JP2019134150A - Light emitting device - Google Patents

Light emitting device Download PDF

Info

Publication number
JP2019134150A
JP2019134150A JP2018094611A JP2018094611A JP2019134150A JP 2019134150 A JP2019134150 A JP 2019134150A JP 2018094611 A JP2018094611 A JP 2018094611A JP 2018094611 A JP2018094611 A JP 2018094611A JP 2019134150 A JP2019134150 A JP 2019134150A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wavelength conversion
light emitting
light
emitting element
emitting device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2018094611A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
拓也 中林
Takuya Nakabayashi
拓也 中林
石川 哲也
Tetsuya Ishikawa
哲也 石川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nichia Chemical Industries Ltd
Original Assignee
Nichia Chemical Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nichia Chemical Industries Ltd filed Critical Nichia Chemical Industries Ltd
Priority to US16/257,714 priority Critical patent/US10804442B2/en
Priority to CN201910078815.4A priority patent/CN110098303A/en
Priority to TW108103260A priority patent/TWI812672B/en
Priority to KR1020190011174A priority patent/KR102657117B1/en
Publication of JP2019134150A publication Critical patent/JP2019134150A/en
Priority to US17/020,280 priority patent/US11195977B2/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/505Wavelength conversion elements characterised by the shape, e.g. plate or foil
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/10Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a light reflecting structure, e.g. semiconductor Bragg reflector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/501Wavelength conversion elements characterised by the materials, e.g. binder
    • H01L33/502Wavelength conversion materials
    • H01L33/504Elements with two or more wavelength conversion materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)
  • Luminescent Compositions (AREA)
  • Heating, Cooling, Or Curing Plastics Or The Like In General (AREA)

Abstract

To provide a light emitting device capable of suppressing color non-uniformity of distributed light.SOLUTION: A light emitting device includes: a light emitting element having a first surface and a second surface located on the opposite side of the first surface; a light guide member covering a lateral surface of the light emitting element; a first wavelength conversion member which covers the first surface and includes a first matrix and first wavelength conversion particles; and a reflective member which covers the lateral surface of the light emitting element, a lateral surface of the light guide member and a lateral surface of the first wavelength conversion member, the reflective member being in contact with the light emitting element. The first wavelength conversion member has a thickness of 60 μm or more an 120 μm or less. The first wavelength conversion particles have an average particle size of 4 μm or more and 12 μm or less. The first wavelength conversion particles have a central particle size of 4 μm or more and 12 μm or less. A weight ratio of the first wavelength conversion particles is 60 wt.% or more and 75 wt.% or less with respect to the total weight of the first wavelength conversion member.SELECTED DRAWING: Figure 2A

Description

本発明は、発光装置に関する。   The present invention relates to a light emitting device.

発光素子と、発光素子上に配置された、発光素子の発する光の少なくとも一部を透過する光学層と、光学層の上に搭載され、発光素子の発する光の少なくとも一部を透過する板状光学部材とを有する発光装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。   A light-emitting element, an optical layer disposed on the light-emitting element that transmits at least part of the light emitted from the light-emitting element, and a plate-like element that is mounted on the optical layer and transmits at least part of the light emitted from the light-emitting element A light-emitting device having an optical member is known (see, for example, Patent Document 1).

特開2012−134355号公報JP 2012-134355 A

バックライトや照明として使用する場合には、場所によらず均一な色度の光を得ることのできる発光装置が求められている。そこで、本発明に係る実施形態は、配光色度ムラを抑制できる発光装置を提供することを目的とする。   When used as a backlight or illumination, a light emitting device capable of obtaining light of uniform chromaticity regardless of location is required. Accordingly, an object of the embodiment according to the present invention is to provide a light emitting device capable of suppressing light distribution chromaticity unevenness.

本発明の一態様に係る発光装置は、第1面と、前記第1面の反対側に位置する第2面と、を有する発光素子と、前記発光素子の側面を被覆する導光部材と、前記第1面を被覆し、第1母材及び第1波長変換粒子を有する第1波長変換部材と、前記発光素子の側面、前記導光部材の側面及び第1波長変換部材の側面を被覆し、前記発光素子と接する反射部材と、を備え、前記第1波長変換部材の厚みは、60μm以上120μm以下であり、前記第1波長変換粒子の平均粒径は、4μm以上12μm以下であり、前記第1波長変換粒子の中心粒径は、4μm以上12μm以下であり、前記第1波長変換部材の全重量に対して、前記第1波長変換粒子が60重量%以上75重量%以下である。   A light-emitting device according to one embodiment of the present invention includes a light-emitting element having a first surface and a second surface located on the opposite side of the first surface, a light guide member that covers a side surface of the light-emitting element, A first wavelength conversion member that covers the first surface and includes a first base material and first wavelength conversion particles, a side surface of the light emitting element, a side surface of the light guide member, and a side surface of the first wavelength conversion member. A reflective member in contact with the light emitting element, the thickness of the first wavelength conversion member is 60 μm or more and 120 μm or less, and the average particle diameter of the first wavelength conversion particles is 4 μm or more and 12 μm or less, The center particle diameter of the first wavelength conversion particles is 4 μm or more and 12 μm or less, and the first wavelength conversion particles are 60 wt% or more and 75 wt% or less with respect to the total weight of the first wavelength conversion member.

本発明に係る実施形態の発光装置によれば、配光色度ムラを抑制できる発光装置を提供することができる。   According to the light emitting device of the embodiment according to the present invention, it is possible to provide a light emitting device capable of suppressing light distribution chromaticity unevenness.

図1Aは、実施形態1に係る発光装置の概略斜視図である。1A is a schematic perspective view of a light-emitting device according to Embodiment 1. FIG. 図1Bは、実施形態1に係る発光装置の概略斜視図である。1B is a schematic perspective view of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 図1Cは、実施形態1に係る発光装置の概略正面図である。1C is a schematic front view of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 図2Aは、図1Cの2A−2A線における概略断面図である。2A is a schematic cross-sectional view taken along line 2A-2A in FIG. 1C. 図2Bは、図1Cの2B−2B線における概略断面図である。2B is a schematic cross-sectional view taken along line 2B-2B in FIG. 1C. 図2Cは、実施形態1に係る発光装置の変形例の概略断面図である。FIG. 2C is a schematic cross-sectional view of a modified example of the light-emitting device according to Embodiment 1. 図2Dは、実施形態1に係る発光装置の変形例の概略断面図である。FIG. 2D is a schematic cross-sectional view of a modification of the light-emitting device according to Embodiment 1. 図3Aは、実施形態1に係る発光装置の概略背面図である。FIG. 3A is a schematic rear view of the light emitting device according to the first embodiment. 図3Bは、実施形態1に係る発光装置の概略底面図である。3B is a schematic bottom view of the light emitting device according to Embodiment 1. FIG. 図3Cは、実施形態1に係る発光装置の概略側面図である。3C is a schematic side view of the light-emitting device according to Embodiment 1. FIG. 図4は、実施形態1に係る基板の概略側面図である。FIG. 4 is a schematic side view of the substrate according to the first embodiment. 図5Aは、実施形態1に係る発光装置の概略断面図と、点線部内を拡大して示す拡大図である。FIG. 5A is a schematic cross-sectional view of the light-emitting device according to Embodiment 1, and an enlarged view showing the inside of a dotted line part in an enlarged manner. 図5Bは、実施形態1に係る発光装置の変形例の概略断面図と、点線部内を拡大して示す拡大図である。FIG. 5B is a schematic cross-sectional view of a modified example of the light emitting device according to Embodiment 1, and an enlarged view showing the inside of a dotted line part in an enlarged manner.

以下、発明の実施形態について適宜図面を参照して説明する。但し、以下に説明する発光装置は、本発明の技術思想を具体化するためのものであって、特定的な記載がない限り、本発明を以下のものに限定しない。また、一つの実施形態において説明する内容は、変形例にも適用可能である。さらに、図面が示す部材の大きさや位置関係等は、説明を明確にするため、誇張していることがある。   Embodiments of the invention will be described below with reference to the drawings as appropriate. However, the light-emitting device described below is for embodying the technical idea of the present invention, and the present invention is not limited to the following unless otherwise specified. The contents described in one embodiment can be applied to a modification. Furthermore, the size, positional relationship, and the like of the members illustrated in the drawings may be exaggerated for clarity of explanation.

<実施形態1>
本発明の実施形態に係る発光装置1000を図1Aから図5Bに基づいて説明する。発光装置1000は、発光素子20と、導光部材50と、第1波長変換部材31と、反射部材40と、を備える。発光素子20は、第1面201と、第1面201の反対側に位置する第2面203と、を有する。導光部材50は、発光素子の側面202を被覆する。第1波長変換部材31は、発光素子の第1面201を被覆する。また、第1波長変換部材31は、第1母材312及び第1波長変換粒子311を有する。第1波長変換部材31の厚みは、60μm以上120μm以下である。第1波長変換粒子311の平均粒径は、4μm以上12μm以下である。第1波長変換粒子311の中心粒径は、4μm以上12μm以下である。第1波長変換部材31の全重量に対して、第1波長変換粒子311が60重量%以上75重量%以下である。反射部材40は、発光素子の側面、導光部材の側面及び第1波長変換部材の側面を被覆する。また、反射部材40は、発光素子と接する。発光装置は、発光素子を少なくとも1つ備えていればよい。つまり、発光装置は、発光素子を1つだけ備えていてもよく、発光素子を複数備えていてもよい。
<Embodiment 1>
A light emitting device 1000 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1A to 5B. The light emitting device 1000 includes the light emitting element 20, the light guide member 50, the first wavelength conversion member 31, and the reflection member 40. The light emitting element 20 has a first surface 201 and a second surface 203 located on the opposite side of the first surface 201. The light guide member 50 covers the side surface 202 of the light emitting element. The first wavelength conversion member 31 covers the first surface 201 of the light emitting element. The first wavelength conversion member 31 includes a first base material 312 and first wavelength conversion particles 311. The thickness of the first wavelength conversion member 31 is 60 μm or more and 120 μm or less. The average particle diameter of the first wavelength conversion particles 311 is 4 μm or more and 12 μm or less. The center particle diameter of the first wavelength conversion particles 311 is 4 μm or more and 12 μm or less. The first wavelength conversion particles 311 are 60 wt% or more and 75 wt% or less with respect to the total weight of the first wavelength conversion member 31. The reflection member 40 covers the side surface of the light emitting element, the side surface of the light guide member, and the side surface of the first wavelength conversion member. The reflective member 40 is in contact with the light emitting element. The light emitting device may include at least one light emitting element. That is, the light emitting device may include only one light emitting element, or may include a plurality of light emitting elements.

第1波長変換部材31に含まれる第1波長変換粒子311の平均粒径は、4μm以上12μm以下である。第1波長変換粒子311の平均粒径が、12μm以下であることにより、第1波長変換部材31に含まれる第1波長変換粒子311の濃度が同じ場合において、第1母材312と第1波長変換粒子311との界面を増加させることができる。第1母材と第1波長変換粒子との界面が増加することにより、発光素子からの光が第1母材と第1波長変換粒子との界面によって拡散されやすくなる。これにより、発光素子からの光が第1波長変換部材内で拡散されるので、発光装置の配光色度ムラを抑制することができる。第1波長変換粒子の平均粒径が、4μm以上であることにより、発光素子からの光を取り出しやすくなるので発光装置の光取り出し効率が向上する。   The average particle diameter of the first wavelength conversion particles 311 included in the first wavelength conversion member 31 is 4 μm or more and 12 μm or less. When the average wavelength of the first wavelength conversion particles 311 is 12 μm or less, the first base material 312 and the first wavelength are obtained when the concentration of the first wavelength conversion particles 311 included in the first wavelength conversion member 31 is the same. The interface with the conversion particles 311 can be increased. By increasing the interface between the first base material and the first wavelength conversion particles, the light from the light emitting element is easily diffused by the interface between the first base material and the first wavelength conversion particles. Thereby, since the light from a light emitting element is diffused in the 1st wavelength conversion member, the light distribution chromaticity nonuniformity of a light-emitting device can be suppressed. When the average particle diameter of the first wavelength conversion particles is 4 μm or more, the light extraction efficiency of the light emitting device is improved because the light from the light emitting element is easily extracted.

本明細書において、第1波長変換粒子311の平均粒径とは、FSSS法(フィッシャーサブシーブサイザー:Fisher Sub-Sieve Sizer)により測定した粒子径の平均値のことである。フィッシャー法により測定される平均粒径は、例えば、Fisher Sub−Sieve Sizer Model95(Fisher Scientific社製)を用いて測定される。   In this specification, the average particle diameter of the first wavelength conversion particles 311 is an average value of particle diameters measured by the FSSS method (Fisher Sub-Sieve Sizer). The average particle size measured by the Fischer method is measured using, for example, Fisher Sub-Sieve Sizer Model 95 (manufactured by Fisher Scientific).

第1波長変換部材31に含まれる第1波長変換粒子311の中心粒径は、4μm以上12μm以下である。第1波長変換粒子の中心粒径が、12μm以下であることにより、第1波長変換部材31に含まれる第1波長変換粒子311の濃度が同じ場合において、第1母材と第1波長変換粒子との界面が増加する。第1母材と第1波長変換粒子との界面が増加することにより、発光素子からの光が第1母材と第1波長変換粒子との界面によって拡散されやすくなる。これにより、発光素子からの光が第1波長変換部材内で拡散されるので、発光装置の配光色度ムラを抑制することができる。第1波長変換粒子の中心粒径が、4μm以上であることにより、発光素子からの光を取り出しやすくなるので発光装置の光取り出し効率が向上する。   The center wavelength of the first wavelength conversion particles 311 included in the first wavelength conversion member 31 is 4 μm or more and 12 μm or less. When the central particle diameter of the first wavelength conversion particles is 12 μm or less, the first base material and the first wavelength conversion particles are obtained when the concentration of the first wavelength conversion particles 311 included in the first wavelength conversion member 31 is the same. And the interface increases. By increasing the interface between the first base material and the first wavelength conversion particles, the light from the light emitting element is easily diffused by the interface between the first base material and the first wavelength conversion particles. Thereby, since the light from a light emitting element is diffused in the 1st wavelength conversion member, the light distribution chromaticity nonuniformity of a light-emitting device can be suppressed. When the center wavelength of the first wavelength conversion particles is 4 μm or more, light from the light emitting element can be easily extracted, so that the light extraction efficiency of the light emitting device is improved.

本明細書において、第1波長変換粒子311の中心粒径は、体積平均粒径(メジアン径)のことであり、小径側からの体積累積頻度が50%に達する粒径(D50:メジアン径)のことである。レーザー回折式粒度分布測定装置(MALVERN社製MASTER SIZER 2000)により、中心粒径を測定することができる。   In this specification, the center particle diameter of the first wavelength conversion particle 311 is a volume average particle diameter (median diameter), and a particle diameter (D50: median diameter) at which the volume cumulative frequency from the small diameter side reaches 50%. That is. The central particle size can be measured with a laser diffraction particle size distribution measuring device (MASTER SIZER 2000 manufactured by MALVERN).

第1波長変換粒子の小径側からの体積累積頻度が10%に達する粒径(D10)は、6μm以上10μm以下であることが好ましい。第1波長変換粒子の小径側からの体積累積頻度が90%に達する粒径(D90)は、15μm以上20μm以下であることが好ましい。   The particle diameter (D10) at which the volume cumulative frequency from the small diameter side of the first wavelength conversion particles reaches 10% is preferably 6 μm or more and 10 μm or less. The particle diameter (D90) at which the volume cumulative frequency from the small diameter side of the first wavelength conversion particles reaches 90% is preferably 15 μm or more and 20 μm or less.

第1波長変換粒子の体積基準による粒度分布の標準偏差(σlog)は0.3μm以下であることが好ましい。第1波長変換粒子のバラつきが少ないことで均一な厚みの波長変換部材31の形成が容易になる。   The standard deviation (σlog) of the particle size distribution on the volume basis of the first wavelength conversion particles is preferably 0.3 μm or less. The formation of the wavelength conversion member 31 having a uniform thickness is facilitated by the small variation in the first wavelength conversion particles.

第1波長変換粒子としては、例えばマンガン賦活フッ化物系蛍光体が挙げられる。マンガン賦活フッ化物系蛍光体は、スペクトル線幅の比較的狭い発光が得られ色再現性の観点において好ましい部材である。   Examples of the first wavelength conversion particles include manganese-activated fluoride phosphors. Manganese-activated fluoride phosphors are preferable members from the viewpoint of color reproducibility because they can emit light with a relatively narrow spectral line width.

第1波長変換部材31の厚みは、60μm以上120μm以下である。第1波長変換部材の厚みが、60μ以上であることにより、第1波長変換部材31に含有できる第1波長変換粒子311を増やすことができる。第1波長変換部材31の厚みが、120μm以下であることにより、発光装置を薄型化することができる。尚、第1波長変換部材の厚みとは、Z方向における第1波長変換部材の厚みのことである。   The thickness of the first wavelength conversion member 31 is 60 μm or more and 120 μm or less. When the thickness of the first wavelength conversion member is 60 μm or more, the first wavelength conversion particles 311 that can be contained in the first wavelength conversion member 31 can be increased. When the thickness of the first wavelength conversion member 31 is 120 μm or less, the light emitting device can be thinned. The thickness of the first wavelength conversion member is the thickness of the first wavelength conversion member in the Z direction.

第1波長変換部材31の全重量に対して、第1波長変換粒子311が60重量%以上75重量%以下である。第1波長変換部材の全重量に対して、第1波長変換粒子が60重量%以上であることにより、第1波長変換粒子の含有量が増加するので、第1母材と第1波長変換粒子との界面が増加する。第1母材と第1波長変換粒子との界面が増加することにより、発光素子からの光が第1母材と第1波長変換粒子との界面によって拡散されやすくなる。これにより、発光素子からの光が第1波長変換部材内で拡散されるので、発光装置の配光色度ムラを抑制することができる。第1波長変換部材の全重量に対して、第1波長変換粒子が75重量%以下であることにより、第1波長変換部材における第1母材の割合が増加するので、第1波長変換部材が破断することを抑制することができる。尚、第1波長変換部材は、波長変換粒子として第1波長変換粒子のみを有していてもよく、第1波長変換粒子と異なる材料の波長変換粒子を有していてもよい。   The first wavelength conversion particles 311 are 60 wt% or more and 75 wt% or less with respect to the total weight of the first wavelength conversion member 31. Since the content of the first wavelength conversion particles increases when the first wavelength conversion particles are 60% by weight or more based on the total weight of the first wavelength conversion member, the first base material and the first wavelength conversion particles And the interface increases. By increasing the interface between the first base material and the first wavelength conversion particles, the light from the light emitting element is easily diffused by the interface between the first base material and the first wavelength conversion particles. Thereby, since the light from a light emitting element is diffused in the 1st wavelength conversion member, the light distribution chromaticity nonuniformity of a light-emitting device can be suppressed. Since the ratio of the 1st base material in the 1st wavelength conversion member increases because the 1st wavelength conversion particle is 75 weight% or less with respect to the total weight of the 1st wavelength conversion member, the 1st wavelength conversion member Breaking can be suppressed. The first wavelength conversion member may have only the first wavelength conversion particles as the wavelength conversion particles, or may have wavelength conversion particles made of a material different from the first wavelength conversion particles.

発光装置は、図2Aに示す発光装置1000のように発光素子20と第1波長変換部材31との間に位置する第2波長変換部材32を備えていてもよく、図2Cに示す発光装置1000Aのように発光素子20と第1波長変換部材31との間に位置する第2波長変換部材を備えていなくてもよい。第2波長変換部材32は、第2母材322及び第2波長変換粒子321を含む。第1波長変換粒子311の平均粒径は、第2波長変換粒子321の平均粒径よりも小さいことが好ましい。第2波長変換粒子の平均粒径が第1波長変換粒子の平均粒径よりも大きいことにより、発光素子からの光が第2波長変換部材32に導光しやすくなるので発光装置の光取り出し効率が向上する。また、第1波長変換粒子311の平均粒径が第2波長変換粒子321の平均粒径よりも小さいことにより、第1波長変換部材31内で発光素子からの光が拡散しやすくなり、発光装置の配光色度ムラを抑制することができる。第1波長変換粒子の材料と第2波長変換粒子の材料とは、同じでもよく、異なっていてもよい。また、第1母材312の材料と第2母材322の材料とは、同じでもよく、異なっていてもよい。第1母材312の材料と第2母材322の材料とが同じであることで、第1波長変換部材31と第22波長変換部材32の接合強度が向上する。第1母材312の材料と第2母材322の材料とが異なることで、第1母材312と第2母材322に屈折率差が生じる。これにより、第1母材312と第2母材322の界面で発光素子からの光が拡散されやすくなるので、発光装置の配光色度ムラを抑制することができる。第1母材312の屈折率は、第2母材322の屈折率よりも高いことが好ましい。このようにすることで、発光素子からの光が第1母材312と第2母材322の界面で全反射することを抑制できる。これにより、発光装置の光取り出し効率が向上する。   The light-emitting device may include a second wavelength conversion member 32 positioned between the light-emitting element 20 and the first wavelength conversion member 31 as in the light-emitting device 1000 illustrated in FIG. 2A, and the light-emitting device 1000A illustrated in FIG. 2C. As described above, the second wavelength conversion member positioned between the light emitting element 20 and the first wavelength conversion member 31 may not be provided. The second wavelength conversion member 32 includes a second base material 322 and second wavelength conversion particles 321. The average particle diameter of the first wavelength conversion particles 311 is preferably smaller than the average particle diameter of the second wavelength conversion particles 321. Since the average particle diameter of the second wavelength conversion particles is larger than the average particle diameter of the first wavelength conversion particles, the light from the light emitting element is easily guided to the second wavelength conversion member 32. Will improve. Further, since the average particle diameter of the first wavelength conversion particles 311 is smaller than the average particle diameter of the second wavelength conversion particles 321, light from the light emitting element is easily diffused in the first wavelength conversion member 31, and the light emitting device The light distribution chromaticity unevenness can be suppressed. The material of the first wavelength conversion particles and the material of the second wavelength conversion particles may be the same or different. Further, the material of the first base material 312 and the material of the second base material 322 may be the same or different. Since the material of the first base material 312 and the material of the second base material 322 are the same, the bonding strength between the first wavelength conversion member 31 and the 22nd wavelength conversion member 32 is improved. Due to the difference between the material of the first base material 312 and the material of the second base material 322, a difference in refractive index occurs between the first base material 312 and the second base material 322. Accordingly, light from the light emitting element is easily diffused at the interface between the first base material 312 and the second base material 322, so that uneven light distribution chromaticity of the light emitting device can be suppressed. The refractive index of the first base material 312 is preferably higher than the refractive index of the second base material 322. By doing in this way, it can control that the light from a light emitting element totally reflects in the interface of the 1st base material 312 and the 2nd base material 322. Thereby, the light extraction efficiency of the light emitting device is improved.

第2波長変換部材32の厚みは、20μm以上60μm以下であることが好ましい。第2波長変換部材32の厚みが、20μ以上であることにより、第2波長変換部材32に含有できる第2波長変換粒子321を増やすことができる。第2波長変換部材32の厚みが、60μm以下であることにより、発光装置を薄型化することができる。尚、第2波長変換部材の厚みとは、Z方向における第2波長変換部材の厚みのことである。   The thickness of the second wavelength conversion member 32 is preferably 20 μm or more and 60 μm or less. When the thickness of the second wavelength conversion member 32 is 20 μm or more, the second wavelength conversion particles 321 that can be contained in the second wavelength conversion member 32 can be increased. When the thickness of the second wavelength conversion member 32 is 60 μm or less, the light emitting device can be thinned. The thickness of the second wavelength conversion member is the thickness of the second wavelength conversion member in the Z direction.

第2波長変換部材32の厚みは、第1波長変換部材31の厚みの半分以下であることが好ましい。このようにすることで、第2波長変換部材32が厚い場合よりも発光素子からの光が第1波長変換部材31に照射されやすくなる。例えば、第1波長変換部材31が80±5μmの場合には、第2波長変換部材32の厚みが35±5μmであることが好ましい。尚、後述する第1波長変換部材31を被覆する被覆部材33の厚みは、第1波長変換部材31と同等の厚みを有していてもよい。例えば、第1波長変換部材31の厚みが80±5μmであり、第2波長変換部材32の厚みが35±5μmであり、被覆部材33の厚みが80±5μmであってもよい。尚、本明細書において、同等の厚みとは、5μm程度の変動は許容されることを意味する。   The thickness of the second wavelength conversion member 32 is preferably half or less than the thickness of the first wavelength conversion member 31. By doing in this way, the light from a light emitting element becomes easier to be irradiated to the 1st wavelength conversion member 31 than the case where the 2nd wavelength conversion member 32 is thick. For example, when the first wavelength conversion member 31 is 80 ± 5 μm, the thickness of the second wavelength conversion member 32 is preferably 35 ± 5 μm. In addition, the thickness of the covering member 33 that covers the first wavelength conversion member 31 described later may have the same thickness as that of the first wavelength conversion member 31. For example, the thickness of the first wavelength conversion member 31 may be 80 ± 5 μm, the thickness of the second wavelength conversion member 32 may be 35 ± 5 μm, and the thickness of the covering member 33 may be 80 ± 5 μm. In the present specification, the equivalent thickness means that a fluctuation of about 5 μm is allowed.

発光素子に励起された第2波長変換粒子321からの光のピーク波長は、発光素子に励起された第1波長変換粒子311からの光のピーク波長よりも短いことが好ましい。発光素子に励起された第2波長変換粒子321からの光のピーク波長が、発光素子に励起された第1波長変換粒子311からの光のピーク波長よりも短いことにより、発光素子に励起された第2波長変換粒子からの光によって第1波長変換粒子を励起させることができる。これにより、励起された第1波長変換粒子からの光を増加させることができる。第2波長変換部材32上に第1波長変換部材31が配置されるので、発光素子に励起された第2波長変換粒子からの光が第1波長変換粒子に出射されやすい。   The peak wavelength of light from the second wavelength conversion particle 321 excited by the light emitting element is preferably shorter than the peak wavelength of light from the first wavelength conversion particle 311 excited by the light emitting element. The peak wavelength of the light from the second wavelength conversion particle 321 excited by the light emitting element is shorter than the peak wavelength of the light from the first wavelength conversion particle 311 excited by the light emitting element, thereby being excited by the light emitting element. The first wavelength conversion particles can be excited by light from the second wavelength conversion particles. Thereby, the light from the excited first wavelength conversion particles can be increased. Since the first wavelength conversion member 31 is disposed on the second wavelength conversion member 32, the light from the second wavelength conversion particles excited by the light emitting element is easily emitted to the first wavelength conversion particles.

発光素子に励起された第1波長変換粒子311からの光のピーク波長が610nm以上750nm以下であり、発光素子に励起された第2波長変換粒子321からの光のピーク波長が500nm以上570nm以下であることが好ましい。このようにすることで、演色性の高い発光装置とすることができる。発光ピーク波長が430nm以上475nm以下の範囲である発光素子(青色発光素子)と、発光素子に励起されたからの光のピーク波長が610nm以上750nm以下である第1波長変換粒子と、発光素子に励起されたからの光のピーク波長が500nm以上570nm以下である第2波長変換粒子と、組み合わせることで白色発光の発光装置を得ることができる。例えば、第1波長変換粒子としてマンガン賦活フッ化珪酸カリウムの蛍光体が挙げられ、第2波長変換粒子としてβサイアロン系蛍光体が挙げられる。第1波長変換粒子としてマンガン賦活フッ化珪酸カリウムの蛍光体を用いる場合には、特に、発光素子20と第1波長変換部材31との間に位置する第2波長変換部材32を備えることが好ましい。マンガン賦活フッ化物蛍光体である第1波長変換粒子は輝度飽和を起こしやすいが、第1波長変換部材31と発光素子20との間に第2波長変換部材32が位置することで発光素子からの光が過度に第1波長変換粒子に照射されることを抑制することができる。これにより、マンガン賦活フッ化物蛍光体である第1波長変換粒子の劣化を抑制することができる。   The peak wavelength of light from the first wavelength conversion particle 311 excited by the light emitting element is 610 nm or more and 750 nm or less, and the peak wavelength of light from the second wavelength conversion particle 321 excited by the light emitting element is 500 nm or more and 570 nm or less. Preferably there is. By doing in this way, it can be set as the light-emitting device with high color rendering property. A light emitting element (blue light emitting element) having an emission peak wavelength in a range from 430 nm to 475 nm, a first wavelength conversion particle having a peak wavelength of light from 610 nm to 750 nm after being excited by the light emitting element, excited to the light emitting element By combining with the second wavelength conversion particles having a peak wavelength of the light from 500 nm or more and 570 nm or less, a white light emitting device can be obtained. For example, a manganese-activated potassium fluorosilicate phosphor is exemplified as the first wavelength conversion particle, and a β sialon-based phosphor is exemplified as the second wavelength conversion particle. In the case of using a manganese-activated potassium fluorosilicate phosphor as the first wavelength conversion particle, it is particularly preferable to include a second wavelength conversion member 32 positioned between the light emitting element 20 and the first wavelength conversion member 31. . The first wavelength conversion particles, which are manganese-activated fluoride phosphors, are likely to cause luminance saturation. However, the second wavelength conversion member 32 is positioned between the first wavelength conversion member 31 and the light emitting element 20, so that the first wavelength conversion particle is emitted from the light emitting element. It can suppress that light is irradiated to the 1st wavelength conversion particle too much. Thereby, degradation of the 1st wavelength conversion particle which is manganese activation fluoride fluorescent substance can be suppressed.

図2Aに示すように、発光素子20は、第1面201と、第1面201とは反対側の第2面203と、を備える。発光素子20は少なくとも半導体積層体23を含み、半導体積層体23には正負電極21、22が設けられている。正負電極21、22は発光素子20の同じ側の面に形成されており、発光素子20が実装基板にフリップチップ実装されていることが好ましい。これにより、発光素子の正負電極に電気を供給するワイヤが不要になるので発光装置を小型化することができる。発光素子がフリップチップ実装されている場合は、第2の面203に発光素子の正負電極21、22が位置する。なお、本実施形態では発光素子20は素子基板24を有するが、素子基板24は除去されていてもよい。   As shown in FIG. 2A, the light emitting element 20 includes a first surface 201 and a second surface 203 opposite to the first surface 201. The light emitting element 20 includes at least a semiconductor laminate 23, and the semiconductor laminate 23 is provided with positive and negative electrodes 21 and 22. The positive and negative electrodes 21 and 22 are formed on the same surface of the light emitting element 20, and the light emitting element 20 is preferably flip-chip mounted on the mounting substrate. This eliminates the need for a wire for supplying electricity to the positive and negative electrodes of the light emitting element, thereby reducing the size of the light emitting device. When the light emitting element is flip-chip mounted, the positive and negative electrodes 21 and 22 of the light emitting element are positioned on the second surface 203. In the present embodiment, the light emitting element 20 includes the element substrate 24, but the element substrate 24 may be removed.

導光部材50は、発光素子の側面202を被覆する。導光部材50は、反射部材40よりも発光素子20からの光の透過率が高い。このため、導光部材50が発光素子の側面202まで被覆することで、発光素子20の側面から出射される光が導光部材50を通して、発光装置の外側に取り出しやすくなるので光取り出し効率を高めることができる。また、導光部材50は発光素子の第1面201と、透光性部材30の間に位置していてもよく、発光素子の第1面201と、透光性部材30の間に位置していなくてもよい。導光部材は、発光素子と透光性部材を接着する部材であるので、導光部材が発光素子の第1面201と、透光性部材30の間に位置することにより、発光素子と透光性部材の接合強度が向上する。   The light guide member 50 covers the side surface 202 of the light emitting element. The light guide member 50 has a higher light transmittance from the light emitting element 20 than the reflective member 40. For this reason, since the light guide member 50 covers the side surface 202 of the light emitting element, the light emitted from the side surface of the light emitting element 20 can be easily extracted to the outside of the light emitting device through the light guide member 50, thereby increasing the light extraction efficiency. be able to. The light guide member 50 may be positioned between the first surface 201 of the light emitting element and the translucent member 30, and is positioned between the first surface 201 of the light emitting element and the translucent member 30. It does not have to be. Since the light guide member is a member that bonds the light emitting element and the translucent member, the light guide member is positioned between the first surface 201 of the light emitting element and the translucent member 30, so The bonding strength of the optical member is improved.

反射部材40は、発光素子の側面、導光部材の側面及び第1波長変換部材の側面を被覆する。このようにすることで、発光領域と非発光領域とのコントラストが高い、「見切り性」の良好な発光装置とすることができる。また、反射部材40は、少なくとも一部が発光素子と接する。反射部材40は、少なくとも一部が発光素子と接することで、発光装置を小型化することができる。反射部材40は、発光素子の第2面203と接することが好ましい。このようにすることで、発光素子からの光が発光素子を実装する基板に吸収されることを抑制することができる。   The reflection member 40 covers the side surface of the light emitting element, the side surface of the light guide member, and the side surface of the first wavelength conversion member. Thus, a light-emitting device with high contrast between the light-emitting region and the non-light-emitting region and excellent “parting ability” can be obtained. Further, at least a part of the reflecting member 40 is in contact with the light emitting element. The light-emitting device can be reduced in size by at least part of the reflecting member 40 being in contact with the light-emitting element. The reflecting member 40 is preferably in contact with the second surface 203 of the light emitting element. By doing in this way, it can suppress that the light from a light emitting element is absorbed by the board | substrate which mounts a light emitting element.

図2Aに示す発光装置1000のように、第1波長変換部材31を被覆する被覆部材33を備えていてもよい。被覆部材33は、実質的に波長変換粒子を含有していない。第1波長変換部材31を被覆する被覆部材33を備えることにより、水分に弱い第1波長変換粒子を使用しても被覆部材33が保護層としても機能を果たすので第1波長変換粒子の劣化を抑制できる。水分に弱い波長変換粒子としては、例えばマンガン賦活フッ化物蛍光体が挙げられる。マンガン賦活フッ化物系蛍光体は、スペクトル線幅の比較的狭い発光が得られ色再現性の観点において好ましい部材である。「波長変換粒子を実質的に含有しない」とは、不可避的に混入する波長変換粒子を排除しないことを意味し、波長変換粒子の含有率が0.05重量%以下であることが好ましい。尚、本明細書において、第1波長変換部材31、第2波長変換部材32及び/又は被覆部材33を合わせて透光性部材30と呼ぶことがある。   As in the light emitting device 1000 illustrated in FIG. 2A, a covering member 33 that covers the first wavelength conversion member 31 may be provided. The covering member 33 does not substantially contain wavelength conversion particles. By providing the covering member 33 that covers the first wavelength converting member 31, the covering member 33 functions as a protective layer even if the first wavelength converting particles that are weak against moisture are used. Can be suppressed. Examples of the wavelength conversion particles that are vulnerable to moisture include manganese-activated fluoride phosphors. Manganese-activated fluoride phosphors are preferable members from the viewpoint of color reproducibility because they can emit light with a relatively narrow spectral line width. “Substantially free of wavelength conversion particles” means that wavelength conversion particles inevitably mixed are not excluded, and the content of the wavelength conversion particles is preferably 0.05% by weight or less. In the present specification, the first wavelength conversion member 31, the second wavelength conversion member 32, and / or the covering member 33 may be collectively referred to as a translucent member 30.

図2Dに示す発光装置1000Cのように、透光性部材30の上面を被覆する被膜34を備えていてもよい。被膜34とは、ナノ粒子である被膜粒子の凝集体のことである。尚、被膜は、被膜粒子だけでもよく、被膜粒子及び樹脂材料を含んでいてもよい。被膜の屈折率が最表面に位置する透光性部材の母材の屈折率と異なることで、発光装置の発光色度の補正が可能になる。最表面に位置する透光性部材の母材とは、透光性部材において発光素子の光取り出し面側の面とは反対の面を形成する層の母材を意味する。例えば、被膜34の屈折率が最表面に位置する透光性部材の母材の屈折率より大きい場合には、被膜と空気の界面における反射光成分は、最表面に位置する透光性部材の母材と空気の界面における反射光成分よりも増大する。このため、透光性部材中に戻る反射光成分を増やすことができるので、波長変換粒子を励起させやすくなる。これにより、発光装置の発光色度を長波長側に補正することができる。また、被膜34の屈折率が最表面に位置する透光性部材の母材の屈折率より小さい場合には、被膜と空気の界面における反射光成分は、透光部材の母材と空気の界面における反射光成分よりも減少する。これにより、透光性部材中に戻る反射光成分を減らすことができるので、波長変換粒子を励起させにくくなる。これにより、発光装置の発光色度を短波長側に補正することができる。例えば、最表面に位置する透光性部材の母材としてフェニル系シリコーン樹脂を用いる場合には、発光装置の発光色度を長波長側に補正する被膜粒子として酸化チタン、酸化チタン、酸化アルミニウム等が挙げられる。最表面に位置する透光性部材の母材がフェニル系シリコーン樹脂を用いる場合には、発光装置の発光色度を短波長側に補正する被膜粒子として酸化ケイ素等が挙げられる。発光装置が透光性部材を複数備える場合には、一方の透光性部材の上面を被膜で被覆し、他方の透光性部材の上面を被膜で被覆しなくてもよい。発光装置の発光色度の補正に合わせて透光性部材の上面を被覆する被膜を形成するかは適宜選択することができる。また、発光装置が透光性部材を複数備える場合には、一方の透光性部材の上面を最表面に位置する透光性部材の母材の屈折率より大きい屈折率を有する被膜で被覆し、他方の透光性部材の上面を最表面に位置する透光性部材の母材の屈折率より小さい屈折率を有する被膜で被覆してもよい。発光装置の発光色度の補正に合わせて透光性部材を被覆する被膜の材料は適宜選択することができる。被膜は、ディスペンサによるポッティング、インクジェット又はスプレーによる吹き付け等の公知の方法により形成することができる。   Like the light emitting device 1000 </ b> C illustrated in FIG. 2D, a film 34 that covers the upper surface of the translucent member 30 may be provided. The coating 34 is an aggregate of coating particles that are nanoparticles. Note that the coating may be only coating particles or may include coating particles and a resin material. Since the refractive index of the coating is different from the refractive index of the base material of the translucent member located on the outermost surface, the emission chromaticity of the light emitting device can be corrected. The base material of the translucent member located on the outermost surface means a base material of a layer that forms a surface of the translucent member opposite to the surface on the light extraction surface side of the light emitting element. For example, when the refractive index of the coating 34 is larger than the refractive index of the base material of the translucent member located on the outermost surface, the reflected light component at the interface between the coating and the air is less than that of the translucent member located on the outermost surface. It increases more than the reflected light component at the interface between the base material and air. For this reason, since the reflected light component which returns in a translucent member can be increased, it becomes easy to excite the wavelength conversion particle. Thereby, the light emission chromaticity of the light emitting device can be corrected to the long wavelength side. When the refractive index of the coating 34 is smaller than the refractive index of the base material of the translucent member located on the outermost surface, the reflected light component at the interface between the coating and air is the interface between the base material of the translucent member and the air. This is less than the reflected light component at. Thereby, since the reflected light component which returns in a translucent member can be reduced, it becomes difficult to excite the wavelength conversion particle. Thereby, the light emission chromaticity of the light emitting device can be corrected to the short wavelength side. For example, when a phenyl silicone resin is used as the base material of the translucent member located on the outermost surface, titanium oxide, titanium oxide, aluminum oxide, etc. are used as coating particles for correcting the light emission chromaticity of the light emitting device to the long wavelength side. Is mentioned. When the base material of the translucent member located on the outermost surface uses a phenyl silicone resin, silicon oxide or the like can be used as the coating particle that corrects the emission chromaticity of the light emitting device to the short wavelength side. In the case where the light-emitting device includes a plurality of light-transmitting members, the upper surface of one light-transmitting member may be covered with a film, and the upper surface of the other light-transmitting member may not be covered with a film. Whether to form a film covering the upper surface of the translucent member in accordance with the correction of the light emission chromaticity of the light emitting device can be appropriately selected. In the case where the light emitting device includes a plurality of translucent members, the upper surface of one translucent member is covered with a film having a refractive index larger than that of the base material of the translucent member located on the outermost surface. The upper surface of the other translucent member may be covered with a film having a refractive index smaller than that of the base material of the translucent member located on the outermost surface. The material of the film that covers the translucent member can be appropriately selected in accordance with the correction of the light emission chromaticity of the light emitting device. The coating can be formed by a known method such as potting with a dispenser, spraying with an ink jet or spray.

発光装置は発光素子を載置する基板10を備えていてもよい。例えば、基板10は、基材11と、第1配線12と、第2配線13と、第3配線14と、ビア15と、を備える。基材11は、長手方向である第1方向と短手方向である第2方向に延長する正面111と、正面の反対側に位置する背面112と、正面111と隣接し正面111と直交する底面113と、底面113の反対側に位置する上面114と、を有する。基材11は、更に少なくとも1つの窪み16を有する。第1配線12は、基材11の正面111に配置される。第2配線13は、基材11の背面112に配置される。発光素子20は、第1配線12と電気的に接続され、第1配線12上に載置される。反射部材40は、発光素子20の側面202及び基板の正面111を被覆する。少なくとも1つの窪みは、背面112と底面113とに開口する。第3配線14は、窪みの内壁を被覆し第2配線と電気的に接続される。ビア15は、第1配線12及び第2配線と接する。ビア15は、第1配線12及び第2配線13を電気的に接続する。また、ビア15は、基材11の正面111から背面112を貫通している。尚、本明細書において直交とは、90°から±3°程度の傾斜を許容することを意味する。   The light emitting device may include a substrate 10 on which the light emitting element is placed. For example, the substrate 10 includes a base material 11, a first wiring 12, a second wiring 13, a third wiring 14, and a via 15. The base material 11 includes a front surface 111 extending in a first direction that is a longitudinal direction and a second direction that is a short direction, a back surface 112 positioned on the opposite side of the front surface, and a bottom surface that is adjacent to the front surface 111 and orthogonal to the front surface 111. 113 and a top surface 114 located on the opposite side of the bottom surface 113. The substrate 11 further has at least one recess 16. The first wiring 12 is disposed on the front surface 111 of the base material 11. The second wiring 13 is disposed on the back surface 112 of the base material 11. The light emitting element 20 is electrically connected to the first wiring 12 and placed on the first wiring 12. The reflecting member 40 covers the side surface 202 of the light emitting element 20 and the front surface 111 of the substrate. At least one recess opens in the back surface 112 and the bottom surface 113. The third wiring 14 covers the inner wall of the recess and is electrically connected to the second wiring. The via 15 is in contact with the first wiring 12 and the second wiring. The via 15 electrically connects the first wiring 12 and the second wiring 13. Further, the via 15 penetrates from the front surface 111 to the back surface 112 of the base material 11. In the present specification, “orthogonal” means that an inclination of about 90 ° to ± 3 ° is allowed.

ビア15は、第3配線と接していてもよく、ビア15は、第3配線と離間していてもよい。ビア15が第3配線と接しすることで、発光素子からの熱が第1配線12からビア15を介して第2配線13及び/又は第3配線14に伝わることができるので、発光装置1000の放熱性を向上させることができる。ビア15が第3配線と離間することで背面視においてビアと窪みが重ならないので基板の強度が向上する。ビア15が複数有る場合には、一方のビアは第3配線と接し、他方のビアは第3配線から離間してもよい。   The via 15 may be in contact with the third wiring, and the via 15 may be separated from the third wiring. Since the via 15 is in contact with the third wiring, heat from the light emitting element can be transmitted from the first wiring 12 to the second wiring 13 and / or the third wiring 14 via the via 15. The heat dissipation can be improved. By separating the via 15 from the third wiring, the via and the recess do not overlap in the rear view, so that the strength of the substrate is improved. When there are a plurality of vias 15, one via may be in contact with the third wiring and the other via may be separated from the third wiring.

発光素子20が基板10にフリップチップ実装されている場合は、発光素子の正負電極21、22が導電性接着部材60を介して基板10に接続されている。発光素子20が基板10にフリップチップ実装されている場合は、第1配線12は凸部121を備えていることが好ましい。第1配線12の凸部121上に発光素子20の正負電極21、22が位置することで、導電性接着部材60を介して第1配線12と発光素子の正負電極21、22を接続する時に、セルフアライメント効果により発光素子と基板との位置合わせを容易に行うことができる。   When the light emitting element 20 is flip-chip mounted on the substrate 10, the positive and negative electrodes 21 and 22 of the light emitting element are connected to the substrate 10 through the conductive adhesive member 60. When the light emitting element 20 is flip-chip mounted on the substrate 10, it is preferable that the first wiring 12 includes a convex portion 121. When the positive and negative electrodes 21 and 22 of the light emitting element 20 are positioned on the convex portion 121 of the first wiring 12, the first wiring 12 and the positive and negative electrodes 21 and 22 of the light emitting element are connected via the conductive adhesive member 60. The alignment between the light emitting element and the substrate can be easily performed by the self-alignment effect.

ビア15は、背面視において円形状であることが好ましい。このようにすることで、ドリル等により容易に形成することができる。本明細書において、円形状とは真円のみならず、これに近い形(例えば、楕円形状や四角形の四隅が大きく円弧状に面取りされたような形状であっても良い)を含むものである。   The via 15 is preferably circular in rear view. By doing in this way, it can form easily with a drill etc. In this specification, the circular shape includes not only a perfect circle but also a shape close to this (for example, an elliptical shape or a shape in which four corners of a quadrangle are chamfered in a large arc shape).

ビア15は、基材の貫通孔内に導電性材料が充填されることで構成されてもよく、図2Aに示すように、基材の貫通孔の表面を被覆する第4配線151と第4配線151に囲まれた領域に充填された充填部材152とを備えていてもよい。充填部材152は、導電性でもよく、絶縁性でもよい。充填部材152には、樹脂材料を使用することが好ましい。一般的に硬化前の樹脂材料は、硬化前の金属材料よりも流動性が高いので第4配線151内に充填しやすい。このため、充填部材に樹脂材料を使用することで基板の製造が容易になる。充填しやすい樹脂材料としては、例えばエポキシ樹脂が挙げられる。充填部材として樹脂材料を用いる場合は、線膨張係数を下げるために添加部材を含有することが好ましい。このようにすることで、第4配線との線膨張係数の差が小さくなるので、発光素子からの熱によって第4配線と充填部材との間に隙間ができることを抑制できる。添加部材としては、例えば酸化ケイ素が挙げられる。また、充填部材152に金属材料を使用した場合には、放熱性を向上させることができる。また、ビア15が基材の貫通孔内に導電性材料が充填されて構成される場合には、熱伝導性が高いAg、Cu等の金属材料を用いることが好ましい。   The via 15 may be configured by filling the through hole of the base material with a conductive material. As illustrated in FIG. 2A, the fourth wiring 151 and the fourth wiring covering the surface of the through hole of the base material. A filling member 152 filled in a region surrounded by the wiring 151 may be provided. The filling member 152 may be conductive or insulating. It is preferable to use a resin material for the filling member 152. In general, the resin material before curing has a higher fluidity than the metal material before curing, so that the fourth wiring 151 is easily filled. For this reason, manufacture of a board | substrate becomes easy by using a resin material for a filling member. Examples of the resin material that can be easily filled include an epoxy resin. When using a resin material as the filling member, it is preferable to contain an additive member in order to lower the linear expansion coefficient. By doing in this way, since the difference of the linear expansion coefficient with 4th wiring becomes small, it can suppress that a clearance gap is made between 4th wiring and a filling member with the heat | fever from a light emitting element. Examples of the additive member include silicon oxide. In addition, when a metal material is used for the filling member 152, heat dissipation can be improved. In addition, when the via 15 is configured by filling the through hole of the base material with a conductive material, it is preferable to use a metal material such as Ag or Cu having high thermal conductivity.

発光装置1000は、窪み16内に形成した半田等の接合部材によって実装基板に固定することができる。基板が備える窪みの数は1つでもよく、複数でもよい。窪みが複数あることで、発光装置1000と実装基板との接合強度を向上させることができる。窪みの深さは、上面側と底面側とで同じ深さでもよく、上面側よりも底面側で深くてもよい。図2Bに示すように、Z方向における窪み16の深さが上面側よりも底面側で深いことで、Z方向において、窪みの上面側に位置する基材の厚みW1を窪みの底面側に位置する基材の厚みW2よりも厚くすることができる。これにより、基材の強度低下を抑制することができる。また、底面側の窪みの深さW3が上面側の窪みの深さW4よりも深いことで、窪み内に形成される接合部材の体積が増加するので、発光装置1000と実装基板との接合強度を向上させることができる。発光装置1000が、基材11の背面112と、実装基板と、を対向させて実装する上面発光型(トップビュータイプ)でも、基材11の底面113と、実装基板と、を対向させて実装する側面発光型(サイドビュータイプ)でも、接合部材の体積が増加することで、実装基板との接合強度を向上させることができる。   The light emitting device 1000 can be fixed to the mounting substrate by a joining member such as solder formed in the recess 16. The number of depressions provided in the substrate may be one or plural. By having a plurality of depressions, the bonding strength between the light emitting device 1000 and the mounting substrate can be improved. The depth of the depression may be the same depth on the upper surface side and the bottom surface side, or may be deeper on the bottom surface side than the upper surface side. As shown in FIG. 2B, since the depth of the depression 16 in the Z direction is deeper on the bottom surface side than the upper surface side, the thickness W1 of the base material located on the upper surface side of the depression is positioned on the bottom surface side of the depression in the Z direction. It can be made thicker than the thickness W2 of the substrate. Thereby, the strength reduction of a base material can be suppressed. Further, since the depth W3 of the recess on the bottom surface side is deeper than the depth W4 of the recess on the upper surface side, the volume of the bonding member formed in the recess increases, so that the bonding strength between the light emitting device 1000 and the mounting substrate is increased. Can be improved. Even if the light emitting device 1000 is a top emission type (top view type) in which the back surface 112 of the base material 11 and the mounting substrate are mounted to face each other, the bottom surface 113 of the base material 11 and the mounting substrate are mounted to face each other. Even in the side light emission type (side view type), the bonding strength with the mounting substrate can be improved by increasing the volume of the bonding member.

発光装置1000と実装基板の接合強度は、特に側面発光型の場合に向上させることができる。Z方向における窪みの深さが上面側よりも底面側で深いことで、底面における窪みの開口部の面積を大きくすることができる。実装基板と対向する底面における窪みの開口部の面積が大きくなることで、底面に位置する接合部材の面積も大きくすることができる。これにより、実装基板と対向する面に位置する接合部材の面積を大きくすることができるので発光装置1000と実装基板の接合強度を向上させることができる。   The bonding strength between the light emitting device 1000 and the mounting substrate can be improved particularly in the case of the side light emitting type. Since the depth of the recess in the Z direction is deeper on the bottom surface side than the upper surface side, the area of the opening of the recess on the bottom surface can be increased. By increasing the area of the opening of the depression on the bottom surface facing the mounting substrate, the area of the bonding member located on the bottom surface can also be increased. Thereby, since the area of the bonding member positioned on the surface facing the mounting substrate can be increased, the bonding strength between the light emitting device 1000 and the mounting substrate can be improved.

Z方向における窪みの深さの最大は、Z方向における基材の厚みの0.4倍から0.9倍であることで好ましい。窪みの深さが基材の厚みの0.4倍よりも深いことで、窪み内に形成される接合部材の体積が増加するので発光装置と実装基板の接合強度を向上させることができる。窪みの深さが基材の厚みの0.9倍よりも浅いことで、基材の強度低下を抑制することができる。   The maximum depth of the recess in the Z direction is preferably 0.4 to 0.9 times the thickness of the base material in the Z direction. When the depth of the recess is deeper than 0.4 times the thickness of the base material, the volume of the bonding member formed in the recess is increased, so that the bonding strength between the light emitting device and the mounting substrate can be improved. When the depth of the dent is shallower than 0.9 times the thickness of the base material, it is possible to suppress the strength reduction of the base material.

図2Bに示すように、窪み16は、背面112から底面113と平行方向(Z方向)に延びる平行部161を備えていることが好ましい。平行部161を備えることで、背面における窪みの開口部の面積が同じでも窪みの体積を大きくすることができる。窪みの体積を大きくすることで窪み内に形成できる半田等の接合部材の量を増やすことができるので、発光装置1000と実装基板との接合強度を向上させることができる。尚、本明細書において平行とは、±3°程度の傾斜を許容することを意味する。また、断面視において窪み16は、底面113から基材11の厚みが厚くなる方向に傾斜する傾斜部162を備える。傾斜部162は直線でもよく、湾曲でもよい。   As shown in FIG. 2B, the recess 16 preferably includes a parallel portion 161 extending from the back surface 112 in a direction parallel to the bottom surface 113 (Z direction). By providing the parallel part 161, even if the area of the opening part of the dent on the back surface is the same, the volume of the dent can be increased. By increasing the volume of the recess, the amount of bonding members such as solder that can be formed in the recess can be increased, so that the bonding strength between the light emitting device 1000 and the mounting substrate can be improved. In the present specification, “parallel” means that an inclination of about ± 3 ° is allowed. In addition, the recess 16 includes an inclined portion 162 that is inclined from the bottom surface 113 in a direction in which the thickness of the base material 11 is increased in a cross-sectional view. The inclined portion 162 may be straight or curved.

Y方向における窪みの高さの最大は、Y方向における基材の厚みの0.3倍から0.75倍であることで好ましい。Y方向における窪みの深さが基材の厚みの0.3倍よりも長いことで、窪み内に形成される接合部材の体積が増加するので発光装置と実装基板の接合強度を向上させることができる。Y方向における窪みの長さが基材の厚みの0.75倍よりも浅いことで、基材の強度低下を抑制することができる。   The maximum height of the recess in the Y direction is preferably 0.3 to 0.75 times the thickness of the base material in the Y direction. Since the depth of the recess in the Y direction is longer than 0.3 times the thickness of the base material, the volume of the bonding member formed in the recess increases, so that the bonding strength between the light emitting device and the mounting substrate can be improved. it can. When the length of the dent in the Y direction is shallower than 0.75 times the thickness of the base material, a decrease in the strength of the base material can be suppressed.

図3Aに示すように、背面において、窪み16が複数ある場合は、Y方向に平行な基材の中心線3Cに対して左右対称に位置することが好ましい。このようにすることで、発光装置を実装基板に接合部材を介して実装される際にセルフアライメントが効果的に働き、発光装置を実装範囲内に精度よく実装することができる。   As shown in FIG. 3A, in the case where there are a plurality of recesses 16 on the back surface, it is preferable that they are positioned symmetrically with respect to the center line 3C of the base material parallel to the Y direction. By doing so, self-alignment effectively works when the light emitting device is mounted on the mounting substrate via the bonding member, and the light emitting device can be mounted with high accuracy within the mounting range.

発光装置は、第2配線13の一部を被覆する絶縁膜18を備えてもよい。絶縁膜18を備えることで、背面における絶縁性の確保及び短絡の防止を図ることができる。また、基材から第2配線が剥がれることを防止することができる。   The light emitting device may include an insulating film 18 that covers a part of the second wiring 13. By providing the insulating film 18, it is possible to ensure insulation on the back surface and prevent a short circuit. Moreover, it can prevent that the 2nd wiring peels from a base material.

底面において、Z方向における窪みの深さは略一定でもよく、窪みの深さが中央と端部で異なっていてもよい。図3Bに示すように、底面において、窪み16の中央の深さD1が、Z方向における窪みの深さの最大であることが好ましい。このようにすることで、底面において、X方向の窪みの端部で、Z方向における基材の厚みD2を厚くすることができるので基材の強度を向上させることができる。尚、本明細書で中央とは、5μm程度の変動は許容されることを意味する。窪み16は、ドリルや、レーザー等の公知の方法で形成することができる。   On the bottom surface, the depth of the recess in the Z direction may be substantially constant, and the depth of the recess may be different between the center and the end. As shown in FIG. 3B, the depth D1 at the center of the recess 16 is preferably the maximum depth of the recess in the Z direction on the bottom surface. By doing in this way, in the bottom face, the base material thickness D2 in the Z direction can be increased at the end of the recess in the X direction, so that the strength of the base material can be improved. In the present specification, the center means that a fluctuation of about 5 μm is allowed. The depression 16 can be formed by a known method such as a drill or a laser.

図3Cに示すように、底面113側に位置する反射部材40の長手方向の側面403は、Z方向において発光装置1000の内側に傾斜していることが好ましい。このようにすることで、発光装置1000を実装基板に実装する時に、反射部材40の側面403と実装基板との接触が抑えられ、発光装置1000の実装姿勢が安定しやすい。上面114側に位置する反射部材40の長手方向の側面404は、Z方向において発光装置1000の内側に傾斜していることが好ましい。このようにすることで、反射部材40の側面と吸着ノズル(コレット)との接触が抑えられ、発光装置1000の吸着時の反射部材40の損傷を抑制することができる。このように、底面113側に位置する反射部材40の長手方向の側面403及び上面114側に位置する反射部材40の長手方向の側面404は、背面から正面方向(Z方向)において発光装置1000の内側に傾斜していることが好ましい。反射部材40の傾斜角度θは、適宜選択できるが、このような効果の奏しやすさ及び反射部材40の強度の観点から、0.3°以上3°以下であることが好ましく、0.5°以上2°以下であることがより好ましく、0.7°以上1.5°以下であることがよりいっそう好ましい。また、発光装置1000の右側面と左側面は略同一の形状をしていることが好ましい。このようにすることで発光装置1000を小型化することができる。   As shown in FIG. 3C, the side surface 403 in the longitudinal direction of the reflecting member 40 located on the bottom surface 113 side is preferably inclined inward of the light emitting device 1000 in the Z direction. Thus, when the light emitting device 1000 is mounted on the mounting substrate, the contact between the side surface 403 of the reflecting member 40 and the mounting substrate is suppressed, and the mounting posture of the light emitting device 1000 is easily stabilized. The side surface 404 in the longitudinal direction of the reflecting member 40 located on the upper surface 114 side is preferably inclined inward of the light emitting device 1000 in the Z direction. By doing so, the contact between the side surface of the reflecting member 40 and the suction nozzle (collet) can be suppressed, and damage to the reflecting member 40 during the suction of the light emitting device 1000 can be suppressed. As described above, the longitudinal side surface 403 of the reflecting member 40 positioned on the bottom surface 113 side and the longitudinal side surface 404 of the reflecting member 40 positioned on the top surface 114 side of the light emitting device 1000 from the back surface to the front surface direction (Z direction). It is preferable to incline inward. The inclination angle θ of the reflecting member 40 can be selected as appropriate, but from the viewpoint of ease of exhibiting such an effect and the strength of the reflecting member 40, it is preferably 0.3 ° or more and 3 ° or less, and 0.5 ° It is more preferably 2 ° or less and more preferably 0.7 ° or more and 1.5 ° or less. Moreover, it is preferable that the right side surface and the left side surface of the light emitting device 1000 have substantially the same shape. By doing so, the light emitting device 1000 can be reduced in size.

図4に示す基板10のように、正面視において第1配線12は、Y方向の長さが短い幅狭部と、Y方向の長さが長い幅広部と、を備えていることが好ましい。幅狭部のY方向の長さD3は、幅広部のY方向の長さD4よりも長さが短い。幅狭部は、正面視においてビア15の中心からX方向に離れており、且つ、X方向において発光素子の電極が位置している部分に位置している。幅広部は、正面視においてビア15の中心に位置している。第1配線12が幅狭部を備えることにより、発光素子の電極と第1配線とを電気的に接続する導電性接着部材が第1配線上を濡れ広がる面積を小さくすることができる。これにより、導電性接着部材の形状を制御しやすくなる。尚、第1配線の周縁部は、角丸めされた形状でもよい。   As in the substrate 10 shown in FIG. 4, the first wiring 12 preferably includes a narrow portion having a short length in the Y direction and a wide portion having a long length in the Y direction in front view. The length D3 of the narrow portion in the Y direction is shorter than the length D4 of the wide portion in the Y direction. The narrow portion is separated from the center of the via 15 in the X direction when viewed from the front, and is located at a portion where the electrode of the light emitting element is located in the X direction. The wide portion is located at the center of the via 15 in a front view. Since the first wiring 12 includes the narrow portion, an area where the conductive adhesive member that electrically connects the electrode of the light emitting element and the first wiring spreads over the first wiring can be reduced. Thereby, it becomes easy to control the shape of the conductive adhesive member. The peripheral edge of the first wiring may have a rounded shape.

図5Aに示すように、第1配線、第2配線及び又は第3配線は、配線主部12Aと、配線主部12A上に形成されためっき12Bを有していてもよい。本明細書において、配線とは、第1配線、第2配線及び又は第3配線を指す。配線主部12Aとしては、銅等の公知の材料を用いることができる。配線主部12A上にめっき12Bを有することで、配線の表面における反射率を向上させたり、硫化を抑制したりすることができる。例えば、配線主部12A上にリンを含むニッケルめっき120Aを位置していてもよい。ニッケルは、リンを含有することで硬度が向上するので、配線主部12A上にリンを含むニッケルめっき120Aが位置することで配線の硬度が向上する。これにより、発光装置の個片化等で、配線を切断する時に配線にバリが発生することを抑制することができる。リンを含むニッケルめっきは、電解めっき法で形成されてもよく、無電解めっき法で形成されてもよい。   As shown in FIG. 5A, the first wiring, the second wiring, and / or the third wiring may have a wiring main portion 12A and a plating 12B formed on the wiring main portion 12A. In this specification, the wiring refers to the first wiring, the second wiring, and / or the third wiring. As the wiring main portion 12A, a known material such as copper can be used. By having the plating 12B on the wiring main portion 12A, the reflectance on the surface of the wiring can be improved, or sulfidation can be suppressed. For example, the nickel plating 120A containing phosphorus may be located on the wiring main portion 12A. Since nickel improves the hardness by containing phosphorus, the hardness of the wiring is improved when the nickel plating 120A containing phosphorus is positioned on the wiring main portion 12A. Accordingly, it is possible to suppress the occurrence of burrs in the wiring when the wiring is cut due to the individualization of the light emitting device. The nickel plating containing phosphorus may be formed by an electrolytic plating method or may be formed by an electroless plating method.

図5Aに示すように、めっき12Bの最表面には金めっき120Bが位置していることが好ましい。めっきの最表面には金めっきが位置することで、第1配線12、第2配線13及び又は第3配線14の表面における酸化、腐食を抑制し、良好なはんだ付け性が得られる。反射率を向上させたり、硫化を抑制したりすることができる。めっき12Bの最表面に位置する金めっき120Bは電解めっき法により形成されることが好ましい。電解めっき法は、無電解めっき法よりもイオウ等の触媒毒の含有を少なくすることができる。白金系触媒を用いた付加反応型シリコーン樹脂を金めっきと接する位置で硬化する場合に、電解めっき法により形成した金めっきはイオウの含有が少ないので、イオウと白金とが反応することを抑制できる。これにより、白金系触媒を用いた付加反応型シリコーン樹脂が硬化不良を起こすことを抑制できる。リンを含むニッケルめっき120Aと接する金めっき120Bを形成する場合には、リンを含むニッケルめっき120A及び金めっき120Bは電解めっき法で形成されることが好ましい。同一の方法でめっきを形成することで、発光装置の製造コストを抑制することができる。尚、ニッケルめっきとはニッケルを含有してよく、金めっきとは金を含有していればよく、他の材料が含有していてもよい。   As shown in FIG. 5A, the gold plating 120B is preferably located on the outermost surface of the plating 12B. Since gold plating is located on the outermost surface of the plating, oxidation and corrosion on the surface of the first wiring 12, the second wiring 13, and / or the third wiring 14 are suppressed, and good solderability is obtained. It is possible to improve the reflectance and suppress sulfidation. The gold plating 120B located on the outermost surface of the plating 12B is preferably formed by an electrolytic plating method. The electrolytic plating method can contain a catalyst poison such as sulfur less than the electroless plating method. When an addition-reactive silicone resin using a platinum-based catalyst is cured at a position in contact with the gold plating, the gold plating formed by the electrolytic plating method has less sulfur content, so that the reaction between sulfur and platinum can be suppressed. . Thereby, it can suppress that the addition-reaction type silicone resin using a platinum-type catalyst raise | generates a curing defect. When forming the gold plating 120B in contact with the nickel plating 120A containing phosphorus, the nickel plating 120A and the gold plating 120B containing phosphorus are preferably formed by an electrolytic plating method. By forming the plating by the same method, the manufacturing cost of the light emitting device can be suppressed. Nickel plating may contain nickel, gold plating may contain gold, and other materials may contain it.

リンを含むニッケルめっきの厚みは金めっきの厚みより厚いことが好ましい。リンを含むニッケルめっきの厚みが金めっきの厚みよりも厚いことで、第1配線12、第2配線13及び又は第3配線14の硬度を向上させやすくなる。リンを含むニッケルめっきの厚みは、金めっきの厚みの5倍以上500倍以下が好ましく、10倍以上100倍以下がより好ましい。   The thickness of the nickel plating containing phosphorus is preferably larger than the thickness of the gold plating. When the thickness of the nickel plating containing phosphorus is larger than the thickness of the gold plating, the hardness of the first wiring 12, the second wiring 13, and / or the third wiring 14 can be easily improved. The thickness of the nickel plating containing phosphorus is preferably not less than 5 times and not more than 500 times the thickness of the gold plating, and more preferably not less than 10 times and not more than 100 times.

図5Bに示す発光装置1000Cのように、配線は、配線主部12A上にリンを含むニッケルめっき120Cと、パラジウムめっき120Dと、第1金めっき120Eと、第2金めっき120Fと、が積層されためっき12Bを形成してもよい。リンを含むニッケルめっき120Cと、パラジウムめっき120Dと、第1金めっき120Eと、第2金めっき120Fが積層することで、例えば、配線主部12Aの銅を用いた場合にめっき12B中に銅が拡散することを抑制できる。これにより、めっきの各層の密着性の低下を抑制することができる。配線主部12A上にリンを含むニッケルめっき120Cと、パラジウムめっき120Dと、第1金めっき120Eを無電解めっき法に形成し、第2金めっき120Fを電解めっき法により形成してもよい。電解めっき法により形成した第2金めっき120Fが最表面に位置することで、白金系触媒を用いた付加反応型シリコーン樹脂の硬化不良を抑制することができる。   As in the light emitting device 1000C shown in FIG. 5B, the wiring is formed by laminating a nickel plating 120C containing phosphorus, a palladium plating 120D, a first gold plating 120E, and a second gold plating 120F on the wiring main portion 12A. The plating 12B may be formed. When nickel plating 120C containing phosphorus, palladium plating 120D, first gold plating 120E, and second gold plating 120F are laminated, for example, when copper of wiring main part 12A is used, copper is contained in plating 12B. It can suppress spreading. Thereby, the fall of the adhesiveness of each layer of plating can be suppressed. The nickel plating 120C containing phosphorus, the palladium plating 120D, and the first gold plating 120E may be formed on the wiring main portion 12A by an electroless plating method, and the second gold plating 120F may be formed by an electrolytic plating method. Since the second gold plating 120F formed by the electrolytic plating method is located on the outermost surface, it is possible to suppress the curing failure of the addition reaction type silicone resin using the platinum-based catalyst.

以下、本発明の一実施形態に係る発光装置における各構成要素について説明する。   Hereinafter, each component in the light-emitting device which concerns on one Embodiment of this invention is demonstrated.

(発光素子20)
発光素子20は、電圧を印加することで自ら発光する半導体素子であり、窒化物半導体等から構成される既知の半導体素子を適用できる。発光素子20としては、例えばLEDチップが挙げられる。発光素子20は、少なくとも半導体積層体23を備え、多くの場合に素子基板24をさらに備える。発光素子の上面視形状は、矩形、特に正方形状又は一方向に長い長方形状であることが好ましいが、その他の形状であってもよく、例えば六角形状であれば発光効率を高めることもできる。発光素子の側面は、上面に対して、垂直であってもよいし、内側又は外側に傾斜していてもよい。また、発光素子は、正負電極を有する。正負電極は、金、銀、錫、白金、ロジウム、チタン、アルミニウム、タングステン、パラジウム、ニッケル又はこれらの合金で構成することができる。発光素子の発光ピーク波長は、半導体材料やその混晶比によって、紫外域から赤外域まで選択することができる。半導体材料としては、波長変換粒子を効率良く励起できる短波長の光を発光可能な材料である、窒化物半導体を用いることが好ましい。窒化物半導体は、主として一般式InAlGa1−x−yN(0≦x、0≦y、x+y≦1)で表される。発光素子の発光ピーク波長は、発光効率、並びに波長変換粒子の励起及びその発光との混色関係等の観点から、400nm以上530nm以下が好ましく、420nm以上490nm以下がより好ましく、450nm以上475nm以下がよりいっそう好ましい。このほか、InAlGaAs系半導体、InAlGaP系半導体、硫化亜鉛、セレン化亜鉛、炭化珪素などを用いることもできる。発光素子の素子基板は、主として半導体積層体を構成する半導体の結晶を成長可能な結晶成長用基板であるが、結晶成長用基板から分離した半導体素子構造に接合させる接合用基板であってもよい。素子基板が透光性を有することで、フリップチップ実装を採用しやすく、また光の取り出し効率を高めやすい。素子基板の母材としては、サファイア、窒化ガリウム、窒化アルミニウム、シリコン、炭化珪素、ガリウム砒素、ガリウム燐、インジウム燐、硫化亜鉛、酸化亜鉛、セレン化亜鉛、ダイヤモンドなどが挙げられる。なかでも、サファイアが好ましい。素子基板の厚さは、適宜選択でき、例えば0.02mm以上1mm以下であり、素子基板の強度及び/若しくは発光装置の厚さの観点において、0.05mm以上0.3mm以下であることが好ましい。
(Light emitting element 20)
The light emitting element 20 is a semiconductor element that emits light by applying a voltage, and a known semiconductor element composed of a nitride semiconductor or the like can be applied. Examples of the light emitting element 20 include an LED chip. The light emitting element 20 includes at least a semiconductor laminate 23, and in many cases further includes an element substrate 24. The top view shape of the light emitting element is preferably a rectangle, particularly a square shape or a rectangular shape that is long in one direction, but may be other shapes. For example, if it is a hexagonal shape, the light emission efficiency can be increased. The side surface of the light emitting element may be perpendicular to the upper surface, or may be inclined inward or outward. The light emitting element has positive and negative electrodes. The positive and negative electrodes can be composed of gold, silver, tin, platinum, rhodium, titanium, aluminum, tungsten, palladium, nickel, or an alloy thereof. The emission peak wavelength of the light-emitting element can be selected from the ultraviolet region to the infrared region depending on the semiconductor material and its mixed crystal ratio. As the semiconductor material, it is preferable to use a nitride semiconductor, which is a material capable of emitting light of a short wavelength that can efficiently excite the wavelength conversion particles. The nitride semiconductor is mainly represented by a general formula In x Al y Ga 1-xy N (0 ≦ x, 0 ≦ y, x + y ≦ 1). The light emission peak wavelength of the light emitting element is preferably 400 nm or more and 530 nm or less, more preferably 420 nm or more and 490 nm or less, and more preferably 450 nm or more and 475 nm or less from the viewpoints of light emission efficiency, excitation of wavelength conversion particles and color mixing relationship with the light emission, and the like. Even more preferable. In addition, an InAlGaAs-based semiconductor, an InAlGaP-based semiconductor, zinc sulfide, zinc selenide, silicon carbide, or the like can also be used. The element substrate of the light emitting element is a crystal growth substrate capable of mainly growing a semiconductor crystal constituting the semiconductor stacked body, but may be a bonding substrate bonded to a semiconductor element structure separated from the crystal growth substrate. . Since the element substrate has a light-transmitting property, it is easy to adopt flip chip mounting, and it is easy to increase the light extraction efficiency. Examples of the base material of the element substrate include sapphire, gallium nitride, aluminum nitride, silicon, silicon carbide, gallium arsenide, gallium phosphide, indium phosphide, zinc sulfide, zinc oxide, zinc selenide, diamond and the like. Of these, sapphire is preferable. The thickness of the element substrate can be appropriately selected, and is, for example, 0.02 mm or more and 1 mm or less. From the viewpoint of the strength of the element substrate and / or the thickness of the light emitting device, it is preferably 0.05 mm or more and 0.3 mm or less. .

(第1波長変換部材31)
第1波長変換部材は発光素子上に設けられる部材である。第1波長変換部材は、第1母材と第1波長変換粒子と、を含んでいる。
(First wavelength conversion member 31)
The first wavelength conversion member is a member provided on the light emitting element. The first wavelength conversion member includes a first base material and first wavelength conversion particles.

(第1波長変換粒子311)
第1波長変換粒子は、発光素子が発する一次光の少なくとも一部を吸収して、一次光とは異なる波長の二次光を発する。第1波長変換粒子は、以下に示す具体例のうちの1種を単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
(First wavelength conversion particle 311)
The first wavelength conversion particles absorb at least a part of the primary light emitted from the light emitting element and emit secondary light having a wavelength different from that of the primary light. The 1st wavelength conversion particle can be used individually by 1 type in the specific example shown below, or in combination of 2 or more types.

第1波長変換粒子としては、緑色発光する波長変換粒子、黄色発光する波長変換粒子及び又は赤色発光する波長変換粒子等公知の波長変換粒子を使用することができる。例えば、緑色発光する波長変換粒子としては、イットリウム・アルミニウム・ガーネット系蛍光体(例えばY(Al,Ga)12:Ce)、ルテチウム・アルミニウム・ガーネット系蛍光体(例えばLu(Al,Ga)12:Ce)、テルビウム・アルミニウム・ガーネット系蛍光体(例えばTb(Al,Ga)12:Ce)系蛍光体、シリケート系蛍光体(例えば(Ba,Sr)SiO:Eu)、クロロシリケート系蛍光体(例えばCaMg(SiOCl:Eu)、βサイアロン系蛍光体(例えばSi6−zAl8−z:Eu(0<z<4.2))、SGS系蛍光体(例えばSrGa:Eu)などが挙げられる。黄色発光の波長変換粒子としては、αサイアロン系蛍光体(例えばM(Si,Al)12(O,N)16(但し、0<z≦2であり、MはLi、Mg、Ca、Y、及びLaとCeを除くランタニド元素)などが挙げられる。このほか、上記緑色発光する波長変換粒子の中には黄色発光の波長変換粒子もある。また例えば、イットリウム・アルミニウム・ガーネット系蛍光体は、Yの一部をGdで置換することで発光ピーク波長を長波長側にシフトさせることができ、黄色発光が可能である。また、これらの中には、橙色発光が可能な波長変換粒子もある。赤色発光する波長変換粒子としては、窒素含有アルミノ珪酸カルシウム(CASN又はSCASN)系蛍光体(例えば(Sr,Ca)AlSiN:Eu)などが挙げられる。このほか、マンガン賦活フッ化物系蛍光体(一般式(I)A[M1−aMn]で表される蛍光体である(但し、上記一般式(I)中、Aは、K、Li、Na、Rb、Cs及びNHからなる群から選ばれる少なくとも1種であり、Mは、第4族元素及び第14族元素からなる群から選ばれる少なくとも1種の元素であり、aは0<a<0.2を満たす))が挙げられる。このマンガン賦活フッ化物系蛍光体の代表例としては、マンガン賦活フッ化珪酸カリウムの蛍光体(例えばKSiF:Mn)がある。 As the first wavelength conversion particles, known wavelength conversion particles such as wavelength conversion particles emitting green light, wavelength conversion particles emitting yellow light, and / or wavelength conversion particles emitting red light can be used. For example, as wavelength conversion particles emitting green light, yttrium / aluminum / garnet phosphors (for example, Y 3 (Al, Ga) 5 O 12 : Ce), lutetium / aluminum / garnet phosphors (for example, Lu 3 (Al, Ga) 5 O 12 : Ce), terbium / aluminum / garnet phosphor (for example, Tb 3 (Al, Ga) 5 O 12 : Ce) phosphor, silicate phosphor (for example (Ba, Sr) 2 SiO 4 ) : Eu), chlorosilicate phosphor (for example, Ca 8 Mg (SiO 4 ) 4 Cl 2 : Eu), β sialon phosphor (for example, Si 6-z Al z O z N 8-z : Eu (0 <z <4.2)), SGS phosphor (e.g. SrGa 2 S 4: Eu), and the like. As the wavelength conversion particles for yellow light emission, α sialon-based phosphors (for example, M z (Si, Al) 12 (O, N) 16 (where 0 <z ≦ 2 and M is Li, Mg, Ca, Y) In addition, among the above-mentioned wavelength-converting particles that emit green light, there are also wavelength-converted particles that emit yellow light, such as yttrium, aluminum, and garnet phosphors. By substituting a part of Y with Gd, the emission peak wavelength can be shifted to the longer wavelength side, and yellow emission is possible, and among these, wavelength conversion particles capable of emitting orange are also included. Examples of wavelength converting particles that emit red light include nitrogen-containing calcium aluminosilicate (CASN or SCASN) -based phosphors (for example, (Sr, Ca) AlSiN 3 : Eu). In addition, a manganese-activated fluoride-based phosphor (general formula (I) A 2 [M 1-a Mn a F 6 ] is a phosphor represented by the formula (I) wherein A is K , Li, Na, Rb, Cs and NH 4 , M is at least one element selected from the group consisting of Group 4 elements and Group 14 elements, and a As a typical example of this manganese-activated fluoride phosphor, there is a manganese-activated potassium fluorosilicate phosphor (for example, K 2 SiF 6 : Mn). .

(第1母材312)
第1母材312は、発光素子から発せられる光に対して透光性を有するものであればよい。なお、「透光性」とは、発光素子の発光ピーク波長における光透過率が、好ましくは60%以上であること、より好ましくは70%以上であること、よりいっそう好ましくは80%以上であることを言う。第1母材は、シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、又はこれらの変性樹脂を用いることができる。ガラスでもよい。なかでも、シリコーン樹脂及び変性シリコーン樹脂は、耐熱性及び耐光性に優れ、好ましい。具体的なシリコーン樹脂としては、ジメチルシリコーン樹脂、フェニル−メチルシリコーン樹脂、ジフェニルシリコーン樹脂が挙げられる。なお、本明細書における「変性樹脂」は、ハイブリッド樹脂を含むものとする。
(First base material 312)
The first base material 312 may be any material that has translucency with respect to light emitted from the light emitting element. The “translucency” means that the light transmittance at the emission peak wavelength of the light emitting element is preferably 60% or more, more preferably 70% or more, and still more preferably 80% or more. Say that. As the first base material, a silicone resin, an epoxy resin, a phenol resin, a polycarbonate resin, an acrylic resin, or a modified resin thereof can be used. Glass may be used. Of these, silicone resins and modified silicone resins are preferred because they are excellent in heat resistance and light resistance. Specific examples of the silicone resin include dimethyl silicone resin, phenyl-methyl silicone resin, and diphenyl silicone resin. The “modified resin” in this specification includes a hybrid resin.

第1母材は、上記樹脂若しくはガラス中に各種の拡散粒子を含有してもよい。拡散粒子としては、酸化珪素、酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム、酸化亜鉛などが挙げられる。拡散粒子は、これらのうちの1種を単独で、又はこれらのうちの2種以上を組み合わせて用いることができる。特に、熱膨張係数の小さい酸化珪素が好ましい。また、拡散粒子として、ナノ粒子を用いることで、発光素子が発する光の散乱を増大させ、波長変換粒子の使用量を低減することもできる。   The first base material may contain various diffusing particles in the resin or glass. Examples of the diffusion particles include silicon oxide, aluminum oxide, zirconium oxide, and zinc oxide. As the diffusion particles, one of these can be used alone, or two or more of these can be used in combination. In particular, silicon oxide having a small thermal expansion coefficient is preferable. Further, by using nanoparticles as the diffusing particles, scattering of light emitted from the light emitting element can be increased, and the amount of wavelength conversion particles used can be reduced.

(導光部材50)
導光部材は、発光素子と透光性部材を接着し、発光素子からの光を透光性部材に導光する部材である。導光部材の母材は、シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、又はこれらの変性樹脂が挙げられる。なかでも、シリコーン樹脂及び変性シリコーン樹脂は、耐熱性及び耐光性に優れ、好ましい。具体的なシリコーン樹脂としては、ジメチルシリコーン樹脂、フェニル−メチルシリコーン樹脂、ジフェニルシリコーン樹脂が挙げられる。また、導光部材の母材は、上述の第1母材と同様に拡散粒子を含有してもよい。
(Light guide member 50)
The light guide member is a member that bonds the light emitting element and the translucent member and guides light from the light emitting element to the translucent member. Examples of the base material of the light guide member include silicone resin, epoxy resin, phenol resin, polycarbonate resin, acrylic resin, and modified resins thereof. Of these, silicone resins and modified silicone resins are preferred because they are excellent in heat resistance and light resistance. Specific examples of the silicone resin include dimethyl silicone resin, phenyl-methyl silicone resin, and diphenyl silicone resin. Further, the base material of the light guide member may contain diffusing particles in the same manner as the first base material described above.

(反射部材)
反射部材は、Z方向への光取り出し効率の観点から、発光素子の発光ピーク波長における光反射率が、70%以上であることが好ましく、80%以上であることがより好ましく、90%以上であることがよりいっそう好ましい。さらに、反射部材は、白色であることが好ましい。よって、反射部材は、母材中に白色顔料を含有してなることが好ましい。反射部材は、硬化前には液状の状態を経る。反射部材は、トランスファ成形、射出成形、圧縮成形、ポッティングなどにより形成することができる。
(Reflective member)
From the viewpoint of light extraction efficiency in the Z direction, the reflecting member preferably has a light reflectance at the emission peak wavelength of the light emitting element of 70% or more, more preferably 80% or more, and 90% or more. Even more preferably. Furthermore, the reflecting member is preferably white. Therefore, it is preferable that the reflecting member contains a white pigment in the base material. The reflective member goes through a liquid state before curing. The reflecting member can be formed by transfer molding, injection molding, compression molding, potting, or the like.

(反射部材の母材)
反射部材の母材は、樹脂を用いることができ、例えばシリコーン樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、又はこれらの変性樹脂が挙げられる。なかでも、シリコーン樹脂及び変性シリコーン樹脂は、耐熱性及び耐光性に優れ、好ましい。具体的なシリコーン樹脂としては、ジメチルシリコーン樹脂、フェニル−メチルシリコーン樹脂、ジフェニルシリコーン樹脂が挙げられる。
(Base material for reflective member)
As the base material of the reflecting member, a resin can be used, and examples thereof include silicone resin, epoxy resin, phenol resin, polycarbonate resin, acrylic resin, and modified resins thereof. Of these, silicone resins and modified silicone resins are preferred because they are excellent in heat resistance and light resistance. Specific examples of the silicone resin include dimethyl silicone resin, phenyl-methyl silicone resin, and diphenyl silicone resin.

(白色顔料)
白色顔料は、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化マグネシウム、炭酸マグネシウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、水酸化カルシウム、珪酸カルシウム、珪酸マグネシウム、チタン酸バリウム、硫酸バリウム、水酸化アルミニウム、酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム、酸化ケイ素のうちの1種を単独で、又はこれらのうちの2種以上を組み合わせて用いることができる。白色顔料の形状は、適宜選択でき、不定形若しくは破砕状でもよいが、流動性の観点では球状が好ましい。また、白色顔料の粒径は、例えば0.1μm以上0.5μm以下程度が挙げられるが、光反射や被覆の効果を高めるためには小さい程好ましい。反射部材中の白色顔料の含有量は、適宜選択できるが、光反射性及び液状時における粘度などの観点から、例えば10wt%以上80wt%以下が好ましく、20wt%以上70wt%以下がより好ましく、30wt%以上60wt%以下がよりいっそう好ましい。なお、「wt%」は、重量パーセントであり、反射部材の全重量に対する当該材料の重量の比率を表す。
(White pigment)
White pigments include titanium oxide, zinc oxide, magnesium oxide, magnesium carbonate, magnesium hydroxide, calcium carbonate, calcium hydroxide, calcium silicate, magnesium silicate, barium titanate, barium sulfate, aluminum hydroxide, aluminum oxide, zirconium oxide, One of silicon oxides can be used alone, or two or more of these can be used in combination. The shape of the white pigment can be appropriately selected and may be indefinite or crushed, but is preferably spherical from the viewpoint of fluidity. Further, the particle diameter of the white pigment is, for example, about 0.1 μm or more and 0.5 μm or less. The content of the white pigment in the reflecting member can be appropriately selected. However, from the viewpoint of light reflectivity and viscosity in a liquid state, for example, it is preferably 10 wt% or more and 80 wt% or less, more preferably 20 wt% or more and 70 wt% or less, and 30 wt%. % To 60 wt% is even more preferable. Note that “wt%” is weight percent and represents the ratio of the weight of the material to the total weight of the reflecting member.

(第2波長変換部材32)
第2波長変換部材は、第1波長変換部材と同様の材料を用いることができる。
(Second wavelength conversion member 32)
The second wavelength conversion member can be made of the same material as the first wavelength conversion member.

(被覆部材33)
第2波長変換部材は、第1母材と同様の材料を用いることができる。
(Coating member 33)
The second wavelength conversion member can use the same material as the first base material.

(基板10)
基板10は、発光素子を載置する部材である。基板10は、基材11と、第1配線12と、第2配線13と、第3配線14と、ビア15と、により構成される。
(Substrate 10)
The substrate 10 is a member on which the light emitting element is placed. The substrate 10 includes a base material 11, a first wiring 12, a second wiring 13, a third wiring 14, and a via 15.

(基材11)
基材11は、樹脂若しくは繊維強化樹脂、セラミックス、ガラスなどの絶縁性部材を用いて構成することができる。樹脂若しくは繊維強化樹脂としては、エポキシ、ガラスエポキシ、ビスマレイミドトリアジン(BT)、ポリイミドなどが挙げられる。セラミックスとしては、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、酸化ジルコニウム、窒化ジルコニウム、酸化チタン、窒化チタン、若しくはこれらの混合物などが挙げられる。これらの基材のうち、特に発光素子の線膨張係数に近い物性を有する基材を使用することが好ましい。基材の厚さの下限値は、適宜選択できるが、基材の強度の観点から、0.05mm以上であることが好ましく、0.2mm以上であることがより好ましい。また、基材の厚さの上限値は、発光装置の厚さ(奥行き)の観点から、0.5mm以下であることが好ましく、0.4mm以下であることがより好ましい。
(Substrate 11)
The base material 11 can be comprised using insulating members, such as resin or fiber reinforced resin, ceramics, and glass. Examples of the resin or fiber reinforced resin include epoxy, glass epoxy, bismaleimide triazine (BT), and polyimide. Examples of the ceramic include aluminum oxide, aluminum nitride, zirconium oxide, zirconium nitride, titanium oxide, titanium nitride, or a mixture thereof. Of these substrates, it is particularly preferable to use a substrate having physical properties close to the linear expansion coefficient of the light emitting element. The lower limit of the thickness of the substrate can be selected as appropriate, but is preferably 0.05 mm or more and more preferably 0.2 mm or more from the viewpoint of the strength of the substrate. The upper limit value of the thickness of the base material is preferably 0.5 mm or less, and more preferably 0.4 mm or less, from the viewpoint of the thickness (depth) of the light emitting device.

(第1配線12、第2配線13、第3配線14)
第1配線は、基板の正面に配置され、発光素子と電気的に接続される。第2配線は、基板の背面に配置され、ビアを介して第1配線と電気的に接続される。第3配線は、窪みの内壁を被覆し、第2配線と電気的に接続される。第1配線、第2配線及び第3配線は、銅、鉄、ニッケル、タングステン、クロム、アルミニウム、銀、金、チタン、パラジウム、ロジウム、又はこれらの合金で形成することができる。これらの金属又は合金の単層でも多層でもよい。特に、放熱性の観点においては銅又は銅合金が好ましい。また、第1配線及び/又は第2配線の表層には、導電性接着部材の濡れ性及び/若しくは光反射性などの観点から、銀、白金、アルミニウム、ロジウム、金若しくはこれらの合金などの層が設けられていてもよい。
(First wiring 12, second wiring 13, third wiring 14)
The first wiring is disposed on the front surface of the substrate and is electrically connected to the light emitting element. The second wiring is disposed on the back surface of the substrate and is electrically connected to the first wiring through the via. The third wiring covers the inner wall of the recess and is electrically connected to the second wiring. The first wiring, the second wiring, and the third wiring can be formed of copper, iron, nickel, tungsten, chromium, aluminum, silver, gold, titanium, palladium, rhodium, or an alloy thereof. A single layer or a multilayer of these metals or alloys may be used. In particular, copper or a copper alloy is preferable from the viewpoint of heat dissipation. Further, the surface layer of the first wiring and / or the second wiring is a layer of silver, platinum, aluminum, rhodium, gold, or an alloy thereof from the viewpoint of wettability and / or light reflectivity of the conductive adhesive member. May be provided.

(ビア15)
ビア15は基材11の正面と背面とを貫通する孔内に設けられ、第1配線と前記第2配線を電気的に接続する部材である。ビア15は基材の貫通孔の表面を被覆する第4配線151と、第4配線内151に充填された充填部材152と、によって構成されてもよい。第4配線151には、第1配線、第2配線及び第3配線と同様の導電性部材を用いることができる。充填部材152には、導電性の部材を用いても絶縁性の部材を用いてもよい。
(Via 15)
The via 15 is a member that is provided in a hole penetrating the front surface and the back surface of the substrate 11 and electrically connects the first wiring and the second wiring. The via 15 may be configured by a fourth wiring 151 that covers the surface of the through hole of the base material, and a filling member 152 that fills the fourth wiring 151. For the fourth wiring 151, a conductive member similar to the first wiring, the second wiring, and the third wiring can be used. As the filling member 152, a conductive member or an insulating member may be used.

(絶縁膜18)
絶縁膜18は、背面における絶縁性の確保及び短絡の防止を図る部材である。絶縁膜は、当該分野で使用されるもののいずれで形成されていてもよい。例えば、熱硬化性樹脂又は熱可塑性樹脂等が挙げられる。
(Insulating film 18)
The insulating film 18 is a member that ensures insulation on the back surface and prevents a short circuit. The insulating film may be formed of any of those used in the field. For example, a thermosetting resin or a thermoplastic resin can be used.

(導電性接着部材60)
導電性接着部材とは、発光素子の電極と第1配線とを電気的に接続する部材である。導電性接着部材としては、金、銀、銅などのバンプ、銀、金、銅、プラチナ、アルミニウム、パラジウムなどの金属粉末と樹脂バインダを含む金属ペースト、錫−ビスマス系、錫−銅系、錫−銀系、金−錫系などの半田、低融点金属などのろう材のうちのいずれか1つを用いることができる。
(Conductive adhesive member 60)
The conductive adhesive member is a member that electrically connects the electrode of the light emitting element and the first wiring. Examples of conductive adhesive members include gold, silver, copper and other bumps, silver, gold, copper, platinum, aluminum, metal paste including resin binder, tin-bismuth, tin-copper, tin -Any one of solders such as silver-based, gold-tin-based solders, and low melting point metals can be used.

本発明の一実施形態に係る発光装置は、液晶ディスプレイのバックライト装置、各種照明器具、大型ディスプレイ、広告や行き先案内等の各種表示装置、プロジェクタ装置、さらには、デジタルビデオカメラ、ファクシミリ、コピー機、スキャナ等における画像読取装置などに利用することができる。   A light emitting device according to an embodiment of the present invention includes a backlight device for a liquid crystal display, various lighting fixtures, a large display, various display devices such as advertisements and destination guides, a projector device, a digital video camera, a facsimile machine, and a copier. It can be used for an image reading device in a scanner or the like.

