KR20190116176A - 적층 세라믹 전자부품 - Google Patents
적층 세라믹 전자부품Info
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Abstract
본 발명의 일 실시형태는 유전체층 및 상기 유전체층을 사이에 두고 제3 방향으로 적층되도록 배치되는 제1 및 제2 내부 전극을 포함하는 용량 형성부, 상기 용량 형성부의 제2 방향의 양면에 배치되는 마진부 및 상기 용량 형성부의 제3 방향의 양면에 배치되는 커버부를 포함하고, 제1 방향으로 대향하는 제5 및 제6 면, 제2 방향으로 대향하는 제3 및 제4 면, 제3 방향으로 대향하는 제1 및 제2 면을 포함하는 세라믹 바디; 상기 세라믹 바디의 제5 면 및 제6 면 상에 각각 배치되는 제1 및 제2 외부 전극; 및 상기 용량 형성부와 이격되고, 상기 제1 및 제2 외부 전극과 접하여 배치되는 보조 전극을 2개 이상 포함하며, 상기 보조 전극은 상기 세라믹 바디의 제3 방향으로 배치되는 적층 세라믹 전자부품을 제공할 수 있다.
Description
본 발명은 적층 세라믹 전자부품에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 신뢰성이 우수한 적층 세라믹 전자부품에 관한 것이다.
최근, 전자 제품의 소형화, 슬림화 및 다기능화에 따라 적층 세라믹 커패시터도 소형화가 요구되고 있으며, 적층 세라믹 커패시터의 실장도 고 집적화되고 있다.
전자부품 중 하나인 적층 세라믹 커패시터는 액정 표시 장치 (LCD, Liquid Crystal Display) 및 플라즈마 표시 장치 패널 (PDP, Plasma Display Panel) 등의 영상 기기, 컴퓨터, 개인 휴대용 단말기 (PDA, Personal Digital Assistants) 및 휴대폰 등 여러 전자 제품의 인쇄회로기판에 장착되어 전기를 충전시키거나 또는 방전시키는 역할을 한다.
이러한 적층 세라믹 커패시터는 소형이면서 고용량이 보장되고 실장이 용이하다는 장점으로 인하여 다양한 전자 장치의 부품으로 사용될 수 있다.
한편, 최근 전장 부품에 대한 업계의 관심이 높아지면서 적층 세라믹 커패시터 역시 자동차 혹은 인포테인먼트 시스템에 사용되기 위하여 고신뢰성 및 고강도 특성이 요구되고 있다.
특히, 적층 세라믹 커패시터가 가혹한 환경에 노출되는 경우 외부 전극의 산화, 외력에 의한 휨 발생 등으로 인하여 전극의 박리 또는 크랙이 발생할 수 있고, 수분 등이 침투하여 IR 저하 및/또는 쇼트 등이 발생할 수 있다. 이러한 가혹 환경에, 내습 신뢰성 향상 및 기계적 강도 향상을 위한 내부 및 외부 구조 등에 있어서 개선이 필요한 실정이다.
본 발명의 일 목적은 휨 강도가 우수한 적층 세라믹 전자부품을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 내습 신뢰성이 우수한 적층 세라믹 전자부품을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 기계적 강도가 개선된 적층 세라믹 전자부품을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 실시형태는 유전체층 및 상기 유전체층을 사이에 두고 제3 방향으로 적층되도록 배치되는 제1 및 제2 내부 전극을 포함하는 용량 형성부, 상기 용량 형성부의 제2 방향의 양면에 배치되는 마진부 및 상기 용량 형성부의 제3 방향의 양면에 배치되는 커버부를 포함하고, 제1 방향으로 대향하는 제5 및 제6 면, 제2 방향으로 대향하는 제3 및 제4 면, 제3 방향으로 대향하는 제1 및 제2 면을 포함하는 세라믹 바디; 상기 세라믹 바디의 제5 면 및 제6 면 상에 각각 배치되는 제1 및 제2 외부 전극; 및 상기 용량 형성부와 이격되고, 상기 제1 및 제2 외부 전극과 접하여 배치되는 보조 전극을 2개 이상 포함하며, 상기 보조 전극은 상기 세라믹 바디의 제3 방향으로 배치되는 적층 세라믹 전자부품을 제공할 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에 따르면, 보조 전극을 적용하여 휨 강도가 우수한 적층 세라믹 전자부품을 제공할 수 있다.
본 발명의 다른 실시형태에 따르면, 보조 전극을 적용하여 내습 신뢰성이 우수한 적층 세라믹 전자부품을 제공할 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시형태에 따르면, 보조 전극을 적용하여 크랙을 방지하고 기계적 강도를 강화할 수 있다.
