KR20210054638A - 액정 표시 장치 - Google Patents

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KR20210054638A
KR20210054638A KR1020190140291A KR20190140291A KR20210054638A KR 20210054638 A KR20210054638 A KR 20210054638A KR 1020190140291 A KR1020190140291 A KR 1020190140291A KR 20190140291 A KR20190140291 A KR 20190140291A KR 20210054638 A KR20210054638 A KR 20210054638A
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insulating pattern
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조병훈
김수인
안병재
이기정
이수진
이승규
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삼성디스플레이 주식회사
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Abstract

실시예들에 따른 액정 표시 장치는 영상을 표시하는 표시 영역과 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하고, 상기 표시 영역에 위치하고, 제1 기판 위에 위치하는 복수의 게이트선들 및 복수의 데이터선들, 상기 표시 영역과 상기 비표시 영역에 위치하고, 상기 제1 기판과 마주하는 제2 기판 위에 위치하는 공통 전극, 상기 비표시 영역의 상기 제1 기판 위에 위치하는 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 복수의 검사 신호선들, 그리고 상기 비표시 영역에 위치하는 상기 제2 기판에 위치하고, 상기 공통 전극과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 제1 절연 패턴을 포함할 수 있다.

Description

액정 표시 장치 {LIQUID CRYSTAL DISPLAY}
본 개시는 액정 표시 장치에 관한 것이다.
액정 표시 장치는 현재 가장 널리 사용되고 있는 평판 표시 장치 중 하나로서, 화소 전극과 공통 전극 등 전기장 생성 전극이 형성되어 있는 두 장의 표시판과 그 사이에 삽입되어 있는 액정층으로 이루어지며, 전기장 생성 전극에 전압을 인가하여 액정층에 전기장을 생성하고 이를 통하여 액정층의 액정 분자들의 배향을 결정하고 입사광의 편광을 제어함으로써 영상을 표시한다.
액정 표시 장치의 제조 공정 중, 신호선의 불량을 검출하기 위한 테스트 단계가 포함되는데, 이러한 테스트 단계에서, 테스트 신호선과 공통 전극 사이의 단락(short)등의 문제가 발생할 수 있다. 이러한 테스트 신호선과 공통 전극 사이의 단락 등에 의하여, 표시 품질 저하와 제품 불량이 발생된다.
실시예들은 검사 신호선과 공통 전극 사이의 단락 발생을 방지할 수 있는 액정 표시 장치를 제공하기 위한 것이다.
실시예들에 따른 액정 표시 장치는 영상을 표시하는 표시 영역과 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하고, 상기 표시 영역에 위치하고, 제1 기판 위에 위치하는 복수의 게이트선들 및 복수의 데이터선들, 상기 표시 영역과 상기 비표시 영역에 위치하고, 상기 제1 기판과 마주하는 제2 기판 위에 위치하는 공통 전극, 상기 비표시 영역의 상기 제1 기판 위에 위치하는 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 복수의 검사 신호선들, 그리고 상기 비표시 영역에 위치하는 상기 제2 기판에 위치하고, 상기 공통 전극과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 제1 절연 패턴을 포함할 수 있다.
상기 제1 절연 패턴은 상기 복수의 검사 신호선들과 중첩할 수 있다.
상기 액정 표시 장치는 상기 비표시 영역의 상기 제1 기판 위에 위치하고, 상기 복수의 검사 신호선들 사이를 따라 뻗어 있는 복수의 더미 선들, 그리고 상기 복수의 더미 선들과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 절연막을 더 포함할 수 있고, 상기 절연막은 상기 복수의 검사 신호선들과 중첩하는 부분의 두께가 상기 복수의 더미 선들과 중첩하는 부분의 두께보다 클 수 있다.
상기 액정 표시 장치는 상기 복수의 데이터선들에 연결되어 있는 복수의 데이터 구동부, 그리고 상기 복수의 데이터 구동부와 상기 표시 영역을 사이에 두고 서로 맞은 편의 상기 비표시 영역에 위치하는 검사부를 더 포함하고, 상기 제1 절연 패턴과 상기 복수의 검사 신호선들은 상기 검사부에 위치할 수 있다.
상기 제1 절연 패턴은 상기 복수의 검사 신호선들과 각기 중첩하는 복수의 제1 절연 패턴들을 포함할 수 있다.
상기 액정 표시 장치는 상기 제1 절연 패턴과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 제2 절연 패턴을 더 포함하고, 상기 제2 절연 패턴은 상기 비표시 영역의 상기 제1 기판에 위치할 수 있다.
상기 액정 표시 장치는 상기 비표시 영역에 위치하는 복수의 댐을 포함하고, 상기 제1 절연 패턴은 상기 복수의 댐과 같은 층으로 이루어질 수 있다.
실시예에 따른 액정 표시 장치는 영상을 표시하는 표시 영역과 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하고, 상기 표시 영역에 위치하고, 제1 기판 위에 위치하는 복수의 게이트선들 및 복수의 데이터선들, 상기 표시 영역과 상기 비표시 영역에 위치하고, 상기 제1 기판과 마주하는 제2 기판 위에 위치하는 공통 전극, 상기 비표시 영역에 위치하고 상기 제1 기판과 상기 제2 기판 사이에 위치하는 절연 구조물, 상기 절연 구조물의 측면은 상기 제1 절연 기판과 상기 제2 절연 기판의 측면과 정렬되고, 상기 제1 절연 기판의 상기 측면에 위치하는 복수의 구동부, 상기 복수의 구동부와 상기 표시 영역을 사이에 두고 맞은 편의 상기 비표시 영역에 위치하는 검사부, 상기 비표시 영역의 상기 검사부에 위치하고, 상기 제1 기판 위에 위치하는 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 복수의 검사 신호선들, 상기 비표시 영역의 상기 검사부에 위치하고, 상기 제2 기판에 위치하고, 상기 공통 전극과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 제1 절연 패턴을 포함할 수 있다.
실시예들에 따르면, 검사 단계에서 검사 신호선과 공통 전극 사이의 단락 발생을 방지할 수 있고, 이에 따라 표시 품질 저하와 제품 불량 발생을 방지할 수 있다.
도 1은 실시예에 따른 액정 표시 장치의 신호선 및 주변 회로를 개념적으로 표시한 도면이다.
도 2는 실시예에 따른 액정 표시 장치의 표시 영역의 화소의 한 예를 나타내는 단면도이다.
