KR20160065082A - Holding pad - Google Patents

Holding pad Download PDF

Info

Publication number
KR20160065082A
KR20160065082A KR1020167005205A KR20167005205A KR20160065082A KR 20160065082 A KR20160065082 A KR 20160065082A KR 1020167005205 A KR1020167005205 A KR 1020167005205A KR 20167005205 A KR20167005205 A KR 20167005205A KR 20160065082 A KR20160065082 A KR 20160065082A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
resin sheet
resin
holding pad
holding
water repellent
Prior art date
Application number
KR1020167005205A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102225294B1 (en
Inventor
마사타카 다카기
다카히로 구메
도시아키 다나카
Original Assignee
후지보 홀딩스 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 후지보 홀딩스 가부시키가이샤 filed Critical 후지보 홀딩스 가부시키가이샤
Publication of KR20160065082A publication Critical patent/KR20160065082A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102225294B1 publication Critical patent/KR102225294B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02002Preparing wafers
    • H01L21/02005Preparing bulk and homogeneous wafers
    • H01L21/02008Multistep processes
    • H01L21/0201Specific process step
    • H01L21/02024Mirror polishing
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/11Lapping tools
    • B24B37/20Lapping pads for working plane surfaces
    • B24B37/24Lapping pads for working plane surfaces characterised by the composition or properties of the pad materials
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/27Work carriers
    • B24B37/30Work carriers for single side lapping of plane surfaces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/304Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/306Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
    • H01L21/30625With simultaneous mechanical treatment, e.g. mechanico-chemical polishing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

본 발명은 피연마물을 유지하기 위한 유지면을 갖는 폴리우레탄 수지 시트를 구비하는 유지 패드로서, 상기 폴리우레탄 수지 시트의 40℃에서의 저장 탄성률 E'은 0.3∼2.0 MPa이고, 또한, 상기 폴리우레탄 수지 시트의 흡수량이 95∼200 ㎎/50.3 ㎠인 유지 패드를 제공한다. The present invention relates to a holding pad comprising a polyurethane resin sheet having a holding surface for holding an object to be polished, wherein the polyurethane resin sheet has a storage elastic modulus E 'at 40 DEG C of 0.3 to 2.0 MPa, And the absorption amount of the resin sheet is 95 to 200 mg / 50.3 cm < 2 >.

Description

유지 패드{HOLDING PAD}Holding pad {HOLDING PAD}

본 발명은 유지 패드에 관한 것이다. The present invention relates to a holding pad.

종래, 반도체 웨이퍼, 반도체 디바이스용 실리콘 웨이퍼, 각종 기록용 디스크의 기판 및 액정 디스플레이용 유리 기판 등, 특히 유리 기판의 정밀 평면 연마를 행하는 경우, 연마 헤드에 접착된 유지 패드를, 피연마물에 대하여 물에 의해 흡착시킴으로써 피연마물을 유지시킨 후에, 연마 패드를 이용하여 연마 가공한다. 유지 패드는, 연속 기포를 갖는 폴리우레탄 수지 등의 탄성 재료로 이루어진 시트를 구비하고, 그 시트의 표면(유지면)의 미세한 기포가 흡반과 같은 역할을 하여 피연마물을 유지할 수 있다. 즉, 그 시트는 유지층으로서 기능하는 것이다. Conventionally, in the case of performing precision surface polishing of a semiconductor wafer, a silicon wafer for a semiconductor device, a substrate for various recording disks, a glass substrate for a liquid crystal display, and particularly a glass substrate, So that the object to be polished is polished by using a polishing pad. The holding pad has a sheet made of an elastic material such as a polyurethane resin having open cells, and fine bubbles on the surface (holding surface) of the sheet serve as a sucker, so that the object to be polished can be held. That is, the sheet functions as a holding layer.

그런데, 유지 패드는 연마 가공시에 연마액(연마 슬러리)에 노출되기 때문에, 유지 패드가 구비하는 유지층의 내부에 존재하는 연속 기포에까지 연마액이 침입하는 경우가 있다. 일단 연마액이 침입하면, 유지층을 구성하는 탄성 재료의 탄성이 소실되거나 유지층이 팽윤하거나 하여 안정된 유지가 어려워지고, 그 결과 연마 가공성이 저하된다. 이것을 예방하는 대책으로서, 예컨대 특허문헌 1에는, 불소계 발수제를 포함하는 유지 패드가 개시되어 있다. However, since the holding pad is exposed to the polishing liquid (polishing slurry) at the time of polishing, the polishing liquid sometimes penetrates into the open cells existing in the holding layer of the holding pad. Once the polishing liquid enters, the elasticity of the elastic material constituting the holding layer disappears or the holding layer swells, making it difficult to maintain the stable state, and as a result, the polishing performance is deteriorated. As a countermeasure for preventing this, for example, Patent Document 1 discloses a holding pad including a fluorine-based water repellent agent.

특허문헌 1 : 일본 특허 공개 평9-254027호 공보Patent Document 1: JP-A-9-254027

특허문헌 1에 기재되어 있는 바와 같은 발수제를 이용한 경우, 연마액이 유지층 내부에 침입하는 것을 억제할 수 있다. 그러나, 유지 패드를 피연마물에 흡착시키기 위해 물을 이용하여 유지층의 유지면을 습윤 상태로 할 때, 발수제가 존재하기 때문에 물과의 친화성이 저하되어, 물을 튀긴 개소에서 흡착 불량이 일어나기 쉬워진다. 한편, 그와 같은 흡착 불량을 방지하기 위해 발수제의 첨가량을 줄이면, 유지층 내에서 발수제의 분산 불균일이 발생하고, 발수가 약한 부분으로부터 물이 침입하는 결과, 연마 가공시에 유지층에서 국소적으로 표피 마모가 생겨 피연마물을 안정적으로 유지하는 것이 어려워진다. 여기서, 「표피 마모」란, 유지층이 침수 등에 의해 팽윤한 결과, 그 유지층의 유지면이 연마 패드의 연마면과 직접 접촉하여 깎이거나, 혹은, 피연마물의 모서리부와 접촉하는 유지면이 그 모서리부에 의해 깎이거나 하여 구멍이 생기는 것을 의미한다. 이것은, 유지층이 팽윤하여 연마 헤드로부터 박리되고, 부분적으로 휘는 것에 기인하는 것이다. When a water repellent agent as described in Patent Document 1 is used, invasion of the polishing liquid into the interior of the holding layer can be suppressed. However, when the holding surface of the holding layer is made wet by using water to adsorb the holding pad to the object to be polished, the affinity with water is lowered due to the presence of the water repellent agent, so that defective adsorption occurs at the water- It gets easier. On the other hand, if the addition amount of the water repellent agent is reduced in order to prevent such poor adhesion, dispersion of the water repellent agent in the oil retention layer occurs, and water invades from the water repellent part. As a result, It is difficult to stably maintain the object to be polished because the skin is worn. Here, the " epidermal wear " is a phenomenon in which the holding surface of the holding layer swells by direct contact with the polishing surface of the polishing pad as a result of the swelling of the holding layer by immersion or the like, or the holding surface contacting with the edge of the polishing subject It means that the edge is cut or formed by the edge portion. This is caused by the swelling of the holding layer, peeling from the polishing head, and partial bending.

본 발명은, 상기 과제를 감안하여 이루어진 것으로, 피연마물의 흡착 불량 및 표피 마모를 모두 억제할 수 있는 유지 패드를 제공하는 것을 목적으로 한다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a holding pad capable of suppressing both adhesion failure of a polished object and skin abrasion.

본 발명자들은, 상기 목적을 달성하기 위해 예의 연구를 거듭한 결과, 유지 패드가, 40℃에서의 저장 탄성률 E'이 적당히 낮고, 또한, 특정한 흡수량 측정에 의한 흡수량이 적당한 범위에 있는 시트를 유지층으로서 구비하면, 상기 목적을 달성할 수 있는 것을 발견하여 본 발명을 완성했다.The inventors of the present invention have conducted diligent studies in order to achieve the above object, and as a result, they have found that a sheet having a storage elastic modulus E 'at 40 ° C is suitably low and an absorption amount by a specific absorption amount measurement is in a suitable range, The present inventors have found that the above object can be achieved and have completed the present invention.

즉, 본 발명은 하기와 같다. That is, the present invention is as follows.

[1] 피연마물을 유지하기 위한 유지면을 갖는 폴리우레탄 수지 시트를 구비하는 유지 패드로서, 상기 폴리우레탄 수지 시트의 40℃에서의 저장 탄성률 E'가 0.3∼2.0 MPa이고, 또한, 상기 폴리우레탄 수지 시트의 흡수량이 95∼200 ㎎/50.3 ㎠인 유지 패드. [1] A holding pad comprising a polyurethane resin sheet having a holding surface for holding an object to be polished, wherein the polyurethane resin sheet has a storage elastic modulus E 'at a temperature of 40 ° C of 0.3 to 2.0 MPa, And the absorption amount of the resin sheet is 95 to 200 mg / 50.3 cm < 2 >.

[2] 상기 폴리우레탄 수지 시트의 40℃에서의 KEL이 1.0×105∼5.0×105 Pa-1인 상기 유지 패드. [2] The holding pad according to [1], wherein the polyurethane resin sheet has a KEL at 40 ° C of 1.0 × 10 5 to 5.0 × 10 5 Pa -1 .

[3] 상기 폴리우레탄 수지 시트를 구성하는 수지의 25℃에서의 100% 모듈러스가 4.0∼10.0 MPa인 상기 유지 패드. [3] The holding pad according to [3], wherein the 100% modulus of the resin constituting the polyurethane resin sheet at 25 ° C is 4.0 to 10.0 MPa.

[4] 상기 폴리우레탄 수지 시트는 발수제를 함유하는 것인 상기 유지 패드. [4] The holding pad, wherein the polyurethane resin sheet contains a water repellent agent.

[5] 상기 발수제는 탄소수가 6∼8인 퍼플루오로알킬기를 갖는 불소계 발수제를 포함하는 것인 상기 유지 패드. [5] The holding pad according to any one of [1] to [5], wherein the water repellent agent comprises a fluorinated water repellent having a perfluoroalkyl group having 6 to 8 carbon atoms.

[6] 상기 폴리우레탄 수지 시트에 포함되는 상기 불소계 발수제의 60∼100 몰%가, 탄소수 6의 퍼플루오로알킬기를 갖는 불소계 발수제인 상기 유지 패드. [6] The holding pad, wherein 60 to 100 mol% of the fluorine-based water repellent agent contained in the polyurethane resin sheet is a fluorine-based water repellent agent having a perfluoroalkyl group having 6 carbon atoms.

본 발명에 의하면, 피연마물의 흡착 불량 및 표피 마모를 모두 억제할 수 있는 유지 패드를 제공할 수 있다. According to the present invention, it is possible to provide a holding pad capable of suppressing both adhesion failure of a polished object and skin abrasion.

도 1은 본 발명에 따른 유지 패드의 일례를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 2는 본 발명에 따른 흡착량의 측정에 이용하는 기구를 모식적으로 나타내는 투시도이다.
1 is a cross-sectional view schematically showing an example of a holding pad according to the present invention.
Fig. 2 is a perspective view schematically showing a mechanism used for measurement of adsorption amount according to the present invention. Fig.

이하, 필요에 따라서 도면을 참조하면서, 본 발명을 실시하기 위한 형태(이하, 단순히 「본 실시형태」라고 함)에 관해 상세히 설명하지만, 본 발명은 하기 본 실시형태에 한정되는 것은 아니다. 본 발명은, 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 여러가지 변형이 가능하다. 또, 도면 중 동일 요소에는 동일 부호를 부여하는 것으로 하고, 중복 설명은 생략한다. 또한, 상하좌우 등의 위치 관계는, 특별히 언급하지 않는 한 도면에 나타내는 위치 관계에 기초하는 것으로 한다. 또한, 도면의 치수 비율은 도시한 비율에 한정되는 것은 아니다. Hereinafter, a mode for carrying out the present invention (hereinafter simply referred to as " present embodiment ") will be described in detail with reference to the drawings as necessary, but the present invention is not limited to the following embodiment. The present invention can be modified in various ways without departing from the gist of the invention. In the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. In addition, the positional relationships of the up, down, left, and right are based on the positional relationships shown in the drawings unless otherwise specified. In addition, the dimensional ratio in the drawings is not limited to the illustrated ratio.

