JP2581016B2 - 顕微赤外分光光度計 - Google Patents
顕微赤外分光光度計Info
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- JP2581016B2 JP2581016B2 JP22251194A JP22251194A JP2581016B2 JP 2581016 B2 JP2581016 B2 JP 2581016B2 JP 22251194 A JP22251194 A JP 22251194A JP 22251194 A JP22251194 A JP 22251194A JP 2581016 B2 JP2581016 B2 JP 2581016B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は顕微赤外分光光度計に関
し、特に微小領域の赤外線吸収スペクトルの測定が可能
な顕微赤外分光光度計に関するものである。
し、特に微小領域の赤外線吸収スペクトルの測定が可能
な顕微赤外分光光度計に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図2に従来の微小領域の赤外吸収スペク
トル(以下、IRスペクトルと略す。)の測定法の概略
を透過法を例として示す。微小領域のIRスペクトル
は、白色光源21から出射された2.5〜25μmの波
長をもつ赤外ビーム22をある程度収束し、試料23に
透過させて試料の情報を含ませ、該情報を含む赤外ビー
ム24のうち観測対象領域以外の情報をもつ赤外ビーム
をアパーチャ26で除外し、観察対象領域のビーム27
のみを検出器28で検出し、電気信号に変換してデータ
処理装置29に送り、IRスペクトルに変換することに
より得られる。
トル(以下、IRスペクトルと略す。)の測定法の概略
を透過法を例として示す。微小領域のIRスペクトル
は、白色光源21から出射された2.5〜25μmの波
長をもつ赤外ビーム22をある程度収束し、試料23に
透過させて試料の情報を含ませ、該情報を含む赤外ビー
ム24のうち観測対象領域以外の情報をもつ赤外ビーム
をアパーチャ26で除外し、観察対象領域のビーム27
のみを検出器28で検出し、電気信号に変換してデータ
処理装置29に送り、IRスペクトルに変換することに
より得られる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】アパーチャで絞ること
のできる赤外ビーム径の限界はビームの波長に依存し、
10μmの波長をもつビームであれば、10μmφ以下
に絞ることは困難である。有用なIRスペクトルを得る
には、少なくとも2.5〜14μmの波長領域で連続的
な波長をもつ赤外ビームが必要で、この場合、アパーチ
ャで絞れるビーム径の限界は約14μmφとなる。従っ
て、それ以下の領域のIRスペクトルを得ることはでき
ないという問題点があった。本発明の目的は、このよう
な従来の問題点を解決することにある。
のできる赤外ビーム径の限界はビームの波長に依存し、
10μmの波長をもつビームであれば、10μmφ以下
に絞ることは困難である。有用なIRスペクトルを得る
には、少なくとも2.5〜14μmの波長領域で連続的
な波長をもつ赤外ビームが必要で、この場合、アパーチ
ャで絞れるビーム径の限界は約14μmφとなる。従っ
て、それ以下の領域のIRスペクトルを得ることはでき
ないという問題点があった。本発明の目的は、このよう
な従来の問題点を解決することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、試料にコヒー
レントな赤外光を照射する赤外光光源と、前記試料を透
過した透過赤外ビームを検出する検出器と、前記試料と
前記検出器との間に配置され、前記透過赤外ビームを入
射して2次または3次高調波とする非線形光学材料の結
晶と、前記非線形光学材料結晶の検出器側に配置され
て、前記2次または3次高長波を絞り込むアパーチャと
を備えてなることを特徴とする顕微赤外分光光度計であ
る。ここで、赤外光光源としては、波長可変赤外線レー
ザがあげられる。
レントな赤外光を照射する赤外光光源と、前記試料を透
過した透過赤外ビームを検出する検出器と、前記試料と
前記検出器との間に配置され、前記透過赤外ビームを入
射して2次または3次高調波とする非線形光学材料の結
晶と、前記非線形光学材料結晶の検出器側に配置され
て、前記2次または3次高長波を絞り込むアパーチャと
を備えてなることを特徴とする顕微赤外分光光度計であ
る。ここで、赤外光光源としては、波長可変赤外線レー
ザがあげられる。
【0005】
【作用】本発明は、波長可変赤外線レーザ等のコヒーレ
ントな光源をもち、非線形光学材料の結晶をアパーチャ
の前に設置し、試料の情報を含んだ赤外ビームを透過さ
せ、そこから得られる波長が1/2の2次高調波、また
は1/3の3次高調波をアパーチャで絞ることで、絞れ
るビーム径の限界を従来の1/2〜1/3に向上させ、
この微小領域のIRスペクトルの測定を可能とするもの
である。
ントな光源をもち、非線形光学材料の結晶をアパーチャ
の前に設置し、試料の情報を含んだ赤外ビームを透過さ
せ、そこから得られる波長が1/2の2次高調波、また
は1/3の3次高調波をアパーチャで絞ることで、絞れ
るビーム径の限界を従来の1/2〜1/3に向上させ、
この微小領域のIRスペクトルの測定を可能とするもの
である。
【0006】
【実施例】次に本発明の実施例について、透過法の場合
を例とし、図1を参照して示す。本装置は、コヒーレン
トな赤外ビーム2を試料3に照射する光源1と、試料3
の検出器側に配置された非線形光学材料よりなる結晶5
と、この非線形光学材料の結晶5の検出器側に配置され
たアパーチャ8および検出器10を含む。光源1から出
たコヒーレントな赤外ビーム2は試料3を透過し、試料
の情報を含む。この試料の情報を含む赤外ビーム4が非
線形光学材料の結晶5を透過したとき、2次または3次
高調波6が得られる。この2次または3次高調波6の波
長は、赤外ビーム2および4の1/2または1/3にな
っている。この2次または3次高調波6の観測対象領域
以外をアパーチャ8で除外し、観測対象領域のビーム9
のみを検出器10へと導く。観測対象領域のビーム9は
検出器10で電気信号に変換されデータ処理装置11へ
送られ、IRスペクトルへ変換される。
を例とし、図1を参照して示す。本装置は、コヒーレン
トな赤外ビーム2を試料3に照射する光源1と、試料3
