KR100845252B1 - 표시장치의 테스트장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 외부로부터 1차 전원전압을 공급받는 입력부; 입력부로부터 1차 전원전압을 공급받는 제1단자와, 외부로부터 참조전압을 공급받는 제2단자와, 1차 전원전압과 참조전압을 기초로 2차 전원전압을 생성하여 출력하는 제3단자를 포함하는 변환부; 변환부의 제2단자 및 제3단자에 연결되어 참조전압을 생성하는 제1회로부; 변환부로부터 출력된 제2차 전원전압을 외부로 출력하는 출력부; 변환부의 제3단자와 출력부 사이에 연결되어 출력을 선택하는 스위치부; 및 제1회로부에 생성된 참조전압과 출력부를 통해 출력되는 제2차 전원전압을 비교하고, 비교 결과에 따라 제1회로부에 남은 잔류 전원전압을 방전시키는 제2회로부를 포함하는 표시장치의 테스트장치를 제공한다.
표시장치, 테스트장치, 방전패스

Description

표시장치의 테스트장치{Test Jig for Display Device}
도 1은 종래 점등 테스트장치의 회로 구성도.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트장치의 개략적인 회로 구성도.
도 3은 도 2의 일부를 구체적으로 나타낸 회로 구성도.
<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명>
200: 테스트장치 210: 입력부
220: 변환부 230: 제1회로부
240: 제2회로부 260: 출력부
R1, R2: 저항기 SW: 스위치부
C: 커패시터 COMP: 비교기
TR: 스위칭 소자 ZD: 제너 다이오드
본 발명은 표시장치의 테스트장치에 관한 것이다.
최근, 평판표시장치(FPD: Flat Panel Display)는 멀티미디어의 발달과 함께 그 중요성이 증대되고 있다. 이에 부응하여 액정 디스플레이(Liquid Crystal Display: LCD), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel: PDP), 전계방출표시장치(Field Emission Display: FED), 전계발광표시장치(Light Emitting Device) 등과 같은 여러 가지의 평면형 디스플레이가 실용화되고 있다.
이와 같은 표시장치들은 드라이버 IC(Integrated Circuit)로부터 데이터신호와 스캔신호를 공급받아 원하는 영상을 표현할 수 있었다.
한편, 앞서 설명한 표시장치의 대부분은 공정단계에서 테스트장치(예: JIG)와 드라이버 IC를 연동하여 표시장치의 정상 작동 유무 및 패널의 상태를 관찰하였다.
이들 중 전계발광표시의 예를 들면, 전계발광표시장치 제품의 검사를 위해서는 기본적으로 점등 테스트를 하기 위하여 지그(JIG) 등을 사용하고 있다.
도 1은 종래 점등 테스트장치의 회로 구성도이다.
도 1을 참조하면, 종래 테스트장치(100)는 입력부(110), 변환부(120), 회로부(130), 스위치(SW) 및 출력부(160)를 포함한다.
변환부(120)는 DC/DC(Digital to Digital Converter) 등이 사용되며, 입력부(110)로부터 1차 전원전압을 공급받아 승압 된 2차 전원전압을 출력하는데, 이때 회로부(130)는 출력된 2차 전원전압이 일정하게 유지되도록 저항기(R1, R2)와 커패시터(C)와 같은 수동소자를 구비하게 되어 있다.
한편, 도 1과 같은 점등 테스트장치(100)는 표시장치 유닛(Unit)을 JIG에 장 착한 후, 표시장치 유닛의 패드(Pad)면을 지그에 형성된 회로기판(Printed Circuit Board; PCB) 패드와 접촉시킨다. 그리고 테스트장치(100)의 스위치(SW)를 턴온 하면 테스트장치(100)의 출력부(160)로부터 출력된 2차 전원전압이 드라이버 IC(Integrated Circuit)를 통해 표시장치 유닛에 공급되어 표시장치가 동작하게 되어 있다.
이와 같은 테스트에 의해, 변환부(120)의 커패시터(C)에는 안정적인 2차 전원전압을 표시장치 유닛에 공급하기 위한 일정량의 전하가 충전되어 있다. 커패시터(C)에 충전된 전하는 스위치(SW)가 턴 오프 상태가 되더라도 접지전압(GND)을 통해 방전되기까지는 일정시간이 요구된다.
따라서, 종래 테스트장치(100)를 이용하여 표시장치 유닛의 점등 테스트를 연속하여 빠르게 진행할 경우, 커패시터(C)에 남아 있는 전하는 과전류를 형성하게 되어 스위치(SW)를 턴온 함과 동시에 드라이버 IC에 과전류가 공급되었다.
이와 같은 현상은 고속, 반복적으로 스위치(SW)를 턴 온/오프할 경우, 커패시터(C)의 충 방전이 동시에 일어나게 되어 결국, 과전류 성 피크(Peak) 전압이 드라이버 IC를 손상시키는 문제를 유발하게 되었다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 표시장치의 점등 테스트를 안정적으로 시행할 수 있는 테스트장치를 제공하여 제품의 수율을 향상시키는 것이다.
상술한 과제를 해결하기 위해 본 발명은, 외부로부터 1차 전원전압을 공급받는 입력부; 입력부로부터 1차 전원전압을 공급받는 제1단자와, 외부로부터 참조전압을 공급받는 제2단자와, 1차 전원전압과 참조전압을 기초로 2차 전원전압을 생성하여 출력하는 제3단자를 포함하는 변환부; 변환부의 제2단자 및 제3단자에 연결되어 참조전압을 생성하는 제1회로부; 변환부로부터 출력된 제2차 전원전압을 외부로 출력하는 출력부; 변환부의 제3단자와 출력부 사이에 연결되어 출력을 선택하는 스위치부; 및 제1회로부에 생성된 참조전압과 출력부를 통해 출력되는 제2차 전원전압을 비교하고, 비교 결과에 따라 제1회로부에 남은 잔류 전원전압을 방전시키는 제2회로부를 포함하는 표시장치의 테스트장치를 제공한다.
제2회로부는, 스위치부가 턴 오프 되면, 제1회로부에 남은 잔류 전원전압을 방전시킬 수 있다.
제2회로부는, 참조전압과 2차 전원전압을 비교하여 비교 값을 출력하는 비교기와, 비교기로부터 비교 값을 공급받아 스위칭 동작하는 스위칭 소자를 포함하며, 참조전압과 출력부에서 출력된 2차 전원전압을 비교하여 참조전압이 크거나 같으면 비교기가 스위칭 소자를 구동하여 잔류 전원전압을 접지전압으로 방전시킬 수 있다.
비교부는, 스위칭 소자와 접지전압 사이에 형성된 제너 다이오드를 포함할 수 있다.
제1회로부는, 변환부의 제3단자와 접지전압 사이에 분압된 두 개 이상의 저항기와, 변환부의 제3단자와 접지전압 사이에 위치하는 하나 이상의 커패시터를 포함하며, 두 개 이상의 저항기의 분압 노드는 변환부의 제2단자에 연결될 수 있다.
출력부는, 유기전계발광표시장치의 드라이버 IC(Integrated Circuit)에 2차 전원전압을 공급하는 것일 수 있다.
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<일 실시예>
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트장치의 개략적인 회로 구성도이고, 도 3은 도 2의 일부를 구체적으로 나타낸 회로 구성도이다.
도 2에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 표시장치의 테스트장치(200)는, 외부로부터 1차 전원전압을 공급받는 입력부(210)가 형성된다. 그리고 입력부(210)로부터 1차 전원전압을 공급받는 제1단자(221)와, 외부로부터 참조전압을 공급받는 제2단자(222)와, 제1단자(221)로 공급된 1차 전원전압과 제2단자(222)로 공급된 참조전압을 기초로 2차 전원전압을 생성하여 출력하는 제3단자(223)를 포함하는 변환부(220)가 형성된다.
변환부(220)는 DC/DC(Digital to Digital Converter) 등이 사용될 수 있으며, 입력부(210)로부터 공급받은 1차 전원전압을 승압하여 2차 전원전압으로 출력하는 역할을 한다.
제1회로부(230)는 변환부(220)의 제2단자(222) 및 제3단자(223)에 연결되어 참조전압(Ref)을 생성하고, 변환부(220)의 제3단자(223)로부터 출력된 2차 전원전압을 안정화할 수 있도록 수동회로들로 구성될 수 있다.
스위치부(SW)는 회로부(230)의 제3단자(223)와 출력부(260) 사이에 전기적으로 연결된다. 즉, 스위치부(SW)는 회로부(230)의 제3단자(223)에 일단이 전기적으로 연결되고, 출력부(260)에 타단에 위치하여 변환부(220)로부터 출력되는 2차 전원전압의 출력 여부를 선택할 수 있다.
제2회로부(240)는 제1회로부(230)에 생성된 참조전압(Ref)과 출력부(260)를 통해 출력되는 제2차 전원전압을 비교하고, 비교 결과에 따라 제1회로부(230)에 남은 잔류 전원전압을 방전시킬 수 있다.
한편, 제2회로부(240)는 스위치부(SW)가 턴 오프 될 때 변환부(220)의 제3단자(223)로부터 출력된 2차 전원전압의 잔류 전원전압을 방전시켜 테스트장치(200)에 접촉된 표시장치 유닛에 과전류가 흐르는 것을 방지하는 역할을 한다.
삭제
도 3을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트장치를 더욱 자세하게 설명한다.
제1회로부(230)는 변환부(220)의 제2단자(222)와, 제2회로부(240)에 참조전압(Ref)을 공급하도록 변환부(220)의 제3단자(223)와 접지전압(GND) 사이에 분압된 두 개 이상의 저항기(R1, R2)와, 변환부(220)의 제3단자(223)와 접지전압(GND) 사이에 연결된 하나 이상의 커패시터(C)가 포함된다.
여기서, 두 개 이상의 저항기(R1, R2)간의 분압 노드는 변환부(220)의 제2단자(222)에 전기적으로 연결됨으로써 제1회로부(230)와 변환부(220) 간의 참조전압(Ref)을 형성할 수 있다. 이와 같은 제1회로부(230)는 변환부(220)의 제3단자(223)에서 출력되는 2차 전원전압이 안정적으로 출력되도록 할 수 있다.
여기서, 변환부(220)의 제2단자(222)는 변환부(220)의 제3단자(223)로 출력되는 출력전압 특정 값으로 설정하기 위해 사용되는 단자이거나 출력전압 값을 고정하기 위해 사용되는 단자일 수 있다.
또한, 제1회로부(230)와 변환부(220)의 제2단자(222) 간의 참조전압(Ref)은 두 개 이상의 저항기(R1, R2)간의 분압 노드를 통해서만 얻을 수 있는 것은 아님을 참조한다.
제2회로부(240)는 변환부(220)와 회로부(230) 간에 형성된 참조전압(Ref)과 출력부(260)를 통해 출력되는 2차 전원전압을 비교하는 비교기(COMP)와 비교기(COMP)의 출력단과 전기적으로 연결된 스위칭 소자(TR) 및 접지전압(GND)을 포함할 수 있다. 여기서, 스위칭 소자(TR)는 변환부(220)의 제3단자(223)에 제1전극이 연결되고 접지전압(GND)에 제2전극이 연결된다. 그리고 비교기(COMP)는 2차 전원전압을 공급받을 수 있도록 출력부(260)에 제1단이 연결되고, 참조전압(Ref)를 공급받을 수 있도록 제1회로부(230)의 분압 노드에 제2단이 연결되며, 참조전압(Ref)과 2차 전원전압의 비교 결과 값을 스위칭 소자(TR)에 전달하도록 스위칭 소자(TR)의 게이트 전극에 제3단이 연결된다.
이에 따라, 제2회로부(240)는 참조전압(Ref)과 2차 전원전압을 비교하여 참조전압(Ref)이 크면 비교기(COMP)가 스위칭 소자(TR)를 턴온 하게 되어 제1회로부(230)에 남은 잔류 전원전압이 스위칭 소자(TR)를 통해 접지전압(GND)으로 흐를 수 있도록 방전패스를 설정하게 된다. 여기서, 제1회로부(230)에 남은 잔류 전원전압은 제1회로부(230)에 포함된 수동회로 즉, 저항기(R1,R2)와 커패시터(C)에 남은 잔류 전원전압일 수 있다.
한편, 출력부(260)에는 표시장치 유닛에 2차 전원전압을 공급할 수 있도록 드라이버 IC(Integrated Circuit)를 포함하거나 표시장치 유닛에 드라이버 IC가 포함될 수도 있다.
앞서 설명한 스위칭 소자(TR)는 스위칭 트랜지스터로 N-MOS 또는 P-MOS 트랜지스터를 사용할 수 있으나 이에 한정되진 않는다.
그리고 제2회로부(240)에는 스위칭 소자(TR)와 접지전압(GND) 사이에 제너 다이오드(ZD)를 형성하여 방전패스로 유입된 전하를 빠르게 방전시키거나 일정 레벨을 유지할 수 있도록 추가적인 수동회로를 포함할 수 있다.
이상과 같이 구성된 테스트장치(200)는, 제1회로부(230)에 포함된 커패시터(C)에 차징된 전하(잔류 전원전압)를 방전시킬 수 있도록 제2회로부(240)의 내부에 구비된 비교기(COMP)를 사용한다.
만약, 스위칭 소자(TR)를 N-MOS 트랜지스터를 사용하였다면 본 발명에 따른 테스트장치(200)는 하기와 같은 동작을 하여 제1회로부(230)에 남은 잔류 전원전압을 방전시키게 될 것이다.
먼저, 테스트장치(200)에 표시장치 유닛을 장착한다. 이때, 테스트장치(200)의 출력부(260)에 전기적으로 연결된 피씨비(Printed Circuit Board; PCB) 패드(Pad)와 표시장치 유닛의 패드(Pad)면을 접촉시킨다.
그리고 이후 스위치부(SW)를 턴온 하게 되면, 변환부(220)의 제3단자(223)로부터 출력된 2차 전원전압이 출력부(260)를 통해 표시장치 유닛으로 공급되어 표시장치 유닛은 2차 전원전압에 상응하는 영상을 패널에 표현하게 된다.
여기서, 제2회로부(240)에 포함된 비교기(COMP)는 참조전압(Ref)과 2차 전원전압을 비교하는데, 출력부(260)로 2차 전원전압이 출력되고 있으므로 출력부(260)의 전압 값과 참조전압(Ref)의 관계는, 출력부(260)의 전압 값 ≥ 참조전압(Ref)이 성립된다.
이에 따라, 비교기(COMP)는 "LOW" 신호를 스위칭 소자(TR)에 공급하게 되어 N-MOS 트랜지스터인 스위칭 소자(TR)는 턴 오프 상태가 된다. 즉, 방전패스는 활성화 되지 않는 상태가 된다.
그러나 이후 스위치부(SW)를 턴 오프 하게 되면, 스위치부(SW)가 턴 오프 되었기 때문에 출력부(260)는 변환부(220)의 제3단자(223)로부터 출력되는 2차 전원전압의 공급이 차단된 상태가 된다.
