KR20230011233A - Thermosetting resin sheet and dicing die bonding film - Google Patents

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KR20230011233A
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겐지 오니시
유타 기무라
나오히데 다카모토
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닛토덴코 가부시키가이샤
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Abstract

The present invention provides a thermosetting resin sheet, and a dicing die bonding film including the thermosetting resin sheet. The thermosetting resin sheet contains a crosslinkable acrylic polymer having a crosslinkable group, which causes a crosslinking reaction by a thermosetting process, in a molecule thereof; has a shear loss modulus G' at 140 ℃ before the thermosetting process of 1 kPa or more and 20 kPa or less; and has a tensile elastic modulus at 150 ℃ after the thermosetting process at 150 ℃ for 1 hour of 0.5 MPa or more and 7.0 MPa or less.

Description

열경화형 수지 시트 및 다이싱 다이본드 필름{THERMOSETTING RESIN SHEET AND DICING DIE BONDING FILM}Thermosetting resin sheet and dicing die-bonding film {THERMOSETTING RESIN SHEET AND DICING DIE BONDING FILM}

본 발명은, 예를 들어 반도체 장치를 제조할 때에 사용되는 다이싱 다이본드 필름 및 해당 다이싱 다이본드 필름에 구비되는 열경화형 수지 시트에 관한 것이다.The present invention relates to, for example, a dicing die-bonding film used when manufacturing a semiconductor device, and a thermosetting resin sheet provided in the dicing die-bonding film.

종래, 반도체 장치의 제조에 있어서 사용되는 다이싱 다이본드 필름이 알려져 있다. 이러한 종류의 다이싱 다이본드 필름은, 예를 들어 다이싱 테이프와, 해당 다이싱 테이프에 적층되고 또한 웨이퍼에 접착되는 다이본드 시트를 구비한다. 다이본드 시트는, 열경화형 수지 시트로 구성되어 있다. 다이싱 테이프는, 기재층과, 다이본드 시트에 접하고 있는 점착층을 갖는다. 이러한 종류의 다이싱 다이본드 필름은, 반도체 장치의 제조에 있어서, 예를 들어 하기와 같이 사용된다.Conventionally, dicing die-bonding films used in the manufacture of semiconductor devices are known. This type of dicing die-bonding film includes, for example, a dicing tape and a die-bonding sheet laminated on the dicing tape and bonded to a wafer. The die-bonding sheet is composed of a thermosetting resin sheet. The dicing tape has a substrate layer and an adhesive layer in contact with the die-bonding sheet. This type of dicing die-bonding film is used in the manufacture of semiconductor devices, for example, as follows.

반도체 장치를 제조하는 방법은, 일반적으로, 고집적의 전자 회로에 의해 웨이퍼의 편면측에 회로면을 형성하는 전공정과, 회로면이 형성된 웨이퍼로부터 칩을 잘라내서 조립을 행하는 후공정을 구비한다.A method of manufacturing a semiconductor device generally includes a pre-process of forming a circuit surface on one side of a wafer with highly integrated electronic circuits, and a post-process of cutting out chips from the wafer on which the circuit surface is formed and assembling them.

후공정은, 예를 들어 웨이퍼를 작은 칩(다이)으로 할단하기 위한 취약 부위를 웨이퍼에 형성하는 다이싱 공정과, 웨이퍼의 회로면과는 반대측의 면을 다이본드 시트에 첩부하여 다이싱 테이프에 웨이퍼를 고정하는 마운트 공정과, 취약 부위가 형성된 웨이퍼를 다이본드 시트와 함께 할단하여 칩끼리의 간격을 넓히는 익스팬드 공정과, 다이본드 시트와 점착층 사이에서 박리하여 다이본드 시트가 첩부된 상태의 칩(다이)을 꺼내는 픽업 공정과, 다이본드 시트가 첩부된 상태의 칩(다이)을 다이본드 시트를 통해 피착체에 접착시키는 다이본드 공정과, 피착체에 접착한 다이본드 시트를 열경화 처리하는 큐어링 공정을 갖는다. 반도체 장치는, 예를 들어 이들의 공정을 거쳐서 제조된다.The post-process includes, for example, a dicing step of forming a weak portion on the wafer for cutting the wafer into small chips (dies), and attaching the surface opposite to the circuit face of the wafer to a die-bonding sheet and attaching it to a dicing tape A mount process to fix the wafer, an expand process to widen the gap between the chips by splitting the wafer with a weak portion together with the die-bonding sheet, and a state in which the die-bonding sheet is attached by separating the die-bonding sheet and the adhesive layer. A pick-up step of taking out the chip (die), a die-bonding step of bonding the chip (die) with the die-bonding sheet attached to an adherend via the die-bonding sheet, and a heat-curing treatment of the die-bonding sheet adhered to the adherend It has a curing process that A semiconductor device is manufactured through these processes, for example.

상기와 같은 반도체 장치의 제조 방법에 있어서, 예를 들어 상기의 픽업 공정에 있어서, 칩과 함께 다이본드 시트를 박리할 때의 박리성을 양호하게 하기 위해, 에폭시 수지를 포함하는 다이본드 시트와, 특정한 성분이 배합된 점착층을 구비한 다이싱 다이본드 필름이 알려져 있다(예를 들어, 특허문헌 1).In the method for manufacturing a semiconductor device as described above, for example, in the pick-up step, a die-bonding sheet containing an epoxy resin to improve peelability when peeling the die-bonding sheet together with a chip; A dicing die-bonding film provided with an adhesive layer in which a specific component is blended is known (for example, Patent Document 1).

상세하게는, 특허문헌 1에 기재된 다이싱 다이본드 필름에 있어서, 다이싱 테이프의 점착층은, 주 모노머로서의 아크릴산에스테르와, 아크릴산에스테르에 대하여 함유량이 10 내지 30mol%의 범위 내의 히드록실기 함유 모노머와, 히드록실기 함유 모노머에 대하여 함유량이 70 내지 90mol%의 범위 내의 라디칼 반응성 탄소-탄소 이중 결합을 갖는 이소시아네이트 화합물로 구성된 폴리머를 포함하고, 다이본드 필름은 에폭시 수지를 포함한다.In detail, in the dicing die-bonding film described in Patent Literature 1, the adhesive layer of the dicing tape contains an acrylic acid ester as a main monomer and a hydroxyl group-containing monomer in a content in the range of 10 to 30 mol% relative to the acrylic acid ester and an isocyanate compound having a radical reactive carbon-carbon double bond in a content of 70 to 90 mol% relative to the hydroxyl group-containing monomer, and the die-bonding film includes an epoxy resin.

특허문헌 1에 기재된 다이싱 다이본드 필름에 의하면, 자외선 조사에 의해 경화한 점착층으로부터 다이본드 필름을 용이하게 박리할 수 있고, 다이본드 필름과 함께 칩을 양호하게 픽업할 수 있다.According to the dicing die-bonding film described in Patent Literature 1, the die-bonding film can be easily peeled off from the adhesive layer cured by ultraviolet irradiation, and chips can be picked up satisfactorily together with the die-bonding film.

일본 특허 공개 제2009-135377호 공보Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-135377

그런데, 예를 들어 상기의 다이본드 공정에 있어서, 피착체 상에, 다이본드 시트를 통해 칩을 접착시킬 때에, 피착체 표면에 요철이 있는 경우가 있다. 그 때문에, 이 요철에 추종하여 오목부를 매립하도록 다이본드 시트가 변형하고, 간극이 생기지 않도록 피착체의 표면을 다이본드 시트로 덮을 필요가 있다.However, for example, in the above die-bonding process, when a chip is adhered to an adherend through a die-bonding sheet, there are cases where the surface of the adherend has irregularities. Therefore, it is necessary to cover the surface of the adherend with the die-bonding sheet so that the die-bonding sheet is deformed so as to follow the unevenness to embed the concave portion and no gap is formed.

또한, 예를 들어 상기의 큐어링 공정에 있어서, 열경화 처리에 의해 다이본드 시트에 휨이 발생하여 칩이 휘는 경우가 있다. 이것은 칩, 다이본드 시트(열경화형 수지 시트) 및 피착체의 각 선팽창 계수가 서로 다른 등의 이유에 의한다고 생각된다. 특히 피착체의 두께가 비교적 얇으면 칩이 휘기 쉬워진다.In addition, for example, in the curing process described above, there is a case where warpage occurs in the die-bonding sheet due to the thermal curing treatment, and the chip is bent. This is considered to be due to the fact that the linear expansion coefficients of the chip, the die-bonding sheet (thermosetting resin sheet), and the adherend are different from each other. In particular, when the thickness of the adherend is relatively thin, the chip is easily bent.

이러한 문제를 방지하기 위해, 다이본드 시에 있어서 피착체 표면의 요철에 추종하여 양호한 매립성을 갖도록, 또한, 열경화 처리에 의한 휨이 적어지도록 다이본드 시트를 설계하는 것을 생각할 수 있다.In order to prevent such a problem, it is conceivable to design the die-bonding sheet so as to follow the irregularities on the surface of the adherend during die-bonding and to have good embedding properties and to reduce warping due to thermal curing.

그러나, 다이본드 시에 있어서 양호한 매립성을 갖고, 또한, 열경화 처리에 수반하는 휨이 억제된 다이본드 시트용의 열경화형 수지 시트 및 해당 열경화형 수지 시트(다이본드 시트)를 구비한 다이싱 다이본드 필름에 대해서는, 아직 충분히 검토되고 있다고는 할 수 없다.However, dicing provided with a thermosetting resin sheet for a die-bonding sheet having good embedding properties during die-bonding and suppressing warpage accompanying the thermal curing treatment and the thermosetting resin sheet (die-bonding sheet) It cannot be said that the die-bonding film has been sufficiently studied yet.

그래서, 본 발명은 다이본드 시에 있어서 양호한 매립성을 갖고, 또한, 열경화 처리에 수반하는 휨이 억제된 다이본드 시트용의 열경화형 수지 시트 및 해당 열경화형 수지 시트를 구비한 다이싱 다이본드 필름을 제공하는 것을 과제로 한다.Therefore, the present invention provides a thermosetting resin sheet for a die-bonding sheet having good embedding properties at the time of die-bonding and suppressing warpage associated with thermal curing treatment, and a dicing die-bonding provided with the thermosetting resin sheet We make it a subject to provide a film.

상기 과제를 해결하도록, 본 발명에 관한 열경화형 수지 시트는,In order to solve the above problems, the thermosetting resin sheet according to the present invention,

반도체 장치의 제조 방법에 있어서, 회로면이 형성된 웨이퍼를 할단한 칩과 피착체 사이에 배치하여, 상기 칩을 상기 피착체에 접착시키기 위한 다이본드 시트로서 사용되는 열경화형 수지 시트이며,In a method for manufacturing a semiconductor device, a thermosetting resin sheet used as a die-bonding sheet for bonding a chip to an adherend by placing a wafer having a circuit surface formed thereon between a chip and an adherend, comprising the steps of:

열경화 처리에 의해 가교 반응을 일으키는 가교성기를 분자 중에 갖는 가교성 아크릴 폴리머를 포함하고,A crosslinkable acrylic polymer having a crosslinkable group in its molecule that causes a crosslinking reaction by heat curing treatment,

열경화 처리 전에 있어서의 140℃에서의 전단 손실 탄성률 G"이 1kPa 이상 20kPa 이하이고, 또한, 150℃에서 1시간의 열경화 처리 후에 있어서의 150℃에서의 인장 탄성률이 0.5MPa 이상 7.0MPa 이하인 것을 특징으로 한다.The shear loss modulus G" at 140°C before the thermal curing treatment is 1 kPa or more and 20 kPa or less, and the tensile modulus at 150°C after the thermal curing treatment at 150°C for 1 hour is 0.5 MPa or more and 7.0 MPa or less. to be characterized

본 발명에 관한 다이싱 다이본드 필름은, 상기의 열경화형 수지 시트와, 해당 열경화형 수지 시트에 접합된 다이싱 테이프를 구비한다.The dicing die-bonding film according to the present invention includes the above thermosetting resin sheet and a dicing tape bonded to the thermosetting resin sheet.

도 1은, 본 실시 형태의 다이싱 다이본드 필름을 두께 방향으로 절단한 단면도.
도 2a는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 스텔스 다이싱 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 2b는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 스텔스 다이싱 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 2c는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 스텔스 다이싱 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 2d는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 백그라인드 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 3a는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 마운트 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 3b는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 마운트 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 4a는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 저온에서의 익스팬드 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 4b는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 저온에서의 익스팬드 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 4c는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 저온에서의 익스팬드 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 5a는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 상온에서의 익스팬드 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 5b는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 상온에서의 익스팬드 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 6은, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 픽업 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 7은, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 다이본드 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 8은, 다이본드 시트를 피착체에 접착한 때에 발생할 수 있는 공극의 양태의 일례를 도시한 모식도.
도 9는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 와이어 본딩 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 10은, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서의 밀봉 공정의 양태를 모식적으로 도시하는 단면도.
도 11은, 반도체 칩 및 다이본드 시트가 휜 상태의 일례를 도시하는 모식 단면도.
1 is a cross-sectional view of a dicing die-bonding film of the present embodiment cut in the thickness direction.
Fig. 2A is a cross-sectional view schematically showing an aspect of a stealth dicing step in a method for manufacturing a semiconductor device.
2B is a cross-sectional view schematically showing an aspect of a stealth dicing step in a method for manufacturing a semiconductor device.
2C is a cross-sectional view schematically showing an aspect of a stealth dicing step in a method for manufacturing a semiconductor device.
Fig. 2D is a cross-sectional view schematically showing an aspect of a back-grind step in a method of manufacturing a semiconductor device.
3A is a cross-sectional view schematically showing an aspect of a mount step in a method of manufacturing a semiconductor device.
3B is a cross-sectional view schematically showing an aspect of a mount step in a method of manufacturing a semiconductor device.
Fig. 4A is a cross-sectional view schematically showing an aspect of an expand step at a low temperature in a method for manufacturing a semiconductor device.
Fig. 4B is a cross-sectional view schematically showing an aspect of an expand step at a low temperature in a method for manufacturing a semiconductor device.
4C is a cross-sectional view schematically showing an aspect of an expand step at a low temperature in a method of manufacturing a semiconductor device.
Fig. 5A is a cross-sectional view schematically showing an aspect of an expand step at room temperature in a method for manufacturing a semiconductor device.
Fig. 5B is a cross-sectional view schematically showing an aspect of an expand step at room temperature in a method for manufacturing a semiconductor device.
6 is a cross-sectional view schematically showing an aspect of a pick-up step in a method of manufacturing a semiconductor device.
Fig. 7 is a cross-sectional view schematically showing an aspect of a die bonding process in a method of manufacturing a semiconductor device.
Fig. 8 is a schematic diagram showing an example of a state of voids that may occur when a die-bonding sheet is adhered to an adherend.
Fig. 9 is a cross-sectional view schematically showing an aspect of a wire bonding step in a method of manufacturing a semiconductor device.
Fig. 10 is a cross-sectional view schematically showing an aspect of a sealing step in a method for manufacturing a semiconductor device.
Fig. 11 is a schematic cross-sectional view showing an example of a bent state of a semiconductor chip and a die-bonding sheet.

이하, 본 발명에 관한 열경화형 수지 시트(다이본드 시트) 및 해당 열경화형 수지 시트(다이본드 시트)를 구비한 다이싱 다이본드 필름의 일 실시 형태에 대해서, 도면을 참조하면서 설명한다.Hereinafter, one embodiment of the thermosetting resin sheet (die-bonding sheet) and the dicing die-bonding film provided with the thermosetting resin sheet (die-bonding sheet) according to the present invention will be described with reference to the drawings.

본 실시 형태의 다이싱 다이본드 필름(1)은, 도 1에 도시하는 바와 같이, 다이싱 테이프(20)와, 해당 다이싱 테이프(20)의 점착제층(22)에 적층되고 또한 반도체 웨이퍼에 접착되는 열경화형 수지 시트(다이본드 시트(10))를 구비한다. 열경화형 수지 시트(다이본드 시트(10))는, 반도체 장치의 제조에 있어서, 회로 기판 또는 반도체 칩 등의 피착체에 접착되게 된다.As shown in FIG. 1 , the dicing die-bonding film 1 of the present embodiment is laminated on a dicing tape 20 and an adhesive layer 22 of the dicing tape 20, and also on a semiconductor wafer. A thermosetting resin sheet (die-bonding sheet 10) to be bonded is provided. The thermosetting resin sheet (die-bonding sheet 10) is bonded to an adherend such as a circuit board or a semiconductor chip in the manufacture of a semiconductor device.

또한, 도면에 있어서의 도는 모식도이고, 실물에 있어서의 종횡의 길이비와 반드시 동일하지는 않다.In addition, the figure in the drawing is a schematic diagram, and is not necessarily the same as the vertical and horizontal length ratio in the real thing.

본 실시 형태에 있어서, 열경화형 수지 시트는, 다이싱 다이본드 필름(1)의 다이본드 시트(10)에 사용되고 있다. 그 때문에, 이하, 열경화형 수지 시트의 상세한 설명은, 다이본드 시트(10)의 설명에 의해 행한다.In this embodiment, a thermosetting resin sheet is used for the die-bonding sheet 10 of the dicing die-bonding film 1. Therefore, the detailed description of the thermosetting resin sheet will be given by the description of the die-bonding sheet 10 hereinafter.

<다이싱 다이본드 필름의 다이본드 시트(열경화형 수지 시트)><Die-bonding sheet (thermosetting resin sheet) of dicing die-bonding film>

다이본드 시트(10)는, 열경화 처리에 의해 가교 반응을 일으키는 가교성기를 분자 중에 갖는 가교성 아크릴 폴리머를 포함한다.The die-bonding sheet 10 includes a crosslinkable acrylic polymer having a crosslinkable group in its molecule that causes a crosslinking reaction by heat curing treatment.

또한, 다이본드 시트(10)의 전단 손실 탄성률 G"은, 열경화 처리 전에 있어서 140℃의 온도 조건 하에서 1kPa 이상 20kPa 이하이고, 또한, 다이본드 시트(10)의 인장 탄성률은, 150℃에서 1시간의 열경화 처리 후에 있어서 150℃의 온도 조건 하에서 0.5MPa 이상 7.0MPa 이하이다.Further, the shear loss modulus G" of the die-bonding sheet 10 is 1 kPa or more and 20 kPa or less under the temperature condition of 140°C before the thermal curing treatment, and the tensile modulus of elasticity of the die-bonding sheet 10 is 1 at 150°C. It is 0.5 MPa or more and 7.0 MPa or less on the temperature condition of 150 degreeC after the heat curing process of time.

상기 구성의 다이본드 시트(10)에 의하면, 열경화 처리 전에 있어서의 140℃에서의 전단 손실 탄성률 G"이 1kPa 이상 20kPa 이하인 점에서, 다이본드 시에 있어서 피착체 표면의 요철에 추종하여 양호한 매립성을 발휘할 수 있다. 또한, 150℃에서 1시간의 열경화 처리 후에 있어서의 150℃에서의 인장 탄성률이 0.5MPa 이상 7.0MPa 이하인 점에서, 열경화 처리에 의해 발생하는 다이본드 시트(10)의 내부 응력에 기인하여 다이본드 시트(10)가 휘는 것을 억제할 수 있다. 또한, 다이본드 시트(10)가 가교성 폴리머로서, 비교적 탄성률이 낮은 가교성 아크릴 폴리머를 포함하는 점에서, 경화 후의 다이본드 시트(10)가 적절하게 낮은 탄성률을 갖고, 유연성을 가질 수 있다. 그 때문에, 다이본드 시트(10)의 상기의 내부 응력이 완화되어, 열경화 처리에 수반하여 발생할 수 있는 다이본드 시트(10)의 휨을 억제할 수 있다고 생각된다.According to the die-bonding sheet 10 having the above structure, since the shear loss modulus G" at 140°C before the thermal curing treatment is 1 kPa or more and 20 kPa or less, it follows the irregularities on the surface of the adherend at the time of die bonding and provides good embedding. In addition, since the tensile modulus at 150°C after the thermal curing treatment at 150°C for 1 hour is 0.5 MPa or more and 7.0 MPa or less, the die-bonding sheet 10 generated by the thermal curing treatment It is possible to suppress the bending of the die-bonding sheet 10 due to internal stress. In addition, since the die-bonding sheet 10 contains a crosslinkable acrylic polymer having a relatively low elastic modulus as a crosslinkable polymer, the die after curing The bond sheet 10 has an appropriately low modulus of elasticity and can have flexibility, so that the above-mentioned internal stress of the die-bonding sheet 10 is relieved, and the die-bonding sheet ( 10) can be suppressed.

이와 같이, 본 실시 형태의 열경화형 수지 시트(다이본드 시트(10)) 및 해당 열경화형 수지 시트를 구비하는 다이싱 다이본드 필름(1)에 의하면, 다이본드 시에 있어서 양호한 매립성을 발휘할 수 있고, 또한, 열경화 처리에 수반하는 휨이 억제된다.Thus, according to the thermosetting resin sheet (die-bonding sheet 10) of the present embodiment and the dicing die-bonding film 1 provided with the thermosetting resin sheet, good embedding properties can be exhibited during die bonding. In addition, the curvature accompanying the thermosetting treatment is suppressed.

상기의 가교성 아크릴 폴리머는, (메트)아크릴산에스테르 모노머가 적어도 중합한 고분자 화합물이다.The above crosslinkable acrylic polymer is a high molecular compound in which at least a (meth)acrylic acid ester monomer is polymerized.

또한, 본 명세서에 있어서 「(메트)아크릴산」이라는 표기는, 메타크릴산 및 아크릴산 중 적어도 한쪽을 나타내고, 「(메트)아크릴레이트」라는 표기는, 메타크릴레이트(메타크릴산에스테르) 및 아크릴레이트(아크릴산에스테르) 중 적어도 한쪽을 나타낸다. 「(메트)아크릴」이라고 하는 용어도 마찬가지이다.In addition, in this specification, the notation "(meth)acrylic acid" shows at least one of methacrylic acid and acrylic acid, and the notation "(meth)acrylate" means methacrylate (methacrylic acid ester) and acrylate (Acrylic acid ester) at least one is shown. The term "(meth)acryl" is also the same.

상기의 가교성 아크릴 폴리머는, 통상 측쇄에 상기의 가교성기를 갖는다. 상기의 가교성 아크릴 폴리머는, 측쇄의 말단에 상기의 가교성기를 가져도 된다. 또한, 상기의 가교성 아크릴 폴리머는, 주쇄의 양단 중 적어도 한쪽에 상기의 가교성기를 가져도 된다.The above crosslinkable acrylic polymer usually has the above crosslinkable group in its side chain. Said crosslinkable acrylic polymer may have said crosslinkable group at the terminal of a side chain. Moreover, said crosslinkable acrylic polymer may have said crosslinkable group at least one of both ends of a principal chain.

상기의 가교성 아크릴 폴리머가 분자 중에 갖는 가교성기는, 열경화 처리에 의해 가교 반응을 일으키는 관능기라면, 특별히 한정되지는 않는다.The crosslinkable group in the molecule of the above crosslinkable acrylic polymer is not particularly limited as long as it is a functional group that causes a crosslinking reaction by thermal curing.

가교성기로서는, 예를 들어 활성 수소를 갖는 저활성 가교성기, 또는, 활성 수소와 반응할 수 있는 고활성 가교성기를 들 수 있다.As a crosslinkable group, the low activity crosslinkable group which has an active hydrogen, or the highly active crosslinkable group which can react with an active hydrogen is mentioned, for example.

저활성 가교성기로서는, 예를 들어 히드록시기 또는 카르복시기 등을 들 수 있다. 이들의 가교성기는, 에폭시기 또는 이소시아네이트기와 가교 반응을 일으킬 수 있다. 예를 들어, 히드록시기 또는 카르복시기의 적어도 한쪽을 분자 중에 갖는 상기의 가교성 아크릴 폴리머는, 에폭시기 또는 이소시아네이트기를 분자 중에 갖는 화합물(예를 들어, 후술하는 에폭시 수지 등) 사이에서 가교 반응을 일으킬 수 있다.As a low-activity crosslinkable group, a hydroxyl group or a carboxy group etc. are mentioned, for example. These crosslinkable groups can cause a crosslinking reaction with an epoxy group or an isocyanate group. For example, the crosslinkable acrylic polymer having at least one of a hydroxyl group or a carboxy group in its molecule can cause a crosslinking reaction between compounds having an epoxy group or an isocyanate group in its molecule (for example, an epoxy resin described later).