の検出器側に配置された非線形光学材料よりなる結晶5
と、この非線形光学材料の結晶5の検出器側に配置され
たアパーチャ8および検出器10を含む。光源1から出
たコヒーレントな赤外ビーム2は試料3を透過し、試料
の情報を含む。この試料の情報を含む赤外ビーム4が非
線形光学材料の結晶5を透過したとき、2次または3次
高調波6が得られる。この2次または3次高調波6の波
長は、赤外ビーム2および4の1/2または1/3にな
っている。この2次または3次高調波6の観測対象領域
以外をアパーチャ8で除外し、観測対象領域のビーム9
のみを検出器10へと導く。観測対象領域のビーム9は
検出器10で電気信号に変換されデータ処理装置11へ
送られ、IRスペクトルへ変換される。
【0007】非線形現象を利用するためには、コヒーレ
ントな光を非線形光学材料の結晶に入射しなくてはなら
ない。また、IRスペクトルを得るには、2.5〜14
μmの波長領域をもつ赤外ビームを試料に照射する必要
がある。したがって、本発明においては、光源1に波長
可変赤外線レーザ等を用い、2.5〜14μmの波長領
域を連続的に掃引する。これにより、非線形光学材料の
結晶5を透過したときに得られる2次または3次高調波
の波長は、1.25〜7μm、または0.83〜4.6
7μmとなり、アパーチャ8により絞れる限界が、従来
の14μmφから、7μmφまたは4.67μmφへと
向上し、IRスペクトルを得ることのできる試料領域
が、従来の14μmφから、7μmφまたは4.67μ
mφへと狭くなり、より狭い領域のIRスペクトルを得
ることが可能となる。
ントな光を非線形光学材料の結晶に入射しなくてはなら
ない。また、IRスペクトルを得るには、2.5〜14
μmの波長領域をもつ赤外ビームを試料に照射する必要
がある。したがって、本発明においては、光源1に波長
可変赤外線レーザ等を用い、2.5〜14μmの波長領
域を連続的に掃引する。これにより、非線形光学材料の
結晶5を透過したときに得られる2次または3次高調波
の波長は、1.25〜7μm、または0.83〜4.6
7μmとなり、アパーチャ8により絞れる限界が、従来
の14μmφから、7μmφまたは4.67μmφへと
向上し、IRスペクトルを得ることのできる試料領域
が、従来の14μmφから、7μmφまたは4.67μ
mφへと狭くなり、より狭い領域のIRスペクトルを得
ることが可能となる。
【0008】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば従
来の1/2〜1/3の微小領域のIRスペクトル測定が
可能となる。
来の1/2〜1/3の微小領域のIRスペクトル測定が
可能となる。
【図1】本発明による顕微赤外分光光度計の一実施例の
構成図である。
構成図である。
【図2】従来例による顕微赤外分光光度計の一例の構成
図である。
図である。
1 光源 2 赤外ビーム 3 試料 4 試料の情報を含む赤外ビーム 5 非線形光学材料の結晶 6 2次または3次高調波 8 アパーチャ 9 観察対象領域のビーム 10 検出器 11 データ処理装置 21 光源 22 赤外ビーム 23 試料 24 試料の情報を含む赤外ビーム 26 アパーチャ 27 観察対象領域のビーム 28 検出器 29 データ処理装置
Claims (2)
- 【請求項1】 試料にコヒーレントな赤外光を照射する
赤外光光源と、前記試料を透過した透過赤外ビームを検
出する検出器と、前記試料と前記検出器との間に配置さ
れ、前記透過赤外ビームを入射して2次または3次高調
波とする非線形光学材料の結晶と、前記非線形光学材料
結晶の検出器側に配置されて、前記2次または3次高調
波を絞り込むアパーチャとを備えてなることを特徴とす
る顕微赤外分光光度計。 - 【請求項2】 赤外光光源が波長可変赤外線レーザであ
る請求項1記載の顕微赤外分光光度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22251194A JP2581016B2 (ja) | 1994-08-24 | 1994-08-24 | 顕微赤外分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22251194A JP2581016B2 (ja) | 1994-08-24 | 1994-08-24 | 顕微赤外分光光度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0862133A JPH0862133A (ja) | 1996-03-08 |
JP2581016B2 true JP2581016B2 (ja) | 1997-02-12 |
Family
ID=16783583
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22251194A Expired - Fee Related JP2581016B2 (ja) | 1994-08-24 | 1994-08-24 | 顕微赤外分光光度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2581016B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IL118130A (en) * | 1996-05-03 | 1998-10-30 | Yeda Res & Dev | Apparatus and method for scanning laser microscopy |
KR101487812B1 (ko) * | 2013-06-07 | 2015-01-30 | 한국과학기술연구원 | 적외선을 이용한 깊이 정보 추출 장치 및 방법 |
GB2624663A (en) * | 2022-11-24 | 2024-05-29 | Univ Nottingham Trent | A frequency conversion device for use with an infrared imaging system |
-
1994
- 1994-08-24 JP JP22251194A patent/JP2581016B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0862133A (ja) | 1996-03-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |