KR20200090567A

KR20200090567A - 회전식 열충격 시험 장치

Info

Publication number: KR20200090567A
Application number: KR1020190007741A
Authority: KR
Inventors: 조광영
Original assignee: 주식회사 다행
Priority date: 2019-01-21
Filing date: 2019-01-21
Publication date: 2020-07-29
Also published as: KR102283729B1

Abstract

본 발명의 일 실시예에 따르면, 피시험체의 가열과 냉각을 반복하는 열충격 시험 장치로서, 제1 온도로 유지되며 하부가 개방된 고온 챔버; 상기 고온 챔버의 일 측면에 배치되며 하부가 개방되고 상기 제1 온도보다 낮은 제2 온도로 유지되는 저온 챔버; 고온 챔버 또는 저온 챔버 중 하나의 개방된 하부를 커버하며 피시험체를 올려놓을 수 있는 제1 하부커버; 고온 챔버 또는 저온 챔버 중 나머지 하나의 개방된 하부를 커버하며 피시험체를 올려놓을 수 있는 제2 하부커버; 상기 제1 하부커버와 제2 하부커버를 지지하는 지지판; 및 상기 지지판을 승강 및 회전시키는 구동부;를 포함하고, 상기 구동부가 상기 지지판을 승강 및 회전함으로써, 제1 하부커버와 제2 하부커버의 각각이 고온 챔버와 저온 챔버의 개방된 하부를 각각 밀폐하는 제1 시험 모드 및 제1 하부커버와 제2 하부커버의 각각이 저온 챔버와 고온 챔버의 개방된 하부를 각각 밀폐하는 제2 시험 모드를 갖는 것을 특징으로 하는 열충격 시험 장치를 제공한다.

Description

회전식 열충격 시험 장치 {Rotary-type thermal shock test apparatus}

본 발명은 열충격 시험 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 시험 대상인 피시험체를 회전 방식에 의해 고온 챔버와 저온 챔버 사이에서 이동시키는 구성을 갖는 열충격 시험 장치에 관한 것이다.

열충격 시험장치는 저온에서 고온, 혹은 고온에서 저온으로의 온도 변환 시간을 매우 짧게 하면서 가열과 냉각을 반복하여 급격한 온도 변화 조건을 구현하고 그에 따른 제품의 손상 정도를 시험하는 장치이다.

도1은 종래의 일반적인 엘리베이터식 열충격 시험 장치를 개략적으로 나타낸 것으로, 종래 일반적인 열충격 시험 장치는 고온으로 유지되는 고온 챔버(1), 고온 챔버(1)의 하부에 배치되고 저온으로 유지되는 저온 챔버(2), 및 내부에 피시험체를 올려놓고 두 챔버(1,2) 사이를 상하방향으로 움직이는 엘리베이터(3)로 구성된다. 이와 같은 종래의 열충격 시험장치는 엘리베이터(3)에 피시험체를 안착하여 고온 챔버(1)와 저온 챔버(2)를 교대로 이동하며 피시험체를 시험한다.

특허문헌1: 한국 공개특허 제2008-0073084호 (2008년 8월 8일 공개) 특허문헌2: 한국 등록실용신안 제20-0450874호 (2010년11월08일 공고) 특허문헌3: 한국 등록실용신안 제20-0412679호 (2006년03월29일 공고)

본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 종래기술과 달리 회전 방식으로 피시험체를 고온 챔버와 저온 챔버 사이에서 이동하도록 구성하여 시험 장치의 장치 안정성과 내구성을 향상시킬 수 있으며 종래에 비해 많은 개수의 피시험체를 한번에 시험할 수 있는 구성의 열충격 시험 장치를 개시한다.

본 발명의 일 실시예에 따르면 고온 챔버와 저온 챔버를 서로 나란히 배치하고 피시험체를 고온 챔버와 저온 챔버의 개방된 하부면을 통해 회전식으로 이동시키도록 구성하여 종래에 비해 장치 안정성과 내구성을 향상시킬 수 있으며 또한 각 챔버에서 동시에 피시험체를 시험할 수 있으므로 종래에 비해 동일 시간 내 더 많은 수의 피시험체를 시험할 수 있는 기술적 효과를 가진다.

도1은 종래의 열충격 시험 장치를 설명하는 도면,
도2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 열충격 시험 장치를 설명하는 도면,
도3 및 도4는 제1 실시예에 따른 열충격 시험 장치의 동작을 설명하는 도면,
도5는 제2 실시예에 따른 열충격 시험 장치를 설명하는 도면,
도6은 제2 실시예에 따른 열충격 시험 장치의 동작을 설명하는 도면,
도7은 제3 실시예에 따른 열충격 시험 장치를 설명하는 도면,
도8은 제3 실시예에 따른 열충격 시험 장치의 동작을 설명하는 도면이다.

이상의 본 발명의 목적들, 다른 목적들, 특징들 및 이점들은 첨부된 도면과 관련된 이하의 바람직한 실시예들을 통해서 쉽게 이해될 것이다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다.

본 명세서의 도면에 있어서, 구성요소들의 길이, 두께, 넓이 등의 수치는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장하여 표시될 수 있다.

본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함한다(comprise)' 및/또는 '포함하는(comprising)'은 언급된 구성요소는 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.

이하, 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하도록 한다. 아래의 특정 실시예를 기술하는데 있어서, 여러 가지의 특정적인 내용들은 발명을 더 구체적으로 설명하고 이해를 돕기 위해 작성되었다. 하지만 본 발명을 이해할 수 있을 정도로 이 분야의 지식을 갖고 있는 독자는 이러한 여러 가지의 특정적인 내용들이 없어도 사용될 수 있다는 것을 인지할 수 있다. 어떤 경우에는 발명을 기술하는 데 있어서 흔히 알려졌으면서 발명과 크게 관련 없는 부분들은 본 발명을 설명하는 데 있어 혼돈을 막기 위해 기술하지 않음을 미리 언급해 둔다.

도2 및 도3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 열충격 시험 장치를 설명하는 도면이다. 도면을 참조하면, 일 실시예에 따른 열충격 시험 장치는 메인 프레임(110), 메인 프레임(110)의 상부에 배치된 고온 챔버(10)과 저온 챔버(20), 그리고 메인 프레임(110)의 하부에 배치된 구동부(40), 승강판(50), 및 지지판(51) 등을 포함한다.

메인 프레임(110)은 열충격 시험 장치의 본체를 구성하고 지지하는 부재이며, 메인 프레임(110)의 상부에 고온 챔버(100와 저온 챔버(20)가 배치된다. 고온 챔버(10)는 내부에 피시험체를 수용할 수 있는 공간을 가지며, 예컨대 섭씨 0도 내지 200도 사이의 소정 온도로 유지될 수 있다. 저온 챔버(20)는 내부에 피시험체를 수용할 수 있는 공간을 가지며, 예컨대 섭씨 0도 내지 마이너스 100도 사이의 소정의 온도로 유지될 수 있다.

각 챔버(10,20)의 내부를 소정 온도로 가열하거나 냉각하기 위해 공지의 다양한 방법이 사용될 수 있으며, 일 실시예의 경우 고온 챔버(10) 내로 온풍을 불어넣음으로써 소정 온도로 가열할 수 있고 저온 챔버(20) 내로 냉풍을 넣음으로써 소정 온도로 냉각할 수 있다. 온풍이나 냉풍을 생성하고 챔버 내로 공급하는 기술은 공지되어 있으므로 본 명세서에서는 설명을 생략한다.

각 챔버(10,20)의 일 측면, 예컨대 도시한 실시예의 경우 정면에는 도어(11,21)가 설치될 수 있고, 이 도어(11,21)를 통해 피시험체를 챔버 내에 넣거나 뺄 수 있다.

열충격 시험 장치는 챔버(10,20)의 내부 온도와 습도를 설정하고 조절하는 제어패널(130)을 포함한다. 제어패널(130)에는 사용자의 입력을 받는 다수의 버튼 및 챔버내 온도를 표시하는 디스플레이 등으로 구성될 수 있고, 사용자가 제어패널(130)를 통해 각 챔버(10,20)의 온도와 습도를 설정하고 제어할 수 있다.

