KR20180048605A - Polyimide precursor, resin composition, and method for producing resin film - Google Patents

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Abstract

(a1) 하기 일반식 (1):

Figure pct00055

{식 중, X1 은 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} 로 나타내는 구조 단위 L 과,
하기 일반식 (2):
Figure pct00056

{식 중, X2 는 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다.} 로 나타내는 구조 단위 M 을, 1/99 ≤ (구조 단위 L 의 몰수/구조 단위 M 의 몰수) ≤ 99/1 로 포함하는, 폴리이미드 전구체.(a1) a compound represented by the following general formula (1):
Figure pct00055

Wherein X 1 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b and c are integers of 0 to 4,
(2): < EMI ID =
Figure pct00056

(Wherein M represents the number of moles of the structural unit L / m of the structural unit M) < 99/1, wherein the structural unit M represented by the formula ( 2) is a quaternary group having 4 to 32 carbon atoms. Polyimide precursor.

Description

폴리이미드 전구체, 수지 조성물 및 수지 필름의 제조 방법{POLYIMIDE PRECURSOR, RESIN COMPOSITION, AND METHOD FOR PRODUCING RESIN FILM}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a polyimide precursor, a resin composition,

본 발명은, 예를 들어, 플렉시블 디바이스를 위한 기판의 제조에 사용되는, 폴리이미드 전구체, 수지 조성물 및 수지 필름의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for producing a polyimide precursor, a resin composition and a resin film, for example, used for manufacturing a substrate for a flexible device.

일반적으로, 고내열성이 요구되는 용도에는, 수지 필름으로서 폴리이미드 수지의 필름이 사용된다. 일반적인 폴리이미드 수지는, 방향족 카르복실산 2무수물과 방향족 디아민을 용액 중합함으로써 폴리이미드 전구체를 제조한 후, 이것을 고온에서 열 이미드화하여, 또는, 촉매를 사용하여 화학 이미드화하여, 제조되는 고내열 수지이다.Generally, a film of a polyimide resin is used as a resin film in applications requiring high heat resistance. A general polyimide resin is produced by preparing a polyimide precursor by solution polymerization of an aromatic carboxylic acid dianhydride and an aromatic diamine and then thermally imidizing the polyimide precursor at a high temperature or chemically imidizing it using a catalyst, Resin.

폴리이미드 수지는, 불용, 불융의 초내열성 수지이며, 내열 산화성, 내열 특성, 내방사선성, 내저온성, 내약품성 등이 우수한 특성을 갖고 있다. 이 때문에, 폴리이미드 수지는, 전자 재료를 포함하는 광범위한 분야에서 사용되고 있다. 전자 재료 분야에 있어서의 폴리이미드 수지의 적용 예로는, 예를 들어, 절연 코팅제, 절연막, 반도체의 보호막, TFT-LCD 의 전극 보호막 등을 들 수 있다. 최근에는, 디스플레이 재료의 분야에서 종래 사용되고 있던 유리 기판 대신에, 그 가벼움, 유연성을 이용한 무색 투명 플렉시블 기판으로서의 채용이 검토되고 있다.The polyimide resin is an insoluble or refractory super heat resistant resin and has excellent properties such as heat oxidation resistance, heat resistance, radiation resistance, low temperature resistance, and chemical resistance. For this reason, polyimide resins are used in a wide range of fields including electronic materials. Examples of applications of the polyimide resin in the field of electronic materials include insulating coatings, insulating films, protective films for semiconductors, electrode protective films for TFT-LCD, and the like. In recent years, adoption as a colorless transparent flexible substrate using lightness and flexibility has been studied instead of a glass substrate conventionally used in the field of display materials.

플렉시블 기판으로서의 폴리이미드 수지 필름을 제조하는 경우, 적당한 지지체 상에, 폴리이미드 전구체를 함유하는 조성물을 도포하여 도막을 형성한 후, 열처리를 실시하여 이미드화함으로써, 폴리이미드 수지 필름을 얻는다. 상기 지지체로는, 예를 들어 유리, 실리콘, 질화규소, 산화규소, 금속 등이 사용되고 있다. 이와 같은 지지체 상에 폴리이미드막을 갖는 적층체를 제조할 때에는, 폴리이미드 전구체의 건조 및 이미드화를 위해서, 250 ℃ 이상의 고온에 있어서의 가열 처리를 필요로 한다. 이 가열 처리에 의해, 상기 적층체에 잔류 응력이 발생하고, 휨, 박리 등의 심각한 문제가 발생한다. 이것은, 상기의 지지체를 구성하는 재료와 비교하여, 폴리이미드의 선 열팽창 계수가 크기 때문이다.In the case of producing a polyimide resin film as a flexible substrate, a polyimide resin film is obtained by applying a composition containing a polyimide precursor on a suitable support to form a coating film, followed by heat treatment and imidization. As the support, for example, glass, silicon, silicon nitride, silicon oxide, metal, or the like is used. When a laminate having a polyimide film on such a support is produced, a heat treatment at a high temperature of 250 캜 or more is required for drying and imidization of the polyimide precursor. By this heat treatment, residual stress is generated in the laminate, and serious problems such as warping and peeling occur. This is because the coefficient of linear thermal expansion of the polyimide is larger than that of the material constituting the support.

열팽창 계수가 작은 폴리이미드 재료로는, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물과 파라페닐렌디아민으로부터 형성되는 폴리이미드가 가장 잘 알려져 있다. 막두께 및 제조 조건에 의존하기는 하지만, 이 폴리이미드막은 매우 낮은 선 열팽창 계수를 나타내는 것이 보고되어 있다 (비특허문헌 1).As the polyimide material having a small thermal expansion coefficient, polyimide formed from 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride and paraphenylenediamine is most well known. Although it depends on the film thickness and the manufacturing conditions, it has been reported that this polyimide film exhibits a very low coefficient of linear thermal expansion (Non-Patent Document 1).

또, 분자 사슬 중에 에스테르 구조를 갖는 폴리이미드가, 적당한 직선성 및 강직성을 갖기 때문에, 낮은 선 열팽창 계수를 나타내는 것이 보고되어 있다 (특허문헌 1). It has also been reported that polyimide having an ester structure in the molecular chain exhibits a low linear thermal expansion coefficient because of its appropriate linearity and rigidity (Patent Document 1).

그러나, 상기의 문헌에 기재된 폴리이미드를 포함하여, 일반적인 폴리이미드 수지는, 높은 방향 고리 밀도에 의해 갈색 또는 황색으로 착색되기 때문에, 가시광 선영역에 있어서의 광 투과율이 낮고, 따라서 투명성이 요구되는 분야에 사용하는 것은 곤란하다. 예를 들어, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물과 파라페닐렌디아민으로부터 얻어지는 상기 비특허문헌 1 의 폴리이미드는, 막두께 10 ㎛ 에 있어서의 황색도 (YI 치) 가 40 이상으로 높아, 투명성의 점에서는 불충분하다.However, a general polyimide resin including the polyimide described in the above document is colored in brown or yellow due to its high directional cyclic density. Therefore, the light transmittance in the visible light region is low, and therefore, Is difficult to use. For example, the polyimide of the non-patent document 1 obtained from 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride and paraphenylenediamine has a yellowness degree (YI Value) is as high as 40 or more, which is insufficient in terms of transparency.

필름의 황색도에 대해서는, 예를 들어 불소 원자를 갖는 모노머를 사용한 폴리이미드가, 매우 낮은 황색도를 나타내는 것이 알려져 있다 (특허문헌 2).As to the yellowness degree of a film, it is known that polyimide using, for example, a monomer having a fluorine atom exhibits very low yellowing degree (Patent Document 2).

일본 특허 제4627297호 명세서Japanese Patent No. 4627297 일본 공표특허공보 2010-538103호Japanese Published Patent Publication No. 2010-538103 일본 특허 제3079867호 명세서Japanese Patent No. 3079867 Specification

최신 폴리이미드 일본 폴리이미드 연구회편 엔·티·에스  The latest polyimide Japan polyimide study society ENT · S

그런데, 폴리이미드 수지를 무색 투명 플렉시블 기판으로서 적용하기 위해서는, 투명성 외에, 우수한 신장도, 파단 강도 등의 기계적 물성도 요구되고 있다. 특히 최근에는, TFT 의 디바이스 타입이 LTPS (저온 폴리실리콘 TFT) 가 되는 것에 수반하여, 종래 이상의 열 이력에 있어서도, 상기의 물성을 발휘하는 필름이 요망되고 있다.However, in order to apply the polyimide resin as a colorless transparent flexible substrate, in addition to transparency, excellent physical properties such as elongation and break strength are also required. Particularly recently, along with the TFT device type becoming LTPS (low-temperature polysilicon TFT), a film exhibiting the above properties has been demanded even in the past thermal history.

그러나, 공지된 투명 폴리이미드의 물성 특성은, 디스플레이용의 내열성 무색 투명 기판으로서 사용하는 데에 충분하지는 않다.However, the physical properties of the known transparent polyimide are not sufficient for use as a heat resistant colorless transparent substrate for display.

또한, 본 발명자가 확인한 바, 특허문헌 1 에 기재된 폴리이미드 수지는, 낮은 선 열팽창 계수를 나타내기는 했지만, 박리 후의 폴리이미드 수지 필름의 황색도 (YI 치) 가 큰 것 외에, 잔류 응력이 높고, 신장도가 낮고, 파단 강도가 낮다는 과제가 있는 것을 알 수 있었다. Further, the polyimide resin described in Patent Document 1 has a low coefficient of linear thermal expansion, but the polyimide resin film after peeling has a high yellowness index (YI value) as well as high residual stress, The elongation is low and the breaking strength is low.

황색도에 대해서는, 특허문헌 2 에 기재된 폴리이미드 필름에서는, 300 ℃ 정도의 온도 영역에서는 낮은 황색도를 나타내지만, 400 ℃ 이상의 고온 영역에서는, 황색도 (YI 치) 가 현저하게 악화되는 것을 알 수 있었다.With regard to the degree of yellowness, the polyimide film described in Patent Document 2 shows a low yellowness in a temperature range of about 300 ° C., but a yellowness (YI value) in a high temperature range of 400 ° C. or more is markedly deteriorated there was.

또, 선팽창 계수를 낮춘 폴리이미드로서, 4,4'-디아미노디페닐에테르와 4,4'-디아미노디페닐에스테르로 이루어지는 폴리이미드가 개시되어 있다 (특허문헌 3). Further, polyimide comprising 4,4'-diaminodiphenyl ether and 4,4'-diaminodiphenyl ester has been disclosed as a polyimide having a lowered linear expansion coefficient (Patent Document 3).

그러나, 본 발명자가 확인한 바, 특허문헌 3 에 기재된 폴리이미드 수지는, 플렉시블 기판으로서 적용하기 위해서는 막이 매우 무르고, 고온에서의 황색도에는 개선의 여지가 있었다.However, the inventors of the present invention have found that the polyimide resin described in Patent Document 3 has a very thin film for application as a flexible substrate, and there is room for improvement in the degree of yellowing at high temperature.

본 발명은, 상기 설명한 문제점을 감안하여 이루어진 것이다. 따라서, 본 발명은, 잔류 응력이 낮고, 휨이 적고, 황색도 (YI 치) 가 작고, 신장도가 높은, 폴리이미드 수지 필름 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made in view of the above-described problems. Accordingly, an object of the present invention is to provide a polyimide resin film having low residual stress, low warpage, small yellowing degree (YI value), and high elongation, and a method for producing the same.

본 발명은, 이하와 같은 것이다.The present invention is as follows.

[1] [One]

(a1) 하기 일반식 (1):(a1) a compound represented by the following general formula (1):

[화학식 1] [Chemical Formula 1]

Figure pct00001
Figure pct00001

{식 중, X1 은 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} 로 나타내는 구조 단위 L 과, Wherein X 1 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b and c are integers of 0 to 4,

하기 일반식 (2):(2): < EMI ID =

[화학식 2] (2)

Figure pct00002
Figure pct00002

{식 중, X2 는 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. Y 는 하기 일반식 (3), (4) 및 (5) 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종이다} 로 나타내는 구조 단위 M 을,Wherein X 2 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. And Y is at least one selected from the group consisting of the following general formulas (3), (4) and (5)

1/99 ≤ (구조 단위 L 의 몰수/구조 단위 M 의 몰수) ≤ 99/1 1/99? (Number of moles of structural unit L / number of moles of structural unit M)? 99/1

로 포함하는 것을 특징으로 하는, 폴리이미드 전구체.≪ RTI ID = 0.0 > polyimide < / RTI > precursor.

[화학식 3](3)

Figure pct00003
Figure pct00003

[화학식 4][Chemical Formula 4]

Figure pct00004
Figure pct00004

[화학식 5][Chemical Formula 5]

Figure pct00005
Figure pct00005

{식 중, R4 ∼ R11 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. d ∼ k 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} (In the formulas, R 4 to R 11 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. d ~ k is an integer from 0 to 4.}

[2][2]

상기 일반식 (1) 에 있어서의 n 이 0 인, [1] 에 기재된 폴리이미드 전구체.The polyimide precursor according to [1], wherein n in the general formula (1) is 0.

[3] [3]

상기 일반식 (2) 의 Y 가, 일반식 (3) 인, [1] 또는 [2] 에 기재된 폴리이미드 전구체.The polyimide precursor according to [1] or [2], wherein Y in the general formula (2) is a general formula (3).

[4] [4]

상기 일반식 (2) 의 Y 가, 일반식 (4) 인, [1] 또는 [2] 에 기재된 폴리이미드 전구체.The polyimide precursor according to [1] or [2], wherein Y in the general formula (2) is a general formula (4).

[5] [5]

상기 일반식 (2) 의 Y 가, 일반식 (5) 인, [1] 또는 [2] 에 기재된 폴리이미드 전구체.The polyimide precursor according to [1] or [2], wherein Y in the general formula (2) is a general formula (5).

[6] [6]

(a2) 하기 일반식 (10):(a2) a compound represented by the following general formula (10):

[화학식 6] [Chemical Formula 6]

Figure pct00006
Figure pct00006

으로 나타내는 구조 단위를 갖고, 그리고, 중량 평균 분자량이 30,000 이상, 300,000 이하인 것을 특징으로 하는 폴리이미드 전구체.And a weight average molecular weight of 30,000 or more and 300,000 or less.

{식 중, X3 은 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA), 및 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종에서 유래하는 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} Wherein X 3 is at least one selected from the group consisting of 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA), and 4,4'-biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride ) (TAHQ). ≪ / RTI > R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4.}

[7] [7]

상기 (a2) 폴리이미드 전구체에 있어서의, 중량 평균 분자량 1,000 미만의 분자의 함유량이 5 질량% 미만인, [6] 에 기재된 폴리이미드 전구체.The polyimide precursor according to [6], wherein the polyimide precursor (a2) has a content of molecules having a weight average molecular weight of less than 1,000 in an amount of less than 5 mass%.

[8] [8]

일반식 (10) 에 있어서의 n 이 0 인, [6] 또는 [7] 에 기재된 폴리이미드 전구체.The polyimide precursor according to [6] or [7], wherein n in the general formula (10) is 0.

[9] [9]

상기 X1, X2 가, 피로멜리트산 2무수물 (PMDA), 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA), 및 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종에서 유래하는 4 가의 유기기인 [1] ∼ [5] 중 어느 한 항에 기재된 폴리이미드 전구체.Wherein X 1 and X 2 are selected from the group consisting of pyromellitic dianhydride (PMDA), 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA), and 4,4'- The polyimide precursor according to any one of [1] to [5], wherein the polyimide precursor is a tetravalent organic group derived from at least one selected from the group consisting of phenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride) (TAHQ).

[10] [10]

[1] ∼ [9] 중 어느 한 항에 기재된 폴리이미드 전구체와, (b) 유기 용제, 를 함유하는 것을 특징으로 하는, 수지 조성물.A resin composition comprising the polyimide precursor according to any one of [1] to [9], and (b) an organic solvent.

[11] [11]

또한, (c) 계면 활성제, 및 (d) 알콕시실란 화합물, 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종을 포함하는, [10] 에 기재된 수지 조성물.The resin composition according to [10], further comprising at least one member selected from the group consisting of (c) a surfactant, and (d) an alkoxysilane compound.

[12] [12]

하기 일반식 (11):(11): < EMI ID =

[화학식 7] (7)

Figure pct00007
Figure pct00007

{식 중, X1, X2 는 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다. Y 는 하기 일반식 (3), (4) 및 (5) 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종이다. l, m 은 각각 독립적으로 1 이상의 정수를 나타내고, 0.01 ≤ l / (l + m) ≤ 0.99 를 만족한다.} 로 나타내는 구조 단위를 갖는 것을 특징으로 하는, 폴리이미드.(Wherein X 1 and X 2 represent a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4. Y is at least one member selected from the group consisting of the following general formulas (3), (4) and (5). l and m each independently represent an integer of 1 or more and satisfy the following expression: 0.01? 1 / (1 + m)? 0.99.

[화학식 8][Chemical Formula 8]

Figure pct00008
Figure pct00008

[화학식 9][Chemical Formula 9]

Figure pct00009
Figure pct00009

[화학식 10][Chemical formula 10]

Figure pct00010
Figure pct00010

{식 중, R4 ∼ R11 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. d ∼ k 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} (In the formulas, R 4 to R 11 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. d ~ k is an integer from 0 to 4.}

[13] [13]

하기 일반식 (12):(12): < EMI ID =

[화학식 11] (11)

Figure pct00011
Figure pct00011

{식 중, X3 은 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA), 및 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종에서 유래하는 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} 로 나타내는 구조 단위를 갖고, 신장도가 15 % 이상인 것을 특징으로 하는, 폴리이미드.Wherein X 3 is at least one selected from the group consisting of 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA), and 4,4'-biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride ) (TAHQ). ≪ / RTI > R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b and c are integers of 0 to 4, and the elongation is 15% or more.

[14] [14]

지지체의 표면 상에, [10] 또는 [11] 에 기재된 수지 조성물을 도포함으로써 도막을 형성하는 공정과, A step of forming a coating film by applying a resin composition described in [10] or [11] on the surface of a support,

상기 지지체 및 상기 도막을 가열함으로써, 그 도막에 포함되는 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정과, A step of forming a polyimide resin film by imidizing the polyimide precursor contained in the coating film by heating the support and the coating film;

상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 공정A step of peeling the polyimide resin film from the support

을 포함하는 것을 특징으로 하는, 수지 필름의 제조 방법., Wherein the resin film (2) is formed of a resin.

[15] [15]

상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 공정에 앞서, 상기 지지체측으로부터 레이저를 조사하는 공정을 실시하는, [14] 에 기재된 수지 필름의 제조 방법.The method for producing a resin film according to [14], wherein a step of irradiating a laser beam from the support side is performed prior to the step of peeling the polyimide resin film from the support.

[16] [16]

지지체의 표면 상에, [10] 또는 [11] 에 기재된 수지 조성물을 도포함으로써 도막을 형성하는 공정과, A step of forming a coating film by applying a resin composition described in [10] or [11] on the surface of a support,

상기 지지체 및 상기 도막을 가열함으로써, 그 도막에 포함되는 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정A step of forming a polyimide resin film by imidizing the polyimide precursor contained in the coating film by heating the support and the coating film

을 포함하는 것을 특징으로 하는, 적층체의 제조 방법.Wherein the step of forming the laminate comprises the steps of:

[17] [17]

지지체의 표면 상에, [10] 또는 [11] 에 기재된 수지 조성물을 도포함으로써 도막을 형성하는 공정과, A step of forming a coating film by applying a resin composition described in [10] or [11] on the surface of a support,

상기 지지체 및 상기 도막을 가열함으로써, 그 도막에 포함되는 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정과, A step of forming a polyimide resin film by imidizing the polyimide precursor contained in the coating film by heating the support and the coating film;

상기 폴리이미드 수지막 상에 소자 또는 회로를 형성하는 공정과, Forming a device or a circuit on the polyimide resin film;

상기 소자 또는 회로가 형성된 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 공정A step of peeling the polyimide resin film on which the element or circuit is formed from the support

을 포함하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이 기판의 제조 방법.Wherein the first and second substrates are bonded to each other.

[18] [18]

하기 일반식 (12):(12): < EMI ID =

[화학식 12][Chemical Formula 12]

Figure pct00012
Figure pct00012

{식 중, X3 은 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA), 및 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ) 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종이고, R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} Wherein X 3 is at least one selected from the group consisting of 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA), and 4,4'-biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride ) (TAHQ), and R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4.}

로 나타내는 폴리이미드를 포함하는 것을 특징으로 하는, 디스플레이용 폴리이미드 필름.The polyimide film for display according to claim 1, wherein the polyimide film is a polyimide film.

[19] [19]

하기 일반식 (13):(13): < EMI ID =

[화학식 13] [Chemical Formula 13]

Figure pct00013
Figure pct00013

{식 중, X1 은 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} 으로 나타내는 폴리이미드를 포함하는 폴리이미드 필름층과, 저온 폴리실리콘 TFT 층을 포함하는 것을 특징으로 하는 적층체.Wherein X 1 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b and c are integers of 0 to 4, and a low-temperature polysilicon TFT layer.

[20] [20]

400 ℃ 이상에서 가열한 후의 막두께 10 미크론에 있어서의 황색도가 20 이하이고, 막두께 1 미크론일 때의 308 ㎚ 의 흡광도가 0.6 이상 2.0 이하이고, 그리고 신장도가 15 % 이상인 것을 특징으로 하는, 폴리이미드 필름.Characterized in that the degree of yellowness at a thickness of 10 microns after heating at 400 DEG C or higher is 20 or less and the absorbance at 308 nm when the film thickness is 1 micron is 0.6 or more and 2.0 or less and the elongation is 15% , Polyimide film.

[21] [21]

(a) 하기 일반식 (1) 로 나타내는 폴리이미드 전구체와,(a) a polyimide precursor represented by the following general formula (1)

(b) 유기 용제와,(b) an organic solvent,

(c) 계면 활성제 및 (d) 알콕시실란 화합물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종(c) a surfactant, and (d) an alkoxysilane compound.

을 포함하는 것을 특징으로 하는 수지 조성물.Wherein the resin composition further comprises a resin.

[화학식 14] [Chemical Formula 14]

Figure pct00014
Figure pct00014

{식 중, X1 은 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} Wherein X 1 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4.}

본 발명에 관련된 폴리이미드 전구체 및 수지 조성물로부터 얻어지는 폴리이미드 필름은, 잔류 응력이 낮고, 휨이 적고, 황색도 (YI 치) 가 작고, 신장도가 높다.The polyimide film obtained from the polyimide precursor and the resin composition according to the present invention has low residual stress, low warpage, small yellowishness (YI value), and high elongation.

도 1 은, 실시예 및 비교예에서 제조한 유기 EL 기판의 구조를 나타내는 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a view showing a structure of an organic EL substrate manufactured in Examples and Comparative Examples; Fig.

이하, 본 발명의 예시의 실시형태 (이하, 「실시형태」 라고 약기한다.) 에 대해, 상세하게 설명한다. 또한, 본 발명은, 이하의 실시형태에 한정되는 것이 아니라, 그 요지의 범위 내에서 여러 가지 변형하여 실시할 수 있다. 또, 본 개시에서 기재하는 특성값은, 특기가 없는 한, [실시예] 의 항에 있어서 기재하는 방법 또는 이것과 동등한 것이 당업자에게 이해되는 방법으로 측정되는 값인 것을 의도한다.BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention (hereinafter referred to as " embodiments ") will be described in detail. Further, the present invention is not limited to the following embodiments, and various modifications can be made within the scope of the present invention. Unless otherwise specified, the characteristic values described in this disclosure are intended to be values measured by the method described in the section of [Examples], or equivalents thereof, by methods understood by those skilled in the art.

<수지 조성물><Resin composition>

본 발명의 일 양태가 제공하는 수지 조성물은, (a) 폴리이미드 전구체 및 (b) 유기 용매를 함유한다.An embodiment of the present invention provides a resin composition comprising (a) a polyimide precursor and (b) an organic solvent.

이하, 각 성분을 차례로 설명한다.Hereinafter, each component will be described in turn.

[폴리이미드 전구체] [Polyimide precursor]

본 실시의 제 1 양태로서의 폴리이미드 전구체는,The polyimide precursor as the first embodiment of the present invention,

(a1) 하기 일반식 (1):(a1) a compound represented by the following general formula (1):

[화학식 15] [Chemical Formula 15]

Figure pct00015
Figure pct00015

{식 중, X1 은 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} 로 나타내는 구조 단위 L 과, Wherein X 1 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b and c are integers of 0 to 4,

하기 일반식 (2):(2): &lt; EMI ID =

[화학식 16] [Chemical Formula 16]

Figure pct00016
Figure pct00016

{식 중, X2 는 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. Y 는 하기 일반식 (3), (4) 및 (5) 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종인} 으로 나타내는 구조 단위 M 을Wherein X 2 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. Y is at least one selected from the group consisting of the following general formulas (3), (4) and (5)

1/99 ≤ (구조 단위 L 의 몰수/구조 단위 M 의 몰수) ≤ 99/1 로 포함하는 것을 특징으로 하는, 폴리이미드 전구체이다.1/99? (Number of moles of the structural unit L / number of moles of the structural unit M)? 99/1.

[화학식 17][Chemical Formula 17]

Figure pct00017
Figure pct00017

[화학식 18][Chemical Formula 18]

Figure pct00018
Figure pct00018

[화학식 19][Chemical Formula 19]

Figure pct00019
Figure pct00019

{식 중, R4 ∼ R11 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. d ∼ k 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} (In the formulas, R 4 to R 11 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. d ~ k is an integer from 0 to 4.}

본 실시의 제 1 양태의 폴리이미드 전구체는, 폴리이미드 필름으로 했을 때에 잔류 응력이 낮고, 휨이 적고, 황색도 (YI 치) 가 작고, 신장도가 높다. 또, 본 실시의 제 1 양태의 폴리이미드 전구체는, 폴리이미드 필름으로 했을 때에, 고온 영역에서의 황색도 (YI 치) 가 작다.The polyimide precursor of the first embodiment of the present invention has low residual stress, low warpage, small yellowishness (YI value), and high elongation when made into a polyimide film. In addition, the polyimide precursor of the first embodiment of the present invention has a low yellowness value (YI value) in a high temperature region when it is a polyimide film.

여기서, R1 ∼ R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이면 한정되지 않는다. 이와 같은 유기기로서, 메틸기, 에틸기, 프로필기 등의 알킬기, 트리플루오로메틸기 등의 할로겐 함유기, 메톡시기, 에톡시기 등의 알콕시기 등을 들 수 있다. 이 중에서, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 메틸기가 바람직하다.Here, R 1 to R 3 are not limited as long as they are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. Examples of such an organic group include alkyl groups such as methyl group, ethyl group and propyl group, halogen-containing groups such as trifluoromethyl group, and alkoxy groups such as methoxy group and ethoxy group. Among them, the methyl group is preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

여기서, a, b, c, d 는 0 ∼ 4 의 정수이면 한정되지 않는다. 이 중에서, YI, 잔류 응력의 관점에서 0 ∼ 2 의 정수가 바람직하고, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 0 이 특히 바람직하다. Here, a, b, c, and d are not limited as long as they are an integer of 0 to 4. Of these, an integer of 0 to 2 is preferable from the standpoint of YI and residual stress, and 0 is particularly preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

여기서, n 은 0 또는 1 이다. 이 중에서, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 0 이 바람직하다.Here, n is 0 or 1. Of these, 0 is preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

또, 구조 단위 L 과 구조 단위 M 의 몰비 (구조 단위 L 의 몰수/구조 단위 M 의 몰수) 의 하한은, 5/95 여도 되고, 10/90 이어도 되고, 20/80 이어도 되고, 30/70 이어도 되고, 40/60 이어도 된다. 구조 단위 L 과 구조 단위 M 의 몰비 (구조 단위 L 의 몰수/구조 단위 M 의 몰수) 의 상한은, 95/5 여도 되고, 90/10 이어도 되고, 80/20 이어도 되고, 70/30 이어도 되고, 60/40 이어도 된다.The lower limit of the molar ratio of the structural unit L to the structural unit M (the number of moles of the structural unit L / m of the structural unit M) may be 5/95, 10/90, 20/80 or 30/70 Or 40/60. The upper limit of the molar ratio of the structural unit L to the structural unit M (the number of moles of the structural unit L / the number of moles of the structural unit M) may be 95/5, 90/10, 80/20 or 70/30, 60/40.

