KR20150132195A - Resin composition and adhesive film, coverlay film, and interlayer adhesive using resin composition - Google Patents

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Abstract

기판 재료에 대하여 우수한 접착 강도를 갖고, 또한, 주파수 1GHz 이상의 고주파 영역에서의 전기 특성, 구체적으로는, 주파수 1GHz 이상의 영역에서 저유전율(ε) 및 저유전 정접(tanδ)을 나타내는 것에 더하여, 열경화시의 수축 응력이 적고, 180 이하에서 열경화할 수 있는 수지 조성물, 및, 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름, 및, 커버레이 필름을 제공한다. 본 발명의 수지 조성물은, (A)하기 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물, (B)스티렌 함유량이 15~35%인 폴리스티렌-폴리(에틸렌/부틸렌) 블록 공중합체, (C)스티렌 함유량이 25~40%인 폴리스티렌-폴리(에틸렌-에틸렌/프로필렌) 블록 공중합체, (D)에폭시 수지, (E)비스말레이미드, (F)시차 주사 열량(DSC) 측정에 의한 발열 피크가 100℃ 이상 180℃ 이하인 유기 과산화물을 포함하고, 각 성분의 질량비가, (A+E)/(B+C)=0.81 이상 1.00 이하, (B)/(C)=1.00 이상 4.00 이하이고, 상기 성분 (A)~(F)의 합계 질량에 대한 질량 퍼센트로, 상기 성분 (D)를 1~10질량% 함유하고, 상기 (A)성분의 함유량에 대한 질량 퍼센트로, 상기 성분 (F)를 0.1~10질량% 함유한다.It has an excellent adhesive strength to a substrate material and exhibits electric characteristics in a high frequency range of 1 GHz or more in frequency, specifically, low dielectric constant (epsilon) and low dielectric loss tangent (tan delta) in a frequency range of 1 GHz or more, A resin composition which is less in shrinkage stress at a time and can be thermally cured at 180 or lower, and an adhesive film and a coverlay film produced using the resin composition. (A) a vinyl compound represented by the following general formula (1), (B) a polystyrene-poly (ethylene / butylene) block copolymer having a styrene content of 15 to 35%, (C) (D) an epoxy resin, (E) bismaleimide, (F) an exothermic peak measured by differential scanning calorimetry (DSC) of 100 to 100 (B) / (C) = 1.00 or more and 4.00 or less, wherein the mass ratio of (A + E) / (B + C) is 0.81 or more and 1.00 or less, (F) as a mass percentage with respect to the content of the component (A), 0.1 to 10 mass% of the component (D) with respect to the total mass of the components (A) to To 10% by mass.

Description

수지 조성물, 그리고, 그것에 의한 접착 필름, 커버레이 필름, 층간 접착제 {RESIN COMPOSITION AND ADHESIVE FILM, COVERLAY FILM, AND INTERLAYER ADHESIVE USING RESIN COMPOSITION}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a resin composition, and an adhesive film, a coverlay film, and an interlayer adhesive therefor,

본 발명은, 수지 조성물에 관한 것이다. 보다 구체적으로는, 전기·전자 용도의 접착 필름이나 프린트 배선판의 커버레이 필름에 적합한 수지 조성물에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition. More specifically, the present invention relates to a resin composition suitable for an adhesive film for electric or electronic use or a coverlay film for a printed wiring board.

또한, 본 발명은, 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름, 및, 커버레이 필름에 관한 것이다.The present invention also relates to an adhesive film and a coverlay film produced using the resin composition.

또한, 본 발명은, 다층 프린트 배선의 층간 접착에 대한 당해 수지 조성물의 사용에 관한 것이다.The present invention also relates to the use of the resin composition for interlayer adhesion of multilayer printed wiring.

최근, 전기·전자 기기에 사용되는 프린트 배선판은, 기기의 소형화, 경량화 및 고성능화가 진행되고 있고, 특히 다층 프린트 배선판에 대하여, 추가적인 고다층화, 고밀도화, 박형화, 경량화, 고신뢰성 및 성형 가공성 등이 요구되고 있다.2. Description of the Related Art In recent years, printed wiring boards used in electric and electronic devices have been progressing in size, weight, and high performance, and in particular, demand for additional multilayer, high density, thinness, light weight, high reliability, .

또한, 최근의 프린트 배선판에 있어서의 전송 신호의 고속화 요구에 따라, 전송 신호의 고주파화가 현저하게 진행되고 있다. 이에 의해, 프린트 배선판에 사용하는 재료에 대하여, 고주파 영역, 구체적으로는, 주파수 1GHz 이상의 영역에서의 전기 신호 손실을 저감할 수 있을 것이 요구된다.In addition, in response to a request for increasing the speed of the transmission signal in the printed wiring board in recent years, the frequency of the transmission signal is remarkably advanced. Thus, it is required that the material used for the printed wiring board is capable of reducing electric signal loss in a high frequency region, specifically, in a region of 1 GHz or more in frequency.

다층 프린트 배선판에 사용되는 층간 접착제나, 프린트 배선판의 표면 보호막(즉, 커버레이 필름)으로서 사용하는 접착 필름에 대해서도, 고주파 영역에서 우수한 전기 특성(저유전율(ε), 저유전 정접(tanδ))을 나타낼 것이 요구된다.(Low permittivity (?), Low dielectric loss tangent (tan?)) In an interlayer adhesive used for a multilayer printed wiring board and an adhesive film used as a surface protective film (that is, a coverlay film) .

특허문헌 1에는, 저유전율, 저유전 정접으로, 내열성, 기계 특성, 내약품성, 난연성이 우수한 경화물을 부여하고, 저온에서 경화할 수 있는 경화성 수지 조성물, 및 이것을 사용한 경화성 필름, 및 이들을 경화하여 이루어지는 경화물, 필름이 개시되어 있다.Patent Document 1 discloses a curable resin composition capable of imparting a cured product excellent in heat resistance, mechanical properties, chemical resistance and flame retardancy with a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent and capable of curing at a low temperature and a curable film using the same, A cured product, and a film.

한편, 특허문헌 2에는, 플렉서블 프린트 배선판의 배선을 이루는 금속박이나, 당해 플렉서블 프린트 배선판의 기판 재료에 대하여 우수한 접착 강도를 갖고, 또한, 주파수 1GHz 이상의 고주파 영역에서의 전기 특성, 구체적으로는, 주파수 1GHz 이상의 영역에서 저유전율(ε) 및 저유전 정접(tanδ)을 나타내는 커버레이 필름이 제안되어 있다.On the other hand, Patent Document 2 discloses a metal foil which forms a wiring of a flexible printed wiring board, an excellent adhesive strength to a substrate material of the flexible printed wiring board, an electrical characteristic in a high frequency region of 1 GHz or more, A coverlay film showing a low dielectric constant (epsilon) and a low dielectric loss tangent (tan delta) is proposed.

특허문헌 1: 일본 공개특허공보 2009-161725호Patent Document 1: JP-A-2009-161725 특허문헌 2: 일본 공개특허공보 2011-68713호Patent Document 2: JP-A No. 2011-68713

다층 프린트 배선판의 층간 접착시에 있어서, 열경화시의 수축 응력에 의해 층간 접착부에 응력이 잔류하는 경우가 있다. 층간 접착부에 있어서의 응력 변형이 커지면, 휨이 발생하여 비아 접속의 신뢰성이 저하된다.Stress may remain in the interlayer bonding portion due to shrinkage stress at the time of thermosetting at the time of interlayer bonding of the multilayer printed wiring board. When the stress deformation in the interlayer bonding portion becomes large, warpage occurs and the reliability of the via connection deteriorates.

또한, 플렉서블 프린트 배선판(FPC)의 커버레이 필름으로서 사용하는 접착 필름에 있어서도, 열경화시의 수축 응력에 의해 휨이 발생하는 경우가 있다. 이러한 휨이 발생하면, 본래 구해져야 할 FPC의 유연성이 저해되어 버려, 예를 들어, FPC 케이블로서의 사용이 곤란해진다. 한편, 이러한 휨은, 박판화가 진행되는 리지드 기판의 커버레이 필름으로서 사용한 경우에도 문제가 된다.In addition, even in an adhesive film used as a coverlay film of a flexible printed wiring board (FPC), warpage may occur due to shrinkage stress during thermal curing. If such warping occurs, the flexibility of the FPC to be originally obtained is impaired, making it difficult to use, for example, an FPC cable. On the other hand, such warpage is a problem even when used as a coverlay film of a rigid substrate on which thinning progresses.

또한, 다층 프린트 배선판의 층간 접착시나, FPC의 커버레이 필름으로서 사용하는 접착 필름의 열경화시에 있어서, 일반적으로 기판 제조에 사용되는 설비·조건이 적용 가능한 것, 200℃ 이상의 고온으로부터 냉각하면, 냉각시의 휨이 커지는 등의 이유로부터, 보다 저온에서의 열경화를 실시하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 180℃ 이하에서 열경화를 실시하는 것이 바람직하다.In addition, when the multilayer printed wiring board is interlaminarly bonded or when the adhesive film used as the FPC cover film is thermally cured, the equipment and conditions generally used for manufacturing the substrate are applicable. When the adhesive is cooled from a high temperature of 200 ° C or higher, It is preferable to perform thermal curing at a lower temperature for reasons such as increasing the warping at the time of cooling. Concretely, it is preferable to perform thermosetting at 180 占 폚 or lower.

본 발명은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여, 에폭시 수지, 페놀 수지, 비스말레이미드트리아진 수지 등의 유기 기판 재료나, 세라믹 기판이나 실리콘 기판 등의 무기 기판 재료, 및, 폴리이미드 필름 등의 FPC의 기판 재료에 대하여 우수한 접착 강도를 갖고, 또한, 주파수 1GHz 이상의 고주파 영역에서의 전기 특성, 구체적으로는, 주파수 1GHz 이상의 영역에서 저유전율(ε) 및 저유전 정접(tanδ)을 나타내는 것에 더하여, 열경화시의 수축 응력이 적고, 180℃ 이하에서 열경화할 수 있는 수지 조성물, 및, 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름, 및, 커버레이 필름을 제공하는 것을 목적으로 한다.DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems in the prior art, and it is an object of the present invention to provide an organic substrate material such as an epoxy resin, a phenol resin, a bismaleimide triazine resin, an inorganic substrate material such as a ceramic substrate or a silicon substrate, (?) And a low dielectric loss tangent (tan?) In a high frequency region of 1 GHz or more in frequency, specifically, in a region of 1 GHz or more in frequency, in addition to exhibiting an excellent adhesive strength to a substrate material of an FPC , A resin composition which has a low shrinkage stress upon thermal curing and can be thermally cured at 180 占 폚 or lower, an adhesive film produced using the resin composition, and a coverlay film.

상기의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은,In order to achieve the above object,

(A)하기 일반식(1)로 나타내어지는, 질량 평균 분자량(Mw)이 500~4000인 비닐 화합물,(A) a vinyl compound represented by the following general formula (1) and having a mass average molecular weight (Mw) of 500 to 4000,

Figure pct00001
Figure pct00001

(식 중, R1, R2, R3, R4, R5, R6, R7은, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자, 알킬기, 할로겐화알킬기 또는 페닐기이다. -(O-X-O)-은 하기 구조식(2)로 나타내어진다. (Wherein, R 1, R 2, R 3, R 4, R 5, R 6, R 7 are, the same or different, a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group, a halogenated alkyl group or a phenyl group -. (OXO) - Is represented by the following structural formula (2).

Figure pct00002
Figure pct00002

R8, R9, R10, R14, R15는, 동일하거나 달라도 되고, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. R11, R12, R13은, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. -(Y-O)-은 하기 구조식(3)으로 정의되는 1종류의 구조, 또는 하기 구조식(3)으로 정의되는 2종류 이상의 구조가 랜덤으로 배열된 것이다.R 8 , R 9 , R 10 , R 14 and R 15 may be the same or different and are a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. R 11 , R 12 and R 13 may be the same or different and are a hydrogen atom, a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. - (YO) - is one kind of structure defined by the following structural formula (3), or two or more kinds of structures defined by the following structural formula (3) are randomly arranged.

Figure pct00003
Figure pct00003

R16, R17은, 동일하거나 달라도 되고, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. R18, R19는, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. Z는, 탄소수 1 이상의 유기기이고, 산소 원자, 질소 원자, 황 원자, 할로겐 원자를 포함하는 경우도 있다. a, b는, 적어도 어느 일방이 0이 아닌, 0~300의 정수를 나타낸다. c, d는, 0 또는 1의 정수를 나타낸다.)R 16 and R 17 may be the same or different and are a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. R 18 and R 19 may be the same or different and are a hydrogen atom, a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. Z is an organic group having 1 or more carbon atoms and may contain an oxygen atom, a nitrogen atom, a sulfur atom, and a halogen atom. a and b each represent an integer of 0 to 300, at least one of which is not zero. c and d represent an integer of 0 or 1.)

(B)스티렌 함유량이 15~35%인 폴리스티렌-폴리(에틸렌/부틸렌) 블록 공중합체,(B) a polystyrene-poly (ethylene / butylene) block copolymer having a styrene content of 15 to 35%

(C)스티렌 함유량이 25~40%인 폴리스티렌-폴리(에틸렌-에틸렌/프로필렌) 블록 공중합체,(C) a polystyrene-poly (ethylene-ethylene / propylene) block copolymer having a styrene content of 25 to 40%

(D)에폭시 수지,(D) an epoxy resin,

(E)비스말레이미드,(E) bismaleimide,

(F)시차 주사 열량(DSC) 측정에 의한 발열 피크가 100 이상 180 이하인 유기 과산화물을 포함하고, 각 성분의 질량비가, (A+E)/(B+C)=0.81 이상 1.00 이하, (B)/(C)=1.00 이상 4.00 이하이고,(B) an organic peroxide having an exothermic peak measured by differential scanning calorimetry (DSC) of not less than 100 and not more than 180, wherein the mass ratio of (A + E) / (B + C) ) / (C) = 1.00 or more and 4.00 or less,

상기 성분 (A)~(F)의 합계 질량에 대한 질량 퍼센트로, 상기 성분 (D)를 1~10질량% 함유하고,(D) in an amount of 1 to 10% by mass with respect to the total mass of the components (A) to (F)

상기 (A)성분의 함유량에 대한 질량 퍼센트로, 상기 성분 (F)를 0.1~10질량% 함유하는 수지 조성물을 제공한다.Wherein the resin composition contains 0.1 to 10% by mass of the component (F) as a mass percentage with respect to the content of the component (A).

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 상기 성분 (A)의 -(O-X-O)-이, 하기 구조식(4)로 나타내어지고, 상기 성분 (A)의 -(Y-O)-이 하기 구조식(5), 혹은, 하기 구조식(6)으로 나타내어지는 구조, 또는, 하기 구조식(5)로 나타내어지는 구조 및 하기 구조식(6)으로 나타내어지는 구조가 랜덤으로 배열된 구조를 갖는 것이 바람직하다.In the resin composition of the present invention, - (OXO) - of the component (A) is represented by the following structural formula (4) and - (YO) - of the component (A) It is preferable to have a structure represented by the following structural formula (6), or a structure represented by the following structural formula (5) and a structure represented by the following structural formula (6) at random.

Figure pct00004
Figure pct00004

Figure pct00005
Figure pct00005

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 상기 (F)성분의 유기 과산화물이, 퍼옥시에스테르류 또는 디알킬퍼옥사이드류인 것이 바람직하다.In the resin composition of the present invention, it is preferable that the organic peroxide of component (F) is a peroxyester or a dialkyl peroxide.

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 상기 (D)성분의 에폭시 수지가, 분자 중에 수산기가 존재하지 않는 비페닐형 에폭시 수지, 플루오렌형 에폭시 수지 및 나프탈렌형 에폭시 수지로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1개인 것이 바람직하다.In the resin composition of the present invention, it is preferable that the epoxy resin as the component (D) is at least one member selected from the group consisting of a biphenyl type epoxy resin in which no hydroxyl groups are present in the molecule, a fluorene type epoxy resin, and a naphthalene type epoxy resin .

또한, 본 발명은, 본 발명의 수지 조성물로 이루어지는 접착 필름을 제공한다.Further, the present invention provides an adhesive film comprising the resin composition of the present invention.

또한, 본 발명은, 층간 접착에, 본 발명의 수지 조성물 또는 본 발명의 접착 필름을 사용한 다층 프린트 배선판을 제공한다.The present invention also provides a multilayer printed wiring board using the resin composition of the present invention or the adhesive film of the present invention for interlayer bonding.

또한, 본 발명의 다층 프린트 배선판을 구성하는 기판이, 상기 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물, 그리고, 고무 및/또는 열가소성 엘라스토머를 주성분으로 하는 수지 기판인 것이 바람직하다.The substrate constituting the multilayered printed circuit board of the present invention is preferably a resin substrate comprising a vinyl compound represented by the above general formula (1) and a rubber and / or a thermoplastic elastomer as main components.

또한, 본 발명은, 본 발명의 수지 조성물로 이루어지는 커버레이 필름을 제공한다.Further, the present invention provides a coverlay film comprising the resin composition of the present invention.

또한, 본 발명은, 본 발명의 커버레이 필름을 갖는 플렉서블 프린트 배선판을 제공한다.Further, the present invention provides a flexible printed wiring board having a coverlay film of the present invention.

액정 폴리머, 폴리이미드 및 폴리에틸렌나프탈레이트 중 어느 것을 주성분으로 하는 수지 기판의 주면에 배선 패턴이 형성된 배선을 갖는 수지 기판의 배선 패턴측에, 본 발명의 커버레이 필름이 사용되어 있는 것을 특징으로 하는 플렉서블 프린트 배선판을 제공한다.Characterized in that the coverlay film of the present invention is used on the side of the wiring pattern of the resin substrate having the wiring with the wiring pattern formed on the main surface of the resin substrate having the liquid crystal polymer, polyimide and polyethylene naphthalate as main components A printed wiring board is provided.

또한, 본 발명은, 상기 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물, 그리고, 고무 및/또는 열가소성 엘라스토머를 주성분으로 하는 수지 기판의 주면에 배선 패턴이 형성된 배선을 갖는 수지 기판의 배선 패턴측에, 본 발명의 커버레이 필름이 사용되어 있는 것을 특징으로 하는 플렉서블 프린트 배선판을 제공한다.The present invention also relates to a resin composition comprising a vinyl compound represented by the above general formula (1) and a wiring pattern side of a resin substrate having a wiring pattern formed with a wiring pattern on the main surface of a resin substrate containing rubber and / or thermoplastic elastomer as a main component, There is provided a flexible printed wiring board characterized in that a coverlay film of the present invention is used.

