CN111344580A - 用于测试电池管理系统中包括的电路板的设备和方法 - Google Patents
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Abstract
提供了用于测试电池管理系统中所包括的电路板的设备和方法。所述电路板包括共同连接到第一电阻元件的一端、第一电容器的一端和第二电阻元件的一端的第一测试点、共同连接到第二电阻元件的另一端和第二电容器的一端的第二测试点、连接到第一电阻元件的另一端的第三测试点以及共同连接到第一电容器的另一端和第二电容器的另一端的第四测试点。该设备基于第一测试点和第四测试点之间的第一诊断电压以及第二测试点和第四测试点之间的第二诊断电压来确定第一电容器和第二电容器中的至少一个的开路故障。
Description
技术领域
本公开涉及用于测试安装在电池管理系统中所包括的电路板上的电容器是否有开路故障的设备和方法。
本申请要求于2018年6月29日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2018-0075764的权益,该韩国专利申请的公开以引用方式完整地并入本文中。
背景技术
最近,对诸如膝上型计算机、摄像机和移动电话这样的便携式电子产品的需求急剧增加,并且随着电动车辆、储能蓄电池、机器人和卫星的大量发展,正在对能反复再充电的高性能电池进行许多研究。
目前,市售的电池包括镍镉电池、镍氢电池、镍锌电池、锂电池等,并且在这些电池当中,锂电池几乎没有或没有记忆效应,因此它们因其自由充电和放电、自放电速率非常低且能量密度高的优点而比基于镍的电池赢得更多关注。
电池管理系统包括安装有诸如无源元件或有源元件这样的控制并保护电池所必需的部件的电路板。通常,无源元件包括电阻器和电容器。根据欧姆定律,电阻器主要用于中断通向电池或外围电路的过电流,并且电容器主要用于使施加到电池或外围电路的电压平滑。
自动光学检查(AOI)可以使用二维或三维收集的电路板图像在短时间内检查安装在电路板上的部件的安装状况,并且由于其优点而被广泛使用,但不能完美地检测到电容器的开路故障。
发明内容
技术问题
本公开被设计用于解决上述问题,因此本公开涉及提供用于测试安装在电池管理系统中所包括的电路板上的电容器的开路故障的设备和方法。
本公开的这些和其它目的和优点可以根据以下描述来理解,并且将从本公开的实施方式显而易见。另外,将容易理解,本公开的目的和优点可以是用所附权利要求中阐述的装置及其组合来实现的。
技术方案
根据本公开的一方面的设备用于测试电池管理系统的电路板。所述电路板包括第一电阻器、第一电容器、第二电阻器、第二电容器、共同连接到所述第一电阻器的一端、所述第一电容器的一端和所述第二电阻器的一端的第一测试点、共同连接到所述第二电阻器的另一端和所述第二电容器的一端的第二测试点、连接到所述第一电阻器的另一端的第三测试点以及共同连接到所述第一电容器的另一端和所述第二电容器的另一端的第四测试点。该设备包括:电压源,该电压源被配置为选择性生成测试电压;第一电压传感器,该第一电压传感器被配置为检测在所述第一测试点和所述第四测试点之间生成的第一诊断电压;第二电压传感器,该第二电压传感器被配置为检测在所述第二测试点和所述第四测试点之间生成的第二诊断电压;以及控制单元,该控制单元可操作地联接到所述电压源、所述第一电压传感器和所述第二电压传感器。所述控制单元被配置为命令所述电压源向所述第三测试点施加所述测试电压。所述控制单元被配置为基于所述第一诊断电压和所述第二诊断电压中的至少一个来确定所述第一电容器和所述第二电容器中的至少一个是否有开路故障。
所述控制单元可以被配置为记录当所述第一诊断电压达到被预设为低于所述测试电压的阈值电压时的第一时间点。所述控制单元可以被配置为当从初始时间点到所述第一时间点的第一经过时段等于预设的第一阈值时段或比所述预设的第一阈值时段长时,确定所述第一电容器和所述第二电容器二者都没有开路故障。所述初始时间点是所述测试电压开始被施加到所述第三测试点的时间点。
所述控制单元可以被配置为当所述第一经过时段比所述第一阈值时段短并且等于预设的第一监测时段或比所述预设的第一监测时段长时,确定所述第一电容器和所述第二电容器当中只有所述第二电容器有开路故障。
所述控制单元可以被配置为当所述第一经过时段比所述第一监测时段短并且等于预设的第二监测时段或比所述预设的第二监测时段长时,确定所述第一电容器和所述第二电容器当中只有所述第一电容器有开路故障。
所述控制单元可以被配置为当所述第一经过时段比所述第二监测时段短时,确定所述第一电容器和所述第二电容器二者都有开路故障。
所述控制单元可以记录所述第二诊断电压达到所述阈值电压时的第二时间点。所述控制单元可以被配置为当所述第一时间点与所述第二时间点彼此相等时,确定所述第一电容器和所述第二电容器当中至少所述第二电容器有开路故障。
所述控制单元可以记录所述第二诊断电压达到所述阈值电压时的第二时间点。所述控制单元可以被配置为当从所述初始时间点到所述第二时间点的第二经过时段等于第二阈值时段或比所述第二阈值时段长时,确定所述第一电容器和所述第二电容器二者都没有开路故障,其中,所述第二阈值时段被预设为比所述第一阈值时段长。
所述控制单元可以被配置为输出指示所述确定的结果的诊断消息。
根据本公开的另一方面的方法用于测试电池管理系统的电路板。所述电路板包括第一电阻器、第一电容器、第二电阻器、第二电容器、共同连接到所述第一电阻器的一端、所述第一电容器的一端和所述第二电阻器的一端的第一测试点、共同连接到所述第二电阻器的另一端和所述第二电容器的一端的第二测试点、连接到所述第一电阻器的另一端的第三测试点以及共同连接到所述第一电容器的另一端和所述第二电容器的另一端的第四测试点。该方法包括以下步骤:命令电压源向所述第三测试点施加测试电压;记录在所述第一测试点和所述第四测试点之间生成的第一诊断电压达到预设为低于所述测试电压的阈值电压的时间点;以及当从初始时间点到所记录的所述时间点的经过时段等于预设的第一阈值时段或比所述预设的第一阈值时段长时,输出指示所述第一电容器和所述第二电容器二者都没有开路故障的诊断消息。所述初始时间点是所述测试电压开始被施加到所述第三测试点的时间点。
所述方法还可以包括当所述经过时段比所述第一阈值时段短并且等于预设的第一监测时段或比所述预设的第一监测时段长时,输出指示所述第一电容器和所述第二电容器当中只有所述第二电容器有开路故障的诊断消息。
所述方法还可以包括当所述经过时段比所述第一监测时段短并且等于预设的第二监测时段或比所述预设的第二监测时段长时,输出指示所述第一电容器和所述第二电容器当中只有所述第一电容器有开路故障的诊断消息。
所述方法还可以包括当所述经过时段比所述第二监测时段短时,输出指示所述第一电容器和所述第二电容器二者都有开路故障的诊断消息。
有益效果
根据本公开的实施方式中的至少一个,可以在没有捕获和分析电路板的图像的处理的情况下测试安装在电池管理系统中所包括的电路板上的电容器的开路故障。
另外,根据本公开的实施方式中的至少一个,可以通过施加单个测试信号来检测二阶RC滤波器中所包括的两个电容器中的至少一个的开路故障。
本公开的效果不限于以上提到的效果,并且本领域的技术人员将从所附权利要求中清楚地理解这些效果和其它效果。
附图说明
附图例示了本公开的优选实施方式,并且与对下述本公开的详细描述一起用于提供对本公开的技术方面的进一步理解,因此,本公开不应该被解释为限于附图。
图1是示出根据本公开的实施方式的电池管理系统中所包括的电路板和用于测试电路板的设备的配置的示例图。
图2是示出当在图1的电路板中所包括的第一电容器和第二电容器中未出现开路故障时第一诊断电压和第二诊断电压随时间推移的变化的曲线图。
图3是示出当在图1的电路板中所包括的第一电容器和第二电容器当中只有第二电容器出现开路故障时第一诊断电压V1和第二诊断电压随时间推移的变化的曲线图。
图4是示出当在图1的电路板中所包括的第一电容器和第二电容器当中只有第一电容器出现开路故障时第一诊断电压V1和第二诊断电压随时间推移的变化的曲线图。
图5是示出当图1的电路板中所包括的第一电容器和第二电容器二者都有开路故障时第一诊断电压和第二诊断电压随时间推移的变化的曲线图。
图6是示出根据本公开的另一实施方式的用于测试电池管理系统中所包括的电路板的方法的流程图。
图7是示出根据本公开的又一实施方式的用于测试电池管理系统中所包括的电路板的方法的流程图。
图8是示出根据本公开的再一实施方式的用于测试电池管理系统中所包括的电路板的方法的流程图。
具体实施方式
下文中,将参照附图详细地描述本公开的优选实施方式。在进行描述之前,应该理解,在说明书和所附的权利要求中使用的术语或词语不应该被理解为限于一般的或字典的含义,而是应该以使得发明人能够定义适于最佳说明的术语的原理为基础基于与本公开的技术方面对应的含义和概念来解释。
因此,本文中描述的实施方式以及在附图中示出的例示仅仅是本公开的最优选的实施方式,而不旨在充分描述本公开的技术方面,所以应该理解,可在提交本申请时形成各种其它等同形式和修改形式。
另外,在描述本公开时,当认为对相关已知元件或功能的特定详细描述使本公开的关键主题模糊不清时,在本文中省略所述详细描述。
包括诸如“第一”、“第二”等这样的序数的术语被用于在各个元素中区分一个元素与另一个元素,但是并不旨在通过这些术语来限制这些元素。
除非上下文另外清楚地指示,否则应该理解,当在本说明书中使用术语“包括”或“包含”时指明存在所述的元件,但是不排除存在或添加一个或更多个其它元件。另外,本文中使用的术语“控制单元”是指至少一个功能或操作的处理单元,并且这可以用硬件或软件单独或以组合方式来实现。
另外,在整个说明书中,还应该理解,当一个元件被称为与另一个元件“连接”时,该元件可直接与所述另一个元件连接,或者可存在其它元件或中间元件。
图1是示出根据本公开的实施方式的电池管理系统中所包括的电路板10和用于测试电路板10的设备100的配置的示例图。
参照图1,电路板10包括第一电阻器21、第二电阻器22、第一电容器31、第二电容器32、第一测试点41、第二测试点42、第三测试点43和第四测试点44。例如,通过焊接等将第一电阻器21、第二电阻器22、第一电容器31、第二电容器32、第一测试点41、第二测试点42、第三测试点43和第四测试点44中的每一个安装在电路板10上。
第一测试点41形成在第一电阻器21、第一电容器31和第二电阻器22之间。详细地,第一电阻器21的一端、第一电容器31的一端和第二电阻器22的一端共同连接到第一测试点41。
第二测试点42形成在第二电阻器22和第二电容器32之间。详细地,第二电阻器22的另一端和第二电容器32的一端共同连接到第二测试点42。
第三测试点43连接到第一电阻器21的另一端。第三测试点43是电路板10上的被施加测试电压作为用于检测第一电容器31和第二电容器32的开路故障的测试信号的指定位置。
第四测试点44形成在第一电容器31的另一端和第二电容器32的另一端之间。详细地,第一电容器31的另一端和第二电容器32的另一端共同连接到第四测试点44。第四测试点44可以连接到电路板10的接地端子。
通过如上所述的第一测试点41、第二测试点42、第三测试点43和第四测试点44电互连的第一电阻器21、第二电阻器22、第一电容器31和第二电容器32可以用作二阶RC滤波器电路。即,第一电阻器21和第一电容器31可以用作一阶RC滤波器,第二电阻器22和第二电容器32可以用作另一个一阶RC滤波器,并且这两个一阶RC滤波器可以通过第一测试点41连接,以实现二阶RC滤波器。
设备100包括电压源110、第一电压传感器121、第二电压传感器122、控制单元130和信息输出单元140。可选地,设备100还可以包括第一测试引脚101、第二测试引脚102、第三测试引脚103和第四测试引脚104。第一测试引脚101、第二测试引脚102、第三测试引脚103和第四测试引脚104被布置为,使得它们可以同时分别接触第一测试点41、第二测试点42、第三测试点43和第四测试点44。
电压源110被配置为根据来自控制单元130的命令而选择性生成测试电压。测试电压可以是例如脉冲电压。电压源110响应于来自控制单元130的ON(启用)命令而输出测试电压(例如,2V),并且响应于来自控制单元130的OFF(禁用)命令而停止输出测试电压。第三测试引脚103连接到电压源110的高电位端子,并且第四测试引脚104可以连接到电压源110的低电位端子。当电压源110向第三测试点43施加测试电压时,从第三测试点43流向第一测试点41的电流I0在第一测试点41处分流为I1和I2。即,电流I0大于电流I1和电流I2,并且等于电流I1与电流I2的总和。
第一电压传感器121的一端可以直接地或通过第一测试引脚101接触第一测试点41,并且第一电压传感器121的另一端可以直接地或通过第四测试引脚104接触第四测试点44。第一电压传感器121被配置为检测在第一测试点41和第四测试点44之间生成的第一诊断电压V1,并且将指示检测到的第一诊断电压V1的电压信号输出到控制单元130。
第二电压传感器122的一端可以直接地或通过第二测试引脚102接触第二测试点42,并且第二电压传感器122的另一端可以直接地或通过第四测试引脚104接触第四测试点44。第一电压传感器121的另一端和第二电压传感器122的另一端可以共同地连接到第四测试引脚104。第二电压传感器122被配置为检测在第二测试点42和第四测试点44之间生成的第二诊断电压V2,并且将指示检测到的第二诊断电压V2的电压信号输出到控制单元130。
控制单元130可操作地联接到电压源110、第一电压传感器121、第二电压传感器122和信息输出单元140。控制单元130可以经由诸如局域网(LAN)、控制器局域网(CAN)和菊花链这样的有线网络或诸如蓝牙、Zigbee和WiFi这样的局域无线网络与电压源110、第一电压传感器121、第二电压传感器122和信息输出单元140中的每一个通信。
控制单元130可以用硬件来实现,以包括专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理装置(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、微处理器和用于执行其它功能的电子单元中的至少一个。控制单元130可以在其中内置有存储装置,并且该存储装置可以是例如RAM、ROM、寄存器、硬盘、光学记录介质或磁记录介质。存储装置可以存储、更新和/或删除包括由开关控制器130执行的各种控制逻辑的程序和/或在执行控制逻辑时生成的数据。
控制单元130被配置为向电压源110输出ON命令,以引起电压源110输出测试电压,并且从电压源110响应于ON命令而开始输出测试电压的时间点(下文中称为“初始时间点”)起,收集来自第一电压传感器121的电压信号和来自第二电压传感器122的电压信号中的每一个。控制单元130基于来自第一电压传感器121的电压信号所指示的第一诊断电压V1和来自第二电压传感器122的电压信号所指示的第二诊断电压V2中的至少一个,确定第一电容器31和第二电容器32中的至少一个是否有开路故障,然后将指示确定结果的诊断消息发送到信息输出单元140。即,诊断消息可以指示第一电容器31或第二电容器32中的任一者或二者出现开路故障,或者第一电容器31和第二电容器32二者都未出现开路故障。
可以使用诸如(例如)显示器和扬声器这样的以可视或可听的方式输出信息的已知装置来实现信息输出单元140。信息输出单元140被配置为输出与由控制单元130发送的诊断消息对应的可视信息和可听信息中的至少一种。
控制单元130在通过测量从初始时间点起经过的时间实时地向第三测试点43施加测试电压的同时,监测第一诊断电压V1和第二诊断电压V2中的每一个随时间推移的变化。
图2是示出当在图1的电路板10中所包括的第一电容器31和第二电容器32中未出现开路故障时第一诊断电压V1和第二诊断电压V2随时间推移的变化的曲线图。
参照图1和图2,标示为实线的曲线201指示第一诊断电压V1的变化,并且标示为虚线的曲线202指示第二诊断电压V2的变化。在电压源110向第三测试点43施加测试电压VTEST的同时,第一电容器31被电流I1逐渐充电,并且第二电容器32被电流I2逐渐充电。
因此,第一诊断电压V1和第二诊断电压V2中的每一个从电压源110开始对第三测试点43施加测试电压VTEST时的初始时间点T0起逐渐增加。第一诊断电压V1等于第二电阻器22两端生成的电压与第二诊断电压V2之和。因此,从初始时间点T0起直到第二诊断电压V2等于第一诊断电压V1(即,直到I2=0A),第一诊断电压V1一直高于第二诊断电压V2,并且第二诊断电压V2增加以追赶第一个诊断电压V1。
参照图1和图2,控制单元130可以记录第一诊断电压V1达到阈值电压VTH的时间点T1,并且可选地,可以记录第二诊断电压V2达到阈值电压VTH的时间点T2。阈值电压VTH被预设为高于0V且低于测试电压VTEST。例如,当测试电压VTEST为2V时,阈值电压VTH可以为1.8V,即测试电压VTEST的90%。
控制单元130可以将从初始时间点T0到时间点T1经过的时段△T1与预设的第一阈值时段进行比较。可选地,控制单元130可以将从初始时间点T0到时间点T2经过的时段△T2与预设的第二阈值时段进行比较。如上所述,因为第二诊断电压V2增加得比第一诊断电压V1慢,所以第二阈值时段被预设为比第一阈值时段长。
如图2中所示,当经过的时段△T1等于第一阈值时段或比第一阈值时段长或者经过的时段△T2等于第二阈值时段或比第二阈值时段长时,控制单元130可以确定第一电容器31和第二电容器32没有开路故障,并输出第一诊断信息。第一诊断消息指示第一电容器31和第二电容器32都没有开路故障。
下文中,第一电阻器21的电阻被定义为R1,第二电阻器22的电阻被定义为R2,第一电容器31的电容被定义为C1,并且第二电容器32的电容被定义为C2。
图3是示出当在图1的电路板10中所包括的第一电容器31和第二电容器32当中只有第二电容器32出现开路故障时第一诊断电压V1和第二诊断电压V2随时间推移的变化的曲线图。
参照图1和图3,曲线301指示第一诊断电压V1的变化。当第二电容器32有开路故障时,电流不能流过第二电阻器22和第二电容器32(即,I2=0A),因此在第二电阻器22两端不生成电压。即,图1中示出的第一电阻器21、第二电阻器22、第一电容器31和第二电容器32不能再用作二阶RC滤波器,而用作包括第一电阻器21和第一电容器31的一阶RC滤波器。在这种情况下,第一测试点41的电位与第二测试点42的电位保持相等,所以曲线301还指示第二诊断电压V2的变化。即,第一诊断电压V1和第二诊断电压V2从初始时间点T0起根据下式1而增加。
<式1>
在式1中,τ1表示包括第一电阻器21和第一电容器31的一阶RC滤波器的时间常数,等于R1×C1。
此外,电流I2为0A表示电流I1等于电流I0。因此,当第二电容器32有开路故障时,第一电容器31的充电比其它情况快(参见图2),因此,第一诊断电压V1和第二诊断电压V2向着测试电压VTEST快速增大。结果,第一诊断电压V1和第二诊断电压V2在早于时间点T1的时间点T3同时达到阈值电压VTH。
控制单元130可以将从初始时间点T0到时间点T3经过的时段△T3与第一阈值时段和第一监测时段中的每一个进行比较。第一监测时段可以被预设为比第一阈值时段短。
如图3中所示,当经过的时段△T3比第一阈值时段短并且等于第一监测时段或比第一监测时段长时,控制单元130可以确定第一电容器31和第二电容器32当中只有第二电容器32出现开路故障,并输出第二诊断消息。第二诊断消息指示第二电容器32出现开路故障。
另外,如图3中所示,当经过的时段△T3比第一阈值时段短并且第一诊断电压V1和第二诊断电压V2在同一时间点达到阈值电压VTH时,控制单元130可以确定第一电容器31和第二电容器32当中至少第二电容器32有开路故障。
图4是示出当在图1的电路板10中所包括的第一电容器31和第二电容器32当中只有第一电容器31出现开路故障时第一诊断电压V1和第二诊断电压V2随时间推移的变化的曲线图。
参照图4,标示为实线的曲线401指示第一诊断电压V1的变化,并且标示为虚线的曲线402指示第二诊断电压V2的变化。当第一电容器31出现开路故障时,电流I1为0A,所以电流I2等于电流I0。即,图1中示出的第一电阻器21、第二电阻器22、第一电容器31和第二电容器32不能再用作二阶RC滤波器,而仅用作包括第一电阻器21、第二电阻器22和第二电容器32的一阶RC滤波器。因此,第一诊断电压V1根据式2而改变,并且第二诊断电压V2根据下式3而改变。
<式2>
<式3>
在式2和式3中,τ2是包括第一电阻器21、第二电阻器22和第二电容器32的一阶RC滤波器的时间常数,等于(R1+R2)×C2。本领域的技术人员将容易理解,当τ2小于τ1时,与仅第二电容器32有开路故障(参见图3)相比,第一诊断电压V1和第二诊断电压V2将向着测试电压VTEST快速增大,如图4中所示。即,第一诊断电压V1达到阈值电压VTH的时间点T4早于第二诊断电压V2达到阈值电压VTH的时间点T5,并且时间点T5早于图2的时间点T3。
控制单元130可以将从初始时间点T0到时间点T4经过的时段△T4与第一监测时段和第二监测时段中的每一个进行比较。第二监测时段可以被预设为比第一监测时段短。
当经过的时段△T4比第一监测时段短并且等于第二监测时段或比第二监测时段长时,控制单元130可以确定第一电容器31和第二电容器32当中只有第一电容器31出现开路故障,并输出第三诊断消息。第三诊断消息指示第一电容器31出现开路故障。
图5是示出当图1的电路板中所包括的第一电容器31和第二电容器32二者都有开路故障时第一诊断电压V1和第二诊断电压V2随时间推移的变化的曲线图。
参照图5,曲线501指示第一诊断电压V1和第二诊断电压V2的变化。当第一电容器31和第二电容器32二者都有开路故障时,电流可以不流过第一电阻器21、第二电阻器22、第一电容器31和第二电容器32(即,I1=I2=0A),因此第一电阻器21两端不生成电压并且第二电阻器22两端不生成电压。因此,第一诊断电压V1和第二诊断电压V2在初始时间点T0之后立即同时达到测试电压VTEST。
当从初始时间点T0到第一诊断电压V1和第二诊断电压V2中的至少一个达到阈值电压VTH或测试电压VTEST的时间点经过的时段比第二监测时段短时,控制单元130可以确定第一电容器31和第二电容器32二者都有开路故障,并输出第四诊断消息。第四诊断消息指示第一电容器31和第二电容器32二者都出现开路故障。
图6是示出根据本公开的另一实施方式的用于测试电池管理系统中所包括的电路板10的方法的流程图。
参照图1至图6,在步骤600中,控制单元130向电压源110发送ON命令。响应于ON命令,电压源110从初始时间点起将测试电压VTEST施加到第三测试点43。
在步骤610中,控制单元130基于来自第一电压传感器121的电压信号来确定第一诊断电压V1。
在步骤620中,控制单元130基于来自第二电压传感器122的电压信号来确定第二诊断电压V2。
在步骤630中,控制单元130确定第一诊断电压V1是否达到阈值电压VTH。当步骤630的值为“是”时,控制单元130记录第一诊断电压V1达到阈值电压VTH的时间点,然后可以执行步骤640。当步骤630的值为“否”时,该方法可以返回到步骤610。
在步骤640中,控制单元130确定从初始时间点到第一诊断电压V1达到阈值电压VTH的时间点经过的时段是否等于第一阈值时段或比第一阈值时段长。当步骤640的值为“是”时,可以执行步骤670。当步骤640的值为“否”时,可以执行步骤680。
在步骤650中,控制单元130确定第二诊断电压V2是否达到阈值电压VTH。当步骤650的值为“是”时,控制单元130记录第二诊断电压V2达到阈值电压VTH的时间点,然后可以执行步骤660。当步骤650的值为“否”时,该方法可以返回到步骤610。
在步骤660中,控制单元130确定从初始时间点到第二诊断电压V2达到阈值电压VTH的时间点经过的时段是否等于第二阈值时段或比第二阈值时段长。当步骤660的值为“是”时,可以执行步骤670。当步骤660的值为“否”时,可以执行步骤680。
在步骤670中,控制单元130输出指示第一电容器31和第二电容器32二者都没有开路故障的诊断消息。
在步骤680中,控制单元130输出指示第一电容器31和第二电容器32中的至少一个有开路故障的诊断消息。
图7是示出根据本公开的又一实施方式的用于测试电池管理系统中所包括的电路板10的方法的流程图。
参照图1至图5和图7,在步骤700中,控制单元130向电压源110发送ON命令。响应于ON命令,电压源110从初始时间点起将测试电压VTEST施加到第三测试点43。
在步骤710中,控制单元130基于来自第一电压传感器121的电压信号来确定第一诊断电压V1。
在步骤720中,控制单元130确定第一诊断电压V1是否达到阈值电压VTH。当步骤720的值为“是”时,控制单元130记录第一诊断电压V1达到阈值电压VTH的时间点,然后可以执行步骤730。当步骤720的值为“否”时,该方法可以返回到步骤710。
在步骤730中,控制单元130确定从初始时间点到第一诊断电压V1达到阈值电压VTH的时间点经过的时段是否比第一阈值时段短并且等于第一监测时段或比第一监测时段长。当步骤730的值为“是”时,可以执行步骤740。当步骤730的值为“否”时,可以执行步骤750。
在步骤740中,控制单元130输出指示第一电容器31和第二电容器32当中只有第二电容器32有开路故障的诊断消息。
在步骤750中,控制单元130确定从初始时间点到第一诊断电压V1达到阈值电压VTH的时间点经过的时段是否比第一监测时段短并且等于第二监测时段或比第二监测时段长。当步骤750的值为“是”时,可以执行步骤760。当步骤750的值为“否”时,可以执行步骤770。
在步骤760中,控制单元130输出指示第一电容器31和第二电容器32当中只有第一电容器31有开路故障的诊断消息。
在步骤770中,控制单元130确定从初始时间点到第二诊断电压V2达到阈值电压VTH的时间点经过的时段是否比第二监测时段短。当步骤770的值为“是”时,可以执行步骤780。
在步骤780中,控制单元130输出指示第一电容器31和第二电容器32二者都有开路故障的诊断消息。
图8是示出根据本公开的再一实施方式的用于测试电池管理系统中所包括的电路板10的方法的流程图。
参照图1至图5和图8,在步骤800中,控制单元130向电压源110发送ON命令。响应于ON命令,电压源110从初始时间点起将测试电压VTEST施加到第三测试点43。
在步骤810中,控制单元130基于来自第一电压传感器121的电压信号来确定第一诊断电压V1。
在步骤820中,控制单元130基于来自第二电压传感器122的电压信号来确定第二诊断电压V2。
在步骤830中,控制单元130确定第一诊断电压V1是否达到阈值电压VTH。当步骤830的值为“是”时,控制单元130记录第一诊断电压V1达到阈值电压VTH的时间点,然后可以执行步骤850。当步骤830的值为“否”时,该方法可以返回到步骤810。
在步骤840中,控制单元130确定第二诊断电压V2是否达到阈值电压VTH。当步骤840的值为“是”时,控制单元130记录第二诊断电压V2达到阈值电压VTH的时间点,然后可以执行步骤850。当步骤840的值为“否”时,该方法可以返回到步骤820。
在步骤850中,控制单元130确定第一诊断电压V1达到阈值电压VTH的时间点是否等于第二诊断电压V2达到阈值电压VTH的时间点。当步骤850的值为“是”时,可以执行步骤860。
在步骤860中,控制单元130输出指示第一电容器31和第二电容器32当中至少第二电容器32有开路故障的诊断消息。
根据上述本公开,能够在没有捕获和分析电池管理系统中所包括的电路板10的图像的处理的情况下测试安装在电路板10上的两个电容器31、32中的每一个的开路故障。另外,能够通过施加单个测试信号(即,测试电压)来检测二阶RC滤波器中所包括的两个电容器31、32中的至少一个的开路故障。
以上描述的本公开的实施方式不仅仅通过所述设备和方法来实现,并且可以通过实现与本公开的实施方式的配置对应的功能的程序或者在其上记录有这些程序的记录介质来实现,并且本领域的技术人员根据前述实施方式的公开可以容易地实现该实现方式。
虽然上文中已针对有限数量的实施方式和附图描述了本公开,但是本公开不限于此,并且对于本领域技术人员显而易见的是,可以在本公开的技术方面和所附的权利要求的等同范围内对本公开进行各种修改和改变。
另外,因为本领域的技术人员可以在不脱离本公开的技术方面的情况下,对上文中描述的本公开进行许多替换、修改和改变,所以本公开不限于上述实施方式和所附权利要求书,并且实施方式中的部分或全部可以被选择性组合,以允许进行各种修改。
<对附图标记的描述>
10:电路板
21:第一电阻器
22:第二电阻器
31:第一电容器
32:第二电容器
100:设备
110:电压源
121:第一电压传感器
122:第二电压传感器
130:控制单元
140:信息输出单元
Claims (12)
1.一种用于测试电池管理系统的电路板的设备,其中,所述电路板包括第一电阻器、第一电容器、第二电阻器、第二电容器、共同连接到所述第一电阻器的一端、所述第一电容器的一端和所述第二电阻器的一端的第一测试点、共同连接到所述第二电阻器的另一端和所述第二电容器的一端的第二测试点、连接到所述第一电阻器的另一端的第三测试点以及共同连接到所述第一电容器的另一端和所述第二电容器的另一端的第四测试点,该设备包括:
电压源,该电压源被配置为选择性地生成测试电压;
第一电压传感器,该第一电压传感器被配置为检测在所述第一测试点和所述第四测试点之间生成的第一诊断电压;
第二电压传感器,该第二电压传感器被配置为检测在所述第二测试点和所述第四测试点之间生成的第二诊断电压;以及
控制单元,该控制单元可操作地联接到所述电压源、所述第一电压传感器和所述第二电压传感器,
其中,所述控制单元被配置为:
命令所述电压源向所述第三测试点施加所述测试电压,并且
基于所述第一诊断电压和所述第二诊断电压中的至少一个来确定所述第一电容器和所述第二电容器中的至少一个是否有开路故障。
2.根据权利要求1所述的设备,其中,所述控制单元被配置为:
记录当所述第一诊断电压达到被预设为低于所述测试电压的阈值电压时的第一时间点,以及
当从初始时间点到所述第一时间点的第一经过时段等于预设的第一阈值时段或比所述预设的第一阈值时段长时,确定所述第一电容器和所述第二电容器二者都没有开路故障,其中,所述初始时间点是所述测试电压开始被施加到所述第三测试点的时间点。
3.根据权利要求2所述的设备,其中,所述控制单元被配置为当所述第一经过时段比所述第一阈值时段短并且等于预设的第一监测时段或比所述预设的第一监测时段长时,确定所述第一电容器和所述第二电容器当中只有所述第二电容器有开路故障。
4.根据权利要求3所述的设备,其中,所述控制单元被配置为当所述第一经过时段比所述第一监测时段短并且等于预设的第二监测时段或比所述预设的第二监测时段长时,确定所述第一电容器和所述第二电容器当中只有所述第一电容器有开路故障。
5.根据权利要求4所述的设备,其中,所述控制单元被配置为当所述第一经过时段比所述第二监测时段短时,确定所述第一电容器和所述第二电容器二者都有开路故障。
6.根据权利要求2所述的设备,其中,所述控制单元被配置为:
记录当所述第二诊断电压达到所述阈值电压时的第二时间点,并且
当所述第一时间点与所述第二时间点彼此相等时,确定所述第一电容器和所述第二电容器当中至少所述第二电容器有开路故障。
7.根据权利要求2所述的设备,其中,所述控制单元被配置为:
记录当所述第二诊断电压达到所述阈值电压时的第二时间点,并且
当从所述初始时间点到所述第二时间点的第二经过时段等于第二阈值时段或比所述第二阈值时段长时,确定所述第一电容器和所述第二电容器二者都没有开路故障,其中,所述第二阈值时段被预设为比所述第一阈值时段长。
8.根据权利要求1所述的设备,其中,所述控制单元被配置为输出指示确定的结果的诊断消息。
9.一种用于测试电池管理系统的电路板的方法,其中,所述电路板包括第一电阻器、第一电容器、第二电阻器、第二电容器、共同连接到所述第一电阻器的一端、所述第一电容器的一端和所述第二电阻器的一端的第一测试点、共同连接到所述第二电阻器的另一端和所述第二电容器的一端的第二测试点、连接到所述第一电阻器的另一端的第三测试点以及共同连接到所述第一电容器的另一端和所述第二电容器的另一端的第四测试点,该方法包括以下步骤:
命令电压源向所述第三测试点施加测试电压;
记录在所述第一测试点和所述第四测试点之间生成的第一诊断电压达到预设为低于所述测试电压的阈值电压时的时间点;以及
当从初始时间点到所记录的时间点的经过时段等于预设的第一阈值时段或比所述预设的第一阈值时段长时,输出指示所述第一电容器和所述第二电容器二者都没有开路故障的诊断消息,其中,所述初始时间点是所述测试电压开始被施加到所述第三测试点的时间点。
10.根据权利要求9所述的方法,所述方法还包括以下步骤:
当所述经过时段比所述第一阈值时段短并且等于预设的第一监测时段或比所述预设的第一监测时段长时,输出指示所述第一电容器和所述第二电容器当中只有所述第二电容器有开路故障的诊断消息。
11.根据权利要求10所述的方法,所述方法还包括以下步骤:
当所述经过时段比所述第一监测时段短并且等于预设的第二监测时段或比所述预设的第二监测时段长时,输出指示所述第一电容器和所述第二电容器当中只有所述第一电容器有开路故障的诊断消息。
12.根据权利要求11所述的方法,所述方法还包括以下步骤:
当所述经过时段比所述第二监测时段短时,输出指示所述第一电容器和所述第二电容器二者都有开路故障的诊断消息。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113447858A (zh) * | 2020-11-11 | 2021-09-28 | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 | 电路背板检测装置及检测方法 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11418041B2 (en) * | 2019-03-15 | 2022-08-16 | Lg Energy Solution, Ltd. | Battery system |
US11031948B1 (en) * | 2020-09-28 | 2021-06-08 | Baker Hughes Oilfield Operations Llc | Diagnostic system |
WO2023214429A1 (en) * | 2022-05-05 | 2023-11-09 | Ultraviolette Automotive Private Limited | An unique test method for effectively detecting faults in electrical interconnection in a battery pack |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04151571A (ja) * | 1990-10-15 | 1992-05-25 | Toshiba Corp | コンデンサ異常検出回路 |
KR20110100793A (ko) * | 2010-03-05 | 2011-09-15 | 삼성전기주식회사 | 수동소자가 내장된 인쇄회로기판의 이상 유무 판단 방법 |
US20120150459A1 (en) * | 2010-12-10 | 2012-06-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Testing device, test system including the same, and method thereof |
JP2012132725A (ja) * | 2010-12-20 | 2012-07-12 | Yazaki Corp | 絶縁状態検出ユニットのフライングキャパシタ故障検出装置 |
JP2012189378A (ja) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Yazaki Corp | 絶縁状態検出ユニット |
CN104777419A (zh) * | 2014-01-10 | 2015-07-15 | 罗伯特·博世有限公司 | 识别电池负载开关作用能力的方法和具有相关设备的电池 |
CN107430165A (zh) * | 2015-03-11 | 2017-12-01 | 日立汽车系统株式会社 | 电池管理装置、电池监视电路、控制系统 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4221196A1 (de) | 1992-06-27 | 1994-01-05 | Teves Gmbh Alfred | Schaltungsanordnung zur Überwachung einer induktiven Schaltung |
US6737875B2 (en) | 2000-05-22 | 2004-05-18 | Damerco, Inc. | Method and apparatus for in-circuit impedance measurement |
US6624640B2 (en) * | 2001-02-07 | 2003-09-23 | Fluke Corporation | Capacitance measurement |
US7183934B2 (en) * | 2005-03-23 | 2007-02-27 | Robertshaw Controls Company | Diagnostic circuit |
KR20060029268A (ko) | 2006-03-15 | 2006-04-05 | 김진호 | 통합 회로검사장치 |
KR100845252B1 (ko) * | 2006-09-22 | 2008-07-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치의 테스트장치 |
JP5242980B2 (ja) | 2007-10-09 | 2013-07-24 | ファナック株式会社 | コンデンサ故障検出回路および電源装置 |
US8941394B2 (en) * | 2008-06-25 | 2015-01-27 | Silicon Laboratories Inc. | Capacitive sensor system with noise reduction |
KR101085752B1 (ko) | 2010-05-10 | 2011-11-21 | 삼성전기주식회사 | 회로 기판 및 상기 회로 기판에 장착된 성분의 테스트 방법 |
US8872522B2 (en) | 2011-01-28 | 2014-10-28 | Hamilton Sundstrand Corporation | Frequency based fault detection |
KR20120120706A (ko) | 2011-04-25 | 2012-11-02 | 삼성전자주식회사 | 보조 전원 장치 및 보조 전원 장치를 포함하는 사용자 장치 |
KR101295182B1 (ko) * | 2012-05-16 | 2013-08-09 | (주)미섬시스텍 | 배터리 보호 회로의 테스트 장치 및 그의 수동 소자 측정 방법 |
KR102210985B1 (ko) | 2014-01-14 | 2021-02-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 구동집적회로, 이를 포함하는 표시장치 및 결합저항 측정 방법 |
US9442151B2 (en) * | 2014-06-09 | 2016-09-13 | Sandisk Technologies Llc | Methods, systems, and computer readable media for detecting electrical disconnection between integrated circuit chip electrical connections and corresponding electrical contacts on a printed circuit board or chip socket during testing of the chip under environmental conditions |
JP6015718B2 (ja) * | 2014-07-14 | 2016-10-26 | トヨタ自動車株式会社 | 情報出力装置 |
KR20170059741A (ko) | 2015-11-23 | 2017-05-31 | 한국전기연구원 | 인버터 직류 입력단 커패시터 진단 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 기록 매체 |
US9876369B2 (en) * | 2016-03-15 | 2018-01-23 | Lg Chem, Ltd. | Battery system and method for determining an open circuit fault condition in a battery module |
KR101924904B1 (ko) | 2016-12-26 | 2018-12-05 | 전성훈 | 오토바이용 안전슈트 |
-
2018
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04151571A (ja) * | 1990-10-15 | 1992-05-25 | Toshiba Corp | コンデンサ異常検出回路 |
KR20110100793A (ko) * | 2010-03-05 | 2011-09-15 | 삼성전기주식회사 | 수동소자가 내장된 인쇄회로기판의 이상 유무 판단 방법 |
US20120150459A1 (en) * | 2010-12-10 | 2012-06-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Testing device, test system including the same, and method thereof |
JP2012132725A (ja) * | 2010-12-20 | 2012-07-12 | Yazaki Corp | 絶縁状態検出ユニットのフライングキャパシタ故障検出装置 |
JP2012189378A (ja) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Yazaki Corp | 絶縁状態検出ユニット |
CN104777419A (zh) * | 2014-01-10 | 2015-07-15 | 罗伯特·博世有限公司 | 识别电池负载开关作用能力的方法和具有相关设备的电池 |
CN107430165A (zh) * | 2015-03-11 | 2017-12-01 | 日立汽车系统株式会社 | 电池管理装置、电池监视电路、控制系统 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113447858A (zh) * | 2020-11-11 | 2021-09-28 | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 | 电路背板检测装置及检测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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US11262417B2 (en) | 2022-03-01 |
EP3702794A1 (en) | 2020-09-02 |
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