KR870005357A - 해독장치 - Google Patents

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KR870005357A
KR870005357A KR860009274A KR860009274A KR870005357A KR 870005357 A KR870005357 A KR 870005357A KR 860009274 A KR860009274 A KR 860009274A KR 860009274 A KR860009274 A KR 860009274A KR 870005357 A KR870005357 A KR 870005357A
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KR
South Korea
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light
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optical
optical system
photodetector
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KR860009274A
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Inventor
헨리 해트피일드 제임스
Original Assignee
알란 브라이안 벡
임페리알 케미칼 인더스트리스 피엘씨
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/02—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
    • G06K7/14—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation using light without selection of wavelength, e.g. sensing reflected white light
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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    • G—PHYSICS
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    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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Abstract

내용 없음

Description

해독장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 입각한 원리들을 도시하는 개략도.
제2도는 에탈론(etalon)의 광학적 경로차를 조정하거나 측정하기 위한 간섭에 입각한 장치의 구체적이며 상세한 선도.
제3A도는 선형배열 광검출기의 단일주사에 의하여 제2도 장치의 선형배열 광검출기로 부터(여과후) 얻어지는 비데오신호의 파형도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1,11 : 텅스텐 할로겐 램프 2,18 : 에탈론
3,21 : 정상기준요소(웨지) 4,24 : 선형배열광검출기
10 : 백색광투영기 12 : 콘덴서 렌즈조립체
13 : 마스크플레이트 14 : 대물렌즈
15 : 편광필터 16 : 비임 스프리터
17,20 : 렌즈 22 : 오목구면경
25 : 전자회로 27,28,29 : 광섬유도관
30 : 디스크 31 : 동심원환상데이타트렉
32,33 : 구동수단 40 : 다각형밀러
50 : 제1광학글래스플래트 51 : 얇은층
52,53 : 플래트면 55 : 제2광학글래스플래트

Claims (10)

  1. 광원, 광학기준웨지(wedge), 에탈론(etalon)과 기준웨지로 이루어진 두 요소들 상의 한 요소로 광원으로부터 광비임이 향하도록하여 두요소들 중의 다른 하나는 한 요소로부터 반사된 광을 받도록 위치한 광학시스템 및 상기 다른 요소로부터 반사된 광을 받도록 배치된 검출기로 구성된 에탈론의 두 반사표면들 사이의 광학적 경로차를 조정하기 위한 장치에 있어서, 상기장치가 정상적인 신형광학기준웨지(3,21)로 이루어진 기준웨지와 선형배열 광검출기(4,24)로 이루어진 광검출기를 특징으로 하는 장치.
  2. 제1항에 있어서, 광원(10), 에탈론(2,8,30,36,42), 기준웨지(3,21) 및 배열광범출기(4,24)의 최소한 두개의 연속적인 광들 사이에 광을 운반시키기 위하여 광도관(27,28,29 또는 29a)이 제공되는 것을 특징으로 하는 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 에탈론(30,36)을 이동시키기 위한 장치(32)가 제공되는 것을 특징으로 하는 장치.
  4. 전기한 항들중 어느 한 항에 있어서, 광비임(B)이 에탈론(30,36,42) 위의 표면을 가로질러 선택된 위치들로 향하도록 광학시스템이 배치된 것을 특징으로 하는 장치.
  5. 제4항에 있어서, 배열광검출기(24)가 2차원배열로 이루어진 것을 특징으로 하는 장치.
  6. 제4항에 있어서, 에탈론(30,36)으로 입사하는 광비임(B)의 위치들을 선택하기 위하여 광학시스템이 이동할 수 있는 헤드를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 장치.
  7. 제4항에 있어서, 에탈론(42)으로 입사하는 광비임(B)의 위치들을 선택하기 위하여 광학시스템이 회전할 수 있는 다각형밀러(40)을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 장치.
  8. 제5항, 제6항 또는 제7항에 있어서, 에탈론(42)의 각 선택된 위치들로 광비임(B)을 운반시키는 다수의 광도관들(43)이 제공되는 것을 특징으로 하는 장치.
  9. 전기한 항들중 어느 한 항에 있어서, 상기배열광검출기(4,24)가 전하결합디바이스(CCD)로 이루어진 것을 특징으로 하는 장치.
  10. 캐리어로 부터 부호화데이타를 판독하기 위한 검출장치에 있어서, 상기 검출장치가 캐리어(30,36)의 서로 반대되는 반사표면들 사이의 광학적경로차를 조정하기 위하여 전기한 항들 중의 어느 한항의 장치로 배열되어 이루어진 것을 특징으로 하는 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR860009274A 1985-11-05 1986-11-04 해독장치 KR870005357A (ko)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
GB8527235 1985-11-05
GB858527235A GB8527235D0 (en) 1985-11-05 1985-11-05 Measuring instrument

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KR860009274A KR870005357A (ko) 1985-11-05 1986-11-04 해독장치

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EP (1) EP0227253B1 (ko)
JP (1) JPS62175605A (ko)
KR (1) KR870005357A (ko)
AT (1) ATE61105T1 (ko)
AU (1) AU590019B2 (ko)
BR (1) BR8605438A (ko)
CA (1) CA1270679A (ko)
DE (1) DE3677737D1 (ko)
ES (1) ES2020510B3 (ko)
GB (2) GB8527235D0 (ko)
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DE3677737D1 (de) 1991-04-04
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CA1270679A (en) 1990-06-26
ATE61105T1 (de) 1991-03-15
AU590019B2 (en) 1989-10-26
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US4768182A (en) 1988-08-30
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