본 실시형태의 유지 패드는, 피연마물을 유지하기 위한 유지면을 갖는 폴리우레탄 수지 시트를 구비하는 유지 패드로서, 폴리우레탄 수지 시트의 40℃에서의 저장 탄성률 E'가 0.3∼2.0 MPa이고, 또한, 폴리우레탄 수지 시트의 흡수량이 95∼200 ㎎/50.3 ㎠이다. The holding pad of the present embodiment is a holding pad comprising a polyurethane resin sheet having a holding surface for holding an object to be polished, wherein the polyurethane resin sheet has a storage elastic modulus E 'at 40 캜 of 0.3 to 2.0 MPa, , And the absorption amount of the polyurethane resin sheet is 95 to 200 mg / 50.3 cm < 2 >.

도 1은, 본 실시형태에 따른 유지 패드의 일례를 나타내는 모식 단면도이다. 유지 패드(110)는, 폴리우레탄 수지 시트(이하, 단순히 「수지 시트」라고 함)(112)와 기재(114)를 이 순으로 적층하여 포함한다. 수지 시트(112)와 기재(114)는 서로 접합되어 있고, 이 예에서는, 수지 시트(112)와 기재(114)는 접착층(116)을 통해 접합되어 있다. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of a holding pad according to the present embodiment. The holding pad 110 includes a polyurethane resin sheet (hereinafter simply referred to as a " resin sheet ") 112 and a substrate 114 laminated in this order. The resin sheet 112 and the base material 114 are bonded to each other. In this example, the resin sheet 112 and the base material 114 are bonded to each other through the adhesive layer 116.

유지 패드(110)에 포함되는 수지 시트(112)는, 폴리우레탄 수지를 함유하고, 피연마물을 유지하기 위한 유지면(P)을 갖는 유지층으로서 기능한다. 수지 시트(112)의 저장 탄성률 E'은 40℃에서 0.3∼2.0 MPa이다. 40℃에서의 저장 탄성률 E'가 0.3 MPa 이상인 것에 의해, 연마 가공에 있어서 수지 시트(112)에 표피 마모가 생기기 어려워진다. 한편, 40℃에서의 저장 탄성률 E'이 2.0 MPa 이하인 것에 의해, 수지 시트(112)의 피연마물에 대한 흡착력이 높아져, 흡착 불량을 일으키기 어려워진다. 동일한 관점에서, 수지 시트(112)의 저장 탄성률 E'은, 40℃에서 0.4∼1.5 MPa이면 바람직하고, 0.5∼1.0 MPa이면 보다 바람직하고, 0.5∼0.7 MPa이면 더욱 바람직하다. The resin sheet 112 contained in the holding pad 110 contains a polyurethane resin and functions as a holding layer having a holding surface P for holding the object to be polished. The storage elastic modulus E 'of the resin sheet 112 is 0.3 to 2.0 MPa at 40 占 폚. When the storage elastic modulus E 'at 40 캜 is 0.3 MPa or more, it is difficult for the epidermis wear to occur in the resin sheet 112 in the polishing process. On the other hand, when the storage elastic modulus E 'at 40 ° C is 2.0 MPa or less, the adsorption force of the resin sheet 112 to the object to be polished is increased, and the adsorption failure is less likely to occur. From the same viewpoint, the storage elastic modulus E 'of the resin sheet 112 is preferably 0.4 to 1.5 MPa at 40 캜, more preferably 0.5 to 1.0 MPa, and even more preferably 0.5 to 0.7 MPa.

(저장 탄성률 E'의 측정 방법)(Method of measuring storage elastic modulus E ') [

본 명세서에 있어서, 수지 시트의 저장 탄성률 E'은, 동적 점탄성 측정 장치(예컨대, 티ㆍ에이ㆍ인스트루먼트ㆍ재팬사 제조 상품명 「RSA III」)를 이용하여 하기 조건으로 2장 측정되며, 그 상가평균으로 한다. In the present specification, the storage elastic modulus E 'of the resin sheet is measured by using a dynamic viscoelasticity measuring apparatus (for example, "RSA III" manufactured by T.A. Instrument Co., Ltd., Japan) under the following conditions, .

[측정 조건][Measuring conditions]

ㆍ시료 치수 : 10 mm×10 mm×두께 0.8 mm×3장 겹침 Sample size: 10 mm × 10 mm × thickness 0.8 mm × 3 sheets

ㆍ시험 방향 : 압축 모드ㆍ Test direction: Compression mode

ㆍ하중 : 100 g/㎠Load: 100 g / cm < 2 >

ㆍ왜곡 : 0.10%ㆍ Distortion: 0.10%

ㆍ주파수 : 1 Hzㆍ Frequency: 1 Hz

ㆍ온도 범위 : 20∼80℃, 승온 속도 : 5℃/minㆍ Temperature range: 20 ~ 80 ℃, Temperature rise rate: 5 ℃ / min

ㆍ시료 두께 : 두께 측정기로 측정ㆍ Sample thickness: Measured by thickness meter

ㆍ두께가 상이한 시료의 경우는 2 mm~3 mm의 범위가 되도록 겹쳐서 측정한다. • For samples with different thicknesses, measure them in a stack of 2 mm to 3 mm.

수지 시트(112)의 흡수량은 95∼200 ㎎/50.3 ㎠이다. 이 흡수량이 95 ㎎/50.3 ㎠ 이상인 것에 의해, 수지 시트(112)의 피연마물에 대한 흡착력이 높아져, 흡착 불량을 일으키기 어려워진다. 한편, 흡착량이 200 ㎎/50.3 ㎠ 이하인 것에 의해, 연마 가공에 있어서 수지 시트(112)에 표피 마모가 생기기 어려워진다. 동일한 관점에서, 수지 시트(112)의 흡수량은, 100∼160 ㎎/50.3 ㎠이면 바람직하고, 107∼150 ㎎/50.3 ㎠이면 보다 바람직하고, 110∼130 ㎎/50.3 ㎠이면 더욱 바람직하다. The amount of absorption of the resin sheet 112 is 95 to 200 mg / 50.3 cm2. When the absorption amount is 95 mg / 50.3 cm 2 or more, the adsorption force of the resin sheet 112 to the object to be smoked becomes high, and the adsorption failure is hardly caused. On the other hand, when the adsorption amount is 200 mg / 50.3 cm 2 or less, the skin sheet 112 is hardly worn by the epidermis in the polishing process. From the same viewpoint, the amount of absorption of the resin sheet 112 is preferably 100 to 160 mg / 50.3 cm 2, more preferably 107 to 150 mg / 50.3 cm 2, and even more preferably 110 to 130 mg / 50.3 cm 2.

(흡수량의 측정 방법)(Method of measuring absorption amount)

수지 시트(112)의 흡수량은 하기와 같이 하여 측정된다. 도 2는, 수지 시트의 흡수량을 측정하는 데 이용되는 기구를 모식적으로 나타내는 투시도이다. 우선, 측정 대상인 시료(10)가 되는 직경 φ125 mm의 유지 패드(110), 및 염화비닐제의 맞대기 용접식 플랜지(20) 및 동일하게 염화비닐제의 판플랜지(30)(모두 JIS 10K-80A)를 준비한다. 플랜지(20, 30)는 내경 φ이 80 mm(단면적이 50.3 ㎠)이다. 다음으로, 시료(10)를 40℃의 건조기 내에서 10시간 이상 건조시킨다. 이후, 실온 20℃, 상대 습도 50%의 대기 분위기 중에서 작업을 행한다. 이어서, 시료(10)를 대기 분위기하에서 실온까지 자연 냉각시켜, 전자 천칭으로 그 질량을 측정한다. 다음으로, 도 2에 도시한 바와 같이, 시료(10)를, 그 유지면(P)을 맞대기 용접식 플랜지(20)측으로 하여, 맞대기 용접식 플랜지(20) 및 판플랜지(30) 사이에 두고 상하로부터 체결함으로써 고정한다. 이어서, 맞대기 용접식 플랜지(20)의 관 내에 20℃의 이온 교환수(W)를 300 mL 주입한다(이 때의 시료(10)의 유지면(P)으로부터의 수면의 높이는 약 60 mm가 된다.). 주입후 이들을 8시간 정치한 후에, 시료(10)를 고정으로부터 개방하여 꺼내고, 여과지에 의해 표면의 수분을 흡수한다. 이 때, 여과지를 시료(10)에 누르지 않고, 시료(10)의 표면을 어루만지듯이 하여 수분을 흡수한다. 그 후, 신속하게 시료(10)의 질량을 측정한다. 이온 교환수(W)를 주입하여 정치하는 전후에 있어서의 시료(10)의 질량차를, 수지 시트(112)의 흡수량으로 한다. The amount of absorption of the resin sheet 112 is measured as follows. 2 is a perspective view schematically showing a mechanism used for measuring the amount of absorption of a resin sheet. First, a holding pad 110 having a diameter of 125 mm and serving as a sample 10 to be measured and a butt welded flange 20 made of vinyl chloride and a plate flange 30 made of vinyl chloride (both of which are JIS 10K-80A ). The flanges 20 and 30 have an inner diameter? Of 80 mm (cross-sectional area of 50.3 cm2). Next, the sample 10 is dried in a drier at 40 DEG C for 10 hours or more. Thereafter, the operation is performed in an atmospheric environment at a room temperature of 20 DEG C and a relative humidity of 50%. Subsequently, the sample 10 is naturally cooled to room temperature in an atmospheric atmosphere, and its mass is measured by an electronic balance. Next, as shown in Fig. 2, the sample 10 is placed between the butt weld flange 20 and the plate flange 30 with its holding surface P as the butt welded flange 20 side And fastened from above and below. Subsequently, 300 mL of ion-exchanged water (W) at 20 캜 is injected into the tube of the butt welded flange 20 (the height of the water surface from the holding surface P of the sample 10 at this time is about 60 mm .). After the injection, they are allowed to stand for 8 hours, then the sample 10 is opened from the fixation, and the surface moisture is absorbed by the filter paper. At this time, water is absorbed by pressing the surface of the sample 10 without pressing the filter paper 10 against the sample 10. Then, the mass of the sample 10 is measured quickly. The mass difference of the sample 10 before and after the ion exchange water W is injected and set is taken as the absorption amount of the resin sheet 112.

본 실시형태에 따른 수지 시트(112)가 전술한 범위의 저장 탄성률 E' 및 흡수량을 갖도록 제어하는 방법으로는, 예컨대 수지 시트(112)를 구성하는 수지의 25℃에서의 100% 모듈러스, 40℃에서의 KEL, 수지의 종류, 발수제의 첨가, 그 발수제의 종류 및 첨가량, 수지 시트(112)의 두께, 밀도 및 수지 시트(112)의 스킨층과는 반대측인 이면의 버프 가공량을 조정하는 방법을 들 수 있다. As a method for controlling the resin sheet 112 according to the present embodiment to have the storage elastic modulus E 'and the absorption amount in the above-mentioned range, for example, a method of controlling the resin constituting the resin sheet 112 at 100% modulus at 25 DEG C, The kind of the water repellent agent, the type and amount of the water repellent agent, the thickness and the density of the resin sheet 112, and the amount of the back side of the resin sheet 112 opposite to the skin layer .