도 3은 실시예에 따른 액정 표시 장치의 비표시 영역의 일부분을 확장한 평면도이다.
도 4는 도 3의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 5는 도 3의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 6은 도 3의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 7은 다른 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 비표시 영역의 일부분을 확장한 평면도이다.
도 8은 도 7의 도시한 액정 표시 장치의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 9는 도 7의 도시한 액정 표시 장치의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 10은 도 7의 도시한 액정 표시 장치의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 11은 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 예를 나타내는 사시도이다.
도 12는 도 11에 도시한 액정 표시 장치의 일부분(A)에 대한 단면도이다.
도 13은 도 11에 도시한 액정 표시 장치의 일부분(B)에 대한 단면도이다.
도 14는 도 11에 도시한 액정 표시 장치의 일부분(B)에 대한 단면도이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 여러 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
또한, 도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다. 도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 그리고 도면에서, 설명의 편의를 위해, 일부 층 및 영역의 두께를 과장되게 나타내었다.
또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다. 또한, 기준이 되는 부분 "위에" 또는 "상에" 있다고 하는 것은 기준이 되는 부분의 위 또는 아래에 위치하는 것이고, 반드시 중력 반대 방향 쪽으로 "위에" 또는 "상에" 위치하는 것을 의미하는 것은 아니다.
또한, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
또한, 명세서 전체에서, "평면상"이라 할 때, 이는 대상 부분을 위에서 보았을 때를 의미하며, "단면상"이라 할 때, 이는 대상 부분을 수직으로 자른 단면을 옆에서 보았을 때를 의미한다.
먼저 도 1 내지 도 4를 참고하여, 실시예에 따른 액정 표시 장치에 대하여 설명한다. 도 1은 실시예에 따른 액정 표시 장치의 신호선 및 주변 회로를 개념적으로 표시한 도면이고, 도 2는 실시예에 따른 액정 표시 장치의 표시 영역의 화소의 한 예를 나타내는 단면도이고, 도 3은 실시예에 따른 액정 표시 장치의 비표시 영역의 일부분을 확장한 평면도이고, 도 4는 도 3의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 1을 참고하면, 액정 표시 장치(1000)는 복수의 화소를 포함하고 영상을 표시하는 표시 영역(DA)과 표시 영역(DA)의 주변에 위치하는 비표시 영역(NDA)을 포함한다.
액정 표시 장치(1000)는 제1 방향(DD1)으로 뻗어 있는 복수의 게이트선(GL1, GL2, GL3, GL4,…,GLn-3, GLn-2, GLn-1, GLn)과 제1 방향(DD1)과 다른 제2 방향(DD2)으로 뻗어 있는 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm), 그리고 복수의 게이트선(GL1, GL2, GL3, GL4,…,GLn-3, GLn-2, GLn-1, GLn)에 연결되어 있으며 비표시 영역(NDA)에 위치하는 복수의 게이트 구동부(GC)와 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm)에 연결되어 있으며 비표시 영역(NDA)에 위치하는 복수의 데이터 구동부(DC)를 포함한다. 또한, 액정 표시 장치(1000)는 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm)에 연결되며, 표시 영역(DA)을 사이에 두고 복수의 데이터 구동부(DC)와 반대편의 비표시 영역(NDA)에 위치에 위치하는 검사부(IP)를 포함한다.
도시하지는 않았지만, 액정 표시 장치(1000)는 복수의 게이트선(GL1, GL2, GL3, GL4,…,GLn-3, GLn-2, GLn-1, GLn)과 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm)에 각기 전기적으로 연결되어 있는 복수의 화소를 포함한다.
도 2를 참고하여, 액정 표시 장치(1000)의 표시 영역(DA)에 위치하는 복수의 화소의 구조의 한 예를 설명한다.
도 2를 참고하면, 액정 표시 장치(1000)의 한 화소는 서로 마주하는 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200), 그리고 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200) 사이에 위치하는 액정층(3)을 포함한다.
먼저 제1 표시판(100)에 대하여 설명한다. 투명한 유리 또는 플라스틱 등으로 이루어진 제1 기판(110) 위에 게이트 전극(124)과 게이트 선을 포함하는 게이트 도전체가 위치한다.
게이트 전극(124)은 복수의 게이트선(GL1, GL2, GL3, GL4,…,GLn-3, GLn-2, GLn-1, GLn) 중 어느 하나에 연결되어, 게이트 전압을 인가 받는다.
게이트 전극(124) 위에는 게이트 절연막(140)이 위치한다.
게이트 절연막(140) 위에는 반도체(154)가 위치한다. 반도체(154) 위에는 저항성 접촉 부재(163, 165)가 위치한다.
저항성 접촉 부재(163, 165) 위에는 소스 전극(173)과 드레인 전극(175), 데이터선을 포함하는 데이터 도전체가 위치한다. 소스 전극(173)은 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm) 중 어느 하나에 연결되어 데이터 전압을 인가 받는다.
데이터 도전체 및 그 아래에 위치되어 있는 반도체 및 저항성 접촉 부재는 하나의 마스크를 이용하여 동시에 형성될 수 있다. 그러나, 데이터 도전체와 반도체 및 저항성 접촉 부재는 다른 마스크를 이용하여 형성될 수 있고, 이 경우, 저항성 접촉 부재는 반도체와 소스 전극 및 드레인 전극 사이에만 위치하고, 소스 전극과 드레인 전극 중 일부분의 아래에는 위치하지 않을 수 있다.
게이트 전극(124), 소스 전극(173) 및 드레인 전극(175)은 반도체(154)와 함께 박막 트랜지스터(thin film transistor, TFT)를 이루며, 박막 트랜지스터의 채널(channel)은 소스 전극(173)과 드레인 전극(175) 사이의 반도체(154)에 형성된다.
데이터 도전체 및 반도체(154) 위에는 제1 보호막(180a)이 위치한다. 제1 보호막(180a)은 질화규소 또는 산화규소 등의 무기 절연막을 포함할 수 있다. 제1 보호막(180a) 위에는 제2 보호막(180b)이 위치한다. 제2 보호막(180b)은 유기물을 포함할 수 있고, 그 표면이 평탄할 수 있다.
