KR20190129573A - 온도 측정 회로 진단 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명에 따른 온도 측정 회로 진단 장치는 일단이 전압원과 전기적으로 연결된 제1 저항 소자 및 일단이 상기 제1 저항 소자의 타단과 전기적으로 연결되고, 타단이 접지와 전기적으로 연결되며, 온도에 따라 저항값이 변화하는 온도 측정 소자를 구비하는 온도 측정 회로의 고장 여부를 진단하는 온도 측정 회로 진단 장치로써, 일단이 상기 전압원 및 상기 제1 저항 소자의 일단과 전기적으로 연결되고, 온도에 따라 저항값이 변화하는 진단 소자; 상기 제1 저항 소자와 상기 온도 측정 소자 사이에 위치하고, 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 제1 저항 소자의 타단, 상기 진단 소자의 타단 및 상기 접지 중 어느 하나를 전기적으로 연결시키는 제1 스위치 소자; 및 상기 온도 측정 소자의 고장 여부의 진단을 요청하는 제1 진단 요청 신호의 입력 여부에 대응하여 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 진단 소자의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자를 제어하고, 상기 온도 측정 소자에 인가된 제1 전압에 기초하여 상기 온도 측정 소자의 고장 여부를 진단하는 프로세서를 포함한다.
Description
본 발명은 온도 측정 회로 진단 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 온도를 측정하는 온도 측정 회로에 구비된 온도 측정 소자의 고장 여부를 진단하는 온도 측정 회로 진단 장치에 관한 것이다.
최근, 노트북, 비디오 카메라, 휴대용 전화기 등과 같은 휴대용 전자 제품의 수요가 급격하게 증대되고, 전기 자동차, 에너지 저장용 축전지, 로봇, 위성 등의 개발이 본격화됨에 따라, 반복적인 충방전이 가능한 고성능 이차 전지에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다.
현재 상용화된 이차 전지로는 니켈 카드뮴 전지, 니켈 수소 전지, 니켈 아연 전지, 리튬 이차 전지 등이 있는데, 이 중에서 리튬 이차 전지는 니켈 계열의 이차 전지에 비해 메모리 효과가 거의 일어나지 않아 충방전이 자유롭고, 자가 방전율이 매우 낮으며 에너지 밀도가 높은 장점으로 각광을 받고 있다.
한편, 이러한 이차 전지는 단일의 이차 전지로 사용되는 경우도 있지만, 고전압 및/또는 대용량의 전력 저장 장치를 제공하기 위해 복수의 이차 전지가 직렬 및/또는 병렬로 연결된 상태로 사용되는 경우가 많으며, 내부의 이차 전지의 충방전 동작을 전반적으로 제어하는 배터리 관리 장치가 포함된 배터리 팩의 형태로 사용되고 있다.
이러한 배터리 팩에 사용되는 배터리 관리 장치는, 온도 측정 회로, 전류 측정 회로, 전압 측정 회로 등을 이용하여 배터리의 상태를 모니터링하고, 이러한 모니터링 결과를 이용하여 SOC, SOH를 추정하거나 배터리 간의 전압을 밸런싱하거나 과충전, 과전류, 고전압, 과전류, 저온, 고온 등으로부터 배터리를 보호하는 기능을 수행한다.
특히, 배터리의 상태를 모니터링 하는데 있어서, 배터리의 온도는 SOC, SOH를 추정하기 위해 필수적으로 사용되는 데이터이다. 이에 따라, 배터리의 온도를 측정하는 온도 측정 회로에 고장이 발생하거나 측정 온도값의 오차가 증가하는 경우, 배터리의 온도를 이용하여 추정되는 SOC, SOH를 추정할 수 없거나, 추정된 SOC, SOH의 오차율이 증가하는 문제점이 발생한다.
이러한 문제점을 해결하기 위하여 종래의 온도 측정 회로 진단 방법은 별도의 온도 측정기로부터 측정된 온도값과 온도 측정 회로로부터 측정된 온도값을 주기적으로 비교하고, 온도 측정기로부터 측정된 온도값과 온도 측정 회로로부터 측정된 온도값 간의 온도차가 일정 범위를 벗어나는 경우, 온도 측정 회로에 고장이 발생한 것으로 진단한다. 종래의 온도 측정 방법은 별도의 온도 측정 장치를 이용해야 하므로 배터리 팩 자체에서 온도 측정 회로의 고장 여부를 진단하지 못하는 문제점이 있다. 또한, 온도 측정 회로에 고장이 발생한 것으로 진단되면, 부품을 교체하는 방법 외에 온도 측정 회로의 고장을 수리하는 방법이 없는 문제점이 있다.
이에 따라, 온도 측정 회로의 고장 여부를 배터리 팩 내에서 자체적으로 진단하고, 온도 측정 회로에 고장이 발생하는 경우, 부품을 교체하는 방법 외에 온도 측정 회로를 수리할 수 있는 방법이 요구되고 있다.
