KR20240017056A - Chk1 억제제 화합물의 제조 - Google Patents

Chk1 억제제 화합물의 제조 Download PDF

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Abstract

본 발명은 Chk-1 억제제 화합물 (I)을 제조하기 위한 신규한 합성 경로뿐만 아니라 신규한 방법 중간체 자체를 제공한다.

Description

CHK1 억제제 화합물의 제조
본 발명은 Chk-1 억제제 화합물 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴의 제조 방법, 합성 중간체의 제조 방법, 및 이들 방법에 사용하기 위한 신규한 화학 중간체에 관한 것이다.
Chk-1은 DNA 손상 및 복제 스트레스에 반응하여 세포 주기 체크포인트의 유도에 관여하는 세린/트레오닌 키나제이다[Tse et al, Clin. Can. Res. 2007;13(7)]. 세포 주기 체크포인트는 세포 주기 전환의 순서 및 시기를 제어하는 조절 경로이다. 많은 암세포는 손상된 G1 체크포인트 활성화를 갖는다. 예를 들어, Hahn 등 및 Hollstein 등은 종양이 모든 인간 암의 약 50%에서 발견되는 종양 억제자 유전자인 p53 유전자에서의 돌연변이와 연관되어 있음을 보고하였다[N Engl J Med 2002, 347(20):1593; Science, 1991, 253(5015):49].
Chk-1 억제는 내부 S 및 G2/M 체크포인트를 폐지하고, 종양 세포를 잘 알려진 DNA 손상제에 선택적으로 민감하게 만드는 것으로 나타났다. 이러한 민감성 효과가 입증된 DNA 손상제의 예는 젬시타빈, 페메트렉세드, 시타라빈, 이리노테칸, 캄프토테신, 시스플라틴, 카르보플라틴[Clin. Cancer Res. 2010, 16, 376], 테모졸로미드[Journal of Neurosurgery 2004, 100, 1060], 독소루비신[Bioorg. Med. Chem. Lett. 2006;16:421- 6], 파클리탁셀[WO2010149394], 하이드록시 우레아[Nat. Cell. Biol. 2005;7(2):195-20], 니트로이미다졸 저산소증 표적화 약물 TH-302(Meng et al., AACR, 2013 Abstract No. 2389) 및 전리 방사선[Clin. Cancer Res. 2010, 16, 2076]을 포함한다. 또한 McNeely et al., [Pharmacology & Therapeutics (2014), 142(1):1-10]의 검토 문헌을 참조한다.
최근 공개된 데이터는 또한 Chk-1 억제제가 PARP 억제제[Cancer Res 2006.; 66:(16)], Mek 억제제[Blood. 2008; 112(6): 2439-2449], 파르네실트랜스퍼라제 억제제[Blood. 2005;105(4):1706-16], 라파마이신[Mol. Cancer Ther. 2005;4(3):457-70], Src 억제제[Blood. 2011;117(6):1947-57] 및 WEE1 억제제[Carrassa, 2021, 11(13):2507; Chaudhuri et al., Haematologica, 2014 99(4):688]와 상승적으로 작용할 수 있음을 보여주었다.
더욱이, Chk-1 억제제는 면역요법제와 조합될 때 이점을 입증하였다[Mouw et al., Br J Cancer, 2018. (7):933]. Chk1 억제제는 STING 신호전달을 통해 선천적 면역 반응을 유도하는 cGAS를 활성화하고 PD-L1 발현을 유도하며 생체내에서 항-PD-L1과 상승작용하는 것으로 나타났다[Sen et al., Cancer Discov 2019 (5):646; Sen et al., J Thorac Oncol, 2019. (12):2152].
기존 요법에 대한 임상적 문제인 화학요법 및 방사선요법에 대한 내성은 Chk 1이 연루된 DNA 손상 반응의 활성화와 연관되었다[Nature; 2006; 444(7):756-760; Biochem. Biophys. Res. Commun. 2011 ;406(1):53-8].
또한, 단일 제제로서 또는 조합된 Chk-1 억제제는 DNA 손상 및 체크포인트 경로의 구성적 활성화가 특히 복제 스트레스를 통해 게놈 불안정성을 유발하는 종양 세포를 치료하는 데 유용할 수 있는 것으로 예상된다. 이러한 표현형은, 예를 들어 급성 골수성 백혈병(AML) 환자의 샘플에서 복잡한 핵형과 연관되어 있다[Cancer Research 2009, 89, 8652]. 소분자 억제제를 이용하거나 RNA 간섭에 의한 Chk-1 키나제의 시험관내 길항작용은 높은 DNA 손상 수준 AML 샘플의 클론생성 특성을 강하게 감소시킨다. 대조적으로, Chk-1 억제는 정상적인 조혈 전구세포에 영향을 미치지 않는다. 더욱이, 최근 연구는 종양 미세환경이 유전적 불안정성을 유발하고[Nature; 2008;(8):180-192], Chk-1의 손실이 세포를 저산소증/재산소화에 민감하게 만든다는 것을 보여주었다[Cell Cycle; 2010; 9(13):2502]. 신경모세포종에서, 키노메 RNA 간섭 스크린은 Chk-1의 손실이 8개의 신경모세포종 세포주의 성장을 억제하였음을 입증하였다. 판코니 빈혈 DNA 복구가 결핍된 종양 세포는 Chk-1 억제에 대한 민감성을 나타내었다[Molecular Cancer 2009, 8:24]. Chk-1 특이적 억제제 PF-00477736은 30개의 난소암 세포주[Bukczynska et al, 23rd Lorne Cancer Conference] 및 삼중 음성 유방암 세포[Cancer Science 2011, 102, 882]의 성장을 억제하는 것으로 나타났다. 또한, PF-00477736은 MYC 종양유전자 유발 쥣과 자연적 암 모델에서 선택적인 단일 제제 활성을 나타내었다[Ferrao et al, Oncogene (15 August 2011)]. RNA 간섭 또는 선택적 소분자 억제제에 의한 Chk-1 억제는 B 세포 림프종의 시험관내 및 생체내 마우스 모델 모두에서 MYC 과발현 세포의 세포사멸을 초래한다[Hoglund et al., Clinical Cancer Research, 2011]. 후자의 데이터는 Chk-1 억제제가 B 세포 림프종/백혈병, 신경모세포종 및 일부 유방암 및 폐암과 같은 MYC 유발 악성종양의 치료에 유용할 것임을 시사한다. Chk-1 억제제는 또한 유잉 육종 및 횡문근육종을 포함한 소아 종양 모델에서 효과적인 것으로 나타났다[Lowery, 2018. Clin Cancer Res 2019, 25(7):2278]. Chk1 억제제는 DNA 폴리머라제의 B 계열과 함께 합성적으로 치명적이어서, 복제 스트레스, DNA 손상 및 세포 사멸을 초래하는 것으로 나타났다[Rogers et al., 2020, 80(8);1735]. 다른 세포 주기 조절된 유전자가 또한 CDK2 및 POXM1을 포함한 Chk-1 억제제에 대한 민감성을 부여하는 것으로 보고되었다[Ditano et al., 20201. 11(1);7077; Branigan et al., 2021 Cell Reports 34(9):1098808]
또한, DNA 복구 경로의 활성을 감소시키는 돌연변이가 Chk1 억제와 합성적으로 치명적인 상호작용을 초래할 수 있다는 것이 보고되었다. 예를 들어, RAD50 복합체 및 ATM 신호전달을 방해하는 돌연변이는 Chk1 억제에 대한 반응을 증가시킨다[Al-Ahmadie et al., Cancer Discov. 2014. (9):1014-21]. 마찬가지로, 판코니 빈혈 상동성 DNA 복구 경로의 결핍은 Chk1 억제에 대한 민감성을 유발한다[Chen et al., Mol. Cancer 2009 8:24, Duan et al., Frontiers in Oncology 2014 4:368]. 또한, Rad17 유전자 산물의 기능의 상실을 갖는 인간 세포는 Chk1 억제에 민감하다[Shen et al., Oncotarget, 2015. 6(34):35755].
Chk-1 키나제의 억제제를 개발하기 위한 다양한 시도가 이루어져 왔다. 예를 들어, WO 03/10444 및 WO 2005/072733(둘 모두 Millennium)은 Chk-1 키나제 억제제로서 아릴/헤테로아릴 우레아 화합물을 개시한다. US2005/215556(Abbott)은 키나제 억제제로서 매크로사이클릭 우레아를 개시한다. WO 02/070494, WO2006014359 및 WO2006021002(모두 Icos)는 Chk-1 억제제로서 아릴 및 헤테로아릴 우레아를 개시한다. WO/2011/141716 및 WO/2013/072502 모두는 Chk-1 키나제 억제제로서 치환된 피라지닐-페닐 우레아를 개시한다. WO2005/009435(Pfizer) 및 WO2010/077758(Eli Lilly)은 Chk-1 키나제 억제제로서 아미노피라졸을 개시한다.
WO2015/120390은 Chk-1 키나제 억제제로서 치환된 페닐-피라졸릴-아민의 부류를 개시한다. 개시된 화합물 중 하나는 화합물 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴이며, 이의 합성은 WO2015/120390의 실시예 64 및 합성 방법 L에 설명되어 있다.
Chk-1 키나제 억제제 화합물 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴은 WO2015/120390에 개시된 바와 같이 암 치료에 유용하다.
WO2018/183891(Cascadian Therapeutics)은 화합물 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴 또는 이의 약학적으로 허용가능한 염과 WEE-1 억제제와의 조합을 개시한다.
본 발명은 Chk-1 키나제 억제제 화합물 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴(본원에서 화학식 (I)의 화합물 또는 Chk-1 억제제로도 지칭됨)을 제조하기 위한 개선된 방법을 제공한다.
일 일반적인 양태에서, 본 발명의 개선된 방법은 하기 도식 1에 제시된 반응의 순서로 표시된다.
도식 1
도식 1에 나타낸 합성 경로는 WO2015/120390에 기재된 합성 경로에 비해 많은 장점을 갖는다. 예를 들어, 도식 1에 도시된 경로는 전체 단계(7 대 9)의 측면에서 더 짧다. 상기 방법으로부터 유래된 많은 중간체는 쉽게 분리가능한 결정질 고체이다. 따라서, 새로운 경로는 또한 크로마토그래피에 대한 필요성을 제거하기 위해 이러한 결정질 중간체를 사용하므로, 더욱 확장가능한 방법이다. 또한, 개선된 방법은 대규모 합성에 바람직하지 않은 WO2015/120390의 특정 시약(예컨대, 데스-마틴 페리오디난(Dess-Martin periodinane) 및 n-BuLi)의 사용을 회피한다.
개선된 합성 경로는 WO 2015/120390에 기재된 합성 경로와 동일한 최종 단계(환원적 메틸화)를 사용하지만, 본 경로에서의 화학식 (17)의 Boc-보호된 중간체의 탈보호 및 합성은 WO2015/120390에서의 화학식 (17)의 중간체의 합성 및 탈보호와 상이하다.
따라서, 일 양태(구현예 1.1)에서, 본 발명은 화학식 (18)의 화합물의 제조 방법으로서:
화학식 (17)의 화합물:
을 알킬실릴 할라이드 또는 설폰산(예컨대, 벤젠설폰산)과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법을 제공한다.
WO 2015/120390에서 화학식 (17)의 Boc-보호된 중간체의 탈보호는 염산을 사용하였다. 그러나, 화학식 (18)의 탈보호된 중간체에 존재하는 염산의 잔류량이 반응에서 후속 환원성 메틸화에 사용된 포름알데히드와 반응하여 잠재적인 유전독성 불순물, 예를 들어 알려진 발암물질인 비스(클로로메틸) 에테르(BCME)를 형성하는 것으로 밝혀졌다. 개선된 방법은 알킬실릴 할라이드 또는 벤젠설폰산(BSA)을 활용하며 최종 제품에서 잠재적인 유전독성 불순물 및 기타 불순물의 생성을 회피하는 것으로 밝혀졌다. 방법은 더 깨끗한 탈보호 단계를 제공하기 위해 출발 물질의 수분 함량을 감소시키는 단계를 추가로 포함할 수 있다. 그러나, 알킬실릴 할라이드의 사용은 출발 물질 내에 물의 존재를 용인하는 것으로 밝혀졌으며, 따라서 BSA에 비해 알킬 알킬실릴 할라이드를 사용하는 이점은 사전 반응 건조 단계에 대한 필요성을 회피한다는 것이다. 알킬실릴 할라이드의 사용은 또한 반응 온도와 반응 시간을 감소시키고, 벤젠 불순물을 함유할 수 있는 시약의 사용을 회피한다.
추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
1.2 구현예 1.1에 있어서, 화학식 (17)의 화합물을 알킬실릴 할라이드와 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법.
1.3 구현예 1.2에 있어서, 알킬실릴 할라이드는 트리메틸 실릴 할라이드인 방법.
1.4 구현예 1.3에 있어서, 알킬실릴 할라이드는 트리메틸실릴 아이오다이드(TMSI)인 방법.
1.5 구현예 1.1 내지 1.4 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 극성, 비양성자성 용매의 존재 하에 수행되는 것인 방법.
1.6 구현예 1.5에 있어서, 극성, 비양성자성 용매는 아세토니트릴인 방법.
1.7 구현예 1.1 내지 1.6 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 0℃ 내지 20℃의 온도에서 수행되는 것인 방법.
1.8 구현예 1.1 내지 1.7 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 15분 내지 60분의 기간 동안, 예를 들어 대략 30분의 기간 동안 수행되고, 선택적으로 염기(예컨대, 알칼리 금속 카르보네이트, 예컨대 칼륨 카르보네이트)의 첨가가 뒤따르는 것인 방법.
1.9 구현예 1.1에 있어서, 화학식 (17)의 화합물을 벤젠설폰산과 같은 설폰산과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법.
1.10 구현예 1.9에 있어서, 반응은 극성, 비양성자성 용매의 존재 하에 수행되는 것인 방법.
1.11 구현예 1.10에 있어서, 극성, 비양성자성 용매는 에틸 아세테이트인 방법.
1.12 구현예 1.9 내지 1.11 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 50℃ 내지 70℃의 온도에서, 예를 들어 대략 60℃의 온도에서 수행되는 것인 방법.
1.13 구현예 1.9 내지 1.11 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 20시간 내지 30시간의 기간 동안, 예를 들어 대략 26시간의 기간 동안 수행되는 것인 방법.
1.14 구현예 1.9 내지 1.11 중 어느 한 구현예에 있어서, 화학식 (17)의 화합물을 벤젠설폰산과 반응시키기 전에, 출발 물질의 수분 함량을 감소시키는 단계를 포함하는 제조 방법.
1.15 구현예 1.14에 있어서, 출발 물질의 수분 함량을 감소시키는 단계는 화학식 (17)의 화합물을 비극성 용매(예컨대, 1,4-디옥산)에서, 예를 들어 80℃ 내지 85℃의 온도에서 가열한 다음, 비극성 용매를 제거하는 것을 포함하는 것인 방법.
또 다른 양태(구현예 2.1)에서, 본 발명은 화학식 (17)의 화합물의 제조 방법으로서:
화학식 (15)의 화합물
을 화학식 (16)의 화합물:
과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법을 제공한다.
WO 2015/120390에서, 화학식 (17)의 Boc-보호된 중간체는 화학식 (15)의 중간체와 5-브로모피라진-2-카르보니트릴과의 반응에 의해 형성되었다. 대조적으로, 개선된 방법은 5-클로로피라진-2-카르보니트릴을 사용한다. 또한, 개선된 방법에서, 반응은 WO 2015/120390에 기재된 것보다 낮은 온도(80℃가 아닌 50℃)에서 수행된다.
더욱이, 무수 조건에서 반응을 수행하는 것이 원치않는 부산물/불순물의 형성을 감소시키는 것으로 밝혀졌다.
추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
2.2 구현예 2.1에 있어서, 반응은 비수성 비양성자성 용매에서 수행되는 것인 방법.
2.3 구현예 2.2에 있어서, 용매는 디메틸 설폭사이드(DMSO)인 방법.
2.4 구현예 2.1 내지 2.3 중 어느 한 구현예에 있어서, 용매는 무수성이며, 예를 들어 용매는 500 ppm 이하의 수분 함량을 갖는 것인 방법.
2.5 구현예 2.1 내지 2.3 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 디이소프로필에틸아민(DIPEA)의 존재 하에 수행되는 것인 방법.
2.6 구현예 2.1 내지 2.5 중 어느 한 구현예에 있어서, 방법은 40℃ 내지 80℃의 범위의 온도, 예컨대 약 70℃에서 수행되는 것인 방법.
개선된 방법에서, 화학식 (15)의 중간체를 제조하기 위한 방법은 WO 2015/120390에서 사용된 방법과 완전히 상이하다. 개선된 방법은 다음을 포함하여 아래에 설명된 여러 이점을 초래한다:
· 결정질 중간체의 사용(이는 중간체의 크로마토그래피 정제에 대한 필요성을 감소시킴)
· 사용된 최저 온도는 -10℃이며, 이는 방법을 확장에 더 적합하게 만듦(WO 2015/120390에 설명된 경로는 -78℃에서 수행된 두 가지 반응 단계를 포함하였음).
· 반응은 더 높은 수율임
· 산화 시약으로서 데스-마틴 페리오디난의 사용을 회피함. 이 시약을 산업 규모로 사용하는 것은 그의 비용과 그의 잠재적으로 폭발하는 성질로 인해 어려움(Plumb, J.B.; Harper, D.J. (1990). "Chemical Safety: 2-Iodoxybenzoic acid". Chem. Eng. News. 68: 3. doi:10.1021/cen-v068n029.p002 참조)
추가적인 구체적인 이점이 하기 각 단계와 관련하여 논의된다.
추가 양태(구현예 3.1)에서, 본 발명은 화학식 (15)의 화합물의 제조 방법으로서:
화학식 (14)의 화합물:
을 히드라진(NH2NH2)과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법을 제공한다.
이 방법은 WO 2015/120390(실시예 64 참조)의 화학식 (15)의 화합물을 형성하기 위한 상응하는 방법과 비교하여 개선된 수율을 초래한다. 개선된 방법은 실시예 64의 방법으로 수득된 44%의 수율과 비교하여 58%의 수율을 초래한다.
추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
3.2 구현예 3.1에 있어서, 반응은 극성, 양성자성 용매에서 수행되는 것인 방법.
3.3 구현예 3.2에 있어서, 극성, 양성자성 용매는 에탄올(EtOH)과 같은 C1-4 알코올인 방법.
3.4 구현예 3.1 내지 3.3 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 빙 아세트산의 존재 하에 수행되는 것인 방법.
3.5 구현예 3.1 내지 3.4 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 70℃ 내지 80℃의 온도에서, 예를 들어 대략 75℃의 온도에서 수행되는 것인 방법.
3.6 구현예 3.1 내지 3.5 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 4시간 이하, 예를 들어 1시간 내지 3시간의 시간 동안, 예를 들어 대략 2시간 동안 수행되는 것인 방법.
추가 양태(구현예 4.1)에서, 본 발명은 화학식 (14)의 화합물의 제조 방법으로서:
화학식 (13)의 화합물:
을 염기의 존재 하에 아세토니트릴(CH3CN)과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법을 제공한다.
추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
4.2 구현예 4.1에 있어서, 염기는 알콕사이드 염기인 방법.
4.3 구현예 4.2에 있어서, 염기는 tert-부톡사이드 염기인 방법.
4.4 구현예 4.3에 있어서, 염기는 KOtBu인 방법.
4.5 구현예 4.1 내지 4.4 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 극성, 비양성자성 용매에서 수행되는 것인 방법.
4.6 구현예 4.5에 있어서, 용매는 테트라하이드로푸란(THF) 또는 디에틸 에테르인 방법.
4.7 구현예 4.1 내지 4.6 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 30℃ 내지 50℃의 온도에서, 예를 들어 대략 40℃의 온도에서 수행되는 것인 방법.
4.8 구현예 4.1 내지 4.7 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 3시간 내지 5시간의 시간 동안, 예를 들어 대략 4시간의 시간 동안 수행되는 것인 방법.
화학식 (13)의 화합물은 화학식 (12)의 상응하는 알코올 화합물의 플루오르화에 의해 제조된다.
따라서, 추가 양태(구현예 5.1)에서, 본 발명은 화학식 (13)의 화합물의 제조 방법으로서:
화학식 (12)의 화합물:
을 데옥시플루오르화 시약과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법을 제공한다.
추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
5.2 구현예 5.1에 있어서, 데옥시플루오르화 시약은 디에틸아미노설퍼 트리플루오라이드 DAST인 방법.
5.3 구현예 5.1 또는 구현예 5.2에 있어서, 반응은 극성, 비양성자성 용매에서 수행되는 것인 방법.
5.4 구현예 5.3에 있어서, 용매는 디클로로메탄(DCM)인 방법.
5.5 구현예 5.1 내지 5.4 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 -20℃ 내지 -10℃의 온도(예를 들어, 대략 -10℃)에서 수행되는 것인 방법.
추가 양태(구현예 6.1)에서, 본 발명은 화학식 (12)의 화합물의 제조 방법으로서:
화학식 (10)의 화합물:
을 그리나드 시약과 같은 금속화제의 존재 하에 화학식 (11)의 화합물:
과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법을 제공한다.
반응은 전형적으로 그리나드 시약 및 루이스산, 예를 들어 LaCl3의 존재 하에 수행된다. LaCl3 시약은 킬레이트 시약으로서 작용하고 불순물의 형성을 감소시키는 것으로 밝혀졌다.
따라서, 추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
6.2 구현예 6.1에 있어서, 반응은 화학식 RMgCl의 화합물의 존재 하에 수행되고, 여기서, R은 C1-4 알킬기인 방법.
6.3 구현예 6.2에 있어서, R은 이소프로필(및 RMgCl은 iPrMgCl임)인 방법.
6.4 구현예 6.1 내지 6.3 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 루이스산의 존재 하에 수행되는 것인 방법.
6.5 구현예 6.4에 있어서, 루이스산은 란탄족 클로라이드(예컨대, LaCl3 또는 CeCl3)인 방법.
6.6 구현예 6.4 또는 6.5에 있어서, 루이스산은 LaCl3인 방법.
6.7 구현예 6.1 내지 6.6 중 어느 한 구현예에 있어서, 반응은 극성, 비양성자성 용매에서 수행되는 것인 방법.
6.8 구현예 6.7에 있어서, 용매는 테트라하이드로푸란(THF)인 방법.
상기 방법은 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴 또는 이의 약학적으로 허용가능한 염의 제조에 사용될 수 있다. 따라서, 추가 양태에서, 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴의 제조 방법이 제공되며, 이 방법은 다음을 포함한다:
i) a) 구현예 6.1 내지 6.8 중 어느 한 구현예에 따른 방법; 및/또는
b) 구현예 5.1 내지 5.5 중 어느 한 구현예에 따른 방법; 및/또는
c) 구현예 4.1 내지 4.8 중 어느 한 구현예에 따른 방법; 및/또는
d) 구현예 3.1 내지 3.6 중 어느 한 구현예에 따른 방법; 및/또는
e) 구현예 2.1 내지 2.6 중 어느 한 구현예에 따른 방법; 및/또는
f) 구현예 1.1 내지 1.7 중 어느 한 구현예에 따른 방법; 및
ii) 예를 들어 화학식 (18)의 화합물을 메틸화제(예컨대, (AcO3)BH와 같은 환원제의 존재 하에 HCHO)와 반응시킴으로써, 단계 i)로부터 수득된 생성물을 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴로 상호전환시키는 단계; 및
iii) 선택적으로 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴의 약학적으로 허용가능한 염을 형성하는 단계.
대안적으로, 본 발명은 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴의 제조 방법을 제공하며, 이 방법은 다음을 포함한다:
i) a) 제4항에 따른 제조 방법; 및/또는
b) 제3항에 따른 제조 방법; 및/또는
c) 제2항에 따른 제조 방법; 및/또는
d) 제1항에 따른 제조 방법;
ii) 단계 i)로부터 수득된 생성물을 화학식 (18)의 화합물로 상호전환시키는 단계;
iii) 예를 들어 화학식 (18)의 화합물을 메틸화제(예컨대, (AcO3)BH와 같은 환원제의 존재 하에 HCHO)와 반응시킴으로써, 단계 ii)로부터 수득된 생성물을 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴로 상호전환시키는 단계; 및
iv) 선택적으로 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴의 약학적으로 허용가능한 염을 형성하는 단계.
추가 양태에서, 본 발명은 본 발명의 방법에 사용하기에 적합한 신규한 중간체를 제공한다. 중간체는 결정질이며, 따라서 반응 생성물을 정제하기 위한 크로마토그래피에 대한 필요성이 감소되거나 회피되는 것으로 밝혀졌다.
따라서, 추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
7.1 화학식 (14)의 화합물:
7.2 화학식 (13)의 화합물:
7.3 화학식 (12)의 화합물:
7.4 구현예 7.1 내지 7.3 중 어느 한 구현예에 있어서, 실질적으로 결정형인 화합물.
개선된 방법에 사용된 중간체의 결정형의 추가 세부사항이 하기에 제공된다.
화학식 (12)의 중간체
화학식 (12)의 중간체의 결정형에 대한 XRPD 회절도가 도 1에 나타나 있다.
화학식 (12)의 중간체의 결정형의 X선 회절 패턴은 표 A-1에 제시된 회절 각도(2θ)에서 가장 큰 강도의 피크를 나타낸다.
따라서, 추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
7.5 회절 각도(2θ) 10.6° 및/또는 13.3° 및/또는 16.7° 및/또는 17.0° 및/또는 19.9°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (12)의 화합물의 실질적 결정형.
7.6 회절 각도(2θ) 10.6°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (12)의 화합물의 실질적 결정형.
7.7 회절 각도(2θ) 13.3°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (12)의 화합물의 실질적 결정형.
7.8 회절 각도(2θ) 16.7°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (12)의 화합물의 실질적 결정형.
7.9 회절 각도(2θ) 17.0°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (12)의 화합물의 실질적 결정형.
7.10 회절 각도(2θ) 19.9°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (12)의 화합물의 실질적 결정형.
7.11 10.6°, 13.3°, 16.7°, 17.0° 및 19.9°(±0.2°)로부터 선택된 2개 이상, 예컨대 3개 이상, 또는 4개 이상, 및 특히 5개의 회절각(2θ)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (12)의 화합물의 실질적 결정형.
7.12 적어도 15%의 상대 강도를 갖는 상기 제공된 표 A-1 또는 하기 제공된 표 1에 제시된 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (12)의 화합물의 실질적 결정형.
7.13 도 1에 나타낸 X선 분말 회절 패턴에 상응하는 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (12)의 화합물의 실질적 결정형.
7.14 실질적으로 도 1에 나타낸 바와 같은 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (12)의 화합물의 실질적 결정형.
화학식 (13)의 중간체
화학식 (13)의 중간체의 결정형에 대한 XRPD 회절도가 도 2에 나타나 있다.
화학식 (13)의 중간체의 결정형의 X선 회절 패턴은 표 A-2에 제시된 회절 각도(2θ)에서 가장 큰 강도의 피크를 나타낸다.
따라서, 추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
7.15 회절 각도(2θ) 10.8° 및/또는 13.5° 및/또는 14.0° 및/또는 15.7° 및/또는 21.7°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (13)의 화합물의 실질적 결정형.
7.16 회절 각도(2θ) 10.8°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (13)의 화합물의 실질적 결정형.
7.17 회절 각도(2θ) 13.5°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (13)의 화합물의 실질적 결정형.
7.18 회절 각도(2θ) 14.0°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (13)의 화합물의 실질적 결정형.
7.19 회절 각도(2θ) 15.7°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (13)의 화합물의 실질적 결정형.
7.20 회절 각도(2θ) 21.7°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (13)의 화합물의 실질적 결정형.
7.21 10.8°, 13.5°, 14.0°, 15.7° 및 21.7°(±0.2°)로부터 선택된 2개 이상, 예컨대 3개 이상, 또는 4개 이상, 및 특히 5개의 회절각(2θ)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (13)의 화합물의 실질적 결정형.
7.22 적어도 15%의 상대 강도를 갖는 상기 제공된 표 A-2 또는 하기 제공된 표 2에 제시된 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (13)의 화합물의 실질적 결정형.
7.23 도 2에 나타낸 X선 분말 회절 패턴에 상응하는 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (13)의 화합물의 실질적 결정형.
7.24 실질적으로 도 2에 나타낸 바와 같은 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (13)의 화합물의 실질적 결정형.
화학식 (14)의 중간체
화학식 (14)의 중간체의 결정형에 대한 XRPD 회절도가 도 3에 나타나 있다.
화학식 (14)의 중간체의 결정형의 X선 회절 패턴은 표 A-3에 제시된 회절 각도(2θ)에서 가장 큰 강도의 피크를 나타낸다.
따라서, 추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
7.25 회절 각도(2θ) 7.8° 및/또는 14.6° 및/또는 15.4° 및/또는 15.7° 및/또는 18.9°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (14)의 화합물의 실질적 결정형.
7.26 회절 각도(2θ) 7.8°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (14)의 화합물의 실질적 결정형.
7.27 회절 각도(2θ) 14.6°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (14)의 화합물의 실질적 결정형.
7.28 회절 각도(2θ) 15.4°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (14)의 화합물의 실질적 결정형.
7.29 회절 각도(2θ) 15.7°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (14)의 화합물의 실질적 결정형.
7.30 회절 각도(2θ) 18.9°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (14)의 화합물의 실질적 결정형.
7.31 10.7°, 14.6°, 15.4°, 15.7° 및 18.9°(±0.2°)로부터 선택된 2개 이상, 예컨대 3개 이상, 또는 4개 이상, 및 특히 5개의 회절각(2θ)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (14)의 화합물의 실질적 결정형.
7.32 적어도 15%의 상대 강도를 갖는 상기 제공된 표 A-3 또는 하기 제공된 표 3에 제시된 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (14)의 화합물의 실질적 결정형.
7.33 도 3에 나타낸 X선 분말 회절 패턴에 상응하는 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (14)의 화합물의 실질적 결정형.
7.34 실질적으로 도 3에 나타낸 바와 같은 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (14)의 화합물의 실질적 결정형.
화학식 (15)의 중간체
화학식 (15)의 중간체의 결정형에 대한 XRPD 회절도가 도 4에 나타나 있다.
화학식 (15)의 중간체의 결정형의 X선 회절 패턴은 표 A-4에 제시된 회절 각도(2θ)에서 가장 큰 강도의 피크를 나타낸다.
따라서, 추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
7.35 실질적 결정형인 화학식 (15)의 화합물.
7.36 회절 각도(2θ) 5.5° 및/또는 14.5° 및/또는 17.0° 및/또는 18.9° 및/또는 19.3°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (15)의 화합물의 실질적 결정형.
7.37 회절 각도(2θ) 5.5°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (15)의 화합물의 실질적 결정형.
7.38 회절 각도(2θ) 14.5°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (15)의 화합물의 실질적 결정형.
7.39 회절 각도(2θ) 17.0°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (15)의 화합물의 실질적 결정형.
7.40 회절 각도(2θ) 18.9°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (15)의 화합물의 실질적 결정형.
7.41 회절 각도(2θ) 19.3°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (15)의 화합물의 실질적 결정형.
7.42 5.5°, 14.5°, 17.0°, 18.9° 및 19.3°(±0.2°)로부터 선택된 2개 이상, 예컨대 3개 이상, 또는 4개 이상, 및 특히 5개의 회절각(2θ)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (15)의 화합물의 실질적 결정형.
7.43 적어도 15%의 상대 강도를 갖는 상기 제공된 표 A-4 또는 하기 제공된 표 4에 제시된 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (15)의 화합물의 실질적 결정형.
7.44 도 4에 나타낸 X선 분말 회절 패턴에 상응하는 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (15)의 화합물의 실질적 결정형.
7.45 실질적으로 도 4에 나타낸 바와 같은 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (15)의 화합물의 실질적 결정형.
화학식 (17)의 중간체
화학식 (17)의 중간체의 결정형에 대한 XRPD 회절도가 도 5에 나타나 있다.
화학식 (17)의 중간체의 결정형의 X선 회절 패턴은 표 A-5에 제시된 회절 각도(2θ)에서 가장 큰 강도의 피크를 나타낸다.
따라서, 추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
7.46 실질적 결정형인 화학식 (17)의 화합물.
7.47 회절 각도(2θ) 8.8° 및/또는 12.5° 및/또는 15.4° 및/또는 16.3° 및/또는 22.0°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (17)의 화합물의 실질적 결정형.
7.48 회절 각도(2θ) 8.8°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (17)의 화합물의 실질적 결정형.
7.49 회절 각도(2θ) 12.5°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (17)의 화합물의 실질적 결정형.
7.50 회절 각도(2θ) 15.4°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (17)의 화합물의 실질적 결정형.
7.51 회절 각도(2θ) 16.3°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (17)의 화합물의 실질적 결정형.
7.52 회절 각도(2θ) 22.0°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (17)의 화합물의 실질적 결정형.
7.53 8.8°, 12.5°, 15.4°, 16.3° 및 22.0°(±0.2°)로부터 선택된 2개 이상, 예컨대 3개 이상, 또는 4개 이상, 및 특히 5개의 회절각(2θ)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (17)의 화합물의 실질적 결정형.
7.54 적어도 15%의 상대 강도를 갖는 상기 제공된 표 A-5 또는 하기 제공된 표 5에 제시된 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (17)의 화합물의 실질적 결정형.
7.55 도 5에 나타낸 X선 분말 회절 패턴에 상응하는 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (17)의 화합물의 실질적 결정형.
7.56 실질적으로 도 5에 나타낸 바와 같은 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (17)의 화합물의 실질적 결정형.
화학식 (18)의 중간체
화학식 (18)의 중간체의 벤젠설포네이트 염의 결정형에 대한 XRPD 회절도가 도 6에 나타나 있다.
화학식 (18)의 중간체의 벤젠설포네이트 염의 결정형의 X선 회절 패턴은 표 A-6에 제시된 회절 각도(2θ)에서 가장 큰 강도의 피크를 나타낸다.
따라서, 추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
7.57 실질적 결정형인 화학식 (18)의 화합물의 벤젠설포네이트 염.
7.58 회절 각도(2θ) 4.3° 및/또는 6.5° 및/또는 8.6° 및/또는 15.2° 및/또는 20.5°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 벤젠설포네이트 염의 실질적 결정형.
7.59 회절 각도(2θ) 4.3°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 벤젠설포네이트 염의 실질적 결정형.
7.60 회절 각도(2θ) 6.5°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 벤젠설포네이트 염의 실질적 결정형.
7.61 회절 각도(2θ) 8.6°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 벤젠설포네이트 염의 실질적 결정형.
7.62 회절 각도(2θ) 15.2°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 벤젠설포네이트 염의 실질적 결정형.
7.63 회절 각도(2θ) 20.5°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 벤젠설포네이트 염의 실질적 결정형.
7.64 4.3°, 6.5°, 8.6°, 15.2° 및 20.5°(±0.2°)로부터 선택된 2개 이상, 예컨대 3개 이상, 또는 4개 이상, 및 특히 5개의 회절 각도(2θ)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 벤젠설포네이트 염의 실질적 결정형.
7.65 적어도 15%의 상대 강도를 갖는 상기 제공된 표 A-6 또는 하기 제공된 표 6에 제시된 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (18)의 화합물의 벤젠설포네이트 염의 실질적 결정형.
7.66 도 6에 나타낸 X선 분말 회절 패턴에 상응하는 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (18)의 화합물의 벤젠설포네이트 염의 실질적 결정형.
7.67 실질적으로 도 6에 나타낸 바와 같은 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 벤젠설포네이트 염의 실질적 결정형.
화학식 (18)의 중간체의 유리 염기의 결정형에 대한 XRPD 회절도가 도 7에 나타나 있다.
화학식 (18)의 중간체의 결정형의 X선 회절 패턴은 표 A-7에 제시된 회절 각도(2θ)에서 가장 큰 강도의 피크를 나타낸다.
따라서, 추가 구현예에서, 본 발명은 다음을 제공한다:
7.68 실질적 결정형인 화학식 (18)의 화합물.
7.69 회절각(2θ) 9.5° 및/또는 10.2° 및/또는 14.7° 및/또는 15.6° 및/또는 26.2°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 실질적 결정형.
7.70 회절 각도(2θ) 9.5°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 실질적 결정형.
7.71 회절 각도(2θ) 10.2°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 실질적 결정형.
7.72 회절 각도(2θ) 14.7°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 실질적 결정형.
7.73 회절 각도(2θ) 15.6°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 실질적 결정형.
7.74 회절 각도(2θ) 26.2°(±0.2°)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 실질적 결정형.
7.75 9.5°, 10.2°, 14.7°, 15.6° 및 26.2°(±0.2°)로부터 선택된 2개 이상, 예컨대 3개 이상, 또는 4개 이상, 및 특히 5개의 회절각(2θ)에서 주요 피크의 존재를 특징으로 하는 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 실질적 결정형.
7.76 적어도 15%의 상대 강도를 갖는 상기 제공된 표 A-7 또는 하기 제공된 표 7에 제시된 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (18)의 화합물의 실질적 결정형.
7.77 도 7에 나타낸 X선 분말 회절 패턴에 상응하는 회절 각도에서 피크를 나타내는 화학식 (18)의 화합물의 실질적 결정형.
7.78 실질적으로 도 7에 나타낸 바와 같은 X선 분말 회절 패턴을 갖는 화학식 (18)의 화합물의 실질적 결정형.
본 발명의 추가 양태 및 구현예는 하기 제공된 실시예로부터 명백해질 것이다.
도 1은 화학식 (12)의 중간체의 결정형의 XRPD 패턴이다.
도 2는 화학식 (13)의 중간체의 결정형의 XRPD 패턴이다.
도 3은 화학식 (14)의 중간체의 결정형의 XRPD 패턴이다.
도 4는 화학식 (15)의 중간체의 결정형의 XRPD 패턴이다.
도 5는 화학식 (17)의 중간체의 결정형의 XRPD 패턴이다.
도 6은 화학식 (18)의 중간체의 벤젠설포네이트 염의 결정형의 XRPD 패턴이다.
도 7은 화학식 (18)의 중간체의 유리 염기의 결정형의 XRPD 패턴이다.
실시예
본 발명은 이제 하기 실시예에 기재된 특정 구현예를 참조하여 예시될 것이지만, 이에 제한되지는 않는다.
약어
실시예에서, 하기 약어가 사용된다.
AcOH 아세트산
aq 수성
BSA 벤젠설폰산
DAST 디에틸아미노설퍼 트리플루오라이드
DCM 디클로로메탄
DIPEA N,N-디이소프로필에틸아민
DMSO 디메틸설폭사이드
EtOAc 에틸 아세테이트
EtOH 에탄올
h 시간(들)
HPLC 고성능 액체 크로마토그래피(HPLC)
iPrOAc 이소프로필 아세테이트
iPrMgCl 이소프로필마그네슘 클로라이드
KF 칼 피셔
LC 액체 크로마토그래피
LCMS 액체 크로마토그래피-질량 분석법
MeCN 아세토니트릴
min 분(들)
MgSO4 마그네슘 설페이트
NMR 핵 자기 공명
RT 체류 시간
THF 테트라하이드로푸란
분석 방법
HPLC 방법 1
HPLC 분석을 Agilent 1100 시리즈 HPLC 시스템에서 수행하였다. 사용된 컬럼은 Aquity BEH 페닐; 30 x 4.6 mm, 1.7 μm 입자 크기(Ex Waters, PN: 186004644)였다. 유속은 2.0 mL/분이었다. 이동상 A는 물 : 트리플루오로아세트산(100:0.03%)이었고, 이동상 B는 아세토니트릴 : 트리플루오로아세트산(100:0.03%)이었다. 검출을 210 nm에서 UV에 의해 수행하였다. 주입 부피는 5 μL였고, 컬럼 온도 40℃ 및 하기 구배를 사용하였다.
HPLC 방법 2
HPLC 분석을 Agilent 1110 시리즈 HPLC 시스템에서 수행하였다. 사용된 컬럼은 Aquity BEH 페닐; 30 x 4.6 mm, 1.7 μm 입자 크기(Ex Waters, PN: 186004644)였다. 유속은 2.0 L/분이었다. 이동상 A는 물 : 트리플루오로아세트산(100:0.03%)이었고, 이동상 B는 아세토니트릴 : 트리플루오로아세트산(100:0.03%)이었다. 검출을 210 nm에서 UV에 의해 수행하였다. 주입 부피는 5 μL였고, 컬럼 온도 40℃ 및 하기 구배를 사용하였다.
HPLC 방법 3
HPLC 분석을 Agilent 1100/1200 시리즈 액체 크로마토그래프에서 수행하였다. 사용된 컬럼은 XSelect 페닐-헥실; 150 x 4.6 mm, 2.5 μm 입자 크기(Ex Waters, PN: 186006735)였다. 유속은 1.0 mL/분이었다. 이동상 A는 10 mM 암모늄 아세테이트(pH 5.8)였고, 이동상 B는 아세토니트릴 100%였다. 검출을 302 nm에서 UV에 의해 수행하였다. 주입 부피는 5 μL였고, 컬럼 온도 50℃ 및 하기 구배를 사용하였다.
양성자-NMR
모든 중간체의 구조를 자동 샘플러가 장착된 JEOL ECX 400 MHz 분광기를 사용하여 수집된 이들의 1H NMR 스펙트럼으로부터 확인하였다. 샘플을 분석을 위해 적합한 중수소화 용매에 용해시켰다. 데이터를 Delta NMR 처리 및 제어 소프트웨어 버전 4.3을 사용하여 획득하였다.
X선 분말 회절(XRPD)
X선 분말 회절 패턴을 Cu Kα 방사선(45 kV, 40 mA), θ - θ 측각기, 초점 거울, 발산 슬릿(1/2"), 입사 및 발산 빔 모두에서의 솔러 슬릿(4 mm) 및 PIXcel 검출기를 사용하여 PANalytical 회절계에서 수집하였다. 데이터 수집에 사용된 소프트웨어는 X'Pert Data Collector 버전 2.2f였으며, 데이터를 X'Pert Data Viewer 버전 1.2d를 사용하여 제공하였다. PANalytical X'Pert PRO를 사용하여 주변 조건 하에서 투과 호일 샘플 스테이지(폴리이미드 - Kapton, 12.7 μm 두께 필름)를 통해 주변 조건 하에서 XRPD 패턴을 획득하였다. 데이터 수집 범위는 2.994 - 35°2θ이며, 연속 스캔 속도는 0.202004°s-1이었다.
실시예 1
5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴을 하기에 나타낸 반응식에 설명된 바와 같이 제조하였다.
단계 1: tert-부틸 4-(4-시아노-3-메톡시-페닐)-4-하이드록시-피페리딘-1-카르복실레이트
질소 하에 2 L 용기에, 4-브로모-2-메톡시벤조니트릴(125 g, 589 mmol) 및 무수 THF(375 mL)를 채웠다. 슬러리를 0℃로 냉각시켰다. THF(530 mL, 1.06 mol) 중의 iPrMgCl의 2 M 용액을 0~10℃에서 20분 동안 채웠다. 배치를 0-5℃에서 2시간 동안 교반하였다. THF(196 mL, 118 mmol) 중의 LaCl3.2LiCl의 0.6 M 용액을 0-5℃에서 15분 동안 채웠다. 30분 후, 무수 THF(375 mL) 중의 N-Boc-4-피페리돈(146.7 g, 736 mmol)의 용액을 0-15℃에서 25분 동안 채웠다. 30분 교반 후, 10% AcOH(750 mL, 1.31 mol)를 0-30℃에서 15분 동안 채웠다. 유기층을 분리하고, 농축하여 잔류 THF를 제거하였다. 수성층을 TBME(750 mL)로 추출하고, 농축된 유기층과 조합하였다. 물(250 mL)을 채우고, 배치를 교반하고, 유기층을 분리하고, 건조시켰다(MgSO4). 배치를 진공에서 농축하였다. 조 물질을 디이소프로필에테르(500 mL)에 용해시키고, 추가 디이소프로필에테르(125 mL)와 함께 깨끗한 2 L 용기로 옮겼다. 배치를 60℃로 가열하고, 헵탄(500 mL)을 55-60℃에서 15분 동안 채웠다. 배치를 5시간 동안 10℃로 냉각시킨 다음, 밤새 교반하여 슬러리를 얻었다. 헵탄(375 mL)을 채우고, 배치를 30분 동안 0℃로 냉각시켰다. 고체를 여과하고, 디이소프로필에테르(125 mL) 및 헵탄(125 mL)의 빙냉 혼합물을 이용하여 세척하였다. 물질을 40℃에서 건조시켜 표제 화합물을 백색 고체로서 얻었다(126 g, 64% 수율).
HPLC(방법 1) RT 2.97분, 99.0%. 1H NMR 순도 >95%.
생성물의 XRPD 회절 패턴이 도 1에 나타나 있으며, XRPD 피크의 목록이 하기 표 1에 나타나 있다.
표 1
단계 2: tert-부틸 4-(4-시아노-3-메톡시-페닐)-4-플루오로-피페리딘-1-카르복실레이트
질소 하에 2 L 플라스크에, DCM(1.2 L) 및 DAST(69.8 g, 133 mmol)를 채웠다. 용액을 -10℃로 냉각시켰다. DCM(0.24 L) 중의 tert-부틸 4-(4-시아노-3-메톡시-페닐)-4-하이드록시-피페리딘-1-카르복실레이트(120 g, 361 mmol)의 용액을 -10 ℃에서 1시간 동안 채웠다. 첨가가 완료된 후, 반응을 1시간 동안 15-20℃로 가온시켰다. 두 번째 용기에, 칼륨 바이카보네이트(240 g, 2.40 mol) 및 물(1 L)을 채웠다. 배치를 실온에서 교반하여 용액을 얻었다. 반응 용액을 15-25℃에서 20분 동안 수성 칼륨 바이카보네이트 용액으로 옮겼다(질소 전달). DCM(50 mL)을 라인 린스로 사용하였다. 급냉된 배치를 15분 동안 교반하고, pH를 확인하였다(>7). 유기층을 분리하였다. 수성층을 DCM(240 mL)으로 추출하였고, 분리를 돕기 위해 물(150 ml)을 첨가하였다. 유기층을 조합하고, 건조시키고(MgSO4), 진공에서 농축시켰다. 디이소프로필에테르(360 mL)를 첨가하여 조 물질을 용해시키고 진공에서 농축하여 백색 고체(114 g)를 얻었다. 조 물질(100 g)의 일부에 디이소프로필에테르(400 mL) 및 헵탄(400 mL)을 채웠다. 배치를 70℃로 가열하여 용액을 얻었고, 이를 1시간 동안 주변 온도로 냉각하고, 밤새 교반하였다. 배치를 여과하고, 고체를 디이소프로필에테르(100 mL) 및 헵탄(100 mL)의 혼합물로 세척하여 80 g을 얻었다. 물질을 더 정제하고, 디이소프로필에테르(240 mL) 및 헵탄(240 mL)을 첨가하였다. 배치를 70℃로 가열하여 용액을 얻었고, 이를 1시간 동안 주변 온도로 냉각시켰다. 배치를 여과하고, 고체를 디이소프로필에테르(80 mL) 및 헵탄(80 mL)의 혼합물을 사용하여 세척하여 표제 화합물을 백색 고체(72.6 g, 69% 수율)로서 얻었다. HPLC(방법 2) RT 10.58분, 99.2%. 1H NMR 순도 >95%.
생성물의 XRPD 회절 패턴이 도 2에 나타나 있으며, XRPD 피크의 목록이 하기 표 2에 나타나 있다.
표 2
단계 3: tert-부틸 4-[4-[(Z)-1-아미노-2-시아노-비닐]-3-메톡시-페닐]-4-플루오로-피페리딘-1-카르복실레이트
2 L 용기에 tert-부틸 4-(4-시아노-3-메톡시-페닐)-4-플루오로-피페리딘-1-카르복실레이트(60.2 g, 180 mmol) 및 무수 THF(180.6 mL)를 채웠다. 배치를 15-25℃에서 교반하여 용액을 얻었다. 무수 MeCN(18.7 mL, 360 mmol)을 채웠다. THF(540 mL, 540 mmol) 중의 칼륨 tert-부톡사이드의 1 M 용액을 15-25℃에서 10분 동안 채운 다음, 라인 린스(THF 60 mL)를 수행하였다. 그 다음, 배치를 4시간 동안 40℃로 가온시켰다. 배치를 15-25℃로 냉각시키고, 물(16.3 mL, 900 mmol)을 채웠다. 10분 후, 배치를 회전증발기에서 ~1/4 부피로 농축시켰다. 조 물질을 15-25℃에서 30분 동안 물(903 mL)에서 슬러리화한 다음, 여과하였다. 고체를 물(300 mL)로 세척하고, 40℃에서 건조시켜 표제 화합물을 황갈색 고체(65.0 g, 96% 수율)로서 얻었다. HPLC(방법 2): RT 10.46분, 94.4%(및 1.4% β-케토니트릴). 1H NMR 순도 >95%.
생성물의 XRPD 회절 패턴이 도 3에 나타나 있으며, XRPD 피크의 목록이 하기 표 3에 나타나 있다.
표 3
단계 4: tert-부틸 4-[4-(5-아미노-1H-피라졸-3-일)-3-메톡시-페닐]-4-플루오로-피페리딘-1-카르복실레이트
tert-부틸 4-[4-[(Z)-1-아미노-2-시아노-비닐]-3-메톡시-페닐]-4-플루오로-피페리딘-1-카르복실레이트(61.4 g, 163.6 mmol)에 EtOH(246 mL)를 채우고, 배치를 15-25℃에서 교반하였다. 히드라진 일수화물(9.6 mL, 196 mmol)을 채운 다음, 빙 아세트산(11.2 mL, 196 mmol)을 채웠다. 배치를 2시간 동안 75℃로 가온시켰다. 배치를 15-25℃로 냉각시키고, 물(614 mL)을 채웠다. 30분 교반 후, 고체를 여과하고, 물(2x246 mL)을 이용하여 세척하였다. 물질을 50℃에서 건조시켜 표제 화합물을 회백색 고체(58.6 g, 91.7% 수율)로서 얻었다. HPLC(방법 1): 97.7%(1.6% 아미드). KF 수분 측정: 1.3%.
아미드 부산물의 수준을 감소시키기 위해, 물질의 일부(49.4 g)를 30분 동안 디이소프로필 에테르(250 mL)을 이용하여 50℃에서 슬러리화한 다음, 15-25℃에서 분리하였다. 고체를 디이소프로필 에테르(50 mL)를 이용하여 세척하고 오븐 건조하여 47.7 g 단계 4를 얻었다. HPLC(방법): 0.8% 아미드. 물질의 일부(41.5 g)를 15-25℃에서 DCM(415 mL)에 용해시키고, 1 M K2CO3(2x100 mL)을 이용하여 세척하였다. 유기층을 건조시키고(MgSO4), 농축하고, 50℃에서 오븐 건조시켜 표제 화합물(39.7 g, 58% 수율)을 담황색 고체로서 얻었다. HPLC(방법 3): RT 12.94분, 96.4%. 1H NMR 순도 >95%.
생성물의 XRPD 회절 패턴이 도 4에 나타나 있으며, XRPD 피크의 목록이 하기 표 4에 나타나 있다.
표 4
단계 5: tert-부틸 4-[4-[5-[(5-시아노피라진-2-일)아미노]-1H-피라졸-3-일]-3-메톡시-페닐]-4-플루오로-피페리딘-1-카르복실레이트
질소 하에 500 mL 용기에, tert-부틸 4-[4-(5-아미노-1H-피라졸-3-일)-3-메톡시-페닐]-4-플루오로-피페리딘-1-카르복실레이트(32.4 g, 83 mmol)를 채운 다음, 5-클로로-2-시아노피라진(12.34 g, 91.3 mmol) 및 무수 DMSO(64.8 mL)를 채웠다. DIPEA(18.1 ml, 103.8 mmol)를 채우고, 배치를 20시간 동안 50℃로 가온시켰다. 배치를 주변 온도로 냉각시키고, iPrOAc(162 mL)를 채웠다. 생성된 용액을 15-30℃에서 물(324 mL)에 붓고, 배치를 1시간 동안 교반하였다. 배치를 여과하고, 물(324 mL) 및 iPrOAc(162 mL)를 이용하여 세척하였다. 고체를 50℃에서 오븐 건조시켜 표제 화합물을 황갈색 고체(39.6 g, 94% 수율)로서 얻었다. HPLC(방법 3): RT 15.57분, 97.6%. 1H NMR 순도 >95%.
생성물의 XRPD 회절 패턴이 도 5에 나타나 있으며, XRPD 피크의 목록이 하기 표 5에 나타나 있다.
