KR900004195B1 - 전압레벨 검출회로 - Google Patents

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KR900004195B1
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히데끼 아라까와
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후지쓰가부시끼가이샤
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Abstract

내용 없음.

Description

전압레벨 검출회로
제 1 도는 종래의 전압레벨 검출회로의 회로도.
제 2 도는 다른 종래의 전압레벨 검출회로의 회로도.
제 3 도는 본 발명에 의한 전압레벨 검출회로의 일실시예의 회로도.
제 4 도 및 5도는 제 3 도에 보인 회로의 동작을 설명하기 위한 그래프.
제 6 도는 본 발명에 의한 전압레벨 검출회로의 다른 실시예의 회로도.
제 7 도는 제 6 도에 보인 회로의 동작을 설명하기 위한 그래프.
본 발명은 직류(DC)전원의 전압레벨 검출용 회로에 관한 것이다.
일반적으로, 회로는 DC 전원으로 부터 그에 인가된 전압레벨이 정격레벨보다 낮은 예정된 레벨에 도달할 때 동작할 수도 있다. 예를 들어 5V(DC)의 정상 전압 값을 갖는 집적회로(IC)가 그에 인가된 전압값이 3V(DC)를 초과 할 때 동작하기 시작할 수도 있다. 그러나, 예를 들어 전원공급이 시작될 때 회로의 안정된 동작을 보장하기 위해 예정된 값에 도달하는 전원의 정밀한 전압 값을 검출해야만 한다. 전위값을 검출한 후 능동회로는 검출신호를 수신하여 외부신호에 응답하여 동작하게 될 수도 있다.
예를 들어 IC들에 대한 낮은 레벨 전압값을 검출하기 위해 수많은 전압레벨 검출회로들이 공지되어 있다. 일예로 한 종래의 전압레벨 검출회로는 검출될 전압 값을 갖는 전원에 연결된 전원공급라인과 접지 사이에 구비된 두개의 직렬로 연결된 고양형 금속산화 전계효과 트랜지스터들(MOSFET)로 구성되어 있다. 이 전압레벨 검출회로는 회로가 간단하고 제조공정이 간단한 장점을 갖고 있는 반면 자체소비전력이 클뿐만 아니라 전압값 검출의 정확성이 완전치 못했다.
또 다른 종래의 전압레벨 검출회로는 직렬로 연결된 고양형과 공핍형 MOSFET들(예, K.OOTA에 의해출원된 일본 공개공보(공개) 제 57-168525 호)로 구성되어 있다. 이는 상술한 전압레벨회로의 단점들을 해결할 수는 있으나, 전압값 검출의 부정확성에 관한 문제를 여전히 갖고 있다. 왜냐하면, 그의 전압검출 값은 제조공정 파라메터들의 변동에 따라 변화되므로 제조공정중에 자주 발생하여 검출정확성에 나쁜 영향을 미친다.
이러한 종래기술의 회로들에 대해서는 추후 상세히 설명하겠다. 따라서, 본 발명의 목적은 간단한 회로와 전력소비로서 예정된 레벨이상 또는 이하의 전압레벨들을 정확히 검출할 수 있는 전압레벨 검출회로를 제공하는데 있다.
본 발명에 의하면, 제 1 및 제 2 공급라인들 사이에 연결하되, 상기 제 1 공급라인과 공통노드간에 연결되며 제 1 공급라인에 연결된 게이트를 갖는 제1공핍형 금속절연 반도체(MIS)트랜지스터, 공통노드와 제2공급라인간에 연결되며 제2공급라인에 연결된 게이트를 갖는 제2공핍형 MIS 트랜지스터, 그리고 공통노드의 전위가 예정된 값에 도달할때 출력신호를 발생시키기 위해 공통노드에 연결된 회로를 포함하는 전압레벨 검출회로가 제공된다.
특히, 그 전압레벨 검출회로는 제1공핍형 MIS 트랜지스터의 드레인에 연결된 드레인, 제1공핍형 MIS트랜지스터의 소오스에 연결된 소오스와 출력신호 발생회로의 출력단자에서 안정된 출력신호를 출력시키도록 출력신호 발생회로의 출력단자에 연결된 게이트를 갖는 제 3공핍형 MIS 트랜지스터를 더 포함할 수도있다.
