KR20200006626A - Resin precursor, resin composition containing said resin precursor, resin film, method for producing said resin film, laminate, and method for producing said laminate - Google Patents

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Abstract

특수한 용매의 조합을 필요로 하는 일 없이 투명한 수지 경화물을 부여할 수 있고, 또한, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 내약품성이 우수하고, 큐어 공정시의 산소 농도에 의한 YI 값 및 전체 광선 투과율에 대한 영향이 작은 수지 경화물을 부여할 수 있는 수지 전구체를 제공한다.
아미노기 및 아미노기 반응성기를 포함하는 중합 성분을 중합시켜 얻어지는 수지 전구체로서, 그 중합 성분이 아미노기 및 아미노기 반응성기에서 선택되는 기를 2 개 이상 갖는 다가 화합물을 포함하고, 그 다가 화합물이 규소기 함유 화합물을 포함하고, 그 다가 화합물이 하기 식 (1):

Figure pat00035

로 나타내는 디아민을 포함하고, 그 수지 전구체가 하기 일반식 (2):
Figure pat00036

로 나타내는 구조를 갖고, 그 규소기 함유 화합물의 양이 그 다가 화합물의 총질량 기준으로 6 질량% ∼ 25 질량% 인 수지 전구체.A transparent resin cured product can be provided without requiring a special combination of solvents, and has low residual stress generated between the inorganic film, excellent chemical resistance, and YI due to oxygen concentration during the curing process. Provided is a resin precursor capable of imparting a cured resin having a small influence on the value and the total light transmittance.
A resin precursor obtained by polymerizing a polymerization component comprising an amino group and an amino group reactive group, wherein the polymerization component comprises a polyvalent compound having two or more groups selected from an amino group and an amino group reactive group, and the polyvalent compound contains a silicon group-containing compound And the polyhydric compound has following formula (1):
Figure pat00035

Including diamine represented by this, The resin precursor is following General formula (2):
Figure pat00036

The resin precursor which has a structure shown by the above, and whose quantity of the silicon-group containing compound is 6 mass%-25 mass% on the basis of the total mass of the polyvalent compound.

Description

수지 전구체 및 그것을 함유하는 수지 조성물, 수지 필름 및 그 제조 방법, 그리고, 적층체 및 그 제조 방법{RESIN PRECURSOR, RESIN COMPOSITION CONTAINING SAID RESIN PRECURSOR, RESIN FILM, METHOD FOR PRODUCING SAID RESIN FILM, LAMINATE, AND METHOD FOR PRODUCING SAID LAMINATE}RESIN PRECURSOR, RESIN COMPOSITION CONTAINING SAID RESIN PRECURSOR, RESIN FILM, METHOD FOR PRODUCING SAID RESIN FILM, LAMINATE, AND METHOD FOR PRODUCING SAID LAMINATE}

본 발명은, 예를 들어, 플렉시블 디바이스를 위한 기판에 사용되는, 수지 전구체 및 그것을 함유하는 수지 조성물, 수지 필름 및 그 제조 방법, 그리고, 적층체 및 그 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a resin precursor, a resin composition containing the same, a resin film and a method for producing the same, and a laminate and a method for producing the same, for example, used in a substrate for a flexible device.

일반적으로, 고내열성이 요구되는 용도에는, 수지 필름으로서 폴리이미드 (PI) 수지 필름이 사용된다. 일반적인 폴리이미드 수지는, 방향족 2무수물과 방향족 디아민을 용액 중합하고, 폴리이미드 전구체를 제조한 후, 고온에서 폐환 탈수시키고, 열 이미드화하여, 또는, 촉매를 사용하여 화학 이미드화하여, 제조되는 고내열 수지이다.Generally, the polyimide (PI) resin film is used as a resin film for the application | requirement with which high heat resistance is calculated | required. The general polyimide resin is produced by solution polymerization of an aromatic dianhydride and an aromatic diamine, preparing a polyimide precursor, and then ring-dehydrating at high temperature, thermally imidizing, or chemically imidizing using a catalyst. It is a heat resistant resin.

폴리이미드 수지는 불용, 불융의 초내열성 수지이며, 내열 산화성, 내열 특성, 내방사선성, 내저온성, 내약품성 등이 우수한 특성을 갖고 있다. 이 때문에, 폴리이미드 수지는 절연 코팅제, 절연막, 반도체, TFT-LCD 의 전극 보호막 등의 전자 재료를 포함하는 광범위한 분야에서 사용되며, 최근에는, 액정 배향막과 같은 디스플레이 재료의 분야에서 종래 사용되고 있던 유리 기판 대신에, 그 가벼움, 유연성을 이용한 무색 투명 플렉시블 기판에 대한 채용도 검토되고 있다.The polyimide resin is an insoluble and insoluble super heat resistant resin, and has excellent properties such as heat oxidizing resistance, heat resistance, radiation resistance, low temperature resistance and chemical resistance. For this reason, polyimide resins are used in a wide range of fields including electronic materials, such as insulating coatings, insulating films, semiconductors, and electrode protective films of TFT-LCDs, and in recent years, glass substrates that have conventionally been used in the field of display materials such as liquid crystal alignment films. Instead, the adoption of a colorless transparent flexible substrate using its lightness and flexibility has also been considered.

그러나, 일반적인 폴리이미드 수지는, 높은 방향 고리 밀도에 의해, 갈색 또는 황색으로 착색되고, 가시광선 영역에서의 투과율이 낮아, 투명성이 요구되는 분야에 사용하는 것은 곤란하였다.However, a general polyimide resin is colored brown or yellow by high aromatic ring density, has a low transmittance in the visible light region, and has been difficult to use in fields requiring transparency.

이와 같은 폴리이미드의 투명성을 향상시키는 과제에 대하여, 예를 들어 비특허문헌 1 에는, 특정한 구조를 포함하는 산 2무수물과 특정한 구조를 포함하는 디아민을 사용함으로써, 투과율 및 색상의 투명도를 향상시킨 폴리이미드가 기재되어 있다. 또한, 특허문헌 1 ∼ 4 에는, 4,4-비스(디아미노디페닐)술폰 (이하, 4,4-DAS 라고도 기재한다) 이나 3,3-비스(디아미노디페닐)술폰 (이하, 3,3-DAS 라고도 기재한다) 과 특정한 구조를 포함하는 산 2무수물을 사용함으로써, 투과율 및 색상의 투명도를 향상시킨 폴리이미드가 기재되어 있다.For the problem of improving the transparency of such polyimide, for example, in Non-Patent Document 1, a polyimide having improved the transmittance and transparency of a color by using an acid dianhydride containing a specific structure and a diamine containing a specific structure Meade is described. In addition, in patent documents 1-4, 4, 4-bis (diamino diphenyl) sulfone (it describes also as 4, 4-DAS hereafter) and 3, 3-bis (diamino diphenyl) sulfone (following, 3) The polyimide which improved the transmittance | permeability and the transparency of color is described by using the acid dianhydride containing also a (3-DAS) and specific structure.

또, 이하의 특허문헌 6 의 실시예 9, 10 에는, 특정한 방향족 테트라카르복실산 2무수물과 지환식 디아민, 규소 함유 디아민을 공중합함으로써, 고 Tg, 투명성, 고밀착성, 저휨성을 발현하는 폴리이미드를 생성할 수 있는 폴리이미드 전구체가 기재되어 있다.Moreover, the polyimide which expresses high Tg, transparency, high adhesiveness, and low curvature by copolymerizing specific aromatic tetracarboxylic dianhydride, alicyclic diamine, and silicon containing diamine in Examples 9 and 10 of the following patent documents 6 Polyimide precursors capable of producing are described.

또한, 이하의 특허문헌 7 의 실시예 3 및, 특허문헌 8 의 실시예 3 에는, 방향족 테트라카르복실산 2무수물, 비스(디아미노디페닐)술폰 및 규소 함유 디아민을 공중합한 폴리이미드 전구체를 반도체 보호용 수지 및 감광성 수지 조성물로서 사용하는 것이 기재되어 있다.In addition, in Example 3 of the following patent document 7 and Example 3 of the patent document 8, the polyimide precursor which copolymerized aromatic tetracarboxylic dianhydride, bis (diaminodiphenyl) sulfone, and silicon-containing diamine is semiconductor. It is described to use as a protective resin and the photosensitive resin composition.

일본 공개특허공보 소61-141732호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 61-141732 일본 공개특허공보 평06-271670호Japanese Unexamined Patent Publication No. 06-271670 일본 공개특허공보 평09-040774호Japanese Patent Application Laid-Open No. 09-040774 일본 공개특허공보 2000-313804호Japanese Unexamined Patent Publication No. 2000-313804 국제공개 제2012/118020호 팜플렛International Publication No. 2012/118020 Brochure 국제공개 제2011/122198호 팜플렛International Publication No. 2011/122198 국제공개 제1991/010699호 팜플렛International Publication No. 1991/010699 Pamphlet 일본 공개특허공보 평4-224823호Japanese Patent Laid-Open No. 4-224823

최신 폴리이미드 (기초와 응용), 일본 폴리이미드 연구회편, P152 Latest Polyimide (Foundation and Application), Japan Polyimide Study Part, P152

그러나, 공지된 투명 폴리이미드의 물성 특성은, 예를 들어, 반도체 절연막, TFT-LCD 절연막, 전극 보호막, 터치 패널용 ITO 전극 기판 및 플렉시블 디스플레이용 내열성 무색 투명 기판으로서 사용하는 데에 충분하지는 않았다.However, the physical properties of the known transparent polyimide have not been sufficient for use as, for example, a semiconductor insulating film, a TFT-LCD insulating film, an electrode protective film, an ITO electrode substrate for a touch panel, and a heat resistant colorless transparent substrate for a flexible display.

예를 들어, 플렉시블 디스플레이용 무색 투명 기판에 폴리이미드 수지를 사용할 때에는, 서포트 유리 (이하, 지지체라고도 한다) 상에 폴리이미드막을 형성하고, 그 폴리이미드막 상에, 통상적으로 TFT 소자를 제조하기 위해서, 무기막을 형성하는 경우가 있다. 폴리이미드의 선팽창 계수 (이하, CTE 라고도 기재한다) 가 높은 경우, 무기막 또는 서포트 유리와 폴리이미드막과의 CTE 의 미스매치에 의해, 폴리이미드막과 무기막 사이에 잔류 응력이 발생하고, 결과적으로, 서포트 유리가 휘어 버리거나, TFT 소자의 성능이 저하되어 버리거나 한다는 문제가 있다. 이 때문에, 서포트 유리의 휨을 개량하기 위해서, 폴리이미드의 잔류 응력을 낮게 한다는 과제가 있다. 특허문헌 1 ∼ 4 에 기재된 폴리이미드에서는, 잔류 응력이 높고, 플렉시블 디스플레이용 무색 투명 기판에 적용한 경우, 서포트 유리가 휘어 버리는 과제가 있었다.For example, when using a polyimide resin for the colorless transparent substrate for flexible displays, in order to form a polyimide film on support glass (henceforth a support body), and to manufacture TFT element normally on this polyimide film, In some cases, an inorganic film may be formed. When the coefficient of linear expansion of the polyimide (hereinafter also referred to as CTE) is high, residual stresses are generated between the polyimide film and the inorganic film due to mismatches of the CTE between the inorganic film or the support glass and the polyimide film. Therefore, there exists a problem that a support glass bends or the performance of a TFT element falls. For this reason, in order to improve the curvature of a support glass, there exists a subject that the residual stress of a polyimide is made low. In the polyimide of patent documents 1-4, when residual stress was high and it applied to the colorless transparent substrate for flexible displays, there existed a subject that support glass bends.

또, 폴리이미드막을 제조하기 위해서는, 예를 들어 유리 기판 상에, 폴리이미드 전구체를 도포하고, 그 폴리이미드 전구체가 도포된 유리 기판을 질소 가스가 도입된 오븐로에 투입하고, 250 ℃ ∼ 400 ℃ 로 가열을 하는 것 (이하, 큐어 공정이라고도 기재한다) 이 일반적으로 필요하다. 특허문헌 1 ∼ 4 나 비특허문헌 1 에 기재된 투과율 및 색상의, 투명도를 향상시킨 폴리이미드에 있어서는, 큐어시의 오븐로 내의 산소 농도가 높은 경우, 구체적으로는 산소 농도가 100 ppm 이상인 경우, YI 값이 올라가거나, 전체 광선 투과율이 내려가거나 한다고 하는, 산소 농도 의존성의 과제가 있었다.Moreover, in order to manufacture a polyimide film, a polyimide precursor is apply | coated on a glass substrate, for example, the glass substrate in which the polyimide precursor was apply | coated was put into the oven which nitrogen gas was introduce | transduced, and 250 degreeC-400 degreeC It is generally necessary to heat the furnace (hereinafter also referred to as a cure process). In the polyimide which improved the transparency of the transmittance | permeability and color of patent documents 1-4 and nonpatent literature 1, when oxygen concentration in the oven of a cure is high, specifically, when oxygen concentration is 100 ppm or more, YI There existed the subject of oxygen concentration dependence that a value raises or total light transmittance falls.

또한, 플렉시블 디스플레이용 무색 투명 기판에 폴리이미드 수지를 사용할 때에는, 폴리이미드막의 상부에는, 통상적으로 포토레지스트를 사용한 포토리소그래피 공정에 의해 TFT 소자가 제조된다. 플렉시블 디스플레이용 무색 투명 기판에 사용되는 폴리이미드막 (이하, 폴리이미드 기판이라고도 기재한다) 은, 이 공정에 포함되는 포토레지스트를 박리하는 공정에서 사용되는, 포토레지스트 박리액 등의 약제에 노출되기 때문에, 이들 약제에 내약품성을 가질 필요가 있다. 특허문헌 1 에 기재된 바와 같은, 4,4-DAS 나 3,3-DAS 와 특정한 구조를 포함하는 산 2무수물로 이루어지는 폴리이미드에 있어서는, 포토레지스트 박리 공정시에, 폴리이미드 기판에 미소한 크랙이 형성됨으로써 폴리이미드 기판이 백탁하고, 전체 광선 투과율이 저하되는 현상이 발생하는 등, 내약품성의 점에서 과제가 있었다.In addition, when using a polyimide resin for the colorless transparent substrate for flexible displays, a TFT element is manufactured by the photolithography process using a photoresist normally on the polyimide film. Since the polyimide film (henceforth a polyimide substrate) used for the colorless transparent substrate for flexible displays is exposed to chemical agents, such as a photoresist stripping liquid used at the process of peeling the photoresist included in this process, It is necessary to have chemical resistance to these drugs. In the polyimide which consists of 4, 4-DAS, 3, 3-DAS, and acid dianhydride containing a specific structure as described in patent document 1, at the time of a photoresist peeling process, a minute crack in a polyimide substrate There existed a subject from the chemical-resistance point, such as the polyimide board | substrate becoming cloudy by the formation and the phenomenon that a total light transmittance falls.

특허문헌 5 에는, 폴리이미드의 유리 전이 온도나 영률을 유지한 상태로, 잔류 응력을 저감시킬 목적으로 유연한 규소 함유 디아민을 블록 공중합으로 도입하는 것이 기재되어 있다. 그러나, 특허문헌 5 의 비교예 4 에 기재된 바와 같이, 규소 함유 디아민을 블록으로 공중합하면, 특수한 용매의 조합을 사용하여 폴리이미드 전구체를 용해시키지 않는 한, 실리콘 부분의 상분리가 진행되어, 굴절률이 각각 상이한 해도 (海島) 구조에 있어서, 도 부분의 구조가 커짐으로써, 막이 백탁하고, 전체 광선 투과율이 저하된다. 또, 비점이 낮은 특수한 용매의 조합을 이용하는 경우, 폴리이미드 전구체 용액을 기판에 도포한 후에, 실온에서 수시간 방치를 하면, 헤이즈가 발생하고, 도막이 백탁하는 경우가 있어, 방치 시간을 관리할 필요가 있었다. 이와 같이, 규소 함유 디아민을 블록 공중합한 폴리이미드에 의해 투명한 열 경화막을 제조하려면, 특수한 용매의 조합을 사용하여 전구체를 용해시킨 후, 전구체 용액을 도포한 후의 방치 시간을 관리하는 것이 필요하다는 과제가 있었다.Patent Literature 5 describes introducing a flexible silicon-containing diamine by block copolymerization for the purpose of reducing residual stress while maintaining the glass transition temperature and the Young's modulus of the polyimide. However, as described in Comparative Example 4 of Patent Document 5, when the silicon-containing diamine is copolymerized into blocks, phase separation of the silicon portion proceeds unless the polyimide precursor is dissolved using a combination of special solvents, and thus the refractive index is respectively. In the different sea island structure, the structure of the island portion becomes larger, so that the film becomes cloudy and the total light transmittance decreases. In addition, when using a special solvent combination with a low boiling point, after leaving a polyimide precursor solution to apply | coating to a board | substrate, and leaving it to stand for several hours at room temperature, haze may arise and a coating film may become cloudy, and it is necessary to manage the standing time. There was. Thus, in order to manufacture a transparent thermosetting film with the polyimide which block-polymerized silicon-containing diamine, the problem that it is necessary to manage the leaving time after apply | coating a precursor solution after dissolving a precursor using the combination of a special solvent is required. there was.

또, 특허문헌 6 의 실시예 9, 10 에는, 방향족 테트라카르복실산 2무수물, 지환식 디아민 및 실리콘 디아민을 공중합하여 얻어지는 폴리이미드 전구체, 및 그것으로부터 얻어지는 폴리이미드에 대해 기재되어 있다. 그러나 본 발명자들이 확인한 결과, 이 폴리아미드에 있어서는 황색도가 높고, 전체 광선 투과율이 낮고, 또한 황색도 및 투과율이 폴리이미드 경화시의 산소 농도에 의해 영향을 받기 쉽다는 과제가 있었다 (본원 명세서 비교예 25 참조).Moreover, in Examples 9 and 10 of patent document 6, the polyimide precursor obtained by copolymerizing aromatic tetracarboxylic dianhydride, alicyclic diamine, and silicone diamine, and the polyimide obtained from it are described. However, as a result of the present inventors confirming, this polyamide had the problem that yellowness was high, the total light transmittance was low, and yellowness and transmittance were easy to be influenced by the oxygen concentration at the time of polyimide hardening (compare this specification) See example 25).

그리고, 특허문헌 7, 8 에는, (디아미노디페닐)술폰, 방향족 테트라카르복실산 2무수물, 및 실리콘 디아민을 공중합하여 얻어지는 폴리이미드 전구체, 및 그것으로부터 얻어지는 폴리이미드에 대해 기재되어 있다. 그러나 본 발명자들이 확인한 결과, 폴리이미드 전구체를 합성할 때에 사용하는 규소기 함유 모노머, 다가 카르본 유도체, 및 디아민 화합물의 총질량에 대한, 규소기 함유 모노머의 질량 비율이, 특허문헌 7 에 대해서는 적기 때문에, 얻어지는 폴리이미드의 잔류 응력이 커, 디스플레이의 프로세스상 부적절하고, 한편 특허문헌 8 에 대해서는 많기 때문에, 얻어지는 폴리이미드가 백탁하여, 투명 디스플레이에 사용하기는 부적절하다는 과제가 있었다 (본 명세서 비교예 23, 24 참조).And patent document 7, 8 describes the polyimide precursor obtained by copolymerizing (diaminodiphenyl) sulfone, aromatic tetracarboxylic dianhydride, and silicone diamine, and the polyimide obtained from it. However, as a result of the present inventors confirming, the mass ratio of the silicon group containing monomer with respect to the gross mass of the silicon group containing monomer, polyhydric carbonate derivative, and the diamine compound used when synthesize | combining a polyimide precursor is appropriate for patent document 7 Therefore, since the residual stress of the polyimide obtained is large and it is inadequate in the process of a display, and there is much about patent document 8, there existed a subject that the obtained polyimide was cloudy and unsuitable for use for a transparent display (Comparative example of this specification) 23, 24).

본 발명은 상기 설명한 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, 특수한 용매의 조합을 필요로 하는 일 없이 투명한 수지 경화물을 부여할 수 있고, 또한, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 내약품성이 우수하고, 큐어 공정시의 산소 농도에 의한 YI 값 및 전체 광선 투과율에 대한 영향이 작은 수지 경화물을 부여할 수 있는, 수지 전구체를 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명은 또 그 수지 전구체를 함유하는 수지 조성물, 그 수지 조성물을 경화시킨 수지 필름 및 그 제조 방법, 그리고, 적층체 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.This invention is made | formed in view of the above-mentioned problem, and can provide a transparent resin hardened | cured material without requiring a special solvent combination, and also the residual stress which arises with an inorganic film is low, and chemical-resistance is An object of the present invention is to provide a resin precursor which is excellent in giving a cured resin having a small influence on the YI value and the total light transmittance due to the oxygen concentration during the curing process. An object of this invention is to provide the resin composition containing this resin precursor, the resin film which hardened this resin composition, its manufacturing method, a laminated body, and its manufacturing method.

본 발명자들은 상기 과제를 해결하기 위해서 예의 연구를 거듭한 결과, 특정 구조의 내열성 수지 전구체가, 특수한 용매의 조합을 필요로 하는 일 없이 투명한 수지 경화물을 형성할 수 있고, 또 그와 같은 수지 경화물은 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 내약품성이 우수하고, 큐어 공정시의 산소 농도에 의한 YI 값이나 전체 광선 투과율에 대한 영향이 작은 수지 경화물인 것을 알아내어, 이 지견에 기초하여 본 발명을 이루기에 이르렀다. 즉, 본 발명은 이하와 같다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM As a result of earnestly researching in order to solve the said subject, as a result, the heat resistant resin precursor of a specific structure can form the transparent resin hardened | cured material, without requiring the combination of a special solvent, and such a resin diameter The cargo was found to be a resin cured product having a low residual stress between the inorganic membrane, excellent chemical resistance, and small effect on the YI value and total light transmittance due to the oxygen concentration during the curing process. Based on this, the present invention has been achieved. That is, this invention is as follows.

[1] 아미노기 및 아미노기 반응성기를 포함하는 중합 성분을 중합시켜 얻어지는 수지 전구체로서,[1] A resin precursor obtained by polymerizing a polymerization component containing an amino group and an amino group reactive group,

그 중합 성분이 아미노기 및 아미노기 반응성기에서 선택되는 기를 2 개 이상 갖는 다가 화합물을 포함하고,The polymerization component contains a polyvalent compound having two or more groups selected from amino groups and amino group reactive groups,

그 다가 화합물이 규소기 함유 화합물을 포함하고,The polyvalent compound contains a silicon group-containing compound,

그 다가 화합물이 하기 식 (1):The polyvalent compound has following formula (1):

[화학식 1] [Formula 1]

Figure pat00001
Figure pat00001

로 나타내는 디아민을 포함하고, Containing diamine represented by

그 수지 전구체가 하기 일반식 (2):The resin precursor has the following general formula (2):

[화학식 2] [Formula 2]

Figure pat00002
Figure pat00002

{식 중, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 그리고 h 는 3 ∼ 200 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖고, It has a structure represented by {In formula, two or more R <3> and R <4> is a C1-C20 monovalent organic group each independently, and h is an integer of 3-200.}

그 규소기 함유 화합물의 양이 그 다가 화합물의 총질량 기준으로 6 질량% ∼ 25 질량% 인The amount of the silicon group-containing compound is 6% by mass to 25% by mass based on the total mass of the polyvalent compound.

그 수지 전구체.Its resin precursor.

[2] 그 아미노기 반응성기가 카르복실기, 치환 카르복실기 및 산 무수물기로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상을 포함하는, [1] 에 기재된 수지 전구체.[2] The resin precursor according to [1], wherein the amino group reactive group contains at least one selected from the group consisting of a carboxyl group, a substituted carboxyl group and an acid anhydride group.

[3] 그 규소기 함유 화합물이 하기 일반식 (3):[3] The silicon group-containing compound is represented by the following general formula (3):

[화학식 3] [Formula 3]

Figure pat00003
Figure pat00003

{식 중, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 20 의 2 가의 유기기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, L1, L2, 및 L3 은, 각각 독립적으로, 아미노기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 무수물기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, j 는 3 ∼ 200 의 정수이고, k 는 0 ∼ 197 의 정수이다.} 으로 나타내는 실리콘 화합물을 포함하는, [1] 또는 [2] 에 기재된 수지 전구체.{In formula, two or more R <2> is respectively independently a single bond or a C1-C20 divalent organic group, R <3> and R <4> is respectively independently a C1-C20 monovalent organic group , R 5, which may be present in plural numbers, are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, and L 1 , L 2 , and L 3 are each independently an amino group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid anhydride group, An acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, j is an integer of 3 to 200, and k is an integer of 0 to 197. Or the resin precursor as described in [2].

[4] 그 일반식 (3) 에 있어서, L1 및 L2 가, 각각 독립적으로, 아미노기 또는 산 무수물기이고, 그리고 k 가 0 인, [3] 에 기재된 수지 전구체.[4] The resin precursor according to [3], wherein in General Formula (3), L 1 and L 2 are each independently an amino group or an acid anhydride group, and k is 0.

[5] 그 일반식 (3) 에 있어서, L1 및 L2 가 함께 아미노기인, [4] 에 기재된 수지 전구체.[5] The resin precursor according to [4], wherein L 1 and L 2 are together an amino group in the general formula (3).

[6] 그 수지 전구체가 유닛 1 및 유닛 2 를 함유하고,[6] the resin precursor contains unit 1 and unit 2,

그 유닛 1 이 적어도 하기 일반식 (4);The unit 1 is at least the following general formula (4);

[화학식 4] [Formula 4]

Figure pat00004
Figure pat00004

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재해도 되는 X1 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이며, 그리고 n 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} {In formula, two or more R <1> is respectively independently a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group, X <1> which may exist in multiple numbers each independently represents C4-C20. 32 is a tetravalent organic group, and n is an integer of 1-100.}

로 나타내는 구조를 갖고, Has a structure represented by

그 유닛 2 가 하기 일반식 (5):The unit 2 has the following general formula (5):

[화학식 5] [Formula 5]

Figure pat00005
Figure pat00005

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 2 가의 지방족 탄화수소, 또는 2 가의 방향족기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 X2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이고, l 은 3 ∼ 50 의 정수이며, 그리고 m 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조, 또는, 하기 일반식 (6):{In formula, two or more R <1> is respectively independently a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group, and two or more R <2> is respectively independently C3-C20 Is a divalent aliphatic hydrocarbon or a divalent aromatic group, R 3 and R 4 are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, and a plurality of each of X 2, which may be present, are each independently 4 to 4 carbon atoms. 32 is a tetravalent organic group, l is an integer of 3-50, and m is an integer of 1-100.} The structure represented by the following or general formula (6):

[화학식 6] [Formula 6]

Figure pat00006
Figure pat00006

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재하는 R8 은, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 3 가의 지방족 탄화수소, 또는 3 가의 방향족기이고, p 는 1 ∼ 100 의 정수이며, 그리고 q 는 3 ∼ 50 의 정수이다.} 으로 나타내는 구조, 또는 상기 일반식 (5) 로 나타내는 구조와 상기 일반식 (6) 으로 나타내는 구조의 양자를 갖는, [1] ∼ [5] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.{In formula, two or more R <1> is respectively independently a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group, and two or more R <3> and R <4> respectively independently represents carbon number R <8> which is a 1-20 monovalent organic group, two or more R <8> is respectively independently a C3-C20 trivalent aliphatic hydrocarbon or a trivalent aromatic group, p is an integer of 1-100, and q is It is an integer of 3-50.} As described in any one of [1]-[5] which has both a structure represented by the general formula (5), and the structure represented by the said General formula (6). Resin precursor.

[7] 그 유닛 1 및 그 유닛 2 의 합계량이 그 수지 전구체의 총질량 기준으로 30 질량% 이상인, [6] 에 기재된 수지 전구체.[7] The resin precursor according to [6], wherein the total amount of the unit 1 and the unit 2 is 30% by mass or more based on the total mass of the resin precursor.

[8] 그 수지 전구체가 하기 일반식 (7):[8] The resin precursor has the following general formula (7):

[화학식 7] [Formula 7]

Figure pat00007
Figure pat00007

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재해도 되는 X3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 2 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 X4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이며, 그리고 t 는 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖는 유닛 3 을 추가로 함유하는, [6] 또는 [7] 에 기재된 수지 전구체.{In formula, two or more R <1> is a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group each independently, X <3> which may exist in multiple numbers each independently represents C4-C20. X 4 which may be a 32-valent divalent organic group, and which may exist in multiple numbers each independently is a C4-C32 tetravalent organic group, and t is an integer of 1-100.} The unit 3 which has a structure represented by The resin precursor as described in [6] or [7] which further contains.

[9] 그 일반식 (7) 에 있어서, X3 이 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘으로부터 아미노기를 제외한 구조인 잔기인, [8] 에 기재된 수지 전구체.[9] The resin precursor according to [8], wherein X 3 is a residue having a structure excluding an amino group from 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine in the general formula (7).

[10] 그 유닛 1 및 그 유닛 2 가[10] the unit 1 and the unit 2

피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 및 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상에서 유래하는 부위와,A site derived from one or more selected from the group consisting of pyromellitic dianhydride (PMDA) and biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA);

4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물 (6FDA), 시클로헥산-1,2,4,5-테트라카르복실산 2무수물 (CHDA), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물 (DSDA), 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 및 9,9'-비스(3,4-디카르복시페닐)플루오렌 2무수물 (BPAF) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상에서 유래하는 부위4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), 4,4 '-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride (6FDA), cyclohexane-1,2,4,5-tetracarboxylic acid 2 Anhydride (CHDA), 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfontetracarboxylic dianhydride (DSDA), 4,4'-biphenylbis (trimelitic acid monoester acid anhydride) (TAHQ), and Sites derived from one or more selected from the group consisting of 9,9'-bis (3,4-dicarboxyphenyl) fluorene dianhydride (BPAF)

의 조합인 부위를 그 유닛 1 및 그 유닛 2 의 산 2무수물 유래 부위의 총량 기준으로 60 몰% 이상의 양으로 포함하는, [6] ∼ [9] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.The resin precursor in any one of [6]-[9] containing the site | part which is a combination of these in the quantity of 60 mol% or more based on the total amount of the site | part from the acid dianhydride of this unit 1 and this unit 2.

[11] 그 R3 및 그 R4 가, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 3 의 1 가의 지방족 탄화수소기, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족 탄화수소기인, [1] ∼ [10] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.[11] The compound according to any one of [1] to [10], wherein R 3 and R 4 are each independently a C 1 to C 3 monovalent aliphatic hydrocarbon group or a C 6 to C 10 monovalent aromatic hydrocarbon group. The resin precursor described in the above.

[12] 그 R3 및 그 R4 의 적어도 일부가 페닐기인, [1] ∼ [11] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.[12] The resin precursor according to any one of [1] to [11], in which R 3 and at least a part of R 4 are phenyl groups.

[13] 그 수지 전구체를 불활성 분위기하 300 ∼ 500 ℃ 의 조건으로 가열 경화시켜 얻어지는 수지가 -150 ℃ ∼ 0 ℃ 의 영역 중 적어도 하나의 유리 전이 온도 및 150 ℃ ∼ 380 ℃ 의 영역 중 적어도 하나의 유리 전이 온도를 갖고, 또한 0 ℃ 보다 크고 150 ℃ 보다 작은 영역에 있어서 유리 전이 온도를 갖지 않는, [1] ∼ [12] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.[13] The resin obtained by heating and curing the resin precursor under conditions of 300 to 500 ° C. under an inert atmosphere is at least one of a glass transition temperature and a region of 150 ° C. to 380 ° C. in at least one of the range of −150 ° C. to 0 ° C. The resin precursor in any one of [1]-[12] which has a glass transition temperature and does not have a glass transition temperature in the area | region larger than 0 degreeC and less than 150 degreeC.

[14] 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 유래의 부위를 그 수지 전구체의 산 2무수물 유래 부위의 총량 기준으로 20 몰% 이상 포함하는, [1] ∼ [13] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.[14] The item of any of [1] to [13], wherein the moiety derived from biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) is contained 20 mol% or more based on the total amount of the acid dianhydride-derived site of the resin precursor. The resin precursor described.

[15] 일부가 이미드화되어 있는, [1] ∼ [14] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.[15] The resin precursor according to any one of [1] to [14], in which a part is imidized.

[16] [1] ∼ [15] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체와, 하기 일반식 (8):[16] The resin precursor according to any one of [1] to [15], and the following general formula (8):

[화학식 8] [Formula 8]

Figure pat00008
Figure pat00008

{식 중, 복수 존재해도 되는 X3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이고, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이며, 그리고 r 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖는 수지 전구체를 포함하는 전구체 혼합물.{In formula, X <3> which may exist in multiple numbers is respectively independently a C4-C32 tetravalent organic group, and two or more R <1> represents a hydrogen atom and a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon each independently. Or a monovalent aromatic group, and r is an integer of 1 to 100.} A precursor mixture containing a resin precursor having a structure represented by}.

[17] [1] ∼ [15] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체, 또는 [16] 에 기재된 전구체 혼합물을 포함하는 플렉시블 디바이스 재료.[17] A flexible device material comprising the resin precursor according to any one of [1] to [15], or the precursor mixture according to [16].

[18] [1] ∼ [15] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체의 경화물 또는 [16] 에 기재된 전구체 혼합물의 경화물인 수지 필름.[18] A resin film, which is a cured product of the resin precursor according to any one of [1] to [15] or a cured product of the precursor mixture described in [16].

[19] [1] ∼ [15] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체 또는 [16] 에 기재된 전구체 혼합물과, 용매를 함유하는 수지 조성물.[19] A resin composition containing the resin precursor according to any one of [1] to [15] or the precursor mixture according to [16], and a solvent.

[20] 그 수지 조성물을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 수지 조성물을 질소 분위기하 300 ℃ ∼ 500 ℃ 에서 가열함으로써 그 수지 조성물에 포함되는 그 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지가 나타내는 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하인, [19] 에 기재된 수지 조성물.[20] A 20 μm film exhibited by resin obtained by imidizing the resin precursor contained in the resin composition by developing the resin composition on the surface of the support and then heating the resin composition at 300 ° C. to 500 ° C. under a nitrogen atmosphere. The resin composition as described in [19] whose yellowness in thickness is 7 or less.

[21] 그 수지 조성물을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 수지 조성물을 질소 분위기하 300 ℃ ∼ 500 ℃ 에서 가열함으로써 그 수지 조성물에 포함되는 그 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지가 나타내는 10 ㎛ 막두께에서의 잔류 응력이 25 ㎫ 이하인, [19] 또는 [20] 에 기재된 수지 조성물.[21] A 10 μm film exhibited by resin obtained by imidating the resin precursor contained in the resin composition by developing the resin composition on the surface of the support and then heating the resin composition at 300 ° C. to 500 ° C. under a nitrogen atmosphere. The resin composition as described in [19] or [20] whose residual stress in thickness is 25 Mpa or less.

[22] [19] ∼ [21] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물인 수지 필름.[22] A resin film, which is a cured product of the resin composition according to any one of [19] to [21].

[23] [19] ∼ [21] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 지지체의 표면 상에 전개하는 공정과,[23] a step of developing the resin composition according to any one of [19] to [21] on the surface of the support;

그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 그 수지 조성물에 포함되는 그 수지 전구체를 이미드화하여 수지 필름을 형성하는 공정과,Heating the support and the resin composition to imidize the resin precursor contained in the resin composition to form a resin film;

그 수지 필름을 그 지지체로부터 박리하는 공정Process of peeling this resin film from the support body

을 포함하는 수지 필름의 제조 방법.Method for producing a resin film comprising a.

[24] 지지체와, 그 지지체의 표면 상에 형성된, [19] ∼ [21] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물인 수지막을 포함하는 적층체.[24] A laminate comprising a support and a resin film which is a cured product of the resin composition according to any one of [19] to [21], formed on the surface of the support.

[25] 지지체의 표면 상에, [19] ∼ [21] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 전개하는 공정과,[25] a step of developing the resin composition according to any one of [19] to [21] on the surface of the support;

그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 그 수지 조성물에 포함되는 그 수지 전구체를 이미드화하여 수지막을 형성하고, 이에 따라 그 지지체 및 그 수지막을 포함하는 적층체를 얻는 공정Heating the support and the resin composition to imide the resin precursor contained in the resin composition to form a resin film, thereby obtaining a laminate comprising the support and the resin film.

을 포함하는 적층체의 제조 방법.Method for producing a laminate comprising a.

[26] 디스플레이 기판의 제조에 사용되는 폴리이미드 수지막으로서, 두께 20 ㎛ 에 있어서의 Rth 가 20 ∼ 90 ㎚ 인 폴리이미드 수지막.[26] A polyimide resin film having a Rth of 20 to 90 nm in a thickness of 20 µm as a polyimide resin film used for producing a display substrate.

[27] 지지체의 표면 상에 폴리이미드 전구체를 포함하는 수지 조성물을 전개하는 공정과,[27] a step of developing a resin composition containing a polyimide precursor on the surface of the support;

그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 전구체를 이미드화하여, [26] 에 기재된 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정과,Heating the support and the resin composition to imidize the polyimide precursor to form a polyimide resin film as described in [26],

그 폴리이미드 수지막 상에 소자를 형성하는 공정과,Forming an element on the polyimide resin film;

그 소자가 형성된 그 폴리이미드 수지막을 그 지지체로부터 박리하는 공정Process of peeling the polyimide resin film in which the element was formed from the support body

을 포함하는 디스플레이 기판의 제조 방법.Method of manufacturing a display substrate comprising a.

본 발명에 의하면, 특수한 용매의 조합을 필요로 하는 일 없이 투명한 수지 경화물을 부여할 수 있고, 또한, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 내약품성이 우수하고, 큐어 공정시의 산소 농도에 의한 YI 값 및 전체 광선 투과율에 대한 영향이 작은 수지 경화물을 부여할 수 있는 수지 전구체가 제공된다.Advantageous Effects of Invention According to the present invention, a transparent resin cured product can be provided without requiring a combination of special solvents, and the residual stress generated between the inorganic film is low, excellent in chemical resistance, and at the time of the curing process. A resin precursor is provided which can impart a cured resin having a small influence on the YI value and the total light transmittance by the oxygen concentration.

이하, 본 발명의 예시의 실시형태 (이하, 「실시형태」 라고 약기한다.) 에 대하여, 상세하게 설명한다. 또한, 본 발명은 이하의 실시형태에 한정되는 것은 아니고, 그 요지의 범위 내에서 여러 가지 변형하여 실시할 수 있다. 또한, 본 개시의 식 중의 구조 단위의 반복수는, 특기가 없는 한, 수지 전구체 전체에 있어서 당해 구조 단위가 포함될 수 있는 수를 의도하는 것에 지나지 않고, 따라서, 블록 구조 등의 특정한 결합 양식을 의도하는 것은 아닌 것에 유의해야 한다. 또, 본 개시에서 기재하는 특성값은, 특기가 없는 한, [실시예] 의 항에 있어서 기재하는 방법 또는 이것과 동등한 것이 당업자에게 이해되는 방법으로 측정되는 값인 것을 의도한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment (it abbreviates as "embodiment" hereafter) of the illustration of this invention is demonstrated in detail. In addition, this invention is not limited to the following embodiment, It can variously deform and implement within the range of the summary. In addition, the repetition number of the structural unit in the formula of this indication is only intended the number which can contain the said structural unit in the whole resin precursor, unless there is a special mention, Therefore, it intends specific binding styles, such as a block structure, Note that this is not the case. In addition, unless otherwise indicated, the characteristic value described in this indication is intended to be a value measured by the method described in the term of [Example], or an equivalent thereof to the method understood by those skilled in the art.

<수지 전구체><Resin precursor>

본 발명의 실시형태에 관련된 수지 전구체는,The resin precursor which concerns on embodiment of this invention,

아미노기 및 아미노기 반응성기를 포함하는 중합 성분을 중합시켜 얻어지는 수지 전구체로서, As a resin precursor obtained by superposing | polymerizing the polymerization component containing an amino group and an amino group reactive group,

그 중합 성분이 아미노기 및 아미노기 반응성기에서 선택되는 기를 2 개 이상 갖는 다가 화합물을 포함하고,The polymerization component contains a polyvalent compound having two or more groups selected from amino groups and amino group reactive groups,

그 다가 화합물이 규소기 함유 화합물을 포함하고,The polyvalent compound contains a silicon group-containing compound,

그 다가 화합물이 하기 식 (1):The polyvalent compound has following formula (1):

[화학식 9][Formula 9]

Figure pat00009
Figure pat00009

로 나타내는 디아민을 포함하고, Containing diamine represented by

그 수지 전구체가 하기 일반식 (2):The resin precursor has the following general formula (2):

[화학식 10] [Formula 10]

Figure pat00010
Figure pat00010

{식 중, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 그리고 h 는 3 ∼ 200 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖고, It has a structure represented by {In formula, two or more R <3> and R <4> is a C1-C20 monovalent organic group each independently, and h is an integer of 3-200.}

그 규소기 함유 화합물의 양이 그 다가 화합물의 총질량 기준으로 6 질량% ∼ 25 질량% 인The amount of the silicon group-containing compound is 6% by mass to 25% by mass based on the total mass of the polyvalent compound.

그 수지 전구체를 제공한다.The resin precursor is provided.

중합 성분은 아미노기 및 아미노기 반응성기를 포함한다. 중합 성분은 아미노기 및 아미노기 반응성기에서 선택되는 기를 2 개 이상 갖는 다가 화합물을 포함한다. 예를 들어, 중합 성분은 아미노기를 갖는 다가 화합물과, 아미노기 반응성기를 갖는 다가 화합물의 혼합물이어도 되고, 또는, 아미노기 및 아미노기 반응성기의 양자를 포함하는 다가 화합물을 포함해도 되며, 또는 이들의 조합이어도 된다.The polymerization component includes an amino group and an amino group reactive group. The polymerization component includes a polyvalent compound having two or more groups selected from amino groups and amino group reactive groups. For example, the polymerization component may be a mixture of a polyvalent compound having an amino group and a polyvalent compound having an amino group reactive group, or may include a polyvalent compound including both an amino group and an amino group reactive group, or a combination thereof. .

본 개시에서, 아미노기 반응성기란, 아미노기에 대한 반응성을 갖는 기를 의도한다. 아미노기 반응성기로는, 예를 들어, 산기 (예를 들어, 카르복실기, 산 무수물기, 및 치환 카르복실기 (예를 들어, 산 에스테르기, 산 할라이드기 등) 등), 하이드록시기, 에폭시기, 및 메르캅토기를 들 수 있다. 산기를 포함하는 화합물로는, 예를 들어, 디카르복실산, 트리카르복실산, 테트라카르복실산, 및, 이들 카르복실산의, 산 2무수물, 산 에스테르화물, 산 클로라이드 등을 들 수 있다. 따라서, 본 실시형태의 수지 전구체는 폴리이미드 전구체일 수 있다. 전형적인 양태에 있어서, 아미노기 반응성기는 카르복실기, 치환 카르복실기 및 산 무수물기로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상을 포함한다. 바람직한 양태에 있어서, 아미노기 반응성기는 카르복실기, 치환 카르복실기 및 산 무수물기로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상이다.In the present disclosure, an amino group reactive group is intended to have a group having reactivity with an amino group. As the amino group reactive group, for example, an acid group (e.g., a carboxyl group, an acid anhydride group, and a substituted carboxyl group (e.g., an acid ester group, an acid halide group, etc.)), a hydroxyl group, an epoxy group, and a mercap Earthenware is mentioned. As a compound containing an acidic radical, dicarboxylic acid, tricarboxylic acid, tetracarboxylic acid, and acid dianhydride, acid esterified product, acid chloride, etc. of these carboxylic acids are mentioned, for example. . Therefore, the resin precursor of this embodiment may be a polyimide precursor. In a typical embodiment, the amino group reactive group includes at least one selected from the group consisting of a carboxyl group, a substituted carboxyl group and an acid anhydride group. In a preferred embodiment, the amino group reactive group is at least one selected from the group consisting of a carboxyl group, a substituted carboxyl group and an acid anhydride group.

다가 화합물은, 적어도, 일반식 (1) 로 나타내는 디아민을 포함한다. 일반식 (1) 로 나타내는 화합물은, 예를 들어, 4,4-(디아미노디페닐)술폰 (이하, 4,4-DAS 라고도 기재한다), 3,4-(디아미노디페닐)술폰 (이하, 3,4-DAS 라고도 기재한다), 및 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (이하, 3,3-DAS 라고도 기재한다) 으로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상일 수 있다.The polyvalent compound contains at least the diamine represented by General formula (1). Examples of the compound represented by the general formula (1) include 4,4- (diaminodiphenyl) sulfone (hereinafter also referred to as 4,4-DAS) and 3,4- (diaminodiphenyl) sulfone ( Hereinafter, it may be one or more selected from the group consisting of 3,4-DAS) and 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone (hereinafter also referred to as 3,3-DAS).

다가 화합물 중 적어도 1 개는 규소기 함유 화합물이다. 일반식 (2) 로 나타내는 구조는 규소기 함유 화합물에서 유래한다. 규소기 함유 화합물의 양은, 다가 화합물의 질량 기준으로, 6 질량% ∼ 25 질량% (이하, 이 질량분율을 규소기 함유 모노머 농도라고도 한다) 이다. 규소기 함유 모노머 농도는 6 질량% 이상인 것이 수지막과 무기막 사이에 발생하는 응력의 저하 효과나 황색도의 저하 효과를 충분히 얻는 관점에서 유리하며, 7 질량% 이상인 것이 바람직하고, 8 질량% 이상인 것이 보다 바람직하고, 10 질량% 이상인 것이 더욱 바람직하다. 한편, 규소기 함유 모노머 농도는 25 질량% 이하인 것이, 얻어지는 폴리이미드가 백탁하는 일 없이, 투명성 향상, 황색도 저하의 관점 및, 양호한 내열성을 얻는 관점에서 유리하며, 22 질량% 이하인 것이 바람직하고, 20 질량% 이하인 것이 더욱 바람직하다. 내약품성, YI 값, 전체 광선 투과율, 복굴절률, 잔류 응력 및 광학 특성의 산소 의존성을 모두 양호하게 하는 관점에서, 규소기 함유 모노머 농도는 10 질량% 이상 20 질량% 이하인 것이 특히 바람직하다.At least 1 of a polyhydric compound is a silicon group containing compound. The structure represented by General formula (2) is derived from a silicon group containing compound. The quantity of a silicon group containing compound is 6 mass%-25 mass% (henceforth this mass fraction is also called a silicon group containing monomer concentration) on the mass basis of a polyvalent compound. The silicon group-containing monomer concentration is advantageously 6 mass% or more from the viewpoint of sufficiently obtaining the effect of lowering the stress between the resin film and the inorganic film and the lowering effect of the yellowness, and preferably 7 mass% or more, preferably 8 mass% or more. It is more preferable, and it is still more preferable that it is 10 mass% or more. On the other hand, the silicon group-containing monomer concentration is advantageously 25 mass% or less from the viewpoint of improving transparency, lowering the yellowness and obtaining good heat resistance, without causing the resulting polyimide to be cloudy, and preferably 22 mass% or less. It is more preferable that it is 20 mass% or less. From the viewpoint of improving the chemical resistance, YI value, total light transmittance, birefringence, residual stress, and oxygen dependence of optical properties, it is particularly preferable that the silicon group-containing monomer concentration is 10 mass% or more and 20 mass% or less.

일반식 (2) 에 있어서, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이다. 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기로는, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 탄화수소기, 탄소수 1 ∼ 20 의 아미노기, 탄소수 1 ∼ 20 의 알콕시기, 에폭시기 등을 들 수 있다.In General formula (2), two or more R <3> and R <4> is a C1-C20 monovalent organic group each independently. As a C1-C20 monovalent organic group, a C1-C20 monovalent hydrocarbon group, a C1-C20 amino group, a C1-C20 alkoxy group, an epoxy group, etc. are mentioned.

그 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 탄화수소기로는, 탄소수 1 ∼ 20 의 알킬기, 탄소수 3 ∼ 20 의 시클로알킬기, 탄소수 6 ∼ 20 의 아릴기 등을 들 수 있다. 그 탄소수 1 ∼ 20 의 알킬기로는, 내열성과 잔류 응력의 관점에서 탄소수 1 ∼ 10 의 알킬기가 바람직하고, 구체적으로는, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, 부틸기, 이소부틸기, t-부틸기, 펜틸기, 헥실기 등을 들 수 있다. 그 탄소수 3 ∼ 20 의 시클로알킬기로는, 상기 관점에서 탄소수 3 ∼ 10 의 시클로알킬기가 바람직하고, 구체적으로는, 시클로펜틸기, 시클로헥실기 등을 들 수 있다. 그 탄소수 6 ∼ 20 의 아릴기로는, 상기 관점에서 탄소수 6 ∼ 12 의 아릴기가 바람직하고, 구체적으로는, 페닐기, 톨릴기, 나프틸기 등을 들 수 있다.As this C1-C20 monovalent hydrocarbon group, a C1-C20 alkyl group, a C3-C20 cycloalkyl group, a C6-C20 aryl group, etc. are mentioned. As this C1-C20 alkyl group, a C1-C10 alkyl group is preferable from a viewpoint of heat resistance and residual stress, Specifically, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, isopropyl group, a butyl group, isobutyl group, t -Butyl group, pentyl group, hexyl group, etc. are mentioned. As said C3-C20 cycloalkyl group, a C3-C10 cycloalkyl group is preferable from the said viewpoint, and a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, etc. are mentioned specifically ,. As said C6-C20 aryl group, a C6-C12 aryl group is preferable from the said viewpoint, and a phenyl group, a tolyl group, a naphthyl group, etc. are mentioned specifically ,.

그 탄소수 1 ∼ 20 의 아미노기로는, 아미노기, 치환한 아미노기 (예를 들어, 비스(트리알킬실릴)아미노기) 등을 들 수 있다.As this C1-C20 amino group, an amino group, the substituted amino group (for example, bis (trialkyl silyl) amino group), etc. are mentioned.

그 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 알콕시기로는, 메톡시기, 에톡시기, 프로폭시기, 이소프로필옥시기, 부톡시기, 페녹시기, 프로페닐옥시기 및 시클로헥실옥시기 등을 들 수 있다.As this C1-C20 monovalent alkoxy group, a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, isopropyloxy group, butoxy group, a phenoxy group, a propenyloxy group, a cyclohexyloxy group, etc. are mentioned.

일반식 (2) 에 있어서, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 3 의 1 가의 지방족 탄화수소기, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족 탄화수소기인 것이, 얻어지는 폴리이미드막이 고내열성과 저잔류 응력을 겸비하는 관점에서 바람직하다. 이 관점에서, 탄소수 1 ∼ 3 의 1 가의 지방족 탄화수소는 바람직하게는 메틸기이고, 탄소수 6 ∼ 10 의 방향족기는 바람직하게는 페닐기이다.In general formula (2), the polyimide membrane obtained by which two or more R <3> and R <4> is a C1-C3 monovalent aliphatic hydrocarbon group or a C6-C10 monovalent aromatic hydrocarbon group each independently is a It is preferable from the viewpoint of having high heat resistance and low residual stress. From this viewpoint, the C1-C3 monovalent aliphatic hydrocarbon is preferably a methyl group, and the C6-C10 aromatic group is preferably a phenyl group.

일반식 (2) 중의 h 는 3 ∼ 200 의 정수이며, 바람직하게는 10 ∼ 200 의 정수, 보다 바람직하게는 20 ∼ 150 의 정수, 더욱 바람직하게는 30 ∼ 100 의 정수, 특히 바람직하게는 35 ∼ 80 의 정수이다. h 가 2 이하이면, 본 개시의 수지 전구체로부터 얻어지는 폴리이미드의 잔류 응력이 악화되는 (즉, 커지는) 경우가 있고, h 가 200 을 초과하면, 수지 전구체와 용매를 포함하는 바니시를 조제했을 때에, 그 바니시가 백탁하거나, 폴리이미드의 기계 강도가 저하되는 등의 문제가 발생하는 경우가 있다.H in General formula (2) is an integer of 3-200, Preferably it is an integer of 10-200, More preferably, it is an integer of 20-150, More preferably, it is an integer of 30-100, Especially preferably, it is 35- It is an integer of 80. When h is 2 or less, the residual stress of the polyimide obtained from the resin precursor of the present disclosure may deteriorate (that is, increase), and when h exceeds 200, when a varnish containing a resin precursor and a solvent is prepared, Problems may arise such that the varnish is cloudy, or the mechanical strength of the polyimide is lowered.

본 실시형태의 수지 전구체에 있어서는, 규소기 함유 화합물이 하기 일반식 (3):In the resin precursor of this embodiment, a silicon group containing compound is the following general formula (3):

[화학식 11][Formula 11]

Figure pat00011
Figure pat00011

{식 중, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 20 의 2 가의 유기기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, L1, L2, 및 L3 은, 각각 독립적으로, 아미노기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 무수물기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, j 는 3 ∼ 200 의 정수이고, k 는 0 ∼ 197 의 정수이다.} 으로 나타내는 실리콘 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 바람직한 양태에 있어서, 규소기 함유 화합물은 일반식 (3) 으로 나타내는 실리콘 화합물이다.{In formula, two or more R <2> is respectively independently a single bond or a C1-C20 divalent organic group, R <3> and R <4> is respectively independently a C1-C20 monovalent organic group , R 5, which may be present in plural numbers, are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, and L 1 , L 2 , and L 3 are each independently an amino group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid anhydride group, It is an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, j is an integer of 3-200, k is an integer of 0-197. It is preferable to contain the silicone compound shown by the following. In a preferred embodiment, the silicon group-containing compound is a silicone compound represented by the general formula (3).

