KR20150067208A - 광학 필름의 제조 장치 및 접합 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명의 광학 필름의 제조 장치는, 광학 필름을 반송하는 반송 장치와, 광학 필름의 반송 경로 상에 배치되고, 광학 필름의 반송 방향에 직교하는 광학 필름의 폭 방향으로 코로나 방전을 발생시켜, 광학 필름의 표면에 코로나 처리를 실시하는 코로나 처리 장치와, 코로나 방전에 의해 발해진 광의 광량을 광학 필름의 폭 방향에 걸쳐 검사하는 검사 장치를 포함한다.

Description

광학 필름의 제조 장치 및 접합 시스템{OPTICAL FILM MANUFACTURING DEVICE AND BONDING SYSTEM}

본 발명은 광학 필름의 제조 장치 및 접합 시스템에 관한 것이다.

본원은 2012년 10월 5일에 일본에 출원된 일본 특허 출원 제2012-223299호에 기초하여 우선권을 주장하고, 그 내용을 여기에 원용한다.

편광 필름, 위상차 필름 등의 광학 필름은, 액정 표시 장치를 구성하는 중요한 광학 부품이다. 예를 들어, 액정 표시 장치에 있어서는, 편광 필름이 직사각 형상인 광학 필름 칩으로서 액정 패널의 상하면에 1매씩 배치되어 있다. 편광 필름은, 예를 들어 PVA(폴리비닐알코올) 등을 포함하는 편광자 필름이 TAC(트리아세틸셀룰로오스) 필름 등을 포함하는 2매의 보호 필름에 의해 끼워진 구조이다. 편광자 필름에는, 보호 필름이 편광자 필름으로부터 박리되지 않도록 높은 접착성이 요구된다.

종래, 필름의 표면에 코로나 처리를 실시함으로써, 필름의 표면을 개질하고, 필름의 표면의 친수성을 크게 하여 접착성을 높이고 있다. 공장의 생산 라인 등에서는, 전극과 처리 롤 사이의 간극에 코로나 방전을 발생시키고, 전극과 처리 롤 사이의 간극에 롤상으로 감긴 필름을 시트상으로 하여 소정의 속도로 통과시켜, 필름의 표면에 코로나 처리를 실시한다. 그리고, 코로나 처리가 실시된 필름을 롤상으로 권취함으로써, 원반 롤이 제작된다(예를 들어, 특허문헌 1 참조).

원반 롤은 광학 필름의 접합 시스템에 도입된다. 원반 롤로부터 권출된 필름은 소정 크기로 잘라져, 액정 패널에 접합된다. 그리고, 외관 검사 장치에 의해, 광학 필름과 액정 패널 사이의 접합 불량이 검사된다.

일본 특허 공개 2001-305052호 공보

코로나 처리에 의하면, 필름의 종류에 따라, 코로나 방전의 출력값을 소정의 값으로 설정함으로써, 필름의 표면의 접착성을 높일 수 있다. 그러나, 본 발명자의 지견에 의하면, 코로나 방전의 출력값을 적절하게 제어하여 코로나 처리를 실시했음에도 불구하고, 외관 검사 공정에 있어서, 필름간의 접착력 부족에 기인한 접합 불량이 발견되는 경우가 있었다. 이러한 불량은 광학 필름을 액정 패널에 접합했을 때의 외관 검사에 있어서 발견된다. 그로 인해, 액정 패널로부터 광학 필름을 박리하고, 새롭게 광학 필름을 다시 접합하는 리워크 처리가 필요해져, 생산성을 저하시키는 원인이 되었다.

본 발명의 형태는, 필름간의 접착력 부족에 기인한 접합 불량을 사전에 검지하는 것이 가능한 광학 필름의 제조 장치 및 접합 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 형태에 관한 광학 필름의 제조 장치 및 접합 시스템은 이하의 구성을 채용했다.

(1) 본 발명의 일 형태에 관한 광학 필름의 제조 장치는, 광학 필름을 반송하는 반송 장치와, 상기 광학 필름의 반송 경로 상에 배치되고, 상기 광학 필름의 반송 방향에 직교하는 상기 광학 필름의 폭 방향으로 코로나 방전을 발생시켜, 상기 광학 필름의 표면에 코로나 처리를 실시하는 코로나 처리 장치와, 상기 코로나 방전에 의해 발해진 광의 광량을 상기 광학 필름의 폭 방향에 걸쳐 검사하는 검사 장치를 포함한다.

(2) 상기 (1)에 기재된 광학 필름의 제조 장치에서는, 상기 검사 장치가 상기 코로나 방전에 의해 발해진 광을 수광하는 CCD 카메라를 포함할 수도 있다.

(3) 본 발명의 다른 형태에 관한 접합 시스템은, 상기 (1) 또는 (2)에 기재된 광학 필름의 제조 장치와, 상기 코로나 방전에 의해 발해진 광의 광량이 소정의 범위 내에 포함되어 있는지의 여부를 판정하는 판정 장치와, 상기 광학 필름의 제조 장치에 의해 제조된 광학 필름으로부터, 상기 판정 장치에 의해 상기 소정의 범위 내에 포함되지 않는다고 판정된 부분을 불량 부분으로서 분리하여, 상기 불량 부분이 존재하지 않는 광학 필름을 형성하는 절단 장치와, 상기 불량 부분을 회수하는 회수 장치와, 상기 절단 장치에 의해 형성된 상기 불량 부분이 존재하지 않는 광학 필름을, 접합 대상물에 접합하는 접합 장치를 포함한다.

본 발명의 형태에 의하면, 필름간의 접착력 부족에 기인한 접합 불량을 사전에 검지할 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 관한 광학 필름의 제조 장치를 도시하는 모식도이다.
도 2는 광학 필름의 제조 장치의 부분 사시도이다.
도 3은 CCD 카메라와 처리 롤의 배치 관계를 나타내는 도면이다.
도 4a는 방전 출력을 800W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 4b는 방전 출력을 800W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 형태에 관한 접합 시스템의 개략 구성을 도시하는 도면이다.
도 6은 액정 패널의 일례를 나타내는 평면도이다.
도 7은 광학 시트의 일례를 나타내는 단면도이다.
도 8a는 방전 출력을 1200W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 8b는 방전 출력을 1200W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 9a는 방전 출력을 1000W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 9b는 방전 출력을 1000W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 10a는 방전 출력을 600W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 10b는 방전 출력을 600W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 11a는 방전 출력을 400W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 11b는 방전 출력을 400W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 12a는 방전 출력을 300W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 12b는 방전 출력을 300W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 13a는 방전 출력을 230W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.
도 13b는 방전 출력을 230W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.

이하, 도면을 참조하면서 본 발명의 실시 형태를 설명하지만, 본 발명은 이하의 실시 형태에 한정되는 것은 아니다.

또한, 이하의 모든 도면에 있어서는, 도면을 보기 쉽게 하기 위하여, 각 구성 요소의 치수나 비율 등은 적절히 상이하게 하고 있다. 또한, 이하의 설명 및 도면 중, 동일하거나 또는 상당하는 요소에는 동일한 부호를 부여하고, 중복되는 설명은 생략한다.

이하의 설명에 있어서는, 필요에 따라 XYZ 직교 좌표계를 설정하고, 이 XYZ 직교 좌표계를 참조하면서 각 부재의 위치 관계에 대하여 설명한다. 본 실시 형태에 있어서는, 긴 광학 필름의 폭 방향을 X 방향으로 하고 있으며, 광학 필름의 면 내에 있어서 X 방향에 직교하는 방향(긴 광학 필름의 반송 방향)을 Y 방향, X 방향 및 Y 방향에 직교하는 방향을 Z 방향으로 하고 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 관한 광학 필름의 제조 장치를 도시하는 모식도이다. 이하, 광학 필름으로서, 편광 필름을 구성하는 편광자 필름을 제조하는 예를 설명하지만, 이것으로 제한되지 않는다. 광학 필름은, 편광자 필름 이외에, 편광 필름을 구성하는 보호 필름일 수도 있다. 또한, 위상차 필름이나 휘도 향상 필름 등일 수도 있고, 위상차 필름이나 편광 필름 등의 복수의 광학 소자를 적층한 것일 수도 있다.

편광 필름은, 예를 들어 PVA(폴리비닐알코올) 등을 포함하는 편광자 필름이, 보호 필름으로서 2매의 셀룰로오스계 필름인 TAC(트리아세틸셀룰로오스) 필름에 의해 끼워진 구조이다.

편광자 필름은, 일정 방향으로 진동하는 광 이외의 광을 차단하기 위하여, 예를 들어 요오드, 2색성 염료 등의 2색성 색소에 의해 염색되어 있다. 편광자 필름은, 예를 들어 2색성 색소에 의해 염색한 PVA 필름을 1축 연신하여 형성되어 있다.

보호 필름으로서는, TAC 필름 이외에도, COP(시클로올레핀 중합체) 필름, PET(폴리에틸렌테레프탈레이트) 필름, MMA(메틸메타크릴레이트) 필름 등을 사용할 수 있다.

도 1에 도시한 바와 같이, 광학 필름의 제조 장치(1)는 긴 형상의 광학 필름(이하, 간단히 광학 필름이라고 칭하는 경우가 있음)을 반송하는 반송 장치(2)와, 광학 필름의 반송 경로 상에 배치되고, 광학 필름의 반송 방향에 직교하는 광학 필름의 폭 방향(이하, 필름 폭 방향이라고 칭하는 경우가 있음)으로 코로나 방전을 발생시켜, 광학 필름의 표면에 코로나 처리를 실시하는 코로나 처리 장치(3)와, 코로나 방전에 의해 발해진 광의 광량을 광학 필름의 폭 방향에 걸쳐 검사하는 검사 장치(4)와, 라인의 제어를 행하는 제어 장치(5)와, 검사 장치(4) 및 제어 장치(5)에 전기적으로 접속된 분산형 제어 시스템(6)(Distributed Control System, 이하, DCS라고 칭하는 경우가 있음)을 구비하고 있다.

반송 장치(2)는, 코로나 처리가 실시되어 있지 않은 광학 필름(이하, 미처리 필름이라고 칭하는 경우가 있음)(Fa)을 장전하는 장전부(20)와, 장전부(20)에 장전된 미처리 필름(Fa)를 하류측으로 반송하는 반송 롤(21a), 반송 롤(21b)과, 코로나 처리 장치(3)에 의해 코로나 처리가 실시된 광학 필름(이하, 처리 완료된 필름이라고 칭하는 경우가 있음)(Fb)을 하류측으로 반송하는 반송 롤(21c), 반송 롤(21d)과, 처리 완료된 필름(Fb)를 권취하는 권취부(23)를 구비하고 있다.

코로나 처리 장치(3)는, 코로나 처리부(30)와, 코로나 처리부(30)와 대향하여 배치된 처리 롤(31)을 구비하고 있다.

도 2는 광학 필름의 제조 장치(1)의 부분 사시도이다. 도 2에서는 광학 필름의 제조 장치(1)를 구성하는 코로나 처리 장치(3)를 확대하여 도시하고 있다.

도 2에 도시한 바와 같이, 코로나 처리부(30)는, 처리 롤(31)과 대향하여 배치된 전극(32)과, 전극(32)의 상방에 배치된 오존 배기 덕트(33)를 구비하고 있다.

전극(32)은 필름 폭 방향으로 연장되어 있다. 필름 폭 방향에 있어서의 전극(32)의 길이는, 필름 폭 방향에 있어서의 처리 롤(31)의 길이와 실질적으로 동등하다. 본 실시 형태에서는, 전극(32)의 형성 재료로서, 세라믹스를 사용한다. 이 밖에도 전극(32)의 형성 재료로서는, 예를 들어 알루미늄, 스테인리스 등의 금속 재료를 사용할 수 있다.

오존 배기 덕트(33)는 직육면체상의 상자 부재(33a)와, 상자 부재(33a)의 상면에 접속된 배관(33b)을 구비하고 있다. 상자 부재(33a)는 전극(32)의 주위(전극(32)의 처리 롤(31)과 대향하는 부분 이외의 부분)를 덮도록 설치되어 있다. 이에 의해, 코로나 처리에 의해 발생하는 오존을 외부로 배기할 수 있다.

처리 롤(31)은 접지되어 있다. 본 실시 형태에서는, 처리 롤(31)로서, 스테인리스제의 것을 사용한다. 이 밖에도 처리 롤(31)로서는, 예를 들어 실리콘 레버 롤 등의 유전체 피복 롤을 사용할 수 있다. 또한, 처리 롤(31)은 전극(32)과의 조합에 따라 다양한 롤을 사용할 수 있다.

도 1에 도시한 바와 같이, 제어 장치(5)는, 반송 장치(2), 코로나 처리 장치(3) 및 검사 장치(4)를 통괄 제어한다. 예를 들어, 제어 장치(5)의 제어에 의해, 광학 필름의 이송 속도, 코로나 방전의 출력, 처리 롤(31)의 이송 속도가 각각 설정된다. 제어 장치(5)는, 광학 필름의 이송 속도, 코로나 방전의 출력(코로나 방전의 ON-OFF를 포함함), 처리 롤(31)의 이송 속도 등의 정보를, DCS(6)을 향하여 송신한다.

도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 장전부(20)에 장전된 미처리 필름(Fa)는, 미처리 필름(Fa)의 외주면 상의 권단이 시트상으로 인출되고, 반송 롤(21a), 반송 롤(21b)에 의해 유도되어 전극(32)과 처리 롤(31) 사이를 통하여, 반송 롤(21c), 반송 롤(21d)에 의해 유도되어 권취부(23)에 권취 가능하게 장착되어 있다. 제어 장치(5)의 제어에 의해, 전극(32)과 처리 롤(31) 사이에 고주파의 고전압이 인가되면, 공기가 절연 파괴되어 이온화되고, 이에 의해 코로나 방전이 발생한다. 코로나 방전 내부에 미처리 필름(Fa)를 소정의 속도로 통과시킴으로써, 미처리 필름(Fa)의 전극(32)측의 표면에 코로나 처리가 실시된다. 이에 의해, 처리 완료된 필름(Fb)(광학 필름으로서의 편광자 필름)가 얻어진다.

또한, 코로나 처리는, 전극(32)의 종류, 전극(32)과 처리 롤(31) 사이의 간격, 인가하는 전압, 처리되는 광학 필름의 이동 속도, 코로나 방전의 출력 등을 변화시킴으로써, 광학 필름의 표면에 대하여 원하는 표면 개질 처리가 실시되도록 하면 된다. 예를 들어, 광학 필름의 이동 속도는 3m/분 이상 50m/분 이하의 범위의 속도로 설정할 수도 있다.

본 실시 형태에서는, 전극(32)과 처리 롤(31) 사이의 간격이 1mm로 설정되어 있다. 코로나 방전의 출력이 800W로 설정되어 있다. 광학 필름의 이동 속도가 10m/분 이상 30m/분 이하의 범위의 속도로 설정되어 있다.

도 1에 도시한 바와 같이, 검사 장치(4)는 코로나 처리 장치(3)보다도 하류측에 배치되어 있다.

검사 장치(4)는 코로나 방전에 의해 발해진 광(이하, 코로나 방전광이라고 칭하는 경우가 있음)을 수광하는 CCD 카메라(40)와, CCD 카메라(40)와 전기적으로 접속된 연산 장치(41)를 구비하고 있다. 검사 장치(4)는, CCD 카메라(40)가 수광한 광의 광량에 기초하여 코로나 방전의 방전 전류 밀도의 필름 폭 방향에 있어서의 편차를 검사한다. 검사 장치(4)는, 코로나 방전의 방전 전류 밀도의 변화를 순서대로 알기 위한 감시 시스템(코로나 감시 시스템)으로서 기능한다.

DCS(6)는 코로나 감시의 지시(검사 장치(4)의 ON-OFF를 포함함), 감시 조건의 지시(레시피 No.를 포함함) 등의 정보를, 검사 장치(4)를 향하여 송신한다. 검사 장치(4)는, 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨, 이상 발생의 유무 등의 정보를 DCS(6)를 향하여 송신한다.

도시는 하지 않았지만, CCD 카메라(40)에는, 광을 전기 신호로 변환하여 화상으로 변환시키는 CCD가 복수 설치되어 있다. CCD 카메라(40)는 복수의 CCD가 라인상으로 배치된, 소위 CCD 라인 센서 카메라이다.

예를 들어, CCD 카메라(40)에 사용하는 렌즈로서는, 초점 거리가 24㎜(f24), 개방값(F값)이 2.8, 조리개(4)(1단 조리개)인 것을 사용한다. 조리개(4)(1단 조리개)는, 개방값이 2.8인 렌즈를 1단 조였을 때, 개방값이 4가 되는 렌즈를 의미한다.

CCD 카메라(40)의 시야폭은 약 760㎜이다. CCD 카메라(40)의 수광 거리는 약 930㎜이다. CCD 카메라(40)의 스캔 레이트는 999.9마이크로 초이다.

연산 장치(41)는, CCD 카메라(40)의 수광 데이터에 기초하여 광량 레벨을 연산하여, 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 구한다. 또한, 「광량 레벨」 및 「광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계」에 대해서는 후술한다.

이하, DCS(6)에 대하여 설명한다.

DCS(6)는, 제어 장치(5)로부터 라인의 상태를 시리얼 통신(RS-422)으로 수신하고, 일정한 조건을 만족했을 때, 검사 장치(4)에 대하여 이더넷(Ethermet) 통신(IEEE802.3 10BASE-T)으로 코로나 감시의 지시를 내린다.

일정한 조건이란, 구체적으로는, (1) 라인의 속도가 일정 이상인 것(필름이 유동하고 있는 것), (2) 코로나 방전의 지시가 ON인 것(코로나 처리 중인 것), (3) DCS(6) 상에서의 오퍼레이터 조작으로 코로나 감시 지시가 내려지고 있는 것이다. 이들 (1) 내지 (3)을 모두 만족했을 때, 코로나 감시 지시가 내려진다. 즉, (1) 내지 (3) 중 하나라도 조건으로부터 벗어났을 때 코로나 감시 지시가 정지된다.

검사 장치(4)는, DCS(6)로부터의 코로나 감시 지시를 받아, 코로나 감시를 개시하고, 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 데이터를 DCS(6)로 송신한다. 이 데이터는, 실시간으로 갱신된다(약 3초 마다). DCS(6)는, 미리 설정되어 있던 역치의 범위 내에서 광량 레벨이 추이하는 것을 항상 감시하여, 범위를 벗어난 경우에는 DCS(6) 내의 모니터에 표시함과 함께, 외부 경보 장치(경고등, 버저 등)를 동작시킨다. 이에 의해, 오퍼레이터에게 이상을 인지시킨다. 또한, 광량 레벨뿐만 아니라, 검사 장치(4)의 이상도 마찬가지로 인지시킨다. DCS(6)는, 광량 레벨의 추이의 히스토리언 데이터를 보존한다.