이하 첨부된 도면들을 참고하여 본 발명의 양호한 실시예들을 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명의 양호한 실시예들을 설명하기 전에 우선 제 1 도와 제 2 도를 참조하여 종래의 기술에 대해 설명한다.
제 1 도는 종래의 전압레벨 검출회로의 회로도를 나타낸다. 제 1 도에서, 전압레벨 검출회로는 전원(도시안됨)에 연결된 전압공급라인 Vcc와 접지 GND간에 제공된 두개의 직렬 연결된 고양형 MOSFET들 QE1과 QE2로 구성원다. 표시문자 Vcc는 전원전압을 나타낸다. MOSFET QE1의 게이트와 드레인과 MOSFET QE2의 게이트는 전압공급라인 Vcc에 연결되어 있다. MOSFET QE1의 소오스와 MOSFET QE2의 드레인은 출력단자인 공통노드점 N1에 공통연결되어 있다. MOSFET QE2의 소오스는 접지 GND에 연결되어 있다.
노드 N1의 논리신호 Sx의 출력레벨은 전원 Vcc의 전압변동에 반응하여 변동한다. 예를 들어 만일 전압공급라인 Vcc와 접지 GND간의 전압차가 예정값 예,3.0V(DC)에 도달하는 것을 검출할 필요가 있을 경우, MOSFET QE1과 QE2의 크기는 논리신호 Sx의 출력레벨이 노드 N1에 연결된 입력단자를 갖는 반전기(도시안됨)의 임계레벨을 초과하는 그런 것이어야 한다.
전압레벨 검출회로의 구성은 간단하다. 그러나 전원의 전압 즉, MOSFET QE1들 QE1과 QE2의 게이트에 인가된 전압이 상승할 때 하단 MOSFET QE2를 통해 흐르는 전류가 증가하여 전압레벨 검출회로의 소비전력이 커지게 된다. 그 밖에, 전원의 전압변동에 좌우되는 전압변동 범위의 변동은 작으므로 고정밀의 전압검출을 완전하게 실현시킬 수 없다.
제 2 도는 또 다른 종래의 전압레벨 검출회로의 회로도이다. 제 2 도에서, 그 회로는 전압공급라인 Vcc와 접지 GND간에 제공된 직렬로 연결된 고양형 MOSFET QE3과 공펍형 MOSFET QD3로 구성원다. 고양형MOSFET QE3의 게이트와 드레인은 제 1 도에 보인 바와같이 전압공급라인 Vcc에 연결되어 있고 또한 고양현 MOSFET QE3의 소오스는 노도 N1에서 공핌형 MOSFET QD3의 드레인에 언결되어 있다. 공핍형MOSFET QD3의 게이트와 소오스는 접지되어 있다.
제 2 도에 보인 전압레벨 검출회로의 동작은 제 1 도의 회로와 동일하다.
하부단의 고양형 트랜지스터 대신에 공핍형 MOSFET QD3를 제공함으로써, 트랜지스터 QD3를 통해 흐르는 전류는 예정된 값으로 제한되므로 상술한 대전류소비의 결함이 해결될 수 있다. 상술한 전압변동 범위 역시 전압 값의 고도의 정확한 검출이 가능하도록 확장될 수 있다. 그러나, 전압레벨 검출회로의 정확성은 여전히 제조공정 파라메터들의 변동에 따라 나쁜 영향을 받는다. 왜냐하면, 트랜지스터들 QE3와 QD3의 두개의 상이한 형를이 동일한 회로로 형성되어야만 하기 때문이다. 이는 검출의 정확성을 감퇴시키는 결과를 초래한다.
제 3 도를 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다. 제 3 도는 본 발명에 의한 전압레벨 검출회로의 회로도를 나타낸다. 이 도면에서, 이 회로는 제 1 단 전압레벨 설정회로 1, 제 2 및 제 3단 반전기 회로들 2와 3,그리고 메모리 제어회로 4의 일부로 구성된다.
제1단 전압레벨 설정회로 1은 직렬연결된 공핍형 MIS 트랜지스터들 QDl1과 QD12로 구성된다. 트랜지스터 QD12의 드레인 전압공급라인 Vcc에 연결되며, 트랜지스터, QD12의 드레인은 공통연결점 즉 노드 NN에서 트랜지스터 QDl1의 소오스에 공통연결되며 그리고 트랜지스터 QD12의 게이트와 소오스는 접지 GND에연결되어 있다
제 1 트랜지스터 QDl1은 전압감지소자로서 착용하도록 제공된다. 트랜지스터 QD11의 게이트는 실선으로보인 바와같이 전압공급라인 Vcc에 그것을 연결하거나 점선으로 보인 바와 같이 공통 연결짐 NN에 그것을 연결하는 두 방법들로 연결될 수 있다. 이에 대해서는 동작설명에서 상세히 설명한다.
제 2 트랜지스터 QD12는 예정된 값으로 그를 통해 통과하는 전류 흐름을 제한시키는 정전류원으로서 작용하도록 제공된다.
제 2 단 반전기회로 2는 전압공급라인 Vcc에 연결된 드레인을 갖는 부하로서 작용하는 공핍형 MIS 트랜지스터 QDl2과 공통연결된 노드점 N2에서 트랜지스터 QD21의 소오스와 접지 GND에 연결된 소오스에 공통 연결된 드레인을 갖는 구동기로서 작용하는 고양형 MIS 트랜지스터 QE21로 구성원다. 트랜지스터 QD21의 게이트는 공통연결된 노드점 N2에 연결된다. 트랜지스터 QE21의 게이트는 제 1 단 전압레벨 설정회로 1내의 공통연결 노드점 NN에 연결된다.
마찬가지로, 제 3 단 반전기 회로 3은 전압공급라인 Vcc에 연결된 드레인을 갖는 부하로서 작용하는 공핍형 MIS 트랜지스터 QD31과, 공통연결된 노드점 N3에서 트랜지스터 QD31의 소오스에 공통연결된 드레인과접지 GND에 연결된 소오스를 갖는 구동기로서 작용하는 고양형 MIS 트랜지스터 QE31로 구성된다. 트랜지스터 QD31의 게이트는 반전기회로 2의 전차단의 공통연결된 노드점 N2에 연결된다.
직렬연결된 반전기 회로들 2와 3은 전압레벨 설정회로 1에서 감지된 검출신호 Sx를 안정화시키기 위한 신호발생회로 뿐만 아니라 입력신호 Sx의 것으로 Sz의 신호레벨을 회복시키기 위한 회로로서 작용한다.
제 3 도의 회로 4는 반전기 회로 3으로부터 출력신호 Sz에 의해 동작될 수 있는 메모리 제어회로의 일부분이다. 회로 4는 직렬로 연결된 공핍형 MIS 트랜지스터들 QD41 : QD42와 고양형 MIS 트랜지스터들QE41:QE42로 각각 구성된 직렬연결된 반전기회로들 41과 42로 구성된다. 이 반전기 회로들 41과 42의 회로구성은 상술한 반전기회로들 2 또는 3의 것과 동일하다. 회로 4는 3개의 병렬로 연결된 고양형 MIS 트랜지스터들 QE43,QE42와 QE45를 포함하는데, 이들의 각 드레인은 반전기 회로 41내의 공통연결된 노드점N4에 연결되며, 소오스는 접지 GND에 연결된다. 회로 4는 반전기회로 3과 동일한 반전기를 I46과 I47을 포함한다.
정상동작 모드에서, 외부기입 이네이블(enable)신호
Figure kpo00001
는 트랜지스터 QE41의 게이트에 인가되며, 내부기입 이네이블신호
Figure kpo00002
는 노도 N5에서 출력될 수 있다. 전원의 시동모드에서, 전원의 전압값이 예정치 예를 들어 3V(DC)에 도달할때 반전기 I46를 통해 트랜지스터 QE43의 게이트에 인가된 출력신호 Sz는 충분한 논리레벨을 갖는 내부기입 이네이블신호
Figure kpo00003
를 발생시키도록 트랜지스터 QE43을 오프시킬 수 있으므로 메모리회로는 안정동작 모드로 유도될 수 있다.
