KR20200113823A

KR20200113823A - 전극조립체의 제조 방법 및 그 제조 장치

Info

Publication number: KR20200113823A
Application number: KR1020190034560A
Authority: KR
Inventors: 고유진; 권영태
Original assignee: 주식회사 엘지화학
Priority date: 2019-03-26
Filing date: 2019-03-26
Publication date: 2020-10-07

Abstract

본 발명은 라미네이션 후에 전극 간의 간격이 변화하여 제조 불량이 발생하는 것을 방지할 수 있는 전극조립체의 제조 방법 및 그 제조 장치에 관한 것이다.
또한, 본 발명은 권취된 전극 및 분리막을 권출하는 언와인딩 단계, 상기 전극을 복수 개의 단위 전극으로 커팅하는 전극 커팅 단계, 상기 분리막 위에 복수 개의 상기 단위 전극을 적층하는 적층 단계, 복수 개의 상기 단위 전극을 가압하여 상기 분리막에 접합하는 라미네이션 단계, 상기 분리막에 접합된 복수 개의 상기 단위 전극 사이의 간격을 측정하는 검사 단계 및 상기 검사 단계에서 측정된 간격의 크기와 기 설정된 간격의 크기에 차이가 있을 때, 상기 적층 단계에서 복수 개의 상기 단위 전극을 상기 분리막에 적층하는 적층 시간을 변경하여 상기 분리막에 접합되는 복수 개의 상기 단위 전극 사이의 간격을 조정하는 피드백 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

전극조립체의 제조 방법 및 그 제조 장치{MANUFACTURE METHOD FOR ELECTRODE ASSEMBLY AND MANUFACTURE APPARATUS FOR THE SAME}

본 발명은 전극조립체의 제조 방법 및 그 제조 장치에 관한 것으로서, 보다 자세하게는 라미네이션 후에 전극 간의 간격이 변화하여 제조 불량이 발생하는 것을 방지할 수 있는 전극조립체의 제조 방법 및 그 제조 장치에 관한 것이다.

이차 전지는 일차 전지와는 달리 재충전이 가능하고, 또 소형 및 대용량화 가능성으로 인해 근래에 많이 연구 개발되고 있다.

이러한 이차전지는 하나의 전지 셀이 팩으로 포장된 형태 또는 전지 셀을 수십 개 연결한 팩 형태로 제작되어 휴대폰, 노트북, 및 전기 자동차의 모터 구동용 전원 등으로 널리 사용되고 있다.

이차전지의 전극은 활물질 및 도전재가 혼합되어 있는 전극 슬러리(slurry)를 전극 시트 위에 도포하고, 고온의 상태로 건조한 뒤 프레싱 과정을 거쳐 제작된다.

대한민국 공개특허공보 제10-2016-0040087호에는 종래의 이차전지용 라미네이팅 장치 및 이차전지의 라미네이팅 방법이 개시되어 있다.

이와 같이 이차전지용 라미네이팅 장치는 롤 프레스 등을 활용하는 고온 가압 공정으로 라미네이션(lamination)을 수행하여 전극과 분리막을 결착한다.

그런데 종래의 전극조립체의 제조 방법은 분리막을 커팅하는 파이널 커팅(final cutting) 진행 후 라미네이션되어 결착된 전극과 분리막 사이의 위치 불량 여부를 검사하였다.

따라서 종래의 전극조립체의 제조 방법은 라미네이션된 전극과 분리막 사이의 위치 불량이 존재하는 문제점이 있었다.

이와 같은 문제점이 발생하였을 때 종래에는 파이널 커팅을 하는 시간(timing)을 조절하여 라미네이션 위치 불량을 개선하였다.

하지만, 분리막 연신 등으로 인해 전극 간 간격(gap)이 증가하여 라미네이션 위치 불량이 발생하는 것은 해결하지 못하는 문제점이 있었다.

따라서 본 발명은 위와 같은 문제점들을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명의 과제는 분리막에 전극을 적층하는 시간을 조정하여 라미네이션 위치 불량을 감소시킬 수 있는 전극조립체의 제조 방법 및 그 제조 장치.

본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체의 제조 방법은 권취된 전극 및 분리막을 권출하는 언와인딩 단계, 상기 전극을 복수 개의 단위 전극으로 커팅하는 전극 커팅 단계, 상기 분리막 위에 복수 개의 상기 단위 전극을 적층하는 적층 단계, 복수 개의 상기 단위 전극을 가압하여 상기 분리막에 접합하는 라미네이션 단계, 상기 분리막에 접합된 복수 개의 상기 단위 전극 사이의 간격을 측정하는 검사 단계 및 상기 검사 단계에서 측정된 간격의 크기와 기 설정된 간격의 크기에 차이가 있을 때, 상기 적층 단계에서 복수 개의 상기 단위 전극을 상기 분리막에 적층하는 적층 시간을 변경하여 상기 분리막에 접합되는 복수 개의 상기 단위 전극 사이의 간격을 조정하는 피드백 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 검사 단계 이후에 복수 개의 상기 단위 전극이 적층된 상기 분리막을 파이널 커팅하여 기본단위체를 제조하는 기본단위체 형성 단계를 더 포함할 수 있다.

상기 기본단위체의 불량을 검사하는 기본단위체 검사 단계를 더 포함할 수 있다.

상기 기본단위체 검사 단계에서 불량으로 판별된 기본단위체를 별도로 배출하는 불량 배출 단계를 더 포함할 수 있다.

상기 기본단위체 검사 단계는 상기 기본단위체의 양극과 음극의 합선(short) 상태를 검사하는 합선 검사 단계를 포함할 수 있다.

상기 합선 검사 단계 이후에 상기 기본단위체 상에서 상기 분리막 위에 상기 전극이 적층된 위치를 검사하는 조립 검사 단계를 더 포함할 수 있다.

상기 조립 검사 단계는 상기 기본단위체를 평면에서 실시간으로 촬영한 영상을 통해 상기 분리막의 테두리와 상기 전극의 테두리 사이의 간격을 검사할 수 있다.

상기 조립 검사 단계는 상기 기본단위체를 평면에서 실시간으로 촬영한 영상을 통해 상기 분리막의 모서리와 상기 전극의 모서리 사이의 간격을 검사할 수 있다.

상기 검사 단계는 상기 분리막에 접합된 복수 개의 상기 단위 전극을 평면에서 촬영한 영상을 통해 복수 개의 상기 단위 전극이 배열된 간격을 검사할 수 있다.

본 발명의 제2 실시예에 따른 전극조립체의 제조 장치는 권취된 전극 및 분리막이 권출되는 권출부, 권출되는 상기 전극을 커팅하는 전극 커팅부, 권출되는 상기 분리막에 커팅된 상기 전극이 적층된 채로 이송시키는 이송부, 상기 전극과 상기 분리막을 접합시키는 라미네이션부, 상기 분리막에 접합된 복수 개의 상기 전극의 사이 간격을 검사하는 제1 검사부 및 상기 전극과 접합된 상기 분리막을 커팅하여 기본단위체를 형성하는 파이널 커팅부를 포함하는 것을 특징한다.

상기 기본단위체에서 분리막과 전극 사이의 간격을 검사하는 제2 검사부를 더 포함할 수 있다.

상기 제1 검사부는 상기 분리막과 복수 개의 상기 전극을 평면에서 촬영할 수 있다.

상기 제2 검사부는 상기 기본단위체를 평면에서 촬영할 수 있다.

본 발명에 따르면, 분리막에 전극을 적층하는 시간의 조정을 통해 분리막에 라미네이션된 복수 개의 전극 사이의 간격을 조정할 수 있어 라미네이션에 의한 분리막에 적층된 전극의 위치 불량을 극소화하는 효과가 있다.

본 발명에 따르면, 분리막의 파이널 커팅 전과 후에 분리막에 적층된 전극의 위치를 두 번에 걸쳐 검사하는 이중 검사로 불량 전극조립체의 검출 기능을 극대화하는 효과가 있다.

본 발명에 따르면, 분리막에 전극이 라미네이트 된 상태에서 분리막을 커팅하는 커팅 시간을 조정하여 분리막의 커팅에 의한 분리막에 적층된 전극의 위치 불량이 발생하지 않도록 한번 더 조정하는 효과가 있다.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체의 제조 방법을 순차적으로 도시한 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체의 제조 방법에서 검사 단계부터 기본단위체 검사 단계까지의 공정을 개략적으로 도시한 공정도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따라 검사 단계에서 복수 개의 단위 전극을 촬영하여 복수 개의 단위 전극 사이의 간격을 측정하는 영상을 개략적으로 도시한 구성도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따라 기본단위체 검사 단계에서 복수 개의 기본단위체를 촬영하여 복수 개의 기본단위체 상에서 분리막의 모서리와 전극의 모서리 사이의 간격을 측정하는 영상을 개략적으로 도시한 구성도이다.
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 전극조립체의 제조 장치의 주요부를 개략적으로 도시한 구성도이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전극조립체의 제조 방법 및 그 제조 장치에 대하여 상세히 설명하기로 한다.

본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과하고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.

도면에서 각 구성요소 또는 그 구성요소를 이루는 특정 부분의 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 따라서, 각 구성요소의 크기는 실제크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다. 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그러한 설명은 생략하도록 한다.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체의 제조 방법을 순차적으로 도시한 흐름도이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체의 제조 방법은 언와인딩 단계(S1), 전극 커팅 단계(S2), 적층 단계(S3), 라미네이션 단계(S4), 검사 단계(S5) 및 피드백 단계(S6)를 포함한다.

상기 언와인딩 단계(S1)는 권취된 상태의 전극 및 분리막 시트를 각각 권출하는 단계일 수 있다.

상기 전극 커팅 단계(S2)는 권출되는 전극 시트를 복수 개의 단위 전극으로 커팅하는 단계일수 있다.

상기 적층 단계(S3)는 상기 분리막(여기서의 분리막은 긴 장방형의 분리막 시트일 수 있다) 위에 커팅된 복수 개의 단위 전극을 하나씩 적층하는 단계일 수 있다.

상기 라미네이션 단계(S4)는 분리막 위에 적층된 복수 개의 단위 전극을 가압하여 분리막에 접합하는 단계일 수 있다.

도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체의 제조 방법에서 검사단계부터 기본단위체 검사 단계까지의 공정을 개략적으로 도시한 공정도이고, 도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따라 검사 단계에서 복수 개의 단위 전극을 촬영하여 복수 개의 단위 전극 사이의 간격을 측정하는 영상을 개략적으로 도시한 구성도이다.

도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 검사 단계(S5)는 분리막(100)에 접합된 복수 개의 단위 전극(110) 사이의 간격(L1)을 측정하는 단계일 수 있다.

복수 개의 단위 전극(110)이 적층되는 분리막(100)의 길이 방향을 X축 방향이라고 할 때, 검사 단계(S5)는 X축 방향을 기준으로 분리막(100)에 접합된 복수 개의 단위 전극(110) 중 하나의 전극(110a)과 상기 하나의 전극(110a)에 인접한 다른 하나의 전극(110b) 사이의 간격(L1)을 실시간으로 검사하는 단계일 수 있다.

도 3을 참조하여 검사 단계(S5)는 분리막(100)에 접합된 복수 개의 단위 전극(110)을 평면에서 촬영한 영상을 통해 복수 개의 단위 전극(110)이 배열된 간격(L1)을 검사할 수 있다.

상기 피드백 단계(S6)는 검사 단계(S5)에서 측정된 간격(L1)의 크기와 기 설정된 간격의 크기에 차이가 있을 때, 적층 단계(S3)에서 복수 개의 단위 전극(110)을 분리막(100)에 적층하는 적층 시간을 변경(Gripper offset 값 변경)하여 분리막(100)에 접합되는 복수 개의 단위 전극(110) 사이의 간격을 조정하는 단계일 수 있다.

상술한 바와 같이 본 발명은 검사 단계(S5)에서 분리막(100)에 복수 개의 단위 전극(110)을 라미네이션을 통해 접합한 후 분리막(100)을 파이널 커팅하기 전에 분리막(100)에 접합된 복수 개의 단위 전극(110) 사이의 간격을 검사할 수 있다.

만약, 파이널 커팅 후에 검사를 하는 경우, 라미네이션 등의 압력과 고열에 의해 분리막(100)이 연신되는 등의 원인으로 분리막(100)에 접합된 복수 개의 단위 전극(110)의 위치 오차가 발생하는 것을 막기 어려울 수 있다. 본원발명은 파이널 커팅 전에 피드백 단계(S6)를 통해 이러한 위치 오차를 바로 잡을 수 있다.

검사 단계(S5) 및 피드백 단계(S6) 이후에 복수 개의 단위 전극(110)이 적층된 분리막(100)을 파이널 커팅하여 기본단위체(200)를 제조하는 기본단위체 형성 단계(S7)를 더 포함할 수 있다.

그리고 기본단위체 형성 단계(S7) 이후에 기본단위체(200)의 불량을 검사하는 기본단위체 검사 단계(S8)를 더 포함할 수 있다.

기본단위체 검사 단계(S8)는 기본단위체(200)의 양극과 음극의 합선(Short) 상태를 검사하는 합선 검사 단계(S8-1)를 포함할 수 있다.

합선 검사 단계(S8-1) 이후에 합선 검사 단계(S8-1)에서 불량이 검사되지 않은 기본단위체(200)는 기본단위체(200) 상에서 분리막(100) 위에 전극(110)이 적층된 위치를 검사하는 조립 검사 단계(S8-2)를 더 포함할 수 있다.

또한, 본 발명의 제1 실시예는 합선 검사 단계(S8-1)에서 합선 불량이 발견된 불량 기본단위체를 별도로 배출할 수있는 불량 배출 단계를 더 포함할 수 있다.

도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따라 기본단위체 검사 단계(S8)에서 복수 개의 기본단위체를 촬영하여 복수 개의 기본단위체 상에서 분리막의 모서리와 전극의 모서리 사이의 간격을 측정하는 영상을 개략적으로 도시한 구성도이다.

도 4에 도시된 바와 같이, 조립 검사 단계(S8-2)는 기본단위체(200)를 평면에서 실시간으로 촬영한 영상을 통해 분리막(100)의 모서리와 전극(110)의 모서리사이의 간격(L2)을 검사할 수 있다.

또는, 조립 검사 단계(S8-2)에서 기본단위체(200)를 평면에서 실시간으로 촬영한 영상을 통해 분리막(100)의 테두리와 전극(110)의 테두리 사이의 간격을 검사할 수도 있다.

상기 조립 검사 단계(S8-2)에서 측정된 기본단위체(200) 상에서 분리막(100) 위에 전극(110)이 적층된 위치가 기 설정된 위치와 차이가 있을 때, 기본단위체 형성 단계(S7)에서 분리막(100)을 커팅 하는 파이널 커팅 시간을 변경하여 기본단위체(200) 상에서 분리막(100) 위에 전극(110)이 적층된 위치를 조정하는 조립 검사 피드백 단계를 더 포함할 수 있다.

이와 같이, 분리막(100)의 파이널 커팅 전과 후에 분리막(100)에 적층된 단위 전극(110)의 위치를 두번에 걸쳐 검사하는 이중 검사로 불량 전극조립체의 검출 기능을 극대화하는 효과가 있다.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 제2 실시예에 따른 전극조립체의 제조 장치를 상세히 설명한다.

도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 전극조립체의 제조 장치의 주요부를 개략적으로 도시한 구성도이다.

도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 전극조립체의 제조 장치는 권취된 전극(110) 및 분리막(100)이 권출되는 권출부(10), 권출되는 상기 전극(110)을 단위 전극으로 커팅하는 전극 커팅부(20), 권출되는 상기 분리막(100)에 커팅된 상기 전극(110)이 적층된 채로 이송시키는 이송부(미도시), 상기 전극(110)과 상기 분리막(100)을 가압하여 접합시키는 라미네이션부(30), 상기 분리막(100)에 접합된 복수 개의 상기 전극(110)의 사이 간격을 검사하는 제1 검사부(40) 및 상기 전극(110)과 접합된 상기 분리막(100)을 커팅하여 기본단위체(200)를 형성하는 파이널 커팅부(50)를 포함할 수 있다. 이송부는 일례로 컨베이어 등이 사용될 수 있다.

제1 검사부(40)는 라미네이션부(30)와 파이널 커팅부(50)의 사이에 형성되어 라미네이션부(30)에서 가압되어 분리막(100)에 접합된 복수 개의 전극(110)을 평면에서 촬영할 수 있다.

그리고 촬영된 영상을 통해 복수 개의 전극(110) 중 서로 인접한 전극 사이의 거리를 측정할 수 있다.

라미네이션부(30)와 파이널 커팅부(50)의 사이에서 라미네이션된 복수의 전극(110) 사이의 거리를 측정하기 때문에 고열과 압력에 의해 분리막(100)이 연신되어 복수 개의 전극(110) 사이의 거리가 변하는 것을 파이널 커팅부(50)에서 분리막(100)을 커팅하기 전에 파악할 수 있다.

제1 검사부(40)에서 복수 개의 전극(110) 사이의 거리가 기 설정된 거리와 차이가 생길 경우 전극 커팅부(20)에서 커팅된 전극(110)을 분리막(100)에 적층하는 적층 시간을 조정하여 라미네이션된 복수 개의 전극(110) 사이의 거리를 기설정된 거리로 조정할 수 있다.

그리고 파이널 커팅부(50)에서 분리막(100)을 커팅하여 기본단위체(200)를 제작하면 상기 기본단위체(200) 상에서 분리막(100)과 전극(110) 사이의 간격을 검사하는 제2 검사부(60)를 더 포함할 수 있다.

제2 검사부(60)는 기본단위체(200)를 평면에서 촬영한 영상으로 분리막(100)의 모서리와 전극(110)의 모서리의 사이 거리(L2)를 측정하거나 분리막(100)의 테두리와 전극(110)의 테두리의 사이 거리(L2)를 측정할 수 있다.

제2 검사부(60)에서 측정한 기본단위체(200) 상에서 분리막(100)과 전극(110)의 사이 거리가 기 설정된 거리와 차이가 있을 때에는 파이널 커팅부(50)에서 분리막(100)을 커팅하는 시간을 조정하여 기본단위체(200) 상에서 분리막(100)과 전극(110)의 사이 거리를 조정할 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 분리막에 전극을 적층하는 시간의 조정을 통해 분리막에 라미네이션된 복수 개의 전극 사이의 간격을 조정할 수 있어 라미네이션에 의한 분리막에 적층된 전극의 위치 불량을 극소화하는 효과가 있다.

이상과 같이 본 발명에 따른 전극조립체의 제조 방법 및 그 제조 장치를 예시된 도면을 참고하여 설명하였으나, 본 발명은 이상에서 설명된 실시예와 도면에 의해 한정되지 않으며, 특허청구범위 내에서 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자들에 의해 다양한 실시가 가능하다.

10: 권출부
20: 전극 커팅부
30: 라미네이션부
40: 제1 검사부
50: 파이널 커팅부
60: 제2 검사부
100: 분리막
110: 전극
200: 기본단위체

Claims

권취된 전극 및 분리막을 권출하는 언와인딩 단계(S1);
상기 전극을 복수 개의 단위 전극으로 커팅하는 전극 커팅 단계(S2);
상기 분리막 위에 복수 개의 상기 단위 전극을 적층하는 적층 단계(S3);
복수 개의 상기 단위 전극을 가압하여 상기 분리막에 접합하는 라미네이션 단계(S4);
상기 분리막에 접합된 복수 개의 상기 단위 전극 사이의 간격을 측정하는 검사 단계(S5); 및
상기 검사 단계에서 측정된 간격의 크기와 기 설정된 간격의 크기에 차이가 있을 때, 상기 적층 단계(S3)에서 복수 개의 상기 단위 전극을 상기 분리막에 적층하는 적층 시간을 변경하여 상기 분리막에 접합되는 복수 개의 상기 단위 전극 사이의 간격을 조정하는 피드백 단계(S6); 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 제조 방법.
청구항 1에 있어서,
상기 검사 단계(S5) 이후에 복수 개의 상기 단위 전극이 적층된 상기 분리막을 파이널 커팅하여 기본단위체를 제조하는 기본단위체 형성 단계(S7)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 제조 방법.
청구항 2에 있어서,
상기 기본단위체의 불량을 검사하는 기본단위체 검사 단계(S8)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 제조 방법.
청구항 3에 있어서,
상기 기본단위체 검사 단계(S8)에서 불량으로 판별된 기본단위체를 별도로 배출하는 불량 배출 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 제조 방법.
청구항 3에 있어서,
상기 기본단위체 검사 단계(S8)는 상기 기본단위체의 양극과 음극의 합선(short) 상태를 검사하는 합선 검사 단계(S8-1)를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 제조 방법.
청구항 5에 있어서,
상기 합선 검사 단계(S8-1) 이후에 상기 기본단위체 상에서 상기 분리막 위에 상기 전극이 적층된 위치를 검사하는 조립 검사 단계(S8-2)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 제조 방법.
청구항 6에 있어서,
상기 조립 검사 단계(S8-2)는 상기 기본단위체를 평면에서 실시간으로 촬영한 영상을 통해 상기 분리막의 모서리와 상기 전극의 모서리 사이의 간격을 검사하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 제조 방법.
청구항 6에 있어서,
상기 조립 검사 단계(S8-2)는 상기 기본단위체를 평면에서 실시간으로 촬영한 영상을 통해 상기 분리막의 테두리와 상기 전극의 테두리 사이의 간격을 검사하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 제조 방법.
청구항 1에 있어서,
상기 검사 단계(S5)는 상기 분리막에 접합된 복수 개의 상기 단위 전극을 평면에서 촬영한 영상을 통해 복수 개의 상기 단위 전극이 배열된 간격을 검사하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 제조 방법.
청구항 1에 있어서,
복수 개의 상기 단위 전극이 적층되는 상기 분리막의 길이 방향을 X축 방향이라고 할 때,
상기 검사 단계(S5)는,
상기 X축 방향을 기준으로, 상기 분리막에 접합된 복수 개의 상기 단위 전극 중 하나의 전극과 상기 하나의 전극에 인접한 다른 하나의 전극 사이의 간격을 실시간으로 검사하는 것을 특징으로 하는 전극조립체의 제조 방법.
권취된 전극(110) 및 분리막(100)이 권출되는 권출부(10);
권출되는 상기 전극(110)을 단위 전극으로 커팅하는 전극 커팅부(20);
권출되는 상기 분리막(100)에 커팅된 상기 전극(110)이 적층된 채로 이송시키는 이송부;
상기 전극(110)과 상기 분리막(100)을 가압하여 접합시키는 라미네이션부(30);
상기 분리막(100)에 접합된 복수 개의 상기 전극(110)의 사이 간격을 검사하는 제1 검사부(40); 및
상기 전극(110)과 접합된 상기 분리막(100)을 커팅하여 기본단위체(200)를 형성하는 파이널 커팅부(50); 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체 제조 장치.
청구항 11에 있어서,
상기 기본단위체(200) 상에서 분리막(100)과 전극(110) 사이의 간격을 검사하는 제2 검사부(60)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전극조립체 제조 장치.
청구항 11에 있어서,
상기 제1 검사부(40)는 상기 분리막(100)과 복수 개의 상기 전극(110)을 평면에서 촬영하는 것을 특징으로 하는 전극조립체 제조 장치.
청구항 12에 있어서,
상기 제2 검사부(60)는 상기 기본단위체(200)를 평면에서 촬영하는 것을 특징으로 하는 전극조립체 제조 장치.