KR20150086253A - 유리 제조 방법 및 유리 제조 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은, 용융 유리로부터 유리 성형 수단에 의해 유리 리본을 성형하는 성형 공정과 상기 유리 리본을 반송 롤에 의해 반송하면서 유리의 변형점 온도 이하까지 서냉하는 반송 공정을 갖고, 상기 반송 공정은, 상기 반송 롤의 적어도 일부에, 무기염을 포함하는 용액을 직접 분사하고, 상기 반송 롤에 부착된 상기 용액이 건조됨으로써 무기염의 완충층을 형성하는 완충층 형성 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 유리 제조 방법을 제공한다.

Description

유리 제조 방법 및 유리 제조 장치{GLASS PRODUCTION METHOD AND GLASS PRODUCTION APPARATUS}

본 발명은 유리 제조 방법 및 유리 제조 장치에 관한 것이다.

판유리의 제조 방법에 있어서는, 용융 유리로부터 플로트법 등에 의해 성형된 유리 리본이, 급격한 수축에 의한 깨짐이나 평탄도의 저하를 방지하기 위해서, 서냉로에 있어서 반송 롤 위를 반송하여, 서서히 냉각되는 방법이 채용되고 있다.

이렇게 유리 리본을 반송할 때, 반송 롤의 표면에 흠집이나 부착물 등에 의한 요철이 있으면, 상기 반송 롤과 접촉되는 유리 리본 표면에 흠집이 발생하는 경우가 있다.

이로 인해 종래에는 서냉로 내부에 SO₂ 가스(이산화유황, 아황산 가스)를 도입하거나, 유리 리본의 반송 롤과 대향하는 면에 SO₂ 가스를 분사하거나 해서, 고온의 유리 리본 표면의 Na와 SO₂를 반응시킴으로써, 유리 리본 표면에 흠집 방지용 보호층을 형성하고, 또한 유리 리본 표면의 흠집 방지용 보호층으로부터의 전사에 의해 반송 롤 표면에 완충층을 형성시키는 방법이 사용되고 있었다(예를 들어 특허문헌 1 내지 5). 또한, 반송 롤 표면에 탄소막을 포함하는 완충층을 형성하고 있었다(특허문헌 6).

국제 공개 제2009/148141호 국제 공개 제2002/051767호 일본 특허 공개 제2011-121834호 공보 일본 특허 공개 제2011-251893호 공보 일본 특허 공개 제2009-227471호 공보 국제 공개 제2009/014028호

그러나, 특허문헌 1 내지 5의 발명에 의하면, 유리 리본 표면의 Na와 SO₂ 가스가 반응하여, 흠집 방지용 보호층이나 완충층이 형성될 때까지는 시간을 필요로 한다. 이로 인해, 흠집 방지용 보호층이나 완충층이 충분히 형성되어 있지 않은 동안 유리 리본과 반송 롤이 접촉되어 유리 리본 표면에 흠집이 발생하고, 수율이 저하되는 경우가 있었다. 또한, 특허문헌 6의 발명에 의하면, 탄소막은 수㎛ 높이의 완충막밖에 형성할 수 없어서 볼록 형상의 결함을 모두 덮을 수 없어, 유리 리본의 표면 흠집 발생을 억제하기에는 불충분하였다.

본 발명은 상기 종래 기술이 갖는 문제를 감안하여, 유리 리본의 표면에 흠집이 발생하는 것을 억제하고, 수율을 향상시키는 것이 가능한 유리 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 과제를 해결하기 위하여 본 발명은 용융 유리로부터 유리 성형 수단에 의해 유리 리본으로 성형하는 성형 공정과, 상기 유리 리본을 반송 롤에 의해 반송하면서 유리의 변형점 온도 이하까지 서냉하는 반송 공정을 갖고, 상기 반송 공정은, 상기 반송 롤의 적어도 일부에, 무기염을 포함하는 용액을 직접 분사하고, 상기 반송 롤에 부착된 상기 용액이 건조됨으로써 무기염의 완충층을 형성하는 완충층 형성 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 유리 제조 방법을 제공한다.

본 발명의 유리 제조 방법에 의하면, 유리 리본의 표면에 흠집이 발생하는 것을 억제하여, 수율을 향상시키는 것이 가능해진다.

도 1은 본 발명의 실시 형태에 따른 유리의 제조 공정의 설명도이다.
도 2는 본 발명의 실시 형태에 따른 완충층 형성 공정의 설명도이다.
도 3은 본 발명의 실시 형태에 따른 반송 공정, 완충층 형성 공정의 다른 구성예의 설명도이다.
도 4는 본 발명의 실시 형태에 따른 유리 제조 방법의 흐름도이다.
도 5는 실험예 1, 2의 평가에 사용한 시험 장치를 설명하기 위한 개략도이다.
도 6은 실험예 1의 외주측 및 내주측의 유리판의 사진이다.
도 7은 실험예 2의 외주측 및 내주측의 유리판의 사진이다.

이하, 본 발명을 실시하기 위한 형태에 대하여 도면을 참조하여 설명하지만, 본 발명은 하기 실시 형태에 한정되지 않으며, 본 발명의 범위를 일탈하지 않고서 하기 실시 형태에 다양한 변형 및 치환을 가할 수 있다.

본 실시 형태에서는, 본 발명의 유리 제조 방법의 구성예에 대하여 설명한다.

여기에서 먼저, 유리의 제조 공정에 대하여 플로트법에 의한 판유리의 제조 방법을 예로 들어 도 1을 사용하여 설명한다. 또한, 여기에서는, 플로트법에 의한 유리의 제조 방법을 예로 들고 있지만, 본 실시 형태의 유리 제조 방법은, 플로트법에 의한 판유리의 제조 방법에 한정되는 것이 아니라, 성형 공정 후에 반송 롤에 의한 유리 리본의 반송을 수반하는 것이라면, 예를 들어 롤아웃법이나 퓨전법 등의 각종 유리의 제조 방법에도 적용할 수 있다.

도 1에 도시하는 바와 같이, 용융 유리가 플로트 배스(10)의 용융 금속(11) 위에 연속적으로 공급되고, 용융 금속(11) 위에서 유리 리본(12)이 성형된다(성형 공정). 본 실시 형태에 있어서는, 플로트 배스(10)를 유리 성형 수단으로 한다. 또한, 도시하지 않지만, 용융 유리는, 도 1의 상류측의 원료 용융 공정에 있어서 유리 원료를 용융하여 얻어지거나, 경우에 따라서는 탈포 처리 등이 더 실시된 것이다.

이어서 유리 리본(12)을 플로트 배스(10)의 출구로부터 플로트 배스(10) 외부로 인출한다. 용융 금속(11)으로부터의 유리 리본(12)의 인출은, 리프트 아웃 롤(13)(반송 롤)에 의해 유리 리본을 플로트 배스(10)의 출구에서 들어 올려서 반송함으로써 행해진다. 이 리프트 아웃 롤(13)이 존재하는 장소를 드로스 박스(14)라고 한다.

