を停止する予定があるとき、その時を利
用して、このアノードが次の予定されている運転停止ま
で持ちこたえられるものなのかそれともそのアノードは
安全性の点からただちに交換されるべきものなのかの判
断をすることができることである。
アノードがまだ活性であるかどうかの判断のために今日
用いられている手法には、つぎのようなものがある。
用いられている手法には、つぎのようなものがある。
ａ）レントゲン蛍光による活性化層の層厚の測定法（運
転停止中のみ可能）。この方法は時間がかかりすぎるた
め、実際にはアノードすべて運転停止の状態にして用い
られることはほとんどない。活性化層の下にある不動態
層に基づきアノードは残留層厚が厚いにもかかわらず不
活性となりうる。この測定は5cmまでの直径の箇所でし
か可能でない。たとえば１m2の全表面を判定するために
は個別の測定器を多数作って、配置する必要がある。
転停止中のみ可能）。この方法は時間がかかりすぎるた
め、実際にはアノードすべて運転停止の状態にして用い
られることはほとんどない。活性化層の下にある不動態
層に基づきアノードは残留層厚が厚いにもかかわらず不
活性となりうる。この測定は5cmまでの直径の箇所でし
か可能でない。たとえば１m2の全表面を判定するために
は個別の測定器を多数作って、配置する必要がある。
ｂ）ポテンシャルの測定法（運転停止中のみ可能）。こ
こでもこの方法は時間がかりすぎるためアノード全てを
運転停止して測定することはなされない。この方法も同
じく点状測定しか可能でない。
こでもこの方法は時間がかりすぎるためアノード全てを
運転停止して測定することはなされない。この方法も同
じく点状測定しか可能でない。
ｃ）運転中個々のアノードのスイッチオフ法。この方法
の場合、被覆された亜鉛層の厚みが連続して測定され
る。この亜鉛層の厚みが均一でないとき、これらのアノ
ードはもはや正常でないとみなされる。この方法はすべ
ての装置に用いられることができるわけではない。不活
性のアノードに起因せしめることのできない層の不均一
性も存在している。
の場合、被覆された亜鉛層の厚みが連続して測定され
る。この亜鉛層の厚みが均一でないとき、これらのアノ
ードはもはや正常でないとみなされる。この方法はすべ
ての装置に用いられることができるわけではない。不活
性のアノードに起因せしめることのできない層の不均一
性も存在している。
ｄ）静止しているバンオの亜鉛メッキ法。この装置によ
って1m/秒という典型的な速度でスチールバンドが正常
運転で走っているとき、このスチールバンドが止められ
ると、アノードの活性度に相当する亜鉛分布がバンド上
に生じる。安全性の理由から実際には、バンドが停止す
るや否や即座に遮断される。このような方法は実施する
ためには安全性テストの予防処理がすべて解除されねば
ならない。この方法はとても高くつき、かつ例外ケース
でしか実施することができない。
って1m/秒という典型的な速度でスチールバンドが正常
運転で走っているとき、このスチールバンドが止められ
ると、アノードの活性度に相当する亜鉛分布がバンド上
に生じる。安全性の理由から実際には、バンドが停止す
るや否や即座に遮断される。このような方法は実施する
ためには安全性テストの予防処理がすべて解除されねば
ならない。この方法はとても高くつき、かつ例外ケース
でしか実施することができない。
従来の公知技術は、特定のアノード（又はアノードセグ
メント）が再活性化を必要としているかそれともつぎの
所定の運転停止時までまだ引きつづいて運転継続してよ
いかどうかの判断を速やかに行う有効な能力に欠けてい
た。
メント）が再活性化を必要としているかそれともつぎの
所定の運転停止時までまだ引きつづいて運転継続してよ
いかどうかの判断を速やかに行う有効な能力に欠けてい
た。
［発明が解決しようとする課題］ この発明の課題は、ガルバニー直流による亜鉛メッキ装
置を短時間だけ運転停止している間に短時間の取りはず
し後テスト槽内で安全なアノードについて視認検査を実
行することであり、その際活性化層領域内にひょっとし
たらあるかもしれない不活性領域を見れるようにするこ
とである。
置を短時間だけ運転停止している間に短時間の取りはず
し後テスト槽内で安全なアノードについて視認検査を実
行することであり、その際活性化層領域内にひょっとし
たらあるかもしれない不活性領域を見れるようにするこ
とである。
［課題を解決するための手段］ この課題は、冒頭に記載した形式の方法において、本発
明により、請求項１に記載の方法ならびに請求項３に記
載の装置により解決される。
明により、請求項１に記載の方法ならびに請求項３に記
載の装置により解決される。
本発明による方法は、検査すべき電極を電解槽の中のア
ノードとカソードの間へ該電極の検査すべき表面をカソ
ード側に向けて挿入し、かつ活性層に電圧を短時間印加
した際にに生じる気泡の発生を識別することを特徴とす
る。
ノードとカソードの間へ該電極の検査すべき表面をカソ
ード側に向けて挿入し、かつ活性層に電圧を短時間印加
した際にに生じる気泡の発生を識別することを特徴とす
る。
本発明による装置は、アノード及びカソードを備えた電
解槽ならびに検査すべき電極のための支持装置から構成
され、かつ電解槽に被検電極の表面を観察するための透