제1 보호막(180a) 및 제2 보호막(180b)에는 드레인 전극(175)을 드러내는 접촉 구멍(contact hole)(185)이 형성되어 있다. 제2 보호막(180b) 위에는 화소 전극(pixel electrode)(191)이 위치한다. 화소 전극(191)은 ITO 또는 IZO 등의 투명한 도전 물질이나 알루미늄, 은, 크롬 또는 그 합금 등의 반사성 금속으로 만들어질 수도 있다. 화소 전극(191)은 접촉 구멍(185)을 통해 드레인 전극(175)과 물리적, 전기적으로 연결되어 있으며, 드레인 전극(175)으로부터 데이터 전압을 인가 받는다.
이제 제2 표시판(200)에 대하여 설명한다. 제2 기판(210) 위에 공통 전극(270)이 형성되어 있다. 도시하지는 않았지만, 제2 기판(210)과 공통 전극(270) 사이에는 색필터와 차광 부재 등이 더 위치할 수 있다.
도시하지는 않았지만, 제1 표시판(100)과 액정층(3) 사이에는 제1 배향막이 위치하고, 제2 표시판(200)과 액정층(3) 사이에는 제2 배향막이 더 위치할 수 있다.
액정층(3)은 복수의 액정 분자(도시하지 않음)를 포함하고, 데이터 전압이 인가된 화소 전극(191)은 공통 전극(270)과 함께 전기장을 생성함으로써 두 전극(191, 270) 사이의 액정층(3)의 액정 분자의 방향을 결정한다. 이와 같이 결정된 액정 분자의 방향에 따라 액정층(3)을 통과하는 빛의 휘도가 달라진다.
도 2를 참고로 설명한 화소의 구조는 한 예로, 다른 실시예들에 의할 경우, 다른 화소의 구조가 적용 가능하다.
다음으로, 도 3을 참고하여, 검사부의 배치 및 검사 방법에 대하여 설명한다.
도 3을 참고하면, 검사부(IP)에 인접한 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…)의 끝 부분은 외부 회로부 또는 다른 신호선과의 접속을 위한 복수의 확장부(P1, P2, P3, P4)를 포함하고, 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…)의 복수의 확장부(P1, P2, P3, P4,…)로부터 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…)이 다시 연장되어 검사부(IP)에 위치하는 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)을 이루고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)은 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…)과 나란한 방향으로 뻗어 있다.
검사 단계에서, 도 3에 도시한 제3 방향(T)으로 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)에 순차적으로 검사 신호를 인가하고, 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm)의 다른 끝 방향에서 검사 신호를 측정하여, 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm)에 단선 등의 불량이 발생했는 지 여부를 검사한다. 예를 들어, 전압 인가용 핀(pin)을 이용하여 제3 방향(T)으로 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)에 순차적으로 검사 신호를 인가하고, 복수의 데이터 구동부(DC)에 연결되어 있는 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm)의 끝부분에서 비접촉식 캐패시터 값 측정기를 통해, 캐패시터의 값을 측정하여, 검사 신호가 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm)의 끝부분까지 인가되는 지 여부를 검출한다. 만약, 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm)에 단선 등의 불량이 발생한 경우, 캐패시터의 값이 변화하게 되고, 이는 검사 신호가 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm)의 끝부분까지 인가되지 않는 것을 의미한다.
다음으로 도 4를 참고하여, 검사부(IP)의 구조에 대하여 보다 구체적으로 설명한다.
도 4를 참고하면, 액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제1 표시판(100)의 제1 기판(110) 위에 게이트 절연막(140)이 위치하고, 게이트 절연막(140) 위에 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 위에 제1 보호막(180a)이 위치한다. 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)과 달리 제1 보호막(180a) 위에 위치하는 제2 보호막(180b)이 제거되어 있다. 그러나, 비표시 영역(NDA)에도 제2 보호막(180b)이 위치할 수도 있다.
액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제2 표시판(200)의 제2 기판(210) 위에 공통 전극(270)이 위치한다. 공통 전극(270)과 제1 표시판(100) 사이에는 제1 절연 패턴(280)이 위치한다. 제1 절연 패턴(280)은 비표시 영역(NDA)에 위치하는 공통 전극(270)과 공통 전극(270)에 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 제1 표시판(100) 사이에 위치하고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩한다. 도 4의 실시예에 따르면, 절연 패턴(280)은 공통 전극(270)이 위치하는 제2 표시판(200)에 위치하고, 제1 표시판(100)의 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 모두와 중첩하는 하나의 패턴일 수 있다.
제1 절연 패턴(280)은 절연 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 절연 패턴(280)은 표시 영역(DA)의 스페이서와 같은 층으로 이루어질 수 있으며, 색필터 나 유기 절연층 등일 수 있다.
도시하지는 않았지만, 공통 전극(270) 위에는 배향막이 위치할 수 있으며, 절연 패턴(280)은 배향막과 중첩하지 않을 수 있고, 이와 달리 배향막과 중첩할 수도 있다.
앞서 설명한 바와 같이, 검사 단계에서, 검사부(IP)에 위치하는 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)에 전압 인가 핀을 이용하여, 전압을 인가하는데, 이 경우 외부에서 유입된 도전성 입자나 공정 중 발생한 버(burr)에 의해 제1 표시판(100)에 위치하는 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 중 적어도 일부와 제2 표시판(200)에 위치하는 공통 전극(270) 사이에 단락(short)이 발생할 수 있다. 예를 들어, 제1 표시판(100) 위에 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 등을 형성할 때 버(burr)가 형성되거나 도전성 입자가 잔존하게 되는 경우, 그 위에 제1 보호막(180a)과 같은 절연층을 적층하더라도, 도전성 입자나 버를 완전히 덮지 못할 수 있고, 이에 의해 도전성 입자나 버가 제1 표시판(100) 상부에 노출될 수 있다. 앞서 설명한 검사 단계에서, 핀을 이용하여 전압 인가 시, 표시 장치에 외부로부터 압력이 가해지기 때문에, 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200) 사이의 간격이 좁아지고 이에 따라 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 공통 전극(270) 사이에 위치하는 도전성 입자나 도전성 물질로 이루어진 버에 의해 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 공통 전극(270)의 단락(short)이 쉽게 발생할 수 있다.
그러나, 실시예에 따른 액정 표시 장치에 따르면, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200)의 공통 전극(270) 사이에 제1 절연 패턴(280)이 위치한다. 특히 제2 표시판(200)에 위치하는 제1 절연 패턴(280)은 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 형성되는 제1 표시판(100)과는 별개의 공정으로 형성되기 때문에, 제조 공정 중, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)에 인접하여 위치하는 도전성 입자나 도전성 버가 위치하더라도 공통 전극(270)과 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이의 절연을 유지할 수 있다. 따라서, 외부에서 가압하는 검사 단계에서도 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 공통 전극(270) 사이의 단락을 방지할 수 있다.