X1, X2 는 각각 독립적으로 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기이고, 동일해도 되고 상이해도 된다. 하기의 테트라카르복실산 2무수물에서 유래하는 4 가의 유기기가 예시된다.X 1 and X 2 are each independently a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms and may be the same or different. Tetravalent organic groups derived from the following tetracarboxylic acid dianhydrides are exemplified.

상기 테트라카르복실산 2무수물로는, 구체적으로는, 탄소수가 8 ∼ 36 인 방향족 테트라카르복실산 2무수물, 탄소수가 6 ∼ 36 인 지방족 테트라카르복실산 2무수물, 및 탄소수가 6 ∼ 36 인 지환식 테트라카르복실산 2무수물에서 선택되는 화합물을 예시할 수 있다. 이 중에서, 고온 영역에서의 황색도의 관점에서 탄소수가 8 ∼ 36 인 방향족 테트라카르복실산 2무수물이 바람직하다. 여기서 말하는 탄소수에는, 카르복실기에 포함되는 탄소의 수도 포함한다.Specific examples of the tetracarboxylic acid dianhydride include aromatic tetracarboxylic acid dianhydrides having 8 to 36 carbon atoms, aliphatic tetracarboxylic acid dianhydrides having 6 to 36 carbon atoms, and alicyclic tetracarboxylic dianhydrides having 6 to 36 carbon atoms And a tetracarboxylic acid dianhydride. Among them, an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride having a carbon number of 8 to 36 is preferable from the viewpoint of the yellowness in a high temperature region. Here, the carbon number includes the number of carbons contained in the carboxyl group.

더욱 구체적으로는, 탄소수가 8 ∼ 36 인 방향족 테트라카르복실산 2무수물로서, 예를 들어 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물 (이하, 6FDA 라고도 기재한다), 5-(2,5-디옥소테트라하이드로-3-푸라닐)-3-메틸-시클로헥센-1,2디카르복실산 무수물, 피로멜리트산 2무수물 (이하, PMDA 라고도 기재한다), 1,2,3,4-벤젠테트라카르복실산 2무수물, 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물, 2,2',3,3'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물 (이하, BPDA 라고도 기재한다), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물, 2,2',3,3'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,1-에틸리덴-4,4'-디프탈산 2무수물, 2,2-프로필리덴-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,2-에틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,3-트리메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,4-테트라메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,5-펜타메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (이하, ODPA 라고도 기재한다), p-페닐렌비스(트리멜리테이트산 무수물) (이하, TAHQ 라고도 한다) 티오-4,4'-디프탈산 2무수물, 술포닐-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페닐)벤젠 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페녹시)벤젠 2무수물, 1,4-비스(3,4-디카르복시페녹시)벤젠 2무수물, 1,3-비스[2-(3,4-디카르복시페닐)-2-프로필]벤젠 2무수물, 1,4-비스[2-(3,4-디카르복시페닐)-2-프로필]벤젠 2무수물, 비스[3-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]메탄 2무수물, 비스[4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]메탄 2무수물, 2,2-비스[3-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]프로판 2무수물, 2,2-비스[4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]프로판 2무수물, 비스(3,4-디카르복시페녹시)디메틸실란 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페닐)-1,1,3,3-테트라메틸디실록산 2무수물, 2,3,6,7-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 1,4,5,8-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 1,2,5,6-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 3,4,9,10-페릴렌테트라카르복실산 2무수물, 2,3,6,7-안트라센테트라카르복실산 2무수물, 1,2,7,8-페난트렌테트라카르복실산 2무수물 등을 예시할 수 있다.More specifically, examples of the aromatic tetracarboxylic acid dianhydride having 8 to 36 carbon atoms include 4,4 '- (hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride (hereinafter also referred to as 6FDA), 5- 3-methyl-cyclohexene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, pyromellitic acid dianhydride (hereinafter, also referred to as PMDA), 1,2,4-dioxotetrahydro- Benzene tetracarboxylic acid dianhydride, 3,3 ', 4,4'-benzophenonetetracarboxylic acid dianhydride, 2,2', 3,3'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (hereinafter also referred to as BPDA), 3,3', 4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic acid dianhydride, 2,2 ', 3,3'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride, methylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 1,1-ethylidene-4,4'-diphthalic acid dianhydride, 2,2- Lidene-4,4'-diphthalic dianhydride, 1,2-ethylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 1,3-trimethylene- Dicarboxylic acid dianhydride, 1,4-tetramethylene-4,4'-diphthalic acid dianhydride, 1,5-pentamethylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (Hereinafter also referred to as TAHQ) thio-4,4'-diphthalic acid dianhydride, sulfonyl-4,4'-diphthalic acid dianhydride (hereinafter also referred to as ODPA), p-phenylenebis (trimellitic acid anhydride) Benzene dianhydride, 1,3-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) benzene dianhydride, 1,4-bis (3,4-dicarboxy Benzene dianhydride, 1,3-bis [2- (3,4-dicarboxyphenyl) -2-propyl] benzene dianhydride, 1,4-bis [2- (3,4-dicarboxyphenyl) (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] methane dianhydride, bis [3- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] methane dianhydride, , 2-bis [3- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride, 2,2-bis [4- (3,4- , 4-dicarboxyphenoxy) dimethylsilyl Bis (3,4-dicarboxyphenyl) -1,1,3,3-tetramethyldisiloxane dianhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic acid dianhydride, 1, , 4,5,8-naphthalenetetracarboxylic acid dianhydride, 1,2,5,6-naphthalenetetracarboxylic acid dianhydride, 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic acid dianhydride, 2, 3,6,7-anthracene tetracarboxylic acid dianhydride, 1,2,7,8-phenanthrene tetracarboxylic acid dianhydride, and the like.

탄소수가 6 ∼ 50 인 지방족 테트라카르복실산 2무수물로서, 예를 들어 에틸렌테트라카르복실산 2무수물, 1,2,3,4-부탄테트라카르복실산 2무수물 등을;Examples of the aliphatic tetracarboxylic acid dianhydride having 6 to 50 carbon atoms include ethylene tetracarboxylic acid dianhydride, 1,2,3,4-butanetetracarboxylic acid dianhydride and the like;

탄소수가 6 ∼ 36 인 지환식 테트라카르복실산 2무수물로서, 예를 들어 1,2,3,4-시클로부탄테트라카르복실산 2무수물, 시클로펜탄테트라카르복실산 2무수물, 시클로헥산-1,2,3,4-테트라카르복실산 2무수물, 시클로헥산-1,2,4,5-테트라카르복실산 2무수물 (이하, CHDA 라고 기재한다), 3,3',4,4'-비시클로헥실테트라카르복실산 2무수물, 카르보닐-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 메틸렌-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 1,2-에틸렌-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 1,1-에틸리덴-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 2,2-프로필리덴-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 옥시-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 티오-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 술포닐-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 비시클로[2,2,2]옥트-7-엔-2,3,5,6-테트라카르복실산 2무수물, rel-[1S,5R,6R]-3-옥사비시클로[3,2,1]옥탄-2,4-디온-6-스피로-3'-(테트라하이드로푸란-2',5'-디온), 4-(2,5-디옥소테트라하이드로푸란-3-일)-1,2,3,4-테트라하이드로나프탈렌-1,2-디카르복실산 무수물, 에틸렌글리콜-비스-(3,4-디카르복실산 무수물 페닐)에테르 등을, 각각 들 수 있다.As the alicyclic tetracarboxylic acid dianhydride having 6 to 36 carbon atoms, for example, 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid dianhydride, cyclopentanetetracarboxylic acid dianhydride, cyclohexane-1, Tetracarboxylic acid dianhydride, cyclohexane-1,2,4,5-tetracarboxylic acid dianhydride (hereinafter referred to as CHDA), 3,3 ', 4,4'-bis Cyclohexanetetracarboxylic acid dianhydride, carbonyl-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, methylene-4,4'-bis (cyclohexane- Dicarboxylic acid dianhydride, 1,2-ethylene-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, 1,1-ethylidene-4,4'-bis 1,2-dicarboxylic acid dianhydride, 2,2-propylidene-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, oxy- (Cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, thio-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, Bis (cyclohexane -1,2-dicarboxylic acid dianhydride, bicyclo [2,2,2] oct-7-ene-2,3,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, rel- [1S, 5R, 6R] -3-oxabicyclo [3,2,1] octane-2,4-dione-6-spiro-3 '- (tetrahydrofuran-2', 5'- -Dioxotetrahydrofuran-3-yl) -1,2,3,4-tetrahydronaphthalene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, ethylene glycol-bis- (3,4-dicarboxylic anhydride phenyl ) Ether, and the like.

CTE, 내약품성, Tg 와 고온 영역에서의 황색도의 밸런스의 관점에서, PMDA, BPDA, TAHQ, ODPA 가 바람직하고, BPDA, TAHQ 가 보다 바람직하다.From the viewpoint of CTE, chemical resistance, balance of Tg and yellowness in the high temperature range, PMDA, BPDA, TAHQ and ODPA are preferable, and BPDA and TAHQ are more preferable.

실시양태에 있어서의 폴리이미드 전구체는, 그 성능을 저해하지 않는 범위에서, 상기 서술한 테트라카르복실산 2무수물에 더하여 디카르복실산을 사용함으로써, 폴리아미드이미드 전구체로 해도 된다. 이와 같은 전구체를 사용함으로써, 얻어지는 필름에 있어서, 기계 신장도의 향상, 유리 전이 온도의 향상, 황색도의 저감 등의 여러 성능을 조정할 수 있다. 그러한 디카르복실산으로서, 방향 고리를 갖는 디카르복실산 및 지환식 디카르복실산을 들 수 있다. 특히 탄소수가 8 ∼ 36 인 방향족 디카르복실산, 및 탄소수가 6 ∼ 34 인 지환식 디카르복실산으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 개의 화합물인 것이 바람직하다. 여기서 말하는 탄소수에는, 카르복실기에 포함되는 탄소의 수도 포함한다.The polyimide precursor in the embodiment may be a polyamideimide precursor by using a dicarboxylic acid in addition to the above-described tetracarboxylic acid dianhydride to the extent that the performance thereof is not impaired. By using such a precursor, various performances such as improvement in mechanical elongation, improvement in glass transition temperature, and reduction in yellowness can be adjusted in the obtained film. As such a dicarboxylic acid, there can be mentioned a dicarboxylic acid having an aromatic ring and an alicyclic dicarboxylic acid. Particularly an aromatic dicarboxylic acid having 8 to 36 carbon atoms and an alicyclic dicarboxylic acid having 6 to 34 carbon atoms. Here, the carbon number includes the number of carbons contained in the carboxyl group.

이들 중, 방향 고리를 갖는 디카르복실산이 바람직하다.Of these, dicarboxylic acids having an aromatic ring are preferable.

구체적으로는, 예를 들어 이소프탈산, 테레프탈산, 4,4'-비페닐디카르복실산, 3,4'-비페닐디카르복실산, 3,3'-비페닐디카르복실산, 1,4-나프탈렌디카르복실산, 2,3-나프탈렌디카르복실산, 1,5-나프탈렌디카르복실산, 2,6-나프탈렌디카르복실산, 4,4'-술포닐비스벤조산, 3,4'-술포닐비스벤조산, 3,3'-술포닐비스벤조산, 4,4'-옥시비스벤조산, 3,4'-옥시비스벤조산, 3,3'-옥시비스벤조산, 2,2-비스(4-카르복시페닐)프로판, 2,2-비스(3-카르복시페닐)프로판, 2,2'-디메틸-4,4'-비페닐디카르복실산, 3,3'-디메틸-4,4'-비페닐디카르복실산, 2,2'-디메틸-3,3'-비페닐디카르복실산, 9,9-비스(4-(4-카르복시페녹시)페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-(3-카르복시페녹시)페닐)플루오렌, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 1,1-시클로부탄디카르복실산, 1,4-시클로헥산디카르복실산, 1,2-시클로헥산디카르복실산, 4,4'-벤조페논디카르복실산, 1,3-페닐렌2아세트산, 1,4-페닐렌2아세트산 등;및 Specific examples thereof include isophthalic acid, terephthalic acid, 4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 3-naphthalene dicarboxylic acid, 1,5-naphthalene dicarboxylic acid, 2,6-naphthalene dicarboxylic acid, 4,4'-sulfonyl bisbenzoic acid, 3, 4'-oxybisbenzoic acid, 3,3'-oxybisbenzoic acid, 2,2-bis (4-carboxyphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxyphenyl) propane, 2,2'-dimethyl-4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,3'- 9,4-bis (4- (4-carboxyphenoxy) phenyl) fluorene, 9, 9'-diphenyldicarboxylic acid, 2,2'- 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) 3,4'-bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,4'-bis Bis (3-carboxyphenoxy) biphenyl, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,3'- (4-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) 4'-bis (4-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3,3'-bis (4-carboxyphenoxy) -m -Terphenyl, 3,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 4,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 3,3'-bis , 3'-bis (3-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 1,1-cyclobutanedicarboxylic acid, 1,4-cyclohexanedicarboxylic acid, 1,2- , 4,4'-benzophenone dicarboxylic acid, 1,3-phenylene diacetic acid, 1,4-phenylene diacetic acid and the like; and

국제 공개 제2005/068535호 팸플릿에 기재된 5-아미노이소프탈산 유도체 등을 들 수 있다. 이들 디카르복실산을 폴리머에 실제로 공중합시키는 경우에는, 염화티오닐 등으로부터 유도되는 산 클로라이드체, 활성 에스테르체 등의 형태로 사용해도 된다.And 5-aminoisophthalic acid derivatives described in International Publication WO 2005/068535 pamphlet. When these dicarboxylic acids are actually copolymerized with the polymer, they may be used in the form of an acid chloride derivative or an active ester derivative derived from thionyl chloride or the like.

본 실시형태에 있어서의 폴리이미드 전구체의 중량 평균 분자량 (Mw) 은, 10,000 ∼ 300,000 이 바람직하고, 30,000 ∼ 200,000 이 특히 바람직하다. 중량 평균 분자량이 10,000 보다 크면, 신장도, 파단 강도 등의 기계적 특성이 우수하고, 잔류 응력이 낮고, YI 가 낮아진다. 중량 평균 분자량이 300,000 보다 작으면, 폴리아미드산의 합성시에 중량 평균 분자량을 컨트롤하기 쉬워져, 적당한 점도의 수지 조성물을 얻을 수 있고, 수지 조성물의 도포성이 좋아진다. 본 개시에 있어서, 중량 평균 분자량은, 겔 퍼미에이션 크로마토그래피 (이하, GPC 라고도 한다) 를 이용하여, 표준 폴리스티렌 환산치로서 구해지는 값이다.The weight average molecular weight (Mw) of the polyimide precursor in the present embodiment is preferably 10,000 to 300,000, particularly preferably 30,000 to 200,000. If the weight average molecular weight is more than 10,000, mechanical characteristics such as elongation and breaking strength are excellent, residual stress is low, and YI is low. When the weight average molecular weight is less than 300,000, the weight average molecular weight can be easily controlled at the time of the synthesis of the polyamic acid, and a resin composition having an appropriate viscosity can be obtained, and the applicability of the resin composition is improved. In the present disclosure, the weight average molecular weight is a value obtained as a standard polystyrene conversion value using gel permeation chromatography (hereinafter also referred to as GPC).

본 실시형태에 있어서의 폴리이미드 전구체는, 분자량 1,000 미만의 분자의 함유량은, 폴리이미드 전구체의 전체량에 대하여, 5 질량% 미만인 것이 바람직하고, 1 질량% 미만인 것이 더욱 바람직하다. 이와 같은 폴리이미드 전구체를 사용하여 얻어지는 수지 조성물로부터 형성되는 폴리이미드 필름은 잔류 응력이 낮은 것이 되고, 그 폴리이미드 필름 상에 형성한 무기막의 Haze 가 낮아진다는 관점에서, 바람직하다.In the polyimide precursor of the present embodiment, the content of molecules having a molecular weight of less than 1,000 is preferably less than 5 mass%, more preferably less than 1 mass%, based on the total amount of the polyimide precursor. The polyimide film formed from the resin composition obtained by using such a polyimide precursor is low in residual stress and is preferable from the viewpoint that the haze of the inorganic film formed on the polyimide film becomes low.

폴리이미드 전구체의 전체량에 대한 분자량 1,000 미만의 분자의 함유량은, 그 폴리이미드 전구체를 용해한 용액을 사용하여 GPC 측정을 실시하여 얻어지는 피크 면적으로부터 산출할 수 있다.The content of the molecule having a molecular weight of less than 1,000 with respect to the total amount of the polyimide precursor can be calculated from the peak area obtained by conducting GPC measurement using a solution in which the polyimide precursor is dissolved.

본 실시형태에 있어서의 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민으로는, 하기 일반식 (6) 으로 나타내는 디아민을 예시할 수 있다.As the diamine used in the structural unit represented by the general formula (1) in the present embodiment, a diamine represented by the following general formula (6) can be exemplified.

[화학식 20] [Chemical Formula 20]

Figure pct00020
Figure pct00020

(식 중, R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.) (Wherein R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, n represents 0 or 1, and a, b and c are integers of 0 to 4)

R1, R2 로는, 메틸기, 에틸기, 프로필기 등의 알킬기, 트리플루오로메틸기 등의 할로겐 함유기, 메톡시기, 에톡시기 등의 알콕시기 등을 들 수 있다. 이 중에서, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 메틸기가 바람직하다.Examples of R 1 and R 2 include alkyl groups such as methyl group, ethyl group and propyl group, halogen-containing groups such as trifluoromethyl group, and alkoxy groups such as methoxy group and ethoxy group. Among them, the methyl group is preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

여기서, a, b 는 0 ∼ 4 의 정수이면 한정되지 않는다. 이 중에서, YI, 잔류 응력의 관점에서 0 ∼ 2 의 정수가 바람직하고, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 0 이 특히 바람직하다.Here, a and b are not limited provided that they are an integer of 0 to 4. Of these, an integer of 0 to 2 is preferable from the standpoint of YI and residual stress, and 0 is particularly preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

보다 구체적으로는, n 이 0 인 경우에는, 4-아미노페닐-4-아미노벤조에이트 (APAB), 2-메틸-4-아미노페닐-4-아미노벤조에이트 (ATAB), 4-아미노페닐-3-아미노벤조에이트 (4,3-APAB) 등을 예시할 수 있다.More specifically, when n is 0, 4-aminophenyl-4-aminobenzoate (APAB), 2-methyl-4-aminophenyl-4-aminobenzoate -Aminobenzoate (4,3-APAB), and the like.

n 이 1 인 경우에는, [4-(4-아미노벤조일)옥시페닐]4-아미노벤조에이트 등을 예시할 수 있다.When n is 1, [4- (4-aminobenzoyl) oxyphenyl] 4-aminobenzoate and the like can be exemplified.

본 실시형태에 있어서의 일반식 (3) 으로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민으로는, 하기 일반식 (7) 로 나타내는 디아민을 예시할 수 있다.As the diamine used in the structural unit represented by the general formula (3) in the present embodiment, a diamine represented by the following general formula (7) can be mentioned.

[화학식 21] [Chemical Formula 21]

Figure pct00021
Figure pct00021

(식 중, R4, R5 는 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. d, e 는 0 ∼ 4 의 정수이다.) (Wherein R 4 and R 5 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, and d and e are integers of 0 to 4.)

여기서, R4, R5 는 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이면 한정되지 않는다. 이와 같은 유기기로서, 메틸기, 에틸기, 프로필기 등의 알킬기, 트리플루오로메틸기 등의 할로겐 함유기, 메톡시기, 에톡시기 등의 알콕시기 등을 들 수 있다. 이 중에서, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 메틸기가 바람직하다.Here, R 4 and R 5 are not limited as long as they are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. Examples of such an organic group include alkyl groups such as methyl group, ethyl group and propyl group, halogen-containing groups such as trifluoromethyl group, and alkoxy groups such as methoxy group and ethoxy group. Among them, the methyl group is preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

여기서, c, d 는 0 ∼ 4 의 정수이면 한정되지 않는다. 이 중에서, YI, 잔류 응력의 관점에서 0 ∼ 2 의 정수가 바람직하고, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 0 이 특히 바람직하다.Here, c and d are not limited as long as they are an integer of 0 to 4. Of these, an integer of 0 to 2 is preferable from the standpoint of YI and residual stress, and 0 is particularly preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

보다 구체적으로는, 4,4'-디아미노디페닐술폰, 3,3'-디아미노디페닐술폰을 예시할 수 있다.More specifically, 4,4'-diaminodiphenylsulfone and 3,3'-diaminodiphenylsulfone can be exemplified.

본 실시형태에 있어서의 일반식 (4) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민으로는, 하기 일반식 (8) 로 나타내는 디아민을 예시할 수 있다.As the diamine used in the structural unit represented by the general formula (4) in the present embodiment, a diamine represented by the following general formula (8) can be exemplified.

[화학식 22] [Chemical Formula 22]

Figure pct00022
Figure pct00022

여기서, R6 및 R7 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이면 한정되지 않는다. 이와 같은 유기기로서, 예를 들어, 메틸기, 에틸기, 프로필기 등의 알킬기;트리플루오로메틸기 등의 할로겐 함유기;메톡시기, 에톡시기 등의 알콕시기;등을 들 수 있다. 이 중에서, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 메틸기가 바람직하다.Here, R 6 and R 7 are each independently not limited to a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. Examples of such an organic group include alkyl groups such as methyl group, ethyl group and propyl group, halogen-containing groups such as trifluoromethyl group, and alkoxy groups such as methoxy group and ethoxy group. Among them, the methyl group is preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

R8 과 R9 는 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기, 수산기, 또는 할로겐 원자이면 한정되지 않는다. 상기의 유기기로는, 예를 들어, 메틸기, 에틸기, 프로필기 등의 알킬기;트리플루오로메틸기 등의 할로겐 함유기;메톡시기, 에톡시기 등의 알콕시기;등을 들 수 있다. 할로겐 원자로는, 예를 들어, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자, 요오드 원자 등을 들 수 있다.Each of R 8 and R 9 independently represents a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, a hydroxyl group, or a halogen atom. Examples of the organic group include an alkyl group such as a methyl group, an ethyl group and a propyl group, a halogen-containing group such as a trifluoromethyl group, and an alkoxy group such as a methoxy group and an ethoxy group. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.

f, g, h, 및 i 는 각각 독립적으로 0 ∼ 4 의 정수이면 한정되지 않는다. 이 중에서, YI, 잔류 응력의 관점에서 0 ∼ 2 의 정수가 바람직하고, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 0 이 특히 바람직하다.f, g, h, and i are each independently not limited as long as an integer of 0 to 4. Of these, an integer of 0 to 2 is preferable from the standpoint of YI and residual stress, and 0 is particularly preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

Z 는 단결합, 메틸렌기, 에틸렌기, 에테르, 케톤 등을 예시할 수 있다. 이 중에서, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 단결합이 보다 바람직하다.Z is a single bond, a methylene group, an ethylene group, an ether, a ketone, or the like. Of these, single bonds are more preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

보다 구체적으로는, 9,9-비스(아미노페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-아미노-3-메틸페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-아미노-3-플루오로페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-하이드록시-3-아미노페닐)플루오렌, 9,9-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]플루오렌 등을 예시할 수 있으며, 이들 중에서 선택되는 1 종 이상을 사용하는 것이 바람직하다.More specifically, it is possible to use 9,9-bis (aminophenyl) fluorene, 9,9-bis (4-amino- Fluorene, 9,9-bis (4-hydroxy-3-aminophenyl) fluorene, and 9,9-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] fluorene. It is preferable to use at least one selected.

본 실시형태에 있어서의 일반식 (5) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민으로는, 하기 일반식 (9) 로 나타내는 디아민을 예시할 수 있다.As the diamine used in the structural unit represented by the general formula (5) in the present embodiment, a diamine represented by the following general formula (9) can be mentioned.

[화학식 23] (23)

Figure pct00023
Figure pct00023

여기서, R10 및 R11 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이면 한정되지 않는다. 이와 같은 유기기로서, 예를 들어, 메틸기, 에틸기, 프로필기 등의 알킬기;트리플루오로메틸기 등의 할로겐 함유기;메톡시기, 에톡시기 등의 알콕시기;등을 들 수 있다. 이 중에서, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 메틸기가 바람직하다.Here, R 10 and R 11 are not limited as long as they are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. Examples of such an organic group include alkyl groups such as methyl group, ethyl group and propyl group, halogen-containing groups such as trifluoromethyl group, and alkoxy groups such as methoxy group and ethoxy group. Among them, the methyl group is preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

또, j, k 는 각각 독립적으로 0 ∼ 4 의 정수이면 한정되지 않는다. 이 중에서, YI, 잔류 응력의 관점에서 0 ∼ 2 의 정수가 바람직하고, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 0 이 특히 바람직하다. Each of j and k is not limited as long as it is independently an integer of 0 to 4. Of these, an integer of 0 to 2 is preferable from the standpoint of YI and residual stress, and 0 is particularly preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

보다 구체적으로는, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘 등을 예시할 수 있다.More specifically, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine and the like can be mentioned.

본 실시의 제 1 양태의 폴리이미드 전구체로부터 형성되는 폴리이미드 필름은, 잔류 응력이 낮고, 휨이 적고, 고온 영역에서의 황색도 (YI 치) 가 작고, 신장도가 높다.The polyimide film formed from the polyimide precursor of the first embodiment of the present invention has low residual stress, low warpage, low yellowing degree (YI value) at high temperature region, and high elongation.

본 실시의 제 2 양태로서,As a second embodiment of the present invention,

(a2) 하기 일반식 (10):(a2) a compound represented by the following general formula (10):

[화학식 24]&Lt; EMI ID =

Figure pct00024
Figure pct00024

로 나타내는 구조 단위를 갖고, 그리고, 중량 평균 분자량이 30,000 이상, 300,000 이하인 폴리이미드 전구체를 제공할 수 있다.And a polyimide precursor having a weight average molecular weight of 30,000 or more and 300,000 or less can be provided.

{식 중, X3 은 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA), 및 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 에서 선택되는 적어도 1 종에서 유래하는 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} Wherein X 3 is at least one selected from the group consisting of 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA), and 4,4'-biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride ) (TAHQ). &Lt; / RTI &gt; R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4.}

여기서 X3 은 ODPA, BPDA, TAHQ 에서 선택되는 적어도 1 종에서 유래하는 4 가의 유기기이면 한정되지 않지만, CTE 및 Tg 의 관점에서, BPDA, TAHQ 가 바람직하다. Here, X 3 is not limited as long as it is a tetravalent organic group derived from at least one selected from ODPA, BPDA and TAHQ, but BPDA and TAHQ are preferable from the viewpoint of CTE and Tg.