마찬가지로, 칩 이네이블신호
Figure kpo00004
는 트랜지스터 QE44의 게이트에 인가된다. 출력이네이블신호
Figure kpo00005
역시반전기을 통하여 트랜지스터 QE45의 게이트로 인가된다. 제 3 도에 보인 회로동작을 설명한다.
제 4 도는 전압레벨 설정회로 1의 특성을 보이는 그래프이다. 제 4 도에서, 횡축은 노도 NN : VNN(볼트)의 전압을 나타내며, 종측은 트랜지스터 QD11또는 QD12I(mA)를 통하여 지나가는 전류를 나타낸다.
우선, 전압레벨 설정회로 1내의 트랜지스터 QDl1의 게이트가 점선으로 보인 바와 같이 노드 NN에 연결될때의 동작을 설명한다.
다음과 같은 공정 파라메터들 트랜지스터 QDl1의 채널폭과 기장비(W/L)=7.5/4, 트랜지스터 QD12의 W/L=7/4에서 C21,C22와 C23으로 구성된 특성 곡선들 Cl과 C2을 얻는다. 곡선 C1은 트랜지스터 QD12: QD12를 통해 지나가는 전류를 나타낸다. .
전압공급라인 Vcc에서 전압상승에 반응하여 증가하는 노드 NNVNN에서 전압상승 때문에 전류 iQD12는 또한 전압 VNN의 1,25V에 약 0.092mA까지 증가한다. 그후, 전류 iQD12는 전압 VNN이 계속 증가하지 않는한 포화될 수도 있다. 따라서, 트랜지스터 QD12는 정전류원으로서 작용하며, 소비전력을 저레벨로 제한한다.
곡선 C2는 전압공급라인상의 전압 Vcc에 의해 한정되는 트랜지스터 QD11, iQD12을 통해 흐르는 전류를 나타낸다. 쇄선으로 보인 곡선 C21은 전압 Vcc가 2,9V일때 전류 iQDl1를 나타내며, 실선으로 보인 곡선C22는 전압 Vcc가 3,0V일패 전류 iQD11를 나타내며 그리고 파선으로 보인 곡선 C23은 전압 Vcc가 3.lV일때 전류 iQD11을 나타낸다.
곡선 C1과 C2의 교차점은 검출신호 SX의 전압 VNN을 한정해 준다. 이 경우에, 전압 VNN은 약 1,1V이다.이 전압레벨은 반전기 회로 2를 트리거할 때 안정출력회로 Sz가 반전기 I46을 통하여 트랜지스터 QE43의 게이트에 인가도될 수 있도록 해주는 것이 좋다.
그러나, 이 실시예에서는 다음과 같은 단점들이 나타난다. 즉,1) 전압 VNN의 변동은 제조공정 파라메터들의 변동에 좌우하여 영향을 받을 수 있다. 왜냐하면, 특성곡선들 C1과 C2는 예각에서 교차하기 때문이다. 2) 전압검출은 부정확할 수 있다. 왜냐하면, 각 곡선들 C21,C22와 C23은 곡선 C1상의 교차점에서의 곡선들 C2와 통합되기 때문에 결국 전압레벨 설정회로 1은 2.9V와 3.1V의 전압 Vcc의 범위 내에서 동일한 방식으로 응답할 수 있다.
이와 관련하여, 본 발명의 발명자는 트랜지스터 QD11의 W/L비인 12/4의 상이한 공정파라메터를 사용하도록 시도했다. 그러나, 트랜지스터 QD12=7/4의 W/L비는 상술한 바와같이 유지되어 곡선들 C31,C32와 C33으로 구성된 특성곡선들 C1과 C3가 얻어진다. 곡선 C1은 상술한 것과 동일하다. 쇄선으로 보인 곡선 C31은 전압 Vcc가 2.9V일때 트랜지스터 QD11을 통해 흐르는 전류 iQD11을 나타낸다. 마찬가지로, 실선으로보인 곡선 C32와 파선으로 곡선 C33은 전압 Vcc가 각각 3,0V와 3,1V일때의 전류 iQD11을 나타낸다.
