KR20190026590A - Machining method - Google Patents

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Abstract

An objective of the present invention is to allow the possibility of performing smooth processing while suppressing the abrasion of a processing stone when processing a workpiece formed by grinding and the like. The processing method comprises: a holding step of holding a workpiece (W) with a holding table (30) having a holding surface (300a) to hold the workpiece (W); and a processing step of processing the workpiece (W) with a processing means (7) including a processing stone (74a) in which abrasive grains are bonded through vitrification after performing the holding step. In the processing step, processing water is supplied to the workpiece (W), and light having a predetermined wavelength is irradiated from a light irradiation means (9) to the processing surface of the processing stone (74a).

Description

가공 방법{MACHINING METHOD}MACHINING METHOD

본 발명은 지립을 비트리파이드로 결합한 가공 지석으로 피가공물을 가공하는 가공 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a machining method for machining a workpiece with a machined grinding wheel in which abrasive grains are combined with non-tritide.

반도체 웨이퍼 등의 판형의 피가공물은, 연삭되어 미리 정해진 두께로 박화된 후에, 절삭에 의해 분할되어 개개의 디바이스 칩이 되어, 각종 전자 기기 등에 이용되고 있다. 그리고, 웨이퍼가, 질화갈륨(GaN), 실리콘카바이드(SiC) 또는 갈륨비소(GaAs) 등의 난삭제로 형성되어 있는 경우에는, 지립을 비트리파이드로 결합한 연삭 지석을 이용한 연삭 방법(예컨대, 특허문헌 1 참조) 및 지립을 비트리파이드로 결합한 절삭 지석을 이용한 절삭 방법(예컨대, 특허문헌 2 참조)이 널리 이용되고 있다.BACKGROUND ART Plate-shaped workpieces such as semiconductor wafers are ground by grinding to a predetermined thickness and then divided by cutting into individual device chips, which are used in various electronic devices and the like. In the case where the wafer is formed by removing an arc such as gallium nitride (GaN), silicon carbide (SiC), or gallium arsenide (GaAs), a grinding method using a grinding stone in which abrasives are combined with non- And a cutting method using a cutting stone (for example, refer to Patent Document 2) in which abrasive grains are combined with non-trivial is widely used.

특허문헌 1: 일본 특허 공개 제2014 -124690호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2014 -124690 특허문헌 2: 일본 특허 공개 제2013 -219215호 공보Patent Document 2: Japanese Patent Application Laid-Open No. 2013-219215

그러나, 상기 방법 중 어느 것에 있어서도, 지석의 마모량이 필요 이상으로 심하여 생산 비용이 높아진다고 하는 문제가 있다. 또한, 난삭제로 형성되는 피가공물의 가공 시에는 지석의 가공 능력이 저하하여, 생산성이 저하한다고 하는 문제가 있다. 또한, 지석에 의한 가공 위치에 금속이 포함되어 있는 피가공물을 가공하는 경우도, 금속의 연성에 의해 가공이 곤란해진다고 하는 문제가 있다.However, in any of the above methods, there is a problem that the amount of abrasion of the grinding stone is more than necessary and the production cost is increased. In addition, there is a problem in that the machining ability of the grinding wheel is lowered at the time of machining the workpiece formed by the grinding, resulting in lowering the productivity. Further, there is also a problem that machining becomes difficult due to the ductility of the metal even when the workpiece containing the metal is machined at the machining position by the grinding wheel.

따라서, 난삭제 등으로 형성되는 피가공물을 가공하는 경우에 있어서는, 가공 지석의 과도한 마모를 억제하며 원활하게 안정된 가공을 할 수 있도록 한다고 하는 과제가 있다.Therefore, in the case of machining a workpiece formed by grinding or the like, there is a problem that excessive wear of the machined stone is suppressed and smooth and stable machining can be performed.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명은, 피가공물의 가공 방법으로서, 피가공물을 유지하는 유지면을 갖는 유지 테이블로 피가공물을 유지하는 유지 단계와, 상기 유지 단계를 실시한 후, 지립을 비트리파이드로 결합한 가공 지석을 포함하는 가공 수단으로 피가공물을 가공하는 가공 단계를 포함하고, 상기 가공 단계에서는 피가공물에 가공수를 공급함과 아울러, 미리 정해진 파장의 광을 광 조사 수단으로부터 상기 가공 지석의 가공면에 조사하는 가공 방법이다.According to the present invention, there is provided a method of machining a workpiece, comprising: a holding step of holding a workpiece with a holding table having a holding surface for holding the workpiece; And a machining step of machining the workpiece with a machining means including a machined grinding wheel coupled to the workpiece grinding wheel, wherein in the machining step, the machining water is supplied to the workpiece, And the surface is irradiated.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명은, 상기 가공 수단은 상기 가공 지석을 구비하는 절삭 블레이드를 구비하고, 상기 가공 단계에서는 상기 절삭 블레이드로 피가공물을 절삭하는 가공 방법이다.The present invention for solving the above problems is characterized in that the machining means has a cutting blade having the machining wheel, and the machining step is a machining method of cutting the workpiece with the cutting blade.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명은, 상기 가공 수단은 상기 가공 지석을 구비하는 연삭 휠을 구비하고, 상기 가공 단계에서는 상기 연삭 휠로 피가공물을 연삭하는 가공 방법이다.The present invention for solving the above problems is characterized in that the machining means includes a grinding wheel having the grinding wheel, and in the grinding step, the grinding wheel grinds the workpiece.

본 발명에 따른 피가공물의 가공 방법은, 피가공물을 유지하는 유지면을 갖는 유지 테이블로 피가공물을 유지하는 유지 단계와, 유지 단계를 실시한 후, 지립을 비트리파이드로 결합한 가공 지석을 포함하는 가공 수단으로 피가공물을 가공하는 가공 단계를 포함하고, 가공 단계에서는 피가공물에 가공수를 공급함과 아울러, 미리 정해진 파장의 광을 광 조사 수단으로부터 가공 지석의 가공면에 조사함으로써, 예컨대 가공 지석을 친수화시켜 가공수에 의한 냉각 효과를 향상시켜 가공 지석의 과도한 마모를 억제하며, 가공 부스러기의 배출성을 향상시키는 것이 가능해진다. 또한, 가공 지석의 친수화 등에 의해, 가공 지석의 가공 영역에 효과적으로 가공수가 공급되기 때문에, 가공열에 의한 가공 품질의 악화를 방지할 수 있어, 피가공물이 난삭제로 형성된 웨이퍼라도 원활하게 안정된 가공을 실시하는 것이 가능해진다.A method for machining a workpiece according to the present invention includes: a holding step of holding a workpiece with a holding table having a holding surface for holding a workpiece; and a grinding stone having a grinding wheel And a processing step of processing the workpiece by the machining means. In the machining step, the machining water is supplied to the workpiece, and light having a predetermined wavelength is irradiated from the light irradiation means to the machined surface of the machined stone. Thereby making it possible to improve the cooling effect by the processed water to suppress the excessive wear of the processed grinding stone and improve the dischargeability of the processed debris. In addition, since the process water is effectively supplied to the machining area of the machined stone by the hydrophilization of the machined stone, deterioration of the machining quality due to the machining heat can be prevented, Can be performed.

도 1은 연삭 장치의 일례를 나타내는 사시도이다.
도 2는 연삭 수단, 유지 테이블 및 광 조사 수단의 위치 관계의 일례를 나타내는 사시도이다.
도 3은 유지 테이블에 유지된 피가공물을 연삭 지석으로 연삭하고 있는 상태를 나타내는 단면도이다.
도 4의 (a)는 연삭 가공 중에 있어서의 연삭 휠의 회전 궤적과 가공 지석에 의한 피가공물의 가공 영역과 광 조사 수단의 위치 관계를 상방에서 본 경우의 설명도이다. 도 4의 (b)는 가공면에 광이 조사된 직후의 가공 지석이 피가공물에 절입되어 있는 상태를 측방에서 본 경우의 설명도이다.
도 5는 연삭 가공 중에 발광부 상의 커버에 세정수를 공급하고 있는 상태를 부분적으로 나타내는 단면도이다.
도 6은 실험 1을 실시하여 얻은 연삭 시에 있어서의 가공 지석의 가공면에 대한 파장 365 ㎚의 자외광 조사의 효과를 나타내는 플롯도이다.
도 7은 절삭 장치의 일례를 나타내는 사시도이다.
도 8은 피가공물을 유지한 유지 테이블 및 절삭 수단을 나타내는 단면도이다.
도 9는 유지 테이블에 유지된 피가공물을 절삭 수단으로 절삭하고 있는 상태를 나타내는 단면도이다.
1 is a perspective view showing an example of a grinding apparatus.
2 is a perspective view showing an example of the positional relationship between the grinding means, the holding table, and the light irradiation means.
3 is a cross-sectional view showing a state in which a workpiece held on a holding table is ground with a grinding stone.
Fig. 4 (a) is an explanatory diagram of a case where the rotational locus of the grinding wheel during grinding and the positional relationship between the working region of the workpiece and the light irradiating means by the grinding wheel are viewed from above. Fig. Fig. 4 (b) is an explanatory view of a state in which the processed grinding stone immediately after the light is irradiated on the machining surface is seen in the side view. Fig.
5 is a cross-sectional view partially showing a state in which washing water is supplied to the cover on the light emitting portion during grinding.
6 is a plot showing the effect of ultraviolet light irradiation at a wavelength of 365 nm on the machined surface of the working grinding stone at the time of grinding obtained by conducting the experiment 1. Fig.
7 is a perspective view showing an example of a cutting apparatus.
8 is a cross-sectional view showing a holding table and a cutting means holding a workpiece.
9 is a cross-sectional view showing a state in which a workpiece held on a holding table is cut by cutting means.

(실시형태 1)(Embodiment 1)

도 1에 나타내는 연삭 장치(1)는, 유지 테이블(30) 상에 유지된 피가공물(W)을 연삭 휠(74)을 구비하는 가공 수단(7)에 의해 연삭하는 장치이다. 연삭 장치(1)의 베이스(10) 상의 전방측(-Y 방향측)은, 유지 테이블(30)에 대하여 피가공물(W)의 착탈이 행해지는 영역인 착탈 영역(A)으로 되어 있고, 베이스(10) 상의 후방은, 가공 수단(7)에 의해 피가공물(W)의 연삭이 행해지는 영역인 가공 영역(B)으로 되어 있다. 베이스(10) 상의 전방측에는, 오퍼레이터가 연삭 장치(1)에 대하여 가공 조건 등을 입력하기 위한 입력 수단(12)이 배치되어 있다.The grinding apparatus 1 shown in Fig. 1 is an apparatus for grinding a workpiece W held on a holding table 30 by a machining means 7 having a grinding wheel 74. Fig. The front side (-Y direction side) of the base 10 of the grinding apparatus 1 is the attaching / detaching area A which is an area where the workpiece W is attached to / detached from the holding table 30, The back side of the workpiece 10 is the machining area B which is the area where the workpiece W is ground by the machining means 7. [ On the front side of the base 10, input means 12 for inputting machining conditions and the like to the grinding machine 1 is arranged by the operator.

유지 테이블(30)은, 예컨대, 그 외형이 원형상이며, 피가공물(W)을 흡착하는 흡착부(300)와, 흡착부(300)를 지지하는 프레임(301)을 구비한다. 흡착부(300)는 도시하지 않는 흡인원에 연통하여, 흡착부(300)의 노출면인 유지면(300a) 상에서 피가공물(W)을 흡인 유지한다. 유지 테이블(30)의 유지면(300a)은, 유지 테이블(30)의 회전 중심을 정점으로 하는 매우 완만한 경사를 구비하는 원추면으로 형성되어 있다. 유지 테이블(30)은, 커버(31)에 의해 주위로부터 둘러싸여 있고, Z축 방향의 축심 둘레로 회전 가능하며, 커버(31) 및 커버(31)에 연결된 주름상자 커버(31a)의 하방에 배치된 도시하지 않는 Y축 방향 이송 수단에 의해, 착탈 영역(A)과 가공 영역(B) 사이를 Y축 방향으로 왕복 이동 가능하게 되어 있다.The holding table 30 has a circular shape and has a suction portion 300 for suctioning the workpiece W and a frame 301 for supporting the suction portion 300. The adsorption unit 300 communicates with a suction source (not shown) to suck and hold the workpiece W on the holding surface 300a, which is the exposed surface of the adsorption unit 300. [ The holding surface 300a of the holding table 30 is formed as a conical surface having a very gentle slope with the rotation center of the holding table 30 as a vertex. The holding table 30 is surrounded by the cover 31 and is rotatable around the axis in the Z axis direction and is disposed below the pleat box cover 31a connected to the cover 31 and the cover 31 Axis direction by means of a Y-axis direction transfer means (not shown) which is connected to the attachment / detachment area A and the processing area B.

가공 영역(B)에는, 칼럼(11)이 세워서 마련되어 있고, 칼럼(11)의 측면에는 가공 수단(7)을 Z축 방향으로 연삭 이송하는 연삭 이송 수단(5)이 배치되어 있다. 연삭 이송 수단(5)은, Z축 방향의 축심을 갖는 볼나사(50)와, 볼나사(50)와 평행하게 배치된 한쌍의 가이드 레일(51)과, 볼나사(50)의 상단에 연결하여 볼나사(50)를 회동시키는 모터(52)와, 내부의 너트가 볼나사(50)에 나사 결합하여 측부가 가이드 레일(51)에 미끄럼 접촉하는 승강판(53)과, 승강판(53)에 연결되어 가공 수단(7)을 유지하는 홀더(54)로 구성되고, 모터(52)가 볼나사(50)를 회동시키면, 이에 따라 승강판(53)이 가이드 레일(51)로 가이드되어 Z축 방향으로 왕복 이동하고, 홀더(54)에 유지된 가공 수단(7)이 Z축 방향으로 연삭 이송된다.In the machining area B, a column 11 is provided upright. On the side surface of the column 11, a grinding and conveying means 5 for grinding and conveying the machining means 7 in the Z-axis direction is disposed. The grinding and conveying means 5 includes a ball screw 50 having a central axis in the Z-axis direction, a pair of guide rails 51 arranged in parallel with the ball screw 50, A steel plate 53 in which an inner nut is screwed to the ball screw 50 so that the side portion is in sliding contact with the guide rail 51, And the holder 52 is connected to the guide rail 51 so as to rotate the ball screw 50 so that the lift plate 53 is guided by the guide rail 51 And reciprocates in the Z-axis direction, and the machining means 7 held by the holder 54 is ground and transported in the Z-axis direction.

가공 수단(7)은, 축 방향이 Z축 방향인 회전축(70)과, 회전축(70)을 회전 가능하게 지지하는 하우징(71)과, 회전축(70)을 회전 구동하는 모터(72)와, 회전축(70)의 선단에 연결된 마운트(73)와, 마운트(73)의 하면에 착탈 가능하게 장착된 연삭 휠(74)을 구비한다.The processing means 7 includes a rotary shaft 70 whose axial direction is the Z axis direction, a housing 71 for rotatably supporting the rotary shaft 70, a motor 72 for rotating the rotary shaft 70, A mount 73 connected to the tip of the rotary shaft 70 and a grinding wheel 74 detachably mounted on the lower surface of the mount 73.

연삭 휠(74)은, 환형의 휠 베이스(74b)와, 휠 베이스(74b)의 바닥면(자유 단부)에 환형으로 배치된 복수의 대략 직방체 형상의 가공 지석(74a)으로 구성된다. 가공 지석(74a)은, 유리질, 세라믹질의 본드제인 비트리파이드로 다이아몬드 지립을 결합한 것이다. 비트리파이드로서는, 예컨대, 이산화규소(SiO2)를 주성분으로 하여, 융점을 제어하기 위해 미량의 첨가제를 부가하여도 좋다. 또한, 가공 지석(74a)의 형상은, 일체의 환형을 형성하고 있는 것이어도 좋다.The grinding wheel 74 is composed of an annular wheel base 74b and a plurality of substantially rectangular parallelepipeds of working stone 74a annularly arranged on the bottom surface (free end) of the wheel base 74b. The processed grindstone 74a combines diamond abrasive grains with Vitrified, a glass or ceramic bond. As the tritide, for example, silicon dioxide (SiO2) as a main component and a small amount of an additive may be added to control the melting point. The shape of the machined stone 74a may be an integral annular shape.

도 1에 나타내는 회전축(70)의 내부에는, 가공수 공급 수단(8)에 연통하여 가공수의 통로가 되는 유로(70a)가, 회전축(70)의 축 방향(Z축 방향)으로 관통하여 마련되어 있고, 유로(70a)를 통과한 가공수는, 마운트(73)를 지나, 휠 베이스(74b)로부터 가공 지석(74a)을 향하여 분출할 수 있게 되어 있다.1, a flow passage 70a, which is communicated with the process water supply means 8 to be a passage for the process water, is provided so as to penetrate in the axial direction (Z-axis direction) of the rotary shaft 70 The machined water that has passed through the oil passage 70a can be ejected from the wheel base 74b toward the machining stone 74a through the mount 73. [

도 1에 나타내는 가공수 공급 수단(8)은, 예컨대, 물(예컨대, 순수)을 비축한 가공수원(80)과, 가공수원(80)에 접속되며 유로(70a)에 연통하는 배관(81)과, 배관(81) 상의 임의의 위치에 배치되어 가공수의 유량을 조정하는 조정 밸브(82)를 구비한다.1 includes a processing water source 80 in which water (for example, pure water) is stored and a pipe 81 connected to the processing water source 80 and communicating with the flow path 70a. The processing water supply means 8 shown in Fig. And an adjusting valve 82 disposed at an arbitrary position on the pipe 81 to adjust the flow rate of the working water.

연삭 장치(1)는, 도 1, 2에 나타내는 바와 같이, 예컨대 유지 테이블(30)에 인접하여 배치되고, 유지 테이블(30)로 유지된 피가공물(W)을 연삭하는 가공 지석(74a)의 가공면(하면)에 미리 정해진 파장의 광을 조사하는 광 조사 수단(9)을 구비하고 있다. 도 2에 나타내는 바와 같이, 광 조사 수단(9)은, 예컨대, 대략 원호형의 외형을 구비한 받침대(90)와, 받침대(90)의 상면에 복수(도시된 예에 있어서는 4개) 배열되도록 배치된 발광부(91)와, 발광부(91)를 향하여 세정수(예컨대, 순수)를 공급하는 세정수 공급부(92)와, 발광부(91)에 오물이 부착하여 버리는 것을 막는 커버(93)를 구비하고 있다.1 and 2, the grinding apparatus 1 includes a grinding wheel 74a disposed adjacent to the holding table 30 and adapted to grind the workpiece W held by the holding table 30 And a light irradiating means (9) for irradiating a light having a predetermined wavelength to the processed surface (lower surface). 2, the light irradiating means 9 includes, for example, a pedestal 90 having a substantially arc-shaped outer shape and a plurality of (four in the illustrated example) arrays on the upper surface of the pedestal 90 A cleaning water supply portion 92 for supplying cleaning water (for example, pure water) toward the light emitting portion 91 and a cover 93 .

받침대(90)의 상면에 형성된 오목부에 매설되어 있는 발광부(91)는, 예컨대 저압 수은 램프나 UVLED이고, 미리 정해진 파장의 광을 발광할 수 있어, 도시하지 않는 스위치에 의해 온/오프를 전환할 수 있다. 발광부(91)는 예컨대 2파장의 광을 발광할 수 있고, 80 ㎚ 이상 200 ㎚ 이하의 파장의 광과 240 ㎚ 이상 280 ㎚ 이하의 파장의 광을 발광할 수 있으면 바람직하다. 또한, 발광부(91)는, 파장 365 ㎚의 광을 발광할 수 있으면 더욱 바람직하다. 본 실시형태에 있어서의 발광부(91)는, 2파장 LED 또는 저압 수은 램프이며, 파장 184.9 ㎚의 자외광과 파장 253.7 ㎚의 자외광을 동시에 발광할 수 있다.The light emitting portion 91 buried in the concave portion formed on the upper surface of the pedestal 90 is, for example, a low-pressure mercury lamp or UVLED, and can emit light of a predetermined wavelength. You can switch. The light emitting portion 91 is preferably capable of emitting light of two wavelengths and capable of emitting light of a wavelength of 80 to 200 nm and light of a wavelength of 240 to 280 nm. It is more preferable that the light emitting portion 91 can emit light with a wavelength of 365 nm. The light emitting portion 91 in the present embodiment is a double-wavelength LED or a low-pressure mercury lamp and can emit ultraviolet light having a wavelength of 184.9 nm and ultraviolet light having a wavelength of 253.7 nm at the same time.

판형의 커버(93)는, 예컨대, 발광부(91)가 만들어 내는 광을 투과시키는 유리 등의 투명 부재로 구성되어 있고, 받침대(90)의 상면에 발광부(91)를 덮도록 고정되어 있다. 예컨대, 받침대(90)는, 도시하지 않는 Z축 방향 이동 수단에 의해 상하 이동 가능하게 되어 있고, 연삭 가공을 실시할 때에 커버(93)의 상면의 높이 위치를 가공 지석(74a)의 연삭 이송 위치를 고려한 원하는 높이 위치에 설정할 수 있다.The plate-like cover 93 is made of, for example, a transparent member such as glass that transmits light produced by the light emitting portion 91, and is fixed on the upper surface of the pedestal 90 so as to cover the light emitting portion 91 . For example, the pedestal 90 is vertically movable by a Z-axis direction moving means (not shown). When the grinding process is performed, the height position of the upper surface of the cover 93 is set to the grinding feed position To the desired height position.

