JP6423352B2 - Holding pad - Google Patents
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- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 159
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 159
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 100
- 229920005749 polyurethane resin Polymers 0.000 claims description 55
- 239000005871 repellent Substances 0.000 claims description 54
- 230000002940 repellent Effects 0.000 claims description 53
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 24
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 22
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 21
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 11
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 claims description 11
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 claims description 7
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims description 4
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 3
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 3
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 claims description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 53
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 34
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 29
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 25
- 239000000463 material Substances 0.000 description 22
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 20
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 18
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 17
- 230000015271 coagulation Effects 0.000 description 14
- 238000005345 coagulation Methods 0.000 description 14
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 14
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 13
- 208000035874 Excoriation Diseases 0.000 description 11
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 11
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 10
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 9
- 239000000047 product Substances 0.000 description 9
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 8
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 5
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 5
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 5
- 229920002799 BoPET Polymers 0.000 description 4
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 4
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 4
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 4
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 4
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N Propylene glycol Chemical compound CC(O)CO DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 3
- 230000001112 coagulating effect Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 3
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 2
- BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N Vinyl chloride Chemical compound ClC=C BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 208000027418 Wounds and injury Diseases 0.000 description 2
- WNLRTRBMVRJNCN-UHFFFAOYSA-N adipic acid Chemical compound OC(=O)CCCCC(O)=O WNLRTRBMVRJNCN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 239000013013 elastic material Substances 0.000 description 2
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 2
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 2
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 2
- 229920002492 poly(sulfone) Polymers 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 description 2
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 2
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 241000501754 Astronotus ocellatus Species 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylacetamide Chemical compound CN(C)C(C)=O FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000459 Nitrile rubber Polymers 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001361 adipic acid Substances 0.000 description 1
- 235000011037 adipic acid Nutrition 0.000 description 1
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000018044 dehydration Effects 0.000 description 1
- 238000006297 dehydration reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 125000005442 diisocyanate group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002009 diols Chemical class 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- BXKDSDJJOVIHMX-UHFFFAOYSA-N edrophonium chloride Chemical compound [Cl-].CC[N+](C)(C)C1=CC=CC(O)=C1 BXKDSDJJOVIHMX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 description 1
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 description 1
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 239000002798 polar solvent Substances 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920005906 polyester polyol Polymers 0.000 description 1
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- XJKVPKYVPCWHFO-UHFFFAOYSA-N silicon;hydrate Chemical compound O.[Si] XJKVPKYVPCWHFO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 description 1
- 230000002463 transducing effect Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/02002—Preparing wafers
- H01L21/02005—Preparing bulk and homogeneous wafers
- H01L21/02008—Multistep processes
- H01L21/0201—Specific process step
- H01L21/02024—Mirror polishing
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- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/11—Lapping tools
- B24B37/20—Lapping pads for working plane surfaces
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- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/27—Work carriers
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
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Description
本発明は、保持パッドに関する。 The present invention relates to a holding pad.
従来、半導体ウエハ、半導体デバイス用シリコンウエハ、各種記録用ディスクの基板及び液晶ディスプレイ用ガラス基板など、特にガラス基板の精密平面研磨を行う場合、研磨ヘッドに貼り付けられた保持パッドを、被研磨物に対して水により吸着させることで被研磨物を保持させた上で、研磨パッドを用いて研磨加工する。保持パッドは、連続気泡を有するポリウレタン樹脂などの弾性材料からなるシートを備え、そのシートの表面(保持面)の微細な気泡が吸盤のような役目をして被研磨物を保持することができる。すなわち、そのシートは保持層として機能するものである。 Conventionally, when carrying out precision planar polishing of glass substrates such as semiconductor wafers, silicon wafers for semiconductor devices, substrates for various recording disks, and glass substrates for liquid crystal displays, the holding pad attached to the polishing head is used as an object to be polished. The object to be polished is held by being adsorbed with water and then polished using a polishing pad. The holding pad includes a sheet made of an elastic material such as polyurethane resin having open cells, and fine bubbles on the surface (holding surface) of the sheet can serve as a sucker to hold the object to be polished. . That is, the sheet functions as a holding layer.
ところで、保持パッドは、研磨加工時に研磨液(研磨スラリ)に曝されるので、保持パッドが備える保持層の内部に存在する連続気泡にまで研磨液が浸入することがある。一旦研磨液が浸入すると、保持層を構成する弾性材料の弾性が失われたり、保持層が膨潤したりして、安定した保持が困難になり、その結果、研磨加工性が低下する。これを予防する策として、例えば特許文献1には、フッ素系撥水剤を含む保持パッドが開示されている。 By the way, since the holding pad is exposed to a polishing liquid (polishing slurry) during the polishing process, the polishing liquid may infiltrate into open cells present in the holding layer of the holding pad. Once the polishing liquid enters, the elasticity of the elastic material constituting the holding layer is lost, or the holding layer swells, making it difficult to hold stably, and as a result, the polishing processability decreases. As a measure for preventing this, for example, Patent Document 1 discloses a holding pad containing a fluorine-based water repellent.
特許文献1に記載されているような撥水剤を用いた場合、研磨液の保持層内部への浸入を抑制することができる。しかしながら、保持パッドを被研磨物に吸着させるために水を用いて保持層の保持面を湿潤状態にする際、撥水剤が存在するため水との馴染みが低下し、水をはじいた箇所において吸着不良が起きやすくなる。一方、そのような吸着不良を防止するために、撥水剤の添加量を減らすと、保持層内で撥水剤の分散ムラが発生し、撥水の弱い部分から水が浸入する結果、研磨加工の際に保持層において局所的に表皮摩耗が生じ、被研磨物を安定に保持することが困難になる。ここで、「表皮摩耗」とは、保持層が浸水等により膨潤する結果、その保持層の保持面が研磨パッドの研磨面と直接接触して削られたり、あるいは、被研磨物の角部と接触する保持面がその角部により削られたりして、開孔することを意味する。これらは、保持層が膨潤して研磨ヘッドから剥がれ、部分的に撓むことに起因するものである。 When a water repellent as described in Patent Document 1 is used, it is possible to suppress the penetration of the polishing liquid into the holding layer. However, when the holding surface of the holding layer is moistened with water to adsorb the holding pad to the object to be polished, the familiarity with water decreases because of the presence of a water repellent agent, and the water repels Adsorption failure is likely to occur. On the other hand, if the amount of the water repellent added is reduced in order to prevent such adsorption failure, the dispersion of the water repellent will occur in the holding layer, resulting in the infiltration of water from weakly water repellent areas. During the processing, skin wear locally occurs in the holding layer, making it difficult to stably hold the object to be polished. Here, “skin abrasion” means that the holding layer swells due to water immersion or the like, so that the holding surface of the holding layer is scraped directly in contact with the polishing surface of the polishing pad, or the corner of the object to be polished This means that the holding surface that comes into contact is scraped off by the corners to open holes. These are because the holding layer swells and peels off from the polishing head and partially bends.
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、被研磨物の吸着不良及び表皮摩耗の両方を抑制することのできる保持パッドを提供することを目的とする。 This invention is made | formed in view of the said subject, and it aims at providing the holding pad which can suppress both the adsorption | suction defect of a to-be-polished object, and skin abrasion.
本発明者らは、上記目的を達成すべく鋭意研究を重ねた結果、保持パッドが、40℃における貯蔵弾性率E’が適度に低く、かつ、特定の吸水量測定による吸水量が適度な範囲にあるシートを保持層として備えると、上記目的を達成できることを見出し、本発明を完成するに至った。 As a result of intensive studies to achieve the above object, the present inventors have found that the holding pad has a moderately low storage elastic modulus E ′ at 40 ° C., and a water absorption amount by a specific water absorption measurement is in a proper range. It has been found that the above object can be achieved by providing the sheet as a holding layer, and the present invention has been completed.
すなわち、本発明は下記のとおりである。
[1]被研磨物を保持するための保持面を有するポリウレタン樹脂シートを備える保持パッドであって、上記ポリウレタン樹脂シートの40℃における圧縮モードによる貯蔵弾性率E’は0.3〜2.0MPaであり、かつ、上記ポリウレタン樹脂シートの吸水量が95〜200mg/50.3cm2であり、前記吸水量は、前記ポリウレタン樹脂シートを40℃の乾燥機内で10時間以上乾燥し、室温20℃、相対湿度50%の大気雰囲気中で、前記乾燥後の前記ポリウレタン樹脂シートを室温まで自然冷却させて第1の質量を測定し、次いで、前記ポリウレタン樹脂シート上に、前記ポリウレタン樹脂シートの表面から水面の高さが60mmとなるようにイオン交換水を保持して8時間静置した後、前記表面から前記イオン交換水を除去して第2の質量を測定し、前記第1の質量と前記第2の質量との差から導き出した吸水量である、保持パッド。
[2]上記ポリウレタン樹脂シートの40℃でのKELが1.0×105〜5.0×105Pa-1である、上記保持パッド。
[3]上記ポリウレタン樹脂シートを構成する樹脂の25℃における100%モジュラスが4.0〜10.0MPaである、上記保持パッド。
[4]上記ポリウレタン樹脂シートは撥水剤を含有するものである、上記保持パッド。
[5]上記撥水剤は炭素数が6〜8のパーフルオロアルキル基を有するフッ素系撥水剤を含むものである、上記保持パッド。
[6]上記ポリウレタン樹脂シートに含まれる上記フッ素系撥水剤の60〜100モル%が、炭素数6のパーフルオロアルキル基を有するフッ素系撥水剤である、上記保持パッド。
That is, the present invention is as follows.
[1] A holding pad including a polyurethane resin sheet having a holding surface for holding an object to be polished, wherein the storage elastic modulus E ′ of the polyurethane resin sheet in a compression mode at 40 ° C. is 0.3 to 2.0 MPa. , and the and the water absorption of the polyurethane resin sheet 95~200mg / 50.3cm are two der, the water absorption, the polyurethane resin sheet was dried over 10 hours in a dryer of 40 ° C.,
[2] The holding pad, wherein the polyurethane resin sheet has a KEL at 40 ° C. of 1.0 × 10 5 to 5.0 × 10 5 Pa −1 .
[3] The holding pad as described above, wherein the resin constituting the polyurethane resin sheet has a 100% modulus at 25 ° C. of 4.0 to 10.0 MPa.
[4] The holding pad, wherein the polyurethane resin sheet contains a water repellent.
[5] The holding pad as described above, wherein the water repellent contains a fluorine-based water repellent having a perfluoroalkyl group having 6 to 8 carbon atoms.
[6] The holding pad, wherein 60 to 100 mol% of the fluorine-based water repellent contained in the polyurethane resin sheet is a fluorine-based water repellent having a C6 perfluoroalkyl group.
本発明によれば、被研磨物の吸着不良及び表皮摩耗の両方を抑制することのできる保持パッドを提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the holding pad which can suppress both the adsorption | suction failure of a to-be-polished object and skin abrasion can be provided.
以下、必要に応じて図面を参照しつつ、本発明を実施するための形態(以下、単に「本実施形態」という。)について詳細に説明するが、本発明は下記本実施形態に限定されるものではない。本発明は、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変形が可能である。なお、図面中、同一要素には同一符号を付すこととし、重複する説明は省略する。また、上下左右等の位置関係は、特に断らない限り、図面に示す位置関係に基づくものとする。更に、図面の寸法比率は図示の比率に限られるものではない。 Hereinafter, a mode for carrying out the present invention (hereinafter simply referred to as “the present embodiment”) will be described in detail with reference to the drawings as necessary. However, the present invention is limited to the following embodiment. It is not a thing. The present invention can be variously modified without departing from the gist thereof. In the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. Further, the positional relationship such as up, down, left and right is based on the positional relationship shown in the drawings unless otherwise specified. Further, the dimensional ratios in the drawings are not limited to the illustrated ratios.
本実施形態の保持パッドは、被研磨物を保持するための保持面を有するポリウレタン樹脂シートを備える保持パッドであって、ポリウレタン樹脂シートの40℃における貯蔵弾性率E’は0.3〜2.0MPaであり、かつ、ポリウレタン樹脂シートの吸水量が95〜200mg/50.3cm2である。The holding pad of this embodiment is a holding pad including a polyurethane resin sheet having a holding surface for holding an object to be polished, and the storage elastic modulus E ′ at 40 ° C. of the polyurethane resin sheet is 0.3-2. The water absorption of the polyurethane resin sheet is 95 to 200 mg / 50.3 cm 2 .
図1は、本実施形態に係る保持パッドの一例を示す模式断面図である。保持パッド110は、ポリウレタン樹脂シート(以下、単に「樹脂シート」という。)112と基材114とをこの順に積層して含む。樹脂シート112と基材114は、互いに接合されており、この例では、樹脂シート112と基材114とは接着層116を介して接合されている。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of a holding pad according to the present embodiment. The
保持パッド110に含まれる樹脂シート112は、ポリウレタン樹脂を含有し、被研磨物を保持するための保持面Pを有する保持層として機能する。樹脂シート112の貯蔵弾性率E’は、40℃において0.3〜2.0MPaである。40℃における貯蔵弾性率E’が0.3MPa以上であることにより、研磨加工において樹脂シート112に表皮摩耗が生じ難くなる。一方、40℃における貯蔵弾性率E’が2.0MPa以下であることにより、樹脂シート112の被研磨物に対する吸着力が高まり、吸着不良を起こし難くなる。同様の観点から、樹脂シート112の貯蔵弾性率E’は、40℃において0.4〜1.5MPaであると好ましく、0.5〜1.0MPaであるとより好ましく、0.5〜0.7MPaであると更に好ましい。
The
(貯蔵弾性率E’の測定方法)
本明細書において、樹脂シートの貯蔵弾性率E’は、動的粘弾性測定装置(例えば、ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン社製商品名「RSA III」)を用いて、下記条件で2枚測定され、その相加平均とする。
[測定条件]
・試料寸法:10mm×10mm×厚さ0.8mm×3枚重ね
・試験方向:圧縮モード
・荷重:100g/cm2
・歪:0.10%
・周波数:1Hz
・温度範囲:20〜80℃、昇温速度:5℃/min
・試料厚さ:厚み計にて測定
・厚さが異なる試料の場合は2mmから3mmの範囲になるよう重ねて測定する。(Measurement method of storage elastic modulus E ′)
In the present specification, the storage elastic modulus E ′ of the resin sheet is 2 under the following conditions using a dynamic viscoelasticity measuring apparatus (for example, trade name “RSA III” manufactured by T.A. Instruments Japan). Sheets are measured and the arithmetic average is taken.
[Measurement condition]
・ Sample dimensions: 10 mm × 10 mm × Thickness 0.8 mm × 3 sheets stacked ・ Test direction: Compression mode ・ Load: 100 g / cm 2
-Strain: 0.10%
・ Frequency: 1 Hz
・ Temperature range: 20 to 80 ° C., heating rate: 5 ° C./min
-Sample thickness: Measured with a thickness meter-In the case of samples having different thicknesses, the thickness is measured in a range of 2 mm to 3 mm.
樹脂シート112の吸水量は、95〜200mg/50.3cm2である。この吸水量が95mg/50.3cm2以上であることにより、樹脂シート112の被研磨物に対する吸着力が高まり、吸着不良を起こし難くなる。一方、吸着量が200mg/50.3cm2以下であることにより、研磨加工において樹脂シート112に表皮摩耗が生じ難くなる。同様の観点から、樹脂シート112の吸水量は、100〜160mg/50.3cm2であると好ましく、107〜150mg/50.3cm2であるとより好ましく、110〜130mg/50.3cm2であると更に好ましい。The water absorption of the
(吸水量の測定方法)
樹脂シート112の吸水量は、下記のようにして測定される。図2は、樹脂シートの吸水量を測定するのに用いられる器具を模式的に示す透視図である。まず、測定対象である試料10となる直径φ125mmの保持パッド110、及び塩化ビニル製の突合せ溶接式フランジ20及び同じく塩化ビニル製の板フランジ30(いずれもJIS 10K−80A)を用意する。フランジ20、30は内径φが80mm(断面積が50.3cm2)である。次に、試料10を40℃の乾燥機内で10時間以上乾燥する。以降、室温20℃、相対湿度50%の大気雰囲気中で作業を行う。次いで、試料10を大気雰囲気下で室温まで自然冷却させ、電子天秤にてその質量を測定する。次に、図2に示すように、試料10を、その保持面Pを突合せ溶接式フランジ20側にして、突合せ溶接式フランジ20及び板フランジ30で挟んで、上下から締め付けることで固定する。次いで、突合せ溶接式フランジ20の管内に、20℃のイオン交換水Wを300mL注入する(このときの試料10の保持面Pからの水面の高さは約60mmとなる。)。注入後、それらを8時間静置した後で、試料10を固定から開放して取り出し、濾紙により表面の水分を吸い取る。この際、濾紙を試料10に押しつけず、試料10の表面をなでるようにして水分を吸い取る。その後、速やかに試料10の質量を測定する。イオン交換水Wを注入して静置する前後での試料10の質量差を、樹脂シート112の吸水量とする。(Measurement method of water absorption)
The water absorption amount of the
本実施形態に係る樹脂シート112が上述の範囲の貯蔵弾性率E’及び吸水量を有するように制御する方法としては、例えば、樹脂シート112を構成する樹脂の25℃における100%モジュラス、40℃におけるKEL、樹脂の種類、撥水剤の添加、その撥水剤の種類及び添加量、樹脂シート112の厚さ、密度、及び、樹脂シート112のスキン層とは反対側である裏面のバフ加工量を調整する方法が挙げられる。
As a method for controlling the
樹脂シート112を構成する樹脂の25℃における100%モジュラスは、4.0〜10.0MPaであると好ましく、5.0〜9.0MPaであるとより好ましく、5.0〜7.0MPaであると更に好ましい。この100%モジュラスが4.0MPa以上であることにより、樹脂シート112の貯蔵弾性率E’が0.3MPa以上になりやすくなり、10.0MPa以下であることにより、樹脂シート112の貯蔵弾性率E’が2.0MPa以下になりやすくなる。なお、本明細書において、100%モジュラスは、室温23±2℃の環境下において樹脂シート112と同じ材料を用いた無発泡の樹脂シート(試験片)を100%伸ばしたとき、すなわち元の長さの2倍に伸ばしたときの引張力を試験片の初期断面積で除した値である。
The 100% modulus at 25 ° C. of the resin constituting the
樹脂シート112の40℃におけるKELは、1.0×105〜5.0×105Pa−1であると好ましく、1.5×105〜4.0×105Pa−1であるとより好ましく、2.0×105〜3.0×105Pa−1であると更に好ましい。このKELが1.0×105Pa−1以上であることにより、樹脂シート112が変形しやすくなり、被研磨物の保持性及び吸着性を高めることができる。また、研磨加工時に被研磨物の面内方向へのずれが生じ難くなる。一方、KELが5.0×105Pa−1以下であることにより、樹脂シート112の変形量を少なくして(すなわち、研磨加工時の樹脂シート112の沈み込み量を低減して)表皮摩耗の発生をより抑制することができ、保持パッド110の寿命をより長くすることができる。KEL of the
(KELの算出方法)
本明細書において、KEL(エネルギー損失因子)は、上記「貯蔵弾性率E’の測定方法」と同じ条件にて測定された40℃の貯蔵弾性率E’及び損失弾性率E”から、下記式(1a)及び(1b)により算出される。
KEL=tanδ×1012/(E’×(1+tanδ2)) (1a)
tanδ=E”/E’ (1b)(Calculation method of KEL)
In the present specification, KEL (energy loss factor) is calculated from the following equation based on the storage elastic modulus E ′ and loss elastic modulus E ″ measured at 40 ° C. under the same conditions as those of the “method for measuring storage elastic modulus E ′”. Calculated by (1a) and (1b).
KEL = tan δ × 10 12 / (E ′ × (1 + tan δ 2 )) (1a)
tan δ = E ″ / E ′ (1b)
本実施形態に係る樹脂シート112の密度(かさ密度)は、25℃において0.15〜0.30g/cm2であると好ましい。この密度が0.15g/cm2以上であることにより、樹脂シート112の永久歪みが生じ難くなり、また、0.30g/cm2以下であることにより、樹脂シート112の全体に亘って被研磨物をより均一に保持しやすくなる。これらの結果、樹脂シート112の密度が上記範囲にあることにより、研磨加工時に被研磨物が保持パッド110に対して面内方向にずれたり、研磨加工時の研磨ムラが発生したりすることを更に抑制することができる。The density (bulk density) of the
樹脂シート112の厚さは特に限定されないが、例えば、0.2〜1.5mmであってもよく、0.6〜1.2mmであってもよい。なお、樹脂シート112の厚さは、JIS K 6550(1994)に記載された測定方法に準拠して測定される。つまり、樹脂シート112の厚み方向に初荷重として1cm2当たり100gの荷重をかけた(負荷した)ときの厚さである。Although the thickness of the
樹脂シート112は、樹脂などのマトリックスを構成する材料(以下、「マトリックス材料」という。)中に複数の気泡(図示しない。)を有するものであり、所謂湿式成膜法により形成されたものであっても、乾式成型法により形成されたものであってもよいが、本発明の目的をより有効かつ確実に達成する観点から、好ましくは湿式成膜法により形成されたものである。樹脂シート112が湿式成膜法により形成されたものである場合、保持面P側に図示しない緻密な微多孔が形成されたスキン層を有していてもよい。スキン層の表面は微細な平坦性を有している。一方、スキン層のより内側(樹脂シート112の内部)には、スキン層の微多孔よりも大きな孔径で樹脂シート112の厚さ方向に沿って丸みを帯びた断面三角状の空孔(連続気泡;図示しない。)が形成されていてもよい。その空孔は、保持面P側の大きさが、保持面Pと反対の面側よりも小さく形成されていてもよい。樹脂シート112には、スキン層の微多孔よりも大きく空孔よりも小さいサイズの孔(図示しない。)が形成されていてもよい。スキン層の微多孔、空孔及び小さいサイズの孔は互いに連通孔で網目状につながっていてもよい。
The
樹脂シート112を構成するマトリックス材料は、ポリウレタン樹脂を最も多く含む組成であれば特に限定されず、例えば、樹脂シート112は、そのマトリックス材料の全体量に対して、ポリウレタン樹脂を80〜100質量%含むものであってもよい。樹脂シート112は、その全体量に対して、ポリウレタン樹脂をより好ましくは85〜100質量%含み、更に好ましくは90〜100質量%含み、特に好ましくは90〜95質量%含む。
The matrix material constituting the
ポリウレタン樹脂としては、例えば、ポリエステル系ポリウレタン樹脂、ポリエーテル系ポリウレタン樹脂及びポリカーボネート系ポリウレタン樹脂が挙げられ、これらは1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。これらの中では、本発明の目的をより有効且つ確実に奏する観点から、ポリエステル系ポリウレタン樹脂が好ましい。 Examples of the polyurethane resin include a polyester-based polyurethane resin, a polyether-based polyurethane resin, and a polycarbonate-based polyurethane resin, and these are used singly or in combination of two or more. Among these, polyester polyurethane resins are preferred from the viewpoint of more effectively and reliably achieving the object of the present invention.
ポリウレタン樹脂は、常法により合成してもよく、市販品を入手してもよい。市販品としては、例えば、クリスボン(DIC(株)社製商品名)、サンプレン(三洋化成工業(株)社製商品名)、レザミン(大日本精化工業(株)社製商品名)が挙げられる。ポリウレタン樹脂は1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。 The polyurethane resin may be synthesized by a conventional method, or a commercially available product may be obtained. Examples of commercially available products include Crisbon (trade name, manufactured by DIC Corporation), Samprene (trade name, manufactured by Sanyo Chemical Industries, Ltd.), Rezamin (trade name, manufactured by Dainippon Seika Kogyo Co., Ltd.). It is done. A polyurethane resin is used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.
樹脂シート112は、ポリウレタン樹脂以外に、ポリサルホン樹脂及び/又はポリイミド樹脂などの他の樹脂を含んでもよい。ポリサルホン樹脂は、常法により合成してもよく、市販品を入手してもよい。市販品としては、例えば、ユーデル(ソルベイアドバンストポリマーズ(株)社製商品名)が挙げられる。ポリイミド樹脂は、常法により合成してもよく、市販品を入手してもよい。市販品としては、例えば、オーラム(三井化学(株)社製商品名)が挙げられる。
The
樹脂シート112は、マトリックス材料以外に撥水剤を含有すると好ましい。撥水剤としては、例えば、フッ素系撥水剤、シリコン系撥水剤及び炭化水素系撥水剤が挙げられる。これらの中でも、本発明の目的をより有効かつ確実に達成する観点から、フッ素系撥水剤が好ましい。撥水剤は1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。
The
フッ素系撥水剤としては、例えば、パーフルオロアルキル基を有する化合物(フッ素系撥水剤)が挙げられ、好ましくは、下記式(2)で表されるフッ素テロマーが挙げられる。
Rf−R−X (2)
ここで、Rfはパーフルオロアルキル基を示し、その炭素数は3〜8であり、好ましくは4〜8であり、より好ましくは6〜8であり、特に好ましくは6である。また、Rはアルキレン基を示し、その炭素数は2〜6であり、好ましくは2〜4であり、特に好ましくは2である。Xは官能基を示し、例えば、水酸基、CH2=CHC(=O)CO−、H(OCH2CH2)xO−、YSO3−〔Yは水素原子又はNH4を示す。〕等が挙げられ、好ましくは水酸基である。また、パーフルオロアルキル基を有する化合物として、樹脂をパーフルオロアルキル基で変性した化合物も挙げられる。樹脂としては、樹脂シートに対する分散性及び経時安定性を向上させる観点から、保持パッドの樹脂シートを構成し得る樹脂、例えばポリウレタン樹脂が挙げられ、変性方法としては、例えば、樹脂の末端及び/又は側鎖にパーフルオロアルキル基を導入する方法が挙げられる。パーフルオロアルキル基を有する化合物は1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。As a fluorine-type water repellent, the compound (fluorine-type water repellent) which has a perfluoroalkyl group is mentioned, for example, Preferably, the fluorine telomer represented by following formula (2) is mentioned.
Rf-R-X (2)
Here, Rf represents a perfluoroalkyl group, and the carbon number thereof is 3 to 8, preferably 4 to 8, more preferably 6 to 8, and particularly preferably 6. R represents an alkylene group having 2 to 6 carbon atoms, preferably 2 to 4 carbon atoms, and particularly preferably 2 carbon atoms. X represents a functional group, for example, a hydroxyl group, CH 2 ═CHC (═O) CO—, H (OCH 2 CH 2 ) x O—, YSO 3 — [Y represents a hydrogen atom or NH 4 . And the like, preferably a hydroxyl group. Moreover, the compound which modified | denatured resin with the perfluoroalkyl group as a compound which has a perfluoroalkyl group is also mentioned. Examples of the resin include a resin that can form the resin sheet of the holding pad, for example, a polyurethane resin, from the viewpoint of improving dispersibility and aging stability with respect to the resin sheet. The method of introduce | transducing a perfluoroalkyl group into a side chain is mentioned. The compound which has a perfluoroalkyl group is used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.
フッ素テロマーの中でも、本発明の目的をより有効かつ確実に達成する観点から、Rfの炭素数が6であるものが好ましく、さらにRの炭素数が2であるものが好ましい。また、樹脂シートに対する分散性及び経時安定性を考慮すると、樹脂をパーフルオロアルキル基で変性した化合物として、フッ素テロマーをその樹脂に導入した化合物、例えば、上記式(2)のうちのRf−R−で表される基を有する樹脂が好ましく、上記式(2)のうちのRf−R−で表される基を有するポリウレタン樹脂がより好ましい。そのような樹脂としては、例えば、国際公開第2012/172936号に記載のポリウレタン樹脂が挙げられる。 Among the fluorine telomers, from the viewpoint of more effectively and reliably achieving the object of the present invention, those having 6 carbon atoms in Rf are preferable, and those having 2 carbon atoms in R are more preferable. In consideration of dispersibility and aging stability with respect to the resin sheet, a compound in which the resin is modified with a perfluoroalkyl group, a compound in which a fluorine telomer is introduced into the resin, for example, Rf-R in the above formula (2) A resin having a group represented by-is preferred, and a polyurethane resin having a group represented by Rf-R- in the above formula (2) is more preferred. Examples of such a resin include polyurethane resins described in International Publication No. 2012/172936.
フッ素テロマーは常法により合成してもよく、市販品を入手してもよい。市販品としては、例えば、クリスボンアシスター SDシリーズ(DIC株式会社製商品名)、アサヒガードEシリーズ(AGCセイミケミカル株式会社製商品名)、NKガードSシリーズ(日華化学株式会社製商品名)、ユニダインマルチシリーズ(ダイキン工業株式会社製商品名)などが挙げられる。フッ素テロマーは1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。 The fluorine telomer may be synthesized by a conventional method, or a commercially available product may be obtained. Commercially available products include, for example, Chris Bon Asister SD Series (trade name, manufactured by DIC Corporation), Asahi Guard E Series (trade name, manufactured by AGC Seimi Chemical Co., Ltd.), NK Guard S Series (trade name, manufactured by Nikka Chemical Co., Ltd.) And Unidyne Multi series (trade name, manufactured by Daikin Industries, Ltd.). A fluorine telomer is used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.
樹脂シート112における撥水剤の含有量は、樹脂シート112を構成する樹脂30質量部に対して、2〜14質量部であると好ましく、3〜13質量部であるとより好ましい。撥水剤の含有量が樹脂30質量部に対して2質量部以上であることにより、吸水量が200mg/50.3cm2以下になりやすくなり、また、撥水剤の局在化を防ぐことができるので局所的な表皮摩耗を抑制することも可能となる。また、撥水剤の含有量が樹脂30質量部に対して14質量部以下であることにより、吸水量が95mg/50.3cm2以上になりやすくなる。また、後述の保持パッド110の製造方法において、凝固再生工程を経て樹脂シート112を作製する場合であって、凝固再生工程よりも前の段階で樹脂溶液に撥水剤を含む場合は、凝固ムラが生じ難くなり、結果として樹脂シート112の成膜ムラをより抑制することができる。The content of the water repellent in the
また、撥水剤としてフッ素テロマーのようなフッ素系撥水剤を用い、そのフッ素系撥水剤が炭素数6のRfを有するフッ素系撥水剤を含む場合、樹脂シート112に含まれるフッ素系撥水剤の60〜100モル%が、炭素数6のRfを有するフッ素系撥水剤であると好ましい。このことは、炭素数が6を超えるRfを有するフッ素テロマーのようなフッ素原子を多く含む化合物や、炭素数が6未満のRfを有するフッ素テロマーのようなフッ素原子を少なく含む化合物を制限することになる。これにより、フッ素原子を多く含む化合物の含有量を低減して吸水量の低下及び吸着不良をより有効に抑制することができ、また、フッ素原子を少なく含む化合物の含有量を低減して適度な撥水性をより有効に確保することができる。
Further, when a fluorine-based water repellent such as a fluorine telomer is used as the water repellent and the fluorine-based water repellent includes a fluorine-based water repellent having Rf of 6 carbon atoms, the fluorine-based resin contained in the
樹脂シート112は、樹脂及び任意の撥水剤以外に、本発明の課題解決を阻害しない範囲で、保持パッドの樹脂シートに通常用いられる材料、例えば、カーボンブラックなどの顔料、親水性添加剤及び疎水性添加剤の1種又は2種以上を含んでもよい。さらには、樹脂シート112には、樹脂シート112の製造過程において用いられた溶媒などの各種の材料が、本発明の課題解決を阻害しない範囲で残存していてもよい。
The
樹脂シート112の保持面Pには微細気孔が存在していてもよい。微細気孔は、例えば、樹脂シート112の成膜時に、保持面(スキン層)に微細気孔を形成させる添加剤を添加することにより形成することができる。
Fine pores may exist on the holding surface P of the
保持パッド110に備えられる基材114は、樹脂シート112を支持するためのものであり、特に限定されず、従来の保持パッドに基材として含まれるものであってもよく、具体的には、ポリエチレンテレフタレート(以下、「PET」という。)フィルムなどの樹脂フィルムが挙げられる。
The base material 114 provided in the
また、接着層116は、従来知られている保持パッドに用いられている接着剤又は粘着剤を含むものであってもよい。接着層116の材料としては、例えば、アクリル系、ニトリル系、ニトリルゴム系、ポリアミド系、ポリウレタン系、ポリエステル系等の各種熱可塑性接着剤が挙げられる。
Further, the
なお、保持パッド110における、基材114及び接着層116は、それらを備える両面テープ由来のものであってもよい。その両面テープは、基材114の両面に接着剤又は粘着剤を含む接着層を有し、一方の接着層が上記接着層116に相当する。他方の接着層は、研磨機の保持用定盤に保持パッド110を貼り合わせて装着するためのものである。両面テープは、従来の保持パッドに含まれるものであってもよく、基材114とは反対側に図示しない剥離紙を有していてもよい。
The base material 114 and the
次に、本実施形態の保持パッドの製造方法の一例について説明する。ここでは、樹脂シート112を湿式成膜法で作製する場合を説明するが、樹脂シート112の作製方法は、これに限定されない。この製造方法では、樹脂シート112を準備する工程と、樹脂シート112に基材114を接合して保持パッド110を得る工程とを有する。
Next, an example of the manufacturing method of the holding pad of this embodiment will be described. Here, the case where the
樹脂シート112を準備する工程は、更に、樹脂と溶媒と必要に応じて撥水剤とを含む樹脂溶液を調製する工程(樹脂溶液調製工程)と、樹脂溶液を成膜用基材の表面に塗布する工程(塗布工程)と、樹脂溶液中の樹脂を凝固再生して、前駆体シートを形成する工程(凝固再生工程)と、前駆体シートから溶媒を除去して樹脂シート112を得る工程(溶媒除去工程)と、樹脂シート112をバフ処理又はスライス処理により研削及び/又は一部除去する工程(研削・除去工程)とを有するものである。以下、各工程について説明する。
The step of preparing the
まず、樹脂溶液調製工程では、上述のポリウレタン樹脂などの樹脂と、その樹脂を溶解可能であって、後述の凝固液に混和する溶媒と、必要に応じて樹脂シート112に含ませる撥水剤及びその他の材料(例えば、顔料、親水性添加剤及び疎水性添加剤)とを混合し、更に必要に応じて減圧下で脱泡して樹脂溶液を調製する。溶媒としては、特に限定されないが、例えば、N,N−ジメチルホルムアミド(以下、「DMF」という。)及びN,N−ジメチルアセトアミドが挙げられる。樹脂溶液の全体量に対する樹脂の含有量は、特に限定されないが、例えば10〜50質量%の範囲であってもよく、15〜35質量%の範囲であってもよい。
First, in the resin solution preparation step, a resin such as the above-mentioned polyurethane resin, a solvent that can dissolve the resin, and a water-repellent agent that is included in the
次に、塗布工程では、樹脂溶液を、好ましくは常温下で、ナイフコータ等の塗布装置を用いて帯状の成膜用基材の表面に塗布して塗膜を形成する。このときに塗布する樹脂溶液の厚さは、最終的に得られる樹脂シート112の厚さが所望の厚さになるように、適宜調整すればよい。成膜用基材の材質としては、例えば、PETフィルムなどの樹脂フィルム、布帛及び不織布が挙げられる。これらの中では、液を浸透し難いPETフィルムなどの樹脂フィルムが好ましい。
Next, in the coating step, the resin solution is preferably applied to the surface of the belt-shaped film-forming substrate using a coating device such as a knife coater at room temperature to form a coating film. What is necessary is just to adjust suitably the thickness of the resin solution apply | coated at this time so that the thickness of the
次いで、凝固再生工程では、成膜用基材に塗布された樹脂溶液の塗膜を、樹脂に対する貧溶媒(例えばポリウレタン樹脂の場合は水)を主成分とする凝固液中に連続的に案内する。凝固液には、樹脂の再生速度を調整するために、樹脂溶液中の溶媒以外の極性溶媒等の有機溶媒を添加してもよい。また、凝固液の温度は、樹脂を凝固できる温度であれば特に限定されず、例えば、15〜65℃であってもよい。凝固液中では、まず、樹脂溶液の塗膜と凝固液との界面に皮膜(スキン層)が形成され、皮膜の直近の樹脂中に無数の緻密な微多孔が形成される。その後、樹脂溶液に含まれる溶媒の凝固液中への拡散と、樹脂中への貧溶媒の浸入との協調現象により、好ましくは連続気泡構造を有する樹脂の再生が進行する。このとき、成膜用基材が液を浸透し難いもの(例えばPETフィルム)であると、凝固液がその基材に浸透しないため、樹脂溶液中の溶媒と貧溶媒との置換がスキン層付近で優先的に生じ、スキン層付近よりもその内側にある領域の方に、より大きな空孔が形成される傾向にある。こうして成膜用基材上に前駆体シートが形成される。 Next, in the coagulation regeneration step, the coating film of the resin solution applied to the film-forming substrate is continuously guided into a coagulating liquid mainly composed of a poor solvent for the resin (for example, water in the case of a polyurethane resin). . In order to adjust the regeneration speed of the resin, an organic solvent such as a polar solvent other than the solvent in the resin solution may be added to the coagulation liquid. The temperature of the coagulation liquid is not particularly limited as long as the resin can be coagulated, and may be, for example, 15 to 65 ° C. In the coagulation liquid, first, a film (skin layer) is formed at the interface between the coating film of the resin solution and the coagulation liquid, and innumerable fine micropores are formed in the resin immediately adjacent to the film. Thereafter, regeneration of the resin preferably having an open-cell structure proceeds by the cooperative phenomenon of diffusion of the solvent contained in the resin solution into the coagulation liquid and penetration of the poor solvent into the resin. At this time, if the film-forming substrate is difficult to penetrate the liquid (for example, PET film), the coagulating liquid does not penetrate the substrate, so the substitution of the solvent in the resin solution with the poor solvent is near the skin layer. The voids are preferentially generated in the region, and larger pores tend to be formed in the region inside the skin layer than in the vicinity thereof. Thus, a precursor sheet is formed on the film forming substrate.
樹脂溶液が撥水剤を含む場合、撥水剤の含有量が樹脂30質量部に対して14質量部以下であると、撥水剤と凝固液との間の干渉で生じ得る凝固ムラをより抑制することができるので、結果として得られる樹脂シート112の成膜ムラをより防止することが可能となる。
When the resin solution contains a water repellent, if the content of the water repellent is 14 parts by mass or less with respect to 30 parts by mass of the resin, solidification unevenness that may occur due to interference between the water repellent and the coagulation liquid is further reduced. Since it can suppress, it becomes possible to prevent the film formation nonuniformity of the
次に、溶媒除去工程では、形成された前駆体シート中に残存する溶媒を除去して樹脂シート112を得る。溶媒の除去には、従来知られている洗浄液を用いることができる。また、溶媒を除去した後の樹脂シート112を、必要に応じて乾燥してもよい。樹脂シート112の乾燥には、例えば、内部に熱源を有するシリンダを備えたシリンダ乾燥機を用いることができるが、乾燥方法はこれに限定されない。シリンダ乾燥機を用いる場合、前駆体シートがシリンダの周面に沿って通過することで乾燥する。さらに、得られた樹脂シート112をロール状に巻き取ってもよい。
Next, in the solvent removal step, the solvent remaining in the formed precursor sheet is removed to obtain the
次いで、研削・除去工程では、樹脂シート112の好ましくはスキン層側の主面と、その反対側である裏面とのうちの少なくとも一方を、バフ処理又はスライス処理で研削及び/又は一部除去する。バフ処理やスライス処理により樹脂シート112の厚さの均一化を図ることができるため、被研磨物に対する押圧力を一層均等化し、被研磨物の損傷を更に抑制すると共に被研磨物の平坦性を向上させることができる。また、スキン層側の主面は樹脂シート112において保持面Pとなる面であるため、裏面を研削処理して被研磨物の研磨均一性を向上させることが好ましい。
Next, in the grinding / removal step, preferably, at least one of the main surface on the skin layer side and the back surface on the opposite side of the
次に、樹脂シート112に基材114を接合して保持パッド110を得る。この工程では、例えば基材114及び接着層116を有する両面テープを用いて、樹脂シート112の保持面Pとは反対側の面上に接着層116を介して基材114を接合する。さらに、その基材114の接着層116とは反対側に、両面テープの他方の接着層と剥離紙とが備えられてもよい。こうして保持パッド110が得られる。
Next, the base material 114 is bonded to the
次に、本実施形態の保持パッド110を用いた研磨加工の方法について説明する。研磨加工における被研磨物としては、特に限定されないが、例えば、半導体、半導体デバイス用シリコンウエハ、各種記録用ディスクの基板、液晶ディスプレイ用ガラス基板の材料が挙げられる。これらの中では、本発明による効果をより有効かつ確実に奏する観点から、被研磨物がガラス基板であると好ましい。
Next, a polishing method using the
研磨加工においては、まず、研磨機の被研磨物ホルダに保持パッド110を装着し、保持パッド110で被研磨物を保持する。被研磨物ホルダに保持パッド110を装着するには、必要に応じて両面テープの剥離紙を取り除き、露出した接着層で保持面Pが下方(又は上方)に向くように被研磨物ホルダに接着固定する。あるいは、保持パッド110が両面テープを備えていない場合は、別に用意した接着剤又は粘着剤で保持パッド110を被研磨物ホルダに接着固定する。次に、樹脂シート112の保持面Pに適量の水を含ませて被研磨物を押し付けることで、被研磨物が水の表面張力及び樹脂シート112の粘着性により保持パッド110を介して被研磨物ホルダに保持される。このとき、被研磨物の被研磨面(加工面)が下方(又は上方)に向いている。一方、被研磨物ホルダの下方(又は上方)で被研磨物ホルダと対向するように配置された研磨用定盤には、表面に研磨パッド(研磨布)を研磨面が上方(又は下方)に向くように装着する。
In the polishing process, first, the
次に、被研磨物の被研磨面が研磨パッドの研磨面に接触するように、被研磨物ホルダを研磨用定盤の方へ移動させ被研磨物を搬送する。そして、被研磨物と研磨パッドとの間に、砥粒(研磨粒子;例えば、SiO2、CeO2)及び過酸化水素に代表される酸化剤などの化学成分を含む研磨スラリを循環供給する。それと共に、被研磨物ホルダで被研磨物を研磨パッド側に押圧しながら、被研磨物ホルダと研磨用定盤とを回転させることで、被研磨物の加工面が研磨パッドでCMPにより研磨加工される。Next, the object to be polished is transported by moving the object holder to the polishing surface plate so that the object surface to be polished contacts the polishing surface of the polishing pad. Then, a polishing slurry containing chemical components such as abrasive grains (polishing particles; for example, SiO 2 , CeO 2 ) and an oxidant represented by hydrogen peroxide is circulated and supplied between the object to be polished and the polishing pad. At the same time, the processed surface of the object to be polished is polished by CMP with the polishing pad by rotating the object holder and the polishing surface plate while pressing the object to be polished toward the polishing pad with the object holder. Is done.
本実施形態においては、樹脂シート112の40℃における貯蔵弾性率E’を0.3〜2.0MPaにし、かつ、樹脂シート112の吸水量を95〜200mg/50.3cm2にすることで、被研磨物の吸着不良及び表皮摩耗の両方を抑制することができる。40℃における貯蔵弾性率E’が0.3MPa以上であることにより、研磨加工において樹脂シート112に表皮摩耗が生じ難くなる。一方、40℃における貯蔵弾性率E’が2.0MPa以下であることにより、樹脂シート112の被研磨物に対する吸着力が高まり、吸着不良を起こし難くなる。さらに、吸水量が95mg/50.3cm2以上であることにより、樹脂シート112の被研磨物に対する吸着力が高まり、吸着不良を起こし難くなる。一方、吸着量が200mg/50.3cm2以下であることにより、研磨加工において樹脂シート112に表皮摩耗が生じ難くなる。表皮摩耗の発生を抑制することは、保持面Pの損傷を防止することになるので、結果として保持パッド110の長寿命化に繋がる。In the present embodiment, the storage elastic modulus E ′ at 40 ° C. of the
以上、本実施形態について詳細に説明したが、本発明は上記本実施形態に限定されるものではない。例えば、上記本実施形態では、樹脂シート112と基材114との接合に接着層116を用いているが、それらの接合は接着層116を用いることに限定されない。さらには、本発明の保持パッドは、基材を備えていなくてもよいが、保持パッドの取扱い性の観点から、基材を備えることが好ましい。また、保持パッドの製造方法において、研削・除去工程を省略してもよい。さらに、保持パッドの製造方法において、樹脂溶液に撥水剤を添加することに代えて、又はそれに加えて、得られた樹脂シートに撥水剤を塗布した後、必要に応じて乾燥することにより、樹脂シートに撥水剤を含有させてもよい。撥水剤の塗布方法としては、例えば、ディップ法及びスプレー法が挙げられる。
Although the present embodiment has been described in detail above, the present invention is not limited to the present embodiment. For example, in the present embodiment, the
以下、実施例によって本発明を更に詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。 EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited to these Examples.
(実施例1)
原料の樹脂である100%モジュラス(25℃におけるもの。以下同様。)が6.0MPaであるポリエステル系ポリウレタン樹脂の30%DMF溶液100質量部に対して、DMF50質量部、水8質量部、撥水剤として、パーフルオロヘキシル化合物を含むDIC株式会社製の「クリスボンアシスター SD−38」(商品名)3質量部を添加して、混合撹拌し、樹脂溶液を調製した。次に、成膜用基材として、PETフィルムを用意し、そこに、上記樹脂溶液を、ナイフコータを用いて塗布し、厚さ1.0mmの塗膜を得た。ポリエステル系ポリウレタン樹脂としては、エチレングリコール及びプロピレングリコールとアジピン酸とを脱水縮合して得られたポリエステルポリオールと、メチレンビス(4,1−フェニレン)=ジイソシアネート(MDI)と、低分子ジオールとを縮合して得られたものを用いた(以下の実施例及び比較例においても同様。)。Example 1
For 100 parts by mass of a 30% DMF solution of a polyester polyurethane resin having a 100% modulus (at 25 ° C., the same applies hereinafter), which is a raw material resin, of 6.0 MPa, 50 parts by mass of DMF, 8 parts by mass of water, As a liquid agent, 3 parts by mass of “Crisbon Assister SD-38” (trade name) manufactured by DIC Corporation containing a perfluorohexyl compound was added, mixed and stirred to prepare a resin solution. Next, a PET film was prepared as a substrate for film formation, and the resin solution was applied thereto using a knife coater to obtain a coating film having a thickness of 1.0 mm. Polyester polyurethane resins include polyester polyols obtained by dehydration condensation of ethylene glycol and propylene glycol and adipic acid, methylenebis (4,1-phenylene) = diisocyanate (MDI), and low molecular diols. (The same applies to the following Examples and Comparative Examples).
次いで、得られた塗膜を成膜用基材と共に、凝固液である水からなる18℃の凝固浴に浸漬し、樹脂を凝固再生して前駆体シートを得た。前駆体シートを凝固浴から取り出し、成膜用基材を前駆体シートから剥離した後、前駆体シートを水からなる室温の洗浄液(脱溶剤浴)に浸漬し、溶媒であるDMFを除去して樹脂シートを得た。その後、樹脂シートを乾燥しつつ巻き取った。次に、樹脂シートの裏面(成膜用基材を剥離した側の面であって、成膜基材に接触していた面)に対してバフ処理を施して、0.8mmの厚さとした。 Next, the obtained coating film was immersed in an 18 ° C. coagulation bath made of water as a coagulation liquid together with the film forming substrate, and the resin was coagulated and regenerated to obtain a precursor sheet. After removing the precursor sheet from the coagulation bath and peeling the substrate for film formation from the precursor sheet, the precursor sheet is immersed in a room temperature cleaning solution (desolvent bath) made of water to remove DMF as a solvent. A resin sheet was obtained. Thereafter, the resin sheet was wound up while being dried. Next, the back surface of the resin sheet (the surface on the side where the film-forming substrate was peeled off and the surface that was in contact with the film-forming substrate) was buffed to a thickness of 0.8 mm. .
次に、樹脂シートのバフ処理を施した面に、PET製の基材の両面に接着層(材質:アクリル系樹脂)を有し、更に片面に剥離紙を有する両面テープを、その剥離紙とは反対側の接着層で貼り合わせた後、外径33.5cmの円形に裁断し保持パッドを得た。 Next, a double-sided tape having an adhesive layer (material: acrylic resin) on both sides of a PET substrate and a release paper on one side is provided on the surface of the resin sheet subjected to the buff treatment, and the release paper After bonding with the adhesive layer on the opposite side, it was cut into a circle with an outer diameter of 33.5 cm to obtain a holding pad.
保持パッドに備えられる樹脂シートの40℃における貯蔵弾性率E’を上記「貯蔵弾性率E’の測定方法」、吸水量を上記「吸水量の測定方法」、40℃におけるKELを上記「KELの算出方法」によって、それぞれ測定した。なお、貯蔵弾性率E’及びKELの測定方法では、動的粘弾性測定装置として、ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン社製製品名「RSA III」を用いた。 The storage elastic modulus E ′ at 40 ° C. of the resin sheet provided in the holding pad is the “method for measuring storage elastic modulus E ′”, the water absorption is the “method for measuring water absorption”, and the KEL at 40 ° C. is the above “KEL Each was measured by “calculation method”. In the method for measuring the storage elastic modulus E ′ and KEL, a product name “RSA III” manufactured by TA Instruments Japan Co., Ltd. was used as a dynamic viscoelasticity measuring apparatus.
(吸着力の測定)
保持パッドを約100mm×100mmの正方形に切り出した。また、吸着対象物として直径φ60mm、厚さ約1mmのガラス基板を準備した。固定した定盤上に、切り出した保持パッドを装着した。次いで、保持パッドに備えられる樹脂シートの保持面に適量の水を吹き付け、適度に水切りをした後、ガラス基板を保持パッドにしっかり押し付けて吸着させた。次に、ガラス基板の保持パッド側とは反対側の面に、ガラス基板と同じサイズのクッション層入り両面テープを介して、引張用の治具をしっかり押し付けて貼り付けた。その後、引張用の治具をガラス基板とは反対側に引っ張り、ガラス基板が保持パッドから引き離された際の引張荷重の最大値を読み取った。引張試験機としてTENSILON(ORIENTEC社製)を用いた。被研磨物ホルダに装着した保持パッドを交換することなく、上記操作を3回繰り返して(ただし、2回目以降は、引張用の治具がガラス基板に貼り付けられた状態でガラス基板を保持パッドに吸着させた。)、その3回の引張荷重の最大値を相加平均して吸着力とした。(Measurement of adsorption power)
The holding pad was cut into a square of about 100 mm × 100 mm. A glass substrate having a diameter of 60 mm and a thickness of about 1 mm was prepared as an object to be adsorbed. The cut out holding pad was mounted on a fixed surface plate. Next, an appropriate amount of water was sprayed onto the holding surface of the resin sheet provided in the holding pad, and after appropriate drainage, the glass substrate was firmly pressed against the holding pad to be adsorbed. Next, the jig | tool for tension | pulling was firmly pressed and affixed on the surface on the opposite side to the holding pad side of a glass substrate through the double-sided tape with a cushion layer of the same size as a glass substrate. Thereafter, the tensile jig was pulled to the opposite side of the glass substrate, and the maximum value of the tensile load when the glass substrate was pulled away from the holding pad was read. TENSILON (manufactured by ORIENTEC) was used as a tensile tester. The above operation is repeated three times without changing the holding pad mounted on the workpiece holder (however, after the second time, the glass substrate is held with the tension jig attached to the glass substrate. The maximum value of the three tensile loads was arithmetically averaged to obtain the adsorption force.
(保持パッドの寿命測定)
研磨機(スピードファム株式会社製、商品名「SP−1200」)の所定の位置に保持パッドを装着した。次いで、保持パッドに備えられる樹脂シートの保持面に適量の水を吹き付け、適度に水切りをした後、被研磨物である液晶ディスプレイ用ガラス基板(470mm×370mm×0.5mm)を保持パッドに吸着させた。研磨パッドとしてポリパスFX−7M(フジボウ愛媛株式会社製商品名)を用い、下記の条件にて研磨加工を行った。保持パッドから被研磨物が外れ破損した時点、又は、保持パッドに表皮摩耗が生じた時点をライフエンドとして研磨ができなくなるまで研磨加工を行い、研磨が完了した被研磨物の枚数によって、保持パッドの寿命を評価した。なお、被研磨物の枚数は最大50枚とした。
使用研磨機:オスカー研磨機SP−1200(スピードファム株式会社製商品名)
研磨速度(回転数):61rpm
加工圧力:76gf/cm2
スラリ:ショウロックス A−10(昭和電工株式会社製商品名)10%スラリ
研磨時間:10分/枚
上記各測定の結果を表1に示す。(Holding pad life measurement)
A holding pad was attached to a predetermined position of a polishing machine (trade name “SP-1200” manufactured by Speed Fem Co., Ltd.). Next, after spraying an appropriate amount of water onto the holding surface of the resin sheet provided in the holding pad and draining it appropriately, the glass substrate for liquid crystal display (470 mm × 370 mm × 0.5 mm) as the object to be polished is adsorbed to the holding pad. I let you. Polishing was performed under the following conditions using Polypass FX-7M (trade name, manufactured by Fujibow Atago Co., Ltd.) as a polishing pad. Polishing is performed until polishing is no longer possible when the object to be polished is detached from the holding pad and damaged, or when the skin wear occurs on the holding pad, and the holding pad is determined depending on the number of objects to be polished. Lifespan was evaluated. The maximum number of objects to be polished was 50.
Used polishing machine: Oscar polishing machine SP-1200 (trade name made by Speed Fem Co., Ltd.)
Polishing speed (rotation speed): 61 rpm
Processing pressure: 76 gf / cm 2
Slurry: Show Rocks A-10 (trade name, manufactured by Showa Denko KK) 10% slurry Polishing time: 10 minutes / sheet Table 1 shows the results of the above measurements.
(実施例2)
撥水剤の添加量を、ポリエステル系ポリウレタン樹脂の30%DMF溶液100質量部に対して7質量部に変更した以外は実施例1と同様にして保持パッドを作製し、各測定を行った。各測定の結果を表1に示す。(Example 2)
A holding pad was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of the water repellent added was changed to 7 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the 30% DMF solution of the polyester polyurethane resin, and each measurement was performed. The results of each measurement are shown in Table 1.
(実施例3)
撥水剤の添加量を、ポリエステル系ポリウレタン樹脂の30%DMF溶液100質量部に対して10質量部に変更した以外は実施例1と同様にして保持パッドを作製し、各測定を行った。各測定の結果を表1に示す。(Example 3)
A holding pad was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of the water repellent added was changed to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the 30% DMF solution of the polyester polyurethane resin, and each measurement was performed. The results of each measurement are shown in Table 1.
(実施例4)
撥水剤の添加量を、ポリエステル系ポリウレタン樹脂の30%DMF溶液100質量部に対して13質量部に変更した以外は実施例1と同様にして保持パッドを作製し、各測定を行った。各測定の結果を表1に示す。Example 4
A holding pad was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of the water repellent added was changed to 13 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the 30% DMF solution of the polyester polyurethane resin, and each measurement was performed. The results of each measurement are shown in Table 1.
(実施例5)
原料の樹脂を、100%モジュラスが8.4MPaであるポリエステル系ポリウレタン樹脂に変更した以外は実施例3と同様にして保持パッドを作製し、各測定を行った。各測定の結果を表1に示す。(Example 5)
A holding pad was prepared in the same manner as in Example 3 except that the raw material resin was changed to a polyester polyurethane resin having a 100% modulus of 8.4 MPa, and each measurement was performed. The results of each measurement are shown in Table 1.
(比較例1)
原料の樹脂を、100%モジュラスが3.0MPaであるポリエステル系ポリウレタン樹脂に変更した以外は実施例3と同様にして保持パッドを作製し、各測定を行った。各測定の結果を表1に示す。(Comparative Example 1)
A holding pad was produced in the same manner as in Example 3 except that the raw material resin was changed to a polyester polyurethane resin having a 100% modulus of 3.0 MPa, and each measurement was performed. The results of each measurement are shown in Table 1.
(比較例2)
撥水剤を、パーフルオロオクチル化合物を含むDIC株式会社製の「クリスボンアシスター SD−27」(商品名)に変更した以外は実施例3と同様にして保持パッドを作製し、各測定を行った。各測定の結果を表1に示す。(Comparative Example 2)
A holding pad was prepared in the same manner as in Example 3 except that the water repellent was changed to “Crisbon Assister SD-27” (trade name) manufactured by DIC Corporation containing a perfluorooctyl compound, and each measurement was performed. It was. The results of each measurement are shown in Table 1.
(比較例3)
撥水剤の添加量を、ポリエステル系ポリウレタン樹脂の30%DMF溶液100質量部に対して1質量部に変更した以外は実施例1と同様にして保持パッドを作製し、各測定を行った。各測定の結果を表1に示す。(Comparative Example 3)
A holding pad was produced in the same manner as in Example 1 except that the amount of the water repellent added was changed to 1 part by mass with respect to 100 parts by mass of the 30% DMF solution of the polyester polyurethane resin, and each measurement was performed. The results of each measurement are shown in Table 1.
(比較例4)
撥水剤の添加量を、ポリエステル系ポリウレタン樹脂の30%DMF溶液100質量部に対して15質量部に変更した以外は実施例1と同様にして保持パッドを作製し、各測定を行った。各測定の結果を表1に示す。(Comparative Example 4)
A holding pad was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amount of the water repellent added was changed to 15 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the 30% DMF solution of the polyester polyurethane resin, and each measurement was performed. The results of each measurement are shown in Table 1.
(比較例5)
原料の樹脂を、100%モジュラスが20MPaであるポリエステル系ポリウレタン樹脂に変更した以外は実施例3と同様にして保持パッドを作製し、各測定を行った。各測定の結果を表1に示す。(Comparative Example 5)
A holding pad was produced in the same manner as in Example 3 except that the raw material resin was changed to a polyester polyurethane resin having a 100% modulus of 20 MPa, and each measurement was performed. The results of each measurement are shown in Table 1.
保持パッドの寿命測定において、比較例1、3では、樹脂シートに表皮摩耗が発生し、被研磨物が保持パッドの面内方向にずれた結果、研磨が困難になった。また、比較例2、4、5では、保持パッドから被研磨物が剥がれた結果、研磨が困難になった。 In the measurement of the life of the holding pad, in Comparative Examples 1 and 3, skin abrasion occurred on the resin sheet, and as a result of the object to be polished being displaced in the in-plane direction of the holding pad, polishing became difficult. Further, in Comparative Examples 2, 4, and 5, polishing was difficult as a result of the object to be polished peeled off from the holding pad.
本発明の保持パッドは、半導体、半導体デバイス用シリコンウエハ、各種記録用ディスクの基板、液晶ディスプレイ用ガラス基板などを被研磨物とする研磨加工に好適には用いられるので、それらの用途に産業上の利用可能性がある。 The holding pad of the present invention is suitably used for polishing processing using a semiconductor, a silicon wafer for semiconductor devices, a substrate for various recording disks, a glass substrate for liquid crystal display, etc. as an object to be polished. There is a possibility of use.
110…保持パッド、112…ポリウレタン樹脂シート、114…基材、116…接着層、P…保持面。
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記吸水量は、前記ポリウレタン樹脂シートを40℃の乾燥機内で10時間以上乾燥し、室温20℃、相対湿度50%の大気雰囲気中で、前記乾燥後の前記ポリウレタン樹脂シートを室温まで自然冷却させて第1の質量を測定し、次いで、前記ポリウレタン樹脂シート上に、前記ポリウレタン樹脂シートの表面から水面の高さが60mmとなるようにイオン交換水を保持して8時間静置した後、前記表面から前記イオン交換水を除去して第2の質量を測定し、前記第1の質量と前記第2の質量との差から導き出した吸水量である、保持パッド。 A holding pad including a polyurethane resin sheet having a holding surface for holding an object to be polished, wherein the polyurethane resin sheet has a storage elastic modulus E ′ in a compression mode at 40 ° C. of 0.3 to 2.0 MPa, and water absorption of the polyurethane resin sheet Ri 95~200mg / 50.3cm 2 der,
The water absorption is such that the polyurethane resin sheet is dried in a dryer at 40 ° C. for 10 hours or longer, and the dried polyurethane resin sheet is naturally cooled to room temperature in an air atmosphere at a room temperature of 20 ° C. and a relative humidity of 50%. The first mass was measured, and then the ion-exchanged water was held on the polyurethane resin sheet so that the water surface had a height of 60 mm from the surface of the polyurethane resin sheet, and allowed to stand for 8 hours. A holding pad which is a water absorption amount derived from a difference between the first mass and the second mass by removing the ion exchange water from the surface and measuring a second mass .
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013204246 | 2013-09-30 | ||
JP2013204246 | 2013-09-30 | ||
PCT/JP2014/075196 WO2015046203A1 (en) | 2013-09-30 | 2014-09-24 | Holding pad |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2015046203A1 JPWO2015046203A1 (en) | 2017-03-09 |
JP6423352B2 true JP6423352B2 (en) | 2018-11-14 |
Family
ID=52743339
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015539236A Active JP6423352B2 (en) | 2013-09-30 | 2014-09-24 | Holding pad |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6423352B2 (en) |
KR (1) | KR102225294B1 (en) |
CN (1) | CN105579195B (en) |
TW (1) | TWI635930B (en) |
WO (1) | WO2015046203A1 (en) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6940363B2 (en) * | 2017-10-10 | 2021-09-29 | 富士紡ホールディングス株式会社 | Holding pad and its manufacturing method |
JP6968651B2 (en) * | 2017-10-12 | 2021-11-17 | 富士紡ホールディングス株式会社 | Polishing pad and its manufacturing method |
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JP7421978B2 (en) * | 2020-03-27 | 2024-01-25 | 富士紡ホールディングス株式会社 | Holding pad and method for manufacturing the same |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09254027A (en) | 1996-03-25 | 1997-09-30 | Chiyoda Kk | Mounting material for grinding |
JPH11151665A (en) * | 1997-11-20 | 1999-06-08 | Central Glass Co Ltd | Back pad and water absorption prevention method therefor |
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-
2014
- 2014-09-24 WO PCT/JP2014/075196 patent/WO2015046203A1/en active Application Filing
- 2014-09-24 JP JP2015539236A patent/JP6423352B2/en active Active
- 2014-09-24 CN CN201480048115.6A patent/CN105579195B/en active Active
- 2014-09-24 KR KR1020167005205A patent/KR102225294B1/en active IP Right Grant
- 2014-09-30 TW TW103134004A patent/TWI635930B/en active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI635930B (en) | 2018-09-21 |
KR102225294B1 (en) | 2021-03-10 |
WO2015046203A1 (en) | 2015-04-02 |
JPWO2015046203A1 (en) | 2017-03-09 |
TW201521958A (en) | 2015-06-16 |
CN105579195B (en) | 2018-06-15 |
CN105579195A (en) | 2016-05-11 |
KR20160065082A (en) | 2016-06-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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