KR20210015876A

KR20210015876A - 무균 소변 샘플링을 위한 시스템 및 그 방법(systems for aseptic urine sampling and methods thereof)

Info

Publication number: KR20210015876A
Application number: KR1020207036951A
Authority: KR
Inventors: 팀 웨잇커스; 크리스 포도우옵; 켈시 리케; 존 고데
Original assignee: 씨. 알. 바드, 인크.
Priority date: 2018-05-22
Filing date: 2019-05-13
Publication date: 2021-02-10
Also published as: EP3796878A1; CA3099294A1; JP2021524322A; WO2019226396A1; BR112020023027A2; EP3796878A4; CN112188874A; AU2019272450A1; JP2024050540A; US20210069006A1; AU2019272450B2

Abstract

무균 소변 샘플링을 위한 소변-샘플링 시스템은 카테터 어셈블리 및 샘플링-포트 액세스 디바이스를 포함한다. 카테터 어셈블리는 소변 카테터, 배수 튜빙, 및 배수 튜빙에 소변 카테터를 유체 연결하는 커넥터를 포함한다. 커넥터는 소변-샘플링 포트를 포함한다. 샘플링-포트 액세스 디바이스는 카테터 어셈블리의 소변-샘플링 포트에 샘플링-포트 액세스 디바이스를 유체 연결하도록 구성되는 배럴의 단부에 있는 팁을 포함한다. 소변-샘플링 포트 및 샘플링-포트 액세스 디바이스의 각각의 팁은 소변-샘플링 포트 및 샘플링-포트 액세스 디바이스의 다른 쪽의 팁에 고정하기 위한 상보 고정 수단을 가진다. 각각의 상보 고정 수단은 무균 소변 샘플링을 위해 소변-샘플링 포트와 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 적절한 짝맞춤을 보장한다. 전술한 것과 같은 다양한 소변-샘플링 시스템들 이외에, 사용 방법이 또한 개시된다.

Description

무균 소변 샘플링을 위한 시스템 및 그 방법(SYSTEMS FOR ASEPTIC URINE SAMPLING AND METHODS THEREOF)

본 개시는 소변-샘플링 시스템들 및 그 방법들에 관한 것이다.

전국의 병원들은 보다 나은 결과들을 달성하기 위해 카테터-관련 요로 감염(catheter-associated urinary tract infection, “CAUTI”) 방지 번들들에 대한 노력을 집중하고, 메디케어&메디케이드 서비스 센터(Centers for Medicare & Medicaid Services, “CMS”)의 배상 처벌의 리스크를 제한하고, 그리고 항생제 내성의 발생을 줄이고 있다. 역사상의(Historical) 방지 노력들은 폐쇄 시스템들, 무균 삽입 기술, 및 Foley 카테터 삽입된 환자들의 부양(maintenance)에 집중해 왔다. 그러나, 이들의 시설 내의 간호사들이 Foley 카테터들로부터 소변 샘플들을 어떻게 채취할지에 대하여 다양한 변화들이 있다고 96%의 간호 의사 결정권자가 믿고 있음에도 불구하고, 소변-샘플링 실무와 관련된 상당한 변화에 대한 폭넓은 관심이 지금까지 거의 없었다.

어디에서 소변 샘플이 수집 시스템으로부터 채취할지, 어떻게 소변-샘플링 영역이 세척될지, 소변 샘플을 채취하기 위해 어떠한 장치가 사용될 것인지, 그리고 어떻게 소변 샘플이 실험실로 운반될지를 포함하여 소변 샘플링의 모든 양상들에서 변화들이 존재함을 연구들이 제시한다. 이러한 변화는 CAUTI 결과들의 문서화(documentation)에 영향을 주는 근본적인 문제이다. 실제로, 100%의 간호 의사 결정권자들은 변화와 부적절한 소변-샘플링 기술이 오염 위험성을 높일 수 있어 위양성(false-positive) CAUTI들의 위험성을 높이게 된다고 믿는다. 또한, 최대 70%의 소변 배양(culture)들은 위양성 결과들을 나타내고, 이는 부정확한 CAUTI 진단들 및 부적합한 항생제 치료들로 이어질 뿐만 아니라, 인위적으로(artificially) 시간 및 자원들을 훼손하여, 병원들은 다른 수단에 의해 CAUTI의 위험성을 줄이는데 전념해 왔다. 이 문제는 CMS 배상 처벌들을 방지하기 위한 CAUTI 비율들을 추구하는 것들에 대하여 지속적인 도전을 제시한다.

적어도 전술한 것을 다루는 소변-샘플링 시스템들 및 그 방법들이 개시된다.

본 출원은 본 명세서에 그 전체로 참조로서 통합되는, 2018년 5월 22일 출원된 미국 가출원 번호 제 62/674,956호에 대한 우선권의 이익을 주장한다.

몇몇 실시예들에서, 카테터 어셈블리 및 샘플링-포트 액세스 디바이스를 포함하는 무균 소변 샘플링을 위한 소변-샘플링 시스템이 개시된다. 카테터 어셈블리는 소변 카테터, 배수 튜빙, 및 배수 튜빙에 소변 카테터를 유체 연결하는 커넥터를 포함한다. 커넥터는 소변-샘플링 포트를 포함한다. 샘플링-포트 액세스 디바이스는 카테터 어셈블리의 소변-샘플링 포트에 샘플링-포트 액세스 디바이스를 유체 연결하도록 구성되는 배럴의 단부에 있는 팁을 포함한다. 소변 샘플링 포트 및 샘플링-포트 액세스 디바이스의 각각의 팁은 소변-샘플링 포트 및 샘플링-포트 액세스 디바이스의 다른 쪽의 팁에 고정하기 위한 상보 고정 수단을 가진다. 각각의 보조 고정 수단은 무균 소변 샘플링을 위한 소변-샘플링 포트 및 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 적절한 짝맞춤을 보장한다.

몇몇 실시예들에서, 상기 샘프링-포트 액세스 디바이스의 팁의 상보 고정 수단은 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 수 커넥터의 둘레의 회전식 잠금 칼라(collar) 또는 잠금 링의 내부 스레드가 소변-샘플링 포트의 암 커넥터에 대한 외부 스레드와 짝맞춤하도록 구성되는 상보 스레드를 포함한다.

몇몇 실시예들에서, 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 상보 고정 수단은 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 수 커넥터에 대한 외부 스레드가 소변-샘플링 포트의 암 커넥터의 내부 스레드와 짝맞춤하도록 구성되는 상보 스레드를 포함한다.

몇몇 실시예들에서, 스레드는 둘 이상의 리드들을 포함한다. 둘 이상의 리드들 중 적어도 제 1 리드는 둘 이상의 리드들 중 제 2 리드 보다 더 큰 리드 직경을 가진다.

몇몇 실시예들에서, 스레드는 3개의 리드들을 가지는 스레드 패턴을 포함한다.

몇몇 실시예들에서, 스레드는 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 포함한다.

몇몇 실시예들에서, 소변-샘플링 포트 및 샘플링-포트 액세스 디바이스의 각각의 팁은 소변-샘플링 포트 및 샘플링-포트 액세스 디바이스의 다른 쪽의 팁의 칼라와 매칭된다. 매칭되는 소변-샘플링 포트 및 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 칼라는 소변-샘플링 포트 또는 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 임의의 잘못된 연결의 시도에 의한 소변-샘플 오염의 위험을 줄인다.

몇몇 실시예들에서, 소변-샘플링 시스템은 하나 이상의 격막-마개식 테스트 튜브들을 더 포함한다. 하나 이상의 테스트 튜브들의 각각의 테스트 튜브는 대기압 미만의 내부 압력을 가진다. 하나 이상의 테스트 튜브들의 각각의 테스트 튜브는 또한 그 안에 소변 분석(urinalysis)을 위한 제제(formulation) 또는 미생물 분석(microbiological analysis)을 위한 제제를 포함하거나, 또는 첨가제들 또는 방부제들을 포함하지 않도록 독립적으로 구성된다.

몇몇 실시예들에서, 하나 이상의 테스트 튜브들의 각각의 테스트 튜브는 샘플링-포트 액세스 디바이스의 배럴의 내부 직경에 상응하거나(commensurate) 또는 작은 외부 직경을 가진다. 이러한 치수들을 가짐으로써, 하나 이상의 테스트 튜브들의 각각의 테스트 튜브는 소변 샘플링을 위해 샘플링-포트 액세스 디바이스의 니들로 테스트 튜브의 격막-마개를 관통하도록 상기 배럴 내로 미끄러져 들어가도록 허용된다.

또한, 몇몇 실시예들에서, 소변 카테터, 배수 튜빙, 및 배수 튜빙에 소변 카테터를 유체 연결시키는 커넥터를 포함하는 카테터 어셈블리가 개시된다. 커넥터는 둘 이상의 리드들을 가지는 왼손잡이 방향 스레드 패턴, 둘 이상의 리드들을 가지는 스레드 패턴, 제 1 리드가 제 2 리드 보다 큰 리드 직경을 가지는 스레드 패턴, 또는 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 가지는 스레드를 가지는 소변-샘플링 포트를 포함한다. 소변-샘플링 포트는 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 상보 스레드와 짝맞춤하도록 구성된다. 상보 스레드는 무균 소변 샘플링을 위해 샘플링-포트 액세스 디바이스와 소변-샘플링 포트의 적절한 짝맞춤을 보장한다.

몇몇 실시예들에서, 스레드는 소변-샘플링 포트의 암 커넥터에 대한 외부 스레드를 포함한다.

몇몇 실시예들에서, 스레드는 소변-샘플링 포트의 암 커넥터의 내부 스레드를 포함한다.

또한, 몇몇 실시예들에서, 배럴, 팁을 포함하는 중공 니들, 및 배럴의 단부에 있는 팁을 포함하는 샘플링-포트 액세스 디바이스가 개시된다. 니들은 니들의 팁이 배럴에 의해 보호되도록 배럴 내에 동축으로 배치된다. 배럴의 단부에 있는 팁은 니들에 유체 연결된다. 배럴의 단부에 있는 팁은 둘 이상의 리드들을 가지는 왼손잡이 방향 스레드 패턴, 둘 이상의 리드들을 가지는 스레드 패턴, 제 1 리드가 제 2 리드 보다 큰 리드 직경을 가지는 스레드 패턴, 또는 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 가지는 스레드를 가진다. 배럴의 단부에 있는 팁은 다른 디바이스의 샘플링 포트의 상보 스레드와 짝맞춤하도록 구성된다. 상보 스레드는 무균 샘플링을 위해 다른 디바이스의 샘플링 포트와 샘플링-포트 액세스 디바이스의 적절한 짝맞춤을 보장한다.

몇몇 실시예들에서, 스레드는 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 수 커넥터의 둘레에 잠금 칼라 또는 잠금 링의 내부 스레드를 포함한다.

몇몇 실시예들에서, 잠금 링은 배럴에 비회전식으로 부착되거나 또는 배럴에 몰딩된다. 샘플링-포트 액세스 디바이스는 다른 디바이스의 샘플링 포트 상으로 샘플링-포트 액세스 디바이스의 전체를 돌려서 조임(screwing)으로써 다른 디바이스의 샘플링 포트와 짝맞춤하도록 구성된다.

몇몇 실시예들에서, 잠금 칼라는 배럴에 회전식으로 부착된다. 샘플링-포트 액세스 디바이스는 배럴을 고정 상태로 유지하면서 다른 디바이스의 샘플링 포트 상으로 샘플링-포트 액세스 디바이스의 잠금 칼라를 돌려서 조임으로써 다른 디바이스의 샘플링 포트와 짝맞춤하도록 구성된다.

몇몇 실시예들에서, 스레드는 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 수 커넥터에 대한 외부 스레드를 포함한다.

몇몇 실시예들에서, 스레드는 3개의 리드들을 가지는 왼손잡이 방향 스레드를 포함한다.

도 1은 몇몇의 실시예들에 따라 샘플링-포트 액세스 디바이스 및 카테터 어셈블리의 소변-샘플링 포트의 상보 고정 수단을 특징으로 하는 소변-샘플링 시스템을 도시하는 개략도를 제공한다.
도 2a는 몇몇의 실시예들에 따라 소변-샘플링 포트의 암 커넥터에 대한 외부 스레드와 짝맞춤하도록 구성되는 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 수 커넥터의 둘레에 잠금 칼라 또는 잠금 링의 내부 스레드를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 2b는 몇몇 실시예들에 따라 소변-샘플링 포트의 암 커넥터의 내부 스레드와 짝맞춤하도록 구성되는 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 암 커넥터에 대한 외부 스레드를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 3a는 몇몇 실시예들에 따라 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 포함하는 스레드를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 3b는 몇몇 실시예들에 따라 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 포함하는 스레드를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 4a는 몇몇 실시예들에 따라 하나의 리드를 가지는 스레드 패턴을 포함하는 스레드를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 4b는 몇몇 실시예들에 따라 2개의 리드들을 가지는 제 1 스레드 패턴을 포함하는 스레드를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 4c는 몇몇 실시예들에 따라 2개의 리드들을 가지는 제 1 스레드 패턴의 단면을 도시하는 개략도를 제공한다.
도 4d는 몇몇의 실시예들에 따라 2개의 리드들을 가지는 제 2 스레드 패턴을 포함하는 스레드를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 4e는 몇몇의 실시예들에 따라 2개의 리드들을 가지는 제 2 스레드 패턴의 단면을 도시하는 개략도를 제공한다.
도 4f는 몇몇의 실시예들에 따라 3개의 리드들을 가지는 스레드 패턴을 포함하는 스레드를 도시하는 개략도이다.
도 5a는 몇몇의 실시예들에 따라 제 1 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 5b는 몇몇 실시예들에 따라 제 2 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 5c는 몇몇 실시예들에 따라 제 3 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 5d는 몇몇 실시예들에 따라 제 4 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 5e는 몇몇 실시예들에 따라 제 5 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 5f는 몇몇 실시예들에 따라 제 6 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 5g는 몇몇 실시예들에 따라 제 7 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 5h는 몇몇 실시예들에 따라 제 8 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 5i는 몇몇 실시예들에 따라 제 9 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 5j는 몇몇 실시예들에 따라 제 10 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 5k는 몇몇 실시예들에 따라 제 11 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.
도 5l는 몇몇 실시예들에 따라 제 12 스레드 형태를 도시하는 개략도를 제공한다.

몇몇 특정 실시예들이 보다 상세하게 개시되기 전에, 본 명세서에 개시되는 특정 실시예들이 본 명세서에서 제공되는 개념들의 범위를 제한하지 않는다는 점이 이해되어야 한다. 본 명세서에서 개시되는 특정 실시예는 특정 실시예로부터 용이하게 분리되고 그리고 본 명세서에서 개시되는 다수의 다른 실시예들 중 어느 하나의 특징들과 선택적으로 조합되거나 또는 이를 대체할 수 있는 특징들을 가질 수 있다는 점이 또한 이해될 것이다.

본 명세서에서 사용되는 용어들에 대하여, 용어들은 몇몇의 특정 실시예들을 설명하기 위한 것이고, 그리고 용어들은 본 명세서에서 제공되는 개념들의 범위를 제한하지 않는다는 점이 또한 이해되어야 한다. 서수(예를 들어, 제 1, 제 2, 제 3, 등)들은 일반적으로 단계들 또는 특징들의 그룹에서 상이한 단계들 또는 특징들을 구별 또는 식별하는데 사용되고, 그리고 순서 또는 수적 제한을 제공하지 않는다. 예를 들어, “제 1”, “제 2”, 및 “제 3” 특징들 또는 단계들은 해당 순서로 반드시 나타날 필요는 없으며, 그리고 이러한 특징들 또는 단계들을 포함하는 특정 실시예들은 3개의 특징들 또는 단계들로 반드시 제한될 필요는 없다. “왼쪽”, “오른쪽”, “전방”, “후방”, “상단”, “하단”, “앞으로”, “뒤로”, “시계방향”, “반시계방향”, “위로”, “아래로”와 같은 표지(label)들, 또는 “상부”, “하부”, “후면”, “전면”, “수직”, “수평”, “근위”, “원위” 등과 같은 다른 유사한 용어들은 편의를 위해 사용되며 그리고 예를 들어, 임의의 특정한 고정 위치, 배향 또는 방향을 의미하지 않는다. 대신, 이러한 표지들은 예를 들어 상대적인 위치, 배향 또는 방향들을 나타내도록 사용된다. 단수 형태의 “일(a)”, “일(an)”, 및 “상기(the)”는 문맥이 달리 지시하지 않는 한 복수의 참조를 포함한다.

“근위”에 관하여, 예를 들어 본 명세서에 개시되는 카테터의 “근위 부분”, 또는 “근위 단부 부분”은 카테터가 환자에게 사용되는 경우에 임상의에 가까이에 있도록 의도되는 부분을 포함한다. 마찬가지로, 예를 들어 카테터의 “근위 길이”는 카테터가 환자에게 사용되는 경우에 임상의에 가까이 있도록 의도되는 카테터의 길이를 포함한다. 예를 들어, 카테터의 “근위 단부”는 카테터가 환자에게 사용되는 경우에 임상의에 가까이 있도록 의도되는 카테터의 단부를 포함한다. 카테터의 근위 부분, 근위 단부 부분, 또는 근위 길이는 카테터의 근위 단부를 포함할 수 있다. 그러나 카테터의 근위 부분, 근위 단부 부분, 또는 근위 길이는 카테터의 근위 단부를 포함할 필요는 없다. 즉, 문맥이 달리 제시하지 않는 한, 카테터의 근위 부분, 근위 단부 부분, 또는 근위 길이는 카테터의 종단 부분 또는 종단 길이가 아니다.

