KR20170103345A - 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 검사 방법 - Google Patents

엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 검사 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 검사 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 대응되는 영상 신호를 출력하고 제어하는 통신 기능을 수행하는 영상 발생 및 패널 제어 모듈, 색좌표/휘도/플리커를 측정하는 광학 측정 모듈, 전원을 공급하는 5채널 전압 발생 모듈 및 사용자 제어용 키와 동작 정보를 표시하는 조작 키/디스플레이 출력 모듈이 구비된 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한 고신뢰성 검사 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 검사 방법은 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 대응되는 영상 신호를 출력하고 제어하는 통신 기능을 수행하는 영상 발생 및 패널 제어 모듈; 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 색좌표, 휘도 및 플리커를 측정하는 광학 측정 모듈; 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 전원을 공급하는 5채널 전압 발생 모듈; 사용자 제어용 키와 동작 정보를 표시하는 조작 키/디스플레이 출력 모듈;로 구성되고, 영상 발생 및 패널 제어 모듈에서 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널을 초기화 시키고 5채널 전압 발생 모듈의 전압을 설정하는 단계; 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 밴드를 설정하는 단계; 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 G255 영상을 출력하는 단계; 광학 측정 모듈에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 색좌표 및 휘도 데이터를 획득하는 단계; 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 색좌표 및 휘도 데이터와 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 비교하는 단계; 상기 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 차이가 발생한 경우 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 밴드 설정값을 보정한 후 상기 광학 측정 모듈에서 상기 색좌표 및 휘도 데이터를 재획득하여 상기 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 재비교하는 단계;로 구성되는 것을 특징으로 한다.

Description

엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 검사 방법{LCD/OLED Display Panel Inspection method and System}
본 발명은 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 검사 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 대응되는 영상 신호를 출력하고 제어하는 통신 기능을 수행하는 영상 발생 및 패널 제어 모듈, 색좌표/휘도/플리커를 측정하는 광학 측정 모듈, 전원을 공급하는 5채널 전압 발생 모듈 및 사용자 제어용 키와 동작 정보를 표시하는 조작 키/디스플레이 출력 모듈이 구비된 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한 고신뢰성 검사 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 검사 방법을 개시하려는 유사 선행기술에는 1) 대한민국 공개특허공보 제10-2014-0105171호 '디스플레이패널의 화질검사시스템 및 화질검사방법'이 있다. 상기 유사 선행기술은 화질검사장치의 외부면에 구비되어 화질검사에 대한 설정을 선택하는 키입력부; 상기 키입력부의 설정조정이 가능하도록 화면을 제공하는 설정디스플레이부; 상기 화질검사장치와 연결되어 영상이 출력되는 다수개의 상기 디스플레이패널로 이루어진 검사디스플레이부; 상기 키입력부를 통해 설정값을 입력받아 상기 디스플레이패널에 영상이 출력되도록 제어하는 제어부; 상기 제어부와 연결되어 상기 디스플레이패널에 출력되는 영상에 대한 패턴이 생성되는 다수개의 패턴제너레이터;가 구비되는 기술을 개시하는 특징이 있다.
다른 유사 선행기술에는 2) 대한민국 공개특허공보 제10-2016-0019954호 '액정 디스플레이, 액정 디스플레이에 검사 방법, 및 전자 장치'가 있다. 상기 유사 선행기술은 유리 기판 상에 검사 라인을 형성하는 단계; 상기 검사 라인이 폐쇄 루프를 형성할 수 있도록, 드라이버 칩의 입력 핀과 출력 핀에 상기 검사 라인의 2개의 종단을 개별적으로 접속하는 단계; 상기 드라이버 칩의 입력 핀 종단에서 전압을 입력하고, 출력 핀 종단에서 상기 폐쇄 루프의 전류값 또는 상기 폐쇄 루프의 저항값을 측정하는 단계; 전자 장치의 CPU에 상기 전류값 또는 상기 저항값을 피드백하는 단계;를 포함하는 기술을 개시하는 특징이 있다.