다만, 본 발명의 다양하면서도 유익한 장점과 효과는 상술한 내용에 한정되지 않으며, 본 발명의 구체적인 실시 형태를 설명하는 과정에서 보다 쉽게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 전자부품을 개략적으로 나타내는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 형태에 따른 세라믹 바디를 나타낸 모식도이다.
도 3은 도 1의 I-I' 단면도이다.
도 4는 도 1의 II-II' 단면도이다.
도 5는 도 3의 A 영역에 대한 확대도이다.
도 6은 도 4의 B 영역에 대한 확대도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시형태에 따른 적층 세라믹 전자부품의 II-II' 단면도이다.
도 8 및 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 적층 세라믹 전자부품의 제조 방법을 나타내는 모식도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 형태에 따른 세라믹 바디를 나타낸 모식도이다.
도 3은 도 1의 I-I' 단면도이다.
도 4는 도 1의 II-II' 단면도이다.
도 5는 도 3의 A 영역에 대한 확대도이다.
도 6은 도 4의 B 영역에 대한 확대도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시형태에 따른 적층 세라믹 전자부품의 II-II' 단면도이다.
도 8 및 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 적층 세라믹 전자부품의 제조 방법을 나타내는 모식도이다.
이하, 구체적인 실시형태 및 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시형태는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다.
그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하고, 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었으며, 동일한 사상의 범위 내의 기능이 동일한 구성요소는 동일한 참조부호를 사용하여 설명한다. 나아가 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도면에서, X 방향은 제1 방향, L 방향 또는 길이 방향, Y 방향은 제2 방향, W 방향 또는 폭 방향, Z 방향은 제3 방향, T 방향 또는 두께 방향으로 정의될 수 있다.
이하, 도 1 내지 도 6을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 적층 세라믹 전자부품에 대하여 상세히 설명한다.
도 1 내지 도 6을 참조하면, 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 전자부품(100)은 유전체층(111) 및 상기 유전체층(111)을 사이에 두고 제3 방향(Z 방향)으로 적층되도록 배치되는 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)을 포함하는 용량 형성부(αW, αT), 상기 용량 형성부(αW, αT)의 제2 방향(Y 방향)의 양면에 배치되는 마진부(m) 및 상기 용량 형성부(αW, αT)의 제3 방향(Z 방향)의 양면에 배치되는 커버부(c)를 포함하고, 제1 방향(X 방향)으로 대향하는 제1 및 제2 면(S5, S6), 제2 방향(Y 방향)으로 대향하는 제3 및 제4 면(S3, S4), 제3 방향(Z 방향)으로 대향하는 제5 및 제6 면(S5, S6)을 포함하는 세라믹 바디(110); 상기 세라믹 바디(110)의 제5면(S5) 및 제6면(S6) 상에 각각 배치되는 제1 및 제2 외부 전극(131, 132); 및 상기 용량 형성부(αW, αT)와 이격되고, 상기 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)과 접하여 배치되는 보조 전극(141, 142)을 2개 이상 포함할 수 있다. 이 때, 상기 보조 전극(141, 142)은 상기 세라믹 바디(110)의 제3 방향(Z 방향)으로 배치될 수 있다.
이하에서는 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 전자부품을 설명하되, 특히 적층 세라믹 커패시터로 설명하지만 이에 제한되는 것은 아니다.
본 발명의 일 실시예에서, 세라믹 바디(110)는 유전체층(111), 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)을 포함하는 용량 형성부(αW, αT), 상기 용량 형성부(αW, αT)의 제2 방향(Y 방향)의 양면에 배치되는 마진부(m) 및 상기 용량 형성부(αW, αT)의 제3 방향(Z 방향)의 양면에 배치되는 커버부(c)를 포함할 수 있다.
상기 세라믹 바디(110)의 구체적인 형상에 특별히 제한은 없지만, 도시된 바와 같이 세라믹 바디(110)는 육면체 형상이나 이와 유사한 형상으로 이루어질 수 있다. 소성 과정에서 세라믹 바디(110)에 포함된 세라믹 분말의 수축으로 인하여, 세라믹 바디(110)는 완전한 직선을 가진 육면체 형상은 아니지만 실질적으로 육면체 형상을 가질 수 있다. 세라믹 바디(110)는 길이 방향(X 방향)으로 서로 대향하는 제1 및 제2 면(S1, S2), 상기 제1 및 제2 면(S1, S2)과 연결되고 폭 방향(Y 방향)으로 서로 대향하는 제3 및 제4 면(S3, S4), 제1 및 제2 면(S1, S2)과 연결되고 제3 및 제4 면(S3, S4)과 연결되며 두께 방향(Z 방향)으로 서로 대향하는 제5 및 제6 면(S5, S6)을 가질 수 있다.
