KR20200100917A - 커패시터 및 커패시터 제조방법 - Google Patents

커패시터 및 커패시터 제조방법 Download PDF

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Abstract

커패시터가 개시된다. 상기 커패시터는 기판의 상면 및 하면에 일정 깊이를 갖도록 각각 형성되어 서로 대칭되게 배치되는 상부홈 및 하부홈을 포함하는 베이스 기판; 상기 상부홈 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층; 상기 하부홈 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층; 상기 제1 유전층 상에 구비되는 제1 전극; 및 상기 제2 유전층 상에 구비되는 제2 전극을 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

커패시터 및 커패시터 제조방법{CAPACITOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME}
본 발명은 커패시터 및 커패시터 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 실리콘을 기반으로 하는 커패시터 및 커패시터 제조방법에 관한 것이다.
커패시터는 전하를 저장하고, 전압 변화를 지연시키며, 공진 회로를 만들고, 불필요한 신호를 필터링하는 등 다양한 응용 분야에서 전자 회로로 사용된다.
산화물 유전체 재료를 갖는 알루미늄 또는 탄탈(tantalum) 플레이트 커패시터는 높은 커패시터스를 필요로 하는 애플리케이션에 널리 사용된다. 그러나 이들 전해 콘덴서는 불안정하고, 오차가 크고, 누설 전류가 높거나 고온이 되면 성능이 저하되는 문제가 있다.
고주파 애플리케이션의 경우 세라믹 커패시터가 좋은 대안이지만, 이들 커패시터는 수명이 짧은 문제가 있다.
반면, 고밀도 실리콘 커패시터는 초박형 트렌치기술을 이용하여 누설 전류가 매우 적고 손실 계수가 낮은 장점이 있고, 멀티 칩 모듈 및 칩 온 보드를 구현할 수 있으며, 전력 소비가 적은 소형 부품을 실현하는데 기여한다. 따라서, 고성능 및 소형 부품에 대한 수요가 계속 증가함에 따라 실리콘 기반의 커패시터의 지속적인 개발이 요구되고 있다.
그런데, 실리콘 기반 커패시터는 대부분 그 정전 용량이 제한적이며, 낮은 정전 용량값을 가지는 단점이 있다.
따라서 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 소형화가 가능하고, 다양한 용량의 실리콘 기반의 커패시터를 제공할 수 있도록 한 커패시터 및 커패시터 제조방법을 제공하는데 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면 및 하면에 일정 깊이를 갖도록 각각 형성되어 서로 대칭되게 배치되는 상부홈 및 하부홈을 포함하는 베이스 기판; 상기 상부홈 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층; 상기 하부홈 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층; 상기 제1 유전층 상에 구비되는 제1 전극; 및 상기 제2 유전층 상에 구비되는 제2 전극을 포함하는 것을 특징으로 한다.
일 실시예에서, 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각은, 상기 상부홈 및 하부홈 각각의 내면에 면접하는 제1 요철부; 및 상기 상부홈 및 하부홈 각각의 상단의 테두리를 덮도록 상기 베이스기판의 상면에 면접하는 테두리부를 포함하고, 상기 제1 전극 및 제2 전극 각각은, 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각의 제1 요철부의 내측으로 삽입되어 제1 요철부 내면에 면접하는 제2 요철부; 및 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각의 테두리부를 덮고 커패시터 외부에 노출되는 제1 노출부를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 중 어느 하나는 나머지 하나가 위치한 평면과 동일한 평면에서 이웃하는 제1 연장부; 및 상기 베이스기판의 측면을 덮고 상기 제1 연장부 및 상기 테두리부에 연결되는 제2 연장부를 더 포함하고, 상기 제1 전극 및 제2 전극 중 어느 하나는 상기 제1 연장부를 덮는 제2 노출부; 및 상기 제2 연장부를 덮고 상기 제1 노출부와 연결되는 제3 노출부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각은 다른 유전층이 위치하는 평면과 동일한 평면에서 이웃하는 제1 연장부; 및 상기 베이스기판의 측면을 덮고 상기 제1 연장부 및 상기 테두리부에 연결되는 제2 연장부를 더 포함하고, 상기 제1 전극 및 제2 전극 각각은 상기 제1 연장부를 덮는 제2 노출부; 및 상기 제2 연장부를 덮는 제3 노출부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 베이스기판은 상기 상부홈 및 하부홈의 중심부에 관통되고 상기 상부홈 및 하부홈에 소통되는 적어도 하나의 관통홀을 더 포함하고, 상기 제1 유전층 및 제2 유전층은 상기 적어도 하나의 관통홀을 매개로 서로 연결될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 관통홀은 다수가 서로 일정 간격으로 이웃하여 밀집된 구조를 갖도록 구비될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각은, 상기 상부홈 및 하부홈 각각의 내면에 면접하는 제1 요철부; 및 상기 상부홈 및 하부홈 각각의 상단의 테두리를 덮도록 상기 베이스기판의 상면에 면접하는 테두리부를 포함하고, 상기 제1 전극 및 제2 전극 각각은, 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각의 제1 요철부의 내측으로 삽입되어 제1 요철부 내면에 면접하는 제2 요철부; 및 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각의 테두리부를 덮고 커패시터 외부에 노출되는 제1 노출부를 포함하고, 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각의 제1 요철부는 상기 적어도 하나의 관통홀을 통해 서로 연결될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 중 적어도 하나는 다른 유전층이 위치하는 평면과 동일한 평면에서 이웃하는 제1 연장부; 및 상기 베이스기판의 측면을 덮고 상기 제1 연장부 및 상기 테두리부에 연결되는 제2 연장부를 더 포함하고, 상기 제1 전극 및 제2 전극 중 적어도 하나는 상기 제1 연장부를 덮는 제2 노출부; 및 상기 제2 연장부를 덮는 제3 노출부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 기판의 하면에서 서로 이웃하고 상기 복수의 상부홈과 대칭되게 배치되는 복수의 하부홈을 포함하는 베이스기판; 상기 각각의 상부홈 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제1 유전층; 상기 각각의 하부홈 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제2 유전층; 상기 각각의 제1 유전층 상에 구비되는 복수의 제1 전극; 및 상기 각각의 제2 유전층 상에 구비되는 복수의 제2 전극을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 베이스기판은 서로 대칭되게 배치되는 상부홈 및 하부홈의 중심부에 관통되고 서로 대칭되게 배치되는 상부홈 및 하부홈에 소통되는 관통홀을 더 포함하고, 서로 대칭되게 배치되는 유전층들은 상기 관통홀을 매개로 서로 연결될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 관통홀은 다수가 서로 일정 간격으로 이웃하여 밀집된 구조를 갖도록 구비될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 커패시터는 전도성 재료를 매개로 하여 다수로 적층되어 구성될 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 기판의 하면에서 서로 이웃하고 상기 복수의 상부홈과 대칭되게 배치되는 복수의 하부홈을 포함하는 베이스기판; 상기 각각의 상부홈 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제1 유전층; 상기 각각의 하부홈 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제2 유전층; 상기 복수의 제1 유전층 전체를 덮도록 상기 복수의 제1 유전층 상에 구비되는 제1 전극; 및 상기 복수의 제2 유전층 전체를 덮도록 상기 복수의 제2 유전층 상에 구비되는 제2 전극을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 베이스기판은 서로 대칭되게 배치되는 상부홈 및 하부홈의 중심부에 관통되고 서로 대칭되게 배치되는 상부홈 및 하부홈에 소통되는 관통홀을 더 포함하고, 서로 대칭되게 배치되는 유전층들은 상기 관통홀을 매개로 서로 연결될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 관통홀은 다수가 서로 일정 간격으로 이웃하여 밀집된 구조를 가질 수 있다.
