KR20160093185A - 표시 장치 및 그 제조 방법 - Google Patents

표시 장치 및 그 제조 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20160093185A
KR20160093185A KR1020150013774A KR20150013774A KR20160093185A KR 20160093185 A KR20160093185 A KR 20160093185A KR 1020150013774 A KR1020150013774 A KR 1020150013774A KR 20150013774 A KR20150013774 A KR 20150013774A KR 20160093185 A KR20160093185 A KR 20160093185A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electrode
gate
film
drain electrode
semiconductor
Prior art date
Application number
KR1020150013774A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102296734B1 (ko
Inventor
조강문
김경훈
김동우
김일곤
조세형
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020150013774A priority Critical patent/KR102296734B1/ko
Priority to US14/958,011 priority patent/US9647005B2/en
Publication of KR20160093185A publication Critical patent/KR20160093185A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102296734B1 publication Critical patent/KR102296734B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1343Electrodes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/13625Patterning using multi-mask exposure
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286Wiring, e.g. gate line, drain line
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/1368Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/563Encapsulation of active face of flip-chip device, e.g. underfilling or underencapsulation of flip-chip, encapsulation preform on chip or mounting substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • H01L23/293Organic, e.g. plastic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3157Partial encapsulation or coating
    • H01L23/3171Partial encapsulation or coating the coating being directly applied to the semiconductor body, e.g. passivation layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1248Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition or shape of the interlayer dielectric specially adapted to the circuit arrangement
    • G02F2001/13625
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

본 발명은 표시 장치 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치는 상기 기판 위에 위치하는 게이트 전극 및 게이트선, 상기 기판 위에 상기 게이트선과 같은 층에 형성되어 있으며 상기 게이트선과 분리되어 있는 복수의 데이터선, 상기 게이트선, 상기 게이트 전극 및 상기 데이터선 위에 위치하는 게이트 절연막, 상기 게이트 절연막 위에 위치하는 반도체, 상기 반도체 및 상기 게이트 절연막 위에 위치하는 식각 저지막, 상기 식각 저지막 위에 위치하는 제1 보호막, 상기 제1 보호막 및 상기 식각 저지막 위에 위치하며 상기 복수의 데이터선과 연결되어 있는 소스 전극, 상기 식각 저지막 위에 위치하며 상기 소스 전극과 떨어져 있는 드레인 전극, 상기 제1 보호막 위에 위치하며 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극과 떨어져 있는 공통 전극, 상기 소스 전극, 상기 드레인 전극 및 상기 공통 전극 위에 위치하는 제2 보호막, 그리고 상기 제2 보호막 위에 위치하며 상기 드레인 전극과 연결되어 있는 화소 전극을 포함한다.

Description

표시 장치 및 그 제조 방법{DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF}
본 발명은 표시 장치 및 그 제조 방법에 관한 것이다.
액정 표시 장치는 현재 가장 널리 사용되고 있는 평판 표시 장치 중 하나로서, 화소 전극과 공통 전극 등 전기장 생성 전극이 형성되어 있는 두 장의 표시판과 그 사이에 들어 있는 액정층을 포함한다. 이러한 액정 표시 장치에서는 전기장 생성 전극에 전압을 인가하여 액정층에 전기장을 생성하고 이를 통하여 액정층의 액정 분자들의 배향을 결정하고 입사광의 편광을 제어함으로써 영상을 표시한다.
화소 전극과 공통 전극은 서로 다른 표시판에 구비될 수도 있고, 하나의 표시판에 모두 구비될 수도 있다. 표시판에는 또한 게이트 신호를 전송하는 게이트선과 데이터 신호를 전송하는 데이터선이 서로 교차하여 형성되고, 게이트선 및 데이터선과 연결되어 있는 박막 트랜지스터, 차광부재, 색 필터, 공통 전극 등이 형성될 수 있다.
박막 트랜지스터로는 무기 반도체를 사용하기도 하지만 최근 들어 유기 반도체를 사용하고자 하는 연구가 활발하다.
그러나 종래의 유기 반도체 액정 표시 장치는 제조 방법이 복잡하고 집적도가 낮으며, 접촉 부위의 접촉성 및 내구성이 떨어지고, 러빙 시 정전기가 유입되는 등의 문제점이 있다.
본 발명은 이러한 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 하나의 기판을 이용하여 표시 장치를 제조함으로써, 공정과 구조가 간단한 표시 장치 및 그 제조 방법을 제공한다.
본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치는 본 발명은 표시 장치 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치는 상기 기판 위에 위치하는 게이트 전극 및 게이트선, 상기 기판 위에 상기 게이트선과 같은 층에 형성되어 있으며 상기 게이트선과 분리되어 있는 복수의 데이터선, 상기 게이트선, 상기 게이트 전극 및 상기 데이터선 위에 위치하는 게이트 절연막, 상기 게이트 절연막 위에 위치하는 반도체, 상기 반도체 및 상기 게이트 절연막 위에 위치하는 식각 저지막, 상기 식각 저지막 위에 위치하는 제1 보호막, 상기 제1 보호막 및 상기 식각 저지막 위에 위치하며 상기 복수의 데이터선과 연결되어 있는 소스 전극, 상기 식각 저지막 위에 위치하며 상기 소스 전극과 떨어져 있는 드레인 전극, 상기 제1 보호막 위에 위치하며 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극과 떨어져 있는 공통 전극, 상기 소스 전극, 상기 드레인 전극 및 상기 공통 전극 위에 위치하는 제2 보호막, 그리고 상기 제2 보호막 위에 위치하며 상기 드레인 전극과 연결되어 있는 화소 전극을 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치 및 그 제조 방법은 하나의 기판을 이용하여 표시 장치를 제조함으로써, 공정과 구조가 간단한 표시 장치 및 그 제조 방법을 제공한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타낸 배치도이다.
도 2는 도 2에 도시한 표시 장치의 단면도이다.
도 3 및 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 제조 방법을 나타낸 단면도이다.
그러면 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.
도 1 및 도 2를 참고하여 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치에 대해 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치를 나타낸 배치도이고, 도 3은 도 2의 표시 장치의 단면도이다.
도 1 및 도 2를 참고하면, 투명한 유리 또는 플라스틱 등으로 이루어진 절연 기판(110) 위에 게이트선(gate line)(121) 및 게이트선(121)으로부터 돌출되어 있는 게이트 전극(124), 그리고 데이터선(171)이 형성되어 있다.
게이트선(121)은 게이트 신호를 전달하며 주로 가로 방향으로 뻗을 수 있다. 데이터선(171)은 게이트선(121)의 사이에 세로 방향으로 뻗으며 서로 분리된 복수의 세로 부재를 포함한다.
게이트선(121) 및 게이트 전극(124) 위에는 게이트 절연막(gate insulating layer)(130)이 형성되어 있다. 게이트 절연막(130)은 무기 또는 유기 절연 물질로 이루어질 수 있다. 게이트 절연막(140)은 다중막으로 이루어질 수 있다.
게이트 절연막(140) 위에는 반도체(semiconductor)(154)가 형성되어 있다. 반도체(154)는 산화물 반도체, 예를 들면 인듐(In), 갈륨(Ga), 아연(Zn) 및 주석(Sn) 중 적어도 하나의 원소를 포함하는 산화물을 포함할 수 있다.
반도체(154) 위에는 저항성 접촉 부재(ohmic contact member)(도시하지 않음)가 더 형성될 수 있다. 저항성 접촉 부재는 실리사이드(silicide) 또는 n형 불순물이 고농도로 도핑되어 있는 n+ 수소화 비정질 규소 따위의 물질로 만들어질 수 있다.
반도체(154) 및 게이트 절연막(140) 위에는 식각 저지막(160) 및 제1 보호막(180)이 형성되어 있다. 제1 보호막(180)은 유기물로서 식각 저지막(160)에 비하여 매우 두꺼울 수 있다.
제1 보호막(160) 위에는 소스 전극(173), 드레인 전극(175) 및 공통 전극(270)이 형성되어 있다. 소스 전극(173) 및 드레인 전극(175)은 식각 저지막(160) 및 제1 보호막(180)에 형성되어 있는 접촉 구멍을 통하여 각각 반도체(154)와 연결되어 있다. 소스 전극(173)은 또한 게이트 절연막(130), 식각 저지막(160) 및 제1 보호막(180)에 형성되어 있는 접촉 구멍을 통하여 데이터선(171)과 연결되어 있으며, 게이트선(121) 상하의 세로 부재들을 서로 연결한다.
게이트 전극(124), 소스 전극(173) 및 드레인 전극(175)은 반도체(154)와 함께 하나의 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor, TFT)를 이룬다. 박막 트랜지스터는 데이터선(171)의 데이터 전압을 전달하는 스위칭 소자로서 기능할 수 있다. 이때, 스위칭 소자(SW)의 채널(channel)은 소스 전극(173)과 드레인 전극(175) 사이의 반도체(154)에 형성되어 있다.
소스 전극(173), 드레인 전극(175) 및 공통 전극(270) 위에는 제2 보호막(210)이 형성되어 있다. 제2 보호막(210)은 유기 절연 물질 또는 무기 절연 물질로 이루어질 수 있으며, 단일막 또는 다중막으로 이루어질 수 있다.
제2 보호막(180) 위에는 화소 전극(191)이 형성되어 있다. 화소 전극(191)은 제2 보호막(210)에 형성된 접촉 구멍을 통하여 드레인 전극(175)과 연결되어 있다.
그러면, 도 3 및 도 4를 앞서의 도 1 및 도 2와 함께 참고하여 본 발명의 일 실시예에 의한 표시 장치의 제조 방법에 대해 설명한다.
도 3 및 도 4는 도 1 및 도 2의 표시 장치를 본 발명의 일 실시예에 따라 제조하는 방법을 나타낸 단면도이다.
먼저, 도 3을 참고하면, 유리 또는 플라스틱 등으로 이루어진 기판(110) 위에 게이트선(121), 게이트선(121)으로부터 돌출되는 게이트 전극(124) 및 데이터선(171)을 형성한다.
이어, 게이트선(121), 게이트 전극(124) 및 데이터선(171) 위에 실리콘 질화물(SiNx), 실리콘 산화물(SiOx) 등과 같은 무기 절연 물질을 이용하여 게이트 절연막(140)을 형성한다. 게이트 절연막(140)은 단일막 또는 다중막으로 이루어질 수 있다.
이어, 게이트 절연막(140) 위에 금속 산화물(metal oxide) 등과 같은 반도체 물질을 증착한 후 이를 패터닝하여 반도체(154)를 형성한다. 반도체(154)는 게이트 전극(124) 위에 위치하도록 형성할 수 있다.
이어 도 3 및 도 4를 참고하면, 식각 저지막(160) 및 제1 보호막(180)을 적층하고 감광막(210)을 도포한다. 이어 위치에 따라 노광량이 달라지는 마스크(200)을 사용하여 감광막(210)을 노광한 다음, 게이트 절연막(130), 식각 저지막(160) 및 제1 보호막(180)을 식각하여 데이터선(171) 및 반도체(154)에 접촉 구멍을 형성한다. 게이트 패드 및 데이터 패드를 포함하는 패드부(129)에도 접촉 구멍을 형성한다.
도 2를 참고하면, 소스 전극(173), 드레인 전극(175) 및 공통 전극(270)을 형성하고, 제2 보호막(210)을 적층하고 식각하여 패드부(129)에 접촉 구멍을 형성한다. 이어 화소 전극(191)을 형성한다.
한 실시예에 따르면, 패드부(129)에는 소스 전극(173) 등과 같은 층의 도전체 및 화소 전극(191)과 같은 층의 도전체가 형성될 수 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

Claims (6)

  1. 기판,
    상기 기판 위에 위치하는 게이트 전극 및 게이트선,
    상기 기판 위에 상기 게이트선과 같은 층에 형성되어 있으며 상기 게이트선과 분리되어 있는 복수의 데이터선,
    상기 게이트선, 상기 게이트 전극 및 상기 데이터선 위에 위치하는 게이트 절연막,
    상기 게이트 절연막 위에 위치하는 반도체,
    상기 반도체 및 상기 게이트 절연막 위에 위치하는 식각 저지막,
    상기 식각 저지막 위에 위치하는 제1 보호막,
    상기 제1 보호막 및 상기 식각 저지막 위에 위치하며 상기 복수의 데이터선과 연결되어 있는 소스 전극,
    상기 식각 저지막 위에 위치하며 상기 소스 전극과 떨어져 있는 드레인 전극,
    상기 제1 보호막 위에 위치하며 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극과 떨어져 있는 공통 전극,
    상기 소스 전극, 상기 드레인 전극 및 상기 공통 전극 위에 위치하는 제2 보호막, 그리고
    상기 제2 보호막 위에 위치하며 상기 드레인 전극과 연결되어 있는 화소 전극
    을 포함하는 표시 장치.
  2. 제1항에서,
    상기 제1 보호막은 유기물을 포함하는 표시 장치.
  3. 제1항에서,
    상기 반도체는 금속 산화물을 포함하는 표시 장치.
  4. 기판 위에 게이트 전극, 게이트선 및 데이터선을 형성하는 단계,
    상기 게이트 전극, 게이트선 및 데이터선 위에 게이트 절연막을 형성하는 단계,
    상기 게이트 절연막 위에 반도체를 형성하는 단계,
    상기 게이트 절연막 및 반도체 위에 식각 저지막 및 제1 보호막을 적층하는 단계,
    상기 제1 보호막, 식각 저지막 및 게이트 절연막을 식각하여 상기 데이터선 및 상기 반도체를 드러내는 접촉 구멍을 형성하는 단계,
    상기 제1 보호막 및 상기 식각 저지막 위에 상기 복수의 데이터선과 연결되는 소스 전극, 상기 소스 전극과 떨어져 있는 드레인 전극, 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극과 떨어져 있는 공통 전극을 형성하는 단계,
    상기 소스 전극, 상기 드레인 전극 및 상기 공통 전극 위에 제2 보호막을 형성하는 단계, 그리고
    상기 제2 보호막 위에 위치하며 상기 드레인 전극과 연결되는 화소 전극을 형성하는 단계
    를 포함하는 표시 장치의 제조 방법.
  5. 제4항에서,
    상기 제1 보호막은 유기물을 포함하는 표시 장치의 제조 방법.
  6. 제4항에서,
    상기 반도체는 금속 산화물을 포함하는 표시 장치의 제조 방법.
KR1020150013774A 2015-01-28 2015-01-28 표시 장치 및 그 제조 방법 KR102296734B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150013774A KR102296734B1 (ko) 2015-01-28 2015-01-28 표시 장치 및 그 제조 방법
US14/958,011 US9647005B2 (en) 2015-01-28 2015-12-03 Display device and manufacturing method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150013774A KR102296734B1 (ko) 2015-01-28 2015-01-28 표시 장치 및 그 제조 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20160093185A true KR20160093185A (ko) 2016-08-08
KR102296734B1 KR102296734B1 (ko) 2021-09-01

Family

ID=56434207

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150013774A KR102296734B1 (ko) 2015-01-28 2015-01-28 표시 장치 및 그 제조 방법

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9647005B2 (ko)
KR (1) KR102296734B1 (ko)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130099693A (ko) * 2012-02-29 2013-09-06 엘지디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법
US20140104527A1 (en) * 2012-10-17 2014-04-17 Apple Inc. Process Architecture for Color Filter Array in Active Matrix Liquid Crystal Display
KR20140122623A (ko) * 2013-04-10 2014-10-20 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3908596C2 (de) * 1989-03-16 1999-11-11 Bosch Gmbh Robert Einrichtung zum Übertragen einer Stellposition eines Sollwertgebers
US5994155A (en) * 1994-01-20 1999-11-30 Goldstar Co., Ltd. Method of fabricating a thin film transistor liquid crystal display
KR20040045113A (ko) 2002-11-22 2004-06-01 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치 및 그 제조 방법
JP5477523B2 (ja) 2006-06-15 2014-04-23 三国電子有限会社 低コスト大画面広視野角高速応答液晶表示装置
KR101497425B1 (ko) 2008-08-28 2015-03-03 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
KR20110093113A (ko) 2010-02-11 2011-08-18 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 기판 및 이의 제조 방법
KR102247048B1 (ko) 2013-12-04 2021-05-03 삼성디스플레이 주식회사 표시 기판 및 이의 제조 방법
KR20150066690A (ko) 2013-12-09 2015-06-17 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130099693A (ko) * 2012-02-29 2013-09-06 엘지디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법
US20140104527A1 (en) * 2012-10-17 2014-04-17 Apple Inc. Process Architecture for Color Filter Array in Active Matrix Liquid Crystal Display
KR20140122623A (ko) * 2013-04-10 2014-10-20 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US9647005B2 (en) 2017-05-09
KR102296734B1 (ko) 2021-09-01
US20160218116A1 (en) 2016-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101621635B1 (ko) 어레이 기판과 그 제조 방법 및 디스플레이 디바이스
US9502436B2 (en) Thin film transistor, array substrate and method for fabricating the same, and display device
CN106802519B (zh) 液晶显示装置及其制造方法
KR102241442B1 (ko) 박막트랜지스터 기판 및 그 제조 방법
US20170090229A1 (en) Semiconductor device, display device and method for manufacturing semiconductor device
US20130256668A1 (en) Array substrate and method of fabricating the same
US20170162708A1 (en) Tft substrates and the manufacturing methods thereof
US8324003B2 (en) Method for manufacturing a thin film transistor array panel
US9620609B2 (en) Thin film transistor display panel and method of manufacturing the same
US20170255044A1 (en) Tft substrates and the manufacturing methods thereof
KR102071008B1 (ko) 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법
JP6359650B2 (ja) アレイ基板、表示装置及びアレイ基板の製作方法
JPWO2012117695A1 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2020017558A (ja) 表示装置
KR20120048434A (ko) 박막 트랜지스터 액정표시장치 및 그 제조방법
US9570482B2 (en) Manufacturing method and manufacturing equipment of thin film transistor substrate
CN116565027A (zh) 制造薄膜晶体管的方法
US11152403B2 (en) Method for manufacturing array substrate, array substrate and display panel
US9741861B2 (en) Display device and method for manufacturing the same
KR20150104660A (ko) 표시장치 및 그 제조방법
US10002889B2 (en) Low-temperature polysilicon thin film transistor array substrate and method of fabricating the same, and display device
KR102296734B1 (ko) 표시 장치 및 그 제조 방법
US9035364B2 (en) Active device and fabricating method thereof
KR101810575B1 (ko) 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법
JP2019186301A (ja) 表示装置及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant