KR20200046484A - Method of manufacturing metal mask for vapor-deposition - Google Patents

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김성익
배인섭
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해성디에스 주식회사
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Abstract

According to an embodiment of the present invention, a method of manufacturing a metal mask for deposition comprises the steps (a) to (d). In the step (a), an adhesion-reinforcing material having a stronger interface adhesion with photoresist than a metal plate is coated on both sides of the metal plate. In the step (b), photoresist is applied to both sides of the metal plate. In the step (c), patterns of photoresist are formed on both sides of the metal plate by exposure and development. In the step (d), a pattern of through holes is formed in the metal plate by etching the metal plate using an etching solution.

Description

증착용 금속 마스크의 제조 방법{Method of manufacturing metal mask for vapor-deposition}Method of manufacturing metal mask for vapor-deposition

본 발명은, 증착용 금속 마스크의 제조 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 금속 판에 관통 구멍들의 패턴을 형성하는 증착용 금속 마스크의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing a metal mask for deposition, and more particularly, to a method for manufacturing a metal mask for deposition, in which a pattern of through holes is formed in a metal plate.

증착용 금속 마스크는 다양한 제조 공정들 예를 들어, 디스플레이 패널의 제조 공정에 사용된다. The metal mask for deposition is used in various manufacturing processes, for example, a manufacturing process of a display panel.

디스플레이 패널에 있어서, OLED(Organic Light Emitting Diodes) 디스플레이 패널은 LCD(Liquid Crystal Display) 패널에 비하여 다음과 같은 장점들을 가지므로 각광을 받고 있다. In a display panel, an OLED (Organic Light Emitting Diodes) display panel has been spotlighted because it has the following advantages over a Liquid Crystal Display (LCD) panel.

첫째, 응답 시간이 빠르다.First, the response time is fast.

둘째, 시야각이 넓다.Second, the viewing angle is wide.

셋째, 백라이트가 불필요하므로, 박형화가 가능하다.Third, since a backlight is unnecessary, thinning is possible.

넷째, 플렉시블(flexible) 디스플레이패널을 구현할 수 있다.Fourth, a flexible display panel can be implemented.

이와 같은 OLED 디스플레이 패널의 제조 공정에 있어서, 투명 기판에 증착용 금속 마스크가 밀착된 후에 증착 공정에 의하여 유기 발광층 패턴이 형성된다. 따라서, 유기 발광층 패턴의 정밀도는 증착용 금속 마스크의 정밀도에 비례한다.In the manufacturing process of the OLED display panel, an organic light emitting layer pattern is formed by a deposition process after a metal mask for deposition is adhered to a transparent substrate. Therefore, the precision of the organic light emitting layer pattern is proportional to the precision of the metal mask for deposition.

한편, 증착용 금속 마스크에 형성된 관통 구멍에 있어서, 증착 소오스를 향하는 상부는 증착 대상을 향하는 하부보다 크게 형성된다. 즉, 관통 구멍의 위쪽 지름은 아래쪽 지름보다 길게 형성된다. On the other hand, in the through hole formed in the metal mask for deposition, the upper portion facing the deposition source is formed larger than the lower portion facing the deposition target. That is, the upper diameter of the through hole is formed longer than the lower diameter.

종래의 증착용 금속 마스크들의 관통 구멍들에 있어서, 위쪽 지름의 평균 편차가 상당히 크고, 아래쪽 지름의 평균 편차가 상당히 크다. 즉, 관통 구멍의 크기가 상당히 불균일함에 따라, 증착용 금속 마스크의 정밀도가 낮아지는 문제점이 있다. In the through holes of conventional metal masks for deposition, the average deviation of the upper diameter is quite large, and the average deviation of the lower diameter is quite large. That is, as the size of the through hole is considerably non-uniform, there is a problem that the precision of the metal mask for deposition is lowered.

상기 배경 기술의 문제점은, 발명자가 본 발명의 도출을 위해 보유하고 있었거나, 본 발명의 도출 과정에서 습득한 내용으로서, 반드시 본 발명의 출원 전에 일반 공중에게 공지된 내용이라 할 수는 없다.The problem of the background art is that the inventor possessed it for the derivation of the present invention, or was learned in the derivation process of the present invention, and is not necessarily the content known to the general public before filing the present invention.