세정수 공급부(92)는, 예컨대, 물(예컨대, 순수)을 비축한 도시하지 않는 세정수원과, 세정수원에 연통하는 세정수 노즐(920)을 구비하고 있다. 세정수 노즐(920)은, 예컨대, 받침대(90)의 측면에 받침대(90)를 따르도록 고정되어 있고, 세정수를 커버(93) 상면을 향하여 분사 가능한 분사구(920a)가 복수 길이 방향으로 정렬하여 마련되어 있다. 분사구(920a)는, 분사한 세정수를 커버(93)의 상면 상에서 청류화(淸流化)할 수 있도록 형상, 사이즈 및 발광부(91)에 대한 각도 등이 설정되어 있다. 분사구(920a)는, 도 2와 같이 가는 폭의 슬릿형으로 형성되어 있고, 세정수 노즐(920)의 측면 등에 복수 정렬하여 마련되어 있으면 바람직하지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 예컨대 분사구(920a)는, 둥근 구멍형으로 형성되어, 세정수 노즐(920)의 측면 등에 복수 정렬하여 마련되어 있어도 좋다. 또는, 세정수 노즐(920)의 측면 등에 1개의 연속적으로 연장되는 가는 폭의 슬릿형으로 분사구(920a)는 형성되어 있어도 좋다.The cleaning water supply unit 92 includes, for example, a cleaning water source (not shown) that reserves water (for example, pure water) and a cleaning water nozzle 920 that communicates with the cleaning water source. The cleaning water nozzle 920 is fixed to the side surface of the pedestal 90 along the pedestal 90 so that the injection port 920a capable of spraying the cleaning water toward the upper surface of the cover 93 is aligned Respectively. The shape and size of the jetting port 920a and the angle with respect to the light emitting portion 91 are set so that jetted cleansing water can be cleaned on the upper surface of the cover 93. As shown in Fig. 2, the jetting ports 920a are formed in a slit shape having a narrow width, and it is preferable that a plurality of jetting ports 920a are provided on the side surface of the cleaning water nozzle 920, but the present invention is not limited thereto. For example, the ejection openings 920a may be formed in a round hole shape, and may be arranged in plural on the side surface of the washing water nozzle 920 or the like. Alternatively, the injection port 920a may be formed in a slit shape having a narrow width extending continuously one on the side surface of the washing water nozzle 920. [

이하에, 도 1에 나타내는 연삭 장치(1)를 이용하여 본 발명에 따른 가공 방법을 실시하는 경우의, 가공 방법의 각 단계 및 연삭 장치(1)의 동작에 대해서 설명해 간다.Hereinafter, the respective steps of the machining method and the operation of the grinding apparatus 1 when the machining method according to the present invention is performed using the grinding apparatus 1 shown in Fig. 1 will be described.

도 1에 나타내는 외형이 원형 판형인 피가공물(W)은, 예컨대, 난삭제의 SiC로 형성되는 반도체 웨이퍼이며, 도 1에 있어서 하측을 향하고 있는 피가공물(W)의 표면(Wa)에는, 분할 예정 라인에 의해 구획된 격자형의 영역에 다수의 디바이스가 형성되어 있고, 표면(Wa)을 보호하는 보호 테이프(T)가 점착되어 있다. 피가공물(W)의 이면(Wb)은 연삭 휠(74)로 연삭되는 피연삭면이 된다. 또한, 피가공물(W)의 형상 및 종류는 특별히 한정되는 것이 아니며, 연삭 휠(74)과의 관계로 적절하게 변경 가능하고, GaAS 또는 GaN 등으로 형성되는 웨이퍼나, 금속으로 형성된 웨이퍼 또는 금속 전극이 부분적으로 웨이퍼의 이면에 노출한 웨이퍼도 포함된다.A workpiece W having an external shape shown in Fig. 1 having a circular plate shape is a semiconductor wafer formed of, for example, SiC with an arc removed. In the surface Wa of the workpiece W facing downward in Fig. 1, A plurality of devices are formed in a grid-shaped area defined by the planned line, and a protective tape T for protecting the surface Wa is adhered. The back surface Wb of the workpiece W becomes the surface to be ground to be ground by the grinding wheel 74. [ The shape and the type of the workpiece W are not particularly limited and may be suitably changed in relation to the grinding wheel 74, and may be a wafer formed of GaAS or GaN, a wafer formed of a metal or a metal electrode And a wafer partially exposed on the back surface of the wafer.

(1) 유지 단계(1) Maintenance step

먼저, 착탈 영역(A) 내에 있어서, 피가공물(W)이, 이면(Wb)이 상측이 되도록 유지 테이블(30)의 유지면(300a) 상에 배치된다. 그리고, 도시하지 않는 흡인원에 의해 만들어진 흡인력이 유지면(300a)에 전달됨으로써, 유지 테이블(30)이 유지면(300a) 상에서 피가공물(W)을 흡인 유지한다. 피가공물(W)은, 완만한 원추면인 유지면(300a)을 따라 흡인 유지된 상태가 된다.First, in the attaching / detaching area A, the workpiece W is placed on the holding surface 300a of the holding table 30 such that the back side Wb is on the upper side. Then, a suction force generated by a suction source (not shown) is transmitted to the holding surface 300a, whereby the holding table 30 holds the workpiece W on the holding surface 300a. The workpiece W is attracted and held along the holding surface 300a which is a gently conical surface.

(2) 가공 단계(2) Processing step

유지 테이블(30)이, 도시하지 않는 Y축 방향 이송 수단에 의해 가공 수단(7)의 아래까지 +Y 방향으로 이동하여, 연삭 휠(74)과 유지 테이블(30)에 유지된 피가공물(W)과의 위치 맞춤이 이루어진다. 위치 맞춤은, 예컨대, 연삭 휠(74)의 회전 중심이 피가공물(W)의 회전 중심에 대하여 미리 정해진 거리만큼 +Y 방향으로 어긋나, 가공 지석(74a)의 회전 궤적이 피가공물(W)의 회전 중심을 지나도록 행해진다. 또한, 완만한 원추면인 유지면(300a)이, 가공 지석(74a)의 하면인 가공면에 대하여 평행해지도록 유지 테이블(30)의 경사가 조정됨으로써, 피가공물(W)의 이면(Wb)이 가공 지석(74a)의 가공면에 대하여 평행해진다.The holding table 30 moves in the + Y direction to the lower side of the processing means 7 by Y-axis direction transfer means (not shown) to transfer the workpiece W held by the grinding wheel 74 and the holding table 30 Are aligned with each other. The position of alignment of the work W is shifted in the + Y direction by a predetermined distance with respect to the center of rotation of the work W so that the rotation locus of the work grindstone 74a Is made to pass through the rotation center. The inclination of the holding table 30 is adjusted such that the holding surface 300a which is a gentle conical surface is parallel to the machining surface which is the lower surface of the working grindstone 74a so that the back surface Wb of the workpiece W And becomes parallel to the machining surface of the machined stone 74a.

연삭 휠(74)과 피가공물(W)의 위치 맞춤이 행해진 후, 모터(72)에 의해 회전축(70)이 회전 구동되는 데 따라, 도 3에 나타내는 바와 같이, 연삭 휠(74)이, +Z 방향측에서 보아 반시계 방향으로 회전한다. 또한, 가공 수단(7)이 연삭 이송 수단(5)에 의해 -Z 방향으로 보내지고, 가공 수단(7)에 구비하는 연삭 휠(74)이 -Z 방향으로 강하해 가, 가공 지석(74a)이 피가공물(W)의 이면(Wb)에 접촉함으로써 연삭 가공이 행해진다. 또한, 연삭 중은, 유지 테이블(30)이 +Z 방향측에서 보아 반시계 방향으로 회전하는 데 따라 피가공물(W)도 회전하기 때문에, 가공 지석(74a)이 피가공물(W)의 이면(Wb)의 전체면의 연삭 가공을 행한다.3, after the grinding wheel 74 and the workpiece W are aligned, the grinding wheel 74 is rotated in the + direction by the rotation of the rotary shaft 70 by the motor 72, And rotates counterclockwise when viewed from the Z direction. The machining means 7 is sent in the -Z direction by the grinding and conveying means 5 and the grinding wheel 74 provided in the machining means 7 descends in the -Z direction, Is brought into contact with the back surface (Wb) of the work (W). During grinding, since the workpiece W rotates as the holding table 30 rotates in the counterclockwise direction as viewed from the + Z direction, the working grindstone 74a is located on the back surface of the workpiece W 0.0 > Wb < / RTI >

연삭 가공 중에 있어서는, 가공수 공급 수단(8)이 가공수를 회전축(70) 내의 유로(70a)에 대하여 공급한다. 도 3에 나타내는 바와 같이, 유로(70a)에 공급된 가공수는, 마운트(73)의 내부에 마운트(73)의 둘레 방향으로 일정한 간격을 두고 형성된 유로(73b)를 지나, 더욱 휠 베이스(74b)의 분사구(74d)로부터 가공 지석(74a)을 향하여 분사된다.During the grinding process, the process water supply means 8 supplies the process water to the flow path 70a in the rotary shaft 70. 3, the working water supplied to the oil passage 70a passes through the oil passage 73b formed in the mount 73 at regular intervals in the circumferential direction of the mount 73 and further passes through the wheel base 74b From the jetting port 74d of the working stone 74a.

피가공물(W)은 유지 테이블(30)이 완만한 원추면인 유지면(300a) 상에 유지면(300a)을 따라 흡인 유지되어 있기 때문에, 도 4의 (a)에 이점 쇄선으로 나타내는 연삭 휠(74)의 회전 궤적 중의 영역(E)[이하, 가공 영역(E)이라 함]에 있어서, 가공 지석(74a)은 피가공물(W)에 접촉하여 연삭을 행한다.Since the workpiece W is attracted and held along the holding surface 300a on the holding surface 300a which is a gentle conical surface of the holding table 30, the grinding wheel 30 shown in Fig. 4 (a) The machined stone 74a comes into contact with the workpiece W and performs grinding in an area E (hereinafter referred to as machining area E)

유지 테이블(30)에 인접하여 배치되는 광 조사 수단(9)은, 예컨대, 연삭 휠(74)과 유지 테이블(30)의 위치 맞춤이 이루어진 상태에 있어서, 도 4의 (a)에 나타내는 바와 같이 유지 테이블(30) 및 연삭 휠(74)의 회전 궤적 상에 있어서 연삭 휠(74)이 유지 테이블(30)로 유지된 피가공물(W)에 진입하기 직전, 즉, 가공 영역(E)에 가공 지석(74a)이 진입하기 직전에 배치된다.The light irradiating means 9 disposed adjacent to the holding table 30 is configured such that when the grinding wheel 74 and the holding table 30 are aligned with each other, Immediately before the grinding wheel 74 enters the workpiece W held by the holding table 30 on the rotational locus of the holding table 30 and the grinding wheel 74, And is disposed immediately before the grindstone 74a enters.