그러면, 도 5를 참고하여, 검사부(IP)의 구조에 대하여 보다 구체적으로 설명한다. 도 5는 도 3의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 5를 참고하면, 본 실시예에 따른 검사부(IP)의 구조는 도 4에 도시한 검사부(IP)의 구조와 유사하다.
액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제1 표시판(100)의 제1 기판(110) 위에 게이트 절연막(140)이 위치하고, 게이트 절연막(140) 위에 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 위에 제1 보호막(180a)이 위치한다. 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)과 달리 제1 보호막(180a) 위에 위치하는 제2 보호막(180b)이 제거되어 있다. 그러나, 비표시 영역(NDA)에도 제2 보호막(180b)이 위치할 수도 있다.
액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제2 표시판(200)의 제2 기판(210) 위에 공통 전극(270)이 위치한다. 그러나, 본 실시예에 따른 검사부(IP)는 도 4에 도시한 검사부(IP)와 달리, 공통 전극(270)과 제1 표시판(100) 사이에는 복수의 제1 절연 패턴들(280a, 280b, 280c, 280d)이 위치한다. 복수의 제1 절연 패턴들(280a, 280b, 280c, 280d)은 각기 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하도록 위치한다.
본 실시예에 따른 액정 표시 장치에 따르면, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200)의 공통 전극(270) 사이에 각기 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하는 복수의 제1 절연 패턴들(280a, 280b, 280c, 280d)이 위치함으로써, 공통 전극(270)과 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이의 절연을 유지함으로써, 외부에서 가압하는 검사 단계에서도 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 공통 전극(270) 사이의 단락을 방지할 수 있다.
다음으로, 도 6을 참고하여, 검사부(IP)의 구조에 대하여 보다 구체적으로 설명한다. 도 6은 도 3의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 6을 참고하면, 본 실시예에 따른 검사부(IP)의 구조는 도 4에 도시한 검사부(IP)의 구조와 유사하다. 액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제1 표시판(100)의 제1 기판(110) 위에 게이트 절연막(140)이 위치하고, 게이트 절연막(140) 위에 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 위에 제1 보호막(180a)이 위치한다. 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)과 달리 제1 보호막(180a) 위에 위치하는 제2 보호막(180b)이 제거되어 있다. 그러나, 비표시 영역(NDA)에도 제2 보호막(180b)이 위치할 수도 있다.
액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제2 표시판(200)의 제2 기판(210) 위에 공통 전극(270)이 위치하고, 공통 전극(270)과 제1 표시판(100) 사이에는 제1 절연 패턴(280)이 위치한다. 그러나, 본 실시예에 따른 검사부(IP)는 도 4에 도시한 검사부(IP)와 달리, 공통 전극(270)과 제1 표시판(100) 사이에는 제2 절연 패턴(190)이 더 위치하고, 제2 절연 패턴(190)은 제1 표시판(100)에 위치한다.
이처럼, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200)의 공통 전극(270) 사이에 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하고 제2 표시판(200)에 위치하는 제1 절연 패턴(280)과 제1 표시판(100)에 위치하는 제2 절연 패턴(190)이 위치함으로써, 공통 전극(270)과 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이의 절연을 유지함으로써, 외부에서 가압하는 검사 단계에서도 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 공통 전극(270) 사이의 단락을 방지할 수 있다. 공통 전극(270)과 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이에 두 개의 절연 패턴(280, 190)이 위치함으로써, 공통 전극(270)과 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이의 절연을 더욱 효과적으로 유지할 수 있다.
다음으로, 도 7을 참고하여, 다른 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 검사부의 배치에 대하여 설명한다. 도 7은 다른 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 비표시 영역의 일부분을 확장한 평면도이다.
도 7을 참고하면, 검사부(IP)에 인접한 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…)의 끝 부분은 외부 회로부 또는 다른 신호선과의 접속을 위한 복수의 확장부(P1, P2, P3, P4)를 포함하고, 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…)의 복수의 확장부(P1, P2, P3, P4,…)로부터 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…)이 다시 연장되어 검사부(IP)에 위치하는 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)을 이루고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)은 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…)과 나란한 방향으로 뻗어 있다.
복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이에는 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)이 위치한다. 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)은 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 다른 층 위에 위치하고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 나란하게 뻗어 어 있다.
검사 단계에서, 도 7에 도시한 제3 방향(T)으로 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)에 순차적으로 검사 신호를 인가하고, 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm)의 다른 끝 방향에서 검사 신호를 측정하여, 복수의 데이터선(DL1, DL2, DL3, DL4,…,DLm-3, DLm-2, DLm-1, DLm)에 단선 등의 불량이 발생했는 지 여부를 검사한다. 예를 들어, 전압 인가용 핀(pin)을 이용하여 제3 방향(T)으로 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)에 순차적으로 검사 신호를 인가하는데, 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)은 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)에 가해지는 외부의 압력의 효과를 완화시킬 수 있다.
그러면, 도 7과 함께 도 8을 참고하여, 검사부(IP)의 구조에 대하여 보다 구체적으로 설명한다. 도 8은 도 7의 도시한 액정 표시 장치의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 8을 참고하면, 액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제1 표시판(100)의 제1 기판(110) 위에 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)이 위치하고, 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??) 위에 게이트 절연막(140)이 위치하고, 게이트 절연막(140) 위에 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치한다.
게이트 절연막(140)은 위치에 따라 서로 다른 제1 두께(T1)와 제2 두께(T2)를 가지고, 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)과 중첩하는 부분은 제1 두께(T1)를 가지고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하는 부분은 제2 두께(T2)를 가진다. 제2 두께(T2)는 제1 두께(T1)보다 클 수 있다. 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)과 중첩하는 부분뿐만 아니라, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하는 않는 나머지 부분은 제1 두께(T1)를 가질 수 있다.
복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 위에 제1 보호막(180a)이 위치한다. 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)과 달리 제1 보호막(180a) 위에 위치하는 제2 보호막(180b)이 제거되어 있다. 그러나, 비표시 영역(NDA)에도 제2 보호막(180b)이 위치할 수도 있다.