대한민국 등록특허 공보 제10-1884160호 (출원인 : 도판 인사츠 가부시키가이샤, 명칭 : 증착용 메탈 마스크, 증착용 메탈 마스크의 제조 방법, 및 증착용 메탈 마스크 형성 기재)Republic of Korea Registered Patent Publication No. 10-1884160 (applicant: Dopan Insatsu Co., Ltd., name: metal mask for deposition, method for manufacturing metal mask for deposition, and metal mask formation for deposition)

본 발명의 실시예는, 관통 구멍의 크기가 보다 균일해짐에 따라 증착 정밀도를 향상시킬 수 있는 증착용 금속 마스크의 제조 방법을 제공하고자 한다.An embodiment of the present invention is to provide a method of manufacturing a metal mask for deposition that can improve deposition accuracy as the size of the through hole becomes more uniform.

본 발명의 실시예의 방법은, 금속 판에 관통 구멍들의 패턴을 형성하는 증착용 금속 마스크의 제조 방법으로서, 단계들 (a) 내지 (d)를 포함한다.The method of the embodiment of the present invention, as a method of manufacturing a metal mask for deposition to form a pattern of through holes in a metal plate, includes steps (a) to (d).

상기 단계 (a)에서, 포토 레지스트와의 계면 접착력이 상기 금속 판보다 센 접착-강화 물질을 상기 금속 판의 양면에 도포(coating)한다. In step (a), an adhesion-reinforcing material having an interface adhesive strength with a photoresist stronger than that of the metal plate is coated on both sides of the metal plate.

상기 단계 (b)에서, 상기 금속 판의 양면에 상기 포토 레지스트를 도포한다.In step (b), the photoresist is applied to both surfaces of the metal plate.

상기 단계 (c)에서, 노광 및 현상에 의하여 상기 금속 판의 양면에 상기 포토 레지스트의 패턴들을 형성한다.In step (c), patterns of the photoresist are formed on both sides of the metal plate by exposure and development.

상기 단계 (d)에서, 식각(etching) 용액을 사용하여 상기 금속 판을 식각함에 의하여, 상기 금속 판에 상기 관통 구멍들의 패턴을 형성한다.In step (d), a pattern of the through holes is formed in the metal plate by etching the metal plate using an etching solution.

본 발명을 위한 실험에 의하면, 종래 기술에서 관통 구멍의 크기가 상당히 불균일해지게 하는 원인이 발견되었다. 그 원인은, 상기 금속 판의 식각(etching) 단계에서 상기 금속 판과 상기 포토 레지스트의 계면으로 침투된 식각 용액으로 인하여 불균일한 추가적 식각이 이루어지는 것이다. According to the experiment for the present invention, it has been found in the prior art that the size of the through hole is significantly uneven. The cause is that additional etch occurs due to the etching solution penetrated into the interface between the metal plate and the photoresist in the etching step of the metal plate.

이에 따른 본 발명의 실시예의 상기 증착용 금속 마스크의 제조 방법에 의하면, 상기 접착-강화 물질의 작용으로 인하여, 금속의 식각(etching) 단계에서 상기 금속 판과 상기 포토 레지스트의 계면으로 침투하는 식각 용액의 양이 줄어들 수 있다. 따라서, 상기 불균일한 추가적 식각의 정도가 줄어들 수 있다. 즉, 상기 관통 구멍의 크기가 보다 균일해짐에 따라 증착 정밀도가 향상될 수 있다.According to the method of manufacturing the metal mask for deposition according to an embodiment of the present invention, an etching solution penetrating into the interface between the metal plate and the photoresist in the etching step of the metal due to the action of the adhesion-reinforcing material The amount of can be reduced. Accordingly, the degree of the non-uniform additional etching may be reduced. That is, as the size of the through hole becomes more uniform, deposition precision may be improved.

