KR890007617A - 플라즈마 처리방법 및 장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명의 일실시예의 플라즈마 처리장치의 요부 종단면도,
제 2 도는 본 발명의 제 2 의 실시예의 제 1 도와 동일 부위의 종단면도,
제 3 도는 본 발명의 제 3 의 실시예의 제 1 도와 동일부위의 종단면도.
Claims (11)
- 처리가스를 감압하에서 플라즈마화 하는 스탭과, 감압하에서 0℃이하의 저온으로냉각된 시료를 상기 플라즈마를 이용하여 처리하는 스탭과 상기시료가 설치되는 시료대의 시료설치면을 제외한 적어도 상기 시료가 처리되는 분위기에의 노출면을 상기분위기에 있는 가스의 노점온도 이상의 온도로 유지하는 스탭을 가지는 플라즈마 처리방법.
- 제 1 항에 있어서, 마크로파를 포함하는 전계와 자계와의 작용에 의하여 상기 처리가스를 감압하에서 플라즈마화하고, 감압하에서 0℃이하의 저온으로 냉각된 상기 시료를 상기 플라즈마를 이용하여 처리하고, 상기 시료대의 적어도 상기 노출면을 상기 분위기 가스의 노점 온도이상의 온도로 유지하는 플라즈마처리 방법
- 제 1 항에 있어서, 마이크로파를 포함하는 전계의 작용에 의하여 상기 처리가스를 감압하에서 플라즈마화하고 감압하에서 0℃이하의 저온으로 냉각된 상기 시료를 상기 플라즈마를 이용하여 처리하고, 상기 시료대의 상기 노출면을 상기 분위기 가스의 노점온도 이상의 온도로 유지하는 플라즈마 처리방법.
- 제 1 항에 있어서, 고주파 전계와 자계와의 작용에 의하여 상기 처리가스를 감압하에서 플라즈마화하고, 감압하에서 0℃이하의 저온으로 냉각된 상기 시료를 상기 플라즈마를 이용하여 처리하고 상기시료대의 적어도 상기 노출면을 상기 분위기 가스의 노점온도이상의 온도를 유지하는 플라즈마 처리방법.
- 제 1 항에 잇어서, 고주파 전계의 작용에 의하여 상기 처리가스를 감압하에서 플라즈마화하고 감압하에서 0℃이하의 저온으로 냉각된 상기 시료를 상기플라즈마를 이용하여 처리하고 상기 시료대의 적어도 상기 노출면을 상기 분위기 가스의 노출온도 이상의 온도를 유지하는 플라즈마 처리방법.
- 처리실내를 감압배기하는 스탭과, 상기 처리실내에 처리가스를 도입하는 스탭과 상기 처리가스를 상기 처리실내에서 플라즈마화하는 스탭과 상기 처리실내에 설치된 시료대의 시료설치면에 시료를 설치하고 그 시료를 상기 시료대를 거쳐 0℃이하의 저온으로 냉각하는 스탭과 그 냉각된 시료를 상기 플라즈마를 이용하여 처리하는 스탭과 상기시료대의 상기 시료설치면을 제외한 적어도 상기 처리실내의 노출면을 상기 처리실내에있는 가스의 노점온도이상의 온도로 유지하는 스탭을 가지는 플라즈마 처리방법.
- 처리실과 그 처리실 내를 감압배기하는 수단과, 상기 처리실내에 처리가스를 도입하는 수단과, 상기 처리가스를 플라즈마화 하는 수단과 그 플라즈마를 이용하여 처리되는 시료가 상기 처리실내에서 설치되는 시료대와, 상기 시료를 0℃이하의 저온으로 냉각 가능하게 상기 시료대를 냉각하는 수단과, 그 시료대의 시료설치면을 제외한 적어도 상기 처리실내의 노출면을 상기 처리실내에 있는 가스의 노점온도 이상의 온도로 유지하는 수단을 구비한 플라즈마 처리장치.
- 제 7 항에 있어서, 상기 노출면에 단열재를 설치하고 그 단열재를 커버로 유지한 플라즈마 처리장치.
- 제 8 항에 있어서, 상기 단열재를 상기 처리실내의 압력하에 있어서의 상기 처리실내의 가스의 노점온도 이상의 온도로 상기 커버의 온도를 유지가능하게 상기 시료의 온도에 대응하여 선택한 플라즈마 처리장치.
- 제 7 항에 있어서, 상기 노출면에 상기 처리실내와 기밀하게 격리된 감압공간을 설치한 플라즈마 처리장치.
- 제 7 항에 있어서, 상기 노출면에 상기 처리실내와 기밀하게 격리된 감압공간을 설치하고 그 감압공간의 주위에 상기 처리실내 및 감압공간과 기밀하게 격리된 가온공간을 설치한 플라즈마 처리장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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