액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제2 표시판(200)의 제2 기판(210) 위에 공통 전극(270)이 위치한다. 공통 전극(270)과 제1 표시판(100) 사이에는 제1 절연 패턴(280)이 위치한다. 제1 절연 패턴(280)은 비표시 영역(NDA)에 위치하는 공통 전극(270)과 공통 전극(270)에 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 제1 표시판(100) 사이에 위치하고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩한다. 도 4의 실시예에 따르면, 절연 패턴(280)은 공통 전극(270)이 위치하는 제2 표시판(200)에 위치하고, 제1 표시판(100)의 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 모두와 중첩하는 하나의 패턴일 수 있다.
제1 절연 패턴(280)은 절연 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 절연 패턴(280)은 표시 영역(DA)의 스페이서와 같은 층으로 이루어질 수 있으며, 색필터 나 유기 절연층 등일 수 있다.
도시하지는 않았지만, 공통 전극(270) 위에는 배향막이 위치할 수 있으며, 절연 패턴(280)은 배향막과 중첩하지 않을 수 있고, 이와 달리 배향막과 중첩할 수도 있다.
앞서 설명한 바와 같이, 본 실시예에 따른 액정 표시 장치의 검사부(IP)는 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이에 위치하고 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 나란하게 뻗어 있는 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)을 포함하고, 게이트 절연막(140)은 위치에 따라 다른 두께를 가진다. 구체적으로, 게이트 절연막(140) 중 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하는 부분은 다른 부분의 제1 두께(T1)보다 더 큰 제2 두께(T2)를 가진다. 이에 의해, 각 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??), 게이트 절연막(140)과 제1 보호막(180a)이 위치하는 제1 부분(PP1), 그리고 게이트 절연막(140), 각 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…), 그리고 제1 보호막(180a)이 위치하는 제2 부분(PP2)의 표면 높이는 단차(SC)를 가지고 점차 커지게 된다.
검사 단계에서, 검사부(IP)에 위치하는 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)에 전압 인가 핀을 이용하여, 전압을 인가하는데, 검사부(IP)의 제1 표시판(100)의 표면의 단차 변화가 크지 않기 때문에, 각 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)에 가해지는 외부 압력 변화가 크지 않게 된다. 각 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하지 않는 부분과 각 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 부분 사이에 표면 높이 차이가 클 경우, 전압 인가 핀이 각 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)에 가해지는 충격이 상대적으로 커지게 된다. 그러나, 본 실시예에 따르면, 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)과 위치에 따라 두께가 다른 게이트 절연막(140)을 포함함으로써, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 부분과 나머지 부분 사이의 단차를 줄임으로써, 검사 단계에서 검사 전압 인가 핀에 따른 충격을 완화시킬 수 있고, 이에 따라 검사 시 가해지는 외부 압력에 따라 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 그 위에 위치하는 제1 보호막(180a)이 손상되는 것을 방지하여, 제2 표시판(200)에 위치하는 공통 전극(270)과의 단락을 방지할 수 있다.
또한, 앞서 설명한 실시예에 따른 액정 표시 장치와 유사하게, 본 실시예에 따른 액정 표시 장치에 따르면, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200)의 공통 전극(270) 사이에 제1 절연 패턴(280)이 위치한다. 특히 제2 표시판(200)에 위치하는 제1 절연 패턴(280)은 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 형성되는 제1 표시판(100)과는 별개의 공정으로 형성되기 때문에, 제조 공정 중, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)에 인접하여 위치하는 도전성 입자나 도전성 버가 위치하더라도 공통 전극(270)과 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이의 절연을 유지할 수 있다. 따라서, 외부에서 가압하는 검사 단계에서도 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 공통 전극(270) 사이의 단락을 방지할 수 있다.
그러면, 도 7과 함께 도 9를 참고하여, 검사부(IP)의 구조에 대하여 보다 구체적으로 설명한다. 도 9는 도 7의 도시한 액정 표시 장치의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 7과 함께 도 9를 참고하면, 본 실시예에 따른 검사부(IP)의 구조는 도 8에 도시한 검사부(IP)의 구조와 유사하다.
액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제1 표시판(100)의 제1 기판(110) 위에 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)이 위치하고, 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??) 위에 게이트 절연막(140)이 위치하고, 게이트 절연막(140) 위에 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 위에 제1 보호막(180a)이 위치한다.
게이트 절연막(140)은 위치에 따라 서로 다른 제1 두께(T1)와 제2 두께(T2)를 가지고, 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)과 중첩하는 부분은 제1 두께(T1)를 가지고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하는 부분은 제2 두께(T2)를 가진다. 제2 두께(T2)는 제1 두께(T1)보다 클 수 있다. 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)과 중첩하는 부분뿐만 아니라, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하는 않는 나머지 부분은 제1 두께(T1)를 가질 수 있다.
비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)과 달리 제1 보호막(180a) 위에 위치하는 제2 보호막(180b)이 제거되어 있다. 그러나, 비표시 영역(NDA)에도 제2 보호막(180b)이 위치할 수도 있다.
액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제2 표시판(200)의 제2 기판(210) 위에 공통 전극(270)이 위치한다. 그러나, 본 실시예에 따른 검사부(IP)는 도 8에 도시한 검사부(IP)와 달리, 공통 전극(270)과 제1 표시판(100) 사이에는 복수의 제1 절연 패턴들(280a, 280b, 280c, 280d)이 위치한다. 복수의 제1 절연 패턴들(280a, 280b, 280c, 280d)은 각기 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하도록 위치한다.
본 실시예에 따른 액정 표시 장치에 따르면, 검사부(IP)는 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이에 위치하고 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 나란하게 뻗어 있는 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)과 위치에 따라 두께가 다른 게이트 절연막(140)을 포함함으로써, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 부분과 나머지 부분 사이의 단차를 줄임으로써, 검사 단계에서 검사 전압 인가 핀에 따른 충격을 완화시킬 수 있고, 이에 따라 검사 시 가해지는 외부 압력에 따라 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 그 위에 위치하는 제1 보호막(180a)이 손상되는 것을 방지하여, 제2 표시판(200)에 위치하는 공통 전극(270)과의 단락을 방지할 수 있다.
또한, 본 실시예에 따른 액정 표시 장치에 따르면, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200)의 공통 전극(270) 사이에 각기 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하는 복수의 제1 절연 패턴들(280a, 280b, 280c, 280d)이 위치함으로써, 공통 전극(270)과 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이의 절연을 유지함으로써, 외부에서 가압하는 검사 단계에서도 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 공통 전극(270) 사이의 단락을 방지할 수 있다.
