KR20230026174A - Semiconductor test socket and manufacturing method of the same - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a semiconductor test socket to be easily assembled even if a plurality of blade pins are applied, and a manufacturing method thereof. According to an embodiment of the present invention, the semiconductor test socket comprises: a plurality of blade pins; a first socket body including a plurality of first holes through which a part of the blade pin passes; a first film disposed on the first socket body and including a plurality of second holes through which a part of the blade pin passes; a second socket body disposed on the first film and including a hollow portion exposing the second hole upwardly; a second film disposed on the second socket body and including a plurality of third holes through which a part of the blade pin passes; a third socket body disposed on the second film and including a plurality of fourth holes through which a part of the blade pin passes; a socket core disposed on the third socket body and including a plurality of fifth holes through which a part of the blade pin passes; and a fixed body disposed on the socket core and including a hollow portion which exposes the fifth hole upwardly.

Description

반도체 테스트 소켓 및 그 제조 방법{Semiconductor test socket and manufacturing method of the same}Semiconductor test socket and manufacturing method thereof

본 발명은 반도체 테스트 소켓 및 그 제조 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a semiconductor test socket and a manufacturing method thereof.

일반적으로 반도체 소자 등의 제조 공정이 완료되면 테스트 소켓 등과 같은 결함 검사 장비에 의하여 상기 반도체 소자의 전기적 성능을 시험한다.In general, when a manufacturing process of a semiconductor device is completed, electrical performance of the semiconductor device is tested using defect inspection equipment such as a test socket.

반도체 소자의 전기적 성능 시험은 결함 검사 장비, 예컨대 테스트 소켓의 콘택부에 반도체 소자의 리드 단자가 접촉되도록 삽입하고, 각 콘택부에 입출력되는 신호를 시험용 회로로써 분석하는 방식으로 이루어지고 있다.The electrical performance test of a semiconductor device is performed by inserting a lead terminal of a semiconductor device into contact with a contact portion of a defect inspection equipment, for example, a test socket, and analyzing signals input/output to each contact portion as a test circuit.

최근 전자제품 등이 초소형화됨에 따라 이에 내장되는 반도체 소자의 리드 단자 또한 초소형화되고, 그 피치가 작아지고 있는데, 종래 일반적으로 사용되던 테스트 소켓은 그 콘택부의 크기가 크고 상기 콘택부에 사용되는 포고 핀 등의 피치가 커 상기와 같이 초소형화되는 반도체 소자의 검사에 사용되기 어려운 문제점이 있다.Recently, as electronic products have been miniaturized, the lead terminals of semiconductor devices embedded in them have also been miniaturized and their pitches are getting smaller. There is a problem in that it is difficult to use for inspection of semiconductor devices that are miniaturized as described above because the pitch of the fins is large.

특히, 블레이드 핀의 소형화 및 정밀화로 인하여, 조립 시나 사용 시에 블레이드 핀이나 다른 구성요소가 파손되는 문제가 있으며, 조립 자체가 번거로운 문제가 있다. In particular, due to the miniaturization and precision of the blade pin, there is a problem that the blade pin or other components are damaged during assembly or use, and the assembly itself is cumbersome.

한국특허등록공보 제10-1860792호Korean Patent Registration No. 10-1860792

본 발명은 다수의 블레이드 핀이 적용되더라도 손쉽게 조립할 수 있는 반도체 테스트 소켓 및 그 제조방법을 제공함을 목적으로 한다. An object of the present invention is to provide a semiconductor test socket that can be easily assembled even when a plurality of blade pins are applied and a manufacturing method thereof.

또한, 작동성 및 내구성이 우수하다. In addition, operability and durability are excellent.

본 발명의 실시 예를 따르는 반도체 테스트 소켓은, 복수의 블레이드 핀; 상기 블레이드 핀의 일부가 관통하는 복수의 제1홀을 포함하는 제1소켓바디; 상기 제1소켓바디 상에 배치되고 상기 블레이드 핀의 일부가 관통하는 복수의 제2홀을 포함하는 제1필름; 상기 제1필름 상에 배치되고 상기 제2홀을 상부로 노출되도록 하는 중공을 포함하는 제2소켓바디; 상기 제2소켓바디 상에 배치되고 상기 블레이드 핀의 일부가 관통하는 복수의 제3홀을 포함하는 제2필름; 상기 제2필름 상에 배치되고 상기 블레이드 핀의 일부가 관통하는 복수의 제4홀을 포함하는 제3소켓바디; 상기 제3소켓바디 상에 배치되고 상기 블레이드 핀의 일부가 관통하는 복수의 제5홀을 포함하는 소켓코어; 및 상기 소켓코어 상에 배치되고 상기 제5홀을 상부로 노출되도록 하는 중공을 포함하는 고정바디;를 포함한다. A semiconductor test socket according to an embodiment of the present invention includes a plurality of blade pins; a first socket body including a plurality of first holes through which some of the blade pins pass; a first film disposed on the first socket body and including a plurality of second holes through which some of the blade pins pass; a second socket body disposed on the first film and including a hollow portion exposing the second hole upward; a second film disposed on the second socket body and including a plurality of third holes through which some of the blade pins pass; a third socket body disposed on the second film and including a plurality of fourth holes through which some of the blade pins pass; a socket core disposed on the third socket body and including a plurality of fifth holes through which some of the blade pins pass; and a fixing body disposed on the socket core and including a hollow through which the fifth hole is exposed upward.

상기 소켓코어는 상기 고정바디의 중공의 내부에 일부가 삽입되는 돌출영역을 포함하고, 상기 소켓코어는 상기 돌출영역의 측면이 상기 고정바디의 중공의 내부면을 따라 상하로 이동하도록 구성되고, 상기 소켓코어가 하부로 이동하는 경우 상기 소켓코어가 상부 위치로 복귀하도록 상기 소켓코어를 가압하는 가압부재를 더 포함할 수 있다. The socket core includes a protruding region partially inserted into the hollow of the fixing body, and the socket core is configured such that a side surface of the protruding region moves up and down along an inner surface of the hollow of the fixing body. The socket core may further include a pressing member that presses the socket core so that the socket core returns to an upper position when the socket core moves downward.

상기 가압부재는 상기 소켓코어의 하부 및 상기 제2소켓바디 사이에 배치될 수 있다.The pressing member may be disposed between a lower portion of the socket core and the second socket body.

상기 블레이드 핀은, 제1접지부, 제2접지부 및 상기 제1접지부와 제2접지부 사이에 배치된 가요부를 포함할 수 있다. The blade pin may include a first ground portion, a second ground portion, and a flexible portion disposed between the first ground portion and the second ground portion.

상기 제1홀은 상기 제1접지부가 관통하고, 상기 제2홀 및 제3홀은 상기 가요부가 관통하고, 상기 제4홀 및 제5홀은 상기 제2접지부가 관통하도록 배치될 수 있다. The first hole may pass through the first ground part, the second hole and the third hole may pass through the flexible part, and the fourth hole and the fifth hole may pass through the second ground part.

본 발명의 실시 예를 따르는 반도체 테스트 소켓을 제조하는 방법은 앞서 설명한 반도체 테스트 소켓을 제조하는 방법이다. 본 발명의 실시 예를 따르는 반도체 테스트 소켓을 제조하는 방법은, 제1지그 상에 상기 제1소켓바디를 배치하고 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계; 상기 제1소켓바디 상에 상기 제1필름을 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계; 상기 제1필름 상에 상기 제2소켓바디를 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계; 상기 제2소켓바디 상에 상기 제2필름을 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계; 상기 제2필름 상에 제2지그를 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계: 상기 제1홀 내지 제3홀을 관통하도록 상기 블레이드 핀을 삽입하는 단계; 상기 제2지그를 제거하고, 상기 제2필름 상에 상기 제3소켓바디를 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계; 상기 제3소케바디 상에 상기 소켓코어를 배치하는 단계; 상기 소켓코어 상에 고정바디를 배치하는 단계; 및 상기 위치고정부재를 제거하고 상기 고정바디를 결착하는 단계;를 포함한다. A method of manufacturing a semiconductor test socket according to an embodiment of the present invention is the method of manufacturing the semiconductor test socket described above. A method of manufacturing a semiconductor test socket according to an embodiment of the present invention includes disposing the first socket body on a first jig and fixing the position using a position fixing member; disposing the first film on the first socket body and fixing the position using the position fixing member; disposing the second socket body on the first film and fixing the position using the position fixing member; disposing the second film on the second socket body and fixing the position using the position fixing member; arranging a second jig on the second film and fixing the position using the position fixing member: inserting the blade pin through the first to third holes; removing the second jig, disposing the third socket body on the second film, and fixing the position using the position fixing member; disposing the socket core on the third socket body; disposing a fixing body on the socket core; and removing the position fixing member and binding the fixing body.

상기 제3소켓바디를 배치하는 단계에서, 상기 제3소켓바디를 관통하는 홀에 가요부를 배치하는 단계를 더 포함할 수 있다. The disposing of the third socket body may further include disposing a flexible part in a hole penetrating the third socket body.

본 발명의 실시 예를 따르는 반도체 테스트 소켓 및 그 제조방법은 다수의 블레이드 핀이 적용되더라도 손쉽게 조립할 수 있다. A semiconductor test socket and a manufacturing method thereof according to an embodiment of the present invention can be easily assembled even when a plurality of blade pins are applied.

또한, 작동성 및 내구성이 우수하다. In addition, operability and durability are excellent.

도 1은 본 발명의 실시 예를 따르는 반도체 테스트 소켓을 도시한 것이다.
도 2는 제1소켓바디를 도시한 것이다.
도 3은 제1필름을 도시한 것이다.
도 4는 제2소켓바디를 도시한 것이다.
도 5는 제2필름을 도시한 것이다.
도 6은 제3소켓바디를 도시한 것이다.
도 7은 소켓코어를 도시한 것이다.
도 8은 고정바디를 도시한 것이다.
도 9는 레이드 핀을 도시한 것이다.
도 10은 제1지그를 도시한 것이다.
도 11은 제2지그를 도시한 것이다.
도 12 내지 도 20은 본 발명의 실시 예를 따르는 반도체 테스트 소켓의 제조방법을 순차적으로 도시한 것이다.1 illustrates a semiconductor test socket according to an embodiment of the present invention.
2 shows a first socket body.
3 shows a first film.
4 shows a second socket body.
5 shows a second film.
6 shows a third socket body.
7 shows a socket core.
8 shows a fixing body.
9 shows a laid pin.
10 shows a first jig.
11 shows a second jig.
12 to 20 sequentially illustrate a method of manufacturing a semiconductor test socket according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 다음과 같이 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시 형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다.　 또한, 본 발명의 실시 형태는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다.　 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면 상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도면 전체에 걸쳐 동일한 부호를 사용한다. 덧붙여, 명세서 전체에서 어떤 구성요소를 "포함"한다는 것은 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. However, the embodiments of the present invention may be modified in various forms, and the scope of the present invention is not limited to the embodiments described below. In addition, the embodiments of the present invention are provided to more completely explain the present invention to those skilled in the art. Therefore, the shape and size of elements in the drawings may be exaggerated for clearer description, and elements indicated by the same reference numerals in the drawings are the same elements. In addition, the same reference numerals are used throughout the drawings for parts having similar functions and actions. In addition, "include" a component in the entire specification means that other components may be further included without excluding other components unless otherwise stated.

반도체 테스트 소켓semiconductor test socket

도 1은 본 발명의 실시 예를 따르는 반도체 테스트 소켓(100)을 도시한 것이다. 도 2 내지 도 9는 반도체 테스트 소켓(100)의 각 구성요소를 도시한 것이다. 1 illustrates a semiconductor test socket 100 according to an embodiment of the present invention. 2 to 9 show each component of the semiconductor test socket 100 .

도 1 내지 도 9를 참조하면, 본 발명의 실시 예를 따르는 반도체 테스트 소켓(100)은, 복수의 블레이드 핀(180); 상기 블레이드 핀(180)의 일부가 관통하는 복수의 제1홀(111)을 포함하는 제1소켓바디(110); 상기 제1소켓바디(110) 상에 배치되고 상기 블레이드 핀(180)의 일부가 관통하는 복수의 제2홀(121)을 포함하는 제1필름(120); 상기 제1필름(120) 상에 배치되고 상기 제2홀(121)을 상부로 노출되도록 하는 중공을 포함하는 제2소켓바디(130); 상기 제2소켓바디(130) 상에 배치되고 상기 블레이드 핀(180)의 일부가 관통하는 복수의 제3홀(141)을 포함하는 제2필름(140); 상기 제2필름(140) 상에 배치되고 상기 블레이드 핀(180)의 일부가 관통하는 복수의 제4홀(151)을 포함하는 제3소켓바디(150); 상기 제3소켓바디(150) 상에 배치되고 상기 블레이드 핀(180)의 일부가 관통하는 복수의 제5홀(161)을 포함하는 소켓코어(160); 및 상기 소켓코어(160) 상에 배치되고 상기 제5홀(161)을 상부로 노출되도록 하는 중공을 포함하는 고정바디(170);를 포함한다. 1 to 9 , a semiconductor test socket 100 according to an embodiment of the present invention includes a plurality of blade pins 180; a first socket body 110 including a plurality of first holes 111 through which some of the blade pins 180 pass; a first film 120 disposed on the first socket body 110 and including a plurality of second holes 121 through which some of the blade pins 180 pass; a second socket body 130 disposed on the first film 120 and including a hollow portion exposing the second hole 121 upward; a second film 140 disposed on the second socket body 130 and including a plurality of third holes 141 through which some of the blade pins 180 pass; a third socket body 150 disposed on the second film 140 and including a plurality of fourth holes 151 through which some of the blade pins 180 pass; a socket core (160) disposed on the third socket body (150) and including a plurality of fifth holes (161) through which some of the blade pins (180) pass; and a fixing body 170 disposed on the socket core 160 and including a hollow to expose the fifth hole 161 upward.