明領域が設けられていることを特徴とする。
解槽ならびに検査すべき電極のための支持装置から構成
され、かつ電解槽に被検電極の表面を観察するための透
明領域が設けられていることを特徴とする。
本発明による方法を実行するための装置においては、四
角槽状をした電解槽中の内部空間内で向かい合った２つ
の支持壁に、アノードとカソードから成る一対の電極が
配設されており、このアノードとカソード間には被検ア
ノードのための支持装置が配設されている。さらに、カ
ソードに面しているアノードプレートの活性層を照明す
ための照明装置が設けられている。
角槽状をした電解槽中の内部空間内で向かい合った２つ
の支持壁に、アノードとカソードから成る一対の電極が
配設されており、このアノードとカソード間には被検ア
ノードのための支持装置が配設されている。さらに、カ
ソードに面しているアノードプレートの活性層を照明す
ための照明装置が設けられている。
電流の流れている際に形成される気泡は、側壁に設けら
れた窓を通してビデオカメラを用いて検出される。
れた窓を通してビデオカメラを用いて検出される。
特別な利点は、個々のセグメントに解体せずにアノード
の活性化層の検査を行うことができ、その結果メッキ運
転の中断が短時間で済む、という点である。化学的に腐
食性でない電解液たとえば硫酸ナトリウム溶液を使用す
ることによって、簡単で迅速な操作が行えるようにな
る。
の活性化層の検査を行うことができ、その結果メッキ運
転の中断が短時間で済む、という点である。化学的に腐
食性でない電解液たとえば硫酸ナトリウム溶液を使用す
ることによって、簡単で迅速な操作が行えるようにな
る。
［実施例］ 以下、本発明の対象を第１図、第2a図、それに第2b図を
用いて説明する。
用いて説明する。
第１図によると、直方体状の案内部空間４をもって電解
槽３のたがいに向かいあっている壁1,2に、それぞれ１
個の平らな長方形アノード５と１個の平らな長方形カソ
ード６とが配設されている。このアノード５の領域内に
電気的に絶縁されたＵ字状の収納形状をした支持装置７
がみられ、この支持装置７の中へ上から被検電極、即ち
被検アノード８を挿入することができる。この場合活性
化電極表面はカソード６の方を向いた面上にある。そし
てこの場合アノード８はもっと良く見えるように一部切
り欠いた図で示されている。被検アノード８と組込み固
定されたカソード６との間に２本の細長い管状光源9,10
を有する照明装置があり、これら管状光源は、石英ガラ
スのような透明保護管11,12によって囲まれている。光
源9,10と保護管11,12との間にランプの冷却のために圧
搾空気が誘導される。
槽３のたがいに向かいあっている壁1,2に、それぞれ１
個の平らな長方形アノード５と１個の平らな長方形カソ
ード６とが配設されている。このアノード５の領域内に
電気的に絶縁されたＵ字状の収納形状をした支持装置７
がみられ、この支持装置７の中へ上から被検電極、即ち
被検アノード８を挿入することができる。この場合活性
化電極表面はカソード６の方を向いた面上にある。そし
てこの場合アノード８はもっと良く見えるように一部切
り欠いた図で示されている。被検アノード８と組込み固
定されたカソード６との間に２本の細長い管状光源9,10
を有する照明装置があり、これら管状光源は、石英ガラ
スのような透明保護管11,12によって囲まれている。光
源9,10と保護管11,12との間にランプの冷却のために圧
搾空気が誘導される。
槽３の側壁の支持装置７の周辺に、側面にプリズム状ケ
ーシング13が取付けされており、該ケーシング13にはこ
のケーシング13に対して密閉されたのぞき窓14が設けら
れている。こののぞき窓14を通して支持装置７の中に収
納されているアノードを観察することが可能となる。こ
の場合、こののぞき窓14の平面と支持器７によって与え
られる被検アノード８の平面とがなす角度は55〜75°の
範囲にある。
ーシング13が取付けされており、該ケーシング13にはこ
のケーシング13に対して密閉されたのぞき窓14が設けら
れている。こののぞき窓14を通して支持装置７の中に収
納されているアノードを観察することが可能となる。こ
の場合、こののぞき窓14の平面と支持器７によって与え
られる被検アノード８の平面とがなす角度は55〜75°の
範囲にある。
アノード５とカソード６はスイッチ装置15を介して直流
電圧源16に接続されている。カソードに付属している電
流端子は参照数字17で示されている。この装置はバイポ
ーラ型電気化学セルに一致しており、この場合アノード
５側に向いている被検アノード８の裏面はカソードとし
て作動するのに対して、被検アノード８のカソード６に
向いている面はアノードとして作動する。のぞき窓14の
前には、そこに簡略図示しかしてないが、ビデオカメラ
18が配設されており、それの光軸22は被検アノード８に
配向されている。
電圧源16に接続されている。カソードに付属している電
流端子は参照数字17で示されている。この装置はバイポ
ーラ型電気化学セルに一致しており、この場合アノード
５側に向いている被検アノード８の裏面はカソードとし
て作動するのに対して、被検アノード８のカソード６に
向いている面はアノードとして作動する。のぞき窓14の
前には、そこに簡略図示しかしてないが、ビデオカメラ