수지 시트(112)를 구성하는 수지의 25℃에서의 100% 모듈러스는, 4.0∼10.0 MPa이면 바람직하고, 5.0∼9.0 MPa이면 보다 바람직하고, 5.0∼7.0 MPa이면 더욱 바람직하다. 이 100% 모듈러스가 4.0 MPa 이상인 것에 의해, 수지 시트(112)의 저장 탄성률 E'이 0.3 MPa 이상이 되기 쉬워지고, 10.0 MPa 이하인 것에 의해, 수지 시트(112)의 저장 탄성률 E'이 2.0 MPa 이하가 되기 쉬워진다. 또, 본 명세서에 있어서, 100% 모듈러스는, 실온 23±2℃의 환경하에서 수지 시트(112)와 동일한 재료를 이용한 무발포의 수지 시트(시험편)를 100% 늘렸을 때, 즉 원래 길이의 2배로 늘렸을 때의 인장력을 시험편의 초기 단면적으로 나눈 값이다. The 100% modulus of the resin constituting the resin sheet 112 at 25 캜 is preferably 4.0 to 10.0 MPa, more preferably 5.0 to 9.0 MPa, and even more preferably 5.0 to 7.0 MPa. When the 100% modulus is 4.0 MPa or more, the storage elastic modulus E 'of the resin sheet 112 tends to be 0.3 MPa or more, and the storage elastic modulus E' of the resin sheet 112 is 2.0 MPa or less . In the present specification, the 100% modulus is a value obtained when the non-foamed resin sheet (test piece) using the same material as the resin sheet 112 is increased by 100% under the environment of room temperature 23 ± 2 ° C, The tensile strength at doubling is divided by the initial cross-sectional area of the specimen.

수지 시트(112)의 40℃에서의 KEL은, 1.0×105∼5.0×105 Pa-1이면 바람직하고, 1.5×105∼4.0×105 Pa-1이면 보다 바람직하고, 2.0×105∼3.0×105 Pa-1이면 더욱 바람직하다. 이 KEL이 1.0×105 Pa-1 이상인 것에 의해, 수지 시트(112)가 변형되기 쉬워지고, 피연마물의 유지성 및 흡착성을 높일 수 있다. 또한, 연마 가공시에 피연마물의 면내 방향으로의 어긋남이 생기기 어려워진다. 한편, KEL이 5.0×105 Pa-1 이하인 것에 의해, 수지 시트(112)의 변형량을 적게 하여(즉, 연마 가공시의 수지 시트(112)의 유실량을 저감하여) 표피 마모의 발생을 보다 억제할 수 있고, 유지 패드(110)의 수명을 보다 길게 할 수 있다. KEL at 40 ℃ of resin sheets 112, 1.0 × 10 5 ~5.0 × 10 5 Pa -1 , and is, 1.5 × 10 5 ~4.0 × 10 5 Pa -1 , and more preferred is, 2.0 × 10 5 preferably To 3.0 x 10 < 5 > Pa < -1 & gt ;. When the KEL is 1.0 x 10 < 5 > Pa < -1 > or more, the resin sheet 112 is easily deformed, and the retention and adsorption of the polished product can be enhanced. In addition, deviation in the in-plane direction of the object to be polished hardly occurs at the time of polishing. On the other hand, when the KEL is 5.0 × 10 5 Pa -1 or less, the amount of deformation of the resin sheet 112 is reduced (ie, the amount of resin sheet 112 lost during polishing is reduced) And the life of the holding pad 110 can be made longer.

(KEL의 산출 방법)(Calculation method of KEL)

본 명세서에 있어서, KEL(에너지 손실 인자)은, 상기 「저장 탄성률 E'의 측정 방법」과 동일한 조건으로 측정된 40℃의 저장 탄성률 E' 및 손실 탄성률 E"로부터, 하기 식(1a) 및 (1b)에 의해 산출된다. In the present specification, the KEL (energy loss factor) is calculated from the storage elastic modulus E 'and the loss elastic modulus E "at 40 ° C measured under the same conditions as the" method of measuring the storage elastic modulus E' 1b.

KEL=tanδ×1012/(E'×(1+tanδ2)) (1a) KEL = tan? 10 12 / (E '(1 + tan? 2 )) (1a)

tanδ=E"/E' (1b)tan? = E "/ E ' (1b)

본 실시형태에 따른 수지 시트(112)의 밀도(부피 밀도)는, 25℃에서 0.15∼0.30 g/㎠이면 바람직하다. 이 밀도가 0.15 g/㎠ 이상인 것에 의해, 수지 시트(112)의 영구 왜곡이 생기기 어려워지고, 또한 0.30 g/㎠ 이하인 것에 의해, 수지 시트(112) 전체에 걸쳐 피연마물을 보다 균일하게 유지하기 쉬워진다. 이러한 결과, 수지 시트(112)의 밀도가 상기 범위에 있는 것에 의해, 연마 가공시에 피연마물이 유지 패드(110)에 대하여 면내 방향으로 어긋나거나, 연마 가공시의 연마 불균일이 발생하거나 하는 것을 더욱 억제할 수 있다. The density (bulk density) of the resin sheet 112 according to the present embodiment is preferably 0.15 to 0.30 g / cm < 2 > at 25 deg. When the density is 0.15 g / cm 2 or more, permanent distortion of the resin sheet 112 hardly occurs, and when the density is 0.30 g / cm 2 or less, it is easy to keep the object to be smoothed more uniformly throughout the resin sheet 112 Loses. As a result, when the density of the resin sheet 112 is in the above-mentioned range, it is more preferable that the object to be polished is shifted in the in-plane direction with respect to the holding pad 110 at the time of polishing or unevenness in polishing occurs during polishing .

수지 시트(112)의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 예컨대 0.2∼1.5 mm이어도 좋고, 0.6∼1.2 mm이어도 좋다. 또, 수지 시트(112)의 두께는, JIS K 6550(1994)에 기재된 측정 방법에 준거하여 측정된다. 즉, 수지 시트(112)의 두께 방향으로 초하중으로서 1 ㎠당 100 g의 하중을 가했을(부하했을) 때의 두께이다. The thickness of the resin sheet 112 is not particularly limited, but may be, for example, 0.2 to 1.5 mm or 0.6 to 1.2 mm. The thickness of the resin sheet 112 is measured in accordance with the measuring method described in JIS K 6550 (1994). That is, it is the thickness when a load of 100 g per 1 cm 2 is applied (loaded) as the initial load in the thickness direction of the resin sheet 112.

수지 시트(112)는, 수지 등의 매트릭스를 구성하는 재료(이하, 「매트릭스 재료」라고 함) 중에 복수의 기포(도시하지 않음)를 갖는 것이며, 소위 습식 성막법에 의해 형성된 것이어도 좋고, 건식 성형법에 의해 형성된 것이어도 좋지만, 본 발명의 목적을 보다 유효하고 확실하게 달성하는 관점에서, 바람직하게는 습식 성막법에 의해 형성된 것이다. 수지 시트(112)가 습식 성막법에 의해 형성된 것인 경우, 유지면(P)측에 도시하지 않은 치밀한 미다공이 형성된 스킨층을 갖고 있어도 좋다. 스킨층의 표면은 미세한 평탄성을 갖고 있다. 한편, 스킨층의 보다 내측(수지 시트(112)의 내부)에는, 스킨층의 미다공보다 큰 구멍 직경이며 수지 시트(112)의 두께 방향을 따라서 라운딩을 띤 단면이 삼각형인 보이드(연속 기포; 도시하지 않음)가 형성되어 있어도 좋다. 그 보이드는, 유지면(P)측의 크기가, 유지면(P)과 반대의 면측보다 작게 형성되어 있어도 좋다. 수지 시트(112)에는, 스킨층의 미다공보다 크고 보이드보다 작은 사이즈의 구멍(도시하지 않음)이 형성되어 있어도 좋다. 스킨층의 미다공, 보이드 및 작은 사이즈의 구멍은 서로 연통 구멍이며 메쉬형으로 연결되어 있어도 좋다. The resin sheet 112 has a plurality of bubbles (not shown) in a material constituting a matrix such as a resin (hereinafter referred to as " matrix material ") and may be formed by a wet film- May be formed by a molding method, but it is preferably formed by a wet film forming method from the viewpoint of achieving the object of the present invention more effectively and reliably. When the resin sheet 112 is formed by the wet film forming method, it may have a skin layer on the side of the holding surface P where fine micropores not shown are formed. The surface of the skin layer has a fine flatness. On the other hand, on the inner side of the skin layer (the inside of the resin sheet 112), a void having a triangular cross-section with a hole diameter larger than the micropores of the skin layer and rounded along the thickness direction of the resin sheet 112 (open cell; (Not shown) may be formed. The void may be formed so that the size on the holding surface (P) side is smaller than the size on the side opposite to the holding surface (P). The resin sheet 112 may have holes (not shown) having a size larger than the micropores of the skin layer and smaller than the voids. The micropores, voids and small-size holes of the skin layer may be connected to each other through a communication hole and mesh-like.

수지 시트(112)를 구성하는 매트릭스 재료는, 폴리우레탄 수지를 가장 많이 포함하는 조성이라면 특별히 한정되지 않고, 예컨대 수지 시트(112)는, 그 매트릭스 재료의 전체량에 대하여 폴리우레탄 수지를 80∼100 질량% 포함하는 것이어도 좋다. 수지 시트(112)는, 그 전체량에 대하여 폴리우레탄 수지를 보다 바람직하게는 85∼100 질량% 포함하고, 더욱 바람직하게는 90∼100 질량% 포함하고, 특히 바람직하게는 90∼95 질량% 포함한다. The matrix material constituting the resin sheet 112 is not particularly limited as long as it is a composition containing most of the polyurethane resin. For example, the resin sheet 112 may have a polyurethane resin in an amount of 80 to 100 % By mass. More preferably, the resin sheet 112 contains 85 to 100 mass%, more preferably 90 to 100 mass%, and particularly preferably 90 to 95 mass% of a polyurethane resin based on the total amount thereof do.

폴리우레탄 수지로는, 예컨대 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지, 폴리에테르계 폴리우레탄 수지 및 폴리카보네이트계 폴리우레탄 수지를 들 수 있고, 이들은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용된다. 이들 중에서는, 본 발명의 목적을 보다 유효하고 확실하게 나타내는 관점에서, 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지가 바람직하다. As the polyurethane resin, for example, a polyester-based polyurethane resin, a polyether-based polyurethane resin and a polycarbonate-based polyurethane resin can be cited. These resins are used singly or in combination of two or more. Of these, polyester-based polyurethane resins are preferable from the viewpoint of more effectively and reliably showing the object of the present invention.

폴리우레탄 수지는, 통상의 방법으로 합성해도 좋고, 시판품을 입수해도 좋다. 시판품으로는, 예컨대 크리스본(DIC(주)사 제조 상품명), 산프렌(산요화성공업(주)사 제조 상품명), 레자민(다이니치정화공업(주)사 제조 상품명)을 들 수 있다. 폴리우레탄 수지는 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용된다. The polyurethane resin may be synthesized by a conventional method, or a commercially available product may be obtained. Commercially available products include, for example, Chrisborn (trade name by DIC Corporation), Sanfren (trade name by Sanyo Chemical Industries, Ltd.), and Rezamin (trade name by Dainichi Chemical Industry Co., Ltd.). The polyurethane resin may be used singly or in combination of two or more.

수지 시트(112)는, 폴리우레탄 수지 이외에, 폴리술폰 수지 및/또는 폴리이미드 수지 등의 다른 수지를 포함해도 좋다. 폴리술폰 수지는, 통상의 방법으로 합성해도 좋고, 시판품을 입수해도 좋다. 시판품으로는, 예컨대 유델(솔베이어드밴스드폴리머즈(주)사 제조 상품명)을 들 수 있다. 폴리이미드 수지는, 통상의 방법으로 합성해도 좋고, 시판품을 입수해도 좋다. 시판품으로는, 예컨대 오람(미쓰이화학(주)사 제조 상품명)을 들 수 있다. The resin sheet 112 may contain other resins such as a polysulfone resin and / or a polyimide resin in addition to the polyurethane resin. The polysulfone resin may be synthesized by a usual method or a commercially available product may be obtained. Commercially available products include, for example, Yudel (trade name, manufactured by Solvay Advanced Polymers Co., Ltd.). The polyimide resin may be synthesized by a conventional method, or a commercially available product may be obtained. Commercially available products include, for example, olam (trade name, manufactured by Mitsui Chemicals).

