KR840006696A - 칼라의 휘도를 측정하기 위한 프로세서(process)와 장치 - Google Patents

칼라의 휘도를 측정하기 위한 프로세서(process)와 장치 Download PDF

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Abstract

내용 없음

Description

칼라의 휘도를 측정하기 위한 프로세서(process)와 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 광학 기계장치의 단면을 예시한 본 발명의 제1 실시예의 블록 다이어그램.
제2도는 노광 디스크(exposure disc)의 예시도.
제5도는 전자회로인 비교 및 감산회로의 블록다이어 그램.

Claims (9)

  1. 비교해 의해 칼라의 휘도를 측정하기 위한 프로세서에 있어서, 측정되는 샘플과 이 샘플과 유사한 적어도 하나이상의 레퍼런스 칼라의 블랙 레퍼런스에 동인한 입사 광비임을 연속적으로 주기적으로 노광시키는 단계와, 한편으로는 레퍼런스 칼라와 샘플에 의해 그리고 또 한편으로는 레퍼런스 칼라와 블랙 레퍼런스에 의해 반사된 광비임의 강도비를 성립하는 상기 샘플과 레퍼러스에 의해 연속적으로 반사되는 광비임을 광전기적으로 검출하는 단계와, 상기 제1비로부터 제2비를 감산하는 단계와, 노광주기나 또는 측정 주기동안 상기 샘플갈라의 휘도에 비례하는 차를 규정된 측정 주파수에서 자동적으로 얻는 단계로 구성된 것을 특징으로 하는 칼라의 휘도를 측정하기 위한 프로세서.
  2. 제1항에 있어서, 유사한 칼라의 두 레퍼런스가 중, 고휘도로 각각 사용되고, 한편으로는 고휘도의 칼라 레퍼런스와 샘플에 의해 그리고 또 한편으로는 중휘도의 칼라 레퍼런스와 블랙레퍼런스에 의해 반사된 광비임의 강도비가 설정되는 것을 특징으로 하는 칼라의 휘도를 측정하기 위한 프로세서.
  3. 제1항에 있어서, 상기 입사 광비임은 규정된 쵸핑 주파수로 쵸핑하고, 광전 검출후에 이러한 전기신호가 제거되고, 이 신호의 주파수는 쵸핑 주파수와 다른 것을 특징으로 하는 칼라의 휘도를 측정하기 위한 프로세서.
  4. 비교에 의해 칼라의 휘도를 측정하기 위한 장치에 있어서, 광원과, 입사 광비임을 측정되는 샘플과 칼라 레퍼런스에로 직사시켜 형성하는 광학장치와, 상기 샘플과 레퍼런스에 의해 반사된 광 비임의 검출에 응답하여 전기 신호를 발생하는 광 검출기와, 상기 전기 신호를 비교처리 하는 전기회로와, 샘플과 비슷한 적어도 하나 이상의 칼라 레퍼런스와 블랙레퍼런스를 가지는 장치와, 입사광비임을 상기 샘플, 상기 블랙 레퍼런스, 칼라 레퍼런스에 주기적으로 연속하여 노광하는 노광장치와, 한편으로는 샘플과 레퍼런스 칼라에 의해 그리고 또 한편으로는 블랙 레퍼런스와 레퍼런스 칼라에 의해 반사된 광비임의 강도비를 설정하는 2개의 전기 비교회로와, 상기 샘플칼라의 휘도에 직접비례하는 이러한 상기 두 비율 사이의 차를 노광주기나 또는 측정 주기동안 설정하는 감산회로로 구성된 것을 특징으로하는 칼라의 휘도를 측정하기 위한 장치.
  5. 제4항에 있어서, 광학 장치는 광섬유와 환형 분배기로 구성되는데, 상기 광섬유는 광원으로부터 광을 원추입사 광비임이나 또는 여러 수렴광선을 가지는 비임을 형성하는 분배기로 안내하며, 광 검출기가 분배기의 중앙부에 위치한 것을 특징으로 하는 칼라의 휘도를 측정하기 위한 장치.
  6. 제4항에 있어서, 개방섹터, 블랙 레퍼런스 섹터, 중, 고휘도 칼라의 2개의 레퍼런스 섹터로 나뉘어진 회전 노광디스크의 형태를 취하는 노광창치와, 입사 광비임을 광학장치의 가장자리와 중앙부 사이에 위치한 노광 디스크에 직사시켜 상기 비임이 상기 섹터들의 각각에 연속적으로 스위프하는 광학 장치와 비교회로중의 하나가, 고휘도 칼라를 가지는 레퍼런스 섹터에 의해 그리고 샘플에 의해 반사된 광비임의 강도비를 설정하고 나머지 다른 비교기가 중휘도 칼라를 가지는 레퍼런스섹터와 블랙레퍼런스 섹터에 의해 반사된 광비임의 강도비를 설정하도록 설계된 2개의 비교회로로 구성된 것을 특징으로 하는 칼라의 휘도를 측정하기 위한 장치.
  7. 제4항에 있어서, 전기 동기 신호를 발생시키기 위하여 상기 장치는 적어도 하나 이상의 보조광원과 적어도 하나 이상의 보조 광검출기 사이에 상기 측정 주파수를 통과시키는 호울이 뚫린 회전 동기 디스크를 형성하는 동기 장치와, 상기 전자비교회로를 동기화하고 상기 노광장치를 구동하는 구동 수단을 조정하는 동기 회로를 구성한 것을 특징으로 하는 칼라의 휘도를 측정하기 위한 장치.
  8. 제4항에 있어서, 상기 장치는 또한 원주상에 배열된 다수의 개구가뚫린 회전쵸퍼 디스크의 형태를 취하여 규정된 쵸핑 주파수에 광원으로부터의 광을 선택적으로 방출, 차단할 수 있는 광 쵸핑 장치와, 광검출기에 의해 전송된 전기 신호를 복조 및 증폭하는 전기회로로 구성된 것을 특징으로하는 칼라의 휘도를 측정하기 위한 장치.
  9. 제4항에 있어서, 상기 장치가 각 측정 주기동안 결정되고 상기 샘플의 칼라의 휘도에 비례하는 값을 영구히 표시하기 위한 표시장치를 구성한 것을 특징으로 하는 칼라의 휘도를 측정하기 위한 장치.
    ※참고사항:최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임
KR1019830004657A 1982-10-14 1983-09-30 칼라의 휘도를 측정하기 위한 방법과 장치 KR880001359B1 (ko)

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