다음으로, 도 7과 함께 도 10을 참고하여, 검사부(IP)의 구조에 대하여 보다 구체적으로 설명한다. 도 10은 도 7의 도시한 액정 표시 장치의 비표시 영역의 일부를 도시한 단면도이다.
도 7과 함께 도 10을 참고하면, 본 실시예에 따른 검사부(IP)의 구조는 도 8에 도시한 검사부(IP)의 구조와 유사하다.
액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제1 표시판(100)의 제1 기판(110) 위에 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)이 위치하고, 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??) 위에 게이트 절연막(140)이 위치하고, 게이트 절연막(140) 위에 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 위에 제1 보호막(180a)이 위치한다.
게이트 절연막(140)은 위치에 따라 서로 다른 제1 두께(T1)와 제2 두께(T2)를 가지고, 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)과 중첩하는 부분은 제1 두께(T1)를 가지고, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하는 부분은 제2 두께(T2)를 가진다. 제2 두께(T2)는 제1 두께(T1)보다 클 수 있다. 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)과 중첩하는 부분뿐만 아니라, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하는 않는 나머지 부분은 제1 두께(T1)를 가질 수 있다.
비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)과 달리 제1 보호막(180a) 위에 위치하는 제2 보호막(180b)이 제거되어 있다. 그러나, 비표시 영역(NDA)에도 제2 보호막(180b)이 위치할 수도 있다.
액정 표시 장치(1000)의 비표시 영역(NDA)에 위치하는 제2 표시판(200)의 제2 기판(210) 위에 공통 전극(270)이 위치하고, 공통 전극(270)과 제1 표시판(100) 사이에는 제1 절연 패턴(280)이 위치한다. 그러나, 본 실시예에 따른 검사부(IP)는 도 8에 도시한 검사부(IP)와 달리, 공통 전극(270)과 제1 표시판(100) 사이에는 제2 절연 패턴(190)이 더 위치하고, 제2 절연 패턴(190)은 제1 표시판(100)에 위치한다.
본 실시예에 따른 액정 표시 장치에 따르면, 검사부(IP)는 검사부(IP)는 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이에 위치하고 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 나란하게 뻗어 있는 복수의 더미 선(120a, 120b, 120c, 120d, 120e??)과 위치에 따라 두께가 다른 게이트 절연막(140)을 포함함으로써, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 부분과 나머지 부분 사이의 단차를 줄임으로써, 검사 단계에서 검사 전압 인가 핀에 따른 충격을 완화시킬 수 있고, 이에 따라 검사 시 가해지는 외부 압력에 따라 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 그 위에 위치하는 제1 보호막(180a)이 손상되는 것을 방지하여, 제2 표시판(200)에 위치하는 공통 전극(270)과의 단락을 방지할 수 있다.
또한, 본 실시예에 따른 액정 표시 장치에 따르면, 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)이 위치하는 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200)의 공통 전극(270) 사이에 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 중첩하고 제2 표시판(200)에 위치하는 제1 절연 패턴(280)과 제1 표시판(100)에 위치하는 제2 절연 패턴(190)이 위치함으로써, 공통 전극(270)과 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이의 절연을 유지함으로써, 외부에서 가압하는 검사 단계에서도 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…)과 공통 전극(270) 사이의 단락을 방지할 수 있다. 공통 전극(270)과 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이에 두 개의 절연 패턴(280, 190)이 위치함으로써, 공통 전극(270)과 복수의 검사 신호선(170a, 170b, 170c, 170d,…) 사이의 절연을 더욱 효과적으로 유지할 수 있다.
그러면, 도 11 내지 도 14를 참고하여, 다른 한 실시예에 따른 액정 표시 장치에 대하여 설명한다. 도 ``은 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 예를 나타내는 사시도이고, 도 12는 도 11에 도시한 액정 표시 장치의 일부분(A)에 대한 단면도이고, 도 13은 도 11에 도시한 액정 표시 장치의 일부분(B)에 대한 단면도이다.
도 711을 참고하면, 액정 표시 장치(2000)는 복수의 화소를 포함하는 표시 영역(DA)과 표시 영역 주변에 위치하는 비표시 영역(NDA)을 포함한다.
도시하지는 않았지만, 앞서 도 1 내지 도 4를 참고로 설명한 실시예에 따른 액정 표시 장치(1000)와 유사하게, 액정 표시 장치(2000)는 서로 마주하는 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200)을 포함하고, 제1 표시판(100)에 위치하는 복수의 게이트선 및 데이터선, 그리고 복수의 화소를 포함할 수 있다. 그러나, 본 실시예에 따른 액정 표시 장치(2000)는 앞서 설명한 액정 표시 장치(1000)와는 달리, 복수의 게이트 구동부(GC)와 복수의 데이터 구동부(DC)가 액정 표시 장치(2000)의 측면에 부착되어 있다.
이에 대하여 보다 구체적으로 설명한다.
먼저, 도 12 및 도 13을 참고하면, 액정 표시 장치(2000)는 서로 마주하는 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200), 그리고 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200) 사이에 위치하는 액정층(3)을 포함한다.
제1 표시판(100)의 제1 기판(110) 위에는 더미 전극(120)이 위치하고, 더미 전극(120) 위에 게이트 절연막(140)이 위치하고, 게이트 절연막(140) 위에 데이터선의 연장부(171)가 위치하고, 데이터선의 연장부(171) 위에 제1 보호막(180a)이 위치한다. 제1 기판(110) 위에 위치하는 더미 전극(120)과 데이터선의 연장부(171)의 측면은 노출되어 있으며, 노출된 데이터선의 연장부(171)를 덮도록 액정 표시 장치(2000)의 측면에 연결 전극(CP)이 위치하고, 연결 전극(CP)을 통해 데이터선의 연장부(171)는 데이터 구동부(DC)와 연결된다. 데이터 구동부(DC)는 액정 표시 장치(2000)의 측면에 위치하는 연결 전극(CP)을 덮으면서 액정 표시 장치(2000)의 측면에 부착된다.
제2 표시판(200)의 제2 기판 위에는 공통 전극(270)이 위치한다.
제1 표시판(100)과 제2 표시판(200) 사이에는 절연 구조물(SP)이 위치하고, 절연 구조물(SP)은 평면상 액정 표시 장치(2000)의 가장자리를 따라 연장될 수 있다. 절연 구조물(SP)의 측면은 액정 표시 장치(2000)의 측면과 일렬 정렬되어, 노출되어 있다.
