KR20180067769A - Apparatus for inspecting electrical and electronic components - Google Patents
Apparatus for inspecting electrical and electronic components Download PDFInfo
- Publication number
- KR20180067769A KR20180067769A KR1020160168760A KR20160168760A KR20180067769A KR 20180067769 A KR20180067769 A KR 20180067769A KR 1020160168760 A KR1020160168760 A KR 1020160168760A KR 20160168760 A KR20160168760 A KR 20160168760A KR 20180067769 A KR20180067769 A KR 20180067769A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electrical
- connection terminal
- laser beam
- camera
- laser
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
Abstract
Description
본 발명은 전장부품을 검사하기 위한 전장부품 검사장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
인쇄회로기판(Printed Circuit Board)에는 다양한 종류의 전장부품이 실장(實裝)되며, 전장부품은 인쇄회로기판의 정해진 부위에 정확하게 실장되어야 한다.Various types of electrical components are mounted on the printed circuit board, and the electrical components must be mounted on the printed circuit board properly.
일반적으로, 전장부품은 몸체와 몸체에 설치된 복수의 연결단자를 포함한다. 이때, 몸체의 정해진 부위에 연결단자가 설치되지 않거나, 연결단자가 변형된 경우, 인쇄회로기판에 전장부품을 실장할 수 없다. 그러므로, 전장부품의 이상 여부를 검사하는 것이 반드시 필요하다.Generally, the electric component includes a plurality of connection terminals provided on the body and the body. At this time, when the connection terminal is not provided at a predetermined portion of the body, or when the connection terminal is deformed, it is impossible to mount the electric component on the printed circuit board. Therefore, it is absolutely necessary to check whether the electric component is abnormal.
종래의 전장부품 검사장치는 2D(Dimensions) 카메라를 이용하여 전장부품을 검사한다.A conventional electric component inspection device inspects electrical components using a 2D (Dimensions) camera.
상세히 설명하면, 검사하고자 하는 전장부품을 검사장치의 설정된 위치에 위치시킨다. 이때, 전장부품이 위치된 부위는 형광등이나 할로겐램프에 의하여 조명된다. 그리고, 2D 카메라를 이용하여 전자부품의 영상을 획득한 다음, 획득한 영상과 전자부품에 대한 설정된 정보를 대비하여 전자부품의 이상 여부를 검사한다.In detail, the electric component to be inspected is located at a predetermined position of the inspection apparatus. At this time, the part where the electric component is located is illuminated by a fluorescent lamp or a halogen lamp. Then, an image of an electronic component is acquired using a 2D camera, and then the abnormality of the electronic component is checked by comparing the acquired image with the information set on the electronic component.
상기와 같은 종래의 검사장치는 전장부품에 대한 정확한 영상을 획득하기 어렵다.It is difficult to obtain an accurate image of the electric component.
상세히 설명하면, 전장부품의 몸체에 연결단자가 납땜된 경우, 연결단자와 납땜 부위는 색상이 유사하여 구별이 어렵다. 즉, 검사하고자 하는 전장부품의 부위에 이와 유사한 색상의 다른 부품이 존재할 경우, 노이즈(Noise)가 발생한다. 그리고, 형광등이나 할로겐램프의 경우 빛이 상대적으로 많이 확산된다.In detail, when the connection terminal is soldered to the body of the electric component, the connection terminal and the soldered portion are difficult to distinguish from each other due to the similar color. That is, when there are other parts having similar colors to the parts of the electric component to be inspected, noise is generated. In the case of a fluorescent lamp or a halogen lamp, the light is relatively diffused.
이로 인해, 종래의 검사장치에서 2D 카메라로 검사하고자 하는 전장부품의 영상을 획득하였을 때, 정확한 영상을 획득하기 어려우므로, 검사의 신뢰성이 저하되는 단점이 있다.Therefore, when an image of an electrical component to be inspected is acquired with a 2D camera in a conventional inspection apparatus, it is difficult to acquire an accurate image, so that the reliability of the inspection is deteriorated.
전장부품 검사장치와 관련한 선행기술은 한국공개특허공보 제10-2016-0099788호(2016년 08월 23일) 등에 개시되어 있다.Prior art relating to the electric component inspection device is disclosed in Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-2016-0099788 (Aug. 23, 2016).
본 발명의 목적은 상기와 같은 종래 기술의 모든 문제점들을 해결할 수 있는 전장부품 검사장치를 제공하는 것일 수 있다.It is an object of the present invention to provide an electric component inspection apparatus which can solve all the problems of the prior art as described above.