각 챔버(10,20)는 상부면과 측면들은 외부로부터 밀폐되어 있지만 하부는 개방되어 있다. 후술하겠지만, 이 개방된 하부는 하부 커버(61,62)에 의해 각각 커버되어 각 챔버(10,20)가 밀폐될 수 있다. 예를 들어, 고온 챔버(10)는 제1 하부 커버(61)에 의해 닫혀서 밀폐될 수 있고 저온 챔버(20)는 제2 하부 커버(62)에 의해 닫혀서 밀폐될 수 있다.

도3을 참조하면, 각 챔버(10,20)의 아래쪽에는 제1 하부 커버(61)와 제2 하부 커버(62)를 승강 및 회전시키기 위한 구동부(40)가 배치된다. 구동부(40)는 예컨대 하나 이상의 유압모터로 구성될 수 있고 구동부 프레임(120)에 의해 고정될 수 있다. 도3에 도시한 것처럼 일 실시예에서 구동부(40)는 상방향으로 뻗은 구동축(45)을 포함한다. 구동축(45)은 상하 방향으로 움직임 수 있고 회전할 수도 있다. 승강판(50)이 구동축(45)에 결합되어 있으며, 구동부(40)의 동작에 의해 승강판(50)이 소정 거리 내에서 상하 방향으로 움직이도록 한다.

승강판(50)의 상부에는 지지판(51)이 배치된다. 지지판(51)은 승강판(50)에 의해 지지되어 있되 구동축(45)에 회전가능하게 결합된다. 따라서 지지판(51)은 승강판(50)의 상하 운동에 의해 상하로 함께 움직일 수 있고 구동축(45)의 회전에 의해 회전할 수 있다.

도면에 도시한 구성 외에도, 지지판(51)을 승강 및 회전시키는 다양한 방식이 이용될 수 있다. 예를 들어 구동부(40)가 둘 이상의 유압모터 및/또는 전기모터로 구성되고, 지지판(51)이 제1 모터에 의해 회전하고 제2 모터에 의해 상하 방향으로 움직일 수 있다. 따라서 도시한 실시예는 지지판(51)을 승강 및 회전시키는 예시적인 구성이며, 이러한 구성 외의 다양한 방식의 구성이 사용될 수 있음을 이해할 것이다.

지지판(51)의 상부에는 제1 하부 커버(61) 및 제2 하부 커버(62)가 배치되어 있다. 제1 및 제2 하부 커버(61,62)는 동일한 형상과 크기로 구성되며, 따라서 제1 및 제2 하부 커버(61,62) 중 어느 하나가 고온 챔버와 저온 챔버 중 하나를 커버하면서 밀폐시키면 다른 하나가 고온 챔버와 저온 챔버 중 나머지 하나를 커버하면서 밀폐할 수 있도록 구성된다.

각 하부 커버(61,62)의 상부면에는 시험 대상인 피시험체(T)를 올려 놓을 수 있다. 예를 들어 각 하부 커버(61,62)의 위에 피시험체를 올려놓는 별도의 스테이지(71,72)가 구비될 수 있고, 이 스테이지(71,72) 위에 피시험체를 올려놓고 시험할 수 있다.

상기 구성에 따른 열충격 시험 장치의 동작을 도2 내지 도4를 참조하여 설명하기로 한다. 우선 도2와 같이 구동부(40)의 동작에 의해 지지판(51)의 상승시켜 제1 및 제2 하부 커버(61,62)가 고온 챔버(10)와 저온 챔버(20)를 밀폐하도록 한다. 도2의 실시예에서 제1 하부 커버(61)가 고온 챔버(10)의 하부를 밀폐하고 제2 하부 커버(62)가 저온 챔버(20)의 하부를 밀폐하며, 본 명세서에서는 이 상태의 시험 모드를 제1 시험 모드라고 칭하기로 한다.

제1 시험 모드 상태에서 예컨대 정면의 도어(11,21)를 열고 하나 이상의 피시험체를 고온 챔버(10) 및/또는 저온 챔버(20)에 넣는다. 도시한 실시예에서는 고온 챔버(10)에 하나의 피시험체(T)를 넣은 것으로 도시하였다.