상기 제1소켓바디(110) 내지 제3소켓바디(150), 소켓코어(160) 및 고정바디(170)는 형태를 유지하고 다른 구성요소를 지지하기 위한 것으로써, 울템, PVC, PP 등 다양한 종류를 재료로 이루어질 수 있으며 특별히 제한하지 않는다. 상기 제1필름(120) 및 제2필름(140)은 충격을 흡수하고 홀을 통해 관통하는 블레이드 핀(180)의 가요부(183)의 이동을 가이드하며, 상기 블레이드 핀(180)이 파손되는 것을 방지하는 기능을 수행하는 것으로, 상기 제1소켓바디(110) 내지 제3소켓바디(150), 소켓코어(160) 및 고정바디(170)에 비하여 충격흡수 성능이 우수한 재료로 이루어질 수 있다. 상기 제1필름(120) 및 제2필름(140)은 에폭시 등 고분자 물질로 이루어질 수 있으며 특별히 제한하지 않는다. The first socket body 110 to the third socket body 150, the socket core 160, and the fixing body 170 maintain their shapes and support other components, and various materials such as Ultem, PVC, PP, etc. It may be made of a kind of material and is not particularly limited. The first film 120 and the second film 140 absorb shock and guide the movement of the flexible part 183 of the blade pin 180 penetrating through the hole, and the blade pin 180 is damaged The first socket body 110 to the third socket body 150, the socket core 160, and the fixing body 170 may be made of a material having superior shock absorption performance. The first film 120 and the second film 140 may be made of a polymer material such as epoxy, and are not particularly limited.

상기 제1소켓바디(110)는 반도체 테스트 소켓(100)의 가장 아래에 위치하여 내부 구성요소를 보호하고 전체 형태가 변형되지 않도록 유지하는 기능을 수행한다. 또한, 블레이드 핀(180)이 외부로 유출하지 않도록 하는 기능을 수행한다. 도 2를 참조하면, 상기 제1소켓바디(110)는 블레이드 핀(180)이 관통하는 제1홀(111), 제조 과정 중에서 고정 핀이 삽입되는 제1고정핀홀(112)을 포함할 수 있다. 또한, 상부에 배치되는 제1필름(120)의 위치를 고정하기 위해 상기 제1필름(120)의 홀 또는 트렌치가 삽입되는 고정돌기(113)를 더 포함할 수 있다. 상기 제1홀(111)은 블레이드 핀(180)의 제1접지부(181)가 관통하는 구멍으로써, 그 직경이 상기 제1접지부(181)의 직경보다 크거나 같을 수 있다. 그러나, 상기 블레이드 핀(180)이 외부로 유출되지 않도록 하기 위해 그 직경이 상기 블레이드 핀(180)의 가요부(183)의 최장 직경보다 작을 수 있다. 상기 제1홀(111)은 제1접지부(181)가 원활하게 관통할 수 있도록 원형일 수 있다. 상기 제1소켓바디(110)는 형태를 유지하고 상부의 제1필름(120) 등의 구성요소를 보호하기 위해 적절한 두께로 이루어질 수 있으며, 바람직하게 2 내지 10 mm의 두께일 수 있다. The first socket body 110 is positioned at the bottom of the semiconductor test socket 100 to protect internal components and to keep the overall shape from being deformed. In addition, it serves to prevent the blade pin 180 from leaking out. Referring to FIG. 2 , the first socket body 110 may include a first hole 111 through which a blade pin 180 passes, and a first fixing pin hole 112 into which a fixing pin is inserted during a manufacturing process. . In addition, a fixing protrusion 113 into which a hole or a trench of the first film 120 is inserted may be further included to fix the position of the first film 120 disposed thereon. The first hole 111 is a hole through which the first contact portion 181 of the blade pin 180 passes, and may have a diameter greater than or equal to that of the first contact portion 181 . However, in order to prevent the blade pin 180 from flowing out, its diameter may be smaller than the longest diameter of the flexible part 183 of the blade pin 180. The first hole 111 may have a circular shape so that the first ground portion 181 can pass through smoothly. The first socket body 110 may have an appropriate thickness to maintain its shape and protect components such as the upper first film 120, and may preferably have a thickness of 2 to 10 mm.

상기 제1필름(120)은 블레이드 핀(180)이 상하로 이동하도록 경로를 제공하고, 상기 블레이드 핀(180)이 파손되는 것을 방지하는 기능을 수행한다. 도 3을 참조하면, 상기 제1필름(120)은 블레이드 핀(180)이 관통하는 제2홀(121), 제조 과정 중에서 고정핀이 삽입되는 제2고정핀홀(122)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 고정돌기(113)가 삽입되는 홀을 더 포함할 수 있다. 상기 제2홀(121)은 블레이드 핀(180)의 가요부(183)가 관통하는 구멍으로써, 그 직경이 상기 가요부(183)의 직경보다 크거나 같을 수 있다. 상기 제2홀(121)은 상기 가요부(183)의 이동 경로를 효율적으로 제공하기 위해 일 방향으로 긴 타원형 또는 직사각형 일 수 있다. 상기 제1필름(120)은 충격 흡수를 위한 적절한 두께로 이루어질 수 있으며, 바람직하게 0.2 내지 3 mm의 두께일 수 있다.The first film 120 provides a path for the blade pin 180 to move up and down, and serves to prevent the blade pin 180 from being damaged. Referring to FIG. 3 , the first film 120 may include a second hole 121 through which the blade pin 180 passes, and a second fixing pin hole 122 into which a fixing pin is inserted during the manufacturing process. In addition, a hole into which the fixing protrusion 113 is inserted may be further included. The second hole 121 is a hole through which the flexible part 183 of the blade pin 180 passes, and its diameter may be greater than or equal to the diameter of the flexible part 183 . The second hole 121 may have an oval shape or a rectangular shape elongated in one direction in order to efficiently provide a moving path of the flexible part 183 . The first film 120 may be made of an appropriate thickness for shock absorption, and preferably may have a thickness of 0.2 to 3 mm.

