KR20150034791A - 내부 데이터 메모리를 포함하는 측정 변수 센서 - Google Patents

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KR20150034791A
KR20150034791A KR20157004273A KR20157004273A KR20150034791A KR 20150034791 A KR20150034791 A KR 20150034791A KR 20157004273 A KR20157004273 A KR 20157004273A KR 20157004273 A KR20157004273 A KR 20157004273A KR 20150034791 A KR20150034791 A KR 20150034791A
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마쿠스 할러
울리히 쿤켈
볼프강 빌
지크프리트 베쓸러
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호팅거 발트빈 메스테흐닉 게엠베하
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Abstract

본 발명은, 내부 데이터 메모리(32)를 포함한 측정 변수 센서(3), 이런 유형의 측정 변수 센서(3)를 위한 처리 장치(2), 및 상기 유형의 측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32) 내에 데이터를 저장하기 위한 방법에 관한 것이다. 내부 데이터 메모리(32)는 복수의 메모리 영역을 포함한다. 복수의 메모리 영역 중 2개 이상의 메모리 영역에는, 결정된 측정값 범위 내의 측정값들이 발생하는 빈도에 상응하는 계수 값이 각각 저장된다. 따라서 측정 변수 센서의 부하와 관련된 데이터가 측정 변수 센서 내에 직접 저장될 수 있고 차후 측정 변수 센서에 직접, 그리고 분명하게 할당될 수 있다. 그 결과, 데이터의 쉽게 조작할 수 없는 저장이 가능하며, 측정 변수 센서의 제조업체 또는 판매자는, 예컨대 최종 사용자에 의한 불평이 발생할 경우 측정 변수 센서가 과부하되었는지의 여부를 확인할 수 있다. 또한, 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 귀납적 추론도 가능하다.

Description

내부 데이터 메모리를 포함하는 측정 변수 센서{MEASUREMENT VARIABLE SENSOR HAVING INTERNAL DATA MEMORY}
본 발명은, 내부 데이터 메모리를 포함하는 측정 변수 센서, 이런 유형의 측정 변수 센서를 위한 처리 장치, 및 상기 유형의 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리 내에 데이터를 저장하기 위한 방법에 관한 것이다.
측정 변수 센서의 특성값들이 저장되는 데이터 메모리를 포함하는 측정 변수 센서는 공지되어 있다. 예컨대 DE 101 30 215 B4로부터는 데이터 메모리 모듈을 포함하는 측정 변수 센서가 공지되어 있다. 데이터 메모리 모듈에는, 여타의 경우 별도의 데이터 시트 또는 보정 프로토콜에 기록될 수도 있는 것과 같은 특성값들이 저장될 수 있다. 측정 변수 센서가 평가 장치와 연결된다면, 데이터 메모리 모듈 내에 저장된 특성값들은 평가 장치로 전달될 수 있다.
또한, 과거에는, 이른바 플러그 및 측정 기술을 구비한 측정 변수 센서를 장착하고자 하는 노력도 있었다. 상기 플러그 및 측정 기술은, 마우스와 같은 컴퓨터 액세서리를 컴퓨터에 연결하기 위해 이용되는 이른바 플러그 및 플레이 기술에 상응해야 한다. 그리고 측정 변수 센서를 위한 표준화된 전자 데이터 시트, 즉 이른바 트랜스듀서 전자 데이터 시트(TEDS) 내지 전자 센서 데이터 시트가 개발되었다. 상기 전자 데이터 시트는 표준 IEEE 1451.4에 기록되고 측정 변수 센서의 EEPROM에 저장될 수 있다. 전자 데이터 시트에는 예컨대 제조업체 데이터, 모델 번호, 일련번호, 측정 범위 및 측정 민감도, 그리고 보정 데이터가 포함될 수 있다.
데이터 메모리를 포함하는 공지된 측정 변수 센서의 경우 각각 정적 데이터(static data)가 데이터 메모리에 저장된다. 정적 데이터는 여타의 경우 별도의 데이터 시트에 기록된 특성값들과 동일한 기능을 충족시키며, 다시 말하면 측정 변수 센서의 식별 및 그 보정을 허용한다. 그러나 상기 유형의 데이터 메모리에 측정 변수 센서의 처리 데이터와 같은 동적 데이터도 저장하는 점은 공지되어 있지 않다.
측정 변수 센서 기술이 이용되는 적용 분야들의 경우, 부분적으로, 측정 변수 센서 내에 처리 데이터를 직접 저장해야 하는 필요성이 존재한다. 이는 기계 공학의 분야에, 그리고 똑같은 정도로 또 다른 기술 분야에도 적합하다.
측정 변수 센서 내에 처리 데이터를 직접 저장해야 하는 필요성은, 예컨대 측정 변수 센서의 제조업체에, 또는 (최종 사용자에 대한 직접 판매가 개시되지 않는 경우라면) 측정 변수 센서의 판매자에게 나타날 수 있다. 최종 사용자에게도 상기 유형의 필요성이 있을 수 있다.
그러므로 본 발명의 과제는, 측정 변수 센서의 작동이 진행되는 동안 발생하는 처리 데이터를 측정 변수 센서 내에 직접 저장할 수 있게 하는, 내부 데이터 메모리를 포함하는 측정 변수 센서, 이런 유형의 측정 변수 센서를 위한 처리 장치, 및 상기 유형의 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리 내에 데이터를 저장하기 위한 방법을 제공하는 것에 있다. 또한, 본 발명의 과제는, 데이터가 작동이 진행되는 동안, 그리고 측정 변수 센서가 이용되는 측정 장치로부터 측정 변수 센서를 분해한 후에도 판독될 수 있도록 하는 것에 있다.