수지 시트(112)는, 매트릭스 재료 이외에 발수제를 함유하면 바람직하다. 발수제로는, 예컨대 불소계 발수제, 실리콘계 발수제 및 탄화수소계 발수제를 들 수 있다. 이들 중에서도, 본 발명의 목적을 보다 유효하고 확실하게 달성하는 관점에서, 불소계 발수제가 바람직하다. 발수제는 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용된다. The resin sheet 112 preferably contains a water repellent agent in addition to the matrix material. Examples of the water repellent agent include a fluorine-based water repellent agent, a silicone-based water repellent agent, and a hydrocarbon-based water repellent agent. Among these, a fluorine-based water repellent agent is preferable from the viewpoint of achieving the object of the present invention more effectively and reliably. The water repellent agent may be used alone or in combination of two or more.

불소계 발수제로는, 예컨대 퍼플루오로알킬기를 갖는 화합물(불소계 발수제)을 들 수 있고, 바람직하게는, 하기 식(2)로 표시되는 불소 텔로머를 들 수 있다. Examples of the fluorine-based water repellent agent include a compound having a perfluoroalkyl group (a fluorine-based water repellent agent), and a fluorine telomer represented by the following formula (2) is preferably used.

Rf-R-X (2)Rf-R-X (2)

여기서, Rf는 퍼플루오로알킬기를 나타내며, 그 탄소수는 3∼8이고, 바람직하게는 4∼8이고, 보다 바람직하게는 6∼8이고, 특히 바람직하게는 6이다. 또한, R은 알킬렌기를 나타내며, 그 탄소수는 2∼6이고, 바람직하게는 2∼4이고, 특히 바람직하게는 2이다. X는 작용기를 나타내고, 예컨대 수산기, CH2=CHC(=O)CO-, H(OCH2CH2)xO-, YSO3-[Y는 수소 원자 또는 NH4를 나타낸다.] 등을 들 수 있고, 바람직하게는 수산기이다. 또한, 퍼플루오로알킬기를 갖는 화합물로서, 수지를 퍼플루오로알킬기로 변성한 화합물도 들 수 있다. 수지로는, 수지 시트에 대한 분산성 및 시간 경과 안정성을 향상시키는 관점에서, 유지 패드의 수지 시트를 구성할 수 있는 수지, 예컨대 폴리우레탄 수지를 들 수 있고, 변성 방법으로는, 예컨대 수지의 말단 및/또는 측쇄에 퍼플루오로알킬기를 도입하는 방법을 들 수 있다. 퍼플루오로알킬기를 갖는 화합물은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용된다. Here, Rf represents a perfluoroalkyl group, and the number of carbon atoms thereof is 3 to 8, preferably 4 to 8, more preferably 6 to 8, and particularly preferably 6. R represents an alkylene group having 2 to 6 carbon atoms, preferably 2 to 4 carbon atoms, and particularly preferably 2 carbon atoms. X represents a functional group, and examples thereof include a hydroxyl group, CH 2 ═CHC (═O) CO-, H (OCH 2 CH 2 ) x O-, YSO 3 - [Y represents a hydrogen atom or NH 4 ] And is preferably a hydroxyl group. As the compound having a perfluoroalkyl group, a compound obtained by modifying a resin with a perfluoroalkyl group is also exemplified. As the resin, a resin capable of forming a resin sheet of the holding pad, for example, a polyurethane resin can be mentioned from the viewpoint of improving the dispersibility and the time-lapse stability of the resin sheet. As a modification method, for example, And / or introducing a perfluoroalkyl group into the side chain. The compounds having a perfluoroalkyl group may be used singly or in combination of two or more.

불소 텔로머 중에서도, 본 발명의 목적을 보다 유효하고 확실하게 달성하는 관점에서, Rf의 탄소수가 6인 것이 바람직하고, 또한 R의 탄소수가 2인 것이 바람직하다. 또한, 수지 시트에 대한 분산성 및 시간 경과 안정성을 고려하면, 수지를 퍼플루오로알킬기로 변성한 화합물로서, 불소 텔로머를 그 수지에 도입한 화합물, 예컨대 상기 식(2) 중의 Rf-R-로 표시되는 기를 갖는 수지가 바람직하고, 상기 식(2) 중의 Rf-R-로 표시되는 기를 갖는 폴리우레탄 수지가 보다 바람직하다. 그와 같은 수지로는, 예컨대 국제 공개 제2012/172936호에 기재된 폴리우레탄 수지를 들 수 있다. Of the fluoroteromers, the number of carbon atoms of Rf is preferably 6, and the number of carbon atoms of R is preferably 2 from the viewpoint of achieving the object of the present invention more effectively and securely. In consideration of the dispersibility and the time-course stability of the resin sheet, it is also possible to use a compound obtained by modifying the resin with a perfluoroalkyl group and introducing a fluoroteromer into the resin, for example, a compound having Rf-R- Is preferable, and a polyurethane resin having a group represented by Rf-R- in the above formula (2) is more preferable. Examples of such resins include the polyurethane resins described in International Publication No. 2012/172936.

불소 텔로머는 통상의 방법으로 합성해도 좋고, 시판품을 입수해도 좋다. 시판품으로는, 예컨대 크리스본 어시스터 SD 시리즈(DIC 주식회사 제조 상품명), 아사히가드 E 시리즈(AGC 세이미케미컬 주식회사 제조 상품명), NK 가드 S 시리즈(닛카화학 주식회사 제조 상품명), 유니다인멀티시리즈(다이킨공업 주식회사 제조 상품명) 등을 들 수 있다. 불소 텔로머는 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용된다. The fluoroteromer may be synthesized by a conventional method, or a commercially available product may be obtained. As commercially available products, there are commercially available products such as, for example, Chrisborn Sister SD series (manufactured by DIC Corporation), Asahi Guard E series (trade name, manufactured by AGC Seiyaku Chemical Co., Ltd.), NK Guard S series Trade name, manufactured by Kin Kogyo Co., Ltd.). The fluoroteromers may be used singly or in combination of two or more.

수지 시트(112)에서의 발수제의 함유량은, 수지 시트(112)를 구성하는 수지 30 질량부에 대하여, 2∼14 질량부이면 바람직하고, 3∼13 질량부이면 보다 바람직하다. 발수제의 함유량이 수지 30 질량부에 대하여 2 질량부 이상인 것에 의해, 흡수량이 200 ㎎/50.3 ㎠ 이하가 되기 쉬워지고, 또한 발수제의 국재화를 방지할 수 있기 때문에 국소적인 표피 마모를 억제하는 것도 가능해진다. 또한, 발수제의 함유량이 수지 30 질량부에 대하여 14 질량부 이하인 것에 의해, 흡수량이 95 ㎎/50.3 ㎠ 이상이 되기 쉬워진다. 또한, 후술하는 유지 패드(110)의 제조 방법에 있어서, 응고 재생 공정을 거쳐 수지 시트(112)를 제작하는 경우이자, 응고 재생 공정보다 전단계에서 수지 용액에 발수제를 포함하는 경우는, 응고 불균일이 생기기 어려워지고, 그 결과 수지 시트(112)의 성막 불균일을 보다 억제할 수 있다. The content of the water repellent agent in the resin sheet 112 is preferably 2 to 14 parts by mass, more preferably 3 to 13 parts by mass, relative to 30 parts by mass of the resin constituting the resin sheet 112. When the content of the water repellent agent is 2 parts by mass or more based on 30 parts by mass of the resin, the amount of water absorption tends to be 200 mg / 50.3 cm 2 or less, and localization of the water repellent agent can be prevented, It becomes. Further, when the content of the water repellent agent is 14 parts by mass or less based on 30 parts by mass of the resin, the amount of water absorption tends to be 95 mg / 50.3 cm 2 or more. In the case of producing the resin sheet 112 through the coagulation regeneration step in the manufacturing method of the holding pad 110, which will be described later, and when a water repellent agent is contained in the resin solution in the former stage prior to the coagulation regeneration step, And as a result, the unevenness of the film formation of the resin sheet 112 can be further suppressed.

또한, 발수제로서 불소 텔로머와 같은 불소계 발수제를 이용하고, 그 불소계 발수제가 탄소수 6의 Rf를 갖는 불소계 발수제를 포함하는 경우, 수지 시트(112)에 포함되는 불소계 발수제의 60∼100 몰%가, 탄소수 6의 Rf를 갖는 불소계 발수제이면 바람직하다. 이것은, 탄소수가 6 초과인 Rf를 갖는 불소 텔로머와 같은 불소 원자를 많이 포함하는 화합물이나, 탄소수가 6 미만인 Rf를 갖는 불소 텔로머와 같은 불소 원자를 적게 포함하는 화합물을 제한하게 된다. 이에 따라, 불소 원자를 많이 포함하는 화합물의 함유량을 저감하여 흡수량의 저하 및 흡착 불량을 보다 유효하게 억제할 수 있고, 또한, 불소 원자를 적게 포함하는 화합물의 함유량을 저감하여 적당한 발수성을 보다 유효하게 확보할 수 있다. When the fluorine-based water repellent agent such as fluorine-based water repellent is used as the water repellent agent and the fluorine-based water repellent agent having the Rf carbon number of 6 is contained, 60 to 100 mol% of the fluorine-based water repellent agent contained in the resin sheet 112, Based water repellent having Rf of carbon number 6 is preferable. This limits a compound containing a small amount of fluorine atoms, such as a compound containing a large amount of fluorine atoms such as a fluorine telomer having Rf having a carbon number of more than 6, or a fluorine telomer having an Rf having a carbon number of less than 6. As a result, the content of the compound containing a large amount of fluorine atoms can be reduced, whereby the decrease in the amount of water absorption and the defective adsorption can be suppressed more effectively, the content of the compound containing less fluorine atoms can be reduced, .

수지 시트(112)는, 수지 및 임의의 발수제 이외에, 본 발명의 과제 해결을 저해하지 않는 범위에서, 유지 패드의 수지 시트에 통상 이용되는 재료, 예컨대 카본 블랙 등의 안료, 친수성 첨가제 및 소수성 첨가제의 1종 또는 2종 이상을 포함해도 좋다. 나아가, 수지 시트(112)에는, 수지 시트(112)의 제조 과정에서 이용된 용매 등의 각종 재료가, 본 발명의 과제 해결을 저해하지 않는 범위에서 잔존해 있어도 좋다. In addition to the resin and optional water repellent agent, the resin sheet 112 may be formed of a material commonly used for a resin sheet of a holding pad such as a pigment such as carbon black, a hydrophilic additive and a hydrophobic additive One or two or more of them may be included. Further, various materials such as a solvent used in the manufacturing process of the resin sheet 112 may remain in the resin sheet 112 within a range that does not hinder the problem of the present invention.

수지 시트(112)의 유지면(P)에는 미세 기공이 존재하고 있어도 좋다. 미세 기공은, 예컨대 수지 시트(112)의 성막시에, 유지면(스킨층)에 미세 기공을 형성시키는 첨가제를 첨가함으로써 형성할 수 있다. Fine pores may be present on the holding surface P of the resin sheet 112. [ The fine pores can be formed, for example, by adding an additive for forming micropores to the holding surface (skin layer) at the time of forming the resin sheet 112.

유지 패드(110)에 구비되는 기재(114)는, 수지 시트(112)를 지지하기 위한 것이며, 특별히 한정되지 않고, 종래의 유지 패드에 기재로서 포함되는 것이어도 좋고, 구체적으로는, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하, 「PET」라고 함) 필름 등의 수지 필름을 들 수 있다. The base material 114 provided on the holding pad 110 is for supporting the resin sheet 112 and is not particularly limited and may be included as a base material on a conventional holding pad and specifically includes polyethylene terephthalate (Hereinafter referred to as " PET ") film.