일 실시예에서, 상기 커패시터는 전도성 재료를 매개로 하여 다수로 적층되어 구성될 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈을 포함하는 베이스기판; 상기 복수의 상부홈 전체를 덮도록 상기 복수의 상부홈 및 복수의 상부홈 사이의 기판영역 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층; 상기 베이스기판의 하면 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층; 상기 제1 유전층 상에 구비되는 제1 전극; 및 상기 제2 유전층 상에 구비되는 제2 전극을 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 기판의 하면에서 서로 이웃하고 상기 복수의 상부홈과 대칭되게 배치되는 복수의 하부홈을 포함하는 베이스기판; 상기 복수의 상부홈 전체를 덮도록 상기 복수의 상부홈 및 복수의 상부홈 사이의 기판영역 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층; 상기 복수의 하부홈 전체를 덮도록 상기 복수의 하부홈 및 복수의 하부홈 사이의 기판영역 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층; 상기 제1 유전층 상에 구비되는 제1 전극; 및 상기 제2 유전층 상에 구비되는 제2 전극을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 커패시터 제조방법은 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
일 실시예에서, 상기 전극을 형성하는 단계 이후에, 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 단일의 커패시터를 제작하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계 및 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 사이에, 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 하나의 상부홈 및 하나의 하부홈을 갖는 단일 커패시터 크기의 베이스 기판을 준비하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계에서, 베이스기판의 상면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제1 산화막 전체를 덮도록 하고, 베이스기판의 하면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제2 산화막 전체를 덮도록 할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 커패시터 제조방법은 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 서로 대칭되는 상부홈 및 하부홈의 중심부에 적어도 하나의 관통홀을 형성하는 단계; 각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 또는 상기 제2 산화막을 형성하는 단계에서 상기 관통홀도 산화되어 상기 제1 산화막 및 제2 산화막이 서로 연결되도록 하는 것을 특징으로 한다.
일 실시예에서, 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 단일의 커패시터를 제작하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 관통홀을 형성하는 단계 및 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 사이에, 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 하나의 상부홈 및 하나의 하부홈을 갖는 단일 커패시터 크기의 베이스 기판을 준비하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계에서, 베이스기판의 상면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제1 산화막 전체를 덮도록 하고, 베이스기판의 하면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제2 산화막 전체를 덮도록 할 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 커패시터 제조방법은 베이스기판의 상면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면에 서로 이웃하는 복수의 상부홈을 형성하는 단계; 서로 이웃하는 상부홈 및 서로 이웃하는 상부홈 사이의 기판영역 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 베이스기판의 하면에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 상기 제1 산화막 및 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 커패시터 제조방법은 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 서로 이웃하는 상부홈 및 서로 이웃하는 상부홈 사이의 기판영역 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 서로 이웃하는 하부홈 및 서로 이웃하는 하부홈 사이의 기판영역 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 커패시터 및 커패시터 제조방법에 의하면, 실리콘 웨이퍼의 표면을 에칭 및 산화시키고, 산화되어 막 형태로 구비되는 유전층 상에 전극을 형성하는 과정을 통해 소형의 커패시터의 제조가 가능해지며, 다양한 용량의 커패시터의 제조가 가능해지는 이점이 있다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 2는 본 발명의 제2 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 3은 본 발명의 제3 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 4는 본 발명의 제4 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 5는 본 발명의 제5 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 6은 본 발명의 제6 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 7은 본 발명의 제7 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 8은 본 발명의 제8 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 9는 본 발명의 제9 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 10은 본 발명의 제10 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 11은 본 발명의 제11 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 12는 본 발명의 제12 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 13은 본 발명의 제13 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 14는 본 발명의 제14 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
도 15는 본 발명의 제15 실시예에 따른 커패시터의 모습을 나타낸 단면도이다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 커패시터 및 커패시터 제조방법에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
제1 실시예
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 커패시터의 구조를 나타낸 단면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 커패시터는 베이스 기판(111), 제1 유전층(112), 제2 유전층(113), 제1 전극(114) 및 제2 전극(115)을 포함한다.
베이스 기판(111)은 실리콘 웨이퍼로 이루어지고, 기판의 상면 및 하면에 일정 깊이를 갖도록 각각 형성되어 서로 대칭되게 배치되는 상부홈(1111) 및 하부홈(1112)을 포함한다.