그 후 미리 설정된 열충격 시험 절차에 따라 고온 챔버(10)에 놓인 피시험체(T)를 소정 시간 동안 가열하여 시험하고, 이 소정 시간이 경과하면 도3에서와 같이 구동부(40)를 구동하여 지지판(51)을 하강시킨다. 지지판(51)이 하강하면, 구동부(40)는 지지판(51)을 180도 회전시킨다. 이에 따라 도4에 도시한 것처럼 제1 하부 커버(61)가 저온 챔버(20)의 아래쪽에 위치하게 되고, 이 상태로 지지판(51)을 상승시켜 각 하부 커버(61,62)가 챔버(10,20)의 하부를 밀폐시킨다. 이 때 제1 하부 커버(61)가 저온 챔버(20)의 하부를 밀폐하고 제2 하부 커버(62)가 고온 챔버(10)의 하부를 밀폐하며, 본 명세서에서는 이 상태의 시험 모드를 제2 시험 모드라고 칭하기로 한다.

제2 시험 모드에서 피시험체(T)를 저온 챔버(20) 내에서 소정 시간 동안 냉각하며 시험한다. 그 후 상술한 지지판(51)의 동작(하강, 180도 회전, 및 상승)의 과정을 반복하면서 피시험체(T)에 대한 가열과 냉각을 반복하며 열충격 시험을 수행할 수 있다.

이와 같이 본 발명의 일 실시예에 따르면, 구동부(40)가 지지판(51)을 하강시킨 후 180도 회전시키고 그 후 지지판을 상승시키는 동작을 수행함으로써 피시험체(T)를 고온 챔버(10)와 저온 챔버(20)로 교대로 이동시킬 수 있다.

상술한 본 발명의 열충격 시험 장치는 종래 엘리베이터식 열충격 시험기와 비교하여 아래와 같은 기술적 효과를 갖는다.

첫째, 본 발명에 따르면 시험 장치의 안정성과 내구성을 향상시킬 수 있다. 종래의 엘리베이터 방식은 시험체를 수용하는 엘리베이터를 상하 방향으로 이동하며 고온 챔버와 저온 챔버 사이를 승강하였는데, 엘리베이터를 승강시키는 구동부를 상하로 배치된 고온 챔버와 저온 챔버의 상부 또는 하부나 측면에 설치하면 엘리베이터를 지지하고 움직이는 지지부나 구동부가 고온 챔버나 저온 챔버를 관통하여 설치되거나 지지부나 구동부가 고온 챔버와 저온 챔버에 지속적으로 노출되어야 하므로 이들 구성요소의 내구성이 문제되거나 챔버의 밀폐성이 떨어진다. 그러나 본 발명에서는 하부 커버(61,62)를 구동하고 지지하는 구동부(40), 승강판(50), 및 지지판(51)이 챔버(10,20)의 아래쪽에 위치하므로 위와 같은 종래 문제점이 발생하지 않는다.

둘째, 전자장치 시험을 위한 전원 연결 구조의 경우에도 종래기술은 위와 유사한 문제점이 있으나 본 발명은 이러한 문제점을 해결할 수 있다.

일반적으로 전자장치나 전기장치의 제조시 고온 및 저온에서의 안정적 동작 여부를 테스트하기 위해 열충격 시험을 행하는데, 이를 위해서는 피시험체인 전자장치나 전기장치를 올려놓는 스테이지에 전원 연결선을 설치해야 한다. 그런데 종래의 엘리베이터식 시험 장치의 경우 전원 연결선을 상기 지지부나 구동부와 마찬가지로 엘리베이터의 상부, 하부, 또는 측면부로 인출할 경우 고온 챔버나 저온 챔버를 통과해야 하므로 전선의 내구성과 안전성에 문제가 발생하게 된다. 그러나 본 발명에서는 전원 연결선도 챔버(10,20)의 아래쪽으로 인출하면 되므로 이러한 종래 문제점을 해결할 수 있다.

셋째, 본 발명의 열충격 시험 장치는 한번에 2개의 피시험체를 시험할 수 있으므로 종래의 엘리베이터식 장치 대비 시험 속도를 2배로 높일 수 있다. 도1의 엘리베이터식 시험 장치는 엘리베이터 내에 하나의 피시험체만 넣을 수 있지만 본 발명에서는 제1 하부 커버(61)와 제2 하부 커버(62)에 각각 피시험체를 올려놓고 동시에 시험할 수 있다. 즉 제1 하부 커버(61) 위에 놓인 피시험체는 제1 시험 모드와 제2 시험 모드를 번갈아가며 시험하고 제2 하부 커버(62)에 놓인 피시험체는 제2 시험 모드와 제1 시험 모드를 번갈아가며 시험할 수 있다. 따라서 본 발명은 종래 대비 2배의 속도로 피시험체들을 시험할 수 있다.

더욱이 대안적 실시예에서 2개 이상의 고온 챔버와 2개 이상의 저온 챔버를 구동축(45)을 중심으로 하는 원호를 따라 교대로 배열할 경우 한번에 더 많은 피시험체를 시험할 수 있다. 예컨대 구동축(45)을 중심으로 90도 간격으로 제1 고온 챔버, 제1 저온 챔버, 제2 고온 챔버, 및 제2 저온 챔버를 배열하고 이에 대응하는 4개의 하부 커버를 배치할 경우 한번에 4개의 피시험체를 시험할 수 있으며, 이와 같이 고온 챔버와 저온 챔버의 개수를 늘리면 4개, 6개, 8개 등으로 더 많은 피시험체를 한번에 시험할 수 있다.

한편 본 발명의 일 실시예에서 열충격 시험 장치는 피시험체를 고온과 저온 사이의 소정 온도에서 시험하는 제3 시험 모드를 더 포함할 수 있다. 예를 들어 제3 시험 모드는 도3에서와 같이 지지판(51)을 하강하여 피시험체를 고온 챔버(10) 또는 저온 챔버(20)로부터 배출한 상태에서 피시험체를 소정 시간 동안 유지하는 시험 모드일 수 있다. 이 때 피시험체는 고온 챔버(10)와 저온 챔버(20) 아래쪽의 하부 영역(30), 즉 구동부(40)가 배치된 영역에 위치하며, 이 하부 영역(30)은 예컨대 상온으로 유지된다. 따라서 제3 시험 모드는 예컨대 상온에서 피시험체를 일정 시간 동안 시험하는 모드일 수 있다.

이 때 하부 영역(30)을 열충격 시험 장치의 주변 분위기와 분리하여 별도의 소정 온도로 가열 또는 냉각할 수도 있으며, 이를 위해 예컨대 메인 프레임(110) 중 하부 영역(30)을 둘러싸는 프레임 사이에 격벽(도시 생략)을 추가로 설치할 수 있다. 예를 들어 구동부(40)와 지지판(51) 등 하부 영역(30)의 구성요소들을 열충격 시험 장치의 주변과 열적으로 분리하기 위한 격벽을 설치하고 하부 영역(30)을 냉각 또는 가열하는 별도의 온도 조절 장치(도시 생략)를 설치하여 소정의 특정 온도에서 피시험체를 시험할 수 있다.

도5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 열충격 시험 장치를 나타내며 도6은 제2 실시예에 따른 시험 장치의 동작을 나타낸다.

도면을 참조하면, 제2 실시예의 열충격 시험 장치는 고온 챔버(10), 저온 챔버(20), 하부 영역(30), 구동부(40), 승강판(50) 등을 구비하는 점에서 도2 내지 도4의 제1 실시예와 동일 또는 유사하다. 다만 제2 실시예에서 열충격 시험 장치는 고온 챔버(10)의 하부를 향해 공기를 분사하는 제1 블로워(81), 및 저온 챔버(20)의 하부를 향해 공기를 분사하는 제2 블로워(82)를 더 포함한다. 각 블로워(81,82)는 상온 또는 소정 온도의 공기를 각 챔버(10,20)의 하부면을 따라 수평 방향으로 분사할 수 있다.

이러한 구성에 따르면, 예를 들어 도6에 도시한 것처럼 구동부(40)의 동작에 의해 지지판(51)이 하강하여 피시험체(T)가 챔버(10,20) 하부면 보다 더 아래쪽으로 하강하면 제1 및 제2 블로워(81,82)가 각각 고온 챔버(10)와 저온 챔버(20)의 하부면을 향해 공기를 분사하여 일종의 에어 커튼을 형성하고, 고온 챔버(10) 내부의 고온의 공기나 저온 챔버(20) 내부의 저온의 공기가 하부 영역(30)으로 확산하는 것을 방지한다.

따라서, 예컨대 하부 영역(30)에서 피시험체를 시험하는 제3 시험 모드의 경우 고온 챔버(10)와 저온 챔버(20)의 각 하부면이 개방되어 있지만 블로워(81,82)에 의한 에어 커튼 효과에 의해 챔버(10,20) 내 공기의 영향을 덜 받으면서 제3 시험 모드에 따른 시험을 수행할 수 있다.

또한 일 실시예에서, 제3 시험 모드에 따른 시험을 수행할 때 고온 챔버(10)와 저온 챔버(20)의의 영향을 덜 받기 위해 도6에 도시한 것처럼 지지판(51)을 하강하여 90로 회전한 상태로 피시험체를 시험할 수도 있다.

도7은 본 발명의 제3 실시예에 따른 열충격 시험 장치를 나타내며 도8은 제3 실시예에 따른 시험 장치의 동작을 나타낸다.

도면을 참조하면, 제3 실시예의 열충격 시험 장치는 고온 챔버(10), 저온 챔버(20), 하부 영역(30), 구동부(40), 승강판(50) 등을 구비하는 점에서 도2 내지 도4의 제1 실시예와 동일 또는 유사하다. 다만 제3 실시예의 열충격 시험 장치는 고온 챔버(10)의 개방된 하부면을 적어도 부분적으로 덮을 수 있는 제1 하부 도어(15) 및 저온 챔버(20)의 개방된 하부면을 적어도 부분적으로 덮을 수 있는 제2 하부 도어(25)를 더 포함한다.

제1 및 제2 하부 도어(15,25)의 각각은 구동수단(도시 생략)에 의해 각 챔버(10,20)의 하부면을 적어도 부분적으로 덮을 수 있고, 이에 따라 각 챔버(10,20)의 고온 또는 저온의 공기가 아래쪽의 하부 영역(30)으로 흘러가는 것을 방지할 수 있다.

이 구성에 따르면, 예컨대 도8에 도시한 것처럼 구동부(40)의 동작에 의해 지지판(51)이 하강하여 피시험체(T)가 챔버(10,20) 하부면 보다 더 아래쪽으로 하강하면, 제1 및 제2 하부 도어(15,25)가 각각 고온 챔버(10)와 저온 챔버(20)의 하부면을 덮음으로써 고온 챔버(10)의 내부와 외부 사이 및 저온 챔버(20)의 내부와 외부 사이에 공기 흐름을 적어도 부분적으로 차단하며, 이에 따라 고온 챔버(10)나 저온 챔버(20) 내부의 공기가 하부 영역(30)으로 확산하는 것을 방지한다.

따라서 이 경우에도 하부 영역(30)에서 피시험체를 시험하는 제3 시험 모드를 수행할 때 제1 및 제2 하부 도어(15,25)를 동작함으로써 하부 영역(30)이 챔버(10,20)의 영향을 덜 받으면서 제3 시험 모드에 따른 시험을 수행할 수 있다.

한편 제3 실시예의 대안적 실시예로서, 각 챔버(10,20)의 하부면을 적어도 부분적으로 덮는 제1 및 제2 하부 도어(15,25) 대신 전체 챔버(10,20)의 하부면을 적어도 부분적으로 덮는 하나의 하부 도어(도시 생략)을 구비할 수도 있다. 이 경우 하부 도어를 구동하는 구동수단을 하나만 마련하면 되며, 지지판(51)이 하강하였을 때, 상기 하나의 하부 도어가 고온 챔버(10)와 저온 챔버(20)의 하부를 적어도 부분적으로 덮음으로써 챔버(10,20)와 하부 영역(30) 사이의 공기 흐름을 차단할 수 있다.

이상과 같이 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 명세서의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능함을 이해할 수 있다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니되며 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.

10: 고온 챔버
15: 하부 도어
20: 저온 챔버
25: 하부 도어
30: 하부 영역
40: 구동부
50: 승강판
51: 지지판
61,62: 하부 커버
71,72: 스테이지
81,82: 블로워
110: 메인 프레임
130: 제어 패널

Claims

피시험체의 가열과 냉각을 반복하는 열충격 시험 장치로서,
제1 온도로 유지되며 하부가 개방된 고온 챔버(10);
상기 고온 챔버(10)의 일 측면에 배치되며 하부가 개방되고 상기 제1 온도보다 낮은 제2 온도로 유지되는 저온 챔버(20);
고온 챔버 또는 저온 챔버 중 하나의 개방된 하부를 커버하며 피시험체를 올려놓을 수 있는 제1 하부커버(61);
고온 챔버 또는 저온 챔버 중 나머지 하나의 개방된 하부를 커버하며 피시험체를 올려놓을 수 있는 제2 하부커버(62);
상기 제1 하부커버와 제2 하부커버를 지지하는 지지판(51); 및
상기 지지판(51)을 승강 및 회전시키는 구동부(40);를 포함하고,
상기 구동부가 상기 지지판을 승강 및 회전함으로써, 제1 하부커버와 제2 하부커버의 각각이 고온 챔버와 저온 챔버의 개방된 하부를 각각 밀폐하는 제1 시험 모드 및 제1 하부커버와 제2 하부커버의 각각이 저온 챔버와 고온 챔버의 개방된 하부를 각각 밀폐하는 제2 시험 모드를 갖는 것을 특징으로 하는 열충격 시험 장치.
제 1 항에 있어서,
상기 제1 시험 모드와 제2 시험 모드 사이의 전환시, 상기 구동부(40)가 상기 지지판을 하강시킨 후 180도 회전시키고 그 후 지지판을 상승시키는 동작을 수행하도록 구성된 것을 특징으로 하는 열충격 시험 장치.
제 2 항에 있어서,
상기 구동부가 상기 지지판을 하강시킨 후 소정 시간동안 유지함으로써 피시험체를 제3 온도에서 시험하는 제3 시험 모드를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열충격 시험 장치.
제 3 항에 있어서,
상기 지지판과 구동부를 둘러싸는 영역을 외부로부터 밀폐하는 격벽을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열충격 시험 장치.
제 3 항에 있어서,
상기 고온 챔버의 하부를 향해 공기를 분사하는 제1 블로워, 및 상기 저온 챔버의 하부를 향해 공기를 분사하는 제2 블로워를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열충격 시험 장치.
제 5 항에 있어서,
상기 구동부에 의해 상기 지지판이 하강하였을 때, 상기 제1 및 제2 블로워의 각각에서 고온 챔버와 저온 챔버의 하부를 향해 공기를 분사함으로써 고온 챔버의 내부와 외부 사이 및 저온 챔버의 내부와 외부 사이에 각각 에어커튼을 형성하는 것을 특징으로 하는 열충격 시험 장치.
제 3 항에 있어서,
상기 고온 챔버의 개방된 하부를 적어도 부분적으로 덮을 수 있는 제1 하부도어, 및 상기 저온 챔버의 개방된 하부를 적어도 부분적으로 덮을 수 있는 제2 하부도어를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열충격 시험 장치.
제 7 항에 있어서,
상기 구동부에 의해 상기 지지판이 하강하였을 때, 상기 제1 및 제2 하부도어의 각각이 고온 챔버와 저온 챔버의 하부를 덮음으로써 고온 챔버의 내부와 외부 사이 및 저온 챔버의 내부와 외부 사이에 공기 흐름을 적어도 부분적으로 차단하는 것을 특징으로 하는 열충격 시험 장치.
제 3 항에 있어서,
상기 고온 챔버의 개방된 하부와 저온 챔버의 개방된 하부의 전체 또는 적어도 일부분을 덮을 수 있는 하부도어를 더 포함하고,
상기 구동부에 의해 상기 지지판이 하강하였을 때, 상기 하부도어가 고온 챔버와 저온 챔버의 하부를 적어도 부분적으로 덮음으로써 고온 챔버의 내부와 외부 사이 및 저온 챔버의 내부와 외부 사이에 공기 흐름을 적어도 부분적으로 차단하는 것을 특징으로 하는 열충격 시험 장치.