플로트 배스로부터 인출된 유리 리본은, 급격한 수축에 의한 깨짐이나 평탄도의 저하를 방지하기 위해서, 서냉로(15)에 있어서 반송 롤(R1 내지 R10) 위를 반송하면서, 유리의 변형점 온도 이하까지 서서히 냉각된다. 서냉 후의 유리 리본은, 필요에 따라서 원하는 크기로 절단된다.

본 실시 형태에 있어서는, 리프트 아웃 롤을 포함하는 반송 롤에 의해 유리 리본(유리판)이 반송되는 공정을 반송 공정이라고 한다. 또한, 도 1에서는 리프트 아웃 롤 및 서냉로 내의 반송 롤을 나타내고 있지만, 반송 공정은 도 1에 도시한 리프트 아웃 롤 또는 반송 롤에 의해 반송되고 있는 공정에 한정되는 것은 아니다. 유리 성형 수단의 출구보다도 하류측에 배치된, 유리 리본, 유리판을 반송하는 리프트 아웃 롤 또는 반송 롤에 의해 유리 리본, 유리판을 반송하는 공정을 모두 포함한다.

여기서, 유리 리본을 리프트 아웃 롤(13) 및 반송 롤(R1 내지 R10)(이하 합하여 반송 롤이라고 하는 경우가 있음)에 의해 반송할 때, 상기 반송 롤의 표면에 흠집이나 부착물 등에 의한 요철 부분(예를 들어 선단 부분이 예각인 볼록 형상을 갖는 부분 등)이 있으면, 반송 롤은 유리의 하면과 접촉되어 있기 때문에, 요철 부분의 형상에 따라서는 유리의 표면에 흠집을 발생시키는 경우가 있다. 본 실시 형태의 유리 제조 방법에 의하면, 이러한 반송 롤 표면에 요철 부분을 갖는 경우에도 유리 표면에 흠집이 발생하는 것을 억제하고, 수율을 향상시키는 것이 가능하다. 이하에 본 실시 형태의 유리 제조 방법에 대하여 설명한다.

본 실시 형태의 유리 제조 방법은, 상기 반송 공정에 있어서, 회전하고 있는 반송 롤의 적어도 일부에, 완충층을 구성하는 물질인 무기염을 용매와 혼합한 무기염의 용액을 직접 분사하는 완충층 형성 공정을 갖는다. 반송 롤에 부착된 무기염의 용액은 성형 공정 후의 고온 분위기 하에서 용매가 기화하여 건조되기 때문에, 반송 롤의 소정의 지점에 무기염의 완충층이 단시간에 형성된다. 종래의 반송 롤에 대한 완충층의 형성은 유리 리본 표면에 형성된 흠집 방지 보호층으로부터의 전사였기 때문에 시간을 필요로 하고 있었지만, 이렇게 무기염의 용액을 반송 롤에 직접 분사함으로써, 매우 단시간에 반송 롤에 대한 완충층의 형성을 실현할 수 있다. 또한, 유리의 제조를 중단하지 않고서 완충층을 형성할 수 있는 점에서, 생산성의 관점에서도 바람직하다.

도 2를 사용하여 완충층 형성 공정을 구체적으로 설명한다.

도 2는 반송 롤(21)에 대하여 완충층을 구성하는 물질인 무기염을 포함하는 용액(분산액)을, (완충층 원료 용액) 공급 노즐(22)로부터 분무하고 있는 중의 단면도를 도시한 것이다.

이러한 방법에 의하면, 반송 롤(21)의 표면에 대하여 균일하게 완충층 원료 용액을 공급할 수 있기 때문에, 반송 롤의 원하는 부분에 대해서, 균일한 완충층을 형성할 수 있다. 또한, 반송 롤 표면에 공급한 완충층 원료 용액 중의 액체가 증발됨으로써, 반송 롤 위에 완충층의 물질이 석출되기 때문에, 반송 롤과의 밀착성이 높은 완충층(23)을 형성할 수 있다.

또한, 유리의 제조 공정 중이어도, 원하는 반송 롤의 위치에 공급 노즐(22)을 이동시켜, 완충층 원료를 분무함으로써 균일한 완충층을 형성할 수 있다. 이로 인해, 유리의 제조를 중단하지 않고서 실시할 수 있기 때문에 바람직하다.

또한, 이러한 완충층의 형성 방법은 유리의 제조를 행하고 있지 않을 때에도 당연히 행할 수 있다.

상기한 바와 같이 하여 완충층을 형성하는 경우, 공급 노즐(22)은 유리 반송 롤(21)의 길이 방향(도 2의 지면에 수직인 방향)으로 가동하게 구성해 두는 것이 바람직하다. 이렇게 구성해 둠으로써, 반송 롤(21)의 원하는 지점에, 원하는 폭으로 완충층을 형성하는 것이 가능해지기 때문이다. 또한, 반송 롤(21)의 공급 노즐(22)에 의해 완충층을 구성하는 물질을 포함하는 용액(분산액)을 분사한 부분으로부터 유리와 접촉할 때까지의 사이에, 완충층 표면의 형상을 정돈하기 위한 완충층의 표면 가압 부재 등을 설치하고, 상기 표면 가압 부재 등에 의해 완충층의 표면 형상을 정돈하는 구성으로 할 수도 있다.

완충층 형성 공정에 의해, 성형 공정 후, 즉 유리 성형 수단인 플로트 배스(10)의 출구보다도 하류측의 반송 롤의 적어도 일부에 완충층을 형성하고, 접촉되는 유리 리본에 대하여 흠집을 발생시키지 않도록 하는 것이 가능하게 된다. 또한, 완충층의 형상은 특별히 한정되는 것이 아니라, 흠집이 발생하지 않게 되는 형상으로 형성하면 된다.

완충층을 구성하는 물질로서는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 반송 롤 표면의 요철부를 덮고, 반송하는 유리에 흠집이 발생하지 않는 것을 사용하는 것이 중요하다.

특히 반송하고 있는 유리 리본에 흠집을 발생시키거나, 변질시키거나 하지 않기 위해서, 완충층은, 모스 경도가 유리 리본의 모스 경도보다도 낮고, 또한, 유리 리본 반송시의 온도에 있어서 유리 리본과 반응하지 않는 물질을 포함하는 것이 바람직하다. 이들 물질은 완충층에 포함되어 있는 것이 바람직하지만, 완충층의 적어도 표면 부분을 구성하는 물질의 주성분인 것이 보다 바람직하고, 완충층을 구성하는 물질의 주성분인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 여기에서의 유리 리본의 모스 경도란, 유리 리본의 실온에서의 모스 경도를 의미하고 있다. 이로 인해, 상기 완충층에 포함되는 물질의 모스 경도는, 예를 들어 6.5 이하인 것이 바람직하고, 4.5 이하인 것이 보다 바람직하다.

