KR20190092306A - Light-emitting device - Google Patents

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KR20190092306A
KR20190092306A KR1020190011174A KR20190011174A KR20190092306A KR 20190092306 A KR20190092306 A KR 20190092306A KR 1020190011174 A KR1020190011174 A KR 1020190011174A KR 20190011174 A KR20190011174 A KR 20190011174A KR 20190092306 A KR20190092306 A KR 20190092306A
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테츠야 이시카와
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니치아 카가쿠 고교 가부시키가이샤
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Abstract

The present invention provides a light emitting device capable of suppressing uneven distribution of photometric chromaticity. The light emitting device comprises: a light emitting element having a first surface and a second surface located in a reverse side of the first surface; a light guide member covering a side surface of the light emitting element; a first wavelength conversion member covering the first surface and having a first basic material and a first wavelength conversion particle; and a reflection member covering the side surface of the light emitting element, the side surface of the light guide member, and the side surface of the first wavelength conversion member and in contact with the light emitting element. A thickness of the first wavelength conversion member is 60 μm or more and 120 μm or less. An average particle size of the first wavelength conversion particle is 4 μm or more and 12 μm or less. A center particle size of the first wavelength conversion particle is 4 μm or more and 12 μm or less. The first wavelength conversion particle is 60 weight% or more and 75 weight% or less with respect to the total weight of the first wavelength conversion member.

Description

발광 장치{LIGHT-EMITTING DEVICE}Light-emitting device {LIGHT-EMITTING DEVICE}

본 발명은 발광 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a light emitting device.

발광 소자와, 발광 소자 상에 배치된 발광 소자가 발하는 광의 적어도 일부를 투과하는 광학층과, 광학층 위에 탑재되어 발광 소자가 발하는 광의 적어도 일부를 투과하는 판 형상 광학 부재를 갖는 발광 장치가 알려져 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조).BACKGROUND ART A light emitting device having a light emitting element, an optical layer transmitting at least part of light emitted by a light emitting element disposed on the light emitting element, and a plate-shaped optical member mounted on the optical layer and transmitting at least part of light emitted by the light emitting element are known. (For example, refer patent document 1).

일본특허공개공보 특개2012-134355호Japanese Patent Laid-Open No. 2012-134355

백라이트나 조명으로서 사용하는 경우에는, 장소에 관계없이 균일한 색도의 광을 얻을 수 있는 발광 장치가 요구되고 있다. 이에, 본 발명과 관련된 실시형태는, 배광 색도가 고르지 못하게 되는 것을 억제할 수 있는 발광 장치의 제공을 목적으로 한다.When used as a backlight or illumination, the light emitting device which can obtain the light of uniform chromaticity regardless of a place is calculated | required. Therefore, the embodiment which concerns on this invention aims at providing the light-emitting device which can suppress that the light distribution chromaticity becomes uneven.

본 발명의 일 태양과 관련된 발광 장치는, 제1면과, 상기 제1면의 반대 측에 위치하는 제2면을 갖는 발광 소자와, 상기 발광 소자의 측면을 피복하는 도광 부재와, 상기 제1면을 피복하고 제1 모재 및 제1 파장 변환 입자를 갖는 제1 파장 변환 부재와, 상기 발광 소자의 측면, 상기 도광 부재의 측면 및 제1 파장 변환 부재의 측면을 피복하고 상기 발광 소자와 접하는 반사 부재를 구비하고, 상기 제1 파장 변환 부재의 두께는 60㎛ 이상 120㎛ 이하이며, 상기 제1 파장 변환 입자의 평균 입경은 4㎛ 이상 12㎛ 이하이며, 상기 제1 파장 변환 입자의 중심 입경은 4㎛ 이상 12㎛ 이하이며, 상기 제1 파장 변환 부재의 전체 중량에 대해 상기 제1 파장 변환 입자가 60% 이상 75중량% 이하이다. A light emitting device according to an aspect of the present invention includes a light emitting element having a first surface, a second surface positioned on an opposite side of the first surface, a light guide member covering the side surface of the light emitting element, and the first surface. A first wavelength converting member covering a surface and having a first base material and a first wavelength converting particle, and a side surface of the light emitting element, a side surface of the light guide member, and a side surface of the first wavelength converting member and in contact with the light emitting element; And a thickness of the first wavelength converting member is 60 µm or more and 120 µm or less, and the average particle diameter of the first wavelength converting particles is 4 µm or more and 12 µm or less, and the center particle diameter of the first wavelength converting particles is It is 4 micrometers or more and 12 micrometers or less, and the said 1st wavelength conversion particle | grain is 60% or more and 75 weight% or less with respect to the total weight of a said 1st wavelength conversion member.

본 발명과 관련되는 실시형태의 발광 장치에 의하면, 배광 색도가 고르지 못하게 되는 것을 억제할 수 있는 발광 장치를 제공할 수 있다.According to the light emitting device of the embodiment related to the present invention, it is possible to provide a light emitting device which can suppress uneven distribution of chromaticity.

[도 1a] 도 1a는, 실시형태 1과 관련된 발광 장치의 개략 사시도이다.
[도 1b] 도 1b는, 실시형태 1과 관련된 발광 장치의 개략 사시도이다.
[도 1c] 도 1c는, 실시형태 1과 관련된 발광 장치의 개략 정면도이다.
[도 2a] 도 2a는, 도 1c의 2A-2A선에 있어서의 개략 단면도이다.
[도 2b] 도 2b는, 도 1c의 2B-2B선에 있어서의 개략 단면도이다.
[도 2c] 도 2c는, 실시형태 1과 관련된 발광 장치의 변형예의 개략 단면도이다.
[도 2d] 도 2d는, 실시형태 1과 관련된 발광 장치의 변형예의 개략 단면도이다.
[도 3a] 도 3a는, 실시형태 1과 관련된 발광 장치의 개략 배면도이다.
[도 3b] 도 3b는, 실시형태 1과 관련된 발광 장치의 개략 저면도이다.
[도 3c] 도 3c는, 실시형태 1과 관련된 발광 장치의 개략 측면도이다.
[도 4] 도 4는, 실시형태 1과 관련된 기판의 개략 측면도이다.
[도 5a] 도 5a는, 실시형태 1과 관련된 발광 장치의 개략 단면도와, 점선부 내를 확대하여 나타낸 확대도이다.
[도 5b] 도 5b는, 실시형태 1과 관련된 발광 장치의 변형예의 개략 단면도와, 점선부 내를 확대하여 나타낸 확대도이다.
FIG. 1A is a schematic perspective view of a light emitting device according to Embodiment 1. FIG.
FIG. 1B is a schematic perspective view of a light emitting device according to Embodiment 1. FIG.
FIG. 1C is a schematic front view of a light emitting device according to Embodiment 1. FIG.
FIG. 2A is a schematic cross sectional view taken along a line 2A-2A in FIG. 1C. FIG.
FIG. 2B is a schematic cross-sectional view taken along the line 2B-2B of FIG. 1C. FIG.
FIG. 2C is a schematic cross-sectional view of a modification of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG.
FIG. 2D is a schematic cross-sectional view of a modification of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG.
FIG. 3A is a schematic rear view of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG.
FIG. 3B is a schematic bottom view of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG.
FIG. 3C is a schematic side view of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG.
4 is a schematic side view of the substrate according to the first embodiment.
FIG. 5A is a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to Embodiment 1 and an enlarged view showing the inside of a dotted line.
5B is a schematic cross-sectional view of a modification of the light emitting device according to the first embodiment, and an enlarged view showing the inside of the dotted line in an enlarged manner.

이하, 발명의 실시형태에 대해 적절히 도면을 참조하여 설명한다. 다만, 이하에서 설명하는 발광 장치는, 본 발명의 기술 사상을 구체화하기 위한 것으로, 특정적인 기재가 없는 한, 본 발명은 이하의 기재로 한정되지 않는다. 또한, 하나의 실시형태에 대해 설명하는 내용은, 변형예에도 적용 가능하다. 또한, 도면이 나타내는 부재의 크기나 위치 관계 등은, 설명을 명확하게 하기 위해, 과장되는 경우가 있다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described suitably with reference to drawings. However, the light emitting device described below is for embodying the technical idea of the present invention, and the present invention is not limited to the following description unless there is a specific description. In addition, the content demonstrated about one embodiment is applicable also to a modification. In addition, the magnitude | size, positional relationship, etc. of the member which are shown by the drawing may be exaggerated for clarity.

<실시형태 1><Embodiment 1>

본 발명의 실시형태와 관련된 발광 장치(1000)를 도 1a 내지 도 5b에 기초하여 설명한다. 발광 장치(1000)는, 발광 소자(20)와, 도광 부재(50)와, 제1 파장 변환 부재(31)와, 반사 부재(40)를 구비하고 있다. 발광 소자(20)는, 제1면(201)과 제1면(201)의 반대 측에 위치한 제2면(203)을 가진다. 도광 부재(50)는, 발광 소자의 측면(202)을 피복한다. 제1 파장 변환 부재(31)는, 발광 소자의 제1면(201)을 피복한다. 또한, 제1 파장 변환 부재(31)는, 제1 모재(312) 및 제1 파장 변환 입자(311)를 갖는다. 제1 파장 변환 부재(31)의 두께는, 60㎛ 이상, 120㎛ 이하이다. 제1 파장 변환 입자(311)의 평균 입경은, 4㎛ 이상, 12㎛ 이하이다. 제1 파장 변환 입자(311)의 중심 입경은, 4㎛ 이상, 12㎛ 이하이다. 제1 파장 변환 부재(31)의 전 중량에 대해, 제1 파장 변환 입자(311)는 60중량% 이상, 75중량% 이하이다. 반사 부재(40)는, 발광 소자의 측면, 도광 부재의 측면 및 제1 파장 변환 부재의 측면을 피복한다. 또한, 반사 부재(40)는, 발광 소자와 접한다. 발광 장치는, 발광 소자를 적어도 1개 이상 구비하고 있으면 된다. 즉, 발광 장치는, 발광 소자를 1개만 구비하고 있어도 되고, 발광 소자를 복수 개 구비하고 있어도 된다.The light emitting device 1000 according to the embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 1A to 5B. The light emitting device 1000 includes a light emitting element 20, a light guide member 50, a first wavelength conversion member 31, and a reflective member 40. The light emitting element 20 has a first surface 201 and a second surface 203 located on the opposite side of the first surface 201. The light guide member 50 covers the side surface 202 of the light emitting element. The first wavelength conversion member 31 covers the first surface 201 of the light emitting element. In addition, the first wavelength conversion member 31 includes the first base material 312 and the first wavelength conversion particle 311. The thickness of the 1st wavelength conversion member 31 is 60 micrometers or more and 120 micrometers or less. The average particle diameter of the 1st wavelength conversion particle 311 is 4 micrometers or more and 12 micrometers or less. The central particle diameter of the 1st wavelength conversion particle 311 is 4 micrometers or more and 12 micrometers or less. The first wavelength conversion particles 311 are 60% by weight or more and 75% by weight or less based on the total weight of the first wavelength conversion member 31. The reflective member 40 covers the side surface of the light emitting element, the side surface of the light guide member, and the side surface of the first wavelength conversion member. In addition, the reflective member 40 is in contact with the light emitting element. The light emitting device should just be equipped with at least 1 light emitting element. That is, the light emitting device may be provided with only one light emitting element, and may be provided with plural light emitting elements.

제1 파장 변환 부재(31)에 포함되는 제1 파장 변환 입자(311)의 평균 입경은, 4㎛ 이상, 12㎛ 이하이다. 제1 파장 변환 입자(311)의 평균 입경이 12㎛ 이하임으로써, 제1 파장 변환 부재(31)에 포함되는 제1 파장 변환 입자(311)의 농도가 같은 경우에 있어서, 제1 모재(312)와 제1 파장 변환 입자(311)의 계면을 증가시킬 수 있다. 제1 모재와 제1 파장 변환 입자의 계면이 증가함으로써, 발광 소자로부터의 광이 제1 모재와 제1 파장 변환 입자의 계면에 의해 확산되기 쉬워진다. 이에 의해, 발광 소자로부터의 광이 제1 파장 변환 부재 내에서 확산되므로, 발광 장치의 배광 색도가 고르지 못하게 되는 것을 억제할 수 있다. 제1 파장 변환 입자의 평균 입경이 4㎛ 이상임으로써, 발광 소자로부터의 광을 취출하기 쉬워지기 때문에 발광 장치의 광 취출 효율이 향상된다.The average particle diameter of the 1st wavelength conversion particle 311 contained in the 1st wavelength conversion member 31 is 4 micrometers or more and 12 micrometers or less. Since the average particle diameter of the 1st wavelength conversion particle 311 is 12 micrometers or less, when the density | concentration of the 1st wavelength conversion particle 311 contained in the 1st wavelength conversion member 31 is the same, the 1st base material 312 ) And the first wavelength conversion particle 311 may be increased. As the interface between the first base material and the first wavelength converting particles increases, the light from the light emitting element is easily diffused by the interface between the first base material and the first wavelength converting particles. Thereby, since the light from a light emitting element diffuses in a 1st wavelength conversion member, it can suppress that the light distribution chromaticity of a light emitting device is uneven. Since the average particle diameter of a 1st wavelength conversion particle | grain is 4 micrometers or more, it becomes easy to take out light from a light emitting element, and the light extraction efficiency of a light emitting device improves.

본 명세서에 있어서, 제1 파장 변환 입자(311)의 평균 입경이란, FSSS법(Fisher Sub-Sieve Sizer)에 의해 측정한 입자 지름의 평균값이다. 피셔법에 의해 측정되는 평균 입경은, 예를 들면, Fisher Sub-Sieve Sizer Model95(Fisher Scientific사제)를 사용하여 측정된다.In this specification, the average particle diameter of the 1st wavelength conversion particle 311 is an average value of the particle diameter measured by FSSS method (Fisher Sub-Sieve Sizer). The average particle diameter measured by the Fischer method is measured using, for example, Fisher Sub-Siezee Sizer Model 95 (manufactured by Fisher Scientific).

제1 파장 변환 부재(31)에 포함되는 제1 파장 변환 입자(311)의 중심 입경은, 4㎛ 이상, 12㎛ 이하이다. 제1 파장 변환 입자의 중심 입경이 12㎛ 이하임으로써, 제1 파장 변환 부재(31)에 포함되는 제1 파장 변환 입자(311)의 농도가 같은 경우에 있어서, 제1 모재와 제1 파장 변환 입자의 계면이 증가한다. 제1 모재와 제1 파장 변환 입자와의 계면이 증가함으로써, 발광 소자로부터의 광이 제1 모재와 제1 파장 변환 입자의 계면에 의해 확산되기 쉬워진다. 이에 의해, 발광 소자로부터의 광이 제1 파장 변환 부재 내에서 확산되므로, 발광 장치의 배광 색도가 고르지 못하게 되는 것을 억제할 수 있다. 제1 파장 변환 입자의 중심 입경이 4㎛ 이상임으로써, 발광 소자로부터의 광을 취출하기 쉬워지므로 발광 장치의 광 취출 효율이 향상된다.The central particle diameter of the 1st wavelength conversion particle 311 contained in the 1st wavelength conversion member 31 is 4 micrometers or more and 12 micrometers or less. When the center particle diameter of a 1st wavelength conversion particle is 12 micrometers or less, when the density | concentration of the 1st wavelength conversion particle 311 contained in the 1st wavelength conversion member 31 is the same, a 1st base material and 1st wavelength conversion The interface of the particles increases. As the interface between the first base material and the first wavelength converting particles increases, the light from the light emitting element is easily diffused by the interface between the first base material and the first wavelength converting particles. Thereby, since the light from a light emitting element diffuses in a 1st wavelength conversion member, it can suppress that the light distribution chromaticity of a light emitting device is uneven. When the center particle diameter of the first wavelength conversion particles is 4 µm or more, light from the light emitting element is easily taken out, and thus the light extraction efficiency of the light emitting device is improved.

본 명세서에 있어서, 제1 파장 변환 입자(311)의 중심 입경은, 체적 평균 입경(메디안 지름)이며, 소경 측으로부터의 체적 누적 빈도가 50%에 이르는 입경(D50:메디안 지름)이다. 레이저 회절식 입도 분포 측정 장치(MALVERN사제 MASTER SIZER 2000)에 의해, 중심 입경을 측정할 수 있다.In this specification, the center particle diameter of the 1st wavelength conversion particle 311 is a volume average particle diameter (median diameter), and is a particle diameter (D50: median diameter) which the volume accumulation frequency from a small diameter side reaches 50%. The center particle diameter can be measured with a laser diffraction particle size distribution measuring device (MASTER # SIZER # 2000, manufactured by MALVERN).

제1 파장 변환 입자의 소경 측으로부터의 체적 누적 빈도가 10%에 이르는 입경(D10)은, 6㎛ 이상, 10㎛ 이하인 것이 바람직하다. 제1 파장 변환 입자의 소경 측으로부터의 체적 누적 빈도가 90%에 이르는 입경(D90)은, 15㎛ 이상, 20㎛ 이하인 것이 바람직하다.It is preferable that the particle size D10 which the volume accumulation frequency from the small diameter side of a 1st wavelength conversion particle reaches 10% is 6 micrometers or more and 10 micrometers or less. It is preferable that the particle diameter D90 which the volume accumulation frequency from the small diameter side of a 1st wavelength conversion particle reaches 90% is 15 micrometers or more and 20 micrometers or less.

제1 파장 변환 입자의 체적 기준에 의한 입도 분포의 표준 편차(σlog)는 0.3㎛ 이하인 것이 바람직하다. 제1 파장 변환 입자의 불균일이 적은 것으로 균일한 두께의 파장 변환 부재(31)의 형성이 용이하게 된다.It is preferable that the standard deviation (sigma log) of the particle size distribution based on the volume reference of the first wavelength conversion particle is 0.3 µm or less. The nonuniformity of a 1st wavelength conversion particle | grains makes it easy to form the wavelength conversion member 31 of uniform thickness.

제1 파장 변환 입자로서는, 예를 들면 망간 활성 불화물계 형광체를 들 수 있다. 망간 활성 불화물계 형광체는, 스펙트럼 선폭이 비교적 좁은 발광을 얻을 수 있어 색 재현성 관점에서 바람직한 부재이다.As a 1st wavelength conversion particle | grain, a manganese active fluoride fluorescent substance is mentioned, for example. Manganese-activated fluoride-based phosphors can obtain light emission with a relatively narrow spectral line width, and are a preferable member from the viewpoint of color reproducibility.

제1 파장 변환 부재(31)의 두께는, 60㎛ 이상, 120㎛ 이하이다. 제1 파장 변환 부재의 두께가 60μ 이상이 됨으로써, 제1 파장 변환 부재(31)에 함유시킬 수 있는 제1 파장 변환 입자(311)를 증가시킬 수 있다. 제1 파장 변환 부재(31)의 두께가 120㎛ 이하임으로써, 발광 장치를 박형화할 수 있다. 또한, 제1 파장 변환 부재의 두께란, Z방향에 있어서의 제1 파장 변환 부재의 두께이다.The thickness of the 1st wavelength conversion member 31 is 60 micrometers or more and 120 micrometers or less. When the thickness of the first wavelength conversion member is 60 μm or more, the first wavelength conversion particle 311 that can be contained in the first wavelength conversion member 31 can be increased. When the thickness of the first wavelength conversion member 31 is 120 µm or less, the light emitting device can be thinned. In addition, the thickness of a 1st wavelength conversion member is a thickness of the 1st wavelength conversion member in a Z direction.

제1 파장 변환 부재(31)의 전 중량에 대해, 제1 파장 변환 입자(311)는 60중량% 이상, 75중량% 이하이다. 제1 파장 변환 부재의 전 중량에 대해, 제1 파장 변환 입자가 60중량% 이상이 됨으로써, 제1 파장 변환 입자의 함유량이 증가하므로, 제1 모재와 제1 파장 변환 입자의 계면이 증가한다. 제1 모재와 제1 파장 변환 입자의 계면이 증가함으로써, 발광 소자로부터의 광이 제1 모재와 제1 파장 변환 입자의 계면에 의해 확산되기 쉬워진다. 이에 의해, 발광 소자로부터의 광이 제1 파장 변환 부재 내에서 확산되므로, 발광 장치의 배광 색도가 고르지 못하게 되는 것을 억제할 수 있다. 제1 파장 변환 부재의 전 중량에 대해 제1 파장 변환 입자가 75중량% 이하임으로써, 제1 파장 변환 부재에 있어서의 제1 모재의 비율이 증가하므로, 제1 파장 변환 부재가 파단되는 것을 억제할 수 있다. 또한, 제1 파장 변환 부재는, 파장 변환 입자로서 제1 파장 변환 입자만을 갖고 있어도 되고, 제1 파장 변환 입자와 다른 재료의 파장 변환 입자를 갖고 있어도 된다.The first wavelength conversion particles 311 are 60% by weight or more and 75% by weight or less based on the total weight of the first wavelength conversion member 31. Since the content of the first wavelength conversion particles is increased by 60 wt% or more of the first wavelength conversion particles relative to the total weight of the first wavelength conversion member, the interface between the first base material and the first wavelength conversion particles increases. As the interface between the first base material and the first wavelength converting particles increases, the light from the light emitting element is easily diffused by the interface between the first base material and the first wavelength converting particles. Thereby, since the light from a light emitting element diffuses in a 1st wavelength conversion member, it can suppress that the light distribution chromaticity of a light emitting device is uneven. Since the ratio of the 1st base material in a 1st wavelength conversion member increases by 75 weight% or less of the 1st wavelength conversion particle with respect to the total weight of a 1st wavelength conversion member, it suppresses that a 1st wavelength conversion member breaks. can do. In addition, the first wavelength conversion member may have only the first wavelength conversion particles as the wavelength conversion particles, or may have wavelength conversion particles of a material different from the first wavelength conversion particles.

발광 장치는, 도 2a에 도시한 발광 장치(1000)와 같이, 발광 소자(20)와 제1 파장 변환 부재(31)의 사이에 위치하는 제2 파장 변환 부재(32)를 구비하고 있어도 되고, 도 2c에 도시한 발광 장치(1000A)와 같이, 발광 소자(20)와 제1 파장 변환 부재(31)의 사이에 위치하는 제2 파장 변환 부재를 구비하고 있지 않아도 된다. 제2 파장 변환 부재(32)는, 제2 모재(322) 및 제2 파장 변환 입자(321)를 포함한다. 제1 파장 변환 입자(311)의 평균 입경은, 제2 파장 변환 입자(321)의 평균 입경보다 작은 것이 바람직하다. 제2 파장 변환 입자의 평균 입경이 제1 파장 변환 입자의 평균 입경보다 크게 됨으로써, 발광 소자로부터의 광이 제2 파장 변환 부재(32)로 도광하기 쉬워지므로 발광 장치의 광 취출 효율이 향상된다. 또한, 제1 파장 변환 입자(311)의 평균 입경이 제2 파장 변환 입자(321)의 평균 입경보다 작음으로써, 제1 파장 변환 부재(31) 내에서 발광 소자로부터의 광이 확산하기 쉬워져, 발광 장치의 배광 색도가 고르지 못하게 되는 것을 억제할 수 있다. 제1 파장 변환 입자의 재료와 제2 파장 변환 입자의 재료는, 같아도 되고, 달라도 된다. 또한, 제1 모재(312)의 재료와 제2 모재(322)의 재료도, 같아도 되고, 달라도 된다. 제1 모재(312)의 재료와 제2 모재(322)의 재료가 같으면, 제1 파장 변환 부재(31)와 제2 파장 변환 부재(32)의 접합 강도가 향상된다. 제1 모재(312)의 재료와 제2 모재(322)의 재료가 다르면, 제1 모재(312)와 제2 모재(322)에 굴절률 차가 생긴다. 이에 의해, 제1 모재(312)와 제2 모재(322)의 계면에서 발광 소자로부터의 광이 확산되기 쉬워지므로, 발광 장치의 배광 색도가 고르지 못하게 되는 것을 억제할 수 있다. 제1 모재(312)의 굴절률은, 제2 모재(322)의 굴절률보다 큰 것이 바람직하다. 이와 같이 함으로써, 발광 소자로부터의 광이 제1 모재(312)와 제2 모재(322)의 계면에서 전반사하는 것을 억제할 수 있다. 이에 의해, 발광 장치의 발광 효율이 향상된다.The light emitting device may be provided with the 2nd wavelength conversion member 32 located between the light emitting element 20 and the 1st wavelength conversion member 31 like the light emitting device 1000 shown to FIG. 2A, Like the light emitting device 1000A shown in FIG. 2C, the second wavelength conversion member positioned between the light emitting element 20 and the first wavelength conversion member 31 may not be provided. The second wavelength conversion member 32 includes a second base material 322 and second wavelength conversion particles 321. It is preferable that the average particle diameter of the first wavelength conversion particle 311 is smaller than the average particle diameter of the second wavelength conversion particle 321. Since the average particle diameter of the second wavelength conversion particles is larger than the average particle diameter of the first wavelength conversion particles, light from the light emitting element is easily guided to the second wavelength conversion member 32, so that light extraction efficiency of the light emitting device is improved. Moreover, since the average particle diameter of the 1st wavelength conversion particle 311 is smaller than the average particle diameter of the 2nd wavelength conversion particle 321, the light from a light emitting element in the 1st wavelength conversion member 31 becomes easy to diffuse, It is possible to suppress uneven distribution of chromaticity of the light emitting device. The material of the first wavelength conversion particles and the material of the second wavelength conversion particles may be the same or different. In addition, the material of the 1st base material 312 and the material of the 2nd base material 322 may be same or different. If the material of the 1st base material 312 and the material of the 2nd base material 322 are the same, the bonding strength of the 1st wavelength conversion member 31 and the 2nd wavelength conversion member 32 will improve. If the material of the first base material 312 and the material of the second base material 322 are different, a difference in refractive index occurs between the first base material 312 and the second base material 322. Thereby, since the light from a light emitting element becomes easy to diffuse in the interface of the 1st base material 312 and the 2nd base material 322, the uneven distribution of the light emitting device can be suppressed. It is preferable that the refractive index of the first base material 312 is larger than the refractive index of the second base material 322. By doing in this way, total reflection of the light from a light emitting element at the interface of the 1st base material 312 and the 2nd base material 322 can be suppressed. This improves the luminous efficiency of the light emitting device.

제2 파장 변환 부재(32)의 두께는, 20㎛ 이상, 60㎛ 이하인 것이 바람직하다. 제2 파장 변환 부재(32)의 두께가 20μ 이상임으로써, 제2 파장 변환 부재(32)에 함유시킬 수 있는 제2 파장 변환 입자(321)를 늘릴 수 있다. 제2 파장 변환 부재(32)의 두께가 60㎛ 이하임으로써, 발광 장치를 박형화할 수 있다. 또한, 제2 파장 변환 부재의 두께란, Z방향에 있어서의 제2 파장 변환 부재의 두께이다.It is preferable that the thickness of the 2nd wavelength conversion member 32 is 20 micrometers or more and 60 micrometers or less. When the thickness of the second wavelength conversion member 32 is 20 µm or more, the second wavelength conversion particles 321 that can be contained in the second wavelength conversion member 32 can be increased. When the thickness of the second wavelength conversion member 32 is 60 µm or less, the light emitting device can be thinned. In addition, the thickness of a 2nd wavelength conversion member is a thickness of the 2nd wavelength conversion member in a Z direction.

제2 파장 변환 부재(32)의 두께는, 제1 파장 변환 부재(31)의 두께의 절반 이하인 것이 바람직하다. 이와 같이 함으로써, 제2 파장 변환 부재(32)가 두꺼운 경우보다 발광 소자로부터의 광이 제1 파장 변환 부재(31)에 조사되기 쉬워진다. 예를 들면, 제1 파장 변환 부재(31)가 80±5㎛인 경우에는, 제2 파장 변환 부재(32)의 두께가 35±5㎛인 것이 바람직하다. 또한, 후술하는 제1 파장 변환 부재(31)를 피복하는 피복 부재(33)의 두께는, 제1 파장 변환 부재(31)와 동등한 두께를 갖고 있어도 된다. 예를 들면, 제1 파장 변환 부재(31)의 두께가 80±5㎛이고, 제2 파장 변환 부재(32)의 두께가 35±5㎛이며, 피복 부재(33)의 두께가 80±5㎛이어도 된다. 또한, 본 명세서에서, 동등한 두께란, 5㎛정도의 변동은 허용되는 것을 의미한다.It is preferable that the thickness of the 2nd wavelength conversion member 32 is half or less of the thickness of the 1st wavelength conversion member 31. FIG. By doing in this way, the light from a light emitting element becomes easy to irradiate to the 1st wavelength conversion member 31 more than the case where the 2nd wavelength conversion member 32 is thick. For example, when the 1st wavelength conversion member 31 is 80 +/- 5micrometer, it is preferable that the thickness of the 2nd wavelength conversion member 32 is 35 +/- 5micrometer. In addition, the thickness of the coating member 33 which coat | covers the 1st wavelength conversion member 31 mentioned later may have the thickness equivalent to the 1st wavelength conversion member 31. FIG. For example, the thickness of the first wavelength conversion member 31 is 80 ± 5 μm, the thickness of the second wavelength conversion member 32 is 35 ± 5 μm, and the thickness of the covering member 33 is 80 ± 5 μm. It may be. In addition, in this specification, an equivalent thickness means that the change of about 5 micrometers is allowable.