고활성 가교성기로서는, 예를 들어 에폭시기 또는 이소시아네이트기 등을 들 수 있다. 이들의 가교성기는, 히드록시기나 카르복시기와 가교 반응을 일으킬 수 있다. 예를 들어, 에폭시기 또는 이소시아네이트기의 적어도 한쪽을 분자 중에 갖는 상기의 가교성 아크릴 폴리머는, 히드록시기 또는 카르복시기의 적어도 한쪽을 분자 중에 갖는 화합물(예를 들어, 후술하는 페놀 수지 등) 사이에서 가교 반응을 일으킬 수 있다.As a highly active crosslinkable group, an epoxy group or an isocyanate group etc. are mentioned, for example. These crosslinkable groups can cause a crosslinking reaction with a hydroxy group or a carboxy group. For example, the above crosslinkable acrylic polymer having at least one of an epoxy group or an isocyanate group in its molecule undergoes a crosslinking reaction between a compound having at least one of a hydroxyl group or a carboxy group in its molecule (for example, a phenol resin described later) can cause

상기의 가교성 아크릴 폴리머에 차지하는, 가교성기 함유 모노머의 구성 단위 함유 비율은, 0.5질량% 이상 50.0질량% 이하여도 되고, 1질량% 이상 40질량% 이하여도 된다.The content ratio of the structural unit of the crosslinkable group-containing monomer in the above crosslinkable acrylic polymer may be 0.5% by mass or more and 50.0% by mass or less, or 1% by mass or more and 40% by mass or less.

상기의 비율이 0.5질량% 이상임으로써, 다이본드 시트(10)가 열경화 처리될 때의 가교 반응을 보다 충분히 진행시킬 수 있다. 한편, 상기의 비율이 50.0질량% 이하임으로써, 열경화 처리 후의 다이본드 시트(10)의 탄성률을 보다 낮게 함으로써, 열경화 처리에 수반하는 다이본드 시트(10)의 휨을 보다 억제할 수 있다.When the above ratio is 0.5% by mass or more, the crosslinking reaction at the time of thermal curing of the die-bonding sheet 10 can be more sufficiently advanced. On the other hand, when the above ratio is 50.0% by mass or less, the elastic modulus of the die-bonding sheet 10 after the thermal curing treatment is lowered, so that the warpage of the die-bonding sheet 10 accompanying the thermal curing treatment can be further suppressed.

상기의 가교성 아크릴 폴리머가 히드록시기 또는 카르복시기를 가교성기로서 분자 중에 갖는 경우, 가교성 아크릴 폴리머에 차지하는, 가교성기를 함유하는 구성 단위의 비율은, 1질량% 이상 50질량% 이하여도 된다.When the above crosslinkable acrylic polymer has a hydroxyl group or a carboxyl group as a crosslinkable group in the molecule, the proportion of structural units containing a crosslinkable group in the crosslinkable acrylic polymer may be 1% by mass or more and 50% by mass or less.

상기의 가교성 아크릴 폴리머가 에폭시기를 가교성기로서 분자 중에 갖는 경우, 가교성 아크릴 폴리머에 차지하는, 에폭시기를 함유하는 구성 단위의 비율은, 5질량% 이상 50질량% 이하여도 되고, 7질량% 이상 40질량% 이하여도 된다.When the above crosslinkable acrylic polymer has an epoxy group as a crosslinkable group in the molecule, the proportion of structural units containing an epoxy group in the crosslinkable acrylic polymer may be 5% by mass or more and 50% by mass or less, and may be 7% by mass or more 40 It may be less than mass %.

또한, 구성 단위란, 가교성 아크릴 폴리머를 얻을 때의 모노머(예를 들어 2-에틸헥실아크릴레이트, 히드록시에틸아크릴레이트 등)가 중합한 후의 각 모노머 유래의 구조이다. 이하 마찬가지이다.In addition, a structural unit is a structure derived from each monomer after polymerization of monomers (for example, 2-ethylhexyl acrylate, hydroxyethyl acrylate, etc.) at the time of obtaining a crosslinkable acrylic polymer. Same below.

상기의 가교성 아크릴 폴리머가 에폭시기를 가교성기로서 분자 중에 갖는 경우, 가교성 아크릴 폴리머의 에폭시 당량은, 1,300[g/eq] 이상 4,200[g/eq] 이하여도 되고, 1,500[g/eq] 이상 2,500[g/eq] 이하여도 된다.When the above crosslinkable acrylic polymer has an epoxy group as a crosslinkable group in the molecule, the epoxy equivalent of the crosslinkable acrylic polymer may be 1,300 [g/eq] or more and 4,200 [g/eq] or less, or 1,500 [g/eq] or more. It may be 2,500 [g/eq] or less.

가교성 아크릴 폴리머의 에폭시 당량이 1,300[g/eq] 이상임으로써, 열경화 처리 후의 다이본드 시트(10)가, 보다 양호한 내열성을 가질 수 있다. 또한, 가교성 아크릴 폴리머의 에폭시 당량이 4,200 [g/eq] 이하임으로써, 열경화 처리에 수반하는 다이본드 시트(10)의 휨을 보다 억제할 수 있다.When the epoxy equivalent of the crosslinkable acrylic polymer is 1,300 [g/eq] or more, the die-bonding sheet 10 after heat curing can have better heat resistance. In addition, when the epoxy equivalent of the crosslinkable acrylic polymer is 4,200 [g/eq] or less, warpage of the die-bonding sheet 10 accompanying the thermal curing treatment can be further suppressed.

상기의 가교성 아크릴 폴리머의 에폭시 당량은, JIS K7236: 2001(지시약 적정법/전위차 적정법)에 준한 방법에 의해 측정된다.The epoxy equivalent of the above crosslinkable acrylic polymer is measured by a method according to JIS K7236: 2001 (indicator titration method/potentiometric titration method).

본 실시 형태의 다이본드 시트(10)는, 1종 또는 복수종의 가교성 아크릴 폴리머를 포함해도 된다.The die-bonding sheet 10 of this embodiment may contain one or more crosslinkable acrylic polymers.

복수종의 가교성 아크릴 폴리머 중 적어도 2종은, 서로 가교 반응한다. 즉, 한쪽의 가교성 아크릴 폴리머의 가교성기와, 다른 쪽의 가교성 아크릴 폴리머의 가교성기는, 서로 가교 반응할 수 있다.At least two types of crosslinkable acrylic polymers of multiple types crosslink each other. That is, the crosslinkable group of one crosslinkable acrylic polymer and the crosslinkable group of the other crosslinkable acrylic polymer can crosslink each other.

종류가 다른 가교성 아크릴 폴리머는, 예를 들어 서로 가교 반응하는 가교성기를 각각 분자 중에 갖는다. 구체적으로는, 히드록시기 또는 카르복시기의 적어도 한쪽을 가교성기로서 분자 중에 갖는 가교성 아크릴 폴리머와, 에폭시기 또는 이소시아네이트기의 적어도 한쪽을 가교성기로서 분자 중에 갖는 가교성 아크릴 폴리머는, 종류가 다르다.Crosslinkable acrylic polymers of different types each have, for example, crosslinkable groups in their molecules that crosslink with each other. Specifically, a crosslinkable acrylic polymer having at least one of a hydroxyl group or a carboxy group in the molecule as a crosslinkable group and a crosslinkable acrylic polymer having at least one of an epoxy group or an isocyanate group in the molecule as a crosslinkable group are of different types.

또는, 종류가 다른 가교성 아크릴 폴리머는, 예를 들어 분자 중에 갖는 모노머의 구성 단위 종류가 서로 다르다. 구체적으로는, 히드록시기 함유 (메트)아크릴 모노머 및 알킬(메트)아크릴레이트 모노머를 구성 단위로서 분자 중에 갖는 가교성 아크릴 폴리머와, 카르복시기 함유 (메트)아크릴 모노머 및 알킬(메트)아크릴레이트 모노머를 구성 단위로서 분자 중에 갖는 가교성 아크릴 폴리머는, 종류가 다르다.Alternatively, crosslinkable acrylic polymers of different types have different types of structural units of monomers in the molecule, for example. Specifically, a crosslinkable acrylic polymer having a hydroxyl group-containing (meth)acrylic monomer and an alkyl (meth)acrylate monomer as structural units in a molecule, and a carboxyl group-containing (meth)acrylic monomer and an alkyl (meth)acrylate monomer as structural units As for the crosslinkable acrylic polymers in the molecule, there are different types.

가교성 아크릴 폴리머 중 적어도 1종의 질량 평균 분자량은, 1만 이상 40만 이하여도 된다. 적어도 1종의 가교성 아크릴 폴리머의 질량 평균 분자량은, 2만 이상 35만 이하여도 되고, 3만 이상 30만 이하여도 된다. 이러한 질량 평균 분자량의 값은, 가교성 아크릴 폴리머를 GPC 측정한 때의 값이다.The mass average molecular weight of at least one of the crosslinkable acrylic polymers may be 10,000 or more and 400,000 or less. The mass average molecular weight of the at least one crosslinkable acrylic polymer may be 20,000 or more and 350,000 or less, or 30,000 or more and 300,000 or less. The value of this mass average molecular weight is the value when GPC measurement of a crosslinkable acrylic polymer is carried out.

상기의 가교성 아크릴 폴리머의 질량 평균 분자량이 1만 이상임으로써, 다이본드 시트(10)의 시트 형상을 보다 유지하기 쉬워진다고 하는 이점이 있다. 또한, 상기의 가교성 아크릴 폴리머의 질량 평균 분자량이 40만 이하임으로써, 다이본드 시트(10)가 보다 양호한 매립성을 발휘할 수 있다.When the mass average molecular weight of the crosslinkable acrylic polymer is 10,000 or more, there is an advantage that the sheet shape of the die-bonding sheet 10 is more easily maintained. In addition, when the crosslinkable acrylic polymer has a mass average molecular weight of 400,000 or less, the die-bonding sheet 10 can exhibit better embedding properties.

상기의 질량 평균 분자량은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)에 의해 측정된다. 측정 조건은, 이하와 같다.The above mass average molecular weight is measured by gel permeation chromatography (GPC). Measurement conditions are as follows.

상정 장치명(장치예): Agilent사제 제품명 「1200」Assume device name (device example): product name "1200" manufactured by Agilent

검출기: 시차 굴절률(RI) 검출기Detector: Differential refractive index (RI) detector

칼럼: 3개의 칼럼을 직렬로 접속Column: 3 columns connected in series

도소사제 제품명 「TSKgel SuperAWM-H/superAW4000/superAW2500」(칼럼 직경=6mm, 칼럼 길이=15cm)Tosoh Corporation product name "TSKgel SuperAWM-H/superAW4000/superAW2500" (column diameter = 6 mm, column length = 15 cm)

칼럼 온도: 40℃Column temperature: 40°C

유속: 0.4mL/minFlow rate: 0.4mL/min

주입량: 40μL(시료 농도 0.1질량%의 용리액 조제 용액)Injection amount: 40 μL (eluent preparation solution with a sample concentration of 0.1% by mass)

검량선 제작을 위한 표준 물질: 폴리스티렌Standard material for calibration curve construction: polystyrene

데이터 처리 소프트웨어: Waters사제 제품명 「Empower3」Data processing software: Waters company product name "Empower3"

용리액: 테트라히드로푸란(DMF)염 첨가Eluent: Tetrahydrofuran (DMF) salt added

수 평균 분자량(Mn), 질량 평균 분자량(Mw), 분자량 분포(Mw/Mn) 등을 측정Measurement of number average molecular weight (Mn), mass average molecular weight (Mw), molecular weight distribution (Mw/Mn), etc.

상기의 가교성 아크릴 폴리머는, 예를 들어 라디칼 중합 개시제를 사용한 일반적인 중합 방법에 의해 합성할 수 있다.The above crosslinkable acrylic polymer can be synthesized by a general polymerization method using a radical polymerization initiator, for example.

본 실시 형태의 다이본드 시트(10)는, 상술한 바와 같이, 열경화 처리 전에 있어서의 140℃에서의 전단 손실 탄성률 G"이 1kPa 이상 20kPa 이하이다.As described above, the die-bonding sheet 10 of the present embodiment has a shear loss modulus G" at 140°C before the thermal curing treatment of 1 kPa or more and 20 kPa or less.

이러한 전단 손실 탄성률 G"은, 1.2kPa 이상이어도 되고, 2.1kPa 이상이어도 된다. 또한, 이러한 전단 손실 탄성률 G"은, 19.0kPa 이하여도 되고, 18.0kPa 이하여도 된다.This shear loss modulus G" may be 1.2 kPa or more, and may be 2.1 kPa or more. In addition, such shear loss elasticity modulus G" may be 19.0 kPa or less, and may be 18.0 kPa or less.

상기의 전단 손실 탄성률 G"이 1kPa 이상 20kPa 이하임으로써, 상술한 바와 같이, 다이본드 시트(10)가, 다이본드 시에 있어서 양호한 매립성(피착체 표면의 요철 추종성)을 발휘할 수 있다.When the shear loss modulus G" is 1 kPa or more and 20 kPa or less, as described above, the die-bonding sheet 10 can exhibit good embedding property (irregularity followability on the surface of an adherend) during die bonding.

다이본드 시트(10)의 열경화 처리 전에 있어서의 전단 손실 탄성률 G"은, 예를 들어 상기의 가교성 아크릴 폴리머의 분자량을 보다 크게 함으로써 높일 수 있다. 한편, 상기의 가교성 아크릴 폴리머의 분자량을 보다 작게 함으로써 전단 손실 탄성률 G"을 낮출 수 있다.The shear loss modulus G" of the die-bonding sheet 10 before thermal curing can be increased by, for example, increasing the molecular weight of the crosslinkable acrylic polymer. On the other hand, the molecular weight of the crosslinkable acrylic polymer By making it smaller, the shear loss elastic modulus G" can be lowered.

상기의 전단 손실 탄성률 G"은, 이하의 측정 조건에서 측정된다. 측정 방법의 상세는, 실시예에 있어서 설명한다.The shear loss modulus G" described above is measured under the following measurement conditions. Details of the measurement method will be described in Examples.

측정 장치: 레오미터 「Thermo SCIENTIFIC HAAKE MARS III」Measuring device: Rheometer 「Thermo SCIENTIFIC HAAKE MARS III」

시험 샘플의 크기: 직경 8mm×두께 300㎛의 원주상Size of test sample: cylindrical shape with a diameter of 8 mm × a thickness of 300 μm

시험 온도: 80℃ 내지 160℃Test temperature: 80°C to 160°C

주파수: 1HzFrequency: 1Hz

승온 속도: 5℃/minHeating rate: 5°C/min

측정 횟수: 3회(평균값을 채용)Number of measurements: 3 times (average value adopted)

본 실시 형태의 다이본드 시트(10)는, 상술한 바와 같이, 150℃에서 1시간의 열경화 처리 후에 있어서의 150℃에서의 인장 탄성률(인장 저장 탄성률 E')이 0.5MPa 이상 7.0MPa 이하인,As described above, the die-bonding sheet 10 of the present embodiment has a tensile modulus (tensile storage modulus E') at 150 ° C. after a thermal curing treatment at 150 ° C. for 1 hour, 0.5 MPa or more and 7.0 MPa or less,

이러한 인장 탄성률은, 0.7MPa 이상이어도 되고, 1.1MPa 이상이어도 된다. 또한, 이러한 인장 탄성률은, 6.5MPa 이하여도 되고, 4.2MPa 이하여도 된다.0.7 MPa or more may be sufficient as this tensile elasticity modulus, and 1.1 Mpa or more may be sufficient as it. In addition, this tensile elasticity modulus may be 6.5 MPa or less, and may be 4.2 MPa or less.

상기의 인장 탄성률이 0.5MPa 이상 7.0MPa 이하이기 때문에, 열경화 처리 후에 있어서의 다이본드 시트(10)의 휨을 억제할 수 있다.Since the above-described tensile modulus is 0.5 MPa or more and 7.0 MPa or less, warpage of the die-bonding sheet 10 after the thermosetting treatment can be suppressed.

다이본드 시트(10)의 인장 탄성률은, 예를 들어 상기의 가교성 아크릴 폴리머를 구성하는, 가교성기 함유 모노머의 구성 단위 함유 비율을 크게 함으로써 높일 수 있다. 한편, 예를 들어 상기의 가교성 아크릴 폴리머를 구성하는, 가교성기 함유 모노머의 구성 단위 함유 비율을 작게함으로써 인장 탄성률을 낮출 수 있다.The tensile modulus of elasticity of the die-bonding sheet 10 can be increased, for example, by increasing the proportion of the constituent units of the crosslinkable group-containing monomer constituting the crosslinkable acrylic polymer. On the other hand, for example, the tensile modulus of elasticity can be lowered by reducing the proportion of structural units of the crosslinkable group-containing monomer constituting the crosslinkable acrylic polymer.

상기의 인장 탄성률은, 이하의 측정 조건에서 측정된다. 측정 방법의 상세는, 실시예에 있어서 설명한다.The above tensile modulus is measured under the following measurement conditions. Details of the measurement method are described in Examples.

측정 장치: 고체 점탄성 측정 장치Measuring Device: Solid Viscoelasticity Measuring Device

사이즈: 초기 길이 40mm, 폭 10mmSize: Initial length 40mm, width 10mm

승온 속도: 10℃/minHeating rate: 10°C/min

측정 온도: -30 내지 280℃의 온도 범위에 있어서의 150℃Measurement temperature: 150°C in the temperature range of -30 to 280°C

척간 거리: 22.5mmChuck Distance: 22.5mm

주파수: 1Hz,Frequency: 1Hz;

인장 저장 탄성률 E'의 값을 상기의 인장 탄성률로 하였다.The value of the tensile storage modulus E' was taken as the above tensile modulus.

본 실시 형태의 다이본드 시트(10)의 유리 전이점 Tg는, 150℃에서 1시간의 열경화 처리 후에 있어서 20℃ 이상 100℃ 이하여도 된다.The glass transition point Tg of the die-bonding sheet 10 of the present embodiment may be 20°C or higher and 100°C or lower after a thermal curing treatment at 150°C for 1 hour.

이러한 유리 전이점 Tg는, 25℃ 이상이어도 되고, 31℃ 이상이어도 된다. 또한, 이러한 유리 전이점 Tg는, 95℃ 이하여도 되고, 90℃ 이하여도 된다.This glass transition point Tg may be 25°C or higher, or 31°C or higher. In addition, such a glass transition point Tg may be 95°C or less, or 90°C or less.

상기의 유리 전이점 Tg가 20℃ 이상임으로써, 피착체에 대한 다이본드 시트(10)의 접착력이 보다 높아진다는 이점이 있다. 또한, 상기의 유리 전이점 Tg가 100℃ 이하임으로써, 열경화 처리에 의해 다이본드 시트(10)의 내부 응력이 발생하는 것을 보다 억제할 수 있고, 따라서 열경화 처리에 수반하는 다이본드 시트(10)의 휨을 보다 억제할 수 있다.When the above glass transition point Tg is 20°C or higher, there is an advantage that the adhesive strength of the die-bonding sheet 10 to the adherend is higher. In addition, when the above glass transition point Tg is 100° C. or less, generation of internal stress in the die-bonding sheet 10 due to the thermal curing treatment can be further suppressed, and therefore, the die-bonding sheet accompanying the thermal curing treatment ( The warpage of 10) can be more suppressed.

다이본드 시트(10)의 유리 전이점 Tg는, 예를 들어 상기의 가교성 아크릴 폴리머를 구성하는 가교성기 함유 모노머의 구성 단위 함유 비율을 크게 하는 것, 또는, 다이본드 시트(10)에 배합하는 경화제 등의 양을 증가시킴으로써 높일 수 있다. 한편, 예를 들어 상기의 가교성 아크릴 폴리머를 구성하는 가교성기 함유 모노머의 구성 단위 함유 비율을 작게 하는 것, 또는, 다이본드 시트(10)에 배합하는 경화제 등의 양을 줄임으로써 유리 전이점 Tg를 낮출 수 있다.The glass transition point Tg of the die-bonding sheet 10 is determined by, for example, increasing the content ratio of the structural units of the crosslinkable group-containing monomer constituting the crosslinkable acrylic polymer or blending the die-bonding sheet 10. It can be increased by increasing the amount of the curing agent or the like. On the other hand, for example, by reducing the content ratio of the structural unit of the crosslinkable group-containing monomer constituting the crosslinkable acrylic polymer or by reducing the amount of the curing agent or the like blended in the die-bonding sheet 10, the glass transition point Tg can lower

본 실시 형태의 다이본드 시트(10)에서는, 상기와 같이 측정된 유리 전이점 Tg에 있어서의 Tanδ가 0.7 이상 1.5 이하여도 된다.In the die-bonding sheet 10 of the present embodiment, Tan δ in the glass transition point Tg measured as described above may be 0.7 or more and 1.5 or less.

이러한 유리 전이점 Tg에 있어서의 Tanδ는, 0.75 이상이어도 되고, 0.80 이상이어도 된다. 또한, 이러한 유리 전이점 Tg에 있어서의 Tanδ는, 1.40 이하여도 되고, 1.35 이하여도 된다.Tan δ at such a glass transition point Tg may be 0.75 or more or 0.80 or more. In addition, Tan δ in such a glass transition point Tg may be 1.40 or less, and may be 1.35 or less.

상기의 유리 전이점 Tg에 있어서의 Tanδ가 0.7 이상임으로써, 열경화 처리에 의해 발생할 수 있는 다이본드 시트(10)의 내부 응력을 보다 완화할 수 있다. 또한, 상기의 유리 전이점 Tg에 있어서의 Tanδ가 1.5 이하임으로써, 다이본드 시트(10)의 내열성이 보다 양호해진다고 하는 이점이 있다.When the Tan δ at the glass transition point Tg is 0.7 or more, the internal stress of the die-bonding sheet 10 that may be generated by the thermal curing treatment can be further alleviated. In addition, there is an advantage that the heat resistance of the die-bonding sheet 10 becomes better when the Tan δ in the above glass transition point Tg is 1.5 or less.

다이본드 시트(10)의 유리 전이점 Tg에 있어서의 Tanδ는, 예를 들어 상기의 가교성 아크릴 폴리머를 구성하는 가교성기 함유 모노머의 구성 단위 함유 비율을 크게 하는 것, 또는, 다이본드 시트(10)에 배합하는 경화제 등의 양을 증가시킴으로써 높일 수 있다. 한편, 상기의 가교성 아크릴 폴리머를 구성하는 가교성기 함유 모노머의 구성 단위 함유 비율을 작게 하는 것, 또는, 다이본드 시트(10)에 배합하는 경화제 등의 양을 줄임으로써, 유리 전이점 Tg에 있어서의 Tanδ를 낮출 수 있다.Tanδ in the glass transition point Tg of the die-bonding sheet 10 is determined by, for example, increasing the content ratio of the structural unit of the crosslinkable group-containing monomer constituting the crosslinkable acrylic polymer or the die-bonding sheet 10 ) can be increased by increasing the amount of the curing agent or the like to be blended. On the other hand, by reducing the content ratio of the structural unit of the crosslinkable group-containing monomer constituting the crosslinkable acrylic polymer or by reducing the amount of the curing agent or the like blended in the die-bonding sheet 10, the glass transition point Tg Tanδ of can be lowered.

상기의 유리 전이점 Tg 및 상기의 유리 전이점 Tg에 있어서의 Tanδ는, 상술한 인장 탄성률을 측정할 때에 얻어진 저장 탄성률 E'과 손실 탄성률 E"을 기초로 하여 산출된다.The above glass transition point Tg and Tanδ at the glass transition point Tg are calculated based on the storage modulus E' and the loss modulus E" obtained when measuring the tensile modulus described above.

승온시키면서 저장 탄성률 E'과 손실 탄성률 E"을 각각 측정하고, Tanδ=E"/E'의 산출식에 의해, 온도마다 Tanδ를 산출한다. Tanδ가 높을수록, 점성의 성질이 높은 것을 나타낸다.While raising the temperature, the storage modulus E' and the loss modulus E" are measured, respectively, and Tan δ is calculated for each temperature by the formula of Tan δ = E"/E'. The higher the Tan δ, the higher the viscosity property.