상기 세라믹 바디(110)는 유전체층(111)에 제1 내부 전극(121)이 인쇄된 세라믹 그린 시트와 유전체층(111)에 제2 내부 전극(122)이 인쇄된 세라믹 그린 시트를 두께 방향(Z 방향)으로 번갈아 적층하여 형성할 수 있다.
상기 용량 형성부(αW, αT)는 유전체층(111) 및 내부 전극(121, 122)이 제3 방향으로 교대로 적층되어 있을 수 있다. 용량 형성부(αW, αT)를 형성하는 복수의 유전체층(111)은 소성된 상태로서, 인접하는 유전체층(111) 사이의 경계는 주사전자현미경(SEM: Scanning Electron Microscope)를 이용하지 않고 확인하기 곤란할 정도로 일체화될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 유전체층(111)을 형성하는 원료는 충분한 정전 용량을 얻을 수 있는 한 특별히 제한되지 않는다. 예를 들어, 티탄산바륨계 재료, 납 복합 페로브스카이트계 재료 또는 티탄산스트론튬계 재료 등을 사용할 수 있다.
또한, 상기 유전체층(111)을 형성하는 재료는 티탄산바륨(BaTiO3) 등의 파우더에 본 발명의 목적에 따라 다양한 세라믹 첨가제, 유기용제, 가소제, 결합제, 분산제 등이 첨가될 수 있다.
예를 들어, 유전체층(111)은 티탄산바륨(BaTiO3) 등의 파우더를 포함하여 형성된 슬러리를 캐리어 필름(carrier film)상에 도포 및 건조하여 복수 개의 세라믹 시트를 마련함에 의해 형성될 수 있다. 상기 세라믹 시트는 세라믹 분말, 바인더, 용제를 혼합하여 슬러리를 제조하고, 상기 슬러리를 닥터 블레이드 법으로 수 ㎛의 두께를 갖는 시트(sheet)형으로 제작함에 따라 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
본 발명의 적층 세라믹 전자부품은 복수의 내부 전극(121, 122)이 유전체층(111)을 사이에 두고 서로 대향하도록 배치될 수 있다. 내부 전극(121, 122)은 유전체층(111)을 사이에 두고 서로 대향하도록 번갈아 배치되는 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)을 포함할 수 있다.
상기 제1 내부 전극(121)은 상기 세라믹 바디(110)의 상기 제1 방향(X 방향)의 일 면(S1)으로 노출될 수 있으며, 상기 제1 방향(X 방향)의 일 면(S1)으로 노출되는 부분이 제1 외부 전극(131)과 연결될 수 있다. 상기 제2 내부 전극(122)은 상기 세라믹 바디(110)의 상기 제1 방향(X 방향)의 타 면(S2)으로 노출될 수 있으며, 상기 제1 방향(X 방향)의 타 면(S2)으로 노출되는 부분이 제2 외부 전극(132)과 연결될 수 있다. 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)은 중간에 배치된 유전체층(111)에 의해 서로 전기적으로 분리될 수 있다.
제1 및 제2 내부 전극(121, 122)을 형성하는 재료는 특별히 제한되지 않으며, 예를 들어 은(Ag), 팔라듐(Pd), 금(Au), 백금(Pt), 니켈(Ni), 구리(Cu), 주석(Sn), 텅스텐(W), 티타늄(Ti) 및 이들의 합금 중 하나 이상의 물질을 포함하는 도전성 페이스트를 사용하여 형성될 수 있다. 상기 도전성 페이스트의 인쇄 방법은 스크린 인쇄법 또는 그라비아 인쇄법 등을 사용할 수 있으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다.
본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품은, 용량 형성부(αW, αT)의 제2 방향의 양면에 마진부(m)가 배치될 수 있다. 상기 마진부(m)는 상기 용량 형성부(αW, αT)의 제1 및 제3 방향(X 방향 및 Z 방향)과 수직인 제2 방향(Y 방향)의 양 면에 각각 배치될 수 있다. 상기 마진부(m)는 물리적 또는 화학적 스트레스에 의한 내부 전극의 손상을 방지하는 역할을 수행할 수 있다.
마진부(m)는 절연 물질로 이루어질 수 있으며, 티탄산바륨 등과 같은 세라믹 물질로 이루어질 수 있다. 이 경우, 마진부(m)는 유전체층(111)에 포함된 것과 동일한 세라믹 물질을 포함하거나, 유전체층(111)과 동일한 물질로 이루어질 수 있다.
상기 마진부(m)를 형성하는 방법은 특별히 제한되지 않는다. 예를 들어, 용량 형성부(αW)에 포함되는 유전체층의 면적을 내부 전극의 면적보다 크게 형성하여, 내부 전극 중 외부 전극과 연결되는 부분을 제외한 나머지 둘레 부분에 마진 영역을 형성하거나 또는 세라믹을 포함하는 슬러리를 도포하여 형성하거나, 유전체 시트를 용량 형성부(αW)의 제2 방향(Y 방향)의 양 면에 부착하여 형성될 수 있다.