제1 유전층(112)은 상부홈(1111) 상에 막 형태로 구비된다. 제1 유전층(112)은 베이스 기판(111)의 표면을 산화시키는 것에 의해 형성된다.
제2 유전층(113)은 하부홈(1112) 상에 막 형태로 구비된다. 제2 유전층(113)은 베이스 기판(111)의 표면을 산화시키는 것에 의해 형성된다.
제1 전극(114)은 제1 유전층(112) 상에 구비된다. 제1 전극(114)의 재질에는 특별한 제한은 없으며, 전도성 재질이면 모두 가능하다. 제1 전극(114)의 전도성 효율을 향상시키기 위해서 표면이 도금될 수 있다.
제2 전극(115)은 제2 유전층(113) 상에 구비된다. 제2 전극(115)의 재질에는 특별한 제한은 없으며, 전도성 재질이면 모두 가능하다. 제2 전극(115)의 전도성 효율을 향상시키기 위해서 표면이 도금될 수 있다.
일 예로, 제1 유전층(112) 및 제2 유전층(113) 각각은, 상부홈(1111) 및 하부홈(1112) 각각의 내면에 면접하는 제1 요철부(1121, 1131), 상기 상부홈(1111) 및 하부홈(1112) 각각의 상단의 테두리를 덮도록 베이스 기판(111)의 상면에 면접하는 테두리부(1122, 1132)를 포함할 수 있다.
일 예로, 제1 전극(114) 및 제2 전극(115) 각각은, 제1 유전층(112) 및 제2 유전층(113) 각각의 제1 요철부(1121, 1131)의 내측으로 삽입되어 제1 요철부(1121, 1131) 내면에 면접하는 제2 요철부(1141, 1151), 제1 유전층(112) 및 제2 유전층(113) 각각의 테두리부를 덮고 커패시터 외부에 노출되는 제1 노출부(1142, 1152)를 포함할 수 있다.
이러한 본 발명의 제1 실시예에 따른 커패시터는 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계; 및 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 단일의 커패시터를 제작하는 단계가 수행되어 제조될 수 있다.
여기서, 상기 제1 산화막 및 제2 산화막은 베이스 기판(111)의 표면을 산화제로 산화시키는 것에 의해 형성되며, 제1 산화막 및 제2 산화막은 커패시터의 제1 유전층(112) 및 제2 유전층(113)이 된다.
제2 실시예
본 발명의 제2 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면 및 하면에 일정 깊이를 갖도록 각각 형성되어 서로 대칭되게 배치되는 상부홈(1211) 및 하부홈(1212)을 포함하는 베이스 기판(121); 상기 상부홈(1211) 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층(122); 상기 하부홈(1212) 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층(123); 상기 제1 유전층(122) 상에 구비되는 제1 전극(124); 및 상기 제2 유전층(123) 상에 구비되는 제2 전극(125)을 포함한다.
일 예로, 제1 유전층(122) 및 제2 유전층(123) 각각은, 베이스 기판(121)의 상부홈(1211) 및 하부홈(1212) 각각의 내면에 면접하는 제1 요철부(1221, 1231); 상기 상부홈(1211) 및 하부홈(1212) 각각의 상단의 테두리를 덮도록 상기 베이스 기판(121)의 상면에 면접하는 테두리부(1222, 1232)를 포함하고, 제1 유전층(122) 및 제2 유전층(123) 중 어느 하나, 예를 들어, 제2 유전층(123)은 제1 유전층(122)이 위치한 평면과 동일한 평면, 즉 베이스 기판(121)의 상면에서 이웃하는 제1 연장부(1233); 및 상기 베이스 기판(121)의 측면을 덮고 상기 제1 연장부(1233) 및 상기 테두리부(1232)에 연결되는 제2 연장부(1234)를 포함할 수 있다.
또한, 제1 전극(124) 및 제2 전극(125) 각각은, 상기 제1 유전층(122) 및 제2 유전층(123) 각각의 제1 요철부(1221, 1231)의 내측으로 삽입되어 제1 요철부(1221, 1231) 내면에 면접하는 제2 요철부(1241, 1251); 및 상기 제1 유전층(122) 및 제2 유전층(123) 각각의 테두리부(1222, 1232)를 덮고 커패시터 외부에 노출되는 제1 노출부(1242, 1252)를 포함하고, 제1 전극(124) 및 제2 전극(125) 중 어느 하나, 예를 들어, 제2 전극(125)은 상기 제1 연장부(1233)를 덮는 제2 노출부(1253); 및 상기 제2 연장부(1234)를 덮고 상기 제1 노출부(1252)와 연결되는 제3 노출부(1254)를 포함할 수 있다.
이러한 본 발명의 제2 실시예에 따른 커패시터는 제2 전극(125)의 제3 노출부(1254)가 제1 전극(124)의 제1 노출부(1242)와 동일 평면에 위치하게 되므로 커패시터가 요구되는 장치에서의 커패시터의 전기적 접속이 제1 전극(124)이 위치하는 평면에서 제1 전극(124) 및 제2 전극(125)의 전기적 접속이 이루어질 수 있고, 이에 따라 커패시터의 전기적 접속이 용이해질 수 있다.
한편, 이러한 본 발명의 제2 실시예에 따른 커패시터는 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 하나의 상부홈 및 하나의 하부홈을 갖는 단일 커패시터 크기의 베이스 기판을 준비하는 단계; 각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계; 및 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 단일의 커패시터를 제작하는 단계가 수행되어 제조될 수 있다.
이러한 제조단계 중 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 및 제2 산화막을 형성하는 단계 중 어느 하나의 단계, 예를 들어, 제2 산화막을 형성하는 단계에서 베이스 기판(121)의 측면부 및 상면 일부를 더 식각하여 상기 제1 연장부(1233) 및 제2 연장부(1234)가 형성되도록 할 수 있다.
또한, 상기 각각의 제1 산화막 및 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계에서 제1 산화막 및 제2 산화막 상에 형성되는 전극 중 어느 하나, 예를 들어, 제2 전극(125)이 상기 제2 노출부(1253) 및 제3 노출부(1254)가 형성되도록 할 수 있다.