본 발명의 수지 조성물은, FPC의 배선을 이루는 금속박이나, 폴리이미드 필름 등의 FPC의 기판 재료에 대하여 우수한 접착 강도를 갖고, 또한, 고주파 영역에서 우수한 전기 특성, 구체적으로는, 주파수 1GHz 이상의 영역에서 저유전율(ε) 및 저유전 정접(tanδ))을 나타내므로, FPC용의 커버레이 필름으로서 바람직하다.INDUSTRIAL APPLICABILITY The resin composition of the present invention has an excellent adhesive strength to a substrate material of an FPC such as a metal foil or an FPC such as a polyimide film which constitutes the wiring of the FPC and has excellent electric characteristics in a high frequency range, Low dielectric constant (epsilon) and low dielectric loss tangent (tan delta)), it is preferable as a coverlay film for FPC.

또한, 본 발명의 수지 조성물은, 에폭시 수지, 페놀 수지, 비스말레이미드트리아진 수지 등의 유기 기판 재료나, 세라믹 기판이나 실리콘 기판 등의 무기 기판 재료에 대해서도 우수한 접착 강도를 갖고 있기 때문에, 이들 기판을 사용한 다층 프린트 배선판의 층간 접착제로서도 바람직하다.Further, since the resin composition of the present invention has an excellent adhesive strength to an organic substrate material such as an epoxy resin, a phenol resin, a bismaleimide triazine resin, and an inorganic substrate material such as a ceramic substrate or a silicon substrate, Is also preferable as an interlayer adhesive of a multilayered printed circuit board using the same.

또한, 본 발명의 수지 조성물은, 기판 상에 접착할 때의 유동성, 치수 안정성이 적절하기 때문에, 커버레이 필름으로서 사용할 때, 혹은, 다층 프린트 배선판의 층간 접착제로서 사용할 때의 작업성이 우수하고, 또한, 회로의 매립성이 저해되는 일이 없다.In addition, since the resin composition of the present invention has appropriate fluidity and dimensional stability when bonded onto a substrate, it is excellent in workability when used as a coverlay film or when used as an interlayer adhesive for a multilayer printed wiring board, Further, the filling property of the circuit is not hindered.

또한, 본 발명의 수지 조성물은, 열경화시의 수축 응력이 적기 때문에, 다층 프린트 배선판의 층간 접착제로서 사용한 경우에, 층간 접착부에 잔류하는 응력이 경감된다. 이에 의해, 층간 접착부에서의 휨의 발생이 억제되기 때문에, 다층 프린트 배선판의 비아 접속의 신뢰성이 향상된다.Further, since the resin composition of the present invention has a low shrinkage stress at the time of thermal curing, the residual stress in the interlayer bonding portion is reduced when the resin composition is used as an interlayer adhesive of a multilayer printed wiring board. As a result, the occurrence of warping in the interlayer bonding portion is suppressed, so that the reliability of the via connection of the multilayer printed wiring board is improved.

또한, 본 발명의 수지 조성물을 FPC의 커버레이 필름으로서 사용한 경우에, 열경화시의 휨의 발생이 억제된다. 그 때문에, FPC의 유연성이 저해되는 일이 없다.In addition, when the resin composition of the present invention is used as a coverlay film of FPC, the occurrence of warping during thermal curing is suppressed. Therefore, the flexibility of the FPC is not hindered.

또한, 본 발명의 수지 조성물은, 180℃ 이하에서 열경화가 가능하기 때문에, 다층 프린트 배선판의 층간 접착제로서 사용하였을 때, 혹은, FPC의 커버레이 필름으로서 사용하였을 때, 일반적으로 기판 제조에 사용되는 설비·조건이 적용 가능하고, 또한 휨 저감, 치수 안정성, 땜납 내열성 등의 내열성 향상, 필 강도의 향상 등의 이점이 있다.Further, since the resin composition of the present invention can be thermally cured at 180 ° C or lower, when used as an interlayer adhesive of a multilayer printed wiring board or when used as a coverlay film of an FPC, It is advantageous in that it can be applied to facilities and conditions and also has improved heat resistance such as warp reduction, dimensional stability, solder heat resistance, and improvement of peel strength.

이하, 본 발명의 수지 조성물에 대해 상세하게 설명한다.Hereinafter, the resin composition of the present invention will be described in detail.

본 발명의 수지 조성물은, 이하에 나타내는 (A)~(F)성분을 필수 성분으로서 함유한다.The resin composition of the present invention contains the following components (A) to (F) as essential components.

(A)하기 일반식(1)로 나타내어지는, 질량 평균 분자량(Mw)이 500~4000인 비닐 화합물(A) a vinyl compound having a weight average molecular weight (Mw) of 500 to 4000 represented by the following general formula (1)

Figure pct00006
Figure pct00006

일반식(1) 중, R1, R2, R3, R4, R5, R6, R7은, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자, 알킬기, 할로겐화알킬기 또는 페닐기이다. 이들 중에서도, R1, R2, R3, R4, R5, R6, R7이 수소 원자인 것이 바람직하다.In the general formula (1), R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 6 and R 7 may be the same or different and are a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group, a halogenated alkyl group or a phenyl group. Among them, it is preferable that R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 6 and R 7 are hydrogen atoms.

식 중, -(O-X-O)-은 하기 구조식(2)로 나타내어진다.In the formula, - (O-X-O) - is represented by the following structural formula (2).

Figure pct00007
Figure pct00007

구조식(2) 중, R8, R9, R10, R14, R15는, 동일하거나 달라도 되고, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. 이들 중에서도, R8, R9, R10, R14, R15가 탄소수 6 이하의 알킬기인 것이 바람직하다. 이들 중에서도, R11, R12, R13은, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기인 것이 바람직하다.In the structural formula (2), R 8 , R 9 , R 10 , R 14 and R 15 may be the same or different and are a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. Among them, R 8 , R 9 , R 10 , R 14 and R 15 are preferably an alkyl group having 6 or less carbon atoms. Among them, R 11 , R 12 and R 13 are preferably a hydrogen atom, a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms.

일반식(1) 중, -(Y-O)-은 하기 구조식(3)으로 정의되는 1종류의 구조, 또는 하기 구조식(3)으로 정의되는 2종류 이상의 구조가 랜덤으로 배열된 것이다.In the general formula (1), - (Y-O) - is one kind of structure defined by the following structural formula (3), or two or more kinds of structures defined by the following structural formula (3) are randomly arranged.

Figure pct00008
Figure pct00008

구조식(3) 중 R16, R17은, 동일하거나 달라도 되고, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. 이들 중에서도, R16, R17이 탄소수 6 이하의 알킬기인 것이 바람직하다.In the structural formula (3), R 16 and R 17 may be the same or different and are a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. Among them, R 16 and R 17 are preferably an alkyl group having 6 or less carbon atoms.

R18, R19는, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. 이들 중에서도, R18, R19가 수소 원자 또는 탄소수 3 이하의 알킬기인 것이 바람직하다.R 18 and R 19 may be the same or different and are a hydrogen atom, a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. Among them, it is preferable that R 18 and R 19 are a hydrogen atom or an alkyl group having 3 or less carbon atoms.

일반식(1) 중, Z는, 탄소수 1 이상의 유기기이고, 산소 원자, 질소 원자, 황 원자, 할로겐 원자를 포함하는 경우도 있다. 이들 중에서도, Z가 메틸렌기인 것이 바람직하다.In the general formula (1), Z is an organic group having 1 or more carbon atoms and may contain an oxygen atom, a nitrogen atom, a sulfur atom or a halogen atom. Among them, Z is preferably a methylene group.

a, b는, 적어도 어느 일방이 0이 아닌, 0~300의 정수를 나타낸다.a and b each represent an integer of 0 to 300, at least one of which is not zero.

c, d는, 0 또는 1의 정수를 나타낸다. 이들 중에서도, c, d가 1인 것이 바람직하다.c and d represent an integer of 0 or 1. Of these, c and d are preferably 1.

이들 중에서도 바람직하게는, R8, R9, R10, R14, R15는 탄소수 3 이하의 알킬기, R11, R12, R13은 수소 원자 또는 탄소수 3 이하의 알킬기, R16, R17은 탄소수 3 이하의 알킬기, R18, R19는 수소 원자이다.Among these, preferably, R 8, R 9, R 10, R 14, R 15 is a C3-alkyl group, R 11, R 12, R 13 or less is a hydrogen atom or an alkyl group having a carbon number of 3 or less, R 16, R 17 Is an alkyl group having 3 or less carbon atoms, and R 18 and R 19 are hydrogen atoms.

또한, 상기 일반식(1) 중의 -(O-X-O)-은, 하기 구조식(4)로 나타내어지는 것이 바람직하다.Further, - (O-X-O) - in the general formula (1) is preferably represented by the following structural formula (4).

Figure pct00009
Figure pct00009

또한, 일반식(1) 중의 -(Y-O)-이 하기 구조식(5), 혹은, 하기 구조식(6)으로 나타내어지는 구조, 또는, 하기 구조식(5)로 나타내어지는 구조 및 하기 구조식(6)으로 나타내어지는 구조가 랜덤으로 배열된 구조를 갖는 것이 바람직하다. 이들 중에서도, -(Y-O)-은 하기 구조식(6)으로 정의되는 구조가 배열된 구조를 갖는 것이 바람직하다.(YO) - in the general formula (1) may have a structure represented by the following structural formula (5) or the following structural formula (6) or a structure represented by the following structural formula (5) It is preferable that the structures shown are randomly arranged. Among them, - (Y-O) - is preferably a structure in which structures defined by the following structural formula (6) are arranged.

Figure pct00010
Figure pct00010

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 성분 (A)는 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름, 혹은, 당해 수지 조성물을 사용한 층간 접착제의 열경화성, 내열성, 및, 고주파에서의 우수한 전기 특성, 즉, 주파수 1GHz 이상의 영역에서의 저유전율(ε) 및 저유전 정접(tanδ)에 기여한다.In the resin composition of the present invention, the component (A) is preferably an adhesive film and a coverlay film produced by using the resin composition, or an interlayer adhesive using the resin composition, wherein the thermosetting property, heat resistance, , That is, low dielectric constant (epsilon) and low dielectric loss tangent (tan delta) in the region of frequency 1 GHz or more.

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 성분 (A)로서, 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물 중, 질량 평균 분자량(Mw)이 500~4000인 것을 사용하는 이유는 이하와 같다.In the resin composition of the present invention, among the vinyl compounds represented by the general formula (1), the mass average molecular weight (Mw) of 500 to 4000 is used as the component (A) for the following reasons.

질량 평균 분자량(Mw)이 500 미만이면, 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름의 유연성이 없어져, 부서지기 쉽고 깨지기 쉬운 필름이 된다. 또한, 열 압착시나 가열 경화시에 용융 점도가 지나치게 저하되기 때문에, 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름의 막두께의 균일성이 저해될 우려나, 당해 수지 조성물을 층간 접착제로서 사용하였을 때에, 층간 접착부의 두께의 균일성이 저해될 우려가 있다.If the mass average molecular weight (Mw) is less than 500, the flexibility of the adhesive film and the coverlay film produced using the resin composition becomes poor, and the film becomes brittle and fragile. In addition, since the melt viscosity is excessively lowered at the time of thermocompression bonding or heat curing, the uniformity of the film thickness of the adhesive film and the coverlay film produced using the resin composition may be deteriorated, or the resin composition may be used as an interlayer adhesive There is a possibility that the uniformity of the thickness of the interlayer bonding portion may be impaired.

한편, 질량 평균 분자량(Mw)이 4000 초과이면, 용해성이 저하되기 때문에, 수지 조성물의 조제시에 문제가 된다. 구체적으로는, 수지 조성물을 용제로 희석한 바니시의 조제시에 열 톨루엔 중에서의 장시간의 혼합 용해가 필요하게 된다. 또한, 필름을 제조하기 위하여 바니시를 실온으로 되돌리면 재결정되기 시작하여, 바니시의 보존 안정성이 나빠진다. 또한, 필름화 후에 결정화되기 때문에, 필름으로서의 형상의 유지가 어려워진다. 이 때문에, 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름이 깨지기 쉬워진다. 또한, 박막의 필름을 제조할 수 없게 된다. 또한, 필름 표면의 평활성이 악화된다.On the other hand, when the mass average molecular weight (Mw) is more than 4000, solubility is lowered, which is a problem in preparation of the resin composition. Concretely, a long time mixing and dissolving in thermal toluene is required at the time of preparing a varnish diluted with a resin composition. In addition, when the varnish is returned to room temperature to produce a film, recrystallization starts and the storage stability of the varnish deteriorates. Further, since it is crystallized after film formation, it is difficult to maintain the shape of the film. Therefore, the adhesive film and the coverlay film produced by using the resin composition tend to be fragile. Further, a film of a thin film can not be produced. Further, the smoothness of the film surface is deteriorated.

성분 (A)로서, 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물 중, 질량 평균 분자량(Mw)이 800~3500인 것을 사용하는 것이 보다 바람직하고, 1000~3000인 것을 사용하는 것이 더욱 바람직하다.As the component (A), among the vinyl compounds represented by the general formula (1), those having a mass average molecular weight (Mw) of 800 to 3500 are more preferable, and those having a weight average molecular weight (Mw) of 1000 to 3000 are more preferable.

상기 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물의 제법은, 특별히 한정되지 않고, 어떠한 방법으로 제조해도 된다. 예를 들어, 하기 일반식(7)로 나타내어지는 화합물에 대하여 클로로메틸스티렌을 수산화나트륨, 탄산칼륨, 나트륨에톡사이드 등의 알칼리 촉매 존재 하에서, 필요에 따라 벤질트리n-부틸암모늄브로마이드, 18-크라운-6-에테르 등의 상간 이동 촉매를 사용하여 반응시킴으로써 얻을 수 있다.The production method of the vinyl compound represented by the above general formula (1) is not particularly limited and may be produced by any method. For example, chloromethylstyrene is reacted with a compound represented by the following general formula (7) in the presence of an alkali catalyst such as sodium hydroxide, potassium carbonate, sodium ethoxide or the like, if necessary, benzyltri n-butylammonium bromide, 18- Crown-6-ether, or the like.

Figure pct00011
Figure pct00011

일반식(7) 중의 -(O-X-O) 및 -(Y-O)-에 대해서는, 일반식(1)에 대해 상기 서술한 바와 같다.- (O-X-O) and - (Y-O) - in the general formula (7) are as described above for the general formula (1).

성분 (B): 스티렌 함유량이 15~35%인 폴리스티렌-폴리(에틸렌/부틸렌) 블록 공중합체Component (B): A polystyrene-poly (ethylene / butylene) block copolymer having a styrene content of 15 to 35%

성분 (C): 스티렌 함유량이 25~40%인 폴리스티렌-폴리(에틸렌-에틸렌/프로필렌) 블록 공중합체Component (C): A polystyrene-poly (ethylene-ethylene / propylene) block copolymer having a styrene content of 25 to 40%

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 성분 (B), (C)는 특히 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름의 고주파에서의 우수한 전기 특성(주파수 1GHz 이상의 영역에서의 저유전율(ε) 및 저유전 정접(tanδ)), 필름 성상 및 내열성에 기여한다. 또한, 본 발명의 수지 조성물을 층간 접착제로서 사용하였을 때에, 고주파에서의 우수한 전기 특성(1GHz 이상의 영역에서의 저유전율(ε) 및 저유전 정접(tanδ)) 및 내열성에 기여한다.In the resin composition of the present invention, the components (B) and (C) are excellent in electric characteristics (high dielectric constant) in the high frequency region of the adhesive film and the coverlay film produced by using the resin composition ) And low dielectric loss tangent (tan?)), Film properties and heat resistance. In addition, when the resin composition of the present invention is used as an interlayer adhesive, it contributes to excellent electrical properties (low dielectric constant (epsilon) and low dielectric loss tangent (tan delta) in the region of 1 GHz or more) and heat resistance at high frequencies.

이들 중, 성분 (C)는, 성분 (B)와 비교하여 유전 특성이 우수하고, 고주파에서의 우수한 전기 특성(주파수 1GHz 이상의 영역에서의 저유전율(ε) 및 저유전 정접(tanδ))에 기여한다.Among these, the component (C) is superior in dielectric property to the component (B) and contributes to excellent electrical properties at a high frequency (low dielectric constant (epsilon) and low dielectric loss tangent (tan delta) do.

그러나, 성분 (C)는, 성분 (B)와 비교하여 열경화물의 탄성률(인장 탄성률)이 높기 때문에, 성분 (C)를 단독으로 사용하면, 열경화시의 수축 응력이 높아지기 때문에, 성분 (B)를 조합하여 사용할 필요가 있다.However, since the component (C) has a high modulus of elasticity (tensile modulus) of the thermosetting compound as compared with the component (B), when the component (C) is used alone, the shrinkage stress at the time of heat curing becomes high, ) Must be used in combination.

이 때문에, 본 발명의 수지 조성물에서는, 성분 (B), (C)를 이하에 서술하는 특정한 배합 비율로 사용한다.Therefore, in the resin composition of the present invention, the components (B) and (C) are used in a specific blending ratio described below.

본 발명에서는, 수지 조성물에 있어서의 성분 (B), (C)의 질량비를, (B)/(C)=1.00 이상 4.00 이하로 한다.In the present invention, the mass ratio of the components (B) and (C) in the resin composition is set to (B) / (C) = 1.00 or more and 4.00 or less.

(B)/(C)=1.00 미만이면, 원하는 접착 강도는 얻어지지만, 열경화물의 탄성률이 높아지기 때문에, 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름의 열경화시의 수축 응력이 높아져, 휨이 발생하기 쉬워진다. 또한, 수지 조성물을 층간 접착제로서 사용한 경우에, 층간 접착부에 있어서의 응력 변형이 커지면, 휨이 발생하여 비아 접속의 신뢰성이 저하된다.(B) / (C) is less than 1.00, the desired adhesive strength is obtained, but since the modulus of elasticity of the thermosetting material increases, the shrinkage stress of the adhesive film and the coverlay film produced using the resin composition increases, And warpage is likely to occur. Further, when the resin composition is used as an interlayer adhesive, if the stress deformation in the interlayer bonding portion becomes large, warpage occurs and the reliability of the via connection deteriorates.

한편, (B)/(C)=4.00을 초과하면, 열경화물의 탄성률이 낮아지기 때문에, 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름에서의 휨의 발생이나, 수지 조성물에 의한 층간 접착부에 있어서의 휨의 발생을 억제할 수 있으나, 원하는 접착 강도가 얻어지지 않는다.On the other hand, when the ratio of (B) / (C) is more than 4.00, the elastic modulus of the thermosetting agent is lowered, so that the occurrence of warpage in the adhesive film and the coverlay film produced using the resin composition, It is possible to suppress the occurrence of warping in the case of the above-mentioned method, but the desired bonding strength can not be obtained.

(B)/(C)=1.00 이상 4.00 이하이면, 열경화물의 탄성률이 높아지지 않고, 또한, 원하는 접착 강도가 얻어진다.(B) / (C) = 1.00 or more and 4.00 or less, the modulus of elasticity of the thermosetting material is not increased and a desired adhesive strength is obtained.

성분 (B), (C)의 질량비는, (B)/(C)=1.5 이상 3.5 이하인 것이 보다 바람직하다.It is more preferable that the mass ratio of the components (B) and (C) is (B) / (C) = 1.5 or more and 3.5 or less.

단, 성분 (B), (C)는, 스티렌 함유량이 상기한 특정한 범위인 것을 사용할 필요가 있다.However, it is necessary to use the components (B) and (C) having a styrene content within the above specific range.

성분 (B)의 스티렌 함유량이 15% 미만이면, 수지 조성물의 다른 성분과의 상용성이 떨어지는 문제가 있다.If the styrene content of the component (B) is less than 15%, there is a problem that compatibility with other components of the resin composition is poor.

한편, 성분 (B)의 스티렌 함유량이 35% 초과이면, 수지 조성물을 사용하여 접착 필름이나 커버레이 필름을 제조할 때에, 미경화 필름에 크랙이 발생하는 등 필름 형성이 곤란해지는 문제가 있다.On the other hand, when the styrene content of the component (B) is more than 35%, there is a problem that when the adhesive composition or the coverlay film is produced by using the resin composition, cracks are generated in the uncured film,

성분 (C)의 스티렌 함유량이 25% 미만이면, 수지 조성물의 다른 성분과의 상용성이 떨어지는 문제가 있다.If the styrene content of the component (C) is less than 25%, there is a problem that compatibility with other components of the resin composition is poor.

한편, 성분 (C)의 스티렌 함유량이 40% 초과이면, 수지 조성물을 사용하여 접착 필름이나 커버레이 필름을 제조할 때에, 미경화 필름에 크랙이 발생하는 등 필름 형성이 곤란해지는 문제가 있다.On the other hand, when the styrene content of the component (C) is more than 40%, there is a problem that when the adhesive composition or the coverlay film is produced by using the resin composition, cracks are generated in the uncured film and film formation becomes difficult.

성분 (D): 에폭시 수지Component (D): Epoxy resin

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 성분 (D)는 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름, 그리고, 당해 수지 조성물을 층간 접착제로서 사용하였을 때의 열경화성 및 접착성에 기여한다.In the resin composition of the present invention, the component (D) contributes to the thermosetting property and the adhesion property when the adhesive film and the coverlay film produced using the resin composition are used as the interlayer adhesive.

또한, 성분 (D)를 사용함으로써, 톨루엔, 메틸에틸케톤, 메틸이소부틸케톤 등의 저비점 용매에 대한 성분 (E)의 용해성이 향상된다.By using the component (D), the solubility of the component (E) in a low boiling point solvent such as toluene, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone or the like is improved.

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 성분 (D)의 함유량은, 성분 (A)~(E)의 합계 질량에 대한 질량 퍼센트로 1~10질량%이다.In the resin composition of the present invention, the content of the component (D) is 1 to 10% by mass with respect to the total mass of the components (A) to (E).

성분 (D)의 함유량이 1질량% 미만이면, 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름, 그리고, 당해 수지 조성물을 층간 접착제로서 사용하였을 때의 접착성이 불충분해지는 등의 문제가 있다.If the content of the component (D) is less than 1% by mass, problems such as an adhesive film and a coverlay film produced using the resin composition, and adhesiveness when the resin composition is used as an interlayer adhesive become insufficient have.

성분 (D)의 함유량이 10질량% 초과이면, 상용성이 악화되고, 또한 원하는 유전 정접(tanδ)값을 얻을 수 없게 된다. 또한, 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름이 열경화시에 흘러 나가는 것이 과잉으로 커진다. 또한, 전체 성분 중에 차지하는 성분 (D)의 비율이 많아지기 때문에, 내열성이 떨어지는 성분 (D)의 특성이 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름, 그리고, 당해 수지 조성물을 사용한 층간 접착부 전체에 영향을 준다. 그 때문에, 당해 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름, 그리고, 당해 수지 조성물을 사용한 층간 접착부의 내열성이나 경화성이 저하될 우려가 있다.When the content of the component (D) is more than 10% by mass, the compatibility is deteriorated and a desired dielectric tangent (tan?) Value can not be obtained. In addition, the adhesive film and the coverlay film produced using the resin composition excessively flow out during thermal curing. In addition, since the proportion of the component (D) in the total components increases, the properties of the component (D) having a low heat resistance can be improved by using an adhesive film and a coverlay film produced using the resin composition, Affects the entire adhesive portion. Therefore, there is a possibility that heat resistance and curability of the adhesive film and coverlay film produced using the resin composition and the interlaminar bonding portion using the resin composition are lowered.

본 발명의 수지 조성물은, 성분 (A)~(E)의 합계 질량에 대하여, 성분 (D)를 1~5질량% 함유하는 것이 보다 바람직하다.It is more preferable that the resin composition of the present invention contains 1 to 5% by mass of the component (D) based on the total mass of the components (A) to (E).

성분 (D)로서 사용하는 에폭시 수지는 특별히 한정되지 않고, 노볼락형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 플루오렌형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지 등의 각종 에폭시 수지를 사용할 수 있다.The epoxy resin used as the component (D) is not particularly limited, and examples thereof include novolak type epoxy resins, bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, fluorene type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins Epoxy resins of various types can be used.

단, 성분 (D)의 에폭시 수지로서, 분자 중에 수산기가 존재하는 것을 사용한 경우에는, 에폭시 수지의 함유량이 증가하면, 수산기의 극성에 의한 영향으로 수지 조성물의 유전율이 상승한다.However, when the epoxy resin having the hydroxyl group in the molecule is used as the epoxy resin of the component (D), the dielectric constant of the resin composition increases due to the influence of the polarity of the hydroxyl group when the content of the epoxy resin increases.

이 때문에, 성분 (D)의 에폭시 수지는 분자 중에 수산기가 존재하지 않는 것을 사용하는 것이 바람직하다. 상기의 에폭시 수지 중, 이것에 해당하는 것은, 분자 중에 수산기가 존재하지 않는 비페닐형 에폭시 수지, 플루오렌형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지이다.For this reason, it is preferable to use the epoxy resin of the component (D) which does not contain a hydroxyl group in the molecule. Of the above epoxy resins, those corresponding to the above are biphenyl type epoxy resins, fluorene type epoxy resins and naphthalene type epoxy resins in which no hydroxyl groups are present in the molecule.

이들 분자 중에 수산기가 존재하지 않는 에폭시 수지를 사용함으로써, 유전율의 상승을 억제할 수 있다.Use of an epoxy resin in which no hydroxyl group is present in these molecules can suppress an increase in the dielectric constant.

한편, 상기의 에폭시 수지 중, 어느 1종을 사용해도 되고, 2종 이상을 병용해도 된다.On the other hand, any one of the above epoxy resins may be used, or two or more epoxy resins may be used in combination.

성분 (D)로서 사용하는 에폭시 수지는, 수평균 분자량(Mn)이 150~2500인 것이 열경화성, 접착성, 경화 후의 기계적 특성의 이유에서 바람직하다.The number average molecular weight (Mn) of the epoxy resin used as the component (D) is preferably from 150 to 2500 because of the thermosetting property, the adhesiveness, and the mechanical properties after curing.

성분 (E): 비스말레이미드Component (E): Bismaleimide

본 발명의 커버레이 필름에 있어서, 성분 (E)의 비스말레이미드는, 성분 (A)의 비닐 화합물과 작용하여, 커버레이 필름의 접착층의 가열 경화를 보다 낮은 온도에서 진행시킬 수 있다.In the coverlay film of the present invention, the bismaleimide of the component (E) can act with the vinyl compound of the component (A) to promote the heat curing of the adhesive layer of the coverlay film at a lower temperature.

본 발명에 있어서, 비스말레이미드를 사용하는 것은, 유전 특성의 유지, 접착 강도의 부여 및 고Tg(유리 전이점)화의 관점에서 바람직하기 때문이다.In the present invention, the use of bismaleimide is preferable from the viewpoints of maintaining the dielectric properties, imparting the bonding strength, and high Tg (glass transition point).

성분 (E)의 비스말레이미드의 배합량은, 성분 (A)의 비닐 화합물의 비닐기에 대한 당량비로 정하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 성분 (A)의 비닐 화합물의 비닐기 1당량에 대하여, 성분 (E)의 비스말레이미드가 0.1~3당량이고, 0.5~1.5당량인 것이 바람직하고, 0.8~1.3당량인 것이 보다 바람직하다.The blending amount of the bismaleimide of the component (E) is preferably determined by the equivalent ratio to the vinyl group of the vinyl compound of the component (A). Specifically, the amount of the bismaleimide of the component (E) is preferably 0.1 to 3 equivalents, preferably 0.5 to 1.5 equivalents, more preferably 0.8 to 1.3 equivalents per equivalent of the vinyl group of the vinyl compound of the component (A) desirable.

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 성분 (A), (E)는 열경화성의 수지 재료이고, 성분 (B), (C)는 열가소성의 수지 재료이다.In the resin composition of the present invention, the components (A) and (E) are thermosetting resin materials, and the components (B) and (C) are thermoplastic resin materials.

본 발명에 있어서, 이들 열경화성의 수지 재료와 열가소성의 수지 재료의 배합 비율은, 수지 조성물의 물성에 영향을 미친다. 그 때문에, (성분 (A), (E)) 및 (성분 (B), (C))를 이하에 서술하는 특정한 배합 비율로 사용한다.In the present invention, the mixing ratio of the thermosetting resin material and the thermoplastic resin material affects the physical properties of the resin composition. Therefore, the components (A) and (E) and (components (B) and (C)) are used in a specific mixing ratio described below.

한편, 성분 (D)의 에폭시 수지도 열경화성의 수지 재료이지만, 상기 서술한 바와 같이, 성분 (D)의 함유량은, 성분 (A)~(E)의 합계 질량에 대한 질량 퍼센트에서 1~10질량%로 적기 때문에, (성분 (A), (E)) 및 (성분 (B), (C))와, 이하에 서술하는 특정한 배합 비율로 사용하면, 성분 (D)가 본 발명의 수지 조성물의 물성에 미치는 영향은 무시할 수 있다.On the other hand, the epoxy resin of the component (D) is also a thermosetting resin material. As described above, the content of the component (D) is preferably from 1 to 10 mass%, based on the mass percentage with respect to the total mass of the components (A) (B), (C)) and the specific blending ratio described below, the component (D) can be used in an amount of from 0.01 to 10 parts by weight per 100 parts by weight of the resin composition of the present invention The effect on the physical properties can be neglected.

본 발명의 수지 조성물에서는, 성분 (A), (E)의 합량과 성분 (B), (C)의 합량의 질량비를, (A+E)/(B+C)=0.81 이상 1.00 이하로 한다.In the resin composition of the present invention, the mass ratio of the sum of the components (A) and (E) to the sum of the components (B) and (C) is set to (A + E) / (B + C) .

각 성분의 질량비가, (A+E)/(B+C)=0.81 미만이면 원하는 접착 강도가 얻어지지 않는다.If the mass ratio of each component is less than (A + E) / (B + C) = 0.81, desired adhesive strength can not be obtained.

한편, (A+E)/(B+C)=1.00을 초과하면, 열경화물의 탄성률이 높아지기 때문에, 수지 조성물을 사용하여 제조되는 접착 필름 및 커버레이 필름에서의 휨이나, 수지 조성물에 의한 층간 접착부에 있어서의 휨을 발생시키기 쉬워진다.On the other hand, when (A + E) / (B + C) = 1.00, the elastic modulus of the thermosetting material increases, and therefore, the warpage in the adhesive film and the coverlay film produced using the resin composition, It is easy to cause warping in the bonding portion.

성분 (F): 시차 주사 열량(DSC) 측정에 의한 발열 피크가 100℃ 이상 180℃ 이하인 유기 과산화물Component (F): An organic peroxide having an exothermic peak measured by differential scanning calorimetry (DSC) of 100 占 폚 or more and 180 占 폚 or less

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 성분 (F)는, 성분 (A)로서 사용하는 비닐 화합물의 반응을 촉진하여, 180℃ 이하에서의 저온 경화를 가능하게 한다. 또한, 휨 저감, 치수 안정성, 땜납 내열성 등의 내열성 향상, 필 강도의 향상 등의 작용을 발휘한다.In the resin composition of the present invention, the component (F) accelerates the reaction of the vinyl compound used as the component (A) and enables low-temperature curing at 180 ° C or lower. In addition, it exhibits an effect of improving heat resistance such as warp reduction, dimensional stability, solder heat resistance and the like, and improving peel strength.

본 발명에 있어서의 DSC 측정에 의한 발열 피크는, 하기 순서로 측정되는 것을 가리킨다.The exothermic peak due to the DSC measurement in the present invention indicates that it is measured in the following order.

시차 주사 열량계로 5℃/min의 승온으로 얻어진 DSC 곡선으로부터 발열 피크를 판독한다. 본 발명에서는 피크 탑의 온도를 대상물의 발열 피크로 한다.The exothermic peak is read out from the DSC curve obtained by raising the temperature by 5 DEG C / min with a differential scanning calorimeter. In the present invention, the temperature of the peak tower is defined as an exothermic peak of the object.

DSC 측정에 의한 발열 피크가 100℃ 미만이면, 수지 조성물로부터 접착 필름이나 커버레이 필름을 형성할 때에, 열이력에 의해 반응이 진행되어 경화된다. 이 때문에 접착 기능이 소실된다. 또한, 본 발명의 수지 조성물을 다층 프린트 배선판의 층간 접착제로서 사용하는 경우에도, 수지 조성물을 포함하는 바니시를 도포 후, 용제를 휘발시켜, 건조시킬 필요가 있으므로, 접착 필름이나 커버레이 필름의 형성시와 마찬가지로, 열이력에 의한 경화로 접착 기능이 소실된다.When the exothermic peak due to the DSC measurement is less than 100 占 폚, when the adhesive film or the coverlay film is formed from the resin composition, the reaction proceeds by thermal history and is cured. Therefore, the adhesive function is lost. Further, even when the resin composition of the present invention is used as an interlayer adhesive of a multilayered printed circuit board, varnish containing the resin composition must be applied, the solvent must be volatilized and dried, The adhesive function is lost by curing by thermal history.

DSC 측정에 의한 발열 피크가 180℃ 초과이면, 180℃ 이하에서의 열경화 시간이 길어진다.When the exothermic peak by DSC measurement exceeds 180 DEG C, the heat curing time at 180 DEG C or less becomes longer.

본 발명에 있어서, DSC 측정에 의한 발열 피크가, 120~180℃인 것이 보다 바람직하다.In the present invention, it is more preferable that the exothermic peak by DSC measurement is 120 to 180 占 폚.

본 발명에 있어서, 성분 (F)의 유기 과산화물로는, 이소노나노일퍼옥사이드, 데카노일퍼옥사이드, 라우로일퍼옥사이드, 파라클로로벤조일퍼옥사이드, 디(3,5,5-트리메틸헥사노일)퍼옥사이드 등의 디아실퍼옥사이드류; 2,2-디(4,4-디-(디-tert-부틸퍼옥시)시클로헥실)프로판 등의 퍼옥시케탈류; 디-3-메톡시부틸퍼디카보네이트, 디시클로헥실퍼디카보네이트 등의 퍼옥시디카보네이트류; tert-부틸퍼벤조에이트, tert-부틸퍼아세테이트, tert-부틸퍼-2-에틸헥사노에이트, tert-부틸퍼이소부티레이트, tert-부틸퍼피발레이트, tert-부틸디퍼아디페이트, 쿠밀퍼네오데카노에이트, tert-부틸퍼옥시벤조에이트, 1,1,3,3-테트라메틸부틸퍼옥시-2-에틸헥사노에이트, 2,5-디메틸-2,5디(벤조일퍼옥시)헥산 등의 퍼옥시에스테르류; 메틸에틸케톤퍼옥사이드, 시클로헥사논퍼옥사이드 등의 케톤퍼옥사이드류; 디-tert-부틸퍼옥사이드, 디쿠밀퍼옥사이드, tert-부틸쿠밀퍼옥사이드, 1,1-디(t-헥실퍼옥시)-3,3,5-트리메틸시클로헥산, 디-tert-헥실퍼옥사이드, 디(2-tert-부틸퍼옥시이소프로필)벤젠 등의 디알킬퍼옥사이드류; 쿠멘하이드록시퍼옥사이드, tert-부틸하이드로퍼옥사이드, p-멘타하이드로퍼옥사이드 등의 하이드로퍼옥사이드류 등을 사용할 수 있다.In the present invention, examples of the organic peroxide of component (F) include isononanoyl peroxide, decanoyl peroxide, lauroyl peroxide, para-chlorobenzoyl peroxide, di (3,5,5-trimethylhexanoyl) Diacyl peroxides such as oxides; Peroxiketration such as 2,2-di (4,4-di- (di-tert-butylperoxy) cyclohexyl) propane; Peroxydicarbonates such as di-3-methoxybutyl percarbonate and dicyclohexyl percarbonate; butyl perbenzoate, tert-butyl perbenzoate, tert-butyl peracetate, tert-butyl per-2-ethylhexanoate, tert-butyl perisobutyrate, tert- butyl perpivalate, tert- butyl diperadipate, Butyl peroxybenzoate, 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxy-2-ethylhexanoate and 2,5-dimethyl-2,5-di (benzoylperoxy) hexane. Peroxyesters; Ketone peroxides such as methyl ethyl ketone peroxide and cyclohexanone peroxide; Di (tert-butylperoxy) -3,3,5-trimethylcyclohexane, di-tert-hexyl peroxide, di- Dialkyl peroxides such as di (2-tert-butylperoxyisopropyl) benzene; Hydroperoxides such as cumene hydroperoxide, tert-butyl hydroperoxide, and p-mentha hydroperoxide can be used.

이들 중에서도, 퍼옥시에스테르류 및 디알킬퍼옥사이드류가 바람직하고, tert-부틸퍼옥시벤조에이트, 1,1,3,3-테트라메틸부틸퍼옥시-2-에틸헥사노에이트 및 디(2-tert-부틸퍼옥시이소프로필)벤젠이 DSC 측정에 의한 발열 피크가 120~180℃인 점 및 조성물의 보존 안정성이 양호한 점에서 특히 바람직하다.Of these, peroxyesters and dialkylperoxides are preferable, and tert-butylperoxybenzoate, 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxy-2-ethylhexanoate and di (2- tert-butylperoxyisopropyl) benzene is particularly preferable because it has an exothermic peak of 120 to 180 ° C as measured by DSC and storage stability of the composition is good.

본 발명의 수지 조성물에 있어서, 성분 (F)의 함유량은, 성분 (A)의 함유량에 대한 질량 퍼센트로 0.1~10질량%이다.In the resin composition of the present invention, the content of the component (F) is 0.1 to 10% by mass with respect to the content of the component (A).

성분 (F)의 함유량이 0.1질량% 미만이면, 성분 (A)로서 사용하는 비닐 화합물의 반응을 촉진하는 작용이 불충분해진다. 이 때문에, 180℃ 이하에서의 열경화를 달성할 수 없다.If the content of the component (F) is less than 0.1% by mass, the action of promoting the reaction of the vinyl compound used as the component (A) becomes insufficient. For this reason, thermal curing at 180 占 폚 or lower can not be achieved.

한편, 성분 (F)의 함유량이 10질량% 초과이면, 고주파에서의 전기 특성이 악화된다.On the other hand, if the content of the component (F) is more than 10% by mass, the electric characteristics at high frequencies are deteriorated.

성분 (F)의 함유량은, 성분 (A)의 함유량에 대한 질량 퍼센트로 1~10질량%인 것이 보다 바람직하다.The content of the component (F) is more preferably 1 to 10% by mass in terms of the mass percentage with respect to the content of the component (A).

본 발명의 수지 조성물은, 상기 성분 (A)~(F)에 더하여, 성분 (G)로서, 경화 촉매를 함유해도 된다. 이 경화 촉매는, 성분 (D)의 에폭시 수지의 경화 촉매로서 작용한다.The resin composition of the present invention may contain a curing catalyst as the component (G) in addition to the above components (A) to (F). This curing catalyst functions as a curing catalyst for the epoxy resin of the component (D).

성분 (G)로서 사용하는 경화 촉매는, 에폭시 수지의 경화 촉매이면, 특별히 한정되지 않고, 공지된 것을 사용할 수 있다. 예를 들어, 이미다졸계 경화 촉매, 아민계 경화 촉매, 인계 경화 촉매 등을 들 수 있다.The curing catalyst used as the component (G) is not particularly limited as long as it is a curing catalyst of an epoxy resin, and known curing catalysts can be used. For example, imidazole-based curing catalysts, amine-based curing catalysts, phosphorus-based curing catalysts, and the like.

이미다졸계 경화 촉매로는, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸 등의 이미다졸 화합물을 들 수 있다. 그 중에서도, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸 및 1-시아노에틸-2-에틸-4-이미다졸이 바람직하다.Examples of the imidazole-based curing catalyst include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, Imidazole compounds such as methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-imidazole, 2-phenylimidazole and 2-phenyl-4-methylimidazole. Among them, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole and 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-imidazole are preferable.

아민계 경화 촉매로는, 2,4-디아미노-6-〔2'-메틸이미다졸릴-(1')〕에틸-s-트리아진 등의 트리아진 화합물, 1,8-디아자비시클로[5,4,0]운데센-7(DBU), 트리에틸렌디아민, 벤질디메틸아민, 트리에탄올아민 등의 제3급 아민 화합물을 들 수 있다. 그 중에서도, 2,4-디아미노-6-〔2'-메틸이미다졸릴-(1')〕에틸-s-트리아진이 바람직하다.Examples of amine curing catalysts include triazine compounds such as 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')] ethyl-s-triazine, 1,8-diazabicyclo [ 5,4,0] undecene-7 (DBU), triethylenediamine, benzyldimethylamine, triethanolamine, and other tertiary amine compounds. Among them, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')] ethyl-s-triazine is preferable.

또한, 인계 경화 촉매로는, 트리페닐포스핀, 트리부틸포스핀, 트리(p-메틸페닐)포스핀, 트리(노닐페닐)포스핀 등을 들 수 있다.Examples of phosphorus-based curing catalysts include triphenylphosphine, tributylphosphine, tri (p-methylphenyl) phosphine, and tri (nonylphenyl) phosphine.

한편, 상기의 경화 촉매 중, 어느 1종을 사용해도 되고, 2종 이상을 병용해도 된다. 경화 촉매의 유효량은 경화 촉매의 종류에 따라 다르다. 경화 촉매의 종류마다, 그 유효량을 이하에 나타낸다.On the other hand, any one of the above curing catalysts may be used, or two or more of them may be used in combination. The effective amount of the curing catalyst depends on the type of curing catalyst. The effective amount of each type of curing catalyst is shown below.

이미다졸계 경화 촉매, 아민계 경화 촉매의 경우, 그 유효량은, 수지 조성물의 전체 성분의 합계 질량에 대한 질량 퍼센트로 0.01~5질량%이고, 0.05~3질량%인 것이 보다 바람직하다.In the case of the imidazole-based curing catalyst and the amine-based curing catalyst, the effective amount thereof is 0.01 to 5% by mass and more preferably 0.05 to 3% by mass with respect to the total mass of the total components of the resin composition.

인계 경화 촉매의 경우, 그 유효량은, 수지 조성물의 전체 성분의 합계 질량에 대한 질량 퍼센트로 0.01~10질량%이고, 0.05~5질량%인 것이 보다 바람직하다.In the case of phosphorus-containing curing catalysts, the effective amount thereof is 0.01 to 10% by mass, more preferably 0.05 to 5% by mass, based on the total mass of the total components of the resin composition.

본 발명의 수지 조성물은, 또 다른 성분을 필요에 따라 함유해도 된다. 이러한 성분의 구체예로는, 실란커플링제, 소포제, 유동 조정제, 성막 보조제, 분산제 등을 들 수 있다.The resin composition of the present invention may contain other components as required. Specific examples of such components include a silane coupling agent, a defoaming agent, a flow control agent, a film forming auxiliary agent, and a dispersing agent.

본 발명의 수지 조성물은, 관용의 방법에 의해 제조할 수 있다. 예를 들어, 용제의 존재 하 또는 비존재 하에서, 상기 성분 (A)~성분 (F)(수지 조성물이 상기 성분 (G)나 다른 임의 성분을 함유하는 경우에는 추가로 이들의 임의 성분)를 가열 진공 혼합 니더에 의해 혼합한다.The resin composition of the present invention can be produced by a conventional method. For example, the components (A) to (F) (in the case where the resin composition contains the component (G) or other optional components, further optional components thereof) are heated Mix with a vacuum mixing kneader.

상기 성분 (A)~성분 (F)가 원하는 함유 비율이 되도록, (수지 조성물이 상기 성분 (G)나 다른 임의 성분을 함유하는 경우에는 추가로 이들의 임의 성분), 소정의 용제 농도로 용해시키고, 그들을 10~80℃로 가온된 반응 가마에 소정량 투입하여, 회전수 100~1000rpm으로 회전시키면서, 상압 혼합을 3시간 행한 후, 진공 하(최대 1Torr)에서 다시 30~60분 혼합 교반할 수 있다.The resin composition is dissolved in a predetermined solvent concentration so that the components (A) to (F) have a desired content ratio (if the resin composition contains the component (G) or any other component, , A predetermined amount of them are charged into a reaction kettle heated to 10 to 80 DEG C and the mixture is stirred for 3 to 30 hours while rotating at a revolution of 100 to 1000 rpm and then mixed and stirred under vacuum (1 Torr up to 30 Torr) for 30 to 60 minutes have.

본 발명의 수지 조성물은, 이하에 나타내는 바람직한 특성을 갖고 있다.The resin composition of the present invention has the following preferable characteristics.

본 발명의 수지 조성물은, 그 열경화물이 고주파에서의 전기 특성이 우수하다. 구체적으로는, 수지 조성물의 열경화물은, 주파수 1GHz 이상의 영역에서의 유전율(ε)이 3.0 이하인 것이 바람직하고, 2.5 이하인 것이 보다 바람직하다. 또한, 주파수 1GHz 이상의 영역에서의 유전 정접(tanδ)이 0.01 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.005 이하인 것이 보다 바람직하다.In the resin composition of the present invention, the thermosetting material is excellent in electric characteristics at high frequency. Specifically, the thermosetting resin composition preferably has a dielectric constant (epsilon) at a frequency of 1 GHz or more of 3.0 or less, more preferably 2.5 or less. The dielectric loss tangent (tan?) In the region of 1 GHz or more is more preferably 0.01 or less, and more preferably 0.005 or less.

주파수 1GHz 이상의 영역에서의 유전율(ε) 및 유전 정접(tanδ)이 상기의 범위임으로써, 주파수 1GHz 이상의 영역에서의 전기 신호 손실을 저감할 수 있다.Since the dielectric constant (epsilon) and dielectric tangent (tan delta) in the region of the frequency of 1 GHz or more are in the above-mentioned range, the electric signal loss in the region of the frequency of 1 GHz or more can be reduced.

본 발명의 수지 조성물은, 그 열경화물의 인장 탄성률이 150~450MPa인 것이, 접착 강도가 높고, 또한, 열경화시의 수축 응력이 경감되기 때문에 바람직하다.The resin composition of the present invention is preferably a thermoset material having a tensile modulus of 150 to 450 MPa because of its high bonding strength and reduced shrinkage stress upon thermal curing.

인장 탄성률이 450MPa 이하이면, 열경화시의 수축 응력이 경감되기 때문에, 이하의 효과를 발휘한다.When the tensile modulus of elasticity is 450 MPa or less, the shrinkage stress at the time of thermosetting is reduced, and the following effects are exhibited.

다층 프린트 배선판의 층간 접착제로서 사용하였을 때에, 층간 접착부에 잔류하는 응력이 경감된다. 이에 의해, 층간 접착부에서의 휨의 발생이 억제되기 때문에, 다층 프린트 배선판의 비아 접속의 신뢰성이 향상된다.When used as an interlayer adhesive of a multilayer printed wiring board, the stress remaining in the interlayer bonding portion is reduced. As a result, the occurrence of warping in the interlayer bonding portion is suppressed, so that the reliability of the via connection of the multilayer printed wiring board is improved.

또한, 본 발명의 수지 조성물을 FPC의 커버레이 필름으로서 사용한 경우에, 열경화시의 휨의 발생이 억제된다. 그 때문에, FPC의 유연성이 저해되는 일이 없다.In addition, when the resin composition of the present invention is used as a coverlay film of FPC, the occurrence of warping during thermal curing is suppressed. Therefore, the flexibility of the FPC is not hindered.

한편, 본 발명의 수지 조성물은, 후술하는 실시예에 기재된 순서로 측정되도록, 가로세로 100mm의 필름의 열경화물의 휨량이 15mm 이하인 것이 바람직하고, 10mm 이하인 것이 보다 바람직하다.On the other hand, the resin composition of the present invention preferably has a warpage of thermosetting of 15 mm or less, more preferably 10 mm or less, in a film of 100 mm in length and 100 mm in order to be measured in the order described in the following Examples.

단, 열경화물의 인장 탄성률이 지나치게 낮으면, 수지 조성물의 접착 강도가 저하되므로, 150MPa 이상으로 할 필요가 있다.However, if the tensile modulus of the thermosetting resin is too low, the adhesive strength of the resin composition is lowered, and therefore, it is required to be 150 MPa or more.

본 발명의 수지 조성물은, 그 열경화물의 인장 탄성률이 200~400MPa인 것이 보다 바람직하다.In the resin composition of the present invention, it is more preferable that the thermo-hardened material has a tensile modulus of 200 to 400 MPa.

본 발명의 수지 조성물은, 그 열경화시, 구체적으로는 100~180℃의 온도역에 있어서의 최저 용융 점도가 1000~50000Pa·s인 것이 바람직하다.The resin composition of the present invention preferably has a minimum melt viscosity of 1,000 to 50,000 Pa · s at a temperature in the range of 100 to 180 ° C upon thermal curing.

열경화시의 최저 용융 점도가 상기 범위이면, 열경화시의 유동성이 적절한 상태가 되기 때문에 바람직하다. 구체적으로는, 수지 조성물을 사용하여 제조한 접착 필름이나 커버레이 필름의 열 압착시에 있어서, 혹은, 수지 조성물을 층간 접착제로서 사용하였을 때의 열 압착시에 있어서, 유동성이 양호하기 때문에, 파인 피치 배선 패턴으로의 매립성이 양호해진다.When the lowest melt viscosity at the time of heat curing is within the above range, the flowability at the time of heat curing becomes appropriate, which is preferable. Concretely, since the fluidity is good at the time of thermocompression bonding of an adhesive film or a coverlay film produced by using the resin composition or when the resin composition is used as an interlayer adhesive, the fine pitch The filling property in the wiring pattern is improved.

여기서, 최저 용융 점도란, 수지 조성물을 가열하였을 때에, 당해 접착 필름이 용융되었을 때의 점도의 최저값이다.Here, the lowest melt viscosity is the lowest value of the viscosity when the adhesive film is melted when the resin composition is heated.

100~180℃의 온도역에 있어서의 최저 용융 점도가 1000Pa·s 미만이면, 열경화시의 유동성이 지나치게 높기 때문에, 열경화 전후에서 접착 필름이나 커버레이 필름의 막두께, 혹은 층간 접착부의 두께가 변화될 우려가 있다.If the minimum melt viscosity at a temperature range of 100 to 180 ° C is less than 1000 Pa · s, the fluidity at the time of thermal curing is too high, so that the film thickness of the adhesive film or the coverlay film, There is a possibility of change.

100~180℃의 온도역에 있어서의 최저 용융 점도가 50000Pa·s 초과이면, 파인 피치 배선 패턴으로의 매립성이 불충분해질 우려가 있어, 열압착시에 인가하는 프레스압을 크게 할 필요가 있다.If the minimum melt viscosity at a temperature range of 100 to 180 占 폚 exceeds 50,000 Pa 占 퐏, the filling property in the fine pitch wiring pattern may become insufficient and the pressing pressure applied at the time of thermocompression bonding must be increased.

본 발명의 수지 조성물은, 100~180℃의 온도역에 있어서의 최저 용융 점도가 2000~20000Pa·s인 것이 보다 바람직하다.It is more preferable that the resin composition of the present invention has a minimum melt viscosity of 2000 to 20,000 Pa · s at a temperature range of 100 to 180 ° C.

본 발명의 수지 조성물은, 열경화물의 유리 전이 온도가 160℃ 이상인 것이, 열경화물의 내열성이나 장기 신뢰성의 관점에서 바람직하다.The resin composition of the present invention preferably has a glass transition temperature of 160 DEG C or higher in view of heat resistance and long-term reliability of thermosetting resin.

본 발명의 수지 조성물은, 그 열경화물이 충분한 접착 강도를 갖고 있다. 구체적으로는, 수지 조성물의 열경화물은, JIS C6471에 준거하여 측정한 동박 조화면에 대한 필 강도(180도 필)가 5N/cm 이상 있는 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 6N/cm 이상이다.The thermosetting resin composition of the present invention has sufficient adhesive strength. Concretely, the thermosetting resin composition preferably has a fill strength (180 degree fill) of 5 N / cm or more, more preferably 6 N / cm or more, for the copper foil screen measured in accordance with JIS C6471.

또한, JIS C6471에 준거하여 측정한 폴리이미드 필름에 대한 필 강도(180도 필)가 5N/cm 이상 있는 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 6N/cm 이상이다.The fill strength (180 degree fill) of the polyimide film measured in accordance with JIS C6471 is preferably 5 N / cm or more, and more preferably 6 N / cm or more.

본 발명의 접착 필름 및 커버레이 필름은, 본 발명의 수지 조성물로부터 공지된 방법에 의해 얻을 수 있다. 예를 들어, 본 발명의 수지 조성물을 용제로 희석하여 바니시로 하고, 이것을 지지체의 적어도 편면에 도포하여, 건조시킨 후, 지지체를 갖는 필름 또는 지지체로부터 박리한 필름으로서 제공할 수 있다.The adhesive film and the coverlay film of the present invention can be obtained by a known method from the resin composition of the present invention. For example, the resin composition of the present invention may be provided as a film having a support or a film peeled off from a support after the resin composition is diluted with a solvent to obtain a varnish, which is applied to at least one surface of the support and dried.

바니시로서 사용 가능한 용제로는, 메틸에틸케톤, 메틸이소부틸케톤 등의 케톤류; 톨루엔, 자일렌 등의 방향족 용제; 디옥틸프탈레이트, 디부틸프탈레이트 등의 고비점 용제 등을 들 수 있다. 용제의 사용량은 특별히 한정되지 않고, 종래부터 사용되고 있는 양으로 할 수 있으나, 바람직하게는, 고형분에 대하여 20~90질량%이다.Examples of the solvent usable as the varnish include ketones such as methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone; Aromatic solvents such as toluene and xylene; And high boiling solvents such as dioctyl phthalate and dibutyl phthalate. The amount of the solvent to be used is not particularly limited and may be an amount conventionally used, but is preferably 20 to 90% by mass based on the solid content.

지지체는, 필름의 제조 방법에 있어서의 원하는 형태에 의해 적절히 선택되고, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 구리, 알루미늄 등의 금속박, 폴리에스테르, 폴리에틸렌 등의 수지의 캐리어 필름 등을 들 수 있다. 본 발명의 접착 필름을, 지지체로부터 박리한 필름의 형태로서 제공하는 경우, 지지체는, 실리콘 화합물 등으로 이형 처리되어 있는 것이 바람직하다.The support is appropriately selected depending on the desired form in the production method of the film and is not particularly limited, and examples thereof include metal foils such as copper and aluminum, and carrier films of resins such as polyester and polyethylene. When the adhesive film of the present invention is provided in the form of a film exfoliated from a support, it is preferable that the support is subjected to a release treatment with a silicone compound or the like.

바니시를 도포하는 방법은, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 슬롯다이 방식, 그라비아 방식, 독터코터 방식 등을 들 수 있고, 원하는 필름의 두께 등에 따라 적절히 선택되는데, 특히, 그라비아 방식이 필름의 두께를 얇게 설계할 수 있기 때문에 바람직하다. 도포는, 건조 후에 형성되는 필름의 두께가, 원하는 두께가 되도록 행하여진다. 이러한 두께는, 당업자라면 용제 함유량으로부터 유도할 수 있다.The method of applying the varnish is not particularly limited, and for example, a slot die method, a gravure method, a doctor coater method, and the like are suitably selected depending on the desired film thickness and the like. Particularly, So that it is possible to design a thin one. The application is performed so that the thickness of the film formed after drying becomes a desired thickness. Such thickness can be derived from the solvent content by those skilled in the art.

본 발명의 접착 필름 및 커버레이 필름의 두께는, 용도에 따라 요구되는 기계적 강도 등의 특성에 기초하여 적절히 설계되는데, 일반적으로 1~100㎛이고, 박막화가 요구되는 경우, 1~30㎛인 것이 바람직하다.The thickness of the adhesive film and the coverlay film of the present invention is appropriately designed based on the characteristics such as mechanical strength required depending on the application, and is generally 1 to 100 탆. When thinning is required, desirable.

건조의 조건은, 바니시에 사용되는 용제의 종류나 양, 바니시의 사용량이나 도포의 두께 등에 따라 적절히 설계되고, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 60~100℃이고, 대기압 하에서 행할 수 있다.The drying conditions are appropriately designed according to the type and amount of the solvent used in the varnish, the amount of varnish used, the thickness of the coating, and the like, and are not particularly limited, but can be, for example, 60 to 100 캜 and under atmospheric pressure.

본 발명의 접착 필름의 사용 순서는 이하와 같다.The order of use of the adhesive film of the present invention is as follows.

본 발명의 접착 필름을 사용하여 접착하는 대상물 중, 일방의 대상물의 피접착면에 본 발명의 접착 필름을 재치한 후, 다른 일방의 대상물을 그 피접착면이 접착 필름의 노출면과 접하도록 재치한다. 여기서, 지지체를 갖는 접착 필름을 사용하는 경우, 접착 필름의 노출면이 일방의 대상물의 피접착면에 접하도록 접착 필름을 재치하고, 피착면 상에 당해 접착 필름을 전사한다. 여기서, 전사시의 온도는 예를 들어 130℃로 할 수 있다.The adhesive film of the present invention is placed on the surface to be adhered of one of the objects to be adhered using the adhesive film of the present invention and then the other adhered object is placed on the surface of the adhesive film do. Here, in the case of using an adhesive film having a support, the adhesive film is placed so that the exposed surface of the adhesive film comes into contact with the adherend surface of one of the objects, and the adhesive film is transferred onto the adherend surface. Here, the temperature at the time of transfer can be set at, for example, 130 占 폚.

다음으로, 전사시에 지지체를 박리함으로써 노출된 접착 필름의 면 상에 다른 일방의 대상물을 그 피접착면이 접착 필름의 노출면과 접하도록 재치한다. 이들 순서를 실시한 후, 소정 온도 및 소정 시간 열압착시키고, 그 후, 가열 경화시킨다.Next, the support is peeled off at the time of transfer, and the other surface of the exposed adhesive film is placed so that the surface to be adhered is in contact with the exposed surface of the adhesive film. After the above steps are performed, they are thermocompression bonded at a predetermined temperature and for a predetermined time, and then they are heated and cured.

열압착시의 온도는 바람직하게는 100~180℃이다. 열압착의 시간은 바람직하게는 0.5~10분이다.The temperature at the time of thermocompression bonding is preferably 100 to 180 占 폚. The time of thermocompression bonding is preferably 0.5 to 10 minutes.

가열 경화의 온도는, 바람직하게는 150~180℃이다. 가열 경화 시간은, 바람직하게는 30~120분이다.The temperature of the heat curing is preferably 150 to 180 占 폚. The heat curing time is preferably 30 to 120 minutes.

한편, 미리 필름화한 것을 사용하는 대신에, 본 발명의 수지 조성물을 용제로 희석한 바니시를 일방의 접착 대상물의 피접착면에 도포하고, 건조시킨 후에, 상기한 일방의 대상물을 재치하는 순서를 실시해도 된다.On the other hand, instead of using a film made in advance, a procedure in which a varnish diluted with a solvent of the resin composition of the present invention is applied to the adhered surface of one of the objects to be adhered and then dried, .

본 발명의 접착 필름은, 다층 프린트 배선판의 층간 접착에도 사용할 수 있다. 이 경우, 상기한 접착하는 대상물이, 다층 프린트 배선판의 각 층을 구성하는 기판이 된다. 한편, 다층 프린트 배선판의 층간 접착에 대해서도, 미리 필름화한 것을 사용하는 대신에, 본 발명의 수지 조성물을 용제로 희석한 바니시를 사용해도 된다.The adhesive film of the present invention can also be used for interlayer adhesion of a multilayer printed wiring board. In this case, the object to be bonded is the substrate constituting each layer of the multilayer printed wiring board. On the other hand, as for the interlayer adhesion of the multilayered printed circuit board, a varnish obtained by diluting the resin composition of the present invention with a solvent may be used instead of a film which has been previously formed into a film.

본 발명의 접착 필름 혹은 바니시를 사용하여 층간 접착된 다층 프린트 배선판은, 층간 접착부에 잔류하는 응력이 경감된다. 이에 의해, 층간 접착부에서의 휨의 발생이 억제되기 때문에, 다층 프린트 배선판의 비아 접속의 신뢰성이 향상된다. 또한, 층간 접착부의 치수 안정성이 우수하다.In the multilayered printed circuit board laminated by using the adhesive film or the varnish of the present invention, the residual stress in the interlayer bonding portion is reduced. As a result, the occurrence of warping in the interlayer bonding portion is suppressed, so that the reliability of the via connection of the multilayer printed wiring board is improved. Further, the dimensional stability of the interlayer bonding portion is excellent.

다층 프린트 배선판의 각 층을 구성하는 기판은 특별히 한정되지 않고, 에폭시 수지, 페놀 수지, 비스말레이미드트리아진 수지 등의 유기 기판이나, 세라믹 기판이나 실리콘 기판 등의 무기 기판을 어느 것이나 사용할 수 있다. 또한, 후술하는 본 발명의 FPC에 바람직한 수지 기판도 사용할 수 있다.The substrate constituting each layer of the multilayered printed circuit board is not particularly limited, and an organic substrate such as an epoxy resin, a phenol resin, a bismaleimide triazine resin, or an inorganic substrate such as a ceramic substrate or a silicon substrate can be used. A resin substrate suitable for the FPC of the present invention described later can also be used.

다음으로, 본 발명의 커버레이 필름의 사용 순서를 나타낸다.Next, the procedure of using the coverlay film of the present invention is shown.

본 발명의 커버레이 필름을, 주면에 배선 패턴이 형성된 배선을 갖는 수지 기판의 소정의 위치, 즉, 배선 패턴이 형성된 측의 커버레이 필름으로 피복하는 위치에 당해 커버레이 필름을 배치한 후, 소정 온도 및 소정 시간 열압착시키면 된다.After the coverlay film of the present invention is disposed at a predetermined position of the resin substrate having the wiring with the wiring pattern formed on the main surface thereof, that is, at the position where the covering film is covered with the cover film on the side where the wiring pattern is formed, Followed by thermocompression at a predetermined temperature for a predetermined time.

열압착 중 가압착시의 온도는 바람직하게는 100~180℃이다. 가압착의 시간은 바람직하게는 0.5~10분이다.The temperature at the time of pressure application during thermocompression bonding is preferably 100 to 180 占 폚. The pressing time is preferably 0.5 to 10 minutes.

가열 경화의 온도는, 바람직하게는 150~180℃이다. 가열 경화 시간은, 바람직하게는 30~120분이다.The temperature of the heat curing is preferably 150 to 180 占 폚. The heat curing time is preferably 30 to 120 minutes.

본 발명의 커버레이 필름에서는, 열경화시의 휨의 발생이 억제되어 있다.In the coverlay film of the present invention, the occurrence of warping during thermal curing is suppressed.

본 발명의 플렉서블 프린트 배선판(FPC)은, 주면에 배선 패턴이 형성된 배선을 갖는 수지 기판의 배선 패턴측에, 본 발명의 커버레이 필름을 배치한 후, 소정 온도 및 소정 시간 가열 경화하여, 배선을 갖는 수지 기판과 커버레이 필름을 일체화한 것이다.The flexible printed wiring board (FPC) of the present invention is obtained by arranging the coverlay film of the present invention on the wiring pattern side of the resin substrate having the wiring with the wiring pattern formed on the main surface thereof, And the coverlay film are integrated with each other.

본 발명의 FPC에 사용하는 수지 기판도, 고주파 영역의 전기 특성이 우수한 것, 즉, 주파수 1GHz 이상의 영역에 있어서, 저유전율(ε) 및 저유전 정접(tanδ)인 것이 바람직하다. 이러한 수지 기판의 구체예로는, 액정 폴리머(LCP), 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE), 폴리이미드(PI) 및 폴리에틸렌나프탈레이트(PEN) 중 어느 것을 주성분으로 하는 수지 기판을 들 수 있다.The resin substrate used for the FPC of the present invention is also preferably excellent in electric characteristics in a high frequency range, that is, low dielectric constant (?) And low dielectric loss tangent (tan?) In a frequency region of 1 GHz or more. As a specific example of such a resin substrate, a resin substrate containing a liquid crystal polymer (LCP), polytetrafluoroethylene (PTFE), polyimide (PI), or polyethylene naphthalate (PEN) as a main component may be mentioned.

또한, 본 발명의 FPC에 바람직한 수지 기판의 다른 구체예로는,As another specific example of the resin substrate suitable for the FPC of the present invention,

(a)하기 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물, 그리고,(a) a vinyl compound represented by the following general formula (1), and

(b)고무 및/또는 열가소성 엘라스토머를 주성분으로 하는 수지 기판을 들 수 있다.(b) a resin substrate containing a rubber and / or a thermoplastic elastomer as a main component.

Figure pct00012
Figure pct00012

성분 (a)의 상기 식 (1)로 나타내어지는 비닐 화합물에 대해서는, 본 발명의 수지 조성물에 대해 상기 서술한 바와 같다.The vinyl compound represented by the above formula (1) of the component (a) is as described above for the resin composition of the present invention.

(a)상기 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물, 그리고, (b)고무 및/또는 열가소성 엘라스토머를 주성분으로 하는 수지 기판은, 본 발명의 수지 조성물과 동일한 구성을 하고 있고, 저유전율·저유전 정접이다. 이 때문에, 예를 들어 본 발명의 수지 조성물을 사용한 층간 접착제나 커버레이 필름과 조합하면, 고주파 특성이 우수한 프린트 기판으로 할 수 있다.(a) a vinyl compound represented by the above general formula (1) and (b) a rubber and / or a thermoplastic elastomer as a main component have the same constitution as the resin composition of the present invention, It is dielectric tangent. Therefore, for example, when combined with an interlayer adhesive or a coverlay film using the resin composition of the present invention, a printed board excellent in high-frequency characteristics can be obtained.

또한, 본 발명의 수지 조성물과 동일한 구성을 하고 있기 때문에, 본 발명의 수지 조성물을 사용한 층간 접착제나 커버레이 필름과의 접착 강도가 높다.Further, since the resin composition has the same structure as the resin composition of the present invention, the adhesive strength between the resin composition of the present invention and the coverlay film is high.

성분 (b): 고무 및/또는 열가소성 엘라스토머,Component (b): rubber and / or thermoplastic elastomer,

상기한 본 발명의 FPC에 바람직한 수지 기판의 구체예는, 성분 (b)로서, 고무와 열가소성 엘라스토머 중 적어도 일방을 함유한다. 수지 기판은 고무와 열가소성 엘라스토머의 양방을 함유해도 된다.A specific example of the resin substrate suitable for the FPC of the present invention includes at least one of rubber and thermoplastic elastomer as the component (b). The resin substrate may contain both rubber and thermoplastic elastomer.

성분 (b)의 고무로는, 스티렌-부타디엔 고무, 부틸 고무, 부타디엔 고무, 아크릴 고무 등의 고무류를 들 수 있다. 이들 고무류는 1종 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 병용해도 된다.Examples of the rubber of the component (b) include styrene-butadiene rubber, butyl rubber, butadiene rubber, and acryl rubber. These rubbers may be used alone, or two or more rubbers may be used in combination.

한편, 열가소성 엘라스토머로는, 스티렌계 열가소성 엘라스토머, 올레핀계 열가소성 엘라스토머, 폴리에스테르계 열가소성 엘라스토머 등을 들 수 있다. 열가소성 엘라스토머는 1종 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 병용해도 된다.On the other hand, examples of the thermoplastic elastomer include a styrene-based thermoplastic elastomer, an olefin-based thermoplastic elastomer, and a polyester-based thermoplastic elastomer. The thermoplastic elastomer may be used alone or in combination of two or more.

성분 (b)로는, 수지 기판이 유연성이 우수한 점 등의 이유에서, 열가소성 엘라스토머가 바람직하고, 스티렌계 열가소성 엘라스토머가 특히 바람직하다.As the component (b), a thermoplastic elastomer is preferable, and a styrene-based thermoplastic elastomer is particularly preferable because the resin substrate is excellent in flexibility.

스티렌계 열가소성 엘라스토머의 구체예로는, 스티렌-부타디엔 블록 공중합체, 스티렌-이소프렌-스티렌 블록 공중합체, 또는, 그들의 이중 결합의 일부를 수첨한 공중합체를 들 수 있고, 보다 구체적으로는, 스티렌-부타디엔-스티렌 블록 공중합체(SBS), 스티렌-이소프렌-스티렌 블록 공중합체(SIS), 스티렌-에틸렌-부틸렌-스티렌 블록 공중합체(SEBS), 스티렌-에틸렌-프로필렌-스티렌 블록 공중합체(SEEPS) 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, SBS, SEBS가 바람직하다.Specific examples of the styrene-based thermoplastic elastomer include a styrene-butadiene block copolymer, a styrene-isoprene-styrene block copolymer, or a copolymer obtained by partially hydrogenating a double bond thereof. More specifically, styrene- Butene-styrene block copolymer (SEBS), styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer (SEEPS), styrene-isoprene-styrene block copolymer (SIS) And the like. Of these, SBS and SEBS are preferable.

성분 (b)로서, 스티렌계 열가소성 엘라스토머를 사용하는 경우, 질량 평균 분자량이 20,000~250,000인 것이 바람직하다. 또한, 성분 (a)와의 상용성이 양호하고, 스티렌계 열가소성 엘라스토머에 있어서의 스티렌 함유량은 15~60질량%인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 20~50질량%이다. 한편, 질량 평균 분자량은 GPC에 의해, 표준 폴리스티렌에 의한 검량선을 사용하여 구한 값이다.When a styrenic thermoplastic elastomer is used as the component (b), it is preferable that the mass average molecular weight is 20,000 to 250,000. Further, the compatibility with the component (a) is good, and the styrene content in the styrene-based thermoplastic elastomer is preferably 15 to 60 mass%, and more preferably 20 to 50 mass%. On the other hand, the mass average molecular weight is a value obtained by GPC using a calibration curve by standard polystyrene.

스티렌계 열가소성 엘라스토머의 구체예로는, JSR 주식회사 제조의 스티렌-부타디엔 블록 공중합체 「JSR TR」 시리즈, 스티렌-이소프렌 블록 공중합체 「JSR SIS」 시리즈 등을 들 수 있다.Specific examples of the styrene-based thermoplastic elastomer include a styrene-butadiene block copolymer "JSR TR" series manufactured by JSR Corporation, and a series of styrene-isoprene block copolymer "JSR SIS".

또한, 성분 (b)로서, 상기 서술한 본 발명의 수지 조성물의 성분 (B), (C)를 사용하고, 성분 (B), (C)의 질량비를 (B)/(C)=1.00 이상 4.00 이하로 하면, 고주파에서의 우수한 전기 특성에 기여하면서도 열경화물의 탄성률이 높아지지 않고, 또한 배선 패턴을 구성하는 구리와의 접착성이 우수하다.When the mass ratio of the components (B) and (C) is set to (B) / (C) = 1.00 or more with the components (B) and (C) of the resin composition of the present invention described above being used as the component When it is 4.00 or less, it does not increase the elastic modulus of the thermosetting material while contributing to excellent electric characteristics at high frequency, and is also excellent in adhesion with copper constituting the wiring pattern.

또한, 상기 서술한 본 발명의 수지 조성물의 성분 (D)를 첨가하면 열경화성의 향상이나 배선 패턴을 구성하는 구리와의 접착성 향상으로 이어지고, 상기 서술한 본 발명의 수지 조성물의 성분 (E)를 첨가하면 유전 특성의 유지, 접착 강도의 부여 및 고Tg(유리 전이점)화로 이어진다.Further, addition of the component (D) of the resin composition of the present invention described above leads to improvement of the thermosetting property and improvement of the adhesion with copper constituting the wiring pattern, and the component (E) of the above- The addition leads to maintenance of dielectric properties, application of adhesive strength and high Tg (glass transition point).

또한, 상기 서술한 본 발명의 수지 조성물의 성분 (F)를 첨가해도 된다. 성분 (F)를 첨가함으로써, 성분 (a)를 사용하는 수지 기판의 저온 경화가 가능하게 된다. 이에 의해, 일반적으로 기판 제조에 사용되는 설비·조건이 적용 가능하게 된다. 또한 휨 저감, 치수 안정성, 땜납 내열성 등의 내열성 향상, 필 강도의 향상으로 이어진다.The component (F) of the resin composition of the present invention described above may be added. Addition of the component (F) makes it possible to cure the resin substrate using the component (a) at a low temperature. This makes it possible to apply facilities and conditions generally used for manufacturing a substrate. In addition, it leads to improvement in heat resistance such as warp reduction, dimensional stability, solder heat resistance, and the like, and improvement in peel strength.

상기한 본 발명의 FPC에 바람직한 수지 기판의 구체예는, 상기한 성분 (a), (b)에 더하여, 성분 (c)로서, 실란커플링제를 함유하는 것이 바람직하다. 성분 (c)의 실란커플링제는, 수지 기판에 배선 패턴을 전사할 때에, 수지 기판과 배선 패턴의 밀착성에 기여한다.The specific examples of the resin substrate preferable for the FPC of the present invention include a silane coupling agent as the component (c) in addition to the above-mentioned components (a) and (b). The silane coupling agent of the component (c) contributes to adhesion between the resin substrate and the wiring pattern when transferring the wiring pattern to the resin substrate.

