KR20220156745A - Dicing die bonding film - Google Patents

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KR20220156745A
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마사토시 가쿠노
도시마사 스기무라
아키히로 후쿠이
유타 기무라
히로시 나카우라
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닛토덴코 가부시키가이샤
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Abstract

A dicing die-bonding film includes a dicing tape in which an adhesive layer is laminated on a base material layer, and a die-bonding layer laminated on the adhesive layer while part of the adhesive layer is exposed. The adhesive layer contains an acrylic polymer, and the die-bonding layer contains an aromatic compound. A parameter derived by combining a plurality of parameters satisfies a predetermined numerical range, the plurality of parameters being obtained by performing FT-IR analysis on an exposed portion of the adhesive layer and a laminated portion with the die-bonding layer in the adhesive layer. The dicing die-bonding film is capable of reducing the peel force of an adhesive layer from a die-bonding layer when the die-bonding layer is peeled off from the adhesive layer.

Description

다이싱 다이 본드 필름{DICING DIE BONDING FILM}Dicing die bond film {DICING DIE BONDING FILM}

본 발명은, 다이싱 다이 본드 필름에 관한 것이다.The present invention relates to a dicing die bond film.

종래, 반도체 장치의 제조에 있어서, 다이 본딩용 반도체 칩을 얻기 위해, 다이싱 다이 본드 필름을 사용하는 것이 알려져 있다(예를 들어, 특허문헌 1).Conventionally, in the manufacture of semiconductor devices, it is known to use a dicing die-bonding film to obtain a semiconductor chip for die bonding (for example, Patent Document 1).

상기 다이싱 다이 본드 필름은, 기재층 위에 점착제층이 적층된 다이싱 테이프와, 상기 점착제층의 일부를 노출시킨 상태에서, 상기 점착제층에 적층된 다이 본드층을 구비하고 있다.The dicing die bond film includes a dicing tape in which an adhesive layer is laminated on a substrate layer, and a die bond layer laminated on the adhesive layer in a state in which a part of the adhesive layer is exposed.

그리고, 상기 다이싱 다이 본드 필름을 사용하여 다이 본딩용 반도체 칩(다이)을 얻는 방법으로서, 반도체 웨이퍼를 할단 처리에 의해 칩(다이)으로 가공하기 위해 반도체 웨이퍼에 홈을 형성하는 하프컷 공정과, 하프컷 공정 후의 반도체 웨이퍼를 연삭해서 두께를 얇게 하는 백그라인드 공정과, 백그라인드 공정 후의 반도체 웨이퍼의 일면(예를 들어, 회로면과는 반대측의 면)을 다이 본드층에 첩부하여, 다이싱 테이프에 반도체 웨이퍼를 고정시키는 마운트 공정과, 반도체 칩끼리의 간격을 넓히는 익스팬드 공정과, 반도체 칩끼리의 간격을 유지하는 커프 유지 공정과, 다이 본드층과 점착제층의 사이를 박리하여 다이 본드층이 첩부된 상태에서 반도체 칩을 취출하는 픽업 공정을 갖는 방법을 채용하는 것이 알려져 있다.And, as a method of obtaining a semiconductor chip (die) for die bonding using the dicing die bond film, a half-cutting step of forming a groove in a semiconductor wafer to process the semiconductor wafer into a chip (die) by a cutting process; , a back-grind step of grinding the semiconductor wafer after the half-cut step to reduce the thickness, and attaching one surface (for example, the surface on the opposite side to the circuit face) of the semiconductor wafer after the back-grind step to the die bond layer, followed by dicing A mount process for fixing the semiconductor wafer to the tape, an expand process for widening the gap between the semiconductor chips, a kerf holding process for maintaining the gap between the semiconductor chips, and a die bond layer by separating between the die bond layer and the pressure-sensitive adhesive layer. It is known to adopt a method having a pick-up step of taking out a semiconductor chip in this attached state.

그리고, 상기 픽업 공정에 있어서, 다이 본드층에 첩부된 상태에서 취출된 반도체 칩(이하, '다이 본드층을 구비하는 반도체 칩'이라고도 함)은, 피착체인 배선 기판에 접착된다.Then, in the pick-up step, the semiconductor chip taken out while attached to the die-bonding layer (hereinafter, also referred to as 'semiconductor chip having a die-bonding layer') is adhered to the wiring substrate as an adherend.

또한, 상기 점착제층은, 통상, (메트)아크릴계 수지 등의 수지와, 해당 수지와 반응하여 상기 수지끼리를 중합시키는 가교제와, 자외선 등의 활성 에너지선을 조사함으로써, 상기 수지끼리의 연쇄 중합을 가능하게 하는 활성종을 발생하는 광중합 개시제를 포함하고 있다(예를 들어, 특허문헌 2).In addition, the pressure-sensitive adhesive layer is usually irradiated with a resin such as a (meth)acrylic resin, a crosslinking agent that reacts with the resin and polymerizes the resins, and active energy rays such as ultraviolet rays to prevent chain polymerization of the resins. It contains a photopolymerization initiator that generates active species that enable it (for example, Patent Document 2).

이와 같은 점착제층에서는, 예를 들어 자외선 등의 활성 에너지선이 조사되면 경화 반응이 진행되게 되어, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착제층의 박리력이 저하되게 된다.In such a pressure-sensitive adhesive layer, when irradiated with active energy rays such as ultraviolet rays, for example, a curing reaction proceeds, and the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer with respect to the die-bonding layer is reduced.

이에 의해, 상기 다이 본드층은, 상기 점착제층으로부터 비교적 용이하게 박리되게 된다. 즉, 상기 픽업 공정을 비교적 원활하게 실시할 수 있게 된다.As a result, the die-bonding layer is relatively easily separated from the pressure-sensitive adhesive layer. That is, the pick-up process can be performed relatively smoothly.

일본 특허 공개 제2019-9203호 공보Japanese Unexamined Patent Publication No. 2019-9203 일본 특허 공개 제2019-67996호 공보Japanese Unexamined Patent Publication No. 2019-67996

그런데, 상기한 바와 같이 상기 다이 본드층을 상기 점착제층으로부터 박리시킬 때, 예를 들어 상기 점착제층에 자외선 등의 활성 에너지선을 조사하여, 상기 점착제층을 경화시킨 후에 있어서도, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착제층의 박리력을 충분히 저하시킬 수 없는 경우가 있다.By the way, as described above, when the die-bonding layer is separated from the pressure-sensitive adhesive layer, for example, even after curing the pressure-sensitive adhesive layer by irradiating the pressure-sensitive adhesive layer with active energy rays such as ultraviolet rays, the die-bonding layer There are cases in which the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer against the surface cannot be sufficiently reduced.

이와 같이, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착제층의 박리력을 충분히 저하시킬 수 없으면, 상기 픽업 공정을 원활하게 실시할 수 없기 때문에 바람직하지 않다.In this way, if the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer to the die-bonding layer cannot be sufficiently reduced, the pick-up step cannot be performed smoothly, which is not preferable.

그러나, 상기 다이 본드층을 상기 점착제층으로부터 박리시킬 때, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착제층의 박리력을 충분히 저하시키는 것에 대하여, 아직 충분한 검토가 이루어져 있다고 하기는 어렵다.However, it is difficult to say that sufficient studies have yet been made on sufficiently reducing the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer with respect to the die-bonding layer when the die-bonding layer is separated from the pressure-sensitive adhesive layer.

그래서, 본 발명은, 상기 다이 본드층을 상기 점착제층으로부터 박리시킬 때, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착제층의 박리력을 충분히 저하시킬 수 있는, 다이싱 다이 본드 필름을 제공하는 것을 과제로 한다.Then, the present invention makes it an object to provide a dicing die-bonding film capable of sufficiently reducing the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer with respect to the die-bonding layer when peeling the die-bonding layer from the pressure-sensitive adhesive layer. .

본 발명에 따른 다이싱 다이 본드 필름은,The dicing die bond film according to the present invention,

기재층 위에 점착제층이 적층된 다이싱 테이프와,A dicing tape in which an adhesive layer is laminated on a substrate layer;

상기 점착제층의 일부를 노출시킨 상태에서, 상기 점착제층 위에 적층된 다이 본드층을 구비하고,A die bond layer laminated on the pressure-sensitive adhesive layer in a state in which a part of the pressure-sensitive adhesive layer is exposed,

상기 점착제층은, 아크릴계 폴리머를 포함하고,The pressure-sensitive adhesive layer includes an acrylic polymer,

상기 다이 본드층은, 방향족 화합물을 포함하고 있으며,The die bond layer contains an aromatic compound,

상기 점착제층의 노출 부분 및 상기 다이 본드층과의 적층 부분의 각각에 대하여, FTIR 분석을 행하고,FTIR analysis is performed on each of the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer and the laminated portion with the die bond layer,

상기 점착제층의 노출 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H1로 하고,The sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer is H1,

상기 점착제층의 노출 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T1로 하고,The peak height appearing in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer is T1,

상기 다이 본드층과의 적층 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H2로 하고,The sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the laminated portion with the die bond layer is H2,

상기 다이 본드층과의 적층 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T2로 했을 때,When the peak height appearing in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the laminated portion with the die bond layer is T2,

하기 식 (1)에서 산출되는 R의 값이 1.5 이하이다.The value of R calculated by following formula (1) is 1.5 or less.

Figure pat00001
Figure pat00001

상기 다이싱 다이 본드 필름에 있어서는,In the dicing die bond film,

상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 9 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 13몰% 이상 포함하는 것이 바람직하다.It is preferable that the said acrylic polymer contains 13 mol% or more of structural units of the alkyl (meth)acrylate which has a C9 or more alkyl group.

상기 다이싱 다이 본드 필름에 있어서는,In the dicing die bond film,

상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함하는 것이 바람직하다.It is preferable that the said acrylic polymer contains the structural unit of the alkyl (meth)acrylate which has a C12 or more alkyl group.

상기 다이싱 다이 본드 필름에 있어서는,In the dicing die bond film,

상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 15몰% 이상 포함하는 것이 바람직하다.It is preferable that the said acrylic polymer contains 15 mol% or more of structural units of the alkyl (meth)acrylate which has a C12 or more alkyl group.

상기 다이싱 다이 본드 필름에 있어서는,In the dicing die bond film,

상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 9 이상 14 이하의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함하는 것이 바람직하다.It is preferable that the said acrylic polymer contains the structural unit of the alkyl (meth)acrylate which has an alkyl group of 9 or more and 14 or less carbon atoms, and the structural unit of (meth)acrylate containing a hydroxyl group.

도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름의 구성을 나타내는 단면도.
도 2a는 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 하프컷 가공의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 2b는 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 하프컷 가공의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 2c는 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 백그라인드 가공의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 2d는 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 백그라인드 가공의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 3a는 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 마운트 공정의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 3b는 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 마운트 공정의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 4a는 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 저온에서의 익스팬드 공정의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 4b는 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 저온에서의 익스팬드 공정의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 4c는 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 저온에서의 익스팬드 공정의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 5a는 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 상온에서의 익스팬드 공정의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 5b는 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 상온에서의 익스팬드 공정의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 6은 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 커프 유지 공정의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
도 7은 반도체 집적 회로의 제조 방법에 있어서의 픽업 공정의 모습을 모식적으로 나타내는 단면도.
1 is a cross-sectional view showing the configuration of a dicing die bond film according to an embodiment of the present invention.
Fig. 2A is a cross-sectional view schematically showing a state of half-cut processing in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 2B is a cross-sectional view schematically showing a state of half-cut processing in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 2C is a cross-sectional view schematically showing the state of back-grind processing in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 2D is a cross-sectional view schematically showing the state of back-grind processing in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 3A is a cross-sectional view schematically showing a mount step in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 3B is a cross-sectional view schematically showing a mount step in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 4A is a cross-sectional view schematically showing the state of an expand step at a low temperature in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 4B is a cross-sectional view schematically showing the state of an expand step at a low temperature in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 4C is a cross-sectional view schematically showing the state of an expand step at a low temperature in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 5A is a cross-sectional view schematically showing the state of an expand step at room temperature in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 5B is a cross-sectional view schematically showing the state of an expand step at room temperature in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 6 is a cross-sectional view schematically showing a state of a kerf holding step in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.
Fig. 7 is a cross-sectional view schematically illustrating a state of a pick-up step in a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit.

이하, 본 발명의 일 실시 형태에 대하여 설명한다.Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described.

[다이싱 다이 본드 필름][Dicing die bond film]

도 1에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름(20)은, 기재층(1) 위에 점착제층(2)이 적층된 다이싱 테이프(10)와, 점착제층(2)의 일부를 노출시킨 상태에서, 점착제층(2) 위에 적층된 다이 본드층(3)을 구비한다.As shown in FIG. 1 , the dicing die bond film 20 according to the present embodiment includes a dicing tape 10 in which an adhesive layer 2 is laminated on a substrate layer 1, and an adhesive layer 2 A die bond layer 3 laminated on the pressure-sensitive adhesive layer 2 is provided in a state in which a part of the is exposed.

다이싱 다이 본드 필름(20)에서는, 다이 본드층(3) 위에 반도체 웨이퍼가 첩부된다.In the dicing die-bonding film 20 , a semiconductor wafer is affixed on the die-bonding layer 3 .

다이싱 다이 본드 필름(20)을 사용한 반도체 웨이퍼의 할단에 있어서는, 반도체 웨이퍼와 함께 다이 본드층(3)도 할단된다. 다이 본드층(3)은, 개편화된 복수의 반도체 칩 사이즈에 상당하는 크기로 할단된다. 이에 의해, 다이 본드층(3)을 구비하는 반도체 칩을 얻을 수 있다. In cutting the semiconductor wafer using the dicing die-bonding film 20, the die-bonding layer 3 is also cut along with the semiconductor wafer. The die bond layer 3 is cut into a size corresponding to the size of a plurality of individual semiconductor chips. In this way, a semiconductor chip including the die bonding layer 3 can be obtained.

본 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름(20)에 있어서, 점착제층(2)은, 점착성을 갖고 있으며, 다이 본드층(3)을 점착함으로써 보유 지지한다.In the dicing die-bonding film 20 according to the present embodiment, the pressure-sensitive adhesive layer 2 has adhesiveness and holds the die-bonding layer 3 by sticking it.

본 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름(20)에 있어서, 점착제층(2)은, 아크릴계 폴리머를 포함한다.In the dicing die bonding film 20 according to the present embodiment, the pressure-sensitive adhesive layer 2 contains an acrylic polymer.

또한, 본 명세서에 있어서, 아크릴계 폴리머란, (메트)아크릴레이트 모노머를 구성 단위로서 포함하는 폴리머이다. (메트)아크릴레이트란, 메타크릴레이트 및 아크릴레이트를 포함하는 개념이다. 청구항의 특정에 있어서,In addition, in this specification, an acryl-type polymer is a polymer containing a (meth)acrylate monomer as a structural unit. (meth)acrylate is a concept containing methacrylate and acrylate. In specifying the claims,

상기 아크릴계 폴리머는, (메트)아크릴레이트 모노머 이외의 모노머를 구성 단위로서 포함하고 있어도 된다.The said acrylic polymer may contain monomers other than a (meth)acrylate monomer as a structural unit.

점착제층(2)은, 상기 아크릴계 폴리머를 50질량% 이상 포함하고 있는 것이 바람직하고, 70% 이상 포함하고 있는 것이 보다 바람직하며, 80질량% 이상 포함하고 있는 것이 더욱 바람직하다.The pressure-sensitive adhesive layer 2 preferably contains 50% by mass or more of the acrylic polymer, more preferably 70% or more, and still more preferably 80% by mass or more.

또한, 점착제층(2)은, 상기 아크릴계 폴리머를 95질량% 이하 포함하고 있는 것이 바람직하고, 90질량% 이하 포함하고 있는 것이 보다 바람직하다.Moreover, it is preferable that the adhesive layer 2 contains 95 mass % or less of the said acrylic polymer, and it is more preferable that it contains 90 mass % or less.

상기 아크릴계 폴리머는, 중합성 불포화 결합을 갖는 자외선 경화형의 중합성 폴리머(중합성 아크릴계 폴리머)인 것이 바람직하다.It is preferable that the said acrylic polymer is an ultraviolet-curable polymeric polymer (polymerizable acrylic polymer) which has a polymerizable unsaturated bond.

상기 중합성 폴리머로서는, 주쇄 또는 측쇄의 말단에, 중합성의 비닐기 또는 에티닐기를 포함하는 폴리머 등을 들 수 있다.As said polymeric polymer, the polymer etc. which contain a polymerizable vinyl group or ethynyl group at the terminal of a main chain or a side chain are mentioned.

또한, 이하에서는, 중합성의 비닐기 또는 에티닐기를 총칭하여, 중합성기라고 칭한다.In addition, below, a polymeric vinyl group or an ethynyl group is generically called a polymeric group.

또한, 중합성 아크릴계 폴리머는, (메트)아크릴레이트 모노머와 중합성 모노머를 공중합시킴으로써 얻을 수 있다.In addition, a polymerizable acrylic polymer can be obtained by copolymerizing a (meth)acrylate monomer and a polymerizable monomer.

점착제층(2)에 포함되는 아크릴계 폴리머에 있어서, 상기한 구성 단위는, 1H-NMR, 13C-NMR 등의 NMR 분석, 열분해 GC/MS 분석, 적외 분광법(예를 들어, FTIR법) 등에 의해 확인할 수 있다.In the acrylic polymer contained in the pressure-sensitive adhesive layer 2, the above structural units are analyzed by NMR analysis such as 1 H-NMR and 13 C-NMR, pyrolysis GC/MS analysis, infrared spectroscopy (eg, FTIR method), and the like. can be confirmed by

또한, 상기 아크릴계 폴리머에 있어서의 상기한 구성 단위의 몰 비율은, 통상, 아크릴계 폴리머를 중합할 때의 배합량(투입량)으로부터 산출된다.In addition, the molar ratio of the structural unit mentioned above in the said acrylic polymer is normally computed from the compounding quantity (charged amount) at the time of superposing|polymerizing an acrylic polymer.

본 실시 형태에 있어서, 상기 아크릴계 폴리머는, 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함하고 있는 것이 바람직하다.In this embodiment, it is preferable that the said acrylic polymer contains the structural unit of an alkyl (meth)acrylate.

상기 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 알킬(메트)아크릴레이트 모노머에서 유래한다.The structural unit of the said alkyl (meth)acrylate originates in an alkyl (meth)acrylate monomer.

즉, 중합 후의 알킬(메트)아크릴레이트 모노머의 구조가, 상기 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위이다.That is, the structure of the alkyl (meth)acrylate monomer after polymerization is the structural unit of the alkyl (meth)acrylate.

상기 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위에 있어서, 상기 알킬은, 포화 탄화수소여도 되고, 불포화 탄화수소여도 된다.In the structural unit of the alkyl (meth)acrylate, the alkyl may be a saturated hydrocarbon or an unsaturated hydrocarbon.

예를 들어, 상기 알킬은, 직쇄상 포화 탄화수소, 분지쇄상 포화 탄화수소, 지환식 탄화수소, 방향족 탄화수소이다. 상기 알킬은, 직쇄상 포화 탄화수소 또는 분지쇄상 포화 탄화수소인 것이 바람직하다.For example, the alkyl is a straight-chain saturated hydrocarbon, a branched-chain saturated hydrocarbon, an alicyclic hydrocarbon, or an aromatic hydrocarbon. The alkyl is preferably a straight-chain saturated hydrocarbon or a branched-chain saturated hydrocarbon.

또한, 상기 알킬은, 산소나 질소 등을 함유하는 극성기를 포함하고 있어도 된다.Moreover, the said alkyl may contain the polar group containing oxygen, nitrogen, etc.

상기 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위로서는, 예를 들어 에틸(메트)아크릴레이트, 부틸(메트)아크릴레이트, 헥실(메트)아크릴레이트, 헵틸(메트)아크릴레이트, n-옥틸(메트)아크릴레이트, 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트, 이소옥틸(메트)아크릴레이트, n-노닐(메트)아크릴레이트, iso(sec)-노닐(메트)아크릴레이트, tert-노닐(메트)아크릴레이트, 이소보르닐(메트)아크릴레이트, n-데실(메트)아크릴레이트, iso(sec)-데실(메트)아크릴레이트, tert-데실(메트)아크릴레이트, n-운데실(메트)아크릴레이트, iso(sec)-운데실(메트)아크릴레이트, tert-운데실(메트)아크릴레이트, 라우릴(메트)아크릴레이트 등의 각 구성 단위를 들 수 있다.As a structural unit of the said alkyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, butyl (meth)acrylate, hexyl (meth)acrylate, heptyl (meth)acrylate, n-octyl (meth)acrylate, for example rate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, n-nonyl (meth) acrylate, iso (sec) -nonyl (meth) acrylate, tert- nonyl (meth) acrylate, Isobornyl(meth)acrylate, n-decyl(meth)acrylate, iso(sec)-decyl(meth)acrylate, tert-decyl(meth)acrylate, n-undecyl(meth)acrylate, iso Each structural unit, such as (sec)-undecyl (meth)acrylate, tert-undecyl (meth)acrylate, and lauryl (meth)acrylate, is mentioned.

본 실시 형태에 있어서, 상기 아크릴계 폴리머는, 이들 각종 알킬(메트)아크릴레이트 구성 단위 중에서도, 탄소수 9 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트를 구성 단위로서 포함하는 것이 바람직하고, 탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트를 구성 단위로서 포함하는 것이 보다 바람직하다.In this embodiment, the acrylic polymer preferably contains, among these various alkyl (meth)acrylate structural units, an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 9 or more carbon atoms as a structural unit, and an alkyl group having 12 or more carbon atoms. It is more preferable to include an alkyl (meth)acrylate having as a structural unit.

본 실시 형태에 있어서, 상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 9 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 13몰% 이상 포함하는 것이 바람직하다. In this embodiment, it is preferable that the said acrylic polymer contains 13 mol% or more of structural units of the alkyl (meth)acrylate which has a C9 or more alkyl group.

본 실시 형태에 있어서, 상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 9 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 30몰% 이상 포함하는 것이 보다 바람직하고, 40몰% 이상 포함하는 것이 더욱 바람직하다.In the present embodiment, the acrylic polymer preferably contains 30 mol% or more of a structural unit of an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 9 or more carbon atoms, and more preferably 40 mol% or more.

본 실시 형태에 있어서, 상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 9 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 80몰% 이하 포함하는 것이 바람직하다.In this embodiment, it is preferable that the said acrylic polymer contains 80 mol% or less of structural units of the alkyl (meth)acrylate which has a C9 or more alkyl group.

본 실시 형태에 있어서, 상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 15몰% 이상 포함하는 것이 바람직하다.In this embodiment, it is preferable that the said acrylic polymer contains 15 mol% or more of structural units of the alkyl (meth)acrylate which has a C12 or more alkyl group.

본 실시 형태에 있어서, 상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 30몰% 이상 포함하는 것이 바람직하고, 40몰% 이상 포함하는 것이 보다 바람직하다.In this embodiment, it is preferable that the said acrylic polymer contains 30 mol% or more of structural units of the alkyl (meth)acrylate which has a C12 or more alkyl group, and it is more preferable that it contains 40 mol% or more.

본 실시 형태에 있어서, 상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 80몰% 이하 포함하는 것이 바람직하다.In this embodiment, it is preferable that the said acrylic polymer contains 80 mol% or less of structural units of the alkyl (meth)acrylate which has a C12 or more alkyl group.

상기 아크릴계 폴리머가, 상기와 같은 것임으로써, 다이 본드층(3)을 점착제층(2)으로부터 박리시킬 때, 다이 본드층(3)에 대한 점착제층(2)의 박리력을 한층 더 저하시킬 수 있다.When the die-bonding layer 3 is peeled from the pressure-sensitive adhesive layer 2, the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer 2 relative to the die-bonding layer 3 can be further reduced by the acrylic polymer being the same as described above. have.

이에 의해, 픽업 공정을 한층 더 원활하게 실시할 수 있다.Thereby, a pick-up process can be performed more smoothly.

또한, 상기 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위에 있어서의 탄소수의 상한값은 18이다.In addition, the upper limit of carbon number in the structural unit of the said alkyl (meth)acrylate is 18.

본 실시 형태에 있어서, 상기 아크릴계 폴리머는, 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위에 의해 구성되어 있는 것이 바람직하다.In this embodiment, it is preferable that the said acrylic polymer is comprised by the structural unit of an alkyl (meth)acrylate and the structural unit of a hydroxyl-containing (meth)acrylate.

상기 아크릴계 폴리머가 이와 같이 구성되는 경우, 상기 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 탄소수 9 이상 14 이하의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위인 것이 바람직하다.When the acrylic polymer is structured in this way, it is preferable that the structural unit of the alkyl (meth)acrylate is an alkyl (meth)acrylate structural unit having an alkyl group having 9 or more and 14 or less carbon atoms.

이와 같이 구성되는 아크릴계 폴리머에 있어서, 탄소수 9 이상 14 이하의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 15몰% 이상 포함되어 있는 것이 바람직하고, 30몰% 이상 포함되어 있는 것이 보다 바람직하며, 40몰% 이상 포함되어 있는 것이 더욱 바람직하다.In the acrylic polymer structured as described above, the structural unit of an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 9 or more and 14 or less carbon atoms is preferably contained at 15 mol% or more, and more preferably 30 mol% or more. It is more preferable that 40 mol% or more is contained.

이와 같이 구성되는 아크릴계 폴리머에 있어서, 탄소수 9 이상 14 이하의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 80몰% 이하 포함되어 있는 것이 바람직하다.In the acrylic polymer structured in this way, it is preferable that the structural unit of an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group of 9 or more and 14 or less carbon atoms is contained in an amount of 80 mol% or less.

이와 같이 구성되는 아크릴계 폴리머에 있어서, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 10몰% 이상 포함되어 있는 것이 바람직하고, 20몰% 이상 포함되어 있는 것이 보다 바람직하다.In the acrylic polymer constituted in this way, the constituent unit of the hydroxyl group-containing (meth)acrylate is preferably contained at 10 mol% or more, and more preferably at 20 mol% or more.

상기 아크릴계 폴리머가, 상기와 같은 것임으로써, 다이 본드층(3)을 점착제층(2)으로부터 박리시킬 때, 다이 본드층(3)에 대한 점착제층(2)의 박리력을 한층 더 저하시킬 수 있다.When the die-bonding layer 3 is peeled from the pressure-sensitive adhesive layer 2, the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer 2 relative to the die-bonding layer 3 can be further reduced by the acrylic polymer being the same as described above. have.

이에 의해, 픽업 공정을 한층 더 원활하게 실시할 수 있다.Thereby, a pick-up process can be performed more smoothly.

상기 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위에서는, 해당 구성 단위에 포함되는 수산기가, 이소시아네이트기와 용이하게 반응한다.In the structural unit of the said hydroxyl-containing (meth)acrylate, the hydroxyl group contained in this structural unit reacts easily with an isocyanate group.

그 때문에, 점착제층(2) 중에, 상기 아크릴계 폴리머로서, 상기 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 상기 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위에 의해 구성되어 있는 것을 함유시킴과 함께, 이소시아네이트 화합물을 함유시켜 둠으로써, 상기 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위 중의 수산기와, 이소시아네이트 화합물 중의 이소시아네이트기가 반응하게 되어, 점착제층(2)을 적절하게 경화시킬 수 있다.Therefore, while containing what is comprised by the structural unit of the said alkyl (meth)acrylate and the structural unit of the said hydroxyl-containing (meth)acrylate as said acrylic polymer in the adhesive layer 2, isocyanate By containing the compound, the hydroxyl group in the structural unit of the hydroxyl group-containing (meth)acrylate reacts with the isocyanate group in the isocyanate compound, so that the pressure-sensitive adhesive layer 2 can be appropriately cured.

상기 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트 모노머에서 유래한다.The structural unit of the said hydroxyl-containing (meth)acrylate originates in the hydroxyl-containing (meth)acrylate monomer.

즉, 중합 후의 수산기 함유 (메트)아크릴레이트 모노머의 구조가, 상기 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위이다.That is, the structure of the hydroxyl group-containing (meth)acrylate monomer after polymerization is a structural unit of the hydroxyl group-containing (meth)acrylate.

상기 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 수산기 함유 C2 내지 C4 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위인 것이 바람직하다.It is preferable that the structural unit of the said hydroxyl-containing (meth)acrylate is a hydroxyl-containing C2-C4 alkyl (meth)acrylate structural unit.

상기 수산기 함유 C2 내지 C4 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위에 있어서, 알킬은 통상, 포화 탄화수소이다.In the structural units of the above hydroxyl group-containing C2 to C4 alkyl (meth)acrylates, the alkyl is usually a saturated hydrocarbon.

예를 들어, 상기 알킬은, 직쇄상 포화 탄화수소, 또는 분지쇄상 포화 탄화수소이다.For example, the alkyl is a straight-chain saturated hydrocarbon or a branched-chain saturated hydrocarbon.

또한, 상기 알킬은, 산소나 질소 등을 함유하는 극성기를 포함하고 있지 않은 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the said alkyl does not contain the polar group containing oxygen, nitrogen, etc.

상기 수소기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위에 있어서, 수산기는, 알킬의 어느 탄소에 결합하고 있어도 되기는 하지만, 알킬의 말단의 탄소에 결합하고 있는 것이 바람직하다.In the structural unit of the above hydrogen group-containing (meth)acrylate, the hydroxyl group may be bonded to any carbon of the alkyl, but is preferably bonded to the terminal carbon of the alkyl.

상기 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위로서는, 예를 들어 히드록시에틸(메트)아크릴레이트, 히드록시프로필(메트)아크릴레이트, 또는 히드록시 n-부틸(메트)아크릴레이트 혹은 히드록시 iso-부틸(메트)아크릴레이트와 같은 히드록시부틸(메트)아크릴레이트와 같은 구성 단위를 들 수 있다.As a structural unit of the said hydroxyl-containing (meth)acrylate, for example, hydroxyethyl (meth)acrylate, hydroxypropyl (meth)acrylate, hydroxy n-butyl (meth)acrylate, or hydroxy iso- and structural units such as hydroxybutyl (meth)acrylate such as butyl (meth)acrylate.

이들 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위 중에서도 히드록시에틸(메트)아크릴레이트의 구성 단위가 바람직하고, 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트의 구성 단위가 보다 바람직하다.Among these structural units of hydroxyl group-containing (meth)acrylate, a structural unit of hydroxyethyl (meth)acrylate is preferable, and a structural unit of 2-hydroxyethyl (meth)acrylate is more preferable.

본 실시 형태에 있어서, 상기 아크릴계 폴리머는, 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위에 의해 구성되어 있는 것이 바람직하다.In the present embodiment, the acrylic polymer is composed of a structural unit of an alkyl (meth)acrylate, a structural unit of a hydroxyl group-containing (meth)acrylate, and a structural unit of a polymerizable group-containing (meth)acrylate. it is desirable

상기 아크릴계 폴리머가, 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함하고 있음으로써, 픽업 공정 전에, 점착제층(2)에 활성 에너지선(예를 들어, 자외선)을 조사함으로써, 점착제층(2)을 경화시킬 수 있다.Since the acrylic polymer contains a structural unit of polymerizable group-containing (meth)acrylate, the pressure-sensitive adhesive layer 2 is irradiated with active energy rays (eg, ultraviolet rays) before the pick-up step. ) can be cured.

구체적으로는, 활성 에너지선(예를 들어, 자외선)을 점착제층(2)에 조사시킴으로써, 점착제층(2) 중에 포함되는 상기 아크릴계 폴리머끼리를 가교시킴으로써, 점착제층(2)을 경화시킬 수 있다.Specifically, the pressure-sensitive adhesive layer 2 can be cured by irradiating the pressure-sensitive adhesive layer 2 with active energy rays (eg, ultraviolet rays) to crosslink the acrylic polymers contained in the pressure-sensitive adhesive layer 2 with each other. .

가교 반응을 보다 진행시키기 쉽게 한다는 관점에서, 점착제층(2)은, 광중합 개시제를 포함하고 있는 것이 바람직하다. 점착제층(2)이 광중합 개시제를 포함하고 있음으로써, 활성 에너지선(예를 들어, 자외선)을 조사시킴으로써, 상기 광중합 개시제로부터 라디칼을 발생시켜서, 이 라디칼의 작용에 의해, 상기 아크릴계 폴리머끼리의 가교 반응을 보다 진행시킬 수 있다.It is preferable that the adhesive layer 2 contains the photoinitiator from a viewpoint of making it easy to advance a crosslinking reaction more. Since the pressure-sensitive adhesive layer 2 contains a photopolymerization initiator, radicals are generated from the photopolymerization initiator by irradiation with active energy rays (eg, ultraviolet rays), and crosslinking of the acrylic polymers is effected by the action of the radicals. The reaction can proceed further.

이와 같이, 활성 에너지선(예를 들어, 자외선)이 조사되어 점착제층(2)이 경화되면, 다이 본드층(3)에 대한 점착제층(2)의 점착력이 저하된다. 그 결과, 점착제층(2)으로부터, 다이 본드층을 구비하는 반도체 칩을 용이하게 픽업할 수 있다.When the pressure-sensitive adhesive layer 2 is cured by irradiation with active energy rays (eg, ultraviolet rays) in this way, the adhesive force of the pressure-sensitive adhesive layer 2 to the die-bonding layer 3 is reduced. As a result, the semiconductor chip provided with the die bonding layer can be easily picked up from the pressure-sensitive adhesive layer 2 .

또한, 활성 에너지선(예를 들어, 자외선)을 조사하기 전에 있어서는, 점착제층(2) 중에 있어서, 상기 아크릴계 폴리머끼리의 가교 반응은 충분히 진행되어 있지 않기 때문에, 점착제층(2)은 충분한 점착성을 갖고 있으며, 다이 본드층(3)을 충분히 점착해서 보유 지지할 수 있다.In addition, before irradiation with active energy rays (eg, ultraviolet rays), in the pressure-sensitive adhesive layer 2, since the crosslinking reaction between the acrylic polymers does not sufficiently proceed, the pressure-sensitive adhesive layer 2 has sufficient adhesiveness. , and the die bonding layer 3 can be sufficiently adhered and held.

상기 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 수산기와 결합 가능한 관능기 및 중합성 관능기를 분자 중에 갖는 모노머를, 상기 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위에 결합시킴으로써 형성될 수 있다.The constituent unit of the polymerizable group-containing (meth)acrylate may be formed by binding a functional group capable of bonding with a hydroxyl group and a monomer having a polymerizable functional group in a molecule to the constituent unit of the hydroxyl group-containing (meth)acrylate.

상기 수소 결합과 결합 가능한 관능기는, 수산기와의 반응성이 비교적 높은 이소시아네이트기인 것이 바람직하다. 이와 같은 경우, 상기 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 분자 양 말단에, 이소시아네이트기와, 중합성기 관능기를 갖는 것이 바람직하다.It is preferable that the functional group bondable to the hydrogen bond is an isocyanate group having a relatively high reactivity with a hydroxyl group. In such a case, the constituent unit of the polymerizable group-containing (meth)acrylate preferably has an isocyanate group and a polymerizable group functional group at both molecular terminals.

또한, 상기 중합성 관능기는, 비닐기인 것이 바람직하다. 이와 같은 경우, 상기 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 분자 양 말단에, 이소시아네이트기와, 비닐기를 갖는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the said polymerizable functional group is a vinyl group. In such a case, the structural unit of the polymerizable group-containing (meth)acrylate preferably has an isocyanate group and a vinyl group at both molecular terminals.

또한, 상기 비닐기는, (메트)아크릴로일기의 일부여도 된다.In addition, a part of (meth)acryloyl group may be sufficient as the said vinyl group.

상기 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위는, 상기 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위 중의 수산기에, 이소시아네이트기를 함유하는 상기 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위 중의 상기 이소시아네이트기가 우레탄 결합한 분자 구조를 갖고 있어도 된다.The structural unit of the polymerizable group-containing (meth)acrylate contains an isocyanate group as the hydroxyl group in the structural unit of the hydroxyl group-containing (meth)acrylate, and the isocyanate group in the structural unit of the polymerizable group-containing (meth)acrylate is urethane You may have a combined molecular structure.

또한, 이하에서는, 이소시아네이트기를 함유하는 상기 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트 모노머를 이소시아네이트기 함유 (메트)아크릴레이트 모노머라고 칭하는 경우가 있다.In addition, below, the polymerizable group-containing (meth)acrylate monomer containing an isocyanate group may be referred to as an isocyanate group-containing (meth)acrylate monomer.

상기 알킬계 폴리머가, 상기 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 상기 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 상기 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위에 의해 구성되어 있는 것인 경우, 이하와 같이 하여 얻을 수 있다.The alkyl-based polymer is constituted by the structural unit of the alkyl (meth) acrylate, the structural unit of the hydroxyl group-containing (meth) acrylate, and the structural unit of the polymerizable group-containing (meth) acrylate. In this case, it can be obtained as follows.

구체적으로는, 알킬(메트)아크릴레이트 모노머와 수산기 함유 (메트)아크릴레이트 모노머를 중합 반응시켜서, 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함하는 알킬계 폴리머의 중간체를 얻은 후, 상기 알킬계 폴리머의 중간체와, 이소시아네이트기 함유 (메트)아크릴레이트 모노머를 중합 반응시킴으로써, 상기 알킬계 폴리머를 얻을 수 있다.Specifically, an alkyl (meth)acrylate monomer and a hydroxyl group-containing (meth)acrylate monomer are polymerized to form an alkyl (meth)acrylate structural unit and an alkyl containing a hydroxyl group-containing (meth)acrylate structural unit. After obtaining the intermediate of the alkyl-based polymer, the alkyl-based polymer can be obtained by subjecting the intermediate of the alkyl-based polymer to a polymerization reaction between the isocyanate group-containing (meth)acrylate monomer.

즉, 중합 반응을 2단계로 나누어 행함으로써, 상기 아크릴계 폴리머를 얻을 수 있다.That is, the acrylic polymer can be obtained by carrying out the polymerization reaction in two steps.

또한, 상기 아크릴계 폴리머의 중간체와, 상기 이소시아네이트기 함유 (메트)아크릴레이트 모노머의 중합 반응은, 상기 아크릴계 폴리머의 중간체에 있어서의 수산기와, 상기 이소시아네이트기 함유 (메트)아크릴레이트 모노머의 이소시아네이트기를 우레탄 결합시킴으로써 실시할 수 있다.In the polymerization reaction between the acrylic polymer intermediate and the isocyanate group-containing (meth)acrylate monomer, the hydroxyl group in the acrylic polymer intermediate and the isocyanate group of the isocyanate group-containing (meth)acrylate monomer form a urethane bond. It can be done by doing

상기 이소시아네이트기 함유 (메트)아크릴레이트 모노머는, 분자 중에, 이소시아네이트기를 1개 갖고, 또한 (메트)아크릴로일기를 1개 갖는 것이면 바람직하다.The isocyanate group-containing (meth)acrylate monomer preferably has one isocyanate group and one (meth)acryloyl group in its molecule.

이와 같은 상기 이소시아네이트기 함유 (메트)아크릴레이트 모노머로서는, 2-이소시아나토에틸(메트)아크릴레이트, 4-아크릴로일모르폴린 등을 들 수 있다.Examples of such an isocyanate group-containing (meth)acrylate monomer include 2-isocyanatoethyl (meth)acrylate and 4-acryloylmorpholine.

점착제층(2)은, 이소시아네이트 화합물을 포함하고 있는 것이 바람직하다.It is preferable that the adhesive layer 2 contains an isocyanate compound.

상기 이소시아네이트 화합물은, 일부가 우레탄화 반응 등에 의해 반응한 후의 상태여도 된다.The said isocyanate compound may be in the state after a part reacted by urethanization reaction etc.

상기 이소시아네이트 화합물은, 분자 중에, 복수의 이소시아네이트기를 포함하는 것이 바람직하다. 복수의 이소시아네이트기를 포함함으로써, 상기 아크릴계 폴리머가, 상기 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 갖는 것인 경우에는, 점착제층(2)에 있어서의 상기 아크릴계 폴리머끼리의 가교 반응을 진행시킬 수 있다.It is preferable that the said isocyanate compound contains a some isocyanate group in a molecule|numerator. By including a plurality of isocyanate groups, when the acrylic polymer has a structural unit of the hydroxyl group-containing (meth)acrylate, a crosslinking reaction between the acrylic polymers in the pressure-sensitive adhesive layer 2 can be promoted. .

구체적으로는, 상기 이소시아네이트 화합물의 하나의 이소시아네이트기를 하나의 상기 아크릴계 폴리머의 수산기와 반응시키고, 상기 이소시아네이트 화합물의 다른 이소시아네이트기를 다른 상기 아크릴계 폴리머의 수산기와 반응시킴으로써, 복수의 이소시아네이트기를 포함하는 이소시아네이트 화합물을 통해 가교 반응을 진행시킬 수 있다.Specifically, an isocyanate compound containing a plurality of isocyanate groups is obtained by reacting one isocyanate group of the isocyanate compound with a hydroxyl group of one acrylic polymer and reacting another isocyanate group of the isocyanate compound with a hydroxyl group of another acrylic polymer. A crosslinking reaction can proceed.

즉, 상기 이소시아네이트 화합물은, 가교제로서 기능한다.That is, the isocyanate compound functions as a crosslinking agent.

점착제층(2)은, 상기 이소시아네이트 화합물을, 상기 아크릴계 폴리머의 100질량부에 대하여, 0.1질량부 이상 5질량부 이하 포함하는 것이 바람직하고, 0.5질량부 이상 3질량부 이하 포함하는 것이 보다 바람직하며, 0.75질량부 이상 2질량부 이하 포함하는 것이 더욱 바람직하다.The pressure-sensitive adhesive layer 2 preferably contains 0.1 part by mass or more and 5 parts by mass or less, more preferably 0.5 part by mass or more and 3 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the acrylic polymer, of the isocyanate compound. , It is more preferable to include 0.75 parts by mass or more and 2 parts by mass or less.

상기 이소시아네이트 화합물로서는, 지방족 디이소시아네이트, 지환족 디이소시아네이트, 또는 방향족 디이소시아네이트 등의 디이소시아네이트를 들 수 있다.As said isocyanate compound, diisocyanate, such as aliphatic diisocyanate, alicyclic diisocyanate, or aromatic diisocyanate, is mentioned.

상기 지방족 디이소시아네이트로서는, 에틸렌디이소시아네이트, 테트라메틸렌디이소시아네이트, 헥사메틸렌디이소시아네이트, 2,4,4-트리메틸헥사메틸렌디이소시아네이트, 2,2,4-트리메틸헥사메틸렌디이소시아네이트, 2,6-디이소시아나토카프로산메틸 등을 들 수 있다.Examples of the aliphatic diisocyanates include ethylene diisocyanate, tetramethylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, 2,4,4-trimethylhexamethylene diisocyanate, 2,2,4-trimethylhexamethylene diisocyanate, and 2,6-diisocyanate. A methyl natocaproate etc. are mentioned.

상기 지환족 디이소시아네이트로서는, 3-이소시아나토메틸-3,5,5-트리메틸시클로헥산, 1,3-비스(이소시아나토메틸)시클로헥산, 1,4-비스(이소시아나토메틸)시클로헥산, 메틸시클로헥산-2,4-디이소시아네이트, 메틸시클로헥산-2,6-디이소시아네이트, 디시클로헥산메탄-4,4'-디이소시아네이트, 1,3-디이소시아나토시클로헥산, 1,4-디이소시아나토시클로헥산 등을 들 수 있다.Examples of the alicyclic diisocyanate include 3-isocyanatomethyl-3,5,5-trimethylcyclohexane, 1,3-bis(isocyanatomethyl)cyclohexane, and 1,4-bis(isocyanatomethyl)cyclohexane. Hexane, methylcyclohexane-2,4-diisocyanate, methylcyclohexane-2,6-diisocyanate, dicyclohexanemethane-4,4'-diisocyanate, 1,3-diisocyanatocyclohexane, 1,4 - Diisocyanatocyclohexane etc. are mentioned.

상기 방향족 디이소시아네이트로서는, m-페닐렌디이소시아네이트, p-페닐렌디이소시아네이트, 디페닐메탄-4,4'-디이소시아네이트, 2,4-톨릴렌디이소시아네이트, 2,6-톨릴렌디이소시아네이트, 1,3'-비스(이소시아나토메틸)벤젠, 1,4'-비스(이소시아나토메틸)벤젠, 1,3-비스(α-이소시아나토이소프로필)벤젠, 1,4-(α-이소시아나토이소프로필)등을 들 수 있다.Examples of the aromatic diisocyanate include m-phenylene diisocyanate, p-phenylene diisocyanate, diphenylmethane-4,4'-diisocyanate, 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, and 1,3' -bis(isocyanatomethyl)benzene, 1,4'-bis(isocyanatomethyl)benzene, 1,3-bis(α-isocyanatoisopropyl)benzene, 1,4-(α-isocyanato isopropyl), etc.

또한, 상기 이소시아네이트 화합물로서는, 트리이소시아네이트를 들 수 있다.Moreover, triisocyanate is mentioned as said isocyanate compound.

상기 트리이소시아네이트로서는, 트리페닐메탄-4,4',4"-트리이소시아네이트, 1,3,5-트리이소시아나토벤젠, 1,3,5-트리스(이소시아나토메틸)시클로헥산, 1,3,5-트리스(이소시아나토메틸)벤젠, 2,6-디이소시아나토카프로산-2-이소시아나토에틸 등을 들 수 있다.Examples of the triisocyanate include triphenylmethane-4,4',4"-triisocyanate, 1,3,5-triisocyanatobenzene, 1,3,5-tris(isocyanatomethyl)cyclohexane, and 1,3 ,5-tris(isocyanatomethyl)benzene, 2,6-diisocyanatocaproic acid-2-isocyanatoethyl, etc. are mentioned.

또한, 상기 이소시아네이트 화합물로서는, 디이소시아네이트의 이량체나 삼량체 등의 중합 폴리이소시아네이트, 폴리메틸렌폴리페닐렌폴리이소시아네이트 등을 들 수 있다.Moreover, as said isocyanate compound, polymeric polyisocyanate, such as a dimer and trimer of diisocyanate, polymethylene polyphenylene polyisocyanate, etc. are mentioned.

또한, 상기 이소시아네이트 화합물로서는, 상기한 이소시아네이트 화합물의 과잉량과, 활성 수소 함유 화합물을 반응시켜 얻어지는 폴리이소시아네이트를 들 수 있다.Moreover, as said isocyanate compound, polyisocyanate obtained by making an excessive amount of said isocyanate compound and an active hydrogen containing compound react is mentioned.

상기 활성 수소 함유 화합물로서는, 에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 디프로필렌글리콜, 디에틸렌글리콜, 트리에틸렌글리콜, 2,2,4-트리메틸-1,3-펜탄디올, 네오펜틸글리콜, 헥산디올, 시클로헥산디메탄올, 시클로헥산디올, 수소 첨가 비스페놀 A, 크실릴렌글리콜, 글리세린, 트리메틸올에탄, 트리메틸올프로판, 헥산트리올, 펜타에리트리톨, 소르비톨, 소르비트, 수크로오스, 피마자유, 에틸렌디아민, 헥사메틸렌디아민, 디에탄올아민, 트리에탄올아민, 물, 암모니아, 요소 등을 들 수 있다.Examples of the active hydrogen-containing compound include ethylene glycol, propylene glycol, dipropylene glycol, diethylene glycol, triethylene glycol, 2,2,4-trimethyl-1,3-pentanediol, neopentyl glycol, hexanediol, and cyclohexanediol. Methanol, cyclohexanediol, hydrogenated bisphenol A, xylylene glycol, glycerin, trimethylolethane, trimethylolpropane, hexanetriol, pentaerythritol, sorbitol, sorbitol, sucrose, castor oil, ethylenediamine, hexamethylenediamine , diethanolamine, triethanolamine, water, ammonia, urea, and the like.

또한, 다양한 폴리에테르 폴리올, 폴리에스테르 폴리올, 폴리우레탄 폴리올, 아크릴 폴리올, 에폭시 폴리올 등도 들 수 있다.Further, various polyether polyols, polyester polyols, polyurethane polyols, acrylic polyols, epoxy polyols, and the like can be mentioned.

또한, 상기 디이소시아네이트 화합물로서는, 알로파네이트화 폴리이소시아네이트, 뷰렛화 폴리이소시아네이트 등도 사용할 수 있다.Moreover, as said diisocyanate compound, allophanated polyisocyanate, buretized polyisocyanate, etc. can be used.

상기 각종 이소시아네이트 화합물은, 1종만으로 사용해도 되고, 2종 이상을 조합해서 사용해도 된다.The said various isocyanate compounds may be used only by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

상기 이소시아네이트 화합물로서는, 상기 방향족 디이소시아네이트와 상기 활성 수소 함유 화합물의 반응물인 것이 바람직하다.As said isocyanate compound, it is preferable that it is a reaction material of the said aromatic diisocyanate and the said active hydrogen containing compound.

이와 같은 반응물은, 이소시아네이트기의 반응 속도가 비교적 느리기 때문에, 점착제층(2)에 포함시킨 경우에, 점착제층(2)에 있어서 과도하게 경화 반응이 진행되는 것을 억제할 수 있다.Since such a reactant has a relatively slow reaction rate of an isocyanate group, when it is included in the adhesive layer 2, it can suppress that a hardening reaction advances excessively in the adhesive layer 2.

이와 같은 반응물로서는, 분자 중에 이소시아네이트기를 3개 이상 포함하는 것을 사용하는 것이 바람직하다.As such a reactant, it is preferable to use one containing three or more isocyanate groups in the molecule.

점착제층(2)은, 상기한 바와 같이, 상기 아크릴계 폴리머끼리의 가교 반응을 보다 진행시키기 쉽게 한다는 관점에서, 광중합 개시제를 포함하고 있는 것이 바람직하다.As described above, the pressure-sensitive adhesive layer 2 preferably contains a photopolymerization initiator from the viewpoint of making it easier to advance the crosslinking reaction between the acrylic polymers.

상기 광중합 개시제로서는, α-케톨 화합물, 아세토페논계 화합물, 벤조인에테르 화합물, 케탈계 화합물, 방향족 술포닐클로라이드계 화합물, 광 활성 옥심계 화합물, 벤조페논계 화합물, 티오크산톤계 화합물, 캄포퀴논, 할로겐화 케톤, 아실포스핀옥시드, 및 아실포스포네이트를 들 수 있다.Examples of the photopolymerization initiator include α-ketol compounds, acetophenone compounds, benzoin ether compounds, ketal compounds, aromatic sulfonyl chloride compounds, photoactive oxime compounds, benzophenone compounds, thioxanthone compounds, and camphorquinone. , halogenated ketones, acylphosphine oxides, and acylphosphonates.

α-케톨 화합물로서는, 예를 들어 4-(2-히드록시에톡시)페닐(2-히드록시-2-프로필)케톤, α-히드록시-α,α'-디메틸아세토페논, 2-메틸-2-히드록시프로피오페논, 및 1-히드록시시클로헥실페닐케톤을 들 수 있다.As an α-ketol compound, for example, 4-(2-hydroxyethoxy)phenyl(2-hydroxy-2-propyl)ketone, α-hydroxy-α,α'-dimethylacetophenone, 2-methyl- 2-hydroxypropiophenone, and 1-hydroxycyclohexylphenyl ketone.

아세토페논계 화합물로서는, 예를 들어 메톡시아세토페논, 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-온, 2,2-디에톡시아세토페논, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)-페닐]-2-모르폴리노프로판-1, 및 2-히드록시-1-(4-(4-(2-히드록시-2메틸프로피오닐)벤조일)페닐)-2-메틸프로판-1-온을 들 수 있다.As an acetophenone compound, for example, methoxy acetophenone, 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one, 2,2-diethoxy acetophenone, 2-methyl-1-[4 -(methylthio)-phenyl]-2-morpholinopropane-1, and 2-hydroxy-1-(4-(4-(2-hydroxy-2methylpropionyl)benzoyl)phenyl)-2- and methylpropan-1-one.

벤조인에테르계 화합물로서는, 예를 들어 벤조인에틸에테르, 벤조인이소프로필에테르, 및 아니소인메틸에테르를 들 수 있다.As a benzoin ether type compound, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, and anisoin methyl ether is mentioned, for example.

케탈 화합물로서는, 예를 들어 벤질디메틸케탈 화합물을 들 수 있다.As a ketal compound, a benzyl dimethyl ketal compound is mentioned, for example.

방향족 술포닐클로라이드계 화합물로서는, 예를 들어 2-나프탈렌술포닐클로라이드를 들 수 있다.As an aromatic sulfonyl chloride type compound, 2-naphthalene sulfonyl chloride is mentioned, for example.

광 활성 옥심계 화합물로서는, 예를 들어 1-페닐-1,2-프로판디온-2-(O-에톡시카르보닐)옥심을 들 수 있다.Examples of the photoactive oxime-based compound include 1-phenyl-1,2-propanedione-2-(O-ethoxycarbonyl)oxime.

벤조페논계 화합물로서는, 예를 들어 벤조페논, 벤조인벤조산, 및 3,3'-디메틸-4-메톡시벤조페논을 들 수 있다.Examples of the benzophenone-based compound include benzophenone, benzoinbenzoic acid, and 3,3'-dimethyl-4-methoxybenzophenone.

티오크산톤계 화합물로서는, 예를 들어 티오크산톤, 2-클로로티오크산톤, 2-메틸티오크산톤, 2,4-디메틸티오크산톤, 이소프로필티오크산톤, 2,4-디클로로티오크산톤, 2,4-디에틸티오크산톤, 및 2,4-디이소프로필티오크산톤을 들 수 있다.As a thioxanthone compound, for example, thioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2,4-dimethylthioxanthone, isopropylthioxanthone, 2,4-dichlorothioxanthone xanthone, 2,4-diethylthioxanthone, and 2,4-diisopropylthioxanthone.

이들 중에서도, 2-히드록시-1-(4-(4-(2-히드록시-2메틸프로피오닐)벤조일)페닐)-2-메틸프로판-1-온(시판품으로서는, IGM Resins사 제조의 Omnirad 127)을 사용하는 것이 바람직하다.Among these, 2-hydroxy-1-(4-(4-(2-hydroxy-2methylpropionyl)benzoyl)phenyl)-2-methylpropan-1-one (as a commercial item, IGM Resins Omnirad 127) is preferred.

점착제층(2)은, 상기 광중합 개시제를, 상기 아크릴계 폴리머의 100질량부에 대하여 0.1질량부 이상 10질량부 이하 포함하는 것이 바람직하고, 0.5질량부 이상 7질량부 이하 포함하는 것이 보다 바람직하며, 0.75질량부 이상 5질량부 이하 포함하는 것이 더욱 바람직하다.The pressure-sensitive adhesive layer 2 preferably contains 0.1 parts by mass or more and 10 parts by mass or less, and more preferably contains 0.5 parts by mass or more and 7 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the acrylic polymer, of the photopolymerization initiator. It is more preferable to include 0.75 parts by mass or more and 5 parts by mass or less.

점착제층(2)은, 상기한 이외의 다른 성분을 포함하고 있어도 된다.The pressure-sensitive adhesive layer 2 may contain components other than those described above.

상기 다른 성분으로서는, 가소제, 충전제, 노화 방지제, 산화 방지제, 자외선 흡수제, 광안정제, 내열 안정제, 대전 방지제, 계면 활성제, 경박리화제 등을 들 수 있다.Examples of the other components include a plasticizer, a filler, an antiaging agent, an antioxidant, an ultraviolet absorber, a light stabilizer, a heat stabilizer, an antistatic agent, a surfactant, and an easy peeling agent.

점착제층(2)의 두께는, 1㎛ 이상 50㎛ 이하인 것이 바람직하고, 2㎛ 이상 30㎛ 이하인 것이 보다 바람직하며, 5㎛ 이상 25㎛ 이하인 것이 더욱 바람직하다.The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 2 is preferably 1 μm or more and 50 μm or less, more preferably 2 μm or more and 30 μm or less, and still more preferably 5 μm or more and 25 μm or less.

점착제층(2)의 두께는, 예를 들어 다이알 게이지(PEACOCK사 제조, 형식 R-205)를 사용하여, 랜덤하게 선택한 임의의 5점의 두께를 측정하고, 이들 두께를 산술 평균함으로써 구할 수 있다.The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 2 can be obtained by, for example, measuring the thickness of five randomly selected points using a dial gauge (model R-205 manufactured by PEACOCK) and arithmetic averaging these thicknesses. .

본 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름(20)에 있어서는, 점착제층(2)의 노출 부분 및 다이 본드층(3)과의 적층 부분의 각각에 대하여, FTIR 분석을 행하고, 점착제층(2)의 노출 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H1로 하고, 점착제층(2)의 노출 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T1로 하고, 다이 본드층(3)과의 적층 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H2로 하고, 다이 본드층(3)과의 적층 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T2로 했을 때, 하기 식 (1)에서 산출되는 R의 값이 1.5 이하이다.In the dicing die-bonding film 20 according to the present embodiment, FTIR analysis is performed on each of the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer 2 and the laminated portion with the die-bonding layer 3, and the pressure-sensitive adhesive layer 2 The sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the exposed part of the H1, and 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the exposed part of the pressure-sensitive adhesive layer (2) The peak height appearing in the range is T1, the sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the laminated portion with the die bonding layer 3 is H2, and the die bonding layer ( When the peak height appearing in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the laminated portion with 3) is T2, the value of R calculated by the following formula (1) is 1.5 or less.

Figure pat00002
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상기 FTIR 분석은, 측정 장치로서, 푸리에 변경 적외 분광 광도계(Thermo Scientific사 제조, 상품명 「Nicolet iS10 FT-IR」)를 사용하여, 이하의 조건을 채용함으로써 행할 수 있다.The FTIR analysis can be performed by employing the following conditions using a Fourier transform infrared spectrophotometer (manufactured by Thermo Scientific, trade name "Nicolet iS10 FT-IR") as a measuring device.

·측정광: 편광・Measurement light: polarization

·측정 모드: 전반사 감쇠 분광(ATR)・Measurement Mode: Total Reflection Attenuation Spectroscopy (ATR)

·측정 범위: 600㎝-1 내지 4000㎝-1 Measurement range: 600 cm -1 to 4000 cm -1

·측정 간격: 0.5㎝-1마다・Measurement interval: every 0.5 cm -1

또한, 피크 높이 T1 및 T2, 그리고, 전체 피크 높이의 총합 H1 및 H2는, 상기와 같이 하여 FTIR 분석을 행하였을 때 취득된, 점착제층(2)의 노출 부분에 관한 데이터, 및 다이 본드층(3)과의 적층 부분에 관한 데이터를, 횡축을 파수(단위는 ㎝-1), 종축을 검출 강도(abs)로 한 그래프상에 각각 플롯한 후, 각각의 데이터 계열마다 플롯한 데이터끼리를 연결하는 곡선을 그어, 각 곡선을 해석함으로써 구할 수 있다.In addition, the peak heights T1 and T2 and the sum total of all peak heights H1 and H2 are the data on the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer 2 obtained when the FTIR analysis was performed as described above, and the die-bonding layer ( After plotting the data related to the layered portion with 3) on a graph in which the abscissa is the wave number (unit is cm -1 ) and the ordinate is the detected intensity (abs), the data plotted for each data series are connected. It can be obtained by drawing a curve and analyzing each curve.

1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 복수의 피크가 확인되는 경우에는, 피크 높이 T1 및 T2로서는, 복수 중 가장 높은 피크의 높이(검출 강도)를 구함으로써 측정 할 수 있다.When a plurality of peaks are confirmed in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less, the peak heights T1 and T2 can be measured by obtaining the height (detection intensity) of the highest peak among the plurality.

또한, 피크 높이는, 파수를 나타내는 축(횡축)으로부터의 피크의 높이를 의미한다.In addition, the peak height means the height of the peak from the axis representing the wavenumber (horizontal axis).

또한, 전체 피크 높이의 총합 H1 및 H2는, 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 있어서의 각 곡선상, 즉, 점착제층(2)의 노출 부분에 관한 곡선 및 다이 본드층(3)과의 적층 부분에 관한 곡선상에 나타나는, 위로 볼록한 모든 피크의 높이의 총합을 산출함으로써 구할 수 있다.In addition, the sum of all peak heights H1 and H2 is on each curve in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less, that is, the curve for the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer 2 and the die-bonding layer 3 ) can be obtained by calculating the sum of the heights of all upwardly convex peaks appearing on the curve for the stacked portion.

피크 높이 T1 및 T2, 그리고, 전체 피크 높이의 총합 H1 및 H2는, 랜덤하게 선택한 임의의 5군데에 대하여 구한 값을 산술 평균함으로써 구한다.The peak heights T1 and T2 and the sum of all peak heights H1 and H2 are obtained by arithmetic averaging of the values obtained for five randomly selected locations.

또한, 다이 본드층(3)과의 적층 부분에 대해서는, 다이 본드층(3)의 한쪽면 (점착제층(2)과 맞닿아 있지 않은 측의 면)에, 박리용 테이프(예를 들어, 닛토덴코사 제조의 상품명 「ELP BT-315」)를 첩부하여, 손으로 가볍게 힘을 가하면서 점착제층(2)으로부터 다이 본드층(3)을 박리함으로써, 점착제층(2)의 노출면을 출현시키고, 그 노출면으로부터 랜덤하게 선택한 임의의 5군데에 대하여, 상기 FTIR 분석을 행한다.In addition, regarding the laminated portion with the die-bonding layer 3, on one side of the die-bonding layer 3 (surface on the side not in contact with the pressure-sensitive adhesive layer 2), a peeling tape (for example, a tape) is applied. The product name "ELP BT-315" manufactured by Todenko Co., Ltd. is attached, and the die-bonding layer 3 is peeled off from the pressure-sensitive adhesive layer 2 while lightly applying force by hand, thereby revealing the exposed surface of the pressure-sensitive adhesive layer 2 , the above FTIR analysis is performed on five randomly selected locations from the exposed surface.

또한, FT-IR 분석을 행하였을 때 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크는, 방향족 화합물 유래의 피크를 의미하고, 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크(복수의 피크가 확인되는 경우에는, 가장 높은 피크)는, 카르보닐기 유래의 피크를 의미한다.In addition, when FT-IR analysis is performed, the peak appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less means a peak derived from an aromatic compound, and appears in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less The peak (the highest peak when a plurality of peaks are identified) means a peak derived from a carbonyl group.

이러한 점에서, 상기 식 (1)에 있어서, H1/T1은, 점착제층(2)의 노출 부분에 있어서의, 아크릴계 폴리머의 양에 대한 방향족 화합물의 양의 비를 의미하고, H2/T2는, 다이 본드층(3)과의 적층 부분에 있어서의, 아크릴계 폴리머의 양에 대한 방향족 화합물의 양의 비를 의미하고 있다.From this point, in the above formula (1), H1 / T1 means the ratio of the amount of the aromatic compound to the amount of the acrylic polymer in the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer 2, H2 / T2 is, It means the ratio of the amount of the aromatic compound to the amount of the acrylic polymer in the laminated portion with the die bonding layer 3.

즉, 상기 식 (1)에서 산출되는 R의 값이 1.5 이하라는 것은, 다이 본드층(3)과의 적층 부분에 있어서의, 아크릴계 폴리머의 양을 기준으로 한 방향족 화합물의 양이, 점착제층(2)의 노출 부분에 있어서의, 아크릴계 폴리머의 양을 기준으로 한 방향족 화합물의 양과 비교적 가까운 값임을 의미하고 있다.That is, the value of R calculated in the above formula (1) is 1.5 or less, the amount of the aromatic compound based on the amount of the acrylic polymer in the laminated portion with the die bonding layer 3 is the pressure-sensitive adhesive layer ( This means that it is a value relatively close to the amount of aromatic compound based on the amount of acrylic polymer in the exposed portion of 2).

이러한 점에서, 상기 식 (1)에서 산출되는 R의 값은 1.4 이하인 것이 바람직하고, 1.3 이하인 것이 보다 바람직하다.From these points, it is preferable that the value of R calculated by said Formula (1) is 1.4 or less, and it is more preferable that it is 1.3 or less.

또한, 상기 식 (1)에서 산출되는 R의 값은, 후술하는 바와 같이, 다이 본드층(3)으로부터 점착제층(2)으로의 성분 이행에 의해 변동되는 것이라는 점에서, 그 하한값은 1이다.In addition, the lower limit value is 1 in that the value of R calculated by the above formula (1) varies due to the migration of components from the die bond layer 3 to the pressure-sensitive adhesive layer 2, as will be described later.

또한, 상기 식 (1)에서 산출되는 R의 값은, 점착제층(2)을, 아크릴계 폴리머를 포함하는 것으로 하고, 다이 본드층(3)을, 방향족 화합물을 포함하는 것으로 한 다음, 다이 본드층(3)에 포함되는 방향족 화합물의 양을 적절히 조정함으로써 조정할 수 있다.In addition, the value of R calculated by the formula (1) is determined by setting the pressure-sensitive adhesive layer 2 to contain an acrylic polymer and the die-bonding layer 3 to contain an aromatic compound, then the die-bonding layer It can be adjusted by appropriately adjusting the quantity of the aromatic compound contained in (3).

또한, 상기 R의 값은, 점착제층(2)에 포함되는 아크릴계 폴리머를, 탄소수 9 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위나, 탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함하는 것으로 함으로써, 보다 조정하기 쉬워진다.In addition, the value of R is the structural unit of an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group of 9 or more carbon atoms or an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group of 12 or more carbon atoms for the acrylic polymer contained in the pressure-sensitive adhesive layer 2. By including the structural unit, it becomes easier to adjust.

점착제층(2)은, 상기와 같이 각 성분을 포함하는 점착제 조성물을, 애플리케이터 등을 사용하여 수지 필름 등의 표면에 도포한 후, 도포 후의 상기 점착제 조성물을 건조시킴으로써, 얻을 수 있다.The pressure-sensitive adhesive layer 2 can be obtained by applying the pressure-sensitive adhesive composition containing each component as described above to the surface of a resin film or the like using an applicator or the like, and then drying the pressure-sensitive adhesive composition after application.

다이 본드층(3)은, 수지 성분을 포함한다. The die bond layer 3 contains a resin component.

다이 본드층(3)은, 열경화성을 갖는 것이 바람직하다. The die bonding layer 3 preferably has thermosetting properties.

다이 본드층(3)에 열경화성 수지 및 열경화성 관능기를 갖는 열가소성 수지 중 적어도 한쪽을 포함시킴으로써, 다이 본드층(3)을, 열경화성을 갖는 것으로 할 수 있다. The die bonding layer 3 can be made thermosetting by including at least one of a thermosetting resin and a thermoplastic resin having a thermosetting functional group in the die bonding layer 3 .

다이 본드층(3)이 열경화성 수지를 포함하는 경우, 이와 같은 열경화성 수지로서는, 예를 들어 에폭시 수지, 페놀 수지, 아미노 수지, 불포화 폴리에스테르 수지, 폴리우레탄 수지, 실리콘 수지, 및 열경화성 폴리이미드 수지 등을 들 수 있다. 이들 중에서도 에폭시 수지를 사용하는 것이 바람직하다.When the die-bonding layer 3 contains a thermosetting resin, examples of such a thermosetting resin include epoxy resins, phenol resins, amino resins, unsaturated polyester resins, polyurethane resins, silicone resins, and thermosetting polyimide resins. can be heard Among these, it is preferable to use an epoxy resin.

에폭시 수지로서는, 예를 들어 비스페놀 A형, 비스페놀 F형, 비스페놀 S형, 브롬화 비스페놀 A형, 수소 첨가 비스페놀 A형, 비스페놀 AF형, 비페닐형, 나프탈렌형, 플루오렌형, 페놀노볼락형, 오르토크레졸노볼락형, 트리스히드록시페닐메탄형, 테트라페닐올에탄형, 히단토인형, 트리스글리시딜이소시아누레이트형, 및 글리시딜아민형의 에폭시 수지를 들 수 있다.Examples of the epoxy resin include bisphenol A type, bisphenol F type, bisphenol S type, brominated bisphenol A type, hydrogenated bisphenol A type, bisphenol AF type, biphenyl type, naphthalene type, fluorene type, phenol novolac type, Orthocresol novolak type, trishydroxyphenylmethane type, tetraphenylolethane type, hydantoin type, trisglycidyl isocyanurate type, and glycidylamine type epoxy resins.

페놀 수지로서는, 예를 들어 노볼락형 페놀 수지, 레졸형 페놀 수지, 및 폴리파라옥시스티렌 등의 폴리옥시스티렌을 들 수 있다.As a phenol resin, polyoxystyrene, such as a novolak-type phenol resin, a resol-type phenol resin, and polyparaoxystyrene, is mentioned, for example.

또한, 페놀 수지는, 에폭시 수지의 경화제로서 기능한다.In addition, a phenol resin functions as a curing agent for an epoxy resin.

다이 본드층(3)이, 열경화성 관능기를 갖는 열가소성 수지를 포함하는 경우, 이와 같은 열가소성 수지로서는, 예를 들어 열경화성 관능기 함유 아크릴 수지를 들 수 있다. 열경화성 관능기 함유 아크릴 수지에 있어서의 아크릴 수지로서는, (메트)아크릴산에스테르에서 유래하는 모노머 단위를 포함하는 것을 들 수 있다.When the die-bonding layer 3 contains a thermoplastic resin having a thermosetting functional group, examples of such a thermoplastic resin include a thermosetting functional group-containing acrylic resin. As an acrylic resin in a thermosetting functional group containing acrylic resin, what contains the monomer unit derived from (meth)acrylic acid ester is mentioned.

열경화성 관능기를 갖는 열경화성 수지에 있어서는, 열경화성 관능기의 종류에 따라 경화제가 선택된다.In a thermosetting resin having a thermosetting functional group, a curing agent is selected according to the type of the thermosetting functional group.

(메트)아크릴산에스테르로서는, 예를 들어 (메트)아크릴산알킬에스테르, (메트)아크릴산시클로알킬에스테르, 및 (메트)아크릴산아릴에스테르 등을 들 수 있다. 상기 아크릴 수지는, (메트)아크릴산에스테르와 공중합 가능한 다른 성분에서 유래하는 모노머 단위를 포함하고 있어도 된다. 상기 다른 성분으로서는, 예를 들어 카르복시기 함유 모노머, 산 무수물 모노머, 히드록시기 함유 모노머, 글리시딜기 함유 모노머, 술폰산기 함유 모노머, 인산기 함유 모노머, 아크릴아미드, 아크릴니트릴 등의 관능기 함유 모노머나, 각종 다관능성 모노머 등을 들 수 있다. 다이 본드층에 있어서 높은 응집력을 실현한다고 하는 관점에서, 상기 아크릴 수지는, (메트)아크릴산에스테르(특히, 알킬기의 탄소수가 4 이하인 (메트)아크릴산알킬에스테르)와, 카르복시기 함유 모노머와, 질소 원자 함유 모노머와, 다관능성 모노머(특히, 폴리글리시딜계 다관능 모노머)의 공중합체인 것이 바람직하고, 아크릴산에틸과, 아크릴산부틸과, 아크릴산과, 아크릴로니트릴과, 폴리글리시딜(메트)아크릴레이트의 공중합체인 것이 보다 바람직하다.Examples of (meth)acrylic acid esters include (meth)acrylic acid alkyl esters, (meth)acrylic acid cycloalkyl esters, and (meth)acrylic acid aryl esters. The said acrylic resin may contain the monomer unit derived from the other component copolymerizable with (meth)acrylic acid ester. Examples of the other components include carboxy group-containing monomers, acid anhydride monomers, hydroxyl group-containing monomers, glycidyl group-containing monomers, sulfonic acid group-containing monomers, phosphoric acid group-containing monomers, functional group-containing monomers such as acrylamide and acrylonitrile, and various polyfunctional A monomer etc. are mentioned. From the viewpoint of realizing high cohesive force in the die-bonding layer, the acrylic resin is a (meth)acrylic acid ester (particularly, a (meth)acrylic acid alkyl ester having 4 or less carbon atoms in an alkyl group), a carboxyl group-containing monomer, and a nitrogen atom-containing monomer. It is preferably a copolymer of a monomer and a polyfunctional monomer (particularly, a polyglycidyl-based polyfunctional monomer), and is composed of ethyl acrylate, butyl acrylate, acrylic acid, acrylonitrile, and polyglycidyl (meth)acrylate. It is more preferable that it is a copolymer.

다이 본드층(3)은, 수지 성분의 경화 반응을 충분히 진행시키거나, 경화 반응 속도를 높이거나 하는 관점에서, 열경화 촉매(경화 촉진제)를 함유하고 있어도 된다. 열경화 촉매로서는, 예를 들어 이미다졸계 화합물, 인계 화합물, 아민계 화합물, 및 트리할로겐보란계 화합물을 들 수 있다.The die-bonding layer 3 may contain a thermal curing catalyst (curing accelerator) from the viewpoint of sufficiently advancing the curing reaction of the resin component or increasing the curing reaction rate. Examples of the thermal curing catalyst include imidazole-based compounds, phosphorus-based compounds, amine-based compounds, and trihalogen borane-based compounds.

다이 본드층(3)은, 상기 인계 화합물을 포함하고 있는 것이 바람직하다.The die bond layer 3 preferably contains the phosphorus compound.

상기 인계 화합물로서는, 예를 들어 트리페닐포스핀(TPP), 트리(p-톨릴)포스핀(TPTP), 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트(TPP-K), 테트라부틸포스포늄라우레이트(TBPLA), 및 테트라부틸포스포늄하이드로젠헥사히드로나프탈레이트(TBS-3S)를 들 수 있다.Examples of the phosphorus compound include triphenylphosphine (TPP), tri(p-tolyl)phosphine (TPTP), tetraphenylphosphonium tetraphenylborate (TPP-K), and tetrabutylphosphonium laurate (TBPLA). , and tetrabutylphosphonium hydrogen hexahydronaphthalate (TBS-3S).

다이 본드층(3)은, 상기 열경화 촉매로서, 이미다졸계 화합물을 포함하고 있어도 된다.The die bond layer 3 may contain an imidazole-based compound as the thermal curing catalyst.

상기 이미다졸계 화합물로서는, 예를 들어 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아누르산 부가물, 2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸, 및 2-페닐-4-메틸-5-히드록시메틸이미다졸을 들 수 있다.Examples of the imidazole-based compound include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, and 2-ethyl-4-methyl. Midazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2 -methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6-[2'-methyl Imidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-undecylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2 ,4-diamino-6-[2'-ethyl-4'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-methyl Midazolyl-(1′)]-ethyl-s-triazineisocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, and 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxy and methylimidazole.

다이 본드층(3)은, 상기 수지 성분으로서, 열가소성 수지를 포함하고 있어도 된다. 열가소성 수지는 바인더로서 기능한다. 열가소성 수지로서는, 예를 들어 천연 고무, 부틸 고무, 이소프렌 고무, 클로로프렌 고무, 에틸렌-아세트산 비닐 공중합체, 에틸렌-아크릴산 공중합체, 에틸렌-아크릴산에스테르 공중합체, 폴리부타디엔 수지, 폴리카르보네이트 수지, 열가소성 폴리이미드 수지, 폴리아미드 6이나 폴리아미드 6,6 등의 폴리아미드 수지, 페녹시 수지, 아크릴 수지, PET나 PBT 등의 포화 폴리에스테르 수지, 폴리아미드이미드 수지, 불소 수지 등을 들 수 있다. 상기 열가소성 수지는, 1종만이 사용되어도 되고, 2종 이상이 조합되어 사용되어도 된다. 상기 열가소성 수지로서는, 이온성 불순물이 적으며, 또한 내열성이 높기 때문에, 다이 본드층(3)에 의한 접속 신뢰성이 확보하기 쉬워진다고 하는 관점에서, 아크릴 수지가 바람직하다.The die bonding layer 3 may contain a thermoplastic resin as the resin component. The thermoplastic resin functions as a binder. As the thermoplastic resin, for example, natural rubber, butyl rubber, isoprene rubber, chloroprene rubber, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-acrylic acid copolymer, ethylene-acrylic acid ester copolymer, polybutadiene resin, polycarbonate resin, thermoplastic polyimide resins, polyamide resins such as polyamide 6 and polyamide 6,6, phenoxy resins, acrylic resins, saturated polyester resins such as PET and PBT, polyamideimide resins, and fluororesins. As for the said thermoplastic resin, only 1 type may be used, and 2 or more types may be used in combination. As the thermoplastic resin, an acrylic resin is preferable from the viewpoint of making it easy to secure connection reliability by the die bonding layer 3 because it contains few ionic impurities and has high heat resistance.

상기 아크릴 수지는, (메트)아크릴산에스테르에서 유래하는 모노머 단위를 질량 비율로 가장 많은 모노머 단위로서 포함하는 폴리머인 것이 바람직하다.It is preferable that the said acrylic resin is a polymer which contains the monomer unit derived from (meth)acrylic acid ester as the most monomer unit by mass ratio.

(메트)아크릴산에스테르로서는, 상기한 것과 마찬가지의 것을 사용할 수 있다.As (meth)acrylic acid ester, the thing similar to what was mentioned above can be used.

다이 본드층(3)은, 필요에 따라서, 1종 또는 2종 이상의 다른 성분을 함유해도 된다. 다른 성분으로서는, 예를 들어 난연제, 실란 커플링제, 및 이온 트랩제를 들 수 있다.The die bond layer 3 may contain one or two or more other components as needed. As other components, a flame retardant, a silane coupling agent, and an ion trap agent are mentioned, for example.

본 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름(20)에 있어서는, 다이 본드층(3)이 방향족 화합물을 포함하는 것이 중요하다.In the dicing die-bonding film 20 according to the present embodiment, it is important that the die-bonding layer 3 contains an aromatic compound.

또한, 본 명세서에 있어서, 방향족 화합물이란, 방향족 탄화수소 및 복소 방향족 화합물을 의미한다.In addition, in this specification, an aromatic compound means an aromatic hydrocarbon and a heteroaromatic compound.

다이 본드층(3)에, 상기 수지 성분으로서, 방향족 화합물을 포함시키거나, 상기 열경화 촉매로서, 방향족 화합물을 포함시키거나 함으로써, 다이 본드층(3)은, 방향족 화합물을 포함하는 것으로 된다.By including an aromatic compound as the resin component in the die bond layer 3 or including an aromatic compound as the thermosetting catalyst, the die bond layer 3 contains the aromatic compound.

방향족환 화합물로서의 수지로서는, 에폭시 수지나 페놀 수지 등을 들 수 있다.As resin as an aromatic ring compound, an epoxy resin, a phenol resin, etc. are mentioned.

방향족 화합물로서의 열경화 촉매로서는, 상기한 이미다졸계 화합물이나 상기한 인계 화합물 등을 들 수 있다.Examples of the thermal curing catalyst as an aromatic compound include the above-described imidazole-based compounds and the above-described phosphorus-based compounds.

본 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름(20)이, 다이 본드층(3)을 점착제층(2)으로부터 박리시킬 때, 다이 본드층(3)에 대한 점착제층(2)의 박리력을 충분히 저하시킬 수 있는 이유에 대하여, 본 발명자들은 이하와 같이 추정하고 있다.When the dicing die-bonding film 20 according to the present embodiment peels the die-bonding layer 3 from the pressure-sensitive adhesive layer 2, the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer 2 relative to the die-bonding layer 3 is sufficiently reduced. Regarding the reason which can decrease, the present inventors presume as follows.

종래의 다이싱 다이 본드 필름(20)에 있어서는, 다이 본드층(3)과 점착제층(2)의 친화성을 높이는 관점에서, 다이 본드층(3)의 극성(표면 자유 에너지)과 점착제층(2)의 극성(표면 자유 에너지)의 차가 비교적 작아지도록, 다이 본드층(3)의 구성과 점착제층(2)의 구성이 결정되는 경우가 많다.In the conventional dicing die-bonding film 20, from the viewpoint of enhancing the affinity between the die-bonding layer 3 and the pressure-sensitive adhesive layer 2, the polarity (surface free energy) of the die-bonding layer 3 and the pressure-sensitive adhesive layer ( In many cases, the configuration of the die-bonding layer 3 and the configuration of the pressure-sensitive adhesive layer 2 are determined such that the difference in polarity (surface free energy) of 2) is relatively small.

또한, 다이싱 다이 본드 필름(20)에 있어서는, 다이 본드층(3)은 방향족 화합물을 포함하도록 구성되고, 점착제층(2)은 아크릴계 폴리머를 포함하도록 구성되는 경우가 많다.Further, in the dicing die-bonding film 20, the die-bonding layer 3 is constituted to contain an aromatic compound, and the pressure-sensitive adhesive layer 2 is constituted to contain an acrylic polymer in many cases.

이와 같이 구성되는 다이싱 다이 본드 필름(20)에 있어서는, 다이 본드층(3)의 극성과 점착제층(2)의 극성의 차가 작다는 점에서, 다이 본드층(3)이 점착제층(2) 위에 적층되어 있는 상태에 있어서, 다이 본드층(3)에 포함되어 있는 방향족 화합물이 점착제층(2)으로 성분 이행되기 쉽게 되어 있다고 생각된다(주로, 방향족 화합물로서의 열경화 촉매가 성분 이행되기 쉽게 되어 있다고 생각된다).In the dicing die-bonding film 20 structured as described above, since the difference between the polarity of the die-bonding layer 3 and the polarity of the pressure-sensitive adhesive layer 2 is small, the die-bonding layer 3 is the pressure-sensitive adhesive layer 2 It is considered that the aromatic compound contained in the die-bonding layer 3 is easily transferred to the pressure-sensitive adhesive layer 2 in the state of being laminated on top (mainly, the thermal curing catalyst as the aromatic compound is easily transferred to the component I think there is).

여기서, 다이 본드층(3)에 포함되는 방향족 화합물이 점착제층(2)으로 성분 이행되면, 방향족 화합물이 성분 이행된 양에 따라서, 다이 본드층(3)의 표면(점착제층(2)과의 접촉면)에 오목부가 형성되게 된다고 생각된다. 즉, 종래의 다이싱 다이 본드 필름(20)에 있어서는, 다이 본드층(3)에 포함되는 방향족 화합물이 점착제층(2)으로 성분 이행되기 쉽게 되어 있는 만큼, 다이 본드층(3)의 표면에는, 비교적 큰 오목부가 형성되어 있다고 생각된다.Here, when the aromatic compound contained in the die-bonding layer 3 is transferred to the pressure-sensitive adhesive layer 2, the surface of the die-bonding layer 3 (the contact with the pressure-sensitive adhesive layer 2) depends on the amount of the aromatic compound transferred to the pressure-sensitive adhesive layer 2. It is thought that the concave portion is formed in the contact surface). That is, in the conventional dicing die-bonding film 20, the aromatic compound contained in the die-bonding layer 3 is easily transferred to the pressure-sensitive adhesive layer 2, so that the surface of the die-bonding layer 3 , it is considered that a relatively large concave portion is formed.

그리고, 다이 본드층(3)의 표면에 비교적 큰 오목부가 형성되면, 상기한 바와 같이 다이 본드층(3)의 극성과 점착제층(2)의 극성의 차가 비교적 작은 경우에는, 점착제층(2)의 일부가 상기 오목부 내에 침입하기 쉬워진다고 생각된다.Then, when a relatively large concave portion is formed on the surface of the die-bonding layer 3, as described above, when the difference between the polarity of the die-bonding layer 3 and the polarity of the pressure-sensitive adhesive layer 2 is relatively small, the pressure-sensitive adhesive layer 2 It is thought that a part of it becomes easy to infiltrate into the said recessed part.

이와 같이, 점착제층(2)의 일부가 상기 오목부에 침입한 상태에서, 점착제층(2)에 자외선 등의 활성 에너지선이 조사되어 점착제층(2)이 경화되면, 다이 본드층(3)과 점착제층(2)의 사이에 비교적 큰 앵커 효과가 발생하게 된다고 생각된다.In this way, in a state where a part of the pressure-sensitive adhesive layer 2 penetrates into the concave portion, when the pressure-sensitive adhesive layer 2 is irradiated with active energy rays such as ultraviolet rays to cure the pressure-sensitive adhesive layer 2, the die-bonding layer 3 It is thought that a relatively large anchoring effect occurs between the pressure-sensitive adhesive layer 2 and the pressure-sensitive adhesive layer 2 .

그 결과, 다이 본드층(3)에 대한 점착제층(2)의 박리력을 충분히 저하시킬 수 없게 된다고 생각된다.As a result, it is considered that the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer 2 to the die-bonding layer 3 cannot be sufficiently reduced.

이에 반하여, 본 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름(20)에서는, 점착제층(2)의 노출 부분 및 다이 본드층(3)과의 적층 부분의 각각에 대하여, FTIR 분석을 행하고, 점착제층(2)의 노출 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H1로 하고, 점착제층(2)의 노출 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T1로 하고, 다이 본드층(3)과의 적층 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H2로 하고, 다이 본드층(3)과의 적층 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T2로 했을 때, 하기 식 (1)에서 산출되는 R의 값이 1.5 이하로 되어 있다.In contrast, in the dicing die-bonding film 20 according to the present embodiment, FTIR analysis is performed on each of the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer 2 and the laminated portion with the die-bonding layer 3, and the pressure-sensitive adhesive layer ( The sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the exposed portion of 2) is H1, and 1600 cm -1 or more in the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer (2) 1800 cm -1 The peak height appearing in the following range is T1, the sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the laminated portion with the die bond layer 3 is H2, When the peak height appearing in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the laminated portion with the layer (3) is T2, the value of R calculated by the following formula (1) is 1.5 or less.

상기한 바와 같이, 하기 식 (1)에 있어서, H1/T1은, 점착제층(2)의 노출 부분에 있어서의, 아크릴계 폴리머의 양에 대한 방향족 화합물의 양의 비를 의미하고, H2/T2는, 다이 본드층(3)과의 적층 부분에 있어서의, 아크릴계 폴리머의 양에 대한 방향족 화합물의 양의 비를 의미하고 있다.As described above, in the following formula (1), H1/T1 means the ratio of the amount of the aromatic compound to the amount of the acrylic polymer in the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer 2, and H2/T2 is , means the ratio of the amount of the aromatic compound to the amount of the acrylic polymer in the laminated portion with the die-bonding layer 3.

즉, 하기 식 (1)에서 산출되는 R의 값이 1.5 이하라는 것은, 다이 본드층(3)과의 적층 부분에 있어서의, 아크릴계 폴리머의 양을 기준으로 한 방향족 화합물의 양이, 점착제층(2)의 노출 부분에 있어서의, 아크릴계 폴리머의 양을 기준으로 한 방향족 화합물의 양과 비교적 가까운 값임을 의미하고 있다.That is, the value of R calculated by the following formula (1) is 1.5 or less, the amount of the aromatic compound based on the amount of the acrylic polymer in the laminated portion with the die-bonding layer 3 is the pressure-sensitive adhesive layer ( This means that it is a value relatively close to the amount of aromatic compound based on the amount of acrylic polymer in the exposed portion of 2).

이러한 점에서, 본 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름(20)에서는, 다이 본드층(3)으로부터 점착제층(2)으로의 방향족 화합물의 이행을 비교적 억제할 수 있기 때문에, 다이 본드층(3)의 표면에 형성되는 오목부는, 비교적 작아지고, 다이 본드층(3)과 점착제층(2)의 사이에 발생하는 앵커 효과는 비교적 작아진다고 생각된다.From this point of view, in the dicing die-bonding film 20 according to the present embodiment, since migration of the aromatic compound from the die-bonding layer 3 to the pressure-sensitive adhesive layer 2 can be relatively suppressed, the die-bonding layer 3 It is considered that the concave portion formed on the surface of ) becomes relatively small, and the anchor effect that occurs between the die-bonding layer 3 and the pressure-sensitive adhesive layer 2 becomes relatively small.

그 결과, 다이 본드층(3)을 점착제층(2)으로부터 박리시킬 때, 다이 본드층(3)에 대한 점착제층(2)의 박리력을 충분히 저하시킬 수 있을 것으로, 본 발명자들은 추정하고 있다.As a result, when peeling the die-bonding layer 3 from the pressure-sensitive adhesive layer 2, the present inventors estimate that the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer 2 relative to the die-bonding layer 3 can be sufficiently reduced. .

Figure pat00003
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다이 본드층(3)은, 필러를 함유하고 있어도 된다.The die bonding layer 3 may contain a filler.

다이 본드층(3)에 함유시키는 필러의 양을 바꿈으로써, 다이 본드층(3)의 탄성 및 점성을 보다 용이하게 조정할 수 있다.By changing the amount of filler contained in the die-bonding layer 3, the elasticity and viscosity of the die-bonding layer 3 can be more easily adjusted.

또한, 다이 본드층(3)의 도전성, 열전도성, 탄성률 등의 물성을 조정할 수 있다.In addition, the physical properties of the die bond layer 3, such as conductivity, thermal conductivity, and modulus of elasticity, can be adjusted.

필러로서는, 무기 필러 및 유기 필러를 들 수 있다. 필러로서는, 무기 필러가 바람직하다.As a filler, an inorganic filler and an organic filler are mentioned. As a filler, an inorganic filler is preferable.

무기 필러로서는, 예를 들어 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 규산칼슘, 규산마그네슘, 산화칼슘, 산화마그네슘, 산화알루미늄, 질화알루미늄, 질화붕소, 결정질 실리카나 비정질 실리카와 같은 실리카 등을 포함하는 필러를 들 수 있다.Examples of the inorganic filler include aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, calcium silicate, magnesium silicate, calcium oxide, magnesium oxide, aluminum oxide, aluminum nitride, boron nitride, and silica such as crystalline silica and amorphous silica. Fillers containing

또한, 무기 필러의 재질로서는, 알루미늄, 금, 은, 구리, 니켈 등의 금속 단체나, 합금 등을 들 수 있다.Moreover, as a material of an inorganic filler, simple metals, alloys, etc., such as aluminum, gold, silver, copper, and nickel, are mentioned.

무기 필러는, 붕산 알루미늄 위스커, 아몰퍼스 카본 블랙, 그래파이트 등이어도 된다.The inorganic filler may be an aluminum borate whisker, amorphous carbon black, or graphite.

필러의 형상은, 구상, 침상, 플레이크상 등의 각종 형상이어도 된다.The shape of the filler may be various shapes such as spherical shape, acicular shape, and flake shape.

필러로서는, 상기 1종만을 사용해도 되고, 상기 2종 이상을 조합해서 사용해도 된다.As a filler, only said 1 type may be used, and you may use it in combination of said 2 or more types.

상기 필러의 평균 입경은, 0.005㎛ 이상 10㎛ 이하인 것이 바람직하고, 0.005㎛ 이상 1㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that they are 0.005 micrometer or more and 10 micrometers or less, and, as for the average particle diameter of the said filler, it is more preferable that they are 0.005 micrometer or more and 1 micrometer or less.

상기 필러의 평균 입경이 0.005㎛ 이상임으로써, 반도체 웨이퍼 등의 피착체에 대한 습윤성이나 접착성을 한층 더 향상시킬 수 있다.When the filler has an average particle diameter of 0.005 μm or more, wettability and adhesiveness to an adherend such as a semiconductor wafer can be further improved.

또한, 상기 필러의 평균 입경이 10㎛ 이하임으로써, 함유시킨 필러에 의한 특성을 보다 충분히 발휘시킬 수 있을 뿐만 아니라, 다이 본드층(3)의 내열성을 한층 더 발휘시킬 수 있다.In addition, when the filler has an average particle diameter of 10 μm or less, not only can the characteristics of the filler incorporated be exhibited more sufficiently, but also the heat resistance of the die-bonding layer 3 can be further exhibited.

상기 필러의 평균 입경은, 예를 들어 광도식 입도 분포계(예를 들어, 제품명 「LA-910」, 호리바 세이사쿠쇼사 제조)를 사용하여 구할 수 있다.The average particle diameter of the filler can be obtained using, for example, a photometric particle size distribution analyzer (eg, product name "LA-910", manufactured by Horiba Seisakusho Co., Ltd.).

다이 본드층(3)이 필러를 함유하는 경우, 그 함유량은, 다이 본드층(3)의 총 질량에 대하여, 30질량% 이상 70질량% 이하인 것이 바람직하고, 40질량% 이상 60질량% 이하인 것이 보다 바람직하며, 42질량% 이상 55질량% 이하인 것이 더욱 바람직하다.When the die-bonding layer 3 contains a filler, the content is preferably 30% by mass or more and 70% by mass or less, and 40% by mass or more and 60% by mass or less, based on the total mass of the die-bonding layer 3. It is more preferable, and it is more preferable that it is 42 mass % or more and 55 mass % or less.

다이 본드층(3)의 두께는, 특별히 한정되지는 않지만, 예를 들어 1㎛ 이상 200㎛ 이하이다. 이러한 두께는, 3㎛ 이상 150㎛ 이하여도 되고, 5㎛ 이상 135㎛ 이하여도 된다.The thickness of the die bonding layer 3 is not particularly limited, but is, for example, 1 μm or more and 200 μm or less. This thickness may be 3 μm or more and 150 μm or less, or 5 μm or more and 135 μm or less.

또한, 다이 본드층(3)은, 상기와 같은 각 성분을 포함하는 접착제 조성물을, 애플리케이터 등을 사용하여 수지 필름 등의 표면에 도포한 후, 도포 후의 상기 접착제 조성물을 건조시킴으로써 얻을 수 있다.In addition, the die-bonding layer 3 can be obtained by applying an adhesive composition containing the above components to a surface of a resin film or the like using an applicator or the like, and then drying the adhesive composition after application.

또한, 점착제층(2)에 대한 다이 본드층(3)의 설치는, 상기와 같이 하여 제작된 점착제층(2) 위에 다이 본드층(3)을 적층시킴으로써 실시할 수 있다.In addition, the attachment of the die-bonding layer 3 to the pressure-sensitive adhesive layer 2 can be performed by laminating the die-bonding layer 3 on the pressure-sensitive adhesive layer 2 produced as described above.

기재층(1)은, 점착제층(2)을 지지한다.The substrate layer 1 supports the pressure-sensitive adhesive layer 2 .

기재층(1)은, 금속박, 섬유 시트, 고무 시트, 또는 수지 필름 등을 사용하여 제작된다.The substrate layer 1 is made of metal foil, fiber sheet, rubber sheet, or resin film.

기재층(1)은, 수지 필름을 사용하여 제작되어 있는 것이 바람직하다.It is preferable that the base material layer 1 is produced using a resin film.

기재층(1)은, 단층 구조여도 되고, 적층 구조여도 된다.The substrate layer 1 may have a single layer structure or a laminated structure.

상기 섬유 시트로서는, 종이, 직포, 또는 부직포 등에 의해 구성된 것을 들 수 있다.Examples of the fibrous sheet include those made of paper, woven fabric, or nonwoven fabric.

수지 필름의 재질로서는, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 에틸렌-프로필렌 공중합체 등의 폴리올레핀; 에틸렌-아세트산 비닐 공중합체, 아이오노머 수지, 에틸렌-(메트)아크릴산 공중합체, 에틸렌-(메트)아크릴산에스테르 랜덤 공중합체, 에틸렌-(메트)아크릴산에스테르 교호 공중합체 등의 에틸렌의 공중합체; 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트, 폴리부틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르; 폴리아크릴레이트; 폴리염화비닐(PVC); 폴리우레탄; 폴리카르보네이트; 폴리페닐렌술피드; 지방족 폴리아미드, 전방향족 폴리아미드(아라미드) 등의 폴리아미드; 폴리에테르에테르케톤; 폴리이미드; 폴리에테르이미드; 폴리염화비닐리덴; ABS(아크릴로니트릴-부타디엔-스티렌 공중합체); 셀룰로오스 또는 셀룰로오스 유도체; 실리콘 함유 고분자; 불소 함유 고분자 등을 들 수 있다.Examples of the material of the resin film include polyolefins such as polyethylene, polypropylene, and ethylene-propylene copolymers; Ethylene copolymers, such as an ethylene-vinyl acetate copolymer, an ionomer resin, an ethylene-(meth)acrylic acid copolymer, an ethylene-(meth)acrylic acid ester random copolymer, and an ethylene-(meth)acrylic acid ester alternating copolymer; polyesters such as polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, and polybutylene terephthalate; polyacrylate; polyvinyl chloride (PVC); Polyurethane; polycarbonate; polyphenylene sulfide; polyamides such as aliphatic polyamides and wholly aromatic polyamides (aramids); polyether ether ketone; polyimide; polyetherimide; polyvinylidene chloride; ABS (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer); cellulose or cellulose derivatives; silicone-containing polymers; A fluorine-containing polymer etc. are mentioned.

이들은, 1종만으로 사용되어도 되고, 2종 이상을 조합해서 사용되어도 된다.These may be used only by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.

기재층(1)이 수지 필름에 의해 제작된 것인 경우에는, 기재층(1)은, 무연신 성형에 의해 얻어져도 되고, 연신 성형에 의해 얻어져도 되지만, 연신 성형에 의해 얻어지는 것이 바람직하다.When the substrate layer 1 is made of a resin film, the substrate layer 1 may be obtained by non-stretch molding or by stretch molding, but is preferably obtained by stretch molding.

기재층(1)에 있어서의 점착제층(2)이 적층되는 측의 면(이하, 단순히 '표면'이라고도 함)에는, 점착제층(2)과의 밀착성을 높이는 관점에서, 표면 처리가 실시되어 있어도 된다.Even if surface treatment is given to the surface (hereinafter, simply referred to as "surface") on the side on which the pressure-sensitive adhesive layer 2 in the base material layer 1 is laminated, from the viewpoint of improving adhesion with the pressure-sensitive adhesive layer 2. do.

표면 처리로서는, 크롬산 처리, 오존 폭로, 화염 폭로, 고압 전격 폭로, 이온화 방사선 처리 등의 화학적 방법 또는 물리적 방법에 의한 산화 처리 등이 채용되어도 된다.As the surface treatment, chemical methods such as chromic acid treatment, ozone exposure, flame exposure, high-voltage electric shock exposure, ionizing radiation treatment, or oxidation treatment by physical methods or the like may be employed.

또한, 표면 처리로서, 앵커 코팅제, 프라이머, 접착제 등의 코팅제에 의한 코팅 처리가 실시되어도 된다.Further, as the surface treatment, coating treatment with a coating agent such as an anchor coating agent, a primer, or an adhesive may be performed.

기재층(1)에 있어서의 점착제층(2)이 적층되지 않는 측의 면(이하, 단순히 '이면'이라고도 함)에는, 박리성을 높이기 위해서, 실리콘 수지나 불소 수지 등의 이형제(박리제) 등에 의해 코팅 처리가 실시되어도 된다.On the side of the substrate layer 1 on which the pressure-sensitive adhesive layer 2 is not laminated (hereinafter, simply referred to as 'rear surface'), in order to improve peelability, a release agent (release agent) such as a silicone resin or a fluororesin, etc. The coating treatment may be performed by

기재층(1)의 두께는, 55㎛ 이상 195㎛ 이하인 것이 바람직하고, 55㎛ 이상 190㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 55㎛ 이상 170㎛ 이하인 것이 더욱 바람직하며, 60㎛ 이상 160㎛ 이하인 것이 최적이다. 기재층(1)의 두께를 상기한 범위로 함으로써, 다이싱 테이프(10)를 효율적으로 제조할 수 있다.The thickness of the substrate layer 1 is preferably 55 μm or more and 195 μm or less, more preferably 55 μm or more and 190 μm or less, still more preferably 55 μm or more and 170 μm or less, and optimally 60 μm or more and 160 μm or less. . The dicing tape 10 can be efficiently manufactured by making the thickness of the base material layer 1 into the above range.

또한, 다이싱 다이 본드 필름(20)의 다이 본드층(3)을 효율적으로 할단할 수 있다.In addition, the die bonding layer 3 of the dicing die bonding film 20 can be cut efficiently.

기재층(1)의 두께는, 예를 들어 다이알 게이지(PEACOCK사 제조, 형식 R-205)를 사용하여, 랜덤하게 선택한 임의의 5점의 두께를 측정하고, 이들 두께를 산술 평균함으로써 구할 수 있다.The thickness of the substrate layer 1 can be obtained by, for example, measuring the thickness of five randomly selected points using a dial gauge (model R-205 manufactured by PEACOCK) and arithmetic averaging these thicknesses. .

본 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름(20)은, 예를 들어 반도체 집적 회로를 제조하기 위한 보조 용구로서 사용된다. 이하, 다이싱 다이 본드 필름(20)의 사용의 구체예에 대하여 설명한다.The dicing die bond film 20 according to the present embodiment is used as an auxiliary tool for manufacturing semiconductor integrated circuits, for example. Hereinafter, specific examples of use of the dicing die bond film 20 will be described.

이하에서는, 기재층(1)이 1층인 다이싱 다이 본드 필름(20)을 사용한 예에 대하여 설명한다.Below, the example using the dicing die-bonding film 20 in which the base material layer 1 is one layer is demonstrated.

반도체 집적 회로를 제조하는 방법은, 반도체 웨이퍼를 할단 처리에 의해 칩(다이)으로 가공하기 위해 반도체 웨이퍼에 홈을 형성하는 하프컷 공정과, 하프컷 공정 후의 반도체 웨이퍼를 연삭해서 두께를 얇게 하는 백그라인드 공정과, 백그라인드 공정 후의 반도체 웨이퍼의 일면(예를 들어, 회로면과는 반대측의 면)을 다이 본드층(3)에 첩부하여, 다이싱 테이프(10)에 반도체 웨이퍼를 고정시키는 마운트 공정과, 반도체 칩끼리의 간격을 넓히는 익스팬드 공정과, 반도체 칩끼리의 간격을 유지하는 커프 유지 공정과, 다이 본드층(3)과 점착제층(2)의 사이를 박리하여 다이 본드층(3)이 첩부된 상태에서 반도체 칩(다이)을 취출하는 픽업 공정과, 다이 본드층(3)이 첩부된 상태의 반도체 칩(다이)을 피착체에 접착시키는 다이 본드 공정을 갖는다. 이들 공정을 실시할 때, 본 실시 형태의 다이싱 테이프(다이싱 다이 본드 필름)가 제조 보조 용구로서 사용된다.A method of manufacturing a semiconductor integrated circuit includes a half-cutting process of forming a groove in a semiconductor wafer to process the semiconductor wafer into chips (dies) by a cutting process, and a back to reduce the thickness by grinding the semiconductor wafer after the half-cutting process. Mounting step of fixing the semiconductor wafer to the dicing tape 10 by attaching one surface of the semiconductor wafer after the grinding step and the back-grinding step (eg, the surface on the opposite side to the circuit surface) to the die bond layer 3 And, the expand process of widening the gap between semiconductor chips, the kerf holding process of maintaining the gap between semiconductor chips, and the die bond layer 3 by separating between the die bond layer 3 and the pressure-sensitive adhesive layer 2 A pick-up step of taking out the semiconductor chip (die) in this attached state, and a die-bonding step of bonding the semiconductor chip (die) with the die-bonding layer 3 attached to an adherend. When performing these processes, the dicing tape (dicing die bond film) of this embodiment is used as a manufacturing auxiliary tool.

하프컷 공정에서는, 도 2a 및 도 2b에 도시한 바와 같이, 반도체 집적 회로를 소편(다이)으로 할단하기 위한 하프컷 가공을 실시한다. 상세하게는, 반도체 웨이퍼(W)의 회로면과는 반대측의 면에, 웨이퍼 가공용 테이프(T)를 첩부한다(도 2a 참조). 또한, 웨이퍼 가공용 테이프(T)에 다이싱 링(R)을 장착한다(도 2a 참조). 웨이퍼 가공용 테이프(T)를 첩부한 상태에서, 분할용 홈을 형성한다(도 2b 참조). 백그라인드 공정에서는, 도 2c 및 도 2d에 도시한 바와 같이, 반도체 웨이퍼를 연삭해서 두께를 얇게 한다. 상세하게는, 홈을 형성한 면에 백그라인드 테이프(G)를 첩부하는 한편, 처음에 첩부한 웨이퍼 가공용 테이프(T)를 박리한다(도 2c 참조). 백그라인드 테이프(G)를 첩부한 상태에서, 반도체 웨이퍼(W)가 소정의 두께가 될 때까지 연삭 가공을 실시한다(도 2d 참조).In the half-cutting process, as shown in Figs. 2A and 2B, a half-cutting process is performed to cut the semiconductor integrated circuit into small pieces (dies). In detail, the tape T for a wafer process is affixed to the surface on the opposite side to the circuit surface of the semiconductor wafer W (refer FIG. 2A). Further, the dicing ring R is attached to the tape T for wafer processing (see Fig. 2A). In the state where the tape T for a wafer process is stuck, the groove|channel for division|segmentation is formed (refer FIG. 2B). In the back grinding step, as shown in FIGS. 2C and 2D , the thickness of the semiconductor wafer is reduced by grinding. In detail, while the back grind tape G is affixed on the surface in which the groove was formed, the tape T for a wafer process affixed first is peeled off (refer to FIG. 2C). With the back grind tape G attached, grinding is performed until the semiconductor wafer W has a predetermined thickness (see Fig. 2D).

또한, 백그라인드 공정에 있어서, 반도체 웨이퍼의 두께가 20㎛ 이상 30㎛ 이하로 특히 얇은 경우에는, 후술하는 픽업 공정에 있어서, 핀 부재(P)를 사용하여 반도체 칩을 밀어올렸을 때, 해당 반도체 칩에 변형이나 균열이 생기기 쉬워지기는 하지만, 본 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름(20)은, 상기와 같이 구성되어 있으므로, 픽업 공정에 있어서, 반도체 칩에 변형이나 균열이 생기는 것을 비교적 억제할 수 있다.Further, in the back-grind process, when the thickness of the semiconductor wafer is particularly thin, such as 20 µm or more and 30 µm or less, in the pick-up process described later, when the semiconductor chip is pushed up using the pin member P, the semiconductor chip Although deformation or cracking tends to occur, since the dicing die-bonding film 20 according to the present embodiment is configured as described above, it is possible to relatively suppress deformation or cracking in the semiconductor chip in the pick-up process. can

마운트 공정에서는, 도 3a 내지 도 3b에 도시한 바와 같이, 다이싱 테이프(10)의 점착제층(2)에 다이싱 링(R)을 장착한 후, 노출된 다이 본드층(3)의 면에, 하프컷 가공된 반도체 웨이퍼(W)를 첩부한다(도 3a 참조). 그 후, 반도체 웨이퍼(W)로부터 백그라인드 테이프(G)를 박리한다(도 3b 참조).In the mounting process, as shown in FIGS. 3A to 3B, after attaching the dicing ring R to the pressure-sensitive adhesive layer 2 of the dicing tape 10, the surface of the exposed die bond layer 3 , the semiconductor wafer W subjected to half-cut processing is attached (see Fig. 3A). Then, the back grind tape G is peeled from the semiconductor wafer W (refer to FIG. 3B).

익스팬드 공정에서는, 도 4a 내지 도 4c에 도시한 바와 같이, 다이싱 링(R)을 익스팬드 장치의 보유 지지구(H)에 고정시킨다. 익스팬드 장치가 구비하는 밀어올림 부재(U)를 사용하여, 다이싱 다이 본드 필름(20)을 하측으로부터 밀어올림으로써, 다이싱 다이 본드 필름(20)을 면 방향으로 넓히도록 잡아늘인다(도 4b 참조). 이에 의해, 특정 온도 조건에 있어서, 하프컷 가공된 반도체 웨이퍼(W)를 할단한다. 상기 온도 조건은, 예를 들어 -20 내지 5℃이고, 바람직하게는 -15 내지 0℃, 보다 바람직하게는 -10 내지 -5℃이다. 밀어올림 부재(U)를 하강시킴으로써 익스팬드 상태를 해제한다(도 4c 참조).In the expand process, as shown in Figs. 4A to 4C, the dicing ring R is fixed to the holder H of the expander. The dicing die-bonding film 20 is stretched so as to be expanded in the plane direction by pushing up the dicing die-bonding film 20 from the lower side using the pushing member U provided in the expander (FIG. 4B). Reference). In this way, the half-cut semiconductor wafer W is cut under a specific temperature condition. The temperature conditions are, for example, -20 to 5°C, preferably -15 to 0°C, and more preferably -10 to -5°C. The expanded state is released by lowering the lifting member U (see FIG. 4C).

또한, 익스팬드 공정에서는, 도 5a 내지 도 5b에 도시한 바와 같이, 더 높은 온도 조건하(예를 들어, 실온(23±2℃))에 있어서, 면적을 넓히도록 다이싱 테이프(10)를 잡아늘인다. 이에 의해, 할단된 인접하는 반도체 칩을 필름면의 면 방향으로 떼어 놓아, 간격을 더욱 넓힌다.Further, in the expand step, as shown in FIGS. 5A and 5B , the dicing tape 10 is formed to expand the area under a higher temperature condition (for example, room temperature (23±2° C.)). stretch it In this way, the adjacent semiconductor chips that have been cut are separated in the plane direction of the film plane, further widening the interval.

커프 유지 공정에서는, 도 6에 도시한 바와 같이, 다이싱 테이프(10)에 열풍(예를 들어, 100 내지 130℃. 화살표로 도시)을 쏘여 다이싱 테이프(10)를 열수축시킨 후 냉각 고화시켜서, 할단된 인접하는 반도체 칩간의 거리(커프)를 유지한다.In the cuff holding step, as shown in FIG. 6, hot air (for example, 100 to 130 ° C., shown by arrows) is blown onto the dicing tape 10 to heat-shrink the dicing tape 10, and then cooled and solidified. , a distance (kerf) between adjacent cut semiconductor chips is maintained.

픽업 공정에서는, 도 7에 도시한 바와 같이, 다이 본드층(3)이 첩부된 상태의 반도체 칩을 다이싱 테이프(10)의 점착제층(2)으로부터 박리한다. 상세하게는, 핀 부재(P)를 상승시켜서, 픽업 대상의 반도체 칩을, 다이싱 테이프(10)를 통해 밀어올린다. 밀어올려진 반도체 칩을 흡착 지그(J)에 의해 보유 지지한다.In the pick-up process, as shown in FIG. 7 , the semiconductor chip in a state where the die bonding layer 3 is attached is peeled from the pressure-sensitive adhesive layer 2 of the dicing tape 10 . In detail, the pin member P is raised, and the semiconductor chip to be picked up is pushed up through the dicing tape 10 . The pushed-up semiconductor chip is held by a suction jig J.

본 실시 형태에 따른 다이싱 다이 본드 필름(20)에서는, 점착제층(2)의 노출 부분 및 다이 본드층(3)과의 적층 부분의 각각에 대하여, FTIR 분석을 행하고, 점착제층(2)의 노출 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H1로 하고, 점착제층(2)의 노출 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T1로 하고, 다이 본드층(3)과의 적층 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H2로 하고, 다이 본드층(3)과의 적층 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T2로 했을 때, 상기 식 (1)에서 산출되는 R의 값이 1.5 이하이므로, 다이 본드층(3)에 대한 점착제층(2)의 박리력을 충분히 저하시킨 상태에서, 픽업 공정을 실시할 수 있다.In the dicing die-bonding film 20 according to the present embodiment, FTIR analysis is performed on each of the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer 2 and the laminated portion with the die-bonding layer 3, and the The sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the exposed portion is H1, and the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer (2) The peak height appearing in is T1, the sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the laminated portion with the die bonding layer 3 is H2, and the die bonding layer (3 ), when the peak height appearing in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the laminated portion is T2, since the value of R calculated by the above formula (1) is 1.5 or less, the die bond layer (3 ), the pick-up step can be performed in a state where the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer 2 is sufficiently reduced.

즉, 픽업 공정을 원활하게 실시할 수 있다.That is, the pick-up process can be performed smoothly.

다이 본드 공정에서는, 다이 본드층(3)이 첩부된 상태의 반도체 칩을 피착체에 접착시킨다.In the die bonding step, the semiconductor chip with the die bonding layer 3 attached thereto is bonded to an adherend.

본 명세서에 의해 개시되는 사항은, 이하의 것을 포함한다.Matters disclosed by this specification include the following.

(1)(One)

기재층 위에 점착제층이 적층된 다이싱 테이프와,A dicing tape in which an adhesive layer is laminated on a substrate layer;

상기 점착제층의 일부를 노출시킨 상태에서, 상기 점착제층 위에 적층된 다이 본드층을 구비하고,A die bond layer laminated on the pressure-sensitive adhesive layer in a state in which a part of the pressure-sensitive adhesive layer is exposed,

상기 점착제층은, 아크릴계 폴리머를 포함하고,The pressure-sensitive adhesive layer includes an acrylic polymer,

상기 다이 본드층은, 방향족 화합물을 포함하고 있으며,The die bond layer contains an aromatic compound,

상기 점착제층의 노출 부분 및 상기 다이 본드층과의 적층 부분의 각각에 대하여, FTIR 분석을 행하고,FTIR analysis is performed on each of the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer and the laminated portion with the die bond layer,

상기 점착제층의 노출 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H1로 하고,The sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer is H1,

상기 점착제층의 노출 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T1로 하고,The peak height appearing in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer is T1,

상기 다이 본드층과의 적층 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H2로 하고,The sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the laminated portion with the die bond layer is H2,

상기 다이 본드층과의 적층 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T2로 했을 때,When the peak height appearing in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the laminated portion with the die bond layer is T2,

하기 식 (1)에서 산출되는 R의 값이 1.5 이하인The value of R calculated from the following formula (1) is 1.5 or less

다이싱 다이 본드 필름.Dicing die bond film.

Figure pat00004
Figure pat00004

이러한 구성에 의하면, 상기 다이 본드층을 상기 점착제층으로부터 박리시킬 때, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착제층의 박리력을 충분히 저하시킬 수 있다.According to this structure, when peeling the die-bonding layer from the pressure-sensitive adhesive layer, the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer with respect to the die-bonding layer can be sufficiently reduced.

이에 의해, 픽업 공정을 원활하게 실시할 수 있다.Thereby, a pick-up process can be performed smoothly.

(2)(2)

상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 9 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 13몰% 이상 포함하는The acrylic polymer contains 13 mol% or more of a structural unit of an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 9 or more carbon atoms.

상기 (1)에 기재된 다이싱 다이 본드 필름.The dicing die-bonding film according to (1) above.

이러한 구성에 의하면, 상기 다이 본드층을 상기 점착제층으로부터 박리시킬 때, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착제층의 박리력을 한층 더 충분히 저하시킬 수 있다.According to this structure, when peeling the die-bonding layer from the pressure-sensitive adhesive layer, the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer to the die-bonding layer can be further sufficiently reduced.

이에 의해, 픽업 공정을 한층 더 원활하게 실시할 수 있다.Thereby, a pick-up process can be performed more smoothly.

(3)(3)

상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함하는The acrylic polymer includes a structural unit of an alkyl (meth) acrylate having an alkyl group having 12 or more carbon atoms.

상기 (2)에 기재된 다이싱 다이 본드 필름.The dicing die-bonding film according to (2) above.

이러한 구성에 의하면, 상기 다이 본드층을 상기 점착제층으로부터 박리시킬 때, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착제층의 박리력을 한층 더 충분히 저하시킬 수 있다.According to this structure, when peeling the die-bonding layer from the pressure-sensitive adhesive layer, the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer to the die-bonding layer can be further sufficiently reduced.

이에 의해, 픽업 공정을 한층 더 원활하게 실시할 수 있다.Thereby, a pick-up process can be performed more smoothly.

(4)(4)

상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 15몰% 이상 포함하는The acrylic polymer contains 15 mol% or more of a structural unit of an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 12 or more carbon atoms.

상기 (3)에 기재된 다이싱 다이 본드 필름.The dicing die-bonding film according to (3) above.

이러한 구성에 의하면, 상기 다이 본드층을 상기 점착제층으로부터 박리시킬 때, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착제층의 박리력을 한층 더 충분히 저하시킬 수 있다.According to this structure, when peeling the die-bonding layer from the pressure-sensitive adhesive layer, the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer to the die-bonding layer can be further sufficiently reduced.

이에 의해, 픽업 공정을 한층 더 원활하게 실시할 수 있다.Thereby, a pick-up process can be performed more smoothly.

(5)(5)

상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 9 이상 14 이하의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함하는The acrylic polymer includes a structural unit of an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 9 or more and 14 or less carbon atoms, and a structural unit of a hydroxyl group-containing (meth)acrylate.

상기 (1) 내지 (4) 중 어느 것에 기재된 다이싱 다이 본드 필름.The dicing die-bonding film according to any one of (1) to (4) above.

이러한 구성에 의하면, 상기 다이 본드층을 상기 점착제층으로부터 박리시킬 때, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착제층의 박리력을 한층 더 충분히 저하시킬 수 있다.According to this structure, when peeling the die-bonding layer from the pressure-sensitive adhesive layer, the peeling force of the pressure-sensitive adhesive layer to the die-bonding layer can be further sufficiently reduced.

이에 의해, 픽업 공정을 한층 더 원활하게 실시할 수 있다.Thereby, a pick-up process can be performed more smoothly.

또한, 본 발명에 따른 다이싱 다이 본드 필름은, 상기 실시 형태에 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명에 따른 다이싱 다이 본드 필름은, 상기한 작용 효과에 의해 한정되는 것도 아니다. 본 발명에 따른 다이싱 다이 본드 필름은, 본 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위에서 다양한 변경이 가능하다.In addition, the dicing die bond film concerning this invention is not limited to the said embodiment. In addition, the dicing die-bonding film according to the present invention is not limited by the above-mentioned effects. The dicing die-bonding film according to the present invention can be modified in various ways without departing from the gist of the present invention.

실시예Example

다음으로, 실시예를 들어 본 발명에 대하여 더욱 구체적으로 설명한다. 이하의 실시예는 본 발명을 더 상세히 설명하기 위한 것으로, 본 발명의 범위를 한정하는 것은 아니다.Next, the present invention will be described more specifically by way of examples. The following examples are intended to explain the present invention in more detail, but do not limit the scope of the present invention.

[실시예 1][Example 1]

<아크릴계 폴리머의 합성><Synthesis of acrylic polymer>

냉각관, 질소 도입관, 온도계 및 교반 장치를 구비한 반응 용기 내에, 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로, (메트)아크릴 모노머를 넣음과 함께, 열중합 개시제로서 벤조일퍼옥사이드(이하, 'BPO'라고 함)를 상기 (메트)아크릴 모노머의 100질량부에 대하여 0.2질량부를 첨가하고, 또한 상기 (메트)아크릴 모노머의 농도가 52%가 되도록 반응 용제로서의 톨루엔을 첨가한 후, 질소 기류하에서, 62℃에서 4시간 중합, 78℃에서 2시간 중합 처리를 하여, 중간체로서의 제1 아크릴계 폴리머를 얻었다.In a reaction vessel equipped with a cooling tube, a nitrogen inlet tube, a thermometer, and a stirring device, a (meth)acrylic monomer was added at the blending ratio shown in Table 1 below, and benzoyl peroxide (hereinafter referred to as 'BPO') as a thermal polymerization initiator. ) was added in an amount of 0.2 parts by mass based on 100 parts by mass of the (meth)acrylic monomer, and toluene as a reaction solvent was added so that the concentration of the (meth)acrylic monomer was 52%, and then under a nitrogen stream, 62 Polymerization at °C for 4 hours and polymerization treatment at 78 °C for 2 hours were performed to obtain a first acrylic polymer as an intermediate.

이 제1 아크릴계 폴리머를 포함하는 용액에, 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로, (메트)아크릴 모노머를 넣음과 함께, 제1 아크릴계 폴리머 A의 100질량부에 대하여 디라우릴산디부틸주석 0.06질량부를 첨가하고, 공기 기류하에서, 50℃에서 12시간 부가 반응 처리를 하여, 실시예 1에 따른 아크릴계 폴리머를 얻었다.To the solution containing this first acrylic polymer, a (meth)acrylic monomer was added at the blending ratio shown in Table 1 below, and 0.06 part by mass of dibutyltin dilaurylate was added with respect to 100 parts by mass of the first acrylic polymer A. Then, an addition reaction treatment was performed at 50° C. for 12 hours under an air flow to obtain an acrylic polymer according to Example 1.

여기서, 제1 아크릴계 폴리머를 얻을 때, (메트)아크릴레이트 모노머로서, 2-이소시아나토에틸메타크릴레이트(이하, 'MOI'라고 함)를 사용하고 있지만, MOI는, HEA와 부가 중합하는 것이기 때문에, (메트)아크릴레이트 모노머의 몰%에 포함되지 않는다.Here, when obtaining the first acrylic polymer, 2-isocyanatoethyl methacrylate (hereinafter referred to as "MOI") is used as the (meth)acrylate monomer, but the MOI is addition polymerization with HEA. Therefore, it is not included in the mol% of the (meth)acrylate monomer.

또한, 상기 MOI로서는, 쇼와 덴코사 제조의 상품명 「카렌즈 MOI(등록상표)」를 사용하였다. 「카렌즈 MOI(등록상표)」는, 이소시아네이트기를 갖는 중합성기 함유 (메트)아크릴레이트이며, 중합성기로서 비닐기를 갖는 것이다.In addition, as said MOI, the trade name "Karenz MOI (registered trademark)" by Showa Denko Corporation was used. "Karenz MOI (registered trademark)" is a polymerizable group-containing (meth)acrylate having an isocyanate group, and has a vinyl group as the polymerizable group.

<점착제 용액의 제작><Preparation of adhesive solution>

실시예 1에 따른 아크릴계 폴리머를 포함하는 용액에, 가교제로서의 폴리이소시아네이트 화합물(상품명 「코로네이트 L」, 닛폰 폴리우레탄사 제조), 및 광중합 개시제(상품명 「Omnirad 127」, IGM Resins사 제조)를, 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로 첨가하여, 실시예 1에 따른 점착제 용액을 제작하였다.To a solution containing the acrylic polymer according to Example 1, a polyisocyanate compound (trade name "Coronate L", manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd.) as a crosslinking agent, and a photopolymerization initiator (trade name "Omnirad 127", manufactured by IGM Resins) were added, A pressure-sensitive adhesive solution according to Example 1 was prepared by adding in the blending ratio shown in Table 1 below.

또한, 하기 표 1에 나타내는 가교제의 질량부, 및 광중합 개시제의 질량부는, 실시예 1에 따른 아크릴계 폴리머의 100질량부에 대한 값이다.In addition, the parts by mass of the crosslinking agent and parts by mass of the photopolymerization initiator shown in Table 1 below are values relative to 100 parts by mass of the acrylic polymer according to Example 1.

<다이싱 테이프의 제작><Production of dicing tape>

실시예 1에 따른 점착제 용액을, 실리콘 이형 처리가 실시된 면을 갖는 PET 세퍼레이터(두께 50㎛)의 실리콘 이형 처리면 위에 애플리케이터를 사용하여 도포하고, 120℃에서 2분간 건조하여, 두께 30㎛의 점착제층을 형성하였다. 그 후, 해당 점착제층 위에, 기재층으로서의 구라보사 제조의 폴리올레핀 필름(상품명 「RB-0192」, 두께 120㎛)을 접합하고, 50℃에서 24시간 보존하여, 실시예 1에 따른 다이싱 테이프를 얻었다.The pressure-sensitive adhesive solution according to Example 1 was applied using an applicator on the silicone release-treated surface of a PET separator (thickness: 50 μm) having a silicone release-treated side, and dried at 120° C. for 2 minutes to obtain a thickness of 30 μm. An adhesive layer was formed. Thereafter, a polyolefin film (trade name "RB-0192", thickness: 120 µm) manufactured by Kurabo Co., Ltd. as a substrate layer was bonded onto the pressure-sensitive adhesive layer, stored at 50°C for 24 hours, and a dicing tape according to Example 1 was obtained. got it

<다이 본드층의 제작><Production of die bond layer>

아크릴 수지(상품명 「SG-N80」, 나가세 켐텍스사 제조, 유리 전이 온도 -23℃) 100질량부에 대하여, 에폭시 수지(상품명 「EPPN 501HY」, 닛폰 가야쿠사 제조) 210질량부, 페놀 수지 1(상품명 「LVR8210-DL」, 군에이 가가쿠사 제조) 100질량부, 페놀 수지 2(상품명 「HF-1M」, 메이와 가세이사 제조) 33질량부, 구상 실리카(상품명 「SE2050-MCV」, 애드마텍스사 제조, 평균 입자경 500nm) 440질량부(구상 실리카 환산), 실란 커플링제(상품명 「KBM-303」, 신에츠 가가쿠사 제조) 3질량부 및 열경화 촉매(상품명 「TPP-K」, 홋코 가가쿠사 제조) 0.5질량부를 메틸에틸케톤에 첨가하여 혼합하고, 실시예 1에 따른 접착제 조성물을 조제하였다.210 parts by mass of an epoxy resin (trade name "EPPN 501HY", manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), phenol resin 1 with respect to 100 parts by mass of an acrylic resin (trade name "SG-N80", manufactured by Nagase ChemteX Co., Ltd., glass transition temperature -23°C) (Brand name "LVR8210-DL", manufactured by Kunei Chemical Co., Ltd.) 100 parts by mass, phenol resin 2 (brand name "HF-1M", manufactured by Maywa Kasei Co., Ltd.) 33 parts by mass, spherical silica (brand name "SE2050-MCV", ad Made by Matex Co., Ltd., average particle size 500 nm) 440 parts by mass (in terms of spherical silica), 3 parts by mass of a silane coupling agent (trade name "KBM-303", manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and a thermosetting catalyst (trade name "TPP-K", Hokko Kagaku Co., Ltd.) 0.5 parts by mass was added to methyl ethyl ketone and mixed to prepare an adhesive composition according to Example 1.

다음으로, 실리콘 이형 처리가 실시된 면을 갖는 PET 세퍼레이터(두께 50㎛)의 실리콘 이형 처리면 위에 애플리케이터를 사용하여 실시예 1에 따른 접착제 조성물을 도포해서 도막을 형성하고, 이 도막에 대하여 130℃에서 2분간의 탈용매 처리를 행하였다. 이에 의해, 두께(평균 두께) 40㎛의 다이 본드층을 PET 세퍼레이터 위에 제작하였다(다이 본드층을 구비하는 PET 세퍼레이터를 제작하였다).Next, the adhesive composition according to Example 1 was applied using an applicator on the silicone release-treated surface of a PET separator (thickness: 50 μm) having a silicone release-treated surface to form a coating film, and the coating film was heated at 130 ° C. Desolvation treatment was performed for 2 minutes. As a result, a die-bonding layer having a thickness (average thickness) of 40 μm was prepared on the PET separator (a PET separator provided with a die-bonding layer was produced).

그리고, 2조의 다이 본드층을 구비하는 PET 세퍼레이터에 대하여 다이 본드층끼리를 중첩한 후(PET 세퍼레이터가 외측이 되도록 중첩한 후), 한쪽의 PET 세퍼레이터를 박리하여 다이 본드층을 노출시키고, 노출시킨 다이 본드층에, 또한 1조의 다이 본드층을 구비하는 PET 세퍼레이터의 다이 본드층을 중첩하였다. 이와 같이 하여 3개의 다이 본드층을 중첩한 후, 롤 라미네이터를 사용하여 접합을 행함으로써, 두께 120㎛의 다이 본드층을 제작하였다.Then, after the die-bonding layers were superimposed on the PET separator having two sets of die-bonding layers (after the PET separators were overlapped so that the outer side was overlapped), one of the PET separators was peeled to expose the die-bonding layer, and then the die-bonding layer was exposed. A die bond layer of a PET separator having a further set of die bond layers was overlaid on the die bond layer. After overlapping the three die-bonding layers in this way, bonding was performed using a roll laminator to produce a die-bonding layer having a thickness of 120 μm.

또한, 롤 라미네이터를 사용한 접합은, 접합 속도 10mm/초, 온도 90℃, 및 압력 0.15MPa의 조건에서 행하였다.In addition, bonding using a roll laminator was performed under conditions of a bonding speed of 10 mm/sec, a temperature of 90°C, and a pressure of 0.15 MPa.

<다이싱 다이 본드 필름의 제작><Production of dicing die bond film>

우선, 양면에 PET 세퍼레이터가 접합된 다이 본드층을 330mmφ의 원형으로 펀칭하였다.First, a die-bonding layer to which PET separators were bonded on both sides was punched into a circular shape of 330 mmφ.

다음으로, 실시예 1에 따른 다이싱 테이프로부터 PET 세퍼레이터를 제거해서 점착제층의 한쪽면을 노출시킴과 함께, 양면에 PET 세퍼레이터가 접합된 다이 본드층의 일방측으로부터 PET 세퍼레이터를 제거해서 다이 본드층의 한쪽 면을 노출시킨 후, 실온(23±2℃)에서 다이 본드층의 노출면과 점착제층의 노출면을 중첩하였다.Next, the PET separator is removed from the dicing tape according to Example 1 to expose one side of the pressure-sensitive adhesive layer, and the PET separator is removed from one side of the die-bonding layer in which the PET separators are bonded to both sides to form a die-bonding layer. After exposing one side, the exposed surface of the die bond layer and the exposed surface of the pressure-sensitive adhesive layer were overlapped at room temperature (23±2° C.).

그리고, 롤 라미네이터를 사용하여 접합을 행함으로써, 실시예 1에 따른 다이싱 다이 본드 필름을 얻었다.And the dicing die-bonding film concerning Example 1 was obtained by bonding using the roll laminator.

즉, 실시예 1에 따른 다이싱 테이프는, 폴리올레핀 필름, 점착제층, 다이 본드층 및 PET 세퍼레이터가, 이 순서로 적층되어 구성된 것이었다.That is, the dicing tape according to Example 1 was constituted by laminating a polyolefin film, an adhesive layer, a die bond layer, and a PET separator in this order.

또한, 롤 라미네이터를 사용한 접합은, 접합 속도 10mm/초, 온도 23±2℃, 및 압력 0.15MPa의 조건에서 행하였다.In addition, bonding using a roll laminator was performed under conditions of a bonding speed of 10 mm/sec, a temperature of 23±2° C., and a pressure of 0.15 MPa.

[실시예 2][Example 2]

<아크릴계 폴리머의 합성><Synthesis of acrylic polymer>

(메트)아크릴 모노머를 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 2에 따른 아크릴계 모노머를 얻었다.An acrylic monomer according to Example 2 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the (meth)acrylic monomer was adjusted to the blending ratio shown in Table 1 below.

<점착제 용액의 제작><Preparation of adhesive solution>

실시예 2에 따른 아크릴계 모노머를 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 2에 따른 점착제 용액을 얻었다.An adhesive solution according to Example 2 was obtained in the same manner as in Example 1 using the acrylic monomer according to Example 2.

<다이싱 테이프의 제작><Production of dicing tape>

실시예 2에 따른 점착제 용액을 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 2에 따른 다이싱 테이프를 얻었다.A dicing tape according to Example 2 was obtained in the same manner as in Example 1 using the pressure-sensitive adhesive solution according to Example 2.

<다이 본드층의 제작><Production of die bond layer>

실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 2에 따른 다이 본드층을 얻었다.In the same manner as in Example 1, a die bond layer according to Example 2 was obtained.

<다이싱 다이 본드 필름의 제작><Production of dicing die bond film>

실시예 2에 따른 다이싱 테이프, 및 실시예 2에 따른 다이 본드층을 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 2에 따른 다이싱 다이 본드 필름을 얻었다.A dicing die-bonding film according to Example 2 was obtained in the same manner as in Example 1, using the dicing tape according to Example 2 and the die-bonding layer according to Example 2.

[실시예 3][Example 3]

<아크릴계 폴리머의 합성><Synthesis of acrylic polymer>

(메트)아크릴 모노머를 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 3에 따른 아크릴계 모노머를 얻었다.An acrylic monomer according to Example 3 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the (meth)acrylic monomer was adjusted to the blending ratio shown in Table 1 below.

<점착제 용액의 제작><Preparation of adhesive solution>

실시예 3에 따른 아크릴계 모노머를 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 3에 따른 점착제 용액을 얻었다.An adhesive solution according to Example 3 was obtained in the same manner as in Example 1 using the acrylic monomer according to Example 3.

<다이싱 테이프의 제작><Production of dicing tape>

실시예 3에 따른 점착제 용액을 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 3에 따른 다이싱 테이프를 얻었다.A dicing tape according to Example 3 was obtained in the same manner as in Example 1 using the pressure-sensitive adhesive solution according to Example 3.

<다이 본드층의 제작><Production of die bond layer>

실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 3에 따른 다이 본드층을 얻었다.In the same manner as in Example 1, a die bond layer according to Example 3 was obtained.

<다이싱 다이 본드 필름의 제작><Production of dicing die bond film>

실시예 3에 따른 다이싱 테이프, 및 실시예 3에 따른 다이 본드층을 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 3에 따른 다이싱 다이 본드 필름을 얻었다.A dicing die-bonding film according to Example 3 was obtained in the same manner as in Example 1, using the dicing tape according to Example 3 and the die-bonding layer according to Example 3.

[실시예 4][Example 4]

<아크릴계 폴리머의 합성><Synthesis of acrylic polymer>

(메트)아크릴 모노머를 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 4에 따른 아크릴계 모노머를 얻었다.An acrylic monomer according to Example 4 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the (meth)acrylic monomer was adjusted to the blending ratio shown in Table 1 below.

<점착제 용액의 제작><Preparation of adhesive solution>

실시예 4에 따른 아크릴계 모노머를 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 4에 따른 점착제 용액을 얻었다.An adhesive solution according to Example 4 was obtained in the same manner as in Example 1 using the acrylic monomer according to Example 4.

<다이싱 테이프의 제작><Production of dicing tape>

실시예 4에 따른 점착제 용액을 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 4에 따른 다이싱 테이프를 얻었다.A dicing tape according to Example 4 was obtained in the same manner as in Example 1 using the pressure-sensitive adhesive solution according to Example 4.

<다이 본드층의 제작><Production of die bond layer>

실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 4에 따른 다이 본드층을 얻었다.In the same manner as in Example 1, a die bond layer according to Example 4 was obtained.

<다이싱 다이 본드 필름의 제작><Production of dicing die bond film>

실시예 4에 따른 다이싱 테이프, 및 실시예 4에 따른 다이 본드층을 사용하여, 실시예 4에 따른 다이싱 다이 본드 필름을 얻었다.A dicing die bond film according to Example 4 was obtained using the dicing tape according to Example 4 and the die bond layer according to Example 4.

[실시예 5][Example 5]

<아크릴계 폴리머의 합성><Synthesis of acrylic polymer>

(메트)아크릴 모노머를 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 5에 따른 아크릴계 모노머를 얻었다.An acrylic monomer according to Example 5 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the (meth)acrylic monomer was adjusted to the blending ratio shown in Table 1 below.

<점착제 용액의 제작><Preparation of adhesive solution>

실시예 5에 따른 아크릴계 모노머를 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 5에 따른 점착제 용액을 얻었다.An adhesive solution according to Example 5 was obtained in the same manner as in Example 1 using the acrylic monomer according to Example 5.

<다이싱 테이프의 제작><Production of dicing tape>

실시예 5에 따른 점착제 용액을 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 5에 따른 다이싱 테이프를 얻었다.A dicing tape according to Example 5 was obtained in the same manner as in Example 1 using the pressure-sensitive adhesive solution according to Example 5.

<다이 본드층의 제작><Production of die bond layer>

실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 5에 따른 다이 본드층을 얻었다.In the same manner as in Example 1, a die bond layer according to Example 5 was obtained.

<다이싱 다이 본드 필름의 제작><Production of dicing die bond film>

실시예 5에 따른 다이싱 테이프, 및 실시예 5에 따른 다이 본드층을 사용하여, 실시예 5에 따른 다이싱 다이 본드 필름을 얻었다.A dicing die bond film according to Example 5 was obtained using the dicing tape according to Example 5 and the die bond layer according to Example 5.

[실시예 6][Example 6]

<아크릴계 폴리머의 합성><Synthesis of acrylic polymer>

(메트)아크릴 모노머를 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 6에 따른 아크릴계 모노머를 얻었다.An acrylic monomer according to Example 6 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the (meth)acrylic monomer was adjusted to the blending ratio shown in Table 1 below.

<점착제 용액의 제작><Preparation of adhesive solution>

실시예 6에 따른 아크릴계 폴리머를 사용하고, 가교제(코로네이트 L) 및 광중합 개시제(Omnirad 127)를 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 6에 따른 점착제 용액을 얻었다.Adhesive according to Example 6 in the same manner as in Example 1, except that the acrylic polymer according to Example 6 was used and the crosslinking agent (Coronate L) and the photopolymerization initiator (Omnirad 127) were mixed in the mixing ratios shown in Table 1 below. got a solution.

<다이싱 테이프의 제작><Production of dicing tape>

실시예 6에 따른 점착제 용액을 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 6에 따른 다이싱 테이프를 얻었다.A dicing tape according to Example 6 was obtained in the same manner as in Example 1 using the pressure-sensitive adhesive solution according to Example 6.

<다이 본드층의 제작><Production of die bond layer>

실시예 1과 마찬가지로 하여, 실시예 6에 따른 다이 본드층을 얻었다.In the same manner as in Example 1, a die bond layer according to Example 6 was obtained.

<다이싱 다이 본드 필름의 제작><Production of dicing die bond film>

실시예 6에 따른 다이싱 테이프, 및 실시예 6에 따른 다이 본드층을 사용하여, 실시예 6에 따른 다이싱 다이 본드 필름을 얻었다.A dicing die bond film according to Example 6 was obtained using the dicing tape according to Example 6 and the die bond layer according to Example 6.

[비교예 1][Comparative Example 1]

<아크릴계 폴리머의 합성><Synthesis of acrylic polymer>

(메트)아크릴 모노머를 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 비교예 1에 따른 아크릴계 폴리머를 얻었다.An acrylic polymer according to Comparative Example 1 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the (meth)acrylic monomer was adjusted to the blending ratio shown in Table 1 below.

<점착제 용액의 제작><Preparation of adhesive solution>

비교예 1에 따른 아크릴계 폴리머를 사용하고, 가교제(코로네이트 L) 및 광중합 개시제(Omnirad 127)를 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 비교예 1에 따른 점착제 용액을 얻었다.Adhesive according to Comparative Example 1 in the same manner as in Example 1, except that the acrylic polymer according to Comparative Example 1 was used, and the crosslinking agent (Coronate L) and the photopolymerization initiator (Omnirad 127) were mixed in the mixing ratios shown in Table 1 below. got a solution.

<다이싱 테이프의 제작><Production of dicing tape>

비교예 1에 따른 점착제 용액을 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 비교예 1에 따른 다이싱 테이프를 얻었다.A dicing tape according to Comparative Example 1 was obtained in the same manner as in Example 1 using the pressure-sensitive adhesive solution according to Comparative Example 1.

<다이 본드층의 제작><Production of die bond layer>

실시예 1과 마찬가지로 하여, 비교예 1에 따른 다이 본드층을 얻었다.In the same manner as in Example 1, a die bond layer according to Comparative Example 1 was obtained.

<다이싱 다이 본드 필름의 제작><Production of dicing die bond film>

비교예 1에 따른 다이싱 테이프, 및 비교예 1에 따른 다이 본드층을 사용하여, 비교예 1에 따른 다이싱 다이 본드 필름을 얻었다.A dicing die bond film according to Comparative Example 1 was obtained using the dicing tape according to Comparative Example 1 and the die bond layer according to Comparative Example 1.

[비교예 2][Comparative Example 2]

<아크릴계 폴리머의 합성><Synthesis of acrylic polymer>

(메트)아크릴 모노머를 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 비교예 2에 따른 아크릴계 폴리머를 얻었다.An acrylic polymer according to Comparative Example 2 was obtained in the same manner as in Example 1, except that the (meth)acrylic monomer was adjusted to the blending ratio shown in Table 1 below.

<점착제 용액의 제작><Preparation of adhesive solution>

비교예 2에 따른 아크릴계 폴리머를 사용하고, 가교제(코로네이트 L) 및 광중합 개시제(Omnirad 127)를 하기 표 1에 나타내는 배합 비율로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 비교예 2에 따른 점착제 용액을 얻었다.Adhesive according to Comparative Example 2 in the same manner as in Example 1 except that the acrylic polymer according to Comparative Example 2 was used and the crosslinking agent (Coronate L) and the photopolymerization initiator (Omnirad 127) were mixed in the mixing ratios shown in Table 1 below. got a solution.

<다이싱 테이프의 제작><Production of dicing tape>

비교예 2에 따른 점착제 용액을 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 비교예 2에 따른 다이싱 테이프를 얻었다.A dicing tape according to Comparative Example 2 was obtained in the same manner as in Example 1 using the pressure-sensitive adhesive solution according to Comparative Example 2.

<다이 본드층의 제작><Production of die bond layer>

실시예 1과 마찬가지로 하여, 비교예 2에 따른 다이 본드층을 얻었다.In the same manner as in Example 1, a die bond layer according to Comparative Example 2 was obtained.

<다이싱 다이 본드 필름의 제작><Production of dicing die bond film>

비교예 2에 따른 다이싱 테이프, 및 비교예 2에 따른 다이 본드층을 사용하여, 비교예 2에 따른 다이싱 다이 본드 필름을 얻었다.A dicing die bond film according to Comparative Example 2 was obtained using the dicing tape according to Comparative Example 2 and the die bond layer according to Comparative Example 2.

또한, 하기 표 1에 있어서, LA는, 라우릴아크릴레이트(탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트)를 의미하고, INA는, 이소노닐아크릴레이트(탄소수 9 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트)를 의미하고, 2EHA는, 2-에틸헥실아크릴레이트를 의미하고, BA는, 부틸아크릴레이트를 의미하고, EA는, 에틸아크릴레이트를 의미하며, HEA는, 2-히드록시에틸아크릴레이트(수산기 함유 (메트)아크릴레이트)를 의미한다.In Table 1 below, LA means lauryl acrylate (alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 12 or more carbon atoms), and INA means isononyl acrylate (alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 9 or more carbon atoms). ) acrylate) means, 2EHA means 2-ethylhexyl acrylate, BA means butyl acrylate, EA means ethyl acrylate, HEA means 2-hydroxyethyl acrylate means a rate (hydroxyl group-containing (meth)acrylate).

Figure pat00005
Figure pat00005

(FTIR 분석)(FTIR analysis)

각 예에 따른 다이싱 다이 본드 필름에 대하여, 상기 실시 형태의 항에서 설명한 바와 같이 하여, 점착제층의 노출 부분 및 다이 본드층과의 적층 부분의 각각에 대하여 FTIR 분석을 행하고, 점착제층의 노출 부분 및 다이 본드층과의 적층 부분의 각각에 관한 데이터를 취득하였다.For the dicing die-bonding film according to each example, FTIR analysis was performed on each of the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer and the laminated portion with the die-bonding layer as described in the section of the above embodiment, and the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer and data on each of the laminated portions with the die bond layer were acquired.

다음으로, 취득한 데이터를, 횡축을 파수(단위는 ㎝-1), 종축을 검출 강도(abs)로 한 그래프상에 각각 플롯한 후, 각각의 데이터 계열마다, 플롯한 데이터끼리를 연결하는 곡선을 그었다.Next, the obtained data is plotted on a graph in which the horizontal axis is the wave number (unit: cm -1 ) and the vertical axis is the detected intensity (abs), and then a curve connecting the plotted data for each data series drew

그리고, 상기 곡선에 기초하여, 점착제층의 노출 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합 H1, 점착제층의 노출 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이 T1, 다이 본드층과의 적층 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합 H2, 및 다이 본드층과의 적층 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이 T2를 구하였다.And, based on the above curve, the sum H1 of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the exposed part of the pressure-sensitive adhesive layer, 1600 cm -1 or more 1800 cm in the exposed part of the pressure-sensitive adhesive layer. In the peak height T1 appearing in the range of -1 or less, the sum of all peak heights H2 appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the lamination portion with the die bond layer, and the lamination portion with the die bond layer The peak height T2 appearing in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less of was determined.

또한, 전체 피크 높이의 총합 H1 및 H2, 그리고, 피크 높이 T1 및 T2는, 상기 실시 형태의 항에서 설명한 바와 같이 하여 구하였다.In addition, the sum of all peak heights H1 and H2, and the peak heights T1 and T2 were obtained as described in the section of the above embodiment.

또한, 하기 식 (1)을 이용하여, R의 값을 구하였다.In addition, the value of R was obtained using the following formula (1).

각 예에 대하여, 상기와 같이 하여 구한, H1, H2, T1, T2, 및 R의 값을 하기 표 2에 나타내었다.For each example, the values of H1, H2, T1, T2, and R obtained as described above are shown in Table 2 below.

Figure pat00006
Figure pat00006

(박리력)(peel force)

각 예에 따른 다이싱 다이 본드 필름에 대하여, 점착제층에 대한 다이 본드층의 박리력을 측정하였다. 점착제층에 대한 다이 본드층의 박리력은, 점착제층을 경화시킨 후에 측정하였다.With respect to the dicing die-bonding film according to each example, the peel force of the die-bonding layer with respect to the pressure-sensitive adhesive layer was measured. The peeling force of the die-bonding layer with respect to the pressure-sensitive adhesive layer was measured after curing the pressure-sensitive adhesive layer.

점착제층에 대한 다이 본드층의 박리력은, T형 박리 시험에 의해 측정하였다.The peeling force of the die-bonding layer with respect to the pressure-sensitive adhesive layer was measured by a T-shaped peeling test.

T형 박리 시험은, 다이 본드층의 노출면에 보강 테이프(상품명 「ELP BT315, 닛토덴코사 제조」)를 접합한 다이싱 다이 본드 필름에, 닛토세이키 제조의 상품명 「UM-810」(고압 수은 램프, 60mW/㎠)을 사용하여, 다이싱 테이프측으로부터 강도 150J/㎠의 자외선을 조사해서 점착제층을 경화시킨 후, 폭 50mm×길이 120mm의 치수로 잘라낸 것을 측정용 샘플로 하고, 인장 시험기(예를 들어, 상품명「TG-1kN」, 미네베아 미츠미사 제조)를 사용하여, 온도 25℃, 인장 강도 300mm/분의 조건에서 행하였다.In the T-shaped peel test, a dicing die-bonding film in which a reinforcing tape (trade name "ELP BT315, manufactured by Nitto Denko") was bonded to the exposed surface of the die-bonding layer was subjected to a trade name "UM-810" (trade name manufactured by Nitto Seiki) (high pressure A mercury lamp, 60 mW/cm 2 ) was used to irradiate ultraviolet light with an intensity of 150 J/cm 2 from the side of the dicing tape to cure the adhesive layer, and then cut out a sample having a width of 50 mm × length of 120 mm as a sample for measurement, and a tensile tester. (For example, trade name "TG-1kN", manufactured by Minebea Mitsumi Co., Ltd.) was used, and the temperature was 25°C and the tensile strength was 300 mm/min.

상기와 같이 하여 측정한 박리력에 대하여, 하기 표 2에 나타내었다.The peel force measured as described above is shown in Table 2 below.

(픽업성)(pickup)

할단된 상태의 다이 본드층을 구비하는 반도체 칩에 대하여, 픽업성을 평가하였다.Pick-up properties were evaluated for semiconductor chips provided with a die bond layer in a cut state.

할단된 상태의 다이 본드층을 구비하는 반도체 칩은, 이하의 수순에 따라 얻었다.A semiconductor chip having a die bond layer in a cut state was obtained according to the following procedure.

(1) 하프컷에 의해 분할용 홈(10mm×10mm)이 형성된 12인치의 베어 웨이퍼(직경 300mm, 두께 55㎛)에 대하여, 분할용 홈이 형성된 면에 백그라인드 테이프를 첩부한다.(1) For a 12-inch bare wafer (diameter: 300 mm, thickness: 55 µm) on which splitting grooves (10 mm x 10 mm) were formed by half-cutting, a back grind tape was applied to the surface on which the dividing grooves were formed.

(2) 백 그라인더(DISCO사 제조, 형식 DGP8760)를 사용하여, 상기 12인치의 베어 웨이퍼를, 상기 백그라인드 테이프를 첩부한 측과 반대측의 면으로부터 두께 25㎛까지 연삭하여, 백그라인딩된 베어 웨이퍼를 얻는다.(2) Using a back grinder (model DGP8760 manufactured by DISCO), the 12-inch bare wafer was ground to a thickness of 25 μm from the side opposite to the side to which the back grind tape was attached, and back-ground the bare wafer get

(3) 백그라인딩된 베어 웨이퍼에 있어서의 백그라인드 테이프의 첩부면과 반대측에, 각 예에 따른 다이싱 다이 본드 필름의 다이 본드층을 첩부하여, 다이싱 다이 본드 필름을 구비하는 베어 웨이퍼를 얻는다.(3) The die bond layer of the dicing die bond film according to each example is attached to the side opposite to the pasting surface of the back grind tape in the back ground bare wafer, thereby obtaining a bare wafer having a dicing die bond film .

(4) 다이싱 다이 본드를 구비하는 베어 웨이퍼를, 다이 세퍼레이터 장치(상품명 「다이 세퍼레이터 DDS3200」, 디스코사 제조)를 사용하여, 익스팬드함으로써 얻었다.(4) Dicing A bare wafer with a die bond was obtained by expanding it using a die separator device (trade name "Die Separator DDS3200", manufactured by Disco).

또한, 다이 세퍼레이트 장치를 사용한 익스팬드는, 상기 백그라인드 테이프를 베어 웨이퍼로부터 박리한 상태에서 행하였다.In addition, the expand using a die separator was performed in a state where the back grind tape was separated from the bare wafer.

다이 세퍼레이트 장치를 사용한 익스팬드에서는, 쿨 익스팬드를 행한 후, 상온 익스팬드를 행하였다.In the expand using a die separator, room temperature expand was performed after cool expand was performed.

쿨 익스팬드는, 이하의 수순에 따라 행하였다.Cool expand was performed according to the following procedure.

(1) 베어 웨이퍼에 첩부된 다이싱 다이 본드 필름의 점착제층 위의 프레임 접착 영역에, 직경 12인치의 SUS제 링 프레임(디스코사 제조)을 실온에서 첩부한다.(1) A ring frame made of SUS (manufactured by Disco) having a diameter of 12 inches is affixed at room temperature to the frame bonding area on the pressure-sensitive adhesive layer of the dicing die bonding film affixed to the bare wafer.

(2) SUS제 링 프레임이 첩부된 베어 웨이퍼를, 다이 세퍼레이트 장치에 장착하고, 해당 다이 세퍼레이트 장치의 쿨 익스팬더 유닛으로, 다이싱 다이 본드 필름의 다이싱 테이프를 익스팬드함으로써 행한다.(2) A bare wafer with a ring frame made of SUS attached thereto is mounted on a die separating device, and the dicing tape of the dicing die bond film is expanded by a cool expander unit of the die separating device.

(3) 쿨 익스팬드는, 익스팬드 온도 -15℃, 익스팬드 속도 100mm/초, 익스팬드양 7mm의 조건에서 행한다.(3) Cool expand is performed under conditions of an expand temperature of -15°C, an expand speed of 100 mm/sec, and an expand amount of 7 mm.

또한, 쿨 익스팬드 후에 있어서는, 반도체 웨이퍼가 복수의 반도체 칩으로 개편화됨과 함께, 다이 본드층도 반도체 칩 상당 사이즈로 개편화되어 있으며, 복수의 다이 본드층을 구비하는 반도체 칩이 얻어졌다.In addition, after the cool expand, the semiconductor wafer was singulated into a plurality of semiconductor chips, and the die bond layer was also singulated into a size corresponding to the semiconductor chip, so that a semiconductor chip having a plurality of die bond layers was obtained.

상온 익스팬드는, 쿨 익스팬드 후에, 상기 다이 세퍼레이트 장치의 상온 익스팬드 유닛을 사용하여, 다이싱 다이 본드 필름의 다이싱 테이프를 익스팬드함으로써 행하였다.Room-temperature expand was performed by expanding the dicing tape of the dicing die-bonding film using the room-temperature expand unit of the said die-separating apparatus after cool expand.

상온 익스팬드는, 익스팬드 온도 23±2℃, 익스팬드 속도 1mm/초, 익스팬드양 10mm의 조건에서 행하였다.Room-temperature expand was performed under conditions of an expand temperature of 23±2° C., an expand speed of 1 mm/sec, and an expand amount of 10 mm.

상온 익스팬드 후의 다이싱 테이프에 대하여, 가열 수축 처리를 실시하였다. 가열 수축 처리는, 온도 200℃, 시간 20초의 조건에서 행하였다.Heat shrinkage treatment was performed on the dicing tape after normal temperature expansion. The heat shrinkage treatment was performed under conditions of a temperature of 200°C and a time of 20 seconds.

다이싱 테이프를 가열 수축시킨 후, 픽업 기구를 갖는 장치(상품명 「다이 본더 SPA-300」, 신카와사 제조)를 사용하여, 개편화된 다이 본드층을 구비하는 반도체 칩의 픽업 시험을 행하였다.After heat-shrinking the dicing tape, a pick-up test was conducted on a semiconductor chip having a die-bonding layer cut into pieces using a device having a pick-up mechanism (trade name "Die Bonder SPA-300", manufactured by Shinkawa Co., Ltd.). .

상기 픽업 기구를 갖는 장치에 있어서, 핀 부재에 의한 밀어올림 속도는 1mm/초로 하고, 밀어올림양은 2000㎛로 하였다.In the device having the above pick-up mechanism, the pushing speed by the pin member was 1 mm/sec, and the pushing amount was 2000 µm.

상기 픽업 시험은, 닛토세이키사 제조의 상품명「UM-810」(고압 수은 램프, 60mW/㎠)을 사용하여, 다이싱 테이프측으로부터 강도 150J/㎠의 자외선을 조사해서 점착제층을 경화시킨 후에 행하였다.The pick-up test was carried out after curing the pressure-sensitive adhesive layer by irradiating ultraviolet rays with an intensity of 150 J/cm 2 from the dicing tape side using a trade name "UM-810" (high pressure mercury lamp, 60 mW/cm 2 ) manufactured by Nitto Seiki Co., Ltd. did

상기 픽업 시험은, 5개의 다이 본드층을 구비하는 반도체 칩에 대하여 행하고, 픽업성에 대해서는, 이하의 기준으로 판단하였다.The pick-up test was performed on a semiconductor chip having five die bond layers, and pick-up properties were judged according to the following criteria.

우수: 5개의 다이 본드층을 구비하는 반도체 칩 전부를 픽업할 수 있다.Excellent: All semiconductor chips with five die bond layers can be picked up.

양호: 5개의 다이 본드층을 구비하는 반도체 칩 중 3개 또는 4개를 픽업할 수 있다.Good: 3 or 4 of semiconductor chips having 5 die bond layers can be picked up.

가능: 5개의 다이 본드층을 구비하는 반도체 칩 중 1개 또는 2개를 픽업할 수 있다.Possible: One or two of the semiconductor chips with five die bond layers can be picked up.

불가: 5개의 다이 본드층을 구비하는 반도체 칩 전부를 픽업할 수 없다.Impossible: All semiconductor chips with five die bond layers cannot be picked up.

픽업성을 평가한 결과에 대하여, 하기 표 2에 나타내었다.With respect to the results of evaluating pick-up properties, it is shown in Table 2 below.

Figure pat00007
Figure pat00007

표 2로부터, 실시예 1 내지 6에 따른 다이싱 다이 본드 필름에서는, R의 값은, 모두 1.5 이하로 되어 있으며, 박리력(점착제층에 대한 다이 본드층의 박리력)이, 0.3N 이하로 충분히 낮은 값으로 되어 있다는 사실을 알 수 있다.From Table 2, in the dicing die-bonding films according to Examples 1 to 6, the values of R are all 1.5 or less, and the peel force (peel force of the die-bonding layer with respect to the pressure-sensitive adhesive layer) is 0.3 N or less. It can be seen that it is set to a sufficiently low value.

그리고, 실시예 1 내지 6에 따른 다이싱 다이 본드 필름에서는, 모두 픽업성이 양호(양호 또는 우수)하다는 사실을 알 수 있다.And, in the dicing die bond films according to Examples 1 to 6, it can be seen that all have good pick-up properties (good or excellent).

특히, 실시예 2 및 5에 따른 다이싱 다이 본드 필름에서는, 박리력이 0.14N으로 충분히 저하되어 있어, 픽업성은 우수로 특히 양호해졌다는 사실을 알 수 있다.In particular, in the dicing die bond films according to Examples 2 and 5, the peel force was sufficiently lowered to 0.14 N, and it was found that the pick-up property was excellent and particularly good.

이에 반하여, 비교예 1에 따른 다이싱 다이 본드 필름에서는, 박리력이 0.48N으로 높은 값을 나타내고 있으며, 비교예 2에 따른 다이싱 다이 본드 필름에서는, 박리력이 1.75N으로 특히 높은 값을 나타내고 있다는 사실을 알 수 있다.On the contrary, in the dicing die-bonding film according to Comparative Example 1, the peel force showed a high value of 0.48 N, and in the dicing die-bonding film according to Comparative Example 2, the peel force showed a particularly high value of 1.75 N. It can be known that there is

그리고, 비교예 1에 따른 다이싱 다이 본드 필름에서는, 픽업성이 약간 불량(가능)으로 되어 있으며, 비교예 2에 따른 다이싱 다이 본드 필름에서는, 픽업성이 불량(불가)으로 된다는 사실을 알 수 있다.And, in the dicing die-bonding film according to Comparative Example 1, it was found that the pickup property was slightly poor (possible), and in the dicing die-bonding film according to Comparative Example 2, the pick-up property was poor (unavailable). can

이들 결과로부터, 다이싱 다이 본드 필름에 있어서, 점착제층의 노출 부분 및 다이 본드층의 적층 부분의 각각에 대하여, FTIR 분석을 행하고, 상기 점착제층의 노출 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H1로 하고, 상기 점착제층의 노출 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T1로 하고, 상기 다이 본드층과의 적층 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H2로 하고, 상기 다이 본드층과의 적층 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T2로 했을 때, 상기 식 (1)에서 산출되는 R의 값이 1.5 이하임으로써, 다이 본드층을 점착제층으로부터 박리시킬 때, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착제층의 박리력을 충분히 저하시킬 수 있다는 사실을 알 수 있다.From these results, FTIR analysis was performed on each of the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer and the laminated portion of the die-bonding layer in the dicing die-bonding film, and 675 cm -1 or more 900 cm - at the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer The sum of all peak heights appearing in the range of 1 or less is H1, the peak height appearing in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer is T1, and the die bond layer and H2 is the sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the laminated portion of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the laminated portion with the die bond layer When the peak height appearing in the range is set to T2, when the value of R calculated in the formula (1) is 1.5 or less, when the die-bonding layer is separated from the pressure-sensitive adhesive layer, the pressure-sensitive adhesive layer is separated from the die-bonding layer. It can be seen that the power can be reduced sufficiently.

또한, 상기 다이 본드층에 대한 상기 점착층의 박리력이 충분히 저하됨으로써, 픽업성이 양호해져서, 픽업 공정을 원활하게 실시할 수 있다는 사실을 알 수 있다.In addition, it can be seen that since the peeling force of the adhesive layer with respect to the die bond layer is sufficiently lowered, the pick-up property is improved, so that the pick-up process can be smoothly performed.

1: 기재층
2: 점착제층
3: 다이 본드층
10: 다이싱 테이프
20: 다이싱 다이 본드 필름
G: 백그라인드 테이프
H: 보유 지지구
J: 흡착 지그
P: 핀 부재
R: 다이싱 링
T: 웨이퍼 가공용 테이프
U: 밀어올림 부재
W: 반도체 웨이퍼
1: base layer
2: adhesive layer
3: die bond layer
10: dicing tape
20: dicing die bond film
G: Backgrind tape
H: holding support
J: adsorption jig
P: no pin
R: dicing ring
T: tape for wafer processing
U: Push-up member
W: semiconductor wafer

Claims (5)

기재층 위에 점착제층이 적층된 다이싱 테이프와,
상기 점착제층의 일부를 노출시킨 상태에서, 상기 점착제층 위에 적층된 다이 본드층을 구비하고,
상기 점착제층은, 아크릴계 폴리머를 포함하고,
상기 다이 본드층은, 방향족 화합물을 포함하고 있으며,
상기 점착제층의 노출 부분 및 상기 다이 본드층과의 적층 부분의 각각에 대하여, FTIR 분석을 행하고,
상기 점착제층의 노출 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H1로 하고,
상기 점착제층의 노출 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T1로 하고,
상기 다이 본드층과의 적층 부분에서의 675㎝-1 이상 900㎝-1 이하의 범위에 나타나는 전체 피크 높이의 총합을 H2로 하고,
상기 다이 본드층과의 적층 부분에서의 1600㎝-1 이상 1800㎝-1 이하의 범위에 나타나는 피크 높이를 T2로 했을 때,
하기 식 (1)에서 산출되는 R의 값이 1.5 이하인
다이싱 다이 본드 필름.
Figure pat00008
A dicing tape in which an adhesive layer is laminated on a substrate layer;
A die bond layer laminated on the pressure-sensitive adhesive layer in a state in which a part of the pressure-sensitive adhesive layer is exposed,
The pressure-sensitive adhesive layer includes an acrylic polymer,
The die bond layer contains an aromatic compound,
FTIR analysis is performed on each of the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer and the laminated portion with the die bond layer,
The sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer is H1,
The peak height appearing in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the exposed portion of the pressure-sensitive adhesive layer is T1,
The sum of all peak heights appearing in the range of 675 cm -1 or more and 900 cm -1 or less in the laminated portion with the die bond layer is H2,
When the peak height appearing in the range of 1600 cm -1 or more and 1800 cm -1 or less in the laminated portion with the die bond layer is T2,
The value of R calculated from the following formula (1) is 1.5 or less
Dicing die bond film.
Figure pat00008
제1항에 있어서,
상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 9 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 13몰% 이상 포함하는
다이싱 다이 본드 필름.
According to claim 1,
The acrylic polymer contains 13 mol% or more of a structural unit of an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 9 or more carbon atoms.
Dicing die bond film.
제2항에 있어서,
상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함하는
다이싱 다이 본드 필름.
According to claim 2,
The acrylic polymer includes a structural unit of an alkyl (meth) acrylate having an alkyl group having 12 or more carbon atoms.
Dicing die bond film.
제3항에 있어서,
상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 12 이상의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위를 15몰% 포함하는
다이싱 다이 본드 필름.
According to claim 3,
The acrylic polymer contains 15 mol% of a structural unit of an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 12 or more carbon atoms.
Dicing die bond film.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 아크릴계 폴리머는, 탄소수 9 이상 14 이하의 알킬기를 갖는 알킬(메트)아크릴레이트의 구성 단위와, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트의 구성 단위를 포함하는
다이싱 다이 본드 필름.
According to claim 1 or 2,
The acrylic polymer includes a structural unit of an alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 9 or more and 14 or less carbon atoms, and a structural unit of a hydroxyl group-containing (meth)acrylate.
Dicing die bond film.
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