“원위”에 관하여, 예를 들어 본 명세서에 개시되는 카테터의 “원위 부분”, 또는 “원위 단부 부분”은 카테터가 환자에게 사용되는 경우에 환자에게 있거나 환자에게 가까이에 있도록 의도되는 부분을 포함한다. 마찬가지로, 예를 들어 카테터의 “원위 길이”는 카테터가 환자에게 사용되는 경우에 환자에게 있거나 환자에게 가까이 있도록 의도되는 카테터의 길이를 포함한다. 예를 들어, 카테터의 “원위 단부”은 카테터가 환자에게 사용되는 경우에 환자에게 있거나 환자에 가까이 있도록 의도되는 카테터의 단부를 포함한다. 카테터의 원위 부분, 원위 단부 부분, 또는 원위 길이는 카테터의 원위 단부를 포함할 수 있다. 그러나 카테터의 원위 부분, 원위 단부 부분, 또는 원위 길이는 카테터의 원위 단부를 포함할 필요는 없다. 즉, 문맥이 달리 제시하지 않는 한, 카테터의 원위 부분, 원위 단부 부분, 또는 원위 길이는 카테터의 종단 부분 또는 종단 길이가 아니다.

달리 정의되지 않는 한, 본 명세서에서 사용되는 모든 기술적 그리고 과학적 용어들은 본 기술 분야에서 통상의 기술자들에 의해 통상적으로 이해되는 바와 같은 동일한 의미를 가진다.

소변 카테터로 카테터 삽입되는 환자가 소변 샘플이 필요한 경우에, 소변 샘플은 소변 샘플을 수집하기 위해 다양한 상이한 제품들 중 하나를 이용하는 다수의 상이한 방법들 중 하나로 수집된다. 통상적으로, 소변 샘플은 무균 상태가 아니므로, 따라서 소변 샘플의 오염을 방지하지 않는 “세척” 절차를 이용하여 수집된다. 어디에서 소변 샘플이 수집 시스템으로부터 채취되는지, 어떻게 소변-샘플링 영역이 세척되는지, 어떠한 디바이스가 소변 샘플을 채취하는데 사용되는지, 그리고 어떻게 소변 샘플이 실험실로 운반되는지를 포함하는 소변 샘플링에서의 이러한 변화는 위양성 소변 배양들의 위험성을 높일 수 있다는 점이 확인되었다(determinded). 그 다음에, 이는 부정확한 CAUTI 진단 및 부적절한 항생제 치료들로 이어질 수 있다. 따라서, 소변 샘플링에서 이 변화는 CMS 배상 처벌들을 방지하기 위해 CAUTI 비율들을 줄이도록 추구하는 것들에 대한 지속적인 도전을 제시한다. 또한, 질병 통제 센터(Centers for Disease Control, “CDC”) 가이드라인들은 소변 카테터로부터의 소변 샘플링은 무균 기술을 이용하여 수행되어야 한다고 서술한다.

적어도 전술한 바를 처리하는 소변-샘플링 시스템들 및 그 방법들이 개시된다. 본 명세서에서 기술되는 소변-샘플링 시스템들은 본 출원에 그 전체로 참조로서 통합되는 “Urine-Sampling Kit and Methods Thereof”의 제목의 2018년 5월 22일에 출원된 미국 가출원 번호 제 62/675,112호에 개시되는 소변-샘플링 키트들에 포함될 수 있다.

소변-샘플링 시스템들

도 1은 몇몇의 실시예들에 따라 샘플링-포트 액세스 디바이스(150) 및 카테터 어셈블리(110)의 소변-샘플링 포트(142)의 상보 고정 수단을 특징으로 하는 소변-샘플링 시스템(100)을 도시하는 개략도를 제시한다.

도시되는 바와 같이, 소변-샘플링 시스템(100)은 카테터 어셈블리(110) 및 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)를 포함한다. 카테터 어셈블리(110)는 소변 카테터(120), 배수 튜빙(132), 및 배수 튜빙(132)에 소변 카테터(120)를 유체 연결하는 커넥터(140)를 포함한다. 커넥터(140)는 소변-샘플링 포트(142)를 포함하며, 이 소변-샘플링 포트(142)은 그 다양한 실시예들을 고려하여 일반적인 형태로 도시된다. 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)는 배럴(152), 팁(155)을 포함하는 중공 니들(154), 및 배럴(152)의 단부에 있는 팁(156)을 포함하고, 배럴(152)의 단부에 있는 이 팁(156)은 그 다양한 실시예들을 고려하여 일반적인 형태로 도시된다. 니들(154)은 니들(154)의 팁(155)이 배럴(152)에 의해 보호되도록 배럴(152) 내에 동축으로 배치된다. 배럴(152)의 단부에 있는 팁(156)은 니들(154)에 유체 연결된다. 소변-샘플링 포트(142) 및 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 각각의 팁(156)은 소변-샘플링 포트(142) 및 샘플링-포트 액세스 디바이스(15)의 다른 쪽의 팁(156)에 고정 또는 배타적으로 연결하기 위한 상보 고정 수단을 가진다. 각각의 상보 고정 수단은 무균 소변 샘플링을 위해 소변-샘플링 포트(142)와 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 적절한 짝맞춤을 보장한다.

소변-샘플링 포트(142) 및 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 각각은 소변-샘플링 포트(142)와 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 다른 쪽의 팁(156)의 칼라와 매칭될 수 있다. 이러한 칼라는 소변-샘플링 시스템(100)에 독점적일 수 있다. 특히 칼라가 소변-샘플링 시스템(100)에 독점적인 경우에, 매칭되는 소변-샘플링 포트(142) 및 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 칼라는 예를 들어, Luer-잠금 고정 시스템의 일부인 고정 수단을 포함하는 다른 피스로 소변-샘플링 포트(142) 또는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁의 임의의 잘못된 연결을 시도함에 의하는 소변-샘플의 오염 위험을 줄인다.

도 1에는 도시되지 않지만, 소변-샘플링 시스템(100)은 몇몇의 실시예들에 따라 하나 이상의 격막-마개식(septum-stoppered) 테스트 튜브들을 더 포함한다. 하나 이상의 테스트 튜브들의 각각의 테스트 튜브는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152)의 내부 직경에 거의 상응하거나(commensurate) 또는 어느 정도 작은 외부 직경을 가진다. 이러한 치수들을 가지는 경우, 테스트 튜브는 소변 샘플링을 위해 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 니들(154)로 테스트 튜브의 격막 마개를 관통하도록 배럴(152) 내로 미끌어져 들어가도록(slide) 허용된다. 하나 이상의 테스트 튜브들의 각각의 테스트 튜브는 대기압 미만의 내부 압력을 가지도록 진공처리된다(evacuated).

소변이 커넥터(140) 내에 있는 경우, 진공처리된 테스트 튜브는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152) 내로 삽입되고, 그리고 테스트 튜브의 격막 마개는 배럴(152)에 배치되는 니들(154)로 관통되고, 테스트 튜브와 커넥터(140) 사이에 유체 도관을 제공하도록 중공인 니들(154)을 통해 테스트 튜브 내로 소변이 끌려온다(drawn). 하나 이상의 테스트 튜브들의 각각의 테스트 튜브는 또한 그 안에 소변 분석(urinalysis)을 위한 제제 또는 미생물 분석(microbiological)을 위한 제제를 포함하거나, 또는 첨가제 또는 방부제를 포함하지 않도록 독립적으로 구성된다. 이러한 제제들은 냉장 없이 많은 시간 동안 소변 샘플들이 보관되도록 허용한다.

고정 시스템

상보 고정 수단은 고정 시스템을 형성한다. 고정 수단은 상보 고정 수단을 포함하는 2개의 피스의 조립(assembly) 동안에, 또는 상보 고정 수단을 포함하는 2개의 피스들의 부분적인 조립에서, 각각 상보 고정 수단 중 하나를 포함하는 2개의 피스들의 조립을 위해 이것이 다른 고정 수단을 상보하는 상보 고정 수단이다. 예를 들어, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156) 또는 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142)의 고정 수단이 무균 소변 샘플링을 위해 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)와 커넥터(140)를 조립하기 위한 다른 하나의 상보 고정 수단이다.

고정 수단은 스레드-포함 피스의 스레드를 포함하나, 이에 제한되지 않는다. 스레드는 상보 스레드들을 포함하는 2개의 피스들의 조립 동안이나, 상보 스레드들을 포함하는 2개의 피스들의 적어도 부분적인 조립에서, 각각 상보 스레드들 중 하나를 포함하는 2개의 피스들의 조립을 위해 이것이 다른 스레드(예를 들어, 상보 내부 스래드)를 상보하는 상보 스레드(예를 들어, 상보 외부 스레드)이다. 예를 들어, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156) 또는 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142)의 스레드는 무균 소변 샘플링을 위해 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)와 커넥터(140)를 조립하기 위한 다른 쪽의 상보 스레드이다.

