KR20190131594A - 유기 발광 디스플레이 패널의 보수 방법 및 유기 발광 디스플레이 패널 - Google Patents
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Abstract
본 출원은 유기 발광 디스플레이 패널의 보수 방법 및 유기 발광 디스플레이 패널을 개시한다. 상기 보수 방법은, 보수할 디스플레이 픽셀을 확정하는 단계; 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 스위칭 튜브(T7)의 제어 단부(208, 608)와 스캔 라인(402, 505)사이의 연결을 차단하는 단계; 및 상기 스위칭 튜브(T7)의 제 1 경로 단부(204, 604)와 제 2 경로 단부(206, 606)를 연결하여 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 유기 발광 다이오드(201, 601)의 애노드(207, 607)에 제 2 기준 전압(Vi)이 지속적으로 인가되도록 하는 단계를 포함한다. 상기 방법은 상기 유기 발광 다이오드(201, 601)의 캐소드(203, 603)에 인가된 제 1 기준 전압(Vss) 및 애노드(207, 607)에 인가된 제 2 기준 전압(Vi)에 의해 상기 유기 발광 다이오드(201, 601)가 지속적으로 어두운 상태에 있도록 한다. 따라서, 상기 방법은 유기 발광 디스플레이 패널의 보수에 소요되는 에너지 소모를 줄이고 보수 효율을 향상시킬 수 있다.
Description
본 출원은 디스플레이 패널 기술 분야에 관한 것으로, 특히 유기 발광 디스플레이 패널의 보수 방법 및 유기 발광 디스플레이 패널에 관한 것이다.
유기 발광 디스플레이 패널은 능동 발광 디스플레이 패널이다. 현재의 주류 박막 트랜지스터 액정 디스플레이 패널과 비교하여, 높은 콘트라스트, 광시야각, 저전력 소모, 얇은 부피 등의 이점을 가지며, 박막 트랜지스터 액정 디스플레이 패널 이후의 차세대 디스플레이 패널이 될 것으로 예상된다.
유기 발광 디스플레이 패널의 제조 과정에서, 픽셀 불량 및 신호선 단선 불량은 제조 공정에서 불가피한 2 가지 주요 결함이며, 상기 결함이 검출되면, 출고 전 유기 발광 디스플레이 패널을 수리할 필요가 있다.
본 출원의 발명자는 장기 연구 및 개발에서 종래 기술에서 일반적으로 보수할 픽셀의 유기발광소자를 파괴하는 방법을 사용하여 픽셀을 어둡게 하여 유기 발광 디스플레이 패널을 보수한다는 것을 발견하였다. 그러나, 픽셀의 유기발광소자의 면적이 크기 때문에, 큰 파괴 에너지가 필요하고, 완전히 파괴하는데 오랜 시간이 걸리므로, 픽셀의 보수 효율이 낮아진다.
본 출원이 해결하고자 하는 기술적 과제는 유기 발광 디스플레이 패널의 보수 방법 및 유기 발광 디스플레이 패널을 제공하여 유기 발광 디스플레이 패널의 에너지 소모를 줄이고 보수 효율을 향상시키는 것이다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 출원에서 채택한 하나의 기술적 해결책은 유기 발광 디스플레이 패널의 보수 방법을 제공하는 것이다. 상기 유기 발광 디스플레이 패널은 어레이로 배열 된 복수의 디스플레이 픽셀을 포함하고, 각각의 디스플레이 픽셀은 적어도 하나의 유기 발광 다이오드 및 구동 회로를 포함하고, 유기 발광 다이오드의 캐소드는 제 1 기준 전압에 연결되고, 구동 회로는 적어도 하나의 스위칭 튜브를 포함하고, 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부는 전력 공급 라인에 연결되어 전력 공급 라인을 통해 제 2 기준 전압에 연결되고, 스위칭 튜브의 제 2 경로 단부는 유기 발광 다이오드의 애노드에 연결되고, 스위칭 튜브의 제어 단부는 스캔 라인에 연결되어 스캔 라인에 인가 된 제어 신호에 따라 유기 발광 다이오드의 애노드를 제 2 기준 전압에 선택적으로 연결하고, 제 1 기준 전압 및 제 2 기준 전압은 유기 발광 다이오드가 어두운 상태가 되도록 설정된다. 여기서, 상기 보수 방법은, 상기 유기 발광 디스플레이 패널상의 비정상적인 밝은 점을 확정하여 상기 비정상적인 밝은 점에 대응하는 디스플레이 픽셀을 보수할 디스플레이 픽셀로 하는 단계; 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 스위칭 튜브의 제어 단부와 스캔 라인 사이의 연결을 레이저 절단법에 의해 차단하는 단계; 및 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 제 2 경로 단부를 연결하여 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 유기 발광 다이오드의 애노드에 제 2 기준 전압이 지속적으로 인가되도록 하는 단계를 포함한다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 출원에서 채택한 다른 기술적 해결책은 유기 발광 디스플레이 패널의 보수 방법을 제공하는 것이다. 상기 유기 발광 디스플레이 패널은 어레이로 배열 된 복수의 디스플레이 픽셀을 포함하고, 각각의 디스플레이 픽셀은 적어도 하나의 유기 발광 다이오드 및 구동 회로를 포함하고, 유기 발광 다이오드의 캐소드는 제 1 기준 전압에 연결되고, 구동 회로는 적어도 하나의 스위칭 튜브를 포함하고, 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부는 전력 공급 라인에 연결되어 전력 공급 라인을 통해 제 2 기준 전압에 연결되고, 스위칭 튜브의 제 2 경로 단부는 유기 발광 다이오드의 애노드에 연결되고, 스위칭 튜브의 제어 단부는 스캔 라인에 연결되어 스캔 라인에 인가 된 제어 신호에 따라 유기 발광 다이오드의 애노드를 제 2 기준 전압에 선택적으로 연결하고, 제 1 기준 전압 및 제 2 기준 전압은 유기 발광 다이오드가 어두운 상태가 되도록 설정된다. 여기서, 상기 보수 방법은, 보수할 디스플레이 픽셀을 확정하는 단계; 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 스위칭 튜브의 제어 단부와 스캔 라인 사이의 연결을 차단하는 단계; 및 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 제 2 경로 단부를 연결하여 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 유기 발광 다이오드의 애노드에 제 2 기준 전압이 지속적으로 인가되도록 하는 단계를 포함한다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위해, 본 출원에서 채택한 또 다른 기술적 해결책은 유기 발광 디스플레이 패널을 제공하는 것이다. 상기 유기 발광 디스플레이 패널은 어레이로 배열 된 복수의 디스플레이 픽셀을 포함하고, 각각의 디스플레이 픽셀은 적어도 하나의 유기 발광 다이오드 및 구동 회로를 포함하고, 유기 발광 다이오드의 캐소드는 제 1 기준 전압에 연결되고, 구동 회로는 적어도 하나의 스위칭 튜브를 포함하고, 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부는 전력 공급 라인에 연결되어 전력 공급 라인을 통해 제 2 기준 전압에 연결되고, 스위칭 튜브의 제 2 경로 단부는 유기 발광 다이오드의 애노드에 연결되고, 스위칭 튜브의 제어 단부와 스캔 라인 사이의 연결은 차단되고, 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 제 2 경로 단부를 연결하여 디스플레이 픽셀의 유기 발광 다이오드의 애노드에 제 2 기준 전압이 지속적으로 인가되도록 한다.
본 출원 실시예의 유익한 효과는 다음과 같다. 종래 기술과는 달리, 본 출원의 실시예는 보수할 디스플레이 픽셀에 대응하는 구동 회로에서 유기 발광 다이오드의 애노드에 연결된 스위칭 튜브의 제어 단부와 스캔 라인 사이의 연결을 먼저 차단함으로써 상기 스위칭 튜브를 비활성화한다. 그 다음, 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 제 2 경로 단부를 연결하여, 상기 제 1 경로 단부의 제 2 기준 전압이 상기 제 2 경로 단부를 통해 상기 유기 발광 다이오드의 애노드에 지속적으로 인가되도록 하며, 상기 유기 발광 다이오드의 캐소드는 제 1 기준 전압에 연결된다. 여기서, 상기 제 1 기준 전압 및 상기 제 2 기준 전압은 상기 유기 발광 다이오드가 어두운 상태가 되도록 설정된다. 따라서, 상기 보수 방법에 의해 상기 유기 발광 다이오드를 어두운 상태로 유지할 수 있으며, 상기 방법은 간단하고 실용적이며, 상기 유기 발광 디스플레이 패널의 보수에 소요되는 에너지 소모를 줄이고 보수 효율을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 출원의 유기 발광 디스플레이 패널의 실시예의 개략도이다.
도 2는 도 1의 실시예의 디스플레이 픽셀이 보수되기 이전의 개략도이다.