본 발명은 전압원과 접지 사이에서 직렬 연결된 온도 측정 회로의 제1 저항 소자와 온도 측정 소자 중 제1 저항 소자를 대신하여 진단 소자가 온도 측정 소자와 전기적으로 연결되도록 프로세서가 제1 스위치 소자를 제어하고, 온도 측정 소자에 인가된 제1 전압에 기초하여 온도 측정 소자의 고장 여부를 진단할 수 있는 온도 측정 회로 진단 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있고, 본 발명의 실시예에 의해 보다 분명하게 이해될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허 청구 범위에 나타낸 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 온도 측정 회로 진단 장치는 일단이 전압원과 전기적으로 연결된 제1 저항 소자 및 일단이 상기 제1 저항 소자의 타단과 전기적으로 연결되고, 타단이 접지와 전기적으로 연결되며, 온도에 따라 저항값이 변화하는 온도 측정 소자를 구비하는 온도 측정 회로의 고장 여부를 진단하는 온도 측정 회로 진단 장치로써, 일단이 상기 전압원 및 상기 제1 저항 소자의 일단과 전기적으로 연결되고, 온도에 따라 저항값이 변화하는 진단 소자; 상기 제1 저항 소자와 상기 온도 측정 소자 사이에 위치하고, 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 제1 저항 소자의 타단, 상기 진단 소자의 타단 및 상기 접지 중 어느 하나를 전기적으로 연결시키는 제1 스위치 소자; 및 상기 온도 측정 소자의 고장 여부의 진단을 요청하는 제1 진단 요청 신호의 입력 여부에 대응하여 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 진단 소자의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자를 제어하고, 상기 온도 측정 소자에 인가된 제1 전압에 기초하여 상기 온도 측정 소자의 고장 여부를 진단하는 프로세서를 포함한다.
바람직하게, 상기 프로세서는 상기 제1 진단 요청 신호가 입력되면, 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 진단 소자의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자를 제어하고, 온도 측정을 요청하는 온도 측정 요청 신호가 입력되면, 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 제1 저항 소자의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자를 제어할 수 있다.
바람직하게, 상기 프로세서는 상기 제1 전압이 기준 전압 범위에 포함되는지 여부를 판단하고, 판단 결과 상기 제1 전압이 상기 기준 전압 범위에 포함되지 않으면 상기 온도 측정 소자에 고장이 발생한 것으로 진단할 수 있다.
바람직하게, 상기 온도 측정 회로 진단 장치는 일단이 상기 진단 소자의 타단과 전기적으로 연결된 제2 저항 소자; 및 상기 진단 소자와 상기 제2 저항 소자 사이에 위치하고, 상기 제2 저항 소자의 일단과 상기 진단 소자의 타단, 상기 제1 저항 소자의 타단 및 상기 접지 중 어느 하나를 전기적으로 연결시키는 제2 스위치 소자를 더 포함할 수 있다.
바람직하게, 상기 프로세서는 상기 제1 진단 요청 신호가 입력되면, 상기 제2 저항 소자의 일단과 상기 접지가 전기적으로 연결되도록 상기 제2 스위치 소자를 제어할 수 있다.
바람직하게, 상기 프로세서는 상기 진단 결과, 상기 온도 측정 소자에 고장이 발생한 것으로 진단되면, 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 접지가 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자를 제어하고, 상기 제2 저항 소자의 일단과 상기 진단 소자의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제2 스위치 소자를 제어할 수 있다.
바람직하게, 상기 프로세서는 상기 진단 결과, 상기 온도 측정 소자에 고장이 발생한 것으로 진단되면, 상기 진단 소자에 인가된 제2 전압에 기초하여 온도를 측정할 수 있다.
본 발명에 따른 배터리 팩은 상기 온도 측정 회로 진단 장치를 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 배터리 관리 장치는 상기 온도 측정 회로 진단 장치를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 본 발명은 전압원과 접지 사이에서 직렬 연결된 온도 측정 회로의 제1 저항 소자와 온도 측정 소자 중 제1 저항 소자를 대신하여 진단 소자가 온도 측정 소자와 전기적으로 연결되도록 프로세서가 제1 스위치 소자를 제어하고, 온도 측정 소자에 인가된 제1 전압에 기초하여 온도 측정 소자의 고장 여부를 진단함으로써, 별도의 온도 측정 장치를 구비하지 않고도 간편하게 온도 측정 소자의 고장 여부를 진단할 수 있다.
본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 후술되는 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 구성을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치와 온도 측정 회로 간의 연결 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 프로세서가 온도 측정 회로의 온도 측정 소자를 진단 하기 위해 제1 스위치 소자의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 프로세서가 온도 측정 회로에 고장이 발생한 것으로 진단한 경우, 제1 스위치 소자의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 구성을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치와 온도 측정 회로 간의 연결 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 프로세서가 온도 측정 회로의 온도 측정 소자를 진단하기 위해 제1 스위치 소자와 제2 스위치 소자의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 프로세서가 온도 측정 회로를 진단에 고장이 발생한 경우, 제1 스위치 소자와 제2 스위치 소자의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 구성을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치와 온도 측정 회로 간의 연결 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 프로세서가 온도 측정 회로의 온도 측정 소자를 진단 하기 위해 제1 스위치 소자의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 프로세서가 온도 측정 회로에 고장이 발생한 것으로 진단한 경우, 제1 스위치 소자의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 구성을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치와 온도 측정 회로 간의 연결 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 프로세서가 온도 측정 회로의 온도 측정 소자를 진단하기 위해 제1 스위치 소자와 제2 스위치 소자의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치의 프로세서가 온도 측정 회로를 진단에 고장이 발생한 경우, 제1 스위치 소자와 제2 스위치 소자의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
또한, 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어들은, 다양한 구성요소들 중 어느 하나를 나머지와 구별하는 목적으로 사용되는 것이고, 그러한 용어들에 의해 구성요소들을 한정하기 위해 사용되는 것은 아니다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라, 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 <제어 유닛>과 같은 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어, 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "간접적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100)의 구성을 나타낸 도면이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100)와 온도 측정 회로 간의 연결 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
우선, 도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100)는 배터리 팩 내부의 온도를 측정하기 위한 온도 측정 회로의 고장 여부를 진단할 수 있다.