상기 과제는, 청구항 제1항에 따른 방법, 청구항 제6항에 따른 처리 장치, 청구항 제11항에 따른 측정 변수 센서, 및 청구항 제16항에 따른 측정 시스템으로 해결된다.
본 발명의 제1 구성에 따라서, 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리 내에 데이터를 저장하기 위한 방법이 제공된다. 본원의 방법은, 측정 변수 센서의 측정값이 복수의 측정값 범위 중에서 어느 측정값 범위에 속하는지를 결정하는 단계와, 결정된 측정값 범위에 상응하는 계수 값을 사전 결정된 값만큼 변경하는 단계와, 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리의 복수의 메모리 영역 중 2개 이상의 메모리 영역에서 상응하는 메모리 영역에 변경된 계수 값을 저장하는 단계를 포함한다.
상기 단계들은 처리가 진행되는 동안 실행될 수 있다. 따라서 상기 단계들은 측정 변수 센서의 작동이 진행되는 동안 발생하는 처리 데이터, 요컨대 계수 값들을 측정 변수 센서 내에 직접 저장하는 것을 가능하게 한다.
측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리에 저장된 계수 값들은 측정 변수 센서에, 그리고 그에 따라 사용자에 직접 할당될 수 있다. 그 결과, 더 이상 혼동은 발생할 수 없다. 예컨대 측정 변수 센서의 제조 업체의 외부 연속 전자 장치 또는 글로벌 데이터 베이스에서처럼 측정 변수 센서 외부에서는 부가적인 메모리 가능성은 필요하지 않다. 따라서 상기 유형의 부가적인 메모리 가능성에 대한 비용이 절약될 수 있다. 또한, 계수 값들은 사용자에 의해 조작될 수 없는데, 그 이유는 내부 데이터 메모리 내 계수 값들의 기록이 특수한 기능에 의해서만 가능하고 사용자는 상기 계수 값들에 액세스하지 못하기 때문이다.
제1 구성을 기반으로 하는, 본 발명의 제2 구성에 따라서, 본원의 방법은 2개 이상의 메모리 영역에 저장된 계수 값들을 판독하는 단계와, 판독된 계수 값들을 처리 장치로 전달하는 단계를 포함한다.
계수 값들은 처리가 진행되는 동안, 그리고 측정 변수 센서가 이용되는 측정 장치로부터 측정 변수 센서를 분해한 후에도, 판독될 수 있다. 때에 따라, 처리 장치는 측정 장치에 속할 수 있거나, 예컨대 검사 또는 분석 장치의 부분일 수 있다. 따라서 측정 변수 센서의 사용자뿐만 아니라 제조업체 또는 판매자도 계수 값들을 판독할 수 있고 계수 값들의 분석에서 예컨대 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 귀납적 추론을 도출할 수 있다. 그 밖에도, 제조업체 또는 판매자는 사용자에 의한 측정 변수 센서의 부하 및 특히 과부하에 따라서 측정 변수 센서의 결함으로 인한 사용자의 보증 요청이 타당한지의 여부를 판단할 수 있다.
전술한 구성들 중 어느 한 구성을 기반으로 하는 본 발명의 제3 구성에 따라서, 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 추가의 측정값 범위들은 각각 제1 측정값 범위보다 더 큰 측정값에서 시작된다.
최대 허용 측정값을 상회하는 측정값들뿐만 아니라, 비록 최대 허용 측정값을 하회하지만, 전체 허용 측정 범위의 상단부에 위치하는 측정값들도, 전체 허용 측정 범위의 하단부 또는 그 중앙에 위치하는 측정값들보다, 측정 변수 센서의 사용 수명 및 측정 정밀도에 더 큰 영향을 미친다. 마찬가지로 상기 측정값들을 검출하면, 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 더 정밀한 귀납적 추론이 이루어질 수 있다.
전술한 구성들 중 어느 한 구성을 기반으로 하는 본 발명의 제4 구성에 따라서, 5개 이상의 측정값 범위와 그에 상응하는 메모리 영역들이 제공된다.
측정값 범위들의 더 섬세한 등급 설정을 통해, 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 귀납적 추론의 정밀도가 증진될 수 있다.
전술한 구성들 중 어느 한 구성을 기반으로 하는 본 발명의 제5 구성에 따라서, 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 75%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제4 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 110%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제5 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 120%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제6 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 130%에 달하는 측정값에서 시작된다.
이런 측정값 범위들의 특수한 구성에 의해, 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 특히 정밀한 귀납적 추론이 가능하다.
본 발명의 제6 구성에 따라서, 내부 데이터 메모리를 포함하는 측정 변수 센서를 위한 처리 장치가 제공된다. 처리 장치는 측정 변수 센서의 전기 측정 신호를 처리하고 상응하는 측정값을 생성하기 위한 처리 유닛과, 전기 신호들을 전달하기 위한 제1 전달 유닛을 포함한다. 처리 유닛은, 측정값이 복수의 측정값 범위 중에서 어느 측정값 범위에 속하는지를 결정하고, 결정된 측정값 범위에 상응하는 계수 값을 사전 결정된 값만큼 변경하며, 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리의 복수의 메모리 영역 중 2개 이상의 메모리 영역에서 상응하는 메모리 영역에 변경된 계수 값을 저장하도록 구성된다. 제1 전달 유닛은 변경된 계수 값을 측정 변수 센서로 전달하도록 구성된다.