연삭 가공의 개시에 따라, 도 4의 (b)에 나타내는 바와 같이, 발광부(91)가 온 상태가 되고, 발광부(91)가 예컨대 파장 184.9 ㎚의 자외광과 파장 253.7 ㎚의 자외광을 +Z 방향을 향하여 조사한다. 조사된 광은, 커버(93)를 투과하여 가공 영역(E)에 진입하기 직전의 가공 지석(74a)의 하면에 조사된다.4 (b), the light emitting portion 91 is turned on, and the light emitting portion 91 emits ultraviolet light having a wavelength of 184.9 nm and ultraviolet light having a wavelength of 253.7 nm + Z direction. The irradiated light is irradiated to the lower surface of the processed grindstone 74a immediately before entering the machining area E through the cover 93. [

가공 영역(E)에 진입하기 직전의 가공 지석(74a)의 하면에 대하여 파장 184.9 ㎚의 자외광이 조사됨으로써, 가공 지석(74a)의 하면과 발광부(91) 사이에 존재하는 공기 중의 산소 분자가 자외광을 흡수하여, 기저 상태의 산소 원자를 생성한다. 생성된 산소 원자는 주위의 산소 분자와 결합하여 오존을 생성한다. 또한, 파장 184.9 ㎚의 자외광은, 가공 지석(74a)의 가공면에 부착된 연삭 부스러기에 의한 유기 오염물 등의 분자간 결합 및 원자간 결합을 절단하여 여기 상태로 함으로써, 유기 오염물을 분해해 간다. 또한, 발생한 오존이 파장 253.7 ㎚의 자외광을 흡수함으로써, 여기 상태의 활성 산소가 생성된다. 활성 산소나 오존은 높은 산화력을 갖기 때문에, 가공 지석(74a)의 가공면에 생긴 탄소나 수소 등과 결합하여, 히드록실기, 알데히드기 및 카르복실기 등의 극성이 큰 친수기를 가공 지석(74a)의 가공면에 형성해 간다. 그 결과, 가공 지석(74a)이 친수화하여, 가공 지석(74a)의 가공면에 있어서 가공수가 물방울이 되기 어려워져, 가공 지석(74a)의 가공면 전체에 가공수가 수막형으로 퍼지기 쉬워진다.Ultraviolet light having a wavelength of 184.9 nm is irradiated to the lower surface of the processed grindstone 74a immediately before entering the machining area E so that oxygen molecules in the air existing between the lower surface of the processed grindstone 74a and the light emitting part 91 Absorbs ultraviolet light to generate oxygen atoms in a ground state. The resulting oxygen atoms combine with surrounding oxygen molecules to produce ozone. The ultraviolet light having a wavelength of 184.9 nm decomposes the organic contaminants by breaking the intermolecular bonds and the intermolecular bonds such as organic contaminants caused by the grinding debris adhered to the processed surface of the processed grindstone 74a to excite them. In addition, the generated ozone absorbs ultraviolet light having a wavelength of 253.7 nm, thereby generating active oxygen in the excited state. Since active oxygen or ozone has a high oxidizing power, a hydrophilic group, such as a hydroxyl group, an aldehyde group, and a carboxyl group, having high polarity such as carbon or hydrogen generated on the machined surface of the processed grinding stone 74a, . As a result, the processed grindstone 74a becomes hydrophilic, so that water on the processed surface of the processed grindstone 74a is less likely to become water droplets, and the processed water becomes easier to spread over the entire processed surface of the processed grindstone 74a.

친수화한 가공 지석(74a)은 많은 가공수를 수반하여 가공 영역(E) 내로 진입하여 피가공물(W)의 이면(Wb)을 연삭한다. 가공수가 피가공물(W)의 이면(Wb)과 가공 지석(74a)의 가공면의 접촉 부위에 보다 많이 들어감으로써, 접촉 부위에 발생하는 마찰열의 발생이 억제된다.The hydrophilic processed grinding stone 74a enters the processing region E with a large number of processing wafers and grinds the back surface Wb of the workpiece W. [ The machining water enters the contact portion between the back surface Wb of the workpiece W and the machined surface of the machined stone 74a more and more, thereby suppressing the generation of frictional heat occurring at the contact portion.

도 5에 나타내는 바와 같이, 연삭 가공 중에 있어서는, 세정수 공급부(92)가 세정수를 커버(93)의 상면을 향하여 공급한다. 즉, 도시하지 않는 세정수원으로부터 세정수 노즐(920)에 세정수가 공급되고, 이 세정수가 분사구(920a)로부터 노즐 외부를 향하여 분출하여, 포물선을 그리도록 하여 커버(93) 상에 도달한다. 그리고, 세정수가, 흐름이 적절하게 정류화되면서 커버(93) 상에 부착하고 있는 연삭 부스러기 등의 오물을 제거함으로써, 연삭 중에 있어서 발광부(91)가 만들어 내는 광이 가공 지석(74a)의 가공면에 적절하게 조사되는 상태가 유지된다.As shown in Fig. 5, during the grinding process, the rinsing water supply unit 92 supplies rinsing water toward the upper surface of the cover 93. As shown in Fig. That is, washing water is supplied to the washing water nozzle 920 from a washing water source (not shown), and the washing water is ejected from the ejection opening 920a toward the outside of the nozzle to reach the cover 93 so as to draw a parabola. The cleaning water is then rectified appropriately to remove dust such as grinding debris adhering to the cover 93 so that the light generated by the light emitting portion 91 during grinding is processed So that the surface is properly irradiated.

본 발명에 따른 피가공물의 가공 방법은, 피가공물(W)을 유지하는 유지면(300a)을 갖는 유지 테이블(30)로 피가공물(W)를 유지하는 유지 단계와, 유지 단계를 실시한 후, 지립을 비트리파이드로 결합한 가공 지석(74a)을 포함하는 가공 수단(7)으로 피가공물(W)을 연삭 가공하는 가공 단계를 포함하고, 가공 단계에서는 피가공물(W)에 가공수를 공급함과 아울러, 미리 정해진 파장의 광을 광 조사 수단(9)으로부터 가공 지석(74a)의 가공면에 조사함으로써, 피가공물(W)의 이면(Wb)과 가공 지석(74a)의 가공면의 접촉 부위에 보다 많은 가공수를 넣어, 접촉 부위에 발생하는 마찰열의 발생을 억제하여 가공 지석(74a)의 마모(적절한 셀프 샤프닝을 재촉하는 마모를 넘는 이상 마모)를 억제할 수 있다. 또한, 피가공물(W)의 이면(Wb)과 가공 지석(74a)의 가공면의 접촉 부위에 생기는 연삭 부스러기를, 가공수에 의해 효율적으로 배제해 갈 수 있다. 또한, 가공 지석(74a)의 친수화 등에 의해, 가공 지석(74a)이 피가공물(W)을 연삭하는 가공 영역(E)에 효과적으로 가공수가 공급되기 때문에, 가공열의 상승에 의한 웨이퍼 버닝의 발생 등의 가공 품질의 악화를 방지할 수 있어, 피가공물(W)이 난삭제로 형성된 웨이퍼라도 원활하게 안정된 연삭을 실시하는 것이 가능해진다.A method of processing a workpiece according to the present invention includes a holding step of holding a workpiece W with a holding table 30 having a holding surface 300a for holding the workpiece W, And a machining step of grinding the workpiece W with the machining means 7 including the machining stone 74a having the abrasive grains bonded to the workpiece W in a non-trivial manner. In the machining step, the machining water is supplied to the workpiece W By irradiating light of a predetermined wavelength from the light irradiating means 9 to the machining surface of the machining stone 74a, it is possible to irradiate the contact surface between the back surface Wb of the work W and the machining surface of the machining stone 74a It is possible to suppress the generation of the frictional heat generated at the contact portion by putting more processing water into the abrasive grains 74a, thereby suppressing the abrasion of the processed grindstone 74a (abnormal abrasion beyond abrasion that prompts proper self sharpening). It is also possible to effectively eliminate the grinding debris generated at the contact portion between the back surface Wb of the workpiece W and the machined surface of the machining stone 74a by the machining water. In addition, since the machining wheel 74a effectively supplies the machining water to the machining area E for grinding the workpiece W due to the hydrophilization of the machined stone 74a, the occurrence of wafer burning Deterioration of the machining quality of the workpiece W can be prevented, and it is possible to smoothly perform stable grinding even on a wafer formed with a machining process.

본 발명의 발명자는, 본 발명에 따른 가공 방법의 가공 단계에 있어서의 가공 지석의 가공면에 대한 파장 365 ㎚의 광 조사의 효과를 검증하기 위해, 하기의 실험 1을 행하였다. 실험 1에 있어서는, 원형 판형의 피가공물(W)로서 두께 10 ㎜의 소다 유리판을 채용하였다. 또한, 연삭 휠(74)의 가공 지석(74a)은, 입경 #1000의 다이아몬드 지립을 비트리파이드 본드로 결합한 것을 채용하였다.The inventor of the present invention conducted the following Experiment 1 in order to verify the effect of light irradiation at a wavelength of 365 nm on the machined surface of the processed grinding stone in the processing step of the processing method according to the present invention. In Experiment 1, a soda glass plate having a thickness of 10 mm was used as a workpiece W of a circular plate shape. The working stone 74a of the grinding wheel 74 employed a diamond abrasive grains having a grain size of # 1000 bonded with a non-trippled bond.

실험 1에 있어서는, 유지 단계를 실시한 후, 가공 단계를 이하에 나타내는 가공 조건으로 실시하였다.In Experiment 1, after the holding step, the processing step was carried out under the processing conditions shown below.

연삭 휠(74)의 회전수(rpm): 2000 rpmRotation speed (rpm) of grinding wheel 74: 2000 rpm

유지 테이블(30)의 회전수(rpm): 300 rpm(Rpm) of the holding table 30: 300 rpm

연삭 휠(74)의 연삭 이송 속도(하강 속도): 0.5 ㎛/초Grinding feed rate (descending speed) of the grinding wheel 74: 0.5 m / sec

실험 1에서는, 가공 단계에 있어서, 도 2에 나타내는 광 조사 수단(9)의 발광부(91)로서 LED 라이트를 이용하여, 파장 365 ㎚의 자외광을 연삭 휠(74)의 가공 지석(74a)의 하면에 조사하면서 피가공물(W)을 50 ㎛ 연삭하고, 계속해서, 발광부(91)로부터의 가공 지석(74a)의 하면에 대한 자외광의 조사를 정지하면서 피가공물(W)을 50 ㎛ 연삭하고, 이러한 자외광의 조사를 수반하는 연삭과 자외광의 조사를 수반하지 않는 연삭을 반복해서 연속적으로 실시하였다. 가공수의 가공 지석(74a)의 공급 등은, 전술한 가공 단계와 동일하게 행하였다.In Experiment 1, ultraviolet light having a wavelength of 365 nm was irradiated onto the working grindstone 74a of the grinding wheel 74 by using LED light as the light emitting portion 91 of the light irradiating means 9 shown in Fig. While the irradiation of the ultraviolet light to the lower surface of the working grindstone 74a from the light emitting portion 91 is stopped while the work W is grinded to 50 mu m Grinding, and grinding with irradiation of such ultraviolet light and grinding without irradiation of ultraviolet light were repeatedly performed continuously. The supply of the machining wheel 74a of the machining water and the like were carried out in the same manner as the machining step described above.