R2 에 있어서의 탄소수 1 ∼ 20 의 2 가의 유기기로는, 메틸렌기, 탄소수 2 ∼ 20 의 알킬렌기, 탄소수 3 ∼ 20 의 시클로알킬렌기, 탄소수 6 ∼ 20 의 아릴렌기 등을 들 수 있다. 그 탄소수 2 ∼ 20 의 알킬렌기로는, 내열성, 잔류 응력, 코스트의 관점에서 탄소수 2 ∼ 10 의 알킬렌기가 바람직하고, 디메틸렌기, 트리메틸렌기, 테트라메틸렌기, 펜타메틸렌기, 헥사메틸렌기 등을 들 수 있다. 그 탄소수 3 ∼ 20 의 시클로알킬렌기로는, 상기 관점에서 탄소수 3 ∼ 10 의 시클로알킬렌기가 바람직하고, 시클로부틸렌기, 시클로펜틸렌기, 시클로헥실렌기, 시클로헵틸렌기 등을 들 수 있다. 그 중에서도 상기 관점에서 탄소수 3 ∼ 20 의 2 가의 지방족 탄화수소가 바람직하다. 그 탄소수 6 ∼ 20 의 아릴렌기로는, 상기 관점에서 탄소수 3 ∼ 20 의 방향족기가 바람직하고, 페닐렌기, 나프틸렌기 등을 들 수 있다.As a C1-C20 divalent organic group in R <2> , a methylene group, a C2-C20 alkylene group, a C3-C20 cycloalkylene group, a C6-C20 arylene group, etc. are mentioned. As this C2-C20 alkylene group, a C2-C10 alkylene group is preferable from a viewpoint of heat resistance, residual stress, and cost, and a dimethylene group, trimethylene group, tetramethylene group, pentamethylene group, and hexamethylene group Etc. can be mentioned. As said C3-C20 cycloalkylene group, a C3-C10 cycloalkylene group is preferable from the said viewpoint, A cyclobutylene group, a cyclopentylene group, a cyclohexylene group, a cycloheptylene group, etc. are mentioned. Especially, a C3-C20 divalent aliphatic hydrocarbon is preferable from the said viewpoint. As this C6-C20 arylene group, a C3-C20 aromatic group is preferable from the said viewpoint, A phenylene group, a naphthylene group, etc. are mentioned.

일반식 (3) 에 있어서, R3 및 R4 는 일반식 (2) 중의 R3 및 R4 와 동일한 의미이며, 바람직한 양태는 일반식 (2) 에 대해 전술한 바와 같다. 또 R5 는 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기, 즉 R3 및 R4 와 동일한 의미이며, 바람직한 양태는 R3 및 R4 와 동일하다.In the formula (3), R 3 and R 4 are the same meanings as R 3 and R 4 in general formula (2), preferred embodiments are as defined above for formula (2). Moreover, R <5> is synonymous with a C1-C20 monovalent organic group, ie, R <3> and R <4>, and a preferable aspect is the same as R <3> and R <4> .

일반식 (3) 에 있어서, L1, L2, 및 L3 은, 각각 독립적으로, 아미노기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 무수물기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이다.In General Formula (3), L 1 , L 2 , and L 3 each independently represent an amino group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid anhydride group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mer It is a capto group.

아미노기는 치환되어도 되고, 예를 들어 비스(트리알킬실릴)아미노기 등을 들 수 있다. L1, L2, 및 L3 이 아미노기인, 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물의 구체예로는, 양 말단 아미노 변성 메틸페닐실리콘 (예를 들어, 신에츠 화학사 제조의, X22-1660B-3 (수평균 분자량 4,400) 및 X22-9409 (수평균 분자량 1,300)), 양 말단 아미노 변성 디메틸실리콘 (예를 들어, 신에츠 화학사 제조의, X22-161A (수평균 분자량 1,600), X22-161B (수평균 분자량 3,000) 및 KF8012 (수평균 분자량 4,400);토레 다우코닝 제조의 BY16-835U (수평균 분자량 900);그리고 칫소사 제조의 사이라플레인 FM3311 (수평균 분자량 1000)) 등을 들 수 있다.The amino group may be substituted, and a bis (trialkyl silyl) amino group etc. are mentioned, for example. As a specific example of the compound represented by General formula (3) whose L <1> , L <2> and L <3> are amino groups, Amino terminal-modified methylphenylsilicone (for example, X22-1660B-3 by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. (water Average molecular weight 4,400) and X22-9409 (number average molecular weight 1,300), both terminal amino-modified dimethylsilicone (for example, X22-161A (number average molecular weight 1,600) by the Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., X22-161B (number average molecular weight 3,000) ) And KF8012 (number average molecular weight 4,400); BY16-835U (number average molecular weight 900) manufactured by Torre Dow Corning; and cyraplane FM3311 (number average molecular weight 1000) manufactured by Chisso Corp.).

L1, L2, 및 L3 이 이소시아네이트기인 화합물의 구체예로는, 상기, 양 말단 아미노 변성 실리콘과 포스겐 화합물을 반응하여 얻어지는 이소시아네이트 변성 실리콘 등을 들 수 있다.As an example of the compound whose L <1> , L <2> and L <3> is an isocyanate group, the isocyanate modified silicone etc. which are obtained by reacting the said both terminal amino modified silicone and a phosgene compound are mentioned.

L1, L2, 및 L3 이 카르복실기인 화합물의 구체예로는, 예를 들어 신에츠 화학사의, X22-162C (수평균 분자량 4,600), 토레 다우코닝 제조의 BY16-880 (수평균 분자량 6,600) 등을 들 수 있다.As a specific example of the compound whose L <1> , L <2> and L <3> are a carboxyl group, For example, X22-162C (number average molecular weight 4,600) by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., BY16-880 (number average molecular weight 6,600) by Torre Dow Corning Etc. can be mentioned.

L1, L2, 및 L3 이 산 무수물기인 화합물의 구체예로는, 하기 식 군:As a specific example of the compound whose L <1> , L <2> and L <3> are acid anhydride groups, a following formula group:

[화학식 12][Formula 12]

Figure pat00012
Figure pat00012

으로 나타내는 기 중 적어도 1 개를 갖는 아실 화합물 등을 들 수 있다.The acyl compound etc. which have at least 1 of the group shown by these are mentioned.

L1, L2, 및 L3 이 산 무수물기인 화합물의 구체예로는, X22-168AS (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 1,000), X22-168A (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 2,000), X22-168B (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 3,200), X22-168-P5-8 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 4,200), DMS-Z21 (겔레스트사 제조, 수평균 분자량 600 ∼ 800) 등을 들 수 있다.Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 , and L 3 are an acid anhydride group include X22-168AS (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 1,000), X22-168A (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 2,000), X22- 168B (Shin-Etsu Chemical make, number average molecular weight 3,200), X22-168-P5-8 (Shin-Etsu Chemical make, number average molecular weight 4,200), DMS-Z21 (Gelest company make, number average molecular weight 600-800), etc. are mentioned. have.

L1, L2, 및 L3 이 산 에스테르기인 화합물의 구체예로는, 상기 L1, L2, 및 L3 이 카르복실기 또는 산 무수물기인 화합물과 알코올을 반응시켜 얻어지는 화합물 등을 들 수 있다.As a specific example of the compound whose L <1> , L <2> and L <3> are acid ester groups, the compound etc. which are obtained by making the said L <1> , L <2> and L <3> react with the compound and alcohol which are a carboxyl group or an acid anhydride group are mentioned.

L1, L2, 및 L3 이 산 할라이드기인 화합물의 구체예로는, 카르복실산 염화물, 카르복실산 불화물, 카르복실산 브롬화물, 카르복실산 요오드화물 등을 들 수 있다.Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 , and L 3 are an acid halide group include carboxylic acid chloride, carboxylic acid fluoride, carboxylic acid bromide, and carboxylic acid iodide.

L1, L2, 및 L3 이 하이드록시기인 화합물의 구체예로는, KF-6000 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 900), KF-6001 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 1,800), KF-6002 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 3,200), KF-6003 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 5,000) 등을 들 수 있다. 하이드록시기를 갖는 화합물은 카르복실기 또는 산 무수물기를 갖는 화합물과 반응하는 것으로 생각된다.As specific examples of the compound in which L 1 , L 2 , and L 3 are hydroxyl groups, KF-6000 (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 900), KF-6001 (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 1,800), KF- 6002 (Shin-Etsu Chemical make, number average molecular weight 3,200), KF-6003 (Shin-Etsu Chemical make, number average molecular weight 5,000), etc. are mentioned. It is thought that the compound which has a hydroxyl group reacts with the compound which has a carboxyl group or an acid anhydride group.

L1, L2, 및 L3 이 에폭시기인 화합물의 구체예로는, 양 말단 에폭시 타입인, X22-163 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 400), KF-105 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 980), X22-163A (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 2,000), X22-163B (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 3,500), X22-163C (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 5,400);양 말단 지환식 에폭시 타입인, X22-169AS (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 1,000), X22-169B (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 3,400);측사슬 양 말단 에폭시 타입인, X22-9002 (신에츠 화학 제조, 관능기 당량 5,000 g/㏖);등을 들 수 있다. 에폭시기를 갖는 화합물은 디아민과 반응하는 것으로 생각된다.As a specific example of the compound whose L <1> , L <2> and L <3> are epoxy groups, X22-163 (Shin-Etsu Chemical make, number average molecular weight 400) and KF-105 (Shin-Etsu Chemical make, number average molecular weight) which are both terminal epoxy types 980), X22-163A (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 2,000), X22-163B (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 3,500), X22-163C (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 5,400); Both terminal alicyclic epoxy X22-169AS (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 1,000), X22-169B (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 3,400); X22-9002 (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., functional group equivalent 5,000) g / mol); It is thought that the compound which has an epoxy group reacts with diamine.

L1, L2, 및 L3 이 메르캅토기인 화합물의 구체예로는, X22-167B (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 3,400), X22-167C (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 4,600) 등을 들 수 있다. 메르캅토기를 갖는 화합물은 카르복실기 또는 산 무수물기를 갖는 화합물과 반응하는 것으로 생각된다.Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 , and L 3 are mercapto groups include X22-167B (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 3,400), X22-167C (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 4,600). Can be mentioned. It is thought that the compound which has a mercapto group reacts with the compound which has a carboxyl group or an acid anhydride group.

L1, L2, 및 L3 은, 수지 전구체의 분자량 향상의 관점, 또는 얻어지는 폴리이미드의 내열성의 관점에서, 각각 독립적으로, 아미노기 또는 산 무수물기인 것이 바람직하고, 또한 수지 전구체와 용매를 포함하는 바니시의 백탁 회피의 관점, 또는 코스트의 관점에서, 각각 독립적으로, 아미노기인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that L <1> , L <2> and L <3> are an amino group or an acid anhydride group each independently from a viewpoint of the molecular weight improvement of a resin precursor, or the heat resistance of the polyimide obtained, and also contains a resin precursor and a solvent It is more preferable that it is an amino group each independently from a viewpoint of avoiding turbidity of a varnish, or a viewpoint of cost.

또는, 수지 전구체와 용매를 포함하는 바니시의 백탁 회피의 관점, 또는 코스트의 관점에서, L1 및 L2 가, 각각 독립적으로, 아미노기 또는 산 무수물기이고, 그리고 k 가 0 인 것이 바람직하다. 이 경우, L1 및 L2 가 함께 아미노기인 것이 보다 바람직하다.Or from a viewpoint of avoiding the turbidity of the varnish containing a resin precursor and a solvent, or a viewpoint of cost, it is preferable that L <1> and L <2> are respectively independently an amino group or an acid anhydride group, and k is zero. In this case, it is more preferable that L 1 and L 2 are together an amino group.

일반식 (3) 에 있어서, j 의 바람직한 양태는 일반식 (2) 에 있어서 h 에 대해 전술한 것과 동일하다. 일반식 (3) 에 있어서, k 는 0 ∼ 197 의 정수이며, 바람직하게는 0 ∼ 100, 더욱 바람직하게는 0 ∼ 50, 특히 바람직하게는 0 ∼ 25 이다. k 가 197 을 초과하면, 수지 전구체와 용매를 포함하는 바니시를 조제했을 때에, 그 바니시가 백탁하는 등의 문제가 발생하는 경우가 있다. k 가 0 인 경우, 수지 전구체의 분자량 향상의 관점, 또는 얻어지는 폴리이미드의 내열성의 관점에서 바람직하다. k 가 0 인 경우, 수지 전구체의 분자량 향상의 관점, 또는 얻어지는 폴리이미드의 내열성의 관점에서, j 가 3 ∼ 200 인 것은 유리하다.In General formula (3), the preferable aspect of j is the same as what was mentioned above about h in General formula (2). In General formula (3), k is an integer of 0-197, Preferably it is 0-100, More preferably, it is 0-50, Especially preferably, it is 0-25. When k exceeds 197, when the varnish containing a resin precursor and a solvent is prepared, the problem that the varnish becomes cloudy may arise. When k is 0, it is preferable from a viewpoint of the molecular weight improvement of a resin precursor, or the heat resistance of the polyimide obtained. When k is 0, it is advantageous that j is 3-200 from a viewpoint of the molecular weight improvement of a resin precursor, or the heat resistance of the polyimide obtained.

바람직한 양태에 있어서, 본 개시의 각 식에 있어서, R3 및 R4 는, 잔류 응력, 코스트의 관점에서, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 3 의 1 가의 지방족 탄화수소기, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족 탄화수소기이다. 또는, 본 개시의 각 식에 있어서, R3 및 R4 의 일부는, 내열성, 잔류 응력의 관점에서, 페닐기인 것이 바람직하다.In a preferred embodiment, in each formula of the present disclosure, R 3 and R 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 3 carbon atoms or 1 to 6 carbon atoms from the viewpoint of residual stress and cost. It is a valent aromatic hydrocarbon group. Or in each formula of this indication, it is preferable that a part of R <3> and R <4> is a phenyl group from a viewpoint of heat resistance and a residual stress.

바람직한 양태에 있어서, 다가 화합물은 테트라카르복실산 2무수물과 디아민을 포함한다. 바람직한 양태에 있어서, 다가 화합물은 테트라카르복실산 2무수물, 디카르복실산, 및 디아민을 포함한다.In a preferred embodiment, the polyvalent compound comprises tetracarboxylic dianhydride and diamine. In a preferred embodiment, the polyvalent compound comprises tetracarboxylic dianhydride, dicarboxylic acid, and diamine.

<테트라카르복실산 2무수물><Tetracarboxylic dianhydride>

중합 원료에 포함되는 다가 화합물의 예로서의 테트라카르복실산 2무수물로는, 구체적으로는, 탄소수가 8 ∼ 36 인 방향족 테트라카르복실산 2무수물, 및, 탄소수가 6 ∼ 36 인 지환식 테트라카르복실산 2무수물에서 선택되는 화합물이 YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서 바람직하다.As tetracarboxylic dianhydride as an example of the polyhydric compound contained in a polymerization raw material, Specifically, C8-36 aromatic tetracarboxylic dianhydride and C6-C36 alicyclic tetracarboxylic acid The compound chosen from the anhydride is preferable from a viewpoint of reduction of a YI value, and total light transmittance.

더욱 구체적으로는, 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물 (이하, 6FDA 라고도 기재한다), 5-(2,5-디옥소테트라하이드로-3-푸라닐)-3-메틸-시클로헥센-1,2디카르복실산 무수물, 피로멜리트산 2무수물 (이하, PMDA 라고도 기재한다), 1,2,3,4-벤젠테트라카르복실산 2무수물, 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물 (이하, BTDA 라고도 기재한다), 2,2',3,3'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물 (이하, BPDA 라고도 기재한다), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물 (이하, DSDA 라고도 기재한다), 2,2',3,3'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,1-에틸리덴-4,4'-디프탈산 2무수물, 2,2-프로필리덴-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,2-에틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,3-트리메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,4-테트라메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,5-펜타메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (이하, ODPA 라고도 기재한다), 티오-4,4'-디프탈산 2무수물, 술포닐-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페닐)벤젠 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페녹시)벤젠 2무수물, 1,4-비스(3,4-디카르복시페녹시)벤젠 2무수물, 1,3-비스[2-(3,4-디카르복시페닐)-2-프로필]벤젠 2무수물, 1,4-비스[2-(3,4-디카르복시페닐)-2-프로필]벤젠 2무수물, 비스[3-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]메탄 2무수물, 비스[4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]메탄 2무수물, 2,2-비스[3-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]프로판 2무수물, 2,2-비스[4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]프로판 2무수물 (이하, BPADA 라고도 기재한다), 비스(3,4-디카르복시페녹시)디메틸실란 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페닐)-1,1,3,3-테트라메틸디실록산 2무수물, 2,3,6,7-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 1,4,5,8-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 1,2,5,6-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 3,4,9,10-페릴렌테트라카르복실산 2무수물, 2,3,6,7-안트라센테트라카르복실산 2무수물, 1,2,7,8-페난트렌테트라카르복실산 2무수물, 에틸렌테트라카르복실산 2무수물, 1,2,3,4-부탄테트라카르복실산 2무수물, 1,2,3,4-시클로부탄테트라카르복실산 2무수물 (이하, CBDA 라고도 기재한다), 시클로펜탄테트라카르복실산 2무수물, 시클로헥산-1,2,3,4-테트라카르복실산 2무수물, 시클로헥산-1,2,4,5-테트라카르복실산 2무수물 (이하, CHDA 라고 기재한다), 3,3',4,4'-비시클로헥실테트라카르복실산 2무수물, 카르보닐-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 메틸렌-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 1,2-에틸렌-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 1,1-에틸리덴-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 2,2-프로필리덴-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 옥시-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 티오-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 술포닐-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 비시클로[2,2,2]옥트-7-엔-2,3,5,6-테트라카르복실산 2무수물, rel-[1S,5R,6R]-3-옥사비시클로[3,2,1]옥탄-2,4-디온-6-스피로-3'-(테트라하이드로푸란-2',5'-디온), 4-(2,5-디옥소테트라하이드로푸란-3-일)-1,2,3,4-테트라하이드로나프탈렌-1,2-디카르복실산 무수물, 에틸렌글리콜-비스-(3,4-디카르복실산 무수물 페닐)에테르, 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (이하, TAHQ 라고도 한다), 9,9'-비스(3,4-디카르복시페닐)플루오렌 2무수물 (이하, BPAF 라고도 한다.) 등을 들 수 있다.More specifically, 4,4 '-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride (hereinafter also referred to as 6FDA), 5- (2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl) -3- Methyl-cyclohexene-1,2 dicarboxylic anhydride, pyromellitic dianhydride (hereinafter also referred to as PMDA), 1,2,3,4-benzenetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4 , 4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride (hereinafter also referred to as BTDA), 2,2 ', 3,3'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 3,3', 4,4'- Biphenyltetracarboxylic dianhydride (hereinafter also referred to as BPDA), 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfontetracarboxylic dianhydride (hereinafter also referred to as DSDA), 2,2', 3,3'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, methylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 1,1-ethylidene-4,4'-diphthalic dianhydride, 2,2-propylidene- 4,4'-diphthalic dianhydride, 1,2-ethylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 1,3-trimethylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 1,4-tetramethylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 1,5-pentamethylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (hereinafter also referred to as ODPA Thio-4,4'-diphthalic dianhydride, sulfonyl-4,4'-diphthalic dianhydride, 1,3-bis (3,4-dicarboxyphenyl) benzene dianhydride, 1,3- Bis (3,4-dicarboxyphenoxy) benzene dianhydride, 1,4-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) benzene dianhydride, 1,3-bis [2- (3,4-dicarboxyphenyl ) -2-propyl] benzene dianhydride, 1,4-bis [2- (3,4-dicarboxyphenyl) -2-propyl] benzene dianhydride, bis [3- (3,4-dicarboxyphenoxy) Phenyl] methane dianhydride, bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] methane dianhydride, 2,2-bis [3- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride, 2,2-bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride (hereinafter also referred to as BPADA), bis (3,4-dicarboxyphenoxy) dimethylsilane dianhydride, 1, 3-bis (3,4-dicarboxyphenyl) -1,1,3,3-te Lamethyldisiloxane dianhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,2,5,6-naphthalenetetracarb Acid dianhydride, 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-anthracene tetracarboxylic dianhydride, 1,2,7,8-phenanthrene tetracarr Acid dianhydride, ethylene tetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-butanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride (hereinafter also referred to as CBDA Cyclopentane tetracarboxylic dianhydride, cyclohexane-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, cyclohexane-1,2,4,5-tetracarboxylic dianhydride (hereinafter referred to as , CHDA), 3,3 ', 4,4'-bicyclohexyltetracarboxylic dianhydride, carbonyl-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) 2 Anhydride, methylene-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, 1,2- Ethylene-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, 1,1-ethylidene-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) Dianhydride, 2,2-propylidene-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, oxy-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicar Dianhydride, thio-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, sulfonyl-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxyl) Acid) dianhydride, bicyclo [2,2,2] oct-7-ene-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, rel- [1S, 5R, 6R] -3-oxabicyclo [3,2,1] octane-2,4-dione-6-spiro-3 '-(tetrahydrofuran-2', 5'-dione), 4- (2,5-dioxotetrahydrofuran-3 -Yl) -1,2,3,4-tetrahydronaphthalene-1,2-dicarboxylic anhydride, ethylene glycol-bis- (3,4-dicarboxylic anhydride phenyl) ether, 4,4'- Biphenylbis (trimelitic acid monoester acid anhydride) (hereinafter also referred to as TAHQ), 9,9'-bis (3,4-dicarboxyphenyl) Lu fluorene (also referred to below, BPAF.) 2 anhydride, and the like.

그 중에서도, BTDA 및 PMDA 가 CTE 의 저감, 내약품성의 향상, 유리 전이 온도 (Tg) 향상 및 기계 신도 향상의 관점에서 바람직하다. 또, 6FDA, ODPA 및 BPADA 가 황색도의 저하, 복굴절률의 저하 및 기계 신도 향상의 관점에서 바람직하다. 또, BPDA 가 잔류 응력의 저감, 황색도의 저하, 복굴절률의 저하, 내약품성의 향상, Tg 향상 및 기계 신도 향상의 관점에서 바람직하다. 또, CHDA 가 잔류 응력의 저감 및 황색도의 저하의 관점에서 바람직하다. 이들 중에서도, 고내약품성, 고 Tg 및 저 CTE 를 발현하는 강직 구조의 BPDA 와, 황색도 및 복굴절률이 낮은, 6FDA, ODPA, 및 CHDA 로 이루어지는 군에서 선택되는 테트라카르복실산 2무수물을 조합하여 사용하는 것이, 고내약품성, 잔류 응력 저하, 황색도 저하, 복굴절률의 저하, 및, 전체 광선 투과율의 향상의 관점에서 바람직하다.Among them, BTDA and PMDA are preferred from the viewpoint of reducing CTE, improving chemical resistance, improving glass transition temperature (Tg), and improving mechanical elongation. Moreover, 6FDA, ODPA, and BPADA are preferable from the viewpoint of lowering yellowness, lowering birefringence and improving mechanical elongation. In addition, BPDA is preferable from the viewpoint of reducing residual stress, lowering of yellowness, lowering of birefringence, improving chemical resistance, improving Tg, and improving mechanical elongation. Moreover, CHDA is preferable from a viewpoint of the reduction of residual stress and the fall of yellowness. Among them, BPDA of rigid structure expressing high chemical resistance, high Tg and low CTE, and tetracarboxylic dianhydride selected from the group consisting of 6FDA, ODPA, and CHDA having low yellowness and birefringence are used in combination. It is preferable from the viewpoint of high chemical resistance, lowering of residual stress, lowering of yellowness, lowering of birefringence, and improvement of total light transmittance.

그 중에서도, 상기 효과에 더하여, 고신도, 내약품성의 향상, 및, 고영률의 관점에서, BPDA 에서 유래하는 부위가 전체 산 2무수물 유래의 부위의 20 몰% 이상인 것이 바람직하고, 50 몰% 이상인 것이 보다 바람직하고, 80 몰% 이상인 것이 더욱 바람직하며, 100 % 여도 된다.Especially, in addition to the said effect, from a viewpoint of high elongation, chemical-resistance improvement, and a high Young's modulus, it is preferable that the site | part derived from BPDA is 20 mol% or more of the site | part derived from all the acid dianhydrides, and it is 50 mol% or more. More preferably, it is more preferable that it is 80 mol% or more, and 100% may be sufficient.

<디카르복실산><Dicarboxylic acid>

또, 본 실시형태에 있어서의 수지 전구체는, 성능을 저해하지 않는 범위에서, 상기 서술한 테트라카르복실산 2무수물에 더하여, 기계 신도의 향상이나, 유리 전이 온도의 향상, 황색도의 저감과 같은 성능을 조정할 목적으로, 디카르복실산을 공중합시킴으로써 폴리아미드 성분을 도입함으로써, 열 경화막을 폴리아미드이미드로 할 수도 있다. 그와 같은 디카르복실산으로서, 방향 고리를 갖는 디카르복실산 및 지환식 디카르복실산을 들 수 있으며, 특히, YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서, 탄소수가 8 ∼ 36 인 방향족 디카르복실산, 및 탄소수가 6 ∼ 34 인 지환식 디카르복실산으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 개의 화합물이 바람직하다. 구체적으로는, 이소프탈산, 테레프탈산, 4,4'-비페닐디카르복실산, 3,4'-비페닐디카르복실산, 3,3'-비페닐디카르복실산, 1,4-나프탈렌디카르복실산, 2,3-나프탈렌디카르복실산, 1,5-나프탈렌디카르복실산, 2,6-나프탈렌디카르복실산, 4,4'-술포닐비스벤조산, 3,4'-술포닐비스벤조산, 3,3'-술포닐비스벤조산, 4,4'-옥시비스벤조산, 3,4'-옥시비스벤조산, 3,3'-옥시비스벤조산, 2,2-비스(4-카르복시페닐)프로판, 2,2-비스(3-카르복시페닐)프로판, 2,2'-디메틸-4,4'-비페닐디카르복실산, 3,3'-디메틸-4,4'-비페닐디카르복실산, 2,2'-디메틸-3,3'-비페닐디카르복실산, 9,9-비스(4-(4-카르복시페녹시)페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-(3-카르복시페녹시)페닐)플루오렌, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 1,1-시클로부탄디카르복실산, 1,4-시클로헥산디카르복실산, 1,2-시클로헥산디카르복실산, 4,4'-벤조페논디카르복실산, 1,3-페닐렌2아세트산, 1,4-페닐렌2아세트산, 및, 국제 공개 제2005/068535호 팜플렛에 기재된 5-아미노이소프탈산 유도체 등을 들 수 있다. 이들 디카르복실산을 폴리머에 실제로 공중합시키는 경우에는, 염화티오닐 등으로부터 유도되는 산 클로라이드체나 활성 에스테르체의 형태로 사용해도 된다.Moreover, in addition to the tetracarboxylic dianhydride mentioned above, the resin precursor in this embodiment is a thing like improvement of mechanical elongation, improvement of glass transition temperature, reduction of yellowness, in addition to the tetracarboxylic dianhydride mentioned above. For the purpose of adjusting performance, the thermosetting film can also be made polyamideimide by introducing a polyamide component by copolymerizing dicarboxylic acid. As such dicarboxylic acid, the dicarboxylic acid and alicyclic dicarboxylic acid which have an aromatic ring are mentioned, In particular, aromatic with 8-36 carbon atoms from a viewpoint of reduction of a YI value and total light transmittance. At least one compound selected from the group consisting of dicarboxylic acid and alicyclic dicarboxylic acid having 6 to 34 carbon atoms is preferable. Specifically, isophthalic acid, terephthalic acid, 4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 1,4-naphthalene Dicarboxylic acid, 2,3-naphthalenedicarboxylic acid, 1,5-naphthalenedicarboxylic acid, 2,6-naphthalenedicarboxylic acid, 4,4'-sulfonylbisbenzoic acid, 3,4'- Sulfonylbisbenzoic acid, 3,3'-sulfonylbisbenzoic acid, 4,4'-oxybisbenzoic acid, 3,4'-oxybisbenzoic acid, 3,3'-oxybisbenzoic acid, 2,2-bis (4- Carboxyphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxyphenyl) propane, 2,2'-dimethyl-4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,3'-dimethyl-4,4'-ratio Phenyldicarboxylic acid, 2,2'-dimethyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 9,9-bis (4- (4-carboxyphenoxy) phenyl) fluorene, 9,9-bis (4- (3-carboxyphenoxy) phenyl) fluorene, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 4,4'-bis (3-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,4 '-Bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,4'-bis (3-carboxyphene Biphenyl, 3,3'-bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,3'-bis (3-carboxyphenoxy) biphenyl, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3,4'-bis (4-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 3,3'-bis (4-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 3,4'-bis (4-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3,3'-bis (4-carboxyphenoxy) -m-terphenyl , 4,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 4,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3,4'-bis (3-carboxyphenoxy C) -p-terphenyl, 3,3'-bis (3-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 3,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3,3 ' -Bis (3-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 1,1-cyclobutanedicarboxylic acid, 1,4-cyclohexanedicarboxylic acid, 1,2-cyclohexanedicarboxylic acid, 4, 5-aminoisoprop described in 4'-benzophenonedicarboxylic acid, 1,3-phenylene diacetic acid, 1,4-phenylene diacetic acid, and international publication 2005/068535 pamphlet. Deoxidation derivatives; When these dicarboxylic acids are actually copolymerized to a polymer, you may use it in the form of the acid chloride body or active ester body derived from thionyl chloride etc.