본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품은 커버부(c)를 포함할 수 있다. 상기 커버부(c)는 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)의 최외곽에 배치될 수 있다. 상기 커버부(c)는 바디(110)의 최하부의 내부 전극의 하부 및 최상부의 내부 전극의 상부에 배치될 수 있다. 이때, 커버부(c)는 유전체층(111)과 동일한 조성으로 이루어질 수 있으며, 내부 전극을 포함하지 않는 유전체층을 바디(110)의 최상부의 내부 전극의 상부와 최하부의 내부 전극의 하부에 각각 적어도 1개 이상 적층하여 형성될 수 있다. 상기 커버부(c)는 기본적으로 물리적 또는 화학적 스트레스에 의한 내부 전극의 손상을 방지하는 역할을 수행할 수 있다.
본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품은 세라믹 바디(110)의 제1 방향(X 방향)의 양면, 즉 상기 세라믹 바디의 제5면(S5) 및 제6면(S6)에 제1 외부 전극(131) 및 제2 외부 전극(132)이 배치될 수 있다. 제1 외부 전극(131)은 제1 내부 전극(121)과 연결되며, 제2 외부 전극(132)은 제2 내부 전극(122)과 연결될 수 있다.
하나의 예시에서, 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)은 세라믹 바디(110)의 제1 방향인 길이 방향 제5 면(S5) 및 제6 면(S6)에 각각 배치되되, 상기 세라믹 바디(110)의 제2 방향인 폭 방향 제3 면(S3) 및 제4 면(S4)과 제3 방향인 두께 방향 제5 면(S5) 및 제6 면(S6)으로 연장 배치될 수 있다. 상기 세라믹 바디(110)의 제1면 내지 제4면(S1 내지 S4)에 연장되어 배치되는 제1 외부 전극(131) 및 상기 세라믹 바디(110)의 제1면 내지 제4면(S1 내지 S4)에 연장되어 배치되는 제2 외부 전극(132)은 후술하는 보조 전극과 접함으로써 본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품(100)의 내습신뢰성 및 기계적 강도를 향상시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에 따르면, 외부 전극(131, 132)은 세라믹 바디(110)의 제5 면(S5) 및 제6 면(S6)을 덮도록 배치되며, 내부 전극(121, 122)과 연결되는 제1 전극층(131a, 132a) 및 상기 제1 전극층(131a, 132a) 상에 배치된 제2 전극층(131b, 132b)을 포함할 수 있다.
구체적으로, 상기 제1 외부 전극(131)은 상기 세라믹 바디(110)의 제5 면(S5)에 배치되고, 제1 내부 전극(121)과 전기적으로 연결되는 제1 전극층(131a)과 상기 제1 전극층(131a)을 덮도록 배치되는 제2 전극층(131b)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 제2 외부 전극(132)은 상기 세라믹 바디(110)의 제6 면(S6)에 배치되고 제2 내부 전극(122)과 전기적으로 연결되는 제1 전극층(132a)과 상기 제1 전극층(132a)을 덮도록 배치되는 제2 전극층(132b)을 포함할 수 있다.
상기 제1 전극층(131a, 132a)은 도전성 금속 및 글라스를 포함할 수 있다. 상기 제1 전극층(131a, 132a)에 사용되는 도전성 금속은 정전 용량 형성을 위해 상기 내부 전극과 전기적으로 연결될 수 있는 재질이면 특별히 제한되지 않으며, 예를 들어, 구리(Cu), 은(Ag), 니켈(Ni) 및 이들의 합금으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상일 수 있다.
상기 제1 전극층(131a, 132a)은 상기 도전성 금속 분말에 글라스 프릿을 첨가하여 마련된 도전성 페이스트를 도포한 후 소성함으로써 형성될 수 있다. 상기 제1 전극층(131a, 132a)은 상기 세라믹 바디(110)의 제3 면(S3), 제4 면(S4), 제5 면(S5) 및 제6 면(S6)으로 연장하여 배치될 수 있다.
상기 제2 전극층(131b, 132b)은 도전성 금속 및 글라스로 형성되거나, 도전성 금속을 포함하는 전도성 고분자 등을 포함할 수 있다. 상기 제2 전극층(131b, 132b)은 제1 전극층(131a, 132a) 상에 형성되며, 제1 전극층(131a, 132a)을 완전히 덮는 형태로 형성될 수 있다.