상기한 본 발명의 FPC에 바람직한 수지 기판의 구체예에 있어서, 성분 (a)와 성분 (b)의 질량 비율은, 3:7~7:3인 것이 바람직하고, 4:6~6:4인 것이 보다 바람직하다.In the specific examples of the resin substrate preferred for the FPC of the present invention, the mass ratio of the component (a) to the component (b) is preferably 3: 7 to 7: 3, more preferably 4: 6 to 6: Is more preferable.

상기한 본 발명의 FPC에 바람직한 수지 기판의 구체예는, 상기한 성분 (a)~(c) 이외의 임의의 성분을 포함하고 있어도 된다. 이러한 임의의 성분의 구체예로는, 수지 기판의 기계적 강도를 향상시킬 목적에서 사용되는 충전제를 들 수 있다. 이러한 충전제의 구체예로는, 실리카, 알루미나, 티타니아, 질화붕소, 산화철 등의 무기 화합물, 혹은 카본 등의 유기 충전제를 들 수 있다.Specific examples of the resin substrate suitable for the FPC of the present invention may include any components other than the above-mentioned components (a) to (c). Specific examples of such arbitrary components include fillers used for the purpose of improving the mechanical strength of the resin substrate. Specific examples of such fillers include inorganic compounds such as silica, alumina, titania, boron nitride, and iron oxide, and organic fillers such as carbon.

임의 성분으로서, 충전제를 함유시키는 경우, 성분 (a)~(c)의 총량에 대한 충전제의 질량 비율이, 9:1~1:9인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 8:2~2:8이고, 더욱 바람직하게는 7:3~3:7이다.When the filler is contained as an optional component, the mass ratio of the filler to the total amount of the components (a) to (c) is preferably 9: 1 to 1: 9, more preferably 8: 2 to 2: 8, and more preferably from 7: 3 to 3: 7.

또한, 상기한 본 발명의 FPC에 바람직한 수지 기판은, 상기한 충전제와 함께, 또는 상기한 충전제 대신에, 유리 섬유나 탄소 섬유와 같은 무기 섬유나, 아라미드 섬유와 같은 유기 섬유를, 수지 기판의 기계적 강도를 향상시킬 목적에서 포함하고 있어도 된다.The resin substrate preferred for the FPC of the present invention may be formed by using inorganic fibers such as glass fibers and carbon fibers or organic fibers such as aramid fibers together with the filler described above or in place of the above- And may be included for the purpose of improving the strength.

실시예Example

이하, 실시예에 의해 본 발명을 상세하게 설명하는데, 본 발명은 이들에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples, but the present invention is not limited thereto.

(실시예 1~9, 비교예 1~12)(Examples 1 to 9 and Comparative Examples 1 to 12)

샘플 제조와 측정 방법Sample preparation and measurement method

각 성분을 하기 표에 나타내는 배합 비율(질량%)이 되도록 계량 배합한 후, 그들을 70℃로 가온된 반응 가마에 투입하여, 회전수 300rpm으로 회전시키면서, 상압 혼합을 3시간 행하였다. 경화제를 첨가하는 경우에는, 냉각 후에 경화제를 첨가하였다.Each component was metered and compounded so as to have a blending ratio (mass%) as shown in the following table. The components were charged in a reaction kettle heated to 70 DEG C, and the mixture was subjected to atmospheric pressure mixing for 3 hours while rotating at a rotational speed of 300 rpm. When a curing agent is added, a curing agent is added after cooling.

이와 같이 하여 얻어진 수지 조성물을 포함하는 바니시를 지지체(이형 처리를 실시한 PET 필름)의 편면에 도포하고, 100℃에서 건조시킴으로써, 지지체를 갖는 접착성 필름을 얻었다.The varnish containing the resin composition thus obtained was applied to one side of a support (PET film subjected to releasing treatment) and dried at 100 캜 to obtain an adhesive film having a support.

한편, 표 중의 약호는 각각 이하를 나타낸다.The abbreviations in the tables indicate the following.

성분 (A)Component (A)

OPE2200: 올리고페닐렌에테르(상기 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물)(Mn=2200), 미츠비시 가스 카가쿠 주식회사 제조OPE2200: Oligophenylene ether (vinyl compound represented by the above general formula (1)) (Mn = 2200), manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co.,

성분 (B)Component (B)

터프텍 H1052: 폴리스티렌-폴리(에틸렌/부틸렌) 블록 공중합체(스티렌량 20%), 아사히카세이 주식회사 제조Tuftec H1052: a polystyrene-poly (ethylene / butylene) block copolymer (styrene content: 20%), manufactured by Asahi Kasei Corporation

터프텍 H1031: 폴리스티렌-폴리(에틸렌/부틸렌) 블록 공중합체(스티렌량 30%), 아사히카세이 주식회사 제조Tuftec H1031: polystyrene-poly (ethylene / butylene) block copolymer (styrene content 30%), manufactured by Asahi Kasei Co.,

성분 (B')Component (B ')

터프텍 H1221: 폴리스티렌-폴리(에틸렌/부틸렌) 블록 공중합체(스티렌량 12%), 아사히카세이 주식회사 제조Tuftec H1221: polystyrene-poly (ethylene / butylene) block copolymer (styrene content: 12%), manufactured by Asahi Kasei Corporation

셉톤 8104: 폴리스티렌-폴리(에틸렌/부틸렌) 블록 공중합체(스티렌량 60%), 주식회사 쿠라레 제조Sephaton 8104: Polystyrene-poly (ethylene / butylene) block copolymer (styrene content: 60%), manufactured by Kuraray Co.,

성분 (C)Component (C)

셉톤 4044: 폴리스티렌-폴리(에틸렌-에틸렌/프로필렌) 블록 공중합체(스티렌량 32%), 주식회사 쿠라레 제조(Styrene content: 32%), manufactured by KURARAY CO., LTD.

성분 (BC')Component (BC ')

TR2003: 폴리스티렌-폴리부타디엔 블록 공중합체(스티렌/부타디엔=43/57), JSR 주식회사 제조TR2003: polystyrene-polybutadiene block copolymer (styrene / butadiene = 43/57), manufactured by JSR Corporation

성분 (D)Component (D)

NC3000H: 비페닐형 에폭시 수지, 닛폰 카야쿠 주식회사 제조NC3000H: biphenyl type epoxy resin, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.

HP4032D: 나프탈렌형 에폭시 수지, DIC 주식회사 제조HP4032D: naphthalene type epoxy resin, manufactured by DIC Co., Ltd.

828EL: 비스페놀 A형 에폭시 수지, 미츠비시 카가쿠 주식회사 제조828EL: Bisphenol A type epoxy resin, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation

성분 (E)Component (E)

BMI-70: 비스말레이미드, 케이·아이 카세이 주식회사 제조BMI-70: manufactured by Bismaleimide, K.Y. Kasei Co., Ltd.

성분 (F)Component (F)

퍼부틸 Z: tert-부틸퍼옥시벤조에이트, 니치유 주식회사 제조, 발열 피크 140~170℃Per butyl Z: tert-butyl peroxybenzoate, manufactured by Nichiyu Co., Ltd., exothermic peak 140 to 170 ° C

퍼부틸 P: 디(2-tert-부틸퍼옥시이소프로필)벤젠, 니치유 주식회사, 발열 피크 160~180℃Per butyl P: di (2-tert-butylperoxyisopropyl) benzene, Nichiyu Co., exothermic peak 160 to 180 ° C

퍼옥타 O: 1,1,3,3-테트라메틸부틸퍼옥시-2-에틸헥사노에이트, 니치유 주식회사 제조, 발열 피크 120~130℃Perocta O: 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxy-2-ethylhexanoate, manufactured by Nichiyu Corporation, exothermic peak 120 to 130 ° C

성분 (F')Component (F ')

퍼로일 OPP: 디(2-에틸헥실)퍼옥시디카보네이트, 니치유 주식회사, 발열 피크 80~100℃Peroyl OPP: di (2-ethylhexyl) peroxydicarbonate, Nichiyu Co., exothermic peak 80 to 100 ° C

노프머 BC-90: 2,3-디메틸-2,3-디페닐부탄, 니치유 주식회사, 발열 피크 200℃ 이상Nopmer BC-90: 2,3-dimethyl-2,3-diphenylbutane, Nichiyu Corporation, exothermic peak 200 ° C or higher

성분 (G)Component (G)

C11ZCN: 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 시코쿠 카세이 코교 주식회사 제조C11ZCN: 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd.

2E4MZ: 2-에틸-4-메틸이미다졸, 시코쿠 카세이 코교 주식회사 제조2E4MZ: 2-ethyl-4-methylimidazole, manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd.

1B2PZ: 1-벤질-2-페닐이미다졸, 시코쿠 카세이 코교 주식회사 제조1B2PZ: 1-benzyl-2-phenylimidazole, manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd.

TPP-MK: 테트라페닐포스포늄테트라-p-톨릴보레이트, 호쿠코 카가쿠 코교 주식회사 제조TPP-MK: tetraphenylphosphonium tetra-p-tolyl borate, manufactured by Hokuko Kagakuko Kogyo Co., Ltd.

유전율(ε), 유전 정접(tanδ): 접착성 필름을 180℃에서 가열 경화시키고, 지지체로부터 박리한 후, 당해 접착성 필름으로부터 시험편(40±0.5mm×100±2mm)을 잘라내고, 두께를 측정하였다. 시험편을 길이 100mm, 직경 2mm 이하의 통 형상으로 둥글게 하여, 공동 공진기 섭동법(10GHz)으로 유전율(ε) 및 유전 정접(tanδ)을 측정하였다.Dielectric constant (?) And dielectric loss tangent (tan delta): The adhesive film was heated and cured at 180 占 폚 and peeled off from the support, and then a test piece (40 占 0.5 mm 占 100 占 2 mm) was cut out from the adhesive film, Respectively. The dielectric constant (ε) and dielectric loss tangent (tan δ) of the test piece were measured with a cavity resonator perturbation method (10 GHz) by rounding the test piece into a cylinder having a length of 100 mm and a diameter of 2 mm or less.

인장 탄성률: 접착성 필름을 180℃에서 가열 경화시키고, 지지체로부터 박리한 후, 당해 접착성 필름으로부터 시험편(25±0.5mm×220±2mm)을 MD 방향으로 5장 잘라내고, 두께를 측정하였다. 이 시험편을 오토그래프에 홀딩하여 지그 폭 170mm로 세트하고, 인장 속도 1mm/min으로 스트로크 5mm까지 측정하였다. N=5의 평균값을 측정값으로 하였다.Tensile modulus: The adhesive film was heat-cured at 180 占 폚 and peeled from the support. Five test pieces (25 占 0.5 mm 占 220 占 2 mm) were cut out from the adhesive film in the MD direction and the thickness was measured. The test piece was held on an autograph, set at a jig width of 170 mm, and measured up to a stroke of 5 mm at a tensile speed of 1 mm / min. The average value of N = 5 was taken as the measured value.

휨량: 두께 18㎛의 동박(후쿠다 킨조쿠 하쿠훈 코교 주식회사 제조의 동박 CF-T8) 가로세로 100±0.5mm로 잘라내고, 동일 사이즈로 잘라낸 접착성 필름을 동박 편면에 프레스기로 압착시키면서 가열 경화시켰다(180℃, 60min, 1MPa). 지지체를 박리하고, 접착성 필름을 첩부한 면을 아래로 하여 평평한 책상의 수평면 상에 재치하고, 경화 수축에 의한 휨량을 측정하였다. 즉, 휨량이란, 책상의 수평면으로부터 필름 중앙의 뜬 지점까지의 높이의 최대값이다.Amount of bending: Copper foil having a thickness of 18 탆 (copper foil CF-T8 manufactured by Fukuda Kinko Co., Ltd.) was cut to 100 ± 0.5 mm in length and the adhesive film cut in the same size was heat-cured while pressing the copper foil on one side with a press machine (180 DEG C, 60 min, 1 MPa). The support was peeled off, placed on a horizontal surface of a flat desk with its adhesive surface adhered down, and the amount of warpage due to curing shrinkage was measured. That is, the amount of warpage is the maximum value of the height from the horizontal plane of the desk to the open point of the film center.

필 강도(Cu): 동박(CF-T8, 후쿠다 킨조쿠 하쿠훈 코교 주식회사 제조, 두께 18㎛)의 조화면에 건조시킨 접착성 필름을 열압착하고, 그 후 가열 경화(열압착: 130℃ 3분, 가열 경화: 180℃×1hr)시킨 후, JIS C6471에 준거하여 필 강도(180도 필)를 측정하였다. 동박면으로부터 10mm 폭으로 접착성 필름을 자르고, 오토그래프로 떼어내어, 필 강도(180도 필)를 측정하였다.Peel Strength (Cu): An adhesive film dried on a roughened surface of a copper foil (CF-T8, manufactured by Fukuda Kinko Corp., Hakuhoon Kogyo Co., Ltd., thickness 18 占 퐉) was hot-pressed and then heat cured Min., Heat curing: 180 DEG C x 1 hr), and the peel strength (180 degree peel) was measured according to JIS C6471. The adhesive film was cut from the copper foil surface with a width of 10 mm and peeled off with an autograph to measure the peel strength (180 degree peel).

필 강도(PI): 폴리이미드 필름(K100EN, 토레·듀폰 주식회사 제조, 25㎛)에 건조시킨 접착성 필름을 열압착하고, 그 후 가열 경화(열압착: 130℃ 3분, 가열 경화: 180℃×1hr)시킨 후, JIS C6471에 준거하여 필 강도(180도 필)를 측정하였다. 폴리이미드 필름의 필름면으로부터 10mm 폭으로 접착성 필름을 자르고, 오토그래프로 떼어내어, 필 강도(180도 필)를 측정하였다.Peel strength (PI): An adhesive film dried on a polyimide film (K100EN, manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., 25 占 퐉) was hot-pressed and then heat cured (thermocompression bonding: 130 占 폚 for 3 minutes, heat curing: 180 占 폚 × 1 hr), and the peel strength (180 degree peel) was measured in accordance with JIS C6471. The adhesive film was cut 10 mm in width from the film side of the polyimide film and peeled off with an autograph to measure the peel strength (180 degree peel).

치수 안정성(JISC6471 준거): 상기 서술한 방법에 의해 얻어진 접착성 필름의 양면에 동박을 열압착(180℃, 60분, 1MPa)으로 맞붙여, 200mm×250mm의 시료로 하였다. 시료의 4모서리에 직경 2mm의 구멍을 뚫어, 먼저 이웃하는 구멍의 세로 및 가로의 간격을 측정하고, 다음으로 표면의 동박을 전체면 에칭한 후에 80℃에서 30분 건조 처리를 행하고, 이 후, 다시 이웃하는 구멍의 세로 및 가로의 간격을 측정하고, 그리고 처리 전후의 구멍의 간격 변화로부터 세로와 가로의 치수 변화율을 구하였다. 추가로 150℃에서 30분의 열처리를 행하고 전술과 동일한 측정을 하여 세로와 가로의 치수 변화율을 구하였다. 표에는 세로와 가로의 치수 변화율의 평균값을 기재하였다.Dimensional stability (in conformity with JIS C6471): A copper foil was adhered to both sides of the adhesive film obtained by the above-described method by thermocompression bonding (180 DEG C, 60 minutes, 1 MPa) to obtain a sample of 200 mm x 250 mm. A hole having a diameter of 2 mm was drilled in four corners of the sample, and the interval between the vertical and the horizontal of the neighboring hole was measured. Next, the entire surface of the copper foil on the surface was etched and then subjected to a drying treatment at 80 DEG C for 30 minutes. The distance between the longitudinal and transverse sides of the neighboring holes was measured and the dimensional change ratio between the longitudinal and transverse directions was obtained from the change in the distance between the holes before and after the treatment. Further, heat treatment at 150 캜 for 30 minutes was carried out, and the same measurement as described above was carried out to determine the dimensional change ratio between the length and width. In the table, the average value of the rate of dimensional change between the vertical and horizontal directions is described.

땜납 내열성(땜납 플로트 시험): 상기 서술한 방법에 의해 얻어진 접착 필름의 양면에 동박을 열압착(180℃, 60분, 1MPa)으로 맞붙여 50mm×50mm의 시료를 제조하였다. 이것을 290℃부터 10℃씩 온도를 높인 땜납욕에 30초 띄워 부풂의 유무를 평가하였다. 표에는, 부풂이 발생한 온도보다 10℃ 낮은 온도의 수치를 기재하였다.Solder Heat Resistance (Solder Float Test): A copper foil was hot-pressed (180 DEG C, 60 minutes, 1 MPa) on both sides of the adhesive film obtained by the above-described method to prepare a sample of 50 mm x 50 mm. This was floated in a soldering bath at a temperature elevation from 290 ° C to 10 ° C for 30 seconds to evaluate the presence of solder. In the table, the temperature is 10 ° C lower than the temperature at which the buckling occurred.

한편, 휨량 15mm 이하, 및 필 강도 5N/cm 이상의 결과를 얻을 수 없었던 조성에 대해서는, 치수 안정성과 땜납 내열성의 평가를 행하지 않았다.On the other hand, evaluation of dimensional stability and solder heat resistance was not carried out on the composition which had a deflection amount of 15 mm or less and a result of which a result of peel strength of 5 N / cm or more could not be obtained.