이 실시예는 곡선들 C1과 C31,C32과 C33의 상호교차 관계로 부터 볼 수 있는 바와같이 상술한 단점들을 해결해 준다. 그러나, 이 실시예는 약 2.3V와 2.5V간에 상당히 큰 레벨 감지전압 VNN을 갖는 단점을 갖고있다. 정상적으로, 반전기회로 2의 트립(trip) 레벨은 약 1.0V와 1.5V 사이에 있다. 따라서, 그러한 고레벨 감지전압은 반전기회로 2의 요구조건들과 양립될 수 있다.
상기 고레벨전압에 맞는 반전기회로 2 대신에 신호발생회로를 실현시키기 위해서는 예를 들어 더 복잡한 회로들 즉 슈미트 트리거회로를 구비해야만 한다. 만일 슈미트 트리거회로가 신호발생회로용으로 적용될 경우 조차, 전압 Vcc가 3V일때 2.0V 내지 2.5V의 트립레벨을 실현시키는 것이 어렵다. 또한, 트립 레벨은 검출레벨의 부정확성을 유발시키는 공정파라메터들의 변동에 따라 변동한다.
양호한 실시예를 지금부터 설명한다. 여기서, 발명자는 전압레벨 설정회로 1을 고안했는데, 이는 트랜지스터 QD11의 게이트가 공통연결된 점 NN에 연결되는 대신에 실선으로 보인 바와 같이 전압공급라인 Vcc에 연결되어 있다.
다음과 같은 공정파라메터들 즉, 트랜지스터 QD11의 W/L=4/8과 트랜지스터 QD12의 W/L=7/4에서 곡선들 C41,C42와 C43으로 구성된 특성곡선들 C1과 C4가 얻어진다. 곡선 Cl은 상술한 것과 동일하다. 왜냐하면, 트랜지스터 QD12의 공정파라메더 W/L은 동일하다.
곡선 C41은 전압 Vcc가 2.9V일때 트랜지스터 QD11것을 통해 흐르는 전류 iQD11을 나타낸다. 마찬가지로, 곡선들 C42와 C43은 전압 Vcc가 3.OV와 3.1V일때의 전류를 나타낸다.
곡선 C1과 곡선 C41,C42와 C43의 교차점에서의 전압 VNN은 각각 1.03V,1.12V와 1.21V이다. 전압 △VNN의 범위는 0,18V 즉, 중심전압 VNN의 ±0,09V이다.
전압 VNN의 값은 반전회로 2를 트리거하기 위한 요구조건에 맞는다. 그 밖에, 전압범위 △VNN은 0.1V의 분석에서 전압 Vcc의 변동을 변별하기에 충분하다.
제 3 도에 보인 회로동작을 설명한다.
제 5 도는 일기간의 시간에서 신호 VCC,SX와 VNN(1)의 전압변동을 나타내는 그래프이다.
이 실시예에서는 설명을 간략히 하기 위해 시간 t0로부터 시간 t2까지 전원전압 Vcc가 선형으로 상승한다고 본다. 전압 Vcc의 값은 시간 t0대에서 0볼트 그리고 시간 t2에서 5V이다.
전원전압 Vcc가 시간 t0에서 상승하기 시작할때 트랜지스터 QD11은 동작하여 그의 드레인과 소오스간에 흐르는 전류 iQD11을 흘리도록 개시될 수 있다. 전류 iQDl1은 정전류원으로서 작용하는 트랜지스터 QD12를 통하여 접지 GND에 흐른다. 전원전압 Vcc의 상승은 iQDl1을 증가시키는 원인이 되나, 트랜지스터 QD12는 그를 통해 흐르는 전류 iQD12를 제한한다. 따라서, 노드 NN에서의 제 5 도에서 파선으로 보인 전압 VNN(1)의 상승은 전압 VCC의 상승에 좌우한다. 전압 VNN(1)이 반전회로 2의 임계전압 Vth를 초과할때 출력신호 SY의 출력레벨은 반전된다. 즉, 다시말하여, 노드 N2의 전압레벨은 시간 tl에서 낮아진다.