상기 제2 전극층(131b, 132b)에 사용되는 도전성 금속은 정전 용량 형성을 위해 상기 내부 전극과 전기적으로 연결될 수 있는 재질이면 특별히 제한되지 않으며, 예를 들어, 구리(Cu), 은(Ag), 니켈(Ni) 및 이들의 합금으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상일 수 있다. 상기 제2 전극층(131b, 132b)은 상기 도전성 금속 분말에 글라스 프릿을 첨가하여 마련된 도전성 페이스트를 도포한 후 소성함으로써 형성하거나, 또는 도전성 금속 분말을 포함하는 전도성 고분자를 경화시켜 형성할 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에 따르면, 상기 제2 전극층(131b, 132b)은 제1 전극층(131a, 132a)과 상이한 도전성 금속을 포함할 수 있다. 상기 제2 전극층(131b, 132b)이 제1 전극층(131a, 132a)과 상이한 도전성 금속을 포함하는 경우, 외부의 응력 등에 의해 외부 전극의 박리가 발생하더라도, 제2 전극층(131b, 132b)이 먼저 박리됨으로써 내습 신뢰성을 보다 향상시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에서, 본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품(100)은 2개 이상의 보조 전극(141, 142)이 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)과 접하여 배치될 수 있다. 상기 2개 이상의 보조 전극(141, 142)은 상기 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)과 접하는 것과 동시에, 용량 형성부(αW, αT)와 이격되고, 세라믹 바디(110)의 제3 방향(Z 방향)으로 배치될 수 있다. 본 명세서에서 X와 Y가 이격되어 배치된다는 것은 X와 Y가 접하지 않은 것을 의미할 수 있으며, 소정의 간격을 두고 배치되는 것을 의미할 수 있다. 또한, 본 명세서에서 보조 전극이 제3 방향으로 배치된다는 것은, 상기 보조 전극의 면이 향하는 방향이 제3 방향인 것을 의미할 수 있으며, 상기 보조 전극의 면이 향하는 방향이 제3 방향을 기준으로 소정의 각도 이내인 것을 의미할 수 있다. 상기 2개 이상의 보조 전극(141, 142)은 상기 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)과 접하는 것과 동시에, 용량 형성부(αW, αT)와 이격되고, 세라믹 바디(110)의 제3 방향(Z 방향)으로 배치되는 경우, 휨 강도를 개선할 수 있으며, 칩의 크랙을 방지할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 보조 전극(141, 142)은 세라믹 바디(110)의 제5면(S5) 및 제6면(S6)으로 노출될 수 있다. 도 2 내지 도 4를 참조하면, 세라믹 바디(110)의 제3방향(Z 방향)으로 배치되는 보조 전극(141, 142)은 상기 세라믹 바디(110)의 제5면(S5) 및 제6면(S6)을 통해 상기 세라믹 바디(110)의 표면으로 노출될 수 있다. 그리고 상기 세라믹 바디(110)의 제5면(S5) 및 제6면(S6)으로 노출되는 보조 전극(141, 142)은 제1 외부 전극(131) 및 제2 외부 전극(132)와 접하여 있을 수 있다. 상기 세라믹 바디(110)의 제5면(S5) 및 제6면(S6)으로 노출되는 보조 전극(141, 142)은 후술하는 소성 과정에서 상기 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)과 접착됨으로써 본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품(100)의 휨 강도를 향상시킬 수 있다.
하나의 예시에서, 본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품의 보조 전극(141, 142)은 제3 방향(Z 방향)에 대한 각도(θ)의 절대값의 최대값이 45° 미만일 수 있다. 상기 각도의 절대값의 최소값은 특별히 제한되는 것은 아니나, 예를 들어 0° 이상일 수 있다. 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 적층 세라믹 전자부품의 II-II' 단면도이고, 도 6은 도 4의 B 영역의 확대도이다. 도 4 및 도 6을 참조하면, 상기 보조 전극(141, 142)의 제3 방향(Z 방향)에 대한 각도(θ)는 상기 보조 전극(141, 142)이 상기 세라믹 바디(110)의 제5면(S5) 또는 제6면(S6)으로 노출되는 지점에서, XZ 평면을 기준으로 측정한 값을 의미할 수 있다. 상기 각도(θ)의 절대값의 최대값은, 복수개가 배치되는 보조 전극(141, 142)의 각도(θ) 중 가장 큰 값을 의미할 수 있다. 상기 보조 전극(141, 142)은 제3 방향(Z 방향)에 대한 각도(θ)의 절대값의 최대값이 45° 미만인 경우, 상기 보조 전극(141, 142)이 본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품에 가해지는 휨 응력을 효과적으로 분산시켜 칩의 크랙을 방지할 수 있다.