실시예 1Example 1 실시예 2Example 2 실시예 3Example 3 실시예 4Example 4 실시예 5Example 5 실시예 6Example 6 성분(A)Component (A) OPE2St-2200OPE2St-2200 30.4%30.4% 30.5%30.5% 32.1%32.1% 33.6%33.6% 30.4%30.4% 30.1%30.1% 성분(B)Component (B) 터프텍 H1052Tuftec H1052 31.3%31.3% -- 30.0%30.0% 28.7%28.7% 34.0%34.0% 36.2%36.2% 터프텍 H1031Tuftec H1031 -- 31.3%31.3% -- -- -- -- 성분(B’)Component (B ') 터프텍 H1221Tuftec H1221 -- -- -- -- -- -- 셉톤 8104Septon 8104 -- -- -- -- -- -- 성분(C)Component (C) 셉톤 4044Septon 4044 20.9%20.9% 20.9%20.9% 20.0%20.0% 19.2%19.2% 18.2%18.2% 15.6%15.6% 성분(BC’)Component (BC ') TR2003TR2003 -- -- -- -- -- -- 성분(D)Component (D) NC3000HNC3000H 4.0%4.0% -- -- 3.9%3.9% 4.0%4.0% 5.0%5.0% HP4032DHP4032D -- 4.0%4.0% -- -- -- -- 828EL828EL -- -- 3.9%3.9% -- -- -- 성분(E)Component (E) BMI-70BMI-70 12.3%12.3% 12.2%12.2% 12.9%12.9% 13.4%13.4% 12.3%12.3% 12.1%12.1% 성분(F)Component (F) 퍼부틸 ZPer butyl Z 1.0%1.0% 1.0%1.0% 1.0%1.0% 1.0%1.0% -- 1.0%1.0% 퍼부틸 PPer butyl P -- -- -- -- 1.0%1.0% -- 퍼옥타 OPer octa O -- -- -- -- -- -- 성분(F’)Component (F ') 퍼로일 OPPPERRO IS OPP -- -- -- -- -- -- 노프머 BC-90Nofmer BC-90 -- -- -- -- -- -- 성분(G)Component (G) C11ZCNC11ZCN 0.1%0.1% 0.1%0.1% -- 0.1%0.1% -- 0.1%0.1% 2E4MZ2E4MZ -- -- 0.1%0.1% -- -- -- 1B2PZ1B2PZ -- -- -- -- 0.1%0.1% -- TPP-MKTPP-MK -- -- -- -- -- -- (A+E)/(B+C)(A + E) / (B + C) 0.820.82 0.820.82 0.900.90 0.980.98 0.820.82 0.820.82 B/CB / C 1.501.50 1.501.50 1.501.50 1.501.50 1.861.86 2.322.32 F/A(%)F / A (%) 3.3%3.3% 3.3%3.3% 3.1%3.1% 3.0%3.0% 3.3%3.3% 3.3%3.3% 휨량(mm)Deflection (mm) 1One 1One 1One 22 00 00 ε(10GHz)竜 (10 GHz) 2.332.33 2.322.32 2.332.33 2.352.35 2.332.33 2.332.33 tanδ(10GHz)tan? (10 GHz) 0.00360.0036 0.00340.0034 0.00310.0031 0.00320.0032 0.0030.003 0.00330.0033 인장 탄성률(MPa)Tensile modulus (MPa) 339339 371371 347347 368368 333333 280280 필 강도(Cu)(N/cm)Peel strength (Cu) (N / cm) 8.18.1 9.19.1 8.58.5 8.78.7 9.39.3 9.49.4 필 강도(PI)(N/cm)Peel strength (PI) (N / cm) 7.37.3 8.28.2 7.97.9 8.18.1 8.28.2 9.19.1 치수 안정성(에칭)%Dimensional stability (etching)% 0.630.63 0.550.55 0.610.61 0.580.58 0.590.59 0.550.55 치수 안정성 150℃ 30minDimensional stability 150 ℃ 30min 0.90.9 0.780.78 0.810.81 0.950.95 0.90.9 0.770.77 땜납 플로트(30sec)Solder float (30 sec) 320320 320320 320320 320320 320320 320320

실시예 7Example 7 실시예 8Example 8 실시예 9Example 9 성분(A)Component (A) OPE2St-2200OPE2St-2200 32.9%32.9% 31.1%31.1% 29.8%29.8% 성분(B)Component (B) 터프텍 H1052Tuftec H1052 39.6%39.6% 32.0%32.0% 30.7%30.7% 터프텍 H1031Tuftec H1031 -- -- -- 성분(B’)Component (B ') 터프텍 H1221Tuftec H1221 -- -- -- 셉톤 8104Septon 8104 -- -- -- 성분(C)Component (C) 셉톤 4044Septon 4044 9.9%9.9% 21.3%21.3% 20.5%20.5% 성분(BC’)Component (BC ') TR2003TR2003 -- -- -- 성분(D)Component (D) NC3000HNC3000H 3.3%3.3% 2.0%2.0% 3.9%3.9% HP4032DHP4032D -- -- -- 828EL828EL -- -- -- 성분(E)Component (E) BMI-70BMI-70 13.3%13.3% 12.5%12.5% 12.1%12.1% 성분(F)Component (F) 퍼부틸 ZPer butyl Z -- -- 2.9%2.9% 퍼부틸 PPer butyl P 1.0%1.0% -- -- 퍼옥타 OPer octa O -- 1.0%1.0% -- 성분(F’)Component (F ') 퍼로일 OPPPERRO IS OPP -- -- -- 노프머 BC-90Nofmer BC-90 -- -- -- 성분(G)Component (G) C11ZCNC11ZCN 0.1%0.1% 0.1%0.1% -- 2E4MZ2E4MZ -- -- -- 1B2PZ1B2PZ -- -- -- TPP-MKTPP-MK -- -- 0.1%0.1% (A+E)/(B+C)(A + E) / (B + C) 0.930.93 0.820.82 0.820.82 B/CB / C 4.004.00 1.501.50 1.501.50 F/A(%)F / A (%) 3.0%3.0% 3.2%3.2% 9.8%9.8% 휨량(mm)Deflection (mm) 00 00 00 ε(10GHz)竜 (10 GHz) 2.322.32 2.322.32 2.332.33 tanδ(10GHz)tan? (10 GHz) 0.00390.0039 0.00340.0034 0.00480.0048 인장 탄성률(MPa)Tensile modulus (MPa) 221221 364364 398398 필 강도(Cu)(N/cm)Peel strength (Cu) (N / cm) 8.28.2 8.18.1 9.39.3 필 강도(PI)(N/cm)Peel strength (PI) (N / cm) 7.97.9 8.18.1 8.88.8 치수 안정성(에칭)%Dimensional stability (etching)% 0.590.59 0.670.67 0.630.63 치수 안정성 150℃ 30minDimensional stability 150 ℃ 30min 0.750.75 0.890.89 0.80.8 땜납 플로트(30sec)Solder float (30 sec) 320320 320320 310310

비교예 1Comparative Example 1 비교예 2Comparative Example 2 비교예 3Comparative Example 3 비교예 4Comparative Example 4 비교예 5Comparative Example 5 비교예 6Comparative Example 6 성분(A)Component (A) OPE2St-2200OPE2St-2200 50.0%50.0% 48.9%48.9% 40.8%40.8% 27.8%27.8% 36.2%36.2% 35.3%35.3% 성분(B)Component (B) 터프텍 H1052Tuftec H1052 -- -- 49.0%49.0% 33.6%33.6% 26.5%26.5% 23.8%23.8% 터프텍 H1031Tuftec H1031 -- -- -- -- -- -- 성분(B’)Component (B ') 터프텍 H1221Tuftec H1221 -- -- -- -- -- -- 셉톤 8104Septon 8104 -- -- -- -- -- -- 성분(C)Component (C) 셉톤 4044Septon 4044 -- 39.1%39.1% -- 22.4%22.4% 17.7%17.7% 29.1%29.1% 성분(BC’)Component (BC ') TR2003TR2003 50.0%50.0% -- -- -- -- -- 성분(D)Component (D) NC3000HNC3000H -- 2.0%2.0% 2.0%2.0% 4.0%4.0% 3.9%3.9% 3.6%3.6% HP4032DHP4032D -- -- -- -- -- -- 828EL828EL 5.0%5.0% -- -- -- -- -- 성분(E)Component (E) BMI-70BMI-70 -- 9.8%9.8% 8.2%8.2% 11.1%11.1% 14.5%14.5% 7.1%7.1% 성분(F)Component (F) 퍼부틸 ZPer butyl Z -- -- -- 1.0%1.0% 1.0%1.0% 1.0%1.0% 퍼부틸 PPer butyl P -- -- -- -- -- -- 퍼옥타 OPer octa O -- -- -- -- -- -- 성분(F’)Component (F ') 퍼로일 OPPPERRO IS OPP -- -- -- -- -- -- 노프머 BC-90Nofmer BC-90 -- -- -- -- -- -- 성분(G)Component (G) C11ZCNC11ZCN -- 0.1%0.1% 0.1%0.1% 0.1%0.1% -- 0.1%0.1% 2E4MZ2E4MZ -- -- -- -- 0.1%0.1% -- 1B2PZ1B2PZ -- -- -- -- -- -- TPP-MKTPP-MK -- -- -- -- -- -- (A+E)/(B+C)(A + E) / (B + C) -- 1.501.50 1.001.00 0.700.70 1.151.15 0.800.80 B/CB / C -- -- -- 1.501.50 1.501.50 0.820.82 F/A(%)F / A (%) -- -- -- 3.6%3.6% 2.7%2.7% -- 휨량(mm)Deflection (mm) 2323 3131 00 22 1818 2020 ε(10GHz)竜 (10 GHz) 2.42.4 2.342.34 -- 2.32.3 2.42.4 2.32.3 tanδ(10GHz)tan? (10 GHz) 0.0020.002 0.00230.0023 -- 0.00340.0034 0.0030.003 0.00310.0031 인장 탄성률(MPa)Tensile modulus (MPa) 780780 1253.001253.00 -- 258.00258.00 231.00231.00 684.00684.00 필 강도(Cu)(N/cm)Peel strength (Cu) (N / cm) 7.57.5 10.210.2 1.31.3 4.54.5 9.59.5 77 필 강도(PI)(N/cm)Peel strength (PI) (N / cm) 6.56.5 10.110.1 1.51.5 3.43.4 8.58.5 6.56.5 치수 안정성(에칭)%Dimensional stability (etching)% 1.511.51 1.871.87 -- -- -- -- 치수 안정성 150℃ 30minDimensional stability 150 ℃ 30min 2.12.1 2.342.34 -- -- -- -- 땜납 플로트(30sec)Solder float (30 sec) 290290 310310 -- -- -- --

비교예 7Comparative Example 7 비교예 8Comparative Example 8 비교예 9Comparative Example 9 비교예 10Comparative Example 10 비교예 11Comparative Example 11 비교예 12Comparative Example 12 성분(A)Component (A) OPE2St-2200OPE2St-2200 35.3%35.3% 30.4%30.4% 30.4%30.4% 30.4%30.4% 30.4%30.4% 30.4%30.4% 성분(B)Component (B) 터프텍 H1052Tuftec H1052 45.0%45.0% 31.3%31.3% -- -- 31.3%31.3% 31.3%31.3% 터프텍 H1031Tuftec H1031 -- -- -- -- -- -- 성분(B’)Component (B ') 터프텍 H1221Tuftec H1221 -- -- 31.3%31.3% -- -- -- 셉톤 8104Septon 8104 -- -- -- 31.3%31.3% -- -- 성분(C)Component (C) 셉톤 4044Septon 4044 7.9%7.9% 20.9%20.9% 20.9%20.9% 20.9%20.9% 20.9%20.9% 20.9%20.9% 성분(BC’)Component (BC ') TR2003TR2003 -- -- -- -- -- -- 성분(D)Component (D) NC3000HNC3000H 3.6%3.6% 4.0%4.0% 4.0%4.0% 4.0%4.0% 4.0%4.0% 4.0%4.0% HP4032DHP4032D -- -- -- -- -- -- 828EL828EL -- -- -- -- -- -- 성분(E)Component (E) BMI-70BMI-70 7.1%7.1% 12.3%12.3% 12.3%12.3% 12.3%12.3% 12.3%12.3% 12.3%12.3% 성분(F)Component (F) 퍼부틸 ZPer butyl Z 1.0%1.0% -- 1.0%1.0% 1.0%1.0% -- -- 퍼부틸 PPer butyl P -- -- -- -- -- -- 퍼옥타 OPer octa O -- -- -- -- -- -- 성분(F’)Component (F ') 퍼로일 OPPPERRO IS OPP -- -- -- -- -- 1.0%1.0% 노프머 BC-90Nofmer BC-90 -- -- -- -- 1.0%1.0% -- 성분(G)Component (G) C11ZCNC11ZCN 0.1%0.1% 0.1%0.1% 0.1%0.1% 0.1%0.1% 0.1%0.1% 0.1%0.1% 2E4MZ2E4MZ -- -- -- -- -- -- 1B2PZ1B2PZ -- -- -- -- -- -- TPP-MKTPP-MK -- -- -- -- -- -- (A+E)/(B+C)(A + E) / (B + C) 0.800.80 0.820.82 0.820.82 0.820.82 0.820.82 0.820.82 B/CB / C 5.675.67 1.501.50 1.501.50 1.501.50 1.501.50 1.501.50 F/A(%)F / A (%) -- 3.3%3.3% 3.3%3.3% 3.3%3.3% 3.3%3.3% 3.3%3.3% 휨량(mm)Deflection (mm) 00 33 1One 1616 33 33 ε(10GHz)竜 (10 GHz) 2.312.31 2.332.33 2.332.33 2.332.33 2.332.33 2.332.33 tanδ(10GHz)tan? (10 GHz) 0.00350.0035 0.00240.0024 0.00390.0039 0.00330.0033 0.00370.0037 0.00370.0037 인장 탄성률(MPa)Tensile modulus (MPa) 113.00113.00 239.00239.00 239.00239.00 539.00539.00 242.00242.00 368.00368.00 필 강도(Cu)(N/cm)Peel strength (Cu) (N / cm) 2.52.5 8.18.1 5.15.1 8.18.1 8.18.1 측정불가Not measurable 필 강도(PI)(N/cm)Peel strength (PI) (N / cm) 2.32.3 7.67.6 4.34.3 7.37.3 7.67.6 측정불가Not measurable 치수 안정성(에칭)%Dimensional stability (etching)% -- 1.151.15 1.151.15 1.351.35 1.211.21 -- 치수 안정성 150℃ 30minDimensional stability 150 ℃ 30min -- 1.431.43 1.431.43 1.841.84 1.511.51 -- 땜납 플로트(30sec)Solder float (30 sec) -- 310310 290290 310310 310310 --

실시예 1~9는, 휨량, 고주파의 전기 특성(유전율(ε), 유전 정접(tanδ)), 인장 탄성률, 필 강도, 치수 안정성, 땜납 내열성이 모두 우수하였다. 실시예 1에 비하여 B/C를 크게 한 실시예 5에서는, 인장 탄성률을 낮게 할 수 있었다. 실시예 5에 비하여 B/C를 더 크게 한 실시예 6에서는, 인장 탄성률을 더 낮게 할 수 있었다.Examples 1 to 9 were excellent in both the amount of deflection and the electric characteristics (permittivity (?), Dielectric loss tangent (tan?)), Tensile elasticity, peel strength, dimensional stability and solder heat resistance. In Example 5 in which B / C was increased as compared with Example 1, the tensile elastic modulus could be lowered. In Example 6 in which B / C was larger than that in Example 5, the tensile elastic modulus could be lowered.

또한, 실시예 1에 비하여 (D)성분의 에폭시 수지의 함유량을 적게 한 실시예 8에서는, 유전 정접(tanδ)을 보다 낮게 할 수 있었다.In Example 8 in which the content of the epoxy resin of the component (D) was smaller than that of Example 1, dielectric tangent (tan?) Could be lowered.

성분 (B), (C) 대신에, 열가소성 엘라스토머로서 폴리스티렌·폴리부타디엔 블록 공중합체를 사용한 비교예 1에서는 휨량이 컸다. 또한, 치수 안정성 및 땜납 내열성이 떨어져 있었다.In Comparative Example 1 using a polystyrene-polybutadiene block copolymer as the thermoplastic elastomer instead of the components (B) and (C), the warping amount was large. In addition, dimensional stability and soldering heat resistance were poor.

성분 (B)를 포함하지 않는 비교예 2에서는 인장 탄성률이 높아지고, 휨량도 컸다. 또한, 치수 안정성 및 땜납 내열성이 떨어져 있었다.In Comparative Example 2, which did not contain the component (B), the tensile modulus of elasticity was high and the amount of warpage was large. In addition, dimensional stability and soldering heat resistance were poor.

성분 (C)를 포함하지 않는 비교예 3은, 필 강도가 낮았다.In Comparative Example 3 not containing the component (C), the peel strength was low.

각 성분의 질량비가 (A+E)/(B+C)=0.81 미만인 비교예 4는, 필 강도가 낮았다.In Comparative Example 4 in which the mass ratio of each component was less than (A + E) / (B + C) = 0.81, the peel strength was low.

각 성분의 질량비가 (A+E)/(B+C)=1.00 초과인 비교예 5는, 휨량이 컸다.In Comparative Example 5 in which the mass ratio of each component was (A + E) / (B + C) = 1.00, the amount of warpage was large.

성분 (B), (C)의 질량비 (B)/(C)=1.00 미만의 비교예 6은, 휨량이 컸다.In Comparative Example 6 in which the mass ratio (B) / (C) of components (B) and (C) was less than 1.00, the warping amount was large.

성분 (B), (C)의 질량비 (B)/(C)=4.00 초과의 비교예 7은, 필 강도가 낮았다.In Comparative Example 7 in which the mass ratio (B) / (C) of components (B) and (C) was more than 4.00, the peel strength was low.

성분 (F)를 포함하지 않는 비교예 8은, 치수 안정성이 떨어져 있었다.In Comparative Example 8 not containing the component (F), the dimensional stability was poor.

성분 (B) 대신에 스티렌 함유량이 15% 미만인 폴리스티렌-폴리(에틸렌/부틸렌) 블록 공중합체를 사용한 비교예 9는, 필 강도(PI)가 낮았다. 또한, 치수 안정성 및 땜납 내열성이 떨어져 있었다.In Comparative Example 9 using a polystyrene-poly (ethylene / butylene) block copolymer having a styrene content of less than 15% instead of the component (B), the PI strength was low. In addition, dimensional stability and soldering heat resistance were poor.

성분 (B) 대신에 스티렌 함유량이 35% 초과인 폴리스티렌-폴리(에틸렌/부틸렌) 블록 공중합체를 사용한 비교예 10은, 휨량이 컸다. 또한, 치수 안정성이 떨어져 있었다.In Comparative Example 10 using a polystyrene-poly (ethylene / butylene) block copolymer having a styrene content of more than 35% instead of the component (B), the warpage was large. Also, dimensional stability was poor.

성분 (F)의 발열 피크가 180℃ 초과인 비교예 11은, 치수 안정성이 떨어져 있었다.In Comparative Example 11 in which the exothermic peak of the component (F) was higher than 180 deg. C, the dimensional stability was poor.

성분 (F)의 발열 피크가 100℃ 미만인 비교예 12는, 필 강도를 측정할 수 없었다.In Comparative Example 12 in which the exothermic peak of the component (F) was lower than 100 占 폚, the peel strength could not be measured.