표 5
단계 6A: 5-[[3-[4-(4-플루오로-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-5-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴
질소 하에 플라스크에, tert-부틸 4-[4-[5-[(5-시아노피라진-2-일)아미노]-1H-피라졸-3-일]-3-메톡시-페닐]-4-플루오로-피페리딘-1-카르복실레이트(1 g, 2.03 mmol) 및 1,4-디옥산(15 mL)을 채웠다. 배치를 1시간 동안 80-85℃로 가열한 다음, 주변으로 냉각시키고, 용매를 진공에서 제거하였다. 조 물질에 EtOAc(30 mL)를 채우고, 배치를 60℃로 가열하였다. 벤젠설폰산(801 mg, 5.08 mmol)을 채우고, 슬러리를 60℃에서 26시간 동안 가열하였다. 배치를 주변으로 냉각하고 여과하였다. 고체를 EtOAc(10 mL)를 이용하여 세척하고, 50℃에서 오븐 건조하여 표제 화합물을 그의 베실레이트 염으로서 연갈색 고체(1.15 g, 84%)로서 얻었다. HPLC(방법 3): RT 9.09분, 97.9%. 1H-NMR: 41% BSA, 0.8% EtOAc, 58% 표제 화합물.
생성물의 XRPD 회절 패턴이 도 6에 나타나 있으며, XRPD 피크의 목록이 하기 표 6에 나타나 있다.
표 6
단계 6B: 5-[[3-[4-(4-플루오로-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-5-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴
상기 단계 6A에 대한 대안으로, 5-[[3-[4-(4-플루오로-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-5-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴을 또한 하기 방법에 따라 제조하였다.
tert-부틸 4-[4-[5-[(5-시아노피라진-2-일)아미노]-1H-피라졸-3-일]-3-메톡시-페닐]-4-플루오로-피페리딘-1-카르복실레이트(1.0 g, 2.03 mmol)에 MeCN(10 mL)을 첨가한 다음, 아이오도트리메틸실란(577 μl, 4.06 mmo)을 0-20℃에서 첨가하였다. 30분 후, 10% 수성 칼륨 카보네이트(5 mL, 3.62 mmol)을 채우고(기체 배출 관찰됨), 배치를 30분 동안 교반하였다. 그 다음, 고체를 여과하고, MeCN(2 mL) 및 물(2 mL)의 혼합물을 이용하여 세척하였다. 고체를 50℃에서 오븐 건조시켜 표제 화합물을 연갈색 고체(766 mg, 96%)로서 얻었다. HPLC(방법 3): RT 9.09분, 98.8%. 1H NMR 순도 >95%.
생성물의 XRPD 회절 패턴이 도 7에 나타나 있으며, XRPD 피크의 목록이 하기 표 7에 나타나 있다.
단계 7: 5-[[3-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-5-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴
5-[[3-[4-(4-플루오로-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-5-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴(60.79 g 활성, 155 mmol)에 EtOH(608 mL)를 채웠다. 배치를 실온에서 교반하고, 37% 포르말린(22.5 mL, 278 mmol)을 채웠다. 나트륨 트리아세톡시보로하이드라이드(58.95 g, 278 mmol)를 15-25℃에서 30분 동안 4부분으로 채웠다. 2시간 후, 8.5% 암모늄 하이드록사이드 용액(608 mL)을 <25℃에서 20분 동안 채웠다. 배치를 0-5℃로 냉각하고, 여과하고, 케이크를 물(2 x 304 mL)을 이용하여 세척하였다. 습윤 물질을 물(608 mL)과 함께 용기에 되돌리고, 실온에서 30분 동안 슬러리화했다. 배치를 여과하고, 물(304 mL)로 세척하였다. 고체를 50℃에서 오븐 건조시켜 표제 화합물(51.4 g, 82% 활성 수율(100% - 물 및 에탄올))을 얻었다.
HPLC(방법 3) RT 10.20분, 97.0%. 1H NMR 순도 >95%.
균등 내용
전술한 실시예는 본 발명을 예시할 목적으로 제시되며, 본 발명의 범위에 어떠한 제한을 부여하는 것으로 해석되지 않아야 한다. 본 발명의 기초가 되는 원리로부터 벗어나지 않으면서 상기 기재되고 실시예에 예시된 본 발명의 특정 구현예에 대해 수많은 변형 및 변경이 이루어질 수 있다는 것이 쉽게 명백해질 것이다. 이러한 모든 변형 및 변경은 본 출원에 의해 포괄되는 것으로 의도된다.

Claims (15)

  1. 하기 화학식 (15)의 화합물의 제조 방법으로서, 하기 화학식 (14)의 화합물을 히드라진(NH2NH2)과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법:

    .
  2. 하기 화학식 (14)의 화합물의 제조 방법으로서, 하기 화학식 (13)의 화합물을 염기의 존재 하에 아세토니트릴(CH3CN)과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법:

    .
  3. 하기 화학식 (13)의 화합물의 제조 방법으로서, 하기 화학식 (12)의 화합물을 데옥시플루오르화 시약과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법:

    .
  4. 하기 화학식 (12)의 화합물의 제조 방법으로서, 하기 화학식 (10)의 화합물을 그리나드 시약과 같은 금속화제의 존재 하에 하기 화학식 (11)의 화합물과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법:


    (11).
  5. 하기 화학식 (18)의 화합물의 제조 방법으로서, 하기 화학식 (17)의 화합물을 알킬실릴 할라이드 또는 설폰산과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법:

    .
  6. 제5항에 있어서, 화학식 (17)의 화합물을 알킬실릴 할라이드(예컨대, TMSI)와 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법.
  7. 제5항에 있어서, 화학식 (17)의 화합물을 설폰산(예컨대, 벤젠 설폰산)과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법.
  8. 하기 화학식 (17)의 화합물의 제조 방법으로서, 하기 화학식 (15)의 화합물을 하기 화학식 (16)의 화합물과 반응시키는 단계를 포함하는 제조 방법:


    .
  9. 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴의 제조 방법으로서,
    i) a) 제4항에 따른 제조 방법; 및/또는
    b) 제3항에 따른 제조 방법; 및/또는
    c) 제2항에 따른 제조 방법; 및/또는
    d) 제1항에 따른 제조 방법; 및/또는
    e) 제8항에 따른 제조 방법; 및/또는
    f) 제5항 내지 제7항 중 어느 한 항에 따른 제조 방법;
    ii) 예를 들어, 화학식 (18)의 화합물을 메틸화제(예컨대, (AcO3)BH와 같은 환원제의 존재 하에 HCHO)와 반응시킴으로써, 단계 i)로부터 수득된 생성물을 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴로 상호전환시키는 단계; 및
    iii) 선택적으로, 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴의 약학적으로 허용가능한 염을 형성하는 단계
    를 포함하는 제조 방법.
  10. 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴의 제조 방법으로서,
    i) a) 제4항에 따른 제조 방법; 및/또는
    b) 제3항에 따른 제조 방법; 및/또는
    c) 제2항에 따른 제조 방법; 및/또는
    d) 제1항에 따른 제조 방법;
    ii) 단계 i)로부터 수득된 생성물을 화학식 (18)의 화합물로 상호전환시키는 단계;
    iii) 예를 들어, 화학식 (18)의 화합물을 메틸화제(예컨대, (AcO3)BH와 같은 환원제의 존재 하에 HCHO)와 반응시킴으로써, 단계 ii)로부터 수득된 생성물을 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴로 상호전환시키는 단계; 및
    iv) 선택적으로, 5-[[5-[4-(4-플루오로-1-메틸-4-피페리딜)-2-메톡시-페닐]-1H-피라졸-3-일]아미노]피라진-2-카르보니트릴의 약학적으로 허용가능한 염을 형성하는 단계
    를 포함하는 제조 방법.
  11. 하기 화학식 (14)의 화합물:
    .
  12. 하기 화학식 (13)의 화합물:
    .
  13. 하기 화학식 (12)의 화합물:
    .
  14. 제11항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서, 실질적으로 결정형인 화합물.
  15. 본원의 구현예 1.1 내지 1.7, 2.1 내지 2.6, 3.1 내지 3.6, 4.1 내지 4.8, 5.1 내지 5.5, 6.1 내지 6.8 및 7.1 내지 7.78 중 어느 하나에서 정의된 발명.
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