반전된 출력신호 Sy가 반전회로 3에서 트랜지스터 QE31와 게이트에 인가될때노드 N3에서의 출력신호Sz의 출력레벨은 저레벨로 부터 고레벨로 반전된다. 결과적으로, 고레벨을 갖는 출력신호 Sz는 반전기 I46을 통하여 트랜지스터 QE43의 게이트에 인가되므로 내부기입 이네이블신호
Figure kpo00006
는 메모리회로를 트리거하도록발생될 수 있다.
트랜지스터 QD12가 접지로 흐르는 전류를 제한시켜 주는 정전류원으로서 작용하기 때문에 전압레벨 설정회로 1의 소비전력은 예정된 값으로 제한된다. 그 밖에 트랜지스터 QDl2의 소오스는 접지되어 있기 때문에 안정된 회로동작을 보장하도록 역바이어스로 부터 영향을 받지 않는다.
제 6 도는 본 발명의 또 다른 실시예의 회로도이다. 제 6 도에서, 전압레벨 설정회로 1'는 제3공핍형 MIS트랜지스터 QD13을 포함하고 있다. 제 6 도에서 다른 소자들은 제 3 도 것들과 동일하므로 동일번호를 첨부한다.
트랜지스터 QD13은 트랜지스터 QD11에 병렬로 연결된다. 즉, 트랜지스터 QD13의 드레인과 소오스는 트랜지스터 QD11의 것들과 연결된다. 그러나, 트랜지스터 QD13의 게이트는 반전기 회로 3의 노드 N3에 연결된다. 다시말하면, 출력신호 Sz는 궤환신호로서 트랜지스터 QD13의 게이트에 인가된다.
전원전압이 예정된 값, 예를 들어 3.0V에 도달한 것이 검출된 후 고레벨 출력신호 Sz는 트랜지스터QD13의 게이트에 인가되므로 트랜지스터 QD13은 동작될 수도 있다. 이것이 트랜지스티 QD13의 상호 콘덕턴스 gm을 증가시키기 때문에 제 5 도에 실선으로 보인 전압 VNN(2)는 노드 NN에서 전압 VCC까지 급격히 올라갈 수도 있다. 결국, 반전기 회로들 2와 3으로 구성된 버퍼회로나 신호발생회로는 안정출력신호 Sz를 출력시키도록 검출신호 Sz를 래치시켜 준다.
이것은 특히 전원 시동시에 전압 Vcc가 제 7 도에 보인 바와같은 흐트러짐이나 잡음을 함유할 때 반전회로3의 발진을 방지해주는 장점이 된다.
만일 트랜지스터 QD13이 생략될 경우, 출력신호 Sz는 임계레벨 Vth근처에서 전압 Vcc의 변동에 따라 높아지거나 낮아질 수 있다. 트랜지스터 QD13을 제공함으로써 발진이 제거되어 출력신호 Sz의 출력이 안정되는 것을 보장해줄 수 있다.
노드 NN에서 전압 VNN(2)가 트랜지스터 QDl3의 상승작용에 의해 급격히 상승한 후 트랜지스터들 QD11과 QD13의 전류공급능력이 증가한다. 다시말하여, 트랜지스터들 QD11과 QD13의 저항성분들은, 전원전압VCC의 증가에 비례하여 감소된다. 결과적으로, 전압 VNN(2)는 전압 VCC의 증가에 거의 비례하여 증가될수도 있으며 그때 전압 Vcc가 제 5 도의 시간 t2에서 정격 값에 도달할때 일정한 레벨에서 유지될 수도 있다 .
상술한 동작설명은 전원 시동시에 상승전압 Vcc의 검출에 관한 것이다. 전압레벨 검출회로는 예를 들어 전원이 정지되거나 전압 Vcc의 변동이 잡음 때문에 발생할 때 강하전압 Vcc를 자연적으로 검출한다.
제 3 도와 제 6 도에 보인 실시예들에서, 노드 NN의 전압 검출레벨은 응용회로의 동작조건에 맞는 소정의 검출전압 레벨과 반전기회로 2의 임계전압 Vth에 따라 결정될 수 있으며 또한 트랜지스터들 QD11내지QD13의 크기를 wjd할 수 있다. 특히, 소정의 검출전압 Vcc가 3.0V이고 반전기회로의 임계전압 Vth가 1.5V일때 노도 NN의 검출전압은 1.5V로 설계된다. 트랜지스터를 QD11과 QD12의 칫수들 예를 들어, 트랜지스터의 채널폭과 기장은 상술한 요구조건에 맞도록 설계한다.