도 6에 나타내는 플롯도(P1)는, 실험 1에서 얻어진 측정값을 플롯한 것이며, 플롯도(P1)에 있어서, 횡축은 피가공물(W)을 50 ㎛ 연삭마다의 연삭 휠(74)의 가공 지석(74a)의 소모량(㎛)을 나타내고, 종축은 연삭 휠(74)이 피가공물(W)을 50 ㎛ 연삭 중에 받은 최대 가공 하중(N)을 나타내고 있다. 측정한 자외광을 조사하면서 연삭을 행하였을 때의 가공 지석(74a)의 소모량값과 연삭 휠(74)이 받은 최대 가공 하중값은, 플롯도(P1)에 있어서 둥근점으로 나타내고 있고, 파선으로 나타내는 그래프(G1)에 의해 그 추이를 파악하기 쉽게 나타내고 있다. 또한, 측정한 자외광을 조사하지 않고 연삭을 행하였을 때의 가공 지석(74a)의 소모량값과 연삭 휠(74)이 받은 최대 가공 하중값은, 플롯도(P1)에 있어서 삼각점으로 나타내고 있고, 일점 쇄선으로 나타내는 그래프(G2)에 의해 그 추이를 파악하기 쉽게 나타내고 있다.6 is a plot of the measured values obtained in Experiment 1. In the plot diagram P1, the abscissa indicates the machining of the workpiece W by 50 占 퐉 of the grinding wheel 74 for each grinding, (Mu m) of the grinding wheel 74a and the vertical axis represents the maximum working load N that the grinding wheel 74 has received during grinding the workpiece W by 50 mu m. The consumed amount of the working grindstone 74a and the maximum working load value received by the grinding wheel 74 when grinding is performed while irradiating the measured ultraviolet light are represented by a round point in the plot P1, The graph G1 shows the trend easily. The consumed amount of the working grindstone 74a and the maximum working load value received by the grinding wheel 74 when grinding was performed without irradiating the measured ultraviolet light are represented by triangles in the plot P1, And the graph (G2) indicated by the dashed line shows the trend easily.

플롯도(P1)로부터 판독할 수 있듯이, 파장 365 ㎚의 자외광을 연삭 휠(74)의 가공 지석(74a)의 하면에 조사하면서 피가공물(W)의 연삭 가공을 행한 경우에는, 자외광을 조사하지 않는 경우에 비해서, 가공 지석(74a)의 소모량 및 연삭 휠(74)이 연삭 시에 받는 하중을 낮게 억제할 수 있었다. 연삭 휠(74)이 받는 가공 하중을 이와 같이 낮게 억제할 수 있으면, 도 1에 나타내는 연삭 이송 수단(5)의 모터(52)가 받는 부하를 줄게 하거나, 가공 부하에 의해 볼나사(50)에 백래시가 발생하여 버리는 것을 막을 수 있거나 한다. 또한, 연삭 휠(74)이 받는 가공 하중을 동하중에 맞추어 비교한 경우, 파장 365 ㎚의 자외광을 연삭 휠(74)의 가공 지석(74a)의 하면에 조사하면서 연삭한 경우는 자외광을 조사하지 않는 경우에 비해서, 가공 지석(74a)의 소모량을 약 20% 낮게 억제할 수 있었다.As can be read from the plot P1, in the case of grinding the workpiece W while irradiating ultraviolet light having a wavelength of 365 nm onto the lower surface of the working grindstone 74a of the grinding wheel 74, The consumed amount of the processed grindstone 74a and the load exerted by the grinding wheel 74 upon grinding can be suppressed to a low level as compared with the case where the grinding wheel 74 is not irradiated. If the working load received by the grinding wheel 74 can be suppressed to such a low level, the load applied to the motor 52 of the grinding and conveying means 5 shown in Fig. 1 may be reduced, or the load applied to the ball screw 50 It is possible to prevent backlash from occurring. When grinding is performed while irradiating the lower surface of the working stone 74a of the grinding wheel 74 with ultraviolet light having a wavelength of 365 nm in the case of comparing the working load received by the grinding wheel 74 to the dynamic load, The consumed amount of the machining stone 74a can be suppressed to about 20% lower than in the case where the machined stone 74a is not used.

(실시형태 2)(Embodiment 2)

도 7에 나타내는 절삭 장치(2)는, 유지 테이블(20)의 유지면(200a)에 유지된 피가공물(W)에 대하여, 가공 수단(21)이 구비하는 절삭 블레이드(210)를 회전시켜 절입시켜 절삭 가공을 실시하는 장치이다.The cutting apparatus 2 shown in Fig. 7 rotates the cutting blade 210 provided in the processing means 21 with respect to the workpiece W held on the holding surface 200a of the holding table 20, Thereby performing cutting processing.

절삭 장치(2)의 베이스(2A) 상에는, 절삭 이송 방향(X축 방향)으로 유지 테이블(20)을 왕복 이동시키는 절삭 이송 수단(22)이 배치되어 있다. 절삭 이송 수단(22)은, X축 방향의 축심을 갖는 볼나사(220)와, 볼나사(220)와 평행하게 배치된 한쌍의 가이드 레일(221)과, 볼나사(220)를 회동시키는 모터(222)와, 내부의 너트가 볼나사(220)에 나사 결합하여 바닥부가 가이드 레일(221)에 미끄럼 접촉하는 가동판(223)으로 구성된다. 그리고, 모터(222)가 볼나사(220)를 회동시키면, 이에 따라 가동판(223)이 가이드 레일(221)에 가이드되어 X축 방향으로 이동하고, 가동판(223) 상에 배치된 유지 테이블(20)도 X축 방향으로 이동한다.On the base 2A of the cutting apparatus 2, a cutting / conveying means 22 for reciprocating the holding table 20 in the cutting / conveying direction (X-axis direction) is disposed. The cutting and conveying means 22 includes a ball screw 220 having an axis in the X axis direction, a pair of guide rails 221 arranged in parallel with the ball screw 220, And a movable plate 223 in which the nut is screwed to the ball screw 220 and the bottom portion thereof is in sliding contact with the guide rail 221. When the motor 222 rotates the ball screw 220, the movable plate 223 is guided by the guide rails 221 to move in the X-axis direction, and the holding plate 223, which is disposed on the movable plate 223, (20) also moves in the X-axis direction.

가동판(223) 상에 배치된 유지 테이블(20)은, 예컨대, 그 외형이 원형상이고, 다공성 부재로 이루어져 피가공물(W)을 흡착하는 흡착부(200)와, 흡착부(200)를 지지하는 프레임(201)을 구비한다. 흡착부(200)는 도시하지 않는 흡인원에 연통하여, 흡착부(200)의 노출면인 유지면(200a) 상에서 피가공물(W)을 흡인 유지한다. 유지 테이블(20)은, 유지 테이블(20)의 바닥면측에 배치된 회전 수단(202)에 의해 회전 가능하게 되어 있다. 유지 테이블(20)의 주위에는, 고정 클램프(204)가 도시된 예에서는 4개가 균등한 간격으로 배치되어 있다.The holding table 20 disposed on the movable plate 223 is constituted by a suction part 200 which is formed in a circular shape and whose external shape is a porous member and which suctions the workpiece W, And a frame 201 which is provided with a frame. The adsorption unit 200 communicates with a suction source (not shown) and sucks and holds the workpiece W on the holding surface 200a, which is the exposed surface of the adsorption unit 200. [ The holding table 20 is rotatable by a rotating means 202 disposed on the bottom surface side of the holding table 20. [ At the periphery of the holding table 20, four fixed clamps 204 are arranged at equal intervals in the illustrated example.

베이스(2A) 상의 중앙으로부터 후방측(+Y 방향측)에 걸쳐서는, Y축 방향으로 가공 수단(21)을 왕복 이동시키는 인덱싱 이송 수단(23)이 배치되어 있다. 인덱싱 이송 수단(23)은, Y축 방향의 축심을 갖는 볼나사(230)와, 볼나사(230)와 평행하게 배치된 한쌍의 가이드 레일(231)과, 볼나사(230)를 회동시키는 모터(232)와, 내부의 너트가 볼나사(230)에 나사 결합하여 바닥부가 가이드 레일(231)에 미끄럼 접촉하는 가동부(233)로 구성된다. 그리고, 모터(232)가 볼나사(230)를 회동시키면, 이에 따라 가동부(233)가 가이드 레일(231)에 가이드되어 Y축 방향으로 이동하고, 가동부(233)의 이동에 따라 가공 수단(21)이 Y축 방향으로 이동한다.An indexing conveying means 23 for reciprocating the processing means 21 in the Y-axis direction is disposed from the center on the base 2A to the rear side (+ Y direction side). The indexing and conveying means 23 includes a ball screw 230 having an axis in the Y axis direction, a pair of guide rails 231 disposed in parallel with the ball screw 230, And a movable portion 233 whose inner portion is screwed to the ball screw 230 so that the bottom portion thereof makes sliding contact with the guide rail 231. When the motor 232 rotates the ball screw 230, the movable portion 233 is guided by the guide rail 231 and moves in the Y-axis direction. As the movable portion 233 moves, Is moved in the Y-axis direction.

가동부(233) 상에는 칼럼(234)이 일체적으로 세워서 마련되어 있고, 칼럼(234)의 -X 방향측의 측면에는, Z축 방향으로 가공 수단(21)을 상하 이동시키는 절입 이송 수단(24)이 배치되어 있다. 절입 이송 수단(24)은, Z축 방향의 축심을 갖는 볼나사(240)와, 볼나사(240)와 평행하게 배치된 한쌍의 가이드 레일(241)과, 볼나사(240)를 회동시키는 모터(242)와, 내부의 너트가 볼나사(240)에 나사 결합하여 측부가 가이드 레일(241)에 미끄럼 접촉하는 지지 부재(243)로 구성된다. 그리고, 모터(242)가 볼나사(240)를 회동시키면, 이에 따라 지지 부재(243)가 가이드 레일(241)에 가이드되어 Z축 방향으로 이동하고, 지지 부재(243)가 지지하는 가공 수단(21)이 Z축 방향으로 절입 이송된다.An infeed conveying means 24 for moving the processing means 21 up and down in the Z-axis direction is provided on the side of the column 234 on the -X direction side, with a column 234 integrally standing on the movable portion 233 Respectively. The infeed and feed means 24 includes a ball screw 240 having an axis in the Z-axis direction, a pair of guide rails 241 disposed in parallel with the ball screw 240, And a support member 243 in which an inner nut is screwed to the ball screw 240 and the side portion is in sliding contact with the guide rail 241. When the motor 242 rotates the ball screw 240, the support member 243 is guided by the guide rail 241 and moves in the Z-axis direction, 21) is fed and fed in the Z-axis direction.

가공 수단(21)은, 축 방향이 유지 테이블(20)의 이동 방향(X축 방향)에 대하여 수평 방향으로 직교하는 쪽(Y축 방향)인 스핀들(211)과, 스핀들(211)을 회전 가능하게 지지하는 하우징(212)과, 하우징(212) 내부에 수용되어 스핀들(211)을 회전 구동하는 도시하지 않는 모터와, 스핀들(211)의 -Y 방향측의 선단부에 장착된 절삭 블레이드(210)를 구비하고 있고, 모터가 스핀들(211)을 회전 구동함으로써, 절삭 블레이드(210)도 고속 회전한다.The processing means 21 includes a spindle 211 whose axial direction is orthogonal to the moving direction (X-axis direction) of the holding table 20 in the horizontal direction (Y-axis direction) A motor (not shown) which is accommodated in the housing 212 and rotatably drives the spindle 211; a cutting blade 210 mounted on the tip of the spindle 211 in the -Y direction; And the cutting blade 210 also rotates at a high speed by the motor driving the spindle 211 to rotate.

하우징(212)의 측면에는, 피가공물(W)을 촬상하여 절삭 블레이드(210)를 절입시키는 위치를 검출하기 위한 얼라인먼트 수단(25)이 배치되어 있다. 얼라인먼트 수단(25)은, 피가공물(W)의 피절삭면을 촬상하는 얼라인먼트용 카메라(250)를 구비하고 있고, 얼라인먼트용 카메라(250)에 의해 취득한 화상에 기초하여, 패턴 매칭 등의 화상 처리에 의해 피가공물(W)의 절삭하여야 하는 분할 예정 라인(S)을 검출할 수 있다.On the side surface of the housing 212, an aligning means 25 for detecting the position of cutting the cutting blade 210 by picking up the workpiece W is disposed. The alignment means 25 is provided with an alignment camera 250 for picking up a surface to be cut of the workpiece W. Based on the image obtained by the alignment camera 250, The line to be divided S to be cut of the workpiece W can be detected.

도 8에 나타내는 절삭 블레이드(210)는, 예컨대, 중앙에 장착 구멍을 구비하는 외형이 환형인 와셔형의 블레이드이고, 그 전체가 가공 지석이 된다. 예컨대, 절삭 블레이드(210)는, 유리질, 세라믹질의 본드제인 비트리파이드로 다이아몬드 지립을 결합한 것이며, 비트리파이드로서는, 예컨대, 이산화규소(SiO2)를 주성분으로 하여, 장석 등을 미량 혼입한 것을 이용하고 있다. 절삭 블레이드(210)는, 착탈 플랜지(218)와 도시하지 않는 마운트 플랜지에 의해 Y축 방향 양측으로부터 끼워져 있고, 고정 너트(217)에 의한 체결에 의해 스핀들(211)에 장착되어 있다. 또한 절삭 블레이드(210)는, 알루미늄 등으로 이루어지는 베이스에 직경 방향 외측을 향하여 가공 지석을 돌출하도록 구비하는 허브 타입의 절삭 블레이드여도 좋다.The cutting blade 210 shown in Fig. 8 is, for example, a washer-shaped blade having an annular outer shape having a mounting hole at the center thereof, and the whole of the blade is a working stone. For example, the cutting blade 210 is formed by bonding diamond abrasive grains with non-tritide, which is a vitreous or ceramic bonding agent. As the non-tritide, for example, silicon nitride (SiO2) . The cutting blade 210 is sandwiched from both sides in the Y axis direction by a mounting flange 218 and a mount flange (not shown), and is attached to the spindle 211 by fastening by a fixing nut 217. The cutting blade 210 may be a hub-type cutting blade provided so as to protrude in the radially outward direction from the base made of aluminum or the like.

도 7, 8에 나타내는 바와 같이, 가공 수단(21)은, 예컨대, 절삭 블레이드(210)를 커버하는 블레이드 커버(219)를 구비하고 있다. 블레이드 커버(219)는, 그 대략 중앙부에 절삭 블레이드(210)를 수용하는 개구를 구비하고 있고, 하우징(212)에 장착됨으로써, 개구에 절삭 블레이드(210)를 위치 부여하여, 절삭 블레이드(210)를 상방으로부터 덮을 수 있다.As shown in Figs. 7 and 8, the processing means 21 includes a blade cover 219 covering the cutting blade 210, for example. The blade cover 219 has an opening for accommodating the cutting blade 210 at a substantially central portion thereof and is attached to the housing 212 so that the cutting blade 210 is positioned in the opening, Can be covered from above.

블레이드 커버(219)의 -X 방향측단에는, 지지 블록(213)이 조정 나사(213a)에 의해 Z축 방향으로 이동 가능하게 체결되어 있다. 지지 블록(213)에는, 한쌍의 가공수 노즐(214)이 고정되어 있다. 한쌍의 가공수 노즐(214)에는, 지지 블록(213)을 통하여 공급 호스(213b)로부터 가공수가 공급된다. 한쌍의 가공수 노즐(214)은, 절삭 블레이드(210)의 하부를 절삭 블레이드(210)의 측면 양측으로부터 끼우도록 하여 +X 방향측에 서로 평행하게 연장되어 있다. 한쌍의 가공수 노즐(214)의 선단측의 절삭 블레이드(210)에 상대하는 위치에는, 슬릿이 복수 X축 방향으로 정렬하여 마련되고 있고, 복수의 슬릿에 의해 측방으로부터 가공수가 분사되어, 절삭 블레이드(210)와 피가공물(W)의 접촉 부위의 냉각이 행해진다. 또한, 지지 블록(213)의 하단에는, 분사된 가공수를 -X 방향측으로 유도하는 한쌍의 비말 커버(213c)가 배치되어 있다.At the end of the blade cover 219 in the -X direction, the support block 213 is fixed by an adjusting screw 213a movably in the Z-axis direction. In the support block 213, a pair of process water nozzles 214 are fixed. Process water is supplied to the pair of the process water nozzles 214 from the supply hose 213b through the support block 213. [ The pair of working water nozzles 214 extend parallel to each other in the + X direction so as to sandwich the lower portion of the cutting blade 210 from both sides of the cutting blade 210. A plurality of slits are provided in alignment with a plurality of X-axis directions at positions corresponding to the cutting blades 210 on the tip side of a pair of the process water nozzles 214. Processed water is sprayed from the side by a plurality of slits, The contact portion between the workpiece 210 and the workpiece W is cooled. A pair of the droplet cover 213c for guiding the sprayed working water to the -X direction side is disposed at the lower end of the support block 213.

블레이드 커버(219)의 +X 방향측단에는, 가공수 블록(215)이, 조정 나사(215a)에 의해 Y축 방향으로 슬라이드 이동 가능하게 체결되어 있다. 도 8에 나타내는 바와 같이, 가공수 블록(215)에는, 절삭 블레이드(210)의 외주 방향으로부터 절삭 블레이드(210)에 대하여 가공수를 분사하는 가공수 노즐(216)이 배치되어 있다. 가공수 노즐(216)의 상단에는 공급 호스(215b)가 연통하고 있고, 가공수 노즐(216)의 하단인 가공수 분사구(216a)는 절삭 블레이드(210)의 선단면(가공면)을 향하여 개구하고 있다. 가공수 노즐(216)에 의해 외주 방향으로부터 절삭 블레이드(210)에 가공수가 분사됨으로써, 회전하는 절삭 블레이드(210)에 가공수가 말려들어가, 절삭 블레이드(210)와 피가공물(W)의 접촉 부위에 생기는 절삭 부스러기와 함께 -X 방향측으로 압출됨으로써, 접촉 부위의 세정 및 냉각이 행해진다.At the end in the + X direction of the blade cover 219, a worker male block 215 is fastened by an adjusting screw 215a so as to be slidable in the Y-axis direction. 8, a machining water nozzle 216 for spraying machining water to the cutting blade 210 is disposed in the machining water block 215 from the outer circumferential direction of the cutting blade 210. As shown in Fig. A supply water hose 215b communicates with the upper end of the process water nozzle 216. The process water nozzle opening 216a which is the lower end of the process water nozzle 216 opens toward the front end face . The machining water is sprayed to the cutting blade 210 from the outer circumferential direction by the machining water nozzle 216 so that the machining water is allowed to flow into the rotating cutting blade 210 and the machining water is supplied to the contact portion between the cutting blade 210 and the workpiece W And is extruded toward the -X direction together with the generated cutting debris, whereby the contact portion is cleaned and cooled.

절삭 장치(2)는, 절삭 블레이드(210)의 가공면(블레이드의 선단면)에 미리 정해진 파장의 광을 조사하는 광 조사 수단(4)을 구비하고 있다. 광 조사 수단(4)은, 예컨대, 예컨대 저압 수은 램프나 UV LED로 이루어지는 발광부(40)와, 발광부(40)의 온/오프를 전환하는 전원(41)을 구비하고 있다.The cutting apparatus 2 has a light irradiation means 4 for irradiating a light of a predetermined wavelength to a machining surface (front end surface of the blade) of the cutting blade 210. The light irradiating means 4 includes a light emitting portion 40 composed of a low pressure mercury lamp or UV LED and a power supply 41 for switching on / off of the light emitting portion 40, for example.

발광부(40)는, 예컨대, 절삭 블레이드(210)의 가공면에 직경 방향 외측으로부터 마주보도록 가공수 블록(215)에 배치되어 있고, 가공수 노즐(216)의 가공수 분사구(216a)보다 높은 위치에 위치하고 있다. 발광부(40)는 2 파장의 광을 발광할 수 있고, 80 ㎚ 이상 200 ㎚ 이하의 파장의 광과 240 ㎚ 이상 280 ㎚ 이하의 파장의 광을 발광할 수 있으면 바람직하다. 또한, 발광부(40)는, 파장 365 ㎚의 광을 발광할 수 있으면 더욱 바람직하다. 본 실시형태에 있어서의 발광부(40)는 2 파장 LED 또는 저압 수은 램프이고, 파장 184.9 ㎚의 자외광과 파장 253.7 ㎚의 자외광을 동시에 발광할 수 있다.The light emitting portion 40 is disposed on the machining water block 215 so as to be opposed to the machining surface of the cutting blade 210 from the outside in the radial direction and is positioned higher than the machining water jetting opening 216a of the machining water nozzle 216 Location. The light emitting portion 40 is preferably capable of emitting light having two wavelengths and capable of emitting light having a wavelength of 80 nm or more and 200 nm or less and light having a wavelength of 240 nm or more and 280 nm or less. It is more preferable that the light emitting portion 40 can emit light having a wavelength of 365 nm. The light emitting portion 40 in the present embodiment is a two-wavelength LED or a low-pressure mercury lamp, and can emit ultraviolet light having a wavelength of 184.9 nm and ultraviolet light having a wavelength of 253.7 nm at the same time.