도 3은 CCD 카메라(40)(제1 카메라(40a), 제2 카메라(40b))와 처리 롤(31)의 배치 관계를 나타내는 도면이다. 이하의 설명에서는, 필름 폭 방향으로 2개의 CCD 카메라(40a), CCD 카메라(40b)가 배치된 예를 들어 설명하지만, CCD 카메라의 배치수는 이것으로 제한되지 않는다.

CCD 카메라의 배치수는, CCD 카메라의 시야폭이나 필름 폭의 크기에 따라, 적절히 변경할 수 있다. 예를 들어, 분해능을 높이고 싶은 경우에는 CCD 카메라의 배치수를 증가시킴과 함께, CCD 카메라에 사용하는 렌즈를 바꿈으로써 시야폭을 좁게 할 수도 있다.

또한, 코로나 처리의 경우에는, CCD 카메라의 필름 폭 방향의 분해능을 100㎛/픽셀 정도로 할 수도 있다.

도 3에 있어서, 부호 (AR1)은, 처리 롤(31) 중 광학 필름이 반송되는 영역(이하, 필름 반송 영역이라고 칭하는 경우가 있음)이다. 부호 (AR2)는, 처리 롤(31)의 양단부에 있어서 광학 필름이 반송되지 않는 영역, 즉 처리 롤(31)의 표면이 노출되는 영역(이하, 롤 노출 영역이라고 칭하는 경우가 있음)이다. 부호 (W1)은 필름 폭 방향에 있어서의 필름 반송 영역(AR1)의 길이, 즉 광학 필름의 폭(이하, 간단히 필름 폭이라고 칭하는 경우가 있음)이다. 부호 (W2)는 필름 폭 방향에 있어서의 롤 노출 영역(AR2)의 길이이다. 부호 (W3)은, 필름 폭 방향에 있어서의 처리 롤(31)의 길이, 즉 처리 롤(31)의 전체 길이이다. 부호 (Wa)는 2개의 CCD 카메라(40) 중 제1 카메라(40a)의 시야폭이다. 부호 (Wb)는 제2 카메라(40b)의 시야폭이다. 부호 (CL)은, 필름 폭 방향에 있어서의 처리 롤(31)의 중심선(이하, 간단히 중심선이라고 칭하는 경우가 있음)이다.

본 실시 형태에 있어서, 필름 폭(W1)은 1500㎜, 처리 롤(31)의 전체 길이(W3)은 1800㎜, CCD 카메라(40a)의 시야폭(Wa) 및 CCD 카메라(40b)의 시야폭(Wb)는 각각 760㎜이다.

2개의 CCD 카메라(40a), CCD 카메라(40b)는, 필름 사행량을 고려하여, 필름 폭 전체를 촬상하도록 배치되어 있다. 본 실시 형태에서는, 제1 카메라(40a)가 처리 롤(31)의 -X 방향측(좌측)의 필름 반송 영역(AR1)을 촬상하도록 배치되고, 제2 카메라(40b)가 처리 롤(31)의 +X 방향측(우측)의 필름 반송 영역(AR1)을 촬상하도록 배치되어 있다.

구체적으로는, 제1 카메라(40a)는, 시야폭(Wa)의 +X 방향측의 단부 가장자리(우측의 단부 가장자리)가 중심선(CL)에 위치하도록 배치되어 있다. 제2 카메라(40b)는, 시야폭(Wb)의 -X 방향측의 단부 가장자리(좌측의 단부 가장자리)가 중심선(CL)에 위치하도록 배치되어 있다. 또한, 제1 카메라(40a)의 시야폭(Wa)의 +X 방향측의 단부(우측의 단부)와 제2 카메라(40b)의 시야폭(Wb)의 -X 방향측의 단부(좌측의 단부)가 중심선(CL) 부근에서 일부 중첩되어 있을 수도 있다.

이에 의해, 광학 필름이 사행되어도(사행량 10㎜), 광학 필름의 전체 폭(1500㎜)을, CCD 카메라(40a), CCD 카메라(40b)의 시야폭(제1 카메라(40a)의 시야폭 760㎜과 제2 카메라(40b)의 시야폭 760㎜를 더한 폭 1520㎜)의 범위 내로 할 수 있다.

또한, 광학 필름의 전체 폭을 CCD 카메라(40a), CCD 카메라(40b)의 시야폭의 범위 내로 할 수 있으면, 광학 필름의 폭 방향에 걸쳐 코로나 방전의 방전광의 광량을 정확하게 검출할 수 있다.

본 발명자의 검토에 의하면, 방전 전류 밀도와 필름간의 접착력의 강도 사이에는 높은 상관이 있는 것이 명백하다. 또한, 방전 전류 밀도와 방전광의 광량 사이에는 높은 상관이 있고, 특히 CCD 카메라를 사용하면 방전광의 광량 편차를 고정밀도로 검출할 수 있는 것이 명백하다. 그 이유는 명확하지 않으나, CCD 카메라는 광을 전기 신호로 변환하는 것이며, 방전광의 광량은 방전 전류 밀도에 따라 변화하는 것인 점에서, 양쪽에 있어서 그 발생의 메커니즘이 비슷하기 때문이라고 생각되어진다. 따라서, CCD 카메라를 사용하여 광학 필름의 면 내에 있어서의 방전광의 광량 분포를 검출하면, 필름간의 접착력 부족에 기인하는 접합 불량의 발생 부위를 높은 정밀도로 예측할 수 있어, 제조 수율의 향상에 기여할 수 있다.

이하, 방전 전류 밀도 및 방전광에 대하여 설명한다.

방전광은, 방전 전극으로부터 방출된 하전 입자와, 기체 분자의 충돌에 의해 발생한다.

방전 전류를 높임으로써, 보다 많은 하전 입자에 에너지(운동 에너지와 내부에너지의 합)가 부여된다. 그 결과, 하전 입자와 기체 분자의 충돌 에너지가 증가하고, 이에 따라 방전광의 광량도 증가한다.

에너지 밸런스는, 실질적으로 방전의 에너지=하전 입자 1개당 에너지(운동 에너지와 내부 에너지의 합)×하전 입자수+방사+열전도로 나타낸다.

전류가 커지면 전력도 커지기 때문에, 가령 평균적인 하전 입자 1개당 에너지(≒온도)가 일정하면, 보다 에너지가 큰 하전 입자가 증가되므로, 방사가 증가되게 된다. 실제로는, 전류를 크게 하면 가열에 의해 온도가 바뀌기 때문에, 하전 입자의 내부 에너지가 바뀐다. 이에 의해, 방사가 커지고, 동시에 열전도도 커진다.

물질로부터의 방사 에너지 밀도는 온도의 4승에 비례한다는 스테판-볼츠만의 법칙이 있다. 방사는, 인간이 광으로서 느끼는 가시광 영역을 포함한 모든 스펙트럼을 더한 전방사 에너지이기 때문에, 간단히 인간이 느끼는 가시광이나 CCD 소자의 분광 감도 영역의 발광으로 모두 변환되는 것으로는 되지 않는다. 에너지 밀도인 점에서, 방사의 총량은 발광체의 표면적에 비례한다.

따라서, 발광량이 전류나 전류 밀도에 비례하거나, 제곱에 비례하거나 하는 것은, 에너지가 모두 발광으로 변환되는 것은 아니므로, 관계식으로 일의적으로 나타낼 수는 없다.

방전광의 광량의 정보는, 광학 필름의 길이 방향 및 폭 방향의 위치 정보와 관련지어져, 예를 들어 화상 맵으로서, DCS(6)의 기억부 및 검사 장치(4) 각각에 기억된다. 이에 의해, 후술하는 접합 시스템에 있어서 방전광의 광량이 적절한 범위로 제어되어 있지 않은 부분(코로나 방전에 이상이 발생하여, 표면 개질이 적절하게 행하여지지 않은 부분: 이상 부분)을 제거하고, 방전광의 광량이 적절한 범위로 제어되고 있는 부분(코로나 방전에 이상이 발생하지 않아, 표면 개질이 적절하게 행하여지고 있는 부분: 이상이 없는 부분)을 제품에 사용하는 것이 용이해진다.

또한, 후술하는 접합 시스템에 있어서 방전광의 광량이 적절한 범위로 제어되지 않은 부분(이상 부분)을 제거하지 않고, 이상 부분이 있어도 우선은 불량으로 하지 않고, 최종 제품을 중점 검사하여 품질적으로 문제가 있는지의 여부를 확인할 수도 있다.

이어서, 본 실시 형태의 검사 장치(4)에 의한 코로나 방전의 방전광의 광량 검사에 대하여 설명한다.

도 4a, 도 4b는 방전 출력을 800W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.

도 4a는 999.9마이크로 초마다 스캔(데이터의 도입)을 실시하여, 1분간, 즉 1000회/초×60초=60000회, 광량 데이터를 연속적으로 동일한 그래프에 플롯한(겹쳐 도시한) 도면이다.

도 4b는 겹쳐 도시되어 있지 않은, 1회의 스캔의 데이터를 도시하는 도면이다.

도 4a, 도 4b에 있어서, 횡축은 광학 필름의 폭 방향의 위치를 나타내고 있으며, 종축은 CCD 카메라(40)가 수광한 코로나 방전광의 수광 광량을 광량 레벨로서 나타내고 있다.