고정 수단은 ISO 80369-7:2016 하에서 정의되는 의료 산업의 표준 고정 시스템인, Luer-잠금 고정 시스템의 일부분이 아니다. 이와 같이, 고정 수단은 Luer-잠금 고정 시스템을 통해 연결하도록 구성되는 한 쌍의 피스들에서 볼 수 있는 상보 스레드들 중 어느 한쪽의 스레드를 포함하지 않는다. 실제로, 본 명세서에서 개시되는 고정 시스템의 고정 수단은 Luer-잠금 고정 시스템의 것들과 의도적으로 구별된다. 이것은 Luer-잠금 고정 시스템의 것 위에 즉석의(instant) 고정 시스템으로 강화된 기계적 무결성을 허용하고, 이 강화된 기계적 무결성은 고정 시스템의 상보 고정 수단을 포함하는 임의의 두 피스들을 조립하는 경우에 Luer-잠금 고정 시스템의 것 위에 적어도 줄어든 세차 운동(precessional motion), 또는 “흔들림(wobbling)”을 포함한다. 강화된 기계적 무결성은 더듬거림 (fumbling)을 줄일 것으로 기대되어, 임상의들이 고정 시스템을 이용하는 경우에 오염-유발 행동들을 줄일 것으로 기대된다. 유체-봉인 무결성은 또한 Luer-잠금 고정 시스템의 것 위에 즉석의 고정 시스템으로 또한 강화되며, 이는 임상의들이 고정 시스템을 이용하는 경우에 오염-유발 행동들을 줄일 것으로 추가적으로 기대된다.

도 2a는 몇몇의 실시예들에 따라 소변-샘플링 포트(142)의 암 커넥터(246)에 대한 외부 스레드(244A)와 짝맞춤하도록 구성되는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 수 커넥터(259)의 둘레에 잠금 칼라(258B) 또는 잠금 링(258A)의 내부 스레드(257A)를 도시하는 개략도를 제공한다.

도시되는 바와 같이, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 상보 고정 수단은 몇몇 실시예들에서, 수 커넥터(259)의 둘레에 잠금 칼라(258B) 또는 잠금 링(258A)의 내부 스레드(257A)가 소변-샘플링 포트(142)의 암 커넥터(246)에 대한 외부 스레드(244A)와 짝맞춤하도록 구성되는 상보 스레드를 포함한다. 따라서 소변-샘플링 포트(142)의 상보 고정 수단은 대응하는 실시예들에서, 소변-샘플링 포트(142)의 암 커넥터(246)에 대한 외부 스레드(244A)가 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 수 커넥터(259)에 대한 잠금 칼라(258) 또는 잠금 링(258A)의 내부 스레드(257A)와 짝맞춤하도록 구성되는 상보 스레드를 포함한다. 각각의 상보 고정 수단은 무균 소변 샘플링을 위해 소변-샘플링 포트(142)와 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 적절한 짝맞춤을 보장한다.

잠금 링(258A)에 관하여, 잠금 링(258A)은 소위 일체형 디자인으로 배럴(152)과 몰딩되거나 또는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152)에 비-회전식으로 고정적으로 부착된다. 이러한 잠금 링(258A)과 구성되어, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)는 다른 디바이스의 샘플링 포트 상에 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 전체를 돌려서 조임(screwing)으로써 다른 디바이스의 샘플링 포트(예를 들어, 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142))와 짝맞춤하도록 구성된다.

잠금 칼라(258B)에 관하여, 잠금 칼라(258B)는 소위 투-피스 디자인으로 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152)에 회전식으로 부착된다. 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152)을 고정 상태로 유지하면서 다른 디바이스의 샘플링 포트 상에 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 잠금 칼라(258B)를 돌려 조임으로써 다른 디바이스의 샘플링 포트(예를 들어, 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142))와 짝맞춤하도록 구성된다.

도 2b는 몇몇 실시예들에서 소변-샘플링 포트(142)의 암 커넥터(246)의 내부 스레드(244B)와 짝맞춤하도록 구성되는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 수 커넥터(259)에 대한 외부 스레드(257B)를 도시하는 개략도를 제공한다.

도시되는 바와 같이, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 상보 고정 수단은 몇몇 실시예들에서, 수 커넥터(259)에 대한 외부 스레드(257B)가 소변-샘플링 포트(142)의 암 커넥터(246)의 내부 스레드(244B)와 짝맞춤하도록 구성되는 상보 스레드를 포함한다.

따라서 소변-샘플링 포트(142)의 상보 고정 수단은 대응하는 실시예들에서, 소변-샘플링 포트(142)의 암 커넥터(246)의 내부 스레드(244B)가 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 수 커넥터(259)에 대한 외부 스레드(257B)와 짝맞춤하도록 구성되는 상보 스레드를 포함한다. 다시, 각각의 상보 고정 수단은 무균 소변 샘플링을 위해 소변-샘플링 포트(142)와 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 적절한 짝맞춤을 보장한다.

도 2a 및 도 2b에서 도시되는 소변-샘플링 포트(142) 및 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 각각의 상보 고정 수단 이외에, 소변-샘플링 포트(142)의 암 커넥터(246) 및 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 수 커넥터의 각각은 무균 소변 샘플링을 위해 소변-샘플링 포트(142)와 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 적절한 짝맞춤을 보장하는 형상 및 크기로 구성된다. 암 커넥터(246) 및 수 커넥터(259)의 각각은 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142) 내에 배치되는 밸브(248)(예를 들어, 분할-격막 밸브)를 가지는 수 커넥터(259)의 단부 부분의 충분한 결합을 허용하는 길이 및 깊이로 각각 크기가 정해질 수 있다. 암 커넥터(246) 및 수 커넥터(259)의 각각은 수 커넥터(259)가 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142)의 밸브(248)와 충분히 결합되는 경우에 암 커넥터(246)와 수 커넥터(259) 사이에 유체-밀봉을 생성하도록 형성될 수 있다.

소변-샘플링 포트(142)의 암 커넥터(246) 및 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 수 커넥터(259)의 형상에 대하여, 암 커넥터(246) 및 수 커넥터(259)의 각각은 암 커넥터(246)와 수 커넥터(259) 중 다른 것과 매칭 또는 매칭하지 않는 형상을 가질 수 있다. 때때로, 암 커넥터(246) 보다 수 커넥터(259)가 더 테이퍼(taper)인 것과 같은 약간의 불일치는 제 1 물질(예를 들어, 더 딱딱한 물질)이 수 커넥터(259)에 대해 사용되고 그리고 제 2 상이한 물질(예를 들어, 더 부드러운 물질)이 암 커넥터(246)에 대해 사용되는 경우에 바람직하다. 따라서, 암 커넥터(246) 및 수 커넥터(259)의 각각은 독립적으로 테이퍼링(tapered) 되거나 또는 테이퍼링 되지 않을 수 있다. 몇몇 실시예들에서, 수 커넥터(259) 또는 암 커넥터(246)가 테이퍼링 되는 경우, 테이퍼는 적어도 1%, 2%, 3%, 4%, 5%, 6%, 7%, 8%, 9%, 또는 10% 테이퍼이다. 몇몇 실시예들에서, 수 커넥터(259) 또는 암 커넥터(246)가 테이퍼링 되는 경우, 테이퍼는 10%, 9%, 8%, 7%, 6%, 5%, 4%, 3%, 2%, 또는 1% 이하의 테이퍼이다. 이에 따라, 몇몇 실시예들에서, 수 커넥터(259) 또는 암 커넥터(246)가 테이퍼링 되는 경우, 테이퍼는 예를 들어 적어도 5%이고 7% 이하인 테이퍼인, 적어도 4%이고 8% 이하의 테이퍼와 같은, 적어도 3%이고 9% 이하의 테이퍼를 포함하는, 적어도 1%이고 10% 이하의 테이퍼이다.

샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152)의 단부에 있는 팁(156) 및 카테터 어셈블리(110)의 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142)의 각각은 그 고정 수단의 다양한 실시예들을 고려하여 도 1에서 일반적인 형태로 도시된다. 도 2a 및 도 2b는 이러한 고정 수단에 대한 몇몇의 추가적인 세부사항들을 제공한다. 예를 들어, 도 2a는 몇몇의 실시예들에 따라 소변-샘플링 포트(142)의 암 커넥터(246)에 대한 상보 외부 스레드(244A)와 짝맞춤하도록 구성되는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 수 커넥터(259)의 둘레에 잠금 칼라(258B) 또는 잠금 링(258A)의 상보 내부 스레드(257A)를 제공한다. 그리고, 예를 들어, 도 2b는 몇몇의 실시예들에 따라 소변-샘플링 포트(142)의 암 커넥터(246)에 대한 상보 외부 스레드(244B)와 짝맞춤하도록 구성되는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 수 커넥터(259)에 대한 상보 외부 스레드(257B)를 제공한다.

이하에서 설명되는 바와 같이, 도 3a 내지 도 3b, 도 4a 내지 도 4f, 및 도 5a 내지 도 5l은 이들의 임의의 조합이 가능한, 다양한 스레드 패턴들 및 이들의 스레드 형태들을 포함하는 도 2a 및 도 2b의 상보 스레드들에 대한 추가적인 세부사항들을 제공한다. 도 3a 및 도 3b는 상이한 손잡이 방향(handedness)을 가지는 스레드 패턴들을 가지는 기판들을 도시하는 개략도이다. 도 4a 내지 도 4f는 하나 이상의 리드들을 가지는 스레드 패턴들을 가지는 기판들을 도시하는 개략도를 제공한다. 도 5a 내지 도 5l은 스레드들에 대한 다양한 스레드 형태들을 도시하는 개략도들을 제공한다. 외부 스레드들만이 도 3a, 도 3b, 도 4a 내지 도 4f, 및 도 5a 내지 도 5l에서 도시되지만, 상보 내부 스레드들도 존재한다는 것이 이해될 것이다. 또한, 참조되는 기판들 중 각각의 기판은 독립적으로 예를 들어, 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142)의 암 커넥터(246)의 외부 또는 내부 표면, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 수 커넥터(259)의 외부 표면, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 잠금 칼라(258B) 또는 잠금 링(258A)의 내부 표면일 수 있다.

스레드 패턴들

도 3a는 몇몇의 실시예들에 따라 오른손잡이 방향 스레드 패턴을 가지는 스레드(310A)를 포함하는 기판(300A)을 도시하는 개략도를 제공한다.

도 3a에 도시되는 것과 같은 오른손잡이 방향 스레드 패턴을 가지는 상보 스레드들을 가지는 2개의 피스들은 2개의 피스들 중 하나의 피스가 상보 스레드들을 통해 시계 방향으로 2개의 피스들 중 하나의 피스 상으로 또는 그 안으로 구동되는 경우에 조립된다. 예를 들어, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)과 같은 제 1 피스 및 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142)와 같은 제 2 피스가 상보 오른손잡이 방향 스레드들을 가지는 경우, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)은 상보 오른손잡이 스레드들을 통해 시계 방향으로 소변-샘플링 포트(142) 상으로 또는 그 안으로 구동된다.

도 3b는 몇몇의 실시예들에 따라 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 포함하는 스레드(310B)를 가지는 기판(300B)을 도시하는 개략도를 제공한다.

도 3b에 도시되는 것과 같은 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 가지는 상보 스레드들을 가지는 2개의 피스들은 2개의 피스들 중 하나의 피스가 상보 스레드들을 통해 반시계 방향으로 2개의 피스들 중 다른 피스 상으로 또는 그 안으로 구동되는 경우에 조립된다. 예를 들어, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)과 같은 제 1 피스 및 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142)와 같은 제 2 피스가 상보 왼손잡이 방향 스레드들을 가지는 경우, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)은 상보 왼손잡이 방향 스레드들을 통해 반시계 방향으로 소변-샘플링 포트(142) 상으로 또는 그 안으로 구동된다.

도 4a는 몇몇의 실시예들에 따라 하나의 리드를 포함하는 스레드 패턴을 가지는 스레드(410A)를 가지는 기판(400A)를 도시하는 개략도를 제공한다.

도시되는 바와 같이, 스레드(410A)의 하나의 리드는 도 4a에서 도시되는 것과 같은 스레드 형태 또는 도 5a 내지 도 5h의 스레드 형태들 중 어느 하나와 같은 임의의 스레드 형태를 가질 수 있는 리드(412A)를 포함한다. 리드(412A)는 기판(400A)의 기판 직경 보다 큰 리드 직경을 가진다. 일반적으로, 기판의 기판 직경과 리드의 리드 직경 사이의 차이는 리드의 깊이 또는 높이이다. 예를 들어, 리드 직경 또는 리드(412A)의 “주 직경”과 기판 직경 또는 기판(400A)의 “부 직경” 사이의 차이는 리드(412)의 높이이다. 기판이 도 4a의 기판(400A) 같이 원통형이거나 또는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 수 커넥터(259) 같이 테이퍼링되는지 여부와 관계없이 차이로 나타난다. 리드의 깊이 또는 높이는 다양한 요인들에 따라 다를 수 있다. 예를 들어, 리드가 스레드되는 기판의 두께는 기판에서의 구조적 무결성을 잃지 않고 얼마나 깊게 스레드가 스레드될 수 있는지에 대한 인자이다.

추가적으로 도시되는 바와 같이, 스레드(410A)는 또한 스레드의 인접한 크레스트(crest)들 또는 루트(root)들과 같은 인접한, 유사한 지점들 또는 위치들 사이에 거리인 피치를 가진다(스레드에서 크레스트 및 루트의 식별을 위한 도 5e를 참조). 하나의 리드(즉, 리드(412A))를 가지는 스레드(410A)의 경우, 피치는 예를 들어, 리드(412A)의 인접한 크레스트들 사이에 거리이다. 스레드(410A)는 또한 인접한, 유사한 지점들 또는 위치들(예를 들어, 인접한 크레스트들, 루트들 등) 사이에 거리인 리드 피치, 또는 “리드”를 가진다. 하나의 리드(즉, 리드(412A))를 가지는 스레드(410A)의 경우, 리드 피치는 예를 들어 리드(412A)의 인접한 크레스트들 사이에 거리이다. 이와 같이, 리드(412A)의 리드 피치와 스레드(410A)의 피치는 동일하나, 이는 도 4b, 도 4c, 및 도 4d에서 도시되는 바와 같이 항상 그런 것은 아니다.

도 4b는 몇몇의 실시예들에서 2개의 리드들을 포함하는 제 1 스레드 패턴을 가지는 스레드(410B)를 가지는 기판(400B)를 도시하는 개략도를 제공한다. 도 4d는 몇몇의 실시예들에 따라 2개의 리드들을 포함하는 제 2 스레드 패턴을 가지는 스레드(410D)를 가지는 기판(400D)을 도시하는 개략도를 제공한다.

도시되는 바와 같이, 스레드(410B)의 2개의 리드들은 리드(412A) 및 추가적인 리드(412B)를 포함한다. 마찬가지로, 스레드(410D)의 2개의 리드들은 리드(412A) 및 추가적인 리드(412D)를 포함한다. 그러나, 스레드(410B)의 2개의 리드들은 이들의 상대적인 크기 및 스레드 형태에 대하여 실질적으로 유사한 반면에, 스레드(410D)의 2개의 리드들은 적어도 이들의 상대적인 크기에 대하여 상이하다. 실제로, 스레드(410B) 또는 스레드(410D)의 2개의 리드들의 각각의 리드는 도 5a 내지 도 5h의 스레드 형태들 중 어느 하나의 스레드 형태와 같은 상대적인 크기 및 스레드 형태로 독립적으로 구성된다. 이와 같이, 스레드(410B)와 같은 2개의 리드 스레드의 2개의 리드들은 도 4b에서 도시되는 바와 같이 실질적으로 유사할 수 있고, 또는 스레드(410D)와 같은 2개의 리드 스레드에서 2개의 리드들은 상대적인 크기, 스레드 형태 또는 이들의 조합에 대하여 상이할 수 있다(예를 들어, 도 5i 내지 도 5k 참조).

다시, 기판의 기판 직경과 리드의 리드 직경 사이의 차이는 리드의 깊이 또는 높이이다. 예를 들어, 기판(400B)의 기판 직경과 리드(412A)의 리드 직경 사이에 차이는 리드(412A)의 높이이고, 그리고 기판(400B)의 기판 직경과 리드(412B)의 리드 직경 사이에 차이는 리드(412B)의 높이이다. 도 4b에서 도시되는 바와 같이, 리드들(412A 및 412B)의 높이들은 실질적으로 유사하다. 다른 예에 대해, 기판(400D)의 기판 직경과 리드(412A)의 리드 직경 사이에 차이는 리드(412A)의 높이이고, 그리고 기판(400D)의 기판 직경과 리드(412D)의 리드 직경 사이에 차이는 리드(412D)의 높이이다. 그러나, 도 4d에 도시되는 바와 같이, 리드들(412A 및 412D)의 높이들은 리드(412A)의 높이가 리드(412D)의 높이 보다 크다는 점에서 상이하다. 다시, 리드의 깊이 또는 높이는 다양한 인자들에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어, 리드가 스레드되는 기판의 두께는 기판에서 구조적 무결성을 잃지 않고 2개 이상의 스레드들 중 최심 스레드가 얼마가 깊이 스레드될 수 있는지에 대한 인자이다.

추가적으로 도시되는 바와 같이, 스레드들(410B 및 410D)의 각각의 스레드는 다시, 스레드의 인접한 크레스트 또는 루트들과 같은 인접한, 유사한 지점들 또는 위치들 사이에 거리인, 또한 피치를 가진다. 2개의 리드들(즉, 리드(412A) 및 리드(412B))을 가지는 스레드(410B)의 경우, 피치는 예를 들어, 리드(412A)의 크레스트와 리드(412B)의 인접한 크레스트 사이에 거리이다. 마찬가지로, 스레드(410D)의 피치는 예를 들어, 리드(412A)의 크레스트와 리드(412D)의 인접한 크레스트 사이에 거리이다. 스레드들(410B 및 410D)의 각각의 스레드는 또한 다시 리드의 인접한, 유사한 지점들 또는 위치들(예를 들어, 인접한 크레스트들, 루트들 등) 사이에 거리인 리드 피치를 가진다. 2개의 리드들(즉, 리드(412A) 및 리드(412B))을 가지는 스레드(410B)의 경우, 리드(412A)의 리드 피치는 예를 들어, 리드(412A)의 인접한 크레스트들 사이의 거리이고, 그리고 리드(412B)의 리드 피치는 예를 들어, 리드(412B)의 인접한 크레스트들 사이의 거리이다. 마찬가지로, 스레드(410D)의 경우, 리드(412A)의 리드 피치는 예를 들어, 리드(412A)의 인접한 크레스트들 사이의 거리이고, 그리고 리드(412D)의 리드 피치는 예를 들어, 리드(412D)의 인접한 크레스트들 사이의 거리이다. 도 4b 또는 4d에서 도시되는 바와 같이, 스레드의 피치는 스레드가 스레드(410B) 또는 스레드(410D)와 같은 2개의 리드들을 가지는 경우 스레드의 리드의 리드 피치의 절반일 수 있다.

도 4f는 몇몇의 실시예들에 따라 3개의 리드들을 포함하는 스레드 패턴을 가지는 스레드(410F)를 가지는 기판(400F)를 도시하는 개략도를 제공한다.

도시되는 바와 같이, 스레드(410F)의 3개의 리드들은 리드(412A), 리드(412B), 및 추가적인 리드(412F)를 포함한다. 스레드(410F)의 3개의 리드들이 이들의 상대적인 크기 및 스레드 형태에 대하여 실질적으로 유사한 반면에, 스레드(410D)의 3개의 리드들의 각각의 리드는 도 5a 내지 도 5h의 스레드 형태들 중 어느 하나의 스레드 형태와 같은 상대적인 크기 및 스레드 형태로 독립적으로 구성될 수 있다. 이와 같이, 스레드(410F)와 같은 3개의 리드 스레드의 3개의 모든 리드들이 도 4f에서 도시되는 바와 같이 실질적으로 유사할 수 있거나, 3개의 리드 스레드에서 어느 2개의 리드들은 실질적으로 동일한 반면에 스레드의 세번째 리드가 상대적인 크기, 스레드 형태, 또는 이들의 조합에 대하여 상이하거나(예를 들어, 도 5i 내지 도 5k를 참조), 또는 3개의 리드 스레드에서 3개의 모든 리드들은 상대적인 크기, 스레드 형태, 또는 이들의 조합에 대하여 상이할 수 있다(예를 들어, 도 5l을 참조).

다시, 기판의 기판 직경과 리드의 리드 직경 사이의 차이는 리드의 깊이 또는 높이이다. 예를 들어, 기판(400F)의 기판 직경과 리드(412A)의 리드 직경 사이에 차이는 리드(412A)의 높이이고, 기판(400F)의 기판 직경과 리드(412B)의 리드 직경 사이에 차이는 리드(412B)의 높이이고, 그리고 기판(400F)의 기판 직경과 리드(412F)의 리드 직경 사이에 차이는 리드(412F)의 높이이다. 도 4f에 도시되는 바와 같이, 리드들(412A, 412B, 및 412F)의 높이들은 실질적으로 유사하다. 그러나, 도 4d의 스레드(410D)의 리드들(412A 및 412D)의 높이들과 마찬가지로, 3개의 리드 스레드에서 어느 2개의 리드들의 높이들은 실질적으로 유사한 반면에 스레드의 세번째 리드의 높이가 상이하거나(예를 들어, 도 5i 내지 도 5k를 참조), 또는 3개의 리드 스레드에서 3개의 모든 리드들이 상이할 수 있다. 다시, 리드의 깊이 또는 높이는 다양한 인자들에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어, 리드가 스레드되는 기판의 두께는 기판에서 구조적 무결성을 잃지 않고 3개 이상의 스레드들 중 최심 스레드가 얼마가 깊이 스레드될 수 있는지에 대한 인자이다.

추가적으로 도시되는 바와 같이, 스레드(410F)는 또한 스레드의 인접한 크레스트(crest)들 또는 루트(root)들과 같은 인접한, 유사한 지점들 또는 위치들 사이에 거리인 피치를 가진다. 3개의 리드들(즉, 리드(412A), 리드(412B), 및 리드(412F))를 가지는 스레드(410F)의 경우, 피치는 예를 들어, 리드(412B)의 인접한 크레스트와 리드(412A)의 인접한 크레스트 사이의 거리이다. 스레드들(410A, 410B, 및 410F)의 각각의 스레드는 또한 다시 리드의 인접한, 유사한 지점들 또는 위치들(예를 들어, 인접한 크레스트들, 루트들 등) 사이의 거리인 리드 피치를 가진다. 3개의 리드(즉, 리드(412A), 리드(412B), 및 리드(412F))를 가지는 스레드(410F)의 경우, 리드(412A)의 리드 피치는 예를 들어, 리드(412A)의 인접한 크레스트들 사이의 거리이고, 리드(412B)의 리드 피치는 예를 들어, 리드(412B)의 인접한 크레스트들 사이의 거리이고, 그리고 리드(412F)의 리드 피치는 예를 들어, 리드(412F)의 인접한 크레스트들 사이의 거리이다. 도 4f에서 도시되는 바와 같이, 스레드의 피치는 스레드가 스레드(410F)와 같이 3개의 리드들을 가지는 경우 스레드의 리드의 리드 피치의 1/3일 수 있다.

도 4a, 도 4b, 도 4d, 및 도 4f의 각각의 스레드들(410A, 410B, 410D, 및 410F) 중 어느 하나와 같은 스레드의 피치에 대하여, 스레드의 피치는 몇몇 실시예들에서, 적어도 0.25 mm, 0.50 mm, 0.75 mm, 1.00 mm, 1.25 mm, 1.50 mm, 1.75 mm, 2.00 mm, 2.25 mm, 2.50 mm, 2.75 mm, 3.00 mm, 3.25 mm, 3.50 mm, 3.75 mm, 4.00 mm, 4.25 mm, 4.50 mm, 4.75 mm, 또는 5.00 mm이다. 몇몇 실시예들에서, 스레드의 피치는 5.00 mm, 4.75 mm, 4.50 mm, 4.25 mm, 4.00 mm, 3.75 mm, 3.50 mm, 3.25 mm, 3.00 mm, 2.75 mm, 2.50 mm, 2.25 mm, 2.00 mm, 1.75 mm, 1.50 mm, 1.25 mm, 1.00 mm, 0.75 mm, 0.50 mm, 또는 0.25 mm 이하이다. 이에 따라, 몇몇 실시예들에서, 스레드의 피치는 예를 들어 적어도 2.00 mm이고 3.00 mm 이하인, 적어도 1.00 mm이고 4.00 mm 이하인 것과 같은, 적어도 0.50 mm이고 4.50 mm 이하를 포함하는, 적어도 0.25 mm이고 5.00 mm 이하이다. 스레드들(410A, 410B, 410D, 및 410F) 중 어느 하나와 같은 스레드의 리드 피치에 대하여, 스레드의 리드 피치는 스레드에서의 리드들의 개수(예를 들어, 2, 3, 4 등)에 따른 피치들의 범위 또는 전술한 피치들 중 어느 하나의 수배(예를 들어, 2x, 3x, 4x 등)이다.

전술한 바와 같이, 카테터 어셈블리(110)의 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(412)는 몇몇 실시예들에서, 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 가지는 스레드, 제 1 리드가 제 2 리드 보다 큰 리드 직경을 가지는 스레드 패턴, 3개의 리드들과 같은 2개 이상의 리드들을 가지는 스레드 패턴, 또는 3개의 리드들과 같은 둘 이상의 리드들을 가지는 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 가지는 스레드를 포함한다. 소변-샘플링 포트(142)는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152)의 단부에 있는 팁(156)의 상보 스레드와 짝맞춤하도록 구성된다. 상보 스레드는 무균 소변 샘플링을 위해 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152)의 단부에 있는 팁(156)과 소변-샘플링 포트(142)의 적절한 짝맞춤을 보장한다.

또한, 전술한 바와 같이, 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152)의 단부에 있는 팁(156)은 몇몇 실시예들에서, 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 가지는 스레드, 제 1 리드가 제 2 리드 보다 큰 리드 직경을 가지는 스레드 패턴, 3개의 리드들과 같은 2개 이상의 리드들을 가지는 스레드 패턴, 또는 3개의 리드들과 같은 둘 이상의 리드들을 가지는 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 가지는 스레드를 포함한다. 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152)의 단부에 있는 팁(156)은 카테터 어셈블리(110)의 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142)와 같은 다른 디바이스(다만, 이에 한정되지 않음)의 샘플링 포트의 상보 스레드와 짝맞춤하도록 구성된다. 상보 스레드는 혈액 샘플링 또는 무균 소변 샘플링과 같은 무균 샘플링을 위해 다른 디바이스의 샘플링 포트와 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 적절한 짝맞춤을 보장한다.

스레드 형태들

도 4c는 2개의 리드들을 포함하는 제 1 스레드 패턴을 가지는 스레드(410B)를 가지는 기판(400B)의 단면을 도시하는 개략도를 제공한다. 도 4c의 단면 D는 또한 몇몇의 실시예들에 따라 제 1 스레드 형태(500A)를 도시하는 개략도를 제공하는, 도 5a에 도시된다.

스레드 형태(500A)는 하나 이상의 리드들을 가지는 스레드를 나타내고, 여기서 하나 이상의 리드들의 각각의 리드는 단면으로 동일한 정사각형-형태인 스레드 형태를 가진다. 스레드 형태(500A)에 의해 예시되는 바와 같이, 스레드들(410A, 410B, 410D, 및 410F) 중 어느 한 스레드와 같은 스레드는 크레스트(502A)와 같은 크레스트, 루트(504A)와 같은 루트, 및 506A와 같은 페이스(face) 또는 플랭크(flank)를 가진다.

도 5b는 몇몇의 실시예들에 따라 제 2 스레드 형태(500B)를 도시하는 개략도를 제공한다.

스레드 형태(500B)는 하나 이상의 리드들을 가지는 스레드를 나타내고, 여기서 하나 이상의 리드들의 각각의 리드는 단면으로 동일한 라운딩된 정사각형 형태인 스레드 형태를 가진다. 스레드 형태(500A)와 비교하여, 스레드 형태(500B)는 정사각형 형태인 스레드 형태(500A)의 크레스트들 및 루트들이 라운딩된 정사각형 형태인 스레드 형태(500B)를 형성하기 위해 라운딩(rounded)된다는 점에서 상이하다.

도 5c는 몇몇의 실시예들에 따라 제 3 스레드 형태(500C)를 도시하는 개략도를 제공한다.

스레드 형태(500C)는 하나 이상의 리드들을 가지는 스레드를 나타내고, 여기서 하나 이상의 리드들의 각각의 리드는 단면으로 동일한 사다리꼴 형태인 스레드 형태를 가진다.

도 5d는 동일한 실시예들에 따라 제 4 스레드 형태(500D)를 도시하는 개략도를 제공한다.

스레드 형태(500D)는 하나 이상의 리드들을 가지는 스레드를 나타내고, 여기서 하나 이상의 리드들의 각각의 리드는 단면으로 동일한 너클 형태인 스레드를 가진다.

도 5e는 동일한 실시예들에 따라 제 5 스레드 형태(500E)를 도시하는 개략도를 제공한다.

스레드 형태(500E)는 하나 이상의 리드들을 가지는 스레드를 나타내고, 여기서 하나 이상의 리드들의 각각의 리드는 단면으로 동일한 삼각형 형태인 스레드 형태를 가진다. 스레드 형태(500E)에 의해 예시되는 바와 같이, 스레드들(410A, 410B, 410D, 및 410F) 중 어느 한 스레드와 같은 스레드는 크레스트(502E)와 같은 크레스트, 루트(504E)와 같은 루트, 및 506E와 같은 페이스 또는 플랭크를 가진다. 이외에, 스레드의 페이스들 사이의 스레드 각도(508E)가 도 5e에 도시된다.

도 5f는 몇몇의 실시예들에 따라 제 6 스레드 형태(500F)를 도시하는 개략도를 제공한다.

스레드 형태(500F)는 하나 이상의 리드들을 가지는 스레드를 나타내고, 여기서 하나 이상의 리드들의 각각의 리드는 단면으로 동일한 절두 삼각형 형태인 스레드 형태를 가진다. 스레드 형태(500E)에 비교하여, 스레드 형태(500F)는 삼각형 형태인 스레드 형태(500E)의 크레스트들이 절두되고 그리고 루트들이 납작하게(flatly) 스레드되어 절두 삼각형 형태인 스레드 형태(500F)를 형성한다는 점에서 상이하다.

도 5g는 몇몇의 실시예들에 따라 제 7 스레드 형태(500G)를 도시하는 개략도를 제공한다.

스레드 형태(500G)는 하나 이상의 리드들을 가지는 스레드를 나타내고, 여기서 하나 이상의 리드들의 각각의 리드는 단면으로 동일한 삼각형 형태인 스레드 형태를 가진다. 스레드 형태(500E)에 비교하여, 스레드 형태(500G)는 삼각형 형태인 스레드 형태(500E)의 삼각형들이 이등변 삼각형에서 부등변 삼각형으로 비스듬해져(skewed) 삼각형 형태인 스레드 형태(500G)를 형성하고, 이는 톱니형 스레드 형태로 설명될 수도 있다.

도 5h는 몇몇의 실시예들에 따라 제 8 스레드 형태(500H)를 도시하는 개략도를 제공한다.

스레드 형태(500A)는 하나 이상의 리드들을 가지는 스레드를 나타내고, 여기서 하나 이상의 리드들의 각각의 리드는 단면으로 동일한 라운딩된 삼각형 형태인 스레드 형태를 가진다.

도 4e는 2개의 리드들을 포함하는 제 2 스레드 패턴을 가지는 스레드(410D)를 가지는 기판(400D)의 단면을 도시하는 개략도를 제공한다. 도 4e의 단면 G가 또한 몇몇의 실시예들에 따라 제 9 스레드 형태(500I)를 도시하는 개략도를 제공하는 도 5i에 도시된다.

스레드 형태(500I)는 2개 이상의 리드들을 가지는 스레드를 나타내고, 여기서 2개 이상의 리드들 중 제 1 리드는 단면으로 정사각형 형태인 스레드 형태를 가지고 그리고 2개 이상의 리드들 중 제 2 리드는 또한 단면으로 정사각형 형태이나 상대적 크기가 상이하다.

도 5j는 몇몇의 실시예들에 따라 제 10 스레드 형태(500J)를 도시하는 개략도를 제공한다.

스레드 형태(500J)는 2개 이상의 리드들을 가지는 스레드를 나타내고, 여기서 2개 이상의 리드들 중 제 1 리드가 단면으로 절두 삼각형 형태인 스레드 형태를 가지고 그리고 2개 이상의 리드들 중 제 2 리드는 또한 단면으로 절두 삼각형 형태인 스레드 형태를 가지나 상대적 크기가 상이하다.

도 5k는 몇몇의 실시예들에 따라 제 11 스레드 형태(500K)를 도시하는 개략도를 제공한다.

스레드 형태(500K)는 2개 이상의 리드들을 가지는 스레드를 나타내고, 여기서 2개 이상의 리드들 중 제 1 리드는 단면으로 절두 삼각형 형태인 스레드 형태를 가지고 그리고 2개 이상의 리드들 중 제 2 리드는 단면으로 정사각형 형태인 스레드 형태를 가지나, 스레드 형태들의 상대적 크기가 상이하다.

도 5l은 몇몇의 실시예들에 따라 제 12 스레드 형태(500L)를 도시하는 개략도를 제공한다.

스레드 형태(500L)은 3개 이상의 리드들을 스레드를 나타내고, 3개 이상의 리드들 중 제 1 리드는 단면으로 라운딩된 정사각형 형태인 스레드 형태를 가지고, 3개 이상의 리드들 중 제 2 리드는 단면으로 라운딩된 정사각형 형태인 스레드 형태를 가지고, 그리고 3개 이상의 리드들 중 제 3 리드는 단면으로 너클 형태인 스레드 형태를 가진다.

방법들

무균 소변 샘플링을 위한 방법은 멸균 장갑들을 착용하는 단계, 카테터 어셈블리(110)의 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142)와 같은 카테터 어셈블리의 소변-샘플링 포트를 세척하는 단계(선택적으로 살균 수건으로), 소변-샘플링 포트(142)에 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)와 같은 샘플링-포트 액세스 디바이스를 유체 연결하는 단계, 및 소변-샘플링 포트(142)로부터 소변 샘플을 흡입하는 단계를 포함하고, 이에 제한되지 않지 않는다.

또한, 무균 소변 샘플링을 위한 방법은 카테터 어셈블리(110)의 배수 백과 소변-샘플링 포트(142) 사이에 튜빙 클램프로 카테터 어셈블리(110)의 배수 튜빙(132)을 클램핑하는 단계를 더 포함한다. 튜빙 클램프와 배수 튜빙(132)을 클램핑하는 단계는 소변 샘플링을 위해 소변-샘플링 포트(142) 내로 소변이 모으도록 허용한다.

또한, 소변 샘플링을 위한 방법은 적절한 샘플링-포트 액세스 디바이스가 무균 소변 샘플링을 위해 카테터 어셈블리(110)와 사용되도록 보장하기 위해 소변-샘플링 포트(142)와 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 칼라를 매칭하는 단계를 더 포함한다. 이것은 소변 샘플링 시스템(100)에 대해 외부인 샘플링-포트 액세스 디바이스의 잘못된 연결을 시도함에 의한 소변-샘플 오염의 위험성을 줄인다.

또한, 무균 소변 샘플링을 위한 방법은 카테터 어셈블리(110)의 커넥터(140)의 소변-샘플링 포트(142) 및 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 팁(156)의 상보 오른손잡이 방향 또는 왼손잡이 방향 스레드들에 따라 시계방향 또는 반시계방향으로 소변-샘플링 포트(142) 상으로 또는 그 안에 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)를 돌려 조이는 단계를 더 포함한다.

또한, 무균 소변 샘플링을 위한 방법은 하나 이상의 격막-마개식 테스트 튜브들을 획득하는 단계 및 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152) 내로 하나 이상의 테스트 튜브들의 적어도 하나의 테스트 튜브를 미끌려 들어가게 하는 단계를 포함한다. 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152) 내로 하나 이상의 테스트 튜브들의 적어도 하나의 테스트 튜브를 미끌려 들어가게 하는 단계는 샘플링-포트 액세스 디바이스(150)의 배럴(152)에 배치되어 있는 중공 니들(154)로 테스트 튜브의 격막 마개를 관통시킨다. 니들(154)이 테스트 튜브의 격막 마개를 관통하면, 소변 샘플을 제공하기 위해 테스트 튜브의 대기 보다 낮은 내부 압력으로 인해 소변-샘플링 포트(142)로부터 테스트 튜브 내로 소변이 자동적으로 흡입된다.