이는, 측정 변수 센서의 작동이 진행되는 동안 발생하는 처리 데이터, 요컨대 계수 값들을 측정 변수 센서 내에 직접 저장하는 것을 가능하게 한다. 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리 내에 저장되는 계수 값들은 측정 변수 센서에, 그리고 그에 따라 사용자에 직접 할당될 수 있다. 그 결과, 더 이상 혼동이 발생할 수 없다. 그리고 예컨대 측정 변수 센서의 제조업체의 외부 연속 전자 장치 또는 글로벌 데이터 베이스에서처럼 측정 변수 센서의 외부에서는 부가적인 메모리 가능성이 필요하지 않다. 따라서 상기 유형의 부가적인 메모리 가능성에 대한 비용은 절약될 수 있다. 또한, 계수 값들은 사용자에 의해 조작될 수 없는데, 그 이유는 내부 데이터 메모리 내 계수 값들의 기록이 특수한 기능에 의해서만 가능하고 사용자는 상기 계수 값들에 액세스하지 못하기 때문이다.
제6 구성을 기반으로 하는 본 발명의 제7 구성에 따라서, 처리 유닛은, 2개 이상의 메모리 영역에 저장된 계수 값들을 판독하도록 구성된다. 제1 전달 유닛은 판독된 계수 값들을 수신하도록 구성된다.
계수 값들은 처리가 진행되는 동안, 그리고 측정 변수 센서가 이용되는 측정 장치로부터 측정 변수 센서를 분해한 후에도 판독될 수 있다. 따라서 측정 변수 센서의 사용자뿐만 아니라 제조업체 또는 판매자도 계수 값들을 판독할 수 있고 계수 값들의 분석에서 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 귀납적 추론을 도출할 수 있다. 그 밖에도, 제조업체 또는 판매자는 사용자에 의한 측정 변수 센서의 부하 및 특히 과부하에 따라서 측정 변수 센서의 결함으로 인한 사용자의 보증 요청이 타당한지의 여부를 판단할 수 있다.
제6 또는 제7 구성을 기반으로 하는 본 발명의 제8 구성에 따라서, 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 추가의 측정값 범위들은 각각 제1 측정값 범위보다 더 큰 측정값에서 시작된다.
최대 허용 측정값을 상회하는 측정값들뿐만 아니라, 비록 최대 허용 측정값을 하회하지만, 전체 허용 측정 범위의 상단부에 위치하는 측정값들도, 전체 허용 측정 범위의 하단부 또는 그 중앙에 위치하는 측정값들보다, 측정 변수 센서의 사용 수명 및 측정 정밀도에 더 큰 영향을 미친다. 마찬가지로 상기 측정값들을 검출하면 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 더 정밀한 귀납적 추론이 이루어질 수 있다.
제6 내지 제8 구성 중 어느 한 구성을 기반으로 하는 본 발명의 제9 구성에 따라서, 5개 이상의 측정값 범위와 그에 상응하는 메모리 영역들이 제공된다.
측정값 범위들의 더 섬세한 등급 설정을 통해, 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 귀납적 추론의 정밀도는 증진될 수 있다.
제6 내지 제9 구성 중 어느 한 구성을 기반으로 하는 본 발명의 제10 구성에 따라서, 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 75%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제4 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 110%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제5 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 120%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제6 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 130%에 달하는 측정값에서 시작된다.
이런 측정값 범위들의 특수한 구성에 의해, 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 특히 정밀한 귀납적 추론이 가능하다.
본 발명의 제11 구성에 따라서, 측정 변수 센서가 제공된다. 측정 변수 센서는, 물리적 변수의 값에 상응하는 전기 측정 신호를 생성하기 위한 센서 유닛과, 데이터를 저장하기 위한 내부 데이터 메모리를 포함한다. 내부 데이터 메모리는 복수의 메모리 영역을 포함하며, 복수의 메모리 영역 중 2개 이상의 메모리 영역에, 결정된 측정값 범위 내의 측정값들이 발생하는 빈도에 상응하는 계수 값을 각각 저장하도록 구성된다.
이는, 측정 변수 센서의 작동이 진행되는 동안 발생하는 처리 데이터, 요컨대 계수 값들을 측정 변수 센서 내에 직접 저장하는 것을 가능하게 한다. 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리 내에 저장되는 계수 값들은 측정 변수 센서에, 그리고 그에 따라 사용자에 직접 할당될 수 있다. 그 결과, 더 이상 혼동이 발생할 수 없다. 그리고 예컨대 측정 변수 센서의 제조업체의 외부 연속 전자 장치 또는 글로벌 데이터 베이스에서처럼 측정 변수 센서의 외부에서는 부가적인 메모리 가능성이 필요하지 않다. 따라서 상기 유형의 부가적인 메모리 가능성에 대한 비용은 절약될 수 있다. 또한, 계수 값들은 사용자에 의해 조작될 수 없는데, 그 이유는 내부 데이터 메모리 내 계수 값들의 기록이 특수한 기능에 의해서만 가능하고 사용자는 상기 계수 값들에 대해 액세스하지 못하기 때문이다.
제11 구성을 기반으로 하는 본 발명의 제12 구성에 따라서, 측정 변수 센서는 전기 신호들을 전달하기 위한 제2 전달 유닛을 포함하며, 이 제2 전달 유닛은 2개 이상의 메모리 영역 내에 저장된 계수 값들을 처리 장치로 전달하도록 구성된다.
계수 값들은 처리가 진행되는 동안, 그리고 측정 변수 센서가 이용되는 측정 장치로부터 측정 변수 센서를 분해한 후에도 판독될 수 있다. 따라서 측정 변수 센서의 사용자뿐만 아니라 제조업체 또는 판매자도 계수 값들을 판독할 수 있고 계수 값들의 분석에서 예컨대 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 귀납적 추론을 도출할 수 있다. 그 밖에도, 제조업체 또는 판매자는 사용자에 의한 측정 변수 센서의 부하 및 특히 과부하에 따라서 측정 변수 센서의 결함으로 인한 사용자의 보증 요청이 타당한지의 여부를 판단할 수 있다.
제11 또는 제12 구성을 기반으로 하는 본 발명의 제13 구성에 따라서, 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 추가의 측정값 범위들은 각각 제1 측정값 범위보다 더 큰 측정값에서 시작된다.
최대 허용 측정값을 상회하는 측정값들뿐만 아니라, 비록 최대 허용 측정값을 하회하지만, 전체 허용 측정 범위의 상단부에 위치하는 측정값들도, 전체 허용 측정 범위의 하단부 또는 그 중앙에 위치하는 측정값들보다, 측정 변수 센서의 사용 수명 및 측정 정밀도에 더 큰 영향을 미친다. 마찬가지로 상기 측정값들을 검출하면 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 더 정밀한 귀납적 추론이 이루어질 수 있다.
제11 내지 제13 구성 중 어느 한 구성을 기반으로 하는 본 발명의 제14 구성에 따라서, 5개 이상의 측정값 범위와 그에 상응하는 메모리 영역들이 제공된다.
측정값 범위들의 더 섬세한 등급 설정을 통해, 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 귀납적 추론의 정밀도는 증진될 수 있다.
제11 내지 제14 구성 중 어느 한 구성을 기반으로 하는 본 발명의 제15 구성에 따라서, 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 75%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제4 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 110%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제5 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 120%에 달하는 측정값에서 시작된다. 복수의 측정값 범위 중 제6 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 130%에 달하는 측정값에서 시작된다.
이런 측정값 범위들의 특수한 구성에 의해, 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 특히 정밀한 귀납적 추론이 가능하다.
본 발명의 제16 구성에 따라서, 제6 내지 제10 구성 중 어느 한 구성에 따르는 처리 장치와, 제11 내지 제15 구성 중 어느 한 구성에 따르는 측정 변수 센서를 포함하는 측정 시스템이 제공되며, 제1 내지 제5 구성 중 어느 한 구성에 따르는 방법이 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리에 액세스하기 위해 이용된다.
측정 시스템에 의해, 앞서 이미 그 부품들과 관련하여 기술한 장점들이 달성될 수 있다.
본 발명은 하기에서 개략적 도면과 결부하여 일 실시예에 따라서 더 상세히 설명된다.
도 1은 예시적인 측정 시스템의 블록 회로도이다.
도 2는 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리 내에 데이터를 저장하기 위한 예시적 방법의 기본적인 단계들을 도해로 나타낸 흐름도이다.
도 1에는, 예시적인 측정 시스템(1)의 블록 회로도가 도시되어 있다. 상기 측정 시스템은, 처리 장치(2)와, 센서로서도 지칭되는 측정 변수 센서(3)를 포함하며, 이 처리 장치 및 측정 변수 센서는 결선(4)을 통해 서로 연결된다. 처리 장치(2)는 처리 유닛(21)과 제1 전달 유닛(22)을 포함하고, 그에 반해 측정 변수 센서(3)는 센서 유닛(31)과 내부 데이터 메모리(32)와 제2 전달 유닛(33)을 포함한다.
처리 장치(2)는 예컨대 측정 증폭기, 컴퓨터 또는 또 다른 연속 전자 장치일 수 있다. 처리 장치(2)가 각각 어떻게 형성되는지에 따라서, 처리 유닛(21) 및 제1 전달 유닛(22)은 집적화 소자 또는 이산 소자들일 수 있다. 이런 유닛들은 예컨대 모두 측정 증폭기의 집적 회로의 부품으로서 실현될 수 있다. 처리 유닛(21) 및 제1 전달 유닛(22)이 각각 어떻게 실현되는지에 따라서, 도 1에서 그 두 유닛 사이에 상징적으로 도시된 결선은 추가 부재로서 존재할 수 있거나, 또는 존재하지 않을 수도 있다.
측정 변수 센서(3)는 수동 측정 변수 센서, 다시 말하면 신호 증폭이 없는 측정 변수 센서일 수 있다. 측정 변수 센서는 예컨대 힘 센서, 토크 센서, 압력 센서, 변위 센서, 변형률 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 임의의 또 다른 센서일 수 있다. 각각 어떤 측정 변수가 검출되어야 하는지에 따라서, 측정 변수 센서의 센서 유닛(31)은 물리적 또는 화학적 효과를 기반으로 목표하는 측정 변수를 검출하여 이 측정 변수를 부가 처리 가능한 변수로 변환하며, 이런 경우에 전기 측정 신호에 관계된다. 센서 유닛(31)은 예컨대 측정 변수를 전기 신호로 변환하기 위한 DMS(변형률 게이지)를 이용할 수 있다. 이 경우, DMS는 풀 브리지, 하프 브리지 또는 쿼터 브리지로서 스위칭되는 휘스톤 브리지(Wheatstone bridge) 내에 집적화될 수 있다. 예컨대 측정 변수 센서(3)는 압력 센서일 수 있고 자신의 센서 유닛(31)은 풀 브리지로서 스위칭되는 DMS를 구비할 수 있다.
측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32) 및 제2 전달 유닛(33)은 분리된 소자들일 수 있거나, 또는 상호 간에, 그리고/또는 센서 유닛(31)과 집적화될 수 있다. 센서 유닛(31), 내부 데이터 메모리(32) 및 제2 전달 유닛(33)이 각각 어떻게 실현되는지에 따라서, 도 1에서 센서 유닛과 내부 데이터 메모리와 제2 전달 유닛 사이에 상징적으로 도시된 결선들은 추가 부재들로서 존재할 수 있거나, 또는 존재하지 않을 수도 있다.