여기서, 광량 레벨이란, 코로나 방전광의 수광 광량을 256계조로 나타낸 것이다. 또한, CCD 카메라가 수광한 코로나 방전광의 수광 광량의 데이터, 소위 생 데이터가 아니라, 생 데이터에 대하여 조명광 등의 노이즈의 영향을 제거한 데이터(적정화 데이터)를 기초로 광량 레벨로서 나타내고 있다.

도 4a, 도 4b의 횡축은, 2개의 CCD 카메라(40) 중 1개의 CCD 카메라의 시야폭(760㎜)에 대응하고 있으며, 화소로 나타내면 4096픽셀에 상당한다. 도 4a, 도 4b의 종축은, 256계조로 정렬되어 있고, 도 4a에 있어서는 광량 레벨의 하한값을 0, 상한값을 255로서 나타내고 있다.

도 4a, 도 4b에 도시한 바와 같이, 방전 출력을 800W로 설정한 경우의 광량 레벨의 평균값은 256계조의 대략 절반이며, 127로 되어 있다. 광량 레벨은 광학 필름의 폭 방향 전역에 있어서, 어느 정도 변동하고 있다. 광학 필름의 폭 방향 전역을 보면, 광량 레벨의 변동 범위는 97 내지 156으로 되어 있다. 도 4a에 도시한 바와 같이, 광량 레벨의 변동 범위는, 광학 필름의 폭 방향 전역에 걸쳐, 띠 형상으로 퍼져 있다.

단, 광학 필름의 폭 방향의 위치에 따라서는, 광량 레벨의 변동 범위가 상이하다. 예를 들어, 광학 필름의 폭 방향에 있어서 화소 600픽셀에 상당하는 위치에서는, 광량 레벨의 하한값이 다른 위치보다도 낮게 되어 있다. 즉, 광학 필름의 폭 방향에 있어서 코로나 방전의 방전 전류 밀도가 작게 되어 있어, 광학 필름의 표면 개질이 충분히 이루어지지 못할 가능성이 있다.

본 실시 형태에 있어서는, 방전 출력을 800W로 설정한 경우의 광량 레벨의 상하로 역치를 설정함으로써, 광량 레벨이 상하의 역치로 규정되는 범위에 포함되는 경우는 정상이라고 판정하고, 광량 레벨이 상하의 역치로 규정되는 범위에 포함되지 않은 경우는 이상이라고 판정할 수 있다. 예를 들어, 광량 레벨의 평균값 127보다도 50 낮은 값인 77을 역치로서 설정하고, 광학 필름의 폭 방향에 있어서 광량 레벨의 변동 범위의 하한값이 역치를 하한으로 하는 범위에 포함되는 경우(역치와 동일하거나 역치보다도 높은 경우)에는, 역치와 동일하거나 역치보다도 높은 부분을 정상이라고 판정하고, 역치를 하한으로 하는 범위에 포함되지 않는 경우(역치보다도 낮은 경우)에는 역치보다도 낮은 부분을 이상이라고 판정한다.

또한, 광학 필름의 폭 방향에 있어서 광량 레벨의 변동 범위의 하한값이 역치보다도 낮은 경우뿐만 아니라, 광학 필름의 폭 방향에 있어서 광량 레벨의 변동 범위의 상한값 또는 평균값이 역치보다도 낮은 경우에 역치보다도 낮은 부분을 이상이라고 판정할 수도 있다.

방전광의 광량에 관한 정보는, 광학 필름의 길이 방향 및 폭 방향의 위치에 관한 정보와 관련지어져 DCS(6)의 기억부에 기억된다. 그리고, 후술하는 접합 시스템에 있어서, 이들 정보가 기억부로부터 판독되고, 광량 레벨이 이상이라고 판정된 부분의 광학 필름이 불량 부위로서 절제되어, 회수 장치에 의해 회수된다. 이에 의해, 코로나 처리에 기인한 접합 불량(필름간의 접착력 부족에 기인한 접합 불량)의 발생이 억제되어, 수율이 높은 제조 시스템이 제공된다.

이상 설명한 바와 같이 본 실시 형태의 광학 필름의 제조 장치(1)에 의하면, 검사 장치(4)에 의해, 광학 필름의 면 내에 있어서의 코로나 방전의 방전광의 분포를 검사할 수 있다. 본 발명자의 검토에 의하면, 방전광의 분포와 방전 전류 밀도의 분포 사이에는 높은 상관이 있으면서, 또한, 방전 전류 밀도와 표면 개질의 강도(필름간의 접착력) 사이에는 높은 상관이 있다. 그로 인해, 방전광의 분포를 구함으로써, 액정 패널에 광학 필름을 접합하기 전에, 필름간의 접착력 부족에 기인하는 접합 불량의 발생 부위의 예측이 가능해져, 제조 수율의 향상에 기여할 수 있다.

또한, 검사 장치(4)가 코로나 방전광을 수광하는 CCD 카메라(40)를 구비하고 있으므로, 코로나 방전의 방전광의 광량을 실시간으로 검사할 수 있다. 또한, 이 구성에 의하면, 코로나 처리를 실시한 광학 필름의 표면의 습윤성을 별도로 검사할 필요가 없다. 따라서, 광학 필름의 표면에 코로나 처리가 균일하게 이루어져 있는지의 여부를 간이하면서 또한 신속하게 확인할 수 있다.

또한, 본 실시 형태에서는, 일례로서, 방전 출력을 800W로 설정한 경우에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계에 대하여 설명했지만, 이것으로 제한되지 않는다. 예를 들어, 방전 출력은 이 밖에도 1200W, 1000W, 600W, 400W, 300W, 230W 등, 적절히 필요에 따라 설정할 수 있다. 이렇게 방전 출력의 설정값을 변경한 경우에 있어서도, 본 발명을 적용 가능하다.

(접합 시스템)

이하, 도면을 참조하면서 본 발명의 일 실시 형태에 관한 접합 시스템에 대하여 설명한다.

도 5는 본 발명의 일 실시 형태에 관한 접합 시스템(100)의 개략 구성을 도시하는 도면이다.

도 5에 도시한 바와 같이, 접합 시스템(100)은, 상기 실시 형태에 관한 광학 필름의 제조 장치(1)(도시 생략)와, 코로나 방전의 방전광의 광량이 소정의 범위 내에 포함되어 있는지의 여부를 판정하는 판정 장치(110)와, 광학 필름으로부터 판정 장치(110)에 의해 소정의 범위 내에 포함되어 있지 않다고 판정된 부분을 불량 부분으로서 분리하여, 불량 부분이 존재하지 않는 광학 필름을 형성하는 절단 장치(106)와, 불량 부분을 회수하는 회수 장치(107)와, 절단 장치(106)에 의해 형성된 불량 부분이 존재하지 않는 광학 필름을 접합 대상물에 접합하는 접합 장치(108)를 구비하고 있다.

또한, 접합 시스템(100)에 있어서, 광학 필름의 길이 방향 및 폭 방향의 위치에 관한 정보와 관련지어져 DCS(6)(도 1 참조)의 기억부, 검사 장치(4)에 기억된 방전광의 광량에 관한 정보(예를 들어 화상 맵)는, 판정 장치(110)에 의해 판독 가능하게 되어 있다.

접합 시스템(100)은, 접합 에리어(A1)에 있어서, 예를 들어 액정 패널이나 유기 EL 패널 등의 접합 대상물에, 편광판이나 반사 방지 필름, 광 확산 필름 등의 광학 부재를 접합할 수 있다. 이에 의해, 접합 시스템(100)은, 접합 대상물 및 광학 부재를 포함한 디바이스를 제조할 수 있다. 접합 시스템(100)은 상기한 디바이스를 제조하는 제조 시스템의 일부 또는 전부일 수도 있다.

본 실시 형태의 회수 장치(107)는, 광학 부재를 포함한 광학 시트로부터 결점을 포함하는 부분의 광학 부재를 접합 에리어(A1)을 향하는 경로로부터 배제하여, 회수할 수 있다. 즉, 접합 시스템(100)은 결점을 포함하지 않는 광학 부재를 접합 대상물에 접합할 수 있다. 접합 시스템(100)의 상세한 설명에 앞서, 먼저 광학 시트의 구성예 및 액정 패널의 구성예에 대하여 설명한다.

도 6은 액정 패널의 구성예를 도시하는 평면도이다. 도 6에는 액정층의 두께 방향으로부터 평면에서 본 액정 패널이 도시되어 있다. 도 6에 도시된 액정 패널(P)는, 제1 기판(P1)과, 제1 기판(P1)에 대향하여 배치된 제2 기판(P2)와, 제1 기판(P1)과 제2 기판(P2) 사이에 봉입된 액정층(P3)을 구비한다. 액정 패널(P)는, 평면에서 본 액정층(P3)의 외주 내측에 수용되는 범위가 표시 영역(P4)로 되어 있다.

도 7은 광학 시트의 구성예를 도시하는 단면도이다. 본 예의 광학 시트는, 긴 띠 형상이며, 광학 시트의 길이 방향에 직교하는 단면이 도 7에 도시되어 있다. 이하의 설명에서는, 광학 시트의 길이 방향을 간단히 길이 방향이라고 하는 경우가 있다.

도 7에 도시된 광학 시트(F)는, 필름상의 광학 부재(F1)과, 광학 부재(F1)의 한쪽 면에 형성된 점착층(F2)와, 점착층(F2)를 통하여 광학 부재(F1)과 분리 가능하게 적층된 세퍼레이터(F3)과, 광학 부재(F1)의 다른 쪽 면에 설치된 표면 보호 필름(F4)를 갖는다.

본 예의 광학 시트(F)의 광학 부재(F1)은 편광판으로서 기능하고, 액정 패널(P)의 표시 영역(P4)의 전역과 표시 영역(P4)의 주변 영역에 걸쳐 접합된다.

광학 부재(F1)은, 광학 부재(F1)의 표면에 점착층(F2)를 남기면서 점착층(F2)로부터 세퍼레이터(F3)이 분리된 상태에서, 접합 대상물에 점착층(F2)를 통하여 접합된다. 세퍼레이터(F3)은, 점착층(F2)로부터 분리될 때까지 동안에, 점착층(F2) 및 광학 부재(F1)을 보호하고 있다. 표면 보호 필름(F4)는 광학 부재(F1)과 함께 접합 대상물에 접합되어, 광학 부재(F1)에 대하여 접합 대상물과는 반대측에 배치된다. 본 예의 표면 보호 필름(F4)는 적절히 선택되는 타이밍에 광학 부재(F1)로부터 분리된다. 표면 보호 필름(F4)는 광학 부재(F1)로부터 분리될 때까지 동안에, 광학 부재(F1)을 보호한다.

또한, 광학 부재(F1)은 표면 보호 필름(F4)를 포함하고 있지 않을 수도 있다. 또한, 표면 보호 필름(F4)는 광학 부재(F1)로부터 분리되지 않을 수도 있다. 이하의 설명에 있어서, 광학 시트(F)로부터 세퍼레이터(F3)을 제외한 부분을 접합 시트(F5)라고 하는 경우가 있다.

광학 부재(F1)은, 편광자 필름(F6)과, 편광자 필름(F6)의 한쪽 면에 접착제 등으로 접합된 제1 필름(F7)과, 편광자 필름(F6)의 다른 쪽 면에 접착제 등으로 접합된 제2 필름(F8)을 갖는다. 본 실시 형태의 편광자 필름(F6)은, 상술한 광학 필름의 제조 장치(1)로 제조한 처리 완료된 필름(Fb)에 대하여, 필름 이면에 코로나 처리를 더 실시한 것, 즉 필름 표리면에 코로나 처리를 실시한 것에 상당한다. 제1 필름(F7)과 제2 필름(F8)은, 편광자 필름(F6)을 보호하는 보호 필름이다.

또한, 광학 부재(F1)은, 1층의 광학층으로 이루어지는 단층 구조일 수도 있고, 복수의 광학층이 서로 적층된 적층 구조일 수도 있다. 광학층은, 상기한 편광자 필름(F6) 이외에, 위상차 필름이나 휘도 향상 필름 등일 수도 있다. 제1 필름(F7)과 제2 필름(F8)의 적어도 한쪽은, 액정 표시 소자의 최외면을 보호하는 하드 코팅 처리나 안티글래어 처리를 포함하는 방현 등의 효과가 얻어지는 표면 처리가 실시되어 있을 수도 있다. 또한, 제1 필름(F7)과 제2 필름(F8)의 적어도 한쪽은, 설치되어 있지 않을 수도 있다. 예를 들어, 광학 시트(F)는 제1 필름(F7)이 생략되어 있으며, 세퍼레이터(F3)이 광학 부재(F1)의 한쪽 면에 점착층(F2)를 통하여 접합되어 있는 구조일 수도 있다.

이어서, 본 실시 형태의 접합 시스템(100)에 대하여, 상세하게 설명한다.

도 5에 도시하는 접합 시스템(100)은, 광학 시트(F)를 반송하면서, 광학 부재(F1)의 결점을 검출하고, 광학 시트(F)를 하프컷함으로써 길이 방향의 복수의 위치에 절입선을 형성하고, 절입선에 의해 길이 방향으로 구획된 복수의 시트편을 형성할 수 있다.

또한, 코로나 방전의 방전광의 광량이 소정의 범위 내에 포함되어 있지 않은 불량 부분에 대해서는, 상기 실시 형태에서 설명한 화상 맵을 기초로 검출된다.

접합 시스템(100)은, 복수의 시트편 중에서 광학 부재(F1)이 결점을 포함하지 않는 양품 시트편(F10)의 접합 시트와, 액정 표시 소자의 제조 라인의 상류로부터 반송되어 오는 각 액정 패널(P)를 접합 에리어(A1)에서 접합할 수 있다. 접합 시스템(100)은, 복수의 시트편 중에서 광학 부재(F1)이 결점을 포함하는 불량품 시트편(F13)을, 불량품 시트편(13)의 접합 시트를 액정 패널(P)와 접합하지 않고, 회수할 수 있다.

본 실시 형태에 있어서, 액정 패널(P)는, 표시 영역(P4)의 긴 변과 평행한 방향으로 반송되면서, 액정 패널(P)와 평행하게 반송되는 광학 부재(F1)과 접합된다. 광학 시트의 길이 방향에 직교하는 폭 방향의 치수는, 예를 들어 액정 패널(P)의 표시 영역(P4)의 짧은 변의 길이 이상이며, 표시 영역(P4)의 짧은 변과 평행한 방향의 액정 패널(P)의 외형 치수 이하로 설정된다. 액정 패널과 접합되는 시트편의 길이 방향의 길이(이하, 단위 길이라고 칭하는 경우가 있음)는, 예를 들어 액정 패널(P)의 표시 영역(P4)의 긴 변의 치수 이상이며, 표시 영역(P4)의 긴 변과 평행한 방향의 액정 패널(P)의 외형 치수 이하로 설정된다.

또한, 접합 시스템(100)은, 액정 패널(P)가 표시 영역(P4)의 짧은 변에 평행한 방향으로 반송되어, 액정 패널(P)와 평행하게 반송되는 광학 부재(F1)과 접합되는 형태일 수도 있다. 이 형태에 있어서, 광학 시트(F)의 폭 방향의 치수 및 상기한 단위 길이는, 액정 패널(P)의 표시 영역(P4)의 짧은 변 치수나 긴 변의 치수 등에 따라, 적절히 변경된다.

접합 시스템(100)은, 광학 시트(F)가 권회된 롤(R)로부터 광학 시트(F)를 풀어내어, 광학 시트(F) 중 적어도 세퍼레이터(F3)을 길이 방향으로 반송 가능한 반송 장치(101)를 구비한다. 반송 장치(101)는, 세퍼레이터(F3)을 캐리어로서, 접합 시트(F5)를 세퍼레이터(F3)과 함께 반송한다.

반송 장치(101)는, 세퍼레이터(F3)의 반송 경로(이하, 간단히 반송 경로라고 칭하는 경우가 있음)의 시점에 상당하는 광학 시트 공급부(102)와, 반송 경로의 종점에 상당하는 권취기(103)와, 광학 시트 공급부(102)와 권취기(103) 사이에 세퍼레이터(F3)의 반송 경로를 형성하는 복수의 롤러와, 복수의 롤러 중 적어도 1개에 설치된 측장기(104)를 구비한다. 이하의 설명에 있어서, 반송 경로 상의 임의의 위치에 대하여, 반송 경로의 시점(광학 시트 공급부(102))에 가까워지는 측을 상류측, 반송 경로의 종점(권취기(103))에 가까워지는 측을 하류측이라고 하는 경우가 있다.

본 실시 형태의 접합 시스템(100)은, 반송 경로에 배치되고 반송 중의 광학 시트(F)에 대하여 처리를 실시하는 복수의 장치를 구비한다. 접합 시스템(100)은, 광학 시트 공급부(102)보다도 반송 경로의 하류측에 배치되고 광학 부재(F1)의 결점을 검출하는 검출 장치(105)와, 검출 장치(105)보다도 반송 경로의 하류측에 배치되고 광학 시트(F)에 하프컷을 실시하는 절단 장치(106)와, 절단 장치(106)보다도 반송 경로의 하류측에 배치된 회수 장치(107)와, 접합 에리어(A1)에 배치된 접합 장치(108)와, 접합 시스템(100)의 각 부를 제어하는 제어 장치(109)를 구비한다. 또한, 제어 장치(109)에는 판정 장치(110)가 포함되어 있다.

반송 장치(101)의 광학 시트 공급부(102)는, 롤(R)을 유지하며 회전시킬 수 있고, 롤(R)로부터 반송 경로로 광학 시트(F)를 풀어내는 조출기(繰出機)에 의해 구성되어 있다. 권취기(103)는, 광학 부재(F1)이 세퍼레이터(F3)과 분리되어 있는 경우에, 실질적으로 세퍼레이터(F3)만을 회수한다. 권취기(103)는, 광학 부재(F1)이 세퍼레이터(F3)과 분리되어 있지 않은 경우에, 세퍼레이터(F3) 및 접합 시트(F5)를 회수한다.

복수의 롤러는, 광학 시트(F) 중 적어도 세퍼레이터(F3)이 걸쳐짐으로써, 반송 경로를 형성한다. 복수의 롤러는, 반송 중의 광학 시트(F)의 진행 방향을 변화시키는 롤러나, 반송 중의 광학 시트(F)의 텐션을 조정할 수 있는 롤러 등으로부터 선택되는 롤러에 의해 구성되어 있다.

측장기(104)는, 측장기(104)가 설치된 롤러의 회전각 및 외주의 길이에 기초하여, 광학 시트(F)가 반송된 거리(반송 거리)를 측정할 수 있다. 측장기(104)의 측정 결과는 제어 장치(109)로 출력된다. 제어 장치(109)는, 측장기(104)의 측정 결과에 기초하여, 광학 시트(F)가 반송되어 있는 동안의 임의의 시각에 광학 시트(F)의 길이 방향의 각 점이 반송 경로 상의 어느 한 위치에 존재하고 있는지를 나타내는 시트 위치 정보를 생성한다.

또한, 반송 장치(101)의 구성은, 소정의 반송 경로에서 광학 시트를 반송 가능하도록, 적절히 변경 가능하다. 또한, 측장기(104)는, 반송 거리의 측정 결과에 기초하여 상기한 시트 위치 정보를 생성하는 것이 가능하며, 생성된 시트 위치 정보를 제어 장치(109)로 출력 가능할 수도 있다. 측장기(104)가 시트 위치 정보를 생성하고, 제어 장치(109)가 시트 위치 정보를 생성하지 않을 수도 있다.

검출 장치(105)는, 반송 중의 광학 시트(F)의 광학 부재(F1)에 내재하는 결점을 검출할 수 있다. 본 실시 형태의 검출 장치(105)는, 반송 중의 광학 시트(F)에 대하여, 반사 검사, 투과 검사, 기울기 투과 검사, 크로스니콜 투과 검사 등의 검사 처리를 실행함으로써, 광학 부재(F1)의 결점을 검출할 수 있다.

검출 장치(105)는, 광학 시트(F)에 광을 조사 가능한 조명부(111)와, 조명부(111)로부터 조사되어 광학 부재(F1)을 경유(반사와 투과의 한쪽 또는 양쪽)한 광의, 광학 부재(F1)에 있어서의 결점의 유무에 따른 변화를 검출 가능한 광 검출기(112)를 구비한다. 광학 부재(F1)의 결점은, 예를 들어 광학 부재(F1)의 내부에 있어서 고체와 액체와 기체 중 적어도 하나를 포함하는 이물질이 존재하는 부분이나, 광학 부재(F1)의 표면에 요철이나 흠집이 존재하는 부분, 광학 부재(F1)의 변형이나 재질의 치우침 등에 의해 휘점(輝点)이 되는 부분 등이다.

조명부(111)는, 상기와 같은 검출 장치(105)에 의해 행하는 검사의 종류에 따라 광 강도나 파장, 편광 상태 등이 조정된 광을 조사할 수 있다. 본 실시 형태의 광 검출기(112)는 CCD 등의 촬상 소자로 구성되어 있고, 조명부(111)에 의해 광이 조사되어 있는 부분의 광학 시트(F)를 촬상할 수 있다. 광 검출기(112)의 검출 결과(촬상 결과)는 제어 장치(109)에 출력된다. 제어 장치(109)는, 광 검출기(112)에 의해 촬상된 화상을 해석하여, 결점의 유무를 판정할 수 있다. 제어 장치(109)는, 광학 부재(F1)에 결점이 존재한다고 판정했을 때에, 측장기(104)의 측정 결과를 참조하여, 결점의 광학 시트(F) 상에서의 위치를 나타내는 결점 위치 정보를 생성한다. 또한, 결점 위치 정보에는, 제어 장치(109)에 의해 판정 장치(110)의 판정 결과가 참조됨으로써 생성된, 코로나 방전의 방전광의 광량이 소정의 범위 내에 포함되어 있지 않은 불량 부분(이상)의 광학 시트(F) 상에서의 위치를 나타내는 이상 위치 정보가 포함된다.

절단 장치(106)는, 광학 시트(F)의 길이 방향과 직교하는 폭 방향의 전체 폭에 걸쳐, 광학 시트(F)의 두께 방향의 일부를 폭 방향에 걸쳐 절단(하프컷이라고 불리는 경우도 있음)하여, 절입선을 형성한다. 절입선은 광학 시트(F)의 길이 방향의 복수의 위치에 형성된다. 광학 시트(F)는, 복수의 절입선에 의해 길이 방향으로 구획되어, 길이 방향에 인접하는 1쌍의 절입선 사이에 있는 구획의 각각이 1개의 시트편으로 된다.

제어 장치(109)는, 상기한 결점 위치 정보를 참조하여, 절단 장치(106)에 의해 형성된 제1 절입선으로부터 광학 부재(F1)의 길이 방향의 단위 길이에 상당하는 구간(이하, 다음의 시트편의 구간이라고 칭하는 경우가 있음)에, 광학 부재(F1)의 결점이 존재하는지의 여부를 판정한다. 제어 장치(109)는, 다음 시트편의 구간에 결점이 존재하는지의 여부에 따라, 다음에 형성하는 절입선의 위치를 결정하고, 절입선의 광학 시트(F) 상에서의 형성 위치를 나타내는 절입선 위치 정보를 생성한다.

제어 장치(109)는, 다음 시트편의 구간에 결점이 존재하지 않는다고 판정했을 때에 전회 형성한 절입선(이하, 제1 절입선(L1)이라고 칭하는 경우가 있음)부터 다음에 형성하는 절입선(이하, 제2 절입선(L2)라고 칭하는 경우가 있음)까지의 광학 시트(F) 상의 거리가 상기한 단위 길이로 되도록, 제2 절입선(L2)의 형성 위치를 결정한다. 제어 장치(109)는, 제1 절입선(L1)이 형성된 위치로부터 광학 시트(F)가 단위 길이만큼 반송된 타이밍에, 절단 장치(106)가 제2 절입선(L2)를 형성하도록 절단 장치(106)를 제어한다.

제1 절입선(L1)부터 제2 절입선(L2)까지의 구간의 광학 시트(F)는, 세퍼레이터(F3)과, 결점을 포함하지 않는 광학 부재(F1)(양품 광학 부재)을 포함하는 양품 접합 시트를 갖는 양품 시트편(F10)으로 된다.

제어 장치(109)는, 다음 시트편의 구간에 광학 부재(F1)의 결점이 존재한다고 판정했을 때에, 결점보다도 반송 경로의 상류측에 절입선(이하, 제3 절입선(L3)이라고 칭하는 경우가 있음)의 형성 위치를 결정한다. 제어 장치(109)는, 결점보다도 반송 경로의 상류측에 절단 장치(106)가 제3 절입선(L3)을 형성하도록, 절단 장치(106)를 제어한다.

제1 절입선(L1)부터 제3 절입선(L3)까지의 구간의 광학 시트(F)는, 세퍼레이터(F3)과, 결점을 포함하는 광학 부재(F1)(불량품 광학 부재)을 포함하는 불량품 접합 시트를 갖는 불량품 시트편(F13)으로 된다.

본 실시 형태의 접합 시스템(100)은, 양품 접합 시트와 접합하는 액정 패널(P)를 접합 에리어(A1)에 반송 가능한 패널 반송 장치(113)를 구비한다. 패널 반송 장치(113)는, 액정 패널(P)를 유지 가능한 패널 보유 지지부(114)와, 접합 시스템(100)으로 액정 패널(P)가 반입되는 반입 에리어부터 접합 에리어(A1)까지 패널 보유 지지부(114)를 이동시킬 수 있는 패널 이동부(115)와, 접합 에리어(A1)에서 액정 패널(P)를 소정의 방향으로 보내는 것이 가능한 컨베이어(116)를 구비한다. 본 실시 형태에 있어서, 패널 반송 장치(113)의 각 부는 제어 장치(109)에 동작 타이밍 등이 제어된다.

패널 보유 지지부(114)는, 액정 표시 소자의 제조 라인의 상류로부터 컨베이어 등에 의해 반입 에리어로 운반된 액정 패널(P)를, 제어 장치(109)에 의해 제어하고, 진공 흡착 등에 의해 착탈 가능하게 유지한다. 패널 이동부(115)는, 컨베이어(116)에 대하여 패널 보유 지지부(114)를 수직 방향 및 수평 방향으로 이동시킬 수 있다. 패널 이동부(115)는, 패널 보유 지지부(114)에 액정 패널(P)가 유지되어 있는 상태에서, 패널 보유 지지부(114)를 반입 에리어부터 접합 에리어(A1)까지 이동하여, 실질적으로 액정 패널(P)를 접합 에리어(A1)까지 이동시킬 수 있다.

패널 보유 지지부(114)는, 제어 장치(109)에 제어되어, 접합 에리어(A1)에서 액정 패널(P)의 흡착을 해제하고, 액정 패널(P)를 컨베이어(116)에 전달할 수 있다. 컨베이어(116)는, 접합 에리어(A1)까지 운반된 액정 패널(P)와, 접합 에리어(A1)까지 운반되어 액정 패널(P)와 접합되는 양품 접합 시트를 서로 위치 정렬하도록, 접합 장치(108)에 액정 패널(P)를 공급할 수 있다. 패널 이동부(115) 및 컨베이어(116)는 절단 장치(106)에 의해 형성된 양품 시트편(F10)이 접합 에리어(A1)에 운반되어 오는 타이밍에 액정 패널(P)가 접합 에리어(A1)에 도착하도록 제어 장치(109)에 의해 제어된다.

본 실시 형태의 회수 장치(107)는, 양품 시트편(F10) 중 양품 접합 시트와 세퍼레이터(F3)을 서로 분리한다. 접합 장치(108)는, 세퍼레이터(F3)과 분리된 양품 접합 시트를, 접합 에리어(A1)에 반송되어 오는 액정 패널(P)와 접합한다. 회수 장치(107)는, 양품 접합 시트와 분리된 세퍼레이터(F3)을 회수한다. 회수 장치(107)는 불량품 시트편(F13) 중 불량품 접합 시트를 세퍼레이터(F3)과 함께 회수한다.