Tanδ가 가장 커진 때(Tanδ가 피크 형상을 나타낸 부분의 정점)의 온도를 상기의 유리 전이점 Tg로 한다. 또한, 유리 전이점 Tg일 때의 Tanδ를 판독한다.The temperature at the time when Tan δ is the largest (at the top of the portion where Tan δ shows a peak shape) is taken as the above glass transition point Tg. Also, Tan δ at the glass transition point Tg is read.

본 실시 형태의 다이본드 시트(10)에서는, 0℃에서의 파단 신도가 50% 이하여도 된다. 이러한 파단 신도는, 45% 이하여도 되고, 40% 이하여도 된다. 또한, 상기의 파단 신도는, 2% 이상이어도 된다.In the die-bonding sheet 10 of the present embodiment, the elongation at break at 0°C may be 50% or less. Such elongation at break may be 45% or less, and may be 40% or less. In addition, 2% or more may be sufficient as said elongation at break.

상기의 파단 신도는, 이하의 측정 조건에서 측정된다.The above breaking elongation is measured under the following measurement conditions.

측정 장치: 인장 시험기Measuring Device: Tensile Testing Machine

시험편의 크기: 폭 10mm×길이 40mmSize of test piece: width 10 mm × length 40 mm

초기 척간 거리: 10mmInitial Chuck Distance: 10mm

온도: 0℃Temperature: 0℃

인장 속도: 300mm/분Tensile speed: 300mm/min

상기의 가교성 아크릴 폴리머는, 분자 중의 구성 단위 중, 알킬(메트)아크릴레이트 모노머의 구성 단위를 질량 비율로 가장 많이 포함하는 것이 바람직하다. 당해 알킬(메트)아크릴레이트 모노머로서는, 예를 들어 알킬기(탄화수소기)의 탄소수가 2 이상 18 이하의 C2 내지 C18 알킬(메트)아크릴레이트 모노머를 들 수 있다.It is preferable that the above-mentioned crosslinkable acrylic polymer contains the most structural units of an alkyl (meth)acrylate monomer in terms of mass ratio among the structural units in the molecule. As the said alkyl (meth)acrylate monomer, C2-C18 alkyl (meth)acrylate monomers with 2 or more and 18 or less carbon atoms of an alkyl group (hydrocarbon group) are mentioned, for example.

알킬(메트)아크릴레이트 모노머로서는, 예를 들어 포화 직쇄상 알킬(메트)아크릴레이트 모노머, 포화 분지쇄상 알킬(메트)아크릴레이트 모노머, 포화 환상 알킬(메트)아크릴레이트 모노머 등을 들 수 있다.As an alkyl (meth)acrylate monomer, a saturated linear alkyl (meth)acrylate monomer, a saturated branched chain alkyl (meth)acrylate monomer, a saturated cyclic alkyl (meth)acrylate monomer etc. are mentioned, for example.

포화 직쇄상 알킬(메트)아크릴레이트 모노머로서는, 에틸(메트)아크릴레이트, n-프로필(메트)아크릴레이트, n-부틸(메트)아크릴레이트, n-헵틸(메트)아크릴레이트, n-옥틸(메트)아크릴레이트, n-노닐(메트)아크릴레이트, n-데실(메트)아크릴레이트, 트리데실(메트)아크릴레이트, 라우릴(메트)아크릴레이트, 미리스틸(메트)아크릴레이트, 팔미틸(메트)아크릴레이트, 스테아릴(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 또한, 직쇄상 알킬기 부분의 탄소수는, 2 이상 8 이하인 것이 바람직하다.As the saturated linear alkyl (meth) acrylate monomer, ethyl (meth) acrylate, n-propyl (meth) acrylate, n-butyl (meth) acrylate, n-heptyl (meth) acrylate, n-octyl ( meth)acrylate, n-nonyl (meth)acrylate, n-decyl (meth)acrylate, tridecyl (meth)acrylate, lauryl (meth)acrylate, myristyl (meth)acrylate, palmityl ( Meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate, etc. are mentioned. Moreover, it is preferable that carbon number of a linear alkyl group part is 2 or more and 8 or less.

포화 분지쇄상 알킬(메트)아크릴레이트 모노머로서는, 이소헵틸(메트)아크릴레이트, 이소옥틸(메트)아크릴레이트, 이소노닐(메트)아크릴레이트, 이소데실(메트)아크릴레이트, 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 또한, 알킬기 부분은, iso 구조, sec 구조, neo 구조, 또는, tert 구조의 어느 것을 가져도 된다.As the saturated branched-chain alkyl (meth)acrylate monomer, isoheptyl (meth)acrylate, isooctyl (meth)acrylate, isononyl (meth)acrylate, isodecyl (meth)acrylate, 2-ethylhexyl (meth)acrylate, ) Acrylate etc. are mentioned. In addition, the alkyl group portion may have any of an iso structure, a sec structure, a neo structure, or a tert structure.

상기의 가교성 아크릴 폴리머는, 알킬(메트)아크릴레이트 모노머와 공중합 가능한 가교성기 함유 모노머에서 유래되는 구성 단위를 포함한다.The above crosslinkable acrylic polymer contains a structural unit derived from an alkyl (meth)acrylate monomer and a crosslinkable group-containing monomer copolymerizable.

본 실시 형태에 있어서, 상기의 가교성 아크릴 폴리머는, 적어도 알킬(메트)아크릴레이트 모노머와 가교성기 함유 모노머가 공중합한 아크릴 폴리머이다. 환언하면, 상기의 가교성 아크릴 폴리머는, 알킬(메트)아크릴레이트 모노머의 구성 단위와, 가교성기 함유 모노머의 구성 단위가 랜덤한 순서로 연결된 구성을 갖는다.In the present embodiment, the crosslinkable acrylic polymer is an acrylic polymer obtained by copolymerization of at least an alkyl (meth)acrylate monomer and a crosslinkable group-containing monomer. In other words, the above crosslinkable acrylic polymer has a configuration in which structural units of an alkyl (meth)acrylate monomer and structural units of a crosslinkable group-containing monomer are connected in random order.

상기 가교성기 함유 모노머로서는, 예를 들어 카르복시기 함유 (메트)아크릴 모노머, 산 무수물 (메트)아크릴 모노머, 히드록시기(수산기) 함유 (메트)아크릴 모노머, 에폭시기(글리시딜기) 함유 (메트)아크릴 모노머, 이소시아네이트기 함유 (메트)아크릴 모노머, 술폰산기 함유 (메트)아크릴 모노머, 인산기 함유 (메트)아크릴 모노머, 아크릴아미드, 아크릴로니트릴 등의 관능기 함유 모노머 등을 들 수 있다. 또한, 상기 가교성기 함유 모노머는, 분자 중에 에테르기 또는 에스테르기 등을 가져도 된다.Examples of the crosslinkable group-containing monomer include a carboxyl group-containing (meth)acrylic monomer, an acid anhydride (meth)acrylic monomer, a hydroxyl group (hydroxyl group)-containing (meth)acrylic monomer, an epoxy group (glycidyl group)-containing (meth)acrylic monomer, and functional group-containing monomers such as isocyanate group-containing (meth)acrylic monomers, sulfonic acid group-containing (meth)acrylic monomers, phosphoric acid group-containing (meth)acrylic monomers, acrylamide, and acrylonitrile. In addition, the crosslinkable group-containing monomer may have an ether group or an ester group or the like in the molecule.

상기 가교성 아크릴 폴리머는, 바람직하게는The crosslinkable acrylic polymer is preferably

카르복시기 함유 (메트)아크릴 모노머, 히드록시기 함유 (메트)아크릴 모노머, 에폭시기 함유 (메트)아크릴 모노머 및 이소시아네이트기 함유 (메트)아크릴 모노머로 이루어지는 군에서 선택된 적어도 1종의 가교성기 함유 모노머와, 알킬(메트)아크릴레이트(특히, 알킬 부분의 탄소수가 8 이하의 알킬(메트)아크릴레이트)의 공중합체이다.At least one crosslinkable group-containing monomer selected from the group consisting of a carboxyl group-containing (meth)acrylic monomer, a hydroxyl group-containing (meth)acrylic monomer, an epoxy group-containing (meth)acrylic monomer, and an isocyanate-containing (meth)acrylic monomer, and an alkyl (meth)acrylic monomer ) It is a copolymer of acrylates (particularly, alkyl (meth)acrylates having 8 or less carbon atoms in the alkyl moiety).

카르복시기 함유 (메트)아크릴 모노머로서는, 예를 들어 (메트)아크릴산, 모노(2-(메트)아크릴로일옥시에틸)숙시네이트 모노머 등을 들 수 있다. 또한, 카르복시기는, 모노머 구조의 말단 부분에 배치되어 있어도 되고, 말단 부분 이외의 탄화수소에 결합하고 있어도 된다.As a (meth)acrylic monomer containing a carboxy group, (meth)acrylic acid, a mono(2-(meth)acryloyloxyethyl) succinate monomer, etc. are mentioned, for example. In addition, the carboxy group may be arranged at the terminal portion of the monomer structure, or may be bonded to hydrocarbons other than the terminal portion.

히드록시기 함유 (메트)아크릴 모노머로서는, 예를 들어 히드록시에틸(메트)아크릴레이트 모노머, 히드록시프로필(메트)아크릴레이트 모노머, 히드록시부틸(메트)아크릴레이트 모노머 등을 들 수 있다. 또한, 히드록시기는, 모노머 구조의 말단 부분에 배치되어 있어도 되고, 말단 부분 이외의 탄화수소에 결합하고 있어도 된다.Examples of the hydroxy group-containing (meth)acrylic monomer include a hydroxyethyl (meth)acrylate monomer, a hydroxypropyl (meth)acrylate monomer, and a hydroxybutyl (meth)acrylate monomer. In addition, the hydroxyl group may be arranged at the terminal portion of the monomer structure, or may be bonded to hydrocarbons other than the terminal portion.

에폭시기 함유 (메트)아크릴 모노머로서는, 예를 들어 글리시딜(메트)아크릴레이트 모노머, 4-히드록시부틸(메트)아크릴레이트글리시딜에테르 등을 들 수 있다. 또한, 에폭시기는, 모노머 구조의 말단 부분에 배치되어 있어도 되고, 말단 부분 이외의 탄화수소에 결합하고 있어도 된다.As an epoxy group-containing (meth)acryl monomer, a glycidyl (meth)acrylate monomer, 4-hydroxybutyl (meth)acrylate glycidyl ether, etc. are mentioned, for example. In addition, the epoxy group may be arranged at the terminal portion of the monomer structure, or may be bonded to hydrocarbons other than the terminal portion.

이소시아네이트기 함유 (메트)아크릴 모노머로서는, 예를 들어 2-메타크릴로일옥시에틸이소시아네이트 등을 들 수 있다.As an isocyanate group containing (meth)acrylic monomer, 2-methacryloyloxyethyl isocyanate etc. are mentioned, for example.

본 실시 형태에 있어서, 상기의 가교성 아크릴 폴리머는, 가교성기로서 에폭시기를 포함하고, 해당 에폭시기를 갖는 글리시딜(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 분자 중에 갖고, 또한, 가교성 아크릴 폴리머에 차지하는 글리시딜(메트)아크릴레이트의 구성 단위 함유 비율이, 5질량% 이상 50질량% 이하인 것이 바람직하고, 7질량% 이상 40질량% 이하인 것이 보다 바람직하다.In the present embodiment, the crosslinkable acrylic polymer contains an epoxy group as a crosslinkable group, has a structural unit of glycidyl (meth)acrylate having the epoxy group in the molecule, and occupies the crosslinkable acrylic polymer It is preferable that it is 5 mass % or more and 50 mass % or less, and, as for the content rate of the structural unit of glycidyl (meth)acrylate, it is more preferable that it is 7 mass % or more and 40 mass % or less.

다이본드 시트(10)는, 상기의 가교성 아크릴 폴리머 이외의 성분을 포함해도 된다. 예를 들어, 다이본드 시트(10)는, 열경화성 수지, 또는, 상기의 가교성 아크릴 폴리머 이외의 열가소성 수지의 적어도 한쪽을 더 포함해도 된다.The die-bonding sheet 10 may also contain components other than the crosslinkable acrylic polymer described above. For example, the die-bonding sheet 10 may further contain at least one of a thermosetting resin or a thermoplastic resin other than the crosslinkable acrylic polymer described above.

열경화성 수지로서는, 예를 들어 에폭시 수지, 페놀 수지, 아미노 수지, 불포화 폴리에스테르 수지, 폴리우레탄 수지, 실리콘 수지, 열경화성 폴리이미드 수지 등을 들 수 있다. 상기 열경화성 수지로서는, 1종만, 또는, 2종 이상이 채용된다.As a thermosetting resin, an epoxy resin, a phenol resin, an amino resin, an unsaturated polyester resin, a polyurethane resin, a silicone resin, a thermosetting polyimide resin etc. are mentioned, for example. As said thermosetting resin, only 1 type or 2 or more types are employ|adopted.

상기 에폭시 수지로서는, 예를 들어 비스페놀 A형, 비스페놀 F형, 비스페놀 S형, 브롬화 비스페놀 A형, 수소 첨가 비스페놀 A형, 비스페놀 AF형, 비페닐형, 나프탈렌형, 플루오렌형, 페놀 노볼락형, 오르토 크레졸 노볼락형, 트리스히드록시페닐메탄형, 테트라페닐올에탄형, 히단토인형, 트리스글리시딜이소시아누레이트형, 또는, 글리시딜아민형의 각 에폭시 수지를 들 수 있다.Examples of the epoxy resin include bisphenol A type, bisphenol F type, bisphenol S type, brominated bisphenol A type, hydrogenated bisphenol A type, bisphenol AF type, biphenyl type, naphthalene type, fluorene type, and phenol novolac type. , ortho cresol novolak type, trishydroxyphenylmethane type, tetraphenylolethane type, hydantoin type, trisglycidyl isocyanurate type, or each of the glycidylamine type epoxy resins.

페놀 수지는, 에폭시 수지의 경화제로서 작용할 수 있다. 페놀 수지로서는, 예를 들어 노볼락형 페놀 수지, 레졸형 페놀 수지, 폴리파라옥시스티렌 등의 폴리옥시스티렌 등을 들 수 있다.Phenol resins can act as curing agents for epoxy resins. Examples of the phenolic resin include polyoxystyrenes such as novolac-type phenolic resins, resol-type phenolic resins, and polyparaoxystyrene.

노볼락형 페놀 수지로서는, 예를 들어 페놀노볼락 수지, 페놀아르알킬 수지(비페닐아르알킬형 수지 페놀 수지 등), 크레졸노볼락 수지, tert-부틸페놀노볼락 수지, 노닐페놀노볼락 수지, 페놀크실릴렌 수지 등을 들 수 있다.Examples of the novolak-type phenolic resin include phenol novolak resin, phenol aralkyl resin (biphenyl aralkyl type resin, phenol resin, etc.), cresol novolac resin, tert-butylphenol novolak resin, nonylphenol novolak resin, A phenol xylylene resin etc. are mentioned.

페놀 수지의 수산기 당량[g/eq]은, 예를 들어 90 이상 220 이하여도 된다.The hydroxyl equivalent [g/eq] of the phenol resin may be, for example, 90 or more and 220 or less.

다이본드 시트(10)의 탄성률이 적절하게 낮아질 수 있다고 하는 점에서, 페놀 수지로서는, 수산기 당량이 비교적 큰 비페닐아르알킬형 수지 페놀 수지가 바람직하다.From the viewpoint that the modulus of elasticity of the die-bonding sheet 10 can be appropriately lowered, the phenolic resin is preferably a biphenylaralkyl type resin phenolic resin having a relatively large hydroxyl equivalent.

상기 페놀 수지로서는, 1종만, 또는, 2종 이상이 채용된다.As said phenol resin, only 1 type or 2 or more types are employ|adopted.

본 실시 형태에 있어서, 다이본드 시트(10)는, 서로 가교 반응하는, 상기의 가교성 아크릴 폴리머와 열경화성 수지를 포함해도 된다. 또한, 다이본드 시트(10)는, 서로 가교 반응하는 복수종의 가교성 아크릴 폴리머를 포함해도 된다.In the present embodiment, the die-bonding sheet 10 may also contain the above crosslinkable acrylic polymer and thermosetting resin, which undergo a crosslinking reaction with each other. In addition, the die-bonding sheet 10 may also contain a plurality of types of crosslinkable acrylic polymers that undergo a crosslinking reaction with each other.

바람직하게는, 다이본드 시트(10)는, 에폭시기 함유 아크릴 폴리머 또는 이소시아네이트기 함유 아크릴 폴리머를 가교성 아크릴 폴리머로서 포함하고, 또한, 페놀 수지를 열경화성 수지로서 포함한다. 이에 의해, 가교성 아크릴 폴리머의 에폭시기 또는 이소시아네이트기와, 페놀 수지의 히드록시기가 가교 반응하여 다이본드 시트(10)를 충분히 경화시킬 수 있다.Preferably, the die-bonding sheet 10 contains an epoxy group-containing acrylic polymer or an isocyanate group-containing acrylic polymer as a crosslinkable acrylic polymer, and further contains a phenol resin as a thermosetting resin. As a result, the die-bonding sheet 10 can be sufficiently cured by a cross-linking reaction between the epoxy group or isocyanate group of the cross-linkable acrylic polymer and the hydroxy group of the phenol resin.

보다 바람직하게는, 다이본드 시트(10)는, 에폭시기 함유 아크릴 폴리머를 가교성 아크릴 폴리머로서 포함하고, 또한, 페놀 수지를 열경화성 수지로서 포함한다. 이에 의해, 가교성 아크릴 폴리머의 에폭시기와, 페놀 수지의 히드록시기가 가교 반응하여 다이본드 시트(10)를 충분히 경화시킬 수 있다. 이 경우, 페놀 수지의 수산기 당량은, 160 이상 250 이하여도 된다.More preferably, the die-bonding sheet 10 contains an epoxy group-containing acrylic polymer as a crosslinkable acrylic polymer and further contains a phenol resin as a thermosetting resin. As a result, the die-bonding sheet 10 can be sufficiently cured by a cross-linking reaction between the epoxy group of the cross-linkable acrylic polymer and the hydroxy group of the phenol resin. In this case, the hydroxyl equivalent of the phenol resin may be 160 or more and 250 or less.

다이본드 시트(10)에 있어서, 페놀 수지의 수산기는, 에폭시기 함유 아크릴 폴리머의 에폭시기 1 당량당, 바람직하게는 0.5 당량 이상 2.0 당량 이하, 보다 바람직하게는 0.7 당량 이상 1.5 당량 이하이다. 이에 의해, 에폭시기 함유 아크릴 폴리머와 페놀 수지의 가교 반응을 충분히 진행시킬 수 있다.In the die-bonding sheet 10, the hydroxyl group of the phenol resin is preferably 0.5 equivalent or more and 2.0 equivalent or less, more preferably 0.7 equivalent or more and 1.5 equivalent or less, per equivalent of the epoxy group of the epoxy group-containing acrylic polymer. In this way, the crosslinking reaction between the epoxy group-containing acrylic polymer and the phenol resin can be sufficiently promoted.

또한, 다이본드 시트(10)는, 카르복시기 함유 아크릴 폴리머, 또는 히드록시기 함유 아크릴 폴리머를 가교성 아크릴 폴리머로서 포함하고, 또한, 에폭시 수지를 열경화성 수지로서 포함해도 된다. 이에 의해, 가교성 아크릴 폴리머의 카르복시기 또는 히드록시기와, 에폭시 수지의 에폭시기가 가교 반응하여 다이본드 시트(10)를 충분히 경화시킬 수 있다.In addition, the die-bonding sheet 10 may contain a carboxyl group-containing acrylic polymer or a hydroxyl group-containing acrylic polymer as a crosslinkable acrylic polymer, and may also contain an epoxy resin as a thermosetting resin. As a result, the die-bonding sheet 10 can be sufficiently cured by a cross-linking reaction between the carboxy group or hydroxy group of the cross-linkable acrylic polymer and the epoxy group of the epoxy resin.

다이본드 시트(10)가 에폭시 수지나 페놀 수지와 같은 열경화성 수지를 포함하는 경우, 다이본드 시트(10)에 있어서의 이러한 열경화성 수지의 함유율은, 35질량% 이하인 것이 바람직하고, 32질량% 미만인 것이 보다 바람직하다. 이에 의해, 열경화 처리 후의 다이본드 시트(10)가 보다 낮은 탄성률을 가질 수 있다. 그 때문에, 열경화 처리에 수반하는 다이본드 시트(10)의 휨을 보다 억제할 수 있다.When the die-bonding sheet 10 contains a thermosetting resin such as an epoxy resin or a phenol resin, the content of the thermosetting resin in the die-bonding sheet 10 is preferably 35% by mass or less, and is less than 32% by mass. more preferable As a result, the die-bonding sheet 10 after the thermosetting treatment can have a lower elastic modulus. Therefore, warpage of the die-bonding sheet 10 accompanying the thermal curing treatment can be further suppressed.

다이본드 시트(10)에 포함될 수 있는, 상기의 가교성 관능기 함유 아크릴 폴리머 이외의 열가소성 수지로서는, 예를 들어 천연 고무, 부틸 고무, 이소프렌 고무, 클로로프렌 고무, 에틸렌-아세트산비닐 공중합체, 에틸렌-아크릴산 공중합체, 에틸렌-아크릴산에스테르 공중합체, 폴리부타디엔 수지, 폴리카르보네이트 수지, 열가소성 폴리이미드 수지, 6-폴리아미드 수지나 6,6-폴리아미드 수지 등의 폴리아미드 수지, 페녹시 수지, 가교성 관능기를 분자 중에 포함하지 않는 아크릴 수지, PET나 PBT 등의 포화 폴리에스테르 수지, 폴리아미드이미드 수지, 불소 수지 등을 들 수 있다.Examples of thermoplastic resins other than the above crosslinkable functional group-containing acrylic polymer that can be included in the die-bonding sheet 10 include natural rubber, butyl rubber, isoprene rubber, chloroprene rubber, ethylene-vinyl acetate copolymer, and ethylene-acrylic acid. Copolymers, ethylene-acrylic acid ester copolymers, polybutadiene resins, polycarbonate resins, thermoplastic polyimide resins, polyamide resins such as 6-polyamide resins and 6,6-polyamide resins, phenoxy resins, crosslinkable An acrylic resin that does not contain a functional group in its molecule, a saturated polyester resin such as PET or PBT, a polyamideimide resin, a fluororesin, and the like are exemplified.

상기 열가소성 수지로서는, 1종만, 또는, 2종 이상이 채용된다.As said thermoplastic resin, only 1 type or 2 or more types are employ|adopted.

다이본드 시트(10)의 총 질량 100질량부 중, 상기의 가교성 아크릴 폴리머의 함유 비율은, 바람직하게는 50질량부 이상 100질량부 이하이고, 보다 바람직하게는 55질량부 이상이고, 더욱 바람직하게는 60질량부 이상이다.In 100 parts by mass of the total mass of the die-bonding sheet 10, the content ratio of the crosslinkable acrylic polymer is preferably 50 parts by mass or more and 100 parts by mass or less, more preferably 55 parts by mass or more, and even more preferably It is 60 parts by mass or more.

다이본드 시트(10)에 있어서, 필러를 제외한 유기 성분(예를 들어, 상기의 가교성 아크릴 폴리머, 열경화성 수지, 경화 촉매 등, 실란 커플링제, 염료)의 100질량부에 대하여, 상기의 가교성 아크릴 폴리머의 함유 비율은, 바람직하게는 50질량부 이상 100질량부 이하이고, 보다 바람직하게는 60질량부 이상 95질량부 이하이고, 더욱 바람직하게는 64질량부 이상이다. 유기 성분이란, 필러 이외의 성분이다. 또한, 다이본드 시트(10)에 있어서의 열경화성 수지의 함유율을 변화시킴으로써, 다이본드 시트(10)의 탄성이나 점성을 조정할 수 있다.In the die-bonding sheet 10, with respect to 100 parts by mass of organic components (eg, crosslinkable acrylic polymer, thermosetting resin, curing catalyst, etc., silane coupling agent, dye) excluding fillers, the above crosslinkability The content ratio of the acrylic polymer is preferably 50 parts by mass or more and 100 parts by mass or less, more preferably 60 parts by mass or more and 95 parts by mass or less, still more preferably 64 parts by mass or more. An organic component is a component other than a filler. In addition, the elasticity and viscosity of the die-bonding sheet 10 can be adjusted by changing the content of the thermosetting resin in the die-bonding sheet 10 .