또한, 완충층을 구성하는 물질은 무기염을 포함하는 것이 바람직하고, 특히 황산염, 탄산염, 불화물 중에서 선택되는 적어도 하나 이상의 물질을 함유하는 것이 바람직하다. 이들 재료는 완충 기능을 갖기 때문에, 유리 리본과 반송 롤의 사이에 개재함으로써 유리 리본에 흠집이 발생하는 것을 특히 방지하는 것이 가능하게 되기 때문이다. 그 중에서도, 고온의 상태에 있는 유리 리본과 접촉해도 안정되는 점에서, 완충층은 황산염 및/또는 탄산염을 함유하는 것이 보다 바람직하다. 또한, 부성분으로서 유기염을 함유시켜도 된다.

또한, 무기염과 혼합하는 용매로서는, 반송 롤에 부착 후에 기화되는 것이라면 특별히 한정되지 않는다. 예를 들어, 물 또는 유기 용제 등을 들 수 있다.

또한, 반송 롤에 형성된 완충층은 수용성 물질을 함유하는 것이 바람직하다.

이것은, 반송 롤의 소정의 장소에 형성된 완충층은 유리 리본과 접촉됨으로써 그 일부가 박리 등 하여, 유리의 표면에 부착되는 경우가 있지만, 적어도 유리를 출하하기 전에, 유리 표면에 부착된 완충층의 물질을 제거할 필요가 있다. 이러한 경우에 완충층이 수용성 물질을 함유하고 있는 경우, 유리 표면을 물로 세정하는 것만으로, 유리 표면에 부착된 완충층의 물질을 제거할 수 있기 때문에 바람직하다. 완충층이 수용성 물질을 함유하는 경우, 적어도 유리 리본과 접촉되는 부분, 즉, 완충층의 표면 부분에 수용성 물질이 포함되어 있는 것이 보다 바람직하고, 적어도 완충층의 표면 부분의 주성분이 수용성 물질인 것이 더욱 바람직하다.

완충층은, 특히 황산 나트륨을 함유하는 것이 바람직하다. 이것은, 황산 나트륨은 완충 기능을 갖기 때문에, 유리 리본과 반송 롤의 사이에 개재함으로써 유리 리본에 흠집이 발생하는 것을 특히 방지하는 것이 가능하게 되기 때문이다. 또한, 유리와 반응하기 어렵고, 모스 경도도 낮으며, 수용성도 나타내는 점에서, 특히 바람직하게 사용된다. 황산 나트륨은, 상기와 같이 완충층에 포함되어 있는 것이 바람직하지만, 적어도 완충층의 표면 부분의 주성분인 것이 바람직하고, 완충층의 주성분인 것이 더욱 바람직하다.

또한, 상기 설명에 있어서의 주성분이란, 70질량％ 이상 포함되어 있는 것을 의미하고 있다.

본 실시 형태의 유리 제조 방법에 있어서의 다른 구성예로서, 반송 공정은, 또한, 서냉한 후의 유리에 대하여 흠집의 검출을 행하고, 흠집 발생 지점을 특정하는 흠집 발생 지점 검출 공정과, 반송 롤 중 흠집 발생의 원인이 된 대상 롤을 특정하는 대상 롤 특정 공정을 포함하고 있는 것이 바람직하다. 그리고, 완충층 형성 공정이, 대상 롤 특정 공정에서 특정된 대상 롤의, 흠집 발생 지점 검출 공정에 의해 검출된 흠집 발생 지점에 대응하는 부분을 포함하는 완충층 형성 영역에 완충층을 형성하는 것이 바람직하다.

이하, 흠집 발생 지점 검출 공정 및 대상 롤 특정 공정에 대해서 도 1 내지 도 3을 사용하여 설명한다.

먼저, 흠집 발생 지점 검출 공정에 대하여 설명한다.

흠집 발생 지점 검출 공정은, 서냉한 후의 유리에 대하여 흠집의 검출을 행하는 공정이다. 흠집의 검출 방법은 구체적으로 한정되는 것은 아니고, 제조하는 유리에 있어서 허용되는 사이즈 이상의 흠집을 검출할 수 있는 방법이면 된다. 예를 들어, 유리 표면에 광을 쬐고, 그 때, 흠집 부분이 원인으로 발생하는 광학적인 변화(예를 들어 그림자나 광의 반사)를 라인 센서 등의 광학 소자에 의해 촬영하여, 얻어진 화상에 기초하여 흠집의 사이즈나 위치를 검출하는 방법 등을 들 수 있다.

흠집 발생 검출 공정은 서냉한 후의 유리에 대하여 행하면 되고, 유리 리본의 상태, 절단하여 유리판이 된 상태 중 어느 쪽 상태의 유리에 대해서 행해도 된다. 즉, 청구항의 서냉한 후의 유리란, 유리 리본의 상태에 한정되지 않는다. 단, 절단 공정 시에 흠집을 발생시킬 가능성이 있고, 또한, 흠집의 발생을 조기에 발견할 수 있었던 쪽이 수율을 보다 향상시킬 수 있기 때문에, 유리 리본의 상태(절단을 행하기 전의 상태)에 있어서 흠집 발생 지점 검출 공정을 행하는 것이 바람직하다.

흠집 발생 지점 검출 공정에 있어서 흠집이 검출된 경우에는, 그 유리의 폭 방향 위치를 기록해 두고, 완충층 형성 공정에 있어서 그 위치 정보를 이용한다.

다음으로 대상 롤 특정 공정에 대하여 설명한다.

본 공정은, 반송 롤 중 흠집 발생의 원인이 된 완충층을 형성시키는 대상이 되는 대상 롤을 특정하는 공정이다.

상기와 같이 유리(유리 리본)는 성형 공정 후, 복수의 반송 롤 위를 반송되고 있고, 그 표면에 흠집이나 부착물에 의한 요철 부분을 갖는 대상 롤을 통과함으로써 상기 흠집 발생 지점 검출 공정에서 검출된 흠집이 부여되고 있다고 생각된다. 그리고, 여기에서 설명하고 있는 본 실시 형태의 바람직한 유리 제조 방법에 있어서는, 상술한 완충층 형성 공정에 의해 대상 롤의 당해 요철 부분에 완충층을 형성하려고 하는 것이다. 이로 인해, 본 공정에서는, 요철 부분을 갖는 대상 롤을 특정(검출)하는 것이다.

그 구체적 수순에 대해서는 한정되는 것은 아니고, 상기와 같이 흠집 발생의 원인이 된 요철 부분을 갖는 대상 롤을 특정할 수 있는 방법이면 된다.

도 1을 예로 들어, 흠집의 발생 원인이 된 요철부를 갖는 대상 롤의 특정 방법의 일례를 설명한다.

상기 요철부를 갖는 대상 롤의 특정 방법으로서는, 반송 롤(R1 내지 R10)을 높이 방향(도면 중 화살표 a로 표시한 방향)으로 변위 가능하게 구성해 두고, 유리 리본과 접촉되는 반송 롤을 변화시키고, 그 때 유리 리본에 흠집이 발생했는지에 따라 특정하는 방법을 들 수 있다.

구체적인 수순으로서는, 예를 들어 가장 먼저 홀수 번호(R1, R3…)의 반송 롤의 위치를 내리고, 짝수 번호의 반송 롤만이 유리 리본과 접촉하도록 구성한다. 이 상태에서 유리의 제조를 행하여, 유리에 흠집이 발생되어 있지 않으면, 홀수 번호의 반송 롤에 흠집의 발생 원인이 된 요철 부분이 있는 것이 되고, 흠집이 여전히 발생되어 있으면 짝수 번호의 반송 롤에 흠집의 발생 원인이 된 요철 부분이 있는 것이 된다.

또한 같은 요령으로, 예를 들어 상기 단계에서 홀수 번호의 반송 롤에 상기 요철 부분이 있는 것을 알았을 경우에는, 이어서, 마찬가지로 하여, 홀수 번호의 반송 롤 중에서 요철 부분을 갖는 대상 롤을 특정한다. 즉, 홀수 번호의 반송 롤 중 선택한 몇개의 반송 롤만을 유리 리본과 접촉시키지 않은 상태로 하여, 유리에 흠집이 발생하고 있는지를 검사하고, 흠집의 발생이 없으면 당해 접촉되어 있지 않은 반송 롤에 상기 요철부가 있는 것이 된다. 또한, 흠집의 발생이 있으면 홀수 번호의 반송 롤 중 접촉되어 있었던 반송 롤에 상기 요철부가 있는 것이 된다.

이러한 수순을 반복해 감으로써, 흠집의 원인이 된 요철 부분을 갖는 대상 롤을 특정할 수 있다.

또한, 접촉되는 반송 롤을 변화시켰을 때 유리에 흠집이 발생되어 있는지를 검출하는 방법은, 흠집 발생 지점 검출 공정에 있어서 설명한 방법과 마찬가지 방법에 의해 행할 수 있다. 또한, 여기서는, 반송 롤(R1 내지 R10)을 대상으로 한 대상 롤 특정 공정에 대하여 설명했지만, 대상 롤 특정 공정에 있어서 리프트 아웃 롤(13)에 대해서도 그 대상으로 할 수 있고, 이 경우도 상기한 방법과 마찬가지의 방법, 수순에 의해 특정할 수 있다.

이어서, 흠집 발생 지점 검출 공정과 대상 롤 특정 공정을 갖는 경우의 완충층 형성 공정에 대하여 설명한다.

완충층 형성 공정은, 대상 롤 특정 공정에서 특정된 대상 롤 중, 흠집 발생 지점 검출 공정에 의해 검출된 흠집 발생 지점을 포함하는 완충층 형성 영역에 완충층을 형성하는 공정이다.

도 3을 사용하여 설명한다. 도 3 중 좌측의 도면은, 유리(유리 리본)(12)를 복수의 반송 롤(R31 내지 R34)에 의해 반송하고 있는 것을 상면측으로부터 본 도면이다. 그리고, 우측의 도면은, 서냉 후의 흠집 발생 지점 검출 공정에 있어서, 유리(유리 리본)(12)에 흠집(31)가 발생한 것을 상면측으로부터 본 도면이다.

먼저, 흠집 발생 지점 검출 공정에 있어서, 흠집(31)를 검출한 경우, 반송 롤(R31 내지 R34)의 어느 한쪽의 표면이며, 흠집(31)의 위치에 대응하는 점선 A와 점선 B 사이의 부분 내에 흠집의 발생 원인이 된 요철부(흠집이나 부착물 등)가 있는 것을 알 수 있다.

이어서, 대상 롤 특정 공정에 있어서, 흠집의 원인이 된 요철 부분을 갖는 대상 롤이, 예를 들어 R32라고 특정된 경우에는, R32의 반송 롤이며, 점선 A와 점선 B로 둘러싸인 부분(321)에 요철부가 있는 것이 된다. 즉, 이러한 부분(321)이 유리 반송 롤 특정 공정에서 특정된 유리 반송 롤의, 흠집 발생 지점 검출 공정에 의해 검출된 흠집 발생 지점에 대응하는 부분이 된다.

따라서, 본 공정에 있어서는, 이러한 부분(321)을 포함하는 영역에 상술한 방법에 의해 완충층을 형성하고, 접촉하는 유리에 대하여 흠집을 발생시키지 않도록 하는 것이다.

또한, 완충층의 형상은 특별히 한정되는 것은 아니고, 검출된 흠집이 발생하지 않게 되는 형상에 흠집 발생의 원인이 된 요철부를 덮도록 형성하면 된다.

완충층을 형성하는 범위로서는, 상기와 같이 대상 롤 특정 공정에서 특정된 대상 롤의, 흠집 발생 지점 검출 공정에 의해 검출된 흠집 발생 지점에 대응하는 부분(321)을 포함하는 완충층 형성 영역이면 되고, 특별히 한정되는 것은 아니다.

예를 들어, 적어도 흠집 발생 지점에 대응하는 부분(321)에 대해서 (흠집의 폭에 맞추어) 대상 롤 둘레면에 걸쳐 띠 형상으로 형성되어 있는 것이 바람직하다. 이 경우, 띠 형상의 완충층의 수는 단수여도 되고, 복수여도 된다.

단, 완충층은 일정 정도의 폭을 갖고 있는 쪽이 박리되기 어려워지는 점, 또한, 흠집 발생 지점 검출 수단의 검출 정밀도를 고려하면, 적어도 흠집 발생 지점 검출 공정에 의해 검출된 흠집 발생 지점에 대응하는 부분보다도 넓은 범위(폭)에 걸쳐서 완충층을 형성하는 것이 보다 바람직하다. 특히, 완충층을 형성하는 완충층 형성 영역이, 흠집 발생 지점에 대응하는 부분의 대상 롤의 축 방향으로 ±50㎜ 이상의 범위인 것이 보다 바람직하다.

이 점에 대해서, 도 3을 사용하여 설명한다. 특정한 소정의 대상 롤의, 흠집 발생 지점에 대응하는 부분(321)의 대상 롤의 축 방향으로 ±50㎜ 이상이란, 도 3의 대상 롤의 흠집 발생 지점에 대응하는 부분(321)의 양단부로부터의 대상 롤의 폭 방향의 거리를 나타내는 W1, W2의 길이가 50㎜ 이상인 것을 의미하고 있다. 이로 인해, 도 3의 경우, 적어도 폭(322)의 범위에 걸쳐 완충층이 형성되는 것이 바람직하다.

이렇게 흠집의 폭보다도 넓은 폭에 걸쳐서 완충층을 형성하는 경우에도, 완충층은 상술한 바와 같은 폭에 대해서, 반송 롤의 둘레면 전체에 형성되어 있는 것이 보다 바람직하다.

여기서, 미리 흠집을 방지한다는 관점에서, 미리 반송 롤에 완충층을 형성해도 된다. 이 경우에는, 특정한 지점에 완충층을 형성하는 것으로 충분하며, 완충층을 형성하는 범위는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 완충층을 형성한 반송 롤에 있어서, 완충층의 폭이, 반송 롤의 유리에 접하는 폭의 85％ 이상 있는 것이 바람직하다. 완충층의 폭의 상한값에 대해서는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어 완충층의 폭은 반송 롤의 유리에 접하는 폭의 100％ 이하로 하는 것이 바람직하다.