이하에, 도 7에 나타내는 절삭 장치(2)를 이용하여 본 발명에 따른 가공 방법을 실시하는 경우의, 가공 방법의 각 단계 및 절삭 장치(2)의 동작에 대해서 설명해 간다.Hereinafter, the respective steps of the machining method and the operation of the cutting apparatus 2 when the machining method according to the present invention is performed using the cutting apparatus 2 shown in Fig. 7 will be described.

도 1에 나타내는 외형이 원형 판형인 피가공물(W)은, 예컨대, 난삭제의 SiC로 형성되는 반도체 웨이퍼이고, 도 7에 있어서는 상측을 향하고 있는 피가공물(W)의 표면(Wa)에는, 분할 예정 라인(S)에 의해 구획된 격자형의 영역에 다수의 디바이스(D)가 형성되어 있다. 피가공물(W)의 이면(Wb)에는, 피가공물(W)보다 대직경인 다이싱 테이프(T1)가 점착되어 있다. 다이싱 테이프(T1)의 점착면의 외주 영역에는 원형의 개구를 구비하는 환형 프레임(F)이 점착되어 있고, 피가공물(W)은, 다이싱 테이프(T1)를 통해 환형 프레임(F)에 의해 지지되어, 환형 프레임(F)을 통한 핸들링이 가능한 상태로 되어 있다. 또한, 피가공물(W)의 형상 및 종류는 특별히 한정되는 것이 아니며, 절삭 블레이드(210)와의 관계로 적절하게 변경 가능하고, GaAS 또는 GaN 등으로 형성되는 웨이퍼나, 금속으로 형성된 웨이퍼 또는 금속 전극이 부분적으로 웨이퍼의 이면에 노출한 웨이퍼도 포함된다.A workpiece W having an external shape shown in Fig. 1 having a circular plate shape is a semiconductor wafer formed of, for example, SiC with an arc removed. In Fig. 7, a surface Wa of a workpiece W, A plurality of devices D are formed in a lattice-shaped region defined by the planned line S. A dicing tape T1 having a larger diameter than the workpiece W is adhered to the back surface Wb of the workpiece W. [ An annular frame F having a circular opening is adhered to the outer peripheral region of the adhered surface of the dicing tape T1 and the work W is fixed to the annular frame F through the dicing tape T1 And is in a state ready for handling through the annular frame F. As shown in Fig. The shape and the type of the workpiece W are not particularly limited and may be suitably changed in relation to the cutting blade 210. A wafer formed of GaAS or GaN or a wafer or metal electrode made of a metal The wafer partially exposed on the back side of the wafer is also included.

(1) 유지 단계(1) Maintenance step

피가공물(W)이, 다이싱 테이프(T1)측을 아래로 하여 유지 테이블(20)의 유지면(200a) 상에 배치된다. 그리고, 도시하지 않는 흡인원에 의해 만들어지는 흡인력이 유지면(200a)에 전달됨으로써, 피가공물(W)이 유지 테이블(20)에 의해 흡인 유지된 상태가 된다. 또한, 각 고정 클램프(204)에 의해 환형 프레임(F)이 고정된다.The workpiece W is placed on the holding surface 200a of the holding table 20 with the dicing tape T1 side down. Then, a suction force generated by a suction source (not shown) is transmitted to the holding surface 200a, whereby the workpiece W is held by the holding table 20 in a suctioned state. Further, the annular frame F is fixed by each of the fixing clamps 204. [

(2) 가공 단계(2) Processing step

절삭 이송 수단(22)에 의해, 유지 테이블(20)에 유지된 피가공물(W)이 -X 방향으로 보내져, 절삭 블레이드(210)를 절입시켜야 하는 분할 예정 라인(S)의 Y축 방향의 좌표 위치가, 얼라인먼트 수단(25)에 의해 검출된다. 또한, 가공 수단(21)이 인덱싱 이송 수단(23)에 의해 Y축 방향으로 구동되어, 절삭하여야 하는 분할 예정 라인(S)과 절삭 블레이드(210)의 Y축 방향에 있어서의 위치 맞춤이 행해진다.The work W held by the holding table 20 is sent in the -X direction by the cutting and conveying means 22 so that the coordinates in the Y-axis direction of the line S to be divided, in which the cutting blade 210 is to be inserted The position is detected by the alignment means 25. Further, the machining means 21 is driven in the Y-axis direction by the indexing and conveying means 23, and alignment in the Y-axis direction of the to-be-divided line S to be cut and the cutting blade 210 is performed .

절입 이송 수단(24)이 가공 수단(21)을 -Z 방향으로 강하시켜 가, 도 9에 나타내는 바와 같이, 예컨대, 절삭 블레이드(210)가 피가공물(W)의 이면(Wb)을 벗어나 다이싱 테이프(T1)에 이르는 미리 정해진 높이 위치에 가공 수단(21)이 위치 부여된다. 또한, 도시하지 않는 모터가 스핀들(211)을 회전 구동하는 것에 따라, 절삭 블레이드(210)가 예컨대 -Y 방향측에서 보아 시계 방향 방향으로 고속 회전한다.The cutting blade 210 is moved away from the back surface Wb of the workpiece W and the dicing is carried out by the cutting and dropping means 24, The processing means 21 is positioned at a predetermined height position reaching the tape T1. Further, as the motor (not shown) rotates and drives the spindle 211, the cutting blade 210 rotates at a high speed in the clockwise direction as viewed from, for example, the -Y direction.

피가공물(W)을 유지하는 유지 테이블(20)이 미리 정해진 절삭 이송 속도로 더욱 -X 방향으로 송출됨으로써, 고속 회전하는 절삭 블레이드(210)가 피가공물(W)에 절입되어, 분할 예정 라인(S)을 따라 피가공물(W)을 절단해 간다. 또한, 절삭 가공 중에 있어서는, 가공수 노즐(214)에 의해 절삭 블레이드(210)의 측방으로부터, 절삭 블레이드(210)와 피가공물(W)의 접촉 부위에 대하여 가공수의 분사가 행해져, 접촉 부위의 냉각 및 세정이 행해진다.The holding table 20 for holding the workpiece W is further fed out in the -X direction at a predetermined cutting feed rate so that the cutting blade 210 rotating at a high speed is fed into the workpiece W, S to cut the workpiece W. During the cutting process, the machining water is injected from the side of the cutting blade 210 to the contact area between the cutting blade 210 and the workpiece W by the machining water nozzle 214, Cooling and cleaning are performed.

절삭 가공의 개시에 따라 전원(41)에 의해 발광부(40)가 ON 상태가 되고, 발광부(40)가 예컨대 파장 184.9 ㎚의 자외광과 파장 253.7 ㎚의 자외광을 절삭 블레이드(210)의 외주 방향으로부터 회전하는 절삭 블레이드(210)의 가공면에 조사한다.The light emitting portion 40 is turned ON by the power source 41 and the ultraviolet light having a wavelength of 184.9 nm and the ultraviolet light having a wavelength of 253.7 nm are emitted from the cutting blade 210 And irradiates the machining surface of the cutting blade 210 rotating from the outer circumferential direction.

또한, 가공수 노즐(216)에 의해 절삭 블레이드(210)의 외주 방향으로부터 절삭 블레이드(210)의 가공면에 가공수가 분사됨으로써, 광이 조사된 회전하는 절삭 블레이드(210)의 가공면에 가공수가 말려들어가, 절삭 블레이드(210)와 피가공물(W)의 접촉 부위에 생기는 가공 부스러기 등과 함께 -X 방향측으로 압출됨으로써, 접촉 부위의 냉각 및 세정이 행해진다.The machining water is sprayed on the machining surface of the cutting blade 210 from the outer circumferential direction of the cutting blade 210 by the machining water nozzle 216 so that the machining surface of the cutting blade 210, And is extruded toward the -X direction together with the processing debris generated at the contact portion between the cutting blade 210 and the workpiece W, thereby cooling and cleaning the contact portion.

가공수 노즐(216)로부터 가공수가 분사되기 직전의 절삭 블레이드(210)의 가공면에 대하여 파장 184.9 ㎚의 자외광이 조사됨으로써, 절삭 블레이드(210)의 선단면과 발광부(40) 사이에 존재하는 공기 중의 산소 분자가 자외광을 흡수하여, 기저 상태의 산소 원자를 생성한다. 생성된 산소 원자는 주위의 산소 분자와 결합하여 오존을 생성한다. 또한, 파장 184.9 ㎚의 자외광은, 절삭 블레이드(210)의 가공면에 부착한 절삭 부스러기에 의한 유기 오염물 등의 분자간 결합 및 원자간 결합을 절단하여 여기 상태로 함으로써, 유기 오염물을 분해해 간다. 또한, 발생한 오존이 파장 253.7 ㎚의 자외광을 흡수함으로써, 여기 상태의 활성 산소가 생성된다. 생성된 활성 산소나 오존은 높은 산화력을 갖기 때문에, 절삭 블레이드(210)의 가공면에 생긴 탄소나 수소 등과 결합하여, 히드록실기, 알데히드기 및 카르복실기 등의 극성이 큰 친수기를 절삭 블레이드(210)의 가공면에 형성해 간다. 그 결과, 절삭 블레이드(210)가 친수화하여, 절삭 블레이드(210)의 가공면에 있어서 가공수가 물방울이 되기 어려워져, 절삭 블레이드(210)의 가공면에 가공수가 수막형으로 퍼지기 쉬워진다.Ultraviolet light having a wavelength of 184.9 nm is irradiated onto the machining surface of the cutting blade 210 immediately before the machining water nozzle 216 is sprayed with the machining water so as to be present between the tip end surface of the cutting blade 210 and the light emitting portion 40 Oxygen molecules in the air absorb ultraviolet light to generate oxygen atoms in a ground state. The resulting oxygen atoms combine with surrounding oxygen molecules to produce ozone. The ultraviolet light having a wavelength of 184.9 nm decomposes organic contaminants by cutting off intermolecular bonds and intermolecular bonds such as organic contaminants due to cutting debris adhering to the processing surface of the cutting blade 210 and bringing them into an excited state. In addition, the generated ozone absorbs ultraviolet light having a wavelength of 253.7 nm, thereby generating active oxygen in the excited state. Since the generated active oxygen or ozone has a high oxidizing power, a hydrophilic group having a large polarity such as a hydroxyl group, an aldehyde group, and a carboxyl group, which is bonded to carbon or hydrogen generated on the machining surface of the cutting blade 210, And formed on the machined surface. As a result, the cutting blade 210 becomes hydrophilic, so that the processing water on the machining surface of the cutting blade 210 is less likely to become water droplets, and the machining water on the machining surface of the cutting blade 210 can easily spread.