제3 실시예
본 발명의 제2 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면 및 하면에 일정 깊이를 갖도록 각각 형성되어 서로 대칭되게 배치되는 상부홈(1311) 및 하부홈(1312)을 포함하는 베이스 기판(131); 상기 상부홈(1311) 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층(132); 상기 하부홈(1312) 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층(133); 상기 제1 유전층(132) 상에 구비되는 제1 전극(134); 및 상기 제2 유전층(133) 상에 구비되는 제2 전극(135)을 포함한다.
일 예로, 제1 유전층(132) 및 제2 유전층(133) 각각은 상기 상부홈(1311) 및 하부홈(1312) 각각의 내면에 면접하는 제1 요철부(1321, 1331); 상기 상부홈(1311) 및 하부홈(1312) 각각의 상단의 테두리를 덮도록 상기 베이스 기판(131)의 상면에 면접하는 테두리부(1322, 1332); 다른 유전층이 위치하는 평면과 동일한 평면에서 이웃하는 제1 연장부(1323, 1333); 및 상기 베이스 기판(131)의 측면을 덮고 상기 제1 연장부(1323, 1333) 및 상기 테두리부에 연결되는 제2 연장부(1324, 1334)를 포함할 수 있다.
또한, 제1 전극(134) 및 제2 전극(135) 각각은, 상기 제1 유전층(132) 및 제2 유전층(133) 각각의 제1 요철부(1321, 1331)의 내측으로 삽입되어 제1 요철부(1321, 1331) 내면에 면접하는 제2 요철부(1341, 1351); 및 상기 제1 유전층(132) 및 제2 유전층(133) 각각의 테두리부를 덮고 커패시터 외부에 노출되는 제1 노출부(1342, 1352); 제1 연장부(1323, 1333)를 덮는 제2 노출부(1343, 1353); 및 상기 제2 연장부(1324, 1334)를 덮는 제3 노출부(1344, 1354)를 포함할 수 있다.
이러한 본 발명의 제3 실시예에 따른 커패시터는 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 하나의 상부홈 및 하나의 하부홈을 갖는 단일 커패시터 크기의 베이스 기판을 준비하는 단계; 각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계; 및 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 단일의 커패시터를 제작하는 단계가 수행되어 제조될 수 있다.
이러한 제조단계 중 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 및 제2 산화막을 형성하는 단계 각각은 베이스 기판(131)의 측면부 및 상면 일부를 더 식각하여 상기 제1 연장부(1323, 1333) 및 제2 연장부(1324, 1334)를 갖도록 제1 산화막 및 제2 산화막을 형성할 수 있다.
또한, 상기 각각의 제1 산화막 및 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계에서 제1 산화막 및 제2 산화막 상에 형성되는 전극들에 상기 제2 노출부(1343, 1353) 및 제3 노출부(1344, 1354)가 형성되도록 할 수 있다.
제4 실시예
본 발명의 제4 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면 및 하면에 일정 깊이를 갖도록 각각 형성되어 서로 대칭되게 배치되는 상부홈(1411) 및 하부홈(1412), 상기 상부홈(1411) 및 하부홈(1412)의 중심부에 관통되고 상기 상부홈(1411) 및 하부홈(1412)에 소통되는 적어도 하나의 관통홀(1413)을 포함하는 베이스 기판(141); 상기 상부홈(1411) 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층(142); 상기 하부홈(1412) 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층(143); 상기 제1 유전층(142) 상에 구비되는 제1 전극(144); 및 상기 제2 유전층(143) 상에 구비되는 제2 전극(145)을 포함한다.
그리고, 상기 제1 유전층(142) 및 제2 유전층(143)은 상기 적어도 하나의 관통홀(1413)을 매개로 서로 연결되며, 상기 관통홀(1413)은 다수가 서로 일정 간격으로 이웃하여 밀집된 구조를 갖도록 구비될 수 있다.
일 예로, 제1 유전층(142) 및 제2 유전층(143) 각각은, 베이스 기판(141)의 상부홈(1411) 및 하부홈(1412) 각각의 내면에 면접하는 제1 요철부(1421, 1431); 상기 상부홈(1411) 및 하부홈(1412) 각각의 상단의 테두리를 덮도록 상기 베이스 기판(141)의 상면에 면접하는 테두리부(1422, 1432)를 포함할 수 있다.
또한, 제1 전극(144) 및 제2 전극(145) 각각은, 상기 제1 유전층(142) 및 제2 유전층(143) 각각의 제1 요철부(1421, 1431)의 내측으로 삽입되어 제1 요철부(1421, 1431) 내면에 면접하는 제2 요철부(1441, 1451); 및 상기 제1 유전층(142) 및 제2 유전층(143) 각각의 테두리부(1422, 1432)를 덮고 커패시터 외부에 노출되는 제1 노출부(1442, 1452)를 포함할 수 있다.
이러한 본 발명의 제4 실시예에 따른 커패시터는 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 서로 대칭되는 상부홈 및 하부홈의 중심부에 적어도 하나의 관통홀을 형성하는 단계; 각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계; 및 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 단일의 커패시터를 제작하는 단계를 포함하고, 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 또는 상기 제2 산화막을 형성하는 단계에서 상기 관통홀도 산화되어 상기 제1 산화막 및 제2 산화막이 서로 연결되도록 하는 제조방법에 의해 제조될 수 있다.
제5 실시예
본 발명의 제5 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면 및 하면에 일정 깊이를 갖도록 각각 형성되어 서로 대칭되게 배치되는 상부홈(1511) 및 하부홈(1512), 상기 상부홈(1511) 및 하부홈(1512)의 중심부에 관통되고 상기 상부홈(1511) 및 하부홈(1512)에 소통되는 적어도 하나의 관통홀(1513)을 포함하는 베이스 기판(151); 상기 상부홈(1511) 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층(152); 상기 하부홈(1512) 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층(153); 상기 제1 유전층(152) 상에 구비되는 제1 전극(154); 및 상기 제2 유전층(153) 상에 구비되는 제2 전극(155)을 포함한다.
