KR20200102032A - 열화 보상 장치 및 이를 포함하는 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

표시 장치는 표시부를 포함한다. 표시부는 제1 영역에 위치하는 제1 화소, 및 제1 영역과 다른 제2 영역에 위치하는 제2 화소를 포함한다. 열화 보상부는, 제1 화소의 제1 누적 사용시간에 따른 휘도 감소율을 정의한 제1 열화 곡선에 기초하여 제1 화소에 대한 제1 계조값을 보상하여 제1 보상된 계조값을 생성하고, 제2 화소의 제2 누적 사용시간에 따른 휘도 감소율을 정의한 제2 열화 곡선에 기초하여 제2 화소에 대한 제2 계조값을 보상하여 제2 보상된 계조값을 생성한다. 데이터 구동부는, 제1 보상된 계조값에 기초하여 제1 데이터 신호를 생성하여 제1 화소에 제공하고, 제2 보상된 계조값에 기초하여 제2 데이터 신호를 생성하여 제2 화소에 제공하는 데이터 구동부를 포함한다. 여기서, 제2 영역의 투과도는 제1 영역의 투과도보다 크다.

Description

열화 보상 장치 및 이를 포함하는 표시 장치{DEGRADATION COMPENSATION DEVICE AND DISPLAY DEVICE INCLUDING THE SAME}
본 발명은 열화 보상 장치 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다.
유기발광 표시장치는 전류 또는 전압에 의해 휘도가 제어되는 유기발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode, OLDE) 및 이를 구동하는 박막 트랜지스터를 이용한다.
유기발광 다이오드 및 박막 트랜지스터의 열화에 의해 화소가 열화된다. 화소에 일정한 전압을 인가하더라도 유기발광 다이오드 및 박막 트랜지스터의 열화에 따라 화소에 흐르는 전류가 감소하고, 이에 따라 화소의 휘도가 저하된다.
표시 장치는 화소의 누적 사용시간을 업데이트하며, 누적 사용시간에 기초하여 화소에 대응하는 계조값을 보상함으로써, 화소의 열화를 보상할 수 있다.
최근 표시 장치는 표시 패널을 투과하여 광을 감지하는 광학 센서를 포함하고, 표시 패널은 광학 센서의 감도를 향상시키기 위해 부분적으로 다른 해상도를 가질 수 있다.
다만, 해상도의 차이에 의한 휘도 차이를 보상하기 위해, 상대적으로 해상도가 낮은 영역 내 화소에 상대적으로 높은 전류가 제공되나, 이에 의해 해당 화소의 열화가 가속화되며, 열화 보상이 제대로 이루어지지 않을 수 있다.
해결하고자 하는 기술적 과제는, 부분적으로 다른 해상도를 가지는 표시 장치 내 화소의 열화를 보다 정확하게 보상할 수 있는 열화 보상 장치 및 표시 장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는, 제1 영역에 위치하는 제1 화소, 및 상기 제1 영역과 다른 제2 영역에 위치하는 제2 화소를 포함하는 표시부; 상기 제1 화소의 제1 누적 사용시간에 따른 휘도 감소율을 정의한 제1 열화 곡선에 기초하여 상기 제1 화소에 대한 제1 계조값을 보상하여 제1 보상된 계조값을 생성하고, 상기 제2 화소의 제2 누적 사용시간에 따른 휘도 감소율을 정의한 제2 열화 곡선에 기초하여 상기 제2 화소에 대한 제2 계조값을 보상하여 제2 보상된 계조값을 생성하는 열화 보상부; 및 상기 제1 보상된 계조값에 기초하여 제1 데이터 신호를 생성하여 상기 제1 화소에 제공하고, 상기 제2 보상된 계조값에 기초하여 제2 데이터 신호를 생성하여 제2 화소에 제공하는 데이터 구동부를 포함하고, 상기 제2 영역의 투과도는 상기 제1 영역의 투과도보다 크다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시부는, 상기 제2 영역에서 상기 제2 화소 및 인접 화소 사이에 위치하며 입사되는 광의 적어도 일부를 투과시키는 투과 영역을 포함하고, 상기 인접 화소는 상기 제2 영역에서 상기 제2 화소에 인접하여 배치되며, 상기 제2 영역의 해상도는 상기 제1 영역의 해상도보다 낮을 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 장치는, 상기 표시부의 상기 제2 영역과 중첩하여 배치되어 상기 제2 영역을 투과하는 광을 감지하는 광학 센서를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 계조값 및 상기 제2 계조값이 동일한 경우, 상기 제1 데이터 신호의 전압 레벨은 상기 제2 데이터 신호의 전압 레벨과 다르며, 상기 제1 데이터 신호의 전압 레벨 및 상기 제2 데이터 신호의 전압 레벨 간의 차이는 시간 경과에 따라 커질 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 화소 및 상기 제2 화소 각각은, 적어도 하나의 트랜지스터 및 상기 적어도 하나의 트랜지스터를 통해 제공되는 구동 전류에 대응하여 발광하는 발광 소자를 포함하고, 상기 제2 데이터 신호에 대응하여 상기 제2 화소에 흐르는 제2 구동 전류는, 상기 제1 데이터 신호에 기초하여 상기 제1 화소에 흐르는 제1 구동 전류보다 클 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 보상부는, 제1 룩업 테이블을 이용하여 제1 계조값을 보상하고, 제2 룩업 테이블을 이용하여 제2 계조값을 보상하며, 상기 제1 룩업 테이블은 상기 제1 열화 곡선에 대응하여 상기 제1 누적 사용시간에 따른 제1 계조 보상값을 포함하고, 상기 제2 룩업 테이블은 상기 제2 열화 곡선에 대응하여 상기 제2 누적 사용시간에 따른 제2 계조 보상값을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 열화 곡선에 대한 접선의 기울기를 나타내는 제2 열화 가속 계수는, 상기 제1 열화 곡선에 대한 접선의 기울기를 나타내는 제1 열화 가속 계수보다 클 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 보상부는, 상기 제1 보상된 계조값을 누적하여 상기 제1 누적 사용시간을 산출하고, 상기 제2 보상된 계조값을 누적하여 상기 제2 누적 사용시간을 산출하는 누적기; 상기 제1 및 제2 누적 사용시간들 및 상기 제1 및 제2 룩업 테이블들을 저장하는 메모리 장치; 및 상기 제1 누적 사용시간 및 상기 제1 룩업 테이블에 기초하여 상기 제1 계조 보상값을 획득하여 상기 제1 계조값을 보상하며, 상기 제2 누적 사용시간 및 상기 제2 룩업 테이블에 기초하여 상기 제2 계조 보상값을 획득하여 상기 제2 계조값을 보상하는 보상기를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 기준 시간동안 상기 제1 계조값 및 상기 제2 계조값이 동일한 경우, 상기 기준 시간동안 상기 제2 누적 사용시간의 변화량은 상기 제1 누적 사용시간의 변화량보다 클 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 계조값 및 상기 제2 계조값은 영상 데이터에 포함되고, 상기 보상기는, 상기 영상 데이터 내 상기 제1 계조값의 위치 정보에 기초하여 상기 제1 룩업 테이블을 선택하고, 상기 영상 데이터 내 상기 제2 계조값의 위치 정보에 기초하여 상기 제2 룩업 테이블을 선택하는 선택기; 및 상기 제1 룩업 테이블로부터 획득한 제1 계조 보상값을 상기 제1 계조값에 합 연산하여 상기 제1 보상된 계조값을 산출하고, 상기 제2 룩업 테이블로부터 획득한 제2 계조 보상값을 상기 제2 계조값에 합 연산하여 상기 제2 보상된 계조값을 산출하는 연산기를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 화소는 상호 다른 색으로 발광하는 서브 화소들을 포함하고, 상기 제1 룩업 테이블은 상기 서브 화소들의 열화 곡선들에 각각 대응하는 서브 룩업 테이블들을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 룩업 테이블은 대표 계조값에 대하여 설정되고, 상기 대표 계조값은 상기 제2 계조값의 계조 범위 내 하나의 계조값이며, 상기 열화 보상부는, 계조 계수에 기초하여 상기 제2 계조값을 보상하되, 상기 계조 계수는, 상기 대표 계조값을 기준으로 설정된 열화 보상 비율일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 보상부는 계조값별로 설정된 상기 계조 계수를 포함하는 제1 계수 룩업 테이블을 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 룩업 테이블은 복수의 대표 계조값들에 대한 복수의 서브 룩업 테이블들을 포함하며, 상기 열화 보상부는, 상기 대표 계조값들 중 상기 제2 계조값에 인접한 제1 및 제2 대표 계조값들에 대응하는 제1 및 제2 서브 룩업 테이블들을 상기 서브 룩업 테이블들로부터 선택하고, 상기 제2 누적 사용시간에 기초하여 상기 제1 및 제2 서브 룩업 테이블들 각각으로부터 계조 보상값을 획득하며, 상기 제1 서브 룩업 테이블로부터 획득한 계조 보상값 및 상기 제2 서브 룩업 테이블로부터 획득한 계조 보상값을 보간하여 상기 제2 계조 보상값을 산출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 보상부는, 외부로부터 수신한 온도 정보에 기초하여 온도 계수를 결정하고, 상기 온도 계수에 기초하여 상기 제2 계조값을 보상할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 보상부는 온도별로 설정된 상기 온도 계수를 포함하는 제2 계수 룩업 테이블을 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 룩업 테이블은 온도별로 설정된 복수의 서브 룩업 테이블들을 포함하고, 상기 열화 보상부는, 외부로부터 수신한 온도 정보에 기초하여 서브 룩업 테이블들 중 하나의 서브 룩업 테이블을 선택하고, 상기 제2 누적 사용시간에 기초하여 상기 선택된 하나의 서브 룩업 테이블로부터 상기 제2 계조 보상값을 획득할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 화소 및 상기 제2 화소는 상호 동일한 화소 구조를 가지고, 상기 제2 영역은 상기 제1 영역의 휘도와 동일한 휘도를 가질 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 열화 보상 장치는, 영상 데이터의 제1 영역 내에 위치하는 제1 계조값을 누적하여 제1 누적 계조값을 산출하고, 상기 영상 데이터의 제2 영역 내에 위치하는 제2 계조값을 누적하여 제2 누적 계조값을 산출하는 누적부; 상기 제1 누적 계조값에 따른 제1 계조 보상값을 포함하는 제1 룩업 테이블, 및 상기 제2 누적 계조값에 따른 제2 계조 보상값을 포함하는 제2 룩업 테이블을 저장하는 저장부; 상기 제1 룩업 테이블에 기초하여 상기 제1 계조값을 보상하고, 상기 제2 룩업 테이블에 기초하여 상기 제2 계조값을 보상하는 보상부를 포함하고, 상기 제1 계조값 및 상기 제2 계조값은 동일한 색상에 대응한다.
일 실시예에 의하면, 기준 시간동안 상기 제1 계조값 및 상기 제2 계조값이 동일한 경우, 상기 기준 시간동안 상기 제2 누적 계조값의 변화량은 상기 제1 누적 계조값의 변화량보다 클 수 있다.
본 발명에 따른 열화 보상 장치 및 표시 장치는 상대적으로 해상도가 다른 영역들에 위치하는 화소들에 대해, 열화 가속 계수가 상호 다르고 독립적인 열화 곡선들을 이용하여 열화 보상을 각각 수행함으로써, 보다 정확하게 화소의 열화를 보상할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 I-I'선을 따라 자른 표시 장치의 일 예를 나타내는 단면도이다.
도 3은 도 2의 표시 장치에 포함된 표시 패널의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 4는 도 3의 센싱 영역에 위치하는 화소들의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 5는 도 4의 화소들에 인가되는 데이터 신호의 일 예를 나타내는 파형도이다.
도 6은 도 4의 화소들의 열화 특성을 나타내는 도면이다.
도 7은 도 4의 화소들의 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 8은 도 3의 표시 패널에 포함된 열화 보상부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 9a 및 도 9b는 도 4의 화소들 각각의 열화 특성을 나타내는 도면이다.
도 10a 및 도 10b는 도 3의 표시 패널에 포함된 열화 보상부의 다른 예를 나타내는 블록도들이다.
도 11은 도 10a의 열화 보상부에서 사용되는 계조 계수의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 12a 및 도 12b는 도 3의 표시 패널에 포함된 열화 보상부의 또 다른 예를 나타내는 블록도들이다.
도 13은 도 12a의 열화 보상부에서 사용되는 온도 계수의 일 예를 나타내는 도면이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 여러 실시 예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예들에 한정되지 않는다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다. 따라서 앞서 설명한 참조 부호는 다른 도면에서도 사용할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(DD)는 표시 영역(DA) 및 비표시 영역(NDA)을 포함한다. 표시 영역(DA)은 영상이 표시되는 영역이고, 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)의 가장자리를 따라 배치될 수 있다. 다만, 비표시 영역(NDA)은 이에 제한되는 것은 아니며, 예를 들어, 비표시 영역(NDA)의 표시 영역(DA)에 일측에 배치될 수 있다.
실시예들에서, 표시 영역(DA)은 센싱 영역(SA) 및 비센싱 영역(NSA)을 포함할 수 있다. 표시 장치(DD)는 센싱 영역(SA)을 통해 영상을 표시할 뿐만 아니라, 전방에서 입사되는 광을 감지할 수 있다. 비센싱 영역(NSA)은 센싱 영역(SA)을 에워쌀 수 있으나, 이는 예시적인 것으로 이에 한정되는 것은 아니다. 도 1에서 센싱 영역(SA)은 원형의 평면 형상을 가지고, 표시 영역(DA) 내 일측에 배치되는 것으로 도시되어 있으나, 센싱 영역(SA)이 이에 한정되는 것은 아니다. 센싱 영역(SA)의 형상, 크기 및 배치 위치는, 후술하는 센서에 따라 다양하게 변형될 수 있다.
도 2는 도 1의 I-I'선을 따라 자른 표시 장치의 일 예를 나타내는 단면도이다.
이하에서는, 표시 장치(DD)에서 영상이 표시되는 표시면이 위치하는 방향을 상부 방향으로, 표시면에 반대되는 면이 위치하는 방향을 하부 방향으로 정의하고, 이하, 표시 장치(DD)를 설명하기로 한다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 표시 장치(DD)는 표시 패널(DP), 편광판(POL), 블랙 매트릭스(BM), 윈도우(WD) 및 광학 센서(OS)를 포함할 수 있다.
표시 패널(DP)은 외부에서 제공되는 영상 데이터에 기초하여 영상을 표시할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(DP)은 유기발광소자(organic light emitting diode)를 포함하는 유기발광 표시패널일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
편광판(POL)은 표시 패널(DP)의 상부에 배치되고, 외부에서 입사되는 광을 편광시켜 표시 장치(DD) 내부로 입사된 광이 반사되어 외부로 방출되는 것을 억제할 수 있다. 즉, 편광판(POL)은 외부에서 입사되는 광에 의하여 표시 패널(DP)의 시인성이 저하되는 것을 방지할 수 있다.
윈도우(WD)는 편광판(POL)의 상부에 배치되고, 외부로부터 가해지는 충격으로부터 하부 구조물(예를 들어, 표시 패널(DP))을 보호할 수 있다. 윈도우(WD)는 광학 접착제(Optical Clear Adhesive; OCA)를 통해 편광판(POL) 상에 부착될 수 있다.
블랙 매트릭스(BM)는 비표시 영역(NDA)에서, 윈도우(WD) 및 표시 패널(DP) 사이에 배치될 수 있다. 블랙 매트릭스(BM)는 외부로부터 입사되는 광을 흡수하며, 비표시 영역(NDA)에 배치되는 하부 구조물(예를 들어, 표시 패널(DP))이 외부에서 시인되는 것을 방지할 수 있다.
광학 센서(OS)는 센싱 영역(SA)에서 표시 패널(DP)의 하부에 배치될 수 있다. 광학 센서(OS)는 표시 패널(DP)의 센싱 영역(SA)을 투과하는 광(RAY)을 감지할 수 있다. 예를 들어, 광학 센서(OS)는 적외선 센서로 구현되고, 표시 패널(DP)의 센싱 영역(SA)을 투과하는 적외선 광(즉, 적외선 파장 대역의 광)을 감지할 수 있다. 광학 센서(OS)에서 감지된 광은 사용자의 생체 정보(예를 들어, 홍채, 지문 등)을 인증하는데 이용될 수 있다.
실시예들에서, 표시 패널(DP)의 센싱 영역(SA)에서의 투과도(즉, 광 투과도, 또는 투과율)는 비센싱 영역(NSA)에서의 투과도 보다 높을 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(DP)의 센싱 영역(SA)에는 광을 투과시키는 투과 영역(또는, 투명 영역(transparent area))를 포함할 수 있고, 이에 따라, 표시 패널(DP)의 센싱 영역(SA)에서의 해상도(또는, 화소 밀도)는 비센싱 영역(NSA)에서의 해상도보다 낮을 수 있다. 센싱 영역(SA)의 해상도에 대해서는 도 4를 참조하여 후술하기로 한다.
센싱 영역(SA)의 해상도가 비센싱 영역(NSA)의 해상도보다 낮음에 따라, 동일한 휘도로 영상을 표시하기 위해, 센싱 영역(SA) 내 화소에 흐르는 전류는 비센싱 영역(NSA)의 화소에 흐르는 전류보다 클 수 있다. 이 경우, 센싱 영역(SA) 내 화소는 비센싱 영역(NSA)의 화소 보다 빠르게 열화될 수 있으며, 센싱 영역(SA) 내 화소의 열화 특성은 비센싱 영역(NSA)의 화소의 열화 특성과 다르게 나타날 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치(DD)(또는, 표시 패널(DP))은 센싱 영역(SA) 내 화소 및 비센싱 영역(NSA)의 화소에 대해, 상호 다른 열화 곡선들(또는, 열화 보상 곡선들)을 이용하여 열화 보상을 각각 수행할 수 있다.
도 3은 도 2의 표시 장치에 포함된 표시 패널의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 3을 참조하면, 표시 패널(DP)은 표시부(100), 주사 구동부(200)(또는, scan driver), 발광 구동부(300)(또는, emission driver), 데이터 구동부(400)(또는, data driver), 타이밍 제어부(500)(또는, timing controller), 및 열화 보상부(600)를 포함할 수 있다.
표시부(100)는 주사선들(SL1 내지 SLn, 단, n은 양의 정수), 발광선들(EL1 내지 ELn), 데이터선들(DL1 내지 DLm, 단, m은 양의 정수), 및 화소(PX)를 포함할 수 있다. 화소(PX)는 주사선들(SL1 내지 SLn), 발광선들(EL1 내지 ELn) 및 데이터선들(DL1 내지 DLm)에 의해 구획된 영역(예를 들어, 화소 영역)에 배치될 수 있다.
화소(PX)는 주사선들(SL1 내지 SLn) 중 하나, 발광선들(EL1 내지 ELn) 중 하나, 및 데이터선들(DL1 내지 DLm) 중 하나에 연결될 수 있다. 예를 들어, 화소(PX)는 주사선(SLi), 발광선(ELi), 및 데이터선(DLj)에 연결될 수 있다(단, i 및 j 각각은 양의 정수).
화소(PX)는 주사선(SLi)을 통해 제공되는 주사 신호 및 발광선(ELi)을 통해 제공되는 발광 신호에 응답하여, 데이터선(DLj)을 통해 제공되는 데이터 신호에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다. 화소(PX)의 구체적인 구성 및 동작에 대해서는 도 6을 참조하여 후술하기로 한다.
도 1 및 도 2를 참조하여 설명한 바와 같이, 센싱 영역(SA) 내 해상도는 비센싱 영역(NSA) 내 해상도에 비해 상대적으로 낮을 수 있다.
주사 구동부(200)는 주사 제어 신호(SCS)에 기초하여 주사 신호를 생성하고, 주사 신호를 주사선들(SL1 내지 SLn)에 순차적으로 제공할 수 있다. 여기서, 주사 제어 신호(SCS)는 개시 신호(또는, 스캔 개시 신호), 클럭 신호들(또는, 스캔 클럭 신호들) 등을 포함하고, 타이밍 제어부(500)로부터 제공될 수 있다. 예를 들어, 주사 구동부(200)는 클럭 신호들을 이용하여 개시 신호에 대응하는 주사 신호를 순차적으로 생성 및 출력하는 시프트 레지스터(shift register)를 포함할 수 있다. 주사 구동부(200)는 표시부(100)에 형성되거나, IC로 구현되어 테이프 캐리어 패키지 형태로 표시부(100)에 연결될 수 있다.
발광 구동부(300)는 발광 제어 신호(ECS)에 기초하여 발광 신호를 생성하고, 발광 신호를 발광선들(EL1 내지 ELn)에 제공할 수 있다. 여기서, 발광 제어 신호(ECS)는 발광 개시 신호, 발광 클럭 신호들 등을 포함할 수 있다. 예를 들어, 발광 구동부(300)는 발광 클럭 신호들을 이용하여 발광 개시 신호에 대응하는 발광 신호를 순차적으로 생성 및 출력할 수 있다. 발광 구동부(300)는 표시부(100)에 형성되거나, IC로 구현되어 테이프 캐리어 패키지 형태로 표시부(100)에 연결될 수 있다. 또한, 발광 구동부(300)는 주사 구동부(200)와 하나의 IC로 구현될 수도 있다.
데이터 구동부(400)는 열화 보상부(600)로부터 제공되는 보상된 데이터(DATA3)에 기초하여 데이터 신호들을 생성하고, 데이터 신호들을 표시부(100)(또는, 화소(PX)에 제공할 수 있다. 데이터 구동부(400)는 테이프 캐리어 패키지 형태로 표시부(100)에 연결될 수 있다. 또한, 데이터 구동부(400)는 주사 구동부(200)와 하나의 IC로 구현될 수도 있다.
타이밍 제어부(500)는 외부(예를 들어, 그래픽 프로세서)로부터 입력 영상 데이터(DATA1) 및 제어 신호를 수신하고, 제어 신호에 기초하여 주사 제어 신호(SCS) 및 발광 제어 신호(ECS)를 생성하며, 입력 영상 데이터(DATA1)를 변환하여 영상 데이터(DATA2)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 타이밍 제어부(500)는 RGB 포맷의 입력 영상 데이터(DATA1)를 표시부(100) 내 화소 배열에 부합하는 RGBG 포맷의 영상 데이터(DATA2)로 변환할 수 있다.
열화 보상부(600)는 영상 데이터(DATA2)에 기초하여 화소(PX)의 열화도를 산출하며, 화소(PX)의 열화도에 기초하여 영상 데이터(DATA2)를 보상하여 보상된 데이터(DATA3)(또는, 열화 보상된 데이터)를 생성할 수 있다.
예를 들어, 열화 보상부(600)는 영상 데이터(DATA2)에 포함된 계조값(즉, 화소(PX)에 대응하는 계조값)을 누적하여 화소(PX)의 열화도(또는, 누적 사용시간, 스트레스)를 산출하며, 기 설정된 열화 곡선 및 화소(PX)의 열화도에 기초하여 계조값을 보상하여 보상된 계조값을 산출할 수 있다. 여기서, 열화 곡선은 열화도에 따른 휘도 감소율을 나타내고, 보상된 계조값은 보상된 데이터(DATA3)에 포함될 수 있다.
실시예들에서, 열화 보상부(600)는 비센싱 영역(NSA) 내 화소(PX)에 대응하는 제1 계조값 및 센싱 영역(SA) 내 화소(PX)에 대응하는 제2 계조값을 다른 열화 곡선들을 이용하여 보상할 수 있다.
예를 들어, 열화 보상부(600)는 비센싱 영역(NSA) 내 화소(PX)에 대응하는 제1 계조값을 제1 열화 곡선(또는, 제1 열화 곡선에 대응하는 열화 보상 계산식, 룩업 테이블)을 이용하여 보상하고, 센싱 영역(SA) 내 화소(PX)에 대응하는 제2 계조값을 제2 열화 곡선(또는, 제2 열화 곡선에 대응하는 열화 보상 계산식, 룩업 테이블)을 이용하여 보상할 수 있다.
열화 보상부(600)의 보다 구체적인 구성 및 동작에 대해서는 도 8을 참조하여 후술하기로 한다.
한편, 표시부(100)에는 제1 및 제2 전원전압들(VDD, VSS)이 제공될 수 있다. 전원전압들(VDD, VSS)은 화소(PX)의 동작에 필요한 전압들이며, 제1 전원전압(VDD)은 제2 전원전압(VSS)의 전압 레벨 보다 높은 전압 레벨을 가질 수 있다. 또한, 도 1에 도시되지 않았으나, 표시부(100)에는 초기화 전압이 인가될 수 있으며, 초기화 전압은 화소(PX)에 저장된 이전 데이터 신호를 초기화하는데 이용될 수 있다.
한편, 도 3에서, 타이밍 제어부(500) 및 열화 보상부(600)는 상호 분리된 것으로 도시되어 있으나, 이는 타이밍 제어부(500) 및 열화 보상부(600)를 기능에 따라 개념적으로 분리한 것으로, 타이밍 제어부(500) 및 열화 보상부(600)는 하나의 IC로 구현될 수 있다. 또한, 타이밍 제어부(500)는 데이터 구동부(400) 등을 포함하여 구성될 수도 있다.
도 4는 도 3의 센싱 영역에 위치하는 화소들의 일 예를 나타내는 도면이다. 도 4에는 도 3에 도시된 센싱 영역(SA)을 중심으로 표시부(100) 내 화소들(PX1, PX2, PX3)(또는, 서브 화소들)의 배치가 도시되어 있다.
도 4를 참조하면, 표시부(100)는 제1 내지 제3 화소들(PX1, PX2, PX3)을 포함할 수 있다.
제1 내지 제3 화소들(PX1, PX2, PX3)은 표시부(100) 내에서 매트릭스 형태로 배열되며, 상호 다른 색들로 발광할 수 있다.
예를 들어, 제1 화소(PX1)는 제1 색(예를 들어, 적색)으로 발광하고, 제2 화소(PX2)는 제2 색(예를 들어, 녹색)으로 발광하며, 제3 화소(PX3)는 제3 색(예를 들어, 청색)으로 발광할 수 있다.
실시예들에서, 제1 내지 제3 화소들(PX1, PX2, PX3)은 펜타일 형태로 배열될 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 제1 화소(PX1), 제2 화소(PX2), 제3 화소(PX3), 제2 화소(PX2)가, 일 방향을 따라 순차 반복적으로 배치될 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 제1 내지 제3 화소들(PX1, PX2, PX3)은 RGB 스트라이프 형태로 배치될 수도 있다.
실시예들에서, 표시부(100)의 센싱 영역(SA)은 투과 영역(TPA)(또는, 투명 영역)을 포함할 수 있다. 여기서, 투과 영역(TPA)은 광을 투과시키는 영역으로, 화소들(PX1, PX2, PX3) 대신에 투명한 물질을 포함하며, 예를 들어, 투명한 물질은 폴리에틸렌 테레프탈레이트(polyethylene terephthalate, PET), 폴리아크릴레이트(polacrylate), 폴리이미드(polyimide, PI) 및 폴리카보네이트(polycarbonate, PC)등과 같은 수지를 포함할 수 있다.
예를 들어, 비센싱 영역(NSA)에서 제1 내지 제5 행들 각각에는 화소들(PX1, PX2, PX3)에 배치되고, 비센싱 영역(NSA)에서 제1, 제3 및 제5 행들(예를 들어, 홀수번째 행들)에는 화소들(PX1, PX2, PX3)이 배치되며, 비센싱 영역(NSA)에서 제2 및 제4 행들(예를 들어, 짝수번째 행들)에는 화소들(PX1, PX2, PX3) 대신 투과 영역(TPA)이 위치할 수 있다. 도 4에 도시된 투과 영역(TPA)의 위치는 예시적인 것으로 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 투과 영역(TPA)은 제k 및 제k+2 데이터선들(DLk, DLk+2)(단, k는 4보다 큰 정수)에 대응하여 위치하거나, 센싱 영역(SA) 내에서 격차 형태로 배열될 수도 있다. 즉, 투과 영역(TPA)의 배치는 다양하게 변형될 수 있다.
일 실시예에서, 투과 영역(TPA)은 특정 파장의 광만을 투과시키거나 차단하는 컬러 필터 물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 투과 영역(TPA)은 가시광선 파장 대역의 광)은 차단하고 적외선 광(즉, 적외선 파장 대역의 광)만을 투과시키는 필터 물질을 포함할 수 있다.
센싱 영역(SA)은 투과 영역(TPA)을 포함하므로, 센싱 영역(SA)의 투과도는 비센싱 영역(NSA)의 투과도 보다 높고, 센싱 영역(SA)의 해상도는 비센싱 영역(NSA)의 해상도보다 낮을 수 있다.
화소들(PX1, PX2, PX3)이 상호 동일한 휘도로 발광하는 경우, 해상도의 차이에 따라 센싱 영역(SA)의 휘도는 비센싱 영역(NSA)의 휘도보다 낮을 수 있다. 이 경우, 상대적으로 낮은 휘도의 센싱 영역(SA)이 사용자에게 시인될 수 있다.
이를 방지하기 위해, 도 3을 참조하여 설명한 데이터 구동부(400)는 상대적으로 높거나 낮은 데이터 전압을 센싱 영역(SA)의 화소들(PX1, PX2, PX3)에 인가할 수 있다. 이에 따라, 센싱 영역(SA)의 화소들(PX1, PX2, PX3)에는 비센싱 영역(NSA)의 화소들(PX1, PX2, PX3)에 흐르는 구동 전류(또는, 제1 구동 전류)에 비해 상대적으로 높은 구동 전류(또는, 제2 구동 전류)가 흐르게 되고, 센싱 영역(SA)의 휘도는 비센싱 영역(NSA)의 휘도와 같아질 수 있다.
도 5는 도 4의 화소들에 인가되는 데이터 신호의 일 예를 나타내는 파형도이다. 도 5에는 일 프레임(1 FRAME) 동안, 도 4에 도시된 센싱 영역(SA) 내 화소들(PX1, PX2, PX3)에 연결된 하나의 데이터선(예를 들어, 제k 데이터선(DLk))에 인가되는 데이터 신호(Vdata)가 예시적으로 도시되어 있다. 화소들(PX1, PX2, PX3)은 P형 트랜지스터들을 포함하여 구성되고, 화소들(PX1, PX2, PX3)에 대응하는 계조값들은 상호 동일한 것으로 가정한다.
도 3 내지 도 5를 참조하면, 비센싱 영역(NSA)에 데이터 신호가 인가(또는, 기록)되는 기준 시점 및 제1 시점(t1) 사이의 구간과 제2 시점(t2) 및 제3 시점(t3) 사이의 구간에서, 데이터 신호(Vdata)(또는, 제1 데이터 신호)는 제1 전압 레벨(V1)을 가질 수 있다. 센싱 영역(SA)에 데이터 신호가 인가되는 제1 시점(t1) 및 제2 시점(t2) 사이의 구간에서, 데이터 신호(Vdata)(또는, 제2 데이터 신호)는 제2 전압 레벨(V2)을 가질 수 있다. 제2 전압 레벨(V2)은 제1 전압 레벨(V1)과 다르며, 예를 들어, 제1 전압 레벨(V1)보다 특정 레벨(ΔV)만큼 낮을 수 있다. 이에 따라, 센싱 영역(SA) 내 화소들(PX1, PX2, PX3) 각각은 비센싱 영역(NSA) 내 화소들(PX1, PX2, PX3) 각각보다 높은 휘도로 발광할 수 있다.
다만, 상대적으로 높은 구동 전류가 지속적으로 인가됨에 따라, 센싱 영역(SA) 내 화소들(PX1, PX2, PX3)(도 4 참조)의 열화는 가속화되고, 시간 경과에 따라 센싱 영역(SA) 내 휘도는 비센싱 영역(NSA)의 휘도에 비해 보다 빠르게 감소될 수 있다.
도 6은 도 4의 화소들의 열화 특성을 나타내는 도면이다. 도 6에는 도 4에 도시된 비센싱 영역(NSA) 내 화소(PX)에 대한 제1 열화 곡선(CURVE1) 및 센싱 영역(SA) 내 화소(PX)에 대한 제2 열화 곡선(CURVE2)이 도시되어 있다. 제1 및 제2 열화 곡선들(CURVE1, CURVE2) 각각은 화소(PX)의 누적 사용시간(또는, 스트레스)에 따른 휘도 변화(또는, 휘도 감소율)를 나타낸다.
도 6을 참조하면, 제1 누적 사용시간(ST1)에서, 센싱 영역(SA) 내 화소(PX)의 휘도는 비센싱 영역(NSA) 내 화소(PX)의 휘도보다 낮게 나타날 수 있다.
또한, 제1 누적 사용시간(ST1)에서, 제2 열화 곡선(CURVE2)의 제2 접선의 제2 기울기(GRAD2)는 제1 열화 곡선(CURVE1)의 제1 접선의 제1 기울기(GRAD1)보다 클 수 있다. 제2 기울기(GRAD2)는 해당 시점에서 센싱 영역(SA) 내 화소(PX)의 열화 가속 정도를 나타내는 제2 열화 가속 계수(degradation acceleration factor)로 정의될 수 있으며, 유사하게, 제1 기울기(GRAD1)는 해당 시점에서 비센싱 영역(NSA) 내 화소(PX)의 열화 가속 정도를 나타내는 제1 열화 가속 계수로 정의될 수 있다.
즉, 센싱 영역(SA)의 화소들(PX1, PX2, PX3)에 상대적으로 높은 구동 전류를 제공하여, 표시 장치(DD)(또는, 표시부(100)) 전체의 휘도를 균일하게 맞추더라도, 센싱 영역(SA)의 화소들(PX1, PX2, PX3)이 보다 빠르게 열화됨에 따라 센싱 영역(SA)에서의 영상이 고착되는 현상(image sticking)이 발생될 수 있다.
한편, 제2 누적 사용시간(ST2)에서의 비센싱 영역(NSA) 내 화소(PX)의 휘도는 제1 누적 사용시간(ST1)에서의 센싱 영역(SA) 내 화소(PX)의 휘도보다 높게 나타날 수 있다. 여기서, 제2 누적 사용시간(ST2)은 제1 누적 사용시간(ST1)의 약 2배일 수 있다.
즉, 센싱 영역(SA) 내 화소(PX)의 열화가 가속화됨에 따라, 센싱 영역(SA) 내 화소(PX)의 열화 특성은, 비센싱 영역(NSA) 내 화소(PX)의 열화 특성보다 나쁘게 변화될 수 있으며, 이에 따라, 즉, 센싱 영역(SA) 내 화소(PX)의 열화 특성 및 비센싱 영역(NSA) 내 화소(PX)의 열화 특성을 하나의 열화 곡선(예를 들어, 제1 열화 곡선(CURVE1)) 만으로 정의하기 어려울 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치(DD)(또는, 표시 패널(DP))은 제1 및 제2 열화 곡선들(CURVE1, CURVE2)(또는, 이에 대응하는 열화 보상을 위한 룩업 테이블들)을 각각 저장하고, 비센싱 영역(NSA) 내 화소(PX)에 대해 제1 열화 곡선(CURVE1)을 적용하고, 센싱 영역(SA) 내 화소(PX)에 대해 제2 열화 곡선(CURVE2)을 적용하여, 열화 보상을 수행할 수 있다.
도 7은 도 4의 화소들의 일 예를 나타내는 회로도이다. 도 7에는 도 4에 도시된 화소들(PX1, PX2, PX3) 중 어느 하나에 대한 화소 회로가 도시되어 있다. 도 4에 도시된 화소들(PX1, PX2, PX3)은 상호 실질적으로 동일하므로, 화소(PX)를 중심으로 화소들(PX1, PX2, PX3)를 포괄하여 설명하기로 한다.
도 7을 참조하면, 화소(PX)는 제1 내지 제7 트랜지스터들(T1 내지 T7), 스토리지 커패시터(Cst), 및 발광 다이오드(LD)를 포함할 수 있다.
제1 내지 제7 트랜지스터들(T1 내지 T7)은 P형 트랜지스터(예를 들어, PMOS 트랜지스터)일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, 제1 내지 제7 트랜지스터들(T1 내지 T7) 중 적어도 일부는 N형 트랜지스터(예를 들어, NMOS)로 구현될 수도 있다.
제1 트랜지스터(T1)(또는, 구동 트랜지스터)는 제1 노드(N1)에 전기적으로 연결되는 제1 전극, 제2 노드(N2)에 전기적으로 연결되는 제2 전극, 및 제3 노드(N3)에 전기적으로 연결되는 게이트 전극을 포함할 수 있다.
제2 트랜지스터(T2)는 데이터선(즉, 데이터 신호(VDATA)를 전송하는 배선)에 연결되는 제1 전극, 제1 노드(N1)에 연결되는 제2 전극, 및 제1 주사선에 연결되는 게이트 전극을 포함할 수 있다. 제2 트랜지스터(T2)는 제1 주사선(즉, 제1 주사 신호(GW)를 전송하는 배선)을 통해 제공되는 주사 신호에 응답하여 턴온되고, 데이터선을 통해 제공되는 데이터 신호를 제1 노드(N1)로 전달할 수 있다. 예를 들어, 주사 신호는 트랜지스터를 턴온시키는 턴-온 전압 레벨(또는, 논리 로우 레벨)을 가지는 펄스 신호일 수 있다.
제3 트랜지스터(T3)는 제2 노드(N2)에 연결되는 제1 전극, 제3 노드(N3)에 연결되는 제2 전극, 및 제1 주사선에 연결되는 게이트 전극을 포함할 수 있다. 제3 트랜지스터(T3)는 주사 신호에 응답하여 턴온되고, 제1 노드(N1)로부터 제1 트랜지스터(T1)를 통해 전달된 데이터 신호를 제3 노드(N3)로 전달할 수 있다.
스토리지 커패시터(Cst)는 제1 전원선 및 제3 노드(N3) 사이에 연결될 수 있다. 여기서, 제1 전원선에는 제1 전원전압(VDD)이 인가될 수 있다. 스토리지 커패시터(Cst)는 제3 노드(N3)에 전달된 데이터 신호를 저장할 수 있다.
제4 트랜지스터(T4)는 제3 노드(N3)에 연결되는 제1 전극, 초기화 전압선에 연결되는 제2 전극, 및 제2 주사선(즉, 제2 주사 신호(GI)를 전송하는 배선)에 연결되는 게이트 전극을 포함할 수 있다. 여기서, 제2 주사선은 제1 주사선에 인접하여 배치되는 주사선으로, 제2 주사 신호(GI)는 제1 주사 신호(GW) 이전에 제공될 수 있다. 제4 트랜지스터(T4)는 제2 주사선을 통해 제공되는 이전 주사 신호에 응답하여 턴온되고, 초기화 전압선을 통해 제공되는 초기화 전압(VINT)을 이용하여 제3 노드(N3)를 초기화할 수 있다. 즉, 제3 노드(N3)의 노드 전압(또는, 이전 프레임에서 스토리지 커패시터(Cst)에 저장된 데이터 신호)이 초기화 전압(VINT)으로 초기화될 수 있다.
제5 트랜지스터(T5)는 제1 전원선(또는, 제1 전원전압(VDD)이 인가된 제1 전원선)에 연결되는 제1 전극, 제1 노드(N1)에 연결되는 제2 전극, 및 발광선(즉, 발광 신호(EM)를 전송하는 배선)에 연결되는 게이트 전극을 포함할 수 있다. 유사하게, 제6 트랜지스터(T6)는 제2 노드(N2)에 연결되는 제1 전극, 제4 노드(N4)에 연결되는 제2 전극, 및 발광선에 연결되는 게이트 전극을 포함할 수 있다.
제5 트랜지스터(T5) 및 제6 트랜지스터(T6)는 발광선을 통해 제공되는 발광 신호에 응답하여 턴온되고, 제1 전원선 및 제4 노드(N4)(또는, 제2 전원전압(VSS)이 인가된 제2 전원선) 사이에 구동 전류(Ids)의 이동 경로를 형성할 수 있다.
발광 다이오드(LD)는 제4 노드(N4)에 연결되는 애노드 전극과, 제2 전원선에 연결되는 캐소드 전극을 포함할 수 있다. 예를 들어, 발광 다이오드(LD)는 유기 발광 다이오드(organic light emitting diode) 또는 무기 발광 다이오드(inorganic light emitting diode)일 수 있다. 발광 다이오드(LD)는 구동 전류(Ids)(또는, 구동 전류(Ids)의 전류량)에 대응하는 휘도를 가지고 발광할 수 있다.
제7 트랜지스터(T7)는 제4 노드(N4)에 연결되는 제1 전극, 초기화 전압선에 연결되는 제2 전극, 및 제3 주사선(즉, 제3 주사 신호(GB)를 전송하는 배선)에 연결되는 게이트 전극을 포함할 수 있다 제7 트랜지스터(T7)는 제3 주사 신호(GB)에 응답하여 제4 노드(N4)(또는, 발광 다이오드(LD)의 기생 커패시터)를 초기화 할 수 있다. 여기서, 제3 주사 신호(GB)는 제2 주사 신호(GI)와 동일하거나, 제1 주사 신호(GW) 이후에 제공될 수 있다.
도 6에서 화소(PX)는 제1 내지 제7 트랜지스터들(T1 내지 T7)을 포함하는 것으로 도시하였으나, 이는 예시적인 것으로 화소(PX)가 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 화소(PX)는 제1 전원선 및 제2 전원선 사이에 연결된 구동 트랜지스터와, 데이터선 및 구동 트랜지스터의 게이트 전극 사이에 연결되는 스위칭 트랜지스터를 포함할 수도 있다. 즉, 화소(PX)에는 공지된 다양한 화소 회로가 적용될 수 있다.
도 8은 도 3의 표시 패널에 포함된 열화 보상부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 3 및 도 8을 참조하면, 열화 보상부(600)는 누적부(810), 저장부(820) 및 보상부(830)를 포함할 수 있다.
누적부(810)(또는, 누적기, 스트레스 산출부, 사용시간 산출부)는 보상된 데이터(DATA3)에 기초하여 화소들 각각의 누적 사용시간(또는, 스트레스)를 산출할 수 있다.
예를 들어, 누적부(810)는 보상된 데이터(DATA3)에 포함된 제1 보상된 계조값(GRAY1')(또는, 제1 변환 계조값)을 누적하여 비센싱 영역(NSA) 내 화소(이하, "제1 화소"라 함)의 제1 누적 사용시간을 산출하고, 보상된 데이터(DATA3)에 포함된 제2 보상된 계조값(GRAY2')(또는, 제2 변환 계조값)을 누적하여 센싱 영역(SA) 내 화소(이하, "제2 화소"라 함)의 제2 누적 사용시간을 산출할 수 있다. 여기서, 제1 보상된 계조값(GRAY1')은 제1 화소에 대응하는 제1 계조값(GRAY1)이 열화 보상에 의해 변환된 계조값이며, 유사하게, 제2 보상된 계조값(GRAY2')은 제2 화소에 대응하는 제2 계조값(GRAY2)이 열화 보상에 의해 변환된 계조값일 수 있다.
예를 들어, 누적부(810)는 매 프레임마다 제1 보상된 계조값(GRAY1')을 누적하거나, 특정 시간 동안 출력되는 제1 보상된 계조값(GRAY1')을 평균 및 다운스케일링 하여 제1 화소에 대한 제1 누적 사용시간을 산출할 수 있다. 누적부(810)는 제1 누적 사용시간을 제1 누적 계조값(GRAY_AC1)에 합산하거나, 제1 누적 사용시간에 기초하여 제1 누적 계조값(GRAY_AC1)을 갱신할 수 있다. 여기서, 제1 누적 계조값(GRAY_AC1)은 누적 데이터(DATA_AC)(또는, 사용시간 데이터)에 포함되며, 누적 데이터(DATA_AC)는 후술하는 저장부(820)에 저장 및 갱신될 수 있다.
유사하게, 누적부(810)는 제2 화소에 대한 제2 누적 사용시간을 산출하여, 제2 누적 계조값(GRAY_AC2)을 갱신하며, 제2 누적 계조값(GRAY_AC2)은 누적 데이터(DATA_AC)에 포함되어 저장부(820)에 저장 및 갱신될 수 있다.
저장부(820)(또는, 메모리 장치)는 누적 데이터(DATA_AC)를 저장하며, 누적부(810)의 요청(즉, 누적 데이터(DATA_AC) 제공에 대한 요청)에 대응하여 누적 데이터(DATA_AC)를 누적부(810)에 제공하며, 누적 데이터(DATA_AC)를 실시간 또는 주기적으로 갱신할 수 있다.
또한, 저장부(820)는 룩업 테이블들(LUT1, LUT2)(또는, 열화 보상 룩업 테이블들)을 저장할 수 있다. 제1 룩업 테이블(LUT1)은, 아래의 표 1과 같이, 제1 화소의 열화 특성(예를 들어, 도 6을 참조하여 설명한 제1 열화 곡선(CURVE1))에 따라 제1 화소의 누적 사용시간별 보상된 계조값들 또는 열화 보상 비율을 포함할 수 있다.
구분 0 t1 t2
... ... ... ...
GRAY1_L1 GRAY1_L1 GRAY1_L1'
(GRAY1_L1 + GRAY1_D1)		 GRAY1_L1''
(GRAY1_L1 + GRAY1_D2)
... ... ... ...
표 1은 제1 룩업 테이블(LUT1)의 일 예를 나타낸다.
실시예에 따라, 제1 룩업 테이블(LUT1)은 제1 입력 계조값(GRAY1_L1)에 대응하여, 각 누적 사용시간들(t1, t2)에 대응하는 보상된 계조값들(GRAY1_L1', GRAY1_L'')을 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 제1 룩업 테이블(LUT1)은 보상된 계조값들(GRAY1_L1', GRAY1_L1'') 대신 계조 보상값들(GRAY1_D1, GRAY1_D2)(또는, 보상 계조값들)을 포함할 수도 있다. 여기서, 계조 보상값들(GRAY1_D1, GRAY1_D2)은 누적 사용시간들(t1, t2)에 따른 보상된 계조값들(GRAY1_L1', GRAY1_L1'') 및 제1 입력 계조값(GRAY1_L1)의 차이일 수 있다.
유사하게, 제2 룩업 테이블(LUT2)은 제2 화소의 열화 특성(예를 들어, 도 6을 참조하여 설명한 제2 열화 곡선(CURVE2))에 대응하여 제2 화소의 누적 사용시간에 대응하는 보상된 계조값들 또는 열화 보상 비율을 포함할 수 있다. 제2 화소의 열화 특성(즉, 제2 열화 곡선(CURVE2))에 따라, 제2 화소의 보상된 계조값들은, 동일한 누적 사용시간에 따른 제1 화소의 보상된 계조값들보다 각각 클 수 있다.
저장부(820)는 보상부(830)의 요청에 대응하여 룩업 테이블들(LUT1, LUT2)을 보상부(830)에 제공할 수 있다. 또한, 저장부(820)는 보상부(830)의 요청에 대응하여 누적 데이터(DATA_AC)를 보상부(830)에 제공할 수 있다.
보상부(830)는 누적 데이터(DATA_AC) 및 룩업 테이블들(LUT1, LUT2)에 기초하여 영상 데이터(DATA2)를 보상하여 보상된 데이터(DATA3)를 생성할 수 있다.
예를 들어, 보상부(830)는 제1 계조값(GRAY1)(즉, 제1 화소에 대응하는 계조값)을 제1 누적 계조값(GRAY_AC1) 및 제1 룩업 테이블(LUT1)에 기초하여 제1 보상된 계조값(GRAY1')을 산출할 수 있다. 유사하게, 보상부(830)는 제2 계조값(GRAY2)(즉, 제2 화소에 대응하는 계조값)을 제2 누적 계조값(GRAY_AC2) 및 제2 룩업 테이블(LUT2)에 기초하여 제2 보상된 계조값(GRAY2')을 산출할 수 있다.
실시예들에서, 보상부(830)는 선택부(831) 및 연산부(832)를 포함할 수 있다.
선택부(831)(또는, 선택기)는 누적 데이터(DATA_AC) 및 룩업 테이블들(LUT1, LUT2)에 기초하여 영상 데이터(DATA2)에 대응하는 보상 데이터(DATA_C)를 생성할 수 있다.
예를 들어, 선택부(831)는 제1 계조값(GRAY1)의 위치 정보(즉, 영상 데이터(DATA2) 내 좌표로, 대응되는 화소의 표시부(100) 내 좌표)에 기초하여 제1 룩업 테이블(LUT1)을 선택하고, 제1 계조값(GRAY1)의 제1 누적 사용시간(또는, 제1 누적 계조값(GRAY_AC1))에 기초하여 제1 룩업 테이블(LUT1)로부터 제1 계조 보상값(GRAY1_D1)을 획득할 수 있다. 유사하게, 선택부(831)는 제2 계조값(GRAY2)의 위치 정보에 기초하여 제2 룩업 테이블(LUT2)을 선택하고, 제2 계조값(GRAY2)의 제2 누적 사용시간(또는, 제2 누적 계조값(GRAY_AC2))에 기초하여 제2 룩업 테이블(LUT2)로부터 제2 계조 보상값을 획득할 수 있다. 즉, 선택부(831)는 계조값들의 위치 정보가 기 설정된 센싱 영역(SA)에 대응하는지 여부를 판단하고, 판단 결과에 기초하여 룩업 테이블들(LUT1, LUT2) 중 하나를 선택할 수 있다.
선택부(831)는 획득한 제1 계조 보상값(GRAY1_D1) 및 제2 계조 보상값들을 포함하는 보상 데이터(DATA_C)를 생성할 수 있다.
연산부(832)(또는, 연산기)는 영상 데이터(DATA2)에 보상 데이터(DATA_C)를 합 연산하여 보상된 데이터(DATA3)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 연산부(832)는 제1 계조값(GRAY1)에 제1 계조 보상값(GRAY1_D1)을 합산하여 제1 보상된 계조값(GRAY1')을 산출하고, 제2 계조값(GRAY2)에 제2 계조 보상값을 합산하여 제2 보상된 계조값(GRAY2')을 산출할 수 있다.
도 8을 참조하여 설명한 바와 같이, 열화 보상부(600)는 비센싱 영역(NSA) 내 제1 화소에 대응하는 제1 계조값(GRAY1)을 제1 룩업 테이블(LUT1)을 이용하여 보상하고, 센싱 영역(SA) 내 제2 화소에 대응하는 제2 계조값(GRAY2)을 제2 룩업 테이블(LUT2)을 이용하여 보상할 수 있다.
실시예들에서, 도 3의 표시 패널(DP)(또는, 표시부(100))가 상호 다른 색상들로 발광하는 화소들(예를 들어, 도 4를 참조하여 설명한 제1 내지 제3 화소들(PX1, PX2, PX3))을 포함하는 경우, 열화 보상부(600)는 화소들을 상호 다른 열화 곡선들(또는, 열화 보상 계산식들, 룩업 테이블들)을 이용하여 각각 보상할 수 있다.
도 9a 및 도 9b는 도 4의 화소들 각각의 열화 특성을 나타내는 도면이다. 도 9a에는 도 4에 도시된 비센싱 영역(NSA) 내 화소들(PX1, PX2, PX3)에 대한 서브 열화 곡선들(CURVE_S1, CURVE_S2, CURVE_S3)이 도시되고, 도 9b에는 센싱 영역(SA) 내 화소들(PX1, PX2, PX3)에 대한 서브 열화 곡선들(CURVE_S4, CURVE_S5, CURVE_S6)이 도시되어 있다. 도 4를 참조하여 설명한 바와 같이, 화소들(PX1, PX2, PX3)은 상호 다른 색상들로 발광할 수 있다.
서브 열화 곡선들(CURVE_S1 내지 CURVE_S6) 각각은 화소들(PX1, PX2, PX3)의 누적 사용시간(또는, 스트레스)에 따른 휘도 변화(또는, 휘도 감소율)를 나타낸다.
먼저, 도 8 및 도 9a를 참조하면, 제1 서브 열화 곡선(CURVE_S1)은 비센싱 영역(NSA) 내 제1 화소(PX1)의 열화 특성을 나타내고, 제2 서브 열화 곡선(CURVE_S2)은 비센싱 영역(NSA) 내 제2 화소(PX2)의 열화 특성을 나타내며, 제3 서브 열화 곡선(CURVE_S3)은 비센싱 영역(NSA) 내 제3 화소(PX3)의 열화 특성을 나타낸다.
제1 내지 제3 서브 열화 곡선들(CURVE_S1 내지 CURVE_S3)에 따라, 제2 화소(PX2)는 제1 화소(PX1)에 비해 누적 사용시간에 따른 상대적으로 큰 열화 가속을 보이며(즉, 상대적으로 큰 열화 가속 계수를 가지며), 제3 화소(PX3)는 제2 화소(PX2)에 비해 누적 사용시간에 따른 상대적으로 큰 열화 가속을 보일 수 있다.
따라서, 도 8을 참조하여 설명한 저장부(820)는 제1 내지 제3 서브 열화 곡선들(CURVE_S1 내지 CURVE_S3)에 각각 대응하는 룩업 테이블들을 저장하고, 보상부(830)(또는, 선택부(831))는 영상 데이터(DATA2)에 포함된 계조값이 대응하는 화소의 색상 또는 배치 위치에 기초하여 룩업 테이블들 중 하나의 룩업 테이블을 선택하고, 선택된 하나의 룩업 테이블에 기초하여 계조값을 보상할 수 있다.
도 8 및 도 9b를 참조하면, 제4 서브 열화 곡선(CURVE_S4)은 센싱 영역(SA) 내 제1 화소(PX1)의 열화 특성을 나타내고, 제5 서브 열화 곡선(CURVE_S5)은 센싱 영역(SA) 내 제2 화소(PX2)의 열화 특성을 나타내며, 제6 서브 열화 곡선(CURVE_S6)은 센싱 영역(SA) 내 제3 화소(PX3)의 열화 특성을 나타낸다.
제4 내지 제6 서브 열화 곡선들(CURVE_S4 내지 CURVE_S6)에 따라, 제2 화소(PX2)는 제1 화소(PX1)에 비해 누적 사용시간에 따른 상대적으로 큰 열화 가속을 보이며(즉, 상대적으로 큰 열화 가속 계수를 가지며), 제3 화소(PX3)는 제2 화소(PX2)에 비해 누적 사용시간에 따른 상대적으로 큰 열화 가속을 보일 수 있다. 또한, 제4 내지 제6 서브 열화 곡선들(CURVE_S4 내지 CURVE_S6)은 도 9a에 도시된 제1 내지 제3 서브 열화 곡선들(CURVE_S1 내지 CURVE_S3)과 상이할 수 있다.
따라서, 도 8을 참조하여 설명한 저장부(820)는 제4 내지 제6 서브 열화 곡선들(CURVE_S4 내지 CURVE_S6)에 각각 대응하는 룩업 테이블들을 더 저장하고, 보상부(830)(또는, 선택부(831))는 영상 데이터(DATA2)에 포함된 계조값이 대응하는 화소의 색상 또는 배치 위치에 기초하여 룩업 테이블들 중 하나의 룩업 테이블을 선택하고, 선택된 하나의 룩업 테이블에 기초하여 계조값을 보상할 수 있다.
도 10a 및 도 10b는 도 3의 표시 패널에 포함된 열화 보상부의 다른 예를 나타내는 블록도들이다. 도 11은 도 10a의 열화 보상부에서 사용되는 계조 계수의 일 예를 나타내는 도면이다.
먼저 도 8 및 도 10a를 참조하면, 도 10a에 도시된 열화 보상부(600)는, 계수 결정부(1040)(또는, 제1 계수 결정부, 제1 계수 결정기)를 더 포함한다는 점을 제외하고, 도 8의 열화 보상부(600)와 실질적으로 동일하거나 유사하므로, 중복되는 설명은 반복하지 않기로 한다.
제1 룩업 테이블(LUT1) 및 제2 룩업 테이블(LUT2) 각각은 제1 대표 계조값에 대한 보상된 계조값들 또는 계조 보상값들만을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 대표 계조값은 총 255개의 계조값들 중 255의 계조값 일 수 있으며, 제1 룩업 테이블(LUT1)은 255의 계조값에 대한 보상된 계조값들 또는 계조 보상값들만을 포함할 수 있다. 이 경우, 룩업 테이블의 크기가 계조값들 전체에 대한 룩업 테이블의 크기보다 감소될 수 있다.
다만, 제1 대표 계조값(예를 들어, 255의 계조값)의 보상된 계조값들 또는 계조 보상값들은 다른 계조값(예를 들어, 100의 계조값)의 보상된 계조값들 또는 계조 보상값들과 각각 상이할 수 있다.
따라서, 도 10a의 열화 보상부(600)는 제1 대표 계조값을 기준으로 다른 보상된 계조값의 열화 보상 비율(또는, 가중치값)을 나타내는 계조 계수(또는, 계조별 열화 가속 계수)를 이용하여, 다른 보상된 계조값을 보상할 수 있다.
실시예들에서, 저장부(820)는 제1 계수 룩업 테이블을 더 포함할 수 있다. 여기서, 제1 계수 룩업 테이블은, 도 11에 도시된 계조 계수 곡선들(CURVE_AF1, CURVE_AF2)에 기초하여 설정되며, 계조별로 설정된 계조 계수를 포함할 수 있다.
도 11을 참조하면, 제1 계조 계수 곡선(CURVE_AF1)은 제1 누적 사용시간(예를 들어, 누적 사용시간이 0인 시점)에서 계조별로 설정된 열화 가속 계수를 나타내고, 제2 계조 계수 곡선(CURVE_AF2)은 제2 누적 사용시간에서 계조별로 설정된 열화 가속 계수를 나타낸다. 여기서, 제2 누적 사용시간은 제1 누적 사용시간 보다 클 수 있다.
제1 및 제2 계조 계수 곡선들(CURVE_AF1, CURVE_AF2)에 따라, 계조값이 상대적으로 작은 저계조 영역에서는 계조값이 커짐에 따라 제1 계조 계수가 커지며, 계조값이 상대적으로 큰 고계조 영역에서는 계조값이 커짐에 따라 제1 계조 계수가 작아질 수 있다. 또한, 누적 사용시간이 증가함에 따라, 제1 계조 계수는 전체적으로 작아질 수 있다.
다시 도 10a를 참조하면, 계수 결정부(1040)는 보상된 데이터(DATA3) 및 제1 계수 룩업 테이블에 기초하여 열화 가속 데이터(DATA_F)를 생성할 수 있다. 열화 가속 데이터(DATA_F)는 제1 화소(즉, 비센싱 영역(NSA) 내 화소)에 대한 제1 계조 계수(AF1) 및 제2 화소(즉, 센싱 영역(SA) 내 화소)에 대한 제2 계조 계수(AF2)를 포함할 수 있다.
예를 들어, 계수 결정부(1040)는 제1 계수 룩업 테이블(예를 들어, 도 11의 제1 계조 계수 곡선(CURVE_AF1))에 기초하여, 제1 보상된 계조값(GRAY1')에 대한 제1 계조 계수(AF1)를 산출할 수 있다. 또한, 계수 결정부(1040)는 누적부(810)(또는, 저장부(820))로부터 제1 화소에 대한 제1 누적 사용시간을 획득하고, 제1 누적 사용시간에 기초하여 복수의 계수 룩업 테이블들 중 하나(예를 들어, 제1 및 제2 계조 계수 곡선들(CURVE_AF1, CURVE_AF2)에 대응하는 룩업 테이블들 중 하나)를 선택하여, 제1 계조 계수(AF1)를 산출할 수도 있다. 유사하게, 계수 결정부(1040)는 제1 계수 룩업 테이블에 기초하여, 제2 보상된 계조값(GRAY2')에 대한 제2 계조 계수(AF2)를 산출할 수 있다.
실시예에 따라, 보상부(830)는 제1 및 제2 룩업 테이블들(LUT1, LUT2), 누적 데이터(DATA_AC) 및 열화 가속 데이터(DATA_F)에 기초하여, 영상 데이터(DATA2)를 보상하여 보상된 데이터(DATA3)를 생성할 수 있다.
예를 들어, 선택부(831)는 제1 룩업 테이블(LUT1) 및 제1 누적 계조값(GRAY_AC1)에 기초하여 획득한 제1 계조 보상값(GRAY1_D1, 표 1 참조)에 제1 계조 계수(AF1)를 곱연산하여 제1 계조 보상값(GRAY1_D1)을 보상할 수 있다. 유사하게, 선택부(831)는 제2 룩업 테이블(LUT2) 및 제2 누적 계조값(GRAY_AC2)에 기초하여 획득한 제2 계조 보상값에 제2 계조 계수(AF2)를 곱연산하여 제2 계조 보상값을 보상할 수 있다.
도 10a 및 도 11을 참조하여 설명한 바와 같이, 열화 보상부(600)는 대표 계조값에 대한 제1 및 제2 룩업 테이블들(LUT1, LUT2) 및 제1 계수 룩업 테이블(또는, 계조 계수 곡선들(CURVE_AF1, CURVE_AF2))을 이용하여 제1 및 제2 화소들에 대한 열화 보상을 수행할 수 있다. 따라서, 열화 보상부(600)의 요구 저장 용량(또는, 비용)이 절감될 수 있다.
한편, 도 10a에서 계수 결정부(1040)는 보상부(830)에 독립하여 구성되는 것으로 도시되어 있으나, 이는 예시적인 것으로 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 계수 결정부(1040)는 보상부(830) 또는 선택부(831)에 포함될 수도 있다.
도 8 및 도 10b를 참조하면, 도 10b에 도시된 열화 보상부(600)는, 선택부(831)(또는, 보상부(830))에서 보상된 데이터(DATA3)를 수신한다는 점을 제외하고, 도 8의 열화 보상부(600)와 실질적으로 동일하거나 유사하므로, 중복되는 설명은 반복하지 않기로 한다.
제1 룩업 테이블 세트(LUT_SET1) 및 제2 룩업 테이블 세트(LUT_SET2) 각각은 대표 계조값들 각각에 대한 보상된 계조값들 또는 계조 보상값들을 포함하는 서브 룩업 테이블들(또는, 룩업 테이블들)을 포함할 수 있다. 서브 룩업 테이블들 각각은 도 8을 참조하여 설명한 제1 룩업 테이블(LUT1) 또는 제2 룩업 테이블(LUT2)과 실질적으로 동일하거나 유사할 수 있다.
예를 들어, 대표 계조값들은 총 255개의 계조값들 중 1의 계조값, 81의 계조값, 및 255의 계조값을 포함하며, 제1 룩업 테이블 세트(LUT_SET1)에 포함된 제1 서브 룩업 테이블은 255의 제1 대표 계조값에 대한 보상된 계조값들 또는 계조 보상값들만을 포함하며, 제2 서브 룩업 테이블은 81의 계조값에 대한 보상된 계조값들 또는 계조 보상값들만을 포함할 수 있다. 다른 예로, 제1 룩업 테이블 세트(LUT_SET1) 및 제2 룩업 테이블 세트(LUT_SET2) 각각은, 하나의 룩업 테이블로, 대표 계조값들 각각에 대한 보상된 계조값들 또는 계조 보상값들을 포함할 수도 있다.
실시예에 따라, 보상부(830)는 제1 및 제2 룩업 테이블 세트들(LUT_SET1, LUT_SET2), 누적 데이터(DATA_AC) 및 보상된 데이터(DATA3)에 기초하여, 영상 데이터(DATA2)에 대한 보상 데이터(DATA_C)를 생성할 수 있다.
예를 들어, 선택부(831)는 제1 룩업 테이블 세트(LUT_SET1)로부터 제1 보상된 계조값(GRAY1')에 인접한 2개의 대표 계조값들에 대한 제1 및 제2 서브 룩업 테이블들을 선택하고, 제1 누적 계조값(GARY_AC1)(즉, 제1 화소의 누적 사용시간)에 기초하여 제1 및 제2 서브 룩업 테이블들 각각으로부터 계조 보상값을 획득하며, 제1 서브 룩업 테이블의 계조 보상값과 제2 서브 룩업 테이블의 계조 보상값을 제1 누적 계조값(GRAY_AC1)에 기초하여 보간(interpolation)하여, 제1 계조값(GRAY1)에 대한 제1 계조 보상값을 산출할 수 있다.
유사하게, 선택부(831)는 제2 룩업 테이블 세트(LUT_SET2)로부터 제2 보상된 계조값(GRAY2')에 인접한 2개의 대표 계조값들에 대한 제3 및 제4 서브 룩업 테이블들을 선택하고, 제2 누적 계조값(GARY_AC2)에 기초하여 제3 및 제4 서브 룩업 테이블들 각각으로부터 계조 보상값을 획득하며, 제3 서브 룩업 테이블의 계조 보상값과 제4 서브 룩업 테이블의 계조 보상값을 제2 누적 계조값(GRAY_AC2)에 기초하여 보간하여, 제2 계조값(GRAY2)에 대한 제2 계조 보상값을 산출할 수 있다.
도 10b를 참조하여 설명한 바와 같이, 열화 보상부(600)는 전체 계조값들 중 일부인 대표 계조값들에 대한 제1 및 제2 룩업 테이블 세트들(LUT_SET1, LUT_SET2) 및 보간 기술을 이용하여 제1 및 제2 화소들에 대한 열화 보상을 수행할 수 있다. 따라서, 열화 보상부(600)의 요구 저장 용량(또는, 비용)이 절감될 수 있다.
도 12a 및 도 12b는 도 3의 표시 패널에 포함된 열화 보상부의 또 다른 예를 나타내는 블록도들이다. 도 13은 도 12a의 열화 보상부에서 사용되는 온도 계수의 일 예를 나타내는 도면이다.
먼저 도 8 및 도 12a를 참조하면, 도 12a에 도시된 열화 보상부(600)는, 계수 결정부(1240)(또는, 제2 계수 결정부, 제2 계수 결정기)를 더 포함한다는 점을 제외하고, 도 8의 열화 보상부(600)와 실질적으로 동일하거나 유사하므로, 중복되는 설명은 반복하지 않기로 한다.
도 12a의 열화 보상부(600)는 온도 센서(TEMP SENSOR)로부터 온도 정보(TEMP)를 수신하고, 온도 정보(TEMP)에 기초하여 제1 및 제2 화소들에 대한 열화 보상을 수행할 수 있다. 여기서, 온도 센서(TEMP SENSOR)는 표시 장치(DD)(또는, 표시 패널(DP))에 구비되고, 표시 패널(DP) 또는 표시 장치(DD) 내부의 온도를 측정하여 온도 정보(TEMP)를 생성할 수 있다.
계수 결정부(1240)는 온도 정보(TEMP)에 기초하여 온도 계수(TF)를 산출할 수 있다. 예를 들어, 계수 결정부는 제2 계수 룩업 테이블을 이용하여 온도 정보(TEMP)에 대응하는 온도 계수(TF)를 획득할 수 있다. 제2 계수 룩업 테이블은 온도에 따른 추가 열화 비율(또는, 추가 휘도 감소 비율)을 나타내는 온도 계수(TF)를 포함하며, 저장부(820)에 기 저장될 수 있다.
도 13을 참조하면, 제3 온도 계수 곡선(CURVE_AF3)(또는, 제3 열화 가속 계수 곡선)은 온도별로 설정된 열화 가속 계수를 나타낸다. 제3 온도 계수 곡선(CURVE_AF)에 따라, 온도가 상승할수록 온도 계수(TF)는 커질 수 있다.
다시 도 12a를 참조하면, 보상부(830)는 제1 및 제2 룩업 테이블들(LUT1, LUT2), 누적 데이터(DATA_AC) 및 온도 계수(TF)에 기초하여, 영상 데이터(DATA2)를 보상하여 보상된 데이터(DATA3)를 생성할 수 있다.
예를 들어, 선택부(831)는 제1 룩업 테이블(LUT1) 및 제1 누적 계조값(GRAY_AC1)에 기초하여 획득한 제1 계조 보상값(GRAY1_D1, 표 1 참조)에 온도 계수(TF)를 곱연산하여 제1 계조 보상값(GRAY1_D1)을 보상할 수 있다. 유사하게, 선택부(831)는 제2 룩업 테이블(LUT2) 및 제2 누적 계조값(GRAY_AC2)에 기초하여 획득한 제2 계조 보상값에 온도 계수(TF)를 곱연산하여 제2 계조 보상값을 보상할 수 있다.
한편, 도 12a에서 계수 결정부(1240)는 보상부(830)에 독립하여 구성되는 것으로 도시되어 있으나, 이는 예시적인 것으로 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 계수 결정부(1240)는 보상부(830) 또는 선택부(831)에 포함될 수도 있다.
도 8 및 도 12b를 참조하면, 도 12b에 도시된 열화 보상부(600)는, 선택부(831)(또는, 보상부(830))에서 온도 정보(TEMP)를 수신한다는 점을 제외하고, 도 8의 열화 보상부(600)와 실질적으로 동일하거나 유사하므로, 중복되는 설명은 반복하지 않기로 한다.
제1 룩업 테이블 세트(LUT_SET1) 및 제2 룩업 테이블 세트(LUT_SET2) 각각은 서브 룩업 테이블들(또는, 룩업 테이블들)을 포함할 수 있다. 서브 룩업 테이블들 각각은 도 8을 참조하여 설명한 제1 룩업 테이블(LUT1) 또는 제2 룩업 테이블(LUT2)과 실질적으로 동일하거나 유사할 수 있다.
예를 들어, 제1 룩업 테이블 세트(LUT_SET1)에 포함된 제1 서브 룩업 테이블은 제1 온도에서 누적 사용시간에 따른 보상된 계조값들 또는 계조 보상값들을 포함하며, 제2 서브 룩업 테이블은 제2 온도에서 누적 사용시간에 따른 보상된 계조값들 또는 계조 보상값들을 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 보상부(830)는 제1 및 제2 룩업 테이블 세트들(LUT_SET1, LUT_SET2), 누적 데이터(DATA_AC) 및 온도 정보(TEMP)에 기초하여, 영상 데이터(DATA2)에 대한 보상 데이터(DATA_C)를 생성할 수 있다.
예를 들어, 선택부(831)는 제1 룩업 테이블 세트(LUT_SET1)로부터 온도 정보(TEMP)에 대응하는 제1 서브 룩업 테이블을 선택하고, 제1 서브 룩업 테이블에서 제1 보상된 계조값(GRAY1')에 대응하는 제1 계조 보상값을 획득할 수 있다. 유사하게, 선택부(831)는 제2 룩업 테이블 세트(LUT_SET2)로부터 온도 정보(TEMP)에 대응하는 제2 서브 룩업 테이블을 선택하고, 제2 서브 룩업 테이블에서 제2 보상된 계조값(GRAY2')에 대응하는 제2 계조 보상값을 획득할 수 있다.
도 10a 및 도 10b를 참조하여 설명한 바와 같이, 열화 보상부(600)는 표시 패널(DP)(또는, 표시 장치(DD))의 온도 정보(TEMP)를 고려하여, 제1 및 제2 화소들에 대한 열화 보상을 수행할 수 있다. 따라서, 제1 및 제2 화소들의 열화가 보다 정확하게 보상될 수 있다.
지금까지 참조한 도면과 기재된 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
DD: 표시 장치
DA: 표시 영역
NDA: 비표시 영역
SA: 센싱 영역
NSA: 비센싱 영역
WD: 윈도우
POL: 편광판
DP: 표시 패널
OS: 광학 센서
PX: 화소
100: 표시부
200: 주사 구동부
300: 발광 구동부
400: 데이터 구동부
500: 타이밍 제어부
600: 열화 보상부
810: 누적부
820: 저장부
830: 보상부
1040, 1240: 계수 결정부

Claims (20)

  1. 제1 영역에 위치하는 제1 화소, 및 상기 제1 영역과 다른 제2 영역에 위치하는 제2 화소를 포함하는 표시부;
    상기 제1 화소의 제1 누적 사용시간에 따른 휘도 감소율을 정의한 제1 열화 곡선에 기초하여 상기 제1 화소에 대한 제1 계조값을 보상하여 제1 보상된 계조값을 생성하고, 상기 제2 화소의 제2 누적 사용시간에 따른 휘도 감소율을 정의한 제2 열화 곡선에 기초하여 상기 제2 화소에 대한 제2 계조값을 보상하여 제2 보상된 계조값을 생성하는 열화 보상부; 및
    상기 제1 보상된 계조값에 기초하여 제1 데이터 신호를 생성하여 상기 제1 화소에 제공하고, 상기 제2 보상된 계조값에 기초하여 제2 데이터 신호를 생성하여 제2 화소에 제공하는 데이터 구동부를 포함하고,
    상기 제2 영역의 투과도는 상기 제1 영역의 투과도보다 큰,
    표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 표시부는, 상기 제2 영역에서 상기 제2 화소 및 인접 화소 사이에 위치하며 입사되는 광의 적어도 일부를 투과시키는 투과 영역을 포함하고,
    상기 인접 화소는 상기 제2 영역에서 상기 제2 화소에 인접하여 배치되며,
    상기 제2 영역의 해상도는 상기 제1 영역의 해상도보다 낮은,
    표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 표시부의 상기 제2 영역과 중첩하여 배치되어 상기 제2 영역을 투과하는 광을 감지하는 광학 센서를 더 포함하는,
    표시 장치.
  4. 제2 항에 있어서, 상기 제1 계조값 및 상기 제2 계조값이 동일한 경우, 상기 제1 데이터 신호의 전압 레벨은 상기 제2 데이터 신호의 전압 레벨과 다르며,
    상기 제1 데이터 신호의 전압 레벨 및 상기 제2 데이터 신호의 전압 레벨 간의 차이는 시간 경과에 따라 커지는,
    표시 장치.
  5. 제4 항에 있어서, 상기 제1 화소 및 상기 제2 화소 각각은, 적어도 하나의 트랜지스터 및 상기 적어도 하나의 트랜지스터를 통해 제공되는 구동 전류에 대응하여 발광하는 발광 소자를 포함하고,
    상기 제2 데이터 신호에 대응하여 상기 제2 화소에 흐르는 제2 구동 전류는, 상기 제1 데이터 신호에 기초하여 상기 제1 화소에 흐르는 제1 구동 전류보다 큰,
    표시 장치.
  6. 제1 항에 있어서, 상기 열화 보상부는, 제1 룩업 테이블을 이용하여 제1 계조값을 보상하고, 제2 룩업 테이블을 이용하여 제2 계조값을 보상하며,
    상기 제1 룩업 테이블은 상기 제1 열화 곡선에 대응하여 상기 제1 누적 사용시간에 따른 제1 계조 보상값을 포함하고,
    상기 제2 룩업 테이블은 상기 제2 열화 곡선에 대응하여 상기 제2 누적 사용시간에 따른 제2 계조 보상값을 포함하는,
    표시 장치.
  7. 제6 항에 있어서, 상기 제2 열화 곡선에 대한 접선의 기울기를 나타내는 제2 열화 가속 계수는, 상기 제1 열화 곡선에 대한 접선의 기울기를 나타내는 제1 열화 가속 계수보다 큰,
    표시 장치.
  8. 제6 항에 있어서, 상기 열화 보상부는,
    상기 제1 보상된 계조값을 누적하여 상기 제1 누적 사용시간을 산출하고, 상기 제2 보상된 계조값을 누적하여 상기 제2 누적 사용시간을 산출하는 누적기;
    상기 제1 및 제2 누적 사용시간들 및 상기 제1 및 제2 룩업 테이블들을 저장하는 메모리 장치; 및
    상기 제1 누적 사용시간 및 상기 제1 룩업 테이블에 기초하여 상기 제1 계조 보상값을 획득하여 상기 제1 계조값을 보상하며, 상기 제2 누적 사용시간 및 상기 제2 룩업 테이블에 기초하여 상기 제2 계조 보상값을 획득하여 상기 제2 계조값을 보상하는 보상기를 포함하는,
    표시 장치.
  9. 제8 항에 있어서, 기준 시간동안 상기 제1 계조값 및 상기 제2 계조값이 동일한 경우, 상기 기준 시간동안 상기 제2 누적 사용시간의 변화량은 상기 제1 누적 사용시간의 변화량보다 큰,
    표시 장치.
  10. 제8 항에 있어서, 상기 제1 계조값 및 상기 제2 계조값은 영상 데이터에 포함되고,
    상기 보상기는,
    상기 영상 데이터 내 상기 제1 계조값의 위치 정보에 기초하여 상기 제1 룩업 테이블을 선택하고, 상기 영상 데이터 내 상기 제2 계조값의 위치 정보에 기초하여 상기 제2 룩업 테이블을 선택하는 선택기; 및
    상기 제1 룩업 테이블로부터 획득한 제1 계조 보상값을 상기 제1 계조값에 합 연산하여 상기 제1 보상된 계조값을 산출하고, 상기 제2 룩업 테이블로부터 획득한 제2 계조 보상값을 상기 제2 계조값에 합 연산하여 상기 제2 보상된 계조값을 산출하는 연산기를 포함하는,
    표시 장치.
  11. 제8 항에 있어서, 상기 제2 화소는 상호 다른 색으로 발광하는 서브 화소들을 포함하고,
    상기 제1 룩업 테이블은 상기 서브 화소들의 열화 곡선들에 각각 대응하는 서브 룩업 테이블들을 포함하는,
    표시 장치.
  12. 제6 항에 있어서, 상기 제2 룩업 테이블은 대표 계조값에 대하여 설정되고, 상기 대표 계조값은 상기 제2 계조값의 계조 범위 내 하나의 계조값이며,
    상기 열화 보상부는, 계조 계수에 기초하여 상기 제2 계조값을 보상하되,
    상기 계조 계수는, 상기 대표 계조값을 기준으로 설정된 열화 보상 비율인,
    표시 장치.
  13. 제12 항에 있어서, 상기 열화 보상부는 계조값별로 설정된 상기 계조 계수를 포함하는 제1 계수 룩업 테이블을 더 포함하는,
    표시 장치.
  14. 제6 항에 있어서, 상기 제2 룩업 테이블은 복수의 대표 계조값들에 대한 복수의 서브 룩업 테이블들을 포함하며,
    상기 열화 보상부는, 상기 대표 계조값들 중 상기 제2 계조값에 인접한 제1 및 제2 대표 계조값들에 대응하는 제1 및 제2 서브 룩업 테이블들을 상기 서브 룩업 테이블들로부터 선택하고, 상기 제2 누적 사용시간에 기초하여 상기 제1 및 제2 서브 룩업 테이블들 각각으로부터 계조 보상값을 획득하며, 상기 제1 서브 룩업 테이블로부터 획득한 계조 보상값 및 상기 제2 서브 룩업 테이블로부터 획득한 계조 보상값을 보간하여 상기 제2 계조 보상값을 산출하는,
    표시 장치.
  15. 제6 항에 있어서, 상기 열화 보상부는, 외부로부터 수신한 온도 정보에 기초하여 온도 계수를 결정하고, 상기 온도 계수에 기초하여 상기 제2 계조값을 보상하는,
    표시 장치.
  16. 제15 항에 있어서, 상기 열화 보상부는 온도별로 설정된 상기 온도 계수를 포함하는 제2 계수 룩업 테이블을 더 포함하는,
    표시 장치.
  17. 제6 항에 있어서, 상기 제2 룩업 테이블은 온도별로 설정된 복수의 서브 룩업 테이블들을 포함하고,
    상기 열화 보상부는, 외부로부터 수신한 온도 정보에 기초하여 서브 룩업 테이블들 중 하나의 서브 룩업 테이블을 선택하고, 상기 제2 누적 사용시간에 기초하여 상기 선택된 하나의 서브 룩업 테이블로부터 상기 제2 계조 보상값을 획득하는,
    표시 장치.
  18. 제1 항에 있어서, 상기 제1 화소 및 상기 제2 화소는 상호 동일한 화소 구조를 가지고,
    상기 제2 영역은 상기 제1 영역의 휘도와 동일한 휘도를 가지는,
    표시 장치.
  19. 영상 데이터의 제1 영역 내에 위치하는 제1 계조값을 누적하여 제1 누적 계조값을 산출하고, 상기 영상 데이터의 제2 영역 내에 위치하는 제2 계조값을 누적하여 제2 누적 계조값을 산출하는 누적부;
    상기 제1 누적 계조값에 따른 제1 계조 보상값을 포함하는 제1 룩업 테이블, 및 상기 제2 누적 계조값에 따른 제2 계조 보상값을 포함하는 제2 룩업 테이블을 저장하는 저장부;
    상기 제1 룩업 테이블에 기초하여 상기 제1 계조값을 보상하고, 상기 제2 룩업 테이블에 기초하여 상기 제2 계조값을 보상하는 보상부를 포함하고,
    상기 제1 계조값 및 상기 제2 계조값은 동일한 색상에 대응하는,
    열화 보상 장치.
  20. 제19 항에 있어서, 기준 시간동안 상기 제1 계조값 및 상기 제2 계조값이 동일한 경우, 상기 기준 시간동안 상기 제2 누적 계조값의 변화량은 상기 제1 누적 계조값의 변화량보다 큰,
    열화 보상 장치.
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