1000、1000A、1000B、1000C 発光装置
10 基板
11 基材
12 第1配線
13 第2配線
14 第3配線
15 ビア
151 第4配線
152 充填部材
16 窪み
18 絶縁膜
20 発光素子
31 第1波長変換部材
32 第2波長変換部材
33 被覆部材
34 被膜
40 反射部材
50 導光部材
60 導電性接着部材
1000, 1000A, 1000B, 1000C Light emitting device 10 Substrate 11 Base 12 First wiring 13 Second wiring 14 Third wiring 15 Via
151 4th wiring
152 Filling member 16 Depression 18 Insulating film 20 Light emitting element 31 First wavelength conversion member 32 Second wavelength conversion member 33 Cover member 34 Coating 40 Reflective member 50 Light guide member 60 Conductive adhesive member

Claims (8)

第1面と、前記第1面の反対側に位置する第2面と、を有する発光素子と、
前記発光素子の側面を被覆する導光部材と、
前記第1面を被覆し、第1母材及び第1波長変換粒子を有する第1波長変換部材と、
前記発光素子の側面、前記導光部材の側面及び第1波長変換部材の側面を被覆し、前記発光素子と接する反射部材と、を備え、
前記第1波長変換部材の厚みは、60μm以上120μm以下であり、
前記第1波長変換粒子の平均粒径は、4μm以上12μm以下であり、
前記第1波長変換粒子の中心粒径は、4μm以上12μm以下であり、
前記第1波長変換部材の全重量に対して、前記第1波長変換粒子が60重量%以上75重量%以下である発光装置。
A light emitting device having a first surface and a second surface located on the opposite side of the first surface;
A light guide member covering a side surface of the light emitting element;
A first wavelength conversion member covering the first surface and having a first base material and first wavelength conversion particles;
A side surface of the light emitting element, a side surface of the light guide member and a side surface of the first wavelength conversion member, and a reflective member in contact with the light emitting element,
The thickness of the first wavelength conversion member is 60 μm or more and 120 μm or less,
The average particle diameter of the first wavelength conversion particles is 4 μm or more and 12 μm or less,
The center particle diameter of the first wavelength conversion particles is 4 μm or more and 12 μm or less,
The light-emitting device whose said 1st wavelength conversion particle | grain is 60 to 75 weight% with respect to the total weight of a said 1st wavelength conversion member.
前記第1波長変換粒子がマンガン賦活フッ化物蛍光体である請求項1に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 1, wherein the first wavelength conversion particle is a manganese-activated fluoride phosphor. 前記発光素子と前記第1波長変換部材との間に位置し、第2母材及び第2波長変換粒子を含む第2波長変換部材を備える請求項1又は2に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 1, further comprising a second wavelength conversion member that is located between the light emitting element and the first wavelength conversion member and includes a second base material and second wavelength conversion particles. 前記第1波長変換粒子の平均粒径が前記第2波長変換粒子の平均粒径よりも小さい請求項3に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 3, wherein an average particle diameter of the first wavelength conversion particles is smaller than an average particle diameter of the second wavelength conversion particles. 前記第2波長変換粒子がβサイアロン系蛍光体である請求項3又は4に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 3 or 4, wherein the second wavelength conversion particles are β sialon phosphors. 前記第2波長変換部材の厚みは、20μm以上60μm以下であり、請求項3から5のいずれか1項に記載の発光装置。   The thickness of the said 2nd wavelength conversion member is 20 micrometers or more and 60 micrometers or less, The light-emitting device of any one of Claim 3 to 5. 前記前記第1波長変換部材を被覆する被覆部材を備える請求項1から6のいずれか1項に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 1, further comprising a covering member that covers the first wavelength conversion member. 前記第1波長変換部材の体積基準による粒度分布の標準偏差が0.3μm以下である請求項1から7のいずれか1項に記載の発光装置。   8. The light emitting device according to claim 1, wherein a standard deviation of a particle size distribution based on a volume of the first wavelength conversion member is 0.3 μm or less.
JP2018094611A 2018-01-29 2018-05-16 Light emitting device Pending JP2019134150A (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/257,714 US10804442B2 (en) 2018-01-29 2019-01-25 Light emitting device
CN201910078815.4A CN110098303A (en) 2018-01-29 2019-01-28 Light emitting device
TW108103260A TWI812672B (en) 2018-01-29 2019-01-29 Light emitting device
KR1020190011174A KR102657117B1 (en) 2018-01-29 2019-01-29 Light-emitting device
US17/020,280 US11195977B2 (en) 2018-01-29 2020-09-14 Light emitting device

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018012569 2018-01-29
JP2018012569 2018-01-29

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020113126A Division JP7144693B2 (en) 2018-01-29 2020-06-30 light emitting device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2019134150A true JP2019134150A (en) 2019-08-08

Family

ID=67546451

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018094611A Pending JP2019134150A (en) 2018-01-29 2018-05-16 Light emitting device
JP2020113126A Active JP7144693B2 (en) 2018-01-29 2020-06-30 light emitting device

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020113126A Active JP7144693B2 (en) 2018-01-29 2020-06-30 light emitting device

Country Status (3)

Country Link
JP (2) JP2019134150A (en)
KR (1) KR102657117B1 (en)
TW (1) TWI812672B (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2023001884A (en) * 2021-06-21 2023-01-06 日亜化学工業株式会社 Fluoride phosphor and method of producing the same, wavelength conversion member, and light emitting device

Citations (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002059982A1 (en) * 2001-01-24 2002-08-01 Nichia Corporation Light emitting diode, optical semiconductor elemet and epoxy resin composition suitable for optical semiconductor element and production methods therefor
WO2006077740A1 (en) * 2004-12-28 2006-07-27 Nichia Corporation Nitride phosphor, method for producing same and light-emitting device using nitride phosphor
JP2009030042A (en) * 2007-06-29 2009-02-12 Mitsubishi Chemicals Corp Phosphor, method for producing phosphor, phosphor-containing composition, and light-emitting device
JP2009209192A (en) * 2008-02-29 2009-09-17 Nichia Corp Phosphor and light-emitting device using the same
JP2009256427A (en) * 2008-04-14 2009-11-05 Nichia Corp Phosphor, light-emitting device using the same and manufacturing method of phosphor
JP2010004035A (en) * 2008-05-22 2010-01-07 Mitsubishi Chemicals Corp Semiconductor light-emitting apparatus, illuminator, and image display apparatus
JP2010251621A (en) * 2009-04-17 2010-11-04 Mitsubishi Chemicals Corp Semiconductor light-emitting device
JP2011228344A (en) * 2010-04-15 2011-11-10 Hitachi Ltd Led light-emitting device
JP2012104814A (en) * 2010-10-15 2012-05-31 Mitsubishi Chemicals Corp White light-emitting device and lighting fixture
JP2012124191A (en) * 2010-12-06 2012-06-28 Citizen Electronics Co Ltd Light emitting device and manufacturing method of the same
JP2012134355A (en) * 2010-12-22 2012-07-12 Stanley Electric Co Ltd Light emitting device and manufacturing method of the same
JP2012244086A (en) * 2011-05-24 2012-12-10 Dainippon Printing Co Ltd Led lead frame with reflector, and method of manufacturing semiconductor device using the same
US20130043786A1 (en) * 2011-08-19 2013-02-21 Epistar Corporation Wavelength conversion structure, manufacturing method thereof, and light-emitting device comprising the wavelength conversion structure
JP2013038187A (en) * 2011-08-05 2013-02-21 Stanley Electric Co Ltd Light-emitting device and method of manufacturing the same
US20130270602A1 (en) * 2012-04-16 2013-10-17 Lextar Electronics Corporation Light-emitting diode package
US20140008683A1 (en) * 2010-12-03 2014-01-09 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for Producing a Semiconductor Chip Emitting Radiation, Semiconductor Chip Emitting Radiation, and Component Emitting Radiation
JP2015026698A (en) * 2013-07-25 2015-02-05 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and method for manufacturing the same
JP2015524620A (en) * 2012-08-08 2015-08-24 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH Optoelectronic semiconductor device, conversion means plate, and method of manufacturing conversion means plate
JP2016001735A (en) * 2014-05-21 2016-01-07 日亜化学工業株式会社 Method of manufacturing light-emitting device
JP2016027644A (en) * 2014-06-30 2016-02-18 日亜化学工業株式会社 Semiconductor light emitting device
JP2016072379A (en) * 2014-09-29 2016-05-09 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and method of manufacturing the same
JP2016072515A (en) * 2014-09-30 2016-05-09 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and manufacturing method thereof
JP2016072382A (en) * 2014-09-29 2016-05-09 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and method of manufacturing the same
JP2017520917A (en) * 2014-06-13 2017-07-27 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ LED package having red light emitting phosphor
JP2017188592A (en) * 2016-04-06 2017-10-12 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device
JP2017188589A (en) * 2016-04-06 2017-10-12 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4473283B2 (en) 2006-03-31 2010-06-02 Dowaエレクトロニクス株式会社 Light emitting device and manufacturing method thereof
KR101180134B1 (en) 2008-05-30 2012-09-05 도시바 마테리알 가부시키가이샤 White light led, and backlight and liquid crystal display device using the same
TWI381556B (en) 2009-03-20 2013-01-01 Everlight Electronics Co Ltd Light emitting diode package structure and manufacturing method thereof
JP5762044B2 (en) 2011-02-23 2015-08-12 三菱電機株式会社 Light emitting device, light emitting device group, and manufacturing method
US8742654B2 (en) 2011-02-25 2014-06-03 Cree, Inc. Solid state light emitting devices including nonhomogeneous luminophoric particle size layers
JP2014140015A (en) 2012-12-19 2014-07-31 Panasonic Corp Light emitting module and illumination light source using the same
JP6428194B2 (en) 2014-11-21 2018-11-28 日亜化学工業株式会社 Wavelength converting member, method for manufacturing the same, and light emitting device
US9716212B2 (en) * 2014-12-19 2017-07-25 Nichia Corporation Light emitting device
KR102528015B1 (en) * 2015-12-18 2023-05-10 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 Light emitting device and lighting system having thereof
JP6387954B2 (en) * 2015-12-24 2018-09-12 日亜化学工業株式会社 Method for manufacturing light emitting device using wavelength conversion member

Patent Citations (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002059982A1 (en) * 2001-01-24 2002-08-01 Nichia Corporation Light emitting diode, optical semiconductor elemet and epoxy resin composition suitable for optical semiconductor element and production methods therefor
WO2006077740A1 (en) * 2004-12-28 2006-07-27 Nichia Corporation Nitride phosphor, method for producing same and light-emitting device using nitride phosphor
JP2009030042A (en) * 2007-06-29 2009-02-12 Mitsubishi Chemicals Corp Phosphor, method for producing phosphor, phosphor-containing composition, and light-emitting device
JP2009209192A (en) * 2008-02-29 2009-09-17 Nichia Corp Phosphor and light-emitting device using the same
JP2009256427A (en) * 2008-04-14 2009-11-05 Nichia Corp Phosphor, light-emitting device using the same and manufacturing method of phosphor
JP2010004035A (en) * 2008-05-22 2010-01-07 Mitsubishi Chemicals Corp Semiconductor light-emitting apparatus, illuminator, and image display apparatus
JP2010251621A (en) * 2009-04-17 2010-11-04 Mitsubishi Chemicals Corp Semiconductor light-emitting device
JP2011228344A (en) * 2010-04-15 2011-11-10 Hitachi Ltd Led light-emitting device
JP2012104814A (en) * 2010-10-15 2012-05-31 Mitsubishi Chemicals Corp White light-emitting device and lighting fixture
US20140008683A1 (en) * 2010-12-03 2014-01-09 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for Producing a Semiconductor Chip Emitting Radiation, Semiconductor Chip Emitting Radiation, and Component Emitting Radiation
JP2012124191A (en) * 2010-12-06 2012-06-28 Citizen Electronics Co Ltd Light emitting device and manufacturing method of the same
JP2012134355A (en) * 2010-12-22 2012-07-12 Stanley Electric Co Ltd Light emitting device and manufacturing method of the same
JP2012244086A (en) * 2011-05-24 2012-12-10 Dainippon Printing Co Ltd Led lead frame with reflector, and method of manufacturing semiconductor device using the same
JP2013038187A (en) * 2011-08-05 2013-02-21 Stanley Electric Co Ltd Light-emitting device and method of manufacturing the same
US20130043786A1 (en) * 2011-08-19 2013-02-21 Epistar Corporation Wavelength conversion structure, manufacturing method thereof, and light-emitting device comprising the wavelength conversion structure
US20130270602A1 (en) * 2012-04-16 2013-10-17 Lextar Electronics Corporation Light-emitting diode package
JP2015524620A (en) * 2012-08-08 2015-08-24 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH Optoelectronic semiconductor device, conversion means plate, and method of manufacturing conversion means plate
JP2015026698A (en) * 2013-07-25 2015-02-05 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and method for manufacturing the same
JP2016001735A (en) * 2014-05-21 2016-01-07 日亜化学工業株式会社 Method of manufacturing light-emitting device
JP2017520917A (en) * 2014-06-13 2017-07-27 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ LED package having red light emitting phosphor
JP2016027644A (en) * 2014-06-30 2016-02-18 日亜化学工業株式会社 Semiconductor light emitting device
JP2016072379A (en) * 2014-09-29 2016-05-09 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and method of manufacturing the same
JP2016072382A (en) * 2014-09-29 2016-05-09 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and method of manufacturing the same
JP2016072515A (en) * 2014-09-30 2016-05-09 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device and manufacturing method thereof
JP2017188592A (en) * 2016-04-06 2017-10-12 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device
JP2017188589A (en) * 2016-04-06 2017-10-12 日亜化学工業株式会社 Light-emitting device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2023001884A (en) * 2021-06-21 2023-01-06 日亜化学工業株式会社 Fluoride phosphor and method of producing the same, wavelength conversion member, and light emitting device
JP7445155B2 (en) 2021-06-21 2024-03-07 日亜化学工業株式会社 Fluoride phosphor and its manufacturing method, wavelength conversion member, and light emitting device

Also Published As

Publication number Publication date
TW201941458A (en) 2019-10-16
KR102657117B1 (en) 2024-04-11
JP2020170862A (en) 2020-10-15
KR20190092306A (en) 2019-08-07
JP7144693B2 (en) 2022-09-30
TWI812672B (en) 2023-08-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11581465B2 (en) Light emitting device
KR102161062B1 (en) Light-emitting device
US10804442B2 (en) Light emitting device
KR102246855B1 (en) Light-emitting module
KR102315049B1 (en) Method for manufacturing light source apparatus
JP2018129434A (en) Light-emitting device
US11495587B2 (en) Light emitting device and method of producing light emitting device
JP7144693B2 (en) light emitting device
US11605617B2 (en) Light emitting device
JP2019041094A (en) Light-emitting device
JP2018191015A (en) Method for manufacturing light-emitting device
KR102255992B1 (en) Light emitting device
JP7004928B2 (en) Manufacturing method of light source device
US20230027533A1 (en) Light emitting device and method of producing light emitting device

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20181016

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190402

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20190404

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190719

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20190718

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190806

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190927

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20191210

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200129

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20200414