도 3은 본 출원의 유기 발광 디스플레이 패널의 보수 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 4는 도 2의 실시예의 박막 트랜지스터T7 및 그 주변 회로의 개략도이다.
도 5는 도 4의 실시예의 박막 트랜지스터T7의 개략도이다.
도 6은 도 1의 실시예의 디스플레이 픽셀의 개략도이다.
도 2는 도 1의 실시예의 디스플레이 픽셀이 보수되기 이전의 개략도이다.
도 3은 본 출원의 유기 발광 디스플레이 패널의 보수 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 4는 도 2의 실시예의 박막 트랜지스터T7 및 그 주변 회로의 개략도이다.
도 5는 도 4의 실시예의 박막 트랜지스터T7의 개략도이다.
도 6은 도 1의 실시예의 디스플레이 픽셀의 개략도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 도 1은 본 출원의 유기 발광 디스플레이 패널의 실시예의 개략도이고, 도 2는 도 1의 실시예의 디스플레이 픽셀이 보수되기 이전의 개략도이다. 본 실시예의 유기 발광 디스플레이 패널은 어레이로 배열 된 복수의 디스플레이 픽셀101을 포함하고, 여기서 각각의 디스플레이 픽셀101은 적어도 하나의 유기 발광 다이오드201 및 구동 회로202를 포함하고; 유기 발광 다이오드201의 캐소드203는 제 1 기준 전압Vss에 연결되고, 구동 회로202는 적어도 하나의 스위칭 튜브T7를 포함하고, 스위칭 튜브T7의 제 1 경로 단부204는 전력 공급 라인205에 연결되어 전력 공급 라인205을 통해 제 2 기준 전압Vi에 연결되고, 스위칭 튜브T7의 제 2 경로 단부206는 유기 발광 다이오드201의 애노드207에 연결되고, 스위칭 튜브T7의 제어 단부208는 스캔 라인에 연결되어 상기 스캔 라인에 인가 된 제어 신호에 따라 유기 발광 다이오드201의 애노드207를 제 2 기준 전압Vi에 선택적으로 연결하고, 제 1 기준 전압Vss 및 제 2 기준 전압Vi은 유기 발광 다이오드201가 어두운 상태가 되도록 설정된다.
일 응용 시나리오에서, 본 실시예는 제 2 기준 전압Vi을 제 1 기준 전압Vss과 유기 발광 다이오드201의 구동 전압의 합보다 작게 설정하여 유기 발광 다이오드201가 구동되지 않도록하여 어두운 상태에 있게 한다.
선택적으로, 본 실시예의 구동 회로202는 스위치 T1, T2, T3, T4, T5, T6 및 스토리지 커패시터C, 즉 7T1C 회로를 더 포함하며, 상기 7T1C 회로는 디스플레이 패널의 성능에 대한 구동 회로202의 스위칭 이동성, 임계 전압, 구동 전압 및 전원 전압의 크기의 영향을 어느 정도 보상할 수 있다. 물론, 다른 실시예에서, 구동 회로 202는 6T1C 회로 등과 같은 다른 회로 구조를 채택할 수 있다. 유기 발광 디스플레이 패널 및 이의 구동 회로 202의 구체적인 동작 원리는 본 출원의 보호 대상이 아니므로 여기서는 설명하지 않는다.
유기 발광 디스플레이 패널의 디스플레이 픽셀 중 어느 하나 또는 일부가 이상을 나타내면, 디스플레이 이미지의 디스플레이 효과가 현저하게 저하되므로, 이상을 나타내는 디스플레이 픽셀을 보수 할 필요가 있다.
도 3을 참조하면, 도 3은 본 출원의 유기 발광 디스플레이 패널의 보수 방법에 대한 실시예의 개략적인 흐름도이다. 도 2의 실시예에 기초하여, 도 2의 실시예의 디스플레이 픽셀이 보수할 디스플레이 픽셀이라고 가정하고, 도 3의 실시예의 방법을 사용하여 보수할 디스플레이 픽셀을 보수하는 구체적인 단계는 다음과 같다.
단계 301 : 보수할 디스플레이 픽셀을 확정하는 단계.
선택적으로, 본 실시예는 먼저 유기 발광 디스플레이 패널상의 비정상적인 밝은 점을 확정하고, 그 다음 비정상적인 밝은 점에 대응하는 디스플레이 픽셀을 보수할 디스플레이 픽셀로 한다. 물론, 다른 실시예들에서, 다른 표준을 사용하여 보수할 디스플레이 픽셀을 확정할 수 있다. 예를 들어, 발광 휘도가 불안정한 점에 대응하는 디스플레이 픽셀을 보수할 디스플레이 픽셀로서 사용한다.
단계 302 : 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 스위칭 튜브T7의 제어 단부208와 스캔 라인 사이의 연결을 차단하는 단계.
선택적으로, 본 실시예는 레이저 절단법을 사용하여 보수할 디스플레이 픽셀의 스위칭 튜브T7의 제어 단부208와 스캔 라인 사이의 연결을 차단한다. 레이저 절단법의 절단폭은 매우 좁아서, 레이저 절단법에 의해 형성된 열 영향 영역이 작고, 절구의 열 변형이 작고, 절단 정밀도가 높다. 물론, 다른 실시예들에서, 가스 열 절단법과 같은 방법이 레이저 절단법 대신 사용될 수 있다.
단계 303 : 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 스위칭 튜브T7의 제 1 경로 단부204와 제 2 경로 단부206를 연결하여 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 유기 발광 다이오드201의 애노드207에 제 2 기준 전압이 지속적으로 인가되도록 하는 단계.
선택적으로, 본 실시예에서 보수할 디스플레이 픽셀의 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부204는 레이저 용접법에 의해 제 2 경로 단부 206에 연결된다. 레이저 용접법은 주변부에 대한 열 영향(왜곡 변형)을 감소시킬 수 있고 가공부재의 진동을 유발하지 않기 때문에, 스위칭 튜브와 같은 미세한 부재의 정밀 용접에 적합하다. 물론, 다른 실시예에서, 레이저 용접법 대신 아크 용접법 등이 사용될 수 있다.
종래 기술과는 달리, 본 실시예는 보수할 디스플레이 픽셀에 대응하는 구동 회로에서 유기 발광 다이오드의 애노드에 연결된 스위칭 튜브의 제어 단부와 스캔 라인 사이의 연결을 먼저 차단함으로써 상기 스위칭 튜브를 비활성화한다. 그 다음, 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 제 2 경로 단부를 연결하여, 상기 제 1 경로 단부의 제 2 기준 전압이 상기 제 2 경로 단부를 통해 상기 유기 발광 다이오드의 애노드에 지속적으로 인가되도록 하며, 상기 유기 발광 다이오드의 캐소드는 제1 기준 전압에 연결된다. 여기서, 상기 제 1 기준 전압 및 상기 제 2 기준 전압은 상기 유기 발광 다이오드가 어두운 상태가 되도록 설정된다. 따라서, 상기 보수 방법에 의해 유기 발광 다이오드를 어두운 상태로 유지할 수 있으며, 상기 방법은 간단하고 실용적이며, 상기 유기 발광 디스플레이 패널의 보수에 소요되는 에너지 소모를 줄이고 보수 효율을 향상시킬 수 있다.
선택적으로, 본 실시예의 스위칭 튜브T7는 박막 트랜지스터이고, 이의 제어 단부 208는 게이트이고, 제 1 경로 단부 204는 소스이고, 제 2 경로 단부 206는 드레인이다. 물론, 다른 실시예에서, 제 1 경로 단부 204는 드레인일 수 있고 제 2 경로 단부 206는 소스일 수 있다.
유의해야 할 점은, 본 출원의 실시예에서, 제 1 경로 단부 및 제 2 경로 단부의 설정은 스위칭 튜브T7의 유형에 대응해야 한다. 구체적으로, 도 2의 실시예에서, 스위칭 튜브 T7는 P 타입 박막 트랜지스터이며, 이에 대응하여 제 1 경로 단부 204는 소스이고, 제 2 경로 단부 206는 드레인이며, 게이트에 로우 레벨이 인가되면, 스위칭 튜브 T7는 턴온된다. 다른 실시예에서, 스위칭 튜브 T7는 N 타입 박막 트랜지스터이며, 이에 대응하여 제 1 경로 단부 204가 드레인이고, 제 2 경로 단부 206가 소스이며, 게이트에 하이 레벨이 인가되면 스위칭 튜브 T7가 턴온된다.
다른 실시예들에서, 박막 트랜지스터 대신에 금속 산화막 반도체(metal- oxid- semiconductor, MOS) 전계 효과 트랜지스터가 사용될 수 있다.
선택적으로, 도 4를 참조하면, 도 4는 도 2의 실시예의 박막 트랜지스터 T7 및 그 주변 회로의 개략도이다. 본 실시예에서, 박막 트랜지스터 T7의 게이트 401는 스캔 라인 402과 동일한 층에 배치되고 스캔 라인 402으로부터 돌출되고, 스캔 라인402에 대하여 돌출 된 게이트401의 돌출부분403을 절단함으로써, 박막 트랜지스터 T7와 스캔 라인 사이의 연결이 차단되고, 박막 트랜지스터 T7는 디스에이블된다. 본 실시예의 돌출부분 403에 대한 설정은 스캔 라인 402으로부터 게이트 401의 차단이 보다 용이하게 실현될 수 있게 한다.
선택적으로, 도 5를 참조하면, 도 5는 도 4의 실시예의 박막 트랜지스터 T7의 개략도이다. 본 실시예는 소스 502와 드레인 503사이에서 전하 운반체의 이동을 실현하기 위해 반도체 패턴 501을 더 포함한다. 게이트 504는 반도체 패턴 501과 절연되고 오버랩되며, 소스 502및 드레인503은 게이트 504의 양측의 반도체 패턴에 각각 전기적으로 연결된다. 스캔 라인505으로부터 차단된 게이트 504의 부분은, 박막 트랜지스터 T7의 소스 502 와 드레인 503을 연결하기 위해 게이트 504의 양측의 반도체 패턴에 각각 전기적으로 연결될 수 있다.
선택적으로, 본 실시예의 반도체 패턴 501은 제 1 패턴 영역 506을 포함한다. 제 1 패턴 영역 506의 연장 방향과 스캔 라인 505의 연장 방향은 서로 평행하게 배치되고, 게이트 504는 스캔 라인 505으로부터 스캔 라인 505의 연장 방향에 수직으로 돌출되고 제 1 패턴 영역 506과 부분적으로 오버랩된다. 게이트 504는 반도체 패턴 501의 제 1 패턴 영역 506과 스캔 라인 505의 인터벌 영역내에서 절단될 수 있다. 물론, 다른 실시예들에서, 게이트 504는 게이트 504의 다른 부분들로부터 절단될 수 있다.
선택적으로, 본 실시예의 전원 공급 라인 507의 연장 방향과 스캔 라인 505의 연장 방향은 서로 평행하게 배치되고, 반도체 패턴 501은 제 2 패턴 영역 508을 더 포함하고, 제 1 패턴 영역 506과 제 2 패턴 영역 508의 서로 인접한 단부는 서로 연결되고, 제 1 패턴 영역 506과 제 2 패턴 영역 508의 서로 이격된 단부는 각각 소스 502 및 드레인 503을 통해 애노드 509 및 전원 공급 라인 507에 연결된다.
선택적으로, 본 실시예의 제 2 패턴 영역 508의 연장 방향은 반도체 패턴 501이 L 자형으로 배치되도록 제 1 패턴 영역에 수직된다.
선택적으로, 애노드 509 및 전원 공급 라인 507은 동일한 층에 배치되고, 게이트 504는 탑 게이트 형태로 반도체 패턴 501 위에 배치된다. 물론, 다른 실시예들에서, 탑 게이트 형태 대신 바텀 게이트 형태 등이 사용될 수 있다.
유의해야 할 점은, 본 출원의 실시예는 반도체 패턴의 형태, 및 반도체 패턴, 게이트, 드레인, 소스, 스캔 라인, 전원 공급 라인 및 유기 발광 다이오드의 애노드의 배치 및 연결 방식을 제한하지 않는다.
도 1 및 도 6을 참조하면, 도 1은 본 출원의 유기 발광 디스플레이 패널의 실시예의 개략도이고, 도 6은 도 1의 실시예의 디스플레이 픽셀의 개략도이다. 본 출원의 실시예는 어레이로 배열 된 복수의 디스플레이 픽셀 101을 포함하고, 여기서 각각의 디스플레이 픽셀 101은 적어도 하나의 유기 발광 다이오드 601 및 구동 회로 602를 포함하고; 유기 발광 다이오드 601의 캐소드 603는 제 1 기준 전압 Vss에 연결되고, 구동 회로 602는 적어도 하나의 스위칭 튜브 T7를 포함하고, 스위칭 튜브 T7의 제 1 경로 단부 604는 전원 공급 라인 605에 연결되어 전원 공급 라인 605을 통해 제 2 기준 전압 Vi에 연결되고, 스위칭 튜브 T7의 제 2 경로 단부 606는 유기 발광 다이오드601의 애노드607에 연결되고, 스위칭 튜브 T7의 제어 단부 608와 스캔 라인 사이의 연결이 끊어지고, 스위칭 튜브T7의 제 1 경로 단부 604는 제 2 기준 전압 Vi이 상기 디스플레이 픽셀의 유기 발광 다이오드 601의 애노드 607에 지속적으로 인가되도록 제 2 경로 단부 606에 연결된다.
본 실시예의 디스플레이 픽셀은 상기 보수 방법에 의해 도 2의 실시예의 디스플레이 픽셀을 보수함으로써 얻어진 것으로 구체적인 보수 방법 및 구동 회로 구조는 상기 실시예에서 이미 상세하게 설명되어 여기서는 반복하여 설명하지 않는다.
종래 기술과는 달리, 본 실시예의 디스플레이 픽셀에 대응하는 구동 회로에서, 유기 발광 다이오드의 애노드에 연결된 스위칭 튜브의 제어 단부와 스캔 라인 사이의 연결이 끊어지고, 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 제 2 경로 단부는 상기 제 1 경로 단부의 제 2 기준 전압이 상기 제 2 경로 단부를 통해 상기 유기 발광 다이오드의 애노드에 지속적으로 인가되도록 연결되며, 상기 유기 발광 다이오드의 캐소드는 제 1 기준 전압에 연결된다. 여기서 상기 제 1 기준 전압 및 상기 제 2 기준 전압은 상기 유기 발광 다이오드가 어두운 상태가 되도록 설정된다. 따라서, 상기 유기 발광 다이오드는 어두운 상태를 유지할 수 있으며, 유기 발광 디스플레이 패널의 디스플레이 효과를 향상할 수 있다.
상기 설명은 본 출원의 실시예일 뿐이므로, 본 출원의 특허의 범위를 제한하지 않는다. 본 명세서 및 도면의 내용을 이용하여 등가 구조 또는 등가 공정 변환이 이루어지는 경우 또는 다른 관련 기술 분야에 직접 또는 간접적으로 사용하는 경우 모두 본 출원의 특허 보호 범위에 포함된다.
Claims (17)
- 유기 발광 디스플레이 패널의 보수 방법으로서, 상기 유기 발광 디스플레이 패널은 어레이로 배열 된 복수의 디스플레이 픽셀을 포함하고, 각각의 디스플레이 픽셀은 적어도 하나의 유기 발광 다이오드 및 구동 회로를 포함하고, 상기 유기 발광 다이오드의 캐소드는 제 1 기준 전압에 연결되고, 상기 구동 회로는 적어도 하나의 스위칭 튜브를 포함하고, 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부는 전력 공급 라인에 연결되어 상기 전력 공급 라인을 통해 제 2 기준 전압에 연결되고, 상기 스위칭 튜브의 제 2 경로 단부는 상기 유기 발광 다이오드의 애노드에 연결되고, 상기 스위칭 튜브의 제어 단부는 스캔 라인에 연결되어 상기 스캔 라인에 인가된 제어 신호에 따라 상기 유기 발광 다이오드의 애노드를 상기 제 2 기준 전압에 선택적으로 연결하고, 상기 제 1 기준 전압 및 상기 제 2 기준 전압은 상기 유기 발광 다이오드가 어두운 상태가 되도록 설정되며, 상기 보수 방법은,
상기 유기 발광 디스플레이 패널의 비정상적인 밝은 점을 확정하고 상기 비정상적인 밝은 점에 대응하는 디스플레이 픽셀을 보수할 디스플레이 픽셀로 하는 단계;
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 상기 제어 단부와 상기 스캔 라인 사이의 연결을 레이저 절단법에 의해 차단하는 단계; 및
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 상기 제 2 경로 단부를 연결하여 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 유기 발광 다이오드의 애노드에 상기 제 2 기준 전압이 지속적으로 인가하도록 하는 단계를 포함한다. - 제1항에 있어서,
상기 스위칭 튜브는 박막 트랜지스터이고, 상기 제어 단부는 상기 박막 트랜지스터의 게이트이고, 상기 제 1 경로 단부는 상기 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 중 하나이며, 상기 제 2경로 단부는 상기 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 중 다른 하나이며, 상기 게이트는 상기 스캔 라인과 동일한 층에 배치되고 상기 스캔 라인으로부터 돌출하며,
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 상기 제어 단부와 상기 스캔 라인 사이의 연결을 차단하는 단계는,
상기 스캔 라인에 대하여 돌출 된 상기 게이트의 돌출부분을 절단함으로써 상기 게이트와 상기 스캔 라인 사이의 연결을 차단하는 단계를 포함하는 보수 방법. - 제2항에 있어서,
상기 박막 트랜지스터는 반도체 패턴을 더 포함하고, 상기 게이트는 상기 반도체 패턴과 절연되고 오버랩되며, 상기 소스 및 드레인은 상기 게이트의 양측의 상기 반도체 패턴에 각각 전기적으로 연결되고,
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 상기 제 2 경로 단부를 연결하는 단계는,
상기 스캔 라인으로부터 차단된 상기 게이트의 부분은 각각 상기 게이트 양측의 상기 반도체 패턴에 전기적으로 연결되는 단계를 포함하는 보수 방법. - 제3항에 있어서,
상기 반도체 패턴은 제 1 패턴 영역을 포함하고, 상기 제 1 패턴 영역의 연장 방향과 상기 스캔 라인의 연장 방향은 서로 평행하게 배치되고, 상기 게이트는 상기 스캔 라인으로부터 상기 스캔 라인의 연장 방향에 수직으로 돌출하고 상기 제 1 패턴 영역과부분적으로 오버랩되며,
상기 스캔 라인에 대하여 돌출 된 상기 게이트의 돌출부분을 절단하는 단계는,
상기 게이트는 상기 반도체 패턴의 상기 제 1 패턴 영역과 상기 스캔 라인의 인터벌 영역내에서 절단되는 단계를 포함하는 보수 방법. - 제4항에 있어서,
상기 전원 공급 라인의 연장 방향과 상기 스캔 라인의 연장 방향이 서로 평행하게 배치되고, 상기 반도체 패턴은 제 2 패턴 영역을 더 포함하고, 상기 제 1 패턴 영역과 상기 제 2 패턴 영역의 서로 인접한 단부는 서로 연결되고, 상기 제 1 패턴 영역과 상기 제 2 패턴 영역의 서로 이격된 단부는 각각 상기 소스 및 상기 드레인을 통해 상기 애노드 및 상기 전원 공급 라인에 연결되는 보수 방법. - 제5항에 있어서,
상기 제 2 패턴 영역의 연장 방향은 상기 반도체 패턴이 L 자형으로 배치되도록 상기 제 1 패턴 영역에 수직인 보수 방법. - 제3항에 있어서,
상기 애노드와 상기 전원 공급 라인은 동일한 층에 배치되고, 상기 게이트는 상기 반도체 패턴 위에 탑 게이트 형태로 배치되는 보수 방법. - 유기 발광 디스플레이 패널의 보수 방법으로서, 상기 유기 발광 디스플레이 패널은 어레이로 배열 된 복수의 디스플레이 픽셀을 포함하고, 각각의 디스플레이 픽셀은 적어도 하나의 유기 발광 다이오드 및 구동 회로를 포함하고, 상기 유기 발광 다이오드의 캐소드는 제 1 기준 전압에 연결되고, 상기 구동 회로는 적어도 하나의 스위칭 튜브를 포함하고, 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부는 전력 공급 라인에 연결되어 상기 전력 공급 라인을 통해 제 2 기준 전압에 연결되고, 상기 스위칭 튜브의 제 2 경로 단부는 상기 유기 발광 다이오드의 애노드에 연결되고, 상기 스위칭 튜브의 제어 단부는 스캔 라인에 연결되어 상기 스캔 라인에 인가된 제어 신호에 따라 상기 유기 발광 다이오드의 애노드를 상기 제 2 기준 전압에 선택적으로 연결하고, 상기 제 1 기준 전압 및 상기 제 2 기준 전압은 상기 유기 발광 다이오드가 어두운 상태가 되도록 설정되며, 상기 보수 방법은,
보수할 디스플레이 픽셀을 확정하는 단계;
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 상기 제어 단부와 상기 스캔 라인 사이의 연결을 차단하는 단계;
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 제 2 경로 단부를 연결하여 상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 유기 발광 다이오드의 애노드에 상기 제 2 기준 전압이 지속적으로 인가되도록 하는 단계를 포함하는 보수 방법. - 제8항에 있어서,
상기 보수할 디스플레이 픽셀을 확정하는 단계는,
상기 유기 발광 디스플레이 패널상의 비정상적인 밝은 점을 확정하는 단계;
상기 비정상적인 밝은 점에 대응하는 상기 디스플레이 픽셀을 상기 보수할 디스플레이 픽셀로 하는 단계를 포함하는 보수 방법. - 제8항에 있어서,
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 상기 제어 단부와 상기 스캔 라인 사이의 연결을 차단하는 단계는,
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 제어 단부와 상기 스캔 라인 사이의 연결을 레이저 절단법에 의해 차단하는 단계를 포함하고;
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 제 2 경로 단부를 연결하는 단계는,
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 제 2 경로 단부를 레이저 용접법에 의해 연결하는 단계를 포함하는 보수 방법. - 제8항에 있어서,
상기 스위칭 튜브는 박막 트랜지스터이고, 상기 제어 단부는 상기 박막 트랜지스터의 게이트이고, 상기 제 1 경로 단부는 상기 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 중 하나이며, 상기 제 2경로 단부는 상기 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 중 다른 하나이며, 상기 게이트는 상기 스캔 라인과 동일한 층에 배치되고 상기 스캔 라인으로부터 돌출하며,
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 상기 제어 단부와 상기 스캔 라인 사이의 연결을 차단하는 단계는,
상기 스캔 라인에 대하여 돌출 된 상기 게이트의 돌출부분을 절단함으로써 상기 게이트와 상기 스캔 라인 사이의 연결을 차단하는 단계를 포함하는 보수 방법. - 제11항에 있어서,
상기 박막 트랜지스터는 반도체 패턴을 더 포함하고, 상기 게이트는 상기 반도체 패턴과 절연되고 오버랩되며, 상기 소스 및 드레인은 상기 게이트의 양측의 상기 반도체 패턴에 각각 전기적으로 연결되고,
상기 보수할 디스플레이 픽셀의 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 제 2 경로 단부를 연결하는 단계는,
상기 스캔 라인으로부터 차단된 상기 게이트의 부분은 각각 상기 게이트 양측의 상기 반도체 패턴에 전기적으로 연결되는 단계를 포함하는 보수 방법. - 제12항에 있어서,
상기 반도체 패턴은 제 1 패턴 영역을 포함하고, 상기 제 1 패턴 영역의 연장 방향과 상기 스캔 라인의 연장 방향은 서로 평행하게 배치되고, 상기 게이트는 상기 스캔 라인으로부터 상기 스캔 라인의 연장 방향에 수직으로 돌출하고 상기 제 1 패턴 영역과부분적으로 오버랩되며,
상기 스캔 라인에 대하여 돌출 된 상기 게이트의 돌출부분을 절단하는 단계는,
상기 게이트는 상기 반도체 패턴의 상기 제 1 패턴 영역과 상기 스캔 라인의 인터벌 영역내에서 절단되는 단계를 포함하는 보수 방법. - 제13항에 있어서,
상기 전원 공급 라인의 연장 방향과 상기 스캔 라인의 연장 방향이 서로 평행하게 배치되고, 상기 반도체 패턴은 제 2 패턴 영역을 더 포함하고, 상기 제 1 패턴 영역과 상기 제 2 패턴 영역의 서로 인접한 단부는 서로 연결되고, 상기 제 1 패턴 영역과 상기 제 2 패턴 영역의 서로 이격된 단부는 각각 상기 소스 및 상기 드레인을 통해 상기 애노드 및 상기 전원 공급 라인에 연결되는 보수 방법. - 제14항에 있어서,
상기 제 2 패턴 영역의 연장 방향은 상기 반도체 패턴이 L 자형으로 배치되도록 상기 제 1 패턴 영역에 수직인 보수 방법. - 제12항에 있어서,
상기 애노드와 상기 전원 공급 라인은 동일한 층에 배치되고, 상기 게이트는 상기 반도체 패턴 위에 탑 게이트 형태로 배치되는 보수 방법. - 유기 발광 디스플레이 패널로서, 상기 유기 발광 디스플레이 패널은 어레이로 배열 된 복수의 디스플레이 픽셀을 포함하고, 각각의 디스플레이 픽셀은 적어도 하나의 유기 발광 다이오드 및 구동 회로를 포함하고, 상기 유기 발광 다이오드의 캐소드는 제 1 기준 전압에 연결되고, 상기 구동 회로는 적어도 하나의 스위칭 튜브를 포함하고, 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부는 전력 공급 라인에 연결되어 상기 전력 공급 라인을 통해 제 2 기준 전압에 연결되고, 상기 스위칭 튜브의 제 2 경로 단부는 상기 유기 발광 다이오드의 애노드에 연결되고, 상기 스위칭 튜브의 제어 단부와 스캔 라인 사이의 연결은 차단되고, 상기 스위칭 튜브의 제 1 경로 단부와 상기 제 2 경로 단부를 연결하여 상기 디스플레이 픽셀의 상기 유기 발광 다이오드의 애노드에 상기 제 2 기준 전압이 지속적으로 인가되도록 한다.
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