한편, 상기 유기 성분의 100질량부에 대하여, 열경화성 수지의 함유 비율은, 40질량부 이하여도 된다.On the other hand, the content ratio of the thermosetting resin may be 40 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the organic component.

다이본드 시트(10)는, 필러를 함유해도 되고, 함유하지 않아도 된다. 다이본드 시트(10)에 있어서의 필러의 양을 바꿈으로써, 다이본드 시트(10)의 탄성 및 점성을 보다 용이하게 조정할 수 있다. 또한, 다이본드 시트(10)의 도전성, 열전도성, 탄성률 등의 물성을 조정할 수 있다.The die-bonding sheet 10 may or may not contain a filler. By changing the amount of filler in the die-bonding sheet 10, the elasticity and viscosity of the die-bonding sheet 10 can be more easily adjusted. In addition, the physical properties of the die-bonding sheet 10, such as conductivity, thermal conductivity, and modulus of elasticity, can be adjusted.

필러로서는, 무기 필러 및 유기 필러를 들 수 있다. 필러로서는, 무기 필러가 바람직하다.As a filler, an inorganic filler and an organic filler are mentioned. As a filler, an inorganic filler is preferable.

무기 필러로서는, 예를 들어 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 규산칼슘, 규산마그네슘, 산화칼슘, 산화마그네슘, 산화알루미늄, 질화알루미늄, 질화붕소, 결정질 실리카나 비정질 실리카와 같은 실리카 등을 포함하는 필러를 들 수 있다. 또한, 무기 필러의 재질로서는, 알루미늄, 금, 은, 구리, 니켈 등의 금속 단체나, 합금 등을 들 수 있다. 붕산알루미늄 위스커, 아몰퍼스 카본 블랙, 그래파이트 등의 필러여도 된다. 필러의 형상은, 구상, 바늘상, 플레이크상 등의 각종 형상이어도 된다. 필러로서는, 상기의 1종만, 또는, 2종 이상이 채용된다.Examples of the inorganic filler include aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, calcium silicate, magnesium silicate, calcium oxide, magnesium oxide, aluminum oxide, aluminum nitride, boron nitride, and silica such as crystalline silica and amorphous silica. Fillers containing Moreover, as a material of an inorganic filler, simple metals, alloys, etc., such as aluminum, gold, silver, copper, and nickel, are mentioned. A filler such as aluminum borate whisker, amorphous carbon black, or graphite may be used. The shape of the filler may be various shapes such as spherical shape, needle shape, and flake shape. As a filler, only said 1 type or 2 or more types is employ|adopted.

상기 필러의 평균 입경은, 예를 들어 5nm 이상 10㎛ 이하여도 된다. 상기 필러의 평균 입경은, 바람직하게는 5nm 이상 500nm 이하이고, 보다 바람직하게는 5nm 이상 100nm 이하이다. 상기 평균 입경이 5nm 이상임으로써, 반도체 웨이퍼 등의 피착체에 대한 습윤성, 접착성이 보다 향상된다. 상기 평균 입경이 500nm 이하임으로써, 첨가한 필러에 의한 특성을 의해 충분히 발휘시킬 수 있고, 또한, 다이본드 시트(10)의 내열성을 보다 발휘시킬 수 있다. 필러의 평균 입경은, 예를 들어 광도식의 입도 분포계(예를 들어, 제품명 「LA-910」, 호리바 세이사꾸쇼사제)를 사용하여 구할 수 있다.The average particle diameter of the filler may be, for example, 5 nm or more and 10 μm or less. The average particle diameter of the filler is preferably 5 nm or more and 500 nm or less, more preferably 5 nm or more and 100 nm or less. When the said average particle diameter is 5 nm or more, wettability and adhesiveness with respect to adherends, such as a semiconductor wafer, improve more. When the average particle diameter is 500 nm or less, the characteristics due to the added filler can be sufficiently exhibited, and the heat resistance of the die-bonding sheet 10 can be further exhibited. The average particle diameter of the filler can be obtained using, for example, a photometric particle size distribution analyzer (eg, product name "LA-910", manufactured by Horiba Seisakusho Co., Ltd.).

상기 필러의 비표면적은, 예를 들어 35㎡/g 이상 400㎡/g 이하여도 된다. 상기 비표면적이 35㎡/g 이상임으로써, 특히 무기 필러 표면에 있어서의 -OH기가 비교적 많아지고, 열경화 반응에 의한 가교 반응이 보다 진행되기 쉬워진다. 또한, 에폭시기 등의 고활성 가교성기가, 무기 필러 표면과 결합하기 쉬워진다. 한편, 상기 비표면적이 400㎡/g 이하임으로써, 에폭시기 등의 고활성 가교성기와, 무기 필러 표면의 과잉의 결합을 억제할 수 있다. 필러의 비표면적은, JIS Z8830: 2013에 따라, BET법에 의해 산출된다. 구체적으로는, 시료를 측정 셀에 넣고, 200℃에서 30분간의 가열 처리 후에, 액체 질소에 의한 냉각 처리를 행한다. 또한 실시하는 가열 처리에 수반하는 질소 이탈 시의 기체량으로부터 비표면적을 산출한다.The specific surface area of the filler may be, for example, 35 m 2 /g or more and 400 m 2 /g or less. When the specific surface area is 35 m 2 /g or more, the -OH groups on the surface of the inorganic filler are relatively increased, and the crosslinking reaction by the thermal curing reaction proceeds more easily. In addition, a highly active crosslinkable group such as an epoxy group easily bonds to the surface of the inorganic filler. On the other hand, when the specific surface area is 400 m 2 /g or less, excessive bonding between highly active crosslinkable groups such as epoxy groups and the surface of the inorganic filler can be suppressed. The specific surface area of the filler is calculated by the BET method according to JIS Z8830:2013. Specifically, a sample is placed in a measurement cell, and after a heat treatment at 200°C for 30 minutes, a cooling treatment with liquid nitrogen is performed. In addition, the specific surface area is calculated from the amount of gas at the time of nitrogen release accompanying the heat treatment to be performed.

다이본드 시트(10)가 필러를 포함하는 경우, 상기 필러의 함유율은, 다이본드 시트(10)의 총 질량의 50질량% 이하여도 되고, 40질량% 이하여도 되고, 30질량% 이하여도 된다. 또한, 상기 필러의 함유율은, 예를 들어 10질량% 이상이어도 된다.When the die-bonding sheet 10 contains a filler, the content of the filler may be 50% by mass or less, 40% by mass or less, or 30% by mass or less of the total mass of the die-bonding sheet 10 . Moreover, the content rate of the said filler may be 10 mass % or more, for example.

바람직하게는, 본 실시 형태의 다이본드 시트(10)는, 무기 필러로서의 실리카 필러의 함유율이 40질량% 이하(0질량%여도 된다)이고, 실리카 필러의 비표면적이 35㎡/g 이상 400㎡/g 이하이다.Preferably, the die-bonding sheet 10 of the present embodiment has a silica filler content of 40% by mass or less (may be 0% by mass) as an inorganic filler, and a specific surface area of the silica filler of 35 m 2 /g or more and 400 m 2 /g or less.

다이본드 시트(10)는, 필요에 따라서 다른 성분을 포함해도 된다. 상기 다른 성분으로서는, 예를 들어 경화 촉매, 난연제, 실란 커플링제, 이온 트랩제, 염료 등을 들 수 있다.The die-bonding sheet 10 may contain other components as needed. As said other component, a curing catalyst, a flame retardant, a silane coupling agent, an ion trapping agent, dye etc. are mentioned, for example.

난연제로서는, 예를 들어 삼산화안티몬, 오산화안티몬, 브롬화에폭시 수지 등을 들 수 있다.Examples of the flame retardant include antimony trioxide, antimony pentoxide, and brominated epoxy resin.

실란 커플링제로서는, 예를 들어 β-(3,4-에폭시시클로헥실)에틸트리메톡시실란, γ-글리시독시프로필트리메톡시실란, γ-글리시독시프로필메틸디에톡시실란 등을 들 수 있다.Examples of the silane coupling agent include β-(3,4-epoxycyclohexyl)ethyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, and γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane. there is.

이온 트랩제로서는, 예를 들어 하이드로탈사이트류, 수산화비스무트, 벤조트리아졸 등을 들 수 있다.Examples of the ion trapping agent include hydrotalcites, bismuth hydroxide, and benzotriazole.

상기 다른 첨가제로서는, 1종만, 또는, 2종 이상이 채용된다.As said other additive, only 1 type or 2 or more types are employ|adopted.

다이본드 시트(10)는, 탄성 및 점성을 조정하기 쉽다고 하는 점에서, 바람직하게는 상기의 가교성 아크릴 폴리머, 열경화성 수지 및 필러를 포함한다.The die-bonding sheet 10 preferably contains the aforementioned crosslinkable acrylic polymer, thermosetting resin, and filler in that elasticity and viscosity can be easily adjusted.

다이본드 시트(10)의 두께는, 특별히 한정되지는 않지만, 예를 들어 1㎛ 이상 200㎛ 이하이다. 이러한 두께는, 3㎛ 이상 150㎛ 이하여도 되고, 5㎛ 이상 100㎛ 이하여도 된다. 또한, 다이본드 시트(10)가 적층체인 경우, 상기의 두께는, 적층체의 총 두께이다.The thickness of the die-bonding sheet 10 is not particularly limited, but is, for example, 1 μm or more and 200 μm or less. This thickness may be 3 μm or more and 150 μm or less, or 5 μm or more and 100 μm or less. In the case where the die-bonding sheet 10 is a laminate, the above thickness is the total thickness of the laminate.

다이본드 시트(10)는, 예를 들어 도 1에 도시하는 바와 같이, 단층 구조를 가져도 된다. 본 명세서에 있어서, 단층이란, 동일한 조성물로 형성된 층만을 갖는 것이다. 동일한 조성물로 형성된 층이 복수 적층된 형태도 단층이다.The die-bonding sheet 10 may have a single-layer structure, for example, as shown in FIG. 1 . In this specification, a single layer has only the layer formed with the same composition. A form in which a plurality of layers formed of the same composition are laminated is also a single layer.

한편, 다이본드 시트(10)는, 예를 들어 2종 이상의 다른 조성물로 각각 형성된 층이 적층된 다층 구조를 가져도 된다. 다이본드 시트(10)가 다층 구조를 갖는 경우, 다이본드 시트(10)를 구성하는 적어도 1층이, 상기의 가교성 아크릴 폴리머를 포함하고, 필요에 따라 열경화성 수지를 더 포함하고 있으면 된다.On the other hand, the die-bonding sheet 10 may have a multilayer structure in which layers each formed of two or more different compositions are stacked, for example. When the die-bonding sheet 10 has a multi-layer structure, at least one layer constituting the die-bonding sheet 10 may contain the crosslinkable acrylic polymer described above and, if necessary, further contain a thermosetting resin.

이어서, 본 발명에 관한 다이싱 다이본드 필름의 실시 형태에 대하여 설명한다.Next, an embodiment of the dicing die-bonding film according to the present invention will be described.

본 실시 형태의 다이싱 다이본드 필름(1)은, 상기의 다이본드 시트(10)와, 해당 다이본드 시트(10)에 접합된 다이싱 테이프(20)를 구비한다.The dicing die-bonding film 1 of the present embodiment includes the die-bonding sheet 10 described above and the dicing tape 20 bonded to the die-bonding sheet 10 .

본 실시 형태의 다이싱 다이본드 필름(1)에서는, 사용될 때에, 활성 에너지선(예를 들어 자외선)이 조사됨으로써, 점착제층(22)이 경화된다. 상세하게는, 한쪽 면에 반도체 웨이퍼가 접착된 다이본드 시트(10)와, 해당 다이본드 시트(10)의 다른 쪽 면에 접합된 점착제층(22)이 적층한 상태에서, 자외선 등이 적어도 점착제층(22)에 조사된다. 예를 들어, 기재층(21)이 배치되어 있는 쪽으로부터 자외선 등을 조사하고, 기재층(21)을 거친 자외선 등이 점착제층(22)에 전해진다. 자외선 등의 조사에 의해, 점착제층(22)이 경화한다.In the dicing die-bonding film 1 of the present embodiment, when used, the pressure-sensitive adhesive layer 22 is cured by being irradiated with active energy rays (eg, ultraviolet rays). In detail, in a state in which the die-bonding sheet 10 having a semiconductor wafer bonded to one side thereof and the pressure-sensitive adhesive layer 22 bonded to the other side of the die-bonding sheet 10 are laminated, at least ultraviolet rays, etc. Layer 22 is irradiated. For example, ultraviolet rays or the like are irradiated from the side where the substrate layer 21 is disposed, and the ultraviolet rays or the like passing through the substrate layer 21 are transmitted to the pressure-sensitive adhesive layer 22 . The pressure-sensitive adhesive layer 22 is cured by irradiation with ultraviolet rays or the like.

조사 후에 점착제층(22)이 경화함으로써, 점착제층(22)의 점착력을 낮출 수 있기 때문에, 조사 후에 점착제층(22)으로부터 다이본드 시트(10)(반도체 웨이퍼가 접착한 상태)를 비교적 용이하게 박리시킬 수 있다.Since the adhesive force of the pressure-sensitive adhesive layer 22 can be lowered by curing the pressure-sensitive adhesive layer 22 after irradiation, the die-bonding sheet 10 (a state in which the semiconductor wafer is bonded) can be relatively easily removed from the pressure-sensitive adhesive layer 22 after irradiation. can be peeled off.

<다이싱 다이본드 필름의 다이싱 테이프><Dicing tape of dicing die-bonding film>

상기의 다이싱 테이프(20)는, 통상, 긴 시트이고, 사용될 때까지 권회된 상태에서 보관된다. 본 실시 형태의 다이싱 다이본드 필름(1)은, 할단 처리되는 실리콘 웨이퍼보다도, 한층 더 큰 내경을 갖는 원 환상의 프레임에 붙여져, 커트되어 사용된다.The above dicing tape 20 is usually a long sheet, and is stored in a rolled state until used. The dicing die-bonding film 1 of the present embodiment is applied to a circular annular frame having an inner diameter much larger than that of the silicon wafer to be cut, and then cut and used.

상기의 다이싱 테이프(20)는, 기재층(21)과, 해당 기재층(21)에 겹친 점착제층(22)을 구비한다.The dicing tape 20 described above includes a substrate layer 21 and an adhesive layer 22 overlapping the substrate layer 21 .

기재층(21)은, 단층 구조여도 되고, 적층 구조를 가져도 된다.The substrate layer 21 may have a single layer structure or a laminated structure.

기재층(21)의 각 층은, 예를 들어 금속박, 종이나 천 등의 섬유 시트, 고무 시트, 수지 필름 등이다.Each layer of the substrate layer 21 is, for example, a metal foil, a fiber sheet such as paper or cloth, a rubber sheet, a resin film, or the like.

기재층(21)을 구성하는 섬유 시트로서는, 종이, 직포, 부직포 등을 들 수 있다.As the fibrous sheet constituting the substrate layer 21, paper, woven fabric, non-woven fabric, and the like are exemplified.

수지 필름의 재질로서는, 예를 들어 폴리에틸렌(PE), 폴리프로필렌(PP), 에틸렌-프로필렌 공중합체 등의 폴리올레핀; 에틸렌-아세트산비닐 공중합체(EVA), 아이오노머 수지, 에틸렌-(메트)아크릴산 공중합체, 에틸렌-(메트)아크릴산에스테르(랜덤, 교호) 공중합체 등의 에틸렌의 공중합체; 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리에틸렌나프탈레이트(PEN), 폴리부틸렌테레프탈레이트(PBT) 등의 폴리에스테르; 폴리아크릴레이트; 폴리염화비닐(PVC); 폴리우레탄; 폴리카르보네이트; 폴리페닐렌술피드(PPS); 지방족 폴리아미드, 전방향족 폴리아미드(아라미드) 등의 폴리아미드; 폴리에테르에테르케톤(PEEK); 폴리이미드; 폴리에테르이미드; 폴리염화비닐리덴; ABS(아크릴로니트릴-부타디엔-스티렌 공중합체); 셀룰로오스 또는 셀룰로오스 유도체; 실리콘 함유 고분자; 불소 함유 고분자 등을 들 수 있다. 이들은, 1종이 단독으로 또는 2종 이상이 조합되어 사용될 수 있다.Examples of the material of the resin film include polyolefins such as polyethylene (PE), polypropylene (PP), and ethylene-propylene copolymer; Ethylene copolymers, such as an ethylene-vinyl acetate copolymer (EVA), an ionomer resin, an ethylene-(meth)acrylic acid copolymer, and an ethylene-(meth)acrylic acid ester (random, alternating) copolymer; polyesters such as polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), and polybutylene terephthalate (PBT); polyacrylate; polyvinyl chloride (PVC); Polyurethane; polycarbonate; polyphenylene sulfide (PPS); polyamides such as aliphatic polyamides and wholly aromatic polyamides (aramids); polyetheretherketone (PEEK); polyimide; polyetherimide; polyvinylidene chloride; ABS (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer); cellulose or cellulose derivatives; silicone-containing polymers; A fluorine-containing polymer etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

기재층(21)은, 수지 필름 등의 고분자 재료로 구성되어 있는 것이 바람직하다.The substrate layer 21 is preferably made of a polymer material such as a resin film.

기재층(21)이 수지 필름을 갖는 경우, 수지 필름이 연신 처리 등을 실시되어, 신장률 등의 변형성이 제어되어 있어도 된다.When the base material layer 21 has a resin film, the resin film may be subjected to stretching treatment or the like to control deformability such as elongation.

기재층(21)의 표면에는, 점착제층(22)과의 밀착성을 높이기 위해서, 표면 처리가 실시되어 있어도 된다. 표면 처리로서는, 예를 들어 크롬산 처리, 오존 폭로, 화염 폭로, 고압 전격 폭로, 이온화 방사선 처리 등의 화학적 방법 또는 물리적 방법에 의한 산화 처리 등이 채용될 수 있다. 또한, 앵커 코팅제, 프라이머, 접착제 등의 코팅제에 의한 코팅 처리가 실시되어 있어도 된다.Surface treatment may be given to the surface of the base material layer 21 in order to improve adhesiveness with the adhesive layer 22. As the surface treatment, for example, chemical methods such as chromic acid treatment, ozone exposure, flame exposure, high-voltage electric shock exposure, ionizing radiation treatment, or oxidation treatment by physical methods or the like can be employed. In addition, coating treatment with a coating agent such as an anchor coating agent, a primer, or an adhesive may be performed.

기재층(21)은, 단층이어도 되고, 복수의 층(예를 들어 3층)으로 구성되어 있어도 된다. 기재층(21)의 두께(총 두께)는, 80㎛ 이상 150㎛ 이하여도 된다.The substrate layer 21 may be a single layer or may be composed of a plurality of layers (for example, three layers). The thickness (total thickness) of the substrate layer 21 may be 80 μm or more and 150 μm or less.

기재층(21)의 배면측(점착제층(22)이 겹치지 않고 있는 측)에는, 박리성을 부여하기 위해서, 예를 들어 실리콘계 수지나 불소계 수지 등의 이형제(박리제) 등에 의해 이형 처리가 실시되어 있어도 된다.In order to impart peelability to the back side of the substrate layer 21 (the side on which the pressure-sensitive adhesive layer 22 does not overlap), for example, a release treatment is performed with a release agent (release agent) such as a silicone-based resin or a fluorine-based resin. There may be.

기재층(21)은, 배면측으로부터 자외선 등의 활성 에너지선을 점착제층(22)에 부여하는 것이 가능하게 되는 점에서, 광투과성(자외선 투과성)의 수지 필름 등인 것이 바람직하다.The base material layer 21 is preferably a light-transmitting (ultraviolet-ray-transmitting) resin film or the like in view of enabling application of active energy rays such as ultraviolet rays to the pressure-sensitive adhesive layer 22 from the back side.

상기의 다이싱 테이프(20)는, 사용되기 전의 상태에 있어서, 점착제층(22)의 한쪽 면(점착제층(22)이 기재층(21)과 겹치지 않고 있는 면)을 덮는 박리 라이너를 구비해도 된다. 박리 라이너는, 점착제층(22)을 보호하기 위하여 사용되고, 점착제층(22)에 다이본드 시트(10)를 첩부하기 전에 박리된다.Even if the dicing tape 20 described above is provided with a release liner covering one surface of the pressure-sensitive adhesive layer 22 (the surface on which the pressure-sensitive adhesive layer 22 does not overlap with the substrate layer 21) in a state before use. do. The release liner is used to protect the pressure-sensitive adhesive layer 22 and is peeled off before attaching the die-bonding sheet 10 to the pressure-sensitive adhesive layer 22 .

박리 라이너로서는, 예를 들어 실리콘계 박리제, 장쇄 알킬계 박리제, 불소계 박리제, 또는, 황화몰리브덴 등의 박리제에 의해 표면 처리된, 플라스틱 필름 또는 종이 등을 사용할 수 있다.As the release liner, for example, a silicone type release agent, a long-chain alkyl type release agent, a fluorine type release agent, or a plastic film or paper surface-treated with a release agent such as molybdenum sulfide can be used.

또한, 박리 라이너는, 점착제층(22)을 지지하기 위한 지지재로서 이용할 수 있다. 특히, 박리 라이너는, 기재층(21) 상에 점착제층(22)을 겹칠 때에, 적합하게 사용된다. 상세하게는, 박리 라이너와 점착제층(22)이 적층된 상태에서 점착제층(22)을 기재층(21)에 겹치고, 겹친 후에 박리 라이너를 박리함(전사함)으로써, 기재층(21) 상에 점착제층(22)을 겹칠 수 있다.In addition, the release liner can be used as a support material for supporting the pressure-sensitive adhesive layer 22 . In particular, the peeling liner is suitably used when overlapping the pressure-sensitive adhesive layer 22 on the substrate layer 21 . Specifically, in a state in which the release liner and the pressure-sensitive adhesive layer 22 are laminated, the pressure-sensitive adhesive layer 22 is overlapped on the substrate layer 21, and the release liner is peeled off (transferred) after the overlapping, so that on the substrate layer 21 The pressure-sensitive adhesive layer 22 may be overlapped.

본 실시 형태에 있어서, 점착제층(22)은, 예를 들어 아크릴계 고분자 화합물과, 이소시아네이트 화합물과, 중합 개시제를 포함한다.In this embodiment, the pressure-sensitive adhesive layer 22 contains, for example, an acrylic polymer compound, an isocyanate compound, and a polymerization initiator.

점착제층(22)은, 5㎛ 이상 40㎛ 이하의 두께를 가져도 된다. 점착제층(22)의 형상 및 크기는, 통상 기재층(21)의 형상 및 크기와 동일하다.The pressure-sensitive adhesive layer 22 may have a thickness of 5 μm or more and 40 μm or less. The shape and size of the pressure-sensitive adhesive layer 22 are usually the same as those of the base layer 21 .

상기의 아크릴계 고분자 화합물은, 분자 중에, 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 적어도 갖는다. 구성 단위는, 아크릴계 고분자 화합물의 주쇄를 구성하는 단위이다. 상기의 아크릴계 고분자 화합물에 있어서의 각 측쇄는, 주쇄를 구성하는 각 구성 단위에 포함된다.The acrylic polymer compound has at least a structural unit of an alkyl (meth)acrylate, a structural unit of a hydroxyl group-containing (meth)acrylate, and a structural unit of a polymerizable group-containing (meth)acrylate in its molecule. The structural unit is a unit constituting the main chain of the acrylic polymer compound. Each side chain in the above acrylic polymer compound is included in each structural unit constituting the main chain.

