TWI428870B - 顯示面板之陣列基板與顯示面板之測試方法及顯示方法 - Google Patents

Description

顯示面板之陣列基板與顯示面板之測試方法及顯示方法

本發明係關於一種顯示面板之陣列基板，以及顯示面板之測試方法及顯示方法，尤指一種可使用少量測試訊號輸入墊進行測試的顯示面板及其測試方法及顯示方法。

顯示面板，例如液晶顯示面板主要係由陣列基板(array substrate)、彩色濾光片基板(CF substrate)、以及填充於兩基板之間的液晶分子所組成，其中陣列基板上設有複數個呈陣列狀排列的次畫素區，每個次畫素區包含閘極線、資料線、共通線與薄膜電晶體等元件。隨著液晶顯示器之應用日漸普及，消費者對於液晶顯示器之解析度與畫素開口率的要求也不斷向上提昇，而為了滿足高解析度與高畫素開口率的規格，導線的線寬必須縮減，且導線的密度必須提高。在上述情況下，在製作薄膜電晶體基板上之閘極線、資料線或其它導線圖案時，缺陷產生的機率亦會隨之增加。為了確保導線無缺陷存在而可正常傳遞訊號，在陣列基板上的導線製作完成後會進行測試，若測試出陣列基板的導線無缺陷存在，則可進行後續液晶顯示面板的組裝，而若測試出陣列基板的導線有缺陷存在，且此缺陷可修補，則進行修補，而若此缺陷無法修補，則進行重工或報廢陣列基板。

請參考第1圖。第1圖繪示了習知顯示面板之陣列基板的示意圖。如第1圖所示，習知顯示面板之陣列基板10包括一基板12、一畫素陣列14、複數個顯示資料輸入墊16、一測試陣列18，以及複數個測試訊號輸入墊20。基板12包括一主動區(或稱為顯示區)12A與一周邊區(或稱為非顯示區或驅動電路區)12P。畫素陣列14係位於基板12之主動區12A內，畫素陣列14包括複數條閘極線GL與複數條資料線DL，且閘極線GL與資料線DL交叉而共同定義出複數個次畫素(或稱為子畫素)，例如紅色次畫素R、綠色次畫素G與藍色次畫素B。顯示資料輸入墊16係位於基板12之周邊區12P，其中各顯示資料輸入墊16係與一對應之資料線DL的一端電性連接，且顯示資料輸入墊16可接收由資料驅動晶片(圖未示)所發出之資料訊號，並傳遞給資料線DL以驅動畫素陣列14。測試陣列18係位於基板12之周邊區12P，其中測試陣列18包括複數條測試線181、複數條控制線182、複數個控制訊號輸入墊183與複數個開關元件SW。各測試線181之一端係與一對應之顯示資料輸入墊16電性連接，而每12條測試線181之另一端係同時與一對應之測試訊號輸入墊20電性連接。各控制線182之一端係與一控制訊號輸入墊183電性連接。此外，各開關元件SW係分別與一對應之測試線181與一對應之控制線182電性連接。也就是說，各開關元件SW具有第一端(或稱為閘極，未標示)、第二端(或稱為源極，未標示)以及第三端(或稱為汲極，未標示)，其中，各開關元件SW的第一端連接對應之控制線182、各開關元件SW的第二端連接對應之測試線181、以及各開關元件SW的第三端連接對應之顯示資料輸入墊16。

於進行測試時，測試機台(圖未示)會經由控制訊號輸入墊183輸入控制訊號以依序控制測試陣列18之開關元件SW的開啟，以及經由測試訊號輸入墊20輸入測試訊號，以測試畫素陣列14之資料線DL是否可正常傳遞訊號。然而，根據習知顯示面板之陣列基板的測試架構，一條測試線181係對應一條資料線DL，且單一測試訊號輸入墊20僅能對應12條資料線DL，因此必須佈設大量的測試線181與測試訊號輸入墊20。舉例而言，若畫素陣列14之資料線DL的數目為1080條，則必須設置1080條測試線181以及90個測試訊號輸入墊20，如此一來會大幅地增加顯示面板之陣列基板的製作成本與測試時間。

本發明之目的之一在於提供一種顯示面板之陣列基板及其測試方法及顯示方法，以減少顯示面板之陣列基板的製作成本與測試時間。

本發明之一實施例提供一種顯示面板之陣列基板，包括一基板、一畫素陣列、複數個顯示資料輸入墊單元、複數個選擇單元、一測試陣列以及複數個旁通單元。基板包括一主動區與一周邊區。畫素陣列位於基板之主動區內，其中畫素陣列包括複數個資料線單元，且各資料線單元包括一第一資料線與至少一第二資料線。顯示資料輸入墊單元位於基板之周邊區內，其中各顯示資料輸入墊單元包括一第一顯示資料輸入墊與至少一第二顯示資料輸入墊，用以輸入顯示資料訊號。選擇單元設置於基板之周邊區內，各選擇單元包括一第一開關元件與至少一第二開關元件，各選擇單元之第一開關元件之一輸出端係與各資料線單元之對應之第一資料線電性連接，各開關單元之第二開關元件之一輸出端係與各資料線單元之對應之第二資料線電性連接，各選擇單元之第一開關元件之一輸入端與第二開關元件之一輸入端均與對應之一顯示資料輸入墊單元之第一顯示資料輸入墊電性連接。測試陣列位於基板之周邊區內，其中測試陣列包括複數個測試單元，各測試單元包括複數條測試線用以輸入測試訊號，各測試單元之各測試線係分別與對應之一顯示資料輸入墊單元之第一顯示資料輸入墊電性連接。旁通單元位於基板之周邊區內，其中各旁通單元包括至少一旁通線，且各旁通單元之旁通線係分別電性連接對應之第二顯示資料輸入墊與對應之第二資料線。

本發明之另一實施例提供一種顯示面板之陣列基板，包括一基板、一第一資料線與至少一第二資料線、一第一顯示資料輸入墊與至少一第二顯示資料輸入墊、一第一開關元件與至少一第二開關元件、一測試線以及至少一旁通線。基板包括一主動區與一周邊區。第一資料線與第二資料線位於基板之主動區內。第一顯示資料輸入墊與第二顯示資料輸入墊位於基板之周邊區內。第一開關元件與第二開關元件位於基板之周邊區內，其中第一開關元件之一輸出端係與第一資料線電性連接，第二開關元件之一輸出端係第二資料線電性連接，第一開關元件之一輸入端與第二開關元件之一輸入端均與第一顯示資料輸入墊電性連接。測試線位於基板之周邊區內，且測試線與第一顯示資料輸入墊電性連接。旁通線位於基板之周邊區內，且旁通線係分別電性連接第二顯示資料輸入墊與第二資料線。

本發明之又一實施例提供一種顯示面板的測試方法，包括下列步驟。提供上述之顯示面板之陣列基板。對測試線施加一測試訊號，以及依序開啟第一開關元件與第二開關元件，以使測試訊號依序傳遞至第一資料線與第二資料線。

本發明之另一實施例提供一種顯示面板之顯示方法，包括下列步驟。提供上述之顯示面板之陣列基板。開啟第一開關元件，並對第一顯示資料輸入墊輸入一第一顯示資料訊號，以使第一顯示資料訊號經由第一開關元件傳遞至第一資料線。關閉第二開關元件，並對第二顯示資料輸入墊輸入一第二顯示資料訊號，以使第二顯示資料訊號經由旁通線傳遞至第二資料線。

本發明之顯示面板之陣列基板利用選擇單元的設置，可於測試模式下使資料線接收由測試機台經由測試線所傳遞之測試訊號，以及於顯示模式時使資料線接收由驅動晶片經由顯示資料輸入墊所傳遞之顯示資料訊號，因此可減少陣列基板的製作成本與測試時間。