발광 소자에 여기된 제2 파장 변환 입자(321)로부터의 광의 피크 파장은, 발광 소자에 여기된 제1 파장 변환 입자(311)로부터의 광의 피크 파장보다 짧은 것이 바람직하다. 발광 소자에 여기된 제2 파장 변환 입자(321)로부터의 광의 피크 파장이, 발광 소자에 여기된 제1 파장 변환 입자(311)로부터의 광의 피크 파장보다 짧음으로써, 발광 소자에 여기된 제2 파장 변환 입자로부터의 광에 의해 제1 파장 변환 입자를 여기시킬 수 있다. 이에 의해, 여기된 제1 파장 변환 입자로부터의 광을 증가시킬 수 있다. 제2 파장 변환 부재(32) 상에 제1 파장 변환 부재(31)가 배치되기 때문에, 발광 소자에 여기된 제2 파장 변환 입자로부터의 광이 제1 파장 변환 입자로 출사되기 쉽다.It is preferable that the peak wavelength of the light from the second wavelength conversion particle 321 excited to the light emitting element is shorter than the peak wavelength of the light from the first wavelength conversion particle 311 excited to the light emitting element. The peak wavelength of the light from the second wavelength converting particles 321 excited to the light emitting element is shorter than the peak wavelength of the light from the first wavelength converting particles 311 excited to the light emitting element, thereby the second wavelength excited to the light emitting element. The light from the conversion particles can excite the first wavelength conversion particles. Thereby, the light from the excited 1st wavelength conversion particle can be increased. Since the 1st wavelength conversion member 31 is arrange | positioned on the 2nd wavelength conversion member 32, the light from the 2nd wavelength conversion particle excited to the light emitting element tends to be emitted to a 1st wavelength conversion particle.

발광 소자에 여기된 제1 파장 변환 입자(311)로부터의 광의 피크 파장이 610 ㎚ 이상, 750 ㎚ 이하이며, 발광 소자에 여기된 제2 파장 변환 입자(321)로부터의 광의 피크 파장이 500 ㎚ 이상, 570 ㎚ 이하인 것이 바람직하다. 이와 같이 함으로써, 연색성이 높은 발광 장치로 할 수 있다. 발광 피크 파장이 430 ㎚ 이상, 475 ㎚ 이하의 범위인 발광 소자(청색 발광 소자)와, 발광 소자에 여기된 광의 피크 파장이 610 ㎚ 이상, 750 ㎚ 이하인 제1 파장 변환 입자와, 발광 소자에 여기된 광의 피크 파장이 500 ㎚ 이상, 570 ㎚ 이하인 제2 파장 변환 입자를 조합함으로써, 백색 발광의 발광 장치를 얻을 수 있다. 예를 들면, 제1 파장 변환 입자로서 망간 활성 불화 규산 칼륨의 형광체를 들 수 있고, 제2 파장 변환 입자로서 β 사이알론계 형광체를 들 수 있다. 제1 파장 변환 입자로서 망간 활성 불화 규산 칼륨의 형광체를 이용하는 경우에는, 특히, 발광 소자(20)와 제1 파장 변환 부재(31)의 사이에 위치하는 제2 파장 변환 부재(32)를 구비하는 것이 바람직하다. 망간 활성 불화물 형광체인 제1 파장 변환 입자는 휘도 포화를 일으키기 쉽지만, 제1 파장 변환 부재(31)와 발광 소자(20)의 사이에 제2 파장 변환 부재(32)가 위치함으로써 발광 소자로부터의 광이 과도하게 제1 파장 변환 입자에 조사되는 것을 억제할 수 있다. 이에 의해, 망간 활성 불화물 형광체인 제1 파장 변환 입자의 열화를 억제할 수 있다.The peak wavelength of the light from the first wavelength conversion particle 311 excited to the light emitting element is 610 nm or more and 750 nm or less, and the peak wavelength of the light from the second wavelength conversion particle 321 excited to the light emitting element is 500 nm or more. It is preferable that it is 570 nm or less. By doing in this way, a light emitting device with high color rendering property can be obtained. The light emitting element (blue light emitting element) whose emission peak wavelength is 430 nm or more and 475 nm or less, the 1st wavelength conversion particle whose peak wavelength of the light excited to the light emitting element is 610 nm or more and 750 nm or less, and excitation to a light emitting element The light emitting device of white light emission can be obtained by combining the 2nd wavelength conversion particle whose peak wavelength of the light which has been made is 500 nm or more and 570 nm or less. For example, the phosphor of manganese active potassium silicate fluoride is mentioned as a 1st wavelength conversion particle, and (beta) sialon type fluorescent substance is mentioned as a 2nd wavelength conversion particle. When using the phosphor of manganese active potassium silicate fluoride as a 1st wavelength conversion particle, especially the 2nd wavelength conversion member 32 located between the light emitting element 20 and the 1st wavelength conversion member 31 is provided. It is preferable. Although the first wavelength conversion particles, which are manganese active fluoride phosphors, are liable to cause luminance saturation, the second wavelength conversion member 32 is positioned between the first wavelength conversion member 31 and the light emitting element 20 so that light from the light emitting element can be obtained. Irradiation to this 1st wavelength conversion particle | grain can be suppressed excessively. Thereby, deterioration of the 1st wavelength conversion particle which is a manganese active fluoride fluorescent substance can be suppressed.

도 2a에 나타낸 것처럼, 발광 소자(20)는, 제1면(201)과 제1면(201)과는 반대측의 제2면(203)을 구비하고 있다. 발광 소자(20)는 적어도 반도체 적층체(23)를 포함하고, 반도체 적층체(23)에는 정/부 전극(21, 22)이 설치되어 있다. 정/부 전극(21, 22)은 발광 소자(20)와 같은 측의 면에 형성되어 있으며, 발광 소자(20)가 실장 기판에 플립칩(flip chip) 실장되어 있는 것이 바람직하다. 이에 의해, 발광 소자의 정/부 전극에 전기를 공급하는 와이어가 불필요하게 되므로 발광 장치를 소형화할 수 있다. 발광 소자가 플립칩 실장되고 있는 경우, 제2면(203)에 발광 소자의 정/부 전극(21, 22)이 위치한다. 또한, 본 실시형태에서는 발광 소자(20)는 소자 기판(24)을 가지지만, 소자 기판(24)은 제거되어 있어도 된다.As shown in FIG. 2A, the light emitting element 20 includes a first surface 201 and a second surface 203 opposite to the first surface 201. The light emitting element 20 includes at least a semiconductor laminate 23, and the semiconductor laminate 23 is provided with positive and negative electrodes 21 and 22. The positive / negative electrodes 21 and 22 are formed on the same side as the light emitting element 20, and it is preferable that the light emitting element 20 is flip chip mounted on the mounting substrate. As a result, a wire for supplying electricity to the positive / negative electrode of the light emitting element becomes unnecessary, so that the light emitting device can be miniaturized. When the light emitting device is flip chip mounted, the positive and negative electrodes 21 and 22 of the light emitting device are positioned on the second surface 203. In addition, although the light emitting element 20 has the element substrate 24 in this embodiment, the element substrate 24 may be removed.

도광 부재(50)는, 발광 소자의 측면(202)을 피복한다. 도광 부재(50)는, 반사 부재(40)보다 발광 소자(20)로부터의 광의 투과율이 높다. 이 때문에, 도광 부재(50)가 발광 소자의 측면(202)까지 피복함으로써, 발광 소자(20)의 측면으로부터 출사되는 광이 도광 부재(50)를 통과하여, 발광 장치의 외측으로 취출하기 쉬워지므로 발광 효율을 높일 수 있다. 또한, 도광 부재(50)는 발광 소자의 제1면(201)과 투광성 부재(30) 사이에 위치하고 있어도 되고, 발광 소자의 제1면(201)과 투광성 부재(30) 사이에 위치하지 않아도 된다. 도광 부재는, 발광 소자와 투광성 부재를 접착하는 부재이므로, 도광 부재가 발광 소자의 제1면(201)과 투광성 부재(30)의 사이에 위치함으로써, 발광 소자와 투광성 부재의 접합 강도가 향상된다.The light guide member 50 covers the side surface 202 of the light emitting element. The light guide member 50 has a higher transmittance of light from the light emitting element 20 than the reflective member 40. For this reason, since the light guide member 50 covers the side surface 202 of the light emitting element, the light emitted from the side surface of the light emitting element 20 passes through the light guide member 50, and it is easy to take out outside the light emitting device. The luminous efficiency can be improved. In addition, the light guide member 50 may be located between the first surface 201 and the light transmissive member 30 of the light emitting element, and may not be located between the first surface 201 and the light transmissive member 30 of the light emitting element. . Since the light guide member is a member for bonding the light emitting element and the light transmissive member, the light guide member is positioned between the first surface 201 and the light transmissive member 30 of the light emitting element, thereby improving the bonding strength of the light emitting element and the light transmissive member. .

반사 부재(40)는, 발광 소자의 측면, 도광 부재의 측면 및 제1 파장 변환 부재의 측면을 피복한다. 이와 같이 함으로써, 발광 영역과 비발광 영역의 콘트라스트가 높은, 「가시성」이 양호한 발광 장치가 될 수 있다. 또한, 반사 부재(40)는, 적어도 일부가 발광 소자와 접한다. 반사 부재(40)는, 적어도 일부가 발광 소자와 접함으로써, 발광 장치를 소형화할 수 있다. 반사 부재(40)는, 발광 소자의 제2면(203)과 접하는 것이 바람직하다. 이렇게 함으로써, 발광 소자로부터의 광이 발광 소자를 실장하는 기판에 흡수되는 것을 억제할 수 있다.The reflective member 40 covers the side surface of the light emitting element, the side surface of the light guide member, and the side surface of the first wavelength conversion member. By doing in this way, it can be set as the light emitting device with favorable "visibility" with high contrast of a light emitting area and a non-light emitting area. In addition, at least a portion of the reflective member 40 is in contact with the light emitting element. At least a part of the reflective member 40 contacts the light emitting element, whereby the light emitting device can be miniaturized. It is preferable that the reflective member 40 is in contact with the second surface 203 of the light emitting element. By doing in this way, it can suppress that light from a light emitting element is absorbed by the board | substrate which mounts a light emitting element.

도 2a에 도시한 발광 장치(1000)와 같이, 제1 파장 변환 부재(31)를 피복하는 피복 부재(33)를 구비하고 있어도 좋다. 피복 부재(33)는, 실질적으로 파장 변환 입자를 함유하고 있지 않다. 제1 파장 변환 부재(31)를 피복하는 피복 부재(33)를 구비함으로써, 수분에 약한 제1 파장 변환 입자를 사용하더라도 피복 부재(33)가 보호층으로서의 기능을 하기 때문에 제1 파장 변환 입자의 열화를 억제할 수 있다. 수분에 약한 파장 변환 입자로서는, 예를 들면 망간 활성 불화물 형광체를 들 수 있다. 망간 활성 불화물계 형광체는, 스펙트럼 선폭이 비교적 좁은 발광을 얻을 수 있어 색 재현성의 관점에서 바람직한 부재이다. “파장 변환 입자를 실질적으로 함유하지 않는다”는 것은, 불가피하게 혼입되는 파장 변환 입자를 배제하지 않는 것을 의미하며, 파장 변환 입자의 함유율이 0.05중량% 이하인 것이 바람직하다. 또한, 본 명세서에 있어서, 제1 파장 변환 부재(31), 제2 파장 변환 부재(32) 및/또는 피복 부재(33)를 합쳐 투광성 부재(30)라고 부르는 일이 있다.Like the light emitting device 1000 shown in FIG. 2A, the covering member 33 may be provided to cover the first wavelength conversion member 31. The covering member 33 does not contain wavelength conversion particle | grains substantially. By providing the covering member 33 which covers the first wavelength converting member 31, the covering member 33 functions as a protective layer even when the first wavelength converting particles which are weak in moisture are used. Deterioration can be suppressed. As a wavelength conversion particle | grains weak in water, a manganese active fluoride fluorescent substance is mentioned, for example. Manganese-activated fluoride-based phosphors are capable of obtaining light emission with a relatively narrow spectral line width, and are a preferable member from the viewpoint of color reproducibility. The term "contains substantially no wavelength conversion particles" means that wavelength conversion particles that are inevitably incorporated are not excluded, and the content rate of the wavelength conversion particles is preferably 0.05% by weight or less. In addition, in this specification, the 1st wavelength conversion member 31, the 2nd wavelength conversion member 32, and / or the covering member 33 may be called the translucent member 30 in some cases.

도 2d에 도시한 발광 장치(1000C)와 같이, 투광성 부재(30)의 상면을 피복하는 피막(34)을 구비하고 있어도 된다. 피막(34)은, 나노 입자인 피막 입자의 응집체이다. 또한, 피막은, 피막 입자만이어도 되고, 피막 입자 및 수지 재료를 포함하고 있어도 된다. 피막의 굴절률이 최표면에 위치하는 투광성 부재의 모재의 굴절률과 다름으로써, 발광 장치의 발광 색도의 보정이 가능하게 된다. 최표면에 위치하는 투광성 부재의 모재란, 투광성 부재에 있어서 발광 소자의 광 취출면측의 면과는 반대의 면을 형성하는 층의 모재를 의미한다. 예를 들면, 피막(34)의 굴절률이 최표면에 위치하는 투광성 부재의 모재의 굴절률보다 큰 경우에는, 피막과 공기의 계면에 있어서의 반사광 성분은, 최표면에 위치하는 투광성 부재의 모재와 공기의 계면에 있어서의 반사광 성분보다 증대된다. 이 때문에, 투광성 부재 안으로 되돌아오는 반사광 성분을 늘릴 수 있으므로, 파장 변환 입자를 여기시키기 쉬워진다. 이에 의해, 발광 장치의 발광 색도를 장파장 측으로 보정할 수 있다. 또한, 피막(34)의 굴절률이 최표면에 위치하는 투광성 부재의 모재의 굴절률보다 작은 경우에는, 피막과 공기의 계면에 있어서의 반사광 성분은, 투광 부재의 모재와 공기의 계면에 있어서의 반사광 성분보다 감소한다. 이에 의해, 투광성 부재 안으로 되돌아오는 반사광 성분을 줄일 수 있으므로, 파장 변환 입자를 여기시키기 어려워진다. 이에 의해, 발광 장치의 발광 색도를 단파장 측으로 보정할 수 있다. 예를 들면, 최표면에 위치하는 투광성 부재의 모재로서 페닐계 실리콘 수지를 이용하는 경우에는, 발광 장치의 발광 색도를 장파장 측으로 보정하는 피막 입자로서 산화 티탄, 산화 알루미늄 등을 들 수 있다. 최표면에 위치하는 투광성 부재의 모재가 페닐계 실리콘 수지를 이용하는 경우에는, 발광 장치의 발광 색도를 단파장 측으로 보정하는 피막 입자로서 산화 규소 등을 들 수 있다. 발광 장치가 복수의 투광성 부재를 구비하는 경우에는, 한 쪽의 투광성 부재의 상면을 피막으로 피복하고, 다른 쪽의 투광성 부재의 상면은 피막으로 피복하지 않아도 된다. 발광 장치의 발광 색도의 보정에 맞추어 투광성 부재의 상면을 피복하는 피막을 형성할지는 적절히 선택할 수 있다. 또한, 발광 장치가 복수의 투광성 부재를 구비하는 경우에는, 한 쪽의 투광성 부재의 상면을 최표면에 위치하는 투광성 부재의 모재의 굴절률보다 큰 굴절률을 갖는 피막으로 피복하고, 다른 쪽의 투광성 부재의 상면을 최표면에 위치하는 투광성 부재의 모재의 굴절률보다 작은 굴절률을 갖는 피막으로 피복하여도 된다. 발광 장치의 발광 색도의 보정에 맞추어 투광성 부재를 피복하는 피막의 재료를 적절히 선택할 수 있다. 피막은, 디스펜서에 의한 포팅(potting), 잉크젯 또는 스프레이에 의한 분사 등 공지의 방법에 의해 형성할 수 있다. Like the light emitting device 1000C shown in FIG. 2D, the coating film 34 covering the upper surface of the light transmitting member 30 may be provided. The film 34 is an aggregate of film particles that are nanoparticles. In addition, a film may be only a film particle and may contain a film particle and a resin material. Since the refractive index of the film is different from the refractive index of the base material of the translucent member positioned at the outermost surface, the emission chromaticity of the light emitting device can be corrected. The base material of the translucent member located in the outermost surface means the base material of the layer which forms the surface opposite to the surface on the light extraction surface side of a light emitting element in a translucent member. For example, when the refractive index of the film 34 is larger than the refractive index of the base material of the light transmissive member located at the outermost surface, the reflected light component at the interface between the film and the air is the base material and air of the light transmissive member located at the outermost surface. It is larger than the reflected light component in the interface of the. For this reason, since the reflected light component returned to a translucent member can be increased, it becomes easy to excite wavelength conversion particle | grains. Thereby, the emission chromaticity of the light emitting device can be corrected to the long wavelength side. In addition, when the refractive index of the film 34 is smaller than the refractive index of the base material of the translucent member positioned at the outermost surface, the reflected light component at the interface between the film and the air is the reflected light component at the interface between the base material of the light transmissive member and the air. Decreases more. This makes it possible to reduce the reflected light component returned to the light transmitting member, which makes it difficult to excite the wavelength conversion particles. Thereby, the emission chromaticity of the light emitting device can be corrected to the short wavelength side. For example, when using a phenyl-type silicone resin as a base material of the translucent member located in the outermost surface, titanium oxide, aluminum oxide, etc. are mentioned as a film particle which corrects the emission chromaticity of a light emitting device to a long wavelength side. When the base material of the translucent member located in the outermost surface uses a phenyl silicone resin, silicon oxide etc. are mentioned as a film particle which corrects the emission chromaticity of a light emitting device to a short wavelength side. In the case where the light emitting device includes a plurality of light transmitting members, the top surface of one light transmitting member may be coated with a coating, and the top surface of the other light transmitting member may not be coated with a coating. Whether or not to form a film covering the upper surface of the translucent member can be appropriately selected in accordance with the correction of the emission chromaticity of the light emitting device. In addition, when the light emitting device includes a plurality of light transmitting members, the upper surface of one light transmitting member is covered with a film having a refractive index larger than the refractive index of the base material of the light transmitting member located at the outermost surface, and the other light transmitting member is The upper surface may be coated with a film having a refractive index smaller than that of the base material of the translucent member positioned at the outermost surface. The material of the film which coats a translucent member can be suitably selected according to correction | amendment of the light emission chromaticity of a light emitting device. The film can be formed by a known method such as potting with a dispenser, spraying with inkjet or spray.

발광 장치는 발광 소자를 재치하는 기판(10)을 구비하고 있어도 된다. 예를 들면, 기판(10)은, 기재(11)와, 제1 배선(12)과, 제2 배선(13)과, 제3 배선(14)과, 비어(15)를 구비하고 있다. 기재(11)는, 긴 방향인 제1 방향과 짧은 방향인 제2 방향으로 연장하는 정면(111)과, 정면의 반대 측에 위치하는 배면(112)과, 정면(111)과 인접하고 정면(111)과 직교하는 저면(113)과, 저면(113)의 반대 측에 위치하는 상면(114)를 가진다. 기재(11)는, 또한 적어도 하나의 오목부(16)를 가진다. 제1 배선(12)은, 기재(11)의 정면(111)에 배치된다. 제2 배선(13)은, 기재(11)의 배면(112)에 배치된다. 발광 소자(20)는, 제1 배선(12)과 전기적으로 접속되어, 제1 배선(12) 상에 재치된다. 반사 부재(40)는, 발광 소자(20)의 측면(202) 및 기판의 정면(111)을 피복한다. 적어도 1개의 오목부는, 배면(112)과 저면(113)으로 개구된다. 제3 배선(14)은, 오목부의 내벽을 피복하고 제2 배선과 전기적으로 접속된다. 비어(15)는, 제1 배선(12) 및 제2 배선과 접한다. 비어(15)는, 제1 배선(12) 및 제2 배선(13)을 전기적으로 접속한다. 또한, 비어(15)는, 기재(11)의 정면(111)으로부터 배면(112)을 관통하고 있다. 또한, 본 명세서에서 직교란, 90°에서 ±3° 정도의 경사를 허용하는 것을 의미한다.The light emitting device may include a substrate 10 on which a light emitting element is placed. For example, the board | substrate 10 is equipped with the base material 11, the 1st wiring 12, the 2nd wiring 13, the 3rd wiring 14, and the via 15. As shown in FIG. The base material 11 has a front face 111 extending in the first direction in the long direction and a second direction in the short direction, a rear face 112 positioned on the opposite side of the front face, and adjacent to the front face 111 in front ( 111 has a bottom face 113 orthogonal to the bottom face 113 and an upper face 114 positioned on the opposite side of the bottom face 113. The base material 11 further has at least one recessed part 16. The first wiring 12 is disposed on the front surface 111 of the base material 11. The second wiring 13 is disposed on the back surface 112 of the base material 11. The light emitting element 20 is electrically connected to the first wiring 12 and mounted on the first wiring 12. The reflective member 40 covers the side surface 202 of the light emitting element 20 and the front surface 111 of the substrate. At least one recessed part is opened to the back surface 112 and the bottom surface 113. The third wiring 14 covers the inner wall of the recess and is electrically connected to the second wiring. The via 15 is in contact with the first wiring 12 and the second wiring. The via 15 electrically connects the first wiring 12 and the second wiring 13. In addition, the via 15 penetrates the back surface 112 from the front surface 111 of the base material 11. In addition, orthogonal in this specification means allowing the inclination of about +/- 3 degrees at 90 degrees.

비어(15)는 제3 배선과 접하고 있어도 되고, 비어(15)는 제3 배선과 떨어져 있어도 된다. 비어(15)가 제3 배선과 접함으로써, 발광 소자로부터의 열이 제1 배선(12)으로부터 비어(15)를 통해 제2 배선(13) 및/또는 제3 배선(14)으로 전해질 수 있으므로, 발광 장치(1000)의 방열성을 향상시킬 수 있다. 비어(15)가 제3 배선과 떨어져 있음으로써, 배면에서 보았을 때 비어와 오목부가 겹치지 않게 되어 기판의 강도가 향상된다. 비어(15)가 복수 개 있는 경우에는, 일방의 비어는 제3 배선과 접하고, 타방의 비어는 제3 배선으로부터 떨어져 있어도 된다.The via 15 may be in contact with the third wiring, and the via 15 may be separated from the third wiring. Since the via 15 is in contact with the third wiring, heat from the light emitting element can be transferred from the first wiring 12 to the second wiring 13 and / or the third wiring 14 through the via 15. The heat dissipation of the light emitting device 1000 can be improved. Since the via 15 is separated from the third wiring, the via and the concave portion do not overlap when viewed from the rear side, and the strength of the substrate is improved. When there are a plurality of vias 15, one of the vias may contact the third wiring, and the other via may be separated from the third wiring.

발광 소자(20)가 기판(10)에 플립칩 실장되어 있는 경우에는, 발광 소자의 정/부 전극(21, 22)이 도전성 접착 부재(60)를 통해 기판(10)에 접속되고 있다. 발광 소자(20)가 기판(10)에 플립칩 실장된 경우에는, 제1 배선(12)은 볼록부(121)를 구비하고 있는 것이 바람직하다. 제1 배선(12)의 볼록부(121) 상에 발광 소자(20)의 정/부 전극(21, 22)이 위치함으로써, 도전성 접착 부재(60)를 통해 제1 배선(12)과 발광 소자의 정/부 전극(21, 22)을 접속할 때에, 셀프 얼라인먼트(self alignment) 효과에 의해 용이하게 발광 소자와 기판의 위치를 맞출 수 있다.When the light emitting element 20 is flip-chip mounted on the substrate 10, the positive / negative electrodes 21 and 22 of the light emitting element are connected to the substrate 10 via the conductive adhesive member 60. When the light emitting element 20 is flip-chip mounted on the substrate 10, the first wiring 12 preferably includes the convex portion 121. The positive and negative electrodes 21 and 22 of the light emitting element 20 are positioned on the convex portion 121 of the first wiring 12, whereby the first wiring 12 and the light emitting element are formed through the conductive adhesive member 60. When the positive / negative electrodes 21 and 22 are connected, the position of the light emitting element and the substrate can be easily aligned by the self alignment effect.

비어(15)는, 배면에서 보았을 때 원형 형상인 것이 바람직하다. 이와 같이 함으로써, 드릴 등에 의해 용이하게 형성할 수 있다. 본 명세서에서, 원형 형상은 완전한 원 뿐만 아니라, 이에 가까운 형태(예를 들면, 타원 형상이나 사각형의 네 코너가 크게 원호 형상으로 면취된 것과 같은 형상이어도 좋다)를 포함한다.It is preferable that the via 15 is circular when viewed from the back side. By doing in this way, it can form easily by a drill etc .. In the present specification, the circular shape includes not only a complete circle but also a shape close thereto (for example, an elliptical shape or a quadrangle of four corners may be shaped like a large arc shape).

비어(15)는, 기재의 관통공 내에 도전성 재료가 충전되는 구성이어도 되고, 도 2a에 도시한 것처럼, 기재의 관통공의 표면을 피복하는 제4 배선(151)과 제4 배선(151)에 둘러싸인 영역에 충전된 충전 부재(152)를 구비하고 있어도 좋다. 충전 부재(152)는, 도전성이어도 좋고, 절연성이라도 좋다. 충전 부재(152)에는, 수지 재료를 사용하는 것이 바람직하다. 일반적으로 경화 전의 수지 재료는, 경화 전의 금속재료보다 유동성이 높기 때문에 제4 배선(151) 내에 충전하기 쉽다. 이 때문에, 충전 부재에 수지 재료를 사용함으로써 기판의 제조가 용이하게 된다. 충전하기 쉬운 수지 재료로서는, 예를 들면 에폭시 수지를 들 수 있다. 충전 부재로서 수지 재료를 이용하는 경우에는, 선팽창 계수를 낮추기 위해 첨가 부재를 함유하는 것이 바람직하다. 이렇게 함으로써, 제4 배선과의 선팽창 계수의 차가 작아지므로, 발광 소자로부터의 열에 의해 제4 배선과 충전 부재의 사이에 틈이 생기는 것을 억제할 수 있다. 첨가 부재로서는, 예를 들면 산화 규소를 들 수 있다. 또한, 충전 부재(152)에 금속재료를 사용한 경우에는, 방열성을 향상시킬 수 있다. 또한, 비어(15)가 기재의 관통공 내에 도전성 재료가 충전되어 구성되는 경우에는, 열전도성이 높은 Ag, Cu 등의 금속재료를 이용하는 것이 바람직하다.The via 15 may have a structure in which a conductive material is filled in the through hole of the base material, and as shown in FIG. 2A, the vias 15 and the fourth wire 151 covering the surface of the through hole of the base material are provided. The charging member 152 filled in the enclosed area may be provided. The charging member 152 may be conductive or may be insulating. It is preferable to use a resin material for the filling member 152. Generally, since the resin material before hardening has fluidity higher than the metal material before hardening, it is easy to fill in the 4th wiring 151. For this reason, manufacture of a board | substrate becomes easy by using a resin material for a filling member. As a resin material which is easy to fill, an epoxy resin is mentioned, for example. When using a resin material as a filling member, it is preferable to contain an addition member in order to lower a linear expansion coefficient. By doing in this way, since the difference of the linear expansion coefficient with a 4th wiring becomes small, it can suppress that a gap arises between a 4th wiring and a charging member by the heat from a light emitting element. As an addition member, silicon oxide is mentioned, for example. Moreover, when a metal material is used for the filling member 152, heat dissipation can be improved. In the case where the via 15 is formed by filling a conductive material into the through hole of the substrate, it is preferable to use a metal material such as Ag or Cu having high thermal conductivity.

발광 장치(1000)는, 오목부(16) 내에 형성한 땜납 등의 접합 부재에 의해 실장 기판에 고정할 수 있다. 기판이 구비하는 오목부의 수는 1개이어도 되고, 복수 개이어도 된다. 오목부가 복수개인 경우, 발광 장치(1000)와 실장 기판의 접합 강도를 향상시킬 수 있다. 오목부의 깊이는, 상면측과 저면측에서 같은 깊이이어도 되고, 상면측보다 저면측이 깊어도 된다. 도 2b에 도시한 것처럼, Z방향에 있어서의 오목부(16)의 깊이가 상면측보다 저면측에서 깊은 경우, Z방향에 있어서, 오목부의 상면 측에 위치하는 기재의 두께 W1을 오목부의 저면 측에 위치하는 기재의 두께 W2보다 두껍게 할 수 있다. 이에 의해, 기재의 강도 저하 억제가 가능하다. 또한, 저면측의 오목부의 깊이 W3가 상면측의 오목부의 깊이 W4보다 깊은 경우, 오목부 내에 형성되는 접합 부재의 체적이 증가하므로, 발광 장치(1000)와 실장 기판의 접합 강도를 향상시킬 수 있다. 발광 장치(1000)가, 기재(11)의 배면(112)과 실장 기판을 대향시켜 실장하는 상면 발광형(톱 뷰 타입)이더라도, 기재(11)의 저면(113)과 실장 기판을 대향시켜 실장하는 측면 발광형(사이드 뷰 타입)이더라도, 접합 부재의 체적이 증가함으로써, 실장 기판과의 접합 강도를 향상시킬 수 있다.The light emitting device 1000 can be fixed to the mounting substrate by a joining member such as solder formed in the concave portion 16. One may be sufficient as the recessed part with which a board | substrate is equipped, and two or more may be sufficient as it. When there are a plurality of recesses, the bonding strength between the light emitting device 1000 and the mounting substrate can be improved. The depth of the concave portion may be the same depth on the upper surface side and the bottom surface side, or may be deeper than the upper surface side. As shown in FIG. 2B, when the depth of the recessed portion 16 in the Z direction is deeper from the bottom surface side than the upper surface side, the thickness W1 of the substrate located on the upper surface side of the recessed portion in the Z direction is the bottom surface side of the recessed portion. It can be made thicker than the thickness W2 of the base material located in. Thereby, the fall of strength of a base material can be suppressed. In addition, when the depth W3 of the recessed portion on the bottom surface side is deeper than the depth W4 of the recessed portion on the upper surface side, the volume of the bonding member formed in the recessed portion increases, so that the bonding strength between the light emitting device 1000 and the mounting substrate can be improved. . Although the light emitting device 1000 is a top emission type (top view type) in which the rear surface 112 of the substrate 11 and the mounting substrate are mounted to face each other, the bottom surface 113 of the substrate 11 is mounted facing the mounting substrate. Even in the side light emission type (side view type), the bonding strength with the mounting substrate can be improved by increasing the volume of the bonding member.

발광 장치(1000)와 실장 기판의 접합 강도는, 특히 측면 발광형의 경우에 향상시킬 수 있다. Z방향에 있어서의 오목부의 깊이가 상면측보다 저면측에서 깊게 됨으로써, 저면에 있어서의 오목부의 개구부의 면적을 크게 할 수 있다. 실장 기판과 대향하는 저면에 있어서의 오목부의 개구부의 면적이 커짐으로써, 저면에 위치하는 접합 부재의 면적도 크게 할 수 있다. 이에 의해, 실장 기판과 대향하는 면에 위치하는 접합 부재의 면적을 크게 할 수 있으므로 발광 장치(1000)와 실장 기판의 접합 강도를 향상시킬 수 있다.The bonding strength between the light emitting device 1000 and the mounting substrate can be particularly improved in the case of side light emission type. Since the depth of the recessed part in Z direction becomes deeper at the bottom face side than the upper face side, the area of the opening part of the recessed part in a bottom face can be enlarged. By increasing the area of the opening of the concave portion in the bottom face facing the mounting substrate, the area of the joining member located on the bottom face can also be increased. Thereby, since the area of the bonding member located on the surface facing the mounting substrate can be increased, the bonding strength between the light emitting device 1000 and the mounting substrate can be improved.

Z방향에 있어서의 오목부의 깊이의 최대는, Z방향에 있어서의 기재의 두께의 0.4배~0.9배인 것이 바람직하다. 오목부의 깊이가 기재 두께의 0.4배보다 깊으면, 오목부 내에 형성되는 접합 부재의 체적이 증가하므로 발광 장치와 실장 기판의 접합 강도를 향상시킬 수 있다. 오목부의 깊이가 기재 두께의 0.9배보다 얕으면, 기재의 강도 저하를 억제할 수 있다.It is preferable that the maximum of the depth of the recessed part in a Z direction is 0.4 times-0.9 times the thickness of the base material in a Z direction. If the depth of the recess is deeper than 0.4 times the thickness of the substrate, the volume of the bonding member formed in the recess increases, so that the bonding strength between the light emitting device and the mounting substrate can be improved. If the depth of the recess is shallower than 0.9 times the thickness of the substrate, the decrease in strength of the substrate can be suppressed.

도 2b에 나타낸 것처럼, 오목부(16)는, 배면(112)에서부터 저면(113)과 평행 방향(Z방향)으로 연장되는 평행부(161)를 구비하는 것이 바람직하다. 평행부(161)를 구비함으로써, 배면에 있어서의 오목부의 개구부의 면적이 같더라도 오목부의 체적을 크게 할 수 있다. 오목부의 체적을 크게 함으로써, 오목부 내에 형성할 수 있는 땜납 등의 접합 부재의 양을 늘릴 수 있으므로, 발광 장치(1000)와 실장 기판의 접합 강도를 향상시킬 수 있다. 또한, 본 명세서에서의 평행이란, ±3° 정도의 경사를 허용하는 것을 의미한다. 또한, 단면으로 보았을 때 오목부(16)는, 저면(113)에서부터 기재(11)의 두께가 두꺼워지는 방향으로 경사지는 경사부(162)를 구비한다. 경사부(162)는 직선이어도 되고, 만곡이어도 된다..As shown in FIG. 2B, the recessed part 16 preferably includes a parallel part 161 extending from the rear face 112 to the bottom face 113 in a parallel direction (Z direction). By providing the parallel part 161, even if the area of the opening part of the recessed part in the back surface is the same, the volume of a recessed part can be enlarged. By increasing the volume of the recess, the amount of bonding members such as solder that can be formed in the recess can be increased, so that the bonding strength between the light emitting device 1000 and the mounting substrate can be improved. In addition, parallel in this specification means allowing the inclination of about +/- 3 degrees. Moreover, the concave part 16 is provided with the inclined part 162 which inclines in the direction from which the thickness of the base material 11 becomes thick from the bottom face 113 as seen from a cross section. The inclined portion 162 may be a straight line or may be curved.

Y방향에 있어서의 오목부의 높이의 최대는, Y방향에 있어서의 기재의 두께의 0.3배~0.75배인 것으로 바람직하다. Y방향에 있어서의 오목부의 깊이가 기재 두께의 0.3배보다 두꺼움으로써, 오목부 내에 형성되는 접합 부재의 체적이 증가하여 발광 장치와 실장 기판의 접합 강도를 향상시킬 수 있다. Y방향에 있어서의 오목부의 길이가 기재의 두께 0.75배보다 얕음으로써, 기재의 강도 저하를 억제할 수 있다.It is preferable that the maximum of the height of the recessed part in a Y direction is 0.3 times-0.75 times the thickness of the base material in a Y direction. Since the depth of the concave portion in the Y direction is thicker than 0.3 times the thickness of the substrate, the volume of the bonding member formed in the concave portion can be increased to improve the bonding strength between the light emitting device and the mounting substrate. Since the length of the recessed part in a Y direction is shallower than 0.75 times the thickness of a base material, the fall of the strength of a base material can be suppressed.

도 3a에 나타낸 것처럼, 배면에 있어서, 오목부(16)가 다수 있는 경우는, Y방향으로 평행한 기재의 중심선(3C)에 대해 좌우 대칭에 위치하는 것이 바람직하다. 이와 같이 함으로써, 발광 장치를 실장 기판에 접합 부재를 통해 실장할 때 셀프 얼라인먼트가 효과적으로 작용하여, 발광 장치를 실장 범위 내에 정밀하게 실장할 수 있다.As shown in FIG. 3A, when there are many recessed parts 16 on the back surface, it is preferable to be located in left-right symmetry with respect to the centerline 3C of the base material parallel to a Y direction. By doing in this way, when the light emitting device is mounted on the mounting substrate via the bonding member, self-alignment works effectively, and the light emitting device can be accurately mounted within the mounting range.

발광 장치는, 제2 배선(13)의 일부를 피복하는 절연막(18)을 구비하고 있어도 된다. 절연막(18)을 구비함으로써, 배면에 있어서의 절연성을 확보하고 단락 방지를 도모할 수 있다. 또한, 기재로부터 제2 배선이 벗겨지는 것을 방지할 수 있다.The light emitting device may be provided with the insulating film 18 which covers a part of the second wiring 13. By providing the insulating film 18, insulation on the back surface can be ensured and short circuit prevention can be achieved. Moreover, peeling of a 2nd wiring from a base material can be prevented.

저면에 있어서, Z방향에서의 오목부의 깊이는 대략 일정하여도 되고, 오목부의 깊이가 중앙과 단부에서 달라도 된다. 도 3b에 나타낸 것처럼, 저면에 있어서, 오목부(16)의 중앙의 깊이 D1가, Z방향에서의 오목부의 깊이의 최대인 것이 바람직하다. 이와 같이 함으로써, 저면에 있어서, X방향의 오목부의 단부에서, Z방향에서의 기재의 두께 D2를 두껍게 할 수 있으므로 기재의 강도를 향상시킬 수 있다. 또한, 본 명세서에서 중앙이란, 5㎛정도의 변동은 허용되는 것을 의미한다. 오목부(16)는, 드릴이나, 레이저 등의 공지의 방법으로 형성할 수 있다.In the bottom face, the depth of the recess in the Z direction may be substantially constant, and the depth of the recess may be different at the center and the end. As shown in FIG. 3B, in the bottom face, it is preferable that the depth D1 at the center of the concave portion 16 is the maximum of the depth of the concave portion in the Z direction. By doing in this way, since the thickness D2 of the base material in a Z direction can be thickened at the edge part of a recessed part of an X direction in a bottom face, the intensity | strength of a base material can be improved. In addition, in this specification, a center means that the change of about 5 micrometers is allowable. The recessed part 16 can be formed by well-known methods, such as a drill and a laser.

도 3c에 나타낸 것처럼, 저면(113) 측에 위치하는 반사 부재(40)의 긴 방향의 측면(403)은, Z방향에 있어서 발광 장치(1000)의 내측으로 경사져 있는 것이 바람직하다. 이와 같이 함으로써, 발광 장치(1000)를 실장 기판에 실장할 때에, 반사 부재(40)의 측면(403)과 실장 기판의 접촉이 억제되어 발광 장치(1000)의 실장 자세가 안정되기 쉽다. 상면(114) 측에 위치하는 반사 부재(40)의 긴 방향의 측면(404)은, Z방향에 있어서 발광 장치(1000)의 내측으로 경사져 있는 것이 바람직하다. 이렇게 함으로써, 반사 부재(40)의 측면과 흡착 노즐(콜릿)의 접촉이 억제되어 발광 장치(1000)의 흡착시의 반사 부재(40)의 손상을 억제할 수 있다. 이와 같이, 저면(113) 측에 위치하는 반사 부재(40)의 긴 방향의 측면(403) 및 상면(114) 측에 위치하는 반사 부재(40)의 긴 방향의 측면(404)은, 배면으로부터 정면 방향(Z방향)에 있어서 발광 장치(1000)의 내측으로 경사져 있는 것이 바람직하다. 반사 부재(40)의 경사 각도 θ는, 적절히 선택할 수 있지만, 이러한 효과의 달성 및 반사 부재(40)의 강도의 관점에서, 0.3°이상, 3°이하인 것이 바람직하며, 0.5°이상, 2°이하인 것이 보다 바람직하고, 0.7°이상, 1.5°이하인 것이 보다 더 바람직하다. 또한, 발광 장치(1000)의 우측면과 좌측면은 대략 동일한 형상인 것이 바람직하다. 이렇게 함으로써 발광 장치(1000)를 소형화할 수 있다.As shown in FIG. 3C, the side surface 403 in the longitudinal direction of the reflective member 40 positioned on the bottom surface 113 side is preferably inclined to the inside of the light emitting device 1000 in the Z direction. In this way, when the light emitting device 1000 is mounted on the mounting substrate, the contact between the side surface 403 of the reflective member 40 and the mounting substrate is suppressed, and the mounting posture of the light emitting device 1000 is easily stabilized. It is preferable that the side surface 404 of the longitudinal direction of the reflective member 40 located in the upper surface 114 side inclines inside the light emitting device 1000 in a Z direction. By doing in this way, the contact of the side surface of the reflective member 40 and the adsorption nozzle (collet) is suppressed, and the damage of the reflective member 40 at the time of the adsorption | suction of the light emitting device 1000 can be suppressed. Thus, the side surface 403 of the longitudinal direction of the reflective member 40 located in the bottom surface 113 side, and the side surface 404 of the longitudinal direction of the reflective member 40 located in the upper surface 114 side are formed from the back surface. It is preferable to incline inside the light emitting device 1000 in the front direction (Z direction). Although the inclination angle (theta) of the reflection member 40 can be selected suitably, it is preferable that it is 0.3 degrees or more and 3 degrees or less from a viewpoint of achieving such an effect and the intensity | strength of the reflection member 40, and are 0.5 degrees or more and 2 degrees or less. It is more preferable, It is still more preferable that it is 0.7 degrees or more and 1.5 degrees or less. In addition, it is preferable that the right side and the left side of the light emitting device 1000 have substantially the same shape. In this way, the light emitting device 1000 can be miniaturized.

도 4에 나타낸 기판(10)과 같이, 정면에서 보았을 때 제1 배선(12)은, Y방향의 길이가 짧은 협폭부와, Y방향의 길이가 긴 광폭부를 구비하는 것이 바람직하다. 협폭부의 Y방향의 길이 D3는, 광폭부의 Y방향의 길이 D4보다 길이가 짧다. 협폭부는, 정면에서 보았을 때 비어(15)의 중심으로부터 X방향으로 떨어져 있고, 또한, X방향에 있어서 발광 소자의 전극이 위치하고 있는 부분에 위치하고 있다. 광폭부는, 정면에서 보았을 때 비어(15)의 중심에 위치하고 있다. 제1 배선(12)이 협폭부를 구비함으로써, 발광 소자의 전극과 제1 배선을 전기적으로 접속하는 도전성 접착 부재가 제1 배선 상에 젖어 퍼지는 면적을 작게 할 수 있다. 이에 의해, 도전성 접착 부재의 형상을 제어하기 쉬워진다. 또한, 제1 배선의 주연부는, 모퉁이가 둥근 형상이라도 좋다.Like the board | substrate 10 shown in FIG. 4, when viewed from the front, it is preferable that the 1st wiring 12 is equipped with the narrow width part of a short length of a Y direction, and the wide part of a long length of a Y direction. The length D3 of the narrow part of the Y direction is shorter than the length D4 of the wide part of the Y direction. The narrow part is located in the X direction from the center of the via 15 when viewed from the front, and is located in the part where the electrode of a light emitting element is located in the X direction. The wide part is located in the center of the via 15 when viewed from the front. Since the 1st wiring 12 has a narrow part, the area which the electroconductive adhesive member which electrically connects the electrode of a light emitting element and a 1st wiring wets on a 1st wiring can be made small. Thereby, it becomes easy to control the shape of a conductive adhesive member. The peripheral portion of the first wiring may have a rounded corner.

도 5a에 나타낸 것처럼, 제1 배선, 제2 배선 및/또는 제3 배선은, 배선 메인부(12A)와, 배선 메인부(12A) 상에 형성된 도금(12B)을 가지고 있어도 좋다. 본 명세서에 있어서, 배선이란, 제1 배선, 제2 배선 및/또는 제3 배선을 지칭한다. 배선 메인부(12A)로서는, 구리 등의 공지의 재료를 이용할 수 있다. 배선 메인부(12A) 상에 도금(12B)을 가짐으로써, 배선의 표면에 있어서의 반사율을 향상시키거나 황화를 억제할 수 있다. 예를 들면, 배선 메인부(12A) 상에 인을 포함하는 니켈 도금(120A)이 위치하고 있어도 좋다. 니켈은, 인을 함유함으로써 경도가 향상하므로, 배선 메인부(12A) 상에 인을 포함하는 니켈 도금(120A)이 위치함으로써 배선의 경도가 향상된다. 이에 의해, 발광 장치의 개편화 등으로 배선을 절단할 때에 배선에 버(burr)가 발생하는 것을 억제할 수 있다. 인을 포함하는 니켈 도금은, 전해 도금법으로 형성되어도 되고, 무전해 도금법으로 형성되어도 된다.As shown in FIG. 5A, the first wiring, the second wiring and / or the third wiring may have a wiring main portion 12A and plating 12B formed on the wiring main portion 12A. In the present specification, the wiring refers to the first wiring, the second wiring and / or the third wiring. As 12 A of wiring main parts, well-known materials, such as copper, can be used. By providing the plating 12B on the wiring main portion 12A, the reflectance on the surface of the wiring can be improved or sulfidation can be suppressed. For example, nickel plating 120A containing phosphorus may be located on the wiring main part 12A. Since nickel improves hardness by containing phosphorus, since the nickel plating 120A containing phosphorus is located on the wiring main part 12A, hardness of wiring improves. This can suppress the occurrence of burrs in the wirings when the wirings are cut due to the separation of the light emitting device. Nickel plating containing phosphorus may be formed by the electrolytic plating method, and may be formed by the electroless plating method.

도 5a에 나타낸 것처럼, 도금(12B)의 최표면에는 금 도금(120B)이 위치하고 있는 것이 바람직하다. 도금의 최표면에 금 도금이 위치함으로써, 제1 배선(12), 제2 배선(13) 및/또는 제3 배선(14)의 표면에 있어서의 산화, 부식을 억제하여, 양호한 땜납성을 얻을 수 있다. 반사율을 향상시키거나 황화를 억제할 수 있다. 도금(12B)의 최표면에 위치하는 금 도금(120B)은 전해 도금법에 의해 형성되는 것이 바람직하다. 전해 도금법은, 무전해 도금법보다 유황 등의 촉매 독의 함유를 적게 할 수 있다. 백금계 촉매를 이용한 부가 반응형 실리콘 수지를 금 도금과 접하는 위치에서 경화시키는 경우, 전해 도금법에 의해 형성한 금 도금은 유황의 함유가 적기 때문에, 유황과 백금이 반응하는 것을 억제할 수 있다. 이에 의해, 백금계 촉매를 이용한 부가 반응형 실리콘 수지가 경화 불량을 일으키는 것을 억제할 수 있다. 인을 포함하는 니켈 도금(120A)과 접하는 금 도금(120B)을 형성하는 경우에는, 인을 포함하는 니켈 도금(120A) 및 금 도금(120B)은 전해 도금법으로 형성되는 것이 바람직하다. 동일한 방법으로 도금을 형성함으로써, 발광 장치의 제조 코스트를 억제할 수 있다. 또한, 니켈 도금은 니켈을 함유하고 있으면 되고, 금 도금은 금을 함유하고 있으면 되며, 다른 재료가 함유되어 있어도 좋다.As shown in Fig. 5A, the gold plating 120B is preferably located on the outermost surface of the plating 12B. By placing gold plating on the outermost surface of the plating, oxidation and corrosion on the surfaces of the first wiring 12, the second wiring 13 and / or the third wiring 14 can be suppressed to obtain good solderability. Can be. The reflectance can be improved or sulfidation can be suppressed. The gold plating 120B located at the outermost surface of the plating 12B is preferably formed by an electrolytic plating method. The electrolytic plating method can reduce the content of catalyst poisons such as sulfur than the electroless plating method. When the addition reaction type silicone resin using a platinum catalyst is cured at a position in contact with the gold plating, the gold plating formed by the electrolytic plating method has a low sulfur content, so that the reaction between sulfur and platinum can be suppressed. Thereby, it can suppress that an addition reaction type | mold silicone resin using a platinum type catalyst produces hardening defect. When the gold plating 120B which contacts the nickel plating 120A containing phosphorus is formed, it is preferable that the nickel plating 120A and gold plating 120B containing phosphorus are formed by the electroplating method. By forming plating in the same manner, the manufacturing cost of the light emitting device can be suppressed. In addition, nickel plating should just contain nickel, gold plating should just contain gold, and other materials may contain.

인을 포함하는 니켈 도금의 두께는 금 도금의 두께보다 두꺼운 것이 바람직하다. 인을 포함하는 니켈 도금의 두께가 금 도금의 두께보다 두꺼움으로써, 제1 배선(12), 제2 배선(13) 및/또는 제3 배선(14)의 경도를 향상시키기 쉬워진다. 인을 포함하는 니켈 도금의 두께는, 금 도금의 두께의 5배 이상, 500배 이하가 바람직하고, 10배 이상, 100배 이하가 보다 바람직하다.It is preferable that the thickness of nickel plating containing phosphorus is thicker than the thickness of gold plating. Since the thickness of nickel plating containing phosphorus is thicker than the thickness of gold plating, the hardness of the 1st wiring 12, the 2nd wiring 13, and / or the 3rd wiring 14 becomes easy to improve. 5 times or more and 500 times or less of the thickness of gold plating are preferable, and, as for the thickness of the nickel plating containing phosphorus, 10 times or more and 100 times or less are more preferable.

도 5b에 나타낸 발광 장치(1000C)와 같이, 배선은, 배선 메인부(12A) 상에 인을 포함하는 니켈 도금(120C)과, 팔라듐 도금(120D)과, 제1 금 도금(120E)과, 제2 금 도금(120F)이 적층된 도금(12B)을 형성하여도 된다. 인을 포함하는 니켈 도금(120C)과, 팔라듐 도금(120D)과, 제1 금 도금(120E)과, 제2 금 도금(120F)이 적층됨으로써, 예를 들면, 배선 메인부(12A)의 구리를 사용한 경우 도금(12B) 중으로 구리가 확산하는 것을 억제할 수 있다. 이에 의해, 도금의 각 층의 밀착성 저하를 억제할 수 있다. 배선 메인부(12A) 상에 인을 포함하는 니켈 도금(120C)과, 팔라듐 도금(120D)과, 제1 금 도금(120E)을 무전해 도금법으로 형성하고, 제2 금 도금(120F)을 전해 도금법에 의해 형성하여도 된다. 전해 도금법에 의해 형성한 제2 금 도금(120F)이 최표면에 위치함으로써, 백금계 촉매를 이용한 부가 반응형 실리콘 수지의 경화 불량을 억제할 수 있다.Like the light emitting device 1000C shown in FIG. 5B, the wiring includes nickel plating 120C containing phosphorus on the wiring main portion 12A, palladium plating 120D, first gold plating 120E, Plating 12B in which the second gold plating 120F is laminated may be formed. Nickel plating 120C containing phosphorus, palladium plating 120D, 1st gold plating 120E, and 2nd gold plating 120F are laminated | stacked, for example, copper of wiring main part 12A. In the case of using, the diffusion of copper into the plating 12B can be suppressed. Thereby, the fall of adhesiveness of each layer of plating can be suppressed. Nickel plating (120C) containing phosphorus, palladium plating (120D), and first gold plating (120E) were formed on the wiring main portion (12A) by electroless plating, and electrolytic plating of the second gold plating (120F) was performed. You may form by a plating method. Since the 2nd gold plating 120F formed by the electroplating method is located in the outermost surface, the hardening defect of the addition reaction type silicone resin using a platinum type catalyst can be suppressed.

이하, 본 발명의 일 실시형태와 관련된 발광 장치에 있어서의 각 구성요소에 대해 설명한다.Hereinafter, each component in the light emitting device which concerns on one Embodiment of this invention is demonstrated.

(발광 소자(20))(Light emitting element 20)

발광 소자(20)는, 전압을 인가함으로써 스스로 발광하는 반도체 소자이며, 질화물 반도체 등으로 구성되는 기존의 반도체소자를 적용할 수 있다. 발광 소자(20)로서는, 예를 들면 LED 칩을 들 수 있다. 발광 소자(20)는, 적어도 반도체 적층체(23)을 구비하며, 많은 경우에 소자 기판(24)을 더 구비한다. 발광 소자의 상면에서 보았을 때의 형상은, 사각형, 특히 정방 형상 또는 일 방향으로 긴 장방 형상인 것이 바람직하지만, 그 외의 형상이어도 좋고, 예를 들면 육각 형상이면 발광 효율을 높일 수도 있다. 발광 소자의 측면은, 상면에 대해, 수직이어도 되고, 내측 또는 외측으로 경사져 있어도 된다. 또한, 발광 소자는, 정/부 전극을 가진다. 정/부 전극은, 금, 은, 주석, 백금, 로듐, 티타늄, 알루미늄, 텅스텐, 팔라듐, 니켈 또는 이들의 합금으로 구성할 수 있다. 발광 소자의 발광 피크 파장은, 반도체 재료나 그 혼정비에 의해, 자외 영역으로부터 적외 영역까지 선택할 수 있다. 반도체 재료로서는, 파장 변환 입자를 효율 좋게 여기할 수 있는 단파장의 광을 발광 가능한 재료인, 질화물 반도체를 이용하는 것이 바람직하다. 질화물 반도체는, 주로 일반식 InAlGa1-x-yN(0≤x、0≤y、x+y≤1)로 표현된다. 발광 소자의 발광 피크 파장은, 발광 효율, 파장 변환 입자의 여기 및 그 발광과의 혼색 관계 등의 관점에서, 400 ㎚ 이상 530 ㎚ 이하가 바람직하고, 420 ㎚ 이상 490 ㎚ 이하가 보다 바람직하며, 450 ㎚ 이상 475 ㎚ 이하가 보다 더 바람직하다. 그 밖에, InAlGaAs계 반도체, InAlGaP계 반도체, 황화 아연, 셀렌화 아연, 탄화규소 등을 이용할 수도 있다. 발광 소자의 소자 기판은, 주로 반도체 적층체를 구성하는 반도체의 결정을 성장시킬 수 있는 결정 성장용 기판이지만, 결정 성장용 기판으로부터 분리한 반도체소자 구조에 접합시키는 접합용 기판이어도 된다. 소자 기판이 투광성을 가짐으로써, 플립칩 실장을 채용하기 쉽고, 또한 광 취출 효율을 높이기도 쉽다. 소자 기판의 모재로서는, 사파이어, 질화 갈륨, 질화 알루미늄, 실리콘, 탄화규소, 갈륨 비소, 갈륨인, 인듐인, 황화 아연, 산화 아연, 셀렌화 아연, 다이아몬드 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 사파이어가 바람직하다. 소자 기판의 두께는, 적절히 선택할 수 있고, 예를 들면 0.02㎜ 이상 1㎜ 이하이며, 소자 기판의 강도 및/또는 발광 장치의 두께의 관점에서, 0.05㎜ 이상 0.3㎜ 이하인 것이 바람직하다.The light emitting element 20 is a semiconductor element which emits light by applying a voltage, and an existing semiconductor element composed of a nitride semiconductor or the like can be applied. As the light emitting element 20, an LED chip is mentioned, for example. The light emitting element 20 includes at least the semiconductor laminate 23, and in many cases, further includes an element substrate 24. It is preferable that the shape as seen from the upper surface of the light emitting element is a rectangle, in particular a square shape or a rectangular shape long in one direction, but other shapes may be used. The side surface of the light emitting element may be perpendicular to the upper surface, or may be inclined inward or outward. In addition, the light emitting element has a positive electrode and a negative electrode. The positive / negative electrode may be composed of gold, silver, tin, platinum, rhodium, titanium, aluminum, tungsten, palladium, nickel or an alloy thereof. The peak emission wavelength of a light emitting element can be selected from an ultraviolet region to an infrared region by a semiconductor material or its mixing ratio. As the semiconductor material, it is preferable to use a nitride semiconductor which is a material capable of emitting light having a short wavelength capable of efficiently exciting wavelength converting particles. Nitride semiconductor is represented mainly by the general formula In x Al y Ga 1-x -y N (0≤x, 0≤y, x + y≤1). The light emission peak wavelength of the light emitting element is preferably 400 nm or more and 530 nm or less, more preferably 420 nm or more and 490 nm or less, from the viewpoints of luminous efficiency, excitation of the wavelength conversion particles, and color mixing with the light emission thereof, and more preferably 450 More preferably, they are more than 475 nm. In addition, an InAlGaAs-based semiconductor, an InAlGaP-based semiconductor, zinc sulfide, zinc selenide, silicon carbide, or the like may be used. Although the element substrate of a light emitting element is a crystal growth substrate which can mainly grow the crystal | crystallization of the semiconductor which comprises a semiconductor laminated body, it may be a joining substrate joined to the semiconductor element structure isolate | separated from the crystal growth substrate. Since the element substrate is light-transmitting, flip chip mounting is easy to be adopted, and light extraction efficiency can be easily increased. Examples of the base material of the element substrate include sapphire, gallium nitride, aluminum nitride, silicon, silicon carbide, gallium arsenide, gallium phosphorus, indium phosphorus, zinc sulfide, zinc oxide, zinc selenide, and diamond. Especially, sapphire is preferable. The thickness of an element substrate can be suitably selected, for example, 0.02 mm or more and 1 mm or less, It is preferable that they are 0.05 mm or more and 0.3 mm or less from a viewpoint of the intensity | strength of a device substrate and / or the thickness of a light emitting device.

(제1 파장 변환 부재(31))(1st wavelength conversion member 31)

제1 파장 변환 부재는 발광 소자 상에 설치되는 부재이다. 제1 파장 변환 부재는, 제1 모재와 제1 파장 변환 입자를 포함하고 있다.The first wavelength conversion member is a member provided on the light emitting element. The 1st wavelength conversion member contains the 1st base material and 1st wavelength conversion particle.

(제1 파장 변환 입자(311))(First Wavelength Converting Particles 311)

제1 파장 변환 입자는, 발광 소자가 발하는 일차광의 적어도 일부를 흡수해, 일차광과는 다른 파장의 이차광을 방출한다. 제1 파장 변환 입자는, 이하에 나타낸 구체적인 예 가운데 1종을 단독으로, 또는 2종 이상을 조합해 이용할 수 있다.The first wavelength converting particles absorb at least a portion of the primary light emitted by the light emitting element, and emit secondary light having a wavelength different from that of the primary light. The 1st wavelength conversion particle can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types in the specific examples shown below.