또 다른 유사 선행기술에는 3) 대한민국 공개특허공보 제10-2006-0084823호 '디스플레이 패널, 디스플레이 패널 검사 방법, 및디스플레이 패널 제조 방법'이 있다. 상기 유사 선행기술은 기판 상에 상기 박막 트랜지스터의 반도체층을 형성하는 단계; 상기 반도체 층을 커버하도록 게이트 절연막을 형성하는 단계; 상기 게이트 절연막 상에 상기 박막 트랜지스터의 게이트 전극을 형성하는 단계; 상기 게이트 전극과 상기 게이트 절연막 상에 제1층간 절연막을 형성하는 단계; 상기 제1층간 절연막과 상기 게이트 절연막에 접촉 홀을 형성하는 단계; 상기 접촉 홀을 통하여 상기 반도체층과 접속되도록 상기 제1층간 절연막 상에 배선을 형성하는 단계; 상기 배선과 상기 제1층간 절연막 상에 제2층간 절연막을 형성하는 단계; 상기 제2층간 절연막에 접촉 홀을 형성하는 단계; 상기 배선과 접속되도록 상기 제2층간 절연막 상에 도전막을 형성하는 단계; 상기 박막 트랜지스터를 온 상태로 놓는 단계; 상기 도전막에 흐르는 전류의 값을 측정하는 단계; 상기 값으로부터 상기 박막 트랜지스터에 결함이 있는지의 여부를 판단하는 단계; 및 상기 판단 단계 후에, 상기 도전막을 패터닝하여 픽셀 전극을 형성하는 단계;를 포함하는 기술을 개시하는 특징이 있다.
그러나 전술한 종래의 유사 선행 기술은 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 대응되는 영상 신호를 출력하고 제어하는 통신 기능을 수행하는 영상 발생 및 패널 제어 모듈, 색좌표/휘도/플리커를 측정하는 광학 측정 모듈, 전원을 공급하는 5채널 전압 발생 모듈 및 사용자 제어용 키와 동작 정보를 표시하는 조작 키/디스플레이 출력 모듈이 구비된 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한 고신뢰성 검사 방법을 제공하지 못하였다.
KR10-2014-0105171(A) KR10-2016-0019954(A) WO2015106414 JP14108243(A) TW538246(A) US20020044124(A1)
본 발명은 상기한 발명의 배경으로부터 요구되는 기술적 필요성을 충족하는 것을 목적으로 한다. 구체적으로, 본 발명의 목적은 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 대응되는 영상 신호를 출력하고 제어하는 통신 기능을 수행하는 영상 발생 및 패널 제어 모듈, 색좌표/휘도/플리커를 측정하는 광학 측정 모듈, 전원을 공급하는 5채널 전압 발생 모듈 및 사용자 제어용 키와 동작 정보를 표시하는 조작 키/디스플레이 출력 모듈이 구비된 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한 고신뢰성 검사 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 검사 방법은 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 대응되는 영상 신호를 출력하고 제어하는 통신 기능을 수행하는 영상 발생 및 패널 제어 모듈; 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 색좌표, 휘도 및 플리커를 측정하는 광학 측정 모듈; 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 전원을 공급하는 5채널 전압 발생 모듈; 사용자 제어용 키와 동작 정보를 표시하는 조작 키/디스플레이 출력 모듈;로 구성되고, 영상 발생 및 패널 제어 모듈에서 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널을 초기화 시키고 5채널 전압 발생 모듈의 전압을 설정하는 단계; 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 밴드를 설정하는 단계; 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 G255 영상을 출력하는 단계; 광학 측정 모듈에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 색좌표 및 휘도 데이터를 획득하는 단계; 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 색좌표 및 휘도 데이터와 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 비교하는 단계; 상기 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 차이가 발생한 경우 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 밴드 설정값을 보정한 후 상기 광학 측정 모듈에서 상기 색좌표 및 휘도 데이터를 재획득하여 상기 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 재비교하는 단계;로 구성되는 것을 특징으로 한다.
이상과 같이 본 발명은 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 대응되는 영상 신호를 출력하고 제어하는 통신 기능을 수행하는 영상 발생 및 패널 제어 모듈, 색좌표/휘도/플리커를 측정하는 광학 측정 모듈, 전원을 공급하는 5채널 전압 발생 모듈 및 사용자 제어용 키와 동작 정보를 표시하는 조작 키/디스플레이 출력 모듈이 구비된 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한 고신뢰성 검사 방법을 제공하는 효과가 있다.
본 발명의 기술적 효과들은 이상에서 언급한 기술적 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 효과들은 청구범위의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템의 구성도;
도 2는 본 발명에 따른 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 색좌표 및 휘도 검사 방법의 실시 흐름도;
도 3은 본 발명에 따른 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 플리커 검사 방법의 실시 흐름도이다.
이하에서는, 본 발명의 목적이 구체적으로 실현될 수 있는 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하지만, 이는 본 발명의 더욱 용이한 이해를 위한 것으로, 본 발명의 범주가 그것에 의해 한정되는 것은 아니다. 또한 본 실시예를 설명함에 있어서, 동일 구성에 대해서는 동일 명칭 및 동일 부호가 사용되며 이에 따른 부가적인 설명은 생략하기로 한다.
본 발명의 각 구성 단계에 대한 상세한 설명에 앞서, 본 명세서 및 청구 범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 안되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위하여 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과하며 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
도 1을 참조하면 본 발명에 따른 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템은 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)에 대응되는 영상 신호를 출력하고 제어하는 통신 기능을 수행하는 영상 발생 및 패널 제어 모듈(200); 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 색좌표, 휘도 및 플리커를 측정하는 광학 측정 모듈(300); 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널에 전원을 공급하는 5채널 전압 발생 모듈(400); 사용자 제어용 키와 동작 정보를 표시하는 조작 키/디스플레이 출력 모듈(500);로 구성되는 것을 특징으로 한다.
상기 영상 발생 및 패널 제어 모듈(200)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 초기화 및 상기 5채널 전압 발생 모듈(400)의 전압을 설정한 후 그레이 영상을 출력하고 상기 광학 측정 모듈(300)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 색좌표 및 휘도 데이터를 획득하고 상기 색좌표 및 휘도 데이터를 표준 값에 비교하여 광학 보상이 이루어지는 것을 특징으로 한다. 또한, 상기 영상 발생 및 패널 제어 모듈(200)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 초기화 및 상기 5채널 전압 발생 모듈(400)의 전압을 설정한 후 순차적으로 플리커 영상을 출력하여 상기 광학 측정 모듈(300)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 플리커 데이터를 획득하고 상기 플리커 데이터를 표준 값에 비교하여 상기 엘이디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 VCOM 데이터 수정이 이루어지는 것을 특징으로 한다. 그리고 상기 영상 발생 및 패널 제어 모듈(200)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 초기화 및 상기 5채널 전압 발생 모듈(400)의 전압을 설정한 후 R, G, B 또는 이미지를 출력하여 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 픽셀 이상 유무, 이물 여부 및 전류 소모 이상 여부를 검사하는 것을 특징으로 한다.
도 2를 참조하면 본 발명에 따른 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 색좌표 및 휘도 검사 방법은 영상 발생 및 패널 제어 모듈(200)에서 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)을 초기화 시키고 5채널 전압 발생 모듈(400)의 전압을 설정하는 단계(S100A); 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100) 밴드를 설정하는 단계(S200A); 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)에 G255 영상을 출력하는 단계(S300A); 광학 측정 모듈(300)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 색좌표 및 휘도 데이터를 획득하는 단계(S400A); 상기 S400A 단계에서 획득한 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 색좌표 및 휘도 데이터와 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 비교하는 단계(S500A); 상기 S500A 단계에서 상기 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 차이가 발생한 경우 상기 S200A 단계로 회귀하여 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 밴드 설정값을 보정한 후 상기 광학 측정 모듈(300)에서 상기 색좌표 및 휘도 데이터를 재획득하여 상기 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 재비교하는 단계(S600A);가 포함되는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 G255 영상을 출력하여 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 상기 색좌표 및 휘도 검사를 수행한 후 G191 영상, G127영상, G63 영상, G31 영상 및 G15 영상을 순서대로 출력하여 상기 G191 영상, G127영상, G63 영상, G31 영상 및 G15 영상에 대해서도 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 상기 색좌표 및 휘도 검사를 수행하는 것이 바람직하다. 또한 첫 번째 밴드에 대한 검사 수행 후 두 번째 밴드, 세 번째 밴드, 네 번째 밴드, 다섯 번째 밴드 및 여섯 번째 밴드의 순서대로 검사를 진행하는 것이 바람직하다.
만약 검사 진행 중에 디스플레이에 이상점이 발견되면, 광학 보상은 중단 된다. 밴드 1 에서 밴드 6까지 완료 되면, 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 OTP 영역에 찾아 낸 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100) 설정 데이터의 쓰기(Write)를 진행한다. 이후 쓰기 정상여부를 판단하기 위해 읽기(Read)를 진행한 후 상기 쓰기 값과 비교하며 전술한 과정에 문제점이 없으면 광학보상은 완료 된 것으로 간주한다. 그 이후 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)을 재부팅하여 Red, Green, Blue, White의 영상을 출력하고 상기 색좌표 및 휘도를 다시 한번 비교하는 것이 바람직하다.
도 3을 참조하면 본 발명에 따른 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 플리커 검사 방법은 영상 발생 및 패널 제어 모듈(200)에서 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)을 초기화 시키고 5채널 전압 발생 모듈(400)의 전압을 설정하는 단계(S100B); 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)에 플리커 영상을 출력하고 VCOM 레지스터에 임의의 값을 설정하는 단계(S200B); 광학 측정 모듈(300)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 플리커 데이터를 획득하여 표준 플리커 데이터와 비교하는 단계(S300B); 상기 S300B 단계에서 상기 표준 플리커 데이터와 차이가 발생한 경우 상기 S200B 단계로 회귀하여 상기 VCOM 레지스터 값을 보정한 후 상기 광학 측정 모듈(300)에서 상기 플리커 데이터를 재획득하여 상기 표준 플리커 데이터와 재비교하는 단계(S400B);가 포함되는 것을 특징으로 한다.