여기서, R1 ∼ R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이면 한정되지 않는다. 이와 같은 유기기로서, 메틸기, 에틸기, 프로필기 등의 알킬기, 트리플루오로메틸기 등의 할로겐 함유기, 메톡시기, 에톡시기 등의 알콕시기 등을 들 수 있다. 이 중에서, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 메틸기가 바람직하다.Here, R 1 to R 3 are not limited as long as they are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. Examples of such an organic group include alkyl groups such as methyl group, ethyl group and propyl group, halogen-containing groups such as trifluoromethyl group, and alkoxy groups such as methoxy group and ethoxy group. Among them, the methyl group is preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

여기서, a, b, c, d 는 0 ∼ 4 의 정수이면 한정되지 않는다. 이 중에서, YI, 잔류 응력의 관점에서 0 ∼ 2 의 정수가 바람직하고, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 0 이 특히 바람직하다.Here, a, b, c, and d are not limited as long as they are an integer of 0 to 4. Of these, an integer of 0 to 2 is preferable from the standpoint of YI and residual stress, and 0 is particularly preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

여기서, n 은 0 또는 1 이다. 이 중에서, 고온 영역에서의 YI 의 관점에서, 0 이 바람직하다.Here, n is 0 or 1. Of these, 0 is preferable from the viewpoint of YI in the high temperature region.

전술한 일반식 (10) 으로 나타내는 구조를 위한 디아민으로는, 전술한 일반식 (6) 에서 사용되는 디아민을 사용할 수 있다.As the diamine for the structure represented by the general formula (10), a diamine used in the general formula (6) can be used.

제 2 양태에 있어서의 폴리이미드 전구체의 중량 평균 분자량 (Mw) 은, 30,000 ∼ 300,000 이다. 중량 평균 분자량이 30,000 보다 크면, 신장도, 파단 강도 등의 기계적 특성이 우수하고, 잔류 응력이 낮고, YI 가 낮아진다. 중량 평균 분자량이 300,000 보다 작으면, 폴리아미드산의 합성시에 중량 평균 분자량을 컨트롤하기 쉬워져, 적당한 점도의 수지 조성물을 얻을 수 있고, 수지 조성물의 도포성이 좋아진다. 이 중에서, 중량 평균 분자량 (Mw) 은 35000 이상 250000 이하가 보다 바람직하고, 40000 이상 230000 이하가 특히 바람직하다.The weight average molecular weight (Mw) of the polyimide precursor in the second embodiment is 30,000 to 300,000. When the weight average molecular weight is more than 30,000, mechanical characteristics such as elongation and breaking strength are excellent, residual stress is low, and YI is low. When the weight average molecular weight is less than 300,000, the weight average molecular weight can be easily controlled at the time of the synthesis of the polyamic acid, and a resin composition having an appropriate viscosity can be obtained, and the applicability of the resin composition is improved. Among these, the weight average molecular weight (Mw) is more preferably from 35000 to 250000, and particularly preferably from 40000 to 2300000.

본 실시의 제 2 양태에 있어서의 폴리이미드 전구체는, 분자량 1,000 미만의 분자의 함유량은, 폴리이미드 전구체의 전체량에 대하여, 5 질량% 미만인 것이 바람직하고, 1 질량% 미만인 것이 더욱 바람직하다. 이와 같은 폴리이미드 전구체를 사용하여 얻어지는 수지 조성물로부터 형성되는 폴리이미드 필름은 잔류 응력이 낮은 것이 되고, 그 폴리이미드 필름 상에 형성한 무기막의 Haze 가 낮아진다는 관점에서, 바람직하다.In the polyimide precursor of the second embodiment, the content of molecules having a molecular weight of less than 1,000 is preferably less than 5% by mass, and more preferably less than 1% by mass based on the total amount of the polyimide precursor. The polyimide film formed from the resin composition obtained by using such a polyimide precursor is low in residual stress and is preferable from the viewpoint that the haze of the inorganic film formed on the polyimide film becomes low.

폴리이미드 전구체의 전체량에 대한 분자량 1,000 미만의 분자의 함유량은, 그 폴리이미드 전구체를 용해한 용액을 사용하여 GPC 측정을 실시하여 얻어지는 피크 면적으로부터 산출할 수 있다.The content of the molecule having a molecular weight of less than 1,000 with respect to the total amount of the polyimide precursor can be calculated from the peak area obtained by conducting GPC measurement using a solution in which the polyimide precursor is dissolved.

본 실시의 제 2 양태의 폴리이미드 전구체는, 보존 안정성이 우수하고, 도공성이 우수하다. 또, 본 실시의 제 2 양태의 폴리이미드 전구체로부터 형성되는 폴리이미드 필름은, 잔류 응력이 낮고, 휨이 적고, 황색도 (YI 치) 가 작고, 신장도가 높고, 파단 강도가 높다.The polyimide precursor of the second embodiment is excellent in storage stability and excellent in coatability. The polyimide film formed from the polyimide precursor of the second embodiment of the present invention has low residual stress, low warpage, low yellowing (YI value), high elongation, and high breaking strength.

제 1 양태 및 제 2 양태에 있어서의 폴리이미드 전구체에는, 신장도, 강도, 응력, 및 황색도 등을 저해하지 않는 범위에서, 전술한 일반식 (6) ∼ (9) 로 나타내는 디아민 외에, 다른 디아민을 사용할 수 있다.The polyimide precursor in the first and second embodiments may contain, in addition to the diamines represented by the above-mentioned general formulas (6) to (9), other polyimide precursors in addition to the diamine Diamines may be used.

그 밖의 디아민으로는, 예를 들어, p-페닐렌디아민, m-페닐렌디아민, 4,4'-디아미노디페닐술파이드, 3,4'-디아미노디페닐술파이드, 3,3'-디아미노디페닐술파이드, 4,4'-디아미노비페닐, 3,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디아미노비페닐, 4,4'-디아미노벤조페논, 3,4'-디아미노벤조페논, 3,3'-디아미노벤조페논, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 3,4'-디아미노디페닐메탄, 3,3'-디아미노디페닐메탄, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]술폰, 4,4-비스(4-아미노페녹시)비페닐, 4,4-비스(3-아미노페녹시)비페닐, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]에테르, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]에테르, 1,4-비스(4-아미노페닐)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페닐)벤젠, 9,10-비스(4-아미노페닐)안트라센, 2,2-비스(4-아미노페닐)프로판, 2,2-비스(4-아미노페닐)헥사플루오로프로판, 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐)프로판, 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐)헥사플루오로프로판, 1,4-비스(3-아미노프로필디메틸실릴)벤젠 등을 들 수 있으며, 이들 중에서 선택되는 1 종 이상을 사용하는 것이 바람직하다.Examples of other diamines include p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 4,4'-diaminodiphenylsulfide, 3,4'-diaminodiphenylsulfide, 3,3 ' Diaminodiphenylsulfide, 4,4'-diaminobiphenyl, 3,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-diaminobiphenyl, 4,4'-diaminobenzophenone, 4'-diaminobenzophenone, 3,3'-diaminobenzophenone, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3'-diaminodiphenylmethane (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, (Aminophenoxy) phenyl] sulfone, 4,4-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 4,4- ] Ether, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] ether, 1,4-bis (4-aminophenyl) benzene, 1,3- Aminophenyl) anthracene, 2,2-bis (4-aminophenyl) propane, 2,2 Bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl) propane, 2,2-bis [4- Fluoropropane, 1,4-bis (3-aminopropyldimethylsilyl) benzene, and the like, and it is preferable to use at least one selected from these.

전체 디아민 중의, 상기 기타 디아민의 함유량은, 20 몰% 이하가 바람직하고, 10 몰% 이하가 특히 바람직하다.The content of the other diamine in the total diamine is preferably 20 mol% or less, and particularly preferably 10 mol% or less.

[폴리이미드 전구체의 제조] [Production of polyimide precursor]

본 발명의 폴리이미드 전구체 (폴리아미드산) 는, 테트라카르복실산 2무수물과, 전술한 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민 (예를 들어 APAB) 과, 전술한 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민 (예를 들어 4,4'-DAS) 을, 중축합 반응시킴으로써, 합성할 수 있다. 이 반응은, 적당한 용매 중에서 실시하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 예를 들어, 용매에 소정량의 APAB 및 4,4'-DAS 를 용해시킨 후, 얻어진 디아민 용액에, 테트라카르복실산 2무수물을 소정량 첨가하고, 교반하는 방법을 들 수 있다.The polyimide precursor (polyamic acid) of the present invention is obtained by reacting a tetracarboxylic acid dianhydride with a diamine (for example, APAB) used in the structural unit represented by the above-mentioned general formula (1) (For example, 4,4'-DAS) used in a structural unit represented by the general formula (1) below. This reaction is preferably carried out in a suitable solvent. Concretely, for example, there is a method of dissolving a predetermined amount of APAB and 4,4'-DAS in a solvent, adding a predetermined amount of tetracarboxylic acid dianhydride to the obtained diamine solution and stirring .

디아민 성분 중, 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민과, 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민의 몰비는 99/1 ∼ 1/99 이면 한정되지 않는다. 디아민 성분 중, 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민이 1 몰% 이상이면, 황색도가 양호한 경향이 있고, 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민이 1 몰% 이상이면, 얻어지는 폴리이미드 필름 상에 무기막을 형성한 후의 휨이 양호한 경향이 있다. 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민과, 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민의 몰비는 95/5 ∼ 50/50 이 바람직하고, 90/10 ∼ 50/50 이 보다 바람직하다. 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민과, 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민의 몰비는, 80/20 ∼ 50/50 이어도 되고, 70/30 ∼ 50/50 이어도 된다. 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민의 몰비를 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민의 몰비 이상으로 하는 것이 바람직하다. In the diamine component, the molar ratio of the diamine used in the structural unit represented by the general formula (1) to the diamine used in the structural unit represented by the general formula (2) is not limited to 99/1 to 1/99. When the diamine used in the structural unit represented by the general formula (2) is at least 1 mol%, the yellowness tends to be good, and the diamine used in the structural unit represented by the general formula (1) is at least 1 mol% , The warp after the formation of the inorganic film on the obtained polyimide film tends to be good. The molar ratio of the diamine used in the structural unit represented by the formula (1) to the diamine used in the structural unit represented by the formula (2) is preferably 95/5 to 50/50, more preferably 90/10 to 50/50 More preferable. The molar ratio of the diamine used in the structural unit represented by the general formula (1) and the diamine used in the structural unit represented by the general formula (2) may be 80/20 to 50/50, or 70/30 to 50/50 do. The molar ratio of the diamine used in the structural unit represented by the general formula (1) is preferably not less than the molar ratio of the diamine used in the structural unit represented by the general formula (2).

또, 본 실시의 제 2 양태의 폴리이미드 전구체는, 테트라카르복실산 2무수물 (예를 들어 TAHQ) 과, 전술한 일반식 (6) 으로 나타내는 구조 단위에 사용되는 디아민 (예를 들어 APAB) 을, 중축합 반응시킴으로써, 합성할 수 있다. 이 반응은, 적당한 용매 중에서 실시하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 예를 들어, 용매에 소정량의 APAB 를 용해시킨 후, 얻어진 디아민 용액에, TAHQ 를 소정량 첨가하고, 교반하는 방법을 들 수 있다.The polyimide precursor of the second embodiment can be obtained by reacting a tetracarboxylic acid dianhydride (for example, TAHQ) with a diamine (for example, APAB) used in the structural unit represented by the aforementioned general formula (6) , And a polycondensation reaction can be carried out. This reaction is preferably carried out in a suitable solvent. Specifically, for example, a method of dissolving a predetermined amount of APAB in a solvent, adding a predetermined amount of TAHQ to the obtained diamine solution, and stirring.

상기 폴리이미드 전구체를 합성할 때의, 테트라카르복실산 2무수물 성분과 디아민 성분의 비 (몰비) 는, 얻어지는 수지 필름의 열 선팽창률, 잔류 응력, 신장도, 및 황색도 (이하, YI 라고도 한다) 를 원하는 범위로 컨트롤한다는 관점에서, 테트라카르복실산 2무수물:디아민 = 100:90 ∼ 100:110 (테트라카르복실산 2무수물 1 몰부에 대하여 디아민 0.90 ∼ 1.10 몰부) 의 범위로 하는 것이 바람직하고, 100:95 ∼ 100:105 (산 2무수물 1 몰부에 대하여 디아민 0.95 ∼ 1.05 몰부) 의 범위로 하는 것이 더욱 바람직하다.The ratio (molar ratio) of the tetracarboxylic acid dianhydride component to the diamine component at the time of synthesizing the polyimide precursor is determined by the thermal expansion coefficient, residual stress, elongation, and yellowness (hereinafter also referred to as YI) Is preferably in the range of tetracarboxylic acid dianhydride: diamine = 100: 90 to 100: 110 (0.90 to 1.10 molar parts of diamine relative to 1 molar part of tetracarboxylic acid dianhydride) , And 100: 95 to 100: 105 (0.95 to 1.05 molar parts of diamine relative to 1 molar part of the acid dianhydride).

본 실시양태에 있어서, 바람직한 폴리이미드 전구체인 폴리아미드산을 합성할 때에는, 분자량을, 테트라카르복실산 2무수물 성분과 디아민 성분의 비의 조정, 및 말단 봉지제 (封止劑) 의 첨가에 의해 컨트롤하는 것이 가능하다. 산 2무수물 성분과 디아민 성분의 비가 1:1 에 가까울수록, 및 말단 봉지제의 사용량이 적을수록, 폴리아미드산의 분자량을 크게 할 수 있다.In the present embodiment, when synthesizing a polyamic acid which is a preferred polyimide precursor, the molecular weight is adjusted by adjusting the ratio of the tetracarboxylic acid dianhydride component to the diamine component and by adding a terminal sealing agent It is possible to control. The closer the ratio of the acid anhydride component to the diamine component is at 1: 1, and the smaller the amount of the end sealant used, the larger the molecular weight of the polyamic acid.

테트라카르복실산 2무수물 성분 및 디아민 성분으로서, 고순도품을 사용하는 것이 추장 (推奬) 된다. 그 순도로는, 각각, 98 질량% 이상으로 하는 것이 바람직하고, 99 질량% 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 99.5 질량% 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하다. 복수 종류의 산 2무수물 성분 또는 디아민 성분을 병용하는 경우에는, 산 2무수물 성분 또는 디아민 성분의 전체적으로 상기의 순도를 갖고 있으면 충분하지만, 사용하는 전체 종류의 산 2무수물 성분 및 디아민 성분이, 각각 상기의 순도를 갖고 있는 것이 바람직하다.It is recommended that a high-purity product be used as the tetracarboxylic acid dianhydride component and the diamine component. The purity is preferably 98% by mass or more, more preferably 99% by mass or more, and further preferably 99.5% by mass or more. When a plurality of kinds of acid anhydride or diamine components are used in combination, it is sufficient that the acid anhydride component or the diamine component as a whole has the above-mentioned purity. However, the total of the acid anhydride component and the diamine component, Of the purity.

반응의 용매로는, 테트라카르복실산 2무수물 성분 및 디아민 성분, 그리고 발생한 폴리아미드산을 용해할 수 있고, 고분자량의 중합체가 얻어지는 용매이면 특별히 제한은 되지 않는다. 이와 같은 용매의 구체예로는, 예를 들어, 비프로톤성 용매, 페놀계 용매, 에테르 및 글리콜계 용매 등을 들 수 있다. 이들의 구체예로는, The solvent of the reaction is not particularly limited as long as it is a solvent capable of dissolving a tetracarboxylic acid dianhydride component, a diamine component, and a resulting polyamic acid, and a polymer having a high molecular weight. Specific examples of such solvents include, for example, aprotic solvents, phenol solvents, ether solvents and glycol solvents. As specific examples of these,

상기 비프로톤성 용매로서, 예를 들어, N,N-디메틸포름아미드 (DMF), N,N-디메틸아세트아미드 (DMAc), N-메틸-2-피롤리돈 (NMP), N-메틸카프로락탐, 1,3-디메틸이미다졸리디논, 테트라메틸우레아, 하기 일반식 (13):Examples of the aprotic solvent include N, N-dimethylformamide (DMF), N, N-dimethylacetamide (DMAc), N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) Lactam, 1,3-dimethylimidazolidinone, tetramethylurea, the following general formula (13):

[화학식 25] (25)

Figure pct00025
Figure pct00025

식 중, R12=메틸기로 나타내는 에크아미드 M100 (상품명:이데미츠 흥산사 제조), 및, R12=n-부틸기로 나타내는 에크아미드 B100 (상품명:이데미츠 흥산사 제조) 등의 아미드계 용매;Amide solvents such as echamide M100 (trade name: manufactured by Idemitsu Kosan Co., Ltd.) represented by R 12 = methyl group and echamide B100 (trade name: manufactured by Idemitsu Kosan Co., Ltd.) represented by R 12 = n-butyl group;

γ-부티로락톤, γ-발레로락톤 등의 락톤계 용매;lactone solvents such as? -butyrolactone and? -valerolactone;

헥사메틸포스포릭아미드, 헥사메틸포스핀트리아미드 등의 함인계 아미드계 용매;Aminic based solvents such as hexamethylphosphoric amide and hexamethylphosphinutriamide;

디메틸술폰, 디메틸술폭시드, 술포란 등의 함황계 용매;A sulfur-based solvent such as dimethylsulfone, dimethylsulfoxide and sulfolane;

시클로헥사논, 메틸시클로헥사논 등의 케톤계 용매;Ketone solvents such as cyclohexanone and methylcyclohexanone;

피콜린, 피리딘 등의 3 급 아민계 용매;Tertiary amine type solvents such as picoline and pyridine;

아세트산(2-메톡시-1-메틸에틸) 등의 에스테르계 용매 Acetic acid (2-methoxy-1-methylethyl)

등을:My back:

상기 페놀계 용매로서, 예를 들어, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 2,3-자일레놀, 2,4-자일레놀, 2,5-자일레놀, 2,6-자일레놀, 3,4-자일레놀, 3,5-자일레놀 등을:Examples of the phenolic solvent include phenol, o-cresol, m-cresol, p-cresol, 2,3-xylenol, 2,4-xylenol, 2,5- 6-xylenol, 3,4-xylenol, 3,5-xylenol, and the like:

상기 에테르 및 글리콜계 용매로서, 예를 들어, 1,2-디메톡시에탄, 비스(2-메톡시에틸)에테르, 1,2-비스(2-메톡시에톡시)에탄, 비스[2-(2-메톡시에톡시)에틸]에테르, 테트라하이드로푸란, 1,4-디옥산 등을, Examples of the ether and glycol solvents include 1,2-dimethoxyethane, bis (2-methoxyethyl) ether, 1,2-bis (2-methoxyethoxy) 2-methoxyethoxy) ethyl] ether, tetrahydrofuran, 1,4-dioxane and the like,

각각 들 수 있다.Respectively.

폴리아미드산의 합성에 사용되는 용매의 상압에 있어서의 비점은, 60 ∼ 300 ℃ 가 바람직하고, 140 ∼ 280 ℃ 가 보다 바람직하고, 170 ∼ 270 ℃ 가 특히 바람직하다. 용매의 비점이 300 ℃ 보다 높으면, 건조 공정이 장시간 필요해진다. 한편 용매의 비점이 60 ℃ 보다 낮으면, 건조 공정 중에, 수지막의 표면에 있어서의 거칠어짐의 발생, 수지막 중으로의 기포의 혼입 등이 일어나, 균일한 필름이 얻어지지 않는 경우가 있다.The boiling point of the solvent used in the synthesis of the polyamic acid at normal pressure is preferably 60 to 300 占 폚, more preferably 140 to 280 占 폚, and particularly preferably 170 to 270 占 폚. If the boiling point of the solvent is higher than 300 占 폚, the drying step becomes necessary for a long time. On the other hand, if the boiling point of the solvent is lower than 60 캜, roughness on the surface of the resin film, mixing of bubbles into the resin film, and the like may occur during the drying process, and a uniform film may not be obtained.

이와 같이, 바람직하게는 비점이 170 ∼ 270 ℃ 이고, 보다 바람직하게는 20 ℃ 에 있어서의 증기압이 250 ㎩ 이하인 용매를 사용하는 것이, 용해성 및 도공시 에지 크레이터링의 관점에서 바람직하다. 보다 구체적으로는, N-메틸-2-피롤리돈, γ-부티로락톤, 상기 일반식 (11) 로 나타내는 화합물로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종 이상을 사용하는 것이 바람직하다.Thus, it is preferable to use a solvent having a boiling point of 170 to 270 DEG C, more preferably a vapor pressure of 250 Pa or less at 20 DEG C from the viewpoints of solubility and edge catoration upon coating. More specifically, it is preferable to use at least one member selected from the group consisting of N-methyl-2-pyrrolidone,? -Butyrolactone, and the compound represented by the formula (11).

용매 중의 수분 함량은, 3000 질량ppm 이하가 바람직하다.The water content in the solvent is preferably 3,000 ppm by mass or less.

이들 용매는, 단독으로 또는 2 종류 이상 혼합하여 사용해도 된다.These solvents may be used alone or in combination of two or more.

본 실시양태에 있어서의 (a) 폴리이미드 전구체는, 분자량 1,000 미만의 분자의 함유량이 5 질량% 미만인 것이 바람직하다.The polyimide precursor (a) in this embodiment preferably has a content of molecules having a molecular weight of less than 1,000 in an amount of less than 5% by mass.

(a) 폴리이미드 전구체 중에, 이 분자량 1,000 미만의 분자가 존재하는 것은, 합성시에 사용하는 용매의 수분량이 관여하고 있기 때문인 것으로 생각된다. 즉, 일부의 산 2무수물 모노머의 산 무수물기가 수분에 의해 가수 분해하여 카르복실기가 되고, 고분자량화하는 일 없이 저분자의 상태로 잔존하는 것에 의한 것으로 생각된다. 따라서, 상기의 중합 반응에 사용하는 용매의 수분량은, 가급적으로 적은 편이 좋다. 이 용매의 수분량은, 3,000 질량ppm 이하로 하는 것이 바람직하고, 1,000 질량ppm 이하로 하는 것이 보다 바람직하다.It is considered that the presence of a molecule having a molecular weight of less than 1,000 in the polyimide precursor (a) is considered to be due to the fact that the water content of the solvent used in synthesis is involved. That is, it is considered that some of the acid anhydride groups of the acid dianhydride monomer is hydrolyzed by moisture to become a carboxyl group, and remains in a state of low molecular weight without high molecular weight. Therefore, the water content of the solvent used in the polymerization reaction should be as small as possible. The water content of the solvent is preferably 3,000 mass ppm or less, and more preferably 1,000 mass ppm or less.

용매의 수분량은, 사용하는 용매의 그레이드 (탈수 그레이드, 범용 그레이드 등), 용매 용기 (병, 18 ℓ 캔, 캐니스터 캔 등), 용매의 보관 상태 (희가스 봉입의 유무 등), 개봉부터 사용까지의 시간 (개봉 후 바로 사용하거나, 개봉 후 시간 경과한 후에 사용하거나 등) 등이 관여하는 것으로 생각된다. 또, 합성 전의 반응기의 희가스 치환, 합성 중의 희가스 유통의 유무 등도 관여하는 것으로 생각된다. 따라서, (a) 폴리이미드 전구체의 합성시에는, 원료로서 고순도품을 사용하고, 수분량이 적은 용매를 사용함과 함께, 반응 전 및 반응 중에 계내에 환경으로부터의 수분이 혼입하지 않는 조치를 강구하는 것이 추장된다.The water content of the solvent varies depending on the grade of the solvent used (dehydrated grade, universal grade, etc.), the solvent container (bottle, 18 L can, canister cans, etc.) Time (use immediately after opening, use after lapse of time after opening, etc.), and the like. It is also considered that the substitution of the rare gas in the reactor prior to the synthesis, the presence or absence of the rare gas flow during the synthesis, and the like are also involved. Therefore, in the synthesis of the polyimide precursor (a), it is necessary to use a high-purity product as a raw material, use a solvent having a low water content, and take measures to prevent moisture from entering the system before and during the reaction It is recommended.

용매 중에 각 모노머 성분을 용해시킬 때에는, 필요에 따라 가열해도 된다.When each monomer component is dissolved in a solvent, it may be heated if necessary.

(a) 폴리이미드 전구체 합성시의 반응 온도는, 0 ℃ ∼ 120 ℃ 로 하는 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 40 ℃ ∼ 100 ℃ 이고, 더욱 바람직하게는 60 ∼ 100 ℃ 이다. 이 온도에서 중합 반응을 실시함으로써, 중합도가 높은 폴리이미드 전구체가 얻어진다. 중합 시간은, 1 ∼ 100 시간으로 하는 것이 바람직하고, 2 ∼ 10 시간으로 하는 것이 보다 바람직하다. 중합 시간을 1 시간 이상으로 함으로써 균일한 중합도의 폴리이미드 전구체가 되고, 100 시간 이하로 함으로써 중합도가 높은 폴리이미드 전구체를 얻을 수 있다.The reaction temperature for the synthesis of the polyimide precursor (a) is preferably 0 to 120 캜, more preferably 40 to 100 캜, and still more preferably 60 to 100 캜. By performing the polymerization reaction at this temperature, a polyimide precursor having a high polymerization degree can be obtained. The polymerization time is preferably 1 to 100 hours, more preferably 2 to 10 hours. When the polymerization time is 1 hour or more, a polyimide precursor having a uniform polymerization degree is obtained. When the polymerization time is 100 hours or less, a polyimide precursor having a high degree of polymerization can be obtained.

본 실시형태의 바람직한 양태에 있어서, (a1) 폴리이미드 전구체 및 (a2) 폴리이미드 전구체는 이하의 특성을 갖는다.In a preferred embodiment of the present embodiment, the (a1) polyimide precursor and the (a2) polyimide precursor have the following characteristics.

(a) 폴리이미드 전구체를 용매 (예를 들어 N-메틸-2-피롤리돈) 에 용해하여 얻어지는 용액을 지지체의 표면에 도포한 후, 그 용액을 질소 분위기하 (예를 들어 산소 농도 2,000 ppm 이하의 질소 중), 300 ∼ 550 ℃ (예를 들어 430 ℃) 에서 가열 (예를 들어 1 시간) 함으로써 그 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지에 있어서, 10 ㎛ 막두께에 있어서의 황색도가 30 이하이다.(a) a solution obtained by dissolving a polyimide precursor in a solvent (for example, N-methyl-2-pyrrolidone) is applied to the surface of a support, and then the solution is heated under a nitrogen atmosphere (For example, 1 hour) at 300 to 550 占 폚 (for example, 430 占 폚), the yellow color of the resin obtained by imidizing the polyimide precursor 30 or less.

(a) 폴리이미드 전구체를 용매 (예를 들어 N-메틸-2-피롤리돈) 에 용해하여 얻어지는 용액을 지지체의 표면에 도포한 후, 그 용액을 질소 분위기하 (예를 들어 산소 농도 2,000 ppm 이하의 질소 중), 300 ∼ 550 ℃ (예를 들어 430 ℃) 에서 가열 (예를 들어 1 시간) 함으로써 그 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지에 있어서, 잔류 응력이 25 ㎫ 이하이다.(a) a solution obtained by dissolving a polyimide precursor in a solvent (for example, N-methyl-2-pyrrolidone) is applied to the surface of a support, and then the solution is heated under a nitrogen atmosphere (For example, 1 hour) at 300 to 550 占 폚 (for example, 430 占 폚), the residual stress is 25 MPa or less in a resin obtained by imidizing the polyimide precursor.

본 실시형태에 관련된 폴리이미드 전구체는, 필요에 따라, 본 발명의 원하는 성능을 저해하지 않는 범위에서, 하기 일반식 (14):The polyimide precursor according to the present embodiment may contain, if necessary, a polyimide precursor represented by the following general formula (14):

[화학식 26](26)

Figure pct00026
Figure pct00026

{일반식 (14) 중, 복수 존재하는 R13 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, (In the general formula (14), plural R &lt; 13 &gt; s are each independently a hydrogen atom, a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 20 carbon atoms, or a monovalent aromatic group,

X4 는 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이고, X 4 is a tetravalent organic group having 4 to 32 carbon atoms,

Y 는 탄소수 4 ∼ 32 의 2 가의 유기기이다. 단, Y is a divalent organic group having 4 to 32 carbon atoms. only,

상기 일반식 (1) 및 상기 일반식 (6) 에 상당하는 구조 단위를 제외한다.} 으로 나타내는 구조를 갖는 폴리이미드 전구체를 추가로 함유해도 된다.(Excluding the structural units corresponding to the general formula (1) and the general formula (6) above) may be further contained in the polyimide precursor.

일반식 (14) 에 있어서, R13 은, 바람직하게는 수소 원자이다. 또 X3 은, 내열성, YI 치의 저감, 및 전광선 투과율의 관점에서, 바람직하게는 4 가의 방향족기이다. 또 Y 는, 내열성, YI 치의 저감, 및 전광선 투과율의 관점에서, 바람직하게는 2 가의 방향족기 또는 지환식기이다.In the general formula (14), R 13 is preferably a hydrogen atom. X 3 is preferably a tetravalent aromatic group from the viewpoint of heat resistance, reduction of YI value, and total light transmittance. Y is preferably a divalent aromatic group or an alicyclic group from the viewpoints of heat resistance, reduction of YI value, and total light transmittance.

본 실시형태에 관련된 (a) 폴리이미드 전구체에 있어서의 일반식 (14) 로 나타내는 구조 단위를 갖는 폴리이미드 전구체의 질량 비율은, (a) 폴리이미드 전구체의 전부에 대하여, 80 질량% 이하인 것이 바람직하고, 70 질량% 이하인 것이, YI 치 및 전광선 투과율의 산소 의존성의 저하의 관점에서, 보다 바람직하다.The mass ratio of the polyimide precursor having the structural unit represented by the general formula (14) in the polyimide precursor (a) according to the present embodiment is preferably 80% by mass or less based on the total amount of the polyimide precursor (a) By mass and not more than 70% by mass is more preferable from the viewpoint of reduction of oxygen dependency of YI value and total light transmittance.

본 실시형태의 바람직한 양태에 있어서, (a1) 폴리이미드 전구체 및 (a2) 폴리이미드 전구체는, 그 일부가 이미드화되어 있어도 된다. 이 경우의 이미드화율은, 80 % 이하로 하는 것이 바람직하고, 50 % 이하로 하는 것이 보다 바람직하다. 이 부분 이미드화는, 상기의 (a) 폴리이미드 전구체를 가열하여 탈수 폐고리함으로써 얻어진다. 이 가열은, 바람직하게는 120 ∼ 200 ℃ 이고, 보다 바람직하게는 150 ∼ 180 ℃ 의 온도에 있어서, 바람직하게는 15 분 ∼ 20 시간이고, 보다 바람직하게는 30 분 ∼ 10 시간 실시할 수 있다.In a preferred embodiment of the present embodiment, the polyimide precursor (a1) and the polyimide precursor (a2) may be partially imidized. In this case, the imidization ratio is preferably 80% or less, and more preferably 50% or less. This partial imidization is obtained by heating the polyimide precursor (a) and dehydrating and pulverizing it. This heating is preferably carried out at a temperature of 120 to 200 DEG C, more preferably 150 to 180 DEG C, preferably 15 to 20 hours, and more preferably 30 to 10 hours.

또, 상기 서술한 반응에 의해 얻어진 폴리아미드산에, N,N-디메틸포름아미드디메틸아세탈 또는 N,N-디메틸포름아미드디에틸아세탈을 첨가하여 가열하고, 카르복실산의 일부 또는 전부를 에스테르화 한 다음에, 본 실시형태에 있어서의 (a) 폴리이미드 전구체로서 사용함으로써, 실온 보관시의 점도 안정성이 향상된 수지 조성물을 얻을 수도 있다. 이들 에스테르 변성 폴리아미드산은, 그 밖에, 상기 서술한 산 2무수물 성분을, 산 무수물기에 대하여 1 당량의 1 가의 알코올, 및 염화티오닐, 디시클로헥실카르보디이미드 등의 탈수 축합제와 순차로 반응시킨 후, 디아민 성분과 축합 반응시키는 방법에 의해서도 얻을 수 있다. Further, N, N-dimethylformamide dimethylacetal or N, N-dimethylformamide diethyl acetal is added to the polyamic acid obtained by the above-mentioned reaction and heated, and a part or all of the carboxylic acid is esterified Then, by using the polyimide precursor (a) in this embodiment as a polyimide precursor, a resin composition having improved viscosity stability at room temperature can be obtained. These ester-modified polyamic acids can be obtained by additionally reacting the above-mentioned acid anhydride component with a dehydrating condensation agent such as monohydric alcohol equivalent to one equivalent of an acid anhydride group and thionyl chloride or dicyclohexylcarbodiimide Followed by condensation reaction with the diamine component.

본 실시형태의 수지 조성물에 있어서의 (a) 폴리이미드 전구체 (바람직하게는 폴리아미드산) 의 비율은, 도막 형성성의 관점에서 3 ∼ 50 질량% 가 바람직하고, 5 ∼ 40 질량% 가 더욱 바람직하고, 10 ∼ 30 질량% 가 특히 바람직하다.The proportion of (a) the polyimide precursor (preferably polyamic acid) in the resin composition of the present embodiment is preferably from 3 to 50 mass%, more preferably from 5 to 40 mass% , And particularly preferably from 10 to 30 mass%.

<수지 조성물><Resin composition>

본 발명의 다른 양태는, 전술한 (a) 폴리이미드 전구체 및 (b) 유기 용제를 함유하는 수지 조성물을 제공한다. 이 수지 조성물은, 전형적으로는 바니시이다.Another aspect of the present invention provides a resin composition containing the above-mentioned (a) polyimide precursor and (b) an organic solvent. This resin composition is typically a varnish.

[(b) 유기 용제] [(b) Organic solvent]

본 실시형태에 있어서의 (b) 유기 용제는, 전술한 (a) 폴리이미드 전구체 및 임의적으로 사용되는 기타 성분을 용해할 수 있는 것이면 특별히 제한은 없다. 이와 같은 (b) 유기 용제로는, (a) 폴리이미드 전구체의 합성시에 사용할 수 있는 용매로서 상기 서술한 것을 사용할 수 있다. 바람직한 유기 용매도, 상기와 동일하다. 본 실시형태의 수지 조성물에 있어서의 (b) 유기 용제는, (a) 폴리이미드 전구체의 합성에 사용되는 용매와 동일해도 되고 상이해도 된다.The organic solvent (b) in the present embodiment is not particularly limited as long as it can dissolve the polyimide precursor (a) and other optional components used arbitrarily. As the organic solvent (b), the solvent described above as (a) a solvent usable in the synthesis of the polyimide precursor may be used. Preferred organic solvents are also the same as above. The organic solvent (b) in the resin composition of the present embodiment may be the same as or different from the solvent used for the synthesis of the polyimide precursor (a).

(b) 유기 용매는, 수지 조성물의 고형분 농도가 3 ∼ 50 질량% 가 되는 양으로 하는 것이 바람직하다. 또, 수지 조성물의 점도 (25 ℃) 가, 500 mPa·s ∼ 100,000 mPa·s 가 되도록, (b) 유기 용매의 구성 및 양을 조정한 다음에, 첨가하는 것이 바람직하다.The amount of the organic solvent (b) is preferably such that the solid content of the resin composition is 3 to 50% by mass. It is also preferable that the viscosity of the resin composition (25 ° C) is 500 mPa · s to 100,000 mPa · s, and (b) after the composition and amount of the organic solvent are adjusted.

[기타 성분] [Other ingredients]

본 실시형태의 수지 조성물은, 상기 (a) 및 (b) 성분 외에, (c) 계면 활성제, (d) 알콕시실란 화합물 등을, 추가로 함유하고 있어도 된다.The resin composition of the present embodiment may further contain (c) a surfactant, (d) an alkoxysilane compound and the like in addition to the components (a) and (b).

본 실시양태에 관련된 수지 조성물은, (a) 폴리이미드 전구체와, (b) 유기 용제와, (c) 계면 활성제 및 (d) 알콕시실란 화합물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종을 포함한다.The resin composition related to this embodiment includes at least one member selected from the group consisting of (a) a polyimide precursor, (b) an organic solvent, (c) a surfactant, and (d) an alkoxysilane compound.

폴리이미드 전구체의 골격은, 제 1 양태 및 제 2 양태에서 상기 서술한 골격에 한정되지 않는다. 즉, 폴리이미드 전구체의 골격은 이하의 일반식 (1) 로 나타내는 골격이면 특별히 한정은 없다.The skeleton of the polyimide precursor is not limited to the skeleton described above in the first and second aspects. That is, the skeleton of the polyimide precursor is not particularly limited as long as it is a skeleton represented by the following general formula (1).

[화학식 27] (27)

Figure pct00027
Figure pct00027

{식 중, X1 은 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} Wherein X 1 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4.}

((c) 계면 활성제) ((c) Surfactant)

본 실시형태의 수지 조성물에, 계면 활성제를 첨가함으로써, 그 수지 조성물의 도포성을 향상시킬 수 있다. 구체적으로는, 도공막에 있어서의 줄무늬의 발생을 방지할 수 있다.By adding a surfactant to the resin composition of the present embodiment, the applicability of the resin composition can be improved. Specifically, occurrence of streaks in the coating film can be prevented.

이와 같은 계면 활성제는, 예를 들어, 실리콘계 계면 활성제, 불소계 계면 활성제, 이들 이외의 비이온 계면 활성제 등을 들 수 있다. 이들 예로는, Such surfactants include, for example, silicone surfactants, fluorochemical surfactants, and nonionic surfactants other than these surfactants. In these examples,

실리콘계 계면 활성제로서, 예를 들어, 오르가노실록산 폴리머 KF-640, 642, 643, KP341, X-70-092, X-70-093, (이상, 상품명, 신에츠 화학 공업사 제조), SH-28PA, SH-190, SH-193, SZ-6032, SF-8428, DC-57, DC-190 (이상, 상품명, 토레이·다우코닝·실리콘사 제조), SILWET L-77, L-7001, FZ-2105, FZ-2120, FZ-2154, FZ-2164, FZ-2166, L-7604 (이상, 상품명, 닛폰 유니카사 제조), DBE-814, DBE-224, DBE-621, CMS-626, CMS-222, KF-352A, KF-354L, KF-355A, KF-6020, DBE-821, DBE-712 (Gelest), BYK-307, BYK-310, BYK-378, BYK-333 (이상, 상품명, 빅크케미·재팬 제조), 글라놀 (상품명, 쿄에이샤 화학사 제조) 등을;Examples of the silicone surfactant include organosiloxane polymers KF-640, 642, 643, KP341, X-70-092 and X-70-093 (trade names, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., SH-190, SH-193, SZ-6032, SF-8428, DC-57 and DC-190 (trade names, manufactured by Toray Dow Corning Silicone Co.), SILWET L-77, L-7001 and FZ- DBE-824, DBE-621, CMS-626, CMS-222 (trade names, KF-352A, KF-355A, KF-6020, DBE-821, DBE-712 (Gelest), BYK-307, BYK-310, BYK-378 and BYK- (Manufactured by Japan Chemical Industry Co., Ltd.), glanol (trade name, manufactured by Kyowa Chemical Industry Co., Ltd.);

불소계 계면 활성제로서, 예를 들어, 메가팍 F171, F173, R-08 (다이닛폰 잉크 화학 공업 주식회사 제조, 상품명), 플루오라드 FC4430, FC4432 (스미토모 쓰리엠 주식회사, 상품명) 등을;Examples of the fluorine surfactant include Megapac F171, F173, R-08 (trade name, manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Incorporated), Fluorad FC4430 and FC4432 (trade name, Sumitomo 3M;

이들 이외의 비이온 계면 활성제로서, 예를 들어, 폴리옥시에틸렌라우릴에테르, 폴리옥시에틸렌스테아릴에테르, 폴리옥시에틸렌올레일에테르, 폴리옥시에틸렌옥틸페놀에테르 등을, 각각 들 수 있다.Examples of the nonionic surfactant other than these surfactants include polyoxyethylene lauryl ether, polyoxyethylene stearyl ether, polyoxyethylene oleyl ether, polyoxyethylene octylphenol ether, and the like.

이들 계면 활성제 중에서도, 수지 조성물의 도공성 (줄무늬 억제) 의 관점에서, 실리콘계 계면 활성제, 불소계 계면 활성제가 바람직하고, 큐어 공정시의 산소 농도에 의한 YI 치 및 전광선 투과율에 대한 영향의 관점에서, 실리콘계 계면 활성제가 바람직하다.Among these surfactants, a silicone surfactant and a fluorinated surfactant are preferable from the viewpoint of coating properties (streak suppression) of the resin composition. From the viewpoint of the influence on the YI value and the total light transmittance by the oxygen concentration in the curing process, Surfactants are preferred.

(c) 계면 활성제를 사용하는 경우, 그 배합량은, 수지 조성물 중의 (a) 폴리이미드 전구체 100 질량부에 대하여, 0.001 ∼ 5 질량부가 바람직하고, 0.01 ∼ 3 질량부가 보다 바람직하다.When the surfactant (c) is used, the amount thereof is preferably 0.001 to 5 parts by mass, more preferably 0.01 to 3 parts by mass, per 100 parts by mass of the polyimide precursor (a) in the resin composition.

(d) 알콕시실란 화합물(d) an alkoxysilane compound

본 실시형태에 관련된 수지 조성물로부터 얻어지는 수지 필름을, 플렉시블 디바이스 등의 제조 프로세스에 있어서 지지체와의 사이에 충분한 밀착성을 나타내는 것으로 하기 위해서, 그 수지 조성물은, (a) 폴리이미드 전구체 100 질량% 에 대하여, 알콕시실란 화합물을 0.01 ∼ 20 질량% 를 함유할 수 있다. 폴리이미드 전구체 100 질량% 에 대한 알콕시실란 화합물의 함유량이 0.01 질량% 이상임으로써, 지지체와의 사이에 양호한 밀착성을 얻을 수 있다. 또 알콕시실란 화합물의 함유량이 20 질량% 이하인 것이, 수지 조성물의 보존 안정성의 관점에서 바람직하다. 알콕시실란 화합물의 함유량은, 폴리이미드 전구체 100 질량부에 대하여, 0.02 ∼ 15 질량% 인 것이 보다 바람직하고, 0.05 ∼ 10 질량% 인 것이 더욱 바람직하고, 0.1 ∼ 8 질량% 인 것이 특히 바람직하다. In order to make the resin film obtained from the resin composition according to the present embodiment exhibit sufficient adhesion with the support in a manufacturing process of a flexible device or the like, the resin composition preferably contains (a) a polyimide precursor , And 0.01 to 20% by mass of an alkoxysilane compound. When the content of the alkoxysilane compound relative to 100 mass% of the polyimide precursor is 0.01 mass% or more, good adhesion with the support can be obtained. The content of the alkoxysilane compound is preferably 20 mass% or less from the viewpoint of the storage stability of the resin composition. The content of the alkoxysilane compound is more preferably 0.02 to 15 mass%, further preferably 0.05 to 10 mass%, particularly preferably 0.1 to 8 mass%, based on 100 mass parts of the polyimide precursor.

본 실시형태에 관련된 수지 조성물의 첨가제로서 알콕시실란 화합물을 사용함으로써, 상기의 밀착성의 향상에 더하여, 또한 수지 조성물의 도공성 (줄무늬 불균일 억제) 을 향상함과 함께, 얻어지는 경화막의 YI 치의 큐어시 산소 농도 의존성을 저하시킬 수 있다.By using the alkoxysilane compound as the additive of the resin composition according to the present embodiment, in addition to the above-described improvement in the adhesion property, the coating property of the resin composition (suppression of stripe unevenness) is improved, The concentration dependency can be lowered.

알콕시실란 화합물로는, 예를 들어, 3-우레이드프로필트리에톡시실란, 비스(2-하이드록시에틸)-3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-글리시독시프로필트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리프로폭시실란, γ-아미노프로필트리부톡시실란, γ-아미노에틸트리에톡시실란, γ-아미노에틸트리프로폭시실란, γ-아미노에틸트리부톡시실란, γ-아미노부틸트리에톡시실란, γ-아미노부틸트리메톡시실란, γ-아미노부틸트리프로폭시실란, γ-아미노부틸트리부톡시실란, 페닐실란트리올, 트리메톡시페닐실란, 트리메톡시(p-톨릴)실란, 디페닐실란디올, 디메톡시디페닐실란, 디에톡시디페닐실란, 디메톡시디-p-톨릴실란, 트리페닐실란올 및 하기 구조의 각각으로 나타내는 알콕시실란 화합물 등을 들 수 있으며, 이들에서 선택되는 1 종 이상을 사용하는 것이 바람직하다.Examples of the alkoxysilane compound include 3-ureidopropyltriethoxysilane, bis (2-hydroxyethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, gamma -Aminopropyltrimethoxysilane,? -Aminopropyltripropoxysilane,? -Aminopropyltributoxysilane,? -Aminoethyltriethoxysilane,? -Aminoethyltripropoxysilane,? -Aminoethyltribe Aminobutyltrimethoxysilane,? -Aminobutyltrimethoxysilane,? -Aminobutyltrimethoxysilane,? -Aminobutyltrimethoxysilane,? -Aminobutyltriethoxysilane,? -Aminobutyltributoxysilane, phenylsilanetriol, trimethoxyphenylsilane, (P-tolyl) silane, diphenylsilanediol, dimethoxydiphenylsilane, diethoxydiphenylsilane, dimethoxydi-p-tolylsilane, triphenylsilanol and alkoxysilane compounds , And one kind selected from these Phase is preferably used.

[화학식 28](28)

Figure pct00028
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본 실시형태에 있어서의 수지 조성물의 제조 방법은, 특별히 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 이하의 방법에 따를 수 있다.The method for producing the resin composition in the present embodiment is not particularly limited. For example, the following method can be used.

(a) 폴리이미드 전구체를 합성했을 때에 사용한 용매와, (b) 유기 용제가 동일한 경우에는, 합성한 폴리이미드 전구체 용액을 그대로 수지 조성물로 할 수 있다. 또, 필요에 따라, 실온 (25 ℃) ∼ 80 ℃ 의 온도 범위에서, 폴리이미드 전구체에 (b) 유기 용제 및 그 밖의 성분의 1 종 이상을 첨가하여, 교반 혼합한 다음에, 수지 조성물로서 사용해도 된다. 이 교반 혼합은, 교반 날개를 구비한 쓰리 원 모터 (신토 화학 주식회사 제조), 자전 공전 믹서 등의 적절한 장치를 사용할 수 있다. 또 필요에 따라 40 ∼ 100 ℃ 의 열을 가해도 된다.When the solvent used for synthesizing the polyimide precursor (a) and the organic solvent (b) are the same, the polyimide precursor solution thus synthesized can be directly used as the resin composition. If necessary, at least one of (b) an organic solvent and other components may be added to the polyimide precursor in a temperature range of room temperature (25 ° C) to 80 ° C, followed by stirring and mixing, and then . For this stirring mixing, a suitable device such as a three-one motor (with a stirring blade) (manufactured by Shinto Chemical Co., Ltd.), a revolving mixer or the like can be used. If necessary, heat of 40 to 100 ° C may be applied.

한편, (a) 폴리이미드 전구체를 합성했을 때에 사용한 용매와, (b) 유기 용제가 상이한 경우에는, 합성한 폴리이미드 전구체 용액 중의 용매를, 예를 들어 재침전, 용매 증류 제거 등의 적절히 방법에 의해 제거하여 (a) 폴리이미드 전구체를 단리한 후에, 실온 ∼ 80 ℃ 의 온도 범위에서, (b) 유기 용제 및 필요에 따라 그 밖의 성분을 첨가하여, 교반 혼합함으로써, 수지 조성물을 조제해도 된다.On the other hand, when the solvent used in the synthesis of the polyimide precursor (a) and the organic solvent (b) are different, the solvent in the synthesized polyimide precursor solution is appropriately subjected to, for example, (A) after isolating the polyimide precursor, (b) adding an organic solvent and, if necessary, other components in a temperature range of from room temperature to 80 ° C, and stirring and mixing.

상기 서술한 바와 같이 수지 조성물을 조제한 후, 그 조성물 용액을 예를 들어 130 ∼ 200 ℃ 에 있어서 예를 들어 5 분 ∼ 2 시간 가열함으로써, 폴리머가 석출을 일으키지 않을 정도로 폴리이미드 전구체의 일부를 탈수 이미드화해도 된다. 여기서, 가열 온도 및 가열 시간을 컨트롤함으로써, 이미드화율을 제어할 수 있다. 폴리이미드 전구체를 부분 이미드화함으로써, 수지 조성물의 실온 보관시의 점도 안정성을 향상시킬 수 있다. 이미드화율의 범위로는, 5 % ∼ 70 % 로 하는 것이, 수지 조성물 용액에 대한 폴리이미드 전구체의 용해성과 용액의 보존 안정성의 밸런스를 잡는 관점에서 바람직하다.After the resin composition is prepared as described above, the composition solution is heated at, for example, 130 to 200 ° C for 5 minutes to 2 hours, for example, so that a part of the polyimide precursor is dehydrated to the extent that the polymer does not precipitate You can even make it. Here, the imidization rate can be controlled by controlling the heating temperature and the heating time. By partially imidizing the polyimide precursor, the viscosity stability of the resin composition at room temperature can be improved. The imidization rate is preferably 5% to 70% from the viewpoint of balancing the solubility of the polyimide precursor in the resin composition solution and the storage stability of the solution.

본 실시형태에 관련된 수지 조성물은, 그 수분량이 3,000 질량ppm 이하인 것이 바람직하다.It is preferable that the resin composition according to the present embodiment has a water content of 3,000 mass ppm or less.

수지 조성물의 수분량은, 그 수지 조성물을 보존할 때의 점도 안정성의 관점에서, 1,000 질량ppm 이하인 것이 보다 바람직하고, 500 질량ppm 이하인 것이 더욱 바람직하다.The water content of the resin composition is more preferably 1,000 mass ppm or less, and still more preferably 500 mass ppm or less, from the viewpoint of viscosity stability when the resin composition is stored.

본 실시형태에 관련된 수지 조성물의 용액 점도는, 25 ℃ 에 있어서, 500 ∼ 200,000 mPa·s 가 바람직하고, 2,000 ∼ 100,000 mPa·s 가 보다 바람직하고, 3,000 ∼ 30,000 mPa·s 가 특히 바람직하다. 이 용액 점도는, E 형 점도계 (토키 산업 주식회사 제조, VISCONICEHD) 를 사용하여 측정할 수 있다. 용액 점도가 300 mPa·s 보다 낮으면, 막 형성시의 도포가 하기 어렵고, 200,000 mPa·s 보다 높으면, 합성시의 교반이 곤란해진다는 문제가 발생할 우려가 있다.The solution viscosity of the resin composition according to the present embodiment is preferably 500 to 200,000 mPa 占 퐏 at 25 占 폚, more preferably 2,000 to 100,000 mPa 占 퐏, and particularly preferably 3,000 to 30,000 mPa 占 퐏. This solution viscosity can be measured using an E-type viscometer (VISCONICEHD, manufactured by TOKI INDUSTRIAL CO., LTD.). When the solution viscosity is lower than 300 mPa s, it is difficult to apply at the time of film formation, and when it is higher than 200,000 mPa 문제, there is a possibility that the stirring at the time of synthesis becomes difficult.

(a) 폴리이미드 전구체를 합성할 때에, 용액이 고점도가 되었다고 해도, 반응 종료 후에 용매를 첨가하여 교반함으로써, 취급성이 좋은 점도의 수지 조성물을 얻는 것이 가능하다.(a) When the polyimide precursor is synthesized, even if the solution has a high viscosity, after the completion of the reaction, a solvent is added and stirred to obtain a resin composition of good handleability.

본 실시형태의 수지 조성물은, 바람직한 양태에 있어서 이하의 특성을 갖는다.The resin composition of this embodiment has the following characteristics in a preferred embodiment.

수지 조성물을 지지체의 표면에 도포하여 도막을 형성한 후, 그 도막을, 질소 분위기하 (예를 들어 산소 농도 2,000 ppm 이하의 질소 중), 300 ℃ ∼ 550 ℃ 에 있어서 가열함으로써, 상기 도막에 포함되는 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지 필름은, 10 ㎛ 막두께에 있어서의 황색도 YI 가 30 이하이다.The resin composition is applied to the surface of the support to form a coating film and then the coating film is heated in a nitrogen atmosphere (for example, nitrogen having an oxygen concentration of 2,000 ppm or less) at 300 ° C to 550 ° C, In the resin film obtained by imidizing the polyimide precursor has a yellowness index YI of 30 or less at a film thickness of 10 mu m.

수지 조성물을 지지체의 표면에 도포하여 도막을 형성한 후, 그 도막을, 질소 분위기하 (예를 들어 산소 농도 2,000 ppm 이하의 질소 중), 300 ℃ ∼ 550 ℃ 에 있어서 가열함으로써, 상기 도막에 포함되는 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지 필름은, 잔류 응력이 25 ㎫ 이하이다.The resin composition is applied to the surface of the support to form a coating film and then the coating film is heated in a nitrogen atmosphere (for example, nitrogen having an oxygen concentration of 2,000 ppm or less) at 300 ° C to 550 ° C, , The residual stress is 25 MPa or less. In the resin film obtained by imidizing the polyimide precursor, the residual stress is 25 MPa or less.

본 실시형태에 관련된 수지 조성물은, 예를 들어, 액정 디스플레이, 유기 일렉트로 루미네선스 디스플레이, 필드 에미션 디스플레이, 전자 페이퍼 등의 표시 장치의 투명 기판을 형성하기 위해서 적합하게 사용할 수 있다. 구체적으로는, 박막 트랜지스터 (TFT) 의 기판, 컬러 필터의 기판, 투명 도전막 (ITO, IndiumThinOxide) 의 기판 등을 형성하기 위해서 사용할 수 있다.The resin composition according to the present embodiment can be suitably used for forming a transparent substrate of a display device such as, for example, a liquid crystal display, an organic electroluminescence display, a field emission display, or an electronic paper. Specifically, it can be used for forming a substrate of a thin film transistor (TFT), a substrate of a color filter, a substrate of a transparent conductive film (ITO, Indium Tin Oxide) or the like.

본 실시형태의 수지 전구체는, 잔류 응력이 25 ㎫ 이하인 폴리이미드 필름을 형성할 수 있기 때문에, 무색 투명 폴리이미드 기판 상에 TFT 소자 장치를 구비한 디스플레이 제조 공정에 적용하기 쉽다.The resin precursor of the present embodiment can easily form a polyimide film having a residual stress of 25 MPa or less and thus can be easily applied to a display manufacturing process provided with a TFT element device on a colorless transparent polyimide substrate.

<수지 필름>&Lt; Resin film &

본 발명의 다른 양태는, 전술한 수지 전구체로부터 형성된 수지 필름을 제공한다.Another aspect of the present invention provides a resin film formed from the resin precursor described above.

또, 본 발명의 또 다른 양태는, 전술한 수지 조성물로부터 수지 필름을 제조하는 방법을 제공한다.Still another aspect of the present invention provides a method for producing a resin film from the resin composition described above.

본 실시형태에 있어서의 수지 필름은,In the resin film in this embodiment,

지지체의 표면 상에 전술한 수지 조성물을 도포함으로써 도막을 형성하는 공정 (도포 공정) 과, A step (coating step) of forming a coating film by applying the above-mentioned resin composition on the surface of a support,

상기 지지체 및 상기 도막을 가열함으로써, 그 도막에 포함되는 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정 (가열 공정) 과, A step of heating the support and the coating film to imidize the polyimide precursor contained in the coating film to form a polyimide resin film;

상기 폴리이미드 수지막을 그 지지체로부터 박리하는 공정 (박리 공정) A step of peeling the polyimide resin film from the support (peeling step)

을 포함하는 것을 특징으로 한다.And a control unit.

여기서, 지지체는, 그 후의 공정의 가열 온도에 있어서의 내열성을 갖고, 박리성이 양호하면, 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 유리 (예를 들어, 무알칼리 유리) 기판;Here, the support is not particularly limited as long as it has heat resistance at a heating temperature in subsequent steps and has good releasability. For example, glass (e.g., alkali-free glass) substrates;

실리콘 웨이퍼;Silicon wafers;

PET (폴리에틸렌테레프탈레이트), OPP (연신 폴리프로필렌), 폴리에틸렌글리콜테레프탈레이트, 폴리에틸렌글리콜나프탈레이트, 폴리카보네이트, 폴리이미드, 폴리아미드이미드, 폴리에테르이미드, 폴리에테르에테르케톤, 폴리에테르술폰, 폴리페닐렌술폰, 폴리페닐렌술파이드 등의 수지 기판;(Ethylene terephthalate), poly (ethylene terephthalate), OPP (stretched polypropylene), polyethylene glycol terephthalate, polyethylene glycol naphthalate, polycarbonate, polyimide, polyamideimide, polyetherimide, polyetheretherketone, A resin substrate such as a sulphone or polyphenylene sulfide;

스테인리스, 알루미나, 구리, 니켈 등의 금속 기판 Metal substrates such as stainless steel, alumina, copper, and nickel

등이 사용된다.Etc. are used.

막상 (膜狀) 의 폴리이미드 성형체를 형성하는 경우에는, 예를 들어, 유리 기판, 실리콘 웨이퍼 등이 바람직하고, 필름상 또는 시트상의 폴리이미드 성형체를 형성하는 경우에는, 예를 들어, PET (폴리에틸렌테레프탈레이트), OPP (연신 폴리프로필렌) 등으로 이루어지는 지지체가 바람직하다.In the case of forming a film-like polyimide molding, for example, a glass substrate, a silicon wafer, or the like is preferable. In the case of forming a film or sheet-like polyimide molding, for example, PET (polyethylene Terephthalate), OPP (stretched polypropylene), and the like.

도포 방법으로는, 예를 들어, 닥터 블레이드 나이프 코터, 에어 나이프 코터, 롤 코터, 로터리 코터, 플로우 코터, 다이 코터, 바 코터 등의 도포 방법, 스핀 코트, 스프레이 코트, 딥 코트 등의 도포 방법;스크린 인쇄 및 그라비아 인쇄 등으로 대표되는 인쇄 기술 등을 적용할 수 있다.Examples of the application method include a coating method such as a doctor blade knife coater, an air knife coater, a roll coater, a rotary coater, a flow coater, a die coater, a bar coater, etc., a spin coating method, a spray coating method and a dip coating method; A printing technique typified by screen printing and gravure printing, and the like can be applied.

도포 두께는, 원하는 수지 필름의 두께와 수지 조성물 중의 폴리이미드 전구체의 함유량에 따라 적절히 조정되어야 할 것이지만, 바람직하게는 1 ∼ 1,000 ㎛ 정도이다. 도포 공정은, 실온에 있어서의 실시로 충분하지만, 점도를 낮추어 작업성을 양호하게 할 목적으로, 수지 조성물을 40 ∼ 80 ℃ 의 범위에서 가온하여 실시해도 된다.The coating thickness should be appropriately adjusted depending on the thickness of the desired resin film and the content of the polyimide precursor in the resin composition, but is preferably about 1 to 1,000 占 퐉. The application step is sufficient at room temperature, but may be carried out by heating the resin composition at a temperature in the range of 40 to 80 ° C for the purpose of lowering the viscosity and improving workability.

도포 공정에 이어서, 건조 공정을 실시해도 되고, 건조 공정을 생략하여 직접 다음의 가열 공정으로 진행해도 된다. 이 건조 공정은, 유기 용제 제거의 목적으로 실시된다. 건조 공정을 실시하는 경우, 예를 들어, 핫 플레이트, 박스형 건조기, 컨베이어형 건조기 등의 적절한 장치를 이용할 수 있다. 건조 공정은, 80 ∼ 200 ℃ 에서 실시하는 것이 바람직하고, 100 ∼ 150 ℃ 에서 실시하는 것이 보다 바람직하다. 건조 공정의 실시 시간은, 1 분 ∼ 10 시간으로 하는 것이 바람직하고, 3 분 ∼ 1 시간으로 하는 것이 보다 바람직하다.The coating step may be followed by a drying step. Alternatively, the drying step may be omitted and the subsequent heating step may be carried out directly. This drying step is carried out for the purpose of removing the organic solvent. When the drying process is carried out, suitable devices such as, for example, a hot plate, a box-type dryer, a conveyor-type dryer and the like can be used. The drying step is preferably carried out at 80 to 200 캜, more preferably at 100 to 150 캜. The operating time of the drying step is preferably from 1 minute to 10 hours, more preferably from 3 minutes to 1 hour.

상기와 같이 하여, 지지체 상에 폴리이미드 전구체를 함유하는 도막이 형성된다.As described above, a coating film containing a polyimide precursor is formed on a support.

계속해서, 가열 공정을 실시한다. 가열 공정은, 상기의 건조 공정에서 도막 중에 잔류한 유기 용제의 제거를 실시함과 함께, 도막 중의 폴리이미드 전구체의 이미드화 반응을 진행시켜, 폴리이미드로 이루어지는 막을 얻는 공정이다.Subsequently, a heating step is carried out. The heating step is a step of removing the organic solvent remaining in the coating film in the above drying step and advancing the imidization reaction of the polyimide precursor in the coating film to obtain a film made of polyimide.

이 가열 공정은, 예를 들어, 이너트 가스 오븐, 핫 플레이트, 박스형 건조기, 컨베이어형 건조기 등의 장치를 사용하여 실시할 수 있다. 이 공정은 상기 건조 공정과 동시에 실시해도 되고, 양 공정을 축차적으로 실시해도 된다.This heating step can be carried out using an apparatus such as an inert gas oven, a hot plate, a box-type dryer, a conveyor-type dryer, or the like. This step may be carried out simultaneously with the above-mentioned drying step, or both steps may be carried out sequentially.

가열 공정은, 공기 분위기 하에서 실시해도 되지만, 안전성과, 얻어지는 폴리이미드 필름의 투명성 및 YI 치의 관점에서, 불활성 가스 분위기하에서 실시하는 것이 추장된다. 불활성 가스로는, 예를 들어, 질소, 아르곤 등을 들 수 있다.The heating step may be carried out in an air atmosphere, but it is recommended that the heating step be carried out in an inert gas atmosphere from the viewpoints of safety, transparency of the obtained polyimide film, and YI value. Examples of the inert gas include nitrogen and argon.

가열 온도는, (b) 유기 용제의 종류에 따라 적절히 설정되어도 되지만, 250 ℃ ∼ 550 ℃ 가 바람직하고, 300 ∼ 450 ℃ 가 보다 바람직하다. 250 ℃ 이상이면, 이미드화가 충분해지고, 550 ℃ 이하이면, 얻어지는 폴리이미드 필름의 투명성의 저하, 내열성의 악화 등의 문제가 없다. 가열 시간은, 0.5 ∼ 3 시간 정도로 하는 것이 바람직하다.The heating temperature may be appropriately set depending on the kind of the organic solvent (b), but is preferably 250 ° C to 550 ° C, more preferably 300 to 450 ° C. If the temperature is 250 占 폚 or higher, imidization becomes sufficient, and if it is 550 占 폚 or lower, there is no problem such as deterioration of transparency and deterioration of heat resistance of the obtained polyimide film. The heating time is preferably about 0.5 to 3 hours.

본 실시형태에서는, 상기의 가열 공정에 있어서의 주위 분위기의 산소 농도는, 얻어지는 폴리이미드 필름의 투명성 및 YI 치의 관점에서, 2,000 질량ppm 이하가 바람직하고, 100 질량ppm 이하가 보다 바람직하고, 10 질량ppm 이하가 더욱 바람직하다. 산소 농도가 2,000 질량ppm 이하인 분위기 중에서 가열을 실시함으로써, 얻어지는 폴리이미드 필름의 YI 치를 30 이하로 할 수 있다.In the present embodiment, the oxygen concentration in the ambient atmosphere in the heating step is preferably 2,000 mass ppm or less, more preferably 100 mass ppm or less, and more preferably 10 mass% or less, in view of the transparency and YI value of the polyimide film to be obtained. ppm or less. By heating in an atmosphere having an oxygen concentration of 2,000 mass ppm or less, the YI value of the obtained polyimide film can be made 30 or less.

폴리이미드 수지막의 사용 용도·목적에 따라서는, 상기 가열 공정의 후, 지지체로부터 수지막을 박리하는 박리 공정이 필요해진다. 이 박리 공정은, 지지체 상의 수지막을, 실온 ∼ 50 ℃ 정도까지 냉각시킨 후에, 실시하는 것이 바람직하다.Depending on the intended use and purpose of the polyimide resin film, a peeling step for peeling the resin film from the support after the above heating step is required. This peeling step is preferably carried out after the resin film on the support is cooled to about room temperature to 50 캜.

이 박리 공정으로는, 예를 들어 하기의 (1) ∼ (4) 의 양태를 들 수 있다.As the peeling step, for example, the following embodiments (1) to (4) can be mentioned.

(1) 상기 방법에 의해, 폴리이미드 수지막/지지체를 포함하는 구성체를 제조한 후, 그 구조체의 지지체측으로부터 레이저를 조사하여, 지지체와 폴리이미드 수지막의 계면을 어블레이션 가공함으로써, 폴리이미드 수지를 박리하는 방법. 레이저의 종류로는, 고체 (YAG) 레이저, 가스 (UV 엑시머) 레이저 등을 들 수 있다. 파장 308 ㎚ 등의 스펙트럼을 사용하는 것이 바람직하다 (일본 공표특허공보 2007-512568 공보, 일본 공표특허공보 2012-511173 공보 등을 참조).(1) After the structure including the polyimide resin film / support is produced by the above method, the interface between the support and the polyimide resin film is subjected to ablation processing by irradiating a laser from the support side of the structure, . Examples of the laser include a solid (YAG) laser, a gas (UV excimer) laser, and the like. It is preferable to use a spectrum having a wavelength of 308 nm or the like (see Japanese Unexamined Patent Publication No. 2007-512568 and Japanese Unexamined Patent Publication No. 2012-511173).

(2) 지지체에 수지 조성물을 도공하기 전에, 지지체에 박리층을 형성하고, 그 후 폴리이미드 수지막/박리층/지지체를 포함하는 구성체를 얻어, 폴리이미드 수지막을 박리하는 방법. 박리층으로는, 파릴렌 (등록상표, 닛폰 파릴렌 합동회사 제조), 산화텅스텐을 사용하는 방법;식물유계, 실리콘계, 불소계, 알키드계 등의 이형제를 사용하는 방법 등을 들 수 있다. (일본 공개특허공보 2010-67957 공보, 일본 공개특허공보 2013-179306 공보 등을 참조).(2) A method for forming a release layer on a support before coating a resin composition on a support, and then obtaining a constitution including a polyimide resin film / release layer / support and peeling off the polyimide resin film. Examples of the release layer include a method using parylene (registered trademark, manufactured by Nippon Parylene Co., Ltd.), a method using tungsten oxide, and a method using a release agent such as a vegetable oil system, a silicone system, a fluorine system, and an alkyd system. (See Japanese Laid-Open Patent Publication Nos. 2010-67957 and 2013-179306).

이 방법 (2) 와 상기 (1) 의 레이저 조사를 병용해도 된다.The method (2) and the laser irradiation of the above (1) may be used in combination.

(3) 지지체로서 에칭 가능한 금속 기판을 사용하여, 폴리이미드 수지막/지지체를 포함하는 구성체를 얻은 후, 에천트로 금속을 에칭함으로써, 폴리이미드 수지 필름을 얻는 방법. 금속으로는, 예를 들어, 구리 (구체예로는, 미츠이 금속 광업 주식회사 제조의 전해 동박 「DFF」), 알루미늄 등을 사용할 수 있다. 에천트로는, 구리에 대해서는 염화제2철 등을, 알루미늄에 대해서는 희염산 등을 사용할 수 있다.(3) A method for obtaining a polyimide resin film by obtaining a constitution including a polyimide resin film / support by using a metal substrate which can be etched as a support, and then etching the metal with an etchant. As the metal, for example, copper (specifically, an electrolytic copper foil "DFF" manufactured by Mitsui Mining and Mining Co., Ltd.), aluminum and the like can be used. As the etchant, ferric chloride or the like may be used for copper, and dilute hydrochloric acid may be used for aluminum.

(4) 상기 방법에 의해, 폴리이미드 수지막/지지체를 포함하는 구성체를 얻은 후, 폴리이미드 수지막 표면에 점착 필름을 첩부 (貼付) 하여, 지지체로부터 점착 필름/폴리이미드 수지막을 분리하고, 그 후 점착 필름으로부터 폴리이미드 수지막을 분리하는 방법.(4) After obtaining a constitution including the polyimide resin film / support by the above method, an adhesive film is attached to the surface of the polyimide resin film to separate the pressure-sensitive adhesive film / polyimide resin film from the support, And separating the polyimide resin film from the backing adhesive film.

이들 박리 방법 중에서도, 얻어지는 폴리이미드 수지 필름의 표리의 굴절률차, YI 치, 및 신장도의 관점에서, 방법 (1) 또는 (2) 가 적절하고, 얻어지는 폴리이미드 수지 필름의 표리의 굴절률차의 관점에서 방법 (1) 이 보다 적절하다.Among these peeling methods, the method (1) or (2) is suitable from the viewpoints of the difference in refractive index, YI value and elongation of the obtained polyimide resin film from the front and rear sides of the obtained polyimide resin film, Method (1) is more appropriate.

또한, 방법 (3) 에 있어서, 지지체로서 구리를 사용한 경우에는, 얻어지는 폴리이미드 수지 필름의 YI 치가 커지고, 신장도가 작아지는 경향이 보인다. 이것은, 구리 이온의 영향인 것으로 생각된다.When copper is used as the support in the method (3), the YI value of the obtained polyimide resin film tends to be larger and the degree of elongation tends to decrease. This is thought to be the effect of copper ions.

상기 방법에 의해 얻어지는 수지 필름의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 1 ∼ 200 ㎛ 의 범위인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 5 ∼ 100 ㎛ 이다.The thickness of the resin film obtained by the above method is not particularly limited, but is preferably in the range of 1 to 200 占 퐉, more preferably 5 to 100 占 퐉.

본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 10 ㎛ 막두께에 있어서의 황색도 YI 가 30 이하일 수 있다. 또, 잔류 응력이 25 ㎫ 이하일 수 있다. 특히, 10 ㎛ 막두께에 있어서의 황색도 YI 가 30 이하이고, 또한, 잔류 응력이 25 ㎫ 이하일 수 있다. 이와 같은 특성은, 예를 들어, 본 개시의 수지 전구체를, 질소 분위기하 (예를 들어 산소 농도 2,000 ppm 이하의 질소 중), 바람직하게는 300 ℃ ∼ 550 ℃, 보다 바람직하게는 350 ℃ ∼ 450 ℃ 에 있어서 이미드화함으로써, 양호하게 실현된다.The resin film according to the present embodiment may have a yellowness index YI of 30 or less at a film thickness of 10 mu m. The residual stress may be 25 MPa or less. In particular, the yellowness YI at a film thickness of 10 mu m is 30 or less and the residual stress may be 25 MPa or less. Such characteristics can be obtained, for example, by mixing the resin precursor of the present disclosure in a nitrogen atmosphere (for example, in an oxygen concentration of 2,000 ppm or less), preferably 300 ° C to 550 ° C, more preferably 350 ° C to 450 ° C Lt; RTI ID = 0.0 &gt; C, &lt; / RTI &gt;

본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 또한, 인장 신장도가 15 % 이상일 수 있다. 수지 필름의 인장 신장도는, 또한 20 % 이상일 수 있으며, 특히 30 % 이상일 수 있다. 이 인장 신장도는, 10 ㎛ 막두께의 수지 필름을 시료로 하여, 시판되는 인장 시험기를 사용하여 측정할 수 있다.The resin film according to the present embodiment may further have a tensile elongation of 15% or more. The tensile elongation of the resin film may be 20% or more, particularly 30% or more. The tensile elongation can be measured using a commercially available tensile tester using a resin film having a film thickness of 10 mu m as a sample.

본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 전술한 수지 조성물에 함유되어 있던 (a1) 폴리이미드 전구체가 열 이미드화된 폴리이미드로 이루어지는 필름이다. 따라서, 하기 일반식 (11):The resin film according to the present embodiment is a film made of polyimide in which the (a1) polyimide precursor contained in the above-mentioned resin composition is thermally imidized. Therefore, the following general formula (11):

[화학식 29] [Chemical Formula 29]

Figure pct00029
Figure pct00029

{식 중, X1, X2 는 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다. Y 는 상기 일반식 (3), (4) 및 (5) 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종이다. l, m 은 각각 독립적으로 1 이상의 정수를 나타내고, 0.01 ≤ l / (l + m) ≤ 0.99 를 만족한다.} 로 나타내는 구조 단위를 갖는다.(Wherein X 1 and X 2 represent a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4. Y is at least one member selected from the group consisting of the general formulas (3), (4) and (5). l and m each independently represent an integer of 1 or more, and have a structural unit represented by 0.01? 1 / (1 + m)? 0.99.

l / (l + m) 의 하한은, 0.05 여도 되고, 0.10 이어도 되고, 0.20 이어도 되고, 0.30 이어도 되고, 0.40 이어도 된다.The lower limit of l / (l + m) may be 0.05, 0.10, 0.20, 0.30, or 0.40.

l / (l + m) 의 상한은, 0.95 여도 되고, 0.90 이어도 되고, 0.80 이어도 되고, 0.70 이어도 되고, 0.60 이어도 된다.The upper limit of l / (l + m) may be 0.95, 0.90, 0.80, 0.70, or 0.60.

전술한 바와 같이, 바람직하게는, 잔류 응력이 25 ㎫ 이하이고, YI 가 30 이하이고, 유리 전이 온도가 400 ℃ 이상이고, 신장도가 15 % 이상이며, 그리고 파단 강도가 250 ㎫ 이상이다.As described above, preferably, the residual stress is 25 MPa or less, YI is 30 or less, the glass transition temperature is 400 占 폚 or more, the elongation is 15% or more, and the breaking strength is 250 MPa or more.

또, 제 2 양태로는, 전술한 수지 조성물에 함유되어 있던 (a2) 폴리이미드 전구체가 열 이미드화된 폴리이미드로 이루어지는 필름이다. 따라서, 하기 일반식 (12):The second embodiment is a film made of polyimide in which the polyimide precursor (a2) contained in the above-mentioned resin composition is thermally imidized. Therefore, the following general formula (12):

[화학식 30](30)

Figure pct00030
Figure pct00030

{식 중, X3 은 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA), 및 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 에서 선택되는 적어도 1 종에서 유래하는 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} 으로 나타내는 구조 단위를 갖고, 신장도가 15 % 이상인, 수지 필름이며, 바람직하게는 잔류 응력이 25 ㎫ 이하이고, YI 가 30 이하이고, 유리 전이 온도가 400 ℃ 이상이고, 그리고 파단 강도가 250 ㎫ 이상이다.Wherein X 3 is at least one selected from the group consisting of 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA), and 4,4'-biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride ) (TAHQ). &Lt; / RTI &gt; R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are an integer of 0 to 4, and the elongation is 15% or more. Preferably, the resin film has a residual stress of 25 MPa or less, YI of 30 or less, A glass transition temperature of 400 DEG C or more, and a breaking strength of 250 MPa or more.

<적층체><Laminate>

본 발명의 다른 양태는, 지지체와, 그 지지체의 표면 상에 전술한 수지 조성물로부터 형성된 폴리이미드 수지막을 포함하는, 적층체를 제공한다.Another aspect of the present invention provides a laminate comprising a support and a polyimide resin film formed from the resin composition on the surface of the support.

또 본 발명의 또 다른 양태는, 상기 적층체의 제조 방법을 제공한다.Still another aspect of the present invention provides a method for producing the laminate.

본 실시형태에 있어서의 적층체는,In the laminate of the present embodiment,

지지체의 표면 상에, 전술한 수지 조성물을 도포함으로써 도막을 형성하는 공정 (도포 공정) 과, A step (coating step) of forming a coating film on the surface of a support by applying the above-mentioned resin composition,

상기 지지체 및 상기 도막을 가열함으로써, 그 도막에 포함되는 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정 (가열 공정) 을 포함하는, 적층체의 제조 방법에 의해 얻을 수 있다.And a step of heating the support and the coating film to imidize the polyimide precursor contained in the coating film to form a polyimide resin film (heating step).

상기의 적층체의 제조 방법은, 예를 들어, 박리 공정을 실시하지 않는 것 외에는, 전술한 수지 필름의 제조 방법과 동일하게 하여 실시할 수 있다.The production method of the laminate may be carried out in the same manner as the production method of the resin film described above except that the peeling step is not performed, for example.

이 적층체는, 예를 들어, 플렉시블 디바이스의 제조에 적합하게 사용할 수 있다.The laminate can be suitably used, for example, in the production of a flexible device.

더욱 상세하게 설명하면, 이하와 같다.More specifically, it is as follows.

플렉시블 디스플레이를 형성하는 경우, 유리 기판을 지지체로서 사용하여, 그 위에 플렉시블 기판을 형성하고, 또한 그 위에 TFT 등의 형성을 실시한다. 플렉시블 기판 상에 TFT 등을 형성하는 공정은, 전형적으로는, 150 ∼ 650 ℃ 의 넓은 범위의 온도에서 실시된다. 그러나, 현실적으로 소망되는 성능을 구현하기 위해서는, 250 ℃ ∼ 450 ℃ 부근의 고온에 있어서, 무기물 재료를 사용하여, TFT-IGZO (InGaZnO) 산화물 반도체 또는 TFT (a-Si-TFT, poly-Si-TFT) 를 형성하는 것을 필요로 한다.In the case of forming a flexible display, a glass substrate is used as a support, a flexible substrate is formed thereon, and a TFT or the like is formed thereon. The step of forming a TFT or the like on a flexible substrate is typically performed at a temperature in a wide range of 150 to 650 占 폚. However, in order to realize a desired performance in practice, a TFT-IGZO (InGaZnO) oxide semiconductor or TFT (a-Si-TFT, poly-Si-TFT ). &Lt; / RTI &gt;

한편, 이들 열 이력에 의해, 폴리이미드 필름의 여러 물성 (특히 황색도나 신장도) 은 저하되는 경향이 있고,, 400 ℃ 를 초과하면, 특히, 황색도나 신장도는 저하된다. 그런데, 본 발명에 관련된 폴리이미드 전구체로부터 얻어지는 폴리이미드 필름은, 400 ℃ 이상의 고온 영역에서도, 황색도나 신장도의 저하가 매우 적어, 당해 영역에서 양호하게 사용할 수 있다.On the other hand, these properties of the polyimide film tend to lower various physical properties (in particular, yellowness and elongation) due to these thermal hysteresis, and when it exceeds 400 ° C, the yellowness and elongation are particularly lowered. However, the polyimide film obtained from the polyimide precursor according to the present invention has a very low yellowing degree and elongation at a high temperature of 400 DEG C or higher, and can be preferably used in this region.

또한, 본 실시형태에서는, 하기 일반식 (13) 으로 나타내는 폴리이미드를 포함하는 폴리이미드 필름층과, LTPS (저온 폴리실리콘 TFT) 층을 포함하는 적층체를 제공할 수 있다.Further, in the present embodiment, a laminate including a polyimide film layer containing a polyimide represented by the following general formula (13) and an LTPS (low-temperature polysilicon TFT) layer can be provided.

[화학식 31] (31)

Figure pct00031
Figure pct00031

{식 중, X1 은 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} Wherein X 1 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4.}

당해 적층체의 제조 방법으로는 전술한 지지체와, 그 지지체의 표면 상에 전술한 수지 조성물로부터 형성된 폴리이미드 수지막을 포함하는, 적층체를 제조한 후에, 아모르퍼스 Si 층을 형성하고, 400 ∼ 450 ℃ 에서 0.5 ∼ 3 시간 정도 탈수소 어닐을 실시한 후에, 엑시머 레이저 등으로 결정화함으로써 LTPS 층을 형성할 수 있다. 그 후, 레이저 박리 등으로 유리와 폴리이미드 필름을 박리함으로써, 상기 적층체를 얻을 수 있다.As a production method of the laminate, an amorphous Si layer is formed after the laminate including the above-mentioned support and a polyimide resin film formed from the above-mentioned resin composition on the surface of the support, Deg.] C for 0.5 to 3 hours, and then crystallized by an excimer laser or the like to form an LTPS layer. Thereafter, the glass and the polyimide film are peeled off by laser ablation or the like to obtain the laminate.

일반식 (13) 으로 나타내는 폴리이미드를 포함하는 폴리이미드 필름층과, LTPS (저온 폴리실리콘 TFT) 층, 을 포함하는 적층체는, 히트 사이클 시험 후의 박리나 부풀음이 적고, 기판 휨이 적다.A laminate including a polyimide film layer containing a polyimide represented by the general formula (13) and a LTPS (low temperature polysilicon TFT) layer is less likely to peel or swell after a heat cycle test and has less substrate warpage.

또, 플렉시블 기판과 폴리이미드 수지막에 발생하는 잔류 응력이 높으면, 양자로 이루어지는 적층체가 고온의 TFT 공정에 있어서 팽창한 후, 상온 냉각시에 수축할 때, 유리 기판의 휨 및 파손, 플렉시블 기판의 유리 기판으로부터의 박리 등의 문제가 발생할 수 있다. 일반적으로, 유리 기판의 열팽창 계수는 수지와 비교하여 작기 때문에, 그 유리 기판과 플렉시블 기판의 사이에 잔류 응력이 발생한다. 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 상기 서술한 바와 같이, 유리 기판과의 사이에 발생하는 잔류 응력을 25 ㎫ 이하로 할 수 있기 때문에, 플렉시블 디스플레이의 형성에 적합하게 사용할 수 있다.Further, when the residual stress generated in the flexible substrate and the polyimide resin film is high, when the stacked body made of both expand in the high temperature TFT process and then shrink upon cooling at room temperature, the glass substrate is warped and broken, Problems such as peeling from the glass substrate may occur. Generally, since the thermal expansion coefficient of the glass substrate is smaller than that of the resin, residual stress is generated between the glass substrate and the flexible substrate. As described above, the resin film according to the present embodiment can be suitably used for forming a flexible display because the residual stress generated between the resin film and the glass substrate can be 25 MPa or less.

또한, 본 실시형태에 관련된 폴리이미드 필름은, 10 ㎛ 막두께에 있어서의 황색도 YI 를 30 이하로 할 수 있고, 인장 신장도를 15 % 이상으로 할 수 있다. 이에 따라, 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 플렉시블 기판을 취급할 때의 파단 강도가 우수하고, 따라서 플렉시블 디스플레이를 제조할 때의 수율을 향상시킬 수 있다.In addition, the polyimide film according to the present embodiment can have a yellowness degree YI of 30 or less at a film thickness of 10 mu m and a tensile elongation of 15% or more. Thus, the resin film according to the present embodiment is excellent in breaking strength when the flexible substrate is handled, and therefore, the yield when the flexible display is manufactured can be improved.

또, 다른 양태로서, 400 ℃ 이상에서 가열한 후의 막두께 10 미크론에 있어서의 황색도가 20 이하이고, 막두께 0.1 미크론일 때의 308 ㎚ 의 흡광도가 0.6 이상 2.0 이하이고, 그리고 신장도가 15 % 이상인, 폴리이미드 필름을 제공할 수 있다.As another aspect, it is preferable that the degree of yellowness at a thickness of 10 microns after heating at 400 DEG C or higher is 20 or less, the absorbance at 308 nm when the film thickness is 0.1 micron is 0.6 or more and 2.0 or less, and the elongation is 15 % Or more of a polyimide film.

YI 를 20 이하로 함으로써, 디스플레이로 했을 때의 화질을 떨어뜨리지 않고, 플렉시블 기판을 제조할 수 있다. By setting the YI to 20 or less, a flexible substrate can be manufactured without deteriorating the image quality in the display.

보다 바람직하게는 18 이하이고, 특히 16 이하인 것이 바람직하다.More preferably 18 or less, and particularly preferably 16 or less.

막두께 0.1 미크론일 때의 308 ㎚ 의 흡광도가 0.6 이상 2.0 이하 또한 신장도 15 % 이상으로 함으로써, 예를 들어 유리 기판으로부터 폴리이미드 필름을 레이저로 용이하게 떼어낼 수 있다. 레이저 박리 후의 애쉬를 억제하는 관점에서, 0.6 이상 1.5 이하 또한 신장도 20 % 이상이 바람직하고, 예를 들어 유기 EL 소자의 성능을 떨어뜨리지 않는 관점에서, 0.6 이상 1.0 이하 또한 신장도 20 % 이상이 특히 바람직하다.The absorbance at 308 nm when the film thickness is 0.1 micron is 0.6 or more and 2.0 or less, and the elongation is 15% or more. Thus, for example, the polyimide film can be easily peeled from the glass substrate with the laser. From the viewpoint of suppressing the ash after delamination of the laser, it is preferable that the elongation is not less than 0.6 and not more than 1.5 and the elongation is not less than 20%. For example, from the viewpoint of not lowering the performance of the organic EL device, Particularly preferred.

신장도의 상한은 특별히 없지만, 80 % 이하여도 되고, 70 % 이하여도 되고, 60 % 이하여도 되고, 50 % 이하여도 되고, 40 % 이하여도 된다.The upper limit of the elongation is not particularly limited but may be 80% or less, 70% or less, 60% or less, 50% or less, or 40% or less.

또한, 레이저 박리시에 레이저 광으로 폴리이미드 필름이 타 버리는 경우가 있으며, 그 타고 남은 것이 애쉬이다. In addition, there is a case where the polyimide film is burned with the laser light at the time of delamination of the laser, and the residue is ashes.

따라서, 본 발명의 다른 양태는, 디스플레이 기판을 제공한다.Accordingly, another aspect of the present invention provides a display substrate.

또 본 발명의 또 다른 양태는, 상기 디스플레이 기판을 제조하는 방법을 제공한다.Still another aspect of the present invention provides a method of manufacturing the display substrate.

본 실시형태에 있어서의 디스플레이 기판의 제조 방법은,In the display substrate manufacturing method of this embodiment,

지지체의 표면 상에 전술한 수지 조성물을 도포함으로써 도막을 형성하는 공정 (도포 공정) 과,A step (coating step) of forming a coating film by applying the above-mentioned resin composition on the surface of a support,

상기 지지체 및 상기 도막을 가열함으로써, 그 도막에 포함되는 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정 (가열 공정) 과, A step of heating the support and the coating film to imidize the polyimide precursor contained in the coating film to form a polyimide resin film;

상기 폴리이미드 수지막 상에 소자 또는 회로를 형성하는 공정 (소자·회로 형성 공정) 과,A step of forming an element or a circuit on the polyimide resin film (element / circuit forming step)

상기 소자 또는 회로가 형성된 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 공정 (박리 공정) A step of peeling the polyimide resin film on which the element or circuit is formed from the support (peeling step)

을 포함하는 것을 특징으로 한다.And a control unit.

상기 방법에 있어서, 도포 공정, 가열 공정, 및 박리 공정은, 각각, 상기 서술한 수지 필름의 제조 방법과 동일하게 하여 실시할 수 있다. In the above method, the application step, the heating step and the peeling step can be carried out in the same manner as the above-mentioned method for producing a resin film.

소자·회로 형성 공정은, 당업자에게 공지된 방법에 의해 실시할 수 있다.The element / circuit forming process can be carried out by a method known to a person skilled in the art.

상기 물성을 충족하는 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 기존의 폴리이미드 필름이 갖는 황색에 의해 사용이 제한된 용도, 특히 플렉시블 디스플레이용 무색 투명 기판, 컬러 필터용 보호막 등의 용도에 적합하게 사용된다. 나아가서는, 예를 들어, 보호막, TFT-LCD 등에 있어서의 산광 시트 및 도막 (예를 들어, TFT-LCD 의 인터레이어, 게이트 절연막, 액정 배향막 등), 터치 패널용 ITO 기판, 스마트폰용 커버 유리 대체 수지 기판 등의, 무색 투명성, 또한 저복굴절이 요구되는 분야에 있어서도 사용 가능하다. 액정 배향막으로서 본 실시형태에 관련된 폴리이미드를 적용하면, 개구율이 높고, 콘트라스트비가 높은 TFT-LCD 의 제조가 가능해진다.The resin film according to the present embodiment satisfying the above physical properties is suitably used for applications in which use of the conventional polyimide film is restricted by the yellow color, particularly for a colorless transparent substrate for a flexible display, a protective film for a color filter, and the like. (For example, an interlayer of a TFT-LCD, a gate insulating film, a liquid crystal alignment film, etc.), an ITO substrate for a touch panel, a cover glass for a smartphone, etc. It can be used also in a field where colorless transparency and low birefringence are required such as a resin substrate. Application of the polyimide according to the present embodiment as a liquid crystal alignment film makes it possible to manufacture a TFT-LCD having a high aperture ratio and a high contrast ratio.

본 실시형태에 관련된 폴리이미드 전구체, 수지 전구체를 사용하여 제조되는 수지 필름 및 적층체는, 예를 들어, 반도체 절연막, TFT-LCD 절연막, 전극 보호막 등으로서 적용할 수 있는 것 외에, 플렉시블 디바이스의 제조에 있어서, 특히 기판으로서 적합하게 이용할 수 있다. 여기서, 본 실시형태에 관련된 수지 필름 및 적층체를 적용 가능한 플렉시블 디바이스로는, 예를 들어, 플렉시블 디스플레이, 플렉시블 태양 전지, 플렉시블 터치 패널 전극 기판, 플렉시블 조명, 플렉시블 배터리 등을 들 수 있다.The resin film and the laminate produced using the polyimide precursor and the resin precursor according to the present embodiment can be applied to, for example, a semiconductor insulating film, a TFT-LCD insulating film, an electrode protective film, It can be suitably used as a substrate in particular. Examples of the flexible device to which the resin film and the laminate according to the present embodiment can be applied include a flexible display, a flexible solar cell, a flexible touch panel electrode substrate, a flexible lighting, and a flexible battery.

실시예Example

이하, 본 발명에 대해, 실시예에 기초하여 더욱 상세히 서술하는데, 이들은 설명을 위해서 기술되는 것으로서, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail on the basis of examples, which are described for the purpose of explanation, and the scope of the present invention is not limited to the following examples.

실시예 및 비교예에 있어서의 각종 평가는 다음과 같이 실시하였다.Various evaluations in Examples and Comparative Examples were carried out as follows.

<중량 평균 분자량의 측정>&Lt; Measurement of weight average molecular weight &gt;

중량 평균 분자량 (Mw) 및 수 평균 분자량 (Mn) 은, 겔 퍼미에이션 크로마토그래피 (GPC) 로, 하기의 조건에 의해 측정하였다.The weight average molecular weight (Mw) and the number average molecular weight (Mn) were determined by gel permeation chromatography (GPC) under the following conditions.

용매로서, N,N-디메틸포름아미드 (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 고속 액체 크로마토그래프용, 측정 직전에 24.8 m㏖/ℓ 의 브롬화리튬 1수화물 (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 순도 99.5 %) 및 63.2 m㏖/ℓ 의 인산 (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 고속 액체 크로마토 그래프용) 을 첨가하여 용해한 것) 를 사용하였다. 중량 평균 분자량을 산출하기 위한 검량선은, 스탠더드 폴리스티렌 (토소사 제조) 을 사용하여 작성하였다.As a solvent, 24.8 mmol / l of lithium bromide monohydrate (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., purity 99.5%) and 63.2 m &lt; 2 &gt; (Manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., for high-speed liquid chromatograph) was added and dissolved. The calibration curve for calculating the weight average molecular weight was prepared using standard polystyrene (manufactured by Toso Co., Ltd.).

칼럼:Shodex KD-806M (쇼와 전공사 제조) Column: Shodex KD-806M (manufactured by Showa Denko KK)

유속:1.0 ㎖/분 Flow rate: 1.0 ml / min

칼럼 온도:40 ℃ Column temperature: 40 DEG C

펌프:PU-2080Plus (JASCO 사 제조) Pump: PU-2080Plus (manufactured by JASCO)

검출기:RI-2031Plus (RI:시차 굴절계, JASCO 사 제조) 및 UV-2075Plus (UV-VIS:자외 가시 흡광계, JASCO 사 제조) Detector: RI-2031Plus (RI: differential refractometer, manufactured by JASCO) and UV-2075Plus (UV-VIS: ultraviolet visible light absorber, manufactured by JASCO)

<분자량 1,000 미만의 분자의 함유량 (저분자량체 함유량) 의 평가>&Lt; Evaluation of content of molecules having a molecular weight of less than 1,000 (content of a low molecular weight material)

수지에 있어서의 분자량 1,000 미만의 분자의 함유량은, 상기에서 얻어진 GPC 의 측정 결과를 이용하여, 분자량 1,000 미만의 성분이 차지하는 피크 면적이 분자량 분포 전체의 피크 면적에서 차지하는 비율 (백분율) 로서 산출하였다.The content of the molecules having a molecular weight of less than 1,000 in the resin was calculated as the ratio (percentage) of the peak area occupied by the component having a molecular weight of less than 1,000 to the peak area of the entire molecular weight distribution, using the measurement result of GPC obtained above.

<수분량의 평가><Evaluation of Water Content>

합성 용제 및 수지 조성물 (바니시) 의 수분량은, 칼피셔 수분 측정 장치 (미량 수분 측정 장치 AQ-300, 히라누마 산업사 제조) 를 사용하여 측정을 실시하였다.The water content of the synthetic solvent and the resin composition (varnish) was measured using a Karl Fischer moisture measuring apparatus (a very small moisture measuring apparatus AQ-300, manufactured by Hiranuma Industrial Co., Ltd.).

<수지 조성물의 점도 안정성의 평가>&Lt; Evaluation of viscosity stability of resin composition &gt;

실시예 및 비교예의 각각에서 조제한 수지 조성물에 대해,With respect to the resin compositions prepared in each of Examples and Comparative Examples,

조제 후에 실온에서 3 일간 정치 (靜置) 한 샘플을 조제 후의 샘플로 하여 23 ℃ 에 있어서의 점도 측정을 실시하고;After the preparation, the sample after standing for 3 days at room temperature was subjected to viscosity measurement at 23 ° C as a sample after preparation;

그 후 또한 실온에서 2 주간 정치한 샘플을 2 주일 후의 샘플로 하여, 재차 23 ℃ 에 있어서의 점도 측정을 실시하였다. 이들 점도 측정은, 온조기가 부착된 점도계 (토키 산업계사 제조 TV-22) 를 사용하여 실시하였다.Thereafter, the sample which was allowed to stand at room temperature for 2 weeks was used as a sample after 2 weeks, and the viscosity was measured again at 23 占 폚. These viscosities were measured using a viscometer (TV-22 manufactured by Toki Industry Co., Ltd.) equipped with a warm-up period.

상기 측정값을 사용하여, 하기 수식에 의해 실온 2 주간 점도 변화율을 산출하였다.Using the measured values, the rate of change in viscosity at room temperature for 2 weeks was calculated by the following equation.

실온 2 주간 점도 변화율 (%) = [(2 주일 후의 샘플의 점도) ― (조제 후의 샘플의 점도)] / (조제 후의 샘플의 점도) × 100 (Viscosity of sample after preparation) - (viscosity of sample after preparation)] / (viscosity of sample after preparation) x 100

실온 2 주간 점도 변화율은, 하기 기준으로 평가하였다.The viscosity change rate at room temperature for 2 weeks was evaluated by the following criteria.

◎:점도 변화율이 5 % 이하 (보존 안정성 「우량」) ⊚: viscosity change rate is 5% or less (storage stability "excellent")

○:점도 변화율이 5 초과 10 % 이하 (보존 안정성 「양호」) ?: Viscosity change rate exceeding 5% and 10% or less (storage stability "good")

×:점도 변화율이 10 % 초과 (보존 안정성 「불량」) X: Viscosity change rate exceeded 10% (storage stability "poor")

<바니시 도포성의 평가><Evaluation of varnish application property>

실시예 및 비교예의 각각에서 조제한 수지 조성물을, 무알칼리 유리 기판 (사이즈 37 × 47 ㎜, 두께 0.7 ㎜) 상에 바 코터를 사용하여, 큐어 후 막두께 15 ㎛ 가 되도록 도포한 후, 140 ℃ 에 있어서 60 분간 프리베이크하였다.The resin composition prepared in each of Examples and Comparative Examples was coated on a non-alkali glass substrate (size 37 mm x 47 mm, thickness 0.7 mm) using a bar coater so as to have a thickness of 15 mu m after curing, And pre-baked for 60 minutes.

바니시의 도포성을, 단차계 (Tencor 사 제조, 형식명 P-15) 를 사용하여 도막 표면의 단차를 측정하여 평가하였다.The application of the varnish was evaluated by measuring the level difference of the surface of the coating film by using a stepped system (manufactured by Tencor Corporation, type name P-15).

◎:표면의 단차가 0.1 ㎛ 이하 (도포성 「우량」) ?: The step difference of the surface is not more than 0.1 占 퐉 (coating property "good")

○:표면의 단차가 0.1 초과 0.5 ㎛ 이하 (도포성 「양호」) ?: The difference in level of the surface was more than 0.1 and 0.5 占 퐉 or less (coatability "good")

×:표면의 단차가 0.5 ㎛ 초과 (도포성 「불량」) X: The step difference of the surface exceeds 0.5 占 퐉 (coating property is "poor")

<잔류 응력의 평가><Evaluation of Residual Stress>

미리 「휨량」 을 측정해 둔, 두께 625 ㎛ ± 25 ㎛ 의 6 인치 실리콘 웨이퍼 상에, 각 수지 조성물을 스핀 코터에 의해 도포하고, 100 ℃ 에 있어서 7 분간 프리베이크하였다. 그 후, 종형 (縱型) 큐어 로 (爐) (코요 린드버그 제조, 형식명 VF-2000B) 를 사용하여, 창고 내의 산소 농도가 10 질량ppm 이하가 되도록 조정하여, 430 ℃ 에 있어서 1 시간의 가열 경화 처리 (큐어 처리) 를 실시하고, 경화 후 막두께 10 ㎛ 의 폴리이미드 수지막이 붙은 실리콘 웨이퍼를 제조하였다.Each resin composition was coated on a 6-inch silicon wafer having a thickness of 625 占 퐉 占 25 占 퐉, which had been previously measured for "bending amount", by a spin coater and prebaked at 100 占 폚 for 7 minutes. Thereafter, the oxygen concentration in the warehouse was adjusted to 10 mass ppm or less using a vertical curing furnace (model name VF-2000B, manufactured by Koyo Lindberg), and heating at 430 占 폚 for 1 hour A curing treatment (curing treatment) was carried out to prepare a silicon wafer having a polyimide resin film with a thickness of 10 mu m after curing.

이 웨이퍼의 휨량을, 잔류 응력 측정 장치 (텐코르사 제조, 형식명 FLX-2320) 를 사용하여 측정하고, 실리콘 웨이퍼와 수지막 사이에 발생한 잔류 응력을 평가하였다.The amount of deflection of the wafer was measured using a residual stress measuring apparatus (model name FLX-2320, manufactured by Tencor Corporation), and the residual stress generated between the silicon wafer and the resin film was evaluated.

◎:잔류 응력이 ―5 초 15 ㎫ 이하 (잔류 응력의 평가 「우량」) ⊚: residual stress of -5 seconds 15 MPa or less (evaluation of residual stress "excellent")

○:잔류 응력이 15 초과 25 ㎫ 이하 (잔류 응력의 평가 「양호」) ?: Residual stress exceeding 15 but not exceeding 25 MPa (evaluation of residual stress "good")

×:잔류 응력이 25 ㎫ 초과 (잔류 응력의 평가 「불량」) X: residual stress exceeding 25 MPa (evaluation of residual stress &quot; defective &quot;)

<무기막을 형성한 폴리이미드 수지막의 휨 평가>&Lt; Evaluation of bending of polyimide resin film having inorganic film &

실시예 및 비교예의 각각에서 조제한 수지 조성물을, 표면에 알루미늄 증착층을 형성한 6 인치 실리콘 웨이퍼 기판에, 경화 후 막두께가 10 ㎛ 가 되도록 스핀 코트하고, 100 ℃ 에서 7 분간 프리베이크하였다. 그 후, 종형 큐어로 (코요 린드버그사 제조, 형식명 VF-2000B) 를 사용하여, 창고 내의 산소 농도가 10 질량ppm 이하가 되도록 조정하여, 430 ℃ 에서 1 시간의 가열 경화 처리를 실시하고, 폴리이미드 수지막이 형성된 웨이퍼를 제조하였다. 이 웨이퍼를 사용하여, 폴리이미드 수지막 상에, CVD 법에 의해, 무기막인 질화규소 (SiNx) 막을 350 ℃ 에 있어서 100 ㎚ 의 두께로 형성하고, 무기막/폴리이미드 수지가 형성된 적층체 웨이퍼를 얻었다.The resin compositions prepared in each of Examples and Comparative Examples were spin-coated on a 6-inch silicon wafer substrate having an aluminum vapor deposition layer formed thereon so as to have a film thickness of 10 占 퐉 after curing and prebaked at 100 占 폚 for 7 minutes. Thereafter, the oxygen concentration in the warehouse was adjusted to 10 mass ppm or less by using a bell-shaped cure (model name VF-2000B, manufactured by Koyo Lindberg), and heat curing treatment was conducted at 430 캜 for 1 hour, To thereby prepare a wafer having a mid resin film. Using this wafer, a silicon nitride (SiNx) film as an inorganic film was formed to a thickness of 100 nm at 350 DEG C on a polyimide resin film by a CVD method, and a laminated wafer having an inorganic film / polyimide resin formed thereon .

상기에서 얻어진 적층체 웨이퍼를 희염산 수용액에 침지하고, 무기막 및 폴리이미드 필름의 2 층을 일체로 하여 웨이퍼로부터 박리함으로써, 표면에 무기막이 형성된 폴리이미드 필름의 샘플을 얻었다. 이 샘플을 사용하여, 폴리이미드 수지막의 휨을 평가하였다.The laminate wafer obtained above was immersed in a dilute hydrochloric acid aqueous solution, and the two layers of the inorganic film and the polyimide film were integrally formed and peeled from the wafer to obtain a sample of a polyimide film having an inorganic film formed on its surface. Using this sample, the warpage of the polyimide resin film was evaluated.

◎:휨이 없는 것 (휨 「우량」) &Amp; cir &amp;: No warping (warp &quot; good &quot;)

○:조금 밖에 휨이 없는 것 (휨 「양호」) &Amp; cir &amp;: A piece having no warpage (warp &quot; good &quot;)

×:휨에 의해 필름이 둥글게 되어 있는 것 (휨 「불량」) X: The film is rounded due to warping (deflection &quot; defective &quot;)

<황색도 (YI 치) 의 평가>&Lt; Evaluation of yellowness (YI value) &gt;

상기 <무기막을 형성한 폴리이미드 수지막의 휨 평가> 와 동일하게 하여 웨이퍼 (무기막이 형성되어 있지 않은 것) 를 제조하였다. 그 웨이퍼를 희염산 수용액에 침지하고, 폴리이미드 수지막을 박리함으로써, 수지 필름을 얻었다.A wafer (one having no inorganic film) was produced in the same manner as in &lt; evaluation of bending of the polyimide resin film having an inorganic film formed thereon. The wafer was immersed in a dilute hydrochloric acid aqueous solution and the polyimide resin film was peeled off to obtain a resin film.

얻어진 폴리이미드 수지 필름에 대해, 닛폰 전색 공업 (주) 제조 (Spectrophotometer:SE600) 로 D65 광원을 이용하여 YI 치 (막두께 10 ㎛ 환산) 를 측정하였다.The obtained polyimide resin film was measured for YI value (in terms of a film thickness of 10 mu m) using a D65 light source with a Spectrophotometer (SE600) manufactured by Nippon Denshoku Industries Co.,

<신장도 및 파단 강도의 평가>&Lt; Evaluation of elongation and fracture strength &gt;

상기 <무기막을 형성한 폴리이미드 수지막의 휨 평가> 와 동일하게 하여 웨이퍼 (무기막이 형성되어 있지 않은 것) 를 제조하였다. 다이싱 소 (주식회사 디스코 제조 DAD 3350) 를 사용하여 그 웨이퍼의 폴리이미드 수지막에 3 ㎜ 폭의 새김눈을 넣은 후, 희염산 수용액에 하룻밤 담가 수지막 편 (片) 을 박리하고, 건조시켰다. 이것을, 길이 50 ㎜ 로 컷하고, 샘플로 하였다.A wafer (one having no inorganic film) was produced in the same manner as in &lt; evaluation of bending of the polyimide resin film having an inorganic film formed thereon. Using a dicing saw (DAD 3350, manufactured by Disco Co., Ltd.), a nick of 3 mm in width was inserted into the polyimide resin film of the wafer, the resin film piece was immersed in the dilute hydrochloric acid aqueous solution and dried. This sample was cut into a length of 50 mm.

상기의 샘플에 대해, TENSILON (오리엔텍사 제조 UTM-II-20) 을 사용하여, 시험 속도 40 ㎜/min, 초기 가중 0.5 fs 로 신장도 및 파단 강도를 측정하였다.The elongation and fracture strength of the above samples were measured at a test speed of 40 mm / min and an initial weight of 0.5 fs using TENSILON (UTM-II-20 manufactured by Orientech).

<폴리이미드 수지막의 308 ㎚ 에 있어서의 흡광도 측정>&Lt; Measurement of absorbance of polyimide resin film at 308 nm &gt;

석영 유리 기판 상에 상기 바니시를 각각을 스핀 코트하고, 질소 분위기하, 430 ℃ 에 있어서 1 시간 가열함으로써, 막두께 0.1 ㎛ 의 폴리이미드 수지막을 각각 얻었다. 이들 폴리이미드막에 대해, UV-1600 (시마즈사 제조) 을 사용하여 308 ㎚ 에 있어서의 흡광도를 측정하였다.Each of the varnishes was spin-coated on a quartz glass substrate and heated at 430 占 폚 for 1 hour in a nitrogen atmosphere to obtain a polyimide resin film having a thickness of 0.1 占 퐉. For these polyimide membranes, the absorbance at 308 nm was measured using UV-1600 (Shimadzu Corporation).

[실시예 1] [Example 1]

질소 치환한 500 ㎖ 세퍼러블 플라스크에, N-메틸-2-피롤리돈 (NMP) 을 96 g 넣고, 4-아미노페닐-4-아미노벤조에이트 (APAB) 를 17.71 g (77.6 m㏖) 및 4,4'-디아미노디페닐술폰 (DAS) 을 4.82 g (19.4 m㏖) 넣고, 교반하여 APAB 및 DAS 를 용해시켰다. 그 후, 비페닐-3,3',4,4'-테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 을 29.42 g (100 m㏖) 첨가하고, 질소 플로우하에서 80 ℃ 에 있어서 3 시간 교반하에 중합 반응을 실시하였다. 그 후, 실온까지 냉각시키고, 상기 NMP 를 첨가하여 용액 점도가 51,000 mPa·s 가 되도록 조정함으로써, 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 한다) P-1 을 얻었다. 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 은 65,000 이었다.96 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) was added to a nitrogen-substituted 500 ml separable flask, and 17.71 g (77.6 mmol) of 4-aminophenyl-4-aminobenzoate (APAB) , 4'-diaminodiphenylsulfone (DAS) (4.82 g, 19.4 mmol) were placed and stirred to dissolve APAB and DAS. Thereafter, 29.42 g (100 mmol) of biphenyl-3,3 ', 4,4'-tetracarboxylic acid dianhydride (BPDA) was added and the polymerization reaction was carried out under nitrogen flow at 80 ° C for 3 hours with stirring Respectively. Thereafter, the solution was cooled to room temperature, and NMP was added to adjust the solution viscosity to 51,000 mPa.s to obtain an NMP solution of polyamic acid (hereinafter, also referred to as varnish) P-1. The polyamic acid thus obtained had a weight average molecular weight (Mw) of 65,000.

[실시예 2 ∼ 21 및 비교예 1 ∼ 5] [Examples 2 to 21 and Comparative Examples 1 to 5]

상기 실시예 1 에 있어서, 원료의 투입량 (몰비), 사용 용매의 종류, 중합 온도, 및 중합 시간을, 각각, 표 1 에 기재된 대로 변경한 것 외에는, 실시예 1 과 동일하게 하여, 바니시 P-2 ∼ P-26 을 얻었다.In the same manner as in Example 1 except that the amount of the raw material (molar ratio), the kind of the solvent used, the polymerization temperature, and the polymerization time were changed as described in Table 1, the varnish P- 2 to P-26.

각 바니시에 함유되는 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을, 표 1 에 합쳐 나타내었다.The weight average molecular weight (Mw) of the polyamic acid contained in each varnish is shown in Table 1.

Figure pct00032
Figure pct00032

표 1 에 있어서의 각 성분의 약칭은, 각각, 이하의 의미이다.The abbreviations of the respective components in Table 1 have the following meanings.

BPDA:3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물BPDA: 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride

PMDA:피로멜리트산 2무수물 PMDA: pyromellitic acid dianhydride

TAHQ:p-페닐렌비스(트리멜리테이트산 무수물) TAHQ: p-phenylenebis (trimellitic acid anhydride)

APAB:4-아미노페닐-4-아미노벤조에이트APAB: 4-aminophenyl-4-aminobenzoate

ATAB:2-메틸-4-아미노페닐-4-아미노벤조에이트ATAB: 2-methyl-4-aminophenyl-4-aminobenzoate

BABB:[4-(4-아미노벤조일)옥시페닐]4-아미노벤조에이트 BABB: [4- (4-aminobenzoyl) oxyphenyl] 4-aminobenzoate

BAFL:9,9-비스(아미노페닐)플루오렌BAFL: 9,9-bis (aminophenyl) fluorene

BFAF:9,9-비스(4-아미노-3-플루오로페닐)플루오렌 BFAF: 9,9-bis (4-amino-3-fluorophenyl) fluorene

TFMB:2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘 TFMB: 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine

DAS:4,4'-디아미노디페닐술폰 DAS: 4,4'-diaminodiphenyl sulfone

NMP:N-메틸-2-피롤리돈 NMP: N-methyl-2-pyrrolidone

DMF:N,N-디메틸포름아미드 DMF: N, N-dimethylformamide

DMAc:N,N-디메틸아세트아미드DMAc: N, N-dimethylacetamide

상기 실시예 및 비교예에서 얻어진 바니시 P-1 ∼ P-26 을, 그대로 수지 조성물로서 사용하고, 상기 서술한 방법에 따라 평가를 실시하였다. 평가 결과는 표 2 에 나타내었다.The varnishes P-1 to P-26 obtained in the above Examples and Comparative Examples were directly used as a resin composition, and evaluated according to the above-described method. The evaluation results are shown in Table 2.