또한, 접착층(116)은, 종래 알려져 있는 유지 패드에 이용되고 있는 접착제 또는 점착제를 포함하는 것이어도 좋다. 접착층(116)의 재료로는, 예컨대 아크릴계, 니트릴계, 니트릴고무계, 폴리아미드계, 폴리우레탄계, 폴리에스테르계 등의 각종 열가소성 접착제를 들 수 있다. Further, the adhesive layer 116 may include an adhesive or a pressure-sensitive adhesive that is used in a conventionally known holding pad. Examples of the material of the adhesive layer 116 include various thermoplastic adhesives such as acrylic, nitrile, nitrile rubber, polyamide, polyurethane, and polyester.

또, 유지 패드(110)에서의 기재(114) 및 접착층(116)은, 이들을 구비하는 양면 테이프에서 유래하는 것이어도 좋다. 그 양면 테이프는, 기재(114)의 양면에 접착제 또는 점착제를 포함하는 접착층을 가지며, 한쪽의 접착층이 상기 접착층(116)에 해당한다. 다른쪽의 접착층은, 연마기의 유지용 정반에 유지 패드(110)를 접합하여 장착하기 위한 것이다. 양면 테이프는, 종래의 유지 패드에 포함되는 것이어도 좋고, 기재(114)와는 반대측에 도시하지 않은 박리지를 갖고 있어도 좋다. The base material 114 and the adhesive layer 116 in the holding pad 110 may be derived from a double-sided tape having them. The double-sided tape has an adhesive layer containing an adhesive or a pressure-sensitive adhesive on both sides of the base material 114, and one of the adhesive layers corresponds to the adhesive layer 116. And the other adhesive layer is for bonding the holding pads 110 to the holding base plate of the polishing machine. The double-sided tape may be included in a conventional holding pad or may have a release paper not shown on the opposite side of the base material 114. [

다음으로, 본 실시형태의 유지 패드의 제조 방법의 일례에 관해 설명한다. 여기서는, 수지 시트(112)를 습식 성막법으로 제작하는 경우를 설명하지만, 수지 시트(112)의 제작 방법은 이것에 한정되지 않는다. 이 제조 방법에서는, 수지 시트(112)를 준비하는 공정과, 수지 시트(112)에 기재(114)를 접합하여 유지 패드(110)를 얻는 공정을 갖는다. Next, an example of a manufacturing method of the holding pad according to the present embodiment will be described. Here, the case of manufacturing the resin sheet 112 by the wet film forming method will be described, but the manufacturing method of the resin sheet 112 is not limited to this. This manufacturing method has a step of preparing a resin sheet 112 and a step of bonding the base material 114 to the resin sheet 112 to obtain the holding pad 110. [

수지 시트(112)를 준비하는 공정은 또한, 수지와 용매와 필요에 따라서 발수제를 포함하는 수지 용액을 조제하는 공정(수지 용액 조제 공정)과, 수지 용액을 성막용 기재의 표면에 도포하는 공정(도포 공정)과, 수지 용액 중의 수지를 응고 재생하여 전구체 시트를 형성하는 공정(응고 재생 공정)과, 전구체 시트로부터 용매를 제거하여 수지 시트(112)를 얻는 공정(용매 제거 공정)과, 수지 시트(112)를 버프 처리 또는 슬라이스 처리에 의해 연삭 및/또는 일부 제거하는 공정(연삭ㆍ제거 공정)을 갖는 것이다. 이하, 각 공정에 관해 설명한다. The step of preparing the resin sheet 112 may further include a step of preparing a resin solution containing a resin, a solvent and, if necessary, a water repellent agent (a resin solution preparation step), a step of applying the resin solution to the surface of the substrate for film formation A step of removing the solvent from the precursor sheet to obtain a resin sheet 112 (a solvent removing step); and a step of removing the solvent from the precursor sheet (solvent removing step) (Grinding / removing step) of grinding and / or removing part of the grinding wheel 112 by a buffing process or a slicing process. Hereinafter, each process will be described.

우선, 수지 용액 조제 공정에서는, 전술한 폴리우레탄 수지 등의 수지와, 그 수지를 용해 가능하며 후술하는 응고액에 혼화하는 용매와, 필요에 따라서 수지 시트(112)에 포함시키는 발수제 및 그 밖의 재료(예컨대, 안료, 친수성 첨가제 및 소수성 첨가제)를 혼합하고, 또한 필요에 따라서 감압하에 탈포하여 수지 용액을 조제한다. 용매로는 특별히 한정되지 않지만, 예컨대 N,N-디메틸포름아미드(이하, 「DMF」라고 함) 및 N,N-디메틸아세트아미드를 들 수 있다. 수지 용액의 전체량에 대한 수지의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 예컨대 10∼50 질량%의 범위이어도 좋고, 15∼35 질량%의 범위이어도 좋다. First, in the resin solution preparing step, a resin such as the above-mentioned polyurethane resin, a solvent capable of dissolving the resin and capable of being mixed with a coagulating liquid to be described later, and a water repellent agent included in the resin sheet 112, (For example, a pigment, a hydrophilic additive and a hydrophobic additive) are mixed, and if necessary, the resin solution is prepared by defoaming under reduced pressure. The solvent is not particularly limited, and examples thereof include N, N-dimethylformamide (hereinafter referred to as "DMF") and N, N-dimethylacetamide. The content of the resin with respect to the total amount of the resin solution is not particularly limited, but may be, for example, in the range of 10 to 50 mass%, or 15 to 35 mass%.

다음으로, 도포 공정에서는 수지 용액을, 바람직하게는 상온하에서 나이프 코터 등의 도포 장치를 이용하여 띠모양의 성막용 기재의 표면에 도포하여 도포막을 형성한다. 이 때 도포하는 수지 용액의 두께는, 최종적으로 얻어지는 수지 시트(112)의 두께가 원하는 두께가 되도록 적절하게 조정하면 된다. 성막용 기재의 재질로는, 예컨대 PET 필름 등의 수지 필름, 포백 및 부직포를 들 수 있다. 이들 중에서는, 액을 침투시키기 어려운 PET 필름 등의 수지 필름이 바람직하다. Next, in the coating step, the resin solution is coated on the surface of the band-shaped film-forming base material, preferably at room temperature, using a coating device such as a knife coater to form a coating film. The thickness of the resin solution applied may be appropriately adjusted so that the thickness of the resin sheet 112 finally obtained becomes a desired thickness. As a material of the substrate for film formation, for example, a resin film such as a PET film, a fabric, and a nonwoven fabric. Among these, a resin film such as a PET film which is difficult to infiltrate the liquid is preferable.

이어서, 응고 재생 공정에서는, 성막용 기재에 도포된 수지 용액의 도포막을, 수지에 대한 빈용매(예컨대 폴리우레탄 수지의 경우는 물)를 주성분으로 하는 응고액 중으로 연속적으로 안내한다. 응고액에는, 수지의 재생 속도를 조정하기 위해, 수지 용액 중의 용매 이외의 극성 용매 등의 유기 용매를 첨가해도 좋다. 또한, 응고액의 온도는, 수지를 응고시킬 수 있는 온도라면 특별히 한정되지 않고, 예컨대 15∼65℃이어도 좋다. 응고액 중에서는, 우선, 수지 용액의 도포막과 응고액의 계면에 피막(스킨층)이 형성되고, 피막의 가장 가까운 수지 중에 무수한 치밀한 미다공이 형성된다. 그 후, 수지 용액에 포함되는 용매의 응고액 중으로의 확산과, 수지 중으로의 빈용매의 침입의 협조 현상에 의해, 바람직하게는 연속 기포 구조를 갖는 수지의 재생이 진행된다. 이 때, 성막용 기재가 액을 침투시키기 어려운 것(예컨대 PET 필름)이면, 응고액이 그 기재에 침투하지 않기 때문에, 수지 용액 중의 용매와 빈용매의 치환이 스킨층 부근에서 우선적으로 생기고, 스킨층 부근보다 그 내측에 있는 영역쪽에 보다 큰 보이드가 형성되는 경향이 있다. 이렇게 해서 성막용 기재 상에 전구체 시트가 형성된다. Subsequently, in the coagulating and regenerating step, the coating film of the resin solution applied to the substrate for film formation is continuously guided into a coagulating solution mainly composed of a poor solvent for the resin (for example, water in the case of a polyurethane resin). In the coagulating solution, an organic solvent such as a polar solvent other than the solvent in the resin solution may be added to adjust the regeneration speed of the resin. The temperature of the coagulating liquid is not particularly limited as long as it can coagulate the resin, and may be, for example, 15 to 65 캜. In the coagulating solution, first, a film (skin layer) is formed at the interface between the coating film of the resin solution and the coagulating solution, and innumerable dense micropores are formed in the resin closest to the coating film. Thereafter, the regeneration of the resin having an open-cell structure is preferably proceeded by the phenomenon of coalescence of the diffusion of the solvent contained in the resin solution into the coagulating solution and the penetration of the poor solvent into the resin. At this time, if the substrate for film formation is difficult to penetrate the liquid (for example, a PET film), since the coagulating solution does not penetrate the substrate, substitution of the solvent and the poor solvent in the resin solution occurs preferentially in the vicinity of the skin layer, There is a tendency that a larger void is formed on the inner side of the layer than in the vicinity of the layer. Thus, a precursor sheet is formed on the substrate for film formation.

수지 용액이 발수제를 포함하는 경우, 발수제의 함유량이 수지 30 질량부에 대하여 14 질량부 이하이면, 발수제와 응고액 사이의 간섭으로 생길 수 있는 응고 불균일을 보다 억제할 수 있기 때문에, 결과로서 얻어지는 수지 시트(112)의 성막 불균일을 보다 방지하는 것이 가능해진다. When the resin solution contains a water repellent agent, if the content of the water repellent agent is 14 parts by mass or less based on 30 parts by mass of the resin, it is possible to further suppress the solidification unevenness that may be caused by interference between the water repellent and the coagulating solution. It is possible to further prevent film unevenness of the sheet 112.

다음으로, 용매 제거 공정에서는, 형성된 전구체 시트 중에 잔존하는 용매를 제거하여 수지 시트(112)를 얻는다. 용매의 제거에는, 종래 알려져 있는 세정액을 이용할 수 있다. 또한, 용매를 제거한 후의 수지 시트(112)를, 필요에 따라서 건조시켜도 좋다. 수지 시트(112)의 건조에는, 예컨대 내부에 열원을 갖는 실린더를 구비한 실린더 건조기를 이용할 수 있지만, 건조 방법은 이것에 한정되지 않는다. 실린더 건조기를 이용하는 경우, 전구체 시트가 실린더의 둘레면을 따라서 통과함으로써 건조된다. 또한, 얻어진 수지 시트(112)를 롤형상으로 감아도 좋다. Next, in the solvent removal step, the solvent remaining in the formed precursor sheet is removed to obtain a resin sheet 112. For the removal of the solvent, conventionally known cleaning liquids can be used. Further, the resin sheet 112 after removal of the solvent may be dried if necessary. For drying the resin sheet 112, for example, a cylinder dryer provided with a cylinder having a heat source inside can be used, but the drying method is not limited thereto. When a cylinder dryer is used, the precursor sheet is dried by passing along the circumferential surface of the cylinder. The obtained resin sheet 112 may be rolled up.

