KR20160095453A - 방사선 이미징 장치 - Google Patents

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KR20160095453A
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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 이미징 장치는 천장(ceiling)을 따라 이동 가능한 이동 베이스; 상기 이동 베이스에 제1 회전축을 중심으로 회전 가능하게 지지되며, 서로 마주 보도록 배치된 제1 방사선 소스 및 제1 방사선 검출기를 지지하는 제1 아암; 상기 제1 회전축과 교차하는 제2 회전축을 중심으로 회전 가능하며, 서로 마주 보도록 배치된 제2 방사선 소스 및 제2 방사선 검출기를 지지하는 제2 아암; 및 상기 이동 베이스에 지지되며, 상기 제2 아암을 상기 제2 회전축을 중심으로 회전 가능하게 지지하는 지지 아암;을 포함할 수 있다.

Description

방사선 이미징 장치{Radiation imaging apparatus}
실시예들은 바이 플레인(bi-plane) 방사선 이미징 장치에 관한 것이다.
방사선 이미징 장치는 X-선 장치, CT(computerized tomography) 장치, 초음파 장치, 전자빔 단층 촬영 장치, 자기 공명 장치 등과 같은 다양한 이미징 모달리티(modality)를 포함할 수 있다.
방사선 이미징 장치는 서로 마주 보도록 배치된 방사선 소스와 방사선 검출기를 포함한다. 방사선 소스에 의해 조사된 방사선은 환자를 통과하여 방사선 검출기에 도달하며, 방사선 검출기는 수신된 방사선의 가변 감쇠를 검출하여 소정의 이미지를 생성한다.
방사선 이미징 장치는, 획득하는 이미지에 따라, 싱글 플레인(single plane) 방사선 이미징 장치와 바이 플레인(bi plane) 방사선 이미징 장치로 구분될 수 있다. 상기 싱글 플레인 방사선 이미징 장치는, 하나의 방사선 소스와 하나의 방사선 검출기를 이용하여 2차원 이미지를 생성한다. 상기 바이 플레인 방사선 이미징 장치는, 복수의 방사선 소스와 복수의 방사선 검출기를 이용하여 3차원 이미지를 생성한다.
바이 플레인 방사선 이미징 장치는 3차원 이미지 생성이 가능하기 때문에, 의료 분야에서 정교한 시술이 요구되는 분야, 예를 들어 뇌혈관 수술 등에 많이 사용될 수 있다.
실시예들의 목적은 3차원 이미지 생성이 가능하며, 방사선 소스 및 방사선 검출기를 지지하는 제1, 제2 아암(arm)을 동시에 이동시킬 수 있는 방사선 이미징 장치를 제공하는데 있다.
일 실시예에 관한 방사선 이미징 장치는,
천장(ceiling)을 따라 이동 가능한 이동 베이스;
상기 이동 베이스에 제1 회전축을 중심으로 회전 가능하게 지지되며, 서로 마주 보도록 배치된 제1 방사선 소스 및 제1 방사선 검출기를 지지하는 제1 아암;
상기 제1 회전축과 교차하는 제2 회전축을 중심으로 회전 가능하며, 서로 마주 보도록 배치된 제2 방사선 소스 및 제2 방사선 검출기를 지지하는 제2 아암; 및
상기 이동 베이스에 지지되며, 상기 제2 아암을 상기 제2 회전축을 중심으로 회전 가능하게 지지하는 지지 아암;을 포함할 수 있다.
상기 지지 아암은 상기 이동 베이스에 상기 제1 회전축을 중심으로 회전 가능하게 지지될 수 있다.
상기 제1 아암 및 상기 제2 아암 중 적어도 하나의 아암은, 상기 아암에 의해 지지되는 방사선 소스와 방사선 검출기 사이를 연결하는 가상선과 상기 아암의 회전축을 포함하는 평면으로부터 이격될 수 있다.
상기 제2 아암은, 상기 제2 방사선 소스와 제2 방사선 검출기 사이를 연결하는 가상선과 상기 제2 회전축을 포함하는 평면으로부터 이격될 수 있다.
상기 제1 회전축과 상기 제2 회전축이 만나는 교차점이, 상기 제1 방사선 소스와 상기 제1 방사선 검출기 사이를 연결하는 가상선과 상기 제2 방사선 소스와 상기 제2 방사선 검출기 사이를 연결하는 가상선이 만나는 교차점과 일치할 수 있다.
상기 제1 아암 및 상기 제2 아암 각각은, 아크(arc) 형상을 가질 수 있다.
상기 제1 아암은 상기 이동 베이스에 회전 가능하게 설치된 제1 회전 부재에 의해 지지되며, 상기 제2 아암은 상기 지지 아암에 회전 가능하게 설치된 제2 회전 부재에 의해 지지될 수 있다.
상기 제1 아암은 상기 제1 회전 부재에 슬라이딩 가능하게 지지될 수 있다.
상기 제2 아암은 상기 제2 회전 부재에 슬라이딩 가능하게 지지될 수 있다.
상기 지지 아암은 아크 형상을 가지며, 상기 제2 회전 부재는 상기 지지 아암에 슬라이딩 가능하게 지지될 수 있다.
상기 제1 회전축의 연장 방향은, 상기 이동 베이스의 이동 방향에 수직일 수 있다.
상기 이동 베이스는 검사대의 길이 방향을 따라 이동 가능할 수 있다.
상술한 바와 같은 실시예들에 관한 방사선 이미징 장치는, 방사선 소스 및 방사선 검출기를 지지하는 제1, 제2 아암을 동시에 이동시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 이미징 장치를 개념적으로 도시한 사시도이며,
도 2a 및 도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 이미징 장치의 측면도 및 정면도이다.
도 3a 및 도 3b는 이동 베이스에 의해 제1 아암 및 제2 아암을 포함하는 방사선 이미징 장치가 이동된 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 이미징 장치의 제2 아암을 중심으로 도시한 사시도 및 측면도이다.
도 5는 도 1의 방사선 이미징 장치에서 지지 아암이 회전된 상태를 나타낸 사시도이며,
도 6a 및 도 6b는 도 5의 방사선 이미징 장치의 정면도 및 측면도이다.
도 7 내지 도 9는 방사선 이미징 장치의 자유도가 증가된 예를 설명하기 위한 도면이다.
이하, 첨부 도면의 실시예들을 통하여, 실시예들에 관한 방사선 이미징 장치의 구성과 작용을 상세히 설명한다. 이하의 실시예에서 “제1, 제2, 제3” 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용되었다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 이미징 장치(1)를 개념적으로 도시한 사시도이며, 도 2a 및 도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 이미징 장치(1)의 측면도 및 정면도이다.
도 1, 도 2a 및 도 2b를 참조하면, 방사선 이미징 장치(1)는, 이동 베이스(10)와, 이동 베이스(10)에 설치된 제1, 제2 아암(20, 30) 및 지지 아암(40)을 포함한다.
이동 베이스(10)는 천장(C, Ceiling)을 따라 이동될 수 있다. 이동 베이스(10)가 천장(C)을 따라 이동됨에 따라, 바닥(F, Floor)에 설치된 구성, 예를 들어 검사대(T) 등에 의해 이동 베이스(10)의 이동이 제한되는 것을 방지할 수 있으며, 이동 베이스(10)의 이동을 위한 구성, 예를 들어 가이드 레일(11) 등에 의해 사용자의 이동이 제한되는 것을 방지할 수 있다.
이동 베이스(10)는, 검사대(T)의 길이 방향(X)을 따라 이동될 수 있다. 다만, 이동 베이스(10)의 이동 방향은 이에 한정되지 아니하다. 다른 예로서, 이동 베이스(10)는 검사대(T)의 길이 방향(X)과 교차하는 방향을 따라 이동될 수 있다.
이동 베이스(10)는 슬라이딩 방식에 의해 천장(C)을 따라 이동될 수 있다. 예를 들어, 천장(C)에 설치된 가이드 레일(11)을 따라 이동 베이스(10)가 이동될 수 있다. 다만, 이동 베이스(10)의 이동 방식은 이에 한정되지 않으며, 다양하게 변형될 수 있다.
제1 아암(20)은 이동 베이스(10)에 회전 가능하게 지지된다. 예를 들어, 제1 아암(20)은 이동 베이스(10)에 회전 가능하게 설치된 제1 회전 부재(50)에 의해 지지될 수 있다.
제1 아암(20)은 서로 마주 보도록 배치된 제1 방사선 소스(210)와 제1 방사선 검출기(220)를 지지한다. 제1 아암(20)은 아크(arc) 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 아암(20)은 C 자 형상을 가질 수 있다. 제1 아암(20)의 양 단부에 제1 방사선 소스(210) 및 제1 방사선 검출기(220)가 지지될 수 있다. 제1 방사선 소스(210) 및 제1 방사선 검출기(220)는 정면 뷰(frontal view)를 위해 사용될 수 있다.
제1 방사선 소스(210)에 의해 조사된 방사선은 검사대(T) 상에 위치한 피검체(O)를 통과하여 제1 방사선 검출기(220)에 도달하며, 제1 방사선 검출기(220)는 수신된 방사선의 가변 감쇠를 검출하여 소정의 이미지를 생성한다. 제1 방사선 소스(210)에 의해 조사된 방사선은 엑스선(X-ray)일 수 있다.
제1 아암(20)은 이동 베이스(10)에 대하여 제1 회전축(A1)을 중심으로 회전될 수 있다. 제1 회전축(A1)의 연장 방향은 이동 베이스(10)의 이동 방향(X)에 수직일 수 있다.
제2 아암(30)은 제1 회전축(A1)과 교차하는 제2 회전축(A2)을 중심으로 회전 가능하며, 서로 마주보도록 배치된 제2 방사선 소스(310)와 제2 방사선 검출기(320)를 지지한다.
제2 아암(30)은 아크 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 제2 아암(30)은 C 자 형상을 가질 수 있다. 제2 아암(30)의 양 단부에는 제2 방사선 소스(310) 및 제2 방사선 검출기(320)가 지지될 수 있다. 제2 방사선 소스(310) 및 제2 방사선 검출기(320)는 측면 뷰(lateral view)를 위해 사용될 수 있다.
제1 회전축(A1)과 제2 회전축(A2)은 서로 교차할 수 있다. 예를 들어, 제1 회전축(A1)과 제2 회전축(A2)은 서로 직교할 수 있다. 제1 회전축(A1)과 제2 회전축(A2)이 만나는 제1 교차점(CP1)이 존재할 수 있다.
제1 방사선 소스(210)와 제1 방사선 검출기(220)를 연결하는 가상선(VL2)과 제2 방사선 소스(310)와 제2 방사선 검출기(320)를 연결하는 가상선(VL1)은 서로 교차할 수 있다. 여기서, 방사선 소스와 방사선 검출기를 연결하는 가상선(VL)은, 이들을 연결하는 가장 짧은 직선으로 정의될 수 있다. 상기 가상선(VL)들이 만나는 제2 교차점(CP2)이 존재할 수 있다. 제2 교차점(CP2)은 제1, 제2 회전축(A1, A2)이 만나는 제1 교차점(CP1)과 일치할 수 있다.
제2 방사선 소스(310)에 의해 조사된 방사선은 검사대(T) 상에 위치한 피검체(O)를 통과하여 제2 방사선 검출기(320)에 도달하며, 제2 방사선 검출기(320)는 수신된 방사선의 가변 감쇠를 검출하여 소정의 이미지를 생성한다. 제2 방사선 소스(310)에 의해 조사된 방사선은 엑스선(X-ray)일 수 있다. 제1, 제2 방사선 검출기(220, 320)에 의해 검출된 정보에 기초하여, 소정의 3차원 이미지가 생성될 수 있다.
제2 아암(30)은 제1 아암(20)이 지지된 이동 베이스(10)에 지지된다. 예를 들어, 제2 아암(30)은 지지 아암(40)에 의해 이동 베이스(10)에 회전 가능하게 지지될 수 있다. 제2 아암(30)은 지지 아암(40)에 제2 회전축(A2)을 중심으로 회전 가능하게 설치된 제2 회전 부재(60)에 의해 지지될 수 있다.
지지 아암(40)은 이동 베이스(10)에 회전 가능하게 지지된다. 예를 들어, 지지 아암(40)은 이동 베이스(10)에 제1 회전축(A1)을 중심으로 회전 가능하게 설치된 제3 회전 부재(70)에 의해 지지될 수 있다.