회수 장치(107)는, 세퍼레이터(F3)을 캐리어로서 시트편을 나이프 에지(117)에 감아 걸어 이송(반송)하는 이송부와, 나이프 에지(117)로 이송되는 시트편이 불량품 시트편(F13)인지, 또는 양품 시트편(F10)인지를 판정하는 판정부를 구비한다.

본 실시 형태의 이송부는, 나이프 에지(117)와, 반송 장치(101)를 구성하는 복수의 반송 롤러 중에서 나이프 에지(117)와 함께 세퍼레이터(F3)이 걸쳐지는 롤러를 포함하여 구성되어 있다. 나이프 에지(117)와 함께 세퍼레이터(F3)이 걸쳐지는 롤러 중 1개는 나이프 에지(117)보다도 반송 경로의 하류측에 배치된 가이드 롤러(118)이다.

본 실시 형태의 판정부는 제어 장치(109)에 포함되어 있다. 본 실시 형태의 판정부(제어 장치(109))는, 상기한 시트 위치 정보와, 결점 위치 정보와, 절입선 위치 정보에 기초하여, 나이프 에지(117)로 반송되어 오는 시트편이 불량품 시트편(F13)인지 양품 시트편(F10)인지를 판정한다.

본 실시 형태에 있어서, 회수 장치(107)까지 반송된 광학 시트(F)는, 그의 편면을 나이프 에지(117)의 일면에 대향시키면서, 선단부를 향하여 반송된다. 세퍼레이터(F3)은 선단부와 가이드 롤러(118)에 걸쳐져, 선단부보다도 반송 경로의 하류측의 부분의 광학 부재(F1)에 대하여 예각을 이루는 방향으로 반송됨으로써, 선단부를 지지점으로 하여 굴곡된다. 이에 의해, 세퍼레이터(F3)은 길이 방향에 있어서의 반송 경로의 하류측(제1 절입선(L1)측)으로부터 상류측(제2 절입선(L2)측)을 향하여 순서대로 양품 접합 시트로부터 분리한다. 양품 접합 시트와 분리된 세퍼레이터(F3)은, 가이드 롤러(118)를 통하여 권취기(103)에 권취되어 회수된다.

본 실시 형태의 접합 장치(108)는, 1쌍의 접합 롤러(119)를 구비하고 있다. 접합 에리어(A1)로 반송된 액정 패널(P)는 1쌍의 접합 롤러(119) 사이에 컨베이어(116)에 의해 반송된다.

서로 접합되는 액정 패널(P) 및 양품 접합 시트는, 접합 후에 서로 접촉하는 각각의 면이 서로 평행하면서 또한 1쌍의 접합 롤러(119)의 회전축에 대하여 평행해지도록, 1쌍의 접합 롤러(119)의 사이에 운반된다. 1쌍의 접합 롤러(119)는, 접합 처리 중에, 1쌍의 접합 롤러(119) 사이에 운반된 액정 패널(P) 및 양품 접합 시트를, 끼워 넣어 서로 가압하여 접합한다. 양품 접합 시트와 접합된 액정 패널(P)는, 액정 표시 소자의 제조 라인의 하류로 반송된다. 이와 같이 하여, 접합 처리가 실행된다.

또한, 나이프 에지(117)의 선단부(19)를 경유한 불량품 접합 시트는, 세퍼레이터(F3)과 함께 가이드 롤러(118)를 경유하여 권취기(103)에 권취되어, 세퍼레이터(F3)과 마찬가지로 회수된다.

본 실시 형태의 제어 장치(109)는 컴퓨터 시스템을 포함하여 구성되어 있다. 이 컴퓨터 시스템은, CPU 등의 연산 처리부와, 메모리나 하드 디스크 등의 기억부를 구비한다. 본 실시 형태의 제어 장치(109)는, 컴퓨터 시스템의 외부의 장치와의 통신을 실행할 수 있는 인터페이스를 포함한다. 제어 장치(109)에는 입력 신호를 입력 가능한 입력 장치가 접속되어 있을 수도 있다. 상기한 입력 장치는 키보드, 마우스 등의 입력 기기, 또는 컴퓨터 시스템의 외부의 장치로부터의 데이터를 입력 가능한 통신 장치 등을 포함한다. 제어 장치(109)는 접합 시스템(100)의 각 부의 동작 상황을 나타내는 액정 표시 디스플레이 등의 표시 장치를 포함하고 있을 수도 있고, 표시 장치와 접속되어 있을 수도 있다.

제어 장치(109)의 기억부에는 컴퓨터 시스템을 제어하는 오퍼레이팅 시스템(OS)이 인스톨되어 있다. 제어 장치(109)의 기억부에는, 연산 처리부에 접합 시스템(100)의 각 부를 제어시킴으로써 접합 시스템(100)의 각 부에 불량품 시트편(F13)을 배제하기 위한 처리를 실행시키는 프로그램이 기록되어 있다. 기억부에 기록되어 있는 프로그램을 포함하는 각종 정보는, 제어 장치(109)의 연산 처리부가 판독 가능하다. 제어 장치(109)는 접합 시스템(100)의 각 부의 제어에 필요로 하는 각종 처리를 실행하는 ASIC 등의 논리 회로를 포함하고 있을 수도 있다.

기억부는 RAM(Random Access Memory), ROM(Read Only Memory) 등과 같은 반도체 메모리나, 하드 디스크, CD-ROM 판독 장치, 디스크형 기억 매체 등과 같은 외부 기억 장치 등을 포함하는 개념이다. 기억부는 기능적으로는 반송 장치(101), 검출 장치(105), 절단 장치(106), 회수 장치(107), 판정 장치(110), 접합 장치(108)의 동작의 제어 수순이 기술된 프로그램 소프트를 기억하는 기억 영역, 기타 각종 기억 영역이 설정된다.

이상과 같이, 본 실시 형태의 회수 장치(107)는 광학 부재(F1)의 결점을 효과적으로 제거할 수 있다. 또한, 본 실시 형태의 접합 시스템(100)은 광학 부재(F1)의 결점을 효과적으로 제거하면서, 결점을 포함하지 않는 광학 부재(F1)(양품 접합 시트)을 접합 대상물과 접합할 수 있다. 또한, 본 실시 형태의 회수 방법은, 세퍼레이터(F3)과는 다른 제거용 필름 등을 사용하지 않아도 불량품 접합 시트를 제거할 수 있으므로, 광학 부재(F1)의 결점을 효과적으로 제거할 수 있다.

또한, 본 발명의 기술 범위는 상기한 실시 형태에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 주지를 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변형이 가능하다.

상기한 접합 시스템(100)은 검출 장치(105)에 의해 광학 부재(F1)의 결점을 검출하고 있지만, 반송하기 전에 미리 검사된 광학 시트(F)를 사용함과 함께, 제어 장치(109)가, 그 검사 결과를 사용하여 양품 시트편(F10)인지의 여부의 판정을 행할 수도 있다. 상기한 검사 결과는 부합 등의 형태로 광학 시트(F)에 형성되어 있을 수도 있고, 예를 들어 롤(R)의 길이 방향의 단으로부터의 결점의 위치를 나타내는 데이터로서, 제어 장치에 입력될 수도 있다. 이와 같이, 미리 검사된 광학 시트(F)를 사용하는 경우에, 검출 장치(105)는 생략되어 있을 수도 있다.

또한, 상기한 접합 시스템(100)은, 광학 시트(F)가 권회된 롤(R)로부터 광학 시트(F)를 풀어내고 있지만, 반송 장치(101)의 광학 시트 공급부(102)는 광학 시트(F)의 제조 장치일 수도 있다. 이 광학 시트(F)의 제조 장치는, 접합 시스템(100)의 일부일 수도 있고, 접합 시스템(100)의 외부의 장치일 수도 있다.

이상, 첨부 도면을 참조하면서 본 실시 형태에 관한 적합한 실시 형태예에 대하여 설명했지만, 본 발명은 이러한 예에 한정되지 않는 것은 물론이다. 상술한 예에 있어서 나타낸 각 구성 부재의 제형상이나 조합 등은 일례이며, 본 발명의 주지로부터 벗어나지 않는 범위에서 설계 요구 등에 기초하여 다양하게 변경 가능하다.

이하, 실시예에 기초하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이하의 실시예에 한정되는 것은 아니다.

(코로나 처리 장치)

코로나 처리 장치에 있어서의 전극과 처리 롤의 간격은 1mm로 설정했다. 처리 롤로서는, 전체 길이가 1800㎜인 것을 사용했다.

(검사 장치)

검사 장치에 있어서의 CCD 카메라는 CCD 라인 센서 카메라를 사용했다. CCD 카메라로서는, 사용하는 렌즈가 초점 거리 24㎜(f24), 개방값(F값) 2.8, 조리개(4)(1단 조리개), 시야폭이 약 760㎜, 수광 거리가 약 930㎜, 스캔 레이트가 999.9마이크로 초인 것을 사용했다.

또한, CCD 카메라는 필름 폭 방향으로 2개 배치했다. 또한, CCD 카메라는, 필름 폭 방향의 분해능이 100㎛/픽셀인 것을 사용했다.

(광학 필름)

검사 대상으로 되는 광학 필름으로서는, PVA 등을 포함하는 편광자 필름을 사용했다. 광학 필름으로서는, 필름 폭이 1500㎜인 것을 사용했다.

[실시예]

실시예 1의 방전 출력은, 도 4a, 도 4b에 도시한 바와 같이, 800W로 설정했다. 실시예 2의 방전 출력은 1200W로 설정했다. 실시예 3의 방전 출력은 1000W로 설정했다. 실시예 4의 방전 출력은 600W로 설정했다. 실시예 5의 방전 출력은 400W로 설정했다. 실시예 6의 방전 출력은 300W로 설정했다. 실시예 7의 방전 출력은 230W로 설정했다.

(코로나 방전의 필름 폭 방향에 있어서의 편차의 검사)

실시예 2 내지 7에 대하여 각각, 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 조사했다. 실시예 2 내지 7에 대하여 각각, 실시예 1의 방전 출력 설정값에 대하여 유의차가 얻어지는지의 여부를 확인했다.

도 8a, 도 8b는 실시예 2에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.

도 9a, 도 9b는 실시예 3에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.

도 10a, 도 10b는 실시예 4에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.

도 11a, 도 11b는 실시예 5에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.

도 12a, 도 12b는 실시예 6에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.

도 13a, 도 13b는 실시예 7에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 나타내는 도면이다.

도 8a 내지 도 13a는 999.9마이크로 초마다 스캔(데이터의 도입)을 실시하고, 1분간, 즉 1000회/초×60초=60000회, 광량 데이터를 연속적으로 동일한 그래프에 플롯한 (겹쳐 도시한) 도면이다.

도 8b 내지 도 13b는, 겹쳐 도시하지 않은, 1회의 스캔의 데이터를 도시하는 도면이다.

도 8b 내지 도 13b에 도시한 그래프는 도 8a 내지 도 13a에 도시한 실선 부분에 상당한다.

또한, 도 8a 및 도 9a에 있어서는, 편의상, 실시예 1(방전 출력 800W)에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 아울러 도시하고 있다.

도 8a, 도 8b 내지 도 13a, 도 13b에서는, 도 4a, 도 4b와 마찬가지로, 생 데이터가 아니라 적정화 데이터를 사용하고 있다.

도 8a, 도 8b 내지 도 13a, 도 13b에 있어서, 횡축은 광학 필름의 폭 방향의 위치를 나타내고 있으며, 종축은 광량 레벨을 나타내고 있다. 또한, 횡축은, CCD 카메라의 시야폭(760㎜)에 대응하고 있으며, 화소로 나타내면 4096픽셀에 상당한다. 종축은, 광량 레벨의 하한값을 0, 상한값을 255로서 나타내고 있다. 각 도면에 있어서, 횡축 및 종축의 레인지는 정렬되어 있다.

도 8a, 도 8b 내지 도 13a, 도 13b에 도시한 바와 같이, 광량 레벨의 평균값은, 방전 출력이 커짐에 따라 커지고 있다. 또한, 광량 레벨의 변동 범위는, 광학 필름의 폭 방향 전역에 걸쳐, 띠 형상으로 퍼져 있다.

단, 광학 필름의 폭 방향의 위치에 따라서는, 광량 레벨의 변동 범위가 상이하다. 예를 들어, 광학 필름의 폭 방향에 있어서 화소 0픽셀 내지 600픽셀의 범위의 위치에서는, 화소 600픽셀 내지 4096픽셀의 범위의 위치보다도 광량 레벨이 높게 되어 있다.

이 이유는, 화소 0픽셀 내지 600픽셀의 범위가 롤 노출 영역에 상당하고, 화소 600픽셀 내지 4096픽셀의 범위가 필름 반송 영역에 상당함으로써, 롤 노출 영역과 필름 반송 영역의 방전 특성의 차이가 영향을 미치고 있다고 생각되어진다. 즉, 필름 반송 영역에서는, 절연체인 광학 필름이 존재함으로써 코로나 방전이 약해져, 방전 전류 밀도가 저하되고 있기 때문이라고 생각되어진다.

표 1은 실시예 1 내지 7에 있어서의 광학 필름의 폭 방향의 위치와 광량 레벨의 관계를 정리한 표이다.

표 1에 있어서, 「광량 레벨의 평균값」은, 실시예 1의 통상 시의 방전 출력을 기준으로 했을 때의, 즉 방전 출력을 800W로 설정한 경우의 광량 레벨의 평균값을 256계조의 대략 절반인 127로 했을 때의, 실시예 2 내지 7의 방전 출력에 각각 설정한 경우의 광량 레벨의 평균값이다.

「(변동 범위)」는 광학 필름의 폭 방향 전역에 있어서의 광량 레벨의 변동 범위이다. 또한, 실시예 2 및 실시예 3에 있어서의 변동 범위의 하한값은 산출할 수 없었기 때문에, 기재하고 있지 않다.

「변동 범위와의 차」는, 실시예 1에 있어서의 광량 레벨의 변동 범위 (97 내지 156)에 대한, 실시예 2 내지 7 각각에 있어서의 광량 레벨의 평균값의 차(작은 쪽의 차)이다. 구체적으로는, 실시예 2 내지 7 각각에 있어서, 실시예 1에 있어서의 광량 레벨의 변동 범위의 하한값 (97)에 대한 광량 레벨의 평균값의 차와, 실시예 1에 있어서의 광량 레벨의 변동 범위의 상한값 (156)에 대한 광량 레벨의 평균값의 차 중 어느 작은 쪽의 차를 기재하고 있다. 또한, 「변동 범위와의 차」가 10 이상이면, 실시예 1의 방전 출력 설정값에 대하여 유의차가 얻어진다고 판정된다.

「검출 가부」는, 실시예 2 내지 7 각각에 있어서, 광량 레벨의 변동 범위가 실시예 1의 광량 레벨의 변동 범위 (97 내지 156)에 포함되는지의 여부를 나타내고 있다. 실시예 2 내지 7 각각에 있어서, 광량 레벨의 변동 범위가 실시예 1의 광량 레벨의 변동 범위 (97 내지 156)에 포함되지 않은 경우를 「○(우수)」으로 나타내고 있다. 광량 레벨의 변동 범위가 실시예 1의 광량 레벨의 변동 범위 (97 내지 156)에 일부 포함되는 경우를 「△(양호)」로 나타내고 있다.

표 1에 나타낸 바와 같이, 실시예 3에서는, 광량 레벨의 변동 범위가 실시예 1의 광량 레벨의 변동 범위 (97 내지 156)에 일부 포함되는 점에서, 실시예 1의 방전 출력 설정값에 대한 유의차로서는 약간 부족하다. 단, 광량 레벨의 상하로 역치를 설정하고, 광량 레벨이 상하의 역치로 규정되는 범위에 포함되는 경우는 정상으로 판정하고, 광량 레벨이 상하의 역치로 규정되는 범위에 포함되지 않는 경우는 이상으로 판정함으로써, 코로나 방전의 이상 유무를 검출하여, 광학 필름의 표면에 코로나 처리가 균일하게 이루어져 있는지의 여부를 확인하는 것은 가능하다.

한편, 실시예 2, 실시예 4 내지 7에서는, 광량 레벨의 변동 범위가 실시예 1의 광량 레벨의 변동 범위 (97 내지 156)에 포함되지 않는 점에서, 실시예 1의 방전 출력 설정값에 대하여 유의차가 보인다. 따라서, 코로나 방전의 이상 유무를 안정적으로 검출할 수 있어, 광학 필름의 표면에 코로나 처리가 균일하게 이루어져 있는지의 여부를 고정밀도로 확인할 수 있다.

또한, 실시예 4 내지 7의 결과로부터, 방전 출력이 230W 내지 600W의 범위에서는, 방전 출력이 100W 정도의 변화라도 다른 실시예의 방전 출력 설정값에 대하여 충분한 유의차가 얻어지는 것을 알 수 있다.

1: 광학 필름의 제조 장치
3: 코로나 처리 장치
4: 검사 장치
40: CCD 카메라
40a: 제1 카메라(CCD 카메라)
40b: 제2 카메라(CCD 카메라)
100: 접합 시스템
106: 절단 장치
107: 회수 장치
108: 접합 장치
110: 판정 장치
P: 액정 패널(접합 대상물)
Fa: 미처리 필름(광학 필름)
Fb: 처리 완료된 필름(광학 필름)

Claims (3)

1. 광학 필름을 반송하는 반송 장치와,
   상기 광학 필름의 반송 경로 상에 배치되고, 상기 광학 필름의 반송 방향에 직교하는 상기 광학 필름의 폭 방향으로 코로나 방전을 발생시켜, 상기 광학 필름의 표면에 코로나 처리를 실시하는 코로나 처리 장치와,
   상기 코로나 방전에 의해 발해진 광의 광량을 상기 광학 필름의 폭 방향에 걸쳐 검사하는 검사 장치
   를 포함하는, 광학 필름의 제조 장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 검사 장치가 상기 코로나 방전에 의해 발해진 광을 수광하는 CCD 카메라를 포함하는, 광학 필름의 제조 장치.
3. 제1항 또는 제2항에 기재된 광학 필름의 제조 장치와,
   상기 코로나 방전에 의해 발해진 광의 광량이 소정의 범위 내에 포함되어 있는지의 여부를 판정하는 판정 장치와,
   상기 광학 필름의 제조 장치에 의해 제조된 광학 필름으로부터, 상기 판정 장치에 의해 상기 소정의 범위 내에 포함되어 있지 않다고 판정된 부분을 불량 부분으로서 분리하여, 상기 불량 부분이 존재하지 않는 광학 필름을 형성하는 절단 장치와,
   상기 불량 부분을 회수하는 회수 장치와,
   상기 절단 장치에 의해 형성된 상기 불량 부분이 존재하지 않는 광학 필름을 접합 대상물에 접합하는 접합 장치
   를 포함하는, 접합 시스템.

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