본 발명의 다른 목적은 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 전장부품 검사장치를 제공하는 것일 수 있다.It is another object of the present invention to provide an electric component inspection apparatus capable of improving the reliability of inspection.
상기 목적을 달성하기 위한, 본 발명에 따른 전장부품 검사장치는, 본체; 상기 본체에 설치된 제어부; 상기 본체에 설치되며, 상기 제어부의 제어에 의하여, 검사하고자 하는 전장부품을 지지하여 설정 위치로 이송하는 지지/이송부; 상기 본체에 설치되고, 상기 지지/이송부에 지지된 상기 전장부품으로 레이저 광선을 조사하는 레이저를 포함하며, 상기 전장부품의 영상을 획득하여 상기 제어부로 송신하는 촬영모듈을 포함할 수 있다.In order to accomplish the above object, the present invention provides an electrical component inspection apparatus comprising: a main body; A control unit installed in the main body; A support / transfer unit installed in the main body and supporting the electrical components to be inspected under control of the control unit and transferring the electrical components to the set position; And a photographing module which is installed in the main body and includes a laser which irradiates a laser beam to the electrical component supported by the supporting / transferring part, and acquires an image of the electrical component and transmits the image to the control part.
본 발명의 실시예에 따른 전장부품 검사장치는, 검사하고자 하는 전장부품의 연결단자의 부위로 레이저에서 레이저 광선을 조사하며, 모든 연결단자에 상기 레이저 광선이 조사되게 한다. 즉, 레이저 광선을 조명으로 사용한다. 그러면, 레이저 광선의 직진성으로 인하여, 2D 카메라에는 레이저 광선이 조사된 연결단자 부위에 대한 정확한 영상이 획득되므로, 2D 카메라에서 획득한 영상과 전장부품에 대한 기준 정보를 정확하게 대비하여 전장부품에 대한 이상 여부를 판단할 수 있다. 그러므로, 전장부품에 대한 검사의 신뢰성이 향상되는 효과가 있을 수 있다.The electrical component inspection apparatus according to an embodiment of the present invention irradiates a laser beam from a laser to a connection terminal portion of an electric component to be inspected and causes all the connection terminals to be irradiated with the laser beam. That is, laser beams are used as illumination. Therefore, due to the linearity of the laser beam, accurate images of the connection terminal portions irradiated with the laser beam are obtained in the 2D camera. Therefore, it is possible to precisely compose the reference information of the image acquired by the 2D camera and the electric component, Can be determined. Therefore, there is an effect that the reliability of inspection of the electric component is improved.
그리고, 전반사거울로 전장부품을 전반사한 다음, 전반사거울에 반사된 전장부품을 2D 카메라가 촬영하면, 전장부품과 2D 카메라 사이의 수직 거리를 상대적으로 짧게 할 수 있다. 그러므로, 촬영모듈을 박형화할 수 있는 효과가 있을 수 있다.Then, when the 2D camera captures the electrical component reflected by the total reflection mirror after totally reflecting the electrical component with the total reflection mirror, the vertical distance between the electrical component and the 2D camera can be relatively shortened. Therefore, there is an effect that the photographing module can be made thin.
도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 전장부품 검사장치의 상면을 제거한 상태의 개략 평면도.
도 2는 도 1에 도시된 지지/이송부 및 촬영모듈의 사시도.
도 3은 도 2에 도시된 촬영모듈의 확대 사시도.
도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 전장부품 검사장치에서 전장부품으로 조사되는 레이저 광선의 경로를 보인 도.
도 5a 및 도 5b 본 발명의 제1실시예에 따른 전장부품 검사장치로 획득한 전장부품의 영상 및 종래의 전장부품 검사장치로 획득한 전장부품의 영상을 보인 사진.
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 전장부품 검사장치의 지지/이송부 및 촬영모듈의 사시도.
도 7은 도 6에 도시된 촬영모듈의 확대 분해 사시도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic plan view of an electrical component testing device according to a first embodiment of the present invention, with its top surface removed. FIG.
Figure 2 is a perspective view of the support / transfer part and the imaging module shown in Figure 1;
3 is an enlarged perspective view of the photographing module shown in Fig.
4 is a view showing a path of a laser beam irradiated to an electric component in an electric component inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.
5A and 5B are photographs showing images of electric parts obtained by the electric component inspection device according to the first embodiment of the present invention and images of electric parts obtained by the conventional electric component inspection device.
6 is a perspective view of a support / transfer unit and a photographing module of an electrical component inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.
7 is an enlarged exploded perspective view of the photographing module shown in Fig.
