KR20180103241A - 카메라모듈 테스트용 자동 소켓 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 카메라모듈 테스트용 자동 소켓에 관한 것으로, 카메라모듈의 커넥터 핀과 결합되는 플랫 스프링 핀; 상기 플랫 스프링 핀을 결합하여 지지하는 핀 블록; 및 상기 플랫 스프링 핀과 카메라모듈의 커넥터 핀의 접속시 가이드 역할을 하는 댐퍼;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

카메라모듈 테스트용 자동 소켓{Auto Socket for Testing Camera Module}
본 발명은 카메라모듈 테스트용 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 카메라모듈의 커넥터핀과 플랫 스프링 핀의 접속과 이격이 용이한 카메라모듈 테스트용 자동 소켓에 관한 것이다.
휴대전화나 노트북 등의 모바일 전자기기에는 소형 카메라모듈이 탑재되어 사용되고 있다.
소형 카메라모듈은 인쇄회로 기판에 CMOS나 CCD 이미지센서가 장착되고, 렌즈와 하우징에 조립된 후 외부와 전기적으로 통신하기 위한 플렉시블 인쇄회로기판과 전기적으로 연결시켜 카메라 모듈을 제작하게 되며, 이 후 제작이 완료된 카메라 모듈이 정상적으로 동작을 하는지 여부를 검사용 소켓에 장착된 상태로 검사장비에 로딩될 수 있다.
그러나 검사용 소켓에 장착된 카메라모듈의 커넥터 핀과 카메라모듈 테스트용 플랫 스프링 핀의 접속이 불안정하여 검사의 신뢰성이 떨어지고, 접속된 두 핀을 이격시 분리가 쉽지 않아 끼임이 발생하는 문제점이 있다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 카메라모듈의 커넥터 핀과 카메라모듈 테스트용 플랫 스프링 핀의 접속과 이격이 용이한 카메라모듈 테스트용 자동 소켓을 제공하는 데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 카메라모듈 테스트용 자동 소켓은 카메라모듈의 커넥터 핀과 결합되는 플랫 스프링 핀; 상기 플랫 스프링 핀을 결합하여 지지하는 핀 블록; 및 상기 플랫 스프링 핀과 카메라모듈의 커넥터 핀의 접속시 가이드 역할을 하는 댐퍼;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 플랫 스프링 핀은 U자형 판상으로 상부 끝단부의 내측면이 일정 경사면을 가지고, 내측 일측면 양쪽으로 걸림턱이 위치하며, 중앙 부분은 완충 역할을 할 수 있도록 2열의 S자형 판상으로 이루어진 것을 특징으로 한다.
상기 핀 블록은 상부 핀 블럭과 하부 핀 블록이 결합되는 것을 특징으로 한다.
상기 댐퍼는 하부 핀 블록 내부의 일정 홈에 접속되어 4개의 스프링의 하단부와 결합되고, 상기 4개의 스프링의 상단부는 상부 핀 블럭에 고정되는 것을 특징으로 한다.
상기 댐퍼는 플랫 스프링 핀과 카메라모듈의 커넥터 핀이 접속시 얼라인 역할 및 가이드 역할을 하는 것을 특징으로 한다.
상기 댐퍼는 플랫 스프링 핀과 카메라모듈의 커넥터 핀이 스프링 핀에 의해 이격시 밀어내는 역할을 하는 것을 특징으로 한다.
상기 댐퍼는 플랫 스프링 핀과 카메라모듈의 커넥터 핀이 접속시 완충 역할과 카메라모듈의 커넥터 핀을 보호하는 역할을 하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같이, 본 발명에 따르면 댐퍼의 가이드 역할로 카메라모듈의 커넥터 핀과 카메라모듈 테스트용 플랫 스프링 핀 접속이 정확하고 용이하여 검사의 신뢰성을 향상시키는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따르면 카메라모듈의 커넥터핀과 카메라모듈 테스트용 플랫 스프링 핀을 이격시 댐퍼 역할로 분리가 용이하여 두 핀의 끼임이 발생하지 않는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 카메라모듈 테스트용 자동 소켓의 사시도이다.
도 2는 도 1의 플랫 스프링 핀을 나타낸 사시도이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
그러면 본 발명에 따른 카메라모듈 테스트용 자동 소켓에 대하여 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 카메라모듈 테스트용 자동 소켓의 사시도이고, 도 2는 도 1의 플랫 스프링 핀을 나타낸 사시도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 카메라모듈 테스트용 자동 소켓은 카메라모듈의 커넥터 핀과 결합되는 플랫 스프링 핀(100), 상기 플랫 스프링 핀(100)을 결합하여 지지하는 핀 블록(200), 상기 플랫 스프링 핀(100)과 카메라모듈의 커넥터 핀의 접속시 가이드 역할을 하는 댐퍼(300)를 포함하여 구성할 수 있다.
상기 플랫 스프링 핀(100)은 도 2와 같이 탄성력이 있는 금속재질의 'U'자형 판상으로 카메라모듈의 커넥터 핀과 적어도 두면 이상이 접촉하도록 서로 마주보며, 상부 끝단부의 내측면이 카메라모듈의 커넥터 핀이 용이하게 삽입되도록 일정 경사면(110)을 가진다.
또한, 상기 플랫 스프링 핀(100)은 내측 일측면 양쪽으로 카메라모듈의 커넥터 핀의 하부면과 맞닿도록 걸림턱(120)이 위치하며, 중앙 부분은 완충 역할을 할 수 있도록 2열의 'S'자형 판상으로 이루어져 있다.
이러한 플랫 스프링 핀(100)은 상하 운동시 탄성력이 있고 상부 끝부분이 기울어지는 것을 최소화하여 수직 운동을 할 수 있어 기존의 포고핀(Pogo Pin) 방식에 비해 기구적인 수명이 증가할 수 있다.
상기 핀 블록(200)은 상부 핀 블럭(210)과 하부 핀 블록(220)이 결합될 수 있다.
상기 댐퍼(300)는 하부 핀 블록(220) 내부의 일정 홈에 접속되어 4개의 스프링(400)의 하단부와 결합되고, 4개의 스프링(400)의 상단부는 상부 핀블럭(210)에 고정될 수 있다.
여기서, 상기 댐퍼(300)는 플랫 스프링 핀(100)과 카메라모듈의 커넥터 핀이 원할히 접속될 수 있도록 가이드 역할을 하며, 접속된 플랫 스프링 핀(100)과 카메라모듈의 커넥터 핀을 이격시키는 역할을 한다.
즉, 상기 플랫 스프링 핀(100)과 카메라모듈의 커넥터 핀이 접속시 댐퍼(300)가 먼저 내려오면서 얼라인 역할과 동시에 가이드 역할을 하고, 접속된 플랫 스프링 핀(100)과 카메라모듈의 커넥터 핀이 스프링(400)에 의해 이격시 댐퍼(300)가 밀어내는 역할을 하게 된다.
또한, 상기 댐퍼(300)는 플랫 스프링 핀(100)과 카메라모듈의 커넥터 핀이 접속시 완충 역할과 카메라모듈의 커넥터 핀을 보호하는 역할을 한다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
100: 플랫 스프링 핀 200: 핀 블록
300: 댐퍼 400: 스프링

Claims (7)

  1. 카메라모듈의 커넥터 핀과 결합되는 플랫 스프링 핀;
    상기 플랫 스프링 핀을 결합하여 지지하는 핀 블록; 및
    상기 플랫 스프링 핀과 카메라모듈의 커넥터 핀의 접속시 가이드 역할을 하는 댐퍼;를 포함하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 테스트용 자동 소켓.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 플랫 스프링 핀은 U자형 판상으로 상부 끝단부의 내측면이 일정 경사면을 가지고, 내측 일측면 양쪽으로 걸림턱이 위치하며, 중앙 부분은 완충 역할을 할 수 있도록 2열의 S자형 판상으로 이루어진 것을 특징으로 하는 카메라모듈 테스트용 자동 소켓.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 핀 블록은 상부 핀 블럭과 하부 핀 블록이 결합되는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 테스트용 자동 소켓.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 댐퍼는 하부 핀 블록 내부의 일정 홈에 접속되어 4개의 스프링의 하단부와 결합되고, 상기 4개의 스프링의 상단부는 상부 핀 블럭에 고정되는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 테스트용 자동 소켓.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 댐퍼는 플랫 스프링 핀과 카메라모듈의 커넥터 핀이 접속시 얼라인 역할 및 가이드 역할을 하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 테스트용 자동 소켓.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 댐퍼는 플랫 스프링 핀과 카메라모듈의 커넥터 핀이 스프링 핀에 의해 이격시 밀어내는 역할을 하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 테스트용 자동 소켓.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 댐퍼는 플랫 스프링 핀과 카메라모듈의 커넥터 핀이 접속시 완충 역할과 카메라모듈의 커넥터 핀을 보호하는 역할을 하는 것을 특징으로 하는 카메라모듈 테스트용 자동 소켓.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102159271B1 (ko) * 2019-10-01 2020-09-23 홍성호 커넥터 검사기용 핀블럭 소켓장치
KR20220050422A (ko) * 2020-10-16 2022-04-25 이승용 인터페이스, 및 그 인테페이스를 포함하는 테스트 소켓과 테스트 소켓 모듈
KR102416190B1 (ko) * 2022-05-06 2022-07-05 주식회사 코아시스 롤링 코어 블록 유닛 및 이를 포함하는 카메라 모듈 검사장치
KR102446242B1 (ko) * 2022-07-13 2022-09-21 강경훈 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003194847A (ja) * 2001-12-26 2003-07-09 Sumitomo Electric Ind Ltd コンタクトプローブ

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102159271B1 (ko) * 2019-10-01 2020-09-23 홍성호 커넥터 검사기용 핀블럭 소켓장치
KR20220050422A (ko) * 2020-10-16 2022-04-25 이승용 인터페이스, 및 그 인테페이스를 포함하는 테스트 소켓과 테스트 소켓 모듈
KR102416190B1 (ko) * 2022-05-06 2022-07-05 주식회사 코아시스 롤링 코어 블록 유닛 및 이를 포함하는 카메라 모듈 검사장치
KR102446242B1 (ko) * 2022-07-13 2022-09-21 강경훈 플렉시블 단말부 보호구조를 갖는 전자모듈 검사용 테스트 소켓

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