다른 예시에서, 본 발명의 따른 적층 세라믹 전자부품에 포함되는 복수의 보조 전극(141, 142)의 제3 방향(Z 방향)에 대한 각도의 절대값의 총 합은 90° 이하일 수 있다. 상기 보조 전극(141, 142)의 제3 방향에 대한 각도의 절대값의 총합은, 전술한 바와 같이 상기 보조 전극(141, 142)이 상기 세라믹 바디(110)의 제5면(S5) 또는 제6면(S6)으로 노출되는 지점에서, XZ 평면을 기준으로 측정한 값의 총 합을 의미할 수 있다. 상기 보조 전극(141, 142)의 제3 방향에 대한 각도의 절대값의 총합의 최소값은 특별히 제한되는 것은 아니나, 예를 들어 0° 이상일 수 있다. 상기 보조 전극(141, 142)의 제3 방향에 대한 각도의 절대값의 총합의 최소값이 0°인 경우는 상기 보조 전극(141, 142)이 모두 세라믹 바디(110)의 제3 방향(Z 방향)에 수평인 경우를 의미할 수 있으며, 상기 세라믹 바디(110)의 제5면(S5) 및 제6면(S6)에 대하여 수직인 경우를 의미할 수 있다. 상기 보조 전극(141, 142)의 제3 방향에 대한 각도의 절대값의 총합을 소정 범위로 유지하는 경우 본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품의 휨강도를 더욱 향상시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에서, 전술한 제1 전극층(131a, 132a)의 끝단 및 세라믹 바디(110)의 변곡점 사이에 보조 전극(141, 142)이 배치될 수 있다. 상기 제1 전극층(131a, 132a)의 끝단이란, 세라믹 바디(110)와 제1 전극층(131a, 132a)이 만나는 지점의 끝부분을 의미할 수 있으며, 상기 세라믹 바디(110), 제1 전극층(131a, 132a) 및 제2 전극층(131b, 132b)이 모두 만나는 지점을 의미할 수 있다. 본 명세서에서 변곡점이란, 직선과 라운드 형상이 만나는 지점을 의미할 수 있으며, 직선 형상이 끝나는 지점을 의미할 수 있다. 도 5를 참조하면, 상기 변곡점은 바디의 제6 면의 직선 형상이 끝나는 지점을 의미할 수 있다. 이와 같이, 상기 제1 전극층(131a, 132a)의 끝단 및 상기 세라믹 바디(110)의 변곡점 사이에 보조 전극(141, 142)이 배치되는 경우, 본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품에 휨 응력이 가해지는 경우 2차 전극층(131b, 132b)이 박리된다 하더라도 1차 전극층(131a, 132a)과 보조 전극(141, 142)이 결합되어 있어 우수한 내습 신뢰성을 확보할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에서, 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)의 끝단 및 세라믹 바디(110)의 변곡점 사이에 보조 전극(141, 142)이 배치될 수 있다. 상기 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)의 끝단이란, 세라믹 바디(110)와 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)이 만나는 지점의 끝부분을 의미할 수 있으며, 상기 세라믹 바디상(110)에 형성된 제2 전극층(131b, 132b)의 끝단을 의미할 수 있다. 상기 보조 전극(141, 142)이 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)의 끝단 및 세라믹 바디(110)의 변곡점 사이에 배치되는 경우 보조 전극(141, 142)이 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)의 고착력을 강화하여 본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품의 기계적 강도를 개선할 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에서, 보조 전극(141, 142)의 두께는 커버부(c)의 두께의 20 내지 50%의 범위 내일 수 있다. 도 5를 참조하면, 상기 보조 전극(141, 142)의 두께(d1)는 보조 전극(141, 142)의 Z 방향의 거리를 의미할 수 있다. 또한, 커버부(c)의 두께(d2)는 내부 전극이 배치되지 않은 유전체층의 두께를 의미할 수 있다. 상기 보조 전극(141, 142)의 두께(d1)가 커버부(c)의 두께(d2)의 20% 미만일 경우 휨 강도가 약해지고 내습신뢰성이 저하될 수 있으며, 50%를 초과할 경우 인쇄 산포 및/또는 번짐에 의해 유효 내부 전극과 연결되어 전기적 특성이 악화될 수 있다.
하나의 예시에서, 보조 전극(141, 142)은 마진부(m) 내에 배치될 수 있다. 도 8은 본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품의 제조 과정 중 일부를 개략적으로 나타낸 모식도이다. 도 8을 참조하면, 상기 보조 전극(141, 142)은 마진부(m) 내에 미리 배치된 후 용량 형성부에 부착될 수 있다. 이 경우 세라믹 바디에서 별도의 보조 전극의 형성과정이 필요하지 않아 공정을 간소화할 수 있다.
다른 예시에서, 보조 전극(141, 142)은 커버부 내에 배치될 수 있다. 도 9는 본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품의 제조 과정 중 일부를 개략적으로 나타낸 모식도이다. 도 9를 참조하면, 상기 보조 전극(141, 142)은 마진부(m) 내에 미리 배치된 후 용량 형성부에 부착될 수 있다. 이 경우 외부 전극의 말단 부위를 강하게 고정함과 동시에, 후술하는 바와 같이 복수의 보조 전극을 배치하여 본 발명에 따른 적층 세라믹 전자부품의 휨강도 및 내습신뢰성을 더욱 향상시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에 따르면, 보조 전극(141, 142)은 제1 내지 제8 보조 전극을 포함할 수 있다. 이 경우 제1 내지 제4 보조 전극(141)은 세라믹 바디(110)의 상부에 배치되고, 제5 내지 제8 보조 전극(142)은 세라믹 바디(110)의 하부에 배치될 수 있다. 즉, 적어도 1개의 보조 전극(141, 142)이 육면체 형상의 세라믹 바디(110)의 각 모서리 측에 배치될 수 있다. 이 경우 수분 등의 외부 물질이 침투하기 쉬운 외부 전극의 말단 부위를 강하게 고정하여 휨 강도 및 내습 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 보조 전극은 상기 세라믹 바디의 제5면 및 제6면으로 각각 6개 이상 노출될 수 있다. 세라믹 바디(210)의 제5면(S5)에서 제1면(S1)과 접하는 위치에 보조 전극(241, 251)이 3개 이상 노출될 수 있으며, 세라믹 바디(210)의 제5면(S5)에서 제2면(S2)과 접하는 위치에 보조 전극(241, 251)이 3개 이상 노출될 수 있다. 또한, 세라믹 바디(210)의 제6면(S5)에서 제1면(S1)과 접하는 위치에 보조 전극(242, 252)이 3개 이상 노출될 수 있으며, 세라믹 바디(210)의 제6면(S5)에서 제2면(S2)과 접하는 위치에 보조 전극(242, 252)이 3개 이상 노출될 수 있다. 상기 보조 전극(241, 242, 251, 252)이 세라믹 바디(210)의 제5면(S5) 및 제6면(S6)으로 각각 노출되는 개수의 상한은 특별히 제한되는 것은 아니나, 예를 들어 100개 이하 또는 50개 이하일 수 있다.
즉, 세라믹 바디(210)에서 보조 전극(241, 242, 251, 252)이 노출되는 어느 하나의 모서리에 3개 이상의 보조 전극(241, 242, 251, 252)이 노출되도록 배치될 수 있다. 도 7은 세라믹 바디의 제5면 및 제6면으로 각각 10개의 보조 전극이 노출되는 적층 세라믹 전자부품의 단면도이다. 도 7을 참조하면, 보조 전극(241, 242, 251, 252)이 세라믹 바디(210)의 제5면(S5) 및 제6면(S6)으로 각각 6개 이상 노출되도록 배치하는 경우. 보조 전극과 외부 전극의 접착력을 극대화할 수 있어 적층 세라믹 전자부품의 기계적 강도를 높일 수 있으며, 이에 따라 내습 신뢰성을 더욱 향상시킬 수 있다.
하기 표 1은 커버부의 두께 대비 보조 전극의 두께의 비율에 대한 휨 강도 테스트의 결과를 나타낸 것이다. 휨 강도 테스트는 60개의 샘플 칩을 1mm/sec의 속도로 6mm까지 휨을 인가하였으며, 초기 용량 대비 ±10% 이상 벗어난 경우를 불량으로 분류하였다.
보조 전극의 두께 | 휨강도 6 mm | 비고 | ||||
a LOT | b LOT | c LOT | d LOT | e LOT | ||
60% | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 불량미발생 |
50% | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 불량미발생 |
40% | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 불량미발생 |
30% | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 0/60 | 불량미발생 |
10% | 0/60 | 1/60 | 2/60 | 2/60 | 0/60 | 불량감소 |
0% | 0/60 | 2/60 | 3/60 | 4/60 | 4/60 | 불량증가 |
상기 표 1을 참조하면, 커버부의 두께 대비 보조 전극의 두께의 비율이 30%에서 10%로 감소하면서 불량 샘플이 발생하는 것을 확인할 수 있으며, 상기 비율이 60%인 경우에도 불량이 발생하지 않는 우수한 휨 강도를 가짐을 확인할 수 있다.
하기 표 2는 커버부의 두께 대비 보조 전극의 두께의 비율에 대한 내습 신뢰성 테스트의 결과를 나타낸 것이다. 내습 신뢰성 불량은 온도 85℃ 상대 습도 85%에서, 48 시간 동안 2Vr의 전압을 인가하였을 때, 400개의 샘플 중 불량이 발생하는 적층 세라믹 전자부품의 개수를 조사하였다.