제1 파장 변환 입자로서는, 녹색 발광하는 파장 변환 입자, 황색 발광하는 파장 변환 입자 및/또는 적색 발광하는 파장 변환 입자 등 공지의 파장 변환 입자를 사용할 수 있다. 예를 들면, 녹색 발광하는 파장 변환 입자로는, 이트륨·알루미늄·가넷계 형광체(예를 들면 Y(Al,Ga)12:Ce), 루테튬·알루미늄·가넷계 형광체(예를 들면 Lu3(Al, Ga)5 O12:Ce), 테르븀·알루미늄·가넷계 형광체(예를 들면 Tb(Al,Ga)12:Ce), 실리케이트계 형광체(예를 들면(Ba,Sr)SiO:Eu), 클로로 실리케이트계 형광체(예를 들면 CaMg(SiOCl:Eu), β사이알론계 형광체(예를 들면 Si6-zAl8-z:Eu(0<z<4.2)), SGS계 형광체(예를 들면 SrGa:Eu) 등을 들 수 있다. 황색 발광의 파장 변환 입자로는, α사이알론계 형광체(예를 들면 M(Si,Al)12(O,N)16 (단, 0<z≤2이며, M은 Li, Mg, Ca, Y, 및 La와 Ce를 제외한 란탄족 원소) 등을 들 수 있다. 그 밖에, 상기 녹색 발광하는 파장 변환 입자 중에는 황색 발광의 파장 변환 입자도 있다. 또한 예를 들면, 이트륨·알루미늄·가넷계 형광체는, Y의 일부를 Gd로 치환함으로써 발광 피크 파장을 장파장 측으로 시프트시킬 수 있고, 황색 발광이 가능하다. 또한, 이들 중에는, 오렌지색 발광이 가능한 파장 변환 입자도 있다. 적색 발광하는 파장 변환 입자로서는, 질소 함유 알루미노 규산 칼슘(CASN 또는 SCASN)계 형광체(예를 들면(Sr,Ca)AlSiN:Eu) 등을 들 수 있다. 그 밖에, 망간 활성 불화물계 형광체(일반식(I) A2[M1-aMnaF6]로 표현되는 형광체(단, 상기 일반식(I) 중, A는, K, Li, Na, Rb, Cs 및 NH4로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종이며, M은 제4족 원소 및 제14족 원소로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 원소이며, a는 0<a<0.2를 만족한다))를 들 수 있다. 이 망간 활성 불화물계 형광체의 대표적인 예로서는, 망간 활성 불화 규산 칼륨의 형광체(예를 들면 K2SiF6:Mn)가 있다.As 1st wavelength conversion particle | grains, well-known wavelength conversion particle | grains, such as a wavelength conversion particle which emits green light, a wavelength conversion particle which emits yellow light, and / or a wavelength conversion particle which emits red light, can be used. For example, green to the wavelength conversion particles emit light, the yttrium-aluminum-garnet fluorescent material (for example, Y 3 (Al, Ga) 5 O 12: Ce), lutetium-aluminum-garnet fluorescent material (e.g., Lu 3 (Al, Ga) 5 O 12 : Ce), terbium-aluminum-garnet-based phosphors (e.g., Tv 3 (AE, Baa) 5 O 12 : Ce), silicate-based phosphors (e.g. 2 SiO 4: Eu), chloro-silicate-based fluorescent material (for example, Ca 8 Mg (SiO 4) 4 Cl 2: Eu), β sialon-based fluorescent material (e.g., Si 6-z Al z O z N 8-z : Eu (0 <z <4.2 )), SGS -based fluorescent material (for example, SrGa 2 s 4:. Eu) and the like can be given is a wavelength conversion particles of the yellow light, the α sialon-based fluorescent material (for example, g M z (Si, Al) 12 (O, N) 16 ( stage, 0 <z≤2 and, M is Li, Mg, Ca, Y, and lanthanide elements other than La and Ce), etc. In addition, among the wavelength converting particles for emitting green light, there are also wavelength converting particles for emitting yellow light, and for example, yttrium aluminum garnet. The fluorescent substance can shift the emission peak wavelength to the long wavelength side by substituting a part of Y for Gd, and yellow light emission is possible, and some of these wavelength conversion particles can emit orange light. examples of the nitrogen-containing alumino-silicate, calcium (CASN or SCASN) based fluorescent material (for example, (Sr, Ca) AlSiN 3: Eu). , and the like in addition, manganese activated fluoride-based fluorescent material (general formula (I) a Phosphor represented by 2 [M 1 -a Mn a F 6 ] (However, in the general formula (I), A is at least one member selected from the group consisting of K, Li, Na, Rb, Cs, and NH 4. ) Where M is a Group 4 element and a Group 14 element And at least one element selected from the group consisting of a, satisfies 0 &lt; a &lt; 0.2, etc. A representative example of the manganese-activated fluoride phosphor is a phosphor of manganese-activated potassium fluoride silicate (eg, For example, K 2 SiF 6 : Mn).

(제1 모재(312))(The first base material 312)

제1 모재(312)는, 발광 소자로부터 방출되는 광에 대해 투광성을 가지는 것이면 좋다. 또한, “투광성”이란, 발광 소자의 발광 피크 파장에 있어서의 광 투과율이, 바람직하게는 60% 이상인 것, 보다 바람직하게는 70% 이상인 것, 보다 더 바람직하게는 80% 이상인 것을 말한다. 제1 모재는, 실리콘 수지, 에폭시 수지, 페놀 수지, 폴리카보네이트 수지, 아크릴 수지, 또는 이들의 변성 수지를 이용할 수 있다. 유리라도 좋다. 그 중에서도, 실리콘 수지 및 변성 실리콘 수지는, 내열성 및 내광성이 뛰어나 바람직하다. 구체적인 실리콘 수지로는, 디메틸 실리콘 수지, 페닐-메틸 실리콘 수지, 디페닐 실리콘 수지를 들 수 있다. 또한, 본 명세서에서 “변성 수지”는, 하이브리드 수지를 포함한다.The first base material 312 may be light-transmitting with respect to light emitted from the light emitting element. In addition, "transmittance" means that the light transmittance in the light emission peak wavelength of a light emitting element becomes like this. Preferably it is 60% or more, More preferably, it is 70% or more, More preferably, it is 80% or more. As a 1st base material, a silicone resin, an epoxy resin, a phenol resin, a polycarbonate resin, an acrylic resin, or these modified resin can be used. It may be glass. Especially, silicone resin and modified silicone resin are preferable because they are excellent in heat resistance and light resistance. Dimethyl silicone resin, phenyl-methyl silicone resin, diphenyl silicone resin is mentioned as a specific silicone resin. In addition, in this specification, "modified resin" includes a hybrid resin.

제1 모재는, 상기 수지 또는 유리 내에 각종의 확산 입자를 함유하고 있어도 좋다. 확산 입자로서는, 산화 규소, 산화 알루미늄, 산화 지르코늄, 산화 아연 등을 들 수 있다. 확산 입자는, 이들 중 1종을 단독으로, 또는 이들 중 2종 이상을 조합해 이용할 수 있다. 특히, 열팽창 계수가 작은 산화 규소가 바람직하다. 또한, 확산 입자로서 나노 입자를 이용함으로써, 발광 소자에서 방출되는 광의 산란을 증대시켜, 파장 변환 입자의 사용량을 저감할 수도 있다.The 1st base material may contain various diffused particles in the said resin or glass. Examples of the diffusion particles include silicon oxide, aluminum oxide, zirconium oxide, zinc oxide and the like. The diffusing particles may be used alone or in combination of two or more of them. In particular, silicon oxide with a small thermal expansion coefficient is preferable. In addition, by using the nanoparticles as the diffusion particles, the scattering of light emitted from the light emitting element can be increased, and the amount of the wavelength conversion particles can be reduced.

(도광 부재(50))(Light guide member 50)

도광 부재는, 발광 소자와 투광성 부재를 접착하고, 발광 소자로부터의 광을 투광성 부재에 도광하는 부재이다. 도광 부재의 모재는, 실리콘 수지, 에폭시 수지, 페놀 수지, 폴리카보네이트 수지, 아크릴 수지, 또는 이들의 변성 수지를 들 수 있다. 그 중에서도, 실리콘 수지 및 변성 실리콘 수지는, 내열성 및 내광성이 뛰어나 바람직하다. 구체적인 실리콘 수지로는, 디메틸 실리콘 수지, 페닐-메틸 실리콘 수지, 디페닐 실리콘 수지를 들 수 있다. 또한, 도광 부재의 모재는, 상술한 제1 모재와 마찬가지로 확산 입자를 함유하여도 된다.A light guide member is a member which adhere | attaches a light emitting element and a translucent member, and guides the light from a light emitting element to a translucent member. As a base material of a light guide member, a silicone resin, an epoxy resin, a phenol resin, a polycarbonate resin, an acrylic resin, or these modified resins are mentioned. Especially, silicone resin and modified silicone resin are preferable because they are excellent in heat resistance and light resistance. Dimethyl silicone resin, phenyl-methyl silicone resin, diphenyl silicone resin is mentioned as a specific silicone resin. In addition, the base material of a light guide member may contain diffused particles similarly to the 1st base material mentioned above.

(반사 부재)(Reflective member)

반사 부재는, Z방향으로의 광 취출 효율의 관점에서, 발광 소자의 발광 피크 파장에 있어서의 광반사율이, 70% 이상인 것이 바람직하고, 80% 이상인 것이 보다 바람직하며, 90% 이상인 것이 보다 더 바람직하다. 또한, 반사 부재는, 백색인 것이 바람직하다. 따라서, 반사 부재는, 모재 중에 백색 안료를 함유하여 구성되는 것이 바람직하다. 반사 부재는, 경화 전에는 액상 상태를 거친다. 반사 부재는, 트랜스퍼 성형, 사출 성형, 압축 성형, 포팅 등에 의해 형성할 수 있다.From the viewpoint of the light extraction efficiency in the Z direction, the reflective member preferably has a light reflectance at the peak emission wavelength of the light emitting element of 70% or more, more preferably 80% or more, even more preferably 90% or more. Do. Moreover, it is preferable that a reflection member is white. Therefore, it is preferable that a reflection member contains a white pigment in a base material. The reflective member passes through a liquid state before curing. The reflective member can be formed by transfer molding, injection molding, compression molding, potting, or the like.

(반사 부재의 모재)(Base material of reflective member)

반사 부재의 모재는, 수지를 이용할 수 있으며, 예를 들어 실리콘 수지, 에폭시 수지, 페놀 수지, 폴리카보네이트 수지, 아크릴 수지, 또는 이들의 변성 수지를 들 수 있다. 그 중에서도, 실리콘 수지 및 변성 실리콘 수지는, 내열성 및 내광성이 뛰어나 바람직하다. 구체적인 실리콘 수지로는, 디메틸 실리콘 수지, 페닐-메틸 실리콘 수지, 디페닐 실리콘 수지를 들 수 있다.Resin can be used for the base material of a reflection member, For example, a silicone resin, an epoxy resin, a phenol resin, a polycarbonate resin, an acrylic resin, or these modified resins are mentioned. Especially, silicone resin and modified silicone resin are preferable because they are excellent in heat resistance and light resistance. Dimethyl silicone resin, phenyl-methyl silicone resin, diphenyl silicone resin is mentioned as a specific silicone resin.

(백색 안료)(White pigment)

백색 안료는, 산화 티탄, 산화 아연, 산화 마그네슘, 탄산마그네슘, 수산화 마그네슘, 탄산칼슘, 수산화 칼슘, 규산 칼슘, 규산 마그네슘, 티탄산바륨, 황산바륨, 수산화 알루미늄, 산화 알루미늄, 산화 지르코늄, 산화 규소 가운데 1종을 단독으로, 또는 2종 이상을 조합해 이용할 수 있다. 백색 안료의 형상은, 적절히 선택할 수 있고, 부정형(不定形) 또는 파쇄 형상이라도 좋지만, 유동성의 관점에서 구(球) 형상이 바람직하다. 또한, 백색 안료의 입경은, 예를 들면 0.1㎛ 이상 0.5㎛ 이하 정도를 들 수 있지만, 광 반사나 피복의 효과를 높이기 위해서는 작을수록 바람직하다. 반사 부재 중의 백색 안료의 함유량은, 적절히 선택할 수 있지만, 광 반사성 및 액상 시에 있어서의 점도 등의 관점에서, 예를 들면 10wt% 이상 80wt% 이하가 바람직하고, 20wt% 이상 70wt% 이하가 보다 바람직하며, 30wt% 이상 60wt% 이하가 보다 더 바람직하다. 또한, “wt%”는, 중량 퍼센트이며, 반사 부재의 전체 중량에 대한 해당 재료의 중량의 비율을 나타낸다.White pigment is titanium oxide, zinc oxide, magnesium oxide, magnesium carbonate, magnesium hydroxide, calcium carbonate, calcium hydroxide, calcium silicate, magnesium silicate, barium titanate, barium sulfate, aluminum hydroxide, aluminum oxide, zirconium oxide, silicon oxide 1 A species can be used individually or in combination of 2 or more types. Although the shape of a white pigment can be selected suitably and may be indefinite shape or a crushed shape, spherical shape is preferable from a fluid viewpoint. Moreover, although the particle size of a white pigment is about 0.1 micrometer or more and about 0.5 micrometer or less, for example, in order to improve the effect of light reflection and a coating, it is so preferable that it is small. Although content of the white pigment in a reflecting member can be selected suitably, 10 wt% or more and 80 wt% or less are preferable from a viewpoint of light reflectivity and the viscosity at the time of liquid phase, for example, 20 wt% or more and 70 wt% or less are more preferable. More preferably, 30 wt% or more and 60 wt% or less are more preferable. In addition, "wt%" is a weight percentage and shows the ratio of the weight of the said material with respect to the total weight of a reflective member.

(제2 파장 변환 부재(32))(2nd wavelength conversion member 32)

제2 파장 변환 부재는, 제1 파장 변환 부재와 같은 재료를 이용할 수 있다.As the second wavelength conversion member, the same material as that of the first wavelength conversion member can be used.

(피복 부재(33))(Cover member 33)

제2 파장 변환 부재는, 제1 모재와 같은 재료를 이용할 수 있다.As a 2nd wavelength conversion member, the same material as a 1st base material can be used.

(기판(10))(Substrate (10))

기판(10)은, 발광 소자를 재치하는 부재이다. 기판(10)은, 기재(11)와, 제1 배선(12)과, 제2 배선(13)과, 제3 배선(14)과, 비어(15)에 의해 구성된다.The board | substrate 10 is a member which mounts a light emitting element. The board | substrate 10 is comprised by the base material 11, the 1st wiring 12, the 2nd wiring 13, the 3rd wiring 14, and the via 15. As shown in FIG.

(기재(11))(Base (11))

기재(11)는, 수지 또는 섬유 강화 수지, 세라믹스, 유리 등의 절연성 부재를 이용해 구성할 수 있다. 수지 또는 섬유 강화 수지로서는, 에폭시, 유리 에폭시, 비스말레이미드 트리아진(BT), 폴리이미드 등을 들 수 있다. 세라믹스로서는, 산화 알루미늄, 질화 알루미늄, 산화 지르코늄, 질화 지르코늄, 산화 티탄, 질화 티탄, 또는 이들의 혼합물 등을 들 수 있다. 이들 기재 가운데, 특히 발광 소자의 선팽창 계수에 가까운 물성을 가지는 기재를 사용하는 것이 바람직하다. 기재의 두께의 하한치는, 적절히 선택할 수 있지만, 기재의 강도의 관점에서, 0.05㎜ 이상인 것이 바람직하고, 0.2㎜ 이상인 것이 보다 바람직하다. 또한, 기재의 두께의 상한치는, 발광 장치의 두께(안쪽으로의 길이)의 관점에서, 0.5㎜ 이하인 것이 바람직하고, 0.4㎜ 이하인 것이 보다 바람직하다.The base material 11 can be comprised using insulating members, such as resin or fiber reinforced resin, ceramics, and glass. Epoxy, glass epoxy, bismaleimide triazine (BT), polyimide, etc. are mentioned as resin or fiber reinforced resin. Examples of the ceramics include aluminum oxide, aluminum nitride, zirconium oxide, zirconium nitride, titanium oxide, titanium nitride, and mixtures thereof. It is preferable to use the base material which has a physical property near the linear expansion coefficient of a light emitting element especially among these base materials. Although the lower limit of the thickness of a base material can be selected suitably, it is preferable that it is 0.05 mm or more from a viewpoint of the strength of a base material, and it is more preferable that it is 0.2 mm or more. Moreover, it is preferable that it is 0.5 mm or less from a viewpoint of the thickness (length inward) of a light emitting device, and, as for the upper limit of the thickness of a base material, it is more preferable that it is 0.4 mm or less.