내부 데이터 메모리(32)는 여하히 이미 측정 변수 센서(3) 내에 존재하는 메모리일 수 있거나, 또는 특별히 제공되는 메모리일 수 있다. 첫 번째의 경우, 예컨대 표준 IEEE 1451.4에 따른 전자 데이터 시트, 또는 EEPROM, 또는 상기 전자 데이터 시트가 저장되어 있는 또 다른 메모리 매체가 내부 데이터 메모리(32)로서 이용될 수 있다. 달리 말하면, 내부 데이터 메모리(32)는 TEDS일 수 있거나, 또는 이 TEDS가 저장되어 있는 메모리 매체일 수 있다.
결선(4)으로서는 다양한 라인들이 고려된다. 센서 유닛(31)이 DMS를 기반으로 한다면, 센서 유닛(31) 또는 측정 변수 센서(3)는 예컨대 6-와이어 시스템으로 연결될 수 있고, 그에 따라 결선(4)은 6개의 와이어를 포함한 케이블로서 형성될 수 있다. 또한, 3-와이어 또는 4-와이어 시스템의 라인도 가능하다.
측정 모드 동안, 센서 유닛(31)을 통해 검출되는 측정 변수의 값에 상응하는 각각의 전기 신호는 제2 전달 유닛(33) 및 결선(4)을 경유하여 처리 장치(2)의 제1 전달 유닛(22)으로 전달된다. 처리 장치(2)의 처리 유닛(21)은 제1 전달 유닛(22)에 의해 수신되는 전기 측정 신호를 처리하여 그에 상응하는 측정값을 생성한다. 처리는 전기 측정 신호의 증폭을 포함할 수 있다.
이런 관점에서, 처리 유닛(21)은, 생성된 측정값이 복수의 측정값 범위 중에서 어느 측정값 범위에 속하는지를 결정하고, 결정된 측정값 범위에 상응하는 계수 값을 사전 결정된 값만큼 변경한다. 예컨대 계수 값은 1 또는 또 다른 값만큼 증가되거나 감소될 수 있다. 이 경우, 계수 값의 초깃값은 자유롭게 선택될 수 있다. 계수 값이 증가되면, 계수 값의 초깃값은 예컨대 영(0)으로 설정될 수 있다. 계수 값이 감소되면, 계수 값의 초깃값은 예컨대, 계수 값이 영(0)까지 감소되었다면, 이 계수 값이 측정 변수 센서(3)의 사용 수명의 기대되는 종점에 대한 기준점을 제공하는 방식으로 설정될 수 있다.
변경된 계수 값은 제1 전달 유닛(22) 및 결선(4)을 경유하여 제2 전달 유닛(33)으로 전달되고 측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32)의 상응하는 메모리 영역에 저장된다. 이 경우, 계수 값들의 저장을 위해 2개 이상의 측정값 범위와 내부 데이터 메모리(32)의 상응하는 메모리 영역들이 제공된다. 그 밖에도, 내부 데이터 메모리(32)는 여전히 또 다른 목적을 위한 추가의 메모리 영역들도 포함할 수 있다.
따라서 결정된 측정값 범위 내의 측정값들이 발생하는 각각의 빈도가 내부 데이터 메모리(32)의 상응하는 메모리 영역에 저장된다. 달리 말하면, 부하 듀티 사이클들(load duty cycle)이 측정 변수 센서(3) 내에 직접 저장되고 외부 메모리 매체에는 저장되지 않는다. 이 경우, 측정 변수 센서(3)는 수동 측정 변수 센서일 수 있으며, 다시 말하면 신호 증폭 및 이를 위해 제공되는 전자 유닛을 포함하지 않는 측정 변수 센서일 수 있다.
앞서 기술한 기능은 이미 처리 장치(2)를 제조할 때 제공될 수 있다. 그러나 상기 기능은 차후 시점에도 개장될 수 있다. 상기 기능은 예컨대 상응하는 기능을 통해 처리 장치(2)의 펌웨어에서 실현될 수 있으며, 상기 펌웨어는 차후 시점에도 입력되고 그에 따라 기능이 개장될 수 있다. 이 경우, 펌웨어는 예컨대 처리 장치(2)의 도 1에 도시되지 않은 EEPROM 내에 저장될 수 있다.
측정값 범위들 및 내부 데이터 메모리(32)의 상응하는 메모리 영역들은 원칙상 자유롭게 선택될 수 있다. 특별한 관심의 대상은, 비록 최대 허용 측정값을 하회하기는 하지만, 전체 허용 측정 범위의 상단부에 위치하는 측정값 범위들과, 최대 허용 측정값을 상회하는 측정값 범위들이다. 상기 유형의 측정값 범위들에 속하는 측정값들은 전체 허용 측정 범위의 하단부 또는 그 중앙에 위치하는 측정값들보다 측정 변수 센서(3)의 사용 수명 및 측정 정밀도에 더 큰 영향을 미친다. 예시적인 구성들은 하기와 같이 설명된다.
제1 구성의 경우, 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%, 55%, 60%, 65%, 70%, 75%, 80%, 85%, 90% 또는 95%에 달하는 측정값에서 시작된다. 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작된다. 제1 측정값 범위는 제2 측정값 범위의 시작점까지 연장될 수 있지만, 제2 측정값 범위까지 연장되거나 이를 넘어갈 수는 없다.
제2 구성에서, 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 85%에 달하는 측정값에서 시작된다. 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작된다. 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 115%에 달하는 측정값에서 시작된다. 제1 측정값 범위는 제2 측정값 범위의 시작점까지 연장될 수 있지만, 제2 측정값 범위까지 연장되거나 이를 넘어갈 수는 없다. 제2 측정값 범위는 제3 측정값 범위의 시작점까지 연장될 수 있지만, 제3 측정값 범위까지 연장되거나 이를 넘어갈 수는 없다.
제3 구성에서, 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 90%에 달하는 측정값에서 시작된다. 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작된다. 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 110%에 달하는 측정값에서 시작된다. 제4 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 120%에 달하는 측정값에서 시작된다. 제5 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 130%에 달하는 측정값에서 시작된다. 측정값 범위들 각각은 바로 후속하는 측정값 범위의 시작점까지 연장될 수 있지만, 그 후속하는 측정값 범위까지 연장되거나 이를 넘어갈 수는 없다.
다수의 추가 구성을 생각해볼 수 있다. 따라서 예컨대 상대적으로 더 큰 측정값 범위가 이용될 수 있다. 예컨대 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 75%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있고, 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있으며, 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 125%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있다. 또한, 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있고, 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 150%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있으며, 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 200%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있다.
또한, 상대적으로 더 작은 측정값 범위들도 이용될 수 있다. 예컨대 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 85%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있고, 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 90%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있으며, 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 95%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있고, 제4 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있으며, 제5 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 105%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있고, 제6 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 110%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있으며, 제7 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 115%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있 등과 같다.
또한, 모두 동일한 크기를 보유하지 않는 측정값 범위들도 이용될 수 있다. 따라서, 예컨대 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있고, 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 75%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있으며, 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있고, 제4 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 110%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있으며, 제5 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 120%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있고, 제6 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 130%에 달하는 측정값에서 시작될 수 있다. 그 밖에도, 제1 측정값 범위는, 예컨대 최대 허용 측정값의 10%에 달하는 측정값처럼 거의 상대적으로 더 작은 측정값에서도 시작될 수 있고, 그에 따라 예컨대 전체 허용 측정 범위가 충족될 수 있다.
앞서 언급한 측정값 범위들 또는 또 다른 측정값 범위들의 임의의 하위 조합들(sub-combination)도 생각해볼 수 있다. 또한, 측정값 범위들은, 예컨대 최대 허용 측정값의 91%에 달하는 측정값, 최대 허용 측정값의 102%에 달하는 측정값, 최대 허용 측정값의 108%에 달하는 측정값, 최대 허용 측정값의 133%에 달하는 측정값, 최대 허용 측정값의 220%에 달하는 측정값 등처럼 분명하게 언급되지 않는 값들에서도 시작될 수 있다.
다양한 구성들에서, 측정값 범위들 각각은 그때마다 바로 후속하는 측정값 범위의 시작점까지 연장될 수 있지만, 그 후속하는 측정값까지 연장되거나 이를 넘어갈 수 없다. 적합한 구성의 선택은 특정한 적용에서 기대되는 측정값들의 고려하에 수행될 수 있다. 적합한 구성은 원칙적으로 내부 데이터 메모리(32)의 크기, 또는 계수 값들의 저장을 위해 이용 가능한 내부 데이터 메모리(32)의 전체 메모리 영역의 크기를 통해서만 제한된다.
내부 데이터 메모리(32)의 다양한 메모리 영역들에 저장된 계수 값들은 필요에 따라 개별적으로, 또는 다 함께 판독될 수 있다. 이는 측정 변수 센서(3)의 작동이 진행되는 동안 측정 변수 센서의 사용자에게서 수행될 수 있다. 이런 경우에, 계수 값들은 제2 전달 유닛(33) 및 결선(4)을 경유하여 제1 전달 유닛(22)으로 전달될 수 있으며, 판독은 처리 유닛(21)에 의해 실행될 수 있다. 이 경우, 계수 값들의 전달은 전기 측정 신호들의 전달을 위해서도 이용되는 결선(4)의 와이어들를 통해 수행될 수 있다. 사용자는 판독된 계수 값들을 분석할 수 있고, 분석 결과들은 예컨대 측정 변수 센서(3)의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 귀납적 추론을 허용할 수 있다.
일반적으로 측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32) 내 계수 값들 또는 또 다른 데이터의 기록과, 내부 데이터 메모리에서 계수 값들 또는 또 다른 데이터의 판독 내지 상기 계수 값들 또는 또 다른 데이터의 전달은 다양한 전달 기술들에 의해 실현될 수 있다. 따라서 이 경우 결선(4)의 케이블 내 추가적인 와이어는 배제될 수 있다("제로 와이어"). 그러나 전달은 케이블 내 하나의 상기 유형의 추가적인 와이어["원 와이어(one wire)"]에 의해, 또는 무선["노-와이어(no-wire)"]으로도 수행될 수 있다. 무선은 예컨대 RFID 기술("무선 주파수 식별" 또는 "전자기파를 이용한 식별")에 의해 구현될 수 있다.
내부 데이터 메모리(32)의 다양한 메모리 영역들에 저장되는 계수 값들은 또한 측정 변수 센서가 이용되는 측정 장치에서 측정 변수 센서(3)를 분해한 후에도 판독될 수 있다. 예컨대 계수 값들은 측정 변수 센서(3)의 제조업체 또는 판매자의 경우 예컨대 검사 또는 분석 장치의 부분일 수 있는 상응하는 연속 전자 장치에 의해 판독될 수 있다. 그 다음, 제조업체 또는 판매자는, 예컨대 측정 변수 센서(3)가 그 사용자에 의해 어느 정도로 부하를 받았는지를 확인하기 위해, 판독된 계수 값들을 분석할 수 있다. 예컨대 최대 허용 측정값에 도달했거나, 이를 초과했는지의 여부, 이런 사항이 얼마만큼 발생했는지의 빈도, 그리고 그 초과한 정도의 크기가 결정될 수 있다.
제조업체 또는 판매자가 사용자에 의한 측정 변수 센서(3)의 부하 및 특히 과부하를 알아낸다면, 제조업체 또는 판매자는 상기 알아낸 결과들에 따라서 예컨대 측정 변수 센서(3)의 결함으로 인한 사용자의 보증 요청이 타당한지의 여부를 판단할 수 있다. 최대 허용 측정값이 초과되었다면, 보증 요청은 거부될 수도 있다.
또 다른 가능한 적용은, 측정 변수 센서(3)의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도를 추정하는 것에 있다. 이는 예컨대 관례대로 특정한 시간 간격으로 실행될 수도 있으며, 다시 말하면 측정 변수 센서(3)의 정기적인 유지보수가 제조업체 또는 판매자에게서 실행될 수도 있다. 부하 빈도는 측정 변수 센서(3)에 저장되지만, 개별 측정값들은 저장되지 않는 것을 통해, 저장 공간이 제한되는 경우에도 예컨대 5년 또는 10년과 같은 오랜 기간에 걸친 부하 데이터의 저장이 가능하다. 이런 유형의 장기간 저장은 예컨대 장기간 품질 관리의 경우 도움이 될 수 있다.
도 1에 도시되지 않은 제어 시스템과 처리 장치(2)의 연결을 위해, 다양한 버스 시스템들이 이용될 수 있다. 따라서 예컨대 프로피버스 DP("분산형 주변장치" 또는 "분산 주변장치"), CAN 버스("컨트롤러 영역 네트워크") 또는 또 다른 필드 버스가 이용될 수 있다. 이 경우, 측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32) 내 데이터의 기록과 내부 데이터 메모리에서 데이터의 판독은 다양한 액세스 방법들 및 메커니즘들을 통해 수행될 수 있다. 따라서 예컨대 프로피버스 DP로 DP-V1 기능(비순환식 데이터 교환) 또는 DP-V2 기능(아이소크론 데이터 교환)이 이용될 수 있으며, CAN 버스로는 CAN 기반 통신 프로토콜 CANopen으로 이루어진 SDO 기능성(서비스 데이터 객체)이 이용될 수 있다.
도 2에는, 측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32) 내에 데이터를 저장하기 위한 예시적 방법의 기본적인 단계들을 도해로 나타낸 흐름도가 도시되어 있다. 단계 S1에서, 측정 변수 센서(3)의 측정값이 복수의 측정값 범위 중에서 어느 측정값 범위에 속하는지가 결정된다. 단계 S2에서는, 결정된 측정값 범위에 상응하는 계수 값이 사전 결정된 값만큼 변경된다. 단계 S3에서는, 변경된 계수 값이 측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32)의 복수의 메모리 영역 중 2개 이상의 메모리 영역에서 상응하는 메모리 영역에 저장된다.
본원의 방법은 예컨대 2개 이상의 메모리 영역에 저장된 계수 값들을 판독하는 단계와 판독된 계수 값을 처리 장치로 전달하는 단계와 같이 도 2에 도시되지 않은 추가 단계들도 포함할 수 있다.
모든 상기 단계는 처리가 진행되는 동안, 다시 말하면 측정 모드 동안 실행될 수 있다. 이와 반대로 저장된 계수 값들의 이용은 대부분 진행되는 처리 이외의 시간에, 예컨대 서비스 또는 관리 동안 개시된다.
측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32)에 저장된 계수 값들은 측정 변수 센서(3)에, 그리고 그에 따라 각각의 사용자에 직접 할당될 수 있다. 그 결과, 더 이상 혼동은 발생할 수 없다. 예컨대 제조 업체의 외부 연속 전자 장치 또는 글로벌 데이터 베이스에서처럼 측정 변수 센서(3) 외부에서는 부가적인 메모리 가능성이 필요하지 않다. 따라서 상기 유형의 부가적인 메모리 가능성에 대한 비용이 절약될 수 있다. 또한, 계수 값들은 사용자에 의해 조작될 수 없는데, 그 이유는 내부 데이터 메모리 내(32) 계수 값들의 기록이 연속 전자 장치 내의 앞서 기술한 특수한 기능에 의해서만 가능하고 사용자는 상기 계수 값들에 액세스하지 못하기 때문이다.
요컨대 본 발명은, 내부 데이터 메모리(32)를 포함하는 측정 변수 센서(3), 이런 유형의 측정 변수 센서(3)를 위한 처리 장치(2), 및 상기 유형의 측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32) 내에 데이터를 저장하기 위한 방법에 관한 것이다. 내부 데이터 메모리(32)는 복수의 메모리 영역을 포함한다. 복수의 메모리 영역 중 2개 이상의 메모리 영역에는, 결정된 측정값 범위 내의 측정값들이 발생하는 빈도에 상응하는 계수 값이 각각 저장된다. 따라서 측정 변수 센서의 부하와 관련된 데이터는 측정 변수 센서 내에 직접 저장될 수 있고 차후 측정 변수 센서에 직접, 그리고 분명하게 할당될 수 있다. 그 결과, 데이터의 쉽게 조작할 수 없는 저장이 가능하며, 측정 변수 센서의 제조업체 또는 판매자는, 예컨대 최종 사용자에 의한 불평이 발생할 경우 측정 변수 센서가 과부하되었는지의 여부를 확인할 수 있다. 또한, 측정 변수 센서의 여전히 기대되는 사용 수명 및/또는 측정 정밀도에 대한 귀납적 추론도 가능하다.

Claims (16)

  1. 측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32) 내에 데이터를 저장하기 위한 방법이며,
    측정 변수 센서(3)의 측정값이 복수의 측정값 범위 중에서 어느 측정값 범위에 속하는지를 결정하는 단계(S1)와,
    결정된 측정값 범위에 상응하는 계수 값을 사전 결정된 값만큼 변경하는 단계(S2)와,
    측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32)의 복수의 메모리 영역 중 2개 이상의 메모리 영역에서 상응하는 메모리 영역에 변경된 계수 값을 저장하는 단계(S3)를 포함하는, 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리 내 데이터 저장 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 2개 이상의 메모리 영역에 저장된 계수 값들을 판독하는 단계와,
    판독된 계수 값들을 처리 장치(2)로 전달하는 단계를
    포함하는, 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리 내 데이터 저장 방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 추가의 측정값 범위들은 각각 제1 측정값 범위보다 더 큰 측정값에서 시작되는, 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리 내 데이터 저장 방법.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 5개 이상의 측정값 범위와 그에 상응하는 메모리 영역들이 제공되는, 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리 내 데이터 저장 방법.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 75%에 달하는 측정값에서 시작되며, 상기 복수의 측정값 범위 중 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 제4 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 110%에 달하는 측정값에서 시작되며, 상기 복수의 측정값 범위 중 제5 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 120%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 제6 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 130%에 달하는 측정값에서 시작되는, 측정 변수 센서의 내부 데이터 메모리 내 데이터 저장 방법.
  6. 내부 데이터 메모리(32)를 포함하는 측정 변수 센서(3)를 위한 처리 장치(2)이며,
    측정 변수 센서(3)의 전기 측정 신호를 처리하고 상응하는 측정값을 생성하기 위한 처리 유닛(21)과,
    전기 신호들을 전달하기 위한 제1 전달 유닛(22)을 포함하는, 측정 변수 센서용 상기 처리 장치에 있어서,
    상기 처리 유닛(21)은, 측정값이 복수의 측정값 범위 중에서 어느 측정값 범위에 속하는지를 결정하고, 결정된 측정값 범위에 상응하는 계수 값을 사전 결정된 값만큼 변경하며, 측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32)의 복수의 메모리 영역 중에서 2개 이상의 메모리 영역에서 상응하는 메모리 영역에 변경된 계수 값을 저장하도록 구성되며,
    상기 제1 전달 유닛(22)은, 상기 변경된 계수 값을 측정 변수 센서(3)로 전달하도록 구성되는, 측정 변수 센서용 처리 장치(2).
  7. 제6항에 있어서,
    처리 유닛(21)은, 상기 2개 이상의 메모리 영역에 저장된 계수 값들을 판독하도록 구성되며,
    제1 전달 유닛(22)은, 판독된 계수 값들을 수신하도록 구성되는, 측정 변수 센서용 처리 장치(2).
  8. 제6항 또는 제7항에 있어서,
    상기 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 추가의 측정값 범위들은 각각 제1 측정값 범위보다 더 큰 측정값에서 시작되는, 측정 변수 센서용 처리 장치(2).
  9. 제6항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 5개 이상의 측정값 범위와 그에 상응하는 메모리 영역들이 제공되는, 측정 변수 센서용 처리 장치(2).
  10. 제6항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 75%에 달하는 측정값에서 시작되며, 상기 복수의 측정값 범위 중 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 제4 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 110%에 달하는 측정값에서 시작되며, 상기 복수의 측정값 범위 중 제5 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 120%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 제6 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 130%에 달하는 측정값에서 시작되는, 측정 변수 센서용 처리 장치(2).
  11. 물리적 변수의 값에 상응하는 전기 측정 신호를 생성하기 위한 센서 유닛(31)과,
    데이터를 저장하기 위한 내부 데이터 메모리(32)를 포함하는, 측정 변수 센서(3)에 있어서,
    상기 내부 데이터 메모리(32)는 복수의 메모리 영역을 포함하며, 상기 복수의 메모리 영역 중 2개 이상의 메모리 영역에, 결정된 측정값 범위 내의 측정값들이 발생하는 빈도에 상응하는 계수 값을 각각 저장하도록 구성되는, 측정 변수 센서(3).
  12. 제11항에 있어서, 상기 2개 이상의 메모리 영역에 저장된 계수 값들을 처리 장치(2)로 전달하도록 구성되는, 전기 신호들을 전달하기 위한 제2 전달 유닛(33)을 포함하는, 측정 변수 센서(3).
  13. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 추가의 측정값 범위들은 각각 제1 측정값 범위보다 더 큰 측정값에서 시작되는, 측정 변수 센서(3).
  14. 제11항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서, 5개 이상의 측정값 범위와 그에 상응하는 메모리 영역들이 제공되는, 측정 변수 센서(3).
  15. 제11항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 복수의 측정값 범위 중 제1 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 50%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 제2 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 75%에 달하는 측정값에서 시작되며, 상기 복수의 측정값 범위 중 제3 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 100%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 제4 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 110%에 달하는 측정값에서 시작되며, 상기 복수의 측정값 범위 중 제5 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 120%에 달하는 측정값에서 시작되고, 상기 복수의 측정값 범위 중 제6 측정값 범위는 최대 허용 측정값의 130%에 달하는 측정값에서 시작되는, 측정 변수 센서(3).
  16. 제6항 내지 제10항 중 어느 한 항에 따른 처리 장치(2)와, 제11항 내지 제15항 중 어느 한 항에 따른 측정 변수 센서(3)를 포함하는 측정 시스템(1)에 있어서, 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 따른 방법이 측정 변수 센서(3)의 내부 데이터 메모리(32)에 액세스하기 위해 이용되는, 측정 시스템(1).
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