제1 표시판(100)과 제2 표시판(200) 사이에 밀봉 구조물(SL)이 위치한다. 밀봉 구조물(SL)은 절연 구조물(SP) 보다 표시 영역(DA)에 인접하여 내측에 위치한다. 밀봉 구조물(SL)은 액정층(3)이 위치하는 공간을 정의할 수 있다. 밀봉 구조물(SL)은 광경화성 유기재료, 열경화성 유기재료를 포함하거나, 유리 플릿 실링재를 포함할 수 있다.
제1 표시판(100) 위에는 복수의 제1 댐(D1)이 위치하고, 제2 표시판(200) 위에는 복수의 제2 댐(D2)이 위치한다. 복수의 제1 댐(D1)과 복수의 제2 댐(D2)은 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200) 위에 배향막이 형성될 때, 배향막이 밀봉 구조물(SL)이 위치하는 영역보다 더 외곽 쪽으로 넘쳐 흐르는 것을 방지한다.
검사부(IP)에 위치하는 제1 표시판(100)의 제1 기판(110) 위에 검사 신호선(170)이 위치하고, 검사 신호선(170)과 제2 표시판(200)의 공통 전극(270) 사이에 제1 절연 패턴(280)이 위치한다.
제1 절연 패턴(280)은 비표시 영역(NDA)에 위치하는 복수의 제2 댐(D2)과 같은 층으로 이루어질 수 있다.
앞서 도 1 내지 도 4를 참고로 설명한 실시예에 따른 액정 표시 장치(1000)와 유사하게, 제1 표시판(100)의 제1 기판(110) 위에 위치하는 검사 신호선(170)과 제2 표시판(200)의 공통 전극(270) 사이에 제1 절연 패턴(280)이 위치하고, 제1 절연 패턴(280)은 제2 표시판(200)에 위치함으로써, 제조 공정 중, 검사 신호선(170)에 인접하여 위치하는 도전성 입자나 도전성 버가 위치하더라도 공통 전극(270)과 검사 신호선(170) 사이의 절연을 유지할 수 있다. 따라서, 외부에서 가압하는 검사 단계에서도 검사 신호선(170)과 공통 전극(270) 사이의 단락을 방지할 수 있다.
도시한 실시예에서, 제1 절연 패턴(280)은 하나의 패턴 형태를 가지지만, 복수의 검사 신호선에 대응하도록 복수의 절연 패턴의 형상일 수도 있다.
그러면, 도 14를 참고하여, 다른 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 검사부(IP)의 구조에 대하여 보다 구체적으로 설명한다. 도 14는 도 11에 도시한 액정 표시 장치의 일부분(B)에 대한 단면도이다.
도 14를 참고하면, 본 실시예에 따른 액정 표시 장치는 앞서 도 11 내지 도 13을 참고로 설명한 실시예에 따른 액정 표시 장치와 유사하다.
제1 표시판(100)의 제1 기판(110) 위에 검사 신호선(170)이 위치하고, 제2 표시판(200)의 제2 기판(210) 위에 공통 전극(270)이 위치한다. 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200) 사이에는 절연 구조물(SP)이 위치하고, 절연 구조물(SP)은 평면상 액정 표시 장치(2000)의 가장자리를 따라 연장될 수 있다. 절연 구조물(SP)의 측면은 액정 표시 장치(2000)의 측면과 일렬 정렬되어, 노출되어 있다. 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200) 사이에 밀봉 구조물(SL)이 위치한다. 밀봉 구조물(SL)은 절연 구조물(SP) 보다 표시 영역(DA)에 인접하여 내측에 위치한다. 밀봉 구조물(SL)은 액정층(3)이 위치하는 공간을 정의할 수 있다.
제1 표시판(100) 위에는 복수의 제1 댐(D1)이 위치하고, 제2 표시판(200) 위에는 복수의 제2 댐(D2)이 위치한다.
검사부(IP)에 위치하는 제1 표시판(100)의 제1 기판(110) 위에 검사 신호선(170)이 위치하고, 검사 신호선(170)과 제2 표시판(200)의 공통 전극(270) 사이에 제1 절연 패턴(280)이 위치한다. 그러나, 본 실시예에 따른 검사부(IP)에는 앞서 도 7 내지 도 9를 참고로 설명한 실시예에 따른 액정 표시 장치와 달리, 공통 전극(270)과 제1 표시판(100) 사이에는 제2 절연 패턴(190)이 더 위치하고, 제2 절연 패턴(190)은 제1 표시판(100)에 위치한다. 제1 절연 패턴(280)은 제2 표시판(200)에 위치하는 복수의 제2 댐(D2)와 같은 층으로 이루어지고, 제2 절연 패턴(190)은 제1 표시판(100)에 위치하는 복수의 제1 댐(D1)과 같은 층으로 이루어질 수 있다.
이처럼, 검사 신호선(170)이 위치하는 제1 표시판(100)과 제2 표시판(200)의 공통 전극(270) 사이에 검사 신호선(170)과 중첩하고 제2 표시판(200)에 위치하는 제1 절연 패턴(280)과 제1 표시판(100)에 위치하는 제2 절연 패턴(190)이 위치함으로써, 공통 전극(270)과 검사 신호선(170) 사이의 절연을 유지함으로써, 외부에서 가압하는 검사 단계에서도 공통 전극(270)과 검사 신호선(170) 사이의 단락을 방지할 수 있다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
DA: 표시 영역 NDA: 비표시 영역
IP: 검사부 1000, 2000: 액정 표시 장치
110, 210: 기판 270: 공통 전극
170a, 170b, 170c, 170d, 170: 검사 신호선
190, 280, 280a, 280b, 280c, 280d: 절연 패턴
D1, D2: 댐 SL: 밀봉 구조물
SP: 절연 구조물 GC: 게이트 구동부
DC: 데이터 구동부

Claims (20)

  1. 영상을 표시하는 표시 영역과 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하고,
    상기 표시 영역에 위치하고, 제1 기판 위에 위치하는 복수의 게이트선들 및 복수의 데이터선들,
    상기 표시 영역과 상기 비표시 영역에 위치하고, 상기 제1 기판과 마주하는 제2 기판 위에 위치하는 공통 전극,
    상기 비표시 영역의 상기 제1 기판 위에 위치하는 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 복수의 검사 신호선들, 그리고
    상기 비표시 영역에 위치하는 상기 제2 기판에 위치하고, 상기 공통 전극과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 제1 절연 패턴을 포함하는 액정 표시 장치.