為使熟習本發明所屬技術領域之一般技藝者能更進一步了解本發明，下文特列舉本發明之較佳實施例，並配合所附圖式，詳細說明本發明的構成內容及所欲達成之功效。

請參考第2圖與第3圖。第2圖繪示了本發明一較佳實施例之顯示面板之陣列基板的示意圖，第3圖繪示了第2圖之顯示面板之陣列基板之選擇單元之放大示意圖。在本實施例中，顯示面板例如可為一低溫多晶矽液晶顯示面板，但不以此為限。如第2圖所示，本實施例之顯示面板之陣列基板30包括一基板32、一畫素陣列34、複數個顯示資料輸入墊單元36、複數個選擇單元38、一測試陣列40，以及複數個旁通單元42。基板32包括一主動區(或稱為顯示區)32A與一周邊區(或稱為非顯示區或驅動電路區)32P。畫素陣列34係位於基板32之主動區32A內，其中畫素陣列34包括複數條閘極線GL與複數個資料線單元DLU，其中各資料線單元DLU包括一第一資料線DL1與至少一第二資料線DL2，且閘極線GL與各資料線單元DLU之第一資料線DL1與第二資料線DL2交叉而共同定義出複數個次畫素。在本實施例中，單一畫素包括三個不同顏色的次畫素，例如紅色次畫素R、綠色次畫素G與藍色次畫素B，但不以此為限。單一畫素亦可包括二或三個以上，例如：四個、五個、六個等等的次畫素。在本實施例中，各資料線單元DLU包括一第一資料線DL1與兩第二資料線DL2，但不以此為限。顯示資料輸入墊單元36係位於基板32之周邊區32P內，其中各顯示資料輸入墊單元36包括一第一顯示資料輸入墊361與至少一第二顯示資料輸入墊362。第一顯示資料輸入墊361與第二顯示資料輸入墊362係用以輸入顯示資料訊號，因此其數目係與資料線的數目對應。舉例而言，在本實施例中，各資料線單元DLU包括一第一資料線DL1與兩第二資料線DL2，因此各顯示資料輸入墊單元36包括一第一顯示資料輸入墊361與兩第二顯示資料輸入墊362為範例，但不限於此。於其它實施例中，各資料線單元DLU可包括一第一資料線DL1與一第二資料線DL2、或者是兩第一資料線DL1與一第二資料線DL2、或者是兩第一資料線DL1與兩第二資料線DL2等等設計方式。

如第2圖與第3圖所示，選擇單元38係設置於基板32之周邊區32P內。精確地說，選擇單元38係位於畫素陣列34與顯示資料輸入墊單元36之間並與畫素陣列34與顯示資料輸入墊單元36電性連接。各選擇單元38包括一第一開關元件381與至少一第二開關元件382。各選擇單元38之第一開關元件381之一輸出端(或稱為汲極)3811係與各資料線單元DLU之對應之第一資料線DL1電性連接，各開關單元38之第二開關元件382之一輸出端(或稱為汲極)3821係與各資料線單元DLU之對應之第二資料線DL2電性連接。各選擇單元38之第一開關元件381之一輸入端(或稱為源極)3812與第二開關元件382之一輸入端(或稱為源極)3822均係與對應之一顯示資料輸入墊單元36之第一顯示資料輸入墊361電性連接。另外，顯示面板之陣列基板30可另包括一第一控制線CL1、至少一第二控制線CL2、一第一控制訊號輸入墊391、至少一第二控制訊號輸入墊392、一致能開關元件ENB、一第一訊號源DC1以及至少一第二訊號源DC2。第一控制線CL1之一端係分別與各選擇單元38之第一開關元件381之一控制端3813(或稱為閘極)電性連接，且第一控制線CL1之另一端係與一第一控制訊號輸入墊391電性連接，而第二控制線CL2之一端係分別與各選擇單元38之第二開關元件382之一控制端3823(或稱為閘極)電性連接，且第二控制線CL2之另一端可與一第二控制訊號輸入墊392電性連接。第一開關元件381的數目係與第一資料線DL1的數目對應，且第二開關元件382的數目係與第二資料線DL2的數目對應。舉例而言，在本實施例中，各選擇單元38具有一第一開關元件381與兩第二開關元件382，但不以此為限。第一開關元件381、第二開關元件382與致能開關元件ENB可為例如薄膜電晶體元件，且薄膜電晶體元件可為P型薄膜電晶體元件或N型薄膜電晶體元件，但不以此為限。舉例而言，第一開關元件381、第二開關元件382與致能開關元件ENB亦可為金氧半導體電晶體元件或其它各種型式之開關元件。再者，由於第一控制線CL1與第二控制線CL2係分別用來控制所有選擇單元38之第一開關元件381與第二開關元件382之開啟，因此第一控制線CL1的數目係與第一開關元件381的數目對應，且第二控制線CL2的數目係與第二開關元件382的數目對應。舉例而言，在本實施例中，顯示面板之陣列基板30具有一第一控制線CL1與兩第二控制線CL2。於其它實施例，各選擇單元38可具有一第一開關元件381與一第二開關元件382，則顯示面板之陣列基板30具有一第一控制線CL1與一第二控制線CL2、或者是各選擇單元38可具有二第二開關元件381與一第二開關元件382，則顯示面板之陣列基板30具有二第一控制線CL1與一第二控制線CL2。

如第2圖所示，測試陣列40係位於基板32之周邊區32P內，其中測試陣列40包括複數個測試單元40U，各測試單元40U包括複數條測試線401用以輸入測試訊號，且各測試單元40U之各測試線401係分別與對應之一顯示資料輸入墊單元36之第一顯示資料輸入墊361電性連接。此外，測試陣列40另包括複數條第三控制線403、複數個開關元件40S、複數個測試訊號輸入墊402與複數個第三控制訊號輸入墊40P，其中各開關元件40S係分別與對應之一測試線401與對應之一第三控制線403電性連接，各測試訊號輸入墊402係與各測試單元40U之測試線401之一端電性連接，且第三控制訊號輸入墊40P則分別與對應之第三控制線403電性連接。也就是說，各開關元件40S的第一端(或稱為閘極)連接至對應之第三控制線403、各開關元件40S的第二端(或稱為源極)連接至對應之測試線401、以及各開關元件40S的第三端(或稱為汲極)連接至對應之第一顯示資料輸入墊361。各測試單元40U之測試線401的數目，與第三控制線403的數目以及第三控制訊號輸入墊40P的數目為相匹配。舉例而言，在本實施例中，各測試單元40U分別具有12條測試線401，且測試陣列40亦具有12條第三控制線403以及12個第三控制訊號輸入墊40P，但並不以此為限。本發明之所有測試單元40U之測試線401的總數與所有資料線單元DLU之第一資料線DL1與第二資料線DL2的總數之比為1：N，其中N為大於等於3之正整數。舉例而言，在本實施例中，由於各資料線DLU包括一第一資料線DL1與兩第二資料線DL2，因此測試線401的總數與第一資料線DL1與第二資料線DL2的總數之比為1：3，但本發明之應用並不以此為限。例如，依據畫素設計的不同，例如各畫素係由四個或五個或六個不同顏色的次畫素組成時，測試線401的總數與第一資料線DL1與第二資料線DL2的總數之比亦可為1：4、1：5或1：6。再者，依據測試機制的不同，測試線401的總數與第一資料線DL1與第二資料線DL2的總數之比亦可作適當變更，而不以上述比例為限。此外，開關元件40S可為例如薄膜電晶體元件，且薄膜電晶體元件可為P型薄膜電晶體元件或N型薄膜電晶體元件，但不以此為限。舉例而言，開關元件40S亦可為金氧半導體電晶體元件或其它各種型式之開關元件。

另外，旁通單元42係位於基板32之周邊區32P內，其中各旁通單元42包括至少一旁通線421，且各旁通單元42之旁通線421之一端係電性連接至對應之第二顯示資料輸入墊362，且旁通線421之另一端係電性連接至對應之第二資料線DL2。也就是說，旁通線421之另一端不經過/不經由選擇單元38，而可電性連接至對應之第二資料線DL2以及對應之第二開關元件382。在本實施例中，各旁通單元42包括兩旁通線421，且各旁通線421之一端分別與各顯示資料輸入墊單元36之兩第二顯示資料輸入墊362電性連接。

以下針對本發明之顯示面板之陣列基板之測試方法與顯示方法分別進行詳述，其中在一測試模式下，驅動晶片並未連接於顯示資料輸入墊單元36上，而在一顯示模式下，驅動晶片(圖未示)已連接於顯示資料輸入墊單元36上。