점착제층(22)에 포함되는 아크릴계 고분자 화합물에 있어서, 상기의 구성 단위는, 1H-NMR, 13C-NMR 등의 NMR 분석, 열분해 GC/MS 분석 및 적외 분광법 등에 의해 확인할 수 있다. 또한, 아크릴계 고분자 화합물에 있어서의 상기의 구성 단위의 몰 비율은, 통상 아크릴계 고분자 화합물을 중합할 때의 배합량(투입량)으로부터 산출된다.In the acrylic polymer compound included in the pressure-sensitive adhesive layer 22, the above structural units can be confirmed by NMR analysis such as 1 H-NMR and 13 C-NMR, thermal decomposition GC/MS analysis, infrared spectroscopy, and the like. In addition, the molar ratio of the above constituent units in the acrylic polymer compound is usually calculated from the compounding amount (charged amount) when polymerizing the acrylic polymer compound.

상기의 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 알킬(메트)아크릴레이트 모노머에 유래한다. 환언하면, 알킬(메트)아크릴레이트 모노머가 중합 반응한 뒤의 분자 구조가, 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위이다. 「알킬」이라고 하는 표기는, (메트)아크릴산에 대하여 에스테르 결합한 탄화수소 부분의 탄소수를 나타낸다.The structural unit of said alkyl (meth)acrylate originates in an alkyl (meth)acrylate monomer. In other words, the molecular structure after polymerization of the alkyl (meth)acrylate monomer is the structural unit of the alkyl (meth)acrylate. The term "alkyl" indicates the number of carbon atoms in the hydrocarbon moiety esterified with (meth)acrylic acid.

알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위에 있어서의 알킬 부분의 탄화수소 부분은, 포화 탄화수소여도 되고, 불포화 탄화수소여도 된다. 탄화수소 부분의 탄소수는, 6 이상 10 이하여도 된다.The hydrocarbon portion of the alkyl moiety in the structural unit of the alkyl (meth)acrylate may be either a saturated hydrocarbon or an unsaturated hydrocarbon. The number of carbon atoms in the hydrocarbon portion may be 6 or more and 10 or less.

알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위로서는, 예를 들어 헥실(메트)아크릴레이트, 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트, n- 또는 iso-노닐(메트)아크릴레이트, 데실(메트)아크릴레이트 등의 각 구성 단위를 들 수 있다.As a structural unit of alkyl (meth)acrylate, for example, hexyl (meth)acrylate, 2-ethylhexyl (meth)acrylate, n- or iso-nonyl (meth)acrylate, decyl (meth)acrylate, etc. Each constituent unit of

아크릴계 고분자 화합물은, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 갖고, 이러한 구성 단위의 수산기가, 이소시아네이트기와 용이하게 반응한다.An acrylic high molecular compound has a structural unit of (meth)acrylate containing a hydroxyl group, and the hydroxyl group of this structural unit easily reacts with an isocyanate group.

수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 갖는 아크릴계 고분자 화합물과, 이소시아네이트 화합물을 점착제층(22)에 공존시켜 둠으로써, 점착제층(22)을 적절하게 경화시킬 수 있다. 그 때문에, 아크릴계 고분자 화합물이 충분히 겔화할 수 있다. 따라서, 점착제층(22)은, 형상을 유지하면서 점착 성능을 발휘할 수 있다.By coexisting an acrylic polymer compound having a structural unit of hydroxyl group-containing (meth)acrylate and an isocyanate compound in the pressure-sensitive adhesive layer 22, the pressure-sensitive adhesive layer 22 can be appropriately cured. Therefore, the acrylic polymer compound can sufficiently gel. Therefore, the pressure-sensitive adhesive layer 22 can exhibit adhesive performance while maintaining its shape.

수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 수산기 함유 C2 내지 C4 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위인 것이 바람직하다. 「C2 내지 C4 알킬」이라고 하는 표기는, (메트)아크릴산에 대하여 에스테르 결합한 탄화수소 부분의 탄소수를 나타낸다. 환언하면, 수산기 함유 C2 내지 C4 알킬(메트)아크릴 모노머는, (메트)아크릴산과, 탄소수 2 이상 4 이하의 알코올(통상, 2가 알코올)이 에스테르 결합한 모노머를 나타낸다.It is preferable that the structural unit of the hydroxyl group-containing (meth)acrylate is a hydroxyl group-containing C2-C4 alkyl (meth)acrylate structural unit. The expression “C2 to C4 alkyl” indicates the number of carbon atoms in the hydrocarbon moiety esterified with (meth)acrylic acid. In other words, the hydroxyl group-containing C2 to C4 alkyl (meth)acrylic monomer represents a monomer in which (meth)acrylic acid and an alcohol having 2 or more and 4 or less carbon atoms (usually a dihydric alcohol) are ester-bonded.

C2 내지 C4 알킬의 탄화수소 부분은, 통상, 포화 탄화수소이다. 예를 들어, C2 내지 C4 알킬의 탄화수소 부분은, 직쇄상 포화 탄화수소, 또는, 분지쇄상 포화 탄화수소이다. C2 내지 C4 알킬의 탄화수소 부분은, 산소(O)나 질소(N) 등을 함유하는 극성기를 포함하지 않는 것이 바람직하다.The hydrocarbon portion of the C2 to C4 alkyl is usually a saturated hydrocarbon. For example, the hydrocarbon portion of C2 to C4 alkyl is a straight-chain saturated hydrocarbon or a branched-chain saturated hydrocarbon. It is preferable that the hydrocarbon moiety of C2 to C4 alkyl does not contain a polar group containing oxygen (O) or nitrogen (N).

수산기 함유 C2 내지 C4 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위로서는, 예를 들어 히드록시에틸(메트)아크릴레이트, 히드록시프로필(메트)아크릴레이트, 히드록시n-부틸(메트)아크릴레이트, 또는, 히드록시iso-부틸(메트)아크릴레이트와 같은 히드록시부틸(메트)아크릴레이트의 각 구성 단위를 들 수 있다. 또한, 히드록시부틸(메트)아크릴레이트의 구성 단위에 있어서, 수산기(-OH기)는 탄화수소 부분의 말단 탄소(C)에 결합하고 있어도 되고, 탄화수소 부분의 말단 이외의 탄소(C)에 결합하고 있어도 된다.As a structural unit of hydroxyl-containing C2-C4 alkyl (meth)acrylate, for example, hydroxyethyl (meth)acrylate, hydroxypropyl (meth)acrylate, hydroxyn-butyl (meth)acrylate, or and each constituent unit of hydroxybutyl (meth)acrylate such as hydroxyiso-butyl (meth)acrylate. In addition, in the structural unit of hydroxybutyl (meth)acrylate, the hydroxyl group (-OH group) may be bonded to the terminal carbon (C) of the hydrocarbon moiety, or bonded to carbon (C) other than the terminal of the hydrocarbon moiety, There may be.

상기의 아크릴계 고분자 화합물은, 측쇄에 중합성 불포화 이중 결합을 갖는 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함한다.The acrylic polymer compound described above includes a polymerizable group-containing (meth)acrylate structural unit having a polymerizable unsaturated double bond in its side chain.

상기의 아크릴계 고분자 화합물이, 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함함으로써, 픽업 공정 전에, 점착제층(22)을, 활성 에너지선(자외선 등)의 조사에 의해 경화시킬 수 있다. 상세하게는, 자외선 등의 활성 에너지선의 조사에 의해, 광중합 개시제로부터 라디칼을 발생시켜, 이 라디칼의 작용에 의해, 아크릴계 고분자 화합물끼리를 가교 반응시킬 수 있다. 이에 의해, 조사 전에 있어서의 점착제층(22)의 점착력을, 조사에 의해 저하시킬 수 있다. 그리고, 다이본드 시트(10)를 점착제층(22)으로부터 양호하게 박리시킬 수 있다.Since the acrylic polymer compound contains a polymerizable group-containing (meth)acrylate structural unit, the pressure-sensitive adhesive layer 22 can be cured by irradiation with active energy rays (ultraviolet rays, etc.) before the pick-up step. In detail, radicals are generated from the photopolymerization initiator by irradiation with active energy rays such as ultraviolet rays, and acrylic high molecular compounds can be crosslinked with each other by the action of the radicals. Thereby, the adhesive force of the adhesive layer 22 before irradiation can be reduced by irradiation. Then, the die-bonding sheet 10 can be satisfactorily separated from the pressure-sensitive adhesive layer 22 .

또한, 활성 에너지선으로서는, 자외선, 방사선, 전자선이 채용된다.In addition, as an active energy ray, an ultraviolet ray, radiation, and an electron beam are employ|adopted.

중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 구체적으로는, 상술한 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위에 있어서의 수산기에, 이소시아네이트기 함유 (메트)아크릴 모노머의 이소시아네이트기가 우레탄 결합한 분자 구조를 가져도 된다.The structural unit of the polymerizable group-containing (meth)acrylate is, specifically, a molecular structure in which the isocyanate group of the isocyanate group-containing (meth)acryl monomer is bonded to the hydroxyl group in the structural unit of the above-mentioned hydroxyl group-containing (meth)acrylate through a urethane bond. may have

중합성기를 갖는 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 아크릴계 고분자 화합물의 중합 후에, 조제될 수 있다. 예를 들어, 알킬(메트)아크릴레이트 모노머와, 수산기 함유 (메트)아크릴 모노머의 공중합 후에, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위 일부에 있어서의 수산기와, 이소시아네이트기 함유 중합성 모노머의 이소시아네이트기를, 우레탄화 반응시킴으로써, 상기의 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 얻을 수 있다.The constituent unit of the polymerizable group-containing (meth)acrylate having a polymerizable group can be prepared after polymerization of the acrylic polymer compound. For example, after copolymerization of an alkyl (meth)acrylate monomer and a hydroxyl group-containing (meth)acrylic monomer, the hydroxyl group in some of the structural units of the hydroxyl group-containing (meth)acrylate and the isocyanate group of the isocyanate group-containing polymerizable monomer , By carrying out a urethanization reaction, the structural unit of the polymerizable group-containing (meth)acrylate can be obtained.

상기의 이소시아네이트기 함유 (메트)아크릴 모노머는, 분자 중에 이소시아네이트기를 1개 갖고 또한 (메트)아크릴로일기를 1개 갖는 것이 바람직하다. 이러한 모노머로서는, 예를 들어 2-메타크릴로일옥시에틸이소시아네이트를 들 수 있다.It is preferable that the said isocyanate group-containing (meth)acrylic monomer has one isocyanate group in a molecule|numerator and also has one (meth)acryloyl group. As such a monomer, 2-methacryloyloxyethyl isocyanate is mentioned, for example.

본 실시 형태에 있어서의 다이싱 테이프(20)의 점착제층(22)은, 또한 이소시아네이트 화합물을 포함한다. 이소시아네이트 화합물의 일부는, 우레탄화 반응 등에 의해 반응한 후의 상태여도 된다.The pressure-sensitive adhesive layer 22 of the dicing tape 20 in this embodiment further contains an isocyanate compound. A part of the isocyanate compound may be in a state after reacting by a urethanization reaction or the like.

이소시아네이트 화합물은, 분자 중에 복수의 이소시아네이트기를 갖는다. 이소시아네이트 화합물이 분자 중에 복수의 이소시아네이트기를 가짐으로써, 점착제층(22)에 있어서의 아크릴계 고분자 화합물 사이의 가교 반응을 진행시킬 수 있다. 상세하게는, 이소시아네이트 화합물의 한쪽의 이소시아네이트기를 아크릴계 고분자 화합물의 수산기와 반응시키고, 다른 쪽의 이소시아네이트기를 다른 아크릴계 고분자 화합물의 수산기와 반응시킴으로써, 이소시아네이트 화합물을 통한 가교 반응을 진행시킬 수 있다.An isocyanate compound has a plurality of isocyanate groups in its molecule. When the isocyanate compound has a plurality of isocyanate groups in its molecule, a crosslinking reaction between acrylic polymer compounds in the pressure-sensitive adhesive layer 22 can be promoted. Specifically, a crosslinking reaction through an isocyanate compound can be promoted by reacting one isocyanate group of an isocyanate compound with a hydroxyl group of an acrylic polymer compound and reacting the other isocyanate group with a hydroxyl group of another acrylic polymer compound.

이소시아네이트 화합물로서는, 예를 들어 지방족 디이소시아네이트, 지환족 디이소시아네이트, 또는, 방향 지방족 디이소시아네이트 등의 디이소시아네이트를 들 수 있다.As an isocyanate compound, diisocyanate, such as aliphatic diisocyanate, alicyclic diisocyanate, or aromatic aliphatic diisocyanate, is mentioned, for example.

또한, 이소시아네이트 화합물로서는, 예를 들어 디이소시아네이트의 2량체나 3량체 등의 중합 폴리이소시아네이트, 폴리메틸렌폴리페닐렌폴리이소시아네이트를 들 수 있다.Moreover, as an isocyanate compound, polymeric polyisocyanate, such as a dimer and a trimer of diisocyanate, and polymethylene polyphenylene polyisocyanate are mentioned, for example.

게다가, 이소시아네이트 화합물로서는, 예를 들어 상술한 이소시아네이트 화합물의 과잉량과, 활성 수소 함유 화합물을 반응시킨 폴리이소시아네이트를 들 수 있다. 활성 수소 함유 화합물로서는, 활성 수소 함유 저분자량 화합물, 활성 수소 함유 고분자량 화합물 등을 들 수 있다.Moreover, as an isocyanate compound, the polyisocyanate which made the excessive amount of the above-mentioned isocyanate compound and an active hydrogen containing compound react, for example is mentioned. Examples of active hydrogen-containing compounds include active hydrogen-containing low-molecular-weight compounds and active hydrogen-containing high-molecular-weight compounds.

또한, 이소시아네이트 화합물로서는, 알로파네이트화 폴리이소시아네이트, 뷰렛화 폴리이소시아네이트 등도 사용할 수 있다.Moreover, as an isocyanate compound, allophanate-ized polyisocyanate, buret-ized polyisocyanate, etc. can be used.

상기의 이소시아네이트 화합물은, 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Said isocyanate compound can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

상기의 이소시아네이트 화합물로서는, 방향족 디이소시아네이트와 활성 수소 함유 저분자량 화합물의 반응물이 바람직하다. 방향족 디이소시아네이트의 반응물은, 이소시아네이트기의 반응 속도가 비교적 늦기 때문에, 이러한 반응물을 포함하는 점착제층(22)은, 과도하게 경화해 버리는 것이 억제된다. 상기의 이소시아네이트 화합물로서는, 분자 중에 이소시아네이트기를 3개 이상 갖는 것이 바람직하다.As said isocyanate compound, the reaction product of aromatic diisocyanate and a low molecular-weight compound containing an active hydrogen is preferable. Since the reaction rate of an isocyanate group is comparatively slow for the reaction material of aromatic diisocyanate, excessive hardening of the adhesive layer 22 containing such a reaction material is suppressed. As said isocyanate compound, what has 3 or more isocyanate groups in a molecule|numerator is preferable.

점착제층(22)에 포함되는 중합 개시제는, 더하여진 열이나 광의 에너지에 의해 중합 반응을 개시할 수 있는 화합물이다. 점착제층(22)이 중합 개시제를 포함함으로써, 점착제층(22)에 열에너지나 빛에너지를 부여한 때에, 아크릴계 고분자 화합물 사이에 있어서의 가교 반응을 진행시킬 수 있다. 상세하게는, 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 갖는 아크릴계 고분자 화합물 사이에 있어서, 중합성기끼리의 중합 반응을 개시시켜, 점착제층(22)을 경화시킬 수 있다. 이에 의해, 점착제층(22)의 점착력을 저하시키고, 픽업 공정에 있어서, 경화한 점착제층(22)으로부터 다이본드 시트(10)를 용이하게 박리시킬 수 있다.The polymerization initiator contained in the pressure-sensitive adhesive layer 22 is a compound capable of initiating a polymerization reaction by added energy of heat or light. When the pressure-sensitive adhesive layer 22 contains a polymerization initiator, when heat energy or light energy is applied to the pressure-sensitive adhesive layer 22, a crosslinking reaction between acrylic polymer compounds can be promoted. Specifically, between the acrylic polymer compounds having the constituent units of polymerizable group-containing (meth)acrylate, a polymerization reaction between the polymerizable groups is initiated, and the pressure-sensitive adhesive layer 22 can be cured. In this way, the adhesive strength of the pressure-sensitive adhesive layer 22 is reduced, and the die-bonding sheet 10 can be easily peeled off from the cured pressure-sensitive adhesive layer 22 in the pick-up step.

중합 개시제로서는, 예를 들어 광중합 개시제 또는 열중합 개시제 등이 채용된다. 중합 개시제로서는, 일반적인 시판 제품을 사용할 수 있다.As a polymerization initiator, a photoinitiator or a thermal polymerization initiator etc. are employ|adopted, for example. As a polymerization initiator, a general commercial product can be used.

점착제층(22)은, 상술한 성분 이외의 그 밖의 성분을 더 포함할 수 있다. 그 밖의 성분으로서는, 예를 들어 점착 부여제, 가소제, 충전제, 노화 방지제, 산화 방지제, 자외선 흡수제, 광안정제, 내열 안정제, 대전 방지제, 계면 활성제, 경박리화제 등을 들 수 있다. 그 밖의 성분의 종류 및 사용량은, 목적에 따라, 적절하게 선택될 수 있다.The pressure-sensitive adhesive layer 22 may further contain other components other than the components described above. Examples of other components include tackifiers, plasticizers, fillers, anti-aging agents, antioxidants, ultraviolet absorbers, light stabilizers, heat-resistant stabilizers, antistatic agents, surfactants, light release agents and the like. The type and usage amount of other components may be appropriately selected depending on the purpose.

본 실시 형태의 다이싱 다이본드 필름(1)은, 사용되기 전의 상태에 있어서, 다이본드 시트(10)의 한쪽의 면(다이본드 시트(10)가 점착제층(22)과 겹치지 않고 있는 면)을 덮는 박리 라이너를 구비해도 된다. 박리 라이너는, 다이본드 시트(10)를 보호하기 위하여 사용되고, 다이본드 시트(10)에 피착체(예를 들어 반도체 웨이퍼)를 첩부하기 직전에 박리된다.In the dicing die-bonding film 1 of the present embodiment, in a state before use, one surface of the die-bonding sheet 10 (the surface on which the die-bonding sheet 10 does not overlap the pressure-sensitive adhesive layer 22) You may provide a peeling liner covering. The release liner is used to protect the die-bonding sheet 10, and is peeled off immediately before attaching an adherend (for example, a semiconductor wafer) to the die-bonding sheet 10.

이 박리 라이너는, 다이본드 시트(10)를 지지하기 위한 지지재로서 이용할 수 있다. 박리 라이너는, 점착제층(22)에 다이본드 시트(10)를 겹칠 때에, 적합하게 사용된다. 상세하게는, 박리 라이너와 다이본드 시트(10)가 적층된 상태에서 다이본드 시트(10)를 점착제층(22)에 겹치고, 겹친 후에 박리 라이너를 박리함(전사함)으로써, 점착제층(22)에 다이본드 시트(10)를 겹칠 수 있다.This release liner can be used as a support material for supporting the die-bonding sheet 10 . The release liner is suitably used when the die-bonding sheet 10 is overlapped on the pressure-sensitive adhesive layer 22 . In detail, the die-bonding sheet 10 is overlapped on the pressure-sensitive adhesive layer 22 in a state where the release liner and the die-bonding sheet 10 are stacked, and the release liner is peeled off (transferred) after the overlapping, so that the pressure-sensitive adhesive layer 22 ), the die-bonding sheet 10 may be overlapped.

계속해서, 본 실시 형태의 다이본드 시트(10) 및 다이싱 다이본드 필름(1)의 제조 방법에 대하여 설명한다.Subsequently, the manufacturing method of the die-bonding sheet 10 and the dicing die-bonding film 1 of this embodiment is demonstrated.

<다이싱 다이본드 필름의 제조 방법><Method of manufacturing dicing die-bonding film>

본 실시 형태의 다이싱 다이본드 필름(1)의 제조 방법은,The manufacturing method of the dicing die-bonding film 1 of this embodiment,

다이본드 시트(10)를 제작하는 공정과,A process of manufacturing the die-bonding sheet 10;

다이싱 테이프(20)를 제작하는 공정과,A process of producing the dicing tape 20;

제조된 다이본드 시트(10)와 다이싱 테이프(20)를 중첩하는 공정을 구비한다.A process of overlapping the manufactured die-bonding sheet 10 and the dicing tape 20 is provided.

<다이본드 시트(열경화형 수지 시트)를 제작하는 공정><Process of producing die-bonding sheet (thermosetting resin sheet)>

다이본드 시트(10)를 제작하는 공정은,The process of manufacturing the die-bonding sheet 10,

다이본드 시트(10)를 형성하기 위한 수지 조성물을 조제하는 수지 조성물 조제 공정과,A resin composition preparation step of preparing a resin composition for forming the die-bonding sheet 10;

수지 조성물로부터 다이본드 시트(10)를 형성하는 다이본드 시트 형성 공정을 갖는다.A die-bonding sheet forming step of forming the die-bonding sheet 10 from the resin composition is provided.

수지 조성물 조제 공정에서는, 예를 들어 상기의 가교성 아크릴 폴리머와, 에폭시 수지, 에폭시 수지의 경화 촉매, 페놀 수지, 또는, 용매의 어느 것을 혼합하여, 각 수지를 용매에 용해시킴으로써 수지 조성물을 조제한다. 용매의 양을 변화시킴으로써, 조성물의 점도를 조정할 수 있다. 또한, 이들의 수지로서는, 시판되고 있는 제품을 사용할 수 있다.In the resin composition preparation step, a resin composition is prepared by, for example, mixing the above crosslinkable acrylic polymer with an epoxy resin, a curing catalyst for an epoxy resin, a phenol resin, or a solvent and dissolving each resin in a solvent . By varying the amount of solvent, the viscosity of the composition can be adjusted. In addition, as these resins, commercially available products can be used.

다이본드 시트 형성 공정에서는, 예를 들어 상기와 같이 조제한 수지 조성물을, 박리 라이너에 도포한다. 도포 방법으로서는, 특별히 한정되지는 않고, 예를 들어 롤 도공, 스크린 도공, 그라비아 도공 등의 일반적인 도포 방법이 채용된다. 이어서, 필요에 따라, 탈용매 처리나 경화 처리 등에 의해, 도포한 조성물을 고화시켜서, 다이본드 시트(10)를 형성한다.In the die-bonding sheet formation step, the resin composition prepared as described above is applied to a release liner, for example. It does not specifically limit as a coating method, For example, general coating methods, such as roll coating, screen coating, and gravure coating, are employ|adopted. Subsequently, the die-bonding sheet 10 is formed by solidifying the applied composition by desolvation treatment, curing treatment, or the like, if necessary.

<다이싱 테이프를 제작하는 공정><Process of manufacturing dicing tape>

다이싱 테이프를 제작하는 공정은,The process of producing a dicing tape,

아크릴계 고분자 화합물을 합성하는 합성 공정과,A synthesis process of synthesizing an acrylic polymer compound;

상술한 아크릴계 고분자 화합물과, 이소시아네이트 화합물과, 중합 개시제와, 용매와, 목적에 따라서 적절히 추가하는 그 밖의 성분을 포함하는 점착제 조성물로부터 용매를 휘발시켜서 점착제층(22)을 제작하는 점착제층 제작 공정과,A pressure-sensitive adhesive layer manufacturing step of preparing the pressure-sensitive adhesive layer 22 by evaporating the solvent from the pressure-sensitive adhesive composition containing the above-mentioned acrylic polymer compound, isocyanate compound, polymerization initiator, solvent, and other components appropriately added according to the purpose; ,

기재층(21)을 제작하는 기재층 제작 공정과,A substrate layer manufacturing process for producing the substrate layer 21;

점착제층(22)과 기재층(21)을 접합함으로써, 기재층(21)과 점착제층(22)을 적층시키는 적층 공정을 구비한다.A lamination step of laminating the base material layer 21 and the pressure-sensitive adhesive layer 22 is provided by bonding the pressure-sensitive adhesive layer 22 and the base layer 21 together.