보조 전극의 두께 | 85℃ 85% 48HR시험 | 비고 | ||||
a LOT | b LOT | c LOT | d LOT | e LOT | ||
60% | 0/500 | 0/500 | 3/500 | 0/500 | 0/500 | 불량증가 |
50% | 0/500 | 0/500 | 0/500 | 0/500 | 0/500 | 불량미발생 |
40% | 0/500 | 0/500 | 0/500 | 0/500 | 0/500 | 불량미발생 |
30% | 0/500 | 0/500 | 0/500 | 0/500 | 0/500 | 불량미발생 |
10% | 1/500 | 0/500 | 2/500 | 8/500 | 10/500 | 불량감소 |
0% | 6/500 | 0/500 | 7/500 | 15/500 | 18/500 | 불량증가 |
상기 표 2를 참조하면, 커버부의 두께 대비 보조 전극의 두께의 비율이 30%에서 10%로 낮아지는 경우 샘플 중 불량 부품이 발생하는 것을 확인할 수 있다. 또한, 상기 비율이 50%를 초과하면서부터 샘플 중 불량 부품이 발생하는 것을 확인할 수 있다. 이를 통해 본 발명의 보조 전극의 두께는 커버부의 두께 대비 20% 내지 50%의 범위 내에 속하여야 함을 확인할 수 있다.
이상에서 본 발명의 실시 형태에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명은 상술한 실시형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며, 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다.
110: 세라믹 바디
111: 유전체층
121, 122: 제1 및 제2 내부 전극
131, 132: 제1 및 제2 외부 전극
131a, 132a: 제1 전극층
131b, 132b: 제2 전극층
141, 142, 143, 144: 보조 전극
111: 유전체층
121, 122: 제1 및 제2 내부 전극
131, 132: 제1 및 제2 외부 전극
131a, 132a: 제1 전극층
131b, 132b: 제2 전극층
141, 142, 143, 144: 보조 전극
Claims (12)
- 유전체층 및 상기 유전체층을 사이에 두고 제3 방향으로 적층되도록 배치되는 제1 및 제2 내부 전극을 포함하는 용량 형성부,
상기 용량 형성부의 제2 방향의 양면에 배치되는 마진부 및
상기 용량 형성부의 제3 방향의 양면에 배치되는 커버부를 포함하고,
제1 방향으로 대향하는 제1 및 제2 면, 제2 방향으로 대향하는 제3 및 제4 면, 제3 방향으로 대향하는 제5 및 제6 면을 포함하는 세라믹 바디;
상기 세라믹 바디의 제5 면 및 제6 면 상에 각각 배치되는 제1 및 제2 외부 전극; 및
상기 용량 형성부와 이격되고, 상기 제1 및 제2 외부 전극과 접하여 배치되는 보조 전극을 2개 이상 포함하며,
상기 보조 전극은 상기 세라믹 바디의 제3 방향으로 배치되는 적층 세라믹 전자부품.
- 제1항에 있어서,
상기 제1 및 제2 외부 전극은 상기 세라믹 바디의 제3면 내지 제6면으로 연장되어 배치되는 적층 세라믹 전자부품.
- 제1항에 있어서,
상기 보조 전극은 상기 세라믹 바디의 제5면 및 제6면으로 노출되는 적층 세라믹 전자부품.
- 제1항에 있어서,
상기 보조 전극의 제3 방향에 대한 각도의 절대값의 최대값은 45° 미만인 적층 세라믹 전자부품.
- 제1항에 있어서,
상기 복수의 보조 전극의 제3 방향에 대한 각도의 절대값의 총 합은 90° 이하인 적층 세라믹 전자부품.
- 제1항에 있어서,
상기 제1 및 제2 외부 전극은 상기 제1 및 제2 내부 전극과 각각 연결되는 제1 전극층 및 상기 제1 전극층 상에 배치된 제2 전극층을 포함하고,
상기 보조 전극은 상기 제1 전극층의 끝단 및 세라믹 바디의 변곡점 사이에 배치되는 적층 세라믹 전자부품.
- 제1항에 있어서,
상기 보조 전극은 외부 전극의 끝단 및 세라믹 바디의 변곡점 사이에 배치되는 적층 세라믹 전자부품.
- 제1항에 있어서,
상기 보조 전극의 두께는 상기 커버부의 두께의 20 % 내지 50 %의 범위 내인 적층 세라믹 전자부품.
- 제1항에 있어서,
상기 보조 전극은 상기 마진부 내에 배치되는 적층 세라믹 전자부품.
- 제1항에 있어서,
상기 보조 전극은 상기 커버부 내에 배치되는 적층 세라믹 전자부품.
- 제1항에 있어서,
상기 보조 전극은 제1 보조 전극 내지 제8 보조 전극을 포함하는 적층 세라믹 전자부품.
- 제1항에 있어서,
상기 보조 전극은 상기 세라믹 바디의 제5면 및 제6면으로 각각 6개 이상 노출되는 적층 세라믹 전자부품.
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