이를 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100)는 온도 측정 회로를 구비하는 배터리 팩에 포함되거나 배터리 팩에 구비된 배터리 관리 장치(BMS)에 포함될 수 있다.
온도 측정 회로는 제1 저항 소자(R1) 및 온도 측정 소자(Rth1)를 구비할 수 있다.
보다 구체적으로, 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 저항 소자(R1)는 일단이 전압원(Vi)과 전기적으로 연결될 수 있다. 여기서, 전압원(Vi)은 온도 측정 회로에 미리 설정된 전압값의 전압을 출력할 수 있다.
일 실시예에서, 제1 저항 소자(R1)는 저항값이 제1 저항값으로 미리 정해진 저항 소자일 수 있다.
온도 측정 소자(Rth1)는 일단이 제1 저항 소자(R1)의 타단과 전기적으로 연결되고, 타단이 접지(GND)와 전기적으로 연결될 수 있다. 일 실시예에서, 온도 측정 소자(Rth1)는 온도에 따라 저항값이 변화되는 써미스터 소자일 수 있다.
다시 말해, 제1 저항 소자(R1)와 온도 측정 소자(Rth1)는 전압원(Vi)과 접지(GND) 사이에 직렬로 연결될 수 있다.
한편, 배터리 팩은 반복적인 충방전이 가능하다면 그 종류에 특별한 제한이 없는데, 일 예시로서 배터리 팩은 파우치 타입으로 이루어진 리튬 폴리머 복수의 배터리 셀을 구비할 수 있다.
또한, 배터리 팩은 전기적으로 직렬 및/또는 병렬로 연결된 복수의 배터리 셀들을 구비할 수 있다. 물론, 배터리 팩이 하나의 단위 셀만을 포함하는 경우도 본 발명의 범주에 포함된다.
또한, 배터리 팩은 다양한 부하에 전기적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 상기 부하는, 전력을 이용하여 주행되는 주행 장치(예를 들어, 전기 자동차, 하이브리드 자동차), 드론과 같은 무인 비행체, 또는 모바일 디바이스일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100)는 진단 소자(Rth2), 제1 스위치 소자(SW1), 센싱부(110), 메모리부(120), 프로세서(130) 및 알림부(140)를 포함할 수 있다.
상기 진단 소자(Rth2)는 일단이 전압원(Vi) 및 제1 저항 소자(R1)의 일단과 전기적으로 연결될 수 있다. 즉, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 진단 소자(Rth2)는 일단이 제1 저항 소자(R1)의 일단과 함께 전압원(Vi)에 전기적으로 연결될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 진단 소자(Rth2)는 온도에 따라 저항값이 변화되는 써미스터 소자일 수 있다. 바람직하게, 상기 진단 소자(Rth2)는 온도에 따른 저항값이 온도 측정 소자(Rth1)와 동일한 써미스터 소자일 수 있다.
상기 제1 스위치 소자(SW1)는 제1 저항 소자(R1)와 온도 측정 소자(Rth1) 사이에 위치하고, 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 제1 저항 소자(R1)의 타단, 상기 진단 소자(Rth2)의 타단 및 접지(GND) 중 어느 하나를 전기적으로 연결시킬 수 있다.
보다 구체적으로, 상기 제1 스위치 소자(SW1)는 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 전기적으로 연결된 "a" 접점, 제1 저항 소자(R1)의 타단과 전기적으로 연결된 "b" 접점, 상기 진단 소자(Rth2)의 타단과 전기적으로 연결된 "c" 접점 및 접지(GND)와 전기적으로 연결된 "d" 접점을 구비할 수 있다.
상기 제1 스위치 소자(SW1)는 상기 프로세서(130)의 제어 신호에 대응하여 "a" 접점과 "b" 접점, "c" 접점" 및 "d" 접점 중 어느 하나가 전기적으로 연결되도록 동작 상태가 변경될 수 있다.
상기 센싱부(110)는 미리 설정된 주기마다 온도 측정 소자(Rth1)에 인가된 제1 전압을 나타내는 측정 신호를 상기 프로세서(130)로 제공할 수 있다.
이를 위하여, 상기 센싱부(110)는 제1 전압을 측정하도록 구성된 전압 센서를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 센싱부(110)는 제1 저항 소자(R1)의 타단과 온도 측정 소자(Rth1)의 일단 사이(L1)에 인가된 전압을 제1 전압으로 측정할 수 있다.
상기 프로세서(130)는 상기 센싱부(110)로부터 측정 신호가 수신되면, 신호 처리를 통해 제1 전압의 디지털 값을 결정하고 상기 메모리부(120)에 저장할 수 있다.
상기 메모리부(120)는 반도체 메모리 소자로서, 상기 프로세서(130)에 의해 생성되는 데이터를 기록, 소거, 갱신하며, 배터리(B)의 방전 전류를 제한하기 위해 마련된 복수의 프로그램 코드를 저장한다. 또한, 상기 메모리부(120)는 본 발명을 실시할 때 사용되는 미리 결정된 각종 파라미터들의 사전 설정 값들을 저장할 수 있다.
상기 메모리부(120)는 데이터를 기록, 소거, 갱신할 수 있다고 알려진 반도체 메모리 소자라면 그 종류에 특별한 제한이 없다. 일 예시로서, 상기 메모리부(120)는 DRAM, SDRAM, 플래쉬 메모리, ROM, EEPROM, 레지스터 등일 수 있다. 상기 메모리부(120)는 상기 프로세서(130)의 제어 로직을 정의한 프로그램 코드들을 저장하고 있는 저장매체를 더 포함할 수 있다. 상기 저장매체는 플래쉬 메모리나 하드디스크와 같은 불활성 기억 소자를 포함한다. 상기 메모리부(120)는 프로세서(130)와 물리적으로 분리되어 있을 수도 있고, 상기 프로세서(130)와 일체로 통합되어 있을 수도 있다.