합성 공정에서는, 예를 들어 탄화수소 부분의 탄소수가 9 이상 11 이하의 C9 내지 C11 알킬(메트)아크릴레이트 모노머와, 수산기 함유 (메트)아크릴 모노머를 라디칼 중합시킴으로써, 아크릴계 고분자 화합물 중간체를 합성한다.In the synthesis step, for example, an acrylic polymer intermediate is synthesized by radically polymerizing a C9 to C11 alkyl (meth)acrylate monomer having 9 or more and 11 or less carbon atoms in the hydrocarbon portion and a (meth)acrylic monomer containing a hydroxyl group.

라디칼 중합은, 일반적인 방법에 의해 행할 수 있다. 예를 들어, 상기의 각 모노머를 용매에 용해시켜서 가열하면서 교반하고, 중합 개시제를 첨가함으로써, 아크릴계 고분자 화합물 중간체를 합성할 수 있다. 아크릴계 고분자 화합물의 분자량을 조정하기 위해서, 연쇄 이동제의 존재 하에서 중합을 행해도 된다.Radical polymerization can be performed by a general method. For example, an acrylic polymer compound intermediate can be synthesized by dissolving each of the above monomers in a solvent, stirring while heating, and adding a polymerization initiator. In order to adjust the molecular weight of the acrylic polymer compound, polymerization may be performed in the presence of a chain transfer agent.

이어서, 아크릴계 고분자 화합물 중간체에 포함되는, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위의 일부의 수산기와, 이소시아네이트기 함유 중합성 모노머의 이소시아네이트기를, 우레탄화 반응에 의해 결합시킨다. 이에 의해, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위 일부가, 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위가 된다.Subsequently, the hydroxyl group of a part of the structural unit of the hydroxyl group-containing (meth)acrylate contained in the intermediate of the acrylic polymer compound and the isocyanate group of the isocyanate group-containing polymerizable monomer are bonded by a urethanization reaction. Thereby, some structural units of the hydroxyl group-containing (meth)acrylate become structural units of the polymerizable group-containing (meth)acrylate.

우레탄화 반응은, 일반적인 방법에 의해 행할 수 있다. 예를 들어, 용매 및 우레탄화 촉매의 존재 하에서, 가열하면서 아크릴계 고분자 화합물 중간체와 이소시아네이트기 함유 중합성 모노머를 교반한다. 이에 의해, 아크릴계 고분자 화합물 중간체의 수산기의 일부에, 이소시아네이트기 함유 중합성 모노머의 이소시아네이트기를 우레탄 결합시킬 수 있다.The urethanization reaction can be performed by a general method. For example, the acrylic high molecular compound intermediate and the isocyanate group-containing polymerizable monomer are stirred while heating in the presence of a solvent and a urethanization catalyst. As a result, the isocyanate group of the isocyanate group-containing polymerizable monomer can be urethane-bonded to a part of the hydroxyl groups of the intermediate of the acrylic polymer compound.

점착제층 제작 공정에서는, 예를 들어 아크릴계 고분자 화합물과, 이소시아네이트 화합물과, 중합 개시제를 용매에 용해시켜서, 점착제 조성물을 조제한다. 용매의 양을 변화시킴으로써, 조성물의 점도를 조정할 수 있다. 이어서, 점착제 조성물을 박리 라이너에 도포한다. 도포 방법으로서는, 예를 들어 롤 도공, 스크린 도공, 그라비아 도공 등의 일반적인 도포 방법이 채용된다. 도포한 조성물에, 탈용매 처리나 고화 처리 등을 실시함으로써, 도포한 점착제 조성물을 고화시켜서, 점착제층(22)을 제작한다.In the pressure-sensitive adhesive layer preparation step, for example, an acrylic polymer compound, an isocyanate compound, and a polymerization initiator are dissolved in a solvent to prepare an adhesive composition. By varying the amount of solvent, the viscosity of the composition can be adjusted. Then, the pressure-sensitive adhesive composition is applied to the release liner. As a coating method, general coating methods, such as roll coating, screen coating, and gravure coating, are employ|adopted, for example. The applied composition is subjected to desolvation treatment or solidification treatment to solidify the applied pressure-sensitive adhesive composition to form the pressure-sensitive adhesive layer 22 .

기재층 제작 공정에서는, 일반적인 방법에 의해 제막하여 기재층을 제작할 수 있다. 제막하는 방법으로서는, 예를 들어 캘린더 제막법, 유기 용매 중에서의 캐스팅법, 밀폐계에서의 인플레이션 압출법, T 다이 압출법, 드라이 라미네이트법 등을 들 수 있다. 공압출 성형법을 채용해도 된다. 또한, 기재층(21)으로서, 시판되고 있는 필름 등을 사용해도 된다.In the substrate layer preparation step, a substrate layer can be produced by forming a film by a general method. Examples of the film forming method include a calender film forming method, a casting method in an organic solvent, an inflation extrusion method in a closed system, a T-die extrusion method, and a dry lamination method. A coextrusion molding method may be employed. In addition, as the substrate layer 21, you may use a commercially available film or the like.

적층 공정에서는, 박리 라이너에 겹친 상태의 점착제층(22)와 기재층(21)을 겹쳐서 적층시킨다. 또한, 박리 라이너는, 사용전까지 점착제층(22)에 겹친 상태여도 된다.In the lamination process, the pressure-sensitive adhesive layer 22 and the substrate layer 21 in a state of overlapping with the release liner are overlapped and laminated. In addition, the peeling liner may be in a state overlapped with the pressure-sensitive adhesive layer 22 until use.

또한, 가교제와 아크릴계 고분자 화합물의 반응을 촉진하기 위해서, 또한, 가교제와 기재층(21)의 표면 부분의 반응을 촉진하기 위해서, 적층 공정 후에, 50℃ 환경 하에서, 48시간의 에이징 처리 공정을 실시해도 된다.In addition, in order to promote the reaction between the crosslinking agent and the acrylic polymer compound, and also to promote the reaction between the crosslinking agent and the surface portion of the base material layer 21, an aging treatment step is performed in a 50°C environment for 48 hours after the lamination step. can also

이들 공정에 의해, 다이싱 테이프(20)를 제조할 수 있다.The dicing tape 20 can be manufactured by these processes.

<다이본드 시트(10)와 다이싱 테이프(20)를 중첩하는 공정><Step of overlapping die-bonding sheet 10 and dicing tape 20>

다이본드 시트(10)와 다이싱 테이프(20)를 중첩하는 공정에서는, 상기와 같이 제조한 다이싱 테이프(20)의 점착제층(22)에 다이본드 시트(10)를 첩부한다.In the step of overlapping the die-bonding sheet 10 and the dicing tape 20, the die-bonding sheet 10 is attached to the pressure-sensitive adhesive layer 22 of the dicing tape 20 manufactured as described above.

이러한 첩부에서는, 다이싱 테이프(20)의 점착제층(22) 및 다이본드 시트(10)로부터 각각 박리 라이너를 박리하고, 다이본드 시트(10)와 점착제층(22)이 직접 접촉하도록, 양자를 접합한다. 예를 들어, 압착함으로써 접합할 수 있다. 접합할 때의 온도는, 특별히 한정되지는 않고, 예를 들어 30℃ 이상 50℃ 이하이고, 바람직하게는 35℃ 이상 45℃ 이하이다. 접합할 때의 선압은, 특별히 한정되지는 않지만, 바람직하게는 0.1kgf/cm 이상 20kgf/cm 이하이고, 보다 바람직하게는 1kgf/cm 이상 10kgf/cm 이하이다.In such pasting, the release liner is separated from the pressure-sensitive adhesive layer 22 of the dicing tape 20 and the die-bonding sheet 10, respectively, and the die-bonding sheet 10 and the pressure-sensitive adhesive layer 22 are brought into direct contact with each other. join For example, it can join by crimping. The temperature at the time of bonding is not particularly limited, and is, for example, 30°C or more and 50°C or less, and preferably 35°C or more and 45°C or less. The linear pressure at the time of bonding is not particularly limited, but is preferably 0.1 kgf/cm or more and 20 kgf/cm or less, and more preferably 1 kgf/cm or more and 10 kgf/cm or less.

또한, 상기의 첩부 전에, 다이싱 테이프(20)의 점착제층(22)에 자외선 등을 조사함으로써, 점착제층(22)을 어느 정도 경화시켜도 된다. 이에 의해, 점착제층(22)의 점착력을 적절하게 저하시켜서, 점착제층(22)의 보존 안정성을 향상시킬 수 있고, 따라서, 반도체 칩을 픽업할 때의 픽업성을 보다 양호하게 할 수 있다.In addition, you may harden the adhesive layer 22 to some extent by irradiating an ultraviolet-ray etc. to the adhesive layer 22 of the dicing tape 20 before said sticking. Thereby, the adhesive force of the adhesive layer 22 can be reduced suitably, the storage stability of the adhesive layer 22 can be improved, and therefore, the pick-up property at the time of picking up a semiconductor chip can be made more favorable.

상술한 공정을 거쳐, 상기와 같이 제조된 다이싱 다이본드 필름(1)은, 예를 들어 반도체 장치(반도체 집적 회로)를 제조하기 위한 보조 용구로서 사용된다. 본 실시 형태의 열경화형 수지 시트는, 반도체 장치의 제조 방법에 있어서, 회로면이 형성된 웨이퍼를 할단한 칩과 피착체 사이에 배치하여, 상기 칩을 상기 피착체에 접착시키기 위한 다이본드 시트로서 사용된다. 이하, 다이싱 다이본드 필름(1)의 사용 구체예에 대하여 설명한다.Through the above steps, the dicing die-bonding film 1 manufactured as described above is used as an auxiliary tool for manufacturing a semiconductor device (semiconductor integrated circuit), for example. The thermosetting resin sheet of the present embodiment is used as a die-bonding sheet for adhering the chip to the adherend in a method of manufacturing a semiconductor device by placing a wafer having a circuit surface formed thereon between a cut chip and an adherend. do. Hereinafter, specific examples of use of the dicing die-bonding film 1 will be described.

<반도체 장치를 제조할 때의 다이싱 다이본드 필름의 사용 방법><How to use dicing die-bonding film when manufacturing semiconductor devices>

반도체 장치를 제조하는 방법은, 일반적으로, 회로면이 형성된 반도체 웨이퍼로부터 칩을 잘라내서 조립을 행하는 공정을 구비한다.A method of manufacturing a semiconductor device generally includes a step of cutting out and assembling a chip from a semiconductor wafer on which a circuit surface is formed.

이 공정은, 예를 들어 백그라인드 테이프를 첩부한 반도체 웨이퍼의 내부에 레이저광에 의해 취약 부분을 형성하고, 반도체 웨이퍼를 할단 처리에 의해 칩(다이)에 가공하는 준비를 행하는 스텔스 다이싱 공정과, 백그라인드 테이프가 첩부된 반도체 웨이퍼를 연삭하여 두께를 얇게 하는 백그라인드 공정과, 두께가 얇아진 반도체 웨이퍼의 일면(예를 들어, 회로면과는 반대측의 면)을 다이본드 시트(10)에 첩부하고, 다이싱 테이프(20)에 반도체 웨이퍼를 고정하는 마운트 공정과, 다이싱 테이프(20)를 잡아 늘림으로써 반도체 웨이퍼를 할단하여 칩(다이)을 제작하고, 칩끼리의 간격을 넓히는 익스팬드 공정과, 다이본드 시트(10)와 점착제층(22) 사이를 박리하여 다이본드 시트(10)가 첩부된 상태에서 반도체 칩(다이)을 꺼내는 픽업 공정과, 반도체 칩(다이)에 첩부된 다이본드 시트(10)를 피착체에 접착시키는 다이본드 공정과, 피착체에 접착한 다이본드 시트(10)를 경화시키는 큐어링 공정과, 반도체 칩(다이)에 있어서의 전자 회로의 전극과 피착체를 와이어에 의해 전기적으로 접속하는 와이어 본딩 공정과, 피착체 상의 반도체 칩(다이) 및 와이어를 열경화성 수지에 의해 밀봉하는 밀봉 공정을 갖는다. 이들의 공정을 실시할 때에, 본 실시 형태의 다이싱 테이프(다이싱 다이본드 필름)가 제조 보조 용구로서 사용된다.This step includes, for example, a stealth dicing step in which a weak portion is formed inside a semiconductor wafer to which a backgrind tape is attached by means of a laser beam, and the semiconductor wafer is prepared to be processed into chips (dies) by a cutting process. , a back-grind step of grinding the semiconductor wafer to which the back-grind tape is attached to reduce the thickness, and attaching one surface of the thinned semiconductor wafer (for example, the surface opposite to the circuit surface) to the die-bonding sheet 10 and a mount process of fixing the semiconductor wafer to the dicing tape 20, and an expand process of cutting the semiconductor wafer by stretching the dicing tape 20 to fabricate chips (dies) and widening the gap between the chips. And, a pick-up step of peeling between the die-bonding sheet 10 and the pressure-sensitive adhesive layer 22 and taking out the semiconductor chip (die) in the state where the die-bonding sheet 10 is attached, and the die bond attached to the semiconductor chip (die) A die-bonding process of adhering the sheet 10 to an adherend, a curing process of curing the die-bonding sheet 10 adhered to the adherend, and an electrode and an adherend of an electronic circuit in a semiconductor chip (die) It has a wire bonding process of electrically connecting with a wire, and a sealing process of sealing the semiconductor chip (die) and wire on an adherend with a thermosetting resin. When performing these processes, the dicing tape (dicing die-bonding film) of this embodiment is used as a manufacturing auxiliary tool.

스텔스 다이싱 공정은, 소위 SDBG(Stealth Dicing Before Grinding) 프로세스에 있어서의 공정이다. 스텔스 다이싱 공정에서는, 도 2a 내지 도 2c에 도시하는 바와 같이, 반도체 장치를 소편(다이)으로 할단하기 위한 취약 부분을 반도체 웨이퍼(W)의 내부에 형성한다. 상세하게는, 반도체 웨이퍼(W)의 회로면에 백그라인드 테이프(G)를 첩부한다(도 2a 참조). 백그라인드 테이프(G)를 첩부한 상태에서, 반도체 웨이퍼(W)가 소정의 두께가 될 때까지 연삭 패드(K)에 의한 연삭 가공(프리 백그라인드 가공)을 실시한다(도 2b 참조). 두께가 얇아진 반도체 웨이퍼(W)에 레이저광을 닿게 함으로써 반도체 웨이퍼(W)의 내부에 취약 부분을 형성한다(도 2c 참조).The stealth dicing process is a process in a so-called SDBG (Stealth Dicing Before Grinding) process. In the stealth dicing process, as shown in FIGS. 2A to 2C , a weak portion for cutting the semiconductor device into small pieces (dies) is formed inside the semiconductor wafer W. In detail, the back grind tape G is affixed to the circuit surface of the semiconductor wafer W (refer to FIG. 2A). With the back grinding tape G attached, grinding processing (pre-back grinding processing) is performed by the grinding pad K until the semiconductor wafer W reaches a predetermined thickness (see FIG. 2B ). A weak portion is formed inside the semiconductor wafer W by making the laser beam hit the semiconductor wafer W having a reduced thickness (see FIG. 2C).

스텔스 다이싱 공정 대신에, 하프컷 공정을 실시해도 된다. 하프컷 공정은, 소위 DBG(Dicing Before Grinding) 프로세스에 있어서의 공정이다.Instead of the stealth dicing process, you may perform a half-cutting process. The half-cut process is a process in a so-called DBG (Dicing Before Grinding) process.

하프컷 공정에서는, 반도체 웨이퍼를 할단 처리에 의해 칩(다이)으로 가공하기 위해 반도체 웨이퍼에 홈을 형성하고 나서 반도체 웨이퍼를 연삭하여 두께를 얇게 한다.In the half-cut process, in order to process the semiconductor wafer into chips (dies) by cutting, grooves are formed in the semiconductor wafer, and then the semiconductor wafer is ground to make it thinner.

구체적으로는, 하프컷 공정에서는, 반도체 장치를 소편(다이)으로 할단하기 위한 하프컷 가공을 실시한다. 보다 구체적으로는, 반도체 웨이퍼의 회로면과는 반대측의 면에, 웨이퍼 가공용 테이프를 첩부한다. 또한, 웨이퍼 가공용 테이프에 다이싱 링을 설치한다. 웨이퍼 가공용 테이프를 첩부한 상태에서, 분할용의 홈을 형성한다. 홈을 형성한 면에 백그라인드 테이프를 첩부하는 한편, 처음에 첩부한 웨이퍼 가공용 테이프를 박리한다.Specifically, in the half-cutting step, half-cutting is performed to cut the semiconductor device into small pieces (dies). More specifically, the tape for a wafer process is affixed to the surface on the opposite side to the circuit surface of a semiconductor wafer. Further, a dicing ring is installed on the tape for wafer processing. In the state where the tape for wafer processing is attached, grooves for division are formed. While a back grind tape is affixed on the surface in which the groove was formed, the tape for a wafer process affixed first is peeled off.

본 실시 형태의 다이본드 시트 및 다이싱 다이본드 필름은, 상기한 바와 같이 반도체 웨이퍼를 할단하여 반도체 칩을 제조하기 위한 SDBG(Stealth Dicing Before Grinding) 프로세스 또는 DBG(Dicing Before Grinding) 프로세스에서 사용되는 것이 바람직하다.As described above, the die-bonding sheet and the dicing die-bonding film of the present embodiment are used in the Stealth Dicing Before Grinding (SDBG) process or the Dicing Before Grinding (DBG) process for manufacturing semiconductor chips by cutting a semiconductor wafer. desirable.

백그라인드 공정에서는, 도 2d에 도시하는 바와 같이, 백그라인드 테이프(G)를 첩부한 상태의 반도체 웨이퍼(W)에 대하여 또한 연삭 가공을 실시하고, 후의 할단에 의해 제작되는 칩(다이)의 두께가 될 때까지 반도체 웨이퍼(W)의 두께를 얇게 한다.In the back grinding process, as shown in FIG. 2D , grinding processing is further performed on the semiconductor wafer W with the back grinding tape G attached, and the thickness of the chip (die) produced by subsequent cutting The thickness of the semiconductor wafer W is thinned until

마운트 공정에서는, 도 3a 내지 도 3b에 도시하는 바와 같이, 반도체 웨이퍼(W)를 다이싱 테이프(20)에 고정한다. 상세하게는, 다이싱 테이프(20)의 점착제층(22)에 다이싱 링(R)을 설치하면서, 노출한 다이본드 시트(10)의 면에, 상기와 같이 절삭 가공에 의해 두께가 얇아진 반도체 웨이퍼(W)를 첩부한다(도 3a 참조). 계속해서, 반도체 웨이퍼(W)로부터 백그라인드 테이프(G)를 박리한다(도 3b 참조).In the mounting process, the semiconductor wafer W is fixed to the dicing tape 20 as shown in FIGS. 3A to 3B . In detail, while providing the dicing ring R on the pressure-sensitive adhesive layer 22 of the dicing tape 20, on the surface of the exposed die-bonding sheet 10, a semiconductor whose thickness has been reduced by cutting as described above A wafer W is attached (see FIG. 3A). Then, the back grind tape G is peeled from the semiconductor wafer W (refer to FIG. 3B).

익스팬드 공정에서는, 도 4a 내지 도 4c에 도시하는 바와 같이, 할단에 의해 제작된 반도체 칩(다이)(X)끼리의 간격을 넓힌다. 상세하게는, 다이싱 테이프(20)의 점착제층(22)에 다이싱 링(R)을 설치한 후, 익스팬드 장치의 유지구(H)에 고정한다(도 4a 참조). 익스팬드 장치가 구비하는 밀어올림 부재(U)를, 다이싱 다이본드 필름(1)의 하측으로부터 밀어올림으로써, 다이싱 다이본드 필름(1)을 면 방향으로 확장하도록 확대한다(도 4b 참조). 이에 의해, 특정한 온도 조건에 있어서 반도체 웨이퍼(W) 및 다이본드 시트(10)를 할단한다. 상기 온도 조건은, 예를 들어 -20℃ 이상 0℃ 이하이고, 바람직하게는 -15℃ 이상 0℃ 이하, 보다 바람직하게는 -10℃ 이상 -5℃ 이하이다. 밀어올림 부재(U)를 하강시킴으로써, 익스팬드 상태를 해제한다(도 4c 참조 여기까지 저온 익스팬드 공정).In the expand step, as shown in Figs. 4A to 4C, the space between semiconductor chips (dies) X manufactured by cutting is widened. In detail, after attaching the dicing ring R to the pressure-sensitive adhesive layer 22 of the dicing tape 20, it is fixed to the holder H of the expander (see Fig. 4A). The dicing die-bonding film 1 is expanded so as to expand in the plane direction by pushing up the pushing member U provided in the expander from the lower side of the dicing die-bonding film 1 (see Fig. 4B). . In this way, the semiconductor wafer W and the die-bonding sheet 10 are cut under a specific temperature condition. The temperature conditions are, for example, -20°C or more and 0°C or less, preferably -15°C or more and 0°C or less, and more preferably -10°C or more and -5°C or less. By lowering the lifting member U, the expand state is released (refer to FIG. 4C up to this low-temperature expand step).

또한, 익스팬드 공정에서는, 도 5a 내지 도 5b에 도시하는 바와 같이, 보다 높은 온도 조건 하(예를 들어 10℃ 내지 25℃)에 있어서, 면적을 넓히도록 다이싱 테이프(20)을 잡아 늘린다. 이에 의해, 할단 후에 인접하는 반도체 칩(X)을 필름면의 면 방향으로 분리하여, 카프(간격)을 더 확장한다(상온 익스팬드 공정).In addition, in the expand process, as shown in FIGS. 5A and 5B, the dicing tape 20 is stretched to expand the area under higher temperature conditions (for example, 10°C to 25°C). Thereby, after cutting, the adjacent semiconductor chips X are separated in the plane direction of the film plane, and the caph (interval) is further expanded (room temperature expand step).

픽업 공정에서는, 도 6에 도시하는 바와 같이, 다이본드 시트의 소편(10')이 첩부된 상태의 반도체 칩(X)을 다이싱 테이프(20)의 점착제층(22)으로부터 박리한다. 상세하게는, 핀 부재(P)를 상승시켜서, 픽업 대상의 반도체 칩(X)을, 다이싱 테이프(20)를 통해 밀어올린다. 밀어올려진 반도체 칩(X) 및 다이본드 시트의 소편(10')을 흡착 지그(J)에 의해 보유 지지한다.In the pick-up step, as shown in FIG. 6 , the semiconductor chip X to which the piece 10' of the die-bonding sheet is attached is peeled from the pressure-sensitive adhesive layer 22 of the dicing tape 20 . In detail, the pin member P is raised, and the semiconductor chip X to be picked up is pushed up through the dicing tape 20 . The pushed-up semiconductor chip X and the small piece 10' of the die-bonding sheet are held by a suction jig J.

다이본드 공정에서는, 도 7에 도시하는 바와 같이, 다이본드 시트의 소편(10')이 첩부된 상태의 반도체 칩(X)을 피착체(Z)에 접착시킨다. 다이본드 공정에서는, 예를 들어 도 9에 도시하는 바와 같이, 다이본드 시트의 소편(10')이 첩부된 상태의 반도체 칩(X)을 복수회 적층해 가는 경우가 있다. 이와 같이, 칩 매립형의 반도체 장치(FOD[Film on Die]형 반도체 장치)를 제조할 때에, 반도체 칩을 매립하기 위하여 다이본드 시트(10)가 사용되어도 된다.In the die-bonding step, as shown in Fig. 7, the semiconductor chip X with the piece 10' of the die-bonding sheet attached thereto is bonded to the adherend Z. In the die-bonding step, for example, as shown in FIG. 9 , semiconductor chips X in a state where small pieces 10' of die-bonding sheets are attached may be stacked multiple times. In this way, when manufacturing a chip-embedded semiconductor device (FOD [Film on Die] type semiconductor device), the die-bonding sheet 10 may be used to embed the semiconductor chip.

