KR20200002352A - 배터리 관리 시스템에 포함된 회로 기판을 테스트하기 위한 장치 및 방법 - Google Patents

배터리 관리 시스템에 포함된 회로 기판을 테스트하기 위한 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

배터리 관리 시스템에 포함된 회로 기판을 테스트하기 위한 장치 및 방법이 제공된다. 상기 회로 기판은, 제1 저항 소자; 제1 커패시터; 제2 저항 소자; 제2 커패시터; 상기 제1 저항 소자의 일단, 상기 제1 커패시터의 일단 및 상기 제2 저항 소자의 일단에 공통적으로 연결된 제1 테스트 포인트; 상기 제2 저항 소자의 타단 및 상기 제2 커패시터의 일단에 공통적으로 연결된 제2 테스트 포인트; 상기 제1 저항 소자의 타단에 연결된 제3 테스트 포인트; 및 상기 제1 커패시터의 타단 및 상기 제2 커패시터의 타단에 공통적으로 연결된 제4 테스트 포인트를 포함한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 장치는, 테스트 전압을 선택적으로 생성하도록 구성된 전압원; 상기 제1 테스트 포인트와 상기 제4 테스트 포인트 사이에 발생한 제1 진단 전압을 검출하도록 구성된 제1 전압 센서; 상기 제2 테스트 포인트와 상기 제4 테스트 포인트 사이에 발생한 제2 진단 전압을 검출하도록 구성된 제2 전압 센서; 및 상기 전압원, 상기 제1 전압 센서 및 상기 제2 전압 센서에 동작 가능하게 결합된 제어부를 포함한다.

Description

배터리 관리 시스템에 포함된 회로 기판을 테스트하기 위한 장치 및 방법{Apparatus and method for testing a battery circuit board}
본 발명은 배터리 관리 시스템에 포함된 회로 기판을 테스트하기 위한 장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 상기 회로 기판 상에 실장되어 있는 커패시터가 오픈 불량인지 여부를 테스트하기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다.
최근, 노트북, 비디오 카메라, 휴대용 전화기 등과 같은 휴대용 전자 제품의 수요가 급격하게 증대되고, 전기 자동차, 에너지 저장용 축전지, 로봇, 위성 등의 개발이 본격화됨에 따라, 반복적인 충방전이 가능한 고성능 배터리에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다.
현재 상용화된 배터리로는 니켈 카드뮴 전지, 니켈 수소 전지, 니켈 아연 전지, 리튬 배터리 등이 있는데, 이 중에서 리튬 배터리는 니켈 계열의 배터리에 비해 메모리 효과가 거의 일어나지 않아 충방전이 자유롭고, 자가 방전율이 매우 낮으며 에너지 밀도가 높은 장점으로 각광을 받고 있다.
배터리 관리 시스템은, 배터리를 제어 및 보호하기 위해 필요한 수동 소자나 능동 소자와 같은 다수의 부품이 실장되어 있는 회로 기판을 포함한다. 수동 소자로는, 저항 소자(resistor)와 커패시터(capacitor)가 대표적이다. 저항 소자는 옴의 법칙에 따라 배터리나 주변 소자로의 과전류를 차단하기 위한 용도로 주로 이용되고, 커패시터는 배터리나 주변 소자에 인가되는 전압을 평활화하기 위한 용도로 주로 이용된다.
자동 광학 검사(AOI: automated optical inspection)는 2차원 또는 3차원적으로 수집된 회로 기판의 이미지를 이용하여 회로 기판 상에 실장되어 있는 다수의 부품의 장착 상태를 단시간 내에 검사할 수 있다는 장점 때문에 널리 이용되고 있으나, 커패시터의 오픈 불량을 완벽하게 검출해내지는 못한다.
본 발명은, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 배터리 관리 시스템에 포함된 회로 기판 상에 실장되어 있는 커패시터의 오픈 불량을 테스트하기 위한 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있으며, 본 발명의 실시예에 의해 보다 분명하게 알게 될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허청구범위에 나타난 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다양한 실시예는 다음과 같다.
본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 장치는, 배터리 관리 시스템의 회로 기판을 테스트하기 위한 것이다. 상기 회로 기판은, 제1 저항 소자; 제1 커패시터; 제2 저항 소자; 제2 커패시터; 상기 제1 저항 소자의 일단, 상기 제1 커패시터의 일단 및 상기 제2 저항 소자의 일단에 공통적으로 연결된 제1 테스트 포인트; 상기 제2 저항 소자의 타단 및 상기 제2 커패시터의 일단에 공통적으로 연결된 제2 테스트 포인트; 상기 제1 저항 소자의 타단에 연결된 제3 테스트 포인트; 및 상기 제1 커패시터의 타단 및 상기 제2 커패시터의 타단에 공통적으로 연결된 제4 테스트 포인트를 포함한다. 상기 테스트 장치는, 테스트 전압을 선택적으로 생성하도록 구성된 전압원; 상기 제1 테스트 포인트와 상기 제4 테스트 포인트 사이에 발생한 제1 진단 전압을 검출하도록 구성된 제1 전압 센서; 상기 제2 테스트 포인트와 상기 제4 테스트 포인트 사이에 발생한 제2 진단 전압을 검출하도록 구성된 제2 전압 센서; 및 상기 전압원, 상기 제1 전압 센서 및 상기 제2 전압 센서에 동작 가능하게 결합된 제어부를 포함한다. 상기 제어부는, 상기 전압원에게 상기 제3 테스트 포인트 상에 상기 테스트 전압을 인가하도록 명령하도록 구성된다. 상기 제어부는, 상기 제1 진단 전압 및 상기 제2 진단 전압 중 적어도 하나를 기초로, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 적어도 하나의 오픈 불량이 발생하였는지 여부를 판정하도록 구성된다.
상기 제어부는, 상기 제1 진단 전압이 상기 테스트 전압보다 낮게 미리 정해진 임계 전압에 도달하는 제1 시점을 기록할 수 있다. 상기 제3 테스트 포인트 상에 상기 테스트 전압이 인가되기 시작하는 초기 시점으로부터 상기 제1 시점까지의 제1 경과 기간이 미리 정해진 제1 임계 기간 이상 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터의 오픈 불량이 발생하지 않은 것으로 판정하도록 구성된다.
상기 제어부는, 상기 제1 경과 기간이 상기 제1 임계 기간보다 짧고 미리 정해진 제1 감시 기간 이상인 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 상기 제2 커패시터만이 오픈 불량인 것으로 판정하도록 구성될 수 있다.
상기 제어부는, 상기 제1 경과 기간이 상기 제1 감시 기간보다 짧고 미리 정해진 제2 감시 기간 이상인 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 상기 제1 커패시터만이 오픈 불량인 것으로 판정하도록 구성될 수 있다.
상기 제어부는, 상기 제1 경과 기간이 상기 제2 감시 기간보다 짧은 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 둘 다 오픈 불량인 것으로 판정하도록 구성될 수 있다.
상기 제어부는, 상기 제2 진단 전압이 상기 임계 전압에 도달하는 제2 시점을 기록할 수 있다. 상기 제어부는, 상기 제1 시점과 상기 제2 시점이 서로 동일한 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 적어도 상기 제2 커패시터가 오픈 불량인 것으로 판정하도록 구성될 수 있다.
상기 제어부는, 상기 제2 진단 전압이 상기 임계 전압에 도달하는 제2 시점을 기록할 수 있다. 상기 제어부는, 상기 초기 시점으로부터 상기 제2 시점까지의 제2 경과 기간이 상기 제1 임계 기간보다 길게 미리 정해진 제2 임계 기간 이상 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 둘 다의 오픈 불량이 발생하지 않은 것으로 판정하도록 구성될 수 있다.
상기 제어부는, 상기 판정의 결과를 나타내는 진단 메시지를 출력하도록 구성될 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 방법은, 배터리 관리 시스템의 회로 기판을 테스트하기 위한 것이다. 상기 회로 기판은, 제1 저항 소자; 제1 커패시터; 제2 저항 소자; 제2 커패시터; 상기 제1 저항 소자의 일단, 상기 제1 커패시터의 일단 및 상기 제2 저항 소자의 일단에 공통적으로 연결된 제1 테스트 포인트; 상기 제2 저항 소자의 타단 및 상기 제2 커패시터의 일단에 공통적으로 연결된 제2 테스트 포인트; 상기 제1 저항 소자의 타단에 연결된 제3 테스트 포인트; 및 상기 제1 커패시터의 타단 및 상기 제2 커패시터의 타단에 공통적으로 연결된 제4 테스트 포인트를 포함한다. 상기 방법은, 전압원에게 상기 제3 테스트 포인트 상에 테스트 전압을 인가하도록 명령하는 단계; 상기 제1 테스트 포인트와 상기 제4 테스트 포인트 사이에 발생한 제1 진단 전압이 상기 테스트 전압보다 낮게 미리 정해진 임계 전압에 도달하는 시점을 기록하는 단계; 및 상기 제3 테스트 포인트 상에 상기 테스트 전압이 인가되기 시작하는 초기 시점부터 상기 기록된 시점까지의 경과 기간이 미리 정해진 제1 임계 기간 이상 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터의 오픈 불량이 발생하지 않았음을 나타내는 진단 메시지를 출력하는 단계;를 포함한다.
상기 방법은, 상기 경과 기간이 상기 제1 임계 기간보다 짧고 미리 정해진 제1 감시 기간 이상인 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 상기 제2 커패시터만이 오픈 불량임을 나타내는 진단 메시지를 출력하는 단계;를 더 포함할 수 있다.
상기 방법은, 상기 경과 기간이 상기 제1 감시 기간보다 짧고 미리 정해진 제2 감시 기간 이상인 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 상기 제1 커패시터만이 오픈 불량임을 나타내는 진단 메시지를 출력하는 단계;를 더 포함할 수 있다.
상기 방법은, 상기 경과 기간이 상기 제2 감시 기간 미만 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 둘 다 오픈 불량임을 나타내는 진단 메시지를 출력하는 단계;를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예들 중 적어도 하나에 의하면, 배터리 관리 시스템에 포함된 회로 기판의 이미지를 촬영 및 분석하는 과정없이도 회로 기판 상에 실장되어 있는 커패시터의 오픈 불량을 테스트할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들 중 적어도 하나에 의하면, 단일의 테스트용 신호를 인가하여 2차 RC 필터에 포함된 2개의 커패시터 중 적어도 하나의 오픈 불량을 검출할 수 있다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 후술되는 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니 된다.
도 1은 배터리 관리 시스템에 포함되는 회로 기판 및 상기 회로 기판을 테스트하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 장치의 구성을 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 도 1의 회로 기판에 포함된 제1 커패시터 및 제2 커패시터에 오픈 불량이 발생하지 않은 경우의 제1 진단 전압 및 제2 진단 전압의 시간에 따른 변화를 보여주는 그래프이다.
도 3은 도 1의 회로 기판에 포함된 제1 커패시터 및 제2 커패시터 중 제2 커패시터만의 오픈 불량이 발생한 경우의 제1 진단 전압(V1) 및 제2 진단 전압의 시간에 따른 변화를 보여주는 그래프이다.
도 4는 도 1의 회로 기판에 포함된 제1 커패시터 및 제2 커패시터 중 제1 커패시터만의 오픈 불량이 발생한 경우의 제1 진단 전압 및 제2 진단 전압의 시간에 따른 변화를 보여주는 그래프이다.
도 5는 도 1의 회로 기판에 포함된 제1 커패시터 및 제2 커패시터 둘 다의 오픈 불량이 발생한 경우의 제1 진단 전압 및 제2 진단 전압의 시간에 따른 변화를 보여주는 그래프이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따라 배터리 관리 시스템에 포함되는 회로 기판을 테스트하는 방법을 보여주는 순서도이다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따라 배터리 관리 시스템에 포함되는 회로 기판을 테스트하는 방법을 보여주는 순서도이다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따라 배터리 관리 시스템에 포함되는 회로 기판을 테스트하는 방법을 보여주는 순서도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
또한, 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어들은, 다양한 구성요소들 중 어느 하나를 나머지와 구별하는 목적으로 사용되는 것이고, 그러한 용어들에 의해 구성요소들을 한정하기 위해 사용되는 것은 아니다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라, 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 <제어 유닛>과 같은 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어, 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "간접적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다.
도 1은 배터리 관리 시스템에 포함되는 회로 기판(10) 및 상기 회로 기판(10)을 테스트하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 장치(100)의 구성을 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 회로 기판(10)은, 제1 저항 소자(21), 제2 저항 소자(22), 제1 커패시터(31), 제2 커패시터(32), 제1 테스트 포인트(41), 제2 테스트 포인트(42), 제3 테스트 포인트(43) 및 제4 테스트 포인트(44)를 포함한다. 제1 저항 소자(21), 제2 저항 소자(22), 제1 커패시터(31), 제2 커패시터(32), 제1 테스트 포인트(41), 제2 테스트 포인트(42), 제3 테스트 포인트(43) 및 제4 테스트 포인트(44) 각각은, 납땜 등에 의해 회로 기판(10) 상에 실장되어 있다.
제1 테스트 포인트(41)는, 제1 저항 소자(21), 제1 커패시터(31) 및 제2 저항 소자(22)의 사이에 형성된다. 구체적으로, 제1 저항 소자(21)의 일단, 제1 커패시터(31)의 일단 및 제2 저항 소자(22)의 일단은, 제1 테스트 포인트(41)에 공통적으로 연결된다.
제2 테스트 포인트(42)는, 제2 저항 소자(22) 및 제2 커패시터(32)의 사이에 형성된다. 구체적으로, 제2 저항 소자(22)의 타단 및 상기 제2 커패시터(32)의 일단은, 제2 테스트 포인트(42)에 공통적으로 연결된다.
제3 테스트 포인트(43)는, 제1 저항 소자(21)의 타단에 연결된다. 제3 테스트 포인트(43)는, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32)의 오픈 불량을 검출하는 데에 이용되는 테스트용 신호로서의 테스트 전압이 인가되는 회로 기판(10) 상의 지정된 위치이다.
제4 테스트 포인트(44)는, 제1 커패시터(31)의 타단 및 제2 커패시터(32)의 타단 사이에 형성된다. 구체적으로, 제1 커패시터(31)의 타단 및 제2 커패시터(32)의 타단은, 제4 테스트 포인트(44)에 공통적으로 연결된다. 제4 테스트 포인트(44)는, 회로 기판(10)의 접지 단자에 연결되어 있는 것일 수 있다.
제1 저항 소자(21), 제2 저항 소자(22), 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32)는, 전술한바와 같이 제1 테스트 포인트(41), 제2 테스트 포인트(42), 제3 테스트 포인트(43) 및 제4 테스트 포인트(44)를 통해 상호 전기적으로 연결됨으로써, 2차 RC 필터 회로로서 기능할 수 있다. 즉, 제1 저항 소자(21)와 제1 커패시터(31)가 1차 RC 필터로서, 제2 저항 소자(22)와 제2 커패시터(32)가 다른 1차 RC 필터로서 기능하고, 2개의 1차 RC 필터가 제1 테스트 포인트(41)를 통해 연결됨으로써 2차 RC 필터가 구현될 수 있다.
테스트 장치(100)는, 전압원(110), 제1 전압 센서(121), 제2 전압 센서(122), 제어부(130) 및 정보 출력부(140)를 포함한다. 선택적으로, 테스트 장치(100)는, 제1 테스트 핀(101), 제2 테스트 핀(102), 제3 테스트 핀(103) 및 제4 테스트 핀(104)을 더 포함할 수 있다. 제1 테스트 핀(101), 제2 테스트 핀(102), 제3 테스트 핀(103) 및 제4 테스트 핀(104)은, 제1 테스트 포인트(41), 제2 테스트 포인트(42), 제3 테스트 포인트(43) 및 제4 테스트 포인트(44)에 동시에 접촉 가능하도록 배치된다.
전압원(110)은, 제어부(130)로부터의 명령에 따라 테스트 전압을 선택적으로 생성하도록 구성된다. 테스트 전압은, 예컨대 펄스 전압일 수 있다. 전압원(110)은, 제어부(130)로부터의 온 명령에 응답하여 테스트 전압(예, 2 V)을 출력하고, 제어부(130)로부터의 오프 명령에 응답하여 테스트 전압의 출력을 중단한다. 전압원(110)의 고전위 단자에는 제3 테스트 핀(103)이 연결되고, 전압원(110)의 저전위 단자에는 제4 테스트 핀(104)이 연결될 수 있다. 전압원(110)에 의해 제3 테스트 포인트(43)에 테스트 전압이 인가되는 경우, 제3 테스트 포인트(43)로부터 제1 테스트 포인트(41)로 흐르는 전류 I0는 제1 테스트 포인트(41)에서 I1과 I2로 분기된다. 즉, 전류 I0는, 전류 I1 및 전류 I2보다 크며, 전류 I1과 전류 I2의 합과 동일하다.
제1 전압 센서(121)의 일단은 직접 또는 제1 테스트 핀(101)을 통해 제1 테스트 포인트(41)에 접촉하고, 제1 전압 센서(121)의 타단은 직접 또는 제4 테스트 핀(104)을 통해 제4 테스트 포인트(44)에 접촉할 수 있다. 제1 전압 센서(121)는, 제1 테스트 포인트(41)와 제4 테스트 포인트(44) 사이에 발생하는 제1 진단 전압(V1)을 검출하고, 검출된 제1 진단 전압(V1)을 나타내는 전압 신호를 제어부(130)에게 출력하도록 구성된다.