이어서, 연삭ㆍ제거 공정에서는, 수지 시트(112)의 바람직하게는 스킨층측의 주면(主面)과, 그 반대측인 이면 중의 적어도 한쪽을, 버프 처리 또는 슬라이스 처리로 연삭 및/또는 일부 제거한다. 버프 처리나 슬라이스 처리에 의해 수지 시트(112)의 두께의 균일화를 도모할 수 있기 때문에, 피연마물에 대한 압박력을 한층 더 균등화하고, 피연마물의 손상을 더욱 억제함과 함께 피연마물의 평탄성을 향상시킬 수 있다. 또한, 스킨층측의 주면은 수지 시트(112)에 있어서 유지면(P)이 되는 면이기 때문에, 이면을 연삭 처리하여 피연마물의 연마 균일성을 향상시키는 것이 바람직하다. Then, in the grinding / removing step, at least one of the main surface of the resin sheet 112 on the side of the skin layer and the reverse side of the resin sheet 112 is ground and / or partially removed by a buffing treatment or a slicing treatment. Since the thickness of the resin sheet 112 can be uniformized by the buffing treatment or the slicing treatment, the pressing force against the object to be polished is further equalized, the damage of the object to be polished is further suppressed and the flatness of the object to be polished is improved . Since the main surface on the skin layer side is the surface which becomes the holding surface P in the resin sheet 112, it is preferable to grind the back surface to improve the polishing uniformity of the object to be polished.

다음으로, 수지 시트(112)에 기재(114)를 접합하여 유지 패드(110)를 얻는다. 이 공정에서는, 예컨대 기재(114) 및 접착층(116)을 갖는 양면 테이프를 이용하여, 수지 시트(112)의 유지면(P)과는 반대측의 면 위에 접착층(116)을 통해 기재(114)를 접합한다. 또한, 그 기재(114)의 접착층(116)과는 반대측에, 양면 테이프의 다른쪽 접착층과 박리지가 구비되어도 좋다. 이렇게 해서 유지 패드(110)를 얻을 수 있다. Next, the base material 114 is bonded to the resin sheet 112 to obtain the holding pad 110. In this step, a base material 114 is bonded to a surface of the resin sheet 112 opposite to the holding surface P via the adhesive layer 116, for example, using a double-faced tape having the base material 114 and the adhesive layer 116 . The other adhesive layer and peeling paper of the double-faced tape may be provided on the side of the base material 114 opposite to the adhesive layer 116. [ Thus, the holding pad 110 can be obtained.

다음으로, 본 실시형태의 유지 패드(110)를 이용한 연마 가공의 방법에 관해 설명한다. 연마 가공에서의 피연마물로는, 특별히 한정되지 않지만, 예컨대 반도체, 반도체 디바이스용 실리콘 웨이퍼, 각종 기록용 디스크의 기판, 액정 디스플레이용 유리 기판의 재료를 들 수 있다. 이들 중에서는, 본 발명에 의한 효과를 보다 유효하고 확실하게 나타내는 관점에서, 피연마물이 유리 기판이면 바람직하다. Next, a method of polishing using the holding pad 110 of the present embodiment will be described. Examples of the object to be polished in the polishing process include, but are not limited to, semiconductors, silicon wafers for semiconductor devices, substrates for various recording disks, and glass substrates for liquid crystal displays. Among these, from the viewpoint of more effectively and reliably showing the effect of the present invention, the object to be polished is preferably a glass substrate.

연마 가공에 있어서는, 우선, 연마기의 피연마물 홀더에 유지 패드(110)를 장착하고, 유지 패드(110)로 피연마물을 유지한다. 피연마물 홀더에 유지 패드(110)를 장착하기 위해서는, 필요에 따라서 양면 테이프의 박리지를 제거하고, 노출된 접착층으로 유지면(P)이 하측(또는 상측)으로 향하도록 피연마물 홀더에 접착 고정한다. 혹은, 유지 패드(110)가 양면 테이프를 구비하지 않은 경우는, 별도로 준비한 접착제 또는 점착제로 유지 패드(110)를 피연마물 홀더에 접착 고정한다. 다음으로, 수지 시트(112)의 유지면(P)에 적량의 물을 포함시켜 피연마물을 압박함으로써, 피연마물이 물의 표면장력 및 수지 시트(112)의 점착성에 의해 유지 패드(110)를 통해 피연마물 홀더에 유지된다. 이 때, 피연마물의 피연마면(가공면)이 하측(또는 상측)을 향하고 있다. 한편, 피연마물 홀더의 하측(또는 상측)에서 피연마물 홀더와 대향하도록 배치된 연마용 정반에는, 표면에 연마 패드(연마포)를 연마면이 상측(또는 하측)을 향하도록 장착한다. In the polishing process, first, the holding pad 110 is attached to the object to be polished of the polishing machine, and the object to be polished is held by the holding pad 110. To attach the holding pad 110 to the object to be polished, the release paper of the double-faced tape is removed as necessary, and the object P is adhered and fixed to the object to be polished so that the holding surface P faces downward (or upward) . Alternatively, when the holding pad 110 does not have a double-sided tape, the holding pad 110 is adhered and fixed to the object to be polished with an adhesive or a pressure sensitive adhesive separately prepared. Next, an appropriate amount of water is contained on the holding surface P of the resin sheet 112 to press the object to be polished, so that the object to be polished is pushed through the holding pad 110 by the surface tension of the water and the tackiness of the resin sheet 112 And held in the object holder. At this time, the surface to be polished (processed surface) of the object to be polished faces downward (or upward). On the other hand, a polishing pad (polishing cloth) is mounted on the surface of the polishing platen disposed on the lower side (or the upper side) of the object to be polished so as to face the object to be polished, with the polishing surface facing the upper side (or lower side).

다음으로, 피연마물의 피연마면이 연마 패드의 연마면에 접촉하도록, 피연마물 홀더를 연마용 정반쪽으로 이동시켜 피연마물을 반송한다. 그리고, 피연마물과 연마 패드 사이에, 지립(연마 입자; 예컨대 SiO2, CeO2) 및 과산화수소로 대표되는 산화제 등의 화학 성분을 포함하는 연마 슬러리를 순환 공급한다. 그와 함께, 피연마물 홀더로 피연마물을 연마 패드측에 압박하면서 피연마물 홀더와 연마용 정반을 회전시킴으로써, 피연마물의 가공면이 연마 패드로 CMP에 의해 연마 가공된다. Next, the object to be polished is moved toward the polishing platen so that the polished surface of the object to be polished comes into contact with the polishing surface of the polishing pad, and the object to be polished is returned. And, between the operand evil and the polishing pad, abrasive grains; and supplies (the abrasive particles for example SiO 2, CeO 2) and hydrogen peroxide circulating the abrasive slurry including the chemical composition of the oxidizing agent and so on, represented by. At the same time, the object to be polished is polished by CMP on the polishing pad by rotating the object to be polished and the polishing platen while pressing the object to be polished to the polishing pad side with the object holder.

본 실시형태에 있어서는, 수지 시트(112)의 40℃에서의 저장 탄성률 E'을 0.3∼2.0 MPa로 하고, 또한, 수지 시트(112)의 흡수량을 95∼200 ㎎/50.3 ㎠로 함으로써, 피연마물의 흡착 불량 및 표피 마모를 모두 억제할 수 있다. 40℃에서의 저장 탄성률 E'이 0.3 MPa 이상인 것에 의해, 연마 가공에 있어서 수지 시트(112)에 표피 마모가 생기기 어려워진다. 한편, 40℃에서의 저장 탄성률 E'이 2.0 MPa 이하인 것에 의해, 수지 시트(112)의 피연마물에 대한 흡착력이 높아져, 흡착 불량을 일으키기 어려워진다. 또한, 흡수량이 95 ㎎/50.3 ㎠ 이상인 것에 의해, 수지 시트(112)의 피연마물에 대한 흡착력이 높아져, 흡착 불량을 일으키기 어려워진다. 한편, 흡착량이 200 ㎎/50.3 ㎠ 이하인 것에 의해, 연마 가공에 있어서 수지 시트(112)에 표피 마모가 생기기 어려워진다. 표피 마모의 발생을 억제하는 것은, 유지면(P)의 손상을 방지하게 되므로, 결과적으로 유지 패드(110)의 장기 수명화로 이어진다. In the present embodiment, by setting the storage elastic modulus E 'of the resin sheet 112 at 40 ° C to 0.3 to 2.0 MPa and the absorption amount of the resin sheet 112 to 95 to 200 mg / 50.3 cm 2, Both adsorption failure of water and skin abrasion can be suppressed. When the storage elastic modulus E 'at 40 캜 is 0.3 MPa or more, it is difficult for the epidermis wear to occur in the resin sheet 112 in the polishing process. On the other hand, when the storage elastic modulus E 'at 40 ° C is 2.0 MPa or less, the adsorption force of the resin sheet 112 to the object to be polished is increased, and the adsorption failure is less likely to occur. Further, when the amount of absorption is 95 mg / 50.3 cm 2 or more, the adsorption force of the resin sheet 112 to the object to be smoked becomes high, and the adsorption failure becomes difficult to occur. On the other hand, when the adsorption amount is 200 mg / 50.3 cm 2 or less, the skin sheet 112 is hardly worn by the epidermis in the polishing process. The occurrence of skin abrasion is prevented to prevent damage to the holding surface P, and consequently, the life of the holding pad 110 is extended.

이상, 본 실시형태에 관해 상세히 설명했지만, 본 발명은 상기 본 실시형태에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 상기 본 실시형태에서는, 수지 시트(112)와 기재(114)의 접합에 접착층(116)을 이용하고 있지만, 이들의 접합은 접착층(116)을 이용하는 것에 한정되지 않는다. 나아가, 본 발명의 유지 패드는, 기재를 구비하고 있지 않아도 좋지만, 유지 패드의 취급성의 관점에서 기재를 구비하는 것이 바람직하다. 또한, 유지 패드의 제조 방법에 있어서 연삭ㆍ제거 공정을 생략해도 좋다. 또한, 유지 패드의 제조 방법에 있어서, 수지 용액에 발수제를 첨가하는 것 대신에, 또는 그것에 더하여, 얻어진 수지 시트에 발수제를 도포한 후 필요에 따라서 건조시킴으로써, 수지 시트에 발수제를 함유시켜도 좋다. 발수제의 도포 방법으로는, 예컨대 딥법 및 스프레이법을 들 수 있다. Although the present embodiment has been described in detail above, the present invention is not limited to the above embodiment. For example, in the present embodiment, the adhesive layer 116 is used for bonding the resin sheet 112 and the base material 114, but the bonding is not limited to the use of the adhesive layer 116. Furthermore, the holding pad of the present invention does not need to have a base material, but it is preferable to provide the base material from the viewpoint of handling property of the holding pad. The grinding / removing step may be omitted in the manufacturing method of the holding pad. In addition, in the manufacturing method of the holding pad, a water repellent agent may be contained in the resin sheet, instead of or in addition to the resin solution, by applying a water repellent agent to the resin sheet thus obtained and then drying the resin sheet if necessary. Examples of the method of applying the water repellent agent include a dip method and a spray method.

실시예Example

이하, 실시예에 의해 본 발명을 더욱 상세히 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것이 아니다. Hereinafter, the present invention will be described in more detail by way of examples, but the present invention is not limited to these examples.

(실시예 1)(Example 1)

원료의 수지인 100% 모듈러스(25℃에서의 것. 이하 동일)가 6.0 MPa인 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지의 30% DMF 용액 100 질량부에 대하여, DMF 50 질량부, 물 8 질량부, 발수제로서, 퍼플루오로헥실 화합물을 포함하는 DIC 주식회사 제조의 「크리스본 어시스터 SD-38」(상품명) 3 질량부를 첨가하고 혼합 교반하여 수지 용액을 조제했다. 다음으로, 성막용 기재로서 PET 필름을 준비하고, 거기에, 상기 수지 용액을 나이프 코터를 이용하여 도포하여 두께 1.0 mm의 도포막을 얻었다. 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지로는, 에틸렌글리콜 및 프로필렌글리콜과 아디프산을 탈수 축합하여 얻어진 폴리에스테르폴리올과, 메틸렌비스(4,1-페닐렌)=디이소시아네이트(MDI)와, 저분자 디올을 축합하여 얻어진 것을 이용했다(이하의 실시예 및 비교예에 있어서도 동일). To 100 parts by mass of a 30% DMF solution of a polyester-based polyurethane resin having 6.0 MPa of a 100% modulus of a raw material resin (at 25 캜), 50 parts by mass of DMF, 8 parts by mass of water, And 3 parts by mass of " Crisbon ASSISTER SD-38 " (trade name) manufactured by DIC Co., Ltd., containing perfluorohexyl compound were added and mixed and stirred to prepare a resin solution. Next, a PET film was prepared as a film-forming substrate, and the resin solution was coated thereon using a knife coater to obtain a coating film having a thickness of 1.0 mm. Examples of the polyester-based polyurethane resin include a polyester polyol obtained by dehydrating condensation of ethylene glycol and propylene glycol with adipic acid, methylene bis (4,1-phenylene) = diisocyanate (MDI) and a low- (The same also in the following Examples and Comparative Examples).

이어서, 얻어진 도포막을 성막용 기재와 함께, 응고액인 물로 이루어진 18℃의 응고욕에 침지하고, 수지를 응고 재생하여 전구체 시트를 얻었다. 전구체 시트를 응고욕으로부터 꺼내고 성막용 기재를 전구체 시트로부터 박리한 후, 전구체 시트를 물로 이루어진 실온의 세정액(탈용제욕)에 침지하여 용매인 DMF를 제거하여 수지 시트를 얻었다. 그 후, 수지 시트를 건조시키면서 감았다. 다음으로, 수지 시트의 이면(성막용 기재를 박리한 측의 면이자, 성막 기재에 접촉해 있던 면)에 대하여 버프 처리를 실시하여 0.8 mm의 두께로 했다. Subsequently, the obtained coating film was immersed in a coagulating bath of 18 DEG C comprising water as a coagulating liquid together with the substrate for film formation, and the resin was coagulated and regenerated to obtain a precursor sheet. After removing the precursor sheet from the coagulating bath and peeling the substrate for film formation from the precursor sheet, the precursor sheet was immersed in a cleaning liquid (desolvating bath) made of water at room temperature to remove the solvent DMF to obtain a resin sheet. Thereafter, the resin sheet was wound while being dried. Next, the back surface of the resin sheet (the surface on the side where the film forming base material was peeled off and which was in contact with the film base material) was buffed to a thickness of 0.8 mm.

다음으로, 수지 시트의 버프 처리를 실시한 면에, PET제 기재의 양면에 접착층(재질 : 아크릴계 수지)을 가지며, 또한 한면에 박리지를 갖는 양면 테이프를 그 박리지와는 반대측의 접착층으로 접합한 후, 외경 33.5 cm의 원형으로 재단하여 유지 패드를 얻었다. Next, a double-sided tape having an adhesive layer (material: acrylic resin) on both surfaces of the PET substrate and having a release paper on one surface is bonded to the surface of the resin sheet subjected to the buffing treatment with an adhesive layer on the opposite side of the release paper , And cut into a circle having an outer diameter of 33.5 cm to obtain a holding pad.

유지 패드에 구비되는 수지 시트의 40℃에서의 저장 탄성률 E'을 상기 「저장 탄성률 E'의 측정 방법」, 흡수량을 상기 「흡수량의 측정 방법」, 40℃에서의 KEL을 상기 「KEL의 산출 방법」에 의해 각각 측정했다. 또, 저장 탄성률 E' 및 KEL의 측정 방법에서는, 동적 점탄성 측정 장치로서 티ㆍ에이ㆍ인스트루먼트ㆍ재팬사 제조 제품명 「RSA III」를 이용했다. The storage elastic modulus E 'of the resin sheet provided at the holding pad at 40 ° C is referred to as the "method of measuring the storage elastic modulus E'", the absorption amount is referred to as the "method of measuring the absorption amount", the KEL at 40 ° C is calculated by the " Quot ;, respectively. In the measuring method of the storage elastic moduli E 'and KEL, the product name "RSA III" manufactured by T.A. Instrument Co., Ltd. was used as the dynamic viscoelasticity measuring device.

(흡착력의 측정)(Measurement of adsorption force)

유지 패드를 약 100 mm×100 mm의 정방형으로 잘라냈다. 또한, 흡착 대상물로서 직경 φ 60 mm, 두께 약 1 mm의 유리 기판을 준비했다. 고정한 정반 위에 잘라낸 유지 패드를 장착했다. 이어서, 유지 패드에 구비되는 수지 시트의 유지면에 적량의 물을 분무하고, 적당히 물기를 뺀 후, 유리 기판을 유지 패드에 단단히 압박하여 흡착시켰다. 다음으로, 유리 기판의 유지 패드측과는 반대측의 면에, 유리 기판과 동일한 사이즈의 쿠션층을 넣은 양면 테이프를 통해, 인장용 지그를 단단히 압박하여 접착했다. 그 후, 인장용 지그를 유리 기판과는 반대측으로 인장하여, 유리 기판이 유지 패드로부터 분리되었을 때의 인장 하중의 최대치를 판독했다. 인장 시험기로서 TENSILON(ORIENTEC사 제조)을 이용했다. 피연마물 홀더에 장착한 유지 패드를 교환하지 않고 상기 조작을 3회 반복하고(단, 2회째 이후는, 인장용 지그가 유리 기판에 접착된 상태로 유리 기판을 유지 패드에 흡착시켰다), 그 3회의 인장 하중의 최대치를 상가평균하여 흡착력으로 했다. The holding pad was cut out into a square of about 100 mm x 100 mm. A glass substrate having a diameter of 60 mm and a thickness of about 1 mm was prepared as an object to be adsorbed. A retention pad was attached to the fixed platen. Subsequently, an appropriate amount of water was sprayed onto the holding surface of the resin sheet provided on the holding pad, and the water was appropriately removed, and then the glass substrate was firmly pressed on the holding pad to be adsorbed. Next, the tensile jig was tightly pressed and adhered to the surface of the glass substrate opposite to the holding pad side through the double-faced tape having the cushion layer of the same size as the glass substrate. Thereafter, the tensile jig was pulled to the side opposite to the glass substrate, and the maximum value of the tensile load when the glass substrate was separated from the holding pad was read. Tensilon (manufactured by ORIENTEC) was used as a tensile tester. The above operation was repeated three times without replacing the holding pad mounted on the object holder (the second and subsequent times, the glass substrate was adsorbed on the holding pad with the tensile jig adhered to the glass substrate) The maximum value of the tensile load of the meeting was averaged to determine the attraction force.

(유지 패드의 수명 측정)(Measurement of the life of the holding pad)

연마기(스피드팜 주식회사 제조, 상품명 「SP-1200」)의 소정의 위치에 유지 패드를 장착했다. 이어서, 유지 패드에 구비되는 수지 시트의 유지면에 적량의 물을 분무하고, 적당히 물기를 뺀 후, 피연마물인 액정 디스플레이용 유리 기판(470 mm×370 mm×0.5 mm)을 유지 패드에 흡착시켰다. 연마 패드로서 폴리패스 FX-7M(후지보우에히메 주식회사 제조 상품명)을 이용하여, 하기의 조건으로 연마 가공을 행했다. 유지 패드로부터 피연마물이 떨어져 파손된 시점, 또는 유지 패드에 표피 마모가 생긴 시점을 라이프 엔드로 하여 연마를 할 수 없게 될 때까지 연마 가공을 행하고, 연마가 완료된 피연마물의 매수에 의해 유지 패드의 수명을 평가했다. 또, 피연마물의 매수는 최대 50장으로 했다. A holding pad was attached to a predetermined position of a polishing machine (product name: SP-1200, manufactured by Speed Farm Co., Ltd.). Subsequently, an appropriate amount of water was sprayed onto the holding surface of the resin sheet provided on the holding pad, and water was appropriately removed, and then the glass substrate for liquid crystal display (470 mm x 370 mm x 0.5 mm) . Using Polipass FX-7M (trade name, manufactured by Fujibo Ehime Co., Ltd.) as a polishing pad, polishing was carried out under the following conditions. Polishing is performed until the time when the object to be polished is broken from the holding pad or when the time when the skin of the holding pad is worn is damaged as a life end and polishing becomes impossible and the number of polished objects to be polished is increased, The life span was evaluated. In addition, the number of the objects to be polished was maximum 50 pieces.

사용 연마기 : 오스카 연마기 SP-1200(스피드팜 주식회사 제조 상품명)Grinding machine used: Oscar grinder SP-1200 (manufactured by Speed Farm Co., Ltd.)

연마 속도(회전수) : 61 rpm Polishing speed (revolutions): 61 rpm

가공 압력 : 76 gf/㎠Working pressure: 76 gf / ㎠

슬러리 : 쇼록스 A-10(쇼와덴꼬 주식회사 제조 상품명) 10% 슬러리 Slurry: Shorox A-10 (trade name, manufactured by Showa Denko K.K.) 10% slurry

연마 시간 : 10분/매Polishing time: 10 minutes / every

상기 각 측정의 결과를 표 1에 나타낸다. The results of the above measurements are shown in Table 1.

Figure pct00001
Figure pct00001

(실시예 2)(Example 2)

발수제의 첨가량을, 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지의 30% DMF 용액 100 질량부에 대하여 7 질량부로 변경한 것 외에는 실시예 1과 동일하게 하여 유지 패드를 제작하고, 각 측정을 행했다. 각 측정의 결과를 표 1에 나타낸다. A holding pad was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of the water repellent agent added was changed to 7 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the 30% DMF solution of the polyester-based polyurethane resin, and measurements were made. The results of each measurement are shown in Table 1.

(실시예 3)(Example 3)

발수제의 첨가량을, 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지의 30% DMF 용액 100 질량부에 대하여 10 질량부로 변경한 것 외에는 실시예 1과 동일하게 하여 유지 패드를 제작하고, 각 측정을 행했다. 각 측정의 결과를 표 1에 나타낸다. A holding pad was prepared in the same manner as in Example 1 except that the addition amount of the water repellent agent was changed to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the 30% DMF solution of the polyester-based polyurethane resin, and each measurement was carried out. The results of each measurement are shown in Table 1.

(실시예 4)(Example 4)

발수제의 첨가량을, 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지의 30% DMF 용액 100 질량부에 대하여 13 질량부로 변경한 것 외에는 실시예 1과 동일하게 하여 유지 패드를 제작하고, 각 측정을 행했다. 각 측정의 결과를 표 1에 나타낸다. A holding pad was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of the water repellent agent added was changed to 13 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the 30% DMF solution of the polyester-based polyurethane resin, and each measurement was carried out. The results of each measurement are shown in Table 1.

(실시예 5)(Example 5)

원료의 수지를, 100% 모듈러스가 8.4 MPa인 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지로 변경한 것 외에는 실시예 3과 동일하게 하여 유지 패드를 제작하고, 각 측정을 행했다. 각 측정의 결과를 표 1에 나타낸다. A holding pad was prepared in the same manner as in Example 3 except that the resin of the raw material was changed to a polyester-based polyurethane resin having a 100% modulus of 8.4 MPa, and each measurement was carried out. The results of each measurement are shown in Table 1.

(비교예 1)(Comparative Example 1)

원료의 수지를, 100% 모듈러스가 3.0 MPa인 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지로 변경한 것 외에는 실시예 3과 동일하게 하여 유지 패드를 제작하고, 각 측정을 행했다. 각 측정의 결과를 표 1에 나타낸다. A holding pad was prepared in the same manner as in Example 3, except that the resin of the raw material was changed to a polyester-based polyurethane resin having a 100% modulus of 3.0 MPa, and measurements were made. The results of each measurement are shown in Table 1.