그리고, 상기 제1 유전층(152) 및 제2 유전층(153)은 상기 적어도 하나의 관통홀(1513)을 매개로 서로 연결되며, 상기 관통홀(1513)은 다수가 서로 일정 간격으로 이웃하여 밀집된 구조를 갖도록 구비될 수 있다.
일 예로, 제1 유전층(152) 및 제2 유전층(153) 각각은 상기 상부홈(1511) 및 하부홈(1512) 각각의 내면에 면접하는 제1 요철부(1521, 1531); 상기 상부홈(1511) 및 하부홈(1512) 각각의 상단의 테두리를 덮도록 상기 베이스 기판(151)의 상면에 면접하는 테두리부(1522, 1532)를 포함하고, 제1 유전층(152) 및 제2 유전층(153) 중 어느 하나, 예를 들어, 제2 유전층(153)은 다른 유전층이 위치하는 평면과 동일한 평면에서 이웃하는 제1 연장부(1533); 및 상기 베이스 기판(151)의 측면을 덮고 상기 제1 연장부(1533) 및 상기 테두리부에 연결되는 제2 연장부(1534)를 포함할 수 있다.
또한, 제1 전극(154) 및 제2 전극(155) 각각은, 상기 제1 유전층(152) 및 제2 유전층(153) 각각의 제1 요철부(1521, 1531)의 내측으로 삽입되어 제1 요철부(1521, 1531) 내면에 면접하는 제2 요철부(1541, 1551); 및 상기 제1 유전층(152) 및 제2 유전층(153) 각각의 테두리부를 덮고 커패시터 외부에 노출되는 제1 노출부(1542, 1552)를 포함하고, 제1 전극(154) 및 제2 전극(155) 중 어느 하나, 예를 들어, 제2 전극(155)은 제1 연장부(1533)를 덮는 제2 노출부(1553); 및 상기 제2 연장부(1534)를 덮는 제3 노출부(1554)를 포함할 수 있다.
이러한 본 발명의 제5 실시예에 따른 커패시터는 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 서로 대칭되는 상부홈 및 하부홈의 중심부에 적어도 하나의 관통홀을 형성하는 단계; 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 하나의 상부홈 및 하나의 하부홈을 갖는 단일 커패시터 크기의 베이스 기판을 준비하는 단계; 각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계; 및 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 단일의 커패시터를 제작하는 단계를 포함하고, 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 또는 상기 제2 산화막을 형성하는 단계에서 상기 관통홀도 산화되어 상기 제1 산화막 및 제2 산화막이 서로 연결되도록 하는 제조방법에 의해 제조될 수 있다.
이러한 제조단계 중 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 및 제2 산화막을 형성하는 단계 중 어느 하나의 단계, 예를 들어, 제2 산화막을 형성하는 단계에서 베이스 기판(151)의 측면부 및 상면 일부를 더 식각하여 상기 제1 연장부(1533) 및 제2 연장부(1534)가 형성되도록 할 수 있다.
또한, 상기 각각의 제1 산화막 및 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계에서 제1 산화막 및 제2 산화막 상에 형성되는 전극 중 어느 하나, 예를 들어, 제2 전극(155)이 상기 제2 노출부(1553) 및 제3 노출부(1554)가 형성되도록 할 수 있다.
제6 실시예
본 발명의 제6 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈(1611) 및 기판의 하면에서 서로 이웃하고 상기 복수의 상부홈(1611)과 대칭되게 배치되는 복수의 하부홈(1612)을 포함하는 베이스기판(161); 상기 각각의 상부홈(1611) 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제1 유전층(162); 상기 각각의 하부홈(1612) 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제2 유전층(163); 상기 각각의 제1 유전층(162) 상에 구비되는 복수의 제1 전극(164); 및 상기 각각의 제2 유전층(163) 상에 구비되는 복수의 제2 전극(165)을 포함한다.
상기 각각의 제1 유전층(162) 및 각각의 제2 유전층(163)의 모습과 상기 각각의 제1 전극(164) 및 제2 전극(165)의 모습은 본 발명의 제1 실시예에 따른 커패시터의 제1 유전층(112) 및 제2 유전층(113)과 제1 전극(114) 및 제2 전극(115)의 모습과 동일하므로 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
이러한 본 발명의 제6 실시예에 따른 커패시터는 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하는 커패시터 제조방법에 의해 제조된다.
제7 실시예
본 발명의 제7 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈(1711) 및 기판의 하면에서 서로 이웃하고 상기 복수의 상부홈(1711)과 대칭되게 배치되는 복수의 하부홈(1712)을 포함하는 베이스기판(171); 상기 각각의 상부홈(1711) 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제1 유전층(172); 상기 각각의 하부홈(1712) 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제2 유전층(173); 상기 복수의 제1 유전층(172) 전체를 덮도록 상기 복수의 제1 유전층(172) 상에 구비되는 제1 전극(174); 및 상기 복수의 제2 유전층(173) 전체를 덮도록 상기 복수의 제2 유전층(173) 상에 구비되는 제2 전극(175)을 포함한다.
이러한 본 발명의 제7 실시예에 따른 커패시터는 병렬연결의 커패시터 구조를 갖는다.
한편, 이러한 본 발명의 제7 실시예에 따른 커패시터는 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하며, 상기 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계에서, 베이스기판의 상면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제1 산화막 전체를 덮도록 하고, 베이스기판의 하면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제2 산화막 전체를 덮도록 하는 커패시터 제조방법에 의해 제조된다.
제8 실시예
본 발명의 제8 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈(1811) 및 기판의 하면에서 서로 이웃하고 상기 복수의 상부홈(1811)과 대칭되게 배치되는 복수의 하부홈(1812), 서로 대칭되게 배치되는 상부홈(1811) 및 하부홈(1812)의 중심부에 관통되고 서로 대칭되게 배치되는 상부홈(1811) 및 하부홈(1812)에 소통되는 관통홀(1813)을 포함하는 베이스기판(181); 상기 각각의 상부홈(1811) 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제1 유전층(182); 상기 각각의 하부홈(1812) 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제2 유전층(183); 상기 각각의 제1 유전층(182) 상에 구비되는 복수의 제1 전극(184); 및 상기 각각의 제2 유전층(183) 상에 구비되는 복수의 제2 전극(185)을 포함하고, 서로 대칭되게 배치되는 유전층들은 상기 관통홀(1813)을 매개로 서로 연결된다. 여기서, 상기 관통홀(1813)은 다수가 서로 일정 간격으로 이웃하여 밀집된 구조를 갖도록 구비된다.