전압레벨 설정회로 1 및 1내의 트랜지스터들 QDl1내지 QD13은 공핍형 MIS 트랜지스터들이다. 따라서, 회로파라 메터들이 비록 제조공정시에 변동으로 인하여 변화원다 할지라도 각 트랜지스터의 회로파라메터들은 트랜지스터들 QD11,QD12와 QD13간에 비교적 균일한 회로파라메터들을 얻도록 균일하게 변동될 수 있으므로 전압검출의 고정밀성이 유지될 수 있다.
전압레벨 설정회로 1을 뒤이어 바람직한 수의 반전기회로들이 저레벨 및/또는 고레벨 검출신호의 출력을 가능하도록 사용될 수 있다.
예를 들면, 제 3 도의 제 6 도에 보인 반전기회로들 2와 3은 콤프리멘타리 MIS(C-MIS) 반전기회로들로 대치될 수 있다.
본 발명의 많은 광범위한 실시예들을 본 발명의 범위와 정신에서 이탈하지 않는 범위내에서 구성하는 것이 가능하다. 따라서, 본 발명은 상술한 실시예들에만 국한되지 않고 청구범위에 의해서만 제한됨을 이해할수 있을 것이다.

Claims (12)

  1. 제1(Vcc) 및 제2(GND) 공급라인들간에 연결되는 전압레벨 검출회로에 있어서, 상기 제1공급라인과 공통노드(NM)간에 연결되며 또한 상기 제1공급라인에 연결되는 게이트를 갖는 제1공핍형 금속 절연반도체(MIS) 트랜지스터(QDl1)와, 상기 공통노드(NM)와 상기 제 2공급라인간에 연결되며 또한 상기 제 2공급 라인에 연결되는 게이트를 갖는 제 2공핍형 MIS 트랜지스터(QD12)와, 그리고, 상기 공통노드(NM)에 연결되고, 상기 공통노드의 전위(Sx)가 예정값에 도달할때 출력신호(Sz)를 발생시키는 수단(2,3)으로 구성되는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
  2. 제 1 항에서, 상기 출력신호 발생수단(2,3)은 전압레벨 검출신호(Sx)에 반응하여 논리신호를 출력시키도록 예정된 임계전압을 갖는 반전기회로(2)를 포함하는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
  3. 제 2 항에서, 상기 반전기회로(2)는 직렬연결된 공핍형(QD21)과 고양형(QE21) 트랜지스터들을 갖는것이 특징인 전압레벨 검출회로.
  4. 제 1 항에서, 상기 출력신호 발생수단(2,3)은 공통노드(NM)에 연결된 입력단자를 갖는 제1반전기수단(2)과 상기 제1반전기회로(2)의 출력단자(N2)에 연결된 입력단자를 갖는 제2반전기회로(3)를 포함하며, 상기 전압레벨 검출회로는 제1공핍형 MIS 트랜지스터(QDll)의 드레인에 연결된 드레인, 제1공핍형 MIS 트랜지스터(QDl1)의 소오스에 연결된 소오스와 출력신호발생수단의 출력단자(N3)에서 안정된 출력신호를 출력시키도록 상기 출력신호 발생수단의 상기 출력단자(N3)에 연결된 게이트를 갖는 제3공핍형 MIS트랜지스터(QD13)를 더 포함하는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
  5. 제 4 항에서, 상기 각 반전기회로들은 직렬로 연결된 공핍형(QD21,QD31) 및 고양형(QE21,QE31) 트랜지스터들을 갖는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
  6. 제 1 항에서, 상기 전압레벨 검출회로는 제1공핍형 MIS 트랜지스터(QD11)의 드레인에 연결된 드레인, 제1공핍형 MIS 트랜지스터의 소오스에 연결된 소오스와 출력신호 발생수단의 출력단자에서 안정된출력신호를 출력시키도록 상기 출력신호 발생수단의 상기 출력단자(N3)에 연결된 게이트를 갖는 제3공핍형 MIS 트랜지스터(QD13)를 더 포함하는 것이 특징인 전압 레벨 검출회로.