무균 소변 샘플링 이후, 하나 이상의 테스트 튜브들에 있는 소변 샘플 또는 소변 샘플들은 라벨링되고, 선택적으로 냉장되고, 그리고 이어서 소변 분석 또는 미생물 분석을 위해 실험실로 운반하기 위해 운반 파우치에 넣어진다.

소변-샘플링 시스템들 및 무균 소변-샘플링 방법들의 이점은 카테터 삽입된 환자들로부터 소변 샘플들을 채취하기 위한 임상 실무의 표준화를 포함하여, 환자 감염, 오염된 샘플들(샘플-포트 오염에 의한), 및 위양성 소변 배양들의 위험을 제거한다. 또한, 무균 소변 샘플링의 방법은 이에 관련된 CDC 가이드라인들을 준수하도록 보장한다.

몇몇의 특정 실시예들이 본 명세서에서 개시되고 그리고 특정 실시예들이 일부 상세하게 개시되었지만, 특정 실시예들이 본 명세서에서 제공되는 개념들의 범위를 제한하도록 의도되지 않는다. 추가적인 적응들 및/또는 변형들이 본 기술 분야에서 통상의 기술자들에게 명백할 수 있고, 그리고 더 넓은 양상에서, 이들의 적응들 및/또는 변형들이 포함된다. 이에 따라, 본 명세서에서 제공되는 개념들의 범위를 벗어나지 않고 본 명세서에서 개시되는 특정 실시예들로부터 이루어질 수 있다.

Claims

무균 소변 샘플링을 위한 소변-샘플링 시스템에 있어서,
소변 카테터, 배수 튜빙, 및 상기 배수 튜빙에 상기 소변 카테터를 유체 연결시키는 커넥터를 포함하는 카테터 어셈블리 - 상기 커넥터는 소변-샘플링 포트를 포함함 -; 및
상기 카테터 어셈블리의 상기 소변-샘플링 포트에 샘플링-포트 액세스 디바이스를 유체 연결시키도록 구성되는 배럴의 단부에 있는 팁을 포함하는 샘플링-포트 액세스 디바이스;
를 포함하고,
상기 소변-샘플링 포트 및 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 각각의 상기 팁은 무변 소변 샘플링을 위해 상기 소변-샘플링 포트 및 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 팁의 적절한 짝맞춤(mating)을 보장하도록, 상기 소변-샘플링 포트 및 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 다른 쪽의 상기 팁에 고정시키기 위한 상보 고정 수단을 가지는,
소변-샘플링 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 팁의 상기 상보 고정 수단은 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 팁의 수 커넥터(male connector) 둘레의 회전식 잠금 칼라(collar) 또는 잠금 링의 내부 스레드(thread)가 상기 소변-샘플링 포트의 암 커넥터(female connector)에 대한 외부 스레드와 짝맞춤하도록 구성되는 상보 스레드를 포함하는,
소변-샘플링 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 팁의 상기 상보 고정 수단은 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 팁의 수 커넥터에 대한 외부 스레드가 상기 소변-샘플링 포트의 암 커넥터의 내부 스레드와 짝맞춤하도록 구성되는 상보 스레드를 포함하는,
소변-샘플링 시스템.
제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,
상기 스레드는 둘 이상의 리드(lead)들을 가지는 스레드 패턴을 포함하고, 상기 둘 이상의 리드들 중 적어도 제 1 리드는 상기 둘 이상의 리드들 중 제 2 리드 보다 더 큰 직경을 가지는,
소변-샘플링 시스템.
제 2 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 스레드는 3개의 리드들을 가지는 스레드 패턴을 포함하는,
소변-샘플링 시스템.
제 2 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 스레드는 왼손잡이 방향(left-handed) 스레드 패턴을 포함하는,
소변-샘플링 시스템.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 소변-샘플링 포트 및 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 각각의 상기 팁은 상기 소변-샘플링 포트 또는 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 팁의 잘못된 연결의 시도에 의한 소변-샘플 오염의 위험을 줄이도록, 상기 소변-샘플링 포트 및 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 다른 쪽의 상기 팁의 칼라와 매칭되는(matching),
소변-샘플링 시스템.
제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
하나 이상의 격막-마개식(septum-stoppered) 테스트 튜브들 - 상기 하나 이상의 테스트 튜브들의 각각의 테스트 튜브는 대기압 미만의 내부 압력을 가짐 -;
을 더 포함하고,
상기 하나 이상의 테스트 튜브들의 각각의 테스트 튜브는 그 안에 소변 분석(urinalysis)을 위한 제제(formulation) 또는 미생물 분석(microbiological analysis)을 위한 제제를 포함하거나, 또는 첨가제들 또는 방부제들을 포함하지 않도록 독립적으로 구성되는,
소변-샘플링 시스템.
제 8 항에 있어서,
상기 하나 이상의 테스트 튜브들의 각각의 테스트 튜브는 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 배럴의 내부 직경에 상응하거나(commensurate) 또는 작은 외부 직경을 가져, 소변 샘플링을 위해 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 니들로 상기 테스트 튜브의 상기 격막 마개를 관통하도록 상기 배럴 내로 각각의 테스트 튜브가 미끄러져 들어가도록 허용하는,
소변-샘플링 시스템.
카테터 어셈블리에 있어서,
소변 카테터;
배수 튜빙; 및
상기 배수 튜빙에 상기 소변 카테터를 유체 연결시키는 커넥터 - 상기 커넥터는 무균 소변 샘플링을 위해 샘플링-포트 액세스 디바이스와 소변-샘플링 포트의 적절한 짝맞춤을 보장하도록, 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 팁의 상보 스레드와 짝맞춤되도록 구성되는 둘 이상의 리드들을 가지는 왼손잡이 방향 스레드 패턴, 둘 이상의 리드들을 가지는 스레드 패턴, 제 1 리드가 제 2 리드 보다 큰 리드 직경을 가지는 스레드 패턴, 또는 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 가지는 스레드를 가지는 소변-샘플링 포트를 포함함 -;
을 포함하는,
카테터 어셈블리.
제 10 항에 있어서,
상기 스레드는 상기 소변-샘플링 포트의 암 커넥터에 대한 외부 스레드를 포함하는,
카테터 어셈블리.
제 10 항에 있어서,
상기 스레드는 상기 소변-샘플링 포트의 암 커넥터의 내부 스레드를 포함하는,
카테터 어셈블리.
제 10 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 스레드는 3개의 리드들을 가지는 스레드 패턴을 포함하는,
카테터 어셈블리.
제 10 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 스레드는 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 포함하는,
카테터 어셈블리.
샘플링-포트 액세스 디바이스에 있어서,
배럴;
팁을 포함하는 중공 니들 - 상기 니들은 상기 니들의 상기 팁이 상기 배럴에 의해 보호되도록 상기 배럴 내에 동축 방향으로 배치됨 -; 및
상기 니들에 유체 연결되는 상기 배럴의 단부에 있는 팁 - 상기 배럴의 팁은 무균 샘플링을 위해 다른 디바이스의 샘플링 포트와 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 적절한 짝맞춤을 보장하도록, 상기 다른 디바이스의 상기 샘플링 포트의 상보 스레드와 짝맞춤되도록 구성되는 둘 이상의 리드들을 가지는 왼손잡이 방향 스레드 패턴, 둘 이상의 리드들을 가지는 스레드 패턴, 제 1 리드가 제 2 리드 보다 큰 리드 직경을 가지는 스레드 패턴, 또는 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 가지는 스레드를 가짐 -;
샘플링-포트 액세스 디바이스.
제 15 항에 있어서,
상기 스레드는 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 팁의 수 커넥터 둘레에 잠금 칼라 또는 잠금 링의 내부 스레드를 포함하는,
샘플링-포트 액세스 디바이스.
제 16 항에 있어서,
상기 잠금 링은 상기 배럴에 비회전식으로 부착되거나 또는 상기 배럴에 몰딩(molded)되고, 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스는 다른 디바이스의 샘플링 포트 상으로 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 전체를 돌려서 조임(screwing)으로써 상기 다른 디바이스의 상기 샘플링 포트와 짝맞춤하도록 구성되는,
샘플링-포트 액세스 디바이스.
제 16 항에 있어서,
상기 잠금 칼라는 상기 배럴에 회전식으로 부착되고, 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스는 상기 배럴을 고정 상태로 유지하면서 다른 디바이스의 샘플링 포트 상으로 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 잠금 칼라를 돌려서 조임으로써 상기 다른 디바이스의 상기 샘플링 포트와 짝맞춤하도록 구성되는,
샘플링-포트 액세스 디바이스.
제 19 항에 있어서,
상기 스레드는 상기 샘플링-포트 액세스 디바이스의 상기 팁의 수 커넥터에 대한 외부 스레드를 포함하는,
샘플링-포트 엑세스 디바이스.
제 15 항 내지 제 19 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 스레드는 3개의 리드들을 가지는 왼손잡이 방향 스레드 패턴을 포함하는,
샘플링-포트 액세스 디바이스.