이러한 본 발명의 제8 실시예에 따른 커패시터는 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 서로 대칭되는 상부홈 및 하부홈의 중심부에 적어도 하나의 관통홀을 형성하는 단계; 각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 또는 상기 제2 산화막을 형성하는 단계에서 상기 관통홀도 산화되어 상기 제1 산화막 및 제2 산화막이 서로 연결되도록 하는 커패시터 제조방법에 의해 제조된다.
제9 실시예
본 발명의 제9 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈(1911) 및 기판의 하면에서 서로 이웃하고 상기 복수의 상부홈(1911)과 대칭되게 배치되는 복수의 하부홈(1912), 서로 대칭되게 배치되는 상부홈(1911) 및 하부홈(1912)의 중심부에 관통되고 서로 대칭되게 배치되는 상부홈(1911) 및 하부홈(1912)에 소통되는 관통홀(1913)을 포함하는 베이스기판(191); 상기 각각의 상부홈 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제1 유전층(192); 상기 각각의 하부홈(1912) 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제2 유전층(193); 상기 복수의 제1 유전층(192) 전체를 덮도록 상기 복수의 제1 유전층(192) 상에 구비되는 제1 전극(194); 및 상기 복수의 제2 유전층(193) 전체를 덮도록 상기 복수의 제2 유전층(193) 상에 구비되는 제2 전극(195)을 포함하고, 서로 대칭되게 배치되는 유전층들은 상기 관통홀(1913)을 매개로 서로 연결된다.
이러한 본 발명의 제9 실시예에 따른 커패시터는 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 서로 대칭되는 상부홈 및 하부홈의 중심부에 적어도 하나의 관통홀을 형성하는 단계; 각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 또는 상기 제2 산화막을 형성하는 단계에서 상기 관통홀도 산화되어 상기 제1 산화막 및 제2 산화막이 서로 연결되도록 하며, 상기 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계에서, 베이스기판의 상면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제1 산화막 전체를 덮도록 하고, 베이스기판의 하면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제2 산화막 전체를 덮도록 하는 커패시터 제조방법에 의해 제조된다.
제10 실시예
본 발명의 제10 실시예에 따른 커패시터는 도 12에 도시된 바와 같이 전도성 재료를 매개로 하여 다수로 적층한 것을 제외하고는 본 발명의 제6 실시예에 따른 커패시터 구조와 동일하므로 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
제11 실시예
본 발명의 제11 실시예에 따른 커패시터는 도 13에 도시된 바와 같이 전도성 재료를 매개로 하여 다수로 적층한 것을 제외하고는 본 발명의 제7 실시예에 따른 커패시터 구조와 동일하므로 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
제12 실시예
본 발명의 제12 실시예에 따른 커패시터는 도 14에 도시된 바와 같이 전도성 재료를 매개로 하여 다수로 적층한 것을 제외하고는 본 발명의 제8 실시예에 따른 커패시터 구조와 동일하므로 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
제13 실시예
본 발명의 제13 실시예에 따른 커패시터는 도 15에 도시된 바와 같이 전도성 재료를 매개로 하여 다수로 적층한 것을 제외하고는 본 발명의 제9 실시예에 따른 커패시터 구조와 동일하므로 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
제14 실시예
본 발명의 제14 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈(2111)을 포함하는 베이스기판(211); 상기 복수의 상부홈(2111) 전체를 덮도록 상기 복수의 상부홈(2111) 및 복수의 상부홈(2111) 사이의 기판영역 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층(212); 상기 베이스기판(211)의 하면 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층(213); 상기 제1 유전층(212) 상에 구비되는 제1 전극(214); 및 상기 제2 유전층(213) 상에 구비되는 제2 전극(215)을 포함한다.
이러한 본 발명의 제14 실시예에 따른 커패시터는 베이스 기판(211)에서 하부홈(2112)을 생략하고, 제1 유전층(212)이 복수의 상부홈(2111) 상에 연속 형성되고, 제2 유전층(213)이 베이스 기판(211)의 하면에 연속 형성되고, 제1 전극(214)이 제1 유전층(212) 전체를 덮고, 제2 전극(215)이 제2 유전층(213) 전체를 덮도록 구성한 것을 제외하고는 본 발명의 제6 실시예에 따른 커패시터와 유사하므로 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
한편, 이러한 본 발명의 제14 실시예에 따른 커패시터는 베이스기판의 상면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면에 서로 이웃하는 복수의 상부홈을 형성하는 단계; 서로 이웃하는 상부홈 및 서로 이웃하는 상부홈 사이의 기판영역 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 베이스기판의 하면에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 상기 제1 산화막 및 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하는 커패시터 제조방법에 의해 제조된다.
제15 실시예
본 발명의 제15 실시예에 따른 커패시터는 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈(2211) 및 기판의 하면에서 서로 이웃하고 상기 복수의 상부홈(2211)과 대칭되게 배치되는 복수의 하부홈(2212)을 포함하는 베이스기판(221); 상기 복수의 상부홈(2211) 전체를 덮도록 상기 복수의 상부홈(2211) 및 복수의 상부홈(2211) 사이의 기판영역 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층(222); 상기 복수의 하부홈(2212) 전체를 덮도록 상기 복수의 하부홈(2212) 및 복수의 하부홈(2212) 사이의 기판영역 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층(223); 상기 제1 유전층(222) 상에 구비되는 제1 전극(224); 및 상기 제2 유전층(223) 상에 구비되는 제2 전극(225)을 포함한다.
이러한 본 발명의 제15 실시예에 따른 커패시터는 제1 유전층(222)이 복수의 상부홈(2211) 상에 연속 형성되고, 제2 유전층(223)이 복수의 하부홈(2212) 상에 연속 형성되고, 제1 전극(224)이 제1 유전층(222) 전체를 덮고, 제2 전극(225)이 제2 유전층(223) 전체를 덮도록 구성한 것을 제외하고는 본 발명의 제6 실시예에 따른 커패시터와 유사하므로 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
한편, 이러한 본 발명의 제15 실시예에 따른 커패시터는 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계; 서로 이웃하는 상부홈 및 서로 이웃하는 상부홈 사이의 기판영역 상에 제1 산화막을 형성하는 단계; 서로 이웃하는 하부홈 및 서로 이웃하는 하부홈 사이의 기판영역 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하는 커패시터 제조방법에 의해 제조된다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명의 커패시터 및 커패시터 제조방법은 상기다양한 실시예들과 같이 실리콘 웨이퍼의 표면을 에칭 및 산화시키고, 산화되어 막 형태로 구비되는 유전층 상에 전극을 형성하는 과정을 통해 소형의 커패시터의 제조가 가능해지며, 다양한 용량의 커패시터의 제조가 가능해지는 이점이 있다.

Claims (28)

  1. 기판의 상면 및 하면에 일정 깊이를 갖도록 각각 형성되어 서로 대칭되게 배치되는 상부홈 및 하부홈을 포함하는 베이스 기판;
    상기 상부홈 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층;
    상기 하부홈 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층;
    상기 제1 유전층 상에 구비되는 제1 전극; 및
    상기 제2 유전층 상에 구비되는 제2 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각은, 상기 상부홈 및 하부홈 각각의 내면에 면접하는 제1 요철부; 및 상기 상부홈 및 하부홈 각각의 상단의 테두리를 덮도록 상기 베이스기판의 상면에 면접하는 테두리부를 포함하고,
    상기 제1 전극 및 제2 전극 각각은, 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각의 제1 요철부의 내측으로 삽입되어 제1 요철부 내면에 면접하는 제2 요철부; 및 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각의 테두리부를 덮고 커패시터 외부에 노출되는 제1 노출부를 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 유전층 및 제2 유전층 중 어느 하나는 나머지 하나가 위치한 평면과 동일한 평면에서 이웃하는 제1 연장부; 및 상기 베이스기판의 측면을 덮고 상기 제1 연장부 및 상기 테두리부에 연결되는 제2 연장부를 더 포함하고,
    상기 제1 전극 및 제2 전극 중 어느 하나는 상기 제1 연장부를 덮는 제2 노출부; 및 상기 제2 연장부를 덮고 상기 제1 노출부와 연결되는 제3 노출부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각은 다른 유전층이 위치하는 평면과 동일한 평면에서 이웃하는 제1 연장부; 및 상기 베이스기판의 측면을 덮고 상기 제1 연장부 및 상기 테두리부에 연결되는 제2 연장부를 더 포함하고,
    상기 제1 전극 및 제2 전극 각각은 상기 제1 연장부를 덮는 제2 노출부; 및 상기 제2 연장부를 덮는 제3 노출부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 베이스기판은 상기 상부홈 및 하부홈의 중심부에 관통되고 상기 상부홈 및 하부홈에 소통되는 적어도 하나의 관통홀을 더 포함하고,
    상기 제1 유전층 및 제2 유전층은 상기 적어도 하나의 관통홀을 매개로 서로 연결되는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 관통홀은 다수가 서로 일정 간격으로 이웃하여 밀집된 구조를 갖도록 구비되는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각은, 상기 상부홈 및 하부홈 각각의 내면에 면접하는 제1 요철부; 및 상기 상부홈 및 하부홈 각각의 상단의 테두리를 덮도록 상기 베이스기판의 상면에 면접하는 테두리부를 포함하고,
    상기 제1 전극 및 제2 전극 각각은, 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각의 제1 요철부의 내측으로 삽입되어 제1 요철부 내면에 면접하는 제2 요철부; 및 상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각의 테두리부를 덮고 커패시터 외부에 노출되는 제1 노출부를 포함하고,
    상기 제1 유전층 및 제2 유전층 각각의 제1 요철부는 상기 적어도 하나의 관통홀을 통해 서로 연결되는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제1 유전층 및 제2 유전층 중 적어도 하나는 다른 유전층이 위치하는 평면과 동일한 평면에서 이웃하는 제1 연장부; 및 상기 베이스기판의 측면을 덮고 상기 제1 연장부 및 상기 테두리부에 연결되는 제2 연장부를 더 포함하고,
    상기 제1 전극 및 제2 전극 중 적어도 하나는 상기 제1 연장부를 덮는 제2 노출부; 및 상기 제2 연장부를 덮는 제3 노출부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  9. 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 기판의 하면에서 서로 이웃하고 상기 복수의 상부홈과 대칭되게 배치되는 복수의 하부홈을 포함하는 베이스기판;
    상기 각각의 상부홈 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제1 유전층;
    상기 각각의 하부홈 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제2 유전층;
    상기 각각의 제1 유전층 상에 구비되는 복수의 제1 전극; 및
    상기 각각의 제2 유전층 상에 구비되는 복수의 제2 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 베이스기판은 서로 대칭되게 배치되는 상부홈 및 하부홈의 중심부에 관통되고 서로 대칭되게 배치되는 상부홈 및 하부홈에 소통되는 관통홀을 더 포함하고,
    서로 대칭되게 배치되는 유전층들은 상기 관통홀을 매개로 서로 연결되는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 관통홀은 다수가 서로 일정 간격으로 이웃하여 밀집된 구조를 갖도록 구비되는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  12. 제9항 또는 제10항에 있어서,
    상기 커패시터는 전도성 재료를 매개로 하여 다수로 적층되어 구성되는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  13. 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 기판의 하면에서 서로 이웃하고 상기 복수의 상부홈과 대칭되게 배치되는 복수의 하부홈을 포함하는 베이스기판;
    상기 각각의 상부홈 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제1 유전층;
    상기 각각의 하부홈 상에 막 형태로 구비되는 복수의 제2 유전층;
    상기 복수의 제1 유전층 전체를 덮도록 상기 복수의 제1 유전층 상에 구비되는 제1 전극; 및
    상기 복수의 제2 유전층 전체를 덮도록 상기 복수의 제2 유전층 상에 구비되는 제2 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 베이스기판은 서로 대칭되게 배치되는 상부홈 및 하부홈의 중심부에 관통되고 서로 대칭되게 배치되는 상부홈 및 하부홈에 소통되는 관통홀을 더 포함하고,
    서로 대칭되게 배치되는 유전층들은 상기 관통홀을 매개로 서로 연결되는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 관통홀은 다수가 서로 일정 간격으로 이웃하여 밀집된 구조를 갖도록 구비되는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  16. 제13항 또는 제14항에 있어서,