이 경우, 반도체 칩을 매립하기 위하여 사용되는 다이본드 시트의 소편(10')은, 요철이 있는 피착체 표면에 접착되게 된다. 요철 표면에 다이본드 시트의 소편(10')을 접착시킨 때에, 오목부를 매립하도록 다이본드 시트의 소편(10')이 변형될 필요가 있다. 즉, 다이본드 시트의 소편(10')이 요철 형상에 추종할 필요가 있다. 이 추종성이 낮으면, 예를 들어 도 8에 도시하는 바와 같이 공극(간극)(V)이 생길 수 있다.In this case, the piece 10' of the die-bonding sheet used to embed the semiconductor chip is adhered to the surface of the adherend with irregularities. When the small piece 10' of the die-bonding sheet is adhered to the uneven surface, the small piece 10' of the die-bonding sheet needs to be deformed to fill the concave portion. That is, the small piece 10' of the die-bonding sheet needs to follow the concavo-convex shape. If this followability is low, a void (gap) V may be formed, for example, as shown in FIG. 8 .

본 실시 형태의 다이본드 시트(10)는, 상술한 매립성이 양호한 점에서, 이러한 간극(V)의 발생을 억제할 수 있다.Since the die-bonding sheet 10 of the present embodiment has the above-described good embeddability, it is possible to suppress the occurrence of such gaps V.

큐어링 공정에서는, 다이본드 시트의 소편(10')에 포함되는 상술한 가교성 아크릴 폴리머에 있어서의 가교성기(예를 들어 에폭시기)의 반응 활성을 높여서 다이본드 시트의 소편(10')의 경화를 진행시키기 위해서, 예를 들어 80℃ 이상 175℃ 이하의 온도에서 가열 처리를 행한다.In the curing step, the reaction activity of the crosslinkable group (for example, epoxy group) in the crosslinkable acrylic polymer described above contained in the small piece 10' of the die-bonding sheet is increased to cure the small piece 10' of the die-bonding sheet. In order to advance, heat treatment is performed at a temperature of, for example, 80°C or higher and 175°C or lower.

와이어 본딩 공정에서는, 도 9에 도시하는 바와 같이, 반도체 칩(X)(다이)과 피착체(Z)를 가열하면서, 와이어(L)에서 접속한다. 따라서, 다이본드 시트의 소편(10')에 포함되는 상술한 가교성 아크릴 폴리머에 있어서의 가교성기가, 가열에 의해 다시 반응 활성을 갖게 되고, 다이본드 시트의 소편(10')의 경화 반응이 진행될 수 있다.In the wire bonding step, as shown in FIG. 9 , the semiconductor chip X (die) and the adherend Z are connected with a wire L while being heated. Therefore, the crosslinkable groups in the above-described crosslinkable acrylic polymer contained in the small piece 10' of the die-bonding sheet become reactive again by heating, and the curing reaction of the small piece 10' of the die-bonding sheet begins. can proceed

또한, 와이어 본딩 공정에서는, 다이본드 시트(10)에 대하여 두께 방향으로 압축력을 가하는 경우가 있다.Also, in the wire bonding process, a compressive force may be applied to the die-bonding sheet 10 in the thickness direction in some cases.

밀봉 공정에서는, 도 10에 도시하는 바와 같이, 에폭시 수지 등의 열경화성 수지(M)에 의해 반도체 칩(X)(다이)과 다이본드 시트의 소편(10')을 밀봉한다. 밀봉 공정에서는, 열경화성 수지(M)의 경화 반응을 진행시키기 위해서, 예를 들어 150℃ 이상 200℃ 이하의 온도에서 가열 처리를 행한다.In the sealing step, as shown in Fig. 10, the semiconductor chip X (die) and the piece 10' of the die-bonding sheet are sealed with a thermosetting resin M such as an epoxy resin. In the sealing step, in order to advance the curing reaction of the thermosetting resin (M), heat treatment is performed at a temperature of, for example, 150°C or more and 200°C or less.

또한, 근년의 반도체 산업에 있어서는, 집적화 기술이 새로운 진전에 수반하여, 보다 얇은 반도체 칩(예를 들어 20㎛ 이상 50㎛ 이하의 두께) 및 보다 얇은 다이본드 시트(예를 들어 1㎛ 이상 40㎛ 이하, 바람직하게는 7㎛ 이하, 보다 바람직하게는 5㎛ 이하의 두께)가 요망되고 있다. 또한, 보다 얇은 피착체도 요망되고 있다.Further, in the semiconductor industry in recent years, with the new development of integration technology, thinner semiconductor chips (for example, 20 μm or more and 50 μm or less) and thinner die-bonding sheets (for example, 1 μm or more and 40 μm or less) or less, preferably 7 μm or less, more preferably 5 μm or less) is desired. In addition, thinner adherends are also desired.

이러한 얇은 반도체 칩의 한쪽의 표면에는, 전자 회로가 형성되어 있다. 얇은 반도체 칩의 한쪽 면에 전자 회로가 형성되어 있으면, 반도체 칩이 내부 응력에 끝까지 견디지 못하고, 도 11에 도시하는 바와 같이, 조금 변형(휨 등)하고, 이 변형에 따라 다이본드 시트의 소편(10")에도 변형(휨 등)이 발생할 수 있다.An electronic circuit is formed on one surface of such a thin semiconductor chip. When an electronic circuit is formed on one side of a thin semiconductor chip, the semiconductor chip cannot withstand the internal stress to the end, and as shown in FIG. 10"), deformation (bending, etc.) may occur.

이러한 반도체 칩에 다이본드 시트가 첩부된 상태에서, 상기와 같이 복수회에 걸쳐 적층을 행하면, 다이본드 시트와 칩(다이)의 첩부 불량에 의해, 소위 들뜸이 발생해 버리는 경우가 있다.If lamination is performed multiple times as described above in a state where the die-bonding sheet is attached to such a semiconductor chip, so-called lifting may occur due to poor adhesion of the die-bonding sheet and the chip (die).

또한, 상술한 바와 같이, 열경화 처리에 수반하는 다이본드 시트의 내부 응력에 의해서도 다이본드 시트에 휨이 발생할 수 있다. 그 때문에, 다이본드 시트와 접착한 피착체 및 반도체 칩이 얇을수록, 피착체 및 반도체 칩에도 휨이 발생하기 쉬워진다.In addition, as described above, warpage may occur in the die-bonding sheet also due to internal stress of the die-bonding sheet accompanying the thermal curing treatment. Therefore, the thinner the adherend and the semiconductor chip bonded to the die-bonding sheet are, the easier it is for warpage to occur in the adherend and the semiconductor chip as well.

본 실시 형태의 다이본드 시트(10)는, 특정한 물성을 갖기 때문에, 상기와 같은 들뜸을 억제할 수 있고, 또한, 피착체 및 반도체 칩이 휘는 현상을 억제할 수 있다.Since the die-bonding sheet 10 of the present embodiment has specific physical properties, it is possible to suppress the lifting as described above, and also to suppress the phenomenon of bending of adherends and semiconductor chips.

본 실시 형태의 열경화형 수지 시트(다이본드 시트), 다이싱 다이본드 필름은 상기 예시 대로이지만, 본 발명은 상기 예시의 다이본드 시트, 다이싱 다이본드 필름에 한정되는 것은 아니다.The thermosetting resin sheet (die-bonding sheet) and dicing die-bonding film of this embodiment are as described above, but the present invention is not limited to the die-bonding sheet and dicing die-bonding film of the above example.

즉, 일반적인 다이본드 시트, 다이싱 다이본드 필름에 있어서 사용되는 여러가지 형태가, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위에 있어서, 채용될 수 있다.That is, various forms used in general die-bonding sheets and dicing die-bonding films can be employed within a range that does not impair the effects of the present invention.

본 명세서에 의해 개시되는 사항은, 이하의 것을 포함한다.Matters disclosed by this specification include the following.

(1)(One)

열경화 처리에 의해 가교 반응을 일으키는 가교성기를 분자 중에 갖는 가교성 아크릴 폴리머를 포함하고,A crosslinkable acrylic polymer having a crosslinkable group in its molecule that causes a crosslinking reaction by heat curing treatment,

열경화 처리 전에 있어서의 140℃에서의 전단 손실 탄성률 G"이 1kPa 이상 20kPa 이하이고, 또한, 150℃에서 1시간의 열경화 처리 후에 있어서의 150℃에서의 인장 탄성률이 0.5MPa 이상 7.0MPa 이하인, 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The shear loss modulus G" at 140 ° C. before the thermal curing treatment is 1 kPa or more and 20 kPa or less, and the tensile modulus at 150 ° C. after the thermal curing treatment for 1 hour at 150 ° C. is 0.5 MPa or more and 7.0 MPa or less. Die-bonding sheet (thermosetting resin sheet).

(2)(2)

상기 다이본드 시트에 포함되는 유기 성분 100질량부에 대한 상기 가교성 아크릴 폴리머의 함유 비율이, 50질량부 이상 100질량부 이하인, 상기 (1)에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The die-bonding sheet (thermosetting resin sheet) according to (1) above, wherein the content ratio of the crosslinkable acrylic polymer to 100 parts by mass of the organic component contained in the die-bonding sheet is 50 parts by mass or more and 100 parts by mass or less.

(3)(3)

150℃에서 1시간의 열경화 처리 후에 있어서의 유리 전이점 Tg가 20℃ 이상 100℃ 이하이고, 상기 유리 전이점 Tg에 있어서의 Tanδ가 0.7 이상 1.5 이하인, 상기 (1) 또는 (2)에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The glass transition point Tg after a thermal curing treatment at 150°C for 1 hour is 20°C or more and 100°C or less, and the Tan δ at the glass transition point Tg is 0.7 or more and 1.5 or less as described in (1) or (2) above. Die-bonding sheet (thermosetting resin sheet).

(4)(4)

상기 가교성기가 에폭시기를 포함하고,The crosslinkable group includes an epoxy group,

상기 가교성 아크릴 폴리머는, 상기 에폭시기를 갖는 글리시딜(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 분자 중에 갖고,The crosslinkable acrylic polymer has a structural unit of glycidyl (meth)acrylate having an epoxy group in a molecule,

상기 가교성 아크릴 폴리머에 있어서의 상기 구성 단위의 함유율이, 5질량% 이상 50질량% 이하인, 상기 (1) 내지 (3)의 어느 것에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The die-bonding sheet (thermosetting resin sheet) according to any one of (1) to (3) above, wherein the content of the structural unit in the crosslinkable acrylic polymer is 5% by mass or more and 50% by mass or less.

(5)(5)

무기 필러로서의 실리카 필러의 함유율이 40질량% 이하이고,The content of the silica filler as an inorganic filler is 40% by mass or less,

상기 실리카 필러의 비표면적이 35㎡/g 이상 400㎡/g 이하인, 상기 (1) 내지 (4)의 어느 것에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The die-bonding sheet (thermosetting resin sheet) according to any one of (1) to (4) above, wherein the silica filler has a specific surface area of 35 m 2 /g or more and 400 m 2 /g or less.

(6)(6)

상기 열경화 처리에 의해 상기 가교성기와 가교 반응하는 페놀 수지를 포함하고,A phenolic resin that crosslinks with the crosslinkable group by the heat curing treatment,

상기 페놀 수지의 수산기 당량이 160 이상인, 상기 (1) 내지 (5)의 어느 것에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The die-bonding sheet (heat-curable resin sheet) according to any one of (1) to (5) above, wherein the hydroxyl equivalent of the phenol resin is 160 or more.

(7)(7)

1종 또는 복수종의 가교성 아크릴 폴리머를 포함하고, 적어도 1종의 가교성 아크릴 폴리머의 질량 평균 분자량이 1만 이상 40만 이하인, 상기 (1) 내지 (6)의 어느 것에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The die-bonding sheet according to any one of (1) to (6) above, containing one or more crosslinkable acrylic polymers, and having a mass average molecular weight of at least one crosslinkable acrylic polymer of 10,000 or more and 400,000 or less ( thermosetting resin sheet).

(8)(8)

다이싱 테이프와 접합되어서 사용되는, 상기 (1) 내지 (7)의 어느 것에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The die-bonding sheet (thermosetting resin sheet) according to any one of (1) to (7) above, which is used by bonding with a dicing tape.

(9)(9)

0℃에서의 파단 신도가 50% 이하인, 상기 (1) 내지 (8)의 어느 것에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The die-bonding sheet (thermosetting resin sheet) according to any one of (1) to (8) above, wherein the elongation at break at 0°C is 50% or less.

(10)(10)

반도체 웨이퍼를 할단하여 반도체 칩을 제조하기 위한 SDBG(Stealth Dicing Before Grinding) 프로세스 또는 DBG(Dicing Before Grinding) 프로세스에서 사용되는, 상기 (1) 내지 (9) 중 어느 것에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The die-bonding sheet according to any one of (1) to (9) above (thermosetting resin Sheet).

(11)(11)

에폭시기 함유 아크릴 폴리머 및 이소시아네이트기 함유 아크릴 폴리머 중 적어도 한쪽을 상기 가교성 아크릴 폴리머로서 포함하는, 상기 (1) 내지 (10)의 어느 것에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The die-bonding sheet (thermosetting resin sheet) according to any one of (1) to (10) above, comprising at least one of an epoxy group-containing acrylic polymer and an isocyanate group-containing acrylic polymer as the crosslinkable acrylic polymer.

(12)(12)

열경화 수지로서의 페놀 수지 및 무기 필러로서의 실리카 필러 중 적어도 한쪽을 더 포함하는, 상기 (11)에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).The die-bonding sheet (thermosetting resin sheet) according to (11) above, further comprising at least one of a phenol resin as a thermosetting resin and a silica filler as an inorganic filler.

(13)(13)

에폭시기 함유 아크릴 폴리머 및 이소시아네이트기 함유 아크릴 폴리머 중 적어도 한쪽과, 히드록시기 함유 아크릴 폴리머 및 카르복시기 함유 아크릴 폴리머 중 적어도 한쪽을, 상기 가교성 아크릴 폴리머로서 포함하는, 상기 (1) 내지 (11)의 어느 것에 기재된 다이본드 시트(열경화형 수지 시트).Any one of (1) to (11) above, comprising at least one of an epoxy group-containing acrylic polymer and an isocyanate group-containing acrylic polymer and at least one of a hydroxyl group-containing acrylic polymer and a carboxyl group-containing acrylic polymer as the crosslinkable acrylic polymer. Die-bonding sheet (thermosetting resin sheet).

(14)(14)

상기 (1) 내지 (13)의 어느 것에 기재된 다이본드 시트와, 해당 다이본드 시트에 접합된 다이싱 테이프를 구비하는, 다이싱 다이본드 필름.A dicing die-bonding film comprising the die-bonding sheet according to any one of (1) to (13) above and a dicing tape bonded to the die-bonding sheet.

[실시예][Example]

이어서, 실험예에 의해 본 발명을 더욱 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들에 한정되지는 않는다.Next, the present invention will be explained in more detail by means of experimental examples, but the present invention is not limited thereto.

이하와 같이 하여, 다이본드 시트를 제조하였다. 또한, 이 다이본드 시트를 다이싱 테이프와 접합하여, 다이싱 다이본드 필름을 제조하였다.A die-bonding sheet was manufactured as follows. Further, this die-bonding sheet was bonded to a dicing tape to prepare a dicing die-bonding film.

<다이싱 테이프의 제작><Production of dicing tape>

냉각관, 질소 도입관, 온도계 및 교반 장치를 구비한 반응 용기에, 하기의 각 원료를 넣었다. 질소 기류 중에서 60℃에서 10시간 중합을 행하고, 아크릴계 고분자 화합물 A를 얻었다.Each of the following raw materials was placed in a reaction vessel equipped with a cooling tube, a nitrogen inlet tube, a thermometer, and a stirring device. Polymerization was performed at 60°C for 10 hours in a nitrogen atmosphere to obtain an acrylic polymer compound A.

·2-에틸헥실아크릴레이트(2EHA): 100질량부,2-ethylhexyl acrylate (2EHA): 100 parts by mass;

·2-히드록시에틸아크릴레이트(HEA): 26질량부,2-hydroxyethyl acrylate (HEA): 26 parts by mass;

·과산화 벤조일: 0.4질량부,Benzoyl peroxide: 0.4 parts by mass,

·톨루엔: 80질량부,Toluene: 80 parts by mass,

상기와 같이 중합하여 얻은 아크릴계 고분자 화합물 A를 포함하는 액에, 2-메타크릴로일옥시에틸이소시아네이트(이하, MOI라고도 함) 1.2질량부를 첨가하였다. 그 후, 공기 기류 중에서 50℃에서 60시간, 부가 반응 처리를 하고, 아크릴계 고분자 화합물 A'을 얻었다.1.2 parts by mass of 2-methacryloyloxyethyl isocyanate (hereinafter also referred to as MOI) was added to the liquid containing the acrylic polymer compound A obtained by polymerization as described above. Thereafter, an addition reaction treatment was performed at 50°C for 60 hours in an air current to obtain an acrylic polymer compound A'.

이어서, 아크릴계 고분자 화합물 A' 100부에 대하여, 하기의 배합 성분을 첨가하여, 점착제 용액을 조제하였다.Next, an adhesive solution was prepared by adding the following ingredients to 100 parts of the acrylic polymer compound A'.

·폴리이소시아네이트 화합물: 1.6질량부・Polyisocyanate compound: 1.6 parts by mass

(제품명 「코로네이트 L」, 닛본 폴리우레탄사제)(Product name "Coronate L", manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd.)

·광중합 개시제: 3질량부・Photoinitiator: 3 parts by mass

(제품명 「이르가큐어 184」, 치바·스페셜티·케미컬즈사제)(Product name "Irgacure 184", manufactured by Chiba Specialty Chemicals)

상기와 같이 조제한 점착제 용액을, 실리콘 처리를 실시한 PET 박리 라이너의 처리면 상에 도포하고, 120℃에서 2분간 가열 건조하여, 두께 10㎛의 점착제층을 형성하였다.The pressure-sensitive adhesive solution prepared as described above was applied onto the treated surface of a PET release liner treated with silicone, and heated and dried at 120° C. for 2 minutes to form a pressure-sensitive adhesive layer having a thickness of 10 μm.

계속해서, 점착제층면과, 기재층(EVA 필름(115㎛ 두께) 군제사제)을 접합하여, 23℃에서 72시간 보존하고, 다이싱 테이프를 제조하였다.Subsequently, the pressure-sensitive adhesive layer surface and the base material layer (EVA film (115 μm thickness) manufactured by Gunze Co., Ltd.) were bonded together, and stored at 23° C. for 72 hours to prepare a dicing tape.

<다이본드 시트(열경화형 수지 시트)의 제작><Production of die-bonding sheet (thermosetting resin sheet)>

(실시예 1)(Example 1)

에폭시기 함유 아크릴 폴리머(질량 평균 분자량 Mw=13만)를 하기의 모노머 조성으로 중합하였다.An epoxy group-containing acrylic polymer (mass average molecular weight Mw = 130,000) was polymerized with the following monomer composition.

·글리시딜메타크릴레이트(GMA): 32질량%Glycidyl methacrylate (GMA): 32% by mass

·에틸아크릴레이트(EA): 32질량%Ethyl acrylate (EA): 32% by mass

·부틸메타크릴레이트(BMA): 36질량%- Butyl methacrylate (BMA): 36% by mass

상기 조성에서 중합한 에폭시기 함유 아크릴 폴리머 100질량부에 대하여,With respect to 100 parts by mass of the epoxy group-containing acrylic polymer polymerized in the above composition,

·페놀 수지: 11질량부(수산기 당량 203[g/eq])Phenol resin: 11 parts by mass (hydroxyl equivalent 203 [g/eq])

(제품명 「MEHC-7851H」 메이와 가세이사제 비페닐아르알킬형 수지 페놀 수지),(Product name "MEHC-7851H" biphenyl aralkyl type resin phenolic resin manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd.),

·실리카 필러: 23질량부(비표면적 200[㎡/g])・Silica filler: 23 parts by mass (specific surface area 200 [m 2 / g])

(제품명 「MEK-ST-40」 닛산 가가꾸제)(Product name "MEK-ST-40" manufactured by Nissan Kagaku)

및 메틸에틸케톤을 혼합하여, 고형분 농도가 20질량%로 되도록 접착제 조성물 용액을 조제하였다.And methyl ethyl ketone was mixed, and the adhesive composition solution was prepared so that solid content concentration might become 20 mass %.

조제한 접착제 조성물 용액을, 박리 라이너(세퍼레이터)로서 실리콘 이형 처리한 두께가 50㎛의 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름으로 이루어지는 이형 처리 필름 상에 도포하였다. 그 후, 130℃에서 2분간 건조 처리함으로써, 두께(평균 두께) 20㎛의 다이본드 시트를 제작하였다.The prepared adhesive composition solution was applied as a release liner (separator) onto a release treatment film made of a polyethylene terephthalate film having a thickness of 50 μm subjected to silicone release treatment. Thereafter, a die-bonding sheet having a thickness (average thickness) of 20 μm was produced by performing a drying treatment at 130° C. for 2 minutes.

(실시예 2)(Example 2)

에폭시기 함유 아크릴 폴리머(질량 평균 분자량 Mw=4만)를 하기의 모노머 조성으로 중합하였다.An epoxy group-containing acrylic polymer (mass average molecular weight Mw = 40,000) was polymerized with the following monomer composition.

·글리시딜메타크릴레이트(GMA): 40질량%Glycidyl methacrylate (GMA): 40% by mass

·에틸아크릴레이트(EA): 28질량%Ethyl acrylate (EA): 28% by mass

·부틸메타크릴레이트(BMA): 32질량%- Butyl methacrylate (BMA): 32% by mass

상기 조성으로 중합한 에폭시기 함유 아크릴 폴리머 100질량부에 대하여,With respect to 100 parts by mass of the epoxy group-containing acrylic polymer polymerized with the above composition,

·실리카 필러: 42질량부(비표면적 200[㎡/g])・Silica filler: 42 parts by mass (specific surface area 200 [m 2 / g])

(제품명 「MEK-ST-40」 닛산 가가꾸사제)(Product name "MEK-ST-40" manufactured by Nissan Chemical Industries)

및 메틸에틸케톤을 혼합하여, 고형분 농도가 20질량%가 되도록 접착제 조성물 용액을 조제하였다.And methyl ethyl ketone was mixed, and the adhesive composition solution was prepared so that solid content concentration might become 20 mass %.

또한, 상기의 방법과 마찬가지의 방법에 의해, 접착제 조성물 용액으로부터 두께(평균 두께) 20㎛의 다이본드 시트를 제작하였다.Further, a die-bonding sheet having a thickness (average thickness) of 20 µm was produced from the adhesive composition solution by the same method as the above method.

(실시예 3)(Example 3)

에폭시기 함유 아크릴 폴리머(질량 평균 분자량 Mw=32만)를 하기의 모노머 조성으로 중합하였다.An epoxy group-containing acrylic polymer (mass average molecular weight Mw = 320,000) was polymerized with the following monomer composition.

·글리시딜메타크릴레이트(GMA): 7질량%Glycidyl methacrylate (GMA): 7% by mass

·에틸아크릴레이트(EA): 48질량%Ethyl acrylate (EA): 48% by mass

·부틸메타크릴레이트(BMA): 45질량%- Butyl methacrylate (BMA): 45% by mass

상기 조성으로 중합한 에폭시기 함유 아크릴 폴리머 100질량부에 대하여,With respect to 100 parts by mass of the epoxy group-containing acrylic polymer polymerized with the above composition,

·페놀 수지: 55질량부(수산기 당량 173[g/eq])Phenol resin: 55 parts by mass (hydroxyl equivalent 173 [g/eq])

(제품명 「MEHC-7800H」 메이와 가세이사제 페놀크실릴렌 수지)(Product name "MEHC-7800H" manufactured by Maywa Kasei Co., Ltd. Phenolxylylene resin)

·실리카 필러: 42질량부(비표면적 60[㎡/g])・Silica filler: 42 parts by mass (specific surface area 60 [m 2 / g])

(제품명 「MEK-AC-4130Y」 닛산 가가꾸사제)(Product name "MEK-AC-4130Y" manufactured by Nissan Chemical Industries)

및 메틸에틸케톤을 혼합하여, 고형분 농도가 20질량%가 되도록 접착제 조성물 용액을 조제하였다.And methyl ethyl ketone was mixed, and the adhesive composition solution was prepared so that solid content concentration might become 20 mass %.

또한, 상기의 방법과 마찬가지의 방법에 의해, 접착제 조성물 용액으로부터 두께(평균 두께) 20㎛의 다이본드 시트를 제작하였다.Further, a die-bonding sheet having a thickness (average thickness) of 20 µm was produced from the adhesive composition solution by the same method as the above method.

(실시예 4)(Example 4)

에폭시기 함유 아크릴 폴리머(질량 평균 분자량 Mw=32만)를 하기의 모노머 조성으로 중합하였다.An epoxy group-containing acrylic polymer (mass average molecular weight Mw = 320,000) was polymerized with the following monomer composition.

·글리시딜메타크릴레이트(GMA): 7질량%Glycidyl methacrylate (GMA): 7% by mass

·에틸아크릴레이트(EA): 48질량%Ethyl acrylate (EA): 48% by mass

·부틸메타크릴레이트(BMA): 45질량%- Butyl methacrylate (BMA): 45% by mass

별도, 카르복시기 함유 아크릴 폴리머(질량 평균 분자량 Mw=3만)를 하기의 모노머 조성으로 중합하였다.Separately, a carboxy group-containing acrylic polymer (mass average molecular weight Mw = 30,000) was polymerized with the following monomer composition.

·아크릴산(AA): 1질량%・Acrylic acid (AA): 1% by mass

·부틸아크릴레이트(BA): 32질량%- Butyl acrylate (BA): 32% by mass

·에틸아크릴레이트(EA): 23질량%Ethyl acrylate (EA): 23% by mass

·메틸메타크릴레이트(MMA): 44질량%・Methyl methacrylate (MMA): 44% by mass

상기 조성으로 중합한 에폭시기 함유 아크릴 폴리머 100질량부에 대하여,With respect to 100 parts by mass of the epoxy group-containing acrylic polymer polymerized with the above composition,

·상기 조성으로 중합한 카르복시기 함유 아크릴 폴리머: 64질량부,Carboxy group-containing acrylic polymer polymerized with the above composition: 64 parts by mass,

및 메틸에틸케톤을 혼합하여, 고형분 농도가 20질량%가 되도록 접착제 조성물 용액을 조제하였다.And methyl ethyl ketone was mixed, and the adhesive composition solution was prepared so that solid content concentration might become 20 mass %.

또한, 상기의 방법과 마찬가지의 방법에 의해, 접착제 조성물 용액으로부터 두께(평균 두께) 20㎛의 다이본드 시트를 제작하였다.Further, a die-bonding sheet having a thickness (average thickness) of 20 µm was produced from the adhesive composition solution by the same method as the above method.

(비교예 1)(Comparative Example 1)

·아크릴 수지: 100질량부(OH기 함유, 질량 평균 분자량 Mw=45만)・Acrylic resin: 100 parts by mass (containing OH group, mass average molecular weight Mw = 450,000)

(제품명 「W248」 네가미 고교사제)(Product name "W248" made by Negami Kogyo)

·페놀 수지: 77질량부(수산기 당량 105[g/eq])Phenolic resin: 77 parts by mass (hydroxyl equivalent 105 [g/eq])

(제품명 「MEHC-7500」 메이와 가세이사제)(Product name "MEHC-7500" manufactured by Maywa Kasei Co., Ltd.)

·에폭시 수지: 83질량부・Epoxy resin: 83 parts by mass

(제품명 「EPPN501HY」 닛본 가야쿠사제)(Product name "EPPN501HY" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)

·실리카 필러: 222질량부(고형분 환산)(비표면적 34[㎡/g])・Silica filler: 222 parts by mass (converted to solid content) (specific surface area 34 [m 2 / g])

(제품명 「MEK-AC-5140Z」 닛산 가가꾸사제)(Product name "MEK-AC-5140Z" manufactured by Nissan Chemical Industries)

를 메틸에틸케톤과 혼합하여, 고형분 농도가 20질량%가 되도록 접착제 조성물 용액을 조제하였다.was mixed with methyl ethyl ketone to prepare an adhesive composition solution so that the solid concentration was 20% by mass.

또한, 상기의 방법과 마찬가지의 방법에 의해, 접착제 조성물 용액으로부터 두께(평균 두께) 20㎛의 다이본드 시트를 제작하였다.Further, a die-bonding sheet having a thickness (average thickness) of 20 µm was produced from the adhesive composition solution by the same method as the above method.

(비교예 2)(Comparative Example 2)

·아크릴 수지: 100질량부(OH기 함유, 질량 평균 분자량 Mw=45만)・Acrylic resin: 100 parts by mass (containing OH group, mass average molecular weight Mw = 450,000)

(제품명 「W248」 네가미 고교사제)(Product name "W248" made by Negami Kogyo)

·페놀 수지: 279질량부(수산기 당량 105[g/eq])Phenol resin: 279 parts by mass (hydroxyl equivalent 105 [g/eq])

(제품명 「MEHC-7500」 메이와 가세이사제)(Product name "MEHC-7500" manufactured by Maywa Kasei Co., Ltd.)

·에폭시 수지: 287질량부・Epoxy resin: 287 parts by mass

(제품명 「EPPN501HY」 닛본 가야쿠사제)(Product name "EPPN501HY" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)

·실리카 필러: 470질량부(고형분 환산)(비표면적 5[㎡/g])・Silica filler: 470 parts by mass (converted to solid content) (specific surface area 5 [m 2 / g])

(제품명 「SO-25R」 애드마텍스제),(product name "SO-25R" made by Admatex),

를 메틸에틸케톤과 혼합하여, 고형분 농도가 20질량%가 되도록 접착제 조성물 용액을 조제하였다.was mixed with methyl ethyl ketone to prepare an adhesive composition solution so that the solid concentration was 20% by mass.

또한, 상기의 방법과 마찬가지의 방법에 의해, 접착제 조성물 용액으로부터 두께(평균 두께) 20㎛의 다이본드 시트를 제작하였다.Further, a die-bonding sheet having a thickness (average thickness) of 20 µm was produced from the adhesive composition solution by the same method as the above method.

<다이싱 다이본드 필름의 제조><Manufacture of dicing die-bonding film>

다이싱 테이프의 점착제층 상에, 각 실시예 및 각 비교예의 다이본드 시트를, 핸드 롤러를 사용하여 접합함으로써, 다이싱 다이본드 필름을 제조하였다.A dicing die-bonding film was produced by bonding the die-bonding sheets of each example and each comparative example onto the pressure-sensitive adhesive layer of the dicing tape using a hand roller.

<다이본드 시트의 물성 측정><Measurement of physical properties of die-bonding sheet>

각 실시예 및 각 비교예의 다이본드 시트에 대해서, 이하와 같이 하여 각 물성을 측정하였다.For the die-bonding sheets of each Example and each Comparative Example, each physical property was measured as follows.

(전단 손실 탄성률 G")(Shear loss modulus G")

상기의 전단 손실 탄성률 G"의 측정 방법의 상세는, 이하와 같다. 점탄성 측정 장치(Rheometric Scientific사제, 형식 ARES)를 측정 장치로서 사용하였다. 직경 7.5mm×두께 1mm의 원주상으로 펀칭하여 다이본드 시트의 시험편을 제작하였다. 시험편의 한쪽의 원상 면에, 온도 140℃에서, 주파수 1Hz의 전단 진동을 부여한 때에, 다른 쪽의 원상 면에 전해지는 전단 진동을 측정하였다. 측정값을 해석함으로써 전단 손실 탄성률 G"을 구하였다. 측정 결과를 표 1에 나타낸다.The details of the method for measuring the shear loss modulus G" described above are as follows. A viscoelasticity measuring device (manufactured by Rheometric Scientific, type ARES) was used as the measuring device. It was punched out into a cylinder shape with a diameter of 7.5 mm and a thickness of 1 mm to form a die bond. A test piece of sheet was produced.When a shear vibration with a frequency of 1 Hz was applied to one circular surface of the test piece at a temperature of 140 ° C, the shear vibration transmitted to the other circular surface was measured. By analyzing the measured value, shear loss Elastic modulus G" was obtained. Table 1 shows the measurement results.

(150℃에서의 인장 탄성률의 측정, 유리 전이점 Tg, Tg에 있어서의 Tanδ)(Measurement of tensile modulus at 150°C, glass transition point Tg, Tanδ at Tg)

다이본드 시트에 대하여 150℃에서 1시간의 경화 처리를 실시한 후, 해당 다이본드 시트의 150℃에서의 인장 저장 탄성률을 측정하였다. 측정 장치로서, 고체 점탄성 측정 장치(형식 RSAIII, 레오메트릭 사이언티픽사제)를 사용하였다.After subjecting the die-bonding sheet to a curing treatment at 150°C for 1 hour, the tensile storage modulus of the die-bonding sheet at 150°C was measured. As a measuring device, a solid-state viscoelasticity measuring device (model RSAIII, manufactured by Rheometric Scientific Co., Ltd.) was used.

길이 40mm(측정 길이), 폭 10mm의 시험편을 잘라내고, 주파수 1Hz, 승온 속도 10℃/min, 척간 거리 22.5mm의 조건에 있어서, -30 내지 280℃의 온도 범위에서 시험편의 인장 저장 탄성률 E', 인장 손실 탄성률 E"을 측정하였다. 또한, 이들 탄성률을 기초로 한 Tanδ(E"/E')를 측정하였다. 또한, Tanδ가 피크값이 된 때의 온도를 판독하였다.A test piece with a length of 40 mm (measurement length) and a width of 10 mm is cut out, and under the conditions of a frequency of 1 Hz, a heating rate of 10° C./min, and a distance between chucks of 22.5 mm, the tensile storage modulus E' of the test piece in the temperature range of -30 to 280° C. , tensile loss elastic modulus E" was measured. In addition, Tan δ (E"/E') based on these elastic moduli was measured. In addition, the temperature when Tan δ reached a peak value was read.

(파단 신도)(break elongation)

다이본드 시트의 시험편(폭 10mm×길이 40mm)을 잘라내었다. 인장 시험기(상품명 「오토그래프 AGS-50NX」, 시마즈 세이사쿠쇼사제)를 사용하여, 인장 시험을 행하고, 소정의 인장 속도로 신장되는 상기 시험편의 파단 신도를 측정하였다. 초기 척간 거리는 10mm이고, 온도 조건은 0℃이고, 인장 속도는 300mm/분으로 하였다. 측정 결과를 표 1에 나타낸다.A test piece (width 10 mm x length 40 mm) was cut out of the die-bonding sheet. A tensile test was conducted using a tensile tester (trade name "Autograph AGS-50NX", manufactured by Shimadzu Corporation), and the elongation at break of the test piece elongated at a predetermined tensile speed was measured. The initial distance between chucks was 10 mm, the temperature condition was 0° C., and the tensile speed was 300 mm/min. Table 1 shows the measurement results.

각 실시예 및 각 비교예에 있어서의 다이본드 시트의 조성 및 물성을 표 1에 나타낸다.Table 1 shows the composition and physical properties of the die-bonding sheet in each Example and each Comparative Example.

Figure pat00001
Figure pat00001

이하와 같이 하여, 상기와 같이 제조한 다이본드 시트(다이싱 다이본드 필름)의 성능을 평가하였다.The performance of the die-bonding sheet (dicing die-bonding film) prepared as described above was evaluated as follows.

(다이본드 시트의 피착체 표면의 오목부에 대한 매립성)(Embedding of the die-bonding sheet to the concave portion of the surface of the adherend)

다이본더(신카와사제, 제품명 「다이본더 SPA-300」)를 사용하여, 표면에 10㎛의 요철을 갖는 BGA 기판에, 10mm×10mm의 다이본드 시트가 구비된 미러 칩을, 스테이지 온도 140℃, 다이본드 하중 0.2MPa 및 다이본드 시간 2초의 조건으로 본딩하였다.Using a die bonder (manufactured by Shinkawa, product name "Die Bonder SPA-300"), a mirror chip provided with a 10 mm x 10 mm die-bonding sheet was placed on a BGA substrate having 10 µm irregularities on the surface, at a stage temperature of 140°C. , Bonding was performed under conditions of a die-bonding load of 0.2 MPa and a die-bonding time of 2 seconds.

다이본드 시트와 기판(피착체) 사이의 보이드를, 초음파 영상 장치(히타치 파인 테크사제, 「FS200II」)를 사용하여 관찰하였다. 관찰 화상에 있어서 보이드가 차지하는 면적을, 2치화 소프트(WinRoof ver.5.6)를 사용하여 산출하였다. 보이드가 차지하는 면적이 다이본드 필름의 표면적에 대하여 10% 미만이었던 경우를 「○」(양호), 10% 이상인 경우를 「×」(나쁨)으로 평가하였다.A void between the die-bonding sheet and the substrate (adhered body) was observed using an ultrasonic imaging device (“FS200II” manufactured by Hitachi Finetech Co., Ltd.). The area occupied by the voids in the observation image was calculated using binary software (WinRoof ver.5.6). A case where the area occupied by the voids was less than 10% relative to the surface area of the die-bonding film was evaluated as "○" (good), and a case where it was 10% or more was evaluated as "x" (poor).

(열경화 처리 후의 다이본드 시트의 휨 양)(Amount of warpage of die-bonding sheet after heat curing treatment)

다이본더(신카와사제, 제품명 「다이본더 SPA-300」)를 사용하여, 50mm×50mm 사이즈, 두께 160㎛의 BGA 기판에, 10mm×10mm의 다이본드 시트가 구비된 미러 칩(9칩)을, 인접하는 것끼리의 간격을 균등하게 하여, 스테이지 온도 140℃, 다이본드 하중 0.2MPa 및 다이본드 시간 2초의 조건에서 본딩하였다.Using a die bonder (manufactured by Shinkawa, product name “Die Bonder SPA-300”), a 50 mm × 50 mm size, 160 μm thick BGA substrate with a 10 mm × 10 mm die-bonding sheet is attached to the mirror chip (9 chips). , Bonding was performed under the conditions of a stage temperature of 140°C, a die-bonding load of 0.2 MPa, and a die-bonding time of 2 seconds, with equal intervals between adjacent ones.

150℃×1시간의 열처리 후의 기판(피착체)을 평면판에 두고, 평면판에서 이격된 기판(피착체)의 최장 이격 거리를 측정하였다. 평가 결과가 매우 양호한 경우를 「◎」, 양호한 경우를 「○」, 나쁜 경우를 「×」라고 판정하였다.The substrate (adherent) after heat treatment at 150°C for 1 hour was placed on a flat plate, and the longest separation distance of the substrate (adherent) separated from the flat plate was measured. A case where the evaluation result was very good was judged as "◎", a good case as "○", and a bad case as "×".

상기의 평가 결과로부터 파악되도록, 실시예의 다이본드 시트를 구비한 다이싱 다이본드 필름은, 비교예의 다이싱 다이본드 필름에 비하여, 다이본드 시에 있어서의 다이본드 시트의 상기 매립성의 점에서 양호하였다. 또한, 열경화 처리에 수반하는 다이본드 시트의 휨 양을 억제할 수 있었다.As understood from the above evaluation results, the dicing die-bonding film provided with the die-bonding sheet of the examples was better than the dicing die-bonding film of the comparative example in terms of the embedding property of the die-bonding sheet during die-bonding. . In addition, the amount of warping of the die-bonding sheet accompanying the thermal curing treatment could be suppressed.

실시예의 다이본드 시트는, 가교성 아크릴 폴리머를 포함하고, 열경화 처리 전에 있어서의 140℃에서의 전단 손실 탄성률 G"이 1kPa 이상 20kPa 이하이고, 또한, 150℃에서 1시간의 열경화 처리 후에 있어서의 150℃에서의 인장 탄성률이 0.5MPa 이상 7.0MPa 이하이다.The die-bonding sheet of Example contains a crosslinkable acrylic polymer, has a shear loss elastic modulus G" at 140°C of 1 kPa or more and 20 kPa or less before thermal curing, and after thermal curing at 150°C for 1 hour. The tensile modulus of elasticity at 150 ° C. is 0.5 MPa or more and 7.0 MPa or less.

이러한 물성을 갖는 실시예의 다이본드 시트(다이싱 다이본드 필름)를, 반도체 장치의 제조에 있어서 사용함으로써, 예를 들어 소위 NAND형 플래시 메모리 등을 효율적으로 제조할 수 있다.By using the die-bonding sheet (dicing die-bonding film) of the examples having these physical properties in manufacturing a semiconductor device, for example, a so-called NAND type flash memory or the like can be efficiently manufactured.

구체적으로는, 반도체 칩을 매립하기 위하여 사용되는 실시예와 같이 다이본드 시트는, 전단 손실 탄성률 G"이 특정한 범위 내이기 때문에, 요철이 있는 피착체 표면에 접착된 때에, 오목부를 매립하도록 적절하게 변형하여 요철 형상에 추종할 수 있다. 이에 의해, 피착체와 다이본드 시트 사이에 간극이 발생하는 것을 억제할 수 있다.Specifically, since the shear loss elastic modulus G" of the die-bonding sheet, like the embodiment used for embedding semiconductor chips, is within a specific range, when adhering to the surface of an adherend having irregularities, it is appropriate to embed concave portions. It can be deformed to follow the concavo-convex shape, thereby suppressing the occurrence of gaps between the adherend and the die-bonding sheet.

또한, 한쪽의 표면에 전자 회로가 형성된 얇은 반도체 칩은, 다이본드 시트의 경화 처리에 수반하여, 내부 응력에 의해 변형(휨 등)할 수 있다. 이에 비해, 실시예의 다이본드 시트는, 열경화 처리 후에 있어서의 인장 탄성률이 특정한 범위 내이기 때문에, 이러한 반도체 칩의 변형을 억제할 수 있다.In addition, a thin semiconductor chip having an electronic circuit formed on one surface may be deformed (bending, etc.) due to internal stress as the die-bonding sheet is cured. On the other hand, since the die-bonding sheet of the examples has a tensile modulus of elasticity after the thermosetting treatment within a specific range, such deformation of the semiconductor chip can be suppressed.

본 발명의 열경화형 수지 시트(다이본드 시트) 및 다이싱 다이본드 필름은, 예를 들어 반도체 장치를 제조할 때의 보조 용구로서, 적합하게 사용된다.The thermosetting resin sheet (die-bonding sheet) and dicing die-bonding film of the present invention are suitably used, for example, as auxiliary tools when manufacturing a semiconductor device.

1: 다이싱 다이본드 필름,
10: 열경화형 수지 시트(다이본드 시트),
20: 다이싱 테이프,
21: 기재층,
22: 점착제층.
1: dicing die-bonding film,
10: thermosetting resin sheet (die-bonding sheet),
20: dicing tape,
21: base layer,
22: adhesive layer.

Claims (11)

반도체 장치의 제조 방법에 있어서, 회로면이 형성된 웨이퍼를 할단한 칩과 피착체 사이에 배치하여 상기 칩을 상기 피착체에 접착시키기 위한 다이본드 시트로서 사용되는 열경화형 수지 시트이며,
열경화 처리에 의해 가교 반응을 일으키는 가교성기를 분자 중에 갖는 가교성 아크릴 폴리머를 포함하고,
열경화 처리 전에 있어서의 140℃에서의 전단 손실 탄성률 G"이 1kPa 이상 20kPa 이하이고, 또한, 150℃에서 1시간의 열경화 처리 후에 있어서의 150℃에서의 인장 탄성률이 0.5MPa 이상 7.0MPa 이하인, 열경화형 수지 시트.
In a method for manufacturing a semiconductor device, a thermosetting resin sheet used as a die-bonding sheet for bonding a chip to an adherend by placing a wafer having a circuit surface formed thereon between a chip and an adherend,
A crosslinkable acrylic polymer having a crosslinkable group in its molecule that causes a crosslinking reaction by heat curing treatment,
The shear loss modulus G" at 140 ° C. before the thermal curing treatment is 1 kPa or more and 20 kPa or less, and the tensile modulus at 150 ° C. after the thermal curing treatment for 1 hour at 150 ° C. is 0.5 MPa or more and 7.0 MPa or less. Thermosetting resin sheet.
제1항에 있어서, 상기 다이본드 시트에 포함되는 유기 성분 100질량부에 대한 상기 가교성 아크릴 폴리머의 함유 비율이, 50질량부 이상 100질량부 이하인, 열경화형 수지 시트.The thermosetting resin sheet according to claim 1, wherein a content ratio of the crosslinkable acrylic polymer to 100 parts by mass of the organic component contained in the die-bonding sheet is 50 parts by mass or more and 100 parts by mass or less. 제1항 또는 제2항에 있어서, 150℃에서 1시간의 열경화 처리 후에 있어서의 유리 전이점 Tg가 20℃ 이상 100℃ 이하이고, 상기 유리 전이점 Tg에 있어서의 Tanδ가 0.7 이상 1.5 이하인, 열경화형 수지 시트.The method according to claim 1 or 2, wherein the glass transition point Tg after the thermal curing treatment at 150 ° C. for 1 hour is 20 ° C. or more and 100 ° C. or less, and the Tan δ at the glass transition point Tg is 0.7 or more and 1.5 or less. Thermosetting resin sheet. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 가교성기가 에폭시기를 포함하고,
상기 가교성 아크릴 폴리머는, 상기 에폭시기를 갖는 글리시딜(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 분자 중에 갖고,
상기 가교성 아크릴 폴리머에 있어서의 상기 구성 단위의 함유율이, 5질량% 이상 50질량% 이하인, 열경화형 수지 시트.
The method of claim 1 or 2, wherein the crosslinkable group contains an epoxy group,
The crosslinkable acrylic polymer has a structural unit of glycidyl (meth)acrylate having an epoxy group in a molecule,
The thermosetting type resin sheet in which the content rate of the said structural unit in the said crosslinkable acrylic polymer is 5 mass % or more and 50 mass % or less.
제1항 또는 제2항에 있어서, 무기 필러로서의 실리카 필러의 함유율이 40질량% 이하이고,
상기 실리카 필러의 비표면적이 35㎡/g 이상 400㎡/g 이하인, 열경화형 수지 시트.
The content rate of the silica filler as an inorganic filler is 40 mass % or less of Claim 1 or 2,
The thermosetting type resin sheet whose specific surface area of the said silica filler is 35 m2/g or more and 400 m2/g or less.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 열경화 처리에 의해 상기 가교성기와 가교 반응하는 페놀 수지를 포함하고,
상기 페놀 수지의 수산기 당량이 160 이상인, 열경화형 수지 시트.
The method according to claim 1 or 2, comprising a phenol resin that crosslinks with the crosslinkable group by the heat curing treatment,
The thermosetting type resin sheet whose hydroxyl equivalent of the said phenol resin is 160 or more.
제1항 또는 제2항에 있어서, 1종 또는 복수종의 상기 가교성 아크릴 폴리머를 포함하고, 적어도 1종의 상기 가교성 아크릴 폴리머의 질량 평균 분자량이 1만 이상 40만 이하인, 열경화형 수지 시트.The thermosetting resin sheet according to claim 1 or 2, which contains one or more kinds of the crosslinkable acrylic polymer, and the mass average molecular weight of at least one kind of the crosslinkable acrylic polymer is 10,000 or more and 400,000 or less. . 제1항 또는 제2항에 있어서, 다이싱 테이프와 접합되어서 사용되는, 열경화형 수지 시트.The thermosetting type resin sheet according to claim 1 or 2, which is used by bonding with a dicing tape. 제1항 또는 제2항에 있어서, 0℃에서의 파단 신도가 50% 이하인, 열경화형 수지 시트.The thermosetting resin sheet according to claim 1 or 2, wherein the elongation at break at 0°C is 50% or less. 제1항 또는 제2항에 있어서, 반도체 웨이퍼를 할단하여 반도체 칩을 제조하기 위한 SDBG(Stealth Dicing Before Grinding) 프로세스 또는 DBG(Dicing Before Grinding) 프로세스에서 사용되는, 열경화형 수지 시트.The thermosetting resin sheet according to claim 1 or 2, which is used in a Stealth Dicing Before Grinding (SDBG) process or a Dicing Before Grinding (DBG) process for manufacturing semiconductor chips by cutting a semiconductor wafer. 제1항 또는 제2항에 기재된 열경화형 수지 시트로 구성된 다이본드 시트와, 해당 다이본드 시트에 접합된 다이싱 테이프를 구비하는, 다이싱 다이본드 필름.A dicing die-bonding film comprising a die-bonding sheet composed of the thermosetting resin sheet according to claim 1 or 2, and a dicing tape bonded to the die-bonding sheet.
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