이들 중에서도, 테레프탈산이 YI 값의 저감, Tg 의 향상의 관점에서 특히 바람직하다. 디카르복실산을 테트라카르복실산 대신에 사용하는 경우에는, 디카르복실산과 테트라카르복실산을 합친 전체의 몰수에 대해, 디카르복실산이 50 몰% 이하인 것이 내약품성의 관점에서 바람직하다.Among these, terephthalic acid is especially preferable from a viewpoint of reducing YI value and improving Tg. When dicarboxylic acid is used instead of tetracarboxylic acid, it is preferable from a chemical-resistant viewpoint that dicarboxylic acid is 50 mol% or less with respect to the total number of moles which combined dicarboxylic acid and tetracarboxylic acid.

<디아민><Diamine>

중합 성분에 포함되는 디아민은 일반식 (1) 로 나타내는 디아민을 포함한다. 일반식 (1) 로 나타내는 디아민은 예를 들어 후술하는 유닛 1 의 디아민 유래 부위를 구성할 수 있다. 수지 전구체에 있어서, 일반식 (1) 로 나타내는 디아민에서 유래하는 부위는, 폴리이미드 필름의 적합한 황색도, 저복굴절, 전체 광선 투과율의 향상, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력의 저하, 고 Tg 및 고파단 강도를 얻는 관점에서, 전체 디아민 유래 부위의 20 몰% 이상인 것이 바람직하고, 50 몰% 이상인 것이 보다 바람직하고, 80 몰% 이상인 것이 더욱 바람직하다.Diamine contained in a polymerization component contains the diamine represented by General formula (1). The diamine represented by General formula (1) can comprise the diamine derived site | part of the unit 1 mentioned later, for example. In the resin precursor, the site | part derived from the diamine represented by General formula (1) is suitable for the yellowness of a polyimide film, low birefringence, the improvement of total light transmittance, the fall of the residual stress which arises between an inorganic film, high It is preferable that it is 20 mol% or more of a total diamine derived site | part from a viewpoint of obtaining Tg and high breaking strength, It is more preferable that it is 50 mol% or more, It is further more preferable that it is 80 mol% or more.

또, 디아민은 규소수 2 ∼ 100 의 2 가의 규소 함유기를 갖는 디아민 (이하, 간단히 규소 함유 디아민이라고도 기재한다) 을 포함할 수 있다. 규소 함유 디아민으로는, 예를 들어, 하기 일반식 (9):Moreover, diamine can contain the diamine (henceforth simply a silicon containing diamine hereafter) which has a bivalent silicon containing group of silicon number 2-100. As the silicon-containing diamine, for example, the following general formula (9):

[화학식 13][Formula 13]

Figure pat00013
Figure pat00013

{식 중, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 2 가의 지방족 탄화수소, 또는 2 가의 방향족기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, l 은 3 ∼ 50 의 정수이다.} 로 나타내는 디아미노(폴리)실록산이 적합하다. 이와 같은 디아민은 예를 들어 후술하는 유닛 2 를 구성할 수 있다.{In formula, two or more R <2> is respectively independently a C3-C20 divalent aliphatic hydrocarbon or a divalent aromatic group, R <3> and R <4> is respectively independently C1-C20 monovalent It is an organic group, and l is an integer of 3-50.} The diamino (poly) siloxane represented by the} is suitable. Such diamine can comprise the unit 2 mentioned later, for example.

상기 일반식 (9) 중의 R2 의 바람직한 구조로서, 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, 부틸렌기 및 페닐렌기 등을 들 수 있다. 또, 상기 일반식 (9) 중의 R3 및 R4 에 대한 적합한 예로는, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기 및 페닐기 등을 들 수 있으며, 특히 적어도 일부가 페닐기인 것이 특히 바람직하다.As a preferable structure of R <2> in the said General formula (9), a methylene group, an ethylene group, a propylene group, a butylene group, a phenylene group, etc. are mentioned. Moreover, as a suitable example with respect to R <3> and R <4> in the said General formula (9), a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a phenyl group, etc. are mentioned, It is especially preferable that at least one part is a phenyl group.

상기 일반식 (9) 로 나타내는 화합물로는, 구체적으로는, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400), X22-9409 (수평균 분자량 1300)), 양 말단 아미노 변성 디메틸실리콘 (신에츠 화학사 제조:X22-161A (수평균 분자량 1600), X22-161B (수평균 분자량 3000), KF8021 (수평균 분자량 4400), 토레 다우코닝 제조:BY16-835U (수평균 분자량 900) 칫소사 제조:사이라플레인 FM3311 (수평균 분자량 1000)) 등을 들 수 있다. 이들 중에서, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일이 내약품성 향상 및 Tg 향상의 관점에서 특히 바람직하다.As a compound represented by the said General formula (9), specifically, both terminal amine modified methylphenyl silicone oil (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. make: X22-1660B-3 (number average molecular weight 4400), X22-9409 (number average molecular weight 1300)) , Both terminal amino-modified dimethyl silicone (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-161A (number average molecular weight 1600), X22-161B (number average molecular weight 3000), KF8021 (number average molecular weight 4400), manufactured by Tore Dow Corning: BY16-835U (water (Average molecular weight 900) Tosso Co., Ltd. product: Sila plain FM3311 (number average molecular weight 1000)) etc. are mentioned. Among them, both terminal amine-modified methylphenylsilicone oils are particularly preferred from the viewpoint of improving chemical resistance and improving Tg.

게다가, 디아민은 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘 (이하, TFMB 라고도 기재한다), 4,4'- (또는 3,4'-, 3,3'-, 2,4'-) 디아미노디페닐에테르, 4,4'- (또는 3,3'-) 디아미노디페닐술폰, 4,4'- (또는 3,3'-) 디아미노디페닐술파이드, 4,4'-벤조페논디아민, 3,3'-벤조페논디아민, 4,4'-디(4-아미노페녹시)페닐술폰, 4,4'-디(3-아미노페녹시)페닐술폰, 4,4'-비스(4-아미노페녹시)비페닐, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 2,2-비스{4-(4-아미노페녹시)페닐}프로판, 3,3',5,5'-테트라메틸-4,4'-디아미노디페닐메탄, 2,2'-비스(4-아미노페닐)프로판, 2,2',6,6'-테트라메틸-4,4'-디아미노비페닐, 2,2',6,6'-테트라트리플루오로메틸-4,4'-디아미노비페닐, 비스{(4-아미노페닐)-2-프로필}1,4-벤젠, 9,9-비스(4-아미노페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-아미노페녹시페닐)플루오렌, 3,3'-디메틸벤지딘, 3,3'-디메톡시벤지딘 및 3,5-디아미노벤조산 등, 2,6-디아미노피리딘, 2,4-디아미노피리딘, 비스(4-아미노페닐-2-프로필)-1,4-벤젠, 3,3'-비스(트리플루오로메틸)-4,4'-디아미노비페닐 (3,3'-TFDB), 2,2'-비스[3(3-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판 (3-BDAF), 2,2'-비스[4(4-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판 (4-BDAF), 2,2'-비스(3-아미노페닐)헥사플루오로프로판 (3,3'-6F), 그리고, 2,2'-비스(4-아미노페닐)헥사플루오로프로판 (4,4'-6F) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종 이상을 포함해도 된다. 이들 디아민은 후술하는 유닛 3 의 디아민 유래 부위를 구성할 수 있다. 이들 중에서도, 1,4-시클로헥산디아민 및 TFMB 가 황색도의 저하, CTE 의 저하, YI 값의 저감의 관점에서 가장 바람직하다.In addition, diamines are 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine (hereinafter also referred to as TFMB), 4,4'- (or 3,4'-, 3,3'-, 2,4'- ) Diaminodiphenylether, 4,4'- (or 3,3'-) diaminodiphenylsulfone, 4,4'- (or 3,3'-) diaminodiphenylsulfide, 4,4 ' -Benzophenonediamine, 3,3'-benzophenonediamine, 4,4'-di (4-aminophenoxy) phenylsulfone, 4,4'-di (3-aminophenoxy) phenylsulfone, 4,4 ' -Bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 2,2-bis {4- (4 -Aminophenoxy) phenyl} propane, 3,3 ', 5,5'-tetramethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane, 2,2'-bis (4-aminophenyl) propane, 2,2 ', 6,6'-tetramethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 2,2', 6,6'-tetratrifluoromethyl-4,4'-diaminobiphenyl, bis {(4 -Aminophenyl) -2-propyl} 1,4-benzene, 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene, 9,9-bis (4-aminophenoxyphenyl) fluorene, 3,3'- Dimethylbenzidine 2,6-diaminopyridine, 2,4-diaminopyridine, bis (4-aminophenyl-2-propyl) -1,4, such as 3,3'-dimethoxybenzidine and 3,5-diaminobenzoic acid -Benzene, 3,3'-bis (trifluoromethyl) -4,4'-diaminobiphenyl (3,3'-TFDB), 2,2'-bis [3 (3-aminophenoxy) phenyl ] Hexafluoropropane (3-BDAF), 2,2'-bis [4 (4-aminophenoxy) phenyl] hexafluoropropane (4-BDAF), 2,2'-bis (3-aminophenyl) Hexafluoropropane (3,3'-6F), and 2,2'-bis (4-aminophenyl) hexafluoropropane (4,4'-6F) and at least one member selected from the group consisting of You may also These diamine can comprise the diamine derived site | part of the unit 3 mentioned later. Among these, 1,4-cyclohexanediamine and TFMB are most preferable from a viewpoint of the fall of yellowness, the fall of CTE, and the fall of YI value.

수지 전구체는 보다 바람직하게는 이하의 유닛 1 및 유닛 2 를 포함한다.The resin precursor more preferably includes the following units 1 and 2.

유닛 1 은 적어도 하기 일반식 (4);Unit 1 is at least the following general formula (4);

[화학식 14] [Formula 14]

Figure pat00014
Figure pat00014

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재해도 되는 X1 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이며, 그리고 n 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} {In formula, two or more R <1> is respectively independently a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group, X <1> which may exist in multiple numbers each independently represents C4-C20. 32 is a tetravalent organic group, and n is an integer of 1-100.}

로 나타내는 구조를 갖고, Has a structure represented by

그 유닛 2 는 하기 일반식 (5):The unit 2 has the following general formula (5):

[화학식 15] [Formula 15]

Figure pat00015
Figure pat00015

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 2 가의 지방족 탄화수소, 또는 2 가의 방향족기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 X2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이고, l 은 3 ∼ 50 의 정수이며, 그리고 m 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조, 또는, 하기 일반식 (6):{In formula, two or more R <1> is respectively independently a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group, and two or more R <2> is respectively independently C3-C20 Is a divalent aliphatic hydrocarbon or a divalent aromatic group, R 3 and R 4 are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, and a plurality of each of X 2, which may be present, are each independently 4 to 4 carbon atoms. 32 is a tetravalent organic group, l is an integer of 3-50, and m is an integer of 1-100.} The structure represented by the following or general formula (6):

[화학식 16] [Formula 16]

Figure pat00016
Figure pat00016

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재하는 R8 은, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 3 가의 지방족 탄화수소, 또는 3 가의 방향족기이고, p 는 1 ∼ 100 의 정수이며, 그리고 q 는 3 ∼ 50 의 정수이다.} 으로 나타내는 구조, 또는 상기 일반식 (5) 로 나타내는 구조와 상기 일반식 (6) 으로 나타내는 구조의 양자를 갖는다.{In formula, two or more R <1> is respectively independently a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group, and two or more R <3> and R <4> respectively independently represents carbon number R <8> which is a 1-20 monovalent organic group, two or more R <8> is respectively independently a C3-C20 trivalent aliphatic hydrocarbon or a trivalent aromatic group, p is an integer of 1-100, and q is It is an integer of 3-50.}, Or both of the structure represented by the said General formula (5), and the structure represented by the said General formula (6).

일반식 (4) 및 (6) 에 있어서, 디아민 유래 부위는, 예를 들어, 4,4-(디아미노디페닐)술폰, 3,4-(디아미노디페닐)술폰, 및 3,3-(디아미노디페닐)술폰으로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상의 디아민에서 유래할 수 있다. 일반식 (4) 및 (5) 에 있어서, 산 무수물 유래 부위는, 각각, 4 가의 유기기 X1 (X1 은 상기 정의한 바와 같음) 을 갖는 산 2무수물, 및 4 가의 유기기 X2 (X2 는 상기 정의한 바와 같음) 를 갖는 산 2무수물에서 유래한다. 일반식 (5) 로 나타내는 구조에 있어서의 디아민 유래 부위는 일반식 (9) 로 나타내는 디아미노(폴리)실록산에서 유래한다.In General Formulas (4) and (6), the diamine-derived site is, for example, 4,4- (diaminodiphenyl) sulfone, 3,4- (diaminodiphenyl) sulfone, and 3,3- It may be derived from one or more diamine selected from the group consisting of (diaminodiphenyl) sulfone. In the general formulas (4) and (5), the acid anhydride-derived site is an acid dianhydride having a tetravalent organic group X 1 (X 1 is as defined above), and a tetravalent organic group X 2 (X 2 is as defined above) and an acid dianhydride. The diamine derived site | part in the structure represented by General formula (5) is derived from the diamino (poly) siloxane represented by General formula (9).

유닛 1 및 유닛 2 는, 내열성, YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서,Unit 1 and unit 2 are, in terms of heat resistance, reduction of YI value and total light transmittance,

피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 및 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상에서 유래하는 부위와,A site derived from one or more selected from the group consisting of pyromellitic dianhydride (PMDA) and biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA);

4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물 (6FDA), 시클로헥산-1,2,4,5-테트라카르복실산 2무수물 (CHDA), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물 (DSDA), 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 및 9,9'-비스(3,4-디카르복시페닐)플루오렌 2무수물 (BPAF) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상에서 유래하는 부위4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), 4,4 '-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride (6FDA), cyclohexane-1,2,4,5-tetracarboxylic acid 2 Anhydride (CHDA), 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfontetracarboxylic dianhydride (DSDA), 4,4'-biphenylbis (trimelitic acid monoester acid anhydride) (TAHQ), and Sites derived from one or more selected from the group consisting of 9,9'-bis (3,4-dicarboxyphenyl) fluorene dianhydride (BPAF)

의 조합인 부위를, 유닛 1 및 유닛 2 의 산 2 무수물 유래 부위의 총량 기준으로, 바람직하게는 60 몰% 이상, 보다 바람직하게는 65 몰% 이상, 더욱 바람직하게는 70 몰% 이상의 양에서의 양으로 포함한다.The site of the combination is based on the total amount of the acid 2 anhydride derived sites of Unit 1 and Unit 2, preferably in an amount of at least 60 mol%, more preferably at least 65 mol%, even more preferably at least 70 mol%. Included in quantity.

본 실시형태에 관련된 수지 전구체에 있어서는, 유닛 1 및 유닛 2 의 합계 질량이, 수지 전구체의 총질량 기준으로, 30 질량% 이상인 것이 YI 값의 저감, 복굴절률의 저감, Tg 향상의 관점에서 바람직하고, 또한, 70 질량% 이상이 복굴절률의 저감의 관점에서 바람직하다. 가장 바람직하게는 100 질량% 이다.In the resin precursor which concerns on this embodiment, it is preferable from the viewpoint of the reduction of a YI value, the reduction of birefringence, and Tg improvement that the total mass of unit 1 and unit 2 is 30 mass% or more on the basis of the total mass of a resin precursor. Moreover, 70 mass% or more is preferable from a viewpoint of reduction of a birefringence. Most preferably, it is 100 mass%.

또, 본 실시형태에 관련된 수지 전구체는, 필요에 따라, 성능을 저해하지 않는 범위에서, 하기 일반식 (7):Moreover, the resin precursor which concerns on this embodiment is following General formula (7): in the range which does not impair performance as needed.

[화학식 17] [Formula 17]

Figure pat00017
Figure pat00017

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재해도 되는 X3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 2 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 X4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이며, 그리고 t 는 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖는 유닛 3 을 추가로 함유해도 된다.{In formula, two or more R <1> is a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group each independently, X <3> which may exist in multiple numbers each independently represents C4-C20. X 4 which may be a 32-valent divalent organic group, and which may exist in multiple numbers each independently is a C4-C32 tetravalent organic group, and t is an integer of 1-100.} The unit 3 which has a structure represented by You may further contain it.

유닛 3 은, 디아민 유래 부위가 4,4-DAS, 3,4-DAS, 3,3-DAS, 및 규소 함유 디아민으로 이루어지는 군에서 선택되는 화합물 이외의 디아민에서 유래하는 부위인 구조이다.Unit 3 is a structure which is a site | part derived from diamine other than the compound chosen from the group which a diamine derived site | part consists of 4,4-DAS, 3,4-DAS, 3,3-DAS, and a silicon containing diamine.

유닛 3 에 있어서, R1 은 바람직하게는 수소 원자이다. 또 X3 은, 내열성, YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서, 바람직하게는 2 가의 방향족기 또는 지환식기이다. 또 X4 는, 내열성, YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서, 바람직하게는 2 가의 방향족기 또는 지환식기이다. 그 중에서도, X3 은 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘으로부터 아미노기를 제외한 구조인 잔기인 것이 바람직하다. 유기기 X1, X2 및 X4 는 서로 동일해도 되고, 상이해도 된다.In unit 3, R 1 is preferably a hydrogen atom. X 3 is preferably a divalent aromatic group or alicyclic group from the viewpoint of heat resistance, reduction of YI value and total light transmittance. X 4 is preferably a divalent aromatic group or alicyclic group from the viewpoint of heat resistance, reduction of YI value and total light transmittance. Especially, it is preferable that X <3> is a residue which is a structure remove | excluding the amino group from 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine. The organic groups X 1 , X 2 and X 4 may be the same as or different from each other.

본 실시형태에 관련된 수지 전구체에 있어서의 유닛 3 의 질량 비율은 전체 수지 구조 중의 80 질량% 이하, 바람직하게는 70 질량% 이하인 것이 YI 값과 전체 광선 투과율의 산소 의존성의 저하의 관점에서 바람직하다.The mass ratio of the unit 3 in the resin precursor according to the present embodiment is preferably 80% by mass or less, preferably 70% by mass or less in the total resin structure, from the viewpoint of lowering the oxygen dependency of the YI value and the total light transmittance.

본 실시형태에 관련된 수지 전구체는, 그 수지 전구체를 불활성 분위기하 (예를 들어, 질소 또는 아르곤의 분위기하) 300 ∼ 500 ℃ 에서 가열 경화시켜 얻어지는 수지, 또는 그 수지 전구체를 불활성 분위기하에서 350 ℃ 에서 가열 경화시켜 얻어지는 수지가 -150 ℃ ∼ 0 ℃ 의 영역 중 적어도 하나의 유리 전이 온도 및 150 ℃ ∼ 380 ℃ 의 영역 중 적어도 하나의 유리 전이 온도를 갖고, 또한 0 ℃ 보다 크고 150 ℃ 보다 작은 영역에 있어서 유리 전이 온도를 갖지 않는 것이 바람직하다. -150 ℃ ∼ 0 ℃ 의 영역과 150 ℃ ∼ 380 ℃ 의 영역에 유리 전이 온도가 존재하는 것은, 잔류 응력과 전체 광선 투과율의 밸런스를 양호하게 하는 관점에서 바람직하다. 내열성의 관점에서, 150 ℃ ∼ 380 ℃ 영역에 있는 유리 전이 온도는 200 ∼ 380 ℃ 의 영역에 있는 것이 보다 바람직하고, 250 ∼ 380 ℃ 의 영역에 있는 것이 더욱 바람직하다. 수지 전구체가 후술하는 블록 1 및 블록 2 를 갖는 것은 이와 같은 수지 전구체의 형성에 있어서 유리하다.The resin precursor which concerns on this embodiment is resin obtained by heat-hardening the resin precursor in 300 degreeC-500 degreeC in inert atmosphere (for example, atmosphere of nitrogen or argon), or this resin precursor at 350 degreeC in inert atmosphere. Resin obtained by heat-hardening has at least one glass transition temperature in the area | region of -150 degreeC-0 degreeC, and at least one glass transition temperature of the area | region of 150 degreeC-380 degreeC, and is in the area | region larger than 0 degreeC and less than 150 degreeC It is preferable not to have a glass transition temperature. It is preferable that a glass transition temperature exists in the area | region of -150 degreeC-0 degreeC, and the area | region of 150 degreeC-380 degreeC from a viewpoint of making the balance of residual stress and total light transmittance favorable. From the viewpoint of heat resistance, the glass transition temperature in the region of 150 ° C to 380 ° C is more preferably in the range of 200 to 380 ° C, and even more preferably in the range of 250 to 380 ° C. It is advantageous in the formation of such a resin precursor that the resin precursor has blocks 1 and 2 described later.

본 실시형태에 관련된 수지 전구체는 유닛 1 을 주로 하는 블록 1, 및 유닛 2 를 주로 하는 블록 2 로 구성되는 것이 내열성을 향상하는 관점에서 바람직하다. 또한, 수지 전구체는 전술한 유닛 3 을 블록 1 에 포함하고 있어도 된다. 이들 블록은 고분자 사슬 중에서 번갈아 결합하고 있어도 되고 순열로 결합하고 있어도 된다.It is preferable that the resin precursor which concerns on this embodiment is comprised from the block 1 which mainly uses the unit 1, and the block 2 which mainly contains the unit 2 from a viewpoint of improving heat resistance. In addition, the resin precursor may contain the unit 3 mentioned above in block 1. These blocks may be bonded alternately in the polymer chain or may be bonded in permutation.

상기 서술한 블록 1 은, 본 실시형태의 수지 전구체를 가열 경화시켜 얻어지는 폴리이미드에 있어서, 150 ∼ 380 ℃ 의 범위에 Tg 를 발현시키는 데에 기여한다. 따라서, 블록 1 은 상기 서술한 유닛 1 의 반복만으로 이루어지는 블록인 것이 바람직하지만, 목적으로 하는 Tg 를 발현시킬 수 있는 범위에 있어서, 그 유닛 1 이외의 유닛 3 을 포함하는 것을 배제하지 않는다.Block 1 mentioned above contributes to expressing Tg in the range of 150-380 degreeC in the polyimide obtained by heat-hardening the resin precursor of this embodiment. Therefore, although block 1 is preferable to be a block which consists only of the repeat of unit 1 mentioned above, in the range which can express target Tg, it does not exclude including unit 3 other than the unit 1.

마찬가지로, 상기 서술한 블록 2 는, 본 실시형태의 수지 전구체를 가열 경화시켜 얻어지는 폴리이미드에 있어서, -150 ∼ 0 ℃ 의 범위에 Tg 를 발현시키는 데에 기여한다. 따라서, 블록 2 는 상기 서술한 유닛 2 의 반복만으로 이루어지는 블록인 것이 바람직하지만, 목적으로 하는 Tg 를 발현시킬 수 있는 범위에 있어서, 그 유닛 2 이외의 유닛을 포함하는 것을 배제하지 않는다.Similarly, the block 2 mentioned above contributes to expressing Tg in the range of -150-0 degreeC in the polyimide obtained by heat-hardening the resin precursor of this embodiment. Therefore, block 2 is preferably a block composed of only the repetition of unit 2 described above, but does not exclude the inclusion of units other than the unit 2 in a range capable of expressing the target Tg.

블록 1 및 블록 2 를 갖는 수지 전구체에 있어서, 블록 1 에 있어서의 유닛 1 및 유닛 3 의 반복수의 합은, 평균으로, 2 ∼ 500 이 바람직하고, 5 ∼ 300 이 보다 바람직하고, 10 ∼ 200 이 가장 바람직하다. 또, 블록 2 에 있어서의 유닛 2 의 반복수는, 1 분자당 평균으로, 1.1 ∼ 300 이 바람직하고, 1.1 ∼ 200 이 보다 바람직하고, 1.2 ∼ 100 이 가장 바람직하다. 블록 1 에 있어서의 유닛 1 및 유닛 3 의 반복수의 합이 500 이하이고, 또한, 블록 2 에 있어서의 유닛 2 의 반복수가 300 이하임으로써, 그 수지 전구체의 용매에 대한 용해성이 양호해져 바람직하다.In the resin precursors having blocks 1 and 2, the average number of repetitions of units 1 and 3 in block 1 is preferably 2 to 500, more preferably 5 to 300, and more preferably 10 to 200. Is most preferred. Moreover, as for the repeating number of the unit 2 in the block 2, 1.1-300 are preferable on average per molecule, 1.1-200 are more preferable, 1.2-100 are the most preferable. Since the sum of the repeating numbers of the unit 1 and the unit 3 in the block 1 is 500 or less, and the repeating number of the unit 2 in the block 2 is 300 or less, the solubility to the solvent of the resin precursor becomes favorable, and it is preferable. .

블록 1 에 있어서의 유닛 1 및 유닛 3 의 반복수의 합을 블록 2 에 있어서의 유닛 2 의 반복수로 나눈 값으로 정의되는 비 (이하, 유닛비라고도 기재한다) 는 사용하는 원료의 종류나 분자량에 따라 다르기도 하지만, 0.5 ∼ 100 인 것이 바람직하고, 10 ∼ 50 인 것이 보다 바람직하다. 전술한 바와 같이, 블록 1 및 블록 2 를 갖는 수지 전구체의 경화물인 폴리이미드는 블록 1 에서 유래하는 유리 전이 온도를 150 ℃ 내지 380 ℃ 의 영역 A 에 갖고, 블록 2 에서 유래하는 유리 전이 온도를 -150 ℃ 내지 0 ℃ 의 영역 B 에 갖고, 그 영역 A 와 그 영역 B 사이의 영역 C 에는 유리 전이 온도를 갖지 않는다는 이점을 가질 수 있다. 상기 서술한 유닛비의 값이 0.5 이상인 경우, 경화 후의 폴리이미드 수지의 내열성이 충분한 것이 되어 바람직하다. 또 100 이하인 경우, 잔류 응력을 낮게 할 수 있어 바람직하다.The ratio (hereinafter also referred to as unit ratio) defined as the value obtained by dividing the sum of the repetition numbers of the unit 1 and the unit 3 in the block 1 by the repetition number of the unit 2 in the block 2 is referred to as the type and molecular weight of the raw material to be used. Although it depends also, it is preferable that it is 0.5-100, and it is more preferable that it is 10-50. As mentioned above, the polyimide which is the hardened | cured material of the resin precursor which has block 1 and the block 2 has the glass transition temperature originating in block 1 in area | region A of 150 degreeC-380 degreeC, and-the glass transition temperature originating in block 2 is-. It can have the advantage that it has in the area | region B of 150 degreeC-0 degreeC, and does not have a glass transition temperature in the area | region C between this area | region A and this area | region B. When the value of the unit ratio mentioned above is 0.5 or more, it becomes preferable that the heat resistance of the polyimide resin after hardening is sufficient. Moreover, when it is 100 or less, since residual stress can be made low, it is preferable.

한편, 중합 성분에 있어서의 규소기 함유 화합물로서, 고분자량 실리콘 화합물 (구체적으로는, 평균 분자량 3000 이상의 실리콘 화합물) 을 사용하는 경우, 상기와 같은 블록 공중합체를 형성하지 않아도, 얻어지는 폴리이미드가 높은 유리 전이 온도를 유지하면서, 무기막과의 낮은 잔류 응력을 발현할 수 있다. 고분자량의 실리콘 화합물에 의하면, 실리콘 단위 자체가 장사슬 실록산 구조를 취하고 있어, 상기 블록 구조와 동일한 작용을 하는 것으로 생각되기 때문이다. 여기서 실리콘 화합물이 고분자량인 경우, 관능기 농도가 저하되기 때문에, 투입 몰수가 적어도, 상기 고유리 전이 온도와 저잔류 응력을 발현할 수 있다.On the other hand, when using a high molecular weight silicone compound (specifically, a silicone compound with an average molecular weight of 3000 or more) as a silicon-group containing compound in a polymerization component, even if it does not form a block copolymer as mentioned above, the polyimide obtained is high Low residual stress with the inorganic film can be expressed while maintaining the glass transition temperature. This is because, according to the high molecular weight silicone compound, the silicon unit itself has a long-chain siloxane structure, and is considered to have the same function as the block structure. In the case where the silicon compound has a high molecular weight, the functional group concentration is lowered, and therefore the number of moles added can express at least the high oil transition temperature and the low residual stress.

예를 들어, 고분자량 실리콘 화합물이 디아민인 경우에는, 수지 전구체는, (디아미노디페닐)술폰 유래의 일반식 (4) 의 유닛 1 과 실리콘 디아민 유래의 일반식 (5) 의 유닛 2 의 공중합체에 더하여, 단독의 (즉, 유닛 2 가 공중합하고 있지 않는) 유닛 1 의 폴리이미드 전구체가 존재하는 폴리이미드 전구체 혼합물, 즉, 블렌드물이 생성된다.For example, when a high molecular weight silicone compound is a diamine, the resin precursor is an air of unit 1 of general formula (4) derived from (diaminodiphenyl) sulfone and unit 2 of general formula (5) derived from silicone diamine. In addition to the coalescence, a polyimide precursor mixture, ie a blend, is produced in which the polyimide precursor of unit 1 alone (i.e., unit 2 is not copolymerized) is present.

따라서, 본 개시는 상기 서술한 본 실시형태의 수지 전구체와, 추가의 수지 전구체 (예를 들어, 상기 유닛 1 단독의 폴리이미드 전구체) 를 포함하는 전구체 혼합물도 또한 포함한다. 여기서, 그 유닛 1 단독의 폴리이미드 전구체의 구체예로는, 하기 일반식 (8):Therefore, this disclosure also includes the precursor mixture containing the resin precursor of this embodiment mentioned above and an additional resin precursor (for example, the polyimide precursor of the said unit 1 alone). Here, as a specific example of the polyimide precursor of this unit 1 alone, following General formula (8):

[화학식 18][Formula 18]

Figure pat00018
Figure pat00018

{식 중, 복수 존재해도 되는 X3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이고, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소기, 또는 1 가의 방향족기이며, 그리고 r 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖는 수지 전구체를 들 수 있다.{In formula, X <3> which may exist in multiple numbers is respectively independently a C4-C32 tetravalent organic group, and two or more R <1> represents a hydrogen atom and a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon each independently. It is group or a monovalent aromatic group, and r is an integer of 1-100.} The resin precursor which has a structure shown by the following is mentioned.

한편, 고분자량 실리콘 화합물이 디아민 이외인 경우의 예는, 예를 들어, 일반식 (3) 에 있어서 L1, L2, 및 L3 이, 각각 독립적으로, 산 무수물기, 카르복실기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기인 실리콘 화합물이다.On the other hand, in the case where the high molecular weight silicone compound is other than diamine, for example, in General Formula (3), L 1 , L 2 , and L 3 are each independently an acid anhydride group, a carboxyl group, or an acid ester group. , An acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group.

본 실시형태에 관련된 수지 전구체에 있어서 중합 성분이 고분자량 실리콘 화합물을 포함하는 경우, 그 수지 전구체의 경화물인 폴리이미드는 150 ℃ ∼ 380 ℃ 의 영역에 있어서의 유리 전이 온도를 높게 유지한 상태로, 무기막과의 사이의 잔류 응력을 현저하게 저감할 수 있다는 특이한 특성을 달성할 수 있다.In the resin precursor which concerns on this embodiment, when a superposition | polymerization component contains a high molecular weight silicone compound, the polyimide which is the hardened | cured material of this resin precursor maintains the glass transition temperature in the area | region of 150 degreeC-380 degreeC high, The peculiar characteristic that the residual stress with an inorganic film can be remarkably reduced can be achieved.

본 실시형태에 관련된 수지 전구체의 수평균 분자량은 3000 ∼ 1000000 인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 5000 ∼ 500000, 더욱 바람직하게는 7000 ∼ 300000, 특히 바람직하게는 10000 ∼ 250000 이다. 그 분자량이 3000 이상인 것이 내열성이나 강도 (예를 들어, 강 신도) 를 양호하게 얻는 관점에서 바람직하고, 1000000 이하인 것이 용매에 대한 용해성을 양호하게 얻는 관점, 도포 등의 가공시에 원하는 막두께로 스며듦이 없이 도포할 수 있는 관점에서 바람직하다. 높은 기계 신도를 얻는 관점에서는, 분자량은 50000 이상인 것이 바람직하다. 본 개시에서, 수평균 분자량은, 겔 퍼미에이션 크로마토그래피를 사용하여, 표준 폴리스티렌 환산으로 구해지는 값이다.It is preferable that the number average molecular weights of the resin precursor which concerns on this embodiment are 3000-1 million, More preferably, it is 5000-50000, More preferably, it is 7000-300000, Especially preferably, it is 10000-250000. It is preferable that the molecular weight is 3000 or more from the viewpoint of satisfactorily obtaining heat resistance and strength (for example, elongation), and 1 million or less is immersed in the desired film thickness during processing such as the viewpoint of obtaining good solubility in a solvent and coating. It is preferable at the point which can apply | coat without this. From a viewpoint of obtaining high mechanical elongation, it is preferable that molecular weight is 50000 or more. In this disclosure, a number average molecular weight is a value calculated | required in standard polystyrene conversion using gel permeation chromatography.

바람직한 양태에 있어서, 수지 전구체는 일부 이미드화되어 있어도 된다.In a preferred embodiment, the resin precursor may be partially imidized.

본 실시형태의 수지 전구체는 무색 투명 폴리이미드 기판 상에 TFT 소자 장치를 구비한 디스플레이 제조 공정에 견딜 수 있는 내열성으로서 고온측의 유리 전이 온도가 150 ℃ ∼ 380 ℃ 를 갖고, 또한, 무기막과의 사이의 잔류 응력이 10 ㎛ 막두께로 25 ㎫ 이하인 폴리이미드 수지를 형성할 수 있다. 또, 보다 적합한 양태에 있어서는, 수지 전구체는 유리 전이 온도가 240 ℃ ∼ 380 ℃ 에서 무기막과의 사이의 잔류 응력이 10 ㎛ 막두께로 20 ㎫ 이하인 폴리이미드 수지를 형성할 수 있다. 폴리이미드 수지에 있어서, -150 ∼ 0 ℃ 에 유리 전이 온도가 존재하는 경우, 이 온도는 실온 이하이기 때문에, 실제의 디스플레이 제조 공정에서 필요해지는 내열성에는 영향을 주지 않는다.The resin precursor of this embodiment has the glass transition temperature of 150 degreeC-380 degreeC on the high temperature side as heat resistance which can endure the display manufacturing process provided with TFT element apparatus on a colorless transparent polyimide substrate, and also has an inorganic film. Residual stress in between can form the polyimide resin of 25 Mpa or less with a 10 micrometer film thickness. Moreover, in a more suitable aspect, the resin precursor can form the polyimide resin whose residual stress between an inorganic film and a glass transition temperature of 240 degreeC-380 degreeC is 20 Mpa or less with a 10 micrometer film thickness. In a polyimide resin, when a glass transition temperature exists at -150-0 degreeC, since this temperature is room temperature or less, it does not affect the heat resistance required by an actual display manufacturing process.

또, 바람직한 양태에 있어서, 수지 전구체는 이하의 특성을 갖는다.Moreover, in a preferable aspect, the resin precursor has the following characteristics.

수지 전구체를 용매 (예를 들어, N-메틸-2-피롤리돈) 에 용해하여 얻어지는 용액을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 용액을 질소 분위기하 300 ∼ 500 ℃ (예를 들어, 350 ℃) 에서 가열 (예를 들어, 1 시간) 함으로써 그 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지에 있어서, 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하이다.After developing the solution obtained by melt | dissolving a resin precursor in a solvent (for example, N-methyl- 2-pyrrolidone) on the surface of a support body, the solution is 300-500 degreeC (for example, 350 degreeC) in nitrogen atmosphere. In the resin obtained by imidating the resin precursor by heating at (for example, 1 hour), the yellowness in the 20 μm film thickness is 7 or less.

수지 전구체를 용매 (예를 들어, N-메틸-2-피롤리돈) 에 용해하여 얻어지는 용액을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 용액을 질소 분위기하 300 ∼ 500 ℃ (예를 들어, 350 ℃) 에서 가열 (예를 들어, 1 시간) 함으로써 그 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지에 있어서, 10 ㎛ 막두께에서의 잔류 응력이 25 ㎫ 이하이다.After developing the solution obtained by melt | dissolving a resin precursor in a solvent (for example, N-methyl- 2-pyrrolidone) on the surface of a support body, the solution is 300-500 degreeC (for example, 350 degreeC) in nitrogen atmosphere. In the resin obtained by imidating the resin precursor by heating (for example, 1 hour) in the resin), the residual stress at 10 μm film thickness is 25 MPa or less.

<수지 전구체의 제조><Production of Resin Precursor>

다음으로 본 실시형태에 관련된 수지 전구체의 합성 방법에 관하여 설명한다. 예를 들어, 본 실시형태에 관련된 수지 전구체가 전술한 블록 1 및 블록 2 와 같은 2 개의 블록으로 구성되어 있는 경우, 각 블록에 대응하는 폴리이미드 전구체를 따로 따로 조제해 두고, 그 후에 양자를 혼합하고, 축합 반응에 제공함으로써, 본 실시형태에 관련된 수지 전구체를 얻을 수 있다. 여기서 양 블록을 축합 반응에 제공할 수 있도록, 편방의 블록의 폴리이미드 전구체의 말단기를 카르복실산으로 한 경우에는, 타방의 블록의 폴리이미드 전구체의 말단기는 아미노기가 되도록 하는 등, 각각 원료의 몰비, 예를 들어 테트라카르복실산 2무수물 및 디아민의 몰비를 조절한다. 이 방법에서는, 보다 바람직한 완전한 블록성을 갖는 폴리이미드 전구체를 합성할 수 있다.Next, the synthesis | combining method of the resin precursor which concerns on this embodiment is demonstrated. For example, when the resin precursor which concerns on this embodiment is comprised from two blocks like block 1 and block 2 mentioned above, the polyimide precursor corresponding to each block is prepared separately, and both are mixed after that. And the resin precursor which concerns on this embodiment can be obtained by providing to a condensation reaction. When the terminal group of the polyimide precursor of one block is made into carboxylic acid so that both blocks may be provided to a condensation reaction, the terminal group of the polyimide precursor of the other block shall be an amino group, respectively. Molar ratio of tetracarboxylic dianhydride and diamine, for example. In this method, a polyimide precursor having more preferable complete blockability can be synthesized.

한편, 중합 원료인 테트라카르복실산 2무수물이 블록 1 과 블록 2 사이에서 공통이고, 블록 1 의 원료로서 방향족 디아민을 사용하고, 블록 2 의 원료로서 반응성이 높은 규소 함유 디아민을 사용하는 경우에는, 양 디아민의 반응성 차를 이용한 합성법이 가능해지는 경우가 있다. 예를 들어, 미리 조제한 테트라카르복실산 2무수물에, 방향족 디아민과 규소 함유 디아민을 동시에 첨가하고, 축합 반응에 제공함으로써 어느 정도의 블록성을 갖는 폴리이미드 전구체를 제조할 수 있다. 이 방법에서는, 완전한 블록성을 갖는 블록성 폴리이미드 전구체를 합성할 수는 없지만, 블록성을 갖는 폴리이미드 전구체를 합성할 수 있다. 여기서 블록성을 갖는다는 것은, 가열 경화 후의 폴리이미드 수지에 있어서, 각 블록에 대응하는 유리 전이 온도가 관측되는 것, 예를 들어, 폴리이미드 수지가 전술한 영역 A 와 영역 B 의 각각에 4,4-(디아미노디페닐)술폰, 3,4-(디아미노디페닐)술폰 및 3,3-(디아미노디페닐)술폰으로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상과 테트라카르복실산 무수물의 중축합체에서 유래하는 블록 1 의 유리 전이 온도와, 규소 함유 디아민과 테트라카르복실산 무수물의 중축합체에서 유래하는 블록 2 의 유리 전이 온도를 각각 나타내는 것을 말한다.On the other hand, when tetracarboxylic dianhydride which is a polymerization raw material is common between block 1 and block 2, and uses aromatic diamine as a raw material of block 1, and uses highly reactive silicon containing diamine as a raw material of block 2, The synthesis method using the reactivity difference of both diamine may become possible. For example, the polyimide precursor which has a certain blockiness can be manufactured by adding aromatic diamine and silicon containing diamine simultaneously to the tetracarboxylic dianhydride prepared previously, and using for a condensation reaction. In this method, a blocky polyimide precursor having perfect blockability cannot be synthesized, but a polyimide precursor having blockability can be synthesized. In the polyimide resin after heat-hardening, the thing with blockiness here is that the glass transition temperature corresponding to each block is observed, for example, the polyimide resin has 4, in each of the area | region A and area | region B mentioned above. Polycondensation of at least one selected from the group consisting of 4- (diaminodiphenyl) sulfone, 3,4- (diaminodiphenyl) sulfone and 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone and tetracarboxylic anhydride It means what shows the glass transition temperature of the block 1 derived from copolymerization, and the glass transition temperature of the block 2 derived from the polycondensate of silicon containing diamine and tetracarboxylic anhydride, respectively.

상기 서술한 바와 같이, 본 실시형태에 관련된 수지 전구체는 그 수지 전구체를 가열 경화시켜 얻어지는 폴리이미드 수지가 고온측의 영역 A 와 저온측의 영역 B 에 각각 유리 전이 온도가 확인되는 정도의 블록성을 갖는 것이 유리하지만, 이 이점은 폴리이미드 수지가 완전한 블록성을 갖지 않아도 얻는 것이 가능하다. 또, 블록 1 및 2 를 갖는 수지 전구체에 의한 전술한 이점은, 그 영역 A 와 그 영역 B 사이의 영역 C 에 유리 전이 온도가 확인되지 않으면, 블록 1 및 블록 2 이외의 유닛을 함유하고 있어도 얻는 것이 가능하다.As described above, the resin precursor according to the present embodiment has a blockiness such that the polyimide resin obtained by heating and curing the resin precursor is such that the glass transition temperature is confirmed in the region A on the high temperature side and the region B on the low temperature side, respectively. Although advantageous to have, this advantage can be obtained even if the polyimide resin does not have complete blockability. Moreover, the above-mentioned advantage by the resin precursor which has blocks 1 and 2 is acquired even if it contains units other than block 1 and block 2, unless a glass transition temperature is confirmed in the area | region C between the area | region A and this area | region B. It is possible.

또, 상기 서술한 바와 같은 폴리아미드산에, N,N-디메틸포름아미드디메틸아세탈 또는 N,N-디메틸포름아미드디에틸아세탈을 첨가하여 가열함으로써, 카르복실산의 일부 또는 전부를 에스테르화함으로써, 수지 전구체와 용매를 포함하는 용액의, 실온 보관시의 점도 안정성을 향상시킬 수도 있다. 이들 에스테르 변성 폴리아미드산은, 그 밖에, 상기 서술한 테트라카르복실산 무수물을 미리 산 무수물기에 대해 1 당량의 1 가의 알코올과 반응시킨 후, 염화티오닐이나 디시클로헥실카르보디이미드 등의 탈수 축합제와 반응시킨 후, 디아민과 축합 반응시킴으로써도 얻을 수 있다.Moreover, by adding N, N-dimethylformamide dimethylacetal or N, N-dimethylformamide diethyl acetal to the polyamic acid as mentioned above and heating, esterifying a part or all of carboxylic acid, The viscosity stability at the time of room temperature storage of the solution containing a resin precursor and a solvent can also be improved. These ester-modified polyamic acids, in addition, after reacting the tetracarboxylic anhydride mentioned above with 1 equivalent of monohydric alcohol with respect to an acid anhydride group previously, dehydrating condensing agents, such as thionyl chloride and dicyclohexyl carbodiimide, It can also be obtained by condensation reaction with diamine after reacting with.

<수지 조성물><Resin composition>

본 발명의 다른 양태는 전술한 수지 전구체 또는 전구체 혼합물과, 용매를 함유하는 수지 조성물을 제공한다. 수지 조성물은 전형적으로는 바니시이다.Another aspect of the present invention provides a resin composition containing the aforementioned resin precursor or precursor mixture and a solvent. The resin composition is typically a varnish.

보다 바람직한 양태로는, 수지 조성물은 카르복실산 성분 및 디아민 성분을 용매, 예를 들어 유기 용매에 용해하여 반응시키고, 수지 전구체의 일 양태인 폴리아미드산 및 용매를 함유하는 폴리아미드산 용액으로서 제조할 수 있다. 여기서, 반응시의 조건은 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 반응 온도는 -20 ∼ 150 ℃, 반응 시간은 2 ∼ 48 시간이다. 규소기 함유 화합물의 반응을 충분히 진행시키기 위해서, 120 ℃ 에서 30 분 정도의 가열이 바람직하다. 또, 반응시, 아르곤이나 질소 등의 불활성 분위기인 것이 바람직하다.In a more preferred embodiment, the resin composition is prepared as a polyamic acid solution containing a polyamic acid and a solvent, which is a solution of a carboxylic acid component and a diamine in a solvent such as an organic solvent and reacted. can do. Here, although the conditions at the time of reaction are not specifically limited, For example, reaction temperature is -20-150 degreeC and reaction time is 2 to 48 hours. In order to fully advance the reaction of the silicon group-containing compound, heating at about 120 ° C. for about 30 minutes is preferable. Moreover, at the time of reaction, it is preferable that it is inert atmosphere, such as argon and nitrogen.

또, 용매는, 폴리아미드산을 용해하는 용매이면, 특별히 한정되지 않는다. 공지된 반응 용매로서, 디메틸렌글리콜디메틸에테르 (DMDG), m-크레졸, N-메틸-2-피롤리돈 (NMP), 디메틸포름아미드 (DMF), 디메틸아세트아미드 (DMAc), 디메틸술폭시드 (DMSO), 아세톤, 디에틸아세테이트, 에크아미드 M100 (상품명:이데미츠 고산사 제조) 및 에크아미드 B100 (상품명:이데미츠 고산사 제조) 에서 선택되는 1 종 이상의 극성 용매가 유용하다. 이 중, 바람직하게는 NMP, DMAc, 에크아미드 M100 및 에크아미드 B100 이다. 그 외, 테트라하이드로푸란 (THF), 클로로포름과 같은 저비점 용액, 또는, γ-부티로락톤과 같은 저흡수성 용매를 사용해도 된다.Moreover, a solvent will not be specifically limited if it is a solvent in which a polyamic acid is dissolved. As known reaction solvents, dimethylene glycol dimethyl ether (DMDG), m-cresol, N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), dimethylformamide (DMF), dimethylacetamide (DMAc), dimethyl sulfoxide ( DMSO), acetone, diethyl acetate, ecamide M100 (trade name: manufactured by Idemitsu Kosan Co., Ltd.) and ecamide B100 (brand name: manufactured by Idemitsu Kosan Co., Ltd.) are useful. Among them, NMP, DMAc, ecamide M100 and ecamide B100 are preferable. In addition, a low boiling point solution such as tetrahydrofuran (THF), chloroform, or a low absorbing solvent such as γ-butyrolactone may be used.

또, 본 발명의 수지 조성물에 있어서는, 얻어지는 폴리이미드가 TFT 등의 소자를 형성할 때에, 지지체와 충분한 밀착성을 부여하기 위해서, 수지 전구체 100 질량% 에 대해 알콕시실란 화합물을 0.01 ∼ 2 질량% 를 함유하는 조성이 바람직하다.Moreover, in the resin composition of this invention, when the obtained polyimide forms elements, such as TFT, in order to provide sufficient adhesiveness with a support body, 0.01-2 mass% of an alkoxysilane compound is contained with respect to 100 mass% of resin precursors. The composition to say is preferable.

수지 전구체 100 질량% 에 대해, 알콕시실란 화합물의 함유량이 0.01 질량% 이상임으로써, 지지체와의 양호한 밀착성을 얻을 수 있고, 또 알콕시실란 화합물의 함유량이 2 질량% 이하인 것이, 수지 조성물의 보존 안정성의 관점에서 바람직하다. 알콕시실란 화합물의 함유량은, 수지 전구체에 대해, 0.02 ∼ 2 질량% 인 것이 보다 바람직하고, 0.05 ∼ 1 질량% 인 것이 더욱 바람직하고, 0.05 ∼ 0.5 질량% 인 것이 더욱 바람직하고, 0.1 ∼ 0.5 질량% 인 것이 특히 바람직하다.When content of an alkoxysilane compound is 0.01 mass% or more with respect to 100 mass% of resin precursors, favorable adhesiveness with a support body can be obtained and it is a viewpoint of the storage stability of a resin composition that content of an alkoxysilane compound is 2 mass% or less. Preferred at As for content of an alkoxysilane compound, it is more preferable that it is 0.02-2 mass% with respect to a resin precursor, It is still more preferable that it is 0.05-1 mass%, It is still more preferable that it is 0.05-0.5 mass%, 0.1-0.5 mass% Is particularly preferred.

알콕시실란 화합물로는, 3-우레이도프로필트리에톡시실란, 비스(2-하이드록시에틸)-3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-글리시독시프로필트리메톡시실란, 페닐트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리에톡시실란, γ-아미노프로필트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리프로폭시실란, γ-아미노프로필트리부톡시실란, γ-아미노에틸트리에톡시실란, γ-아미노에틸트리메톡시실란, γ-아미노에틸트리프로폭시실란, γ-아미노에틸트리부톡시실란, γ-아미노부틸트리에톡시실란, γ-아미노부틸트리메톡시실란, γ-아미노부틸트리프로폭시실란, γ-아미노부틸트리부톡시실란 등을 들 수 있으며, 또, 이들은 2 종 이상을 병용하여 사용해도 된다.Examples of the alkoxysilane compound include 3-ureidopropyltriethoxysilane, bis (2-hydroxyethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, and phenyltrimethoxysilane , γ-aminopropyltriethoxysilane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltripropoxysilane, γ-aminopropyltributoxysilane, γ-aminoethyltriethoxysilane, γ-aminoethyl Trimethoxysilane, γ-aminoethyltripropoxysilane, γ-aminoethyltributoxysilane, γ-aminobutyltriethoxysilane, γ-aminobutyltrimethoxysilane, γ-aminobutyltripropoxysilane, (gamma) -aminobutyl tributoxysilane etc. are mentioned, These may use together 2 or more types.

상기 서술한 바니시를 제조한 후, 용액을 130 ∼ 200 ℃ 에서 5 분 ∼ 2 시간 가열함으로써, 폴리머가 석출을 일으키지 않을 정도로 폴리머의 일부를 탈수 이미드화해도 된다. 온도와 시간의 컨트롤에 의해, 이미드화율은 제어할 수 있다. 부분 이미드화를 함으로써, 수지 전구체 용액의 실온 보관시의 점도 안정성을 향상시킬 수 있다. 이미드화율의 범위로는, 5 % ∼ 70 % 가 용액으로의 수지 전구체의 용해성과 용액의 보존 안정성의 관점에서 바람직하다.After manufacturing the varnish mentioned above, you may dehydrate | dehydrate a part of polymer so that a polymer may not precipitate by heating a solution at 130-200 degreeC for 5 minutes-2 hours. By controlling temperature and time, the imidation ratio can be controlled. By partial imidation, the viscosity stability at the time of room temperature storage of a resin precursor solution can be improved. As an imidation range, 5%-70% are preferable from a viewpoint of the solubility of the resin precursor to a solution, and the storage stability of a solution.

또, 바람직한 양태에 있어서, 수지 조성물은 이하의 특성을 갖는다.Moreover, in a preferable aspect, the resin composition has the following characteristics.

수지 조성물을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 수지 조성물을 질소 분위기하 300 ℃ ∼ 500 ℃ 에서 가열함으로써 (또는 질소 분위기하 350 ℃ 에서 가열함으로써) 수지 조성물에 포함되는 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지가 나타내는 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하이다.Resin obtained by developing the resin composition on the surface of a support body, and imidizing the resin precursor contained in a resin composition by heating this resin composition at 300 degreeC-500 degreeC in nitrogen atmosphere (or by heating at 350 degreeC in nitrogen atmosphere). The yellowness in the 20 micrometer film thickness which is shown is 7 or less.

수지 조성물을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 수지 조성물을 질소 분위기하 300 ℃ ∼ 500 ℃ 에서 가열함으로써 (또는 질소 분위기하 350 ℃ 에서 가열함으로써) 수지 조성물에 포함되는 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지가 나타내는 10 ㎛ 막두께에서의 잔류 응력이 25 ㎫ 이하이다.Resin obtained by developing the resin composition on the surface of a support body, and imidizing the resin precursor contained in a resin composition by heating this resin composition at 300 degreeC-500 degreeC in nitrogen atmosphere (or by heating at 350 degreeC in nitrogen atmosphere). Residual stress in the 10 micrometer film thickness shown by is 25 Mpa or less.