이하, 본 발명의 일 실시예에 따라 온도 측정 회로를 이용하여 온도를 측정하는 과정에 대해 설명하도록 한다.
상기 프로세서(130)는 온도 측정을 요청하는 온도 측정 요청 신호의 입력 여부에 대응하여 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 제1 저항 소자(R1)의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자(SW1)를 제어할 수 있다.
여기서, 온도 측정 요청 신호는 배터리 관리 장치(BMS) 또는 자동차에 구비된 자동차 제어 장치로부터 상기 프로세서(130)로 입력되는 신호일 수 있다. 즉, 온도 측정 요청 신호는 배터리 관리 장치(BMS) 또는 자동차 제어 장치가 배터리 팩의 충방전을 제어하고, 배터리 팩을 관리하는데 이용되는 배터리 팩의 온도를 획득하기 위하여 상기 프로세서(130)로 입력되는 신호일 수 있다.
상기 프로세서(130)는 온도 측정 요청 신호가 입력되면, 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 제1 저항 소자(R1)의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자(SW1)를 제어할 수 있다.
다시 말해, 상기 프로세서(130)는 온도 측정 요청 신호가 입력되면, 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 스위치 소자(SW1)의 "a"접점과 "b" 접점이 전기적으로 연결되도록 제1 스위치 소자(SW1)의 동작 상태를 제어할 수 있다.
이후, 상기 프로세서(130)는 온도 측정 소자(Rth1)에 인가된 제1 전압의 전압값, 전압원(Vi)으로부터 출력되는 전압의 미리 설정된 전압값, 제1 저항 소자(R1)의 미리 정해진 제1 저항값을 이용하여 현재 온도에 따른 온도 측정 소자(Rth1)의 저항값을 산출할 수 있다.
이때, 상기 프로세서(130)는 옴의 법칙(Ohm's law)을 통해 현재 온도에 따른 온도 측정 소자(Rth1)의 저항값을 산출할 수 있다.
이후, 상기 프로세서(130)는 온도에 따라 온도 측정 소자(Rth1)의 저항값이 맵핑된 온도-저항값 맵핑 데이터에 기초하여 온도를 측정할 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 프로세서(130)는 온도-저항값 맵핑 데이터로부터 산출된 온도 측정 소자(Rth1)의 저항값에 대응되는 온도를 독출하고, 독출된 온도를 현재 온도로 결정할 수 있다.
이하, 본 발명의 일 실시예에 따라 온도 측정 회로의 고장 여부를 진단하는 과정에 대해 설명하도록 한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100)의 프로세서(130)가 온도 측정 회로의 온도 측정 소자(Rth1)를 진단 하기 위해 제1 스위치 소자(SW1)의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
도 3을 더 참조하면, 상기 프로세서(130)는 온도 측정 소자(Rth1)의 고장 여부의 진단을 요청하는 제1 진단 요청 신호의 입력 여부에 대응하여 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 상기 진단 소자(Rth2)의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자(SW1)를 제어할 수 있다.
여기서, 제1 진단 요청 신호는 배터리 관리 장치(BMS) 또는 자동차에 구비된 자동차 제어 장치로부터 상기 프로세서(130)로 입력되는 신호일 수 있다.
상기 프로세서(130)는 제1 진단 요청 신호가 입력되면, 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 상기 진단 소자(Rth2)의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자(SW1)를 제어할 수 있다.
다시 말해, 상기 프로세서(130)는 제1 진단 요청 신호가 입력되면, 제1 스위치 소자(SW1)의 "a"접점과 "c" 접점이 전기적으로 연결되도록 제1 스위치 소자(SW1)의 동작 상태를 제어할 수 있다.
이후, 상기 프로세서(130)는 온도 측정 소자(Rth1)에 인가된 제1 전압에 기초하여 온도 측정 소자(Rth1)의 고장 여부를 진단할 수 있다.
보다 구체적으로, 상기 프로세서(130)는 온도 측정 소자(Rth1)에 인가된 제1 전압이 기준 전압 범위에 포함되는지 여부를 판단하고, 판단 결과 상기 제1 전압이 기준 전압 범위에 포함되지 않으면 온도 측정 소자(Rth1)에 고장이 발생한 것으로 진단할 수 있다.
여기서, 온도 측정 소자(Rth1)의 고장은 온도에 따라 변화하는 온도 측정 소자(Rth1)의 저항값이 상술된 온도-저항값 맵핑 데이터에 따른 저항값과 상이한 경우를 의미할 수 있다.
한편, 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 상기 진단 소자(Rth2)의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자(SW1)가 제어되면, 전압원(Vi)와 접지(GND) 사이에 온도 측정 소자(Rth1)와 진단 소자(Rth2)는 직렬 연결될 수 있다. 이때, 상술한 바와 같이, 온도 측정 소자(Rth1)와 진단 소자(Rth2)는 온도에 따른 저항값이 동일한 써미스터 소자이므로 온도 측정 소자(Rth1)와 진단 소자(Rth2) 각각에는 전압원(Vi)로부터 출력되는 전압이 동일하게 분배될 수 있다.
이를 이용하여, 상기 프로세서(130)는 전압원(Vi)으로부터 출력되는 전압의 전압값을 이용하여 기준 전압 범위를 설정할 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 프로세서(130)는 전압원(Vi)으로부터 출력되는 전압의 전압값의 반값을 기준으로 기준 전압 범위를 설정할 수 있다.
이때, 상기 프로세서(130)는 하기의 수학식 1을 이용하여 기준 전압 범위를 설정할 수 있다.
<수학식 1>
여기서, Vref는 기준 전압 범위, Vi는 전압원으로부터 출력되는 전압의 전압값이다.
이러한 본 발명의 구성에 따르면, 별도의 온도 측정 장치로부터 측정된 온도와 온도 측정 회로로부터 측정된 온도를 비교하여 온도 측정 회로의 고장 여부를 진단할 필요없이, 온도 측정 회로의 온도 측정 소자(Rth1)와 상기 진단 소자(Rth2)이 전기적으로 연결되도록 제1 스위치 소자(SW1)만을 간단히 제어하여 온도 측정 소자의 고장 여부를 진단할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100)의 프로세서(130)가 온도 측정 회로에 고장이 발생한 것으로 진단한 경우, 제1 스위치 소자(SW1)의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
도 4를 더 참조하면, 상기 프로세서(130)는 온도 측정 회로의 온도 측정 소자(Rth1)에 고장이 발생한 것으로 진단되면, 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 접지(GND)가 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자(SW1)를 제어할 수 있다.
다시 말해, 상기 프로세서(130)는 온도 측정 회로의 온도 측정 소자(Rth1)에 고장이 발생한 것으로 진단되면, 제1 스위치 소자(SW1)의 "a"접점과 "d" 접점이 전기적으로 연결되도록 제1 스위치 소자(SW1)의 동작 상태를 제어할 수 있다.
이에 따라, 도 4에 도시된 바와 같이, 고장이 발생한 온도 측정 소자(Rth1)와 연결된 회로는 폐회로를 형성함으로써, 전압원(Vi)로부터 출력되는 전압이 인가되지 않을 수 있다.
이를 통해, 고장이 발생한 온도 측정 소자(Rth1)에 전압원(Vi)로부터 출력되는 전압이 인가되는 것을 방지하여 온도 측정 소자(Rth1)의 고장이 심화되는 현상을 방지할 수 있다.
한편, 상기 프로세서(130)는, 다양한 제어 로직들을 실행하기 위해 당업계에 알려진 ASIC(application-specific integrated circuit), 다른 칩셋, 논리 회로, 레지스터, 통신 모뎀, 데이터 처리 장치 등을 선택적으로 포함할 수 있다. 프로세서(130)에 의해 실행될 수 있는 다양한 제어 로직들은 적어도 하나 이상이 조합되고, 조합된 제어 로직들은 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드 체계로 작성되어 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체에 수록될 수 있다. 기록매체는 컴퓨터에 포함된 프로세서(130)에 의해 접근이 가능한 것이라면 그 종류에 특별한 제한이 없다. 일 예시로서, 기록매체는 ROM, RAM, 레지스터, CD-ROM, 자기 테이프, 하드 디스크, 플로피디스크 및 광 데이터 기록장치를 포함하는 군에서 선택된 적어도 하나 이상을 포함한다. 또한, 코드 체계는 캐리어 신호로 변조되어 특정한 시점에 통신 캐리어에 포함될 수 있고, 네트워크로 연결된 컴퓨터에 분산되어 저장되고 실행될 수 있다. 또한, 조합된 제어 로직들을 구현하기 위한 기능적인 프로그램, 코드 및 코드 세그먼트들은 본 발명이 속하는 기술분야의 프로그래머들에 의해 용이하게 추론될 수 있다.
상기 알림부(140)는 상기 프로세서(130)로부터 온도 측정 소자(Rth1)의 고장 여부의 진단 결과를 입력받아 외부로 출력할 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 알림부(140)는 온도 측정 소자(Rth1)의 고장 여부의 진단 결과를 기호, 숫자 및 코드 중 하나 이상을 이용하여 표시하는 디스플레이부 및 소리로 출력하는 스피커 장치 중 하나 이상을 구비할 수 있다.
한편, 본 발명에 따른 배터리 관리 장치는 상술된 온도 측정 회로 진단 장치를 포함할 수 있다. 이를 통해, 배터리 관리 장치에 구비된 온도 측정 회로의 고장 여부를 진단할 수 있다.
한편, 본 발명에 따른 배터리 팩은 상술된 온도 측정 회로 진단 장치를 포함할 수 있다. 이를 통해, 배터리 팩에 구비된 온도 측정 회로의 고장 여부를 진단할 수 있다.
이하, 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100')에 대해 설명하도록 한다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100')의 구성을 나타낸 도면이고, 도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100')와 온도 측정 회로 간의 연결 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
우선, 도 5 및 도 6을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100')는 제2 저항 소자(R2), 제2 스위치 소자(SW2'), 진단 소자(Rth2'), 제1 스위치 소자(SW1'), 센싱부(110'), 메모리부(120'), 프로세서(130') 및 알림부(140')를 포함할 수 있다.
이러한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100')는 일 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100) 대비 일부 구성 요소가 추가되고, 일부 구성 요소의 역할이 추가되었을 뿐이므로, 반복되는 설명은 생략하기로 한다.
상기 제2 저항 소자(R2)는 일단이 상기 진단 소자(Rth2')의 타단과 전기적으로 연결되고, 타단이 접지(GND)와 전기적으로 연결될 수 있다.
다른 실시예에서, 제2 저항 소자(R2)는 저항값이 온도 측정 회로에 구비된 제1 저항 소자(R1)의 제1 저항값과 동일한 저항 소자일 수 있다.
상기 제2 스위치 소자(SW2)는 상기 진단 소자(Rth2')와 상기 제2 저항 소자(R2) 사이에 위치하고, 상기 제2 저항 소자(R2)의 일단과 상기 진단 소자(Rth2')의 타단, 제1 저항 소자(R1)의 타단 및 상기 접지(GND) 중 어느 하나를 전기적으로 연결시킬 수 있다.
보다 구체적으로, 상기 제2 스위치 소자(SW2)는 상기 제2 저항 소자(R2)의 일단과 전기적으로 연결된 "e" 접점, 상기 진단 소자(Rth2')의 타단과 전기적으로 연결된 "f" 접점, 제1 저항 소자(R1)의 타단과 전기적으로 연결된 "g" 접점 및 상기 접지(GND)와 전기적으로 연결된 "h"을 구비할 수 있다.
상기 제2 스위치 소자(SW2)는 상기 프로세서(130)의 제어 신호에 대응하여 "e" 접점과 "f" 접점, "g" 접점" 및 "h" 접점 중 어느 하나가 전기적으로 연결되도록 동작 상태가 변경될 수 있다.
이를 위하여, 상기 제2 스위치 소자(SW2)의 "h" 접점은 제1 저항(R1)과 제1 스위치 소자(SW1') 사이의 제1 노드(N1)에 전기적으로 연결될 수 있다.
또한, 상기 제1 스위치 소자(SW1')의 "c" 접점은 상기 진단 소자(Rth2')와 제2 스위치 소자(SW2) 사이의 제2 노드(N2)에 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 센싱부(110')는 미리 설정된 주기마다 온도 측정 소자(Rth1')에 인가된 제1 전압과 상기 진단 소자(Rth2')에 인가된 제2 전압을 나타내는 측정 신호를 상기 프로세서(130')로 제공할 수 있다.
이를 위하여, 상기 센싱부(110')는 제1 전압과 제2 전압을 측정하도록 구성된 전압 센서를 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 센싱부(110')는 제1 저항 소자(R1)의 타단과 온도 측정 소자(Rth1)의 일단 사이(L1)에 인가된 전압을 제1 전압으로 측정할 수 있다. 또한, 상기 센싱부(110')는 제2 스위치 소자(SW2)와 상기 제2 저항 소자(R2) 사이(L2)에 인가된 전압을 제2 전압으로 측정할 수 있다.
상기 프로세서(130')는 상기 센싱부(110')로부터 측정 신호가 수신되면, 신호 처리를 통해 제1 전압과 제2 전압의 디지털 값을 결정하고 상기 메모리부(120')에 저장할 수 있다.
이하, 본 발명의 다른 실시예에 따라 온도 측정 회로를 이용하여 온도를 측정하는 과정에 대해 설명하도록 한다.
상기 프로세서(130')는 온도 측정을 요청하는 온도 측정 요청 신호의 입력 여부에 대응하여 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 제1 저항 소자(R1)의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자(SW1')를 제어할 수 있다.
또한, 상기 프로세서(130')는 온도 측정 요청 신호의 입력 여부에 대응하여 상기 제2 저항 소자(R2)의 일단과 접지(GND)가 전기적으로 연결되도록 상기 제2 스위치 소자(SW2)를 제어할 수 있다.
보다 구체적으로, 상기 프로세서(130')는 온도 측정 요청 신호가 입력되면, 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 제1 저항 소자(R1)의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자(SW1')를 제어할 수 있다.
다시 말해, 상기 프로세서(130')는 온도 측정 요청 신호가 입력되면, 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 스위치 소자(SW1')의 "a"접점과 "b" 접점이 전기적으로 연결되도록 제1 스위치 소자(SW1')의 동작 상태를 제어할 수 있다.
또한, 상기 프로세서(130')는 온도 측정 요청 신호가 입력되면, 상기 제2 저항 소자(R2)의 일단과 접지(GND)가 전기적으로 연결되도록 상기 제2 스위치 소자(SW2)를 제어할 수 있다.
다시 말해, 상기 프로세서(130')는 제2 스위치 소자(SW2)의 "e"접점과 "g" 접점이 전기적으로 연결되도록 제2 스위치 소자(SW2)의 동작 상태를 제어할 수 있다.
이에 따라, 제2 저항 소자(R2)와 연결된 회로는 폐회로를 형성함으로써, 전압원(Vi)로부터 출력되는 전압이 인가되지 않을 수 있다.
이후, 상기 프로세서(130')는 온도 측정 소자(Rth1)에 인가된 제1 전압의 전압값, 전압원(Vi)으로부터 출력되는 전압의 미리 설정된 전압값, 제1 저항 소자(R1)의 미리 정해진 제1 저항값을 이용하여 현재 온도에 따른 온도 측정 소자(Rth1)의 저항값을 산출할 수 있다.
이때, 상기 프로세서(130')는 옴의 법칙(Ohm's law)을 통해 현재 온도에 따른 온도 측정 소자(Rth1)의 저항값을 산출할 수 있다.
이후, 상기 프로세서(130')는 온도에 따라 온도 측정 소자(Rth1)의 저항값이 맵핑된 온도-저항값 맵핑 데이터에 기초하여 온도를 측정할 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 프로세서(130')는 온도-저항값 맵핑 데이터로부터 산출된 온도 측정 소자(Rth1)의 저항값에 대응되는 온도를 독출하고, 독출된 온도를 현재 온도로 결정할 수 있다.
이하, 본 발명의 다른 실시예에 따라 온도 측정 회로의 고장 여부를 진단하는 과정에 대해 설명하도록 한다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100')의 프로세서(130')가 온도 측정 회로의 온도 측정 소자(Rth1)를 진단 하기 위해 제1 스위치 소자(SW1')와 제2 스위치 소자(SW2)의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
도 7을 더 참조하면, 상기 프로세서(130')는 온도 측정 소자(Rth1)의 고장 여부의 진단을 요청하는 제1 진단 요청 신호의 입력 여부에 대응하여 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 상기 진단 소자(Rth2)의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자(SW1')를 제어할 수 있다.