상술한 것처럼, 제1 아암(20)은 이동 베이스(10)에 지지되며, 제2 아암(30)은 지지 아암(40)에 의해 이동 베이스(10)에 지지된다. 이와 같이, 이동 베이스(10)에 제1 아암(20) 및 제2 아암(30)이 지지됨에 따라, 이동 베이스(10)의 이동에 의해 제1 아암(20) 및 제2 아암(30)이 동시에 이동될 수 있다.
도 3a 및 도 3b는 이동 베이스(10)에 의해 제1 아암(20) 및 제2 아암(30)을 포함하는 방사선 이미징 장치(1)가 이동된 예를 설명하기 위한 도면이다. 도 3a는 도 2a의 방사선 이미징 장치(1)가 검사대(T)로부터 멀어지는 방향으로 이동된 것을 개략적으로 나타내며, 도 3b는 도 2a의 방사선 이미징 장치(1)가 지지 아암(40)이 회전된 상태에서 이동된 것을 개략적으로 나타낸다.
도 3a를 참조하면, 방사선 이미징 장치(1)는 이동 베이스(10)에 의해 검사대(T)로부터 멀어지는 방향(X1)으로 이동될 수 있다. 예를 들어, 방사선 이미징 장치(1)를 사용하지 않을 경우, 사용자는 방사선 이미징 장치(1)의 이동 베이스(10)를 이동시킴으로써, 제1 아암(20)과 제2 아암(30)을 동시에 검사대(T)로부터 멀어지도록 이동시킬 수 있다. 그에 따라, 방사선 이미징 장치(1)가 필요하지 않을 때에는 검사대(T) 주변에 충분한 공간(S)을 확보할 수 있게 된다. 또한, 이동 베이스(10)에 의해 제1 아암(20)과 제2 아암(30)이 동시에 이동됨에 따라, 제1 아암(20)과 제2 아암(30)을 개별적으로 이동시킬 경우 발생할 수 있는 서로 간의 충돌을 방지할 수 있다.
도 3b를 참조하면, 방사선 이미징 장치(1)는 이동 베이스(10)에 의해 검사대(T)에 가까워지는 방향(X2)으로 이동될 수 있다. 예를 들어, 방사선 이미징 장치(1)를 사용하고자 할 경우, 사용자는 이동 베이스(10)를 이동시킴으로써, 제1 아암(20)과 제2 아암(30)을 동시에 검사대(T)에 접근하도록 이동시킬 수 있다.
더불어, 방사선 이미징 장치(1)의 적어도 일부가 검사대(T)에 중첩되도록 이동시킨 이후에도, 방사선 이미징 장치(1)의 사용 중 또는 사용 전에, 이동 베이스(10)의 이동을 통해, 제1 아암(20) 및 제2 아암(30)의 정확한 위치를 설정할 수 있다.
만일, 본 개시와 달리, 제1 아암(20)과 제2 아암(30)을 개별적으로 이동시킬 경우, 상술한 제1 아암(20)과 제2 아암(30) 사이의 충돌이 발생하거나, 적어도 제1 아암(20)과 제2 아암(30) 사이에 위치 관계 조정을 위한 과정이 필요할 수 있다.
그러나, 본 개시에 따른 방사선 이미징 장치(1)에 따르면, 이동 베이스(10)에 의해 제1 아암(20)과 제2 아암(30)이 동시에 이동되기 때문에, 제1 아암(20) 및 제2 아암(30)이 이동되더라도, 제1 교차점(CP1)과 제2 교차점(CP2)이 동일한 위치를 유지할 수 있다. 즉, 제1 아암(20)과 제2 아암(30)의 이동시, 제1 아암(20)과 제2 아암(30) 사이의 위치 관계 조정을 위한 별도의 과정을 생략할 수 있다.
이하에서는, 본 개시에 따른 방사선 이미징 장치(1)에서, 지지 아암(40), 제1 아암(20) 및 제2 아암(30) 중 적어도 하나가 회전될 때, 이들 사이의 간섭을 방지하기 위한 구조에 대하여 살펴본다.
제1 아암(20) 및 제2 아암(30) 중 적어도 하나의 아암은, 상기 아암에 의해 지지된 방사선 소스와 방사선 검출기를 연결하는 가상선과 상기 아암의 회전축을 포함하는 평면으로부터 이격될 수 있다. 일 예로서, 제2 아암(30)은, 제2 아암(30)에 의해 지지된 제2 방사선 소스(310)와 제2 방사선 검출기(320)를 연결하는 가상선(VL1)과 제2 아암(30)의 제2 회전축(A2)을 포함하는 제1 평면(P1)으로부터 이격될 수 있다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 방사선 이미징 장치(1)의 제2 아암(30)을 중심으로 도시한 사시도 및 측면도이다. 도 4a 및 도 4b에서는, 설명의 편의상, 제1 아암(20)에 대한 도시를 생략하였다.
도 4a 및 도 4b를 참조하면, 제2 아암(30)은 제2 방사선 소스(310) 및 제2 방사선 검출기(320)를 연결하는 가상선(VL1)과 제2 회전축(A2)을 포함하는 제1 평면(P1)으로부터 이격될 수 있다. 상기 제1 평면(P1)은 제2 아암(30)의 평면(P3)과 이격될 수 있다.
제2 아암(30)과 지지 아암(40) 사이에는 제1 연결 링크(61)가 배치되며, 제2 아암(30)과 제2 방사선 소스(310), 제2 아암(30)과 제2 방사선 검출기(320) 사이에는 제2 연결 링크들(81, 82)이 배치될 수 있다. 제1, 제2 연결 링크(61, 81, 82) 각각의 적어도 일부는, 제2 회전축(A2)의 연장 방향과 교차하는 방향으로 연장될 수 있다. 제1 연결 링크(61)는 제2 회전 부재(60)에 포함되며, 제2 회전축(A2)과 멀어지는 방향으로 연장될 수 있다. 제2 연결 링크(81, 82)는 제2 아암(30)의 양 단부로부터 제2 회전축(A2)과 가까워지는 방향으로 연장될 수 있다. 이러한 제1, 제2 연결 링크(61, 81, 82)에 의해, 제2 아암(30)이 제2 방사선 소스(310) 및 제2 방사선 검출기(320) 사이를 연결하는 가상선(VL1)과 제2 회전축(A2)을 포함하는 제1 평면(P1)으로부터 이격될 수 있다.
도 5는 도 1의 방사선 이미징 장치(1)에서 지지 아암(40)이 90도 회전된 상태를 나타낸 사시도이며, 도 6a 및 도 6b는 도 5의 방사선 이미징 장치(1)의 정면도 및 측면도이다.
도 5, 도 6a 및 도 6b를 참조하면, 제1 방사선 소스(210)와 제1 방사선 검출기(220)를 연결하는 가상선(VL2)과 제1 회전축(A1)을 포함하는 제2 평면(P2)에 제2 방사선 소스(310) 및 제2 방사선 검출기(320)가 배치된다. 제2 방사선 소스(310) 및 제2 방사선 검출기(320)를 연결하는 가상선(VL1)과 제2 회전축(A2)을 포함하는 제1 평면(P1)이 상기 제2 평면(P2)과 일치할 수 있다.
제1 아암(20)은 제2 평면(P2) 상에 배치될 수 있다. 그에 반해, 제2 아암(30)은, 상술한 것처럼, 제1 평면(P1)과 이격되도록 배치된다. 그에 따라, 제1 평면(P1)과 제2 평면(P2)이 일치되도록 제1 아암(20) 및 제2 아암(30)이 회전되더라도, 제1 아암(20)과 제2 아암(30)의 간섭 또는 충돌을 방지할 수 있다.
다시 도 2a 및 도 2b를 참조하면, 지지 아암(40), 제1 아암(20) 및 제2 아암(30)의 크기가 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 제2 아암(30)의 외경(R2)은 제1 아암(20)의 내경(R1in)보다 작을 수 있다. 제1 아암(20)의 외경(R1out)은 지지 아암(40)의 내경(R3)보다 작을 수 있다. 이를 통해, 제1, 제2 아암(20, 30) 및 지지 아암(40) 중 적어도 하나가 회전될 때, 이들 사이에 간섭이 발생하는 것을 방지하거나 줄일 수 있다.
한편, 상술한 실시예들에 따른 방사선 이미징 장치(1)는, 이동 베이스(10)가 천장(C)에 대하여 이동 가능하며, 제1 아암(20) 및 지지 아암(40)이 제1 회전축(A1)을 중심으로 회전하며, 제2 아암(30)이 제2 회전축(A2)을 중심으로 회전하는 구조, 즉 4 자유도를 가지는 구조를 중심으로 설명하였다. 그러나, 본 개시에 따른 방사선 이미징 장치(1)의 자유도는 이에 한정되지 않으며, 증가되거나 감소될 수 있다.
도 7 내지 도 9는 방사선 이미징 장치(1)의 자유도가 증가된 예를 설명하기 위한 도면이다. 도 7 내지 도 9를 참조하면, 방사선 이미징 장치(1)는 이동 베이스(10)가 천장(C)에 대하여 이동 가능하며, 제1 아암(20) 및 지지 아암(40)이 제1 회전축(A1)을 중심으로 회전하며, 제2 아암(30)이 제2 회전축(A2)을 중심으로 회전할 수 있다. 이에 대해서는, 상술한 실시예들과 동일하므로, 중복 설명은 생략하기로 한다.
도 7을 참조하면, 제1 아암(20)은 제1 회전 부재(50)에 대하여 슬라이딩될 수 있다. 제1 아암(20)은 아크 형상일 수 있다. 제1 아암(20)이 제1 회전 부재(50)에 대하여 슬라이딩되는 동안, 제1 아암(20)에 의해 지지된 제1 방사선 소스(210) 및 제1 방사선 검출기(220)는 제1 교차점(CP1)을 중심으로 회전될 수 있다. 또한, 제1 방사선 검출기(220)는 제1 아암(20)에 대하여 제3 회전축(A3)을 중심으로 회전될 수 있다.
도 8을 참조하면, 제2 아암(30)이 제2 회전 부재(60)에 대하여 슬라이딩될 수 있다. 제2 아암(30)은 아크 형상일 수 있다. 제2 아암(30)이 제2 회전 부재(60)에 대하여 슬라이딩되는 동안, 제2 아암(30)에 의해 지지된 제2 방사선 소스(310) 및 제2 방사선 검출기(320)는 제1 교차점(CP1)을 중심으로 회전될 수 있다. 또한, 제2 방사선 검출기(320)는 제2 아암(30)에 대하여 제4 회전축(A4)을 중심으로 회전될 수 있다.
도 9를 참조하면, 제2 회전 부재(60)는 지지 아암(40)에 대하여 슬라이딩될 수 있다. 지지 아암(40)은 아크 형상을 가질 수 있다. 제2 회전 부재(60)가 지지 아암(40)에 대하여 슬라이딩되는 동안, 제2 회전 부재(60)에 지지된 제2 아암(30)이 원주 방향으로 이동되며, 그에 따라 제2 아암(30)에 의해 지지된 제2 방사선 소스(310) 및 제2 방사선 검출기(320)는 제1 교차점(CP1)을 중심으로 회전될 수 있다.
발명의 이해를 위하여, 도면에 도시된 바람직한 실시예들에서 참조 부호를 기재하였으며, 상기 실시예들을 설명하기 위하여 특정 용어들을 사용하였으나, 상기 특정 용어에 의해 발명이 한정되는 것은 아니며, 발명은 당업자에 있어서 통상적으로 생각할 수 있는 모든 구성 요소들을 포함할 수 있다.
발명에서 설명하는 특정 실행들은 일 실시예들로서, 어떠한 방법으로도 발명의 범위를 한정하는 것은 아니다. 명세서의 간결함을 위하여, 종래 전자적인 구성들, 제어 시스템들, 소프트웨어, 상기 시스템들의 다른 기능적인 측면들의 기재는 생략될 수 있다. 또한, 도면에 도시된 구성 요소들 간의 선들의 연결 또는 연결 부재들은 기능적인 연결 및/또는 물리적 또는 회로적 연결들을 예시적으로 나타낸 것으로서, 실제 장치에서는 대체 가능하거나 추가의 다양한 기능적인 연결, 물리적인 연결, 또는 회로 연결들로서 나타내어질 수 있다. 또한, “필수적인”, “중요하게” 등과 같이 구체적인 언급이 없다면 발명의 적용을 위하여 반드시 필요한 구성 요소가 아닐 수 있다. 여기에서 사용되는 “포함하는”, “구비하는” 등의 표현은 기술의 개방형 종결부의 용어로 이해되기 위해 사용된 것이다.
본 발명에서 모든 예들 또는 예시적인 용어(예들 들어, 등등)의 사용은 단순히 본 발명을 상세히 설명하기 위한 것으로서 특허청구범위에 의해 한정되지 않는 이상 상기 예들 또는 예시적인 용어로 인해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다. 또한 기술이 속한 분야의 통상의 지식을 갖는 자는 발명의 범위와 사상에서 벗어나지 않으면서도 다양한 수정과 변경이 용이하게 이루어질 수 있음을 명확히 알 수 있다.
1 : 방사선 이미징 장치 10 : 이동 베이스
20 : 제1 아암 210 : 제1 방사선 소스
220 : 제1 방사선 검출기 30 : 제2 아암
310 : 제2 방사선 소스 320 : 제2 방사선 검출기
40 : 지지 아암 50 : 제1 회전 부재
60 : 제2 회전 부재 61 : 제1 연결 링크
70 : 제3 회전 부재 81, 82 : 제2 연결 링크
C : 천장 O : 피검체
T : 검사대 A1 : 제1 회전축
A2 : 제2 회전축 CP1, CP2 : 교차점
VL1, VL2 : 가상선

Claims (12)

  1. 천장(ceiling)을 따라 이동 가능한 이동 베이스;
    상기 이동 베이스에 제1 회전축을 중심으로 회전 가능하게 지지되며, 서로 마주 보도록 배치된 제1 방사선 소스 및 제1 방사선 검출기를 지지하는 제1 아암(arm);
    상기 제1 회전축과 교차하는 제2 회전축을 중심으로 회전 가능하며, 서로 마주 보도록 배치된 제2 방사선 소스 및 제2 방사선 검출기를 지지하는 제2 아암; 및
    상기 이동 베이스에 지지되며, 상기 제2 아암을 상기 제2 회전축을 중심으로 회전 가능하게 지지하는 지지 아암;을 포함하는, 방사선 이미징 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 지지 아암은 상기 이동 베이스에 상기 제1 회전축을 중심으로 회전 가능하게 지지된, 방사선 이미징 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 아암 및 상기 제2 아암 중 적어도 하나의 아암은, 상기 아암에 의해 지지되는 방사선 소스와 방사선 검출기 사이를 연결하는 가상선과 상기 아암의 회전축을 포함하는 평면으로부터 이격된, 방사선 이미징 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제2 아암은, 상기 제2 방사선 소스와 제2 방사선 검출기 사이를 연결하는 가상선과 상기 제2 회전축을 포함하는 평면으로부터 이격된, 방사선 이미징 장치.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 제1 회전축과 상기 제2 회전축이 만나는 교차점이, 상기 제1 방사선 소스와 상기 제1 방사선 검출기 사이를 연결하는 가상선과 상기 제2 방사선 소스와 상기 제2 방사선 검출기 사이를 연결하는 가상선이 만나는 교차점과 일치하는, 방사선 이미징 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제1 아암 및 상기 제2 아암 각각은, 아크(arc) 형상을 가지는, 방사선 이미징 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제1 아암은 상기 이동 베이스에 회전 가능하게 설치된 제1 회전 부재에 의해 지지되며,
    상기 제2 아암은 상기 지지 아암에 회전 가능하게 설치된 제2 회전 부재에 의해 지지되는, 방사선 이미징 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제1 아암은 상기 제1 회전 부재에 슬라이딩 가능하게 지지된, 방사선 이미징 장치.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 제2 아암은 상기 제2 회전 부재에 슬라이딩 가능하게 지지된, 방사선 이미징 장치.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 지지 아암은 아크 형상을 가지며
    상기 제2 회전 부재는 상기 지지 아암에 슬라이딩 가능하게 지지된, 방사선 이미징 장치.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 제1 회전축의 연장 방향은, 상기 이동 베이스의 이동 방향과 수직인, 방사선 이미징 장치.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 이동 베이스는 검사대의 길이 방향을 따라 이동 가능한, 방사선 이미징 장치.
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