(제1 배선(12), 제2 배선(13), 제3 배선(14))(1st wiring 12, 2nd wiring 13, 3rd wiring 14)

제1 배선은, 기판의 정면에 배치되어 발광 소자와 전기적으로 접속된다. 제2 배선은, 기판의 배면에 배치되어 비어를 통해 제1 배선과 전기적으로 접속된다. 제3 배선은, 오목부의 내벽을 피복하고, 제2 배선과 전기적으로 접속된다. 제1 배선, 제2 배선 및 제3 배선은, 구리, 철, 니켈, 텅스텐, 크롬, 알루미늄, 은, 금, 티탄, 팔라듐, 로듐, 또는 이들의 합금으로 형성할 수 있다. 이들 금속 또는 합금의 단층이라도 다층이라도 좋다. 특히, 방열성의 관점에 있어 구리 또는 구리 합금이 바람직하다. 또한, 제1 배선 및/또는 제2 배선의 표층에는, 도전성 접착 부재의 젖음성 및/또는 광 반사성 등의 관점에서, 은, 백금, 알루미늄, 로듐, 금 또는 이들의 합금 등의 층이 설치되어 있어도 좋다.The first wiring is disposed in front of the substrate and electrically connected to the light emitting element. The second wiring is disposed on the back surface of the substrate and electrically connected to the first wiring through the via. The third wiring covers the inner wall of the recess and is electrically connected to the second wiring. The first wiring, the second wiring and the third wiring can be formed of copper, iron, nickel, tungsten, chromium, aluminum, silver, gold, titanium, palladium, rhodium, or an alloy thereof. The single layer of these metals or alloys may be a multilayer. In particular, from the viewpoint of heat dissipation, copper or a copper alloy is preferable. Moreover, even if the surface layer of a 1st wiring and / or a 2nd wiring is provided with layers, such as silver, platinum, aluminum, rhodium, gold, or these alloys, from a viewpoint of the wettability and / or light reflectivity of a conductive adhesive member, etc. are provided. good.

(비어(15))(Empty (15))

비어(15)는 기재(11)의 정면과 배면을 관통하는 구멍 내에 설치되어 제1 배선과 상기 제2 배선을 전기적으로 접속시키는 부재이다. 비어(15)는 기재의 관통공의 표면을 피복하는 제4 배선(151)과, 제4 배선(151) 내에 충전된 충전 부재(152)에 의해 구성되어도 된다. 제4 배선(151)에는, 제1 배선, 제2 배선 및 제3 배선과 마찬가지의 도전성 부재를 이용할 수 있다. 충전 부재(152)는, 도전성의 부재를 이용하여도 되고 절연성의 부재를 이용하여도 된다.The via 15 is a member provided in a hole penetrating the front and rear surfaces of the substrate 11 to electrically connect the first wiring and the second wiring. The via 15 may be constituted by the fourth wiring 151 covering the surface of the through hole of the substrate and the charging member 152 filled in the fourth wiring 151. As the fourth wiring 151, the same conductive member as the first wiring, the second wiring and the third wiring can be used. The charging member 152 may use a conductive member or may use an insulating member.

(절연막(18))(Insulation film 18)

절연막(18)은, 배면에 있어서의 절연성의 확보 및 단락 방지를 도모하는 부재이다. 절연막은, 해당 분야에서 사용되는 것 중 어느 것으로 형성되어도 좋다. 예를 들면, 열경화성 수지 또는 열가소성 수지 등을 들 수 있다.The insulating film 18 is a member for securing the insulation on the back surface and preventing short circuit. The insulating film may be formed of any of those used in the art. For example, a thermosetting resin, a thermoplastic resin, etc. are mentioned.

(도전성 접착 부재(60))(Conductive Adhesive Member 60)

도전성 접착 부재란, 발광 소자의 전극과 제1 배선을 전기적으로 접속하는 부재이다. 도전성 접착 부재로는, 금, 은, 구리 등의 범프, 은, 금, 구리, 백금, 알루미늄, 팔라듐 등의 금속 분말과 수지 바인더를 포함하는 금속 페이스트, 주석-비스무스계, 주석-동계, 주석-은계, 금-주석계 등의 땜납, 저융점 금속 등의 경납 중 어느 하나를 이용할 수 있다. A conductive adhesive member is a member which electrically connects the electrode of a light emitting element and a 1st wiring. Examples of the conductive adhesive member include metal pastes such as bumps such as gold, silver, and copper, metal powders such as silver, gold, copper, platinum, aluminum, and palladium, and resin binders, tin-bismuth, tin-copper, and tin- Any one of solders such as silver, gold-tin, and brazing such as low melting point metal can be used.

본 발명의 일 실시형태와 관련된 발광 장치는, 액정 디스플레이의 백라이트 장치, 각종 조명기구, 대형 디스플레이, 광고나 길안내 등의 각종 표시장치, 프로젝터 장치, 나아가, 디지털 비디오 카메라, 팩시밀리, 복사기, 스캐너 등에 있어서의 화상 판독 장치 등에 이용할 수 있다. The light-emitting device which concerns on one Embodiment of this invention is a backlight apparatus of a liquid crystal display, various lighting fixtures, a large display, various display apparatuses, such as an advertisement and a road guide, a projector apparatus, a digital video camera, a facsimile machine, a copier, a scanner, etc. In an image reading apparatus or the like.

1000, 1000A, 1000B, 1000C: 발광 장치
10: 기판
11: 기재
12: 제1 배선
13: 제2 배선
14: 제3 배선
15: 비어
151: 제4 배선
152: 충전 부재
16: 오목부
18: 절연막
20: 발광 소자
31: 제1 파장 변환 부재
32: 제2 파장 변환 부재
33: 피복 부재
34: 피막
40: 반사 부재
50: 도광 부재
60: 도전성 접착 부재
1000, 1000A, 1000B, 1000C: light emitting device
10: Substrate
11: description
12: first wiring
13: second wiring
14: third wiring
15: Beer
151: fourth wiring
152: filling member
16: concave
18: insulating film
20: light emitting element
31: first wavelength conversion member
32: second wavelength conversion member
33: covering member
34: film
40: reflective member
50: light guide member
60: conductive adhesive member

Claims (8)

제1면과, 상기 제1면의 반대 측에 위치하는 제2면을 갖는 발광 소자와,
상기 발광 소자의 측면을 피복하는 도광 부재와,
상기 제1면을 피복하고, 제1 모재 및 제1 파장 변환 입자를 갖는 제1 파장 변환 부재와,
상기 발광 소자의 측면, 상기 도광 부재의 측면 및 제1 파장 변환 부재의 측면을 피복하고, 상기 발광 소자와 접하는 반사 부재를 구비하고,
상기 제1 파장 변환 부재의 두께는 60㎛ 이상 120㎛ 이하이며,
상기 제1 파장 변환 입자의 평균 입경은 4㎛ 이상 12㎛ 이하이며,
상기 제1 파장 변환 입자의 중심 입경은 4㎛ 이상 12㎛ 이하이며,
상기 제1 파장 변환 부재의 전 중량에 대해, 상기 제1 파장 변환 입자가 60중량% 이상 75중량% 이하인 발광 장치.
A light emitting element having a first surface and a second surface positioned opposite to the first surface;
A light guide member covering a side surface of the light emitting element;
A first wavelength conversion member covering the first surface and having a first base material and a first wavelength conversion particle;
A reflection member which covers a side surface of the light emitting element, a side surface of the light guide member, and a side surface of the first wavelength conversion member, and is in contact with the light emitting element,
The thickness of the said 1st wavelength conversion member is 60 micrometers or more and 120 micrometers or less,
The average particle diameter of the said 1st wavelength conversion particle is 4 micrometers or more and 12 micrometers or less,
The center particle diameter of the said 1st wavelength conversion particle is 4 micrometers or more and 12 micrometers or less,
The light-emitting device of which the said 1st wavelength conversion particle is 60 weight% or more and 75 weight% or less with respect to the total weight of a said 1st wavelength conversion member.
제1항에 있어서, 
상기 제1 파장 변환 입자가 망간 활성 불화물 형광체인 발광 장치.
The method of claim 1,
A light emitting device wherein the first wavelength converting particle is a manganese active fluoride phosphor.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 발광 소자와 상기 제1 파장 변환 부재의 사이에 위치하고, 제2 모재 및 제2 파장 변환 입자를 포함하는 제2 파장 변환 부재를 구비하는 발광 장치.
The method according to claim 1 or 2,
And a second wavelength conversion member positioned between the light emitting element and the first wavelength conversion member, the second wavelength conversion member including a second base material and second wavelength conversion particles.
제3항에 있어서,
상기 제1 파장 변환 입자의 평균 입경이 상기 제2 파장 변환 입자의 평균 입경보다 작은 발광 장치.
The method of claim 3,
The light emitting device of which the average particle diameter of the first wavelength conversion particle is smaller than the average particle diameter of the second wavelength conversion particle.
제3항 또는 제4항에 있어서,
상기 제2 파장 변환 입자가 β 사이알론계 형광체인 발광 장치.
The method according to claim 3 or 4,
The second light emitting device is a β sialon-based phosphor.
제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제2 파장 변환 부재의 두께는, 20㎛ 이상 60㎛ 이하인 발광 장치.
The method according to any one of claims 3 to 5,
The thickness of a said 2nd wavelength conversion member is 20 micrometers or more and 60 micrometers or less.
제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제1 파장 변환 부재를 피복하는 피복 부재를 구비하는 발광 장치.
The method according to any one of claims 1 to 6,
The light-emitting device provided with the coating member which coat | covers the said 1st wavelength conversion member.
제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제1 파장 변환 부재의 체적 기준에 의한 입도 분포의 표준 편차가 0.3㎛ 이하인 발광 장치.
The method according to any one of claims 1 to 7,
The light-emitting device whose standard deviation of the particle size distribution by the volume reference of the said 1st wavelength conversion member is 0.3 micrometer or less.
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7445155B2 (en) * 2021-06-21 2024-03-07 日亜化学工業株式会社 Fluoride phosphor and its manufacturing method, wavelength conversion member, and light emitting device

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009209192A (en) * 2008-02-29 2009-09-17 Nichia Corp Phosphor and light-emitting device using the same
JP2012134355A (en) 2010-12-22 2012-07-12 Stanley Electric Co Ltd Light emitting device and manufacturing method of the same
JP2016072379A (en) * 2014-09-29 2016-05-09 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and method of manufacturing the same
US20160181473A1 (en) * 2014-12-19 2016-06-23 Nichia Corporation Light emitting device
US20170186920A1 (en) * 2015-12-24 2017-06-29 Nichia Corporation Light emitting device using wavelength conversion member, method of manufacturing wavelength conversion member, and method of manufacturing light emitting device
US20170294561A1 (en) * 2016-04-06 2017-10-12 Nichia Corporation Light emitting device

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MY131962A (en) * 2001-01-24 2007-09-28 Nichia Corp Light emitting diode, optical semiconductor device, epoxy resin composition suited for optical semiconductor device, and method for manufacturing the same
US7854859B2 (en) * 2004-12-28 2010-12-21 Nichia Corporation Nitride phosphor, method for producing this nitride phosphor, and light emitting device that uses this nitride phosphor
JP4473283B2 (en) * 2006-03-31 2010-06-02 Dowaエレクトロニクス株式会社 Light emitting device and manufacturing method thereof
JP2009030042A (en) * 2007-06-29 2009-02-12 Mitsubishi Chemicals Corp Phosphor, method for producing phosphor, phosphor-containing composition, and light-emitting device
JP5832713B2 (en) * 2008-04-14 2015-12-16 日亜化学工業株式会社 Phosphor, light emitting device using the same, and method for producing phosphor
JP2010004035A (en) * 2008-05-22 2010-01-07 Mitsubishi Chemicals Corp Semiconductor light-emitting apparatus, illuminator, and image display apparatus
JPWO2009144922A1 (en) * 2008-05-30 2011-10-06 株式会社東芝 White LED, backlight using the same, and liquid crystal display device
TWI381556B (en) * 2009-03-20 2013-01-01 Everlight Electronics Co Ltd Light emitting diode package structure and manufacturing method thereof
JP5423120B2 (en) * 2009-04-17 2014-02-19 三菱化学株式会社 Semiconductor light emitting device
JP2011228344A (en) * 2010-04-15 2011-11-10 Hitachi Ltd Led light-emitting device
WO2012050199A1 (en) * 2010-10-15 2012-04-19 三菱化学株式会社 White light emitting device and lighting device
DE102010053362B4 (en) * 2010-12-03 2021-09-30 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Method for producing a radiation-emitting semiconductor chip, radiation-emitting semiconductor chip and radiation-emitting component
JP2012124191A (en) * 2010-12-06 2012-06-28 Citizen Electronics Co Ltd Light emitting device and manufacturing method of the same
JP5762044B2 (en) * 2011-02-23 2015-08-12 三菱電機株式会社 Light emitting device, light emitting device group, and manufacturing method
US8742654B2 (en) * 2011-02-25 2014-06-03 Cree, Inc. Solid state light emitting devices including nonhomogeneous luminophoric particle size layers
JP5741211B2 (en) * 2011-05-24 2015-07-01 大日本印刷株式会社 LED lead frame with reflector and manufacturing method of semiconductor device using the same
JP2013038187A (en) * 2011-08-05 2013-02-21 Stanley Electric Co Ltd Light-emitting device and method of manufacturing the same
TWI505515B (en) * 2011-08-19 2015-10-21 Epistar Corp Lighting emitting device and manufacturing method thereof
TWI447961B (en) * 2012-04-16 2014-08-01 Lextar Electronics Corp Light emitting diode packaging structure
DE102012107290A1 (en) * 2012-08-08 2014-02-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor device, conversion agent platelets and method of making a conversion agent platelet
JP2014140015A (en) * 2012-12-19 2014-07-31 Panasonic Corp Light emitting module and illumination light source using the same
JP6107510B2 (en) * 2013-07-25 2017-04-05 日亜化学工業株式会社 Light emitting device and manufacturing method thereof
US9660151B2 (en) * 2014-05-21 2017-05-23 Nichia Corporation Method for manufacturing light emitting device
US9929319B2 (en) * 2014-06-13 2018-03-27 General Electric Company LED package with red-emitting phosphors
JP6503929B2 (en) * 2014-06-30 2019-04-24 日亜化学工業株式会社 Semiconductor light emitting device
JP6492492B2 (en) * 2014-09-29 2019-04-03 日亜化学工業株式会社 Light emitting device and manufacturing method thereof
JP6484982B2 (en) * 2014-09-30 2019-03-20 日亜化学工業株式会社 Method for manufacturing light emitting device
JP6428194B2 (en) * 2014-11-21 2018-11-28 日亜化学工業株式会社 Wavelength converting member, method for manufacturing the same, and light emitting device
KR102528015B1 (en) * 2015-12-18 2023-05-10 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 Light emitting device and lighting system having thereof
JP6384508B2 (en) * 2016-04-06 2018-09-05 日亜化学工業株式会社 Light emitting device

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009209192A (en) * 2008-02-29 2009-09-17 Nichia Corp Phosphor and light-emitting device using the same
JP2012134355A (en) 2010-12-22 2012-07-12 Stanley Electric Co Ltd Light emitting device and manufacturing method of the same
JP2016072379A (en) * 2014-09-29 2016-05-09 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and method of manufacturing the same
US20160181473A1 (en) * 2014-12-19 2016-06-23 Nichia Corporation Light emitting device
US20170186920A1 (en) * 2015-12-24 2017-06-29 Nichia Corporation Light emitting device using wavelength conversion member, method of manufacturing wavelength conversion member, and method of manufacturing light emitting device
US20170294561A1 (en) * 2016-04-06 2017-10-12 Nichia Corporation Light emitting device
JP2017188592A (en) * 2016-04-06 2017-10-12 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device

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