  2. 제1항에서,
    상기 제1 절연 패턴은 상기 복수의 검사 신호선들과 중첩하는 액정 표시 장치.
  3. 제2항에서,
    상기 비표시 영역의 상기 제1 기판 위에 위치하고, 상기 복수의 검사 신호선들 사이를 따라 뻗어 있는 복수의 더미 선들, 그리고
    상기 복수의 더미 선들과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 절연막을 더 포함하고,
    상기 절연막은 상기 복수의 검사 신호선들과 중첩하는 부분의 두께가 상기 복수의 더미 선들과 중첩하는 부분의 두께보다 큰 액정 표시 장치.
  4. 제2항에서,
    상기 복수의 데이터선들에 연결되어 있는 복수의 데이터 구동부, 그리고
    상기 복수의 데이터 구동부와 상기 표시 영역을 사이에 두고 서로 맞은 편의 상기 비표시 영역에 위치하는 검사부를 더 포함하고,
    상기 제1 절연 패턴과 상기 복수의 검사 신호선들은 상기 검사부에 위치하는 액정 표시 장치.
  5. 제2항에서,
    상기 제1 절연 패턴은 상기 복수의 검사 신호선들과 각기 중첩하는 복수의 제1 절연 패턴들을 포함하는 액정 표시 장치.
  6. 제5항에서,
    상기 제1 절연 패턴과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 제2 절연 패턴을 더 포함하고,
    상기 제2 절연 패턴은 상기 비표시 영역의 상기 제1 기판에 위치하는 액정 표시 장치.
  7. 제2항에서,
    상기 제1 절연 패턴과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 제2 절연 패턴을 더 포함하고,
    상기 제2 절연 패턴은 상기 비표시 영역의 상기 제1 기판에 위치하는 액정 표시 장치.
  8. 제2항에서,
    상기 비표시 영역에 위치하는 복수의 댐을 포함하고,
    상기 제1 절연 패턴은 상기 복수의 댐과 같은 층으로 이루어지는 액정 표시 장치.
  9. 제1항에서,
    상기 복수의 데이터선들에 연결되어 있는 복수의 데이터 구동부, 그리고
    상기 복수의 데이터 구동부와 상기 표시 영역을 사이에 두고 서로 맞은 편의 상기 비표시 영역에 위치하는 검사부를 더 포함하고,
    상기 제1 절연 패턴과 상기 복수의 검사 신호선들은 상기 검사부에 위치하는 액정 표시 장치.
  10. 제1항에서,
    상기 제1 절연 패턴은 상기 복수의 검사 신호선들과 각기 중첩하는 복수의 제1 절연 패턴들을 포함하는 액정 표시 장치.
  11. 제1항에서,
    상기 제1 절연 패턴과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 제2 절연 패턴을 더 포함하고,
    상기 제2 절연 패턴은 상기 비표시 영역의 상기 제1 기판에 위치하는 액정 표시 장치.
  12. 제1항에서,
    상기 비표시 영역에 위치하는 복수의 댐을 포함하고,
    상기 제1 절연 패턴은 상기 복수의 댐과 같은 층으로 이루어지는 액정 표시 장치.
  13. 제1항에서,
    상기 비표시 영역의 상기 제1 기판 위에 위치하고, 상기 복수의 검사 신호선들 사이를 따라 뻗어 있는 복수의 더미 선들, 그리고
    상기 복수의 더미 선들과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 절연막을 더 포함하고,
    상기 절연막은 상기 복수의 검사 신호선들과 중첩하는 부분의 두께가 상기 복수의 더미 선들과 중첩하는 부분의 두께보다 큰 액정 표시 장치.
  14. 영상을 표시하는 표시 영역과 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하고,
    상기 표시 영역에 위치하고, 제1 기판 위에 위치하는 복수의 게이트선들 및 복수의 데이터선들,
    상기 표시 영역과 상기 비표시 영역에 위치하고, 상기 제1 기판과 마주하는 제2 기판 위에 위치하는 공통 전극,
    상기 비표시 영역에 위치하고 상기 제1 기판과 상기 제2 기판 사이에 위치하는 절연 구조물,
    상기 절연 구조물의 측면은 상기 제1 절연 기판과 상기 제2 절연 기판의 측면과 정렬되고,
    상기 제1 절연 기판의 상기 측면에 위치하는 복수의 구동부,
    상기 복수의 구동부와 상기 표시 영역을 사이에 두고 맞은 편의 상기 비표시 영역에 위치하는 검사부,
    상기 비표시 영역의 상기 검사부에 위치하고, 상기 제1 기판 위에 위치하는 상기 복수의 데이터선에 연결되어 있는 복수의 검사 신호선들,
    상기 비표시 영역의 상기 검사부에 위치하고, 상기 제2 기판에 위치하고, 상기 공통 전극과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 제1 절연 패턴을 포함하는 액정 표시 장치.
  15. 제14항에서,
    상기 제1 절연 패턴은 상기 복수의 검사 신호선들과 각기 중첩하는 복수의 제1 절연 패턴들을 포함하는 액정 표시 장치.
  16. 제14항에서,
    상기 제1 절연 패턴과 상기 복수의 검사 신호선들 사이에 위치하는 제2 절연 패턴을 더 포함하고,
    상기 제2 절연 패턴은 상기 비표시 영역의 상기 검사부의 상기 제1 기판에 위치하는 액정 표시 장치.
  17. 제16항에서,
    상기 비표시 영역의 상기 제2 기판에 위치하는 복수의 제1 댐을 포함하고,
    상기 제1 절연 패턴은 상기 복수의 제1 댐과 같은 층으로 이루어지는 액정 표시 장치.
  18. 제17항에서,
    상기 비표시 영역의 상기 제1 기판에 위치하는 복수의 제2 댐을 포함하고,
    상기 제2 절연 패턴은 상기 복수의 제2 댐과 같은 층으로 이루어지는 액정 표시 장치.
  19. 제14항에서,
    상기 비표시 영역의 상기 제2 기판에 위치하는 복수의 제1 댐을 포함하고,
    상기 제1 절연 패턴은 상기 복수의 제1 댐과 같은 층으로 이루어지는 액정 표시 장치.
  20. 제19항에서,
    상기 비표시 영역의 상기 제1 기판에 위치하는 복수의 제2 댐을 포함하고,
    상기 제2 절연 패턴은 상기 복수의 제2 댐과 같은 층으로 이루어지는 액정 표시 장치.
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