친수화한 절삭 블레이드(210)는, 가공수 노즐(216)로부터 분사된 가공수를 많이 수반하여 피가공물(W)의 이면(Wb)에 절입시킨다. 가공수가 피가공물(W)의 이면(Wb)과 절삭 블레이드(210)의 가공면의 접촉 부위에 보다 많이 들어감으로써, 접촉 부위에 발생하는 마찰열의 발생이 억제된다.The hydrophilized cutting blade 210 infiltrates into the back surface Wb of the workpiece W accompanied by a lot of machining water jetted from the machining water nozzle 216. The machining water enters the contact portion between the back surface Wb of the workpiece W and the machining surface of the cutting blade 210 more and more, and the generation of frictional heat occurring at the contact portion is suppressed.

절삭 블레이드(210)가 분할 예정 라인(S)을 다 절삭하는 X축 방향의 미리 정해진 위치까지 피가공물(W)이 -X 방향으로 진행하면, -X 방향으로의 피가공물(W)의 절삭 이송을 한번 정지시켜, 절삭 블레이드(210)를 피가공물(W)로부터 이격시키고, 유지 테이블(20)을 +X 방향으로 송출하여 원래의 위치에 복귀시킨다. 그리고, 인접하는 분할 예정 라인(S)의 간격씩 절삭 블레이드(210)를 Y축 방향으로 인덱싱 이송하면서 순차 동일한 절삭을 행함으로써, 동방향의 모든 분할 예정 라인(S)을 절삭한다. 또한, 유지 테이블(20)을 90도 회전시키고 나서 동일한 절삭을 행하면, 모든 분할 예정 라인(S)이 종횡으로 전부 풀 컷트된다.When the workpiece W advances in the -X direction to a predetermined position in the X-axis direction where the cutting blade 210 cuts the line to be divided S multiple times, the workpiece W in the -X direction is cut The cutting blade 210 is separated from the workpiece W and the holding table 20 is sent out in the + X direction to return to the original position. Then, the cutting blades 210 are indexed and transferred in the Y-axis direction at intervals of the adjacent lines to be divided S, and the same cutting is sequentially performed to cut all the lines S to be divided in the same direction. When the same cutting is performed after rotating the holding table 20 by 90 degrees, all the lines to be divided S are fully cut in the longitudinal and transverse directions.

본 발명에 따른 피가공물의 가공 방법은, 피가공물(W)을 유지하는 유지면(200a)을 갖는 유지 테이블(20)에서 피가공물(W)을 유지하는 유지 단계와, 유지 단계를 실시한 후, 지립을 비트리파이드로 결합한 가공 지석, 즉 절삭 블레이드(210)를 포함하는 가공 수단(21)으로 피가공물(W)을 가공하는 가공 단계를 포함하고, 가공 단계에서는 피가공물(W)에 가공수를 공급함과 아울러, 미리 정해진 파장의 광을 광 조사 수단(4)으로부터 절삭 블레이드(210)의 가공면에 조사함으로써, 절삭 블레이드(210)의 친수화 등에 의해 피가공물(W)의 이면(Wb)과 절삭 블레이드(210)의 가공면의 접촉 부위에 보다 많은 가공수를 넣어, 접촉 부위에 발생하는 마찰열의 발생을 억제하여 절삭 블레이드(210)의 필요 이상의 마모를 억제할 수 있고, 또한, 가공열의 상승에 의한 웨이퍼 버닝의 발생 등의 가공 품질의 악화를 방지할 수 있어, 피가공물(W)이 난삭제로 형성된 웨이퍼라도 원활하게 절삭하는 것이 가능해진다. 또한, 피가공물(W)의 이면(Wb)과 절삭 블레이드(210)의 가공면의 접촉 부위에 생기는 절삭 부스러기를, 가공수에 의해 효율적으로 배제해 갈 수 있다.A method of processing a workpiece according to the present invention includes a holding step of holding a workpiece W in a holding table 20 having a holding surface 200a for holding a workpiece W, And a machining step of machining the workpiece W with a machining means 21 including a cutting blade 210 in which the abrasive grains are combined with non-trivia. In the machining step, And irradiates light of a predetermined wavelength from the light irradiating means 4 to the machining surface of the cutting blade 210 so that the back surface Wb of the workpiece W due to hydrophilization of the cutting blade 210, And more abrasion of the cutting blade 210 can be suppressed by suppressing the generation of frictional heat occurring at the contact portion by putting more processing water in the contact portion between the cutting blade 210 and the machining surface of the cutting blade 210. Further, Foot of wafer burning by rise It is possible to prevent the deterioration of the quality of the work such as the life of the workpiece W, In addition, the cutting debris generated at the contact portion between the back surface Wb of the workpiece W and the machining surface of the cutting blade 210 can be effectively eliminated by the machining water.

1: 연삭 장치 10: 베이스 11: 칼럼 12: 입력 수단
30: 유지 테이블 300: 흡착부 300a: 유지면 301: 프레임
31: 커버 31a: 주름상자 커버
5: 연삭 이송 수단 50: 볼나사 51: 가이드 레일 52: 모터 53: 승강판 54: 홀더
7: 가공 수단 70: 회전축 70a: 유로 71: 하우징 72: 모터 73: 마운트 74: 연삭 휠 74a: 가공 지석 74b: 휠 베이스
8: 가공수 공급 수단 80: 가공수원 81: 배관 82: 조정 밸브
9: 광 조사 수단 90: 받침대 91: 발광부 92: 세정수 공급부 920: 세정수 노즐 920a: 분사구 93: 커버
W: 피가공물 Wa: 피가공물의 표면 Wb: 피가공물의 이면 T: 보호 테이프 A: 착탈 영역 B: 연삭 영역
P1: 플롯도
2: 절삭 장치 2A: 베이스
20: 유지 테이블 200: 흡착부 200a: 유지면 201: 프레임 202: 회전 수단 204: 고정 클램프
21: 가공 수단 210: 절삭 블레이드 211: 스핀들 212: 하우징 218: 착탈 플랜지 217: 고정 너트
219: 블레이드 커버 213: 지지 블록 213a: 조정 나사 213b: 공급 호스 213c: 비말 커버 214: 가공수 노즐 215: 가공수 블록 215a: 조정 나사 216: 가공수 노즐 216a: 가공수 분사구
25: 얼라인먼트 수단 250: 얼라인먼트용 카메라
22: 절삭 이송 수단 220: 볼나사 221: 가이드 레일 222: 모터 223: 가동판
23: 인덱싱 이송 수단 230: 볼나사 231: 가이드 레일 232: 모터
233: 가동부 234: 칼럼
24: 절입 이송 수단 240: 볼나사 241: 가이드 레일 242: 모터
243: 지지 부재
4: 광 조사 수단 40: 발광부 41: 전원
W: 피가공물 Wa: 피가공물의 표면 Wb: 피가공물의 이면 S: 분할 예정 라인 D: 디바이스 T1: 다이싱 테이프 F: 환형 프레임
1: Grinding apparatus 10: Base 11: Column 12: Input means
30: holding table 300: suction part 300a: holding surface 301: frame
31: Cover 31a: Crease box cover
5: Grinding and conveying means 50: Ball screw 51: Guide rail 52: Motor 53: Steel plate 54:
7: Machining means 70: Rotation shaft 70a: Flow path 71: Housing 72: Motor 73: Mount 74: Grinding wheel 74a: Machining wheel 74b:
8: Process water supply means 80: Process water source 81: Piping 82: Adjustment valve
9: light irradiation means 90: pedestal 91: light emitting portion 92: cleansing water supply portion 920: cleansing water nozzle 920a: jetting port 93: cover
W: workpiece Wa: surface of the workpiece Wb: rear surface of the workpiece T: protective tape A: attaching / detaching area B:
P1: plot
2: Cutting device 2A: Base
20: holding table 200: suction part 200a: holding surface 201: frame 202: rotating means 204: fixed clamp
21: machining means 210: cutting blade 211: spindle 212: housing 218: detachable flange 217:
The present invention relates to a method of manufacturing an optical disk, which comprises a blade cover, a blade cover, a support block, an adjustment screw, a supply hose, a droplet cover,
25: Alignment means 250: Alignment camera
22: cutting and conveying means 220: ball screw 221: guide rail 222: motor 223: movable plate
23: indexing feed means 230: ball screw 231: guide rail 232: motor
233: moving part 234: column
24: Infeed feed means 240: Ball screw 241: Guide rail 242: Motor
243: Support member
4: light irradiation means 40: light emitting portion 41: power source
W: workpiece Wa: surface of the workpiece Wb: back surface of the workpiece S: expected line to be divided D: device T1: dicing tape F:

Claims (3)

피가공물의 가공 방법으로서,
피가공물을 유지하는 유지면을 갖는 유지 테이블로 피가공물을 유지하는 유지 단계와,
상기 유지 단계를 실시한 후, 지립을 비트리파이드로 결합한 가공 지석을 포함하는 가공 수단으로 피가공물을 가공하는 가공 단계
를 포함하고,
상기 가공 단계에서는 피가공물에 가공수를 공급함과 아울러, 미리 정해진 파장의 광을 광 조사 수단으로부터 상기 가공 지석의 가공면에 조사하는 것인 가공 방법.
As a processing method of a workpiece,
A holding step of holding a workpiece with a holding table having a holding surface for holding the workpiece;
After the holding step, a processing step of machining a workpiece with machining means including a machining wheel having abrasive grains bonded with non-trivia
Lt; / RTI >
Wherein the machining step supplies the machining water to the workpiece and irradiates light of a predetermined wavelength from the light irradiation means to the machined surface of the machined stone.
제1항에 있어서,
상기 가공 수단은 상기 가공 지석을 구비하는 절삭 블레이드를 구비하고,
상기 가공 단계에서는 상기 절삭 블레이드로 피가공물을 절삭하는 것인 가공 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the machining means has a cutting blade having the machining wheel,
And cutting the workpiece with the cutting blade in the machining step.
제1항에 있어서,
상기 가공 수단은 상기 가공 지석을 구비하는 연삭 휠을 구비하고,
상기 가공 단계에서는 상기 연삭 휠로 피가공물을 연삭하는 것인 가공 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the machining means includes a grinding wheel having the machining wheel,
Wherein the grinding wheel grinds the workpiece in the machining step.
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