도 1a 내지 1g는 본 발명의 실시예의 제조 방법을 설명하기 위한 측단면도들이다.
도 2는 도 1g의 증착용 금속 마스크의 측단면의 사진을 보여주는 도면이다.
도 3은 증착용 금속 마스크의 윗면과 아랫면을 각각 비교하기 위한 도면이다.
도 4는 증착용 금속 마스크의 윗면과 측단면을 각각 비교하기 위한 도면이다.
도 5는 관통 구멍의 위쪽 지름의 분포 상태를 비교하기 위한 도면이다.
도 6은 관통 구멍의 아래쪽 지름의 분포 상태를 비교하기 위한 도면이다.
1A to 1G are side cross-sectional views for explaining a manufacturing method of an embodiment of the present invention.
2 is a view showing a photograph of a side cross-section of the metal mask for deposition of FIG. 1G.
3 is a view for comparing the top and bottom surfaces of the metal mask for deposition, respectively.
4 is a view for comparing the top surface and the side surface of the metal mask for deposition, respectively.
5 is a view for comparing the distribution state of the upper diameter of the through hole.
6 is a view for comparing the distribution state of the lower diameter of the through hole.

하기의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명에 따른 동작을 이해하기 위한 것이며, 본 기술 분야의 통상의 기술자가 용이하게 구현할 수 있는 부분은 생략될 수 있다. The following description and the accompanying drawings are intended to understand the operation according to the present invention, and parts that can be easily implemented by those skilled in the art may be omitted.

또한 본 명세서 및 도면은 본 발명을 제한하기 위한 목적으로 제공된 것은 아니고, 본 발명의 범위는 청구의 범위에 의하여 정해져야 한다. 본 명세서에서 사용된 용어들은 본 발명을 가장 적절하게 표현할 수 있도록 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.In addition, this specification and drawings are not provided for the purpose of limiting the present invention, and the scope of the present invention should be defined by the claims. The terms used in this specification should be interpreted as meanings and concepts consistent with the technical spirit of the present invention in order to best represent the present invention.

이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예가 상세히 설명된다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1a 내지 1g는 본 발명의 실시예의 제조 방법을 설명하기 위한 측단면도들이다. 도 1a 내지 1g를 참조하여 금속 판(100)에 관통 구멍들의 패턴을 형성하는 증착용 금속 마스크의 제조 방법을 설명하기로 한다.1A to 1G are side cross-sectional views for explaining a manufacturing method of an embodiment of the present invention. A method of manufacturing a metal mask for evaporation forming a pattern of through holes in the metal plate 100 will be described with reference to FIGS. 1A to 1G.

먼저, 금속 판(100)의 세정을 위하여 탈지, 산세, 수세, 및 건조 공정이 순서대로 수행된다. 탈지 공정은 금속 판(100)의 표면에 묻어 있는 기름기 및 유기물을 제거한다. 산세 공정은 금속 판(100)의 표면을 미세하게 다듬는다. 수세 공정은 금속 판(100)을 세척한다. 건조 공정은 금속 판(100)을 건조시킨다.First, in order to clean the metal plate 100, degreasing, pickling, washing, and drying processes are sequentially performed. The degreasing process removes greasy and organic substances on the surface of the metal plate 100. The pickling process finely polishes the surface of the metal plate 100. The water washing process washes the metal plate 100. The drying process dries the metal plate 100.

건조 공정이 완료되면, 선형 이온 소스(linear ion source)의 플라즈마에 의하여 상기 금속 판(100)에 표면 처리가 수행된다. 본 실시예의 경우, 선형 이온 소스로서 아르곤(Ar) 소스가 채용된다. 이와 같은 선형 이온 소스의 작용으로 인하여 금속 판(100)의 표면 순도가 높아질 수 있다. 이와 같은 선형 이온 소스의 공정이 추가됨에 의하여, 다음 공정에서 접착-강화 물질과 금속 판(100)의 접착력이 보다 커질 수 있다. 도 1a는 선형 이온 소스(linear ion source)의 공정이 완료된 상태의 금속 판(100)을 보여준다. When the drying process is completed, surface treatment is performed on the metal plate 100 by plasma of a linear ion source. In the case of this embodiment, an argon (Ar) source is employed as the linear ion source. Due to the action of the linear ion source, the surface purity of the metal plate 100 may be increased. By adding the process of the linear ion source, the adhesion between the adhesion-reinforcing material and the metal plate 100 may be greater in the next process. 1A shows the metal plate 100 in a state in which the process of the linear ion source is completed.

다음에, 도 1b에 도시된 바와 같이, 포토 레지스트와의 계면 접착력이 금속 판(100)보다 센 접착-강화 물질(101)이 금속 판(100)의 양면에 도포(coating)된다. 여기에서, 전기 도금 또는 스퍼터링(sputtering) 공정에 의하여 접착-강화 물질(101)이 금속 판(100)의 양면에 도포(coating)된다.Next, as shown in FIG. 1B, an adhesive-reinforcing material 101 having a greater interface adhesion with the photoresist than the metal plate 100 is coated on both sides of the metal plate 100. Here, the adhesive-reinforcing material 101 is coated on both sides of the metal plate 100 by an electroplating or sputtering process.

실험에 의하면, 도포된 접착-강화 물질(101)의 두께의 범위로서 1 나노-미터(nm) 내지 1 마이크로-미터(μm)가 적절하다.According to the experiment, 1 nano-meter (nm) to 1 micro-meter (μm) is suitable as the range of the thickness of the applied adhesive-reinforcing material 101.

접착-강화 물질(101)은, 포토 레지스트와의 계면 접착력이 금속 판(100)보다 센 접착-강화 금속, 또는 상기 접착-강화 금속이 산화된 상태의 물질이다.The adhesive-reinforcing material 101 is an adhesive-reinforced metal having an interface adhesion with a photoresist stronger than that of the metal plate 100, or a material in which the adhesive-reinforced metal is oxidized.

본 실시예의 경우, 금속 판은 니켈(Ni)-철(Fe)의 합금이다. 또한, 접착-강화 물질(101)은 구리, 철, 니켈, 팔라듐, 금, 백금, 산화 구리(copper oxide), 산화 철(iron oxide), 산화 니켈(nickel oxide), 및 산화 팔라듐(palladium oxide) 중에서 어느 하나이거나, 둘 이상의 합금 물질이다.In the case of this embodiment, the metal plate is an alloy of nickel (Ni) -iron (Fe). In addition, the adhesion-reinforcing material 101 is copper, iron, nickel, palladium, gold, platinum, copper oxide (copper oxide), iron oxide, nickel oxide, and palladium oxide Either one or two or more alloy materials.

바람직하게는, 차후에 사용될 금속 판(100)의 식각(etching) 용액이 염화 구리(copper chloride)의 용액인 경우, 접착-강화 물질(101)은 구리 또는 산화 구리(copper oxide)이다. 또한, 상기 식각(etching) 용액이 염화 철(iron chloride)의 용액인 경우, 접착-강화 물질은 철, 니켈, 팔라듐, 금, 백금, 산화 철(iron oxide), 산화 니켈(nickel oxide), 및 산화 팔라듐(palladium oxide) 중에서 어느 하나이거나, 둘 이상의 합금 물질이다.Preferably, when the etching solution of the metal plate 100 to be used later is a solution of copper chloride, the adhesion-reinforcing material 101 is copper or copper oxide. In addition, when the etching solution is a solution of iron chloride, the adhesion-reinforcing material is iron, nickel, palladium, gold, platinum, iron oxide, nickel oxide, and It is either palladium oxide or two or more alloy materials.

다음에, 도 1c에 도시된 바와 같이, 접착-강화 물질(101)이 도포된 상태의 금속 판(100)의 양면에 포토 레지스트(102)가 도포된다.Next, as shown in FIG. 1C, photoresist 102 is applied to both sides of the metal plate 100 with the adhesive-reinforcing material 101 applied.

다음에, 도 1d에 도시된 바와 같이, 노광 및 현상에 의하여 금속 판(100)의 양면에 포토 레지스트(102)의 패턴들이 형성된다.Next, as shown in FIG. 1D, patterns of the photoresist 102 are formed on both sides of the metal plate 100 by exposure and development.

도 1d를 참조하면, 금속 판(100)의 윗면에 형성된 포토 레지스트(102)의 개구부는 금속 판(100)의 아랫면에 형성된 포토 레지스트(102)의 개구부보다 크게 형성된다. 이에 따라, 차후에 형성될 관통 구멍에 있어서, 증착 소오스를 향하는 상부는 증착 대상을 향하는 하부보다 크게 형성된다. 즉, 관통 구멍의 위쪽 지름은 아래쪽 지름보다 길게 형성된다. Referring to FIG. 1D, the opening of the photoresist 102 formed on the top surface of the metal plate 100 is formed larger than the opening of the photoresist 102 formed on the bottom surface of the metal plate 100. Accordingly, in the through hole to be formed later, the upper portion toward the deposition source is formed larger than the lower portion toward the deposition target. That is, the upper diameter of the through hole is formed longer than the lower diameter.