<수지 필름><Resin film>

본 발명의 다른 양태는 전술한 수지 전구체의 경화물, 또는 전술한 전구체 혼합물의 경화물, 또는 전술한 수지 조성물의 경화물인 수지 필름을 제공한다.Another aspect of the present invention provides a resin film which is a cured product of the above-described resin precursor, a cured product of the above-described precursor mixture, or a cured product of the above-described resin composition.

또, 본 발명의 다른 양태는 전술한 수지 조성물을 지지체의 표면 상에 전개하는 공정과,Moreover, the other aspect of this invention is a process of developing the above-mentioned resin composition on the surface of a support body,

그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 그 수지 조성물에 포함되는 수지 전구체를 이미드화하여 수지 필름을 형성하는 공정과,Heating the support and the resin composition to imidize a resin precursor contained in the resin composition to form a resin film;

그 수지 필름을 그 지지체로부터 박리하는 공정Process of peeling this resin film from the support body

을 포함하는 수지 필름의 제조 방법을 제공한다.It provides a method for producing a resin film comprising a.

수지 필름의 제조 방법의 바람직한 양태에 있어서는, 수지 조성물로서, 산 2무수물 성분 및 디아민 성분을 유기 용매 중에 용해하여 반응시켜 얻어지는 폴리아미드산 용액을 사용할 수 있다.In a preferable aspect of the manufacturing method of a resin film, as a resin composition, the polyamic-acid solution obtained by making an acid dianhydride component and a diamine component dissolve and react in an organic solvent can be used.

여기서, 지지체는, 예를 들어, 무알칼리 유리 기판 등의 유리 기판과 같은 무기 기판이지만, 특별히 한정되는 것은 아니다.Here, although a support body is an inorganic substrate like glass substrates, such as an alkali free glass substrate, it is not specifically limited, for example.

보다 구체적으로는, 상기 서술한 수지 조성물을, 무기 기판의 주면 (主面) 상에 형성된 접착층 상에 전개 및 건조시키고, 불활성 분위기하에서 300 ∼ 500 ℃ 의 온도에서 경화하여, 수지 필름을 형성할 수 있다. 마지막으로, 수지 필름을 지지체로부터 박리한다.More specifically, the resin composition described above can be developed and dried on an adhesive layer formed on the main surface of the inorganic substrate, and cured at a temperature of 300 to 500 ° C. under an inert atmosphere to form a resin film. have. Finally, the resin film is peeled off from the support.

여기서, 전개 방법으로는, 예를 들어, 스핀 코트, 슬릿 코트 및 블레이드 코트의 공지된 도포 방법을 들 수 있다. 또, 열 처리는, 폴리아미드산 용액을 접착층 상에 전개한 후에, 주로 탈용매를 목적으로 하여 300 ℃ 이하의 온도에서 1 분간 ∼ 300 분간 열 처리하고, 또한 질소 등의 불활성 분위기하에서 300 ℃ ∼ 550 ℃ 의 온도에서 1 분간 ∼ 300 분간 열 처리하여 수지 전구체를 폴리이미드화시킨다. 종래의 무색 투명성 폴리이미드 필름을 제조하는 경우에는, YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서, 오븐 내의 산소 농도를 100 ppm 이하로 관리할 필요가 있지만, 본 실시형태에 있어서의 수지 전구체에 의하면, 500 ppm 이하의 관리로 충분하다. YI 값의 저감 및 전체 광선 투과율의 향상의 관점에서, 산소 농도는 1000 ppm 이하인 것이 바람직하다.Here, as a development method, the well-known coating method of a spin coat, a slit coat, and a blade coat is mentioned, for example. In addition, after heat-processing a polyamic-acid solution on a contact bonding layer, heat processing heat-processes for 1 to 300 minutes at the temperature of 300 degrees C or less mainly for the purpose of a desolvent, and 300 degreeC-in inert atmosphere, such as nitrogen, It heat-processes for 1 minute-300 minutes at the temperature of 550 degreeC, and makes a resin precursor polyimide. When manufacturing a conventional colorless transparent polyimide film, it is necessary to manage the oxygen concentration in oven in 100 ppm or less from a viewpoint of reduction of a YI value and total light transmittance, but according to the resin precursor in this embodiment, For example, a control of 500 ppm or less is sufficient. From the viewpoint of reducing the YI value and improving the total light transmittance, the oxygen concentration is preferably 1000 ppm or less.

또, 본 실시형태에 관련된 수지 필름의 두께는 특별히 한정되지 않고, 10 ∼ 200 ㎛ 의 범위인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 10 ∼ 50 ㎛ 이다.Moreover, the thickness of the resin film which concerns on this embodiment is not specifically limited, It is preferable that it is the range of 10-200 micrometers, More preferably, it is 10-50 micrometers.

본 실시형태에 관련된 수지 필름은 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하인 것이 바람직하다. 또, 10 ㎛ 막두께로 잔류 응력이 25 ㎫ 이하인 것이 바람직하다. 특히, 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하이고, 또한, 10 ㎛ 막두께로 잔류 응력이 25 ㎫ 이하인 것이 더욱 바람직하다. 이와 같은 특성은, 예를 들어, 본 개시의 수지 전구체를, 질소 분위기하, 300 ℃ ∼ 500 ℃, 보다 특별하게는 350 ℃ 에서 이미드화함으로써 양호하게 실현된다.It is preferable that the yellowness in 20 micrometer film thickness of the resin film which concerns on this embodiment is 7 or less. Moreover, it is preferable that residual stress is 25 Mpa or less with a 10 micrometer film thickness. In particular, it is more preferable that yellowness in 20 micrometer film thickness is 7 or less, and residual stress is 25 Mpa or less in 10 micrometer film thickness. Such a characteristic is satisfactorily realized by, for example, imidizing the resin precursor of the present disclosure at 300 ° C to 500 ° C, more particularly at 350 ° C under a nitrogen atmosphere.

<적층체><Laminated body>

본 발명의 다른 양태는 지지체와, 그 지지체의 표면 상에 형성된, 전술한 수지 조성물의 경화물인 수지막을 포함하는 적층체를 제공한다.Another aspect of the present invention provides a laminate comprising a support and a resin film which is a cured product of the above-described resin composition formed on the surface of the support.

또 본 발명의 다른 양태는, 지지체의 표면 상에, 전술한 수지 조성물을 전개하는 공정과,Moreover, another aspect of this invention is the process of developing the above-mentioned resin composition on the surface of a support body,

그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 그 수지 조성물에 포함되는 그 수지 전구체를 이미드화하여 수지막을 형성하고, 이에 따라 그 지지체 및 그 수지막을 포함하는 적층체를 얻는 공정을Heating the support and the resin composition to imidize the resin precursor contained in the resin composition to form a resin film, thereby obtaining a laminate comprising the support and the resin film.

포함하는 적층체의 제조 방법을 제공한다.It provides a manufacturing method of a laminate comprising.

이와 같은 적층체는, 예를 들어, 전술한 수지 필름의 제조 방법과 동일하게 형성한 수지 필름을 지지체로부터 박리하지 않음으로써 제조할 수 있다.Such a laminated body can be manufactured by not peeling from the support body the resin film formed like the manufacturing method of the above-mentioned resin film, for example.

이 적층체는, 예를 들어, 플렉시블 디바이스의 제조에 사용된다. 보다 구체적으로는, 폴리이미드막 상에 반도체 디바이스를 형성하고, 그 후, 지지체를 박리하여 폴리이미드막으로 이루어지는 플렉시블 투명 기판을 구비하는 플렉시블 디바이스를 얻을 수 있다.This laminated body is used for manufacture of a flexible device, for example. More specifically, a semiconductor device is formed on a polyimide film, a support body is peeled after that, and the flexible device provided with the flexible transparent substrate which consists of a polyimide film can be obtained.

따라서, 본 발명의 다른 양태는 전술한 수지 전구체, 또는 전술한 전구체 혼합물을 포함하는 플렉시블 디바이스 재료를 제공한다.Accordingly, another aspect of the present invention provides a flexible device material comprising the aforementioned resin precursor, or the aforementioned precursor mixture.

이상 설명한 바와 같이, 본 실시형태에 관련된 수지 전구체는, 특정 구조를 가짐으로써, 특수한 용매의 조합을 필요로 하지 않고, 백탁하지 않는 수지 필름을 형성할 수 있다. 또 얻어진 수지 필름의 황색도 (YI 값) 와 전체 광선 투과율이 큐어시의 산소 농도에 의존하는 경우가 적다. 또, 수지 필름과 무기막 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, TFT 제조 공정에 견딜 수 있는 실용적인 유리 전이 온도를 갖고, 기계 물성이 우수하고, 포토리소그래피 공정에 견딜 수 있는 내약품성이 있다. 따라서 그 수지 전구체는 플렉시블 디스플레이의 투명 기판에 있어서의 사용에 적합하다.As explained above, the resin precursor which concerns on this embodiment can form the resin film which is not cloudy, without requiring a special solvent combination by having a specific structure. Moreover, the yellowness (YI value) and total light transmittance of the obtained resin film are little dependent on oxygen concentration at the time of curing. Moreover, the residual stress generated between the resin film and the inorganic film is low, has a practical glass transition temperature that can withstand the TFT manufacturing process, is excellent in mechanical properties, and has chemical resistance that can withstand the photolithography process. Therefore, this resin precursor is suitable for use in the transparent substrate of a flexible display.

더욱 상세하게 설명하면, 플렉시블 디스플레이를 형성하는 경우, 유리 기판을 지지체로서 사용하여 그 위에 플렉시블 기판을 형성하고, 그 위에 TFT 등의 형성을 실시한다. TFT 를 기판 상에 형성하는 공정은, 전형적으로는, 150 ∼ 650 ℃ 의 넓은 범위의 온도에서 실시되지만, 실제로 원하는 성능 구현을 위해서는, 주로 250 ℃ ∼ 350 ℃ 부근에서, 무기물 재료를 사용하여, TFT-IGZO (InGaZnO) 산화물 반도체 또는 TFT (a-Si-TFT, poly-Si-TFT) 를 형성한다.In more detail, when forming a flexible display, using a glass substrate as a support body, a flexible substrate is formed on it, and TFT etc. are formed on it. Although the process of forming a TFT on a substrate is typically performed at a wide range of temperatures of 150 to 650 ° C, in order to actually achieve desired performance, the TFT is mainly used at around 250 ° C to 350 ° C, using an inorganic material. -IGZO (InGaZnO) oxide semiconductor or TFT (a-Si-TFT, poly-Si-TFT) is formed.

이 때, 플렉시블 기판과 폴리이미드막에 발생하는 잔류 응력이 높으면, 고온의 TFT 공정에서 팽창한 후, 상온 냉각시에 수축할 때, 유리 기판의 휨이나 파손, 플렉시블 기판의 유리 기판으로부터의 박리 등의 문제가 발생한다. 일반적으로, 유리 기판의 열팽창 계수는 수지에 비교하여 작기 때문에, 플렉시블 기판과의 사이에 잔류 응력이 발생한다. 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 이 점을 고려하여, 필름의 두께 10 ㎛ 를 기준으로 하여, 수지 필름과 유리 사이에 발생하는 잔류 응력이 25 ㎫ 이하인 것이 바람직하다.At this time, if the residual stress generated in the flexible substrate and the polyimide film is high, when expanded in a high-temperature TFT process and then contracted at room temperature cooling, warping or damage of the glass substrate, peeling from the glass substrate of the flexible substrate, etc. Problem occurs. Generally, since the thermal expansion coefficient of a glass substrate is small compared with resin, residual stress generate | occur | produces with a flexible substrate. In consideration of this point, it is preferable that the resin film which concerns on this embodiment is 25 Mpa or less in the residual stress which arises between a resin film and glass on the basis of 10 micrometers in thickness of a film.

또, 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 필름의 두께 20 ㎛ 를 기준으로 하여, 황색도가 7 이하이고, 또한, 필름의 두께 20 ㎛ 를 기준으로 하여, 자외 분광 광도계로 투과율을 측정한 경우, 550 ㎚ 에서의 투과율이 85 % 이상인 것이 바람직하다. 또, 열 경화 필름을 제조할 때에 사용하는 오븐 내의 산소 농도 의존성이 적은 쪽이, 안정적으로 YI 값이 낮은 수지 필름을 얻는 데에 유리하고, 500 ppm 이하의 산소 농도로, 열 경화 필름의 YI 값이 안정되어 있는 것이 바람직하다.Moreover, when the resin film which concerns on this embodiment has a yellowness of 7 or less on the basis of 20 micrometers in thickness of a film, and measures the transmittance with an ultraviolet spectrophotometer on the basis of 20 micrometers in thickness of a film, It is preferable that the transmittance | permeability in 550 nm is 85% or more. Moreover, the one with less oxygen concentration dependence in the oven used when manufacturing a thermosetting film is advantageous in obtaining a resin film with a low YI value stably, and the YI value of a thermosetting film is the oxygen concentration of 500 ppm or less. It is preferable that this is stable.

또, 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 플렉시블 기판을 취급할 때에 파단 강도가 우수함으로써, 수율을 향상시키는 관점에서, 필름의 두께 20 ㎛ 를 기준으로 하여, 기계 신도가 30 % 이상인 것이 보다 바람직하다.Moreover, since the resin film which concerns on this embodiment is excellent in breaking strength when handling a flexible board | substrate, it is more preferable that mechanical elongation is 30% or more on the basis of 20 micrometers in thickness from a viewpoint of improving a yield. .

또, 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, TFT 소자를 제조하는 온도에서 수지 기판의 연화가 발생하지 않기 위해서, 유리 전이 온도는 250 ℃ 이상인 것이 바람직하다.Moreover, in the resin film which concerns on this embodiment, in order that softening of a resin substrate does not generate | occur | produce at the temperature which manufactures TFT element, it is preferable that glass transition temperature is 250 degreeC or more.

또, 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, TFT 소자를 제조할 때에 사용하는 포토리소그래피 공정에 있어서의, 포토레지스트 박리액에 견딜 수 있는 내약품성을 구비하는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the resin film which concerns on this embodiment is equipped with the chemical resistance which can endure the photoresist peeling liquid in the photolithography process used when manufacturing TFT element.

또, 플렉시블 디스플레이의 광 취출 방식에는, TFT 소자의 표면측으로부터 광을 취출하는 탑·에미션 방식과 이면측으로부터 광을 취출하는 보텀·에미션 방식의 2 종류가 있다. 탑·에미션 방식으로는, TFT 소자가 방해가 되지 않기 때문에, 개구율을 올리기 쉽다는 특징이 있고, 보텀·에미션 방식은 위치 맞춤이 용이하고 제조하기 쉽다는 특징이 있다. TFT 소자가 투명하면, 보텀·에미션 방식에 있어서도, 개구율을 향상시키는 것이 가능해지기 때문에, 대형 유기 EL 플렉시블 디스플레이에는 제조가 용이한 보텀·에미션 방식이 채용되는 것이 기대되고 있다. 보텀·에미션 방식에 사용하는 무색 투명 수지 기판에 수지 기판을 사용할 때에는, 시인하는 측에 수지 기판이 오기 때문에, 광학적 등방성, 즉 복굴절률에서 유래하는 두께 방향의 리타데이션 (Rth) 이 낮은 것이 화질 향상의 관점에서 요구된다. 또, 탑·에미션 방식에 사용하는 경우에는, Rth 가 낮은 것은 요구되지 않지만, 양 방식에 공통으로 사용할 수 있다는 관점에서, Rth 가 낮은 재료가 바람직한 것으로 여겨지고 있다. 구체적으로는, 필름의 두께 20 ㎛ 를 기준으로 하여, 200 ㎚ 이하가 바람직하고, 보다 바람직하게는 90 ㎚ 이하가 바람직하고, 더욱 바람직하게는 80 ㎚ 이하가 바람직하고, 특히 바람직하게는 50 ㎚ 이하이다. Rth 가 100 ㎚ 이하, 또한 90 ㎚ 이하이면, 탑·에미션형의 플렉시블 디스플레이용 투명 기판뿐만 아니라, 보텀·에미션형의 플렉시블 디스플레이용 투명 기판이나 터치 패널용 전극 기판에 적용하기 위한 성능을 만족하고 있다.In addition, there are two types of light extraction methods of the flexible display, a top emission method for taking out light from the front side of the TFT element and a bottom emission method for taking out light from the back side. In the top emission method, since the TFT element does not interfere, the aperture ratio is easily increased. The bottom emission method is easy to align and easy to manufacture. If the TFT element is transparent, it is possible to improve the aperture ratio also in the bottom emission method, and therefore, it is expected that a bottom emission method that is easy to manufacture is adopted in a large organic EL flexible display. When using a resin substrate for a colorless transparent resin substrate used for a bottom emission method, since the resin substrate comes to the visual recognition side, it is low in optical thickness isotropic, ie, the retardation (Rth) of the thickness direction derived from birefringence is low. It is required from the point of view of improvement. Moreover, when using for a top emission system, although it is not required that Rth is low, the material with low Rth is considered to be preferable from a viewpoint that it can be used for both systems. Specifically, 200 nm or less is preferable based on the thickness of 20 micrometers of a film, More preferably, 90 nm or less is preferable, More preferably, 80 nm or less is preferable, Especially preferably, it is 50 nm or less to be. When Rth is 100 nm or less and 90 nm or less, it satisfies not only the top emission type transparent display substrate but also the performance for applying to the bottom emission type flexible display substrate and the touch panel electrode substrate. .

본 발명의 다른 양태는 디스플레이 기판의 제조에 사용되는 폴리이미드 수지막으로서, 두께 20 ㎛ 에 있어서의 Rth 가 20 ∼ 90 ㎚ 인 폴리이미드 수지막을 제공한다.Another aspect of the present invention provides a polyimide resin film having a Rth of 20 to 90 nm in a thickness of 20 µm as a polyimide resin film used for producing a display substrate.

또 본 발명의 다른 양태는 지지체의 표면 상에 폴리이미드 전구체를 포함하는 수지 조성물을 전개하는 공정과,Moreover, another aspect of this invention is the process of developing the resin composition containing a polyimide precursor on the surface of a support body,

그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 전구체를 이미드화하여, 전술한 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정과,Heating the support and the resin composition to imidize the polyimide precursor to form the polyimide resin film described above;

그 폴리이미드 수지막 상에 소자를 형성하는 공정과,Forming an element on the polyimide resin film;

그 소자가 형성된 그 폴리이미드 수지막을 그 지지체로부터 박리하는 공정Process of peeling the polyimide resin film in which the element was formed from the support body

을 포함하는 디스플레이 기판의 제조 방법을 제공한다.It provides a method of manufacturing a display substrate comprising a.

상기 물성을 만족하는 본 실시형태에 관련된 수지 필름은 기존의 폴리이미드 필름이 갖는 황색에 의해 사용이 제한된 용도, 특히 플렉시블 디스플레이용 무색 투명 기판으로서 적합하게 사용된다. 나아가서는, 예를 들어, 보호막 또는 TFT-LCD 등에서의 산광 시트 및 도막 (예를 들어, TFT-LCD 의 인터레이어, 게이트 절연막, 및 액정 배향막), 터치 패널용 ITO 기판, 스마트폰용 커버 유리 대체 수지 기판 등의 무색 투명성 또한, 저복굴절이 요구되는 분야에서도 사용 가능하다. 액정 배향막으로서 본 실시형태에 관련된 폴리이미드를 적용할 때, 개구율의 증가에 기여하여, 고콘트라스트비의 TFT-LCD 의 제조가 가능하다.The resin film which concerns on the said physical property which satisfy | fills the said physical property is used suitably as a colorless transparent board | substrate for the use limited by the yellow which the existing polyimide film has, especially a flexible display. Furthermore, for example, a diffuser sheet and a coating film (for example, an interlayer of a TFT-LCD, a gate insulating film, and a liquid crystal aligning film) in a protective film or a TFT-LCD, an ITO substrate for a touch panel, and a cover glass replacement resin for a smartphone Colorless transparency, such as a board | substrate, can also be used also in the field | area where low birefringence is calculated | required. When applying the polyimide which concerns on this embodiment as a liquid crystal aligning film, it contributes to the increase of aperture ratio, and manufacture of high contrast ratio TFT-LCD is possible.

본 실시형태에 관련된 수지 전구체를 사용하여 제조되는 수지 필름 및 적층체는, 예를 들어, 반도체 절연막, TFT-LCD 절연막, 전극 보호막, 및, 플렉시블 디바이스의 제조에, 특히 기판으로서 적합하게 이용할 수 있다. 여기서, 플렉시블 디바이스란, 예를 들어, 플렉시블 디스플레이, 플렉시블 태양 전지, 플렉시블 터치 패널 전극 기판, 플렉시블 조명, 및, 플렉시블 배터리를 들 수 있다.The resin film and laminated body manufactured using the resin precursor which concerns on this embodiment can be used suitably especially as a board | substrate for manufacture of a semiconductor insulating film, TFT-LCD insulating film, an electrode protective film, and a flexible device, for example. . Here, with a flexible device, a flexible display, a flexible solar cell, a flexible touch panel electrode substrate, flexible illumination, and a flexible battery are mentioned, for example.

실시예Example

이하, 본 발명에 대하여, 실시예에 기초하여 더욱 상세히 서술하지만, 이들은 설명을 위해서 기술되는 것으로서, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것은 아니다. Hereinafter, although this invention is demonstrated in detail based on an Example, these are described for description, and the scope of the present invention is not limited to the following Example.

실시예 및 비교예에 있어서의 각종 평가는 다음과 같이 실시하였다.The various evaluations in an Example and a comparative example were performed as follows.

(중량 평균 분자량의 측정) (Measurement of Weight Average Molecular Weight)

중량 평균 분자량 (Mw) 은 겔 퍼미에이션 크로마토그래피 (GPC) 로 하기의 조건에 의해 측정하였다. 용매로는, N,N-디메틸포름아미드 (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 고속 액체 크로마토그래프용) 를 사용하고, 측정 전에 24.8 m㏖/ℓ 의 브롬화리튬 1수화물 (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 순도 99.5 %) 및 63.2 m㏖/ℓ 의 인산 (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 고속 액체 크로마토그래프용) 을 첨가한 것을 사용하였다. 또, 중량 평균 분자량을 산출하기 위한 검량선은 스탠더드 폴리스티렌 (토소사 제조) 을 사용하여 작성하였다.The weight average molecular weight (Mw) was measured by gel permeation chromatography (GPC) under the following conditions. As a solvent, 24.8 mmol / L lithium bromide monohydrate (made by Wako Pure Chemical, Ltd., purity 99.5%) using N, N-dimethylformamide (made by Wako Pure Chemical, Ltd., for high-speed liquid chromatograph) before measurement ) And 63.2 mmol / L phosphoric acid (made by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., for high performance liquid chromatography) were used. In addition, the calibration curve for calculating a weight average molecular weight was created using standard polystyrene (made by Tosoh Corporation).

칼럼:Shodex KD-806M (쇼와 전공사 제조) Column: Shodex KD-806M (Showa Denko Corporation)

유속:1.0 ㎖/분 Flow rate: 1.0 ml / min

칼럼 온도:40 ℃ Column temperature: 40 degrees Celsius

펌프:PU-2080Plus (JASCO 사 제조) Pump: PU-2080Plus (manufactured by JASCO Corporation)

검출기:RI-2031Plus (RI:시차 굴절계, JASCO 사 제조) Detector: RI-2031Plus (RI: differential refractometer, the JASCO company make)

UV-2075Plus (UV-VIS:자외 가시 흡광계, JASCO 사 제조)         UV-2075Plus (UV-VIS: Ultraviolet Visible Light Absorber, manufactured by JASCO Corporation)

(규소기 함유 모노머 농도) (Silicone group-containing monomer concentration)

규소기 함유 모노머 농도는, 수지 전구체를 합성할 때에 사용하는, 규소기 함유 모노머, 다가 카르복실산 또는 그 유도체, 디아민 화합물, 각각의 질량을 이용하여, 하기 식으로부터 산출하였다.The silicon group containing monomer concentration was computed from the following formula using the mass of each of the silicon group containing monomer, polyhydric carboxylic acid or its derivative (s), diamine compound, which are used when synthesize | combining a resin precursor.

규소기 함유 모노머 농도 (%) = 규소기 함유 모노머 질량 / (규소기 함유 모노머 질량 + 다가 카르복실산 또는 그 유도체의 질량 + 디아민 화합물 질량) × 100Silicon group-containing monomer concentration (%) = silicon group-containing monomer mass / (silicon group-containing monomer mass + polyhydric carboxylic acid or derivative thereof + mass of diamine compound) x 100

(적층체 및 단리 필름의 제조) (Manufacture of Laminate and Isolation Film)

수지 조성물을 바 코터로 무알칼리 유리 기판 (두께 0.7 ㎜) 에 도포하고, 실온에서 5 분간 ∼ 10 분간 레벨링을 실시하고, 종형 (縱型) 큐어 오븐 (코요 린드버그사 제조, 형식명 VF-2000B) 으로 140 ℃ 에서 60 분간 가열하고, 추가로 질소 분위기하에서 350 ℃ 에서 60 분간 가열하여 적층체를 제조하였다. 이 때, 열풍 오븐 내의 산소 농도를, 50 ppm, 100 ppm, 500 ppm 으로 각각 조정하고, YI 값 및 전체 광선 투과율의 산소 농도 의존성을 조사하였다. 적층체의 수지 조성물의 막두께는 20 ㎛ 로 하였다. 350 ℃ 큐어 (경화 처리) 한 후, 적층체를 실온에 24 시간 정치하고, 수지 필름을 유리로부터 박리하고, 필름을 단리하였다. 이하의 황색도, 전체 광선 투과율 이외의 평가는, 열풍 오븐 내의 산소 농도를 100 ppm 으로 조정을 하여, 350 ℃ 에서 60 분간, 큐어를 실시한 수지 필름을 샘플로서 사용하였다.The resin composition was applied to an alkali free glass substrate (thickness 0.7 mm) with a bar coater, and leveled at room temperature for 5 minutes to 10 minutes, and a vertical curing oven (manufactured by Koyo Lindberg, model name VF-2000B) The mixture was heated at 140 ° C. for 60 minutes, and further heated at 350 ° C. for 60 minutes in a nitrogen atmosphere to prepare a laminate. At this time, the oxygen concentration in the hot air oven was adjusted to 50 ppm, 100 ppm and 500 ppm, respectively, and the oxygen concentration dependence of the YI value and the total light transmittance was investigated. The film thickness of the resin composition of the laminated body was 20 micrometers. After curing at 350 ° C. (curing treatment), the laminate was allowed to stand at room temperature for 24 hours, the resin film was peeled from the glass, and the film was isolated. Evaluation other than the following yellowness and total light transmittance adjusted the oxygen concentration in hot air oven to 100 ppm, and used the resin film which cured at 350 degreeC for 60 minutes as a sample.

(인장 신도의 평가) (Evaluation of tensile elongation)

350 ℃ 에서 큐어한, 샘플 길이 5 × 50 ㎜, 두께 20 ㎛ 의 수지 필름을 인장 시험기 (주식회사 에이앤드디 제조:RTG-1210) 를 사용하여, 속도 100 ㎜/min 으로 인장하고, 인장 신도를 측정하였다.A resin film having a sample length of 5 × 50 mm and a thickness of 20 μm cured at 350 ° C. was pulled at a speed of 100 mm / min using a tensile tester (manufactured by A & D Co., Ltd .: RTG-1210) to measure the elongation. It was.

(황색도, 전체 광선 투과율 및 그 큐어시 산소 농도 의존성) (Yellowness, total light transmittance and its oxygen concentration dependence on curing)

오븐 내의 산소 농도를 각각 50 ppm, 100 ppm, 500 ppm 으로 각각 조정하고, 350 ℃ 에서 큐어한, 두께 20 ㎛ 의 수지 필름을, 닛폰 전색 공업 (주) 제조 (Spectrophotometer:SE600) 으로 D65 광원을 사용하여, 황색도 (YI 값) 및 전체 광선 투과율을 측정하였다.The oxygen concentration in the oven was adjusted to 50 ppm, 100 ppm, and 500 ppm, respectively, and a resin film having a thickness of 20 μm, which was cured at 350 ° C., was used as a D65 light source by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd. (Spectrophotometer: SE600). The yellowness (YI value) and total light transmittance were measured.

(두께 방향 리타데이션 (Rth) 의 평가) (Evaluation of Thickness Direction Retardation (Rth))

350 ℃ 에서 큐어한, 두께 20 ㎛ 의 수지 필름을, 위상차 복굴절 측정 장치 (오지 계측 기기사 제조, KOBRA-WR) 를 사용하여 측정하였다. 측정 광의 파장은 589 ㎚ 로 하였다.The 20-micrometer-thick resin film cured at 350 degreeC was measured using the retardation birefringence measuring apparatus (Oji Measurement Instruments Co., Ltd. make, KOBRA-WR). The wavelength of the measurement light was 589 nm.

(유리 전이 온도, 선팽창 계수의 평가) (Evaluation of Glass Transition Temperature, Linear Expansion Coefficient)

실온 영역 이상에 있어서의 유리 전이 온도 (Tg (1) 이라고 부른다) 및 선팽창 계수 (CTE) 의 측정에 관해서는, 350 ℃ 에서 큐어한, 샘플 길이 5 × 50 ㎜, 두께 20 ㎛ 의 수지 필름을, 시마즈 제작소 제조 열기계 분석 장치 (TMA-50) 를 사용하여, 열기계 분석에 의해, 하중 5 g, 승온 속도 10 ℃/분, 질소 분위기하 (유량 20 ㎖/분), 온도 50 ∼ 450 ℃ 의 범위에 있어서의 시험편 신장의 측정을 실시하고, 그 변곡점을 유리 전이 온도로서 구하고, 100 ∼ 250 ℃ 의 내열성 수지 필름의 CTE 를 구하였다.Regarding the measurement of the glass transition temperature (referred to as Tg (1)) and the linear expansion coefficient (CTE) in the room temperature area or more, a resin film having a sample length of 5 × 50 mm and a thickness of 20 μm, cured at 350 ° C., By using a thermomechanical analyzer (TMA-50) manufactured by Shimadzu Corporation, load 5 g, temperature increase rate of 10 ° C / min, nitrogen atmosphere (flow rate 20 ml / min), temperature of 50 to 450 ° C The test piece elongation in the range was measured, the inflection point was calculated | required as glass transition temperature, and the CTE of the heat resistant resin film of 100-250 degreeC was calculated | required.

실온 영역 이하에 있어서의 유리 전이 온도 (Tg (2) 라고 부른다) 의 측정에 관해서는 상기 방법으로는 불가능하기 때문에, 상기 수지 필름을 -150 ℃ ∼ 400 ℃ 의 범위에서 동적 점탄성 측정 장치 (오리엔텍사 제조, RHEOVIBRON MODEL RHEO-1021) 에 의해 E 프라임의 실온 이하의 온도 영역에서의 변곡점을 측정하고, 그 변곡점을 저온에서의 유리 전이 온도로서 구하였다.Since it is impossible with the said method about the measurement of the glass transition temperature (it is called Tg (2)) below room temperature region, the said resin film is a dynamic viscoelasticity measuring apparatus in the range of -150 degreeC-400 degreeC (Orientech) The inflection point in the temperature range below room temperature of E prime was measured by RHEOVIBRON MODEL RHEO-1021), and the inflection point was calculated | required as glass transition temperature in low temperature.

(잔류 응력의 평가) (Evaluation of Residual Stress)

잔류 응력 측정 장치 (텐코르사 제조, 형식명 FLX-2320) 를 사용하여, 미리 「휨량」 을 측정해 둔, 두께 625 ㎛ ± 25 ㎛ 의 6 인치 실리콘 웨이퍼 상에, 수지 조성물을 바 코터에 의해 도포하고, 140 ℃ 에서 60 분간 프리베이크한 후, 종형 큐어로 (코요 린드버그사 제조, 형식명 VF-2000B) 를 사용하여, 질소 분위기하, 350 ℃ 1 시간의 가열 경화 처리를 실시하고, 경화 후 막두께 10 ㎛ 의 수지막이 부착된 실리콘 웨이퍼를 제조하였다. 이 웨이퍼의 휨량을 전술한 잔류 응력 측정 장치를 사용하여 측정하고, 실리콘 웨이퍼와 수지막 사이에 발생한 잔류 응력을 평가하였다.The resin composition was applied by a bar coater onto a 6-inch silicon wafer having a thickness of 625 µm ± 25 µm in which the "warping amount" was measured in advance using a residual stress measuring apparatus (manufactured by Tencor Corporation, model name FLX-2320). After prebaking at 140 ° C. for 60 minutes, a heat curing treatment was performed at 350 ° C. for 1 hour in a nitrogen atmosphere, using a vertical cure (manufactured by Koyo Lindberg, model name VF-2000B), and the film after curing. A silicon wafer with a resin film having a thickness of 10 μm was prepared. The amount of warpage of this wafer was measured using the above-described residual stress measuring apparatus, and the residual stress generated between the silicon wafer and the resin film was evaluated.

(내약품성 시험의 평가) (Evaluation of chemical resistance test)

350 ℃ 에서 큐어한, 두께 20 ㎛ 의 수지 필름편을 실온의 NMP 층에 담그고, 10 분마다 끌어올려, 이온 교환수로 세정한 후, 필름 표면을 현미경으로 관찰하고, 열 경화막의 표면에 크랙이 형성되는 시간의 평가를 10 분 간격으로 300 분까지 실시하였다.The resin film piece of 20 micrometers in thickness which was cured at 350 degreeC was immersed in the NMP layer of room temperature, pulled up every 10 minutes, and wash | cleaned with ion-exchange water, and then the film surface was observed under a microscope, and a crack was made to the surface of a thermosetting film. Evaluation of the time to be formed was performed at 300 minute intervals at 10 minute intervals.

[실시예 1]Example 1

오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, NMP 1000 g 을 첨가하고, 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (디아민 1 로 규정한다) 을 232.4 g 교반하면서 첨가하고, 계속해서 피로멜리트산 2무수물 (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 을 218.12 g 첨가하여, 실온에서 30 분 교반하였다. 이것을 50 ℃ 로 승온하고, 12 시간 교반한 후, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400)) (규소기 함유 디아민으로 규정한다) 105.6 g 을 NMP 298 g 에 용해하고, 적하 깔때기를 사용하여 적하하여 첨가하였다. 80 ℃ 로 승온하고, 1 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 1 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 4 에 나타낸다.To a 3 L separable flask equipped with a stirring rod equipped with an oil bath, 1000 g of NMP was added while introducing nitrogen gas, and 232.4 g of 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone (prescribed as diamine 1) was added. It added while stirring, 218.12g of pyromellitic dianhydrides (it prescribes | regulated as tetracarboxylic anhydride 1) were then added, and it stirred at room temperature for 30 minutes. After heating up this at 50 degreeC and stirring for 12 hours, NMP 105.6g of both terminal amine modified methylphenyl silicone oils (made by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-1660B-3 (number average molecular weight 4400)) (prescribed by silicon-group containing diamine) It melt | dissolved in 298g, was added dropwise using the dropping funnel. After heating up at 80 degreeC and stirring for 1 hour, the oil bath was removed and returned to room temperature, and the transparent NMP solution (henceforth a varnish) of polyamic acid was obtained. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 1. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 4.

[실시예 2 ∼ 33, 49 ∼ 58][Examples 2 to 33 and 49 to 58]

실시예 1 과 동일하게 하여, 디아민 1, 테트라카르복실산 무수물 1, 규소기 함유 디아민의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 1 에 기재한 것으로 바꾸어, 실시예 1 과 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 또, 표 1 및 표 2 에 나타내는 NMP 첨가량은 최종적으로 바니시에 포함되는 NMP 의 총량을 나타내고, 규소기 함유 디아민을 희석하는 298 g 의 NMP 를 포함한 질량이다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 1, 표 2, 표 7 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 4, 표 5, 표 8 에 나타낸다. 이하에 표 1 ∼ 표 6 에 기재한 약식 화합물명의 정식 화합물 명칭을 기재한다.In the same manner as in Example 1, the diamine 1, the tetracarboxylic anhydride 1, the type of silicon group-containing diamine, and their added mass were changed to those shown in Table 1, respectively, and the same operation as in Example 1 was carried out to give the varnish. Got it. In addition, the NMP addition amount shown in Table 1 and Table 2 shows the total amount of NMP finally contained in a varnish, and is the mass containing 298 g of NMP which dilutes a silicon-group containing diamine. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 1, Table 2, and Table 7, respectively. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown to Table 4, Table 5, and Table 8, respectively. The formal compound name of the short compound name shown in Table 1-Table 6 is described below.

3,3-DAS:3,3-(디아미노디페닐)술폰 3,3-DAS : 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone

4,4-DAS:4,4-(디아미노디페닐)술폰 4,4-DAS: 4,4- (diaminodiphenyl) sulfone

3,4-DAS:3,4-(디아미노디페닐)술폰 3,4-DAS: 3,4- (diaminodiphenyl) sulfone

PMDA:피로멜리트산 2무수물 PMDA: pyromellitic dianhydride

ODPA:4,4'-옥시디프탈산 2무수물 ODPA: 4,4'- oxydiphthalic acid dianhydride

6FDA:4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물 6FDA: 4,4 '-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride

BPDA:3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물 BPDA: 3,3 ', 4,4'-biphenyl tetracarboxylic dianhydride

CHDA:시클로헥산-1,2,4,5-테트라카르복실산 2무수물 CHDA: cyclohexane-1,2,4,5-tetracarboxylic dianhydride

DSDA:3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물 DSDA: 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfontetracarboxylic dianhydride

BPADA:2,2-비스[4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]프로판 2무수물BPADA: 2,2-bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride

BPAF:9,9'-비스(3,4-디카르복시페닐)플루오렌 2무수물 BPAF : 9,9'-bis (3,4-dicarboxyphenyl) fluorene dianhydride

TAHQ:4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) TAHQ: 4,4'-biphenyl bis (trimelitic acid monoester acid anhydride)

BTDA:3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물 BTDA: 3,3 ', 4,4'-benzophenone tetracarboxylic dianhydride

TPE-R:1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠TPE-R : 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene

CBDA:1,2,3,4-시클로부탄테트라카르복실산 2무수물 CBDA: 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride

FM3311:양 말단 아민 변성 디메틸실리콘 오일 (칫소사 제조 사이라플레인 FM3311 (수평균 분자량 1000)) FM3311: Both terminal amine-modified dimethyl silicone oils (Cyraplane FM3311 (number average molecular weight 1000) by Chisso Corp.)

TFMB:2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘 TFMB : 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine

TACl:무수 트리멜리트산 클로라이드TACl: anhydrous trimellitic acid chloride

[실시예 34]Example 34

오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하고, NMP 1274 g 을 첨가하고, 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (이하, ODPA 라고 기재한다) (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 을 첨가하고, 교반하면서 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400)) (규소기 함유 디아민으로 규정한다) 105.6 g 을 NMP 298 g 에 용해한 것을 적하 깔때기를 사용하여 적하하였다. 실온에서 1 시간 교반 후, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘 (이하, TFMB 라고 기재한다) (디아민 2 로 규정한다) 149.9 g 을 교반하면서 첨가하고, 계속해서, 3,3-DAS 를 116.2 g 교반하면서 첨가하고, 실온에서 1 시간 교반하였다. 계속해서, 50 ℃ 로 가온하여, BPDA (테트라카르복실산 무수물 2 로 규정한다) 를 147.1 g 첨가하여 12 시간 교반하였다. 이것을 80 ℃ 로 승온하고, 4 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 5 에 나타낸다.Nitrogen gas was introduced into a 3 L separable flask equipped with a stirring rod equipped with an oil bath, 1274 g of NMP was added thereto, and 4,4'-oxydiphthalic acid dianhydride (hereinafter referred to as ODPA) (tetracar) 105.6 g of both terminal amine-modified methylphenylsilicone oils (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-1660B-3 (number average molecular weight 4400)) (prescribed as a silicon group-containing diamine) are added while stirring. The thing dissolved in 298 g of NMP was dripped using the dropping funnel. After stirring for 1 hour at room temperature, 149.9 g of 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine (hereinafter referred to as TFMB) (defined as diamine 2) are added while stirring, followed by 3,3- 116.2 g of DAS was added with stirring, and it stirred at room temperature for 1 hour. Then, it heated at 50 degreeC, added 147.1g of BPDA (it defines with tetracarboxylic anhydride 2), and stirred for 12 hours. After heating up this to 80 degreeC and stirring for 4 hours, the oil bath was removed and returned to room temperature, and the transparent NMP solution (it is also described as varnish below) was obtained. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 2. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 5.

[실시예 35, 39, 40, 44, 45][Examples 35, 39, 40, 44, 45]

실시예 34 와 동일하게 하여, 디아민 1, 디아민 2, 테트라카르복실산 무수물 1, 테트라카르복실산 무수물 2 의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 2 에 기재한 것으로 바꾸어, 실시예 34 와 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 또, 표 2 에 나타내는 NMP 첨가량은 최종적으로 바니시에 포함되는 NMP 의 총량을 나타내고, 규소기 함유 디아민을 희석하는 298 g 의 NMP 를 포함한 질량이다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 5 에 나타낸다.In the same manner as in Example 34, the types of diamine 1, diamine 2, tetracarboxylic anhydride 1, tetracarboxylic anhydride 2, and their added mass were changed to those shown in Table 2, respectively, and the same operation as in Example 34 was performed. Was carried out to obtain a varnish. In addition, NMP addition amount shown in Table 2 shows the total amount of NMP finally contained in a varnish, and is the mass containing 298 g of NMP which dilutes a silicon-group containing diamine. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 2, respectively. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 5, respectively.

[실시예 36]Example 36

오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, N-메틸피롤리돈 (이하, NMP 라고 기재한다) 1196 g 을 첨가하고, 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (디아민 1 로 규정한다) 을 232.4 g 교반하면서 첨가하고, 50 ℃ 로 가온한 후, BPDA (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 를 147.1 g 첨가하여 30 분 교반하였다. 계속해서 ODPA (테트라카르복실산 무수물 2 로 규정한다) 를 155.1 g 첨가하여 8 시간 교반한 후, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400)) (규소기 함유 디아민으로 규정한다) 105.6 g 을 NMP 298 g 에 용해하고, 적하 깔때기를 사용하여 적하하여 첨가하였다. 80 ℃ 로 승온하고, 1 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 5 에 나타낸다.1196 g of N-methylpyrrolidone (hereinafter referred to as NMP) was added to a 3 L separable flask equipped with a stirring rod equipped with an oil bath while introducing nitrogen gas, and 3,3- (diaminodi 232.4 g of phenyl) sulfone (prescribed as diamine 1) were added with stirring, and after heating to 50 degreeC, 147.1 g of BPDA (prescribed as tetracarboxylic anhydride 1) was added and stirred for 30 minutes. Subsequently, after adding 155.1 g of ODPA (prescribed as tetracarboxylic anhydride 2) and stirring for 8 hours, both terminal amine-modified methylphenyl silicone oils (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. make: X22-1660B-3 (number average molecular weight 4400)) ( 105.6 g of NMP 298 g was dissolved, and it was added dropwise by using a dropping funnel. After heating up at 80 degreeC and stirring for 1 hour, the oil bath was removed and returned to room temperature, and the transparent NMP solution (henceforth a varnish) of polyamic acid was obtained. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 2. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 5.

[실시예 37, 42, 43, 46, 47][Examples 37, 42, 43, 46, 47]

실시예 36 과 동일하게 하여, 디아민 1, 테트라카르복실산 무수물 1, 테트라카르복실산 무수물 2 의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 2 에 기재한 것으로 바꾸어, 실시예 36 과 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 또, 표 2 에 나타내는 NMP 첨가량은 최종적으로 바니시에 포함되는 NMP 의 총량을 나타내고, 규소기 함유 디아민을 희석하는 298 g 의 NMP 를 포함한 질량이다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 5 에 나타낸다.In the same manner as in Example 36, the types of diamine 1, tetracarboxylic anhydride 1, tetracarboxylic anhydride 2, and their added mass were changed to those shown in Table 2, respectively, and the same operation as in Example 36 was performed. Got a varnish. In addition, NMP addition amount shown in Table 2 shows the total amount of NMP finally contained in a varnish, and is the mass containing 298 g of NMP which dilutes a silicon-group containing diamine. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 2, respectively. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 5, respectively.

[실시예 38]Example 38

오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, NMP 1200 g 을 첨가하고, 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (디아민 1 로 규정한다) 을 232.4 g 교반하면서 첨가하고, 50 ℃ 로 가온한 후, 테레프탈산클로라이드 40.6 g (기타 모노머 성분이라고 규정한다) 을 γ부티로락톤 200 g 에 용해한 후, 적하하여 첨가하여 30 분 교반하였다. 계속해서 BPDA (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 를 235.4 g 첨가하여 8 시간 교반한 후, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400)) (규소기 함유 디아민으로 규정한다) 105.6 g 을 NMP 298 g 에 용해하고, 적하 깔때기를 사용하여 적하하여 첨가하였다. 80 ℃ 로 승온하고, 1 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 용액을 얻었다. 이것에, NMP 를 1000 g 첨가하여 희석한 후에, 이온 교환수 10 ℓ 에 적하하면서 투입하고, 폴리아미드이미드 전구체의 분체를 석출한 후, 부흐너 깔때기로 분체를 여과 분리하였다. 이 분체를 40 ℃ 에서 48 시간 진공 건조시켰다. 이렇게 하여 얻어진 분체에 1403 g 의 NMP 를 첨가하여, 폴리아미드이미드 전구체의 NMP 용액을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드이미드 전구체의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 5 에 나타낸다.Into a 3 L separable flask equipped with a stirring rod equipped with an oil bath, NMP 1200 g was added while introducing nitrogen gas, and 232.4 g of 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone (prescribed as diamine 1) was added. After stirring, the mixture was heated to 50 ° C, 40.6 g of terephthalic acid chloride (prescribed as other monomer components) was dissolved in 200 g of γ-butyrolactone, and then added dropwise thereto, followed by stirring for 30 minutes. Subsequently, after 235.4 g of BPDA (prescribed as tetracarboxylic anhydride 1) was added and stirred for 8 hours, both terminal amine-modified methylphenylsilicone oils (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-1660B-3 (number average molecular weight 4400)) ( 105.6 g of NMP 298 g was dissolved, and it was added dropwise using a dropping funnel. After heating up at 80 degreeC and stirring for 1 hour, the oil bath was removed and returned to room temperature, and the solution of the transparent polyamic acid was obtained. After 1000 g of NMP was added thereto and diluted, the mixture was added dropwise to 10 L of ion-exchanged water, and the powder of the polyamideimide precursor was precipitated, and the powder was separated by Buchner funnel. This powder was vacuum-dried at 40 degreeC for 48 hours. 1403 g of NMP was added to the powder thus obtained, to obtain an NMP solution of a polyamideimide precursor. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamide-imide precursor are shown in Table 2. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 5.

[실시예 43, 48]EXAMPLE 43, 48

실시예 38 과 동일하게 하여, 디아민 1, 테트라카르복실산 무수물 1, 기타 모노머 성분의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 2 에 기재한 것으로 바꾸어, 실시예 38 과 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 또, 표 2 에 나타내는 NMP 첨가량은 최종적으로 바니시에 포함되는 NMP 의 총량을 나타낸다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드이미드 전구체의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 5 에 나타낸다.In the same manner as in Example 38, the types of diamine 1, tetracarboxylic anhydride 1, and other monomer components, and their added mass were changed to those shown in Table 2, respectively, and the same operation as in Example 38 was performed to obtain a varnish. . In addition, the NMP addition amount shown in Table 2 shows the total amount of NMP finally contained in a varnish. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamide-imide precursor are shown in Table 2, respectively. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 5, respectively.

[실시예 59]Example 59

오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, NMP 1000 g 을 첨가하고, 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (디아민 1 로 규정한다) 을 248.30 g 교반하면서 첨가하고, 계속해서 BPDA (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 를 275.13 g 첨가하여, 실온에서 30 분 교반하였다. 이것을 50 ℃ 로 승온하고, 12 시간 교반한 후, 양 말단 산 무수물 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-168-P5-B (수평균 분자량 4200)) 104.58 g 을 NMP 298 g 에 용해하고, 적하 깔때기를 사용하여 적하하여 첨가하였다. 80 ℃ 로 승온하고, 1 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 7 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 8 에 나타낸다.To a 3 L separable flask with a stirring bar equipped with an oil bath, 1000 g of NMP was added while introducing nitrogen gas to 248.30 g of 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone (prescribed as diamine 1). It added while stirring, 275.13g of BPDA (it defines with tetracarboxylic anhydride 1) were then added, and it stirred at room temperature for 30 minutes. After heating up this at 50 degreeC and stirring for 12 hours, 104.58 g of both terminal acid anhydride modified methylphenyl silicone oils (made by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-168-P5-B (number average molecular weight 4200)) are melt | dissolved in NMP298g, It was added dropwise using a dropping funnel. After heating up at 80 degreeC and stirring for 1 hour, the oil bath was removed and returned to room temperature, and the transparent NMP solution (henceforth a varnish) of polyamic acid was obtained. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 7. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 8.

[실시예 60 ∼ 66][Examples 60-66]

실시예 59 과 동일하게 하여, 디아민 1, 테트라카르복실산 무수물 1, 규소기 함유 디아민의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 1 에 기재한 것으로 바꾸어, 실시예 1 과 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 또, 표 1 및 표 2 에 나타내는 NMP 첨가량은 최종적으로 바니시에 포함되는 NMP 의 총량을 나타내고, 규소기 함유 디아민을 희석하는 298 g 의 NMP 를 포함한 질량이다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 7 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 8 에 나타낸다.In the same manner as in Example 59, the diamine 1, the tetracarboxylic anhydride 1, the type of silicon group-containing diamine, and their added mass were changed to those shown in Table 1, respectively, and the same operation as in Example 1 was performed to obtain the varnish. Got it. In addition, the NMP addition amount shown in Table 1 and Table 2 shows the total amount of NMP finally contained in a varnish, and is the mass containing 298 g of NMP which dilutes a silicon-group containing diamine. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 7, respectively. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 8, respectively.

[비교예 1]Comparative Example 1

오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, NMP 1065 g 을 첨가하고, 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (디아민 1 로 규정한다) 을 248.3 g 교반하면서 첨가하고, 계속해서 피로멜리트산 2무수물 (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 을 218.12 g 첨가하여, 실온에서 30 분 교반하였다. 이것을 50 ℃ 로 승온하고, 12 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 3 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 6 에 나타낸다.Into a 3 L separable flask equipped with a stirring bar equipped with an oil bath, NMP 1065 g was added while introducing nitrogen gas, and 248.3 g of 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone (prescribed as diamine 1) It added while stirring, 218.12g of pyromellitic dianhydrides (it prescribes | regulated as tetracarboxylic anhydride 1) were then added, and it stirred at room temperature for 30 minutes. After heating up this to 50 degreeC and stirring for 12 hours, the oil bath was removed and returned to room temperature, and the transparent NMP solution (henceforth a varnish) of polyamic acid was obtained. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 3. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 6.

[비교예 2 ∼ 21][Comparative Examples 2 to 21]

비교예 1 과 동일하게 하여, 디아민 1, 테트라카르복실산 무수물 1 의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 3 에 기재한 것으로 바꾸어, 비교예 1 과 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 3 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 6 에 나타낸다.In the same manner as in Comparative Example 1, the types of diamine 1 and tetracarboxylic anhydride 1 and their added mass were changed to those shown in Table 3, respectively, and the same operation as in Comparative Example 1 was performed to obtain varnishes. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 3, respectively. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 6, respectively.

[비교예 22]Comparative Example 22

오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하고, NMP 1332 g 을 첨가하고, TFMB (디아민 2 로 규정한다) 299.8 g 을 교반하면서 첨가하고, BPDA 294.2 g (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 을 첨가하고, 50 ℃ 로 가온하여, 12 시간 교반하였다. 이것에, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400)) (규소기 함유 디아민으로 규정한다) 105.6 g 을 NMP 298 g 에 용해한 것을 적하 깔때기를 사용하여 적하하였다. 적하 종료 후, 이것을 80 ℃ 로 승온하고, 1 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 약간 탁함이 있는 불투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 3 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 6 에 나타낸다.Nitrogen gas was introduced into a 3 L separable flask with a stirring rod equipped with an oil bath, 1332 g of NMP was added, 299.8 g of TFMB (defined as diamine 2) was added while stirring, and 294.2 g of BPDA (tetra Carboxylic anhydride 1) was added, and the mixture was heated to 50 ° C and stirred for 12 hours. To this, 105.6 g of both terminal amine-modified methylphenylsilicone oils (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-1660B-3 (number average molecular weight 4400)) (prescribed as silicon group-containing diamine) was added to a NMP 298 g using a dropping funnel. It dripped. After completion | finish of dripping, this was heated up at 80 degreeC, and after stirring for 1 hour, the oil bath was removed and returned to room temperature, and the slightly cloudy NMP solution of opaque polyamic acid (henceforth a varnish) was obtained. The composition here and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 3. Moreover, the test result of the film cured at 350 degreeC is shown in Table 6.

[실시예 23]Example 23

피로멜리트산 무수물 (PMDA) 4.36 g (0.02 몰) 과 BTDA 25.78 g 을 N-메틸-2-피롤리돈 (NMP) 240 g 에 분산시키고, ω-ω'-비스-(3-아미노프로필)폴리디메틸실록산 (평균 분자량 480) 2.4 g 을 디에틸렌글리콜디메틸에테르 (Dig) 50 g 에 용해시켜 얻어진 용액을 소량씩 적하하고, 1 시간 교반하여 반응시켰다. 이와 같이, 디아미노실록산과 테트라카르복실산 2무수물을 반응시킨 후, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠 (TPE-R) 14.62 g (0.05 몰), 이어서 추가로 3,3-DAS 11.17 g 을 소량씩 분체로 첨가하였다.4.36 g (0.02 mol) of pyromellitic anhydride (PMDA) and 25.78 g of BTDA are dispersed in 240 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), and ω-ω'-bis- (3-aminopropyl) poly The solution obtained by dissolving 2.4 g of dimethylsiloxane (average molecular weight 480) in 50 g of diethylene glycol dimethyl ether (Dig) was dripped little by little, and it stirred and reacted for 1 hour. Thus, after reacting diaminosiloxane and tetracarboxylic dianhydride, 14.62 g (0.05 mol) of 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene (TPE-R), and then further 3,3- 11.17 g of DAS was added in small portions.

[실시예 24]Example 24

교반 장치, 적하 깔때기, 온도계, 콘덴서 및 질소 치환 장치를 부착한 1 리터의 플라스크를 냉수 중에 고정하였다. 플라스크 내에 질소 가스에 의해 치환한 후, 탈수 정제한 N-메틸-2-피롤리돈 (이하, NMP 로 약기한다) 의 500 g, 3,3'4,4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물 (BTDA) 의 25.11 g (0.0779 몰), 3,3'-디아미노디페닐술폰 (3,3-DAS) 의 15.48 g (0.0623 몰) 및 ω-ω'-비스-(3-아미노프로필)폴리디메틸실록산 (분자량 960) 의 14.96 g (0.0159 몰) 을 혼합하고, 통상적인 방법에 따라 폴리아미드산 용액을 얻었다.A 1 liter flask with a stirring device, a dropping funnel, a thermometer, a condenser and a nitrogen replacement device was fixed in cold water. 500 g of 3,3'4,4'-benzophenonetetracarboxylic acid 2 of dehydrated and purified N-methyl-2-pyrrolidone (hereinafter abbreviated as NMP) after substitution with nitrogen gas in a flask 25.11 g (0.0779 mol) of anhydride (BTDA), 15.48 g (0.0623 mol) of 3,3'-diaminodiphenylsulfone (3,3-DAS) and ω-ω'-bis- (3-aminopropyl) 14.96 g (0.0159 mol) of polydimethylsiloxane (molecular weight 960) was mixed to obtain a polyamic acid solution according to a conventional method.

[실시예 25]Example 25

온도계, 교반기, 질소 도입관, 냉각관을 장착한 300 ㎖ 의 4 구 플라스크에 디아민 화합물로서 1,4-디아미노시클로헥산 2.87 g (25.1 m㏖) 과 양 말단 아미노 변성 메틸페닐실리콘 (X22-1660B-3) 3.42 g (0.8 m㏖) 을 첨가하였다. 이어서, 플라스크 내를 질소 치환한 후, N,N-디메틸아세트아미드 58 ㎖ 를 첨가하고 균일해질 때까지 교반하였다. 얻어진 용액에 다가 카르복실산 유도체로서 디페닐-3,3',4,4'-테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 8.71 g (25.9 m㏖) 을 실온에서 첨가하고, 그 상태의 온도에서 24 시간 교반을 계속하여, 조성물 (폴리아믹산 용액) 을 얻었다.In a 300 ml four-necked flask equipped with a thermometer, a stirrer, a nitrogen inlet tube and a cooling tube, 2.87 g (25.1 mmol) of 1,4-diaminocyclohexane and both terminal amino-modified methylphenylsilicon (X22-1660B-) as diamine compounds 3) 3.42 g (0.8 mmol) was added. Subsequently, after nitrogen-substituting the flask, 58 ml of N, N-dimethylacetamide was added and stirred until uniform. To the obtained solution, 8.71 g (25.9 mmol) of diphenyl-3,3 ', 4,4'-tetracarboxylic dianhydride (BPDA) was added as a polyhydric carboxylic acid derivative at room temperature, and at that temperature, 24 Stirring was continued for time, and the composition (polyamic acid solution) was obtained.

[실시예 26]Example 26

온도계, 교반기, 질소 도입관, 냉각관을 장착한 300 ㎖ 의 4 구 플라스크에 (B) 성분으로서 4,4'-디아미노-2,2'-비스(트리플루오로메틸)비페닐 (이하, 「TFMB」 라고도 한다.) 7.85 g (24.5 m㏖) 과 양 말단 아미노 변성 메틸페닐실리콘 (X22-9409) 2.03 g (1.6 m㏖) 을 첨가하였다. 이어서, 플라스크 내를 질소 치환한 후, N,N-디메틸아세트아미드 58 ㎖ 를 첨가하고 균일해질 때까지 교반하였다. 얻어진 용액에 (A) 성분으로서 1,2,3,4-시클로부탄테트라카르복실산 2무수물 (이하, 「CBDA」 라고도 한다.) 5.12 g (26.1 m㏖) 을 실온에서 첨가하고, 그 상태로의 온도에서 24 시간 교반을 계속하여, 조성물 (폴리아믹산 용액) 을 얻었다.In a 300 ml four-necked flask equipped with a thermometer, a stirrer, a nitrogen inlet tube and a cooling tube, 4,4'-diamino-2,2'-bis (trifluoromethyl) biphenyl (hereinafter, 7.85 g (24.5 mmol) and 2.03 g (1.6 mmol) of both terminal amino modified methylphenylsilicon (X22-9409) were added. Subsequently, after nitrogen-substituting the flask, 58 ml of N, N-dimethylacetamide was added and stirred until uniform. To the obtained solution, 5.12 g (26.1 mmol) of 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride (hereinafter also referred to as "CBDA") as the component (A) was added at room temperature, and in that state. Stirring was continued for 24 hours at the temperature of to obtain a composition (polyamic acid solution).

Figure pat00019
Figure pat00019

Figure pat00020
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Figure pat00021
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Figure pat00022
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Figure pat00023
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Figure pat00024
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Figure pat00025
Figure pat00025

Figure pat00026
Figure pat00026

또한, 표 4 ∼ 6, 표 8 에 나타내는 YI 값 및 전체 광선 투과율은 오븐 내의 산소 농도를 각각 50 ppm, 100 ppm, 500 ppm 으로 각각 조정했을 때의 결과 (50 ppm/100 ppm/500 ppm) 를 나타내고 있다.In addition, the YI value and total light transmittance which are shown to Tables 4-6, 8 show the result (50 ppm / 100 ppm / 500 ppm) when the oxygen concentration in oven is adjusted to 50 ppm, 100 ppm, and 500 ppm, respectively. It is shown.

표 4, 5, 8 에 나타내는 바와 같이, 실시예 1 ∼ 66 은, 막 물성에 있어서, 이하의 조건을 동시에 만족하는 것이 확인되었다.As shown in Tables 4, 5 and 8, it was confirmed that Examples 1-66 satisfied the following conditions simultaneously in a film physical property.

(1) 잔류 응력이 25 ㎫ 이하(1) The residual stress is 25 MPa or less

(2) 황색도가 7 이하이고, 산소 농도에 의한 영향이 적다(2) Yellowness is 7 or less, less influenced by oxygen concentration

(3) 실온 온도 이상의 온도 영역에 있어서의 유리 전이 온도가 250 ℃ 이상(3) The glass transition temperature in the temperature range of room temperature or more is 250 degreeC or more.

(4) 전체 광선 투과율이 88 % 이상이고, 산소 농도에 의한 영향이 적다(4) The total light transmittance is 88% or more and less influenced by the oxygen concentration.

(5) 인장 신도 30 % 이상(5) 30% or more of tensile elongation

(6) NMP 내약품성 시험 30 분 이상(6) NMP chemical resistance test more than 30 minutes

(7) NMP 단독으로 바니시를 제조해도, 열 경화막이 백탁하는 경우가 없기 때문에 전체 광선 투과율이 높다(7) Even if the varnish is manufactured by NMP alone, the total light transmittance is high because the thermosetting film does not become cloudy.

이들은 탑·에미션형의 플렉시블 디스플레이용 투명 기판에 적용하기 위한 성능을 만족하고 있다.These satisfies the performance for application to a transparent substrate for flexible display of top emission type.

실시예 1 ∼ 33, 36, 37, 41, 42, 46, 47, 53 ∼ 66 은, 복굴절에서 유래하는 막두께 방향의 리타데이션 Rth 가 100 ㎚ 이하 (20 ∼ 90 ㎚) 이고, 탑·에미션형의 플렉시블 디스플레이용 투명 기판뿐만 아니라, 보텀·에미션형의 플렉시블 디스플레이용 투명 기판이나 터치 패널용 전극 기판에 적용하기 위한 성능을 만족하고 있다. 또, 두께 방향의 리타데이션 Rth 는, 공중합 모노머로서, 규소기 함유 모노머를 사용하고 있지 않는 폴리이미드 (비교예 1 ∼ 22) 와 규소기 함유 모노머를 사용하고 있는 폴리이미드 (실시예 1 ∼ 33) 를 비교하면, 규소기 함유 모노머를 사용하고 있는 폴리이미드 쪽이, Rth 가 작고, 규소기 함유 모노머가 폴리이미드의 Rth 저하에 기여하고 있는 것을 알 수 있다.Examples 1-33, 36, 37, 41, 42, 46, 47, 53-66 are 100 nm or less (20-90 nm) of retardation Rth of the film thickness direction derived from birefringence, and are top emission type It satisfies not only the transparent substrate for flexible displays but also the performance for applying to the bottom substrate type flexible display substrate and the touch panel electrode substrate. Moreover, the retardation Rth of the thickness direction is a polyimide which does not use the silicon group containing monomer as a copolymerization monomer (comparative examples 1-22), and the polyimide which uses the silicon group containing monomer (Examples 1-33). In comparison, it can be seen that the polyimide using the silicon group-containing monomer has a smaller Rth, and the silicon group-containing monomer contributes to the Rth reduction of the polyimide.

이에 반해, 비교예 1 ∼ 26 은, 잔류 응력, 내약품성, 인장 신도가 낮고, YI 값이나 전체 광선 투과율이 큐어시의 산소 농도에 영향을 받아, 악화된다.On the other hand, Comparative Examples 1-26 are low in residual stress, chemical-resistance, and tensile elongation, and YI value and total light transmittance are affected by oxygen concentration at the time of deterioration, and deteriorate.

이 결과로부터, 본 발명에 관련된 수지 전구체로부터 얻어지는 수지는, 무색 투명함과 함께, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 또한 내약품성이 우수하고, 큐어시의 산소 농도에 의한 YI 값이나 전체 광선 투과율에 대한 영향이 작은 수지 필름인 것이 확인되었다.From these results, the resin obtained from the resin precursor according to the present invention is colorless and transparent, has a low residual stress generated between the inorganic film, excellent chemical resistance, and a YI value due to oxygen concentration at the time of curing. It was confirmed that the resin film had a small influence on the total light transmittance.

또한, 본 발명은 상기 실시형태에 한정되지 않고, 여러 가지 변경하여 실시하는 것이 가능하다.In addition, this invention is not limited to the said embodiment, It can change and implement variously.

산업상 이용가능성Industrial availability

본 발명은, 예를 들어, 반도체 절연막, TFT-LCD 절연막, 전극 보호막, 플렉시블 디스플레이의 제조, 터치 패널 ITO 전극용 기판에, 특히 기판으로서 적합하게 이용할 수 있다.The present invention can be suitably used as a substrate, for example, in the manufacture of semiconductor insulating films, TFT-LCD insulating films, electrode protective films, flexible displays, and substrates for touch panel ITO electrodes.

Claims (27)

아미노기 및 아미노기 반응성기를 포함하는 중합 성분을 중합시켜 얻어지는 수지 전구체로서,
상기 중합 성분이 아미노기 및 아미노기 반응성기에서 선택되는 기를 2 개 이상 갖는 다가 화합물을 포함하고,
상기 다가 화합물이 규소기 함유 화합물을 포함하고,
상기 다가 화합물이 하기 식 (1):
[화학식 1]
Figure pat00027

로 나타내는 디아민을 포함하고,
상기 수지 전구체가 하기 일반식 (2):
[화학식 2]
Figure pat00028

{식 중, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 그리고 h 는 3 ∼ 200 의 정수이다.}
로 나타내는 구조를 갖고,
상기 규소기 함유 화합물의 양이 상기 다가 화합물의 총질량 기준으로 6 질량% ∼ 25 질량% 인
상기 수지 전구체.
As a resin precursor obtained by superposing | polymerizing the polymerization component containing an amino group and an amino group reactive group,
The polymerization component comprises a polyvalent compound having two or more groups selected from amino groups and amino group reactive groups,
The polyvalent compound comprises a silicon group-containing compound,
The said polyhydric compound has following formula (1):
[Formula 1]
Figure pat00027

Containing diamine represented by
The said resin precursor is the following general formula (2):
[Formula 2]
Figure pat00028

{In formula, two or more R <3> and R <4> is a C1-C20 monovalent organic group each independently, and h is an integer of 3-200.}
Has a structure represented by
The amount of the silicon group-containing compound is 6% by mass to 25% by mass based on the total mass of the polyvalent compound.
The resin precursor.
제 1 항에 있어서,
상기 아미노기 반응성기가 카르복실기, 치환 카르복실기 및 산 무수물기로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상을 포함하는 수지 전구체.
The method of claim 1,
A resin precursor comprising at least one of the amino group reactive groups selected from the group consisting of a carboxyl group, a substituted carboxyl group and an acid anhydride group.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 규소기 함유 화합물이 하기 일반식 (3):
[화학식 3]
Figure pat00029

{식 중, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 20 의 2 가의 유기기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, L1, L2, 및 L3 은, 각각 독립적으로, 아미노기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 무수물기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, j 는 3 ∼ 200 의 정수이고, k 는 0 ∼ 197 의 정수이다.} 으로 나타내는 실리콘 화합물을 포함하는 수지 전구체.
The method according to claim 1 or 2,
The said silicon group containing compound is the following general formula (3):
[Formula 3]
Figure pat00029

{In formula, two or more R <2> is respectively independently a single bond or a C1-C20 divalent organic group, R <3> and R <4> is respectively independently a C1-C20 monovalent organic group , R 5, which may be present in plural numbers, are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, and L 1 , L 2 , and L 3 are each independently an amino group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid anhydride group, It is an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, j is an integer of 3-200, k is an integer of 0-197.} The resin precursor containing the silicone compound shown by the following.
제 3 항에 있어서,
상기 일반식 (3) 에 있어서, L1 및 L2 가, 각각 독립적으로, 아미노기 또는 산 무수물기이고, 그리고 k 가 0 인 수지 전구체.
The method of claim 3, wherein
In General Formula (3), L 1 and L 2 are each independently an amino group or an acid anhydride group, and k is 0.
제 4 항에 있어서,
상기 일반식 (3) 에 있어서, L1 및 L2 가 함께 아미노기인 수지 전구체.
The method of claim 4, wherein
Resin precursor in the said General formula (3) whose L <1> and L <2> are an amino group together.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 수지 전구체가 유닛 1 및 유닛 2 를 함유하고,
그 유닛 1 이 적어도 하기 일반식 (4);
[화학식 4]
Figure pat00030

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재해도 되는 X1 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이며, 그리고 n 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖고,
그 유닛 2 가 하기 일반식 (5):
[화학식 5]
Figure pat00031

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 2 가의 지방족 탄화수소, 또는 2 가의 방향족기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 X2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이고, l 은 3 ∼ 50 의 정수이며, 그리고 m 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조, 또는, 하기 일반식 (6):
[화학식 6]
Figure pat00032

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재하는 R8 은, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 3 가의 지방족 탄화수소, 또는 3 가의 방향족기이고, p 는 1 ∼ 100 의 정수이며, 그리고 q 는 3 ∼ 50 의 정수이다.} 으로 나타내는 구조, 또는 상기 일반식 (5) 로 나타내는 구조와 상기 일반식 (6) 으로 나타내는 구조의 양자를 갖는 수지 전구체.
The method according to any one of claims 1 to 5,
The resin precursor contains unit 1 and unit 2,
The unit 1 is at least the following general formula (4);
[Formula 4]
Figure pat00030

{In formula, two or more R <1> is respectively independently a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group, X <1> which may exist in multiple numbers each independently represents C4-C20. 32 is a tetravalent organic group, and n is an integer of 1-100.}
The unit 2 has the following general formula (5):
[Formula 5]
Figure pat00031

{In formula, two or more R <1> is respectively independently a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group, and two or more R <2> is respectively independently C3-C20 Is a divalent aliphatic hydrocarbon or a divalent aromatic group, R 3 and R 4 are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, and a plurality of each of X 2, which may be present, are each independently 4 to 4 carbon atoms. 32 is a tetravalent organic group, l is an integer of 3-50, and m is an integer of 1-100.} The structure represented by the following or general formula (6):
[Formula 6]
Figure pat00032

{In formula, two or more R <1> is respectively independently a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group, and two or more R <3> and R <4> respectively independently represents carbon number R <8> which is a 1-20 monovalent organic group, two or more R <8> is respectively independently a C3-C20 trivalent aliphatic hydrocarbon or a trivalent aromatic group, p is an integer of 1-100, and q is It is an integer of 3-50.} The resin precursor which has both a structure represented by the general formula (5), or the structure represented by the said General formula (5), and the structure represented by the said General formula (6).
제 6 항에 있어서,
상기 유닛 1 및 상기 유닛 2 의 합계량이 상기 수지 전구체의 총질량 기준으로 30 질량% 이상인 수지 전구체.
The method of claim 6,
The resin precursor whose total amount of the said unit 1 and the said unit 2 is 30 mass% or more on the basis of the total mass of the said resin precursor.
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,
상기 수지 전구체가 하기 일반식 (7):
[화학식 7]
Figure pat00033

{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재해도 되는 X3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 2 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 X4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이며, 그리고 t 는 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖는 유닛 3 을 추가로 함유하는 수지 전구체.
The method according to claim 6 or 7,
The said resin precursor is the following general formula (7):
[Formula 7]
Figure pat00033

{In formula, two or more R <1> is a hydrogen atom, a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon, or a monovalent aromatic group each independently, X <3> which may exist in multiple numbers each independently represents C4-C20. X 4 which may be a 32-valent divalent organic group, and which may exist in multiple numbers each independently is a C4-C32 tetravalent organic group, and t is an integer of 1-100.} The unit 3 which has a structure represented by It further contains a resin precursor.
제 8 항에 있어서,
상기 일반식 (7) 에 있어서, X3 이 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘으로부터 아미노기를 제외한 구조인 잔기인 수지 전구체.
The method of claim 8,
Resin precursor in the said General formula (7) whose X <3> is the residue which is a structure remove | excluding an amino group from 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine.
제 6 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 유닛 1 및 상기 유닛 2 가
피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 및 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상에서 유래하는 부위와,
4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물 (6FDA), 시클로헥산-1,2,4,5-테트라카르복실산 2무수물 (CHDA), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물 (DSDA), 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 및 9,9'-비스(3,4-디카르복시페닐)플루오렌 2무수물 (BPAF) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상에서 유래하는 부위
의 조합인 부위를 상기 유닛 1 및 상기 유닛 2 의 산 2무수물 유래 부위의 총량 기준으로 60 몰% 이상의 양으로 포함하는 수지 전구체.
The method according to any one of claims 6 to 9,
The unit 1 and the unit 2
A site derived from one or more selected from the group consisting of pyromellitic dianhydride (PMDA) and biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA);
4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), 4,4 '-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride (6FDA), cyclohexane-1,2,4,5-tetracarboxylic acid 2 Anhydride (CHDA), 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfontetracarboxylic dianhydride (DSDA), 4,4'-biphenylbis (trimelitic acid monoester acid anhydride) (TAHQ), and Sites derived from one or more selected from the group consisting of 9,9'-bis (3,4-dicarboxyphenyl) fluorene dianhydride (BPAF)
A resin precursor comprising a portion which is a combination thereof in an amount of 60 mol% or more based on the total amount of the acid dianhydride derived portions of the unit 1 and the unit 2.
제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 R3 및 상기 R4 가, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 3 의 1 가의 지방족 탄화수소기, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족 탄화수소기인 수지 전구체.
The method according to any one of claims 1 to 10,
Resin precursor which is said R <3> and said R <4> respectively independently a C1-C3 monovalent aliphatic hydrocarbon group or a C6-C10 monovalent aromatic hydrocarbon group.
제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 R3 및 상기 R4 의 적어도 일부가 페닐기인 수지 전구체.
The method according to any one of claims 1 to 11,
At least a part of R 3 and R 4 is a phenyl group resin precursor.
제 1 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 수지 전구체를 불활성 분위기하 300 ∼ 500 ℃ 의 조건으로 가열 경화시켜 얻어지는 수지가 -150 ℃ ∼ 0 ℃ 의 영역 중 적어도 하나의 유리 전이 온도 및 150 ℃ ∼ 380 ℃ 의 영역 중 적어도 하나의 유리 전이 온도를 갖고, 또한 0 ℃ 보다 크고 150 ℃ 보다 작은 영역에 있어서 유리 전이 온도를 갖지 않는 수지 전구체.
The method according to any one of claims 1 to 12,
Resin obtained by heat-hardening the said resin precursor on condition of 300-500 degreeC in inert atmosphere, the glass transition temperature of at least one of the area | regions of -150 degreeC-0 degreeC, and the glass transition temperature of the area | region of 150 degreeC-380 degreeC And a resin precursor which does not have a glass transition temperature in an area larger than 0 ° C and smaller than 150 ° C.
제 1 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 유래의 부위를 상기 수지 전구체의 산 2무수물 유래 부위의 총량 기준으로 20 몰% 이상 포함하는 수지 전구체.
The method according to any one of claims 1 to 13,
The resin precursor containing 20 mol% or more of site | parts derived from biphenyl tetracarboxylic dianhydride (BPDA) based on the total amount of the acid dianhydride-derived site | part of the said resin precursor.
제 1 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 있어서,
일부가 이미드화되어 있는 수지 전구체.
The method according to any one of claims 1 to 14,
The resin precursor in which part is imidated.
제 1 항 내지 제 15 항 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체와, 하기 일반식 (8):
[화학식 8]
Figure pat00034

{식 중, 복수 존재해도 되는 X3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이고, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이며, 그리고 r 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖는 수지 전구체를 포함하는 전구체 혼합물.
The resin precursor of any one of Claims 1-15, and following General formula (8):
[Formula 8]
Figure pat00034

{In formula, X <3> which may exist in multiple numbers is respectively independently a C4-C32 tetravalent organic group, and two or more R <1> represents a hydrogen atom and a C1-C20 monovalent aliphatic hydrocarbon each independently. Or a monovalent aromatic group, and r is an integer of 1 to 100.} A precursor mixture containing a resin precursor having a structure represented by}.
제 1 항 내지 제 15 항 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체, 또는 제 16 항에 기재된 전구체 혼합물을 포함하는 플렉시블 디바이스 재료.The flexible device material containing the resin precursor of any one of Claims 1-15, or the precursor mixture of Claim 16. 제 1 항 내지 제 15 항 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체의 경화물 또는 제 16 항에 기재된 전구체 혼합물의 경화물인 수지 필름.The resin film which is a hardened | cured material of the resin precursor in any one of Claims 1-15, or a hardened | cured material of the precursor mixture of Claim 16. 제 1 항 내지 제 15 항 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체 또는 제 16 항에 기재된 전구체 혼합물과, 용매를 함유하는 수지 조성물.The resin composition containing the resin precursor of any one of Claims 1-15, or the precursor mixture of Claim 16, and a solvent. 제 19 항에 있어서,
상기 수지 조성물을 지지체의 표면에 전개한 후, 상기 수지 조성물을 질소 분위기하 300 ℃ ∼ 500 ℃ 에서 가열함으로써 상기 수지 조성물에 포함되는 상기 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지가 나타내는 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하인 수지 조성물.
The method of claim 19,
After spreading the said resin composition on the surface of a support body, in the 20 micrometer film thickness which resin obtained by imidating the said resin precursor contained in the said resin composition by heating the said resin composition at 300 degreeC-500 degreeC in nitrogen atmosphere, The resin composition whose yellowness is 7 or less.
제 19 항 또는 제 20 항에 있어서,
상기 수지 조성물을 지지체의 표면에 전개한 후, 상기 수지 조성물을 질소 분위기하 300 ℃ ∼ 500 ℃ 에서 가열함으로써 상기 수지 조성물에 포함되는 상기 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지가 나타내는 10 ㎛ 막두께에서의 잔류 응력이 25 ㎫ 이하인 수지 조성물.
The method of claim 19 or 20,
After developing the said resin composition on the surface of a support body, in the 10 micrometer film thickness which resin obtained by imidating the said resin precursor contained in the said resin composition by heating the said resin composition at 300 degreeC-500 degreeC in nitrogen atmosphere, The resin composition whose residual stress is 25 MPa or less.
제 19 항 내지 제 21 항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물인 수지 필름.The resin film which is a hardened | cured material of the resin composition of any one of Claims 19-21. 제 19 항 내지 제 21 항 중 어느 한 항에 기재된 기재된 수지 조성물을 지지체의 표면 상에 전개하는 공정과,
상기 지지체 및 상기 수지 조성물을 가열하여 상기 수지 조성물에 포함되는 상기 수지 전구체를 이미드화하여 수지 필름을 형성하는 공정과,
상기 수지 필름을 상기 지지체로부터 박리하는 공정
을 포함하는 수지 필름의 제조 방법.
The process of developing the resin composition of any one of Claims 19-21 on the surface of a support body,
Heating the support and the resin composition to imidize the resin precursor contained in the resin composition to form a resin film;
Peeling the resin film from the support
Method for producing a resin film comprising a.
지지체와, 상기 지지체의 표면 상에 형성된, 제 19 항 내지 제 21 항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물인 수지막을 포함하는 적층체.The laminated body containing a support body and the resin film which is the hardened | cured material of the resin composition of any one of Claims 19-21 formed on the surface of the said support body. 지지체의 표면 상에, 제 19 항 내지 제 21 항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 전개하는 공정과,
상기 지지체 및 상기 수지 조성물을 가열하여 상기 수지 조성물에 포함되는 상기 수지 전구체를 이미드화하여 수지막을 형성하고, 이에 따라 상기 지지체 및 상기 수지막을 포함하는 적층체를 얻는 공정
을 포함하는 적층체의 제조 방법.
The process of developing the resin composition of any one of Claims 19-21 on the surface of a support body,
Heating the support and the resin composition to imidize the resin precursor contained in the resin composition to form a resin film, thereby obtaining a laminate comprising the support and the resin film.
Method for producing a laminate comprising a.
디스플레이 기판의 제조에 사용되는 폴리이미드 수지막으로서, 두께 20 ㎛ 에 있어서의 Rth 가 20 ∼ 90 ㎚ 인 폴리이미드 수지막.The polyimide resin film whose Rth in 20 micrometers in thickness is 20-90 nm as a polyimide resin film used for manufacture of a display substrate. 지지체의 표면 상에 폴리이미드 전구체를 포함하는 수지 조성물을 전개하는 공정과,
상기 지지체 및 상기 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 전구체를 이미드화하여, 제 26 항에 기재된 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정과,
상기 폴리이미드 수지막 상에 소자를 형성하는 공정과,
상기 소자가 형성된 상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 공정
을 포함하는 디스플레이 기판의 제조 방법.
Developing a resin composition containing a polyimide precursor on the surface of the support;
Heating the support and the resin composition to imidize a polyimide precursor to form a polyimide resin film according to claim 26;
Forming an element on the polyimide resin film;
Process of peeling the said polyimide resin film in which the said element was formed from the said support body
Method of manufacturing a display substrate comprising a.
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