상기 제2소켓바디(130)는 상기 제1필름(120) 및 제2필름(140) 사이에 배치되어 상기 제1필름(120) 및 제2필름(140)을 지지하고, 상기 제1필름(120) 및 제2필름(140) 사이에 이격 공간을 제공함으로써 상기 블레이드 핀(180)의 가요부(183)의 외부에 대한 간섭이 최소화되도록 하는 기능을 수행한다. 도 4를 참조하면, 상기 제2소켓바디(130)는 복수의 블레이드 핀(180)이 함께 관통하는 중공(131)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 제2소켓바디(130)는 제조 과정 중에서 고정 핀이 삽입되는 제3고정핀홀(132)을 포함할 수 있다. 또한, 가요부(183)재가 삽입되어 배치되는 제1가요부(183)재홀을 더 포함할 수 있다. 상기 제2소켓바디(130)는 형태를 유지하고 상부의 제1필름(120) 및 제2필름(140) 사이의 이격 거리를 충분히 확보하기 위해 적절한 두께로 이루어질 수 있으며, 바람직하게 2 내지 10 mm의 두께일 수 있다. The second socket body 130 is disposed between the first film 120 and the second film 140 to support the first film 120 and the second film 140, and the first film ( 120) and the second film 140, thereby minimizing interference with the outside of the flexible part 183 of the blade pin 180. Referring to FIG. 4 , the second socket body 130 may include a hollow 131 through which a plurality of blade pins 180 pass. In addition, the second socket body 130 may include a third fixing pin hole 132 into which a fixing pin is inserted during the manufacturing process. In addition, a first flexible portion 183 re-hole into which the flexible portion 183 is inserted may be further included. The second socket body 130 may have an appropriate thickness to maintain its shape and sufficiently secure a separation distance between the first film 120 and the second film 140 on the upper part, preferably 2 to 10 mm. may be the thickness of

상기 제2필름(140)은 블레이드 핀(180)이 상하로 이동하도록 경로를 제공하고, 상기 블레이드 핀(180)이 파손되는 것을 방지하는 기능을 수행한다. 도 5를 참조하면, 상기 제2필름(140)은 블레이드 핀(180)이 관통하는 제3홀(141), 제조 과정 중에서 고정 핀이 삽입되는 제4고정핀홀(142)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 고정돌기(113)가 삽입되는 홀을 더 포함할 수 있다. 또한, 상기 가압부재(190)가 관통하는 제1가압부재홀(143)을 더 포함할 수 있다. 상기 제3홀(141)은 블레이드 핀(180)의 가요부(183)가 관통하는 구멍으로써, 그 직경이 상기 가요부(183)의 직경보다 크거나 같을 수 있다. 상기 제3홀(141)은 상기 가요부(183)의 이동 경로를 효율적으로 제공하기 위해 일 방향으로 긴 타원형 또는 직사각형 일 수 있다. 상기 제1필름(120)은 충격 흡수를 위한 적절한 두께로 이루어질 수 있으며, 바람직하게 0.2 내지 3 mm의 두께일 수 있다.The second film 140 provides a path for the blade pin 180 to move up and down, and serves to prevent the blade pin 180 from being damaged. Referring to FIG. 5 , the second film 140 may include a third hole 141 through which the blade pin 180 passes, and a fourth fixing pin hole 142 into which a fixing pin is inserted during the manufacturing process. In addition, a hole into which the fixing protrusion 113 is inserted may be further included. In addition, a first pressing member hole 143 through which the pressing member 190 passes may be further included. The third hole 141 is a hole through which the flexible part 183 of the blade pin 180 passes, and its diameter may be greater than or equal to the diameter of the flexible part 183 . The third hole 141 may have an oval shape or a rectangular shape elongated in one direction to efficiently provide a moving path of the flexible part 183 . The first film 120 may be made of an appropriate thickness for shock absorption, and preferably may have a thickness of 0.2 to 3 mm.

상기 제3소켓바디(150)는 내부 구성요소를 보호하고 전체 형태가 변형되지 않도록 유지하는 기능을 수행한다. 또한, 블레이드 핀(180)이 외부로 유출하지 않도록 하는 기능을 수행한다. 도 6을 참조하면, 상기 제3소켓바디(150)는 블레이드 핀(180)이 관통하는 제4홀(151), 제조 과정 중에서 고정핀이 삽입되는 제5고정핀홀(152)을 포함할 수 있다. 또한, 가압부재(190)가 관통하는 제2가압부재홀(153)을 더 포함할 수 있다. 상기 제4홀(151)은 블레이드 핀(180)의 제2접지부(182)가 관통하는 구멍으로써, 그 직경이 상기 제2접지부(182)의 직경보다 크거나 같을 수 있다. 그러나, 상기 블레이드 핀(180)이 외부로 유출되지 않도록 하기 위해 그 직경이 상기 블레이드 핀(180)의 가요부(183)의 최장 직경보다 작을 수 있다. 상기 제4홀(151)은 제2접지부(182)가 원활하게 관통할 수 있도록 원형일 수 있다. 상기 제3소켓바디(150)는 형태를 유지하고 하부의 제2필름(140) 등의 구성요소를 보호하기 위해 적절한 두께로 이루어질 수 있으며, 바람직하게 2 내지 10 mm의 두께일 수 있다.The third socket body 150 serves to protect internal components and to keep the overall shape from being deformed. In addition, it serves to prevent the blade pin 180 from leaking out. Referring to FIG. 6 , the third socket body 150 may include a fourth hole 151 through which the blade pin 180 passes, and a fifth fixing pin hole 152 into which a fixing pin is inserted during the manufacturing process. . In addition, a second pressing member hole 153 through which the pressing member 190 passes may be further included. The fourth hole 151 is a hole through which the second contact portion 182 of the blade pin 180 passes, and may have a diameter greater than or equal to that of the second contact portion 182 . However, in order to prevent the blade pin 180 from flowing out, its diameter may be smaller than the longest diameter of the flexible part 183 of the blade pin 180. The fourth hole 151 may have a circular shape so that the second ground portion 182 can pass through smoothly. The third socket body 150 may have an appropriate thickness to maintain its shape and protect components such as the lower second film 140, and may preferably have a thickness of 2 to 10 mm.

상기 소켓코어(160)는 반도체 테스트 소켓(100)의 가장 상부에 위치하여 내부 구성요소를 보호하고 전체 형태가 변형되지 않도록 유지하는 기능을 수행한다. 도 7을 참조하면, 상기 소켓코어(160)는 블레이드 핀(180)이 관통하는 제5홀(161)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 고정바디(170)에 의해 효율적으로 고정되도록 하기 위해 다른 영역에 비하여 상부로 돌출된 돌출영역(162)을 더 포함할 수 있다. 상기 제5홀(161)은 돌출영역(162)을 관통하는 위치에 배치될 수 있다. 상기 제5홀(161)은 블레이드 핀(180)의 제2접지부(182)가 관통하는 구멍으로써, 그 직경이 상기 제2접지부(182)의 직경보다 크거나 같을 수 있다. 상기 소켓코어(160)는 형태를 유지하고 하부의 구성요소를 보호하기 위해 적절한 두께로 이루어질 수 있으며, 바람직하게 2 내지 10 mm의 두께일 수 있다. The socket core 160 is located at the uppermost part of the semiconductor test socket 100 to protect internal components and to keep the overall shape from being deformed. Referring to FIG. 7 , the socket core 160 may include a fifth hole 161 through which the blade pin 180 passes. In addition, in order to be efficiently fixed by the fixing body 170, a protrusion area 162 protruding upward compared to other areas may be further included. The fifth hole 161 may be disposed at a position penetrating the protrusion area 162 . The fifth hole 161 is a hole through which the second contact portion 182 of the blade pin 180 passes, and may have a diameter greater than or equal to that of the second contact portion 182 . The socket core 160 may have an appropriate thickness to maintain its shape and protect lower components, and may preferably have a thickness of 2 to 10 mm.

