KR20160004064U - 래치를 구비하는 테스트 소켓 - Google Patents

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Abstract

본 고안은 래치를 구비하는 테스트 소켓에 관한 것으로, 조정핸들(10)은 시험할 반도체 소자를 누르는 누름판(50)을 위,아래로 이동시키고, 상부 케이스(20)는 시험할 반도체 소자를 수용하는 하부 케이스(110)에 설치되고, 제1 및 제2 래치(30, 40)는 래치 몸체(31, 41)를 상부 케이스(20)에 회전가능하게 고정하는 래치핀(32, 42)에 의해 회전가능하게 설치되고, 래치핀(32, 42)이 삽입되는 래치 삽입홀(25)에 래치핀 스프링(33)이 삽입되어 래치핀(32, 42)에 탄성력을 제공하여 래치핀(32, 42)에 가해지는 래치핀 스프링(33)의 탄성력이 래치핀(32,42)의 끝단부에 결합되는 래치 너트(34)를 래치핀 삽입홀(25)의 래치핀 삽입홀(25)에 밀착시킴으로써 래치 너트(34)와 래치핀 삽입홀(25)에 마찰력을 발생시켜 자연히 또는 반복되는 진동 등의 외력에 의해 풀리는 것을 방지함으로써 반도체 소자의 테스트시에 래치핀이 반영구적으로 빠지지 않도록 함으로써 생산성과 경제성을 향상시킬 수 있다.

Description

래치를 구비하는 테스트 소켓{test socket with a latch}
본 고안은 래치를 구비하는 테스트 소켓에 관한 것으로, 보다 상세하게는 반도체 칩 등 소정의 전기 부품의 간이 테스트를 위하여 전기부품의 입출력단자 등을 테스트 단자에 탄성적인 압압상태에서 전기적으로 접속되도록 래치할 수 있는 래치를 구비하는 테스트 소켓에 관한 것이다.
반도체 장치의 제조 과정에서 집적회로 칩(이하 IC 칩이라 한다)은 통상의 작동 조건보다 높은 온도 및 전압으로 과부하를 가하여 그 수명 및 불량여부를 사전에 발견하기 위한 번인 테스트를 실시하는 것이 필수적이다.
IC 디바이스는 최종 용도에 사용하기 위하여 최종적으로 패키징되기 전에 테스트되는 것이 일반적으로 바람직하다. 부분-마무리된 디바이스는 기판 상에 접촉 패드 또는 칩에 접속된 핀과 함께 장착된 IC 칩을 대표적으로 포함한다.
테스트에서, 테스터가 테스트를 수행하기 위하여, 스스로의 동작 또는 부분적인 번인(burn-in) 동작으로, 이들 패드에 접촉할 수 있는 것이 필요하다. 다양한 소켓 조립체 또는 캐리어가 번-인 또는 종래의 테스트에서 DUT(Device Under Test) 와 테스터 사이의 인터페이스를 제공하기 위하여 사용되었다.
도 1에 종래의 기술에 의한 IC를 테스트하기 위한 테스트 소켓이 도시된다.
소켓 베이스(1)는 IC(6)을 포함하는 DUT(4)를 수용하는 상부 표면상에서 요홈(2)과 함께 제공된다. 접촉 패드(도시 안됨)는 테스터에 접속하기 위하여 베이스(도시 안됨) 내에서 포고(pogo) 핀과 접촉한다. 리드(8)는 핀(9a)의 위치를 정함으로써 베이스(1) 상에 위치하고, 베이스(1) 내에서 그루브(4a)와 맞물리게 하는 한 쌍의 스프링식 래치(2a)에 의해 위치가 유지된다. DUT(4)의 로드 베어링 부분과 맞물리도록 구성된 백업(6a)은 록 다운(8a) 상의 리드(8) 내에 위치한다. 록 다운(8a)의 회전에 의해, 백업(6a)은 DUT(4)에 대하여 강제되어 접촉 패드를 포고 핀 상으로 누른다. 압력은 반대 방향의 록 다운을 회전시킴에 의해 방출되고 방출된 래치는 테스트 후 소켓으로부터 DUT를 제거하는 것을 허용한다.
이러한 종래의 기술에 의한 테스트 소켓은 래치가 빠지지 않도록 래치의 일측 단부에 이-링(E-Ring)을 끼워 고정시키지만, 래치의 회전운동에 의한 래치핀의 빠짐현상이 자주발생하였다. 이러한 문제를 해결하기 위하여 셋 스크류(Set Screw) 등을 체결하였지만, 그래도 래치의 반복적인 회전운동에 의해 래치핀의 빠짐현상이 발생하여 IC 칩의 테스트 공정에 불량이 생기고 고장수리에 의한 테스트 시간지연과 생산비가 상승하는 요인이 되었다.
대한민국 공개특허 제10-1999-013621호(1999.02.25. 공개) 대한민국 등록공고 제10-1995-0004991호(1995.05.16. 공고) 대한민국 등록특허 제10-0293590호(2001.04.04. 등록) 대한민국 등록특허 제10-0296759호(2001.05.14. 등록)
본 고안은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 고안의 목적은 반도체 소자의 테스트시에 래치핀이 반영구적으로 빠지지 않도록 함으로써 생산성과 경제성을 향상시킬 수 있고 안정성과 신뢰성이 향상된 래치를 구비하는 테스트 소켓을 제공하는 것이다.
본 고안의 다른 목적은 테스트 소켓의 래치를 상부 케이스에 고정시에 래치핀 스프링과 함께 래치핀을 삽입하여 래치핀에 가해지는 탄성력이 래치핀 끝단부에 결합되는 래치 너트를 래치핀 삽입홀에 밀착시킴으로써 래치 너트와 래치핀 삽입홀에 마찰력을 발생시켜 자연히 또는 반복되는 진동 등의 외력에 의해 풀리는 것을 방지할 수 있는 래치를 구비하는 테스트 소켓을 제공하는 것이다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 고안은, 시험할 반도체 소자를 누르는 누름판을 위,아래로 이동시키는 조정핸들과; 상기 시험할 반도체 소자를 수용하는 하부 케이스에 설치되는 상부 케이스와; 상부 케이스의 측면에 형성되는 제1 및 제2 래치 삽입홈에 설치되는 래치 스프링에 의해 서로 오므려지는 탄성력을 가지며 상기 상부 케이스의 측면에 삽입되는 래치핀을 힌지축으로 하여 회전가능하게 설치되고 상기 하부 케이스의 제1 및 제2 걸림홈에 걸려 고정되는 제1 및 제2 래치와; 상기 조정핸들의 조작에 의해 위, 아래로 상승 및 하강하며 상기 하부 케이스에 수용되는 상기 시험할 반도체 소자를 압박하는 누름판을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
본 고안의 일실시예에 의하면 상기 제1 및 제 2 래치는 상기 제1 및 제2 래치 삽입홈에 삽입되는 래치 몸체와; 상기 래치 몸체를 상부 케이스에 회전가능하게 고정하는 래치핀과; 상기 래치핀이 삽입되는 래치 삽입홀에 삽입되어 상기 래치핀에 탄성력을 제공하는 래치핀 스프링과; 상기 래치핀의 끝단에 형성되는 나사에 결합하는 래치 너트와; 상기 상부 케이스의 스프링 삽입홀에 삽입되어 상기 래치 몸체의 걸고리가 오므려지게 하는 탄성력을 제공하는 래치 스프링을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
본 고안의 일실시예에 의하면 상기 제1 및 제2 래치가 상기 래치 스프링에 의해 상기 래치핀을 중심으로 회전하는 힘을 받아 상기 하부 케이스의 걸림홈에 걸려 각각 고정됨으로써 상기 하부 케이스에 걸려 고정되도록 구성되는 것을 특징으로 한다.
본 고안의 일실시예에 의하면 상기 래치핀 삽입홀은 상기 래치핀의 헤드가 삽입될 수 있도록 가장 큰 지름으로 형성되는 제1 측단 래치핀 삽입홀과; 상기 래치핀 스프링이 삽입될 수 있도록 중간에 형성되는 제2 측단 래치핀 삽입홀과; 상기 제1 래치핀이 삽입 관통하여 타측에 있는 래치핀 삽입홀에 삽입될 수 있도록 형성되는 제3 측단 래치핀 삽입홀와; 상기 제1 래치핀이 제1 래치몸체의 래치핀 삽입홀을 관통 후 삽입되도롤 형성되는 제1 타측단 래치핀 삽입홀과; 상기 제1 래치핀의 끝단에 형성되는 나사에 결합되는 래치 너트가 삽입되도록 형성되는 제2 타측단 래치핀 삽입홀을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 고안에 따르면, 래치핀에 의해 제1 및 제2 래치는 래치 몸체를 상부 케이스에 회전가능하게 고정 설치되고, 래치핀이 삽입되는 래치핀 삽입홀에 래치핀 스프링이 삽입되어 래치핀에 가해지는 래치핀 스프링의 탄성력이 래치 너트를 래치핀 삽입홀에 밀착시킴으로써 래치 너트와 래치핀 삽입홀에 마찰력을 발생시켜 자연히 또는 반복되는 진동 등의 외력에 의해 풀리는 것을 방지할 수 있으며, 반도체 소자의 테스트시에 래치핀이 반영구적으로 빠지지 않도록 함으로써 생산성과 경제성을 향상시킬 수 있다.
도 1 은 종래의 기술에 의한 IC를 테스트하기 위한 테스트 소켓,
도 2 는 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 반도체 소자테스트용 소켓의 사시도,
도 3 은 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 반도체 소자테스트용 소켓의 분해 사시도,
도 4 는 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 반도체 소자테스트용 소켓의 저면을 나타내는 사시도,
도 5 는 본 고안에 의한 상부 케이스에 래치몸체와 래치핀이 설치되는 상태를 나타내는 평면도,
도 6 은 본 고안에 의한 상부 케이스에 래치몸체와 래치핀이 설치되는 상태를 나타내기 위해 도 2의 A-A 선을 따라 자른 단면도이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 고안의 바람직한 실시 예들을 보다 상세하게 설명하면 다음과 같다.
도 2 에 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 반도체 소자 테스트용 소켓의 사시도가 도시되고, 도 3 에 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 반도체 소자 테스트용 소켓의 분해 사시도가 도시되고, 도 4에 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 반도체 소자 테스트용 소켓의 저면을 나타내는 사시도가 도시된다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 본 고안의 바람직한 제 1 실시 예에 따른 반도체 소자 테스트용 소켓(100)은 시험할 반도체 소자를 누르는 누름판(50)을 위,아래로 이동시키는 조정핸들(10)과; 상기 시험할 반도체 소자를 수용하는 하부 케이스(110)에 설치되는 상부 케이스(20)와; 상기 상부 케이스(20)의 측면에 설치되어 상기 하부 케이스(110)의 제1 및 제2 걸림홈(111, 115)에 걸려 고정되는 제1 및 제2 래치(30, 40)와; 상기 조정핸들(10)의 조작에 의해 위, 아래로 상승 및 하강하며 상기 하부 케이스(110)에 수용되는 반도체 소자(도시생략)를 압박하는 누름판(50)을 포함하여 구성된다.
본 고안에 의한 조정핸들(10)은 상부에 형성되는 손잡이(11)와; 상기 손잡이(11)의 중심에서 하부 방향을 향하여 돌출 연장되어 형성되는 회전축(12); 및 상기 회전축(12)에 숫나사로 형성되는 나사(13)를 포함하여 구성된다.
조정핸들(10)은 나사(13)에 의해 상부 케이스(20)의 결합구멍(21)에 나사결합되어 시계방향 또는 반시계방향 회전에 따라 상승 및 하강하면서 상기 누름판(50)을 상승 및 하강하도록 조정한다.
본 고안에 의한 상부 케이스(20)는 본 실시예에서 사각 박스 형상이지만, 구형, 육각기둥, 팔각기둥 등의 형상을 가질 수 있으며, 윗면 중심에 조정핸들(10)이 결합되는 결합구멍(21)이 형성되고, 내부에는 상기 누름판(50)을 수용하는 공동부(22)가 형성된다.
또한 상부 케이스(20)의 마주보는 제1 및 제2 측면에는 제1 및 제2 래치(30, 40)가 삽입되어 결합되는 제1 및 제2 래치 삽입홈(23)이 형성되고, 제1 및 제2 래치 삽입홈(23)에는 제1 및 제2 래치 스프링(35)이 삽입되는 스프링 삽입홀(27)이 형성된다.
상기 제1 및 제2 래치 스프링(35)은 래치핀(32) 보다 윗쪽에 설치되어 래치몸체(31, 41)의 상부에 탄성력으로 밀고 있기 때문에 상기 제1 및 제2 래치(30, 40)의 래치몸체(31, 41)가 각각 래치핀(32, 42)을 힌지축으로 하여 래치핀(32, 42)을 중심으로 상부는 밖으로 돌출하는 힘을 받고, 하부는 안쪽으로 미는 힘을 받아 상기 래치몸체(31, 41)의 하부에 형성된 걸고리(31b, 41b)가 각각 하부 케이스(110)의 걸림홈(111, 115)에 걸려서 고정된다.
본 고안에 의한 제1 및 제2 래치(30, 40)는 상부 케이스(20)의 4측면 중 하부 케이스(110)의 걸림홈(111, 115)에 대응하며 서로 마주보는 제1 및 제2 측면에 설치되어 하부 케이스(110)의 걸림홈(111, 115)에 걸려 각각 고정됨으로써 상부 케이스(20)가 하부 케이스(110)에 고정되도록 한다.
제1 및 제2 래치(30, 40)는 상부 케이스(20)의 서로 마주보는 측면에 설치될 뿐 동일한 구성을 가지므로 제1 래치(30)에 대해서 설명하며, 제1 래치(30)에 대한 설명은 제2 래치(40)에 대해서도 동일하게 적용된다.
제1 래치(30)는 래치 삽입홈(23)에 삽입되는 래치 몸체(31)와; 상기 래치 몸체(31)를 상부 케이스(20)에 회전가능하게 고정하는 래치핀(32)과; 상기 래치핀(32)이 삽입되는 래치 삽입홀(25)에 삽입되어 상기 래치핀(32)에 탄성력을 제공하는 래치핀 스프링(33)과; 상기 래치핀(32)의 끝단에 형성되는 나사에 결합하는 래치 너트(34)와; 상기 상부 케이스(20)의 스프링 삽입홀(27)에 삽입되어 상기 래치 몸체(31)의 걸고리(31b)가 오므려지게 하는 탄성력을 제공하는 래치 스프링(35)을 포함하여 구성된다.
제1 래치(30)의 래치몸체(31)는 상부 케이스(20)의 제1 래치 삽입홈(23)에 삽입되고, 측면에 형성되는 래치핀 삽입홀(31b)에 래치핀(32)이 삽입되어 상기 래치핀(32)을 중심으로 힌지축으로서 회전가능하게 되고, 상부 케이스(20)의 제1스프링 삽입홀(27)에 삽입되는 래치 스프링(35)에 의해 상기 제2 래치(40)의 래치 몸체(41)를 향하여 오므려지는 탄성력을 갖게 된다.
마찬가지로, 제2 래치(40)의 래치몸체(41)는 상부 케이스(20)의 제2 래치 삽입홈(도시생략)에 삽입되고, 측면에 형성되는 래치핀 삽입홀(도시생략)에 래치핀(42)이 삽입되어 제2 스프링 삽입홀(도시생략)에 삽입되는 래치 스프링(도시생략)에 의해 상기 래치핀(42)을 중심으로 회전함으로써 상기 제1 래치(30)의 래치 몸체(31)를 향하여 오므려지는 탄성력을 갖게 된다.
따라서 도 2에 도시된 바와 같이 제1 및 제2 래치(30, 40)가 래치 스프링(35)에 의해 래치핀(32, 42)을 중심으로 회전하는 힘을 받아 하부 케이스(110)의 걸림홈(111, 115)에 걸려 각각 고정됨으로써 테스트 소켓(100)은 상부 케이스(20)가 하부 케이스(110)에 걸려 고정된다.
본 고안에 의한 제 1 및 제 2 래치(30, 40)는 제1 래치핀 삽입홀(25)과 제2 래치핀 삽입홀(도시생략)에 삽입되는 래치핀(32, 42)에 의해 상부 케이스(20)의 제1 래치 삽입홈(23)과 제2 래치 삽입홈(도시생략)에 회전가능하게 각각 설치된다.
도 5에 본 고안에 의한 상부 케이스에 래치몸체와 래치핀이 설치되는 상태를 나타내는 평면도가 도시되고, 도 6에 본 고안에 의한 상부 케이스에 래치몸체와 래치핀이 설치되는 상태를 나타내기 위해 도 2의 A-A 선을 따라 자른 단면도가 도시된다.
제 1 래치핀 삽입홀(25)은 도 5와 도 6에 도시된 바와 같이 래치핀(32)의 헤드(32a)가 삽입될 수 있도록 가장 큰 지름으로 형성되는 제1 측단 래치핀 삽입홀(25a)과; 상기 래치핀 스프링(33)이 삽입될 수 있도록 중간에 형성되는 제2 측단 래치핀 삽입홀(25b)과; 제1 래치핀(32)이 삽입 관통하여 우측에 있는 래치핀 삽입홀(25)에 삽입될 수 있도록 형성되는 제3 측단 래치핀 삽입홀(25c)와; 상기 제1 래치핀(32)이 제1 래치몸체(31)의 래치핀 삽입홀(31b)를 관통 후 삽입되도롤 형성되는 제1 타측단 래치핀 삽입홀(25d)과; 상기 제1 래치핀(32)의 끝단에 형성되는 나사(32b)에 결합되는 래치 너트(34)가 삽입되도록 형성되는 제2 타측단 래치핀 삽입홀(25e)를 포함하여 구성된다.
여기서 도 5와 도 6 에 도시된 바와 같이 제 1 래치핀 삽입홀(25)에 제1 래치핀(32)이 삽입되기 전에 래치핀 스프링(33)을 먼저 삽입하고, 후에 삽입되는 래치핀(32)이 상기 래치핀 스프링(33)을 눌러서 수축시킴으로써 밖으로 미는 탄성력을 래치핀(32)에 제공한다.
상기 제1 래치핀(32)에 가해지는 래치핀 스프링(33)의 탄성력이 제1 래치핀(32)의 끝단부에 결합되는 래치 너트(34)를 제 1 래치핀 삽입홀(25)의 제2 타측단 래치핀 삽입홀(25e)에 밀착시킴으로써 래치 너트(34)와 제2 타측단 래치핀 삽입홀(25e)에에 마찰력을 발생시켜 자연히 또는 반복되는 진동 등의 외력에 의해 풀리는 것을 방지할 수 있다.
여기서 제1 래치(30)와 그 구성요소에 의한 작용과 효과에 대해서 설명했지만, 제1 래치(30)와 그 구성요소에 대한 설명은 제 2 래치(40)와 그 구성요소에 대해서도 동일하게 적용된다.
이상에서는 본 고안을 특정의 바람직한 실시예를 예를들어 도시하고 설명하였으나, 본 고안은 상기한 실시예에 한정되지 아니하며 본 고안의 기술사상을 벗어나지 않는 범위내에서 당해 고안이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변경과 수정이 가능할 것이다.
10: 조정핸들 11: 손잡이
12 : 회전축 13: 나사
20: 상부 케이스 21: 결합구멍
22: 공동부 23: 제1 래치 삽입홈
25: 래치 삽입홀 27: 스프링 삽입홀
30, 40: 제1 및 제2 래치 31,41: 제1 및 제2 래치 몸체
32, 42: 래치핀 33: 래치핀 스프링
34: 래치 너트 35: 래치 스프링
22: 공동부 23: 제1 래치 삽입홈
25: 래치 삽입홀 27: 스프링 삽입홀
50: 누름판 100: 반도체 소자 테스트용 소켓
110: 하부 케이스 111, 115: 제1 및 제2 걸림홈

Claims (4)

  1. 시험할 반도체 소자를 누르는 누름판을 위,아래로 이동시키는 조정핸들과;
    상기 시험할 반도체 소자를 수용하는 하부 케이스에 설치되는 상부 케이스와;
    상부 케이스의 측면에 형성되는 제1 및 제2 래치 삽입홈에 설치되는 래치 스프링에 의해 서로 오므려지는 탄성력을 가지며 상기 상부 케이스의 측면에 삽입되는 래치핀을 힌지축으로 하여 회전가능하게 설치되고 상기 하부 케이스의 제1 및 제2 걸림홈에 걸려 고정되는 제1 및 제2 래치와;
    상기 조정핸들의 조작에 의해 위, 아래로 상승 및 하강하며 상기 하부 케이스에 수용되는 상기 시험할 반도체 소자를 압박하는 누름판을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 래치를 구비하는 테스트 소켓.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 및 제 2 래치는 상기 제1 및 제2 래치 삽입홈에 삽입되는 래치 몸체와; 상기 래치 몸체를 상부 케이스에 회전가능하게 고정하는 래치핀과; 상기 래치핀이 삽입되는 래치 삽입홀에 삽입되어 상기 래치핀에 탄성력을 제공하는 래치핀 스프링과; 상기 래치핀의 끝단에 형성되는 나사에 결합하는 래치 너트와; 상기 상부 케이스의 스프링 삽입홀에 삽입되어 상기 래치 몸체의 걸고리가 오므려지게 하는 탄성력을 제공하는 래치 스프링을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 래치를 구비하는 테스트 소켓.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 래치가 상기 래치 스프링에 의해 상기 래치핀을 중심으로 회전하는 힘을 받아 상기 하부 케이스의 걸림홈에 걸려 각각 고정됨으로써 상기 하부 케이스에 걸려 고정되도록 구성되는 것을 특징으로 하는 래치를 구비하는 테스트 소켓.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 래치핀 삽입홀은 상기 래치핀의 헤드가 삽입될 수 있도록 가장 큰 지름으로 형성되는 제1 측단 래치핀 삽입홀과; 상기 래치핀 스프링이 삽입될 수 있도록 중간에 형성되는 제2 측단 래치핀 삽입홀과; 상기 제1 래치핀이 삽입 관통하여 타측에 있는 래치핀 삽입홀에 삽입될 수 있도록 형성되는 제3 측단 래치핀 삽입홀와; 상기 제1 래치핀이 제1 래치몸체의 래치핀 삽입홀을 관통 후 삽입되도롤 형성되는 제1 타측단 래치핀 삽입홀과; 상기 제1 래치핀의 끝단에 형성되는 나사에 결합되는 래치 너트가 삽입되도록 형성되는 제2 타측단 래치핀 삽입홀을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 래치를 구비하는 테스트 소켓.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220001557A (ko) * 2020-06-29 2022-01-06 (주)메리테크 무선 히팅 소켓
KR20230040618A (ko) * 2021-09-16 2023-03-23 주식회사 티에프이 반도체 패키지 테스트용 소켓에서 고정 핀을 분리하기 위한 지그

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110170941B (zh) * 2019-06-18 2020-10-09 上海航天科工电器研究院有限公司 一种vpx模块用调试夹具

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR950004991A (ko) 1993-07-31 1995-02-18 이헌조 모니터절전회로
JPH11125658A (ja) * 1997-07-07 1999-05-11 Schlumberger Technol Inc テストソケット組立体
KR19990064603A (ko) 1999-04-16 1999-08-05 정재호 비치 파라솔용 지지대
KR100296759B1 (ko) 1999-04-29 2001-07-12 정문술 번인 테스터용 소팅 핸들러의 포킹 및 언포킹 픽커
KR100293590B1 (ko) 1998-03-17 2001-07-12 장 흥 순 반도체소자검사장치용캐리어모듈
JP2008261861A (ja) * 2007-04-13 2008-10-30 Techwing Co Ltd テストハンドラーのキャリアボード用のインサート
KR20110011462A (ko) * 2009-07-28 2011-02-08 (주)테크윙 전자부품 검사장비용 캐리어보드 개방장치, 캐리어보드의 인서트 및 캐리어보드
KR20140091276A (ko) * 2013-01-11 2014-07-21 (주) 프렉코 디스플레이장치의 힌지장치

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR950004991A (ko) 1993-07-31 1995-02-18 이헌조 모니터절전회로
JPH11125658A (ja) * 1997-07-07 1999-05-11 Schlumberger Technol Inc テストソケット組立体
KR100293590B1 (ko) 1998-03-17 2001-07-12 장 흥 순 반도체소자검사장치용캐리어모듈
KR19990064603A (ko) 1999-04-16 1999-08-05 정재호 비치 파라솔용 지지대
KR100296759B1 (ko) 1999-04-29 2001-07-12 정문술 번인 테스터용 소팅 핸들러의 포킹 및 언포킹 픽커
JP2008261861A (ja) * 2007-04-13 2008-10-30 Techwing Co Ltd テストハンドラーのキャリアボード用のインサート
KR20110011462A (ko) * 2009-07-28 2011-02-08 (주)테크윙 전자부품 검사장비용 캐리어보드 개방장치, 캐리어보드의 인서트 및 캐리어보드
KR20140091276A (ko) * 2013-01-11 2014-07-21 (주) 프렉코 디스플레이장치의 힌지장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220001557A (ko) * 2020-06-29 2022-01-06 (주)메리테크 무선 히팅 소켓
KR20230040618A (ko) * 2021-09-16 2023-03-23 주식회사 티에프이 반도체 패키지 테스트용 소켓에서 고정 핀을 분리하기 위한 지그

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