성분 (a), (b)를 주성분으로 하는 FPC를 베이스로 한 프린트 An FPC-based print comprising the components (a) and (b) as a main component 배선판의Of the wiring board 제조 방법 Manufacturing method

FPC용의 수지 기판의 제조에는, 하기 성분을 함유하는 수지 조성물을 사용하였다.For the production of the resin substrate for FPC, a resin composition containing the following components was used.

성분 (a): OPE2st : 올리고페닐렌에테르 (상기 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물)(Mn=2200), 미츠비시 가스 카가쿠 주식회사 제조 50.0부 Component (a): OPE2st: oligo (phenylene ether) (the vinyl compound of formula (1)) (Mn = 2200 ), manufactured by Mitsubishi Gas Kagaku Co., Ltd. Preparation 50.0 parts

성분 (b): 폴리스티렌-폴리부타디엔 블록 공중합체(JSR 주식회사 제조: 「TR2003」: 질량 평균 분자량 약 10만, 스티렌 함유량 43질량%) 50.0부 Component (b): Polystyrene-polybutadiene block copolymer (TR2003, manufactured by JSR Corporation: mass average molecular weight: about 100,000, styrene content: 43% by mass) 50.0 parts

성분 (c) Component (c) 실란커플링제Silane coupling agent

γ-아크릴옥시프로필트리메톡시실란(「KBM-5103」, 신에츠 카가쿠 코교 주식회사 제조) 0.5부0.5 part of? -acryloxypropyltrimethoxysilane ("KBM-5103", manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)

상기 각 성분을 쓰리원 모터(신토 카가쿠 주식회사 제조, BLW1200)를 사용하여 원주 속도 400rpm으로 건식 혼합하여 수지 조성물을 조제하였다. 당해 수지 조성물을 용매 톨루엔에 첨가해 가열 교반하여 바니시(고형분 농도 약 30질량%)를 조제하였다. 당해 바니시를 지지체인 PET 필름(두께 50㎛)에 그라비아 코터로 도포한 후, 100℃에서 10분간 건조시키고, 방치 냉각하고, PET 필름으로부터 박리하여 FPC용의 수지 기판을 얻었다. 수지 기판의 두께는 30㎛였다.Each of the above components was dry-mixed at a circumferential speed of 400 rpm using a three-one motor (BLW1200, manufactured by Shintokagaku Co., Ltd.) to prepare a resin composition. The resin composition was added to the solvent toluene and the mixture was heated and stirred to prepare a varnish (solid concentration of about 30% by mass). The varnish was coated on a supporting PET film (thickness 50 mu m) with a gravure coater, followed by drying at 100 DEG C for 10 minutes, allowing to stand and cool, and peeling from the PET film to obtain a resin substrate for FPC. The thickness of the resin substrate was 30 mu m.

상기의 순서로 얻어진 수지 기판의 양면에, 조화면을 내측으로 하여 동박을 맞붙이고, 프레스기로 열압착시켰다(200℃ 60min, 1MPa). 열압착시킨 동박의 편면 혹은 양면을 에칭하여, 배선 패턴을 그려, 배선을 갖는 수지 기판을 제조하였다. 이 배선을 갖는 수지 기판의 배선 패턴측에, 상기의 순서로 얻어진 커버레이 필름을 접착층이 대향하도록 배치하고, 프레스기로 열압착시키면서 가열 경화시켜(180℃, 60min, 1MPa), 프린트 배선판을 제조하였다.On both sides of the resin substrate obtained in the above procedure, the copper foils were stuck together with the roughened surface inward and thermally pressed (200 DEG C, 60 minutes, 1 MPa). The one surface or both surfaces of the copper foil subjected to thermocompression was etched to form a wiring pattern to produce a resin substrate having wiring. The coverlay film obtained in the above procedure was arranged so that the adhesive layers were opposed to each other on the wiring pattern side of the resin substrate having this wiring and the printed wiring board was prepared by heating and curing (180 DEG C, 60 min, 1 MPa) while thermocompression bonding with a press machine .

삽입 손실: 상기의 수지 기판 상에 임피던스가 50Ω이 되도록 설계된 마이크로스트립 라인을 제조하고, 커버레이 필름으로서, 상기의 접착성 필름을 진공 프레스(180℃ 1hr, 1MPa, 진공도<10kPa)로 첩부하여, 시험편을 제조하였다. 제조한 시험편을 사용하여 하기 조건으로 삽입 손실(db)을 측정하였다.Insertion loss: A microstrip line designed to have an impedance of 50? On the resin substrate was prepared. As the coverlay film, the adhesive film was pasted with a vacuum press (180 占 폚 for 1 hour, 1 MPa, degree of vacuum <10 kPa) A test piece was prepared. Insertion loss (db) was measured using the prepared test piece under the following conditions.

측정 기기: E8363B(Agilent Technologies사 제조)Measuring instrument: E8363B (manufactured by Agilent Technologies)

측정 주파수: 10MHz~60GHzMeasuring frequency: 10MHz ~ 60GHz

측정 포인트: 4000Measuring points: 4000

측정 프로브: GSG250Measuring probe: GSG250

배선 길이: 30mm, 50mm, 70mmWiring length: 30mm, 50mm, 70mm

배선 폭: 130±10㎛Wiring width: 130 ± 10㎛

결과를 하기 표에 나타낸다.The results are shown in the following table.

배선 길이Wiring length 주파수(GHz)Frequency (GHz) 30mm30mm 50mm50mm 70mm70mm 55 -0.472938-0.472938 -0.7987-0.7987 -1.18823-1.18823 1010 -0.725895-0.725895 -1.21986-1.21986 -1.7662-1.7662 2020 -1.18862-1.18862 -1.95858-1.95858 -2.79156-2.79156 3030 -1.37431-1.37431 -2.46625-2.46625 -3.60955-3.60955 4040 -1.54586-1.54586 -2.92485-2.92485 -4.04599-4.04599

표 5의 결과로부터, 본 발명의 수지 조성물을 사용하여 제조한 커버레이 필름 부착 수지 기판은, 삽입 손실이 <5db이기 때문에, 고속 전송이 우수한 것을 알 수 있다.From the results shown in Table 5, it can be seen that the resin substrate with a coverlay film manufactured using the resin composition of the present invention has an insertion loss of < 5 db, and therefore excellent in high-speed transmission.

Claims (12)

(A)하기 일반식(1)로 나타내어지는, 질량 평균 분자량(Mw)이 500~4000인 비닐 화합물,
[화학식 1]
Figure pct00013

(식 중, R1, R2, R3, R4, R5, R6, R7은, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자, 알킬기, 할로겐화알킬기 또는 페닐기이다. -(O-X-O)-은 하기 구조식(2)로 나타내어진다.
[화학식 2]
Figure pct00014

R8, R9, R10, R14, R15는, 동일하거나 달라도 되고, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. R11, R12, R13은, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. -(Y-O)-은 하기 구조식(3)으로 정의되는 1종류의 구조, 또는 하기 구조식(3)으로 정의되는 2종류 이상의 구조가 랜덤으로 배열된 것이다.
[화학식 3]
Figure pct00015

R16, R17은, 동일하거나 달라도 되고, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. R18, R19는, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. Z는, 탄소수 1 이상의 유기기이고, 산소 원자, 질소 원자, 황 원자, 할로겐 원자를 포함하는 경우도 있다. a, b는, 적어도 어느 일방이 0이 아닌, 0~300의 정수를 나타낸다. c, d는, 0 또는 1의 정수를 나타낸다.)
(B)스티렌 함유량이 15~35%인 폴리스티렌-폴리(에틸렌/부틸렌) 블록 공중합체,
(C)스티렌 함유량이 25~40%인 폴리스티렌-폴리(에틸렌-에틸렌/프로필렌) 블록 공중합체,
(D)에폭시 수지,
(E)비스말레이미드
(F)시차 주사 열량(DSC) 측정에 의한 발열 피크가 100℃ 이상 180℃ 이하인 유기 과산화물을 포함하고, 각 성분의 질량비가, (A+E)/(B+C)=0.81 이상 1.00 이하, (B)/(C)=1.00 이상 4.00 이하이고,
상기 성분 (A)~(F)의 합계 질량에 대한 질량 퍼센트로, 상기 성분 (D)를 1~10질량% 함유하고,
상기 (A)성분의 함유량에 대한 질량 퍼센트로, 상기 성분 (F)를 0.1~10질량% 함유하는 수지 조성물.
(A) a vinyl compound represented by the following general formula (1) and having a mass average molecular weight (Mw) of 500 to 4000,
[Chemical Formula 1]
Figure pct00013

(Wherein, R 1, R 2, R 3, R 4, R 5, R 6, R 7 are, the same or different, a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group, a halogenated alkyl group or a phenyl group -. (OXO) - Is represented by the following structural formula (2).
(2)
Figure pct00014

R 8 , R 9 , R 10 , R 14 and R 15 may be the same or different and are a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. R 11 , R 12 and R 13 may be the same or different and are a hydrogen atom, a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. - (YO) - is one kind of structure defined by the following structural formula (3), or two or more kinds of structures defined by the following structural formula (3) are randomly arranged.
(3)
Figure pct00015

R 16 and R 17 may be the same or different and are a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. R 18 and R 19 may be the same or different and are a hydrogen atom, a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. Z is an organic group having 1 or more carbon atoms and may contain an oxygen atom, a nitrogen atom, a sulfur atom, and a halogen atom. a and b each represent an integer of 0 to 300, at least one of which is not zero. c and d represent an integer of 0 or 1.)
(B) a polystyrene-poly (ethylene / butylene) block copolymer having a styrene content of 15 to 35%
(C) a polystyrene-poly (ethylene-ethylene / propylene) block copolymer having a styrene content of 25 to 40%
(D) an epoxy resin,
(E) bismaleimide
(F) an organic peroxide having an exothermic peak as measured by differential scanning calorimetry (DSC) of 100 占 폚 or more and 180 占 폚 or less, wherein the mass ratio of each component is (A + E) / (B + C) (B) / (C) = 1.00 or more and 4.00 or less,
(D) in an amount of 1 to 10% by mass with respect to the total mass of the components (A) to (F)
Wherein the component (F) is contained in an amount of 0.1 to 10% by mass with respect to the content of the component (A).
제1항에 있어서,
상기 성분 (A)의 -(O-X-O)-이, 하기 구조식(4)로 나타내어지고, 상기 성분 (A)의 -(Y-O)-이 하기 구조식(5) 혹은 하기 구조식(6)으로 나타내어지는 구조, 또는, 하기 구조식(5)로 나타내어지는 구조 및 하기 구조식(6)으로 나타내어지는 구조가 랜덤으로 배열된 구조를 갖는 수지 조성물.
[화학식 4]
Figure pct00016

[화학식 5]
Figure pct00017
The method according to claim 1,
- (OXO) - of the component (A) is represented by the following structural formula (4) and - (YO) - of the component (A) is represented by the following structural formula (5) or the following structural formula (6) Or a resin composition having a structure represented by the following structural formula (5) and a structure represented by the following structural formula (6) randomly arranged.
[Chemical Formula 4]
Figure pct00016

[Chemical Formula 5]
Figure pct00017
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 (F)성분의 유기 과산화물이, 퍼옥시에스테르류 또는 디알킬퍼옥사이드류인 수지 조성물.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the organic peroxide of the component (F) is a peroxy ester or a dialkyl peroxide.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 (D)성분의 에폭시 수지가, 분자 중에 수산기가 존재하지 않는 비페닐형 에폭시 수지, 플루오렌형 에폭시 수지 및 나프탈렌형 에폭시 수지로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1개인 수지 조성물.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
Wherein the epoxy resin of the component (D) is at least one selected from the group consisting of biphenyl type epoxy resins, fluorene type epoxy resins and naphthalene type epoxy resins in which no hydroxyl groups are present in the molecule.
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물로 이루어지는 접착 필름.An adhesive film comprising the resin composition according to any one of claims 1 to 4. 층간 접착에, 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 사용한 다층 프린트 배선판.A multilayer printed wiring board using the resin composition according to any one of claims 1 to 4 for interlayer adhesion. 층간 접착에, 제5항에 기재된 접착 필름을 사용한 다층 프린트 배선판.The multilayer printed wiring board using the adhesive film according to claim 5 for interlayer bonding. 제7항에 있어서,
다층 프린트 배선판을 구성하는 기판이, 하기 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물, 그리고, 고무 및/또는 열가소성 엘라스토머를 주성분으로 하는 수지 기판인 다층 프린트 배선판.
(A)하기 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물,
[화학식 4]
Figure pct00018

(식 중, R1, R2, R3, R4, R5, R6, R7은, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자, 알킬기, 할로겐화알킬기 또는 페닐기이다. -(O-X-O)-은 하기 구조식(2)로 나타내어진다.
[화학식 5]
Figure pct00019

R8, R9, R10, R14, R15는, 동일하거나 달라도 되고, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. R11, R12, R13은, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. -(Y-O)-은 하기 구조식(3)으로 정의되는 1종류의 구조, 또는 하기 구조식(3)으로 정의되는 2종류 이상의 구조가 랜덤으로 배열된 것이다.
[화학식 6]
Figure pct00020

R16, R17은, 동일하거나 달라도 되고, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. R18, R19는, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. Z는, 탄소수 1 이상의 유기기이고, 산소 원자, 질소 원자, 황 원자, 할로겐 원자를 포함하는 경우도 있다. a, b는, 적어도 어느 일방이 0이 아닌, 0~300의 정수를 나타낸다. c, d는, 0 또는 1의 정수를 나타낸다.)
8. The method of claim 7,
Wherein the substrate constituting the multilayered printed circuit board is a resin substrate comprising a vinyl compound represented by the following general formula (1) and a rubber and / or a thermoplastic elastomer as a main component.
(A) a vinyl compound represented by the following general formula (1)
[Chemical Formula 4]
Figure pct00018

(Wherein, R 1, R 2, R 3, R 4, R 5, R 6, R 7 are, the same or different, a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group, a halogenated alkyl group or a phenyl group -. (OXO) - Is represented by the following structural formula (2).
[Chemical Formula 5]
Figure pct00019

R 8 , R 9 , R 10 , R 14 and R 15 may be the same or different and are a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. R 11 , R 12 and R 13 may be the same or different and are a hydrogen atom, a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. - (YO) - is one kind of structure defined by the following structural formula (3), or two or more kinds of structures defined by the following structural formula (3) are randomly arranged.
[Chemical Formula 6]
Figure pct00020

R 16 and R 17 may be the same or different and are a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. R 18 and R 19 may be the same or different and are a hydrogen atom, a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. Z is an organic group having 1 or more carbon atoms and may contain an oxygen atom, a nitrogen atom, a sulfur atom, and a halogen atom. a and b each represent an integer of 0 to 300, at least one of which is not zero. c and d represent an integer of 0 or 1.)
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물로 이루어지는 커버레이 필름.A coverlay film comprising the resin composition according to any one of claims 1 to 4. 제9항에 기재된 커버레이 필름을 갖는 플렉서블 프린트 배선판.A flexible printed wiring board having the coverlay film according to claim 9. 액정 폴리머, 폴리이미드 및 폴리에틸렌나프탈레이트 중 어느 것을 주성분으로 하는 수지 기판의 주면에 배선 패턴이 형성된 배선을 갖는 수지 기판의 배선 패턴측에, 제9항에 기재된 커버레이 필름이 사용되어 있는 것을 특징으로 하는 플렉서블 프린트 배선판.Characterized in that the coverlay film according to claim 9 is used on the wiring pattern side of the resin substrate having the wiring with the wiring pattern formed on the main surface of the resin substrate comprising the liquid crystal polymer, polyimide and polyethylene naphthalate as main components A flexible printed wiring board. 하기 일반식(1)로 나타내어지는 비닐 화합물, 그리고, 고무 및/또는 열가소성 엘라스토머를 주성분으로 하는 수지 기판의 주면에 배선 패턴이 형성된 배선을 갖는 수지 기판의 배선 패턴측에, 제9항에 기재된 커버레이 필름이 사용되어 있는 것을 특징으로 하는 플렉서블 프린트 배선판.
[화학식 7]
Figure pct00021

(식 중, R1, R2, R3, R4, R5, R6, R7은, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자, 알킬기, 할로겐화알킬기 또는 페닐기이다. -(O-X-O)-은 하기 구조식(2)로 나타내어진다.
[화학식 8]
Figure pct00022

R8, R9, R10, R14, R15는, 동일하거나 달라도 되고, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. R11, R12, R13은, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. -(Y-O)-은 하기 구조식(3)으로 정의되는 1종류의 구조, 또는 하기 구조식(3)으로 정의되는 2종류 이상의 구조가 랜덤으로 배열된 것이다.
[화학식 9]
Figure pct00023

R16, R17은, 동일하거나 달라도 되고, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. R18, R19는, 동일하거나 달라도 되고, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 탄소수 6 이하의 알킬기 또는 페닐기이다. Z는, 탄소수 1 이상의 유기기이고, 산소 원자, 질소 원자, 황 원자, 할로겐 원자를 포함하는 경우도 있다. a, b는, 적어도 어느 일방이 0이 아닌, 0~300의 정수를 나타낸다. c, d는, 0 또는 1의 정수를 나타낸다.)
A method for producing a wiring board, comprising the steps of: forming a wiring pattern on a resin substrate having a wiring pattern formed on a main surface of a resin substrate comprising a vinyl compound represented by the following general formula (1) and a rubber and / or a thermoplastic elastomer as a main component; Ray film is used for the flexible printed wiring board.
(7)
Figure pct00021

(Wherein, R 1, R 2, R 3, R 4, R 5, R 6, R 7 are, the same or different, a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group, a halogenated alkyl group or a phenyl group -. (OXO) - Is represented by the following structural formula (2).
[Chemical Formula 8]
Figure pct00022

R 8 , R 9 , R 10 , R 14 and R 15 may be the same or different and are a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. R 11 , R 12 and R 13 may be the same or different and are a hydrogen atom, a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. - (YO) - is one kind of structure defined by the following structural formula (3), or two or more kinds of structures defined by the following structural formula (3) are randomly arranged.
[Chemical Formula 9]
Figure pct00023

R 16 and R 17 may be the same or different and are a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. R 18 and R 19 may be the same or different and are a hydrogen atom, a halogen atom or an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group. Z is an organic group having 1 or more carbon atoms and may contain an oxygen atom, a nitrogen atom, a sulfur atom, and a halogen atom. a and b each represent an integer of 0 to 300, at least one of which is not zero. c and d represent an integer of 0 or 1.)
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