상기 고정바디(170)는 상기 소켓코어(160)와 함께 반도체 테스트 소켓(100)의 가장 상부에 위치하여 내부 구성요소를 보호하고 전체 형태가 변형되지 않도록 유지하는 기능을 수행한다. 또한, 상기 소켓코어(160)의 위치를 유지하는 기능을 수행한다. 도 8을 참조하면, 상기 고정바디(170)는 소켓코어(160)의 돌출영역(162)이 관통하는 중공(171)을 포함할 수 있다. 상기 소켓코어(160)는 상기 돌출영역(162)의 측면이 상기 고정바디(170)의 중공(171)의 내부면을 따라 상하로 이동하도록 구성될 수 있다. 상기 고정바디(170)는 형태를 유지하고 하부의 구성요소를 보호하기 위해 적절한 두께로 이루어질 수 있으며, 바람직하게 2 내지 10 mm의 두께일 수 있다. The fixing body 170, along with the socket core 160, is positioned at the top of the semiconductor test socket 100 to protect internal components and to keep the overall shape from being deformed. In addition, it performs a function of maintaining the position of the socket core 160. Referring to FIG. 8 , the fixing body 170 may include a hollow 171 through which the protruding area 162 of the socket core 160 passes. The socket core 160 may be configured such that a side surface of the protruding area 162 moves up and down along an inner surface of the hollow 171 of the fixing body 170 . The fixing body 170 may be made of an appropriate thickness to maintain its shape and protect the underlying components, and may preferably have a thickness of 2 to 10 mm.

상기 블레이드 핀(180)은 반도체의 전극에 전기 신호를 가하거나 반도체의 전극으로부터 전기 신호를 수집하는 기능을 수행하는 것으로, 전도성 물질로 이루어질 수 있다. 도 9를 참조하면, 상기 블레이드 핀(180)은 외부의 반도체 전극 또는 테스트 장비의 전극에 접촉하는 제1접지부(181) 및 제2접지부(182)를 포함하고, 상기 제1접지부(181) 및 제2접지부(182) 사이에 배치된 가요부(183)를 포함할 수 있다. 상기 가요부(183)는 상기 블레이드 핀(180)에 탄성을 제공하는 기능을 수행한다. 상기 블레이드 핀(180)은 외부의 전극과 반복적인 접지를 수행하게 되는 데, 탄성을 갖는 가요부(183)를 통해 충격을 흡수할 수 있으며 접지 후 원래 위치와 형태로 복원될 수 있다. 상기 가요부(183)는 탄성을 갖는 재료로 이루어질 수 있으며, 도 9와 같이 지그재그 형상 또는 코일 형상을 가짐으로써 가요성을 가질 수 있다. 상기 가요부(183)는 상기 제1접지부(181) 및 제2접지부(182)에 비하여 단면의 최장 지름이 더 길수 있다. 이를 통해 상기 가요부(183)는 상기 제1필름(120) 및 제2필름(140)의 제2홀(121) 및 제3홀(141)을 관통하여 상하로 이동하면서도 상기 제1소켓바디(110) 및 제3소켓바디(150)의 제1홀(111) 및 제4홀(151)을 통과하지 못하여, 상기 블레이드 핀(180)이 필요 이상으로 외부로 이탈하지 않을 수 있다. The blade pin 180 performs a function of applying an electrical signal to a semiconductor electrode or collecting an electrical signal from a semiconductor electrode, and may be made of a conductive material. Referring to FIG. 9 , the blade pin 180 includes a first ground portion 181 and a second ground portion 182 contacting an external semiconductor electrode or an electrode of a test equipment, and the first ground portion ( 181) and a flexible part 183 disposed between the second ground part 182. The flexible part 183 serves to provide elasticity to the blade pin 180 . The blade pin 180 performs repetitive grounding with an external electrode, and can absorb shock through the flexible part 183 having elasticity, and can be restored to its original position and shape after grounding. The flexible part 183 may be made of a material having elasticity, and may have flexibility by having a zigzag shape or a coil shape as shown in FIG. 9 . The longest diameter of the cross section of the flexible part 183 may be longer than that of the first ground part 181 and the second ground part 182 . Through this, the flexible part 183 penetrates the second hole 121 and the third hole 141 of the first film 120 and the second film 140 and moves up and down while the first socket body ( 110) and the first hole 111 and the fourth hole 151 of the third socket body 150, the blade pin 180 may not escape outside more than necessary.

본 발명의 일 실시 예는, 상기 소켓코어(160)에 가해지는 충격을 흡수하고, 상기 소켓코어(160)를 원래 위치로 복원하는 복원력을 제공하는 가압부재(190)를 더 포함할 수 있다. 앞서 설명한 바와 같이, 상기 소켓코어(160)는 상기 고정바디(170)의 중공의 내부에 일부가 삽입되는 돌출영역(162)을 포함하고, 상기 소켓코어(160)는 상기 돌출영역(162)의 측면이 상기 고정바디(170)의 중공의 내부면을 따라 상하로 이동하도록 구성될 수 있다. 이때, 상기 소켓코어(160)가 하부로 이동하는 경우 상기 가압부재(190)는 상기 소켓코어(160)를 상부로 가압하여 상기 소켓코어(160)가 상부 위치로 복귀하도록 할 수 있다. 상기 가압부재(190)는 상기 소켓코어(160)의 하부 및 상기 제2소켓바디(130) 사이에 배치될 수 있으며, 상기 제2필름(140) 및 제3소켓바디(150)를 관통하여 배치될 수 있다. 상기 가압부재(190)는 탄성을 갖는 것일 수 있으며, 바람직하게는 스프링일 수 있다. An embodiment of the present invention may further include a pressing member 190 that absorbs impact applied to the socket core 160 and provides restoring force to restore the socket core 160 to its original position. As described above, the socket core 160 includes a protruding area 162 partially inserted into the hollow of the fixing body 170, and the socket core 160 is formed of the protruding area 162. The side surface may be configured to move up and down along the hollow inner surface of the fixing body 170 . At this time, when the socket core 160 moves downward, the pressing member 190 presses the socket core 160 upward so that the socket core 160 returns to the upper position. The pressing member 190 may be disposed between the lower portion of the socket core 160 and the second socket body 130, and is disposed through the second film 140 and the third socket body 150. It can be. The pressing member 190 may have elasticity, and preferably may be a spring.

반도체 테스트 소켓의 제조방법Manufacturing method of semiconductor test socket

도 12 내지 도 20은 본 발명의 실시 예를 따르는 반도체 테스트 소켓(100)의 제조방법을 순차적으로 도시한 것이고, 도 10 및 도 11은 각각 본 제조방법에 사용하는 제1지그(210) 및 제2지그(220)를 도시한 것이다. 12 to 20 sequentially show a method of manufacturing the semiconductor test socket 100 according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 10 and 11 respectively show a first jig 210 and a first jig 210 used in this manufacturing method 2 shows the jig 220.