이때는 2차 전원전압과 참조전압(Ref)의 관계가 출력부(260)의 전압 값 ≤ 참조전압(Ref)이 성립되므로, 제2회로부(240)의 비교기(COMP)는 "HIGH" 신호를 스위칭 소자(TR)에 공급하게 되어 N-MOS 트랜지스터인 스위칭 소자(TR)는 턴 온 상태가 된다. 즉, 방전패스가 활성화되어 제1회로부(230) 내에 포함된 커패시터(C)에 차징된 전하는 방전패스를 타고 접지전압(GND)을 통해 방전하게 된다.
테스트장치(200)의 이와 같은 동작은 고속, 반복적으로 표시장치 유닛을 검사할 경우, 커패시터(C)에 남아있는 잔류 전하를 자동으로 신속히 방전시킬 수 있기 때문에 고속, 반복적으로 연속하여 진행되는 표시장치 유닛의 점등검사 등을 안 정적으로 수행할 수 있게 된다.
이에 따라 드라이버 IC를 이용하여 구동하는 표시장치, 예를 들면 유기전계발광표시장치를 유닛 단위로 테스트를 수행할 때 발생하는 드라이버 IC의 불량 발생요소를 제거할 수 있는 테스트장치를 제공할 수 있게 된다. 따라서 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트장치는 안정적인 검사공정을 시행할 수 있음은 물론 제품의 수율을 향상시키는 효과가 있게 된다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
상술한 바와 같이 본 발명은, 표시장치의 점등 테스트를 안정적으로 시행할 수 있는 테스트장치를 제공하여 제품의 수율을 향상시키는 효과가 있다.

Claims (6)

  1. 외부로부터 1차 전원전압을 공급받는 입력부;
    상기 입력부로부터 상기 1차 전원전압을 공급받는 제1단자와, 외부로부터 참조전압을 공급받는 제2단자와, 상기 1차 전원전압과 상기 참조전압을 기초로 2차 전원전압을 생성하여 출력하는 제3단자를 포함하는 변환부;
    상기 변환부의 제2단자 및 제3단자에 연결되어 상기 참조전압을 생성하는 제1회로부;
    상기 변환부로부터 출력된 상기 제2차 전원전압을 외부로 출력하는 출력부;
    상기 변환부의 제3단자와 상기 출력부 사이에 연결되어 출력을 선택하는 스위치부; 및
    상기 제1회로부에 생성된 상기 참조전압과 상기 출력부를 통해 출력되는 상기 제2차 전원전압을 비교하고, 비교 결과에 따라 상기 제1회로부에 남은 잔류 전원전압을 방전시키는 제2회로부를 포함하는 표시장치의 테스트장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제2회로부는,
    상기 스위치부가 턴 오프 되면, 상기 제1회로부에 남은 상기 잔류 전원전압을 방전시키는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제2회로부는,
    상기 참조전압과 상기 2차 전원전압을 비교하여 비교 값을 출력하는 비교기와, 상기 비교기로부터 상기 비교 값을 공급받아 스위칭 동작하는 스위칭 소자를 포함하며,
    상기 참조전압과 상기 출력부에서 출력된 상기 2차 전원전압을 비교하여 상기 참조전압이 크거나 같으면 상기 비교기가 상기 스위칭 소자를 구동하여 상기 잔류 전원전압을 접지전압으로 방전시키는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 비교부는,
    상기 스위칭 소자와 상기 접지전압 사이에 형성된 제너 다이오드를 포함하는 표시장치의 테스트장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 제1회로부는,
    상기 변환부의 제3단자와 접지전압 사이에 분압된 두 개 이상의 저항기와,
    상기 변환부의 제3단자와 접지전압 사이에 위치하는 하나 이상의 커패시터를 포함하며,
    상기 두 개 이상의 저항기의 분압 노드는 상기 변환부의 제2단자에 연결된 표시장치의 테스트장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 출력부는,
    유기전계발광표시장치의 드라이버 IC(Integrated Circuit)에 상기 2차 전원전압을 공급하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 테스트장치.
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