    상기 커패시터는 전도성 재료를 매개로 하여 다수로 적층되어 구성되는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  17. 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈을 포함하는 베이스기판;
    상기 복수의 상부홈 전체를 덮도록 상기 복수의 상부홈 및 복수의 상부홈 사이의 기판영역 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층;
    상기 베이스기판의 하면 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층;
    상기 제1 유전층 상에 구비되는 제1 전극; 및
    상기 제2 유전층 상에 구비되는 제2 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  18. 기판의 상면에서 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 기판의 하면에서 서로 이웃하고 상기 복수의 상부홈과 대칭되게 배치되는 복수의 하부홈을 포함하는 베이스기판;
    상기 복수의 상부홈 전체를 덮도록 상기 복수의 상부홈 및 복수의 상부홈 사이의 기판영역 상에 막 형태로 구비되는 제1 유전층;
    상기 복수의 하부홈 전체를 덮도록 상기 복수의 하부홈 및 복수의 하부홈 사이의 기판영역 상에 막 형태로 구비되는 제2 유전층;
    상기 제1 유전층 상에 구비되는 제1 전극; 및
    상기 제2 유전층 상에 구비되는 제2 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터.
  19. 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계;
    각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계;
    각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및
    각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터 제조방법.
  20. 제19항에 있어서,
    상기 전극을 형성하는 단계 이후에,
    서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 단일의 커패시터를 제작하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터 제조방법.
  21. 제19항에 있어서,
    상기 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계 및 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 사이에,
    서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 하나의 상부홈 및 하나의 하부홈을 갖는 단일 커패시터 크기의 베이스 기판을 준비하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터 제조방법.
  22. 제19항에 있어서,
    상기 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계에서,
    베이스기판의 상면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제1 산화막 전체를 덮도록 하고, 베이스기판의 하면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제2 산화막 전체를 덮도록 하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터 제조방법.
  23. 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계;
    서로 대칭되는 상부홈 및 하부홈의 중심부에 적어도 하나의 관통홀을 형성하는 단계;
    각각의 상부홈 상에 제1 산화막을 형성하는 단계;
    각각의 하부홈 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및
    각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하고,
    상기 제1 산화막을 형성하는 단계 또는 상기 제2 산화막을 형성하는 단계에서 상기 관통홀도 산화되어 상기 제1 산화막 및 제2 산화막이 서로 연결되도록 하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터 제조방법.
  24. 제23항에 있어서,
    서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 단일의 커패시터를 제작하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터 제조방법.
  25. 제23항에 있어서,
    상기 관통홀을 형성하는 단계 및 상기 제1 산화막을 형성하는 단계 사이에,
    서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 서로 이웃하는 복수의 하부홈 사이의 기판영역을 절단하여 하나의 상부홈 및 하나의 하부홈을 갖는 단일 커패시터 크기의 베이스 기판을 준비하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터 제조방법.
  26. 제23항에 있어서,
    상기 각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계에서,
    베이스기판의 상면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제1 산화막 전체를 덮도록 하고, 베이스기판의 하면에서 형성하는 전극은 서로 이웃하는 제2 산화막 전체를 덮도록 하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터 제조방법.
  27. 베이스기판의 상면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면에 서로 이웃하는 복수의 상부홈을 형성하는 단계;
    서로 이웃하는 상부홈 및 서로 이웃하는 상부홈 사이의 기판영역 상에 제1 산화막을 형성하는 단계;
    베이스기판의 하면에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및
    상기 제1 산화막 및 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터 제조방법.
  28. 베이스기판의 상면 및 하면을 에칭하여 상기 베이스기판의 상면 및 하면 각각에 서로 이웃하는 복수의 상부홈 및 복수의 하부홈을 형성하는 단계;
    서로 이웃하는 상부홈 및 서로 이웃하는 상부홈 사이의 기판영역 상에 제1 산화막을 형성하는 단계;
    서로 이웃하는 하부홈 및 서로 이웃하는 하부홈 사이의 기판영역 상에 제2 산화막을 형성하는 단계; 및
    각각의 제1 산화막 및 각각의 제2 산화막 상에 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는,
    커패시터 제조방법.

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100779263B1 (ko) * 2007-02-06 2007-11-27 오영주 무극성 금속 전해 커패시터 및 그의 제조방법
KR20120064610A (ko) * 2010-12-09 2012-06-19 테세라, 인코포레이티드 고밀도 3차원 집적 커패시터
WO2017145515A1 (ja) * 2016-02-22 2017-08-31 株式会社村田製作所 半導体コンデンサおよび電源モジュール
WO2017217342A1 (ja) * 2016-06-17 2017-12-21 株式会社村田製作所 キャパシタ及びその製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100779263B1 (ko) * 2007-02-06 2007-11-27 오영주 무극성 금속 전해 커패시터 및 그의 제조방법
KR20120064610A (ko) * 2010-12-09 2012-06-19 테세라, 인코포레이티드 고밀도 3차원 집적 커패시터
WO2017145515A1 (ja) * 2016-02-22 2017-08-31 株式会社村田製作所 半導体コンデンサおよび電源モジュール
WO2017217342A1 (ja) * 2016-06-17 2017-12-21 株式会社村田製作所 キャパシタ及びその製造方法

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