18が配設されており、それの光軸22は被検アノード８に
配向されている。
組込み固定された電極5,6用の電極材料にはチタンが用
いられる。その場合、被検アノード８も同じくチタンか
らなっていてもよい。組込み固定されたアノード５は被
検アノード８と同じく活性化層が施されている。
いられる。その場合、被検アノード８も同じくチタンか
らなっていてもよい。組込み固定されたアノード５は被
検アノード８と同じく活性化層が施されている。
槽３の材質としてはとくにポリ塩化ビニールが用いられ
る。側面に取付けられたプリズム状ケーシング13も同じ
くポリ塩化ビニールで構成されているが、のぞき窓14用
には合せガラスが用いられる。電解液としては有利には
硫酸ナトリウム溶液が用いられる。その理由は、この溶
液は化学的腐食性が低いため、この発明による装置の操
作が危険でなくしかも迅速となるからである。その際、
検査中に純粋な酸素気泡の発生が生じる。また、危険と
結付いた塩素ガス発生を回避するために、別の塩素イオ
ンを含まない電解液を用いることも可能である。
る。側面に取付けられたプリズム状ケーシング13も同じ
くポリ塩化ビニールで構成されているが、のぞき窓14用
には合せガラスが用いられる。電解液としては有利には
硫酸ナトリウム溶液が用いられる。その理由は、この溶
液は化学的腐食性が低いため、この発明による装置の操
作が危険でなくしかも迅速となるからである。その際、
検査中に純粋な酸素気泡の発生が生じる。また、危険と
結付いた塩素ガス発生を回避するために、別の塩素イオ
ンを含まない電解液を用いることも可能である。
さらに、カソード６に隣接する電解槽の壁２の少なくと
も一部分にのぞき窓14′を設け、カソード６内に穴21を
あけ、ここを通してビデオカメラの光軸22を配向するこ
とも可能である。
も一部分にのぞき窓14′を設け、カソード６内に穴21を
あけ、ここを通してビデオカメラの光軸22を配向するこ
とも可能である。
検査するには、被検アノード８を装着した電解槽をスイ
ッチ装置15の迅速な操作（スイッチオン時間：約0.15
秒）によって直流電圧源16と接続し、槽に電流を流す。
同時に光源9,10をスイッチオンし、ビデオカメラ18が働
いて、アノード８の活性化層上に発生する気泡19を撮影
しはじめる。典型的な例では、この操作は600A/m2の電
流密度で約１秒である。このような短時間の電流の流れ
の場合にのみ活性化層の不活性領域が識別できる。電流
の流れが長い時間続くと、この不活性領域はもはや識別
できなくなる。というのは、その際には活性化層全体が
気泡で覆われてしまうからである。
ッチ装置15の迅速な操作（スイッチオン時間：約0.15
秒）によって直流電圧源16と接続し、槽に電流を流す。
同時に光源9,10をスイッチオンし、ビデオカメラ18が働
いて、アノード８の活性化層上に発生する気泡19を撮影
しはじめる。典型的な例では、この操作は600A/m2の電
流密度で約１秒である。このような短時間の電流の流れ
の場合にのみ活性化層の不活性領域が識別できる。電流
の流れが長い時間続くと、この不活性領域はもはや識別
できなくなる。というのは、その際には活性化層全体が
気泡で覆われてしまうからである。
完全な活性化層の場合だと、第2a図のように、気泡19が
アノード表面全体にわたって均一に分布しているのが見
てとれる。ところがこれに対してアノード表面に不活性
領域があると、第2b図のように気泡の形成されないとこ
ろができるため、不活性領域を確認することができる。
ここではこの不活性領域は参照数字20で示されている。
アノード表面全体にわたって均一に分布しているのが見
てとれる。ところがこれに対してアノード表面に不活性
領域があると、第2b図のように気泡の形成されないとこ
ろができるため、不活性領域を確認することができる。
ここではこの不活性領域は参照数字20で示されている。
第１図は、より見やすくするために部分的に切り欠いて
描いた電解槽の斜視図、第2a図及び第2b図はそれぞれ完
全な活性化層と不活性領域のある電極についての気泡の
発生状況を示す略図である。 ３……電解槽、５……アノード、６……カソード、７…
…支持装置、８……被検電極（被検アノード）、9,10…
…光源、14……透明領域（のぞき窓）、18……カメラ、
19……気泡
描いた電解槽の斜視図、第2a図及び第2b図はそれぞれ完
全な活性化層と不活性領域のある電極についての気泡の
発生状況を示す略図である。 ３……電解槽、５……アノード、６……カソード、７…
…支持装置、８……被検電極（被検アノード）、9,10…
…光源、14……透明領域（のぞき窓）、18……カメラ、
19……気泡
Claims (12)
- 【請求項１】活性化層を備えた実施的に平らな電気化学
処理用電極の不活性表面領域を検出するために視認検査
する方法において、被検電極（８）を電解槽（３）の中
のアノード（５）とカソード（６）の間へ該電極の検査
すべき表面をカソード（６）側に向けて挿入し、かつ活
性化層に電圧を短時間印加したときに生じる気泡の発生
を識別することを特徴とする、活性化層を有する電極を
視認検査する方法。 - 【請求項２】気泡（19）を照明して該気泡の発生をカメ
ラ（18）を使って記録する請求項１記載の方法。 - 【請求項３】請求項１又は２に記載の方法を実施するた
めの装置において、アノード（５）及びカソード（６）
を備えた電解槽ならびに被検電極（８）のための支持装
置（７）から構成され、かつ電解槽（３）に被検電極の
表面を観察するための透明領域（14）が設けられている
ことを特徴とする、活性化層を有する電極を視認検査す
る装置。 - 【請求項４】少なくとも１個の光源（9,10）を有する請
求項３記載の装置。 - 【請求項５】光源（9,10）が電解槽（３）の内側で支持
装置（７）と電解槽のカソード（６）との間に配設され
ている請求項４記載の装置。 - 【請求項６】光源（9,10）の周囲が冷気流で包囲される
請求項５記載の装置。 - 【請求項７】支持装置（７）とアノード（５）との間の
間隔が支持装置（７）とカソード（６）との間の間隔よ
りも小さい請求項３記載の装置。 - 【請求項８】透明領域（14）がカソード（６）と支持装
置（７）の間にある平らな槽領域である請求項３記載の
装置。 - 【請求項９】透明領域（14）と被検電極（８）の表面と
が20〜80゜の角度を成す請求項８記載の装置。 - 【請求項１０】該角度が40〜60゜内にある請求項９記載
の装置。 - 【請求項１１】電解槽（３）の外側の透明領域（14）の
近くにカメラ（18）を配設した請求項３及び８から10ま
でのいずれか１項記載の装置。 - 【請求項１２】電解液として硫酸ナトリウム溶液を用い
る請求項３から11までのいずれか１項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3837290A DE3837290A1 (de) | 1988-11-03 | 1988-11-03 | Pruefung von elektroden mit aktivierungsschichten |
| DE3837290.8 | 1988-11-03 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02179898A JPH02179898A (ja) | 1990-07-12 |
| JPH0762277B2 true JPH0762277B2 (ja) | 1995-07-05 |
Family
ID=6366377
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1285074A Expired - Lifetime JPH0762277B2 (ja) | 1988-11-03 | 1989-11-02 | 活性化層を有する電極を視認検査する方法及び装置 |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US4919766A (ja) |
| EP (1) | EP0369103B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0762277B2 (ja) |
| KR (1) | KR970000196B1 (ja) |
| AT (1) | ATE81206T1 (ja) |
| BR (1) | BR8905380A (ja) |
| CA (1) | CA1290396C (ja) |
| DE (2) | DE3837290A1 (ja) |
| ES (1) | ES2034499T3 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018009879A (ja) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 国立大学法人九州大学 | 電極表面の観察装置ならびにそれを用いた観察方法 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5076906A (en) * | 1991-01-31 | 1991-12-31 | Raytheon Company | Method for testing encapsulation integrity |
| US5916705A (en) * | 1997-08-04 | 1999-06-29 | Lockhead Martin Tactical Defense Systems, Inc. | Fuel cell cathode testing device and method for using the same |
| US6248601B1 (en) | 1999-04-19 | 2001-06-19 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Fix the glassivation layer's micro crack point precisely by using electroplating method |
| FI107192B (fi) | 1999-11-09 | 2001-06-15 | Outokumpu Oy | Menetelmä elektrodin pinnanlaadun tarkistamiseksi |