  7. 제 6 항에서, 상기 출력신호 발생수단은 전압레벨 검출신호에 반응하는 논리신호를 출력시키도록 예정된 임계전압을 갖는 반전기회로(2)를 포함하는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
  8. 제 7 항에서, 상기 반전기회로(2)는 직렬로 연결된 공핍형(QD21) 및 고양형(QE21) 트랜지스터들을 갖는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
  9. 제 1 항에서, 상기 출력신호발생수단은 상기 공통노드(NM)의 전위가 전압레벨 검출신호를 출력시키기 위해 예정된 전압 값 이하로 떨어질매 출력신호를 출력시키도록 구성되는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
  10. 제 1 항에서, 상기 출력신호 발생수단(3)으로부터의 상기 출력신호(Sz)는 메모리 제어회로(4)를 작동시키기 위해 이용되는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
  11. 제 1항에서, 상기 제 1전원공급라인은 직류(DC) 전원(Vcc)에 연결되며, 상기 제 2 전압공급라인은 접지(GND)에 연결되는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
  12. 제 11 항에서, 상기 DC전원의 정격전압은 5V이며, 상기 출력신호 발생수단의 전압 레벨 검출신호를 출력시키기 위한 상기 예정레벨은 약 3V인 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63755A (ja) * 1986-06-20 1988-01-05 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US4736119A (en) * 1987-02-04 1988-04-05 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Dynamic CMOS current surge control
JPH04106784A (ja) * 1990-08-28 1992-04-08 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
JP3217498B2 (ja) * 1992-10-29 2001-10-09 富士通株式会社 半導体集積回路装置
JPH06334480A (ja) * 1993-05-25 1994-12-02 Nec Corp 半導体集積回路
FR2822956B1 (fr) 2001-04-02 2003-06-06 St Microelectronics Sa Dispositif de detection d'alimentation
FR2871309B1 (fr) * 2004-06-02 2006-12-15 St Microelectronics Sa Circuit d'inhibition a faible consommation
CN100442772C (zh) 2005-10-19 2008-12-10 华为技术有限公司 一种桥接转发方法
TR200701135A2 (tr) * 2007-02-23 2008-09-22 Vestel Elektron�K San. T�C. A.�. İstenilmeyen I2C okuma/yazma işlemlerinin engellenmesi
US8154320B1 (en) * 2009-03-24 2012-04-10 Lockheed Martin Corporation Voltage level shifter

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3950654A (en) * 1974-11-14 1976-04-13 American Microsystems, Inc. Power-on initializing circuit for a calculator system
JPS5179540A (en) * 1975-01-06 1976-07-10 Hitachi Ltd Dengentonyugono shokijotaisetsuteikairo
CH607455A5 (ko) * 1975-05-09 1978-12-29 Siemens Ag
JPS5373340A (en) * 1976-12-11 1978-06-29 Toshiba Corp Abnormal voltage detection circuit
JPS6019011B2 (ja) * 1977-12-23 1985-05-14 株式会社日立製作所 オートクリア回路
GB2081458B (en) * 1978-03-08 1983-02-23 Hitachi Ltd Voltage comparitors
JPS55149871A (en) * 1978-07-31 1980-11-21 Fujitsu Ltd Line voltage detector
US4301380A (en) * 1979-05-01 1981-11-17 Motorola, Inc. Voltage detector
JPS56122225A (en) * 1980-02-29 1981-09-25 Fujitsu Ltd Power on reset circuit
US4463270A (en) * 1980-07-24 1984-07-31 Fairchild Camera & Instrument Corp. MOS Comparator circuit
JPS57168525A (en) * 1981-04-09 1982-10-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Detecting circuit of power supply voltage
US4460985A (en) * 1982-02-19 1984-07-17 International Business Machines Corporation Sense amplifier for MOS static memory array

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EP0155113B1 (en) 1990-11-14
JPS60180216A (ja) 1985-09-14
US4682051A (en) 1987-07-21
EP0155113A3 (en) 1987-01-14

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