제2 전압 센서(122)의 일단은 직접 또는 제2 테스트 핀(102)을 통해 제2 테스트 포인트(42)에 접촉하고, 제2 전압 센서(122)의 타단은 직접 또는 제4 테스트 핀(104)을 통해 제4 테스트 포인트(44)에 접촉할 수 있다. 제1 전압 센서(121)의 타단과 제2 전압 센서(122)의 타단은 제4 테스트 핀(104)에 공통적으로 연결될 수 있다. 제2 전압 센서(122)는, 제2 테스트 포인트(42)와 제4 테스트 포인트(44) 사이에 발생하는 제2 진단 전압(V2)을 검출하고, 검출된 제2 진단 전압(V2)을 나타내는 전압 신호를 제어부(130)에게 출력하도록 구성된다.
제어부(130)는, 전압원(110), 제1 전압 센서(121), 제2 전압 센서(122) 및 정보 출력부(140)에 동작 가능하게 결합된다. 제어부(130)는, 전압원(110), 제1 전압 센서(121), 제2 전압 센서(122) 및 정보 출력부(140) 각각과 LAN(local area network), CAN(controller area network), 데이지 체인과 같은 유선 네트워크 또는 블루투스, 지그비, 와이파이 등의 근거리 무선 네트워크를 통해 통신할 수 있다.
제어부(130)는, 하드웨어적으로 ASICs(application specific integrated circuits), DSPs(digital signal processors), DSPDs(digital signal processing devices), PLDs(programmable logic devices), FPGAs(field programmable gate arrays), 마이크로 프로세서(microprocessors), 기타 기능 수행을 위한 전기적 유닛 중 적어도 하나를 포함하도록 구현될 수 있다. 제어부(130)에는 메모리 디바이스가 내장될 수 있으며, 메모리 디바이스로는 예컨대 RAM, ROM, 레지스터, 하드디스크, 광기록 매체 또는 자기기록 매체가 이용될 수 있다. 메모리 디바이스는, 제어부(130)에 의해 실행되는 각종 제어 로직을 포함하는 프로그램, 및/또는 상기 제어 로직이 실행될 때 발생되는 데이터를 저장, 갱신 및/또는 소거할 수 있다.
제어부(130)는, 전압원(110)이 테스트 전압을 출력하도록 전압원(110)에게 온 명령을 출력하고, 전압원(110)이 온 명령에 응답하여 테스트 전압을 출력하기 시작하는 시점(이하, '초기 시점'이라고 칭함)부터 제1 전압 센서(121)로부터의 전압 신호 및 제2 전압 센서(122)로부터의 전압 신호를 개별적으로 수집하도록 구성된다. 제어부(130)는, 제1 전압 센서(121)로부터의 전압 신호가 나타내는 제1 진단 전압(V1) 및 제2 전압 센서(122)로부터의 전압 신호가 나타내는 제2 진단 전압(V2) 중 적어도 하나를 기초로, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 적어도 하나의 오픈 불량이 발생하였는지 여부를 판정한 다음, 판정의 결과를 나타내는 진단 메시지를 정보 출력부(140)에게 전송한다. 즉, 진단 메시지는, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 둘 다의 오픈 불량이 발생하였음을 나타내거나, 제1 커패시터(31)만의 오픈 불량이 발생하였음을 나타내거나, 제2 커패시터(32)만의오픈 불량이 발생하였음을 나타내거나 또는 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 둘 다의 오픈 불량이 발생하지 않았음을 나타낸다.
정보 출력부(140)는, 예컨대 디스플레이, 스피커 등과 같이 정보를 시각적 또는 청각적으로 출력하는 공지의 기기를 이용하여 구현될 수 있다. 정보 출력부(140)는, 제어부(130)에 의해 전송된 진단 메시지에 대응하는 시각적 정보 및 청각적 정보 중 적어도 하나를 출력하도록 구성된다.
제어부(130)는, 초기 시점으로부터 경과되는 시간을 계측함으로써, 제3 테스트 포인트(43) 상에 테스트 전압이 인가되는 동안 제1 진단 전압(V1) 및 제2 진단 전압(V2) 각각의 시간에 따른 변화를 실시간으로 모니터링한다.
도 2는 도 1의 회로 기판(10)에 포함된 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32)에 오픈 불량이 발생하지 않은 경우의 제1 진단 전압(V1) 및 제2 진단 전압(V2)의 시간에 따른 변화를 보여주는 그래프이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 실선으로 표시된 커브(201)는 제1 진단 전압(V1)의 변화를 나타내고, 점선으로 표시된 커브(202)는 제2 진단 전압(V2)의 변화를 나타낸다. 전압원(110)이 제3 테스트 포인트(43) 상에 테스트 전압(VTEST)을 인가하는 동안, 전류 I1에 의해 제1 커패시터(31)가 점차적으로 충전되고, 전류 I2에 의해 제2 커패시터(32)가 점차적으로 충전된다.
따라서, 제1 진단 전압(V1)과 제2 진단 전압(V2) 각각은, 전압원(110)이 제3 테스트 포인트(43) 상에 테스트 전압(VTEST)을 인가하기 시작하는 초기 시점부터 점차적으로 증가한다. 제1 진단 전압(V1)은, 제2 저항 소자(22)의 양단에 발생하는 전압과 제2 진단 전압(V2)의 합과 동일하다. 따라서, 초기 시점 T0부터 제2 진단 전압(V2)이 제1 진단 전압(V1)과 동일해지기 전까지는(즉, I2 = 0 A가 되기 전까지는), 제1 진단 전압(V1)은 제2 진단 전압(V2)보다 항상 높고, 제2 진단 전압(V2)은 제1 진단 전압(V1)을 추종하면서 증가하게 된다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 제어부(130)는, 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달하는 시점 T1을 기록하고, 선택적으로 제2 진단 전압(V2)이 임계 전압(VTH)에 도달하는 시점 T2을 기록할 수 있다. 임계 전압(VTH)은, 0 V보다 높고 테스트 전압(VTEST)보다는 낮게 미리 정해진다. 예컨대 테스트 전압(VTEST)이 2 V인 경우, 임계 전압(VTH)은 테스트 전압(VTEST)의 90%인 1.8 V일 수 있다.
제어부(130)는, 초기 시점 T0부터 시점 T1까지의 경과 기간 △T1을 미리 정해진 제1 임계 기간과 비교할 수 있다. 선택적으로, 제어부(130)는, 초기 시점 T0부터 시점 T2까지의 경과 기간 △T2을 미리 정해진 제2 임계 기간과 비교할 수 있다. 전술한 바와 같이, 제2 진단 전압(V2)은 제1 진단 전압(V1)보다 느리게 증가하므로, 제2 임계 기간은 제1 임계 기간보다 길게 미리 정해진다.
제어부(130)는, 도 2에 도시된 바와 같이 경과 기간 △T1이 제1 임계 기간 이상인 경우 또는 경과 기간 △T2이 제2 임계 기간 이상인 경우, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32)의 오픈 불량이 발생하지 않은 것으로 판정하고, 제1 진단 메시지를 출력할 수 있다. 제1 진단 메시지는, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 어느 것도 오픈 불량이 발생하지 않았음을 나타내는 것이다.
이하에서는, 제1 저항 소자(21)의 저항은 R1, 제2 저항 소자(22)의 저항은 R2, 제1 커패시터(31)의 커패시턴스는 C1, 제2 커패시터(32)의 커패시턴스는 C2인 것으로 정의하기로 한다.
도 3은 도 1의 회로 기판(10)에 포함된 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 제2 커패시터(32)만의 오픈 불량이 발생한 경우의 제1 진단 전압(V1) 및 제2 진단 전압(V2)의 시간에 따른 변화를 보여주는 그래프이다.
도 1 및 도 3을 참조하면, 커브(301)는 제1 진단 전압(V1)의 변화를 나타낸다. 제2 커패시터(32)가 오픈 불량인 경우, 제2 저항 소자(22) 및 제2 커패시터(32)에는 전류가 흐를 수 없게 되므로(즉, I2 = 0 A), 제2 저항 소자(22)의 양단에는 전압이 발생하지 않는다. 즉, 도 1에 도시된 제1 저항 소자(21), 제2 저항 소자(22), 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32)는 더 이상 2차 RC 필터로서 기능하지 못하고, 제1 저항 소자(21) 및 제1 커패시터(31)로 구성된 1차 RC 필터로서 기능하게 된다. 이 경우, 제1 테스트 포인트(41)의 전위와 제2 테스트 포인트(42)의 전위는 서로 동일하게 유지되므로, 커브(301)는 제2 진단 전압(V2)의 변화를 나타내는 것이기도 하다. 즉, 제1 진단 전압(V1)과 제2 진단 전압(V2)은 초기 시점 T0부터 아래의 수학식 1에 따라 증가하게 된다.
<수학식 1>
Figure pat00001
수학식 1에서, τ1는 제1 저항 소자(21) 및 제1 커패시터(31)로 이루어진 1차 RC 필터의 시상수로서, R1 × C1와 동일하다.
한편, 전류 I2가 0 A이라는 것은, 전류 I1이 전류 I0와 동일하다는 것을 뜻한다. 따라서, 제2 커패시터(32)가 오픈 불량인 경우, 그렇지 않은 경우(도 2 참조)에 비하여 제1 커패시터(31)가 빠르게 충전되므로, 제1 진단 전압(V1) 및 제2 진단 전압(V2)은 테스트 전압(VTEST)을 향하여 빠르게 증가한다. 결과적으로, 제1 진단 전압(V1) 및 제2 진단 전압(V2)은, 시점 T1에 앞서는 시점 T3에서 임계 전압(VTH)에 동시에 도달하게 된다.
제어부(130)는, 초기 시점 T0부터 시점 T3까지의 경과 기간 △T3을 제1 임계 기간 및 제1 감시 기간 각각과 비교할 수 있다. 제1 감시 기간은, 제1 임계 기간보다 짧게 미리 정해진 것일 수 있다.
제어부(130)는, 도 3에 도시된 바와 같이 경과 기간 △T3이 제1 임계 기간보다 짧고, 제1 감시 기간 이상인 경우, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 제2 커패시터(32)만의 오픈 불량이 발생한 것으로 판정하고, 제2 진단 메시지를 출력할 수 있다. 제2 진단 메시지는, 제2 커패시터(32)의 오픈 불량이 발생하였음을 나타내는 것이다.
또한, 제어부(130)는, 도 3에 도시된 바와 같이 경과 기간 △T3이 제1 임계 기간보다 짧고, 제1 진단 전압(V1)과 제2 진단 전압(V2)이 동일 시점에 임계 전압(VTH)에 도달하는 경우, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 적어도 제2 커패시터(32)의 오픈 불량이 발생한 것으로 판정할 수 있다.
도 4는 도 1의 회로 기판(10)에 포함된 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 제1 커패시터(31)만의 오픈 불량이 발생한 경우의 제1 진단 전압(V1) 및 제2 진단 전압(V2)의 시간에 따른 변화를 보여주는 그래프이다.
도 4를 참조하면, 실선으로 표시된 커브(401)는 제1 진단 전압(V1)의 변화를 나타내고, 점선으로 표시된 커브(402)는 제2 진단 전압(V2)의 변화를 나타낸다. 제1 커패시터(31)가 오픈 불량인 경우, 전류 I1는 0 A이므로 전류 I2는 전류 I0와 동일해진다. 즉, 도 1에 도시된 제1 저항 소자(21), 제2 저항 소자(22), 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32)는 더 이상 2차 RC 필터로서 기능하지 못하고, 제1 저항 소자(21), 제2 저항 소자(22) 및 제2 커패시터(32)만을 포함하는 1차 RC 필터로서 기능하게 된다. 따라서, 제1 진단 전압(V1)은 아래의 수학식 2에 따라 변화하고, 제2 진단 전압(V2)은 아래의 수학식 3에 따라 변화한다.
<수학식 2>
Figure pat00002
<수학식 3>
Figure pat00003
수학식 2 및 3에서, τ2는 제1 저항 소자(21), 제2 저항 소자(22) 및 제2 커패시터(32)로 이루어진 1차 RC 필터의 시상수로서, (R1 + R2) × C2과 동일하다. 만약, τ2가 τ1 보다 작은 경우, 제2 커패시터(32)만이 오픈 불량인 경우(도 3 참조)에 비하여, 제1 진단 전압(V1)과 제2 진단 전압(V2)이 도 4에 도시된 바와 같이 빠르게 테스트 전압(VTEST)을 향하여 증가하게 될 것임을 당업자라면 쉽게 이해할 수 있다. 즉, 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달하는 시점 T4는 제2 진단 전압(V2)이 임계 전압(VTH)에 도달하는 시점 T5에 앞서고, 시점 T5는 도 2의 시점 T3에 앞서게 된다.
제어부(130)는, 초기 시점 T0부터 시점 T4까지의 경과 기간 △T4을 제1 감시 기간 및 제2 감시 기간 각각과 비교할 수 있다. 제2 감시 기간은, 제1 감시 기간보다 짧게 미리 정해진 것일 수 있다.
제어부(130)는, 경과 기간 △T4이 제1 감시 기간보다 짧고 제2 감시 기간 이상인 경우, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 제1 커패시터(31)만의 오픈 불량이 발생한 것으로 판정하고, 제3 진단 메시지를 출력할 수 있다. 제3 진단 메시지는, 제1 커패시터(31)의 오픈 불량이 발생하였음을 나타내는 것이다.
도 5는 도 1의 회로 기판(10)에 포함된 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 둘 다의 오픈 불량이 발생한 경우의 제1 진단 전압(V1) 및 제2 진단 전압(V2)의 시간에 따른 변화를 보여주는 그래프이다.
도 5를 참조하면, 커브(501)는 제1 진단 전압(V1) 및 제2 진단 전압(V2)의 변화를 나타낸다. 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32)가 모두 오픈 불량인 경우, 제1 저항 소자(21), 제2 저항 소자(22), 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 어느 것에도 전류가 흐를 수 없게 되므로(즉, I1 = I2 = 0 A), 제1 저항 소자(21)와 제2 저항 소자(22)의 양단에는 전압이 발생하지 않는다. 따라서, 제1 진단 전압(V1)과 제2 진단 전압(V2)은, 초기 시점 직후에 테스트 전압(VTEST)에 동시에 도달하게 된다.
제어부(130)는, 초기 시점부터 제1 진단 전압(V1) 및 제2 진단 전압(V2) 중 적어도 하나가 임계 전압(VTH) 또는 테스트 전압(VTEST)에 도달하는 시점까지의 경과 기간이 제2 감시 기간보다 짧은 경우, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 둘 다의 오픈 불량이 발생한 것으로 판정하고, 제4 진단 메시지를 출력할 수 있다. 제4 진단 메시지는, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 둘 다의 오픈 불량이 발생하였음을 나타내는 것이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따라 배터리 관리 시스템에 포함되는 회로 기판(10)을 테스트하는 방법을 보여주는 순서도이다.
도 1 내지 도 6을 참조하면, 단계 600에서, 제어부(130)는, 전압원(110)에게 온 명령을 전송한다. 전압원(110)은, 온 명령에 응답하여, 초기 시점부터 제3 테스트 포인트(43) 상에 테스트 전압(VTEST)을 인가한다.
단계 610에서, 제어부(130)는, 제1 전압 센서(121)로부터의 전압 신호를 기초로, 제1 진단 전압(V1)을 결정한다.
단계 620에서, 제어부(130)는, 제2 전압 센서(122)로부터의 전압 신호를 기초로, 제2 진단 전압(V2)을 결정한다.
단계 630에서, 제어부(130)는, 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달하였는지 여부를 판정한다. 단계 630의 값이 "YES"인 경우, 제어부(130)는 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점을 기록한 다음 단계 640이 진행될 수 있다. 단계 630의 값이 "NO"인 경우, 단계 610으로 돌아갈 수 있다.
단계 640에서, 제어부(130)는, 초기 시점부터 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점까지의 경과 기간이 제1 임계 기간 이상인지 여부를 판정한다. 단계 640의 값이 "YES"인 경우, 단계 670이 진행될 수 있다. 단계 640의 값이 "NO"인 경우, 단계 680이 진행될 수 있다.
단계 650에서, 제어부(130)는, 제2 진단 전압(V2)이 임계 전압(VTH)에 도달하였는지 여부를 판정한다. 단계 650의 값이 "YES"인 경우, 제어부(130)는 제2 진단 전압(V2)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점을 기록한 다음 단계 660이 진행될 수 있다. 단계 650의 값이 "NO"인 경우, 단계 610으로 돌아갈 수 있다.
단계 660에서, 제어부(130)는, 초기 시점부터 제2 진단 전압(V2)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점까지의 경과 기간이 제2 임계 기간 이상인지 여부를 판정한다. 단계 660의 값이 "YES"인 경우, 단계 670이 진행될 수 있다. 단계 660의 값이 "NO"인 경우, 단계 680이 진행될 수 있다.
단계 670에서, 제어부(130)는, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 둘 다의 오픈 고장이 발생하지 않았음을 나타내는 진단 메시지를 출력한다.
단계 680에서, 제어부(130)는, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 적어도 하나가 오픈 고장임을 나타내는 진단 메시지를 출력한다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따라 배터리 관리 시스템에 포함되는 회로 기판(10)을 테스트하는 방법을 보여주는 순서도이다.
도 1 내지 도 5 및 도 7을 참조하면, 단계 700에서, 제어부(130)는, 전압원(110)에게 온 명령을 전송한다. 전압원(110)은, 온 명령에 응답하여, 초기 시점부터 제3 테스트 포인트(43) 상에 테스트 전압(VTEST)을 인가한다.
단계 710에서, 제어부(130)는, 제1 전압 센서(121)로부터의 전압 신호를 기초로, 제1 진단 전압(V1)을 결정한다.
단계 720에서, 제어부(130)는, 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달하였는지 여부를 판정한다. 단계 720의 값이 "YES"인 경우, 제어부(130)는 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점을 기록한 다음 단계 730이 진행될 수 있다. 단계 720의 값이 "NO"인 경우, 단계 710으로 돌아갈 수 있다.
단계 730에서, 제어부(130)는, 초기 시점부터 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점까지의 경과 기간이 제1 임계 기간보다 짧고 제1 감시 기간 이상인지 여부를 판정한다. 단계 730의 값이 "YES"인 경우, 단계 740이 진행될 수 있다. 단계 730의 값이 "NO"인 경우, 단계 750이 진행될 수 있다.
단계 740에서, 제어부(130)는, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 제2 커패시터(32)만이 오픈 고장임을 나타내는 진단 메시지를 출력한다.
단계 750에서, 제어부(130)는, 초기 시점부터 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점까지의 경과 기간이 제1 감시 기간보다 짧고 제2 감시 기간 이상인지 여부를 판정한다. 단계 750의 값이 "YES"인 경우, 단계 760이 진행될 수 있다. 단계 750의 값이 "NO"인 경우, 단계 770이 진행될 수 있다.
단계 760에서, 제어부(130)는, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 제1 커패시터(31)만이 오픈 고장임을 나타내는 진단 메시지를 출력한다.
단계 770에서, 제어부(130)는, 초기 시점부터 제2 진단 전압(V2)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점까지의 경과 기간이 제2 감시 기간보다 짧은지 여부를 판정한다. 단계 770의 값이 "YES"인 경우, 단계 780이 진행될 수 있다.
단계 780에서, 제어부(130)는, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 둘 다 오픈 고장임을 나타내는 진단 메시지를 출력한다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따라 배터리 관리 시스템에 포함되는 회로 기판(10)을 테스트하는 방법을 보여주는 순서도이다.
도 1 내지 도 5 및 도 8을 참조하면, 단계 800에서, 제어부(130)는, 전압원(110)에게 온 명령을 전송한다. 전압원(110)은, 온 명령에 응답하여, 초기 시점부터 제3 테스트 포인트(43) 상에 테스트 전압(VTEST)을 인가한다.
단계 810에서, 제어부(130)는, 제1 전압 센서(121)로부터의 전압 신호를 기초로, 제1 진단 전압(V1)을 결정한다.
단계 820에서, 제어부(130)는, 제2 전압 센서(122)로부터의 전압 신호를 기초로, 제2 진단 전압(V2)을 결정한다.
단계 830에서, 제어부(130)는, 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달하였는지 여부를 판정한다. 단계 830의 값이 "YES"인 경우, 제어부(130)는 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점을 기록한 다음 단계 850이 진행될 수 있다. 단계 830의 값이 "NO"인 경우, 단계 810으로 돌아갈 수 있다.
단계 840에서, 제어부(130)는, 제2 진단 전압(V2)이 임계 전압(VTH)에 도달하였는지 여부를 판정한다. 단계 840의 값이 "YES"인 경우, 제어부(130)는 제2 진단 전압(V2)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점을 기록한 다음 단계 850이 진행될 수 있다. 단계 840의 값이 "NO"인 경우, 단계 810으로 돌아갈 수 있다.
단계 850에서, 제어부(130)는, 제1 진단 전압(V1)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점이 제2 진단 전압(V2)이 임계 전압(VTH)에 도달한 시점과 동일한지 여부를 판정한다. 단계 850의 값이 "YES"인 경우, 단계 860이 진행될 수 있다.
단계 860에서, 제어부(130)는, 제1 커패시터(31) 및 제2 커패시터(32) 중 적어도 제2 커패시터(32)가 오픈 고장임을 나타내는 진단 메시지를 출력한다.
전술한 본 발명에 의하면, 배터리 관리 시스템에 포함된 회로 기판(10)의 이미지를 촬영 및 분석하는 과정없이도 회로 기판(10) 상에 실장되어 있는 2개의 커패시터(31, 32) 각각의 오픈 불량을 테스트할 수 있다. 또한, 단일의 테스트용 신호(즉, 테스트 전압)를 인가하여 2차 RC 필터에 포함된 2개의 커패시터(31, 32) 중 적어도 하나의 오픈 불량을 검출할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명의 실시예는 장치 및 방법을 통해서만 구현이 되는 것은 아니며, 본 발명의 실시예의 구성에 대응하는 기능을 실현하는 프로그램 또는 그 프로그램이 기록된 기록 매체를 통해 구현될 수도 있으며, 이러한 구현은 앞서 설명한 실시예의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야의 전문가라면 쉽게 구현할 수 있는 것이다.
이상에서 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.
또한, 이상에서 설명한 본 발명은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하므로 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니라, 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수 있다.
10: 회로 기판
21: 제1 저항
22: 제2 저항
31: 제1 커패시터
32: 제2 커패시터
100: 테스트 장치
110: 전압원
121: 제1 전압 센서
122: 제2 전압 센서
130: 제어부
140: 정보 출력부

Claims (12)

  1. 제1 저항 소자; 제1 커패시터; 제2 저항 소자; 제2 커패시터; 상기 제1 저항 소자의 일단, 상기 제1 커패시터의 일단 및 상기 제2 저항 소자의 일단에 공통적으로 연결된 제1 테스트 포인트; 상기 제2 저항 소자의 타단 및 상기 제2 커패시터의 일단에 공통적으로 연결된 제2 테스트 포인트; 상기 제1 저항 소자의 타단에 연결된 제3 테스트 포인트; 및 상기 제1 커패시터의 타단 및 상기 제2 커패시터의 타단에 공통적으로 연결된 제4 테스트 포인트를 포함하는 배터리 관리 시스템의 회로 기판을 테스트하기 위한 장치에 있어서,
    테스트 전압을 선택적으로 생성하도록 구성된 전압원;
    상기 제1 테스트 포인트와 상기 제4 테스트 포인트 사이에 발생한 제1 진단 전압을 검출하도록 구성된 제1 전압 센서;
    상기 제2 테스트 포인트와 상기 제4 테스트 포인트 사이에 발생한 제2 진단 전압을 검출하도록 구성된 제2 전압 센서; 및
    상기 전압원, 상기 제1 전압 센서 및 상기 제2 전압 센서에 동작 가능하게 결합된 제어부를 포함하고,
    상기 제어부는,
    상기 전압원에게 상기 제3 테스트 포인트 상에 상기 테스트 전압을 인가하도록 명령하고,
    상기 제1 진단 전압 및 상기 제2 진단 전압 중 적어도 하나를 기초로, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 적어도 하나의 오픈 불량이 발생하였는지 여부를 판정하도록 구성된, 테스트 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제1 진단 전압이 상기 테스트 전압보다 낮게 미리 정해진 임계 전압에 도달하는 제1 시점을 기록하고,
    상기 제3 테스트 포인트 상에 상기 테스트 전압이 인가되기 시작하는 초기 시점으로부터 상기 제1 시점까지의 제1 경과 기간이 미리 정해진 제1 임계 기간 이상 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터의 오픈 불량이 발생하지 않은 것으로 판정하도록 구성된, 테스트 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제1 경과 기간이 상기 제1 임계 기간보다 짧고 미리 정해진 제1 감시 기간 이상인 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 상기 제2 커패시터만이 오픈 불량인 것으로 판정하도록 구성된, 테스트 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제1 경과 기간이 상기 제1 감시 기간보다 짧고 미리 정해진 제2 감시 기간 이상인 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 상기 제1 커패시터만이 오픈 불량인 것으로 판정하도록 구성된, 테스트 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제1 경과 기간이 상기 제2 감시 기간보다 짧은 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 둘 다 오픈 불량인 것으로 판정하도록 구성된, 테스트 장치.
  6. 제2항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제2 진단 전압이 상기 임계 전압에 도달하는 제2 시점을 기록하고,
    상기 제1 시점과 상기 제2 시점이 서로 동일한 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 적어도 상기 제2 커패시터가 오픈 불량인 것으로 판정하도록 구성된, 테스트 장치.
  7. 제2항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제2 진단 전압이 상기 임계 전압에 도달하는 제2 시점을 기록하고,
    상기 초기 시점으로부터 상기 제2 시점까지의 제2 경과 기간이 상기 제1 임계 기간보다 길게 미리 정해진 제2 임계 기간 이상 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 둘 다의 오픈 불량이 발생하지 않은 것으로 판정하도록 구성된, 테스트 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 판정의 결과를 나타내는 진단 메시지를 출력하도록 구성된, 테스트 장치.
  9. 제1 저항 소자; 제1 커패시터; 제2 저항 소자; 제2 커패시터; 상기 제1 저항 소자의 일단, 상기 제1 커패시터의 일단 및 상기 제2 저항 소자의 일단에 공통적으로 연결된 제1 테스트 포인트; 상기 제2 저항 소자의 타단 및 상기 제2 커패시터의 일단에 공통적으로 연결된 제2 테스트 포인트; 상기 제1 저항 소자의 타단에 연결된 제3 테스트 포인트; 및 상기 제1 커패시터의 타단 및 상기 제2 커패시터의 타단에 공통적으로 연결된 제4 테스트 포인트를 포함하는 배터리 관리 시스템의 회로 기판을 테스트하기 위한 방법에 있어서,
    전압원에게 상기 제3 테스트 포인트 상에 테스트 전압을 인가하도록 명령하는 단계;
    상기 제1 테스트 포인트와 상기 제4 테스트 포인트 사이에 발생한 제1 진단 전압이 상기 테스트 전압보다 낮게 미리 정해진 임계 전압에 도달하는 시점을 기록하는 단계; 및
    상기 제3 테스트 포인트 상에 상기 테스트 전압이 인가되기 시작하는 초기 시점부터 상기 기록된 시점까지의 경과 기간이 미리 정해진 제1 임계 기간 이상 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터의 오픈 불량이 발생하지 않았음을 나타내는 진단 메시지를 출력하는 단계;
    를 포함하는, 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 경과 기간이 상기 제1 임계 기간보다 짧고 미리 정해진 제1 감시 기간 이상인 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 상기 제2 커패시터만이 오픈 불량임을 나타내는 진단 메시지를 출력하는 단계;
    를 더 포함하는, 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 경과 기간이 상기 제1 감시 기간보다 짧고 미리 정해진 제2 감시 기간 이상인 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 중 상기 제1 커패시터만이 오픈 불량임을 나타내는 진단 메시지를 출력하는 단계;
    를 더 포함하는, 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 경과 기간이 상기 제2 감시 기간 미만 경우, 상기 제1 커패시터 및 상기 제2 커패시터 둘 다 오픈 불량임을 나타내는 진단 메시지를 출력하는 단계;
    를 더 포함하는, 방법.
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