또한, 유리의 제조 공정 중에도, 상술한 방법에 의해 반송 롤 위의 요철부를 검지하고, 상기 요철부를 포함하는 주변에 도 2에 도시하는 공급 노즐(22)을 이동시키고, 완충층 원료를 분무함으로써 균일한 완충층을 형성할 수 있다. 이로 인해, 유리의 제조를 중단하지 않고서 실시할 수 있기 때문에 바람직하다.

여기까지 설명해 온 바와 같이, 본 실시 형태의 유리 제조 방법에 있어서, 흠집 발생 지점 검출 공정, 대상 롤 특정 공정을 행하는 경우, 유리 표면의 흠집을 검출하고, 그 원인이 된 반송 롤의 해당 지점에 완충층을 형성하기 위해서, 보다 확실하게 흠집이 발생하는 것을 억제할 수 있다. 또한, 유리 표면의 흠집의 발생을 억제할 수 있기 때문에, 수율을 향상시키는 것이 가능해진다.

또한, 본 실시 형태의 유리 제조 방법의 반송 공정은, 반송 롤과 대향하는 유리 리본의 면에 SO₂ 가스를 분사하고, 유리 리본 표면에 흠집 방지용 보호층을 형성하는 보호층 형성 공정을 갖는 것이 바람직하다.

그리고, 보호층 형성 공정을 행하는 경우에 있어서, 상술한 바와 같이 흠집 발생 지점 검출 공정과, 대상 롤 특정 공정을 행하는 경우, 대상 롤 특정 공정이, 유리 성형 수단의 출구로부터 하류측에 3m 이내에 배치된 반송 롤로부터 대상 롤을 특정하는 것이 바람직하다. 나아가, 드로스 박스의 출구로부터 하류측 1.5m까지의 범위에 배치된 반송 롤로부터 대상 롤을 특정하는 것이 바람직하다.

유리 리본을 반송 롤에 의해 반송할 때 유리 리본 표면에 흠집이 발생하는 것을 방지, 억제하는 방법으로서는, SO₂ 가스(아황산 가스, 이산화유황)와 유리 리본을 접촉시켜서 유리 리본 표면에 흠집 방지용 보호층을 형성하는 방법이 알려져 있다. 이것은, 서냉을 행할 때, 바람직하게는 성형 공정 직후에, 반송 롤과 대향하는 유리 리본의 면에 SO₂ 가스를 분사함으로써, 유리 리본 표면에 흠집 방지용 보호층을 형성하는 것이다.

그리고, 이러한 SO₂ 가스에 의해 유리 리본 표면에 흠집 방지용 보호층을 형성하는 방법은 본 실시 형태의 유리 제조 방법에 있어서 병용할 수 있다.

SO₂ 가스를 유리 리본 표면에 분사하는 범위는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 반송하고 있는 유리의 온도가 500℃ 이상인 영역에서 SO₂ 가스를 분사하는 것이 바람직하다. 이것은 이러한 범위에서 분사하는 것에 의해 흠집 방지용 보호층이 형성되기 쉬워지기 때문이다. 이로 인해, 예를 들어 유리 성형 수단의 출구로부터 유리 리본을 취출한 직후, 즉, 도 1의 경우, 도면 중 Y로 표시한 플로트 배스(10)의 출구 또는 도면 중 X로 표시한 드로스 박스(14)의 직후(출구) 및 그 근방의 유리(유리 리본)에 대하여 SO₂ 가스를 분사하는 것이 바람직하다. 예를 들어 드로스 박스의 직후로부터 1.0m 이내의 영역에서 SO₂ 가스를 분사하는 것이 바람직하다. 또한, 드로스 박스의 직후로부터 0.7m 이내의 영역에서 SO₂ 가스를 분사하는 것이 더욱 바람직하다.

SO₂ 가스와 유리 리본을 접촉시켜서 유리 리본 표면에 흠집 방지용 보호층을 형성함으로써, 반송 롤에 유리 리본 표면의 흠집 방지용 보호층을 전사한 완충층을 형성할 수 있다. 이로 인해, 하류측의 넓은 범위에 걸쳐 반송 롤의 표면에 완충층이 형성되므로, 유리에 흠집이 발생하는 것을 더 억제할 수 있다.

그러나, 유리 리본에 흠집 방지용 보호층이 형성되기 위해서는 시간을 필요로 하기 때문에, 상류측의 반송 롤에는 흠집 방지용 보호층이 전사된 완충층이 형성되기 어렵다. 이렇게 보호층 형성 공정을 행하는 경우이며, 상기와 같이 대상 롤 특정 공정을 행하는 경우에는, 유리 성형 수단의 출구로부터 SO₂ 가스와 유리 리본과의 반응에 의해 흠집 방지용 보호층이 형성되어 그것이 전사된 완충층이 형성되는 반송 롤까지의 범위에 배치된 반송 롤로부터 대상 롤을 특정하는 것이 바람직하다.

구체적으로는, 유리 리본의 반송 속도나 반응 조건 등에 따라 다르지만, 통상, 유리 성형 수단의 출구로부터 3m 이격된 부분, 특히 드로스 박스의 출구로부터 1.5m 이격된 부분에서는 SO₂ 가스와 유리 리본 표면과의 반응에 의해 흠집 방지용 보호층을 형성할 수 있다. 이로 인해, 대상 롤 특정 공정에 있어서, 유리 성형 수단의 출구로부터 하류측에 3m 이내에 배치된 반송 롤에 대해서만 요철부의 유무를 조사하는 반송 롤로 하는 것이 바람직하다. 특히, 드로스 박스의 출구로부터 하류측 1.5m까지의 범위에 배치된 반송 롤에 대해서만 요철부의 유무를 조사하는 반송 롤로 하는 것이 보다 바람직하다. 여기서 유리 성형 수단의 출구로부터의 거리란, 유리의 성형 수단이 예를 들어 플로트법인 경우, 플로트 배스의 출구로부터의 거리를 의미하고 있다.

이렇게 구성함으로써, 대상 롤 특정 공정의 대상으로 하는(검사의 대상으로 하는) 반송 롤의 범위가 좁혀지므로, 보다 조기에 그 표면에 요철부를 갖는 대상 롤을 특정하는 것이 가능해져서 생산성이나 수율을 향상시킬 수 있어, 바람직하다.

이상, 본 실시 형태의 유리 제조 방법의 각 공정에 대하여 설명해 왔지만, 상기한 본 실시 형태의 유리 제조 방법에 있어서, 상술한 흠집 발생 지점 검출 공정 및 대상 롤 특정 공정을 실시할 경우에는, 도 4에 도시하는 흐름도에 따라서 실시할 수 있다.

먼저, 소정의 타이밍에 도 4에 도시하는 플로우를 개시한다. 개시하는 타이밍에 대해서는 특별히 한정되는 것은 아니고, 소정의 시간이나, 소정의 생산량에 도달했을 때마다 행하도록 미리 규정해 둘 수도 있다. 또한, 제품의 유리(유리 리본)의 흠집의 검사를 계속적으로 행하고 있는 경우에는, 항상 본 플로우를 실시하고 있는 상태라고 생각할 수도 있다.

그리고, 먼저, 상술한 바와 같이 S41에 나타낸 흠집 발생 지점 검출 공정을 행한다. 이러한 공정에 있어서 소정의 검출 시간 내에 흠집이 검출되지 않았을 경우에는, 플로우를 종료하게 된다. 흠집을 검출한 경우에는, S42로 이동하여, 대상 롤 특정 공정을 행한다. 그리고, 흠집 등에 의한 요철부를 갖는 대상 롤을 특정한 후에, S43으로 이동한다.

S43에서는, 상기 S41에서 검출한 흠집 발생 지점과, S42에서 특정한 대상 롤이 대응하는 지점에 대하여 완충층을 형성한다.

완충층을 형성하면 본 플로우를 종료한다.

이상에서 설명해 온 본 실시 형태의 유리 제조 방법에 있어서는, 반송 롤에 무기염을 포함하는 용액을 직접 분사하고, 반송 롤에 부착된 용액이 건조되어 무기염의 완충층을 형성함으로써, 유리의 표면에 흠집이 발생하는 것을 억제할 수 있다.

이어서, 본 발명의 유리 제조 장치의 구성예에 대하여 설명한다.

본 실시 형태의 유리 제조 장치로서는 예를 들어 이하의 구성을 가질 수 있다.

용융 금속 위에서 유리 리본을 성형하는 플로트 배스와, 상기 플로트 배스에 인접하고, 상기 유리 리본을 인상하는 리프트 아웃 롤을 구비하는 드로스 박스를 가질 수 있다. 그리고, 상기 드로스 박스에 인접하고, 무기염을 포함하는 용액을 건조하여 형성된 완충층을 갖는 반송 롤을 구비하고, 상기 유리 리본을 상기 반송 롤에 의해 반송하면서 유리의 변형점 온도 이하까지 서냉하는 서냉로를 구비할 수 있다.

구체적으로는, 예를 들어 도 1에 도시한 구성을 갖는 유리 제조 장치로 할 수 있다. 도 1에 있어서는 이미 설명한 바와 같이, 용융 금속(11) 위에서 유리 리본(12)을 성형하는 플로트 배스(10)를 구비하고 있다. 그리고, 플로트 배스(10)에 인접하여 유리 리본(12)을 인상하는 리프트 아웃 롤(13)을 구비한 드로스 박스(14)가 배치되어 있다. 또한 드로스 박스(14)에 인접하여 서냉로(15)가 배치되고, 서냉로(15)는 유리 리본(12)을 반송 롤(R1 내지 R10)에 의해 반송하면서 유리의 변형점 온도 이하까지 서냉할 수 있다.

그리고, 서냉로(15) 내에 배치된 반송 롤(R1 내지 R10)의 임의로 선택한 반송 롤은 무기염을 포함하는 용액을 건조하여 형성된 도시하지 않은 완충층을 가질 수 있다. 또한, 서냉로(15) 내의 반송 롤(R1 내지 R10) 이외에도, 예를 들어 드로스 박스(14) 내의 리프트 아웃 롤(13)에도 완충층을 형성해도 된다. 또한, 반송 롤(R1 내지 R10)에 완충층을 형성하지 않고, 임의로 선택한 리프트 아웃 롤(13)에 완충층을 형성해도 된다.

완충층은 이미 설명한 바와 같이, 예를 들어 무기염을 포함하는 용액 또는 분산액을, 공급 노즐로부터, 반송 롤의 표면에 대하여 분무하여, 건조함으로써 형성할 수 있다. 이로 인해, 본 실시 형태의 유리 제조 장치는, 무기염을 포함하는 용액을 반송 롤에 분사하는 공급 노즐을 구비하고 있는 것이 바람직하다. 공급 노즐의 구성이나, 완충층의 구체적인 형성 방법이나 형상 등에 대해서는 예를 들어 이미 설명한 유리 제조 방법의 경우와 마찬가지로 구성할 수 있기 때문에, 여기서는 설명을 생략한다.

또한, 유리(유리 리본)는 성형 공정 후, 복수의 반송 롤 위에서 반송되고 있고, 표면에 흠집이나 부착물에 의한 요철 부분을 갖는 반송 롤을 통과함으로써 흠집이 부여된다고 생각된다. 이로 인해, 본 실시 형태의 유리 제조 장치에 있어서는 완충층을, 흠집의 발생 원인이 되고 있는 반송 롤의 흠집 발생 지점에 대응하는 부분, 즉, 상기 요철 부분을 포함하는 영역에 형성할 수도 있다.

따라서, 본 실시 형태의 유리 제조 장치에 있어서, 서냉한 후의 유리에 대하여 흠집의 검출을 행하는 흠집 검출 수단을 설치할 수 있다. 흠집 검출 수단으로서는 특별히 한정되는 것은 아니고, 제조하는 유리에 있어서 허용되는 사이즈 이상의 흠집을 검출할 수 있는 수단이면 된다. 예를 들어, 유리 표면에 광을 쬐고, 그 때, 흠집 부분이 원인으로 발생하는 광학적인 변화(예를 들어 그림자나 광의 반사)를 라인 센서 등의 광학 소자에 의해 촬영하여, 얻어진 화상에 기초하여 흠집의 사이즈나 위치를 검출하는 수단 등을 들 수 있다. 또한, 흠집 검출 수단을 설치하는 위치는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 후술하는 유리 절단 수단을 설치하는 경우, 유리 절단 수단보다도 상류측에 흠집 검출 수단을 설치하는 것이 바람직하다.

그리고, 흠집 검출 수단에 의해 검출한 흠집의 원인이 된 반송 롤의, 흠집 발생 지점에 대응하는 부분에 완충층을 형성할 수 있다. 흠집 검출 수단에 의해 검출한 흠집의 지점으로부터, 흠집 발생의 원인이 된 반송 롤을 특정하고, 상기 반송 롤의 흠집 발생 지점에 대응하는 부분에 완충층을 형성하는 수단의 구성예에 대해서는 유리 제조 방법에 있어서 이미 설명했기 때문에, 여기에서는 설명을 생략한다. 또한, 반송 롤의 흠집 발생 지점을 검출하기 위해서, 예를 들어 리프트 아웃 롤(13)이나, 반송 롤(R1 내지 R10)을 높이 방향으로 변위 가능하게 구성해 둘 수도 있다.

본 실시 형태의 유리 제조 장치에 있어서는, 상기 구성에 한정되는 것은 아니고, 임의의 각종 수단을 설치할 수 있다. 구체적으로는 예를 들어, 도 1의 플로트 배스(10)의 상류측에 유리 원료를 용융하여 용융 유리를 제조하는 원료 용융 수단을 배치하거나, 또한 용융 유리 중의 기체를 제거하기 위하여 탈포 처리 수단 등을 배치하거나 할 수도 있다.

또한, 유리 리본(12)의 반송 방향 하류측에는 유리 리본을 원하는 유리판의 크기로 절단하기 위한 유리 절단 수단 등을 설치할 수 있다. 또한, 드로스 박스(14) 또는 서냉로(15)에 있어서, 반송 롤과 대향하는 유리 리본의 면에 SO₂ 가스를 분사하는 SO₂ 분사 수단을 설치할 수도 있다.