다음에, 도 1e에 도시된 바와 같이, 식각(etching) 용액이 사용되어 금속 판(100)이 식각됨에 의하여, 금속 판(100)에 관통 구멍들의 패턴이 형성된다. 여기에서, 금속 판(100)의 윗면과 아랫면이 동시에 또는 단계적으로 식각됨에 의하여, 금속 판(100)에 관통 구멍들의 패턴이 형성된다.Next, as shown in FIG. 1E, a pattern of through holes is formed in the metal plate 100 by etching the metal plate 100 by using an etching solution. Here, the upper and lower surfaces of the metal plate 100 are simultaneously or stepwise etched, thereby forming a pattern of through holes in the metal plate 100.

다음에, 도 1f에 도시된 바와 같이 포토 레지스트(102)가 제거된다.Next, photoresist 102 is removed as shown in FIG. 1F.

그리고, 도 1f에 도시된 바와 같이 포토 레지스트(102)에 인접되어 남아 있는 접착-강화 물질(101)이 제거된다. Then, as shown in FIG. 1F, the adhesive-enhancing material 101 remaining adjacent to the photoresist 102 is removed.

도 2는 도 1g의 증착용 금속 마스크의 측단면의 사진을 보여준다. 도 2에서 참조 부호 100은 관통 구멍들의 패턴이 형성된 상태의 금속 판을 가리킨다. 도 2의 경우, 관통 구멍들 사이의 피치(pitch)가 80 마이크로-미터(μm)인 증착용 금속 마스크의 측단면이 SEM(Scanning Electron Microscope)에 의하여 1,500 배의 배율로 촬영되었다. Figure 2 shows a photograph of the side cross-section of the metal mask for deposition of Figure 1g. In Fig. 2, reference numeral 100 denotes a metal plate in a state in which patterns of through holes are formed. In the case of FIG. 2, a side cross-section of a metal mask for deposition with a pitch between through-holes of 80 micro-meters (μm) was photographed by a scanning electron microscope (SEM) at a magnification of 1,500.

도 2를 참조하면, 관통 구멍의 위쪽 지름(Ia)은 아래쪽 지름(Ib)보다 길다. 즉, 관통 구멍에서 증착 소오스를 향하는 상부는 증착 대상을 향하는 하부보다 크게 형성된다.Referring to FIG. 2, the upper diameter Ia of the through hole is longer than the lower diameter Ib. That is, the upper portion facing the deposition source from the through hole is formed larger than the lower portion facing the deposition target.

도 3은 증착용 금속 마스크의 윗면과 아랫면을 각각 비교하기 위한 도면이다. 도 3에서 참조 부호 301 내지 304는 관통 구멍들을 가리킨다. 참조 부호 301은 종래의 증착용 금속 마스크의 윗면에서 촬영된 관통 구멍들을 가리킨다. 참조 부호 302는 종래의 증착용 금속 마스크의 아랫면에서 촬영된 관통 구멍들을 가리킨다. 참조 부호 303은 본 발명의 실시예의 증착용 금속 마스크의 윗면에서 촬영된 관통 구멍들을 가리킨다. 참조 부호 304는 상기 실시예의 증착용 금속 마스크의 아랫면에서 촬영된 관통 구멍들을 가리킨다. 여기에서, 종래의 증착용 금속 마스크의 제조 방법은 도 1의 제조 방법에서 선형 이온 소스(linear ion source)의 공정 및 접착-강화 물질(101)의 도포 공정이 생략된 경우에 해당한다.3 is a view for comparing the top and bottom surfaces of the metal mask for deposition, respectively. Reference numerals 301 to 304 in FIG. 3 indicate through holes. Reference numeral 301 denotes through holes photographed from the top surface of a conventional metal mask for deposition. Reference numeral 302 denotes through holes photographed on the underside of a conventional metal mask for deposition. Reference numeral 303 denotes through-holes photographed on the top surface of the metal mask for vapor deposition of the embodiment of the present invention. Reference numeral 304 denotes through holes photographed on the underside of the metal mask for vapor deposition of the above embodiment. Here, the conventional method of manufacturing a metal mask for deposition corresponds to a case in which the process of the linear ion source and the process of applying the adhesive-reinforcing material 101 are omitted in the manufacturing method of FIG. 1.

도 3의 경우, 관통 구멍들 사이의 피치(pitch)가 80 마이크로-미터(μm)인 증착용 금속 마스크가 현미경에 의하여 200 배의 배율로 촬영되었다. In the case of Fig. 3, a metal mask for deposition with a pitch of 80 micro-meters (μm) between through-holes was photographed by a microscope at a magnification of 200 times.

도 4는 증착용 금속 마스크의 윗면과 측단면을 각각 비교하기 위한 도면이다. 여기에서, 종래의 증착용 금속 마스크의 제조 방법은 도 1의 제조 방법에서 선형 이온 소스(linear ion source)의 공정 및 접착-강화 물질(101)의 도포 공정이 생략된 경우에 해당한다.4 is a view for comparing the top surface and the side surface of the metal mask for deposition, respectively. Here, the conventional method of manufacturing a metal mask for deposition corresponds to a case in which the process of the linear ion source and the process of applying the adhesive-reinforcing material 101 are omitted in the manufacturing method of FIG. 1.

도 4의 경우, 관통 구멍들 사이의 피치(pitch)가 80 마이크로-미터(μm)인 증착용 금속 마스크의 윗면, 아랫면, 및 측단면이 SEM(Scanning Electron Microscope)에 의하여 1,500 배의 배율로 촬영되었다. In the case of FIG. 4, the top, bottom, and side cross sections of the metal mask for deposition having a pitch between the through-holes of 80 micrometers (μm) are photographed at a magnification of 1,500 times by a scanning electron microscope (SEM). Became.

도 3 및 4를 참조하면, 종래 기술에 의한 관통 구멍들은 본 실시예에 의한 관통 구멍들에 비하여 크다. 즉, 본 실시예에 의하면, 식각 용액의 계면 침투로 인한 불균일한 추가적 식각의 정도가 줄어들 수 있다. 3 and 4, the through holes according to the prior art are larger than the through holes according to the present embodiment. That is, according to the present embodiment, the degree of uneven additional etching due to interfacial penetration of the etching solution may be reduced.

도 5는 관통 구멍의 위쪽 지름(도 2의 Ia)의 분포 상태를 비교하기 위한 도면이다. 5 is a view for comparing the distribution state of the upper diameter of the through-hole (Ia in FIG. 2).

도 6은 관통 구멍의 아래쪽 지름(도 2의 Ib)의 분포 상태를 비교하기 위한 도면이다.6 is a view for comparing the distribution state of the lower diameter of the through-hole (Ib in FIG. 2).

도 5 및 6에서 참조 부호 501, 502, 601, 및 602는 중앙 값에 근접하는 50 퍼센트(%)의 표본들의 영역을 각각 가리킨다. 여기에서, 윗쪽 상자와 아랫쪽 상자의 계면은 중앙 값의 위치이다. 윗쪽 상자는 중앙 값보다 크면서 중앙 값에 근접하는 25 퍼센트(%)의 표본들의 영역이다. 아랫쪽 상자는 중앙 값보다 적으면서 중앙 값에 근접하는 25 퍼센트(%)의 표본들의 영역이다. In Figures 5 and 6, reference numerals 501, 502, 601, and 602 denote regions of samples of 50 percent (%) close to the median value, respectively. Here, the interface between the top box and the bottom box is the location of the median. The upper box is an area of 25% (%) of samples that are larger than the median value and close to the median value. The lower box is an area of 25 percent (%) of samples that is less than the median value and approaches the median value.

따라서, 도 5 및 6을 참조하면, 본 실시예에 의한 관통 구멍의 크기가 종래 기술에 의한 것에 비하여 보다 균일해짐을 알 수 있다.Therefore, referring to FIGS. 5 and 6, it can be seen that the size of the through hole according to this embodiment is more uniform than that of the prior art.

이상 설명된 바와 같이, 본 발명을 위한 실험에 의하면, 종래 기술에서 관통 구멍의 크기가 상당히 불균일해지게 하는 원인이 발견되었다. 그 원인은, 금속 판의 식각(etching) 단계에서 금속 판과 포토 레지스트의 계면으로 침투된 식각 용액으로 인하여 불균일한 추가적 식각이 이루어지는 것이다. As described above, according to the experiment for the present invention, it has been found that the cause of the size of the through hole is significantly non-uniform in the prior art. The cause is that additional etching is uneven due to the etching solution penetrated into the interface between the metal plate and the photoresist in the etching step of the metal plate.

이에 따른 본 발명의 실시예의 증착용 금속 마스크의 제조 방법에 의하면, 접착-강화 물질의 작용으로 인하여, 금속의 식각(etching) 단계에서 금속 판과 포토 레지스트의 계면으로 침투하는 식각 용액의 양이 줄어들 수 있다. 따라서, 불균일한 추가적 식각의 정도가 줄어들 수 있다. 즉, 관통 구멍의 크기가 보다 균일해짐에 따라 증착 정밀도가 향상될 수 있다.Accordingly, according to the method of manufacturing a metal mask for deposition of an embodiment of the present invention, due to the action of the adhesion-reinforcing material, the amount of etching solution penetrating into the interface between the metal plate and the photoresist is reduced in the etching step of the metal You can. Therefore, the degree of non-uniform additional etching may be reduced. That is, as the size of the through hole becomes more uniform, deposition precision may be improved.

이제까지 본 발명에 대하여 바람직한 실시예를 중심으로 살펴보았다. 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 본 발명을 구현할 수 있음을 이해할 것이다. So far, the present invention has been focused on preferred embodiments. Those skilled in the art to which the present invention pertains will understand that the present invention can be implemented in a modified form without departing from the essential characteristics of the present invention.

그러므로 상기 개시된 실시예는 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 특허청구범위에 의해 청구된 발명 및 청구된 발명과 균등한 발명들은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 한다.Therefore, the disclosed embodiments should be considered from an explanatory point of view rather than a restrictive point of view. The scope of the present invention is shown in the claims rather than the foregoing description, and the invention claimed by the claims and the inventions equivalent to the claimed invention should be construed as being included in the present invention.

본 발명은 다양한 포토 리소그래피(Photo lithography) 공정에 이용될 수 있다.The present invention can be used in various photo lithography processes.

100 : 금속 판, 101 : 접착-강화 물질,
102 : 포토 레지스트, Ia : 관통 구멍의 위쪽 지름,
Ib : 관통 구멍의 아래쪽 지름, 301 내지 304 : 관통 구멍들.
100: metal plate, 101: adhesion-reinforced material,
102: photoresist, Ia: upper diameter of the through hole,
Ib: the lower diameter of the through hole, 301 to 304: through holes.

Claims (8)

금속 판에 관통 구멍들의 패턴을 형성하는 증착용 금속 마스크의 제조 방법에 있어서,
(a) 포토 레지스트와의 계면 접착력이 상기 금속 판보다 센 접착-강화 물질을 상기 금속 판의 양면에 도포(coating)함;
(b) 상기 금속 판의 양면에 상기 포토 레지스트를 도포함;
(c) 노광 및 현상에 의하여 상기 금속 판의 양면에 상기 포토 레지스트의 패턴들을 형성함; 및
(d) 식각(etching) 용액을 사용하여 상기 금속 판을 식각함에 의하여, 상기 금속 판에 상기 관통 구멍들의 패턴을 형성함;을 포함한, 증착용 금속 마스크의 제조 방법.
In the manufacturing method of the metal mask for deposition to form a pattern of through holes in the metal plate,
(a) coating an adhesive-reinforcing material having a stronger interfacial adhesion with a photoresist than the metal plate on both sides of the metal plate;
(b) the photoresist is also included on both sides of the metal plate;
(c) forming patterns of the photoresist on both sides of the metal plate by exposure and development; And
(d) by etching the metal plate using an etching solution, forming a pattern of the through holes in the metal plate.
제1항에 있어서, 상기 단계 (a)의 수행 직전에,
상기 금속 판이 세정되고, 선형 이온 소스(linear ion source)의 플라즈마에 의하여 상기 금속 판에 표면 처리가 수행되는, 증착용 금속 마스크의 제조 방법.
According to claim 1, Immediately before performing step (a),
A method of manufacturing a metal mask for deposition, wherein the metal plate is cleaned and surface treatment is performed on the metal plate by plasma of a linear ion source.
제1항에 있어서, 상기 단계 (d)에서,
상기 금속 판의 윗면과 아랫면이 동시에 또는 단계적으로 식각됨에 의하여, 상기 금속 판에 상기 관통 구멍들의 패턴이 형성되는, 증착용 금속 마스크의 제조 방법.
The method of claim 1, wherein in step (d),
A method of manufacturing a metal mask for deposition, wherein a pattern of the through holes is formed in the metal plate by simultaneously or stepwise etching the top and bottom surfaces of the metal plate.
제1항에 있어서, 상기 단계 (a)에서,
전기 도금 또는 스퍼터링(sputtering) 공정에 의하여 상기 접착-강화 물질이 상기 금속 판의 양면에 도포(coating)되는, 증착용 금속 마스크의 제조 방법.
The method of claim 1, wherein in step (a),
A method of manufacturing a metal mask for deposition, wherein the adhesive-reinforcing material is coated on both sides of the metal plate by an electroplating or sputtering process.
제1항에 있어서,
상기 단계 (a)에서 도포된 상기 접착-강화 물질의 두께의 범위는 1 나노-미터(nm) 내지 1 마이크로-미터(μm)인, 증착용 금속 마스크의 제조 방법.
According to claim 1,
The range of the thickness of the adhesive-reinforcing material applied in step (a) is 1 nano-meter (nm) to 1 micro-meter (μm), a method of manufacturing a metal mask for deposition.
제1항에 있어서, 상기 단계 (a)에서의 상기 접착-강화 물질은,
상기 포토 레지스트와의 계면 접착력이 상기 금속 판보다 센 접착-강화 금속, 또는
상기 접착-강화 금속이 산화된 상태의 물질인, 증착용 금속 마스크의 제조 방법.
According to claim 1, The adhesion-reinforcing material in step (a),
An adhesion-reinforced metal having an interface adhesion with the photoresist stronger than the metal plate, or
A method of manufacturing a metal mask for deposition, wherein the adhesion-reinforced metal is a material in an oxidized state.
제6항에 있어서,
상기 금속 판은 니켈(Ni)-철(Fe)의 합금이고,
상기 접착-강화 물질은 구리, 철, 니켈, 팔라듐, 금, 백금, 산화 구리(copper oxide), 산화 철(iron oxide), 산화 니켈(nickel oxide), 및 산화 팔라듐(palladium oxide) 중에서 어느 하나이거나, 둘 이상의 합금 물질인, 증착용 금속 마스크의 제조 방법.
The method of claim 6,
The metal plate is an alloy of nickel (Ni) -iron (Fe),
The adhesion-reinforcing material is any one of copper, iron, nickel, palladium, gold, platinum, copper oxide, iron oxide, nickel oxide, and palladium oxide , Two or more alloy material, the method of manufacturing a metal mask for deposition.
제7항에 있어서,
상기 단계 (d)에서의 식각(etching) 용액이 염화 구리(copper chloride)의 용액인 경우, 상기 단계 (a)에서의 상기 접착-강화 물질은 구리 또는 산화 구리(copper oxide)이고,
상기 단계 (d)에서의 식각(etching) 용액이 염화 철(iron chloride)의 용액인 경우, 상기 단계 (a)에서의 상기 접착-강화 물질은 철, 니켈, 팔라듐, 금, 백금, 산화 철(iron oxide), 산화 니켈(nickel oxide), 및 산화 팔라듐(palladium oxide) 중에서 어느 하나이거나, 둘 이상의 합금 물질인, 증착용 금속 마스크의 제조 방법.
The method of claim 7,
When the etching solution in step (d) is a solution of copper chloride, the adhesion-reinforcing material in step (a) is copper or copper oxide,
When the etching solution in step (d) is a solution of iron chloride, the adhesion-reinforcing material in step (a) is iron, nickel, palladium, gold, platinum, iron oxide ( A method of manufacturing a metal mask for deposition, which is any one or more of iron oxide, nickel oxide, and palladium oxide.
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