Figure pct00033
Figure pct00033

표 1 및 표 2 로부터 분명한 바와 같이, 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위만을 포함하는, 비교예 1, 2 에서 얻어진 폴리이미드 필름은, 필름이 물러, 신장도 등의 물성 평가를 할 수 없었다. 또, 잔류 응력도 높은 결과가 되었다. 또, 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위만을 포함하는, 비교예 3 에서 얻어진 폴리이미드 필름은, 잔류 응력이 높아, 무기막을 형성한 후에 휨이 발생하고, 신장도도 낮았다.As is evident from Tables 1 and 2, the polyimide films obtained in Comparative Examples 1 and 2 containing only the structural units represented by the general formula (1) could not evaluate the physical properties such as elongation of the films. Also, the residual stress was high. In addition, the polyimide film obtained in Comparative Example 3 containing only the structural unit represented by the general formula (2) had a high residual stress and was warped after forming the inorganic film, and the elongation was also low.

한편, 일반식 (1) 로 나타내는 구조 단위와, 일반식 (2) 로 나타내는 구조 단위를, 몰비 99/1 ∼ 1/99 로 포함하는, 실시예 1 ∼ 21 로부터 얻어진 폴리이미드 필름은, 황색도가 20 이하로 낮고, 잔류 응력도 25 ㎫ 이하로 낮고, 신장도는 20 % 이상으로 높은 결과가 되었다. 또, 무기막을 형성한 후의 휨도 발생하지 않거나, 또는 발생하였다고 해도 극히 미미하였다.On the other hand, the polyimide films obtained from Examples 1 to 21, which contain the structural units represented by the general formula (1) and the structural units represented by the general formula (2) in a molar ratio of 99/1 to 1/99, Of 20 or less, residual stress of 25 MPa or less, and elongation of 20% or more. In addition, even when the warp occurred after the formation of the inorganic film did not occur, or even when it occurred, the warp was extremely insignificant.

상기 표 2 의 결과로부터, 본 발명에 관련된 수지 조성물로부터 얻어지는 폴리이미드 수지 필름은, 황색도가 작고, 잔류 응력이 낮고, 기계적 물성이 우수한 수지 필름인 것이 확인되었다.From the results shown in Table 2, it was confirmed that the polyimide resin film obtained from the resin composition according to the present invention was a resin film having a low yellowing degree, low residual stress, and excellent mechanical properties.

구체적으로는, 본 발명에서는, 잔류 응력이 25 ㎫ 이하이고, 황색도 YI 가 30 이하이고, 신장도가 15 % 이상인 수지 필름이 얻어진다.Specifically, in the present invention, a resin film having a residual stress of 25 MPa or less, a yellowness index YI of 30 or less, and an elongation of 15% or more is obtained.

[실시예 22] [Example 22]

질소 치환한 500 ㎖ 세퍼러블 플라스크에, 18 ℓ 캔 개봉 직후의 N-메틸-2-피롤리돈 (NMP) (수분량 250 질량ppm) 을, 고형분 함유량 17 wt% 에 상당하는 양을 넣고, 4-아미노페닐-4-아미노벤조에이트 (APAB, 순도 99.5 %, 니혼 쥰료 약품 주식회사 제조) 5.71 g (25.0 m㏖) 을 넣고, 교반하여 APAB 를 용해시켰다. 그 후, 비페닐-3,3',4,4'-테트라카르복실산 2무수물 (BPDA, 순도 99.5 %, 마나크 주식회사 제조) 을 7.36 g (25.0 m㏖) 첨가하고, 질소 플로우하에서 80 ℃ 에 있어서 3 시간 교반하에 중합 반응을 실시하였다. 그 후, 실온까지 냉각시키고, 상기 NMP 를 첨가하여 용액 점도가 51,000 mPa·s 가 되도록 조정함으로써, 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 한다) P-27 을 얻었다. 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 은 128,000 이고, 분자량 1,000 미만의 분자의 함유량은 0.01 질량% 였다.N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) (water content 250 mass ppm) immediately after the opening of the 18 L can was added to a nitrogen-substituted 500 mL separable flask in an amount corresponding to the solid content of 17 wt% 5.71 g (25.0 mmol) of aminophenyl-4-aminobenzoate (APAB, purity: 99.5%, manufactured by Nihon Junyu Yakuhin KK) was added and stirred to dissolve APAB. Thereafter, 7.36 g (25.0 mmol) of biphenyl-3,3 ', 4,4'-tetracarboxylic acid dianhydride (BPDA, purity 99.5%, manufactured by Manak Co.) was added, Under stirring for 3 hours. Thereafter, the solution was cooled to room temperature, and NMP was added to adjust the solution viscosity to 51,000 mPa.s to obtain an NMP solution of polyamic acid (hereinafter also referred to as varnish) P-27. The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid was 128,000, and the content of molecules having a molecular weight of less than 1,000 was 0.01 mass%.

[실시예 23 ∼ 33 및 비교예 6 ∼ 11] [Examples 23 to 33 and Comparative Examples 6 to 11]

상기 실시예 22 에 있어서, 원료의 종류, 원료의 투입량, 사용 용매의 종류, 중합 온도, 및 중합 시간을, 각각, 표 3 에 기재된 대로 변경한 것 외에는, 합성예 1 과 동일하게 하여, 바니시 P-28 ∼ P-44 를 얻었다.In the same manner as in Synthesis Example 1, except that the kind of the starting material, the amount of the raw material, the kind of the solvent used, the polymerization temperature and the polymerization time were changed as described in Table 3, the varnish P -28 to P-44.

각 바니시에 함유되는 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을, 표 3 에 함께 나타내었다.The weight average molecular weights (Mw) of the polyamic acid contained in each varnish are shown together in Table 3.

Figure pct00034
Figure pct00034

표 3 에 있어서의 각 성분의 약칭은, 각각, 이하의 의미이다.The abbreviations of the respective components in Table 3 have the following meanings.

BPDA:비페닐테트라카르복실산 2무수물, 순도 99.5 %, 미츠비시 화학 주식회사 제조 BPDA: biphenyltetracarboxylic acid dianhydride, purity 99.5%, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation

TAHQ:p-페닐렌비스(트리멜리테이트산 무수물), 순도 99.5 %, 마나크 주식회사 제조 TAHQ: p-phenylenebis (trimellitic acid anhydride), purity 99.5%, manufactured by Manak Co., Ltd.

PMDA:피로멜리트산 2무수물 PMDA: pyromellitic acid dianhydride

APAB:4-아미노페닐-4-아미노벤조에이트, 순도 99.5 % APAB: 4-aminophenyl-4-aminobenzoate, purity 99.5%

4,3-APAB:4-아미노페닐-3-아미노벤조에이트, 순도 99.5 % 4,3-APAB: 4-aminophenyl-3-aminobenzoate, purity 99.5%

ATAB:2-메틸-4-아미노페닐-4-아미노벤조에이트 ATAB: 2-methyl-4-aminophenyl-4-aminobenzoate

BABB:[4-(4-아미노벤조일)옥시페닐]4-아미노벤조에이트 BABB: [4- (4-aminobenzoyl) oxyphenyl] 4-aminobenzoate

NMP 1:18 ℓ 캔 개봉 직후의 것, 수분량 250 ppmNMP 1:18 l After the opening of the can, moisture content 250 ppm

NMP 2:500 ㎖ 병에 들은 물품을 개봉 후 1 개월 방치한 것, 수분량 3,070 ppmNMP 2: 500 ml bottles, left standing for 1 month after opening, moisture content 3,070 ppm

DMF:500 ㎖ 병에 들은 것 개봉 후의 것, 수분량 3510 ppmDMF: 500 ml bottled, after opening, moisture content 3510 ppm

DMAc:500 ㎖ 병에 들은 것 개봉 후의 것, 수분량 3430 ppmDMAc: 500 ml bottles, after opening, moisture content 3430 ppm

[실시예 22 ∼ 33 및 비교예 6 ∼ 11] [Examples 22 to 33 and Comparative Examples 6 to 11]

상기 실시예 및 비교예에서 얻어진 바니시 P-27 ∼ P-44 를, 그대로 수지 조성물로서 사용하고, 상기 서술한 방법에 따라 평가를 실시하였다. 평가 결과는 표 4 에 나타내었다.The varnishes P-27 to P-44 obtained in the above Examples and Comparative Examples were directly used as a resin composition, and evaluated in accordance with the above-described method. The evaluation results are shown in Table 4.

Figure pct00035
Figure pct00035

표 3 및 표 4 로부터 분명한 바와 같이, 폴리이미드 전구체 (바니시) 의 중량 평균 분자량이 3,0000 이하인 비교예 6 (P-39), 비교예 7 (P-40), 비교예 8 (P-41), 비교예 10 (P-43) 및 비교예 11 (P-44) 에서는, 잔류 응력이 크고, 휨도 컸다. 또 황색도가 크고, 신장도 및 파단 강도도 작았다. 특히, 수분량이 많은 비교예 10, 11 에서는, 막이 매우 물렀다.As is clear from Table 3 and Table 4, Comparative Example 6 (P-39), Comparative Example 7 (P-40), and Comparative Example 8 (P-41) in which the polyimide precursor (varnish) ), Comparative Example 10 (P-43) and Comparative Example 11 (P-44) had large residual stress and large warpage. In addition, the degree of yellowness was large, and elongation and breaking strength were small. Particularly, in Comparative Examples 10 and 11 in which the water content was large, the film was very stiff.

한편, 폴리이미드 전구체의 중량 평균 분자량이 30,0000 이상인 비교예 9 (P-42) 에서는, 잔류 응력, 휨은 작고, 황색도도 낮고, 신장도 및 파단 강도도 컸지만, 도포성이 나빠져 버렸다.On the other hand, in Comparative Example 9 (P-42) in which the weight average molecular weight of the polyimide precursor was 30,000 or more, the residual stress and warpage were small, the yellowness was low, the elongation and fracture strength were great, .

이에 반해, 중량 평균 분자량이 30,000 이상, 300,000 이하인 폴리이미드 전구체 P-27 ∼ P-38 을 사용한 실시예 22 ∼ 실시예 33 에서는, 잔류 응력이 낮고, 휨도 작고, 황색도가 낮고, 신장도 및 파단 강도도 큰, 어느 특성에서도 우수한 결과가 얻어졌다.In contrast, in Examples 22 to 33 using polyimide precursors P-27 to P-38 having a weight average molecular weight of 30,000 or more and 300,000 or less, the residual stress was low, the warpage was low, the yellowness was low, Excellent breaking strength was obtained, and excellent results were obtained in any of the characteristics.

상기 표 4 의 결과로부터, 본 발명에 관련된 수지 조성물로부터 얻어지는 폴리이미드 수지 필름은, 황색도가 작고, 잔류 응력이 낮고, 기계적 물성이 우수한 수지 필름인 것이 확인되었다.From the results shown in Table 4, it was confirmed that the polyimide resin film obtained from the resin composition according to the present invention is a resin film having low yellowing degree, low residual stress, and excellent mechanical properties.

구체적으로는, 본 발명에서는, 잔류 응력이 25 ㎫ 이하이고, 황색도 YI 가 20 이하이고, 유리 전이 온도가 400 ℃ 이상이고, 신장도가 15 % 이상이며, 그리고 파단 강도가 250 ㎫ 이상인 수지 필름이 얻어진다.Specifically, in the present invention, a resin film having a residual stress of 25 MPa or less, a yellowness degree YI of 20 or less, a glass transition temperature of 400 ° C or more, an elongation of 15% or more and a breaking strength of 250 MPa or more .

다음에 나타내는 실시예 34 ∼ 실시예 45 에서는, 수지 조성물에 계면 활성제 및 알콕시실란 화합물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종을 첨가했을 경우의 효과에 대해 실험을 실시하였다.In the following Examples 34 to 45, the effects of adding at least one kind selected from the group consisting of a surfactant and an alkoxysilane compound to the resin composition were tested.

[실시예 34] [Example 34]

먼저, 상기 실시예 22 에서 얻어진 바니시 P-27 을 수지 조성물로서 그대로 사용하여, 이하의 순서에 의해 도공 줄무늬의 평가를 실시하였다.First, the varnish P-27 obtained in Example 22 was used as the resin composition as it was, and coating stripes were evaluated by the following procedure.

<도공 줄무늬의 평가 (도공성)>&Lt; Evaluation of coating stripes (coating property) &gt;

상기의 수지 조성물을, 무알칼리 유리 기판 (사이즈 37 × 47 ㎜, 두께 0.7 ㎜) 상에 바 코터를 사용하여, 큐어 후 막두께 15 ㎛ 가 되도록 도공하였다. 도공 후, 실온에 있어서 10 분간 방치한 후, 얻어진 도막에 도공 줄무늬가 발생되어 있지 않은지를 육안으로 확인하였다. 동일한 수지 조성물을 사용하여 3 회의 도공을 실시하고, 각 도막에 대해 도공 줄무늬의 갯수를 조사하고, 그 평균값을 사용하여 하기 기준에 의해 평가를 실시하였다.The above resin composition was coated on a non-alkali glass substrate (size 37 mm x 47 mm, thickness 0.7 mm) using a bar coater so as to have a thickness of 15 mu m after curing. After coating, it was allowed to stand at room temperature for 10 minutes, and it was visually confirmed whether coating stripes were formed on the obtained coating film. Three coatings were carried out using the same resin composition, and the number of coating stripes was examined for each coating film, and the average value was evaluated according to the following criteria.

◎:폭 1 ㎜ 이상, 길이 1 ㎜ 이상이 연속한 도공 줄무늬가 0 개 (도공 줄무늬의 평가 「우량」) ⊚: No coating continuous stripes having a width of 1 mm or more and a length of 1 mm or more (evaluation of coating stripes "excellent")

○:상기 도공 줄무늬가 1 또는 2 개 (도공 줄무늬의 평가 「양호」) &Amp; cir &amp;: One or two coating stripes (evaluation of coating stripes &quot; good &

△:상기 도공 줄무늬가 3 ∼ 5 개 (도공 줄무늬의 평가 「좋음」) ?: 3 to 5 coating stripes (evaluation of coating stripes "good")

평가 결과는 표 5 에 나타내었다.The evaluation results are shown in Table 5.

[실시예 35 ∼ 45] [Examples 35 to 45]

상기 실시예 22 에서 얻어진 바니시 P-27 에, 추가 첨가제로서 표 5 에 나타낸 종류 및 양의 계면 활성제 또는 알콕시실란 화합물을 각각 첨가한 후, 0.1 ㎛ 의 필터로 여과함으로써, 수지 조성물을 조제하였다.A surfactant or alkoxysilane compound of the kind and amount shown in Table 5 was added as an additional additive to the varnish P-27 obtained in Example 22, and then filtered with a filter of 0.1 占 퐉 to prepare a resin composition.

상기 수지 조성물을 사용하여, 실시예 34 와 동일하게 하여 도공 줄무늬의 평가를 실시하였다. 결과를 표 5 에 나타내었다.Using the resin composition, evaluation of the coating stripes was carried out in the same manner as in Example 34. [ The results are shown in Table 5.

Figure pct00036
Figure pct00036

표 5 에 있어서의 각 성분의 약칭은, 각각 이하의 의미이다. 표 5 에 있어서의 이들 성분의 사용량은, 각각, 바니시에 함유되는 폴리이미드 전구체 100 질량부에 대한 배합량 (사용량) 이다. 실시예 39 및 45 에 있어서는, 계면 활성제 1 과 알콕시실란 화합물 1 을 병용하였다.The abbreviations of the respective components in Table 5 are as follows. The amount of these components used in Table 5 is the blending amount (amount used) with respect to 100 parts by weight of the polyimide precursor contained in the varnish. In Examples 39 and 45, Surfactant 1 and alkoxysilane compound 1 were used in combination.

계면 활성제 1:DBE-821, 제품명, 실리콘계 계면 활성제, Gelest 제조Surfactant 1: DBE-821, product name, silicone surfactant, manufactured by Gelest

계면 활성제 2:메가팍 F171, 제품명, 불소계 계면 활성제, DIC 제조Surfactant 2: Megafac F171, product name, fluorochemical surfactant, DIC manufacture

알콕시실란 화합물 1:하기 일반식 (AS-1) 로 나타내는 화합물 Alkoxysilane compound 1: Compound represented by the following formula (AS-1)

알콕시실란 화합물 2:하기 일반식 (AS-2) 로 나타내는 화합물 Alkoxysilane Compound 2: Compound represented by the following formula (AS-2)

[화학식 32](32)

Figure pct00037
Figure pct00037

표 5 로부터 분명한 바와 같이, 계면 활성제 또는 알콕시실란 화합물을 함유한 실시예 35 ∼ 실시예 39, 및 실시예 41 ∼ 45 에서는, 함유하지 않는 실시예 34 및 40 에 비해 도공 줄무늬의 발생이 억제되고, 표면 평활성이 우수한 폴리이미드 수지막이 얻어지는 것을 알 수 있었다.As is apparent from Table 5, in Examples 35 to 39 containing the surfactant or alkoxysilane compound and in Examples 41 to 45, the occurrence of the coating stripe was suppressed as compared with Examples 34 and 40 which contained no surfactant or alkoxysilane compound, A polyimide resin film excellent in surface smoothness was obtained.

[실시예 46] [Example 46]

바니시 P-27 을 무알칼리 유리 기판 (사이즈 37 × 47 ㎜, 두께 0.7 ㎜) 상에 바 코터를 사용하여, 큐어 후 막두께 10 ㎛ 가 되도록 도포한 후, 140 ℃ 에 있어서 60 분간 프리베이크하였다. 계속해서 종형 큐어로 (코요 린드버그사 제조, 형식명 VF-2000B) 를 사용하여, 창고 내의 산소 농도가 10 질량ppm 이하가 되도록 조정하여, 430 ℃ 에서 1 시간의 가열 경화 처리를 실시하고, 폴리이미드 수지막이 형성된 유리 기판을 제조하였다. 이 폴리이미드 필름 상에 아모르퍼스 실리콘층을 형성하고, 430 ℃ 에서 1 시간 탈수소 어닐을 실시하고, 계속해서 엑시머 레이저를 조사함으로써, LTPS 층을 형성하였다. 엑시머 레이저 (파장 308 ㎚, 반복 주파수 300 ㎐) 에 의해 유리 기판을 박리하고, 폴리이미드 필름과 LTPS 층을 포함하는 적층체를 얻었다. The varnish P-27 was coated on a non-alkali glass substrate (size 37 mm x 47 mm, thickness 0.7 mm) using a bar coater so as to have a thickness of 10 mu m after curing and then prebaked at 140 DEG C for 60 minutes. Subsequently, the mixture was adjusted to have an oxygen concentration of 10 mass ppm or less in a warehouse using a vertical cure (model name VF-2000B, manufactured by Koyo Lindberg Co.), and subjected to a heat curing treatment at 430 캜 for 1 hour, A glass substrate having a resin film formed thereon was produced. An amorphous silicon layer was formed on the polyimide film, dehydrogenation annealing was performed at 430 占 폚 for 1 hour, and then an excimer laser was irradiated to form an LTPS layer. The glass substrate was peeled off by an excimer laser (wavelength: 308 nm, repetition frequency: 300 Hz) to obtain a laminate including a polyimide film and an LTPS layer.

이 적층체는 휨이 없고 황색도도 20 이하였다.This laminate had no warpage and had a yellow degree of 20 or less.

[실시예 47] [Example 47]

바니시 P-1 을 사용하는 것 이외에는, 실시예 46 과 동일한 방법으로 적층체를 얻었다. 이 적층체는 휨이 없고 황색도도 20 이하였다.A laminate was obtained in the same manner as in Example 46 except that the varnish P-1 was used. This laminate had no warpage and had a yellow degree of 20 or less.

[비교예 12][Comparative Example 12]

바니시 P-24 를 사용하는 것 이외에는, 실시예 46 과 동일한 방법으로 적층체를 얻었다. 이 적층체는 휨이 크고, 폴리이미드 필름의 일부에 균열이 들어갔다.A laminate was obtained in the same manner as in Example 46 except that varnish P-24 was used. This laminate had a large warpage, and a crack occurred in a part of the polyimide film.

[합성예] [Synthesis Example]

딘스타크 장치 및 환류기를 장착한 세퍼러블 플라스크에, 질소 분위기하, APAB 를 2.24 g (9.8 m㏖), NMP 를 16.14 g 및 톨루엔을 50 g 넣고, 교반하에 APAB 를 용해시켰다. 거기에, H-PMDA 를 2.24 g (10.0 m㏖) 첨가하여, 180 ℃ 에 있어서 2 시간 환류한 후, 3 시간 걸쳐 공비 용매인 톨루엔을 제거하였다. 플라스크의 내용물을 40 ℃ 까지 냉각시키고, IR 로부터 아미드 결합에서 유래하는 1,650 ㎝- 1 부근의 흡수 (C=O) 가 소실되어 있는 것을 확인하였다. 그 후, APAB 를 8.95 g (39.2 m㏖), NMP 를 121.6 g, PMDA 를 6.54 g (30.0 m㏖) 및 6FDA 를 4.44 g (10.0 m㏖) 첨가하여 80 ℃ 에 있어서 4 시간 교반함으로써, 폴리이미드-폴리아미드산 중합체의 바니시를 얻었다 (P-45). 얻어진 폴리이미드-폴리아미드산 중합체의 중량 평균 분자량 (Mw) 은 82,000 이었다.2.24 g (9.8 mmol) of APAB, 16.14 g of NMP and 50 g of toluene were placed in a separable flask equipped with a Dean-Stark apparatus and a reflux condenser under nitrogen atmosphere, and the APAB was dissolved under stirring. Then, 2.24 g (10.0 mmol) of H-PMDA was added thereto, refluxed at 180 占 폚 for 2 hours, and toluene as an azeotropic solvent was removed over 3 hours. The contents of the flask was cooled to 40 ℃, 1,650 ㎝ derived from an amide bond from the IR - it was confirmed that the absorption of near 1 (C = O) is lost. Thereafter, 8.95 g (39.2 mmol) of APAB, 121.6 g of NMP, 6.54 g (30.0 mmol) of PMDA and 4.44 g (10.0 mmol) of 6FDA were added and stirred at 80 ° C for 4 hours to obtain a polyimide -Polyamic acid polymer varnish was obtained (P-45). The polyimide-polyamic acid polymer thus obtained had a weight average molecular weight (Mw) of 82,000.

[실시예 48 ∼ 53, 비교예 13] [Examples 48 to 53 and Comparative Example 13]

도 1 에 나타내는 바와 같은 유기 EL 기판을 제조하였다.An organic EL substrate as shown in Fig. 1 was produced.

폴리이미드 전구체 바니시 (P-1, P-11, P-20, P-22, P-27, P-33, P-45) 를 마더 글라스 기판 (두께 0.7 ㎜) 상에 바 코터를 사용하여, 큐어 후 막두께 10 ㎛ 가 되도록 도포한 후, 140 ℃ 에 있어서 60 분간 프리베이크하였다. 계속해서 종형 큐어로 (코요 린드버그사 제조, 형식명 VF-2000B) 를 사용하여, 창고 내의 산소 농도가 10 질량ppm 이하가 되도록 조정하여, 430 ℃ 에서 1 시간의 가열 경화 처리를 실시하고, 폴리이미드 수지막이 형성된 유리 기판을 제조하였다.A polyimide precursor varnish (P-1, P-11, P-20, P-22, P-27, P-33 and P- After curing, the coating was applied so as to have a film thickness of 10 mu m and then pre-baked at 140 DEG C for 60 minutes. Subsequently, the mixture was adjusted to have an oxygen concentration of 10 mass ppm or less in a warehouse using a vertical cure (model name VF-2000B, manufactured by Koyo Lindberg Co.), and subjected to a heat curing treatment at 430 캜 for 1 hour, A glass substrate having a resin film formed thereon was produced.

계속해서 CVD (Chemical Vapor Deposition) 법에 의해 SiN 층을 두께 100 ㎚ 로 성막하였다.Subsequently, a SiN layer was formed to a thickness of 100 nm by a CVD (Chemical Vapor Deposition) method.

계속해서 티탄을 스퍼터링법에 의해 성막하고, 그 후, 포토리소그래피법에 의해 패터닝을 실시하고, 주사 신호선을 형성하였다.Subsequently, titanium was deposited by a sputtering method and then patterned by a photolithography method to form a scanning signal line.

다음으로, 주사 신호선이 형성된 유리 기판 전체에, CVD 법에 의해 SiN 층을 두께 100 ㎚ 로 성막하였다. (여기까지를 하부 기판 (2a) 으로 한다) Next, a SiN layer was formed to a thickness of 100 nm on the entire glass substrate on which the scanning signal lines were formed by the CVD method. (Up to now is referred to as the lower substrate 2a)

계속해서 하부 기판 (2a) 상에 아모르퍼스 실리콘층 (256) 을 형성하고, 430 ℃ 에서 1 시간 탈수소 어닐을 실시하고, 계속해서 엑시머 레이저를 조사함으로써, LTPS 층을 형성하였다.Subsequently, an amorphous silicon layer 256 was formed on the lower substrate 2a, dehydrogenation annealing was performed at 430 占 폚 for 1 hour, and then an excimer laser was irradiated to form an LTPS layer.

그 후에 하부 기판 (2a) 의 전체면에 스핀 코트법으로 감광성의 아크릴 수지를 코트하고, 포토리소그래피법에 의해 노광, 현상을 실시하여 복수의 컨택트홀 (257) 을 구비한 층간 절연막 (258) 을 형성하였다. 이 컨택트홀 (257) 에 의해, 각 LTPS (256) 의 일부가 노출된 상태로 하였다.Thereafter, the entire surface of the lower substrate 2a is coated with a photosensitive acrylic resin by a spin coating method, and exposed and developed by a photolithography method to form an interlayer insulating film 258 having a plurality of contact holes 257 . A part of each LTPS 256 is exposed by the contact hole 257.

다음으로 층간 절연막 (258) 이 형성된 하부 기판 (2a) 의 전체면에 스퍼터법으로 ITO 막을 성막하고, 포토리소그래피법에 의해 노광, 현상을 실시하고, 에칭 법에 의해 패터닝을 실시하고, 각 LTPS 와 쌍을 이루도록 하부 전극 (259) 을 형성하였다.Next, an ITO film is formed on the entire surface of the lower substrate 2a on which the interlayer insulating film 258 is formed by the sputtering method, and exposed and developed by the photolithography method, and patterning is performed by the etching method. A lower electrode 259 is formed so as to form a pair.

또한, 각 컨택트홀 (257) 에 있어서, 층간 절연막 (258) 을 관통하는 하부 전극 (252) 과 LTPS (256) 를 전기적으로 접속하였다. Further, in each contact hole 257, the lower electrode 252 penetrating the interlayer insulating film 258 and the LTPS 256 are electrically connected.

다음으로 격벽 (251) 을 형성한 후에, 격벽 (251) 으로 구획된 각 공간 내에, 정공 수송층 (253), 발광층 (254) 을 형성하였다. 또, 발광층 (254) 및 격벽 (251) 을 덮도록 상부 전극 (255) 을 형성하였다. 상기 공정에 의해 유기 EL 기판 (25) 을 제조하였다.Next, after the barrier ribs 251 are formed, the hole transport layer 253 and the light emitting layer 254 are formed in the spaces partitioned by the barrier ribs 251. The upper electrode 255 was formed so as to cover the light emitting layer 254 and the barrier ribs 251. The organic EL substrate 25 was produced by the above process.

다음으로, 유리 기판과 본 실시형태의 폴리이미드 필름과 SiN 층이 이 순서로 형성된 봉지 기판 (2b) 의 주변에 자외선 경화 수지를 코트하고, 아르곤 가스 분위기 중에서 봉지 기판 (2b) 과 유기 EL 기판을 접착시킴으로써, 유기 EL 소자를 봉입하였다. 이에 따라, 각 유기 EL 소자와 봉지 기판 (2b) 사이에는 중공부 (261) 를 형성하였다.Next, a UV curable resin was coated on the periphery of the glass substrate, the polyimide film of this embodiment and the sealing substrate 2b formed in this order, and the sealing substrate 2b and the organic EL substrate were placed in an argon gas atmosphere Thereby bonding the organic EL device. Thus, a hollow portion 261 is formed between each organic EL element and the sealing substrate 2b.

이와 같이 형성한 적층체의 하부 기판 (2a) 측, 및 봉지 기판 (2b) 측으로부터 엑시머 레이저 (파장 308 ㎚, 반복 주파수 300 ㎐) 를 조사하고, 전체면을 박리하는 데에 필요한 최소 에너지로 박리를 실시하였다.An excimer laser (wavelength 308 nm, repetition frequency 300 Hz) was irradiated from the side of the lower substrate 2a and the side of the encapsulation substrate 2b of the laminate thus formed and peeled off with the minimum energy necessary for peeling the entire surface Respectively.

이 적층체에 대해, 박리 후의 기판 휨, 점등 시험, 적층체의 백탁 평가, 의 유무 평가를 실시하였다. 또, 히트 사이클 시험에 대해서도 실시하였다. 결과를 표 6 에 나타낸다.The laminate was evaluated for substrate warpage, lighting test, and cloudiness evaluation of the laminate after peeling. Heat cycle tests were also conducted. The results are shown in Table 6.

<기판 휨>&Lt; Substrate warpage &

◎:휨이 없는 것◎: Without warping

○:조금 밖에 휨이 없는 것○: There is little warping

△:휨에 의해 둥글게 되어 있는 것[Delta]: Rounded by bending

<점등 시험><Lighting test>

○:점등한 것○: Lighted

×:점등하지 않은 것X: Not lit

<적층체 백탁 평가>&Lt; Evaluation of laminate white count &gt;

적층체를 형성한 후에, 디바이스 전체가 투명한 것을 ○, 약간 백탁하고 있는 것을 △, 백탁한 것을 × 로 하였다.After the formation of the layered product, the whole device was transparent, &amp; cir &amp;

<히트 사이클 시험><Heat Cycle Test>

에스펙 제조 히트 사이클 시험기를 사용하여, ―5 ℃ 와 60 ℃ 를 각각 30 분 (조 (槽) 의 이동 시간 1 분) 에서 1000 사이클 시험한 후의 외관 관찰을 실시하였다.Appearance observation was carried out after 1000 cycles of testing at -5 占 폚 and 60 占 폚 for 30 minutes (transfer time of tank (tank) 1 minute) using an Espec production heat cycle tester.

박리나 부풀음이 없는 것을 ○, 시험 후에 박리나 부풀음이 극히 일부 관찰된 것을 △, 시험 후에 전면적으로 박리나 부풀음이 관찰된 것을 × 로 하였다.?, No peeling or swelling was observed?, No peeling or swelling after the test was observed?, And peeling or swelling after peeling was observed.

Figure pct00038
Figure pct00038

[실시예 54 ∼ 58, 비교예 14] [Examples 54 to 58, Comparative Example 14]

폴리이미드 전구체 바니시 (P-1, P-11, P-20, P-22, P-27, P-33, P-45) 를 사용하고 상기의 적층체 제조시에, LTPS 를 IGZO 로 한 것 이외에는 적층체 제조를 실시하고, 상기 시험을 실시하였다. 결과를 표 7 에 나타낸다.A polyimide precursor varnish (P-1, P-11, P-20, P-22, P-27, P-33 and P-45) was used and LTPS was changed to IGZO Otherwise, the laminate was produced, and the above test was carried out. The results are shown in Table 7.

Figure pct00039
Figure pct00039

[실시예 59 ∼ 63, 비교예 15] [Examples 59 to 63 and Comparative Example 15]

YI 가 20 이하, 막두께 0.1 미크론일 때의 308 ㎚ 의 흡광도가 0.6 이상 2.0 이하이고, 신장도가 15 % 이상을 부여하는 폴리이미드 전구체 바니시 (P-1, P-11, P-20, P-27, P-33, P-45) 에 대해, 상기의 레이저 박리시의 레이저 박리에 필요로 하는 최소 에너지, 및 최소 에너지에 10 mJ/㎠ 를 더한 에너지로 조사했을 때의 애쉬 (회분 (灰分)) 에 대해 평가를 실시하였다. 애쉬가 전혀 발생하지 않은 것을 ○, 가장자리에 조금 애쉬가 관찰된 것을 △, 전면적으로 애쉬가 관찰된 것을 × 로 하였다. 결과를 표 8 에 나타낸다.(P-1, P-11, P-20, P) having an absorbance of 308 nm at a YI of 20 or less and a film thickness of 0.1 microns of 0.6 or more and 2.0 or less and an elongation of at least 15% (Ash) when irradiated with energy of 10 mJ / cm &lt; 2 &gt; added to the minimum energy and the minimum energy necessary for delamination of the laser at the time of peeling the laser, )) Were evaluated. A case where no ash was generated at all, a case where a little ash was observed at the edge, The results are shown in Table 8.

Figure pct00040
Figure pct00040

본 발명은 상기 실시형태에 한정되지 않고, 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 여러 가지 변경하여 실시하는 것이 가능하다.The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the gist of the invention.

산업상 이용가능성Industrial availability

본 발명의 폴리이미드 전구체로부터 형성되는 수지 필름은, 예를 들어, 반도체 절연막, TFT-LCD 절연막, 전극 보호막 등에 적용할 수 있는 것 외에, 플렉시블 디스플레이의 제조, 터치 패널 ITO 전극용 기판 등에 있어서, 특히 기판으로서 적합하게 이용할 수 있다.The resin film formed from the polyimide precursor of the present invention can be applied to, for example, a semiconductor insulating film, a TFT-LCD insulating film, an electrode protecting film, etc., a flexible display, a substrate for a touch panel ITO electrode, It can be suitably used as a substrate.

Claims (21)

(a1) 하기 일반식 (1):
[화학식 1]
Figure pct00041

{식 중, X1 은 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} 로 나타내는 구조 단위 L 과,
하기 일반식 (2):
[화학식 2]
Figure pct00042

{식 중, X2 는 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. Y 는 하기 일반식 (3), (4) 및 (5) 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종이다.} 로 나타내는 구조 단위 M 을,
1/99 ≤ (구조 단위 L 의 몰수/구조 단위 M 의 몰수) ≤ 99/1 로 포함하는 것을 특징으로 하는 폴리이미드 전구체.
[화학식 3]
Figure pct00043

[화학식 4]
Figure pct00044

[화학식 5]
Figure pct00045

{식 중, R4 ∼ R11 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. d ∼ k 는 0 ∼ 4 의 정수이다.}
(a1) a compound represented by the following general formula (1):
[Chemical Formula 1]
Figure pct00041

Wherein X 1 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b and c are integers of 0 to 4,
(2): &lt; EMI ID =
(2)
Figure pct00042

Wherein X 2 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. Y is at least one member selected from the group consisting of the following general formulas (3), (4) and (5)
1/99? (Number of moles of the structural unit L / number of moles of the structural unit M)? 99/1.
(3)
Figure pct00043

[Chemical Formula 4]
Figure pct00044

[Chemical Formula 5]
Figure pct00045

(In the formulas, R 4 to R 11 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. d ~ k is an integer from 0 to 4.}
제 1 항에 있어서,
상기 일반식 (1) 에 있어서의 n 이 0 인 폴리이미드 전구체.
The method according to claim 1,
Wherein n in the general formula (1) is 0 is a polyimide precursor.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 일반식 (2) 의 Y 가, 일반식 (3) 인 폴리이미드 전구체.
3. The method according to claim 1 or 2,
A polyimide precursor wherein Y in the general formula (2) is a general formula (3).
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 일반식 (2) 의 Y 가, 일반식 (4) 인 폴리이미드 전구체.
3. The method according to claim 1 or 2,
The polyimide precursor in which Y in the general formula (2) is the general formula (4).
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 일반식 (2) 의 Y 가, 일반식 (5) 인 폴리이미드 전구체.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein Y in the general formula (2) is a general formula (5).
(a2) 하기 일반식 (10):
[화학식 6]
Figure pct00046

으로 나타내는 구조 단위를 갖고, 그리고, 중량 평균 분자량이 30,000 이상, 300,000 이하인 것을 특징으로 하는 폴리이미드 전구체.
{식 중, X3 은 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA), 및 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종에서 유래하는 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.}
(a2) a compound represented by the following general formula (10):
[Chemical Formula 6]
Figure pct00046

And a weight average molecular weight of 30,000 or more and 300,000 or less.
Wherein X 3 is at least one selected from the group consisting of 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA), and 4,4'-biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride ) (TAHQ). &Lt; / RTI &gt; R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4.}
제 6 항에 있어서,
상기 (a2) 폴리이미드 전구체에 있어서의, 중량 평균 분자량 1,000 미만의 분자의 함유량이 5 질량% 미만인 폴리이미드 전구체.
The method according to claim 6,
The polyimide precursor of (a2) wherein the content of molecules having a weight average molecular weight of less than 1,000 in the polyimide precursor is less than 5% by mass.
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,
일반식 (10) 에 있어서의 n 이 0 인 폴리이미드 전구체.
8. The method according to claim 6 or 7,
The polyimide precursor in which n in the general formula (10) is 0.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 X1, X2 가 피로멜리트산 2무수물 (PMDA), 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA), 및 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종에서 유래하는 4 가의 유기기인 폴리이미드 전구체.
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
Wherein X 1 and X 2 are selected from the group consisting of pyromellitic dianhydride (PMDA), 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA), and 4,4'- Bis (trimellitic acid monoester acid anhydride) (TAHQ), which is a tetravalent organic group derived from at least one species selected from the group consisting of bis (trimellitic acid monoester acid anhydride) (TAHQ).
제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 기재된 폴리이미드 전구체와, (b) 유기 용제를 함유하는 것을 특징으로 하는 수지 조성물.A resin composition comprising the polyimide precursor according to any one of claims 1 to 9 and (b) an organic solvent. 제 10 항에 있어서,
추가로, (c) 계면 활성제, 및 (d) 알콕시실란 화합물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종을 포함하는 수지 조성물.
11. The method of claim 10,
Further, a resin composition comprising at least one member selected from the group consisting of (c) a surfactant, and (d) an alkoxysilane compound.
하기 일반식 (11):
[화학식 7]
Figure pct00047

{식 중, X1, X2 는 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다. Y 는 하기 일반식 (3), (4) 및 (5) 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종이다. l, m 은 각각 독립적으로 1 이상의 정수를 나타내고, 0.01 ≤ l / (l + m) ≤ 0.99 를 만족한다.} 로 나타내는 구조 단위를 갖는 것을 특징으로 하는 폴리이미드.
[화학식 8]
Figure pct00048

[화학식 9]
Figure pct00049

[화학식 10]
Figure pct00050

{식 중, R4 ∼ R11 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. d ∼ k 는 0 ∼ 4 의 정수이다.}
(11): &lt; EMI ID =
(7)
Figure pct00047

(Wherein X 1 and X 2 represent a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4. Y is at least one member selected from the group consisting of the following general formulas (3), (4) and (5). l and m each independently represent an integer of 1 or more and satisfy 0.01? 1 / (1 + m)? 0.99.
[Chemical Formula 8]
Figure pct00048

[Chemical Formula 9]
Figure pct00049

[Chemical formula 10]
Figure pct00050

(In the formulas, R 4 to R 11 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. d ~ k is an integer from 0 to 4.}
하기 일반식 (12):
[화학식 11]
Figure pct00051

{식 중, X3 은 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA), 및 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종에서 유래하는 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} 로 나타내는 구조 단위를 갖고, 신장도가 15 % 이상인 것을 특징으로 하는 폴리이미드.
(12): &lt; EMI ID =
(11)
Figure pct00051

Wherein X 3 is at least one selected from the group consisting of 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA), and 4,4'-biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride ) (TAHQ). &Lt; / RTI &gt; R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b and c are integers of 0 to 4, and the elongation is 15% or more.
지지체의 표면 상에, 제 10 항 또는 제 11 항에 기재된 수지 조성물을 도포함으로써 도막을 형성하는 공정과,
상기 지지체 및 상기 도막을 가열함으로써, 그 도막에 포함되는 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정과,
상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 수지 필름의 제조 방법.
A step of forming a coating film by applying the resin composition according to claim 10 or 11 on a surface of a support,
A step of forming a polyimide resin film by imidizing the polyimide precursor contained in the coating film by heating the support and the coating film;
And peeling the polyimide resin film from the support.
제 14 항에 있어서,
상기 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 공정에 앞서, 상기 지지체측으로부터 레이저를 조사하는 공정을 실시하는 수지 필름의 제조 방법.
15. The method of claim 14,
Wherein the step of irradiating the support with a laser is performed prior to the step of peeling the polyimide resin film from the support.
지지체의 표면 상에, 제 10 항 또는 제 11 항에 기재된 수지 조성물을 도포함으로써 도막을 형성하는 공정과,
상기 지지체 및 상기 도막을 가열함으로써, 그 도막에 포함되는 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 적층체의 제조 방법.
A step of forming a coating film by applying the resin composition according to claim 10 or 11 on a surface of a support,
And heating the support and the coating film to imidize the polyimide precursor contained in the coating film to form a polyimide resin film.
지지체의 표면 상에, 제 10 항 또는 제 11 항에 기재된 수지 조성물을 도포함으로써 도막을 형성하는 공정과,
상기 지지체 및 상기 도막을 가열함으로써, 그 도막에 포함되는 폴리이미드 전구체를 이미드화하여 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정과,
상기 폴리이미드 수지막 상에 소자 또는 회로를 형성하는 공정과,
상기 소자 또는 회로가 형성된 폴리이미드 수지막을 상기 지지체로부터 박리하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 기판의 제조 방법.
A step of forming a coating film by applying the resin composition according to claim 10 or 11 on a surface of a support,
A step of forming a polyimide resin film by imidizing the polyimide precursor contained in the coating film by heating the support and the coating film;
Forming a device or a circuit on the polyimide resin film;
And peeling the polyimide resin film on which the element or circuit is formed from the support.
하기 일반식 (12):
[화학식 12]
Figure pct00052

{식 중, X3 은 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA), 및 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ) 로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종이고, R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.}
로 나타내는 폴리이미드를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이용 폴리이미드 필름.
(12): &lt; EMI ID =
[Chemical Formula 12]
Figure pct00052

Wherein X 3 is at least one selected from the group consisting of 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA), and 4,4'-biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride ) (TAHQ), and R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4.}
Wherein the polyimide film is a polyimide film.
하기 일반식 (13):
[화학식 13]
Figure pct00053

{식 중, X1 은 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.} 으로 나타내는 폴리이미드를 포함하는 폴리이미드 필름층과, 저온 폴리실리콘 TFT 층을 포함하는 것을 특징으로 하는 적층체.
(13): &lt; EMI ID =
[Chemical Formula 13]
Figure pct00053

Wherein X 1 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b and c are integers of 0 to 4, and a low-temperature polysilicon TFT layer.
400 ℃ 이상에서 가열한 후의 막두께 10 미크론에 있어서의 황색도가 20 이하이고, 막두께 0.1 미크론일 때의 308 ㎚ 의 흡광도가 0.6 이상 2.0 이하이고, 그리고 신장도가 15 % 이상인 것을 특징으로 하는 폴리이미드 필름.Characterized in that the degree of yellowness at a thickness of 10 microns after heating at 400 DEG C or higher is 20 or less and the absorbance at 308 nm is 0.6 or more and 2.0 or less when the film thickness is 0.1 micron and the elongation is 15% Polyimide film. (a) 하기 일반식 (1) 로 나타내는 폴리이미드 전구체와,
(b) 유기 용제와,
(c) 계면 활성제 및 (d) 알콕시실란 화합물로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 종을 포함하는 것을 특징으로 하는 수지 조성물.
[화학식 14]
Figure pct00054

{식 중, X1 은 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 기를 나타낸다. R1, R2, R3 은 각각 독립적으로 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기를 나타낸다. n 은 0 또는 1 을 나타낸다. 그리고 a 와 b 와 c 는 0 ∼ 4 의 정수이다.}
(a) a polyimide precursor represented by the following general formula (1)
(b) an organic solvent,
(c) a surfactant, and (d) an alkoxysilane compound.
[Chemical Formula 14]
Figure pct00054

Wherein X 1 represents a tetravalent group having 4 to 32 carbon atoms. R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. n represents 0 or 1; And a, b, and c are integers from 0 to 4.}
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200024560A (en) * 2018-08-28 2020-03-09 주식회사 엘지화학 Pre-treating method of solvent for transparent film
WO2020159193A1 (en) * 2019-02-01 2020-08-06 주식회사 엘지화학 Polyimide precursor composition and polyimide film, substrate for display device, and optical device, each manufactured therefrom
KR20210131899A (en) * 2020-04-24 2021-11-03 아사히 가세이 가부시키가이샤 Polyimide precursor and resin composition containing same, polyimide resin film, resin film and method of producing same
US11999823B2 (en) 2019-02-01 2024-06-04 Lg Chem, Ltd. Polyimide-based polymer film, substrate for display device, and optical device using the same

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110198926B (en) * 2017-01-27 2021-04-16 胜高科技股份有限公司 Diamine compound, and polyimide compound and molded article using same
EP3608350B1 (en) * 2017-04-07 2023-05-24 I.S.T Corporation Polyimide film
CN112004858B (en) 2018-03-30 2023-06-30 株式会社钟化 Polyamic acid, polyamic acid solution, polyimide film, laminate, flexible device, and method for producing polyimide film
KR102452136B1 (en) * 2018-12-20 2022-10-07 코오롱인더스트리 주식회사 Polyamic acid, Polyimide and Polyimide Film
CN112204086B (en) * 2019-02-01 2023-04-14 株式会社Lg化学 Polyimide-based polymer film, substrate for display device using same, and optical device
EP3919548A4 (en) * 2019-02-01 2022-10-12 Wingo Technology Co., Ltd. Polyimide compound and molded article containing said polyimide compound
WO2020195819A1 (en) * 2019-03-26 2020-10-01 コニカミノルタ株式会社 Method for manufacturing optical film and optical film
JP7349253B2 (en) * 2019-03-29 2023-09-22 株式会社カネカ A polyamic acid, a polyamic acid solution, a polyimide, a polyimide film, a laminate, a flexible device, and a method for producing a polyimide film.
WO2021028960A1 (en) * 2019-08-09 2021-02-18 太陽ホールディングス株式会社 Colored resin composition, cured product, and laminate
US20220372226A1 (en) * 2019-10-03 2022-11-24 Mitsui Chemicals, Inc. Polyimide film, polyamide acid and varnish containing same, and polyimide multilayer body and method for producing same
JP7365940B2 (en) * 2020-03-05 2023-10-20 東京応化工業株式会社 Varnish composition and method for producing polyimide resin
CN115348987B (en) 2020-03-27 2024-08-23 三菱瓦斯化学株式会社 Polyimide film and laminate
KR20230007328A (en) 2020-04-16 2023-01-12 미쯔비시 가스 케미칼 컴파니, 인코포레이티드 Imide-amic acid copolymer and its preparation method, varnish, and polyimide film
WO2021210640A1 (en) * 2020-04-16 2021-10-21 三菱瓦斯化学株式会社 Imide-amic acid copolymer and method for producing same, varnish, and polyimide film
JP7483480B2 (en) * 2020-04-24 2024-05-15 旭化成株式会社 Polyimide precursor, polyimide resin composition, polyimide resin film, and method for producing the same
CN111533909B (en) * 2020-06-08 2023-04-25 武汉柔显科技股份有限公司 Polyamide imide, polyamide imide film and display device
CN112225897A (en) * 2020-10-19 2021-01-15 深圳市道尔顿电子材料有限公司 Trifluoromethyl substituted aromatic diamine compound containing aromatic ester structure and preparation method thereof
CN112175186B (en) * 2020-10-29 2022-12-20 深圳市道尔顿电子材料有限公司 Polyimide material and preparation method thereof, polyimide film and preparation method thereof
JP7547515B2 (en) 2021-02-03 2024-09-09 三井化学株式会社 Method for producing optical material, polymerizable composition for optical material, and optical material
TW202246391A (en) * 2021-04-02 2022-12-01 日商旭化成股份有限公司 Polyimide, resin composition, polyimide film, and production method therefor
CN113292726B (en) * 2021-04-10 2023-03-24 常州市尚科新材料有限公司 Polyimide molding powder and preparation method and application thereof
JPWO2022220286A1 (en) 2021-04-16 2022-10-20
WO2023190749A1 (en) * 2022-03-29 2023-10-05 Ube株式会社 Polyimide precursor composition for flexible wiring boards, polyimide film, and polyimide metal multilayer body
JP7235157B1 (en) 2022-07-29 2023-03-08 Ube株式会社 Polyimide precursor composition, polyimide film and polyimide film/substrate laminate
CN118139913A (en) * 2022-07-29 2024-06-04 Ube株式会社 Polyimide precursor composition, polyimide film, and polyimide film/substrate laminate
KR20240123430A (en) 2022-07-29 2024-08-13 유비이 가부시키가이샤 Polyimide precursor composition, polyimide film, and polyimide film/substrate layered-product
WO2024058194A1 (en) * 2022-09-16 2024-03-21 三菱瓦斯化学株式会社 Method for producing polyimide film

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4627297Y1 (en) 1966-10-15 1971-09-20
JP3079867U (en) 2001-02-27 2001-08-31 馬 慶修 Computer desk
WO2009139086A1 (en) * 2008-05-16 2009-11-19 旭化成イーマテリアルズ株式会社 Polyester-imide precursor and polyester-imide
WO2010110335A1 (en) * 2009-03-26 2010-09-30 新日鐵化学株式会社 Photosensitive resin composition and cured film
JP2010538103A (en) 2007-08-27 2010-12-09 コーロン インダストリーズ,インコーポレイテッド Polyimide film
JP2015135464A (en) * 2013-10-07 2015-07-27 Jsr株式会社 Production method of liquid crystal alignment film, photo-aligning agent, and liquid crystal display element
JP5773090B1 (en) * 2013-09-27 2015-09-02 東レ株式会社 Polyimide precursor, polyimide resin film obtained therefrom, and display element, optical element, light receiving element, touch panel, circuit board, organic EL display, organic EL element, and color filter manufacturing method including the same

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3079867B2 (en) 1993-11-10 2000-08-21 信越化学工業株式会社 Polyimide copolymer, method for producing the same, and polyimide film
JPH1070157A (en) * 1996-08-27 1998-03-10 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd Fc type and tab tape using new polyimide film as base film
JP4608715B2 (en) * 1999-12-24 2011-01-12 Dic株式会社 Process for producing polyarylene sulfide
TWI344967B (en) 2004-05-21 2011-07-11 Manac Inc Polyesterimide having low cofficient of linear expansion and precursor thereof
JP4699321B2 (en) 2005-09-20 2011-06-08 新日鐵化学株式会社 Ester group-containing polyimide, precursor thereof, and production method thereof
CN101516616B (en) * 2006-07-27 2015-06-17 宇部兴产株式会社 Laminate of heat resistant film and metal foil, and method for production thereof
JP2009091441A (en) 2007-10-05 2009-04-30 Asahi Kasei Corp Polyimide precursor and polyimide
JP5362385B2 (en) * 2009-02-23 2013-12-11 旭化成イーマテリアルズ株式会社 Polyamic acid varnish composition and polyimide metal laminate using the same
JP5755401B2 (en) * 2009-04-30 2015-07-29 株式会社ピーアイ技術研究所 Method for producing modified polyimide and modified polyimide
JP2011021072A (en) * 2009-07-14 2011-02-03 Asahi Kasei E-Materials Corp Polyesterimide precursor and polyesterimide
CN102668108A (en) * 2009-11-20 2012-09-12 E.I.内穆尔杜邦公司 Assemblies comprising a polyimide film and an electrode, and methods relating thereto
JP5923887B2 (en) * 2011-07-21 2016-05-25 宇部興産株式会社 Polyimide and polyimide precursor
KR101749626B1 (en) * 2011-11-25 2017-06-21 닛산 가가쿠 고교 가부시키 가이샤 Resin composition for display substrates
JP2014009305A (en) * 2012-06-29 2014-01-20 Asahi Kasei E-Materials Corp Resin composition, laminate and method for manufacturing laminate
KR102062939B1 (en) * 2012-09-19 2020-01-06 혼슈우 카가쿠고교 가부시키가이샤 Polyimide and molded body thereof
JP6405616B2 (en) * 2012-10-25 2018-10-17 三菱ケミカル株式会社 LAMINATE MANUFACTURING METHOD, LAMINATE, DEVICE LAMINATE, AND DEVICE FILM
JP2015078254A (en) * 2013-10-15 2015-04-23 東レ株式会社 Resin composition, polyimide resin film using the same, color filter, tft substrate and display device including the same, and their production method
CN105916910B (en) * 2014-02-14 2019-02-19 旭化成株式会社 Polyimide precursor and resin combination containing it
JP5888472B2 (en) * 2014-02-21 2016-03-22 三菱化学株式会社 Composition containing polyimide precursor and / or polyimide, and polyimide film
WO2015129682A1 (en) * 2014-02-26 2015-09-03 東レ株式会社 Polyimide resin, resin composition using same, and laminated film
WO2016129546A1 (en) * 2015-02-10 2016-08-18 日産化学工業株式会社 Composition for forming release layer

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4627297Y1 (en) 1966-10-15 1971-09-20
JP3079867U (en) 2001-02-27 2001-08-31 馬 慶修 Computer desk
JP2010538103A (en) 2007-08-27 2010-12-09 コーロン インダストリーズ,インコーポレイテッド Polyimide film
WO2009139086A1 (en) * 2008-05-16 2009-11-19 旭化成イーマテリアルズ株式会社 Polyester-imide precursor and polyester-imide
WO2010110335A1 (en) * 2009-03-26 2010-09-30 新日鐵化学株式会社 Photosensitive resin composition and cured film
JP5773090B1 (en) * 2013-09-27 2015-09-02 東レ株式会社 Polyimide precursor, polyimide resin film obtained therefrom, and display element, optical element, light receiving element, touch panel, circuit board, organic EL display, organic EL element, and color filter manufacturing method including the same
JP2015135464A (en) * 2013-10-07 2015-07-27 Jsr株式会社 Production method of liquid crystal alignment film, photo-aligning agent, and liquid crystal display element

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
최신 폴리이미드 일본 폴리이미드 연구회편 엔·티·에스

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200024560A (en) * 2018-08-28 2020-03-09 주식회사 엘지화학 Pre-treating method of solvent for transparent film
WO2020159193A1 (en) * 2019-02-01 2020-08-06 주식회사 엘지화학 Polyimide precursor composition and polyimide film, substrate for display device, and optical device, each manufactured therefrom
US11999823B2 (en) 2019-02-01 2024-06-04 Lg Chem, Ltd. Polyimide-based polymer film, substrate for display device, and optical device using the same
US12060456B2 (en) 2019-02-01 2024-08-13 Lg Chem, Ltd. Polyimide precursor composition and polyimide film, substrate for display device, and optical device prepared by using same
US12065543B2 (en) 2019-02-01 2024-08-20 Lg Chem, Ltd. Polyimide-based polymer film, substrate for display device, and optical device using the same
KR20210131899A (en) * 2020-04-24 2021-11-03 아사히 가세이 가부시키가이샤 Polyimide precursor and resin composition containing same, polyimide resin film, resin film and method of producing same

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