請參考第4圖，並一併參考第2圖與第3圖。第4圖繪示了本發明之顯示面板之陣列基板於一測試模式下之控制訊號時序圖。本發明之一較佳實施例之顯示面板之陣列基板之測試方法包括下列步驟。於測試模式下，關閉致能開關元件ENB，藉此使第一控制線CL1與兩第二控制線CL2未與第一訊號源DC1以及第二訊號源DC2電性連接。此時，測試機台(圖未示)會透過第一控制訊號輸入墊391與兩第二控制訊號輸入墊392依序輸入的第一控制訊號CK1、第二控制訊號CK2,CK3，藉此依序開啟各選擇單元38之第一開關元件381與兩第二開關元件382。另外，測試機台亦會透過第三控制訊號輸入墊40P依序輸入具有不同時序的第三控制訊號CTP1,CTP2...,，而依序開啟測試陣列40之複數個開關元件40S；同時，測試機台還會透過測試訊號輸入墊402輸入測試訊號V_TEST ，由於開關元件40S會依序開啟，因此測試訊號V_TEST 可依序經由不同的測試線401傳遞至各顯示資料輸入墊單元36之第一顯示資料輸入墊361，而由於各選擇單元38之第一開關元件381與第二開關元件382會依序開啟，因此測試訊號V_TEST 可依序傳送至第一資料線DL1與第二資料線DL2。

藉由選擇單元38的設置，本發明可使用較少量的測試訊號輸入墊40P與測試線401進行測試而可有效降低測試成本與時間。舉例而言，若資料線的數目為1080條，則本實施例在測試線401的總數與第一資料線DL1與第二資料線DL2的總數之比為1：3的架構下，僅需設置360條測試線401與30個測試訊號輸入墊402。

當顯示面板之陣列基板30於進行測試後確認無缺陷存在時，則可將驅動晶片(圖未示)連接在顯示資料輸入墊單元36上並進行後續彩色濾光片基板(圖未示)的組裝以及液晶層(圖未示)的填充以製作出顯示面板。本發明之一較佳實施例之顯示面板之陣列基板之顯示方法包括下列步驟。於顯示模式下，開啟各選擇單元38之第一開關元件381而使各資料線單元DLU之第一資料線DL1接收到驅動晶片經由第一顯示資料輸入墊361所傳遞之顯示資料訊號，以及關閉第二開關元件382而使得驅動晶片所發出的顯示資料訊號無法通過第二開關元件382，而會透過對應之旁通單元42之旁通線421傳送至各資料線單元DLU之第二資料線DL2。在本實施例中，於顯示模式下，第一開關元件381的開啟與第二開關元件382的關閉係利用下列方式達成。將致能開關元件ENB開啟，而第一訊號源DC1會提供一第一訊號開啟第一開關元件381，且第二訊號源DC2會提供一第二訊號關閉第二開關元件382。在本實施例中，例如在第一開關元件381與第二開關元件382使用P型薄膜電晶體元件的狀況下，第一訊號源DC1與第二訊號源DC2較佳可分別使用顯示面板之閘極低電壓與閘極高電壓來控制第一開關元件381的開啟與第二開關元件382的關閉，或是例如在第一開關元件381與第二開關元件382使用N型薄膜電晶體元件的狀況下，第一訊號源DC1與第二訊號源DC2較佳可分別使用顯示面板之閘極高電壓與閘極低電壓來控制第一開關元件381的開啟與第二開關元件382的關閉，因此不需額外設置其它訊號源而可節省成本。

綜上所述，本發明之顯示面板之陣列基板利用選擇單元的設置，可於測試模式下使資料線接收由測試機台經由測試線所傳遞之測試訊號，以及於顯示模式時使資料線接收由驅動晶片經由顯示資料輸入墊所傳遞之顯示資料訊號，因此可減少陣列基板的製作成本與測試時間。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

10．．．顯示面板之陣列基板

12．．．基板

12A．．．主動區

12P．．．周邊區

14．．．畫素陣列

16．．．顯示資料輸入墊

18．．．測試陣列

181．．．測試線

182．．．控制線

18．．．控制訊號輸入墊

SW．．．開關元件

20．．．測試訊號輸入墊

DL．．．資料線

30．．．顯示面板之陣列基板

32．．．基板

32A．．．主動區

32P．．．周邊區

34．．．畫素陣列

36．．．顯示資料輸入墊單元

361．．．第一顯示資料輸入墊

362．．．第二顯示資料輸入墊

38．．．選擇單元

381．．．第一開關元件

3811．．．輸出端

3812．．．輸入端

3813．．．控制端

382．．．第二開關元件

3821．．．輸出端

3822．．．輸入端

3823．．．控制端

391．．．第一控制訊號輸入墊

392．．．第二控制訊號輸入墊

40．．．測試陣列

40U．．．測試單元

401．．．測試線

403．．．第三控制線

402．．．測試訊號輸入墊

40S．．．開關元件

40P．．．第三控制訊號輸入墊

42．．．旁通單元

421．．．旁通線

DLU．．．資料線單元

DL1．．．第一資料線

DL2．．．第二資料線

GL．．．閘極線

R．．．紅色次畫素

G．．．綠色次畫素

B．．．藍色次畫素

CL1．．．第一控制線

CL2．．．第二控制線

DC1．．．第一訊號源

DC2．．．第二訊號源

ENB．．．關閉致能開關元件

第1圖繪示了習知顯示面板之陣列基板的示意圖。

第2圖繪示了本發明一較佳實施例之顯示面板之陣列基板的示意圖。

第3圖繪示了第2圖之顯示面板之陣列基板之選擇單元之放大示意圖。

第4圖繪示了本發明之顯示面板之陣列基板於一測試模式下之控制訊號時序圖。

30．．．顯示面板之陣列基板

GL．．．閘極線

DL1．．．第一資料線

DL2．．．第二資料線

32．．．基板

32A．．．主動區

32P．．．周邊區

34．．．畫素陣列

36．．．顯示資料輸入墊單元

361．．．第一顯示資料輸入墊

362．．．第二顯示資料輸入墊

38．．．選擇單元

381．．．第一開關元件

382．．．第二開關元件

391．．．第一控制訊號輸入墊

392．．．第二控制訊號輸入墊

40．．．測試陣列

40U．．．測試單元

401．．．測試線

403．．．第三控制線

402．．．測試訊號輸入墊

40S．．．開關元件

40P．．．第三控制訊號輸入墊

42．．．旁通單元

421．．．旁通線

DLU．．．資料線單元

R．．．紅色次畫素

G．．．綠色次畫素

B．．．藍色次畫素

CL1．．．第一控制線

DC1．．．第一訊號源

DC2．．．第二訊號源

CL2．．．第二控制線

ENB．．．關閉致能開關元件

Claims (15)

1. 一種顯示面板之陣列基板，包括：一基板，包括一主動區與一周邊區；一畫素陣列，位於該基板之該主動區內，其中該畫素陣列包括複數個資料線單元，各該資料線單元包括一第一資料線與至少一第二資料線；複數個顯示資料輸入墊單元，位於該基板之該周邊區內，其中各該顯示資料輸入墊單元包括一第一顯示資料輸入墊與至少一第二顯示資料輸入墊，用以輸入顯示資料訊號；複數個選擇單元，設置於該基板之該周邊區內，各該選擇單元包括一第一開關元件與至少一第二開關元件，各該選擇單元之該第一開關元件之一輸出端係與各該資料線單元之對應之該第一資料線電性連接，各該開關單元之該至少一第二開關元件之一輸出端係與各該資料線單元之對應之該第二資料線電性連接，各該選擇單元之該第一開關元件之一輸入端與該至少一第二開關元件之一輸入端均與對應之一顯示資料輸入墊單元之該第一顯示資料輸入墊電性連接；一測試陣列，位於該基板之該周邊區內，其中該測試陣列包括複數個測試單元，各該測試單元包括複數條測試線用以輸入測試訊號，各該測試單元之各該測試線係分別與對應之一顯示資料輸入墊單元之該第一顯示資料輸入墊電性連接；以及複數個旁通單元，位於該基板之該周邊區內，其中各該旁通單元包括至少一旁通線，且各該旁通單元之該至少一旁通線係分別電性連接對應之該至少一第二顯示資料輸入墊與對應之一第二資料線。
2. 如請求項1所述之顯示面板之陣列基板，其中於一測試模式下，各該選擇單元之該第一開關元件與該至少一第二開關元件為依序開啟而使各該資料線單元之該第一資料線與該至少一第二資料線依序接收到由對應之一測試線所傳遞之測試訊號。
3. 如請求項1所述之顯示面板之陣列基板，其中於一顯示模式下，各該選擇單元之該第一開關元件為開啟而使各該資料線單元之該第一資料線接收到該第一顯示資料輸入墊所傳遞之顯示資料訊號，且該至少一第二開關元件為關閉，而使各該資料線單元之該至少一第二資料線係透過對應之各該旁通單元之該至少一旁通線接收到該至少一第二顯示資料輸入墊所傳遞之顯示資料訊號。
4. 如請求項1所述之顯示面板之陣列基板，另包括一第一控制線與至少一第二控制線，其中該第一控制線係與各該選擇單元之該第一開關元件之一控制端電性連接，且該至少一第二控制線係與各該選擇單元之該至少一第二開關元件之一控制端電性連接。
5. 如請求項4所述之顯示面板之陣列基板，另包括一第一訊號源、一第二訊號源以及一致能開關元件，該致能開關元件係用以控制該第一訊號源與該第一控制線之電性連接，以及用以控制該第二訊號源與該第二控制線之電性連接。
6. 如請求項1所述之顯示面板之陣列基板，其中該測試陣列另包括複數條第三控制線與複數個開關元件，各該開關元件係分別與對應之一測試線與對應之一第三控制線電性連接，且該等第三控制線可控制該等開關元件依序開啟而使測試訊號依序傳遞至各該顯示資料輸入墊單元之該第一顯示資料輸入墊。
7. 如請求項6所述之顯示面板之陣列基板，其中該測試陣列另包括複數個測試訊號輸入墊，且各該測試訊號輸入墊係與各該測試單元之該等測試線之一端電性連接。
8. 如請求項1所述之顯示面板之陣列基板，其中該等測試單元之該等測試線的總數與該等資料線單元之該等第一資料線與該等第二資料線的總數之比為1：N，其中N為大於等於3之正整數。
9. 一種顯示面板之陣列基板，包括：一基板，包括一主動區與一周邊區；一第一資料線與至少一第二資料線，位於該基板之該主動區內；一第一顯示資料輸入墊與至少一第二顯示資料輸入墊，位於該基板之該周邊區內；一第一開關元件與至少一第二開關元件，位於該基板之該周邊區內，其中該第一開關元件之一輸出端係與該第一資料線電性連接，該至少一第二開關元件之一輸出端係該至少一第二資料線電性連接，該第一開關元件之一輸入端與該至少一第二開關元件之一輸入端均與該第一顯示資料輸入墊電性連接；一測試線，位於該基板之該周邊區內，且該測試線與該第一顯示資料輸入墊電性連接；以及至少一旁通線，位於該基板之該周邊區內，且該至少一旁通線係分別電性連接該至少一第二顯示資料輸入墊與該至少一第二資料線。
10. 如請求項9所述之顯示面板之陣列基板，其中於一測試模式下，該第一開關元件與該至少一第二開關元件為依序開啟而使該第一資料線與該至少一第二資料線依序接收到由該測試線所傳遞之一測試訊號。
11. 如請求項9所述之顯示面板之陣列基板，其中於一顯示模式下，該第一開關元件為開啟而使該第一資料線接收到該第一顯示資料輸入墊所傳遞之一第一顯示資料訊號，且該至少一第二開關元件為關閉，而使該至少一第二資料線係透過該至少一旁通線接收到該至少一第二顯示資料輸入墊所傳遞之一第二顯示資料訊號。
12. 如請求項9所述之顯示面板之陣列基板，另包括一第一控制線與至少一第二控制線，其中該第一控制線係與該第一開關元件之一控制端電性連接，且該至少一第二控制線係與該至少一第二開關元件之一控制端電性連接。
13. 如請求項12所述之顯示面板之陣列基板，另包括一第一訊號源、一第二訊號源以及一致能開關元件，該致能開關元件係用以控制該第一訊號源與該第一控制線之電性連接，以及用以控制該第二訊號源與該第二控制線之電性連接。
14. 一種顯示面板的測試方法，包括：提供如請求項9所述之顯示面板之陣列基板；對該測試線施加一測試訊號；以及依序開啟該第一開關元件與該至少一第二開關元件，以使該測試訊號依序傳遞至該第一資料線與該至少一第二資料線。
15. 一種顯示面板之顯示方法，包括：提供如請求項9所述之顯示面板之陣列基板；開啟該第一開關元件，並對該第一顯示資料輸入墊輸入一第一顯示資料訊號，以使該第一顯示資料訊號經由該第一開關元件傳遞至該第一資料線；以及關閉該至少一第二開關元件，並對該至少一第二顯示資料輸入墊輸入一第二顯示資料訊號，以使該第二顯示資料訊號經由該至少一旁通線傳遞至該至少一第二資料線。