본 명세서에서 각 도면의 구성요소들에 참조번호를 부가함에 있어서 동일한 구성 요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 번호를 가지도록 하고 있음에 유의하여야 한다.It should be noted that, in the specification of the present invention, the same reference numerals as in the drawings denote the same elements, but they are numbered as much as possible even if they are shown in different drawings.
한편, 본 명세서에서 서술되는 용어의 의미는 다음과 같이 이해되어야 할 것이다.Meanwhile, the meaning of the terms described in the present specification should be understood as follows.
단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 정의하지 않는 한 복수의 표현을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, "제1", "제2" 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위한 것으로, 이들 용어들에 의해 권리범위가 한정되어서는 아니 된다.The word " first, "" second," and the like, used to distinguish one element from another, are to be understood to include plural representations unless the context clearly dictates otherwise. The scope of the right should not be limited by these terms.
"포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.It should be understood that the terms "comprises" or "having" does not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof.
"적어도 하나"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, "제1항목, 제2항목 및 제3항목 중에서 적어도 하나"의 의미는 제1항목, 제2항목 또는 제3항목 각각 뿐만 아니라 제1항목, 제2항목 및 제3항목 중에서 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미한다.It should be understood that the term "at least one" includes all possible combinations from one or more related items. For example, the meaning of "at least one of the first item, the second item and the third item" means not only the first item, the second item or the third item, but also the second item and the second item among the first item, Means any combination of items that can be presented from more than one.
"및/또는"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, "제1항목, 제2항목 및/또는 제3항목"의 의미는 제1항목, 제2항목 또는 제3항목뿐만 아니라 제1항목, 제2항목 또는 제3항목들 중 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미한다.It should be understood that the term "and / or" includes all possible combinations from one or more related items. For example, the meaning of "first item, second item and / or third item" may include not only the first item, the second item or the third item but also two of the first item, Means a combination of all items that can be presented from the above.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결된다 또는 설치된다"고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결 또는 설치될 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결된다 또는 설치된다"라고 언급된 때에는 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 한편, 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "∼사이에"와 "바로 ∼사이에" 또는 "∼에 이웃하는"과 "∼에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.It is to be understood that when an element is referred to as being "connected or installed" to another element, it may be directly connected or installed with the other element, although other elements may be present in between. On the other hand, when an element is referred to as being "directly connected or installed" to another element, it should be understood that there are no other elements in between. On the other hand, other expressions that describe the relationship between components, such as "between" and "between" or "neighboring to" and "directly adjacent to" should be interpreted as well.
이하에서는 본 발명의 실시예들에 따른 전장부품 검사장치를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an electrical component inspection apparatus according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제1실시예First Embodiment
도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 전장부품 검사장치의 상면을 제거한 상태의 개략 평면도이다.1 is a schematic plan view of a device for inspecting electrical components according to a first embodiment of the present invention with a top surface removed.
도시된 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 전장부품 검사장치는 대략 육면체 형상의 본체(110)를 포함할 수 있다.As shown in the figure, the electrical component inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention may include a substantially
본체(110)의 전면 일측에는 제어부(미도시)와 인터페이스부(미도시)가 설치될 수 있다. 상기 인터페이스부는 검사하고자 하는 피검사체인 전장부품(50)(도 2 참조)에 대한 정보를 상기 제어부로 전송하거나, 기준으로 설정된 전장부품(50)에 대한 정보를 상기 제어부로부터 전송받을 수 있다. 상기 인터페이스부는 모니터와 조작부를 구비할 수 있다.A control unit (not shown) and an interface unit (not shown) may be installed at one side of the front surface of the
전장부품(50)은 몸체(51)와 몸체(51)의 일면에 설치된 복수의 연결단자(55)를 포함할 수 있다. 연결단자(55)는 복수개가 렬(列)을 이루면서 설치될 수 있고, 복수개의 연결단자(55)에 의하여 형성되는 렬은 복수개 일 수 있다.The
본체(110)의 외측에는 전장부품(50)이 저장되는 저장케이스(미도시)가 설치될 수 있고, 상기 저장케이스의 전장부품(50)은 본체(100)의 전면 중앙부측에 형성된 피드(Feed)부(112)로 이송되어 임시로 보관될 수 있다. 피드부(112)는 소정 공간으로 형성될 수 있으며, 이송된 전장부품(50)은 피드부(112)의 바닥판(112a)에 탑재되어 임시로 보관될 수 있다.A storage case (not shown) in which the
본체(110)에는 전장부품(50)을 지지하여 검사 위치로 이송하는 지지/이송부(130) 및 지지/이송부(130)에 지지된 전장부품(50)를 촬영하는 촬영모듈(150)이 설치될 수 있다.The
지지/이송부(130) 및 촬영모듈(150)에 대하여 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명한다. 도 2는 도 1에 도시된 지지/이송부 및 촬영모듈의 사시도이고, 도 3은 도 2에 도시된 촬영모듈의 확대 사시도이다.The supporting / transferring
도시된 바와 같이, 지지/이송부(130)는 전장부품(50)을 지지하여, 본체(110)의 전후방향, 좌우방향 및 상하방향으로 전장부품(50)를 이송할 수 있다.As shown in the figure, the support /
구체적으로 설명하면, 지지/이송부(130)는 바닥판(112a)에 탑재된 전장부품(50)을 지지하여, 본체(110)의 전후방향 및 좌우방향으로 이동하면서 전장부품(50)을 검사하고자 하는 위치로 이송할 수 있다. 그리고, 지지/이송부(130)는 본체(110)의 전후방향, 좌우방향 및 상하방향으로 이동하면서 검사가 완료된 전장부품(50)을 본체(110)의 후면측에 임시로 보관된 인쇄회로기판(60)에 실장할 수 있다.Specifically, the supporting / transferring
지지/이송부(130)는 본체(110)의 전후방향과 평행하게 설치된 한쌍의 안내레일(131), 안내레일(131)에 설치되며 안내레일(131)을 따라 직선운동하는 제1가동블럭(133), 제1가동블럭(133)에 설치되어 제1가동블럭(133)과 함께 운동함과 동시에 제1가동블럭(133)의 길이방향을 따라 직선운동가능하게 설치된 제2가동블럭(135), 제2가동블럭(135)에 설치되어 제2가동블럭(135)과 함께 운동하는 흡착실린더(137)를 포함할 수 있다. 흡착실린더(137)는 피스톤을 포함할 수 있으며, 상기 실린더의 단부측에는 전장부품(50)을 흡착하여 지지하는 흡착패드(미도시)가 설치될 수 있다.The support /
그리하여, 흡착실린더(137)에 지지된 전장부품(50)은 제1가동레일(133)에 의하여 본체(110)의 전후방향으로 운동하고, 제2가동레일(135)에 의하여 본체(110)의 좌우방향으로 운동하며, 상기 피스톤에 의하여 본체(110)의 상하방향으로 운동한다.The
전장부품(50)이 인쇄회로기판(60)에 실장된다는 것은, 전장부품(50)의 연결단자(55)가 인쇄회로기판(60)에 접속되어 납땜된다는 것이다. 그러므로, 연결단자(55)가 몸체(51)의 정해진 부위에 설치되지 않았거나, 변형된 경우에는 전장부품(50)을 인쇄회로기판(60)에 실장할 수 없다. 따라서, 연결단자(55)의 이상 여부를 검사한 다음, 전장부품(50)을 인쇄회로기판(60)에 실장하여야 한다.The fact that the
본 발명의 제1실시예에 따른 전장부품 검사장치는 전장부품(50)의 이상 여부를 전장부품(50)의 영상을 이용하여 검사하며, 전장부품(50)의 영상은 촬영모듈(150)에서 획득한다. 그리고, 전장부품(50)에 대한 정확한 영상을 획득하기 위하여 레이저 광선을 조명으로 사용하며, 촬영모듈(150)에서 획득한 영상은 상기 제어부로 송신된다.The electric component inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention inspects whether the
상세히 설명하면, 촬영모듈(150)은 받침판(151), 지지대(153), 레이저(155), 브라켓(157) 및 2D(Dimensions) 카메라(159)를 포함할 수 있다.In detail, the photographing
받침판(151)은 본체(110)의 바닥판(112a)에 지지 설치되어 흡착실린더(137)에 지지된 전장부품(50)의 하측에 위치될 수 있다. 지지대(153)는 받침판(151)의 일측 상면에서 상측으로 연장 형성되고, 레이저(155)는 지지대(153)의 상단부에 설치될 수 있다. 그리고, 브라켓(157)은 받침판(151)의 타측 하면에서 하측으로 연장 형성되고, 2D 카메라(159)는 브라켓(157)에 지지 설치될 수 있다.The
레이저(155)에서 조사되는 레이저 광선은 확산되지 않고 직진성이 우수하므로, 연결단자(55)의 일측에 정확하게 조사될 수 있다. 이때, 상기 레이저 광선이 연결단자(55)의 일측에 더욱 정확하게 조사될 수 있도록, 상기 레이저 광선은 연결단자(55)의 길이방향 대하여 수직하게 조사되는 것이 바람직하다.The laser beam irradiated by the
상기 레이저 광선이 연결단자(55)의 길이방향에 대하여 수직으로 조사될 수 있도록, 레이저(155)는 지지대(153)에 지지된 부위를 기준으로 수평방향 및 수직방향으로 틸팅(Tilting)가능하게 설치될 수 있다. 레이저(155)가 틸팅될 수 있도록, 레이저(155)와 지지대(153) 사이에는 고니오 스테이지(Gonio Stage)(154)가 개재될 수 있다.The
연결단자(55)는 복수개 마련되므로, 상기 레이저 광선은 각 연결단자(55)의 일측에 조사되어야 한다. 그런데, 연결단자(55)는 렬(列)을 이루는 형태로 배치되므로, 상기 레이저 광선의 경로와 연결단자(55)에 의하여 형성되는 렬은, 도 4에 도시된 바와 같이, 일직선을 이루지 않는 것이 바람직하다. 그러면, 상기 레이저 광선이 모든 연결단자(55)의 일측에 조사될 수 있다.Since a plurality of
상기 레이저 광선이 조사된 모든 연결단자(55) 부위의 상이 2D 카메라(159)에 맺힐 수 있도록, 2D 카메라(159)는 전장부품(50)의 연결단자(55)의 수직 하측 외측에 위치되는 것이 바람직하다. 그리고, 2D 카메라(159)에서 연결단자(55)를 향하는 경로와 연결단자(55)를 연장한 가상의 연장선은 소정의 각도를 가지는 것이 바람직하다.The
2D 카메라(159)는 브라켓(157)에 지지되므로, 받침판(151)의 하측에 위치된다. 그러므로, 검사하고자 하는 연결단자(55)측 부위의 빛이 2D 카메라(159)에 유입될 수 있도록, 바닥판(112a)의 적절한 부위 및 받침판(151)의 적절한 부위는 개방되는 것이 바람직하다.The
2D 카메라(159)의 전면에는 상기 레이저 광선의 성분중, 필요한 대역의 광만을 통과시키기 위한 밴드패스필터(Band Pass Filter)(159a)가 설치될 수 있다.A
그리하여, 상기 레이저 광선이 조사된 연결단자(55) 부위의 영상을 2D 카메라(159)가 획득하여 상기 제어부로 송신하면, 상기 제어부는 전장부품(50)에 대한 기준 정보를 2D 카메라(159)로부터 수신한 영상 정보와 비교하여 전장부품(50)에 대한 이상 여부를 판단한다. 전장부품(50)에 이상이 없으면, 전장부품(50)을 인쇄회로기판(60)에 실장하고, 전장부품(50)에 이상이 있으면, 전장부품(50)을 별도로 수거하여 처리한다.When the
도 1에 도시된 미설명 부호 170은 인쇄회로기판(60) 등을 이송하기 위한 컨베이어이다.1 is a conveyor for conveying the printed
도 5a 및 도 5b 본 발명의 제1실시예에 따른 전장부품 검사장치로 획득한 전장부품의 영상 및 종래의 전장부품 검사장치로 획득한 전장부품의 영상을 보인 사진으로서, 이를 설명한다.FIGS. 5A and 5B are photographs showing images of electrical parts obtained by the electrical component testing apparatus according to the first embodiment of the present invention and images of electrical components obtained by the conventional electrical component testing apparatus. FIG.
도 5a에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 전장부품 검사장치의 촬영모듈(150)로 획득한 영상은 상기 레이저 광선이 조사된 연결단자(55)의 부위가 아주 선명하게 표시되므로, 연결단자(55)에 대한 영상 정보를 정확하게 얻을 수 있다.5A, an image acquired by the photographing
반면, 도 5b에 도시된 바와 같이, 종래의 전장부품 검사장치의 촬영모듈로 획득한 영상은 연결단자와 납땜 부위가 명확하게 구별되지 않으므로, 상기 연결단자에 대한 영상 정보를 정확하게 얻을 수 없다.On the other hand, as shown in FIG. 5B, the image obtained by the photographing module of the conventional electric component inspection apparatus can not accurately obtain the image information of the connection terminal since the connection terminal and the soldering site are not clearly distinguished.
본 발명의 제1실시예에 따른 전장부품 검사장치는, 검사하고자 하는 전장부품(50)의 연결단자(55)의 부위로 레이저(155)에서 상기 레이저 광선을 조사하며, 상기 레이저 광선이 모든 연결단자에 조사되게 한다. 그러면, 2D 카메라(159)에는 상기 레이저 광선이 조사된 연결단자(55) 부위에 대한 정확한 영상이 획득되므로, 2D 카메라(159)에서 획득한 영상과 전장부품(50)에 대한 기준 정보를 정확하게 대비하여 전장부품(50)에 대한 이상 여부를 판단할 수 있다.The electrical component inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention irradiates the laser beam to the portion of the
제2실시예Second Embodiment
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 전장부품 검사장치의 지지/이송부 및 촬영모듈의 사시도이고, 도 7은 도 6에 도시된 촬영모듈의 확대 분해 사시도로서, 제1실시예와의 차이점만을 설명한다.FIG. 6 is a perspective view of a supporting / transferring unit and a photographing module of the electrical component inspecting apparatus according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 7 is an enlarged exploded perspective view of the photographing module shown in FIG. Only.
도시된 바와 같이, 촬영모듈(250)은 하우징(251), 걸림부재(253), 레이저(255), 전반사거울(257) 및 2D 카메라(259)를 포함할 수 있다.As shown, the photographing
하우징(251)은 본체(110)(도 2 참조)의 바닥판(112a)에 착탈가능하게 결합될 수 있으며, 흡착실린더(137)에 지지된 전장부품(50)의 하측에 위치될 수 있다.The
하우징(251)을 바닥판(112a)에 착탈가능하게 결합하기 위하여, 하우징(251)의 하면에는 걸림부재(253)가 착탈가능하게 결합될 수 있다. 즉, 바닥판(112a)의 상면 적소에 하우징(251)의 하면을 위치시킨 후, 걸림부재(253)의 일측을 바닥판(112a)의 하면에 결합하고, 바닥판(112a)의 외측으로 돌출된 하우징(251)의 부위에 걸림부재(253)의 타측을 결합하면, 하우징(251)이 바닥판(112a)이 결합된다.In order to detachably connect the
걸림부재(253)가 하우징(251)에 착탈가능하게 결합되므로, 하우징(251)을 바닥판(112a)에 착탈가능하게 결합할 수 있음은 당연하다. 걸림부재(253)에는 걸림홈(253a)이 형성되고, 바닥판(112a)에는 걸림홈(253a)에 삽입되는 걸림돌기(미도시)가 형성될 수 있다.It is of course possible to detachably couple the
레이저(255)는 하우징(251)의 상면에 설치되어, 전장부품(50)의 연결단자(55)의 길이방향에 대하여 수직으로, 레이저 광선을 조사할 수 있다. 그리고, 상기 레이저 광선을 연결단자(55)의 길이방향에 대하여 수직으로 조사할 수 있도록, 레이저(255)는 하우징(251)에 지지된 부위를 기준으로 수평방향 및 수직방향으로 틸팅(Tilting)가능하게 설치될 수 있다. 레이저(255)가 틸팅될 수 있도록, 레이저(255)와 하우징(251) 사이에는 고니오 스테이지(Gonio Stage)(254)가 개재될 수 있다.The
전반사거울(257)은 하우징(251)의 내부에 설치될 수 있으며, 상기 레이저 광선이 조사된 연결단자(55)의 부위를 전반사시킬 수 있다. 이때, 2D 카메라(259)는 전반사거울(257)에 반사된 연결단자(55) 부위를 촬영할 수 있다. 전반사거울(257)은 복수개가 상하로 배치될 수 있다.The
2D 카메라(259)가 연결단자(55)의 영상을 직접 촬영하기 위해서는 2D 카메라(259)와 연결단자(55) 사이에는 수직으로 소정의 거리가 존재하여야 한다. 그런데, 전반사거울(257)에서 연결단자(55)의 영상을 반사하고, 2D 카메라(259)가 전반사거울(257)에서 반사된 연결단자(55)를 촬영하면, 2D 카메라(259)와 연결단자(55) 사이의 수직 거리를 상대적으로 짧게 할 수 있다. 그러므로, 촬영모듈(250)의 상하 부피를 줄일 수 있다.In order for the
2D 카메라(259)는 하우징(251)의 내부에 설치되어 전반사거울(257)에 반사된 전장부품(50)의 연결단자(55)를 촬영할 수 있다. 이때, 2D 카메라(259)는 전장부품(50)의 연결단자(55)의 수직 하측 외측에 위치되는 것이 바람직하다.The
2D 카메라(259)의 전면에는 상기 레이저 광선의 성분중, 필요한 대역의 광만을 통과시키기 위한 밴드패스필터(259a)가 설치될 수 있다.A band-
본 발명의 제2실시예에 따른 전장부품 검사장치는 전장부품(50)의 연결단자(55)에 대한 정확한 영상을 얻을 수 있는 효과 이외에, 전반사거울(257)을 통하여 연결단자(55)를 촬영하므로, 전장부품(50)의 연결단자(55)와 2D 카메라(259) 사이의 수직 거리를 상대적으로 짧게 할 수 있으므로, 촬영모듈(250)의 박형화가 가능하다.The electrical component inspection apparatus according to the second embodiment of the present invention can obtain an accurate image of the
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Will be clear to those who have knowledge of. Therefore, the scope of the present invention is defined by the appended claims, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents should be interpreted as being included in the scope of the present invention.
110: 본체
130: 지지/이송부
150: 촬영모듈110:
130: support / transfer part
150: photographing module
Claims (12)
상기 본체에 설치된 제어부;
상기 본체에 설치되며, 상기 제어부의 제어에 의하여, 검사하고자 하는 전장부품을 지지하여 설정 위치로 이송하는 지지/이송부;
상기 본체에 설치되고, 상기 지지/이송부에 지지된 상기 전장부품으로 레이저 광선을 조사하는 레이저를 포함하며, 상기 전장부품의 영상을 획득하여 상기 제어부로 송신하는 촬영모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.main body;
A control unit installed in the main body;
A support / transfer unit installed in the main body and supporting the electrical components to be inspected under control of the control unit and transferring the electrical components to the set position;
And a photographing module which is installed in the main body and includes a laser for irradiating a laser beam to the electrical component supported by the supporting / transferring part, and acquires an image of the electrical component and transmits the image to the control part. Component inspection device.
상기 촬영모듈은,
상기 본체에 지지 설치되며, 상기 전장부품의 하측에 위치되는 받침판;
상기 받침판에서 상측으로 연장 형성되며 상기 레이저가 설치되는 지지대;
상기 받침판에서 하측으로 연장 형성된 브라켓;
상기 브라켓에 설치되며 상기 레이저 광선이 조사된 상기 전장부품의 부위를 촬영하는 2D(Dimensions) 카메라를 포함하는 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.The method according to claim 1,
The photographing module,
A support plate installed on the main body and positioned below the electric component;
A supporter extending upward from the support plate and on which the laser is installed;
A bracket extending downward from the receiving plate;
And a 2D (Dimension) camera mounted on the bracket for photographing a part of the electric component irradiated with the laser beam.
상기 전장부품은 몸체와 상기 몸체에 렬(列)을 이루면서 설치된 복수의 연결단자를 가지고,
검사하고자 하는 상기 전장부품의 부위는 상기 연결단자이며,
상기 레이저 광선은 상기 연결단자의 길이방향과 수직하게 상기 연결단자 각각에 조사되는 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.3. The method of claim 2,
The electric component includes a body and a plurality of connection terminals provided in a row on the body,
The part of the electric component to be inspected is the connection terminal,
Wherein the laser beam is irradiated to each of the connection terminals in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the connection terminal.
상기 레이저는 상기 지지대에 지지된 부위를 기준으로 수평방향 및 수직방향으로 틸팅(Tilting)가능하게 설치된 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.The method of claim 3,
Wherein the laser is installed in a tilting manner in a horizontal direction and a vertical direction with respect to a portion supported by the support.
상기 2D 카메라는 상기 전장부품의 수직 하측 외측에 위치되는 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.The method of claim 3,
Wherein the 2D camera is located at a vertically lower outer side of the electrical component.
상기 촬영모듈은,
상기 본체에 착탈가능하게 결합되고, 상기 전장부품의 하측에 위치되며, 외면 일측에는 상기 레이저가 지지 설치되는 하우징;
상기 하우징의 내부에 설치되며 상기 레이저 광선이 조사된 상기 전장부품의 부위를 촬영하는 2D(Dimensions) 카메라를 포함하는 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.3. The method of claim 2,
The photographing module,
A housing detachably coupled to the main body and positioned below the electrical component, the laser being supported on one side of the outer surface;
And a 2D (Dimension) camera installed inside the housing for photographing a part of the electric component irradiated with the laser beam.
상기 전장부품은 몸체와 상기 몸체에 렬(列)을 이루면서 설치된 복수의 연결단자를 가지고,
검사하고자 하는 상기 전장부품의 부위는 상기 연결단자이며,
상기 레이저 광선은 상기 연결단자의 길이방향과 수직하게 상기 연결단자 각각에 조사되는 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.The method according to claim 6,
The electric component includes a body and a plurality of connection terminals provided in a row on the body,
The part of the electric component to be inspected is the connection terminal,
Wherein the laser beam is irradiated to each of the connection terminals in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the connection terminal.
상기 레이저는 상기 하우징에 지지된 부위를 기준으로 수평방향 및 수직방향으로 틸팅(Tilting)가능하게 설치된 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.8. The method of claim 7,
Wherein the laser is installed in a tilting manner in a horizontal direction and a vertical direction with respect to a portion supported by the housing.
상기 2D 카메라는 상기 전장부품의 수직 하측 외측에 위치되는 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.8. The method of claim 7,
Wherein the 2D camera is located at a vertically lower outer side of the electrical component.
상기 촬영모듈은 상기 하우징의 내부에 설치되어 상기 연결단자 부위를 전반사시키는 전반사거울을 더 포함하고,
상기 2D 카메라는 상기 전반사거울에 반사된 상기 연결단자 부위를 촬영하는 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.10. The method of claim 9,
Wherein the photographing module further comprises a total reflection mirror installed inside the housing for totally reflecting the connection terminal portion,
Wherein the 2D camera photographs the connection terminal portion reflected by the total reflection mirror.
상기 전반사거울은 복수개가 상하로 배치된 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.11. The method of claim 10,
Wherein a plurality of the total reflection mirrors are arranged vertically.
상기 하우징에는 걸림부재가 착탈가능하게 결합되고,
상기 걸림부재는 상기 하우징에 걸려서 상기 하우징이 상기 본체에 고정되도록 지지하는 것을 특징으로 하는 전장부품 검사장치.The method according to claim 6,
And a locking member is detachably coupled to the housing,
Wherein the engaging member is engaged with the housing to support the housing to be fixed to the main body.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160168760A KR101901348B1 (en) | 2016-12-12 | 2016-12-12 | Apparatus for inspecting electrical and electronic components |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160168760A KR101901348B1 (en) | 2016-12-12 | 2016-12-12 | Apparatus for inspecting electrical and electronic components |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20180067769A true KR20180067769A (en) | 2018-06-21 |
KR101901348B1 KR101901348B1 (en) | 2018-09-27 |
Family
ID=62806742
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020160168760A KR101901348B1 (en) | 2016-12-12 | 2016-12-12 | Apparatus for inspecting electrical and electronic components |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101901348B1 (en) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004061460A (en) | 2002-07-31 | 2004-02-26 | Sunx Ltd | Device for inspecting external lead shape of electronic component |
KR101280605B1 (en) * | 2012-08-30 | 2013-07-02 | 미래산업 주식회사 | Apparatus and method of mounting electric component for vehicle |
-
2016
- 2016-12-12 KR KR1020160168760A patent/KR101901348B1/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101901348B1 (en) | 2018-09-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101175595B1 (en) | Apparatus and method for noncontact inspection for components | |
KR101245148B1 (en) | Vision inspect apparatus of improved picture visibility | |
JP5798047B2 (en) | Component imaging device, surface mounter and component inspection device | |
KR101747852B1 (en) | Printed circuit board coating inspection apparatus and inspection methods thereof | |
KR101245622B1 (en) | Vision inspection apparatus using stereo vision grid pattern | |
KR20090110495A (en) | Vision inspection system | |
JP2006329714A (en) | Lens inspection apparatus | |
US9594028B2 (en) | Method and apparatus for determining coplanarity in integrated circuit packages | |
CN107110789B (en) | Method and apparatus for inspecting component-mounted substrate | |
KR101470424B1 (en) | Testing apparatus for lens | |
KR102393237B1 (en) | Conductive ball inspection and repair device | |
US7019771B1 (en) | Inspection device for components | |
US6242756B1 (en) | Cross optical axis inspection system for integrated circuits | |
KR101901348B1 (en) | Apparatus for inspecting electrical and electronic components | |
KR101268549B1 (en) | Vision inspection apparatus using multiple grid pattern and polarizing plates | |
KR101245623B1 (en) | Vision inspection apparatus using grid pattern of visible ray and ultraviolet ray or infrared light | |
CN111474598A (en) | Electronic component mounting state detection device | |
KR101245621B1 (en) | Vision inspection apparatus using multiple grid pattern of different color | |
KR20150120215A (en) | Apparatus for correcting tilt of lens and method thereof | |
KR20090116553A (en) | Automatic optical inspection apparatus | |
JP5954757B2 (en) | Appearance inspection device | |
JP2007225317A (en) | Apparatus for three-dimensionally measuring component | |
US6532063B1 (en) | 3-D lead inspection | |
JP5427222B2 (en) | Appearance inspection device | |
KR101510815B1 (en) | Imaging device and imaging method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
AMND | Amendment | ||
X701 | Decision to grant (after re-examination) | ||
GRNT | Written decision to grant |