| ES2168224B1 (es) * | 2000-10-20 | 2003-02-16 | Univ Valencia Politecnica | Procedimiento electro-optico de analisis de procesos electroquimicos en tiempo real y dispositivo para su puesta en practica. |
| WO2015035528A1 (es) * | 2013-09-13 | 2015-03-19 | New Tech Copper Spa. | Dispositivo de visualización portátil sumergible, para observación en el interior de celdas electrolíticas |
| CN109234788A (zh) * | 2018-08-03 | 2019-01-18 | 诚亿电子（嘉兴）有限公司 | 除胶再生机可视化检查方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3384556A (en) * | 1964-11-23 | 1968-05-21 | Sperry Rand Corp | Method of electrolytically detecting imperfections in oxide passivation layers |
| US3408270A (en) * | 1965-06-25 | 1968-10-29 | Anthony J Gentile | Method for non-destructive testing of materials |
| DE3274123D1 (en) * | 1982-03-05 | 1986-12-11 | M & T Chemicals Inc | Control of anode gas evolution in trivalent chromium plating bath |
| US4511838A (en) * | 1982-03-31 | 1985-04-16 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method for determining the point of zero zeta potential of semiconductor |
| HU199020B (en) * | 1987-05-04 | 1989-12-28 | Magyar Tudomanyos Akademia | Method and apparatus for measuring the layer thickness of semiconductor layer structures |
-
1988
- 1988-11-03 DE DE3837290A patent/DE3837290A1/de active Granted
-
1989
- 1989-05-30 EP EP89109687A patent/EP0369103B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-05-30 AT AT89109687T patent/ATE81206T1/de not_active IP Right Cessation
- 1989-05-30 DE DE8989109687T patent/DE58902375D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-05-30 ES ES198989109687T patent/ES2034499T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1989-07-13 KR KR1019890010004A patent/KR970000196B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1989-09-06 US US07/403,671 patent/US4919766A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-10-23 BR BR898905380A patent/BR8905380A/pt not_active IP Right Cessation
- 1989-11-02 JP JP1285074A patent/JPH0762277B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1989-12-09 CA CA000611104A patent/CA1290396C/en not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-01-23 US US07/468,540 patent/US4963244A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018009879A (ja) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 国立大学法人九州大学 | 電極表面の観察装置ならびにそれを用いた観察方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0369103A1 (de) | 1990-05-23 |
| BR8905380A (pt) | 1990-05-22 |
| DE58902375D1 (de) | 1992-11-05 |
| ES2034499T3 (es) | 1993-04-01 |
| KR900008068A (ko) | 1990-06-02 |
| DE3837290A1 (de) | 1990-07-05 |
| ATE81206T1 (de) | 1992-10-15 |
| US4963244A (en) | 1990-10-16 |
| JPH02179898A (ja) | 1990-07-12 |
| CA1290396C (en) | 1991-10-08 |
| EP0369103B1 (de) | 1992-09-30 |
| US4919766A (en) | 1990-04-24 |
| DE3837290C2 (ja) | 1992-01-16 |
| KR970000196B1 (ko) | 1997-01-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2215068C2 (ru) | Устройство и способ для удаления покрытий | |
| KR102082718B1 (ko) | 침투 수소 측정 장치 및 그 방법 | |
| JPH0762277B2 (ja) | 活性化層を有する電極を視認検査する方法及び装置 | |
| CN107966362A (zh) | 一种金属板状试样动态充氢拉伸应力腐蚀试验装置 | |
| CN113916768A (zh) | 研究接地极放电对埋地管道干扰影响的实验装置及方法 | |
| JPH02161347A (ja) | プロセス用イオン測定装置 | |
| JPH0549065B2 (ja) | ||
| CN115931538B (zh) | 一种测量酸性环境中氢对金属应力腐蚀开裂影响程度的方法 | |
| KR101265881B1 (ko) | 다채널 장기 가속 부식실험 장치 | |
| CN115506005A (zh) | 一种现场金相电解腐蚀的阳极阴极装置及其使用方法 | |
| CN104977336B (zh) | 一种量化测定氧化膜微观缺陷的方法与仪器 | |
| JP7234040B2 (ja) | 酸素濃度計測システムおよび酸素濃度計測方法 | |
| JP2004031256A (ja) | 固体高分子型燃料電池の検査方法と該方法による固体高分子型燃料電池 | |
| US20030178321A1 (en) | Electrochemical cell, use of the electrochemical cell, and method for electrolytically contacting and electrochemically influencing a surface | |
| CN214374181U (zh) | 电化学金属点蚀的同步监测装置 | |
| JP6130447B2 (ja) | 移動体の金属部位内部へ侵入する水素量のモニタリング方法 | |
| Charles-Granville et al. | Galvanic Interactions on a Coupled Microelectrode Array of AA7050-T7451 and 316 Stainless Steel in Chromate-Containing NaCl Solutions Under Thick Electrolyte Film and Cyclic Wet-Dry Conditions | |
| CN1180246C (zh) | 金属表面涂层检测系统 | |
| Rahier et al. | Design of an electrolysis cell for highly tritiated water | |
| CN216449407U (zh) | 研究接地极放电对埋地管道干扰影响的实验装置 | |
| SU989446A1 (ru) | Способ определени параметров взаимодействи металлической подложки и ее жидкометаллического покрыти | |
| GB1051807A (ja) | ||
| Sannikov et al. | The deuterium attack of titanium electrodes under electric discharge conditions | |
| HU184033B (en) | Device for testing corrosion resistance | |
| Dacres et al. | Assessing the corrosion behavior of lead metal matrix materials using potentiodynamic polarization measurements |