이때, 상기 프로세서(130')는 상기 제2 저항 소자(R2)의 일단과 접지(GND)가 전기적으로 연결된 상태를 유지하도록 상기 제2 스위치 소자(SW2)를 제어할 수 있다.
상기 프로세서(130')는 제1 진단 요청 신호가 입력되면, 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 상기 진단 소자(Rth2)의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자(SW1')를 제어할 수 있다.
다시 말해, 상기 프로세서(130')는 제1 진단 요청 신호가 입력되면, 제1 스위치 소자(SW1')의 "a"접점과 "c" 접점이 전기적으로 연결되도록 제1 스위치 소자(SW1')의 동작 상태를 제어할 수 있다.
이후, 상기 프로세서(130')는 온도 측정 소자(Rth1)에 인가된 제1 전압에 기초하여 온도 측정 소자(Rth1)의 고장 여부를 진단할 수 있다.
보다 구체적으로, 상기 프로세서(130')는 온도 측정 소자(Rth1)에 인가된 제1 전압이 기준 전압 범위에 포함되는지 여부를 판단하고, 판단 결과 상기 제1 전압이 기준 전압 범위에 포함되지 않으면 온도 측정 소자(Rth1)에 고장이 발생한 것으로 진단할 수 있다.
이하, 온도 측정 소자(Rth1)에 고장이 발생한 것으로 진단된 경우, 온도 측정 소자(Rth1)과 제1 저항 소자(R1) 대신 진단 소자(Rth2')와 제2 저항 소자(R2)를 이용하여 온도를 측정하는 과정에 대해 설명하도록 한다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 온도 측정 회로 진단 장치(100')의 프로세서(130')가 온도 측정 회로를 진단에 고장이 발생한 경우, 제1 스위치 소자(SW1')와 제2 스위치 소자(SW2)의 동작 상태를 제어하는 일 예를 도시한 도면이다.
도 8를 더 참조하면, 상기 프로세서(130')는 온도 측정 회로의 온도 측정 소자(Rth1)에 고장이 발생한 것으로 진단되면, 온도 측정 소자(Rth1)의 일단과 접지(GND)가 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자(SW1')를 제어하고, 상기 제2 저항 소자(R2)의 일단과 상기 진단 소자(Rth2')의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제2 스위치 소자(SW2)를 제어할 수 있다.
다시 말해, 상기 프로세서(130')는 온도 측정 회로의 온도 측정 소자(Rth1)에 고장이 발생한 것으로 진단되면, 제1 스위치 소자(SW1')의 "a"접점과 "d" 접점이 전기적으로 연결되도록 제1 스위치 소자(SW1')의 동작 상태를 제어하고, 제2 스위치 소자(SW2)의 "e"접점과 "f" 접점이 전기적으로 연결되도록 제2 스위치 소자(SW2)의 동작 상태를 제어하고,
이에 따라, 도 8에 도시된 바와 같이, 고장이 발생한 온도 측정 소자(Rth1)와 연결된 회로는 폐회로를 형성함으로써, 전압원(Vi)로부터 출력되는 전압이 인가되지 않을 수 있다.
이후, 상기 프로세서(130')는 상기 진단 소자(Rth2')에 인가된 제2 전압의 전압값, 전압원(Vi)으로부터 출력되는 전압의 미리 설정된 전압값, 제2 저항 소자(R2)의 미리 정해진 제1 저항값을 이용하여 현재 온도에 따른 상기 진단 소자(Rth2')의 저항값을 산출할 수 있다.
이때, 상기 프로세서(130')는 옴의 법칙(Ohm's law)을 통해 현재 온도에 따른 상기 진단 소자(Rth2')의 저항값을 산출할 수 있다.
이후, 상기 프로세서(130')는 온도에 따라 상기 진단 소자(Rth2')의 저항값이 맵핑된 온도-저항값 맵핑 데이터에 기초하여 온도를 측정할 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 프로세서(130')는 온도-저항값 맵핑 데이터로부터 산출된 상기 진단 소자(Rth2')의 저항값에 대응되는 온도를 독출하고, 독출된 온도를 현재 온도로 결정할 수 있다.
이러한 본 발명의 구성에 따르면, 온도를 측정하기 위한 온도 측정 소자(Rth1)에 고장이 발생하면, 온도 측정 소자(Rth1)과 동일한 써미스터 소자이고 온도 측정 소자(Rth1)의 고장 여부를 진단하기 위한 진단 소자(Rth2)를 이용하여 온도를 측정함으로써, 온도 측정 소자(Rth1)의 고장에도 지속적으로 온도를 측정할 수 있다.
상기 알림부(140')는 상기 프로세서(130')가 진단 소자(Rth2')를 이용하여 측정한 온도를 입력받아 외부로 출력할 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 알림부(140')는 진단 소자(Rth2')를 이용하여 측정한 온도를 기호, 숫자 및 코드 중 하나 이상을 이용하여 표시하는 디스플레이부 및 소리로 출력하는 스피커 장치 중 하나 이상을 구비할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명의 실시예는 장치 및 방법을 통해서만 구현이 되는 것은 아니며, 본 발명의 실시예의 구성에 대응하는 기능을 실현하는 프로그램 또는 그 프로그램이 기록된 기록 매체를 통해 구현될 수도 있으며, 이러한 구현은 앞서 설명한 실시예의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야의 전문가라면 쉽게 구현할 수 있는 것이다.
이상에서 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.
또한, 이상에서 설명한 본 발명은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하므로 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니라, 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수 있다.
Rth1: 온도 측정 소자
R1: 제1 저항 소자
100: 온도 측정 회로 진단 장치
Rth2: 진단 소자
SW1: 제1 스위치 소자
110: 센싱부
120: 메모리부
130: 프로세서
140: 알림부
SW2: 제2 스위치 소자
R2: 제2 저항 소자
R1: 제1 저항 소자
100: 온도 측정 회로 진단 장치
Rth2: 진단 소자
SW1: 제1 스위치 소자
110: 센싱부
120: 메모리부
130: 프로세서
140: 알림부
SW2: 제2 스위치 소자
R2: 제2 저항 소자
Claims (9)
- 일단이 전압원과 전기적으로 연결된 제1 저항 소자 및 일단이 상기 제1 저항 소자의 타단과 전기적으로 연결되고, 타단이 접지와 전기적으로 연결되며, 온도에 따라 저항값이 변화하는 온도 측정 소자를 구비하는 온도 측정 회로의 고장 여부를 진단하는 온도 측정 회로 진단 장치에 있어서,
일단이 상기 전압원 및 상기 제1 저항 소자의 일단과 전기적으로 연결되고, 온도에 따라 저항값이 변화하는 진단 소자;
상기 제1 저항 소자와 상기 온도 측정 소자 사이에 위치하고, 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 제1 저항 소자의 타단, 상기 진단 소자의 타단 및 상기 접지 중 어느 하나를 전기적으로 연결시키는 제1 스위치 소자; 및
상기 온도 측정 소자의 고장 여부의 진단을 요청하는 제1 진단 요청 신호의 입력 여부에 대응하여 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 진단 소자의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자를 제어하고, 상기 온도 측정 소자에 인가된 제1 전압에 기초하여 상기 온도 측정 소자의 고장 여부를 진단하는 프로세서를
포함하는 온도 측정 회로 진단 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 프로세서는
상기 제1 진단 요청 신호가 입력되면, 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 진단 소자의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자를 제어하고, 온도 측정을 요청하는 온도 측정 요청 신호가 입력되면, 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 제1 저항 소자의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자를 제어하는 온도 측정 회로 진단 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 프로세서는
상기 제1 전압이 기준 전압 범위에 포함되는지 여부를 판단하고, 판단 결과 상기 제1 전압이 상기 기준 전압 범위에 포함되지 않으면 상기 온도 측정 소자에 고장이 발생한 것으로 진단하는 온도 측정 회로 진단 장치.
- 제1항에 있어서,
일단이 상기 진단 소자의 타단과 전기적으로 연결된 제2 저항 소자; 및
상기 진단 소자와 상기 제2 저항 소자 사이에 위치하고, 상기 제2 저항 소자의 일단과 상기 진단 소자의 타단, 상기 제1 저항 소자의 타단 및 상기 접지 중 어느 하나를 전기적으로 연결시키는 제2 스위치 소자를
더 포함하는 온도 측정 회로 진단 장치.
- 제4항에 있어서,
상기 프로세서는
상기 제1 진단 요청 신호가 입력되면, 상기 제2 저항 소자의 일단과 상기 접지가 전기적으로 연결되도록 상기 제2 스위치 소자를 제어하는 온도 측정 회로 진단 장치.
- 제4항에 있어서,
상기 프로세서는
상기 진단 결과, 상기 온도 측정 소자에 고장이 발생한 것으로 진단되면, 상기 온도 측정 소자의 일단과 상기 접지가 전기적으로 연결되도록 상기 제1 스위치 소자를 제어하고, 상기 제2 저항 소자의 일단과 상기 진단 소자의 타단이 전기적으로 연결되도록 상기 제2 스위치 소자를 제어하는 온도 측정 회로 진단 장치.
- 제6항에 있어서,
상기 프로세서는
상기 진단 결과, 상기 온도 측정 소자에 고장이 발생한 것으로 진단되면, 상기 진단 소자에 인가된 제2 전압에 기초하여 온도를 측정하는 온도 측정 회로 진단 장치.
- 상기 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 따른 온도 측정 회로 진단 장치를 포함하는 배터리 관리 장치.
- 상기 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 따른 온도 측정 회로 진단 장치를 포함하는 배터리 팩.
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---|---|---|---|
KR1020180054428A KR102507400B1 (ko) | 2018-05-11 | 2018-05-11 | 온도 측정 회로 진단 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180054428A KR102507400B1 (ko) | 2018-05-11 | 2018-05-11 | 온도 측정 회로 진단 장치 |
Publications (2)
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KR20190129573A true KR20190129573A (ko) | 2019-11-20 |
KR102507400B1 KR102507400B1 (ko) | 2023-03-06 |
Family
ID=68729419
Family Applications (1)
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KR1020180054428A KR102507400B1 (ko) | 2018-05-11 | 2018-05-11 | 온도 측정 회로 진단 장치 |
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KR (1) | KR102507400B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024106137A1 (ja) * | 2022-11-15 | 2024-05-23 | パナソニックエナジー株式会社 | 電池パック、温度測定回路及び電池パックの故障診断方法 |
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KR20120029500A (ko) * | 2010-09-16 | 2012-03-27 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전력저장시스템 |
JP2013050374A (ja) * | 2011-08-31 | 2013-03-14 | Noritz Corp | 温度検出回路および燃焼装置 |
JP2018066643A (ja) * | 2016-10-19 | 2018-04-26 | 矢崎総業株式会社 | 温度検出装置 |
-
2018
- 2018-05-11 KR KR1020180054428A patent/KR102507400B1/ko active IP Right Grant
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