도 12 내지 도 20을 참조하면, 본 발명의 실시 예를 따르는 반도체 테스트 소켓(100)을 제조하는 방법은 앞서 설명한 반도체 테스트 소켓(100)을 제조하는 방법이다. 본 발명의 실시 예를 따르는 반도체 테스트 소켓(100)을 제조하는 방법은, 제1지그(210) 상에 상기 제1소켓바디(110)를 배치하고 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계; 상기 제1소켓바디(110) 상에 상기 제1필름(120)을 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계; 상기 제1필름(120) 상에 상기 제2소켓바디(130)를 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계; 상기 제2소켓바디(130) 상에 상기 제2필름(140)을 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계; 상기 제2필름(140) 상에 제2지그(220)를 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계: 상기 제1홀(111) 내지 제3홀(141)을 관통하도록 상기 블레이드 핀(180)을 삽입하는 단계; 상기 제2지그(220)를 제거하고, 상기 제2필름(140) 상에 상기 제3소켓바디(150)를 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계; 상기 제3소켓바디(150) 상에 상기 소켓코어(160)를 배치하는 단계; 상기 소켓코어(160) 상에 고정바디(170)를 배치하는 단계; 및 상기 위치고정부재를 제거하고 상기 고정바디(170)를 결착하는 단계;를 포함한다. 12 to 20 , a method of manufacturing the semiconductor test socket 100 according to an embodiment of the present invention is the method of manufacturing the semiconductor test socket 100 described above. A method of manufacturing a semiconductor test socket 100 according to an embodiment of the present invention includes disposing the first socket body 110 on a first jig 210 and fixing the position using a position fixing member; disposing the first film 120 on the first socket body 110 and fixing the position using the position fixing member; disposing the second socket body 130 on the first film 120 and fixing the position using the position fixing member; disposing the second film 140 on the second socket body 130 and fixing the position using the position fixing member; Placing the second jig 220 on the second film 140 and fixing the position using the position fixing member: the blade passing through the first hole 111 to the third hole 141 inserting pin 180; removing the second jig 220, disposing the third socket body 150 on the second film 140, and fixing the position using the position fixing member; disposing the socket core 160 on the third socket body 150; disposing a fixing body (170) on the socket core (160); and removing the position fixing member and binding the fixing body 170.

상기 제1소켓바디(110) 내지 제3소켓바디(150), 제1필름(120), 제2필름(140), 소켓코어(160), 고정바디(170), 블레이드 핀(180) 및 가압부재(190)는 앞서 설명한 것과 동일하다. 상기 위치고정부재는 바람직하게는 고정핀(GP)일 수 있다. The first socket body 110 to the third socket body 150, the first film 120, the second film 140, the socket core 160, the fixing body 170, the blade pin 180, and the pressure Member 190 is the same as described above. The position fixing member may preferably be a fixing pin (GP).

제1지그(210) 상에 상기 제1소켓바디(110)를 배치하고 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계에서, 상기 제1지그(210)는 상기 제1소켓바디(110) 내지 제3소켓바디(150), 제1필름(120), 제2필름(140), 소켓코어(160) 및 고정바디(170)의 구성요소가 정확한 위치에 배치되도록 하는 기능을 수행한다. 도 10을 참조하면, 상기 제1지그(210)는 내부에 중공(211)을 포함하고, 고정핀이 삽입되는 제7고정핀홀(212)을 포함할 수 있다. 상기 중공(211)은 복수의 블레이드 핀(180)이 함께 외부로 돌출될 수 있도록 형성될 수 있다. 상기 제1지그(210)는 금속 또는 고분자 물질로 이루어질 수 있으며, 재료 및 크기, 두께는 특별히 제한하지 않는다. 도 12를 참조하면, 상기 제1지그(210)의 제7고정핀홀(212)에 고정핀(GP)이 삽입되어 고정되고, 상기 제1소켓바디(110)의 제1고정핀홀(112)이 상기 고정핀(GP)에 삽입되어 고정되었다. In the step of arranging the first socket body 110 on the first jig 210 and fixing the position using a position fixing member, the first jig 210 is placed between the first socket body 110 and the second socket body 110. 3 It performs the function of arranging the components of the socket body 150, the first film 120, the second film 140, the socket core 160, and the fixing body 170 in an accurate position. Referring to FIG. 10 , the first jig 210 may include a hollow 211 therein and a seventh fixing pin hole 212 into which a fixing pin is inserted. The hollow 211 may be formed so that the plurality of blade pins 180 may protrude outward together. The first jig 210 may be made of metal or polymer material, and the material, size, and thickness are not particularly limited. Referring to FIG. 12 , a fixing pin (GP) is inserted into and fixed to the seventh fixing pin hole 212 of the first jig 210, and the first fixing pin hole 112 of the first socket body 110 It was inserted into the fixing pin (GP) and fixed.

다음으로 도 13을 참조하면, 상기 제1필름(120)의 제2고정핀홀(122)에 고정핀(GP)이 삽입되어 고정되고, 상기 제1소켓바디(110)의 고정돌기(113)에 상기 제1필름(120)의 홀이 고정되어 배치되었다. Next, referring to FIG. 13, a fixing pin (GP) is inserted into the second fixing pin hole 122 of the first film 120 and fixed, and is fixed to the fixing protrusion 113 of the first socket body 110. The holes of the first film 120 are fixed and arranged.

다음으로 도 14를 참조하면, 상기 제2소켓바디(130)의 제3고정핀홀(132)에 고정핀(GP)이 삽입되어 고정되었다. Next, referring to FIG. 14 , the fixing pin GP is inserted into the third fixing pin hole 132 of the second socket body 130 and fixed.

다음으로 도 15를 참조하면, 상기 제2필름(140)의 제4고정핀홀(142)에 고정핀(GP)이 삽입되어 고정되고, 상기 제1소켓바디(110)의 고정돌기(113)에 상기 제2필름(140)의 홀이 고정되어 배치되었다. Next, referring to FIG. 15, a fixing pin (GP) is inserted into the fourth fixing pin hole 142 of the second film 140 and fixed, and is fixed to the fixing protrusion 113 of the first socket body 110. The hole of the second film 140 is fixed and arranged.

다음으로 도 16을 참조하면, 제2지그(220)의 제8고정핀홀(222)에 고정핀(GP)이 삽입되어 고정되었다. 상기 제2지그(220)는 제1소켓바디(110), 제1필름(120), 제2소켓바디(130) 및 제2필름(140)을 상부에서 압박하여 위치가 고정되도록 하는 기능을 수행한다. 이는 블레이드 핀(180)을 손쉽게 삽입하기 위한 것이다. 도 11을 참조하면 상기 제2지그(220)는 내부에 중공(221)을 포함하고, 고정핀이 삽입되는 제8고정핀홀(222)을 포함할 수 있다. 상기 중공(221)은 복수의 블레이드 핀(180)이 함께 외부로 돌출될 수 있도록 형성될 수 있다. 상기 제2지그(220)는 금속 또는 고분자 물질로 이루어질 수 있으며, 재료 및 크기, 두께는 특별히 제한하지 않는다.Next, referring to FIG. 16 , the fixing pin GP is inserted into the eighth fixing pin hole 222 of the second jig 220 and fixed. The second jig 220 presses the first socket body 110, the first film 120, the second socket body 130, and the second film 140 from the top so that their positions are fixed. do. This is for easy insertion of the blade pin 180. Referring to FIG. 11 , the second jig 220 may include a hollow 221 therein and an eighth fixing pin hole 222 into which a fixing pin is inserted. The hollow 221 may be formed so that the plurality of blade pins 180 may protrude outward together. The second jig 220 may be made of metal or polymer material, and the material, size and thickness are not particularly limited.

다음으로 도 17을 참조하면, 상기 제2필름(140)의 제3홀(141)에 블레이드 핀(180)을 제1접지부(181)부터 삽입하는 단계를 수행한다. 이 때, 상기 제1소켓바디(110), 제1필름(120), 제2소켓바디(130) 및 제2필름(140)은 상기 제1지그(210), 제2지그(220) 및 고정핀에 의해 그 위치가 정확하게 고정되어 있기 때문에 블레이드 핀(180)이 손쉽게 상기 제1홀(111) 내지 제3홀(141)을 관통할 수 있다. 본 단계에서, 상기 블레이드 핀(180)의 가요부(183)의 최하단은 상기 제1소켓바디(110)의 상면에 접촉하도록 배치되고, 상기 제1접지부(181)의 일부가 상기 제1소켓바디(110)의 하부로 돌출되도록 배치될 수 있다. Next, referring to FIG. 17 , a step of inserting the blade pin 180 from the first ground portion 181 into the third hole 141 of the second film 140 is performed. At this time, the first socket body 110, the first film 120, the second socket body 130 and the second film 140 are fixed to the first jig 210, the second jig 220 and Since the position is accurately fixed by the pin, the blade pin 180 can easily pass through the first hole 111 to the third hole 141 . In this step, the lowermost end of the flexible part 183 of the blade pin 180 is disposed to contact the upper surface of the first socket body 110, and a part of the first grounding part 181 is connected to the first socket It may be arranged to protrude from the lower part of the body 110 .

다음으로 도 18을 참조하면, 상기 제3소켓바디(150)의 제5고정핀홀(152)에 고정핀(GP)이 삽입되어 고정되었다. 이 때, 상기 제3소켓바디(150)의 제4홀(151)은 상기 블레이드 핀(180)의 제2접지부(182)가 관통하도록 배치된다. 상기 제3소켓바디(150)의 하부면은 상기 블레이드 핀(180)의 가요부(183)의 최상단에 접촉할 수 있다. 상기 블레이드 핀(180)의 가요부(183)는 상기 제1소켓바디(110) 및 제3소켓바디(150) 사이에 배치되어 상기 블레이드 핀(180)이 외부로 이탈하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 본 단계에서, 상기 제3소켓바디(150)의 제2가압부재홀(153)을 통해 가압부재(190)를 삽입하는 단계를 수행할 수 있다. 상기 가압부재(190)는 상기 제2가압부재홀(153)을 통과하여 상기 제2필름(140)의 제1가압부재홀(143)을 지나 상기 제2소켓바디(130)의 가압부재(190)홈(133)에 접촉할 수 있다. 본 단계에서, 상기 제1소켓바디(110), 제1필름(120), 제2소켓바디(130), 제2필름(140) 및 제3소켓바디(150)를 상하로 고정할 수 있다. 도 18을 참고하면, 제3소켓바디(150)의 측면에 형성된 홀에 나사 못이 배치된 것을 알 수 있다. 본 단계에서 각 구성요소를 고정함으로써 다음 단계에서 소켓코어(160)를 안정적으로 배치할 수 있다.Next, referring to FIG. 18 , a fixing pin (GP) is inserted into and fixed to the fifth fixing pin hole 152 of the third socket body 150 . At this time, the fourth hole 151 of the third socket body 150 is disposed so that the second grounding portion 182 of the blade pin 180 passes through. The lower surface of the third socket body 150 may contact the uppermost end of the flexible part 183 of the blade pin 180 . The flexible part 183 of the blade pin 180 is disposed between the first socket body 110 and the third socket body 150 to prevent the blade pin 180 from escaping to the outside. Also, in this step, a step of inserting the pressing member 190 through the second pressing member hole 153 of the third socket body 150 may be performed. The pressing member 190 passes through the second pressing member hole 153, passes through the first pressing member hole 143 of the second film 140, and passes through the pressing member 190 of the second socket body 130. ) can contact the groove 133. In this step, the first socket body 110, the first film 120, the second socket body 130, the second film 140, and the third socket body 150 may be vertically fixed. Referring to FIG. 18 , it can be seen that a screw nail is disposed in a hole formed on a side surface of the third socket body 150 . By fixing each component in this step, the socket core 160 can be stably arranged in the next step.

다음으로 도 19를 참조하면, 상기 제3 소켓바디 상에 상기 소켓코어(160)가 배치되었다. 이 때, 상기 소켓코어(160)의 제5홀(161)은 상기 블레이드 핀(180)의 제2접지부(182)가 관통하도록 배치된다. 또한, 상기 소켓코어(160)의 하부면은 상기 가압부재(190)의 최상단을 가압한다. Next, referring to FIG. 19 , the socket core 160 is disposed on the third socket body. At this time, the fifth hole 161 of the socket core 160 is disposed so that the second grounding portion 182 of the blade pin 180 passes therethrough. Also, the lower surface of the socket core 160 presses the uppermost end of the pressing member 190 .

다음으로 도 20을 참조하면, 상기 소켓바디의 돌출영역(162)이 중공을 통해 외부로 노출되도록 상기 고정바디(170)의 제6정핀홀에 고정핀(GP)이 삽입되어 고정되었다. 또한, 제1지그(210)와 고정핀이 제거되었다. Next, referring to FIG. 20 , a fixing pin GP is inserted and fixed into the sixth pin hole of the fixing body 170 so that the protruding area 162 of the socket body is exposed to the outside through the hollow. Also, the first jig 210 and the fixing pin were removed.

본 발명은 상술한 실시 형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다. The present invention is not limited by the above-described embodiments and accompanying drawings, but is intended to be limited by the appended claims. Therefore, various forms of substitution, modification, and change will be possible by those skilled in the art within the scope of the technical spirit of the present invention described in the claims, which also falls within the scope of the present invention. something to do.