본 실시 형태의 유리 제조 장치에 있어서는, 이미 설명한 유리 제조 방법을 적절하게 실시할 수 있다. 이로 인해, 본 실시 형태의 유리 제조 장치에 있어서는, 상술한 것 이외의 구성에 대해서, 유리 제조 방법에서 설명한 구성을 채용할 수도 있다.

또한, 여기에서는 플로트법의 유리 제조 장치를 예로 들어 설명했지만, 이러한 형태에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 롤아웃법이나 퓨전법의 유리 제조 장치에 있어서, 성형 수단 후에 반송 롤에 의해 유리 리본을 반송하는 유리 리본 반송 수단을 갖고, 상기 반송 롤의 적어도 일부에 대하여 무기염을 포함하는 용액을 건조하여 형성된 완충층을 갖는 유리 제조 장치로 할 수도 있다.

이상에서 설명한 본 실시 형태의 유리 제조 장치에 있어서는, 반송 롤에 무기염을 포함하는 용액을 건조하여 형성된 완충층이 형성되어 있기 때문에, 유리의 표면에 흠집이 발생하는 것을 억제할 수 있다.

[실시예]

이하에 실험예를 사용하여 본 발명의 무기염에 의한 완충층의 도포 방법을 더욱 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들 실험예에 한정되는 것은 아니다.

[실험예 1]

먼저, 25질량％ 정도의 Cr과 20％ 질량％ 정도의 Ni를 함유하는 스테인리스(SUS310 상당, 고온용)를 포함하는 롤 모재를 준비하였다.

롤 모재의 형상은, 후술하는 시험에 사용하기 위하여 편의상, 외경 150㎜×두께 20㎜의 원판 형상으로 하고, 롤 외주면의 반경 방향 단면은 외측으로 볼록 형상의 곡면으로 하고, 상기 곡면의 곡률 반경은 50㎜로 하였다. 내수성 페이퍼를 사용하여 롤 외주면을 손 연마로 연마하였다. 연마 후의 표면 조도(Ra)는 0.5㎛였다.

이러한 롤을 사용하여 이하의 흠집의 평가 시험을 행하였다.

[실험예 2]

실험예 2는 실험예 1과 마찬가지로, 25질량％ 정도의 Cr과 20질량％ 정도의 Ni를 함유하는 스테인리스를 포함하는 롤 모재를 사용하여, 롤 외주면을 손 연마로 연마하였다. 연마 후의 표면 조도(Ra)는 0.5㎛였다.

이어서, 상기 롤을 300℃로 가열하고, 롤의 외주면에 대하여 증류수에 의해 녹인 10질량％의 황산 나트륨 수용액을 20cc/min으로 분사하였다. 분사한 수용액은 롤의 온도가 100℃ 이상이기 때문에, 수분은 증발하고 황산 나트륨만이 외주면에 잔존하여, 막을 형성하였다. 롤 외주면에 형성된 황산 나트륨의 막을 고주파 전자 막 두께 측정기(가부시키가이샤 켓토카가쿠켄큐죠 제조)로 측정한 결과, 두께는 100㎛였다.

이러한 롤을 사용하여 이하의 흠집의 평가 시험을 행하였다.

(흠집의 평가)

롤 표면에 형성한 무기염에 의한 완충층의 효과를 평가하기 위해서, 하기 방법으로, 고온에서의 유리판에 대한 흠집 억제 효과를 평가하였다.

도 5는 이 평가에 사용한 시험 장치를 설명하기 위한 개략도이다. 이 시험 장치는 롤·온·디스크형 전동 마찰 시험기(510)(타카치호세이키사 제조)와 전기로(도시 생략)를 조합하여 구성되어 있다.

롤·온·디스크형 전동 마찰 시험기(510)는 둘레 방향으로 회전하는 원판 형상의 유리판(520)의 상면에, 유리 반송 롤(이하, 간단히 롤이라고 하는 경우도 있음)(530)의 둘레면이 접촉되도록 설치되어 있다. 롤(530)은 둘레 방향으로 회동이 자유롭고, 회전축 방향이 유리판(520)의 직경 방향과 동일하며, 또한 회전축 방향으로 진퇴 가능하게 설치되어 있다.

상기 시험기(510)에 있어서, 유리판(520)의 상면과 롤(530)의 둘레면을 접촉시켜, 롤(530)에 대하여 롤(530)의 중심으로부터 유리판(520)을 향하는 방향으로 일정한 하중을 가한 상태에서, 유리판(520)을 회전시키면, 그 회전에 따라 롤(530)이 유리판(520) 위를 구르도록 회전한다. 그리고 유리판(520)을 회전시키면서, 롤(530)을 그 회전축 방향으로 유리판(520)의 중심을 향하여 전진시킴으로써, 롤(530)은 유리판(520) 상면에 나선 형상의 마찰 자국을 그리면서 구른다. 또한 실험예 1, 2에서는 롤의 외주면을, 외측으로 볼록 형상의 곡면으로 했기 때문에, 유리판(520)의 상면과 롤(530)의 둘레면과의 접촉은 점 접촉이 되어, 마찰 자국은 선 형상이 된다. 시험기(510)는 전기로 내에 수용되어 있고, 시험기(510)의 분위기 온도가 소정의 온도로 제어되도록 되어 있다.

시험 조건은, 분위기 온도 600℃, 롤(530)에 대한 하중 500gf, 유리판(520)의 반경 90㎜, 유리판(520)의 회전 속도 0.5rps, 마찰 자국의 폭(유리판(520)과 롤(530)의 점접촉 직경에 상당함) 0.12㎜, 유리판(520)의 직경 방향에 있어서의 마찰 자국의 간격(마찰 자국의 폭 방향의 중심 사이 거리) 0.125㎜로 하였다.

구체적인 시험의 수순 및 각 실험예의 결과에 대하여 이하에 설명한다.

먼저, 유리판(520)과 각 실험예의 롤(530)을 시험기(510)에 세트하였다. 유리판(520)과 롤(530)이 접촉되지 않는 상태로서, 전기로 내의 온도를 600℃로 승온하였다.

600℃에서 30분 유지한 후, 유리판(520) 및 롤(530)의 온도가 충분히 균일해진 시점에, 유리판(520) 상면의 단부 테두리에 롤(530)의 둘레면을 접촉시켰다. 또한, 실험예 2에 있어서는 외주면에 황산 나트륨의 막을 형성하고 있기 때문에, 유리판(520)과, 롤(530)의 사이에 완충층으로서 기능하는 황산 나트륨의 막이 배치되어 있다. 이에 반해, 실험예 1에 있어서는, 유리판(520)과, 롤(530)의 외주면이 직접 접촉된다.

그리고, 롤(530)에 소정의 하중을 가한 상태에서, 유리판(520)을 도면 중의 블럭 화살표 A의 방향으로의 회전과, 롤(530)의 도면 중의 블럭 화살표 B로 표시한 축 방향으로의 전진(축 이송)을 동시에 개시하였다. 롤(530)의 축 이송 속도는, 마찰 자국의 간격이 소정의 값이 되도록 설정한다. 롤(530)이 유리판(520)의 중심에 도달하면 롤(530)과, 유리판(520)의 접촉을 해제하고, 유리판(520)의 회전을 멈추었다. 그리고 유리판(520)이 갈라지지 않도록 전기로 내의 온도를 서서히 강하시켜, 실온까지 내리고 나서 유리판(520)을 취출하였다. 또한, 실험예 2에 있어서는, 유리판(520)을 취출했을 때, 롤(530)의 외주면에 황산 나트륨의 막이 남아있는 것을 확인할 수 있었다.

도 6의 (a)는 실험예 1의 외주측의 유리판 표면의 사진을, 도 6의 (b)는 실험예 1의 내주측의 유리판 표면의 사진을 각각 도시한다. 도 7의 (a)는 실험예 2의 외주측의 유리판 표면의 사진을, 도 7의 (b)는 실험예 2의 내주측의 유리판 표면의 사진을 각각 도시한다. 보이는 바와 같이, 완충층을 형성하지 않은 실험예 1에 비해, 완충층을 형성한 실험예 2는 유리판의 흠집이 억제되어 있는 것을 알 수 있다.

이렇게 하여 얻은 유리판(520)의 상면에 어느 정도의 흠집이 발생했는지를, 이하의 방법으로 평가하였다.

얻어진 유리판(520)의 상면에 있어서, 단부 테두리로부터 중심을 향하는 직경 방향을 따라, 20㎜와 80㎜의 위치에서 관찰점을 정하였다. 그리고, 상기 관찰점이 중심에 위치하는 2.12㎜×1.59㎜ 사방 크기의 관찰 영역에서 각각 촬영하여, 각 촬영상(관찰 영역) 중에 존재하는 흠집의 면적과 촬영상의 전체 면적에 기초하여, 하기 식 (1)에 의해 각 관찰 영역에서의 흠집을 산출하였다.

흠집 발생률(％)=(흠집의 면적 합계/촬영상의 전체 면적)×100…(1)

이와 같이 하여 얻어진 실험예 1, 2에 있어서의, 유리판에 대한 흠집 발생률을 측정한 결과를 표 1에 나타낸다. 또한, 표 1에 있어서, 단부 테두리로부터 20㎜의 관찰점을 중심으로 한 관찰 영역에서의 흠집 발생률을 외주로서 나타내고 있다. 또한, 단부 테두리로부터 80㎜의 관찰점을 중심으로 한 관찰 영역에서의 흠집 발생률을 내주로서 나타내고 있다.

표 1에 나타나는 바와 같이, 실험예 1에서는 흠집이 많이 발생한 것에 반해서, 실험예 2에서는 유리판의 내주, 외주에 관계없이, 흠집의 발생률이 실험예 1의 경우와 비교하여 약 1/1000로 억제되는 것을 확인할 수 있었다. 즉, 롤과 유리의 사이에 완충층을 배치함으로써 유리의 표면에 흠집이 발생하는 것을 억제할 수 있음을 확인할 수 있었다.

이상에서 유리 제조 방법 및 유리 제조 장치를, 상세하게 또한 특정한 실시 형태를 참조하여 설명했지만, 본 발명은 상기 실시 형태 등에 한정되지 않고, 본 발명의 정신과 범위를 일탈하지 않고서 여러 변형이나 수정을 가할 수 있음은 당업자에게 있어서 명확하다.

본 출원은, 2012년 11월 16일에 출원한 일본 특허 출원 제2012-252516호 및 2013년 1월 25일에 출원한 일본 특허 출원 제2013-011655호에 기초하는 우선권을 주장하는 것이며, 일본 특허 출원 제2012-252516호 및 일본 특허 출원 제2013-011655호의 전체 내용을 본 국제 출원에 원용한다.

12: 유리(유리 리본)
13, R1 내지 R10, 21, R31 내지 R34: 반송 롤
23: 완충층

Claims (9)

1. 용융 유리로부터 유리 성형 수단에 의해 유리 리본을 성형하는 성형 공정과, 상기 유리 리본을 반송 롤에 의해 반송하면서 유리의 변형점 온도 이하까지 서냉하는 반송 공정을 갖고,
   상기 반송 공정은, 상기 반송 롤의 적어도 일부에, 무기염을 포함하는 용액을 직접 분사하고, 상기 반송 롤에 부착된 상기 용액이 건조됨으로써 무기염의 완충층을 형성하는 완충층 형성 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 유리 제조 방법.
2. 제1항에 있어서,
   상기 완충층은,
   모스 경도가 상기 유리 리본의 모스 경도보다도 낮고, 또한, 유리 리본 반송시의 온도에 있어서 상기 유리 리본과 반응하지 않는 물질을 포함하는 유리 제조 방법.
3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
   상기 반송 공정은,
   서냉한 후의 유리에 대하여 흠집의 검출을 행하여, 흠집 발생 지점을 특정하는 흠집 발생 지점 검출 공정과,
   상기 반송 롤 중 흠집 발생의 원인이 된 대상 롤을 특정하는 대상 롤 특정 공정을 포함하고,
   상기 완충층 형성 공정은, 상기 대상 롤 특정 공정에서 특정된 상기 대상 롤의, 상기 흠집 발생 지점 검출 공정에 의해 검출된 흠집 발생 지점에 대응하는 부분을 포함하는 완충층 형성 영역에 상기 완충층을 형성하는 유리 제조 방법.
4. 제3항에 있어서,
   상기 완충층 형성 영역이, 상기 흠집 발생 지점에 대응하는 부분의 상기 대상 롤의 축 방향으로 ±50㎜ 이상의 범위인 유리 제조 방법.
5. 제3항 또는 제4항에 있어서,
   상기 반송 공정은, 상기 반송 롤과 대향하는 유리 리본의 면에 SO₂ 가스를 분사하고, 상기 유리 리본의 면에 흠집 방지용 보호층을 형성하는 보호층 형성 공정을 갖고,
   상기 대상 롤 특정 공정은, 상기 유리 성형 수단의 출구로부터 3m 이내에 배치된 상기 반송 롤로부터 상기 대상 롤을 특정하는 유리 제조 방법.
6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 완충층이 황산염 및/또는 탄산염을 함유하는 유리 제조 방법.
7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 완충층이 수용성 물질을 함유하는 유리 제조 방법.
8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 완충층이 황산 나트륨을 함유하는 유리 제조 방법.
9. 용융 금속 위에서 유리 리본을 성형하는 플로트 배스와,
   상기 플로트 배스에 인접하고, 상기 유리 리본을 인상하는 리프트 아웃 롤을 구비하는 드로스 박스와,
   상기 드로스 박스에 인접하고, 무기염을 포함하는 용액을 건조하여 형성된 완충층을 갖는 반송 롤을 구비하고, 상기 유리 리본을 상기 반송 롤에 의해 반송하면서 유리의 변형점 온도 이하까지 서냉하는 서냉로를 구비하는 것을 특징으로 하는 유리 제조 장치.

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