여기서, 최적의 플리커를 찾는 것이 완료 되면, 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 MTP 영역에 찾아 낸 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100) 설정 데이터의 쓰기를 진행한다. 이후 쓰기 정상여부를 판단하기 위해 읽기를 진행한 후 상기 쓰기 값과 비교한다. 이후 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)을 재부팅하여 플리커 영상을 출력하고 상기 플리커 데이터를 다시 한번 비교하는 것이 바람직하다.
이상 본 발명의 실시예에 따른 도면을 참조하여 설명하였지만, 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기 내용을 바탕으로 본 발명의 범주 내에서 다양한 응용, 변형 및 개작을 행하는 것이 가능할 것이다. 이에, 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.

Claims (7)

  1. 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템에 있어서,
    엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)에 대응되는 영상 신호를 출력하고 제어하는 통신 기능을 수행하는 영상 발생 및 패널 제어 모듈(200);
    상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 색좌표, 휘도 및 플리커를 측정하는 광학 측정 모듈(300);
    상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)에 전원을 공급하는 5채널 전압 발생 모듈(400);
    사용자 제어용 키와 동작 정보를 표시하는 조작 키/디스플레이 출력 모듈(500);로 구성되는 것을 특징으로 하는 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 영상 발생 및 패널 제어 모듈(200)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 초기화 및 상기 5채널 전압 발생 모듈(400)의 전압을 설정한 후 그레이 영상을 출력하고 상기 광학 측정 모듈(300)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 색좌표 및 휘도 데이터를 획득하고 상기 색좌표 및 휘도 데이터를 표준 값에 비교하여 광학 보상이 이루어지는 것을 특징으로 하는 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 영상 발생 및 패널 제어 모듈(200)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 초기화 및 상기 5채널 전압 발생 모듈(400)의 전압을 설정한 후 순차적으로 플리커 영상을 출력하여 상기 광학 측정 모듈(300)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 플리커 데이터를 획득하고 상기 플리커 데이터를 표준 값에 비교하여 상기 엘이디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 VCOM 데이터 수정이 이루어지는 것을 특징으로 하는 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 영상 발생 및 패널 제어 모듈(200)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 초기화 및 상기 5채널 전압 발생 모듈(400)의 전압을 설정한 후 R, G, B 또는 이미지를 출력하여 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 픽셀 이상 유무, 이물 여부 및 전류 소모 이상 여부를 검사하는 것을 특징으로 하는 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 시스템.
  5. 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 색좌표 및 휘도 검사 방법에 있어서,
    영상 발생 및 패널 제어 모듈(200)에서 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)을 초기화 시키고 5채널 전압 발생 모듈(400)의 전압을 설정하는 단계(S100A);
    상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100) 밴드를 설정하는 단계(S200A);
    상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)에 G255 영상을 출력하는 단계(S300A);
    광학 측정 모듈(300)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 색좌표 및 휘도 데이터를 획득하는 단계(S400A);
    상기 S400A 단계에서 획득한 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 색좌표 및 휘도 데이터와 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 비교하는 단계(S500A);
    상기 S500A 단계에서 상기 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 차이가 발생한 경우 상기 S200A 단계로 회귀하여 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 밴드 설정값을 보정한 후 상기 광학 측정 모듈(300)에서 상기 색좌표 및 휘도 데이터를 재획득하여 상기 표준 색좌표 및 휘도 데이터와 재비교하는 단계(S600A);가 포함되는 것을 특징으로 하는 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 방법.
  6. 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널의 플리커 검사 방법에 있어서,
    영상 발생 및 패널 제어 모듈(200)에서 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)을 초기화 시키고 5채널 전압 발생 모듈(400)의 전압을 설정하는 단계(S100B);
    상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)에 플리커 영상을 출력하고 VCOM 레지스터에 임의의 값을 설정하는 단계(S200B);
    광학 측정 모듈(300)에서 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 플리커 데이터를 획득하여 표준 플리커 데이터와 비교하는 단계(S300B);
    상기 S300B 단계에서 상기 표준 플리커 데이터와 차이가 발생한 경우 상기 S200B 단계로 회귀하여 상기 VCOM 레지스터 값을 보정한 후 상기 광학 측정 모듈(300)에서 상기 플리커 데이터를 재획득하여 상기 표준 플리커 데이터와 재비교하는 단계(S400B);가 포함되는 것을 특징으로 하는 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 방법.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 G255 영상을 출력하여 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 상기 색좌표 및 휘도 검사를 수행한 후 G191 영상, G127영상, G63 영상, G31 영상 및 G15 영상을 순서대로 출력하여 상기 G191 영상, G127영상, G63 영상, G31 영상 및 G15 영상에 대해서도 상기 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널(100)의 상기 색좌표 및 휘도 검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 엘시디/오엘이디 디스플레이 패널 검사 방법.
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