100: 반도체 테스트 소켓, 110: 제1소켓바디, 111: 제1홀, 112: 제1고정핀홀, 113: 고정돌기, 120: 제1필름, 121: 제2홀, 122: 제2고정핀홀, 130: 제2소켓바디, 131: 제2소켓바디의 중공, 132: 제3고정핀홀, 133: 가압부재홈, 140: 제2필름, 141: 제3홀, 142: 제4고정핀홀, 143: 제1가압부재홀, 150: 제3소켓바디, 151: 제4홀, 152: 제5고정핀홀, 153: 제2가압부재홀, 160: 소켓코어, 161: 제5홀, 162: 돌출영역, 170: 고정바디, 171: 고정바디의 중공, 172: 제6고정핀홀, 180: 블레이드 핀, 181: 제1접지부, 182: 제2접지부, 183: 가요부, 190: 가압부재, 210: 제1지그, 211: 제1지그의 중공, 212: 제7고정핀홀, 220: 제2지그, 221: 제2지그의 중공, 222: 제8고정핀홀, GP: 고정핀100: semiconductor test socket, 110: first socket body, 111: first hole, 112: first fixing pin hole, 113: fixing protrusion, 120: first film, 121: second hole, 122: second fixing pin hole, 130: second socket body, 131: hollow of second socket body, 132: third fixing pin hole, 133: pressing member groove, 140: second film, 141: third hole, 142: fourth fixing pin hole, 143: 1st pressing member hole, 150: 3rd socket body, 151: 4th hole, 152: 5th fixing pin hole, 153: 2nd pressing member hole, 160: socket core, 161: 5th hole, 162: protrusion area, 170: fixed body, 171: hollow of fixed body, 172: sixth fixing pin hole, 180: blade pin, 181: first grounding part, 182: second grounding part, 183: flexible part, 190: pressing member, 210: 1st jig, 211: hollow of first jig, 212: 7th fixing pin hole, 220: 2nd jig, 221: hollow of 2nd jig, 222: 8th fixing pin hole, GP: fixing pin

Claims (7)

복수의 블레이드 핀;
상기 블레이드 핀의 일부가 관통하는 복수의 제1홀을 포함하는 제1소켓바디;
상기 제1소켓바디 상에 배치되고 상기 블레이드 핀의 일부가 관통하는 복수의 제2홀을 포함하는 제1필름;
상기 제1필름 상에 배치되고 상기 제2홀을 상부로 노출되도록 하는 중공을 포함하는 제2소켓바디;
상기 제2소켓바디 상에 배치되고 상기 블레이드 핀의 일부가 관통하는 복수의 제3홀을 포함하는 제2필름;
상기 제2필름 상에 배치되고 상기 블레이드 핀의 일부가 관통하는 복수의 제4홀을 포함하는 제3소켓바디;
상기 제3소켓바디 상에 배치되고 상기 블레이드 핀의 일부가 관통하는 복수의 제5홀을 포함하는 소켓코어; 및
상기 소켓코어 상에 배치되고 상기 제5홀을 상부로 노출되도록 하는 중공을 포함하는 고정바디;를 포함하는,
반도체 테스트 소켓.
a plurality of blade pins;
a first socket body including a plurality of first holes through which some of the blade pins pass;
a first film disposed on the first socket body and including a plurality of second holes through which some of the blade pins pass;
a second socket body disposed on the first film and including a hollow portion exposing the second hole upward;
a second film disposed on the second socket body and including a plurality of third holes through which some of the blade pins pass;
a third socket body disposed on the second film and including a plurality of fourth holes through which some of the blade pins pass;
a socket core disposed on the third socket body and including a plurality of fifth holes through which some of the blade pins pass; and
A fixing body disposed on the socket core and including a hollow to expose the fifth hole upward;
Semiconductor test socket.
 제1항에 있어서,
상기 소켓코어는 상기 고정바디의 중공의 내부에 일부가 삽입되는 돌출영역을 포함하고,
상기 소켓코어는 상기 돌출영역의 측면이 상기 고정바디의 중공의 내부면을 따라 상하로 이동하도록 구성되고,
상기 소켓코어가 하부로 이동하는 경우 상기 소켓코어가 상부 위치로 복귀하도록 상기 소켓코어를 가압하는 가압부재를 더 포함하는,
반도체 테스트 소켓.
According to claim 1,
The socket core includes a protruding region partially inserted into the hollow of the fixing body,
The socket core is configured so that the side surface of the protruding area moves up and down along the hollow inner surface of the fixing body,
Further comprising a pressing member for pressing the socket core so that the socket core returns to an upper position when the socket core moves downward.
Semiconductor test socket.
 제2항에 있어서,
상기 가압부재는 상기 소켓코어의 하부 및 상기 제2소켓바디 사이에 배치되는,
반도체 테스트 소켓.
According to claim 2,
The pressing member is disposed between the lower part of the socket core and the second socket body.
Semiconductor test socket.
 제1항에 있어서,
상기 블레이드 핀은,
제1접지부, 제2접지부 및 상기 제1접지부와 제2접지부 사이에 배치된 가요부를 포함하는,
반도체 테스트 소켓.
According to claim 1,
The blade pin,
Including a first ground portion, a second ground portion, and a flexible portion disposed between the first and second ground portions,
Semiconductor test socket.
 제4항에 있어서,
상기 제1홀은 상기 제1접지부가 관통하고,
상기 제2홀 및 제3홀은 상기 가요부가 관통하고,
상기 제4홀 및 제5홀은 상기 제2접지부가 관통하도록 배치된,
반도체 테스트 소켓.
According to claim 4,
The first hole passes through the first ground portion,
The second hole and the third hole pass through the flexible part,
The fourth hole and the fifth hole are arranged so that the second ground portion passes through,
Semiconductor test socket.
 제1항의 반도체 테스트 소켓을 제조하는 방법에 있어서,
제1지그 상에 상기 제1소켓바디를 배치하고 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계;
상기 제1소켓바디 상에 상기 제1필름을 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계;
상기 제1필름 상에 상기 제2소켓바디를 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계;
상기 제2소켓바디 상에 상기 제2필름을 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계;
상기 제2필름 상에 제2지그를 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계:
상기 제1홀 내지 제3홀을 관통하도록 상기 블레이드 핀을 삽입하는 단계;
상기 제2지그를 제거하고, 상기 제2필름 상에 상기 제3소켓바디를 배치하고 상기 위치고정부재를 이용하여 위치를 고정하는 단계;
상기 제3소케바디 상에 상기 소켓코어를 배치하는 단계;
상기 소켓코어 상에 고정바디를 배치하는 단계; 및
상기 위치고정부재를 제거하고 상기 고정바디를 결착하는 단계;를 포함하는,
반도체 테스트 소켓을 제조하는 방법.
In the method of manufacturing the semiconductor test socket of claim 1,
arranging the first socket body on a first jig and fixing the position using a position fixing member;
disposing the first film on the first socket body and fixing the position using the position fixing member;
disposing the second socket body on the first film and fixing the position using the position fixing member;
disposing the second film on the second socket body and fixing the position using the position fixing member;
Placing a second jig on the second film and fixing the position using the position fixing member:
inserting the blade pin to pass through the first to third holes;
removing the second jig, disposing the third socket body on the second film, and fixing the position using the position fixing member;
disposing the socket core on the third socket body;
disposing a fixing body on the socket core; and
Including; removing the position fixing member and binding the fixing body;
A method of manufacturing a semiconductor test socket.
 제6항에 있어서,
상기 제3소켓바디를 배치하는 단계에서,
상기 제3소켓바디를 관통하는 홀에 가요부를 배치하는 단계를 더 포함하는,
반도체 테스트 소켓을 제조하는 방법.

According to claim 6,
In the step of arranging the third socket body,
Further comprising the step of arranging a flexible part in a hole penetrating the third socket body.
A method of manufacturing a semiconductor test socket.
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