(비교예 2)(Comparative Example 2)

발수제를, 퍼플루오로옥틸 화합물을 포함하는 DIC 주식회사 제조의 「크리스본 어시스터 SD-27」(상품명)로 변경한 것 외에는 실시예 3과 동일하게 하여 유지 패드를 제작하고, 각 측정을 행했다. 각 측정의 결과를 표 1에 나타낸다. A retentive pad was prepared in the same manner as in Example 3 except that the water repellent agent was changed to "CHRISON ASSISTER SD-27" (trade name) manufactured by DIC Corporation, which contains a perfluorooctyl compound, and each measurement was carried out. The results of each measurement are shown in Table 1.

(비교예 3)(Comparative Example 3)

발수제의 첨가량을, 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지의 30% DMF 용액 100 질량부에 대하여 1 질량부로 변경한 것 외에는 실시예 1과 동일하게 하여 유지 패드를 제작하고, 각 측정을 행했다. 각 측정의 결과를 표 1에 나타낸다. A holding pad was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of the water repellent agent added was changed to 1 part by mass with respect to 100 parts by mass of the 30% DMF solution of the polyester-based polyurethane resin, and measurements were made. The results of each measurement are shown in Table 1.

(비교예 4)(Comparative Example 4)

발수제의 첨가량을, 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지의 30% DMF 용액 100 질량부에 대하여 15 질량부로 변경한 것 외에는 실시예 1과 동일하게 하여 유지 패드를 제작하고, 각 측정을 행했다. 각 측정의 결과를 표 1에 나타낸다. A holding pad was prepared in the same manner as in Example 1 except that the addition amount of the water repellent agent was changed to 15 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the 30% DMF solution of the polyester-based polyurethane resin, and each measurement was carried out. The results of each measurement are shown in Table 1.

(비교예 5)(Comparative Example 5)

원료의 수지를, 100% 모듈러스가 20 MPa인 폴리에스테르계 폴리우레탄 수지로 변경한 것 외에는 실시예 3과 동일하게 하여 유지 패드를 제작하고, 각 측정을 행했다. 각 측정의 결과를 표 1에 나타낸다. A holding pad was prepared in the same manner as in Example 3 except that the resin of the raw material was changed to a polyester-based polyurethane resin having a modulus of 100 MPa of 20 MPa, and each measurement was carried out. The results of each measurement are shown in Table 1.

유지 패드의 수명 측정에 있어서, 비교예 1, 3에서는, 수지 시트에 표피 마모가 발생하고, 피연마물이 유지 패드의 면내 방향으로 어긋난 결과, 연마가 어려워졌다. 또한, 비교예 2, 4, 5에서는, 유지 패드로부터 피연마물이 박리된 결과, 연마가 어려워졌다.In the lifetime measurement of the holding pad, in Comparative Examples 1 and 3, skin abrasion occurred in the resin sheet, and the object to be polished shifted in the in-plane direction of the holding pad, so that polishing became difficult. In Comparative Examples 2, 4, and 5, polishing was difficult as a result of peeling of the object to be polished from the holding pad.

본 발명의 유지 패드는, 반도체, 반도체 디바이스용 실리콘 웨이퍼, 각종 기록용 디스크의 기판, 액정 디스플레이용 유리 기판 등을 피연마물로 하는 연마 가공에 적합하게 이용되기 때문에, 그러한 용도에 산업상 이용 가능성이 있다. INDUSTRIAL APPLICABILITY Since the holding pad of the present invention is suitably used for a semiconductor, a silicon wafer for a semiconductor device, a substrate for various recording disks, a glass substrate for a liquid crystal display, and the like as an object to be polished, have.

110 : 유지 패드
112 : 폴리우레탄 수지 시트
114 : 기재
116 : 접착층
P : 유지면.
110: Retention pad
112: polyurethane resin sheet
114: substrate
116: Adhesive layer
P: Holding face.

Claims (6)

피연마물을 유지하기 위한 유지면을 갖는 폴리우레탄 수지 시트를 구비하는 유지 패드로서, 상기 폴리우레탄 수지 시트의 40℃에서의 저장 탄성률 E'가 0.3∼2.0 MPa이고, 또한, 상기 폴리우레탄 수지 시트의 흡수량이 95∼200 ㎎/50.3 ㎠인 유지 패드. A holding pad comprising a polyurethane resin sheet having a holding surface for holding an object to be polished, characterized in that the polyurethane resin sheet has a storage elastic modulus E 'at a temperature of 40 DEG C of 0.3 to 2.0 MPa, And the absorption amount is 95 to 200 mg / 50.3 cm 2. 제1항에 있어서, 상기 폴리우레탄 수지 시트의 40℃에서의 KEL이 1.0×105∼5.0×105 Pa-1인 유지 패드. The holding pad according to claim 1, wherein the polyurethane resin sheet has a KEL at 40 캜 of 1.0 × 10 5 to 5.0 × 10 5 Pa -1 . 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 폴리우레탄 수지 시트를 구성하는 수지의 25℃에서의 100% 모듈러스가 4.0∼10.0 MPa인 유지 패드. The holding pad according to claim 1 or 2, wherein the resin constituting the polyurethane resin sheet has a 100% modulus at 25 DEG C of 4.0 to 10.0 MPa. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 폴리우레탄 수지 시트는 발수제를 함유하는 것인 유지 패드. The holding pad according to any one of claims 1 to 3, wherein the polyurethane resin sheet contains a water repellent agent. 제4항에 있어서, 상기 발수제는 탄소수가 6∼8인 퍼플루오로알킬기를 갖는 불소계 발수제를 포함하는 것인 유지 패드. The holding pad according to claim 4, wherein the water repellent agent comprises a fluorinated water repellent having a perfluoroalkyl group having 6 to 8 carbon atoms. 제5항에 있어서, 상기 폴리우레탄 수지 시트에 포함되는 상기 불소계 발수제의 60∼100 몰%가, 탄소수 6의 퍼플루오로알킬기를 갖는 불소계 발수제인 유지 패드. The holding pad according to claim 5, wherein 60 to 100 mol% of the fluorine-based water repellent contained in the polyurethane resin sheet is a fluorine-based water repellent having a perfluoroalkyl group having 6 carbon atoms.
KR1020167005205A 2013-09-30 2014-09-24 Holding pad KR102225294B1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2013-204246 2013-09-30
JP2013204246 2013-09-30
PCT/JP2014/075196 WO2015046203A1 (en) 2013-09-30 2014-09-24 Holding pad

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20160065082A true KR20160065082A (en) 2016-06-08
KR102225294B1 KR102225294B1 (en) 2021-03-10

Family

ID=52743339

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020167005205A KR102225294B1 (en) 2013-09-30 2014-09-24 Holding pad

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP6423352B2 (en)
KR (1) KR102225294B1 (en)
CN (1) CN105579195B (en)
TW (1) TWI635930B (en)
WO (1) WO2015046203A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200064987A (en) * 2017-10-10 2020-06-08 후지보 홀딩스 가부시키가이샤 Holding pad and method for manufacturing the same

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6968651B2 (en) * 2017-10-12 2021-11-17 富士紡ホールディングス株式会社 Polishing pad and its manufacturing method
JP6971839B2 (en) * 2017-12-27 2021-11-24 ニッタ・デュポン株式会社 Abrasive pad
JP7193287B2 (en) * 2018-09-28 2022-12-20 富士紡ホールディングス株式会社 Holding pad and its transportation or storage method
TWI833018B (en) * 2019-05-07 2024-02-21 美商Cmc材料有限責任公司 Chemical mechanical planarization pads via vat-based production
JP7421978B2 (en) 2020-03-27 2024-01-25 富士紡ホールディングス株式会社 Holding pad and method for manufacturing the same

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09254027A (en) 1996-03-25 1997-09-30 Chiyoda Kk Mounting material for grinding
JP2004090123A (en) * 2002-08-30 2004-03-25 Central Glass Co Ltd Single-side polishing device for substrate
JP2006062059A (en) * 2004-08-30 2006-03-09 Fujibo Holdings Inc Holding pad and manufacturing method of holding pad
KR20120030457A (en) * 2009-05-27 2012-03-28 로저스코포레이션 Polishing pad, polyurethane layer therefor, and method of polishing a silicon wafer
KR20120039531A (en) * 2009-06-23 2012-04-25 후지보홀딩스가부시끼가이샤 Polishing pad, manufacturing method therefor, and polishing method
JP2013094929A (en) * 2011-11-04 2013-05-20 Nhk Spring Co Ltd Backing material

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11151665A (en) * 1997-11-20 1999-06-08 Central Glass Co Ltd Back pad and water absorption prevention method therefor
EP1236757A4 (en) * 1999-09-30 2005-01-19 Sekisui Chemical Co Ltd Thermoplastic elastomer, use thereof, and process for producing the same
JP3959229B2 (en) * 1999-09-30 2007-08-15 積水化学工業株式会社 Thermoplastic elastomer, use thereof and production method thereof
JP5398376B2 (en) * 2009-06-23 2014-01-29 富士紡ホールディングス株式会社 Holding pad
JP5355310B2 (en) * 2009-09-03 2013-11-27 富士紡ホールディングス株式会社 Holding pad
JP2011235385A (en) * 2010-05-10 2011-11-24 Teijin Cordley Ltd Suction pad
EP2719713B1 (en) * 2011-06-13 2018-10-03 DIC Corporation Polyurethane composition, water repellent agent, polyurethane resin composition for forming surface skin layer of leather-like sheet, and leather-like sheet

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09254027A (en) 1996-03-25 1997-09-30 Chiyoda Kk Mounting material for grinding
JP2004090123A (en) * 2002-08-30 2004-03-25 Central Glass Co Ltd Single-side polishing device for substrate
JP2006062059A (en) * 2004-08-30 2006-03-09 Fujibo Holdings Inc Holding pad and manufacturing method of holding pad
KR20120030457A (en) * 2009-05-27 2012-03-28 로저스코포레이션 Polishing pad, polyurethane layer therefor, and method of polishing a silicon wafer
KR20120039531A (en) * 2009-06-23 2012-04-25 후지보홀딩스가부시끼가이샤 Polishing pad, manufacturing method therefor, and polishing method
JP2013094929A (en) * 2011-11-04 2013-05-20 Nhk Spring Co Ltd Backing material

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200064987A (en) * 2017-10-10 2020-06-08 후지보 홀딩스 가부시키가이샤 Holding pad and method for manufacturing the same

Also Published As

Publication number Publication date
JP6423352B2 (en) 2018-11-14
TW201521958A (en) 2015-06-16
CN105579195B (en) 2018-06-15
WO2015046203A1 (en) 2015-04-02
JPWO2015046203A1 (en) 2017-03-09
TWI635930B (en) 2018-09-21
KR102225294B1 (en) 2021-03-10
CN105579195A (en) 2016-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102225294B1 (en) Holding pad
KR102394677B1 (en) Polishing pad and method for manufacturing same
JP6608239B2 (en) Polishing pad
KR101999418B1 (en) Polishing pad and method for producing polishing pad
KR101588925B1 (en) Retaining pad
KR101595149B1 (en) Retaining pad
JP7081915B2 (en) Polishing holder
JP6119049B2 (en) Holding pad and method for manufacturing the same
JP2012056032A (en) Foamed sheet material
JP5968179B2 (en) Holding pad
JP5297169B2 (en) Holding pad
JP7137505B2 (en) Polishing pad, method for manufacturing polishing pad, method for polishing surface of optical material or semiconductor material, and method for evaluating polishing pad
JP5503049B2 (en) Holding pad
JP7139126B2 (en) Holder and manufacturing method thereof
JP6189013B2 (en) Polishing cloth
JP7193287B2 (en) Holding pad and its transportation or storage method
JP5639822B2 (en) Holding pad
JP5912770B2 (en) Holding pad
JP2024051638A (en) Polishing pad and method for manufacturing polished product
JP2009061524A (en) Holding pad
JP7139125B2 (en) Holder and manufacturing method thereof
JP2010064212A (en) Polishing pad and manufacturing method of polishing pad
JP2010201589A (en) Holder
JP7020837B2 (en) Holding pad and its manufacturing method
JP2020157458A (en) Holding pad and method of manufacturing the same

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant