KR20150034373A - 점등 검사 장치 및 방법 - Google Patents

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KR20150034373A KR20130114370A KR20130114370A KR20150034373A KR 20150034373 A KR20150034373 A KR 20150034373A KR 20130114370 A KR20130114370 A KR 20130114370A KR 20130114370 A KR20130114370 A KR 20130114370A KR 20150034373 A KR20150034373 A KR 20150034373A
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Abstract

본 발명은 점등 검사 장치 및 방법에 관한 것으로서, 특히, 매 프레임별로 홀수번째 게이트 라인들 또는 짝수번째 게이트 라인들만을 턴온시키며, 데이터 라인들로 입력되는 데이터 전압들은 일정한 값으로 유지시킨 상태에서, 패널의 점등 검사를 실시할 수 있는, 점등 검사 장치 및 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다. 이를 위해, 본 발명에 따른 점등 검사 장치는, 테스트 박막트랜지스터들이 형성되어 있는 테스트부가 형성되어 있고 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널과 연결되며, 상기 패널로 테스트 신호를 전송하는 신호전송부; 상기 테스트부로 상기 테스트 신호를 전송하도록 하는 제어신호를 입력받는 입력부; 및 상기 제어신호가 입력되면, 상기 테스트부로 상기 테스트 신호가 전송되도록, 상기 신호전송부를 구동시키기 위한 제어부를 포함한다.

Description

점등 검사 장치 및 방법{LIGHT TESTING APPARATUS AND METHOD}
본 발명은 패널이 정상적으로 점등되고 있는지의 여부를 검사하는, 점등 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.
휴대전화, 테블릿PC, 노트북 등을 포함한 다양한 종류의 전자제품에는 평판표시장치(FPD : Flat Panel Display)가 이용되고 있다. 평판표시장치에는, 액정표시장치(LCD : Liquid Crystal Display), 플라즈마 디스플레이 패널(PDP : Plasma Display Panel), 유기발광표시장치(OLED : Organic Light Emitting Display Device) 등이 있으며, 최근에는 전기영동표시장치(EPD : ELECTROPHORETIC DISPLAY)도 널리 이용되고 있다.
평판표시장치(이하, 간단히 '표시장치'라 함)들 중에서, 액정표시장치는 양산화 기술, 구동 수단의 용이성, 고화질의 구현이라는 장점으로 인하여 현재 가장 널리 상용화되고 있다.
도 1은 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널의 예시도이다.
일반적인 패널의 경우, 하나의 게이트 라인에는, 상기 게이트 라인을 따라 일렬로 배치되어 있는 각 픽셀들이 전기적으로 연결되어 있다.
그러나, 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널에서는, 도 1에 도시된 바와 같이, 하나의 게이트 라인(G)이, 상기 게이트 라인의 상단부에 배치되어 있는 픽셀 및 상기 게이트 라인의 하단부에 배치되어 있는 픽셀과 전기적으로 연결되어 있다. 또한, 상기 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널에서는, 상기 게이트 라인을 따라 배치되어 있는 픽셀들 중 하나의 픽셀을 사이에 두고, 상기한 바와 같은 구조가 연속적으로 형성되어 있다.
따라서, 상기 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널에서는, 지그재그 형태로 픽셀들이 점등된다.
도 2는 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널에 형성되어 있는 테스트부를 나타낸 예시도이며, 도 3은 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널의 점등 검사 방법을 설명하기 위한 파형도이다.
상기 패널은, 영상이 표시되는 표시영역과, 영상이 표시되지 않는 비표시영역으로 구분될 수 있다.
상기 표시영역에는, 게이트 라인과 데이터 라인들이 교차하는 영역마다, 도 1에 도시된 바와 같은 픽셀들이 형성되어 있다.
상기 비표시영역 중, 상기 게이트 라인들 또는 상기 데이터 라인들 중 적어도 어느 하나를 구동하기 위한 드라이버IC가 장착되는 영역은 패드부라 한다.
상기 패드부는, 상기 드라이버IC의 입력단자들이 장착되는 입력패드들이 형성되어 있는 입력패드부, 상기 드라이버IC의 출력단자들이 장착되는 출력패드들이 형성되어 있는 출력패드부 및 상기 픽셀들의 불량여부 테스트를 위해, 상기 출력패드부와 연결되어 있는 테스트부(20)를 포함한다. 도 2는 상기 테스트부(20)의 일부분을 나타낸 예시도로서, 도 2에는, 상기 데이터 라인들과 연결되어 있는 상기 출력패드들로부터 연장되어 있는 테스트 라인(21)들 및 상기 테스트 라인(21)들로 R데이터 전압, G데이터 전압 및 B데이터 전압을 공급하기 위한 데이터 전압 공급라인(22)들이 도시되어 있다.
즉, 상기 테스트부(20)에는 R데이터 전압, G데이터 전압 및 B데이터 전압을 공급하기 위한 데이터 전압 공급라인(22)들이 형성되어 있으며, 하나의 데이터 전압 공급라인(22)에 연결되어 있는 테스트 라인(21)들 사이에는, 다섯 개의 또 다른 테스트 라인(21)들이 통과하고 있다.
부연하여 설명하면, 도 1에 도시된 바와 같은 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널에서는, 하나의 게이트 라인에 연결되어, 동시에 점등될 수 있는 동일한 색상의 픽셀들이, 다섯 개의 픽셀들을 사이에 두고 형성되어 있기 때문에, 상기 데이터 전압 공급라인(22)에 연결되어 있는 테스트 라인(21)들 역시, 다섯 개의 또 다른 테스트 라인(21)들을 사이에 두고 형성되어 있다.
상기한 바와 같이 구성되어 있는 패널에서, 상기 픽셀들의 점등 검사를 실행하는 방법을, 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다. 상기 점등 검사는, 예를 들어 레드픽셀들을 점등시키거나, 그린픽셀들을 점등시키거나 또는 블루픽셀들을 점등시키는 방법이 이용될 수 있으나, 이하에서는, 설명의 편의상, 레드픽셀들을 점등시키는 방법을 일예로 하여, 점등 검사 방법이 설명된다.
제1게이트 라인(G1)이 온된 상태에서는, 제4데이터 라인(D4)과 연결되어 있는 제4테스트 라인(T4)을 통해 R데이터 전압이 입력되어, 상기 제1게이트 라인(G1) 및 상기 제4데이터 라인(D4)과 연결되어 있는 R픽셀이 점등된다. 이 경우, 나머지 데이터 라인들과 연결되어 있는 테스트 라인들로 데이터 전압이 공급되더라도, 상기 나머지 데이터 라인들과 연결되어 있는 픽셀들은 점등되지 않는다.
제2게이트 라인(G2)이 온된 상태에서는, 제1데이터 라인(D1) 및 제7데이터 라인(D7)과 연결되어 있는 제1테스트 라인(T1) 및 제7테스트 라인(T7)을 통해 R데이터 전압이 입력되어, 상기 제2게이트 라인(G2) 및 상기 제1데이터 라인(D1)과 상기 제7데이터 라인(D7)에 의해 형성되는 R픽셀들이 점등된다. 이 경우, 나머지 데이터 라인들과 연결되어 있는 테스트 라인들로 데이터 전압이 공급되더라도, 상기 나머지 데이터 라인들과 연결되어 있는 픽셀들은 점등되지 않는다.
상기에서 설명된 원리를 이용하여, 제3게이트 라인(G3)이 온된 상태에서는, 제4테스트 라인(T4)을 통해 데이터 전압이 입력되고, 제4게이트 라인(G4)이 온된 상태에서는, 제7테스트 라인(T7)을 통해 데이터 전압이 입력되며, 제5게이트 라인(G5)이 온된 상태에서는, 제4테스트 라인(T4)을 통해 데이터 전압이 입력된다.
상기한 바와 같은 원리에 따라, 상기 게이트 라인의 턴온 상태와, 상기 데이터 라인들로 전송되는 데이터 전압의 상태를 나타내면 도 3에 도시된 바와 같다.
점검자는, 점등 검사 장치를 통해, 도 3에 도시된 바와 같은 데이터 전압을 각 데이터 라인의 턴온시마다, 상기 패널로 공급하면서, 상기 패널의 점등 상태를 모니터링하여, 상기 패널의 정상 동작 여부를 판단할 수 있다.
상기한 바와 같은 종래의 점등 검사 방법은 다음과 같은 문제점을 가지고 있다.
첫째, 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널의 특성 상, 점등 검사를 위해서는, 매 게이트 라인마다, 데이터 전압이 인버전(Inversion) 되어야 함으로, 검사 방법이 복잡해진다.
즉, 도 3에 도시된 바와 같이, 게이트 라인들(G1 to G4)이 순차적으로 턴온될 때마다, 각 데이터 라인들(D1 to D9)로 공급되는 데이터 전압은 인버전 되어야 한다. 따라서, 상기 데이터 전압을 공급하기 위한 점등 검사 장치의 구동 방법이 복잡해진다.
둘째, 도 2에 도시된 바와 같이, 다섯 개의 테스트 라인들을 사이에 두고, 하나의 데이터 전압 공급라인(22)에 연결되어 있는 테스트 라인(21)들은, 상기 데이터 전압 공급라인(22)을 통해 전기적으로 연결(Short)되어 있다. 따라서, 점등 검사를 마친 후, 상기 드라이버IC가 상기 패드부에 장착되기 전에, 상기 테스트 라인(21)들은, 도 2에 도시된 화살표 방향으로 레이저 트리밍(Laser Trimming)이 이루어져야 한다. 즉, 레이저 등을 이용하여, 상기 테스트 라인(21)들이 절단되어야 한다. 이에 따라, 표시장치의 제조 비용 및 제조기간이 증가된다.
즉, 상기 테스트 라인(21)들을 절단하기 위해서는, 별도의 절단 공정이 추가되어야 하고, 절단 장비가 구비되어야 하며, 표시장치의 제조기간이 증가된다.
셋째, 상기 테스트 라인(21)이 절단된 상태에서 제조가 완료된 표시장치의 구동 중, 상기 패널의 불량이 발생된 경우, 상기 패널의 구체적인 불량 여부를 판단하기 위해서는, 상기 점등 검사 공정에서와 동일한 방법이 수행되어야 한다.
그러나, 제조가 완료된 표시장치에 적용되는 패널에서는, 상기한 바와 같이, 상기 테스트 라인(21)들이 절단되어 있다.
따라서, 제조가 완료된 표시장치의 패널에서 불량이 발생된 경우에는, 상기 패널의 불량 판단을 위한 점등 검사가 불가능하다.
즉, 게이트 쉐어링(Gate Sharing)은, 하나의 게이트 라인(Gate Line)의 상하에 박막트랜지스터(Transistor)가 연결되어 있기 때문에, 하나의 데이터 라인(Data Line)이 하나의 컬러와만 연결되어 있지 않다. 따라서, 특정 패턴(Pattern), 예를 들어, 레드, 그린 또는 블루를 켜기 위해서는 각 게이트 라인들이 턴온될 때마다, 데이터 전압이 온/오프되어야 한다. 그러나, 종래의 점등 검사 장치(오토 프로브, Auto Probe Transistor)에서 발생된 데이터 전압은, 1H마다 On/Off를 반복할 경우 심각한 데이터 지연이 발생된다. 따라서, 게이트 쉐어링 구조에서는, 점등 검사 장치의 트랜지스터(Auto Probe Transistor)가 사용되지 못하고, 상기한 바와 같이, 레이저 트리밍(Laser Trimming) 방식의 점등 검사 방법이 이루어지고 있다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 매 프레임별로 홀수번째 게이트 라인들 또는 짝수번째 게이트 라인들만을 턴온시키며, 데이터 라인들로 입력되는 데이터 전압들은 일정한 값으로 유지시킨 상태에서, 패널의 점등 검사를 실시할 수 있는, 점등 검사 장치 및 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 점등 검사 장치는, 테스트 박막트랜지스터들이 형성되어 있는 테스트부가 형성되어 있고 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널과 연결되며, 상기 패널로 테스트 신호를 전송하는 신호전송부; 상기 테스트부로 상기 테스트 신호를 전송하도록 하는 제어신호를 입력받는 입력부; 및 상기 제어신호가 입력되면, 상기 테스트부로 상기 테스트 신호가 전송되도록, 상기 신호전송부를 구동시키기 위한 제어부를 포함한다.
상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 점등 검사 방법은, 테스트 박막트랜지스터들이 형성되어 있는 테스트부가 형성되어 있고 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널의, 표시영역에 형성되어 있는, 데이터 라인들과 연결되어 있는, 테스트 라인들로 데이터 전압을 공급하는 단계; 및 상기 패널의 상기 표시영역에 형성되어 있는 게이트 라인들에 순차적으로 테스트 스캔펄스를 공급하는 단계를 포함한다.
본 발명에 의하면, 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널의 적색패턴, 그린패턴 또는 블루패턴에 대한 점등 검사가 간편하게 수행될 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 점등 검사 후, 테스트 라인들이 절단될 필요가 없기 때문에, 표시장치의 제조 공정이 단순화되고, 표시장치의 제조기간이 단축될 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 점등 검사 후, 테스트 라인들이 절단될 필요가 없기 때문에, 표시장치의 제조가 완료된 후, 또는 표시장치가 사용되고 있는 중에 패널 불량이 발생된 경우에도, 상기 패널에 대한 점등 검사가 실행될 수 있다.
도 1은 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널의 예시도.
도 2는 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널에 형성되어 있는 테스트부를 나타낸 예시도.
도 3은 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널의 점등 검사 방법을 설명하기 위한 파형도.
도 4는 본 발명에 따른 점등 검사 장치를 이용하여 패널을 검사하는 방법을 나타낸 예시도.
도 5는 본 발명에 따른 점등 검사 장치를 이용하여 점등 검사가 실행되는 패널에 형성된 테스트부의 구성을 나타낸 예시도.
도 6 본 발명에 따른 점등 검사 방법에 의해 제2n+1프레임에서 패널이 점등되는 상태를 나타낸 예시도.
도 7은 본 발명에 따른 점등 검사 방법에 의해 제2n+2프레임에서 패널이 점등되는 상태를 나타낸 예시도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 대해 상세히 설명한다.
도 4는 본 발명에 따른 점등 검사 장치를 이용하여 패널을 검사하는 방법을 나타낸 예시도이다. 도 5는 본 발명에 따른 점등 검사 장치를 이용하여 점등 검사가 실행되는 패널에 형성된 테스트부의 구성을 나타낸 예시도로서, 도 4에 도시된 상기 테스트부(B)의 구성 중 일부를 나타낸 것이다.
본 발명에 따른 점등 검사 장치(500)에 의해 검사되는 패널(100)은, 표시영역(X)과 비표시영역(Z)으로 구분된다. 상기 표시영역(X)에는, 데이터 라인들 및 게이트 라인들의 교차 영역마다 픽셀이 형성되어 있다. 상기 비표시영역(Z) 중 패드부(Y)에는, 상기 패널(100)을 구동하기 위한 드라이버IC(미도시)가 장착된다. 상기 드라이버IC는, 도 4에 도시되어 있는 입력패드(IP)들로 형성되는 입력패드부와, 출력패드(OP)들로 형성되는 출력패드부에 장착된다. 도 4에서, C로 표시되어 있는 영역은 상기 드라이버IC가 장착되는 영역을 의미한다.
첫째, 상기 드라이버IC를 상세히 설명하면 다음과 같다.
상기 드라이버IC는, 상기 패널(100)에 형성되어 있는 데이터 라인들로 데이터 전압을 출력하며, 상기 게이트 라인들로 스켄펄스를 출력하기 위한 것으로서, 집적회로(IC)로 형성되어, 상기 패널(100)의 비표시영역 중 상기 패드부(Y)에 장착될 수 있다. 상기 드라이버IC는, 데이터 드라이버, 게이트 드라이버 및 타이밍 컨트롤러 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.
우선, 상기 데이터 드라이버는, 상기 타이밍 컨트롤러로부터 전송되어온 디지털 영상데이터를 데이터 전압으로 변환하여 상기 게이트 라인에 스캔펄스가 공급되는 1수평기간마다 1수평라인분의 상기 데이터 전압을 상기 데이터 라인들에 공급한다.
즉, 상기 데이터 드라이버는, 감마전압 발생부(도시하지 않음)로부터 공급되는 감마전압들을 이용하여, 상기 영상데이터를 상기 데이터 전압으로 변환시킨 후 상기 데이터 라인으로 출력시킨다. 이를 위해, 상기 데이터 드라이버는, 쉬프트 레지스터부, 래치부, 디지털 아날로그 변환부(DAC) 및 출력버퍼를 포함하고 있다.
상기 쉬프트 레지스터부는, 상기 타이밍 컨트롤러로부터 수신된 데이터 제어신호들(SSC, SSP 등)을 이용하여 샘플링 신호를 출력한다.
상기 래치부는 상기 타이밍 컨트롤러로부터 순차적으로 수신된 상기 디지털 영상데이터(Data)를 래치하고 있다가, 상기 디지털 아날로그 변환부(DAC)로 동시에 출력하는 기능을 수행한다.
상기 디지털 아날로그 변환부는 상기 래치부로부터 전송되어온 상기 영상데이터들을 동시에 정극성 또는 부극성의 데이터 전압으로 변환하여 출력한다. 즉, 상기 디지털 아날로그 변환부는, 상기 감마전압 발생부(도시하지 않음)로부터 공급되는 감마전압을 이용하여, 상기 타이밍 컨트롤러로부터 전송되어온 극성제어신호(POL)에 따라, 상기 영상데이터들을 정극성 또는 부극성의 데이터전압으로 변환하여 상기 데이터라인들로 출력한다. 이 경우, 상기 감마전압 발생부는 상기 입력전압(Vdd)을 이용하여 상기 영상데이터를 상기 데이터전압으로 변환시킨다.
상기 출력버퍼는 상기 디지털 아날로그 변환부로부터 전송되어온 정극성 또는 부극성의 데이터전압을, 상기 타이밍 컨트롤러로부터 전송되어온 소스출력인에이블신호(SOE)에 따라, 상기 패널의 데이터라인들(DL1 to DLd)로 출력한다.
다음, 상기 타이밍 컨트롤러는, 외부 시스템으로부터 입력되는 타이밍 신호, 즉, 수직동기신호(Vsync), 수평동기신호(Hsync) 및 데이터 인에이블 신호(DE) 등을 이용하여, 상기 게이트 드라이버의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 제어신호(GCS)와 상기 데이터 드라이버의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 제어신호(DCS)를 생성하며, 상기 데이터 드라이버로 전송될 영상데이터를 생성한다.
이를 위해, 상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 외부 시스템으로부터 입력영상데이터(Input Data) 및 타이밍 신호들을 수신하기 위한 수신부, 각종 제어신호들을 생성하기 위한 제어신호 생성부, 상기 입력영상데이터를 재정렬하여, 재정렬된 영상데이터(Data)를 출력하기 위한 데이터 정렬부 및 상기 제어신호들과 상기 영상데이터를 출력하기 위한 출력부를 포함한다.
즉, 상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 외부 시스템으로부터 입력되는 입력영상데이터(Input Data)를 상기 패널(100)의 구조 및 특성에 맞게 재정렬시켜, 재정렬된 상기 영상데이터를 상기 데이터 드라이버로 전송한다. 이러한 기능은, 상기 데이터 정렬부에서 실행될 수 있다.
상기 타이밍 컨트롤러는 상기 외부 시스템으로부터 전송되어온 타이밍 신호들, 즉, 수직동기신호(Vsync), 수평동기신호(Hsync) 및 데이터인에이블신호(DE) 등을 이용하여, 상기 데이터 드라이버를 제어하기 위한 데이터 제어신호(DCS) 및 상기 게이트 드라이버를 제어하기 위한 게이트 제어신호(GCS)를 생성하여, 상기 제어신호들을 상기 데이터 드라이버와 상기 게이트 드라이버로 전송하는 기능을 수행한다. 이러한 기능은, 상기 제어신호 생성부에서 실행될 수 있다.
상기 제어신호 생성부에서 발생되는 게이트 제어신호(GCS)들로는 게이트 스타트 펄스(GSP), 게이트 쉬프트 클럭(GSC), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE), 게이트 스타트신호(VST), 게이트 클럭(GCLK) 등이 있다.
상기 제어신호 생성부에서 발생되는 데이터 제어신호들에는 소스 스타트 펄스(SSP), 소스 쉬프트 클럭신호(SSC), 소스 출력 이네이블 신호(SOE), 극성제어신호(POL) 등이 포함된다.
마지막으로, 상기 게이트 드라이버는, 상기 타이밍 컨트롤러에서 생성된 게이트 제어신호(GCS)들을 이용하여, 상기 게이트라인들(GL1 내지 GLg) 각각에 순차적으로 스캔펄스를 공급한다.
여기서, 상기 스캔펄스는 상기 게이트 라인들에 연결되어 있는 스위칭용 박막트랜지스터들을 턴온시킬 수 있는 전압을 가지고 있다. 상기 스위칭용 박막트랜지스터를 턴오프시킬 수 있는 전압은 게이트오프신호라하며, 상기 스캔펄스와 상기 게이트오프신호를 총칭하여 스캔신호라 한다.
상기 박막트랜지스터가 N타입인 경우, 상기 스캔펄스는 하이레벨의 전압을 가지며, 상기 게이트오프신호는 로우레벨의 전압을 갖는다. 상기 박막트랜지스터가 P타입인 경우, 상기 스캔펄스는 로우레벨의 전압을 가지며, 상기 게이트오프신호는 하이레벨의 전압을 갖는다.
둘째, 상기 패널(100)의 전체적인 구성을 설명하면 다음과 같다.
상기 패널(100)은 대향 합착된 제1기판 및 제2기판을 포함한다.
우선, 상기 제1기판은 복수의 게이트 라인들과 복수의 데이터 라인들의 교차에 의해 정의되는 픽셀들로 형성되는 표시영역(X) 및 상기 표시영역(X)의 주변에 마련된 비표시영역(Z)을 포함한다.
상기 드라이버IC는 상기 비표시영역(Z) 중 특히 패드부(Y)에 형성되어 있는, 입력패드부와 출력패드부에 의해 정의되는 영역(C)에 장착된다. 상기 C영역은, 간단히 드라이버IC 장착영역이라 한다.
상기 복수의 픽셀들 각각은, 인접되어 있는 게이트 라인으로부터 공급되는 스캔펄스와, 인접되어 있는 데이터 라인으로부터 공급되는 데이터 전압에 따라 영상을 표시한다. 상기 픽셀은 적어도 하나의 박막트랜지스터를 포함하여 구성될 수 있다.
상기 패널(100)이 액정패널인 경우, 상기 픽셀은, 상기 데이터 전압에 따라 액정의 광투과율을 제어하여 영상을 표시할 수 있다. 상기 패널(100)이 유기발광패널인 경우, 상기 픽셀은, 상기 데이터 전압에 따른 전류에 비례하여 발광함으로써 영상을 표시할 수 있다. 상기한 바와 같은 기능을 수행하는 픽셀들 이외에도, 상기 픽셀은, 상기 패널(100)의 종류에 따라 다양한 형태로 형성될 수 있다.
다음, 상기 제2기판은, 상기 제1기판 중, 상기 비표시영역(Z)의 일부를 제외한 전체를 덮는다. 상기 패널(100)이 액정패널인 경우, 상기 제2기판에는 컬러 필터층이 형성될 수 있다. 상기 패널(100)이 유기발광패널인 경우, 상기 제2기판은 상기 제1기판을 밀봉시키는 봉지기판(인캡)의 기능을 수행할 수도 있다. 상기 제2기판 역시, 상기 패널(100)의 종류에 따라 다양한 형태로 형성될 수 있다.
마지막으로, 상기 제1기판에는, 상기 데이터 라인들과 상기 게이트 라인들이 교차하는 영역마다 픽셀들이 형성되어 있다.
상기 픽셀들 각각에 형성되어 있는 박막트랜지스터(TFT)는, 상기 게이트 라인으로부터 공급되는 상기 스캔펄스에 의해 턴온되어, 상기 데이터 라인으로부터 공급된 데이터 전압을 상기 픽셀에 형성되어 있는 픽셀전극으로 공급하거나, 또는 상기 픽셀에 형성되어 있는 유기발광다이오드를 발광시킨다.
즉, 상기 패널(100)은 상기 게이트 라인을 통해 공급되는 상기 스캔펄스와, 상기 데이터 라인을 통해 공급되는 상기 데이터 전압에 의해, 영상을 표시하는 것으로서, 다양한 형태로 형성될 수 있다. 또한, 상기 표시장치는 상기 패널(100)의 종류에 따라, 액정표시장치가 될 수도 있고, 유기발광표시장치가 될 수도 있고, 전기영동표시장치(EPD)가 될 수도 있다.
특히, 본 발명에 의해 점등 검사가 실행되는 상기 패널(100)은 게이트 쉐어링 구조를 가지고 있다. 상기 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널에서는, 하나의 게이트 라인(G)이, 상기 게이트 라인의 상단부에 배치되어 있는 픽셀 및 상기 게이트 라인의 하단부에 배치되어 있는 픽셀과 전기적으로 연결되어 있다. 또한, 상기 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널에서는, 상기 게이트 라인을 따라 배치되어 있는 픽셀들 중 하나의 픽셀을 사이에 두고, 상기한 바와 같은 구조가 연속적으로형성되어 있다. 따라서, 상기 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널에서는, 지그재그 형태로 픽셀들이 점등된다.
셋째, 도 4 및 도 5를 참조하여 상기 패드부(Y)의 구성을 설명하면 다음과 같다.
상기한 바와 같이, 상기 표시영역(X)에는, 게이트 라인과 데이터 라인(110)들이 교차하는 영역마다 픽셀들이 형성되어 있다.
상기 비표시영역 중, 상기 게이트 라인들 또는 상기 데이터 라인(110)들 중 적어도 어느 하나를 구동하기 위한 드라이버IC가 장착되는 영역은 패드부(Y)라 한다.
상기 패드부(Y)는, 상기 드라이버IC의 입력단자들이 장착되는 입력패드(IP)들이 형성되어 있는 입력패드부, 상기 드라이버IC의 출력단자들이 장착되는 출력패드(OP)들이 형성되어 있는 출력패드부, 상기 데이터 라인(110)들의 불량여부 테스트를 위해, 상기 출력패드(OP)들과 연결되어 있는 테스트부(B) 및 기판이 장착되며, 상기 입력패드(IP)들과 연결되어 있는 기판패드(BP)들이 형성되어 있는 기판패드부를 포함한다.
상기한 바와 같이 상기 패드부(Y)에는 상기 드라이버IC가 장착되며, 상기 드라이버IC로 각종 제어신호들을 전송하기 위한 구성들이 형성되어 있는 기판이 장착된다. 상기 기판으로는 일반적으로 플렉서블 인쇄회로기판(FPCB)이 이용된다.
상기 드라이버IC는 상기 비표시영역(Z) 중 특히 상기 패드부(Y)에 형성되어 있는, 입력패드부와 출력패드부에 의해 정의되는 드라이버IC 장착영역(C)에 장착된다.
상기 입력패드부는, 복수의 입력패드(IP)들을 포함한다.
상기 입력패드(IP)들은, 상기 기판이 장착되는 기판패드(BP)들과 연결되어 있다. 즉, 상기 기판으로부터 전송되어온 신호들은 상기 기판패드(BP)들과, 상기 입력패드(IP)들을 통해 상기 드라이버IC로 입력된다.
상기 출력패드부는, 복수의 출력패드(OP)들을 포함한다.
상기 기판으로부터 전송되어온 신호들은, 상기 기판패드(BP)들과, 상기 입력패드(IP)들을 통해 상기 드라이버IC로 입력되며, 상기 드라이버IC로 입력된 신호들은, 상기 출력패드(OP)들을 통해 상기 표시영역에 형성되어 있는 데이터 라인들 또는 상기 게이트 라인들로 전송된다.
즉, 상기 패드부(Y)가 형성되어 있는 상기 패널(100)이 제조되면, 상기 기판패드(BP)들에 기판이 장착되며, 상기 드라이버IC 장착영역(C)에 상기 드라이버IC가 장착되므로써, 액정표시장치가 제조된다.
한편, 상기 패널(100)의 제조 후, 상기 드라이버IC가 상기 패드부(Y)에 장착되기 전에, 상기 표시영역(X)에 형성되어 있는 상기 영상라인(110)들 및 상기 픽셀들이 정상적으로 구동되는지의 여부를 확인하기 위해, 상기 테스트부(B)를 통해 데이터 전압들이 상기 데이터 라인(110)들로 공급된다. 상기 데이터 전압들에 의해, 상기 표시영역에서 영상이 표시되며, 상기 표시영역에서 표시되는 영상을 모니터링하여, 상기 패널(100)의 정상 동작 여부가 판단된다.
상기 데이터 전압들을 상기 데이터 라인들로 공급하기 위해, 상기 테스트부(B)에는, 적어도 하나 이상의 테스트 게이트 라인(211)을 이용하여 복수의 테스트 박막트랜지스터(T)들이 형성된다.
또한, 도면에 도시되어 있지는 않지만, 상기 게이트 라인들로 테스트 스캔펄스를 공급하기 위한 패드는, 상기 테스트부(B) 또는 상기 비표시영역(Z)에 형성될 수 있다.
넷째, 도 4 및 도 5를 참조하여 상기 테스트부(B)의 구성을 상세히 설명하면 다음과 같다.
상기 테스트 박막트랜지스터(T)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 패널(100)을 형성하는 베이스 기판 상에 형성되는 상기 테스트 게이트 라인(211), 상기 테스트 게이트 라인(211) 상에 형성되어 상기 테스트 게이트 라인(211)을 커버하는 게이트 절연막(미도시), 상기 게이트 절연막 상에 형성되는 반도체층(212), 상기 출력패드(OP)와 연결되어 있는 상기 테스트 라인(213) 및 상기 패드부(Y)에 형성되어 있는 테스트단자(TT)와 연결되어 있는 데이터 전압 공급 라인(214)을 포함한다.
여기서, 상기 테스트 게이트 라인(211) 역시, 상기 테스트단자(TT)와 연결될 수 있다. 상기 테스트단자(TT)는 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 점등 검사 장치(500)와 연결된다.
이 경우, 상기 점등 검사 장치(500)는, 상기 테스트단자(TT)와 상기 데이터 전압 공급 라인(214)을 통해, 상기 패널(100)의 상기 표시영역(X)에 형성되어 있는 상기 데이터 라인(110)들과 연결되어 있는 상기 테스트 라인(213)들로 상기 데이터 전압을 공급한다.
또한, 상기 점등 검사 장치(500)는, 상기 테스트단자(TT)를 통해 상기 테스트 게이트 라인(211)으로, 상기 테스트 박막트랜지스터(T)를 턴온시킬 수 있는 게이트 신호를 공급한다.
또한, 상기 점등 검사 장치(500)는, 상기 테스트단자(TT) 또는 상기 비표시영역(Z)에 형성되어 있는 별도의 게이트단자를 통해, 상기 패널(100)의 상기 표시영역(X)에 형성되어 있는 상기 게이트 라인들에 순차적으로 테스트 스캔펄스를 공급할 수 있다.
즉, 상기 테스트단자(TT)는, 상기 테스트부(B)로 각종 신호들을 공급하기 위해 상기 패드부(Y)에 형성된 단자(Terminal)를 의미하는 것으로서, 상기 테스트단자(TT)에는 본 발명에 따른 점등 검사 장치가 연결될 수 있다. 그러나, 상기 점등 검사 장치가 상기 테스트단자(TT)에만 연결되는 것은 아니다. 즉, 상기 표시영역에 형성되어 있는 상기 게이트 라인들로 순차적으로 테스트 스캔펄스를 공급하기 위해, 상기 점등 검사 장치는, 상기 테스트단자(TT)에 연결될 수도 있으나, 또는, 상기 비표시영역에 형성되어 있는 게이트 단자들과 연결될 수도 있다.
상기 반도체층(212)에는, 상기 테스트단자(TT)와 연결되어 있는 상기 데이터 전압 공급 라인(214)과, 상기 출력패드(OP)와 연결되어 있는 상기 테스트 라인(213)이 형성되어 있다.
상기 테스트 라인(213) 및 상기 데이터 전압 공급 라인(214)은, 상기 테스트 박막트랜지스터(T)의 소스 전극 및 드레인 전극에 대응될 수 있다.
또한, 도 5에는 하나의 상기 테스트 게이트 라인(211)만이 형성되어 있으나, 상기 테스트부(B)에는 상기 테스트 게이트 라인(211)이 두 개 이상 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 테스트 입력라인(213)들 중 일부의 테스트 라인은, 도 5에 도시된 상기 테스트 게이트 라인(211)에 형성되어 있는 상기 테스트 박막트랜지스터(T)에 연결되며, 나머지 테스트 라인(213)들은 또 다른 테스트 게이트 라인(211)에 형성되어 있는 테스트 박막트랜지스터(T)와 연결된다.
또한, 도 5에는 R, G, B 세 개의 데이터 전압 공급라인(214)만이 도시되어 있으나, 상기 테스트부(B)에는 여섯 개의 상기 데이터 전압 공급라인(214)들이 형성될 수도 있다. 즉, R데이터 전압 공급라인, G데이터 전압 공급라인 및 B데이터 전압 공급라인이 각각 두 개씩 형성될 수도 있다.
다섯째, 상기 점등 검사 장치(500)의 구성을 설명하면 다음과 같다.
상기 패널(100)의 정상적인 점등 여부를 검사하기 위한 상기 점등 검사 장치(500)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 테스트 박막트랜지스터들이 형성되어 있는 테스트부(B)가 형성되어 있고 게이트 쉐어링 구조를 갖는 상기 패널(100)과 연결되며, 상기 패널(100)로 테스트 신호를 전송하는 신호전송부(510), 상기 테스트부(B)로 상기 테스트 신호를 전송하도록 하는 제어신호를 입력받는 입력부(530), 상기 제어신호가 입력되면, 상기 테스트부(B)로 상기 테스트 신호가 전송되도록, 상기 신호전송부(510)를 구동시키기 위한 제어부(520), 상기 테스트 신호와 관련된 정보를 저장하고 있는 저장부(540) 및 상기 점등 검사 장치(500)에서 실행되는 각종 동작에 대한 정보를 검사자가 확인할 수 있도록 하기 위한 출력부(550)를 포함한다.
상기 점등 검사 장치(500)의 구성 및 기능에 대하여는, 이하에서, 도 4 내지 도 7을 참조하여 상세히 설명된다.
도 6 본 발명에 따른 점등 검사 방법에 의해 제2n+1프레임에서 패널이 점등되는 상태를 나타낸 예시도이며, 도 7은 본 발명에 따른 점등 검사 방법에 의해 제2n+2프레임에서 패널이 점등되는 상태를 나타낸 예시도이다. 여기서, n은 0보다 크거나 같은 수이다.
상기한 바와 같이 본 발명에 따른 점등 검사 장치(500)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 신호전송부(510), 상기 입력부(530), 상기 제어부(520), 상기 저장부(540) 및 상기 출력부(550)를 포함한다.
본 발명에 따른 점등 검사 장치(500)는, 게이트 쉐어링 구조를 갖는 상기 패널(100)에 대한 점등 검사를 위하여, 상기 테스트부(B)에 형성되어 있는 테스트 박막트랜지스터(T)를 이용하여, 상기 데이터 라인(110)들로 점등 검사를 위한 데이터 전압을 공급할 수 있다.
특히, 본 발명에 따른 점등 검사 장치(500)는, 게이트 쉐어링 구조를 갖는 상기 패널(100)에 대한 점등 검사 시, 매 프레임(Frame)에서, 상기 게이트 라인을 온오프시킬 때마다, 상기 데이터 전압을 인버전(Inversion) 시킬 필요가 없다.
예를 들어, 본 발명에 따른 점등 검사 장치(500)는, 제1프레임에서는, 홀수번째 게이트 라인들로만 순차적으로 테스트 스캔펄스를 공급해 주고, 제2프레임에서는, 짝수번째 게이트 라인들로만 순차적으로 테스트 스캔펄스를 공급해 줄 수 있다.
이 경우, 상기 점등 검사 장치(500)는, 매 프레임 마다 상기 데이터 전압의 극성을 변경시킬 수 있다.
따라서, 본 발명에 의하면, 데이터 전압이 1프레임 동안, 지속적으로 온/오프될 필요가 없기 때문에, 지연이 발생하더라도, 각 프레임의 초기에만 발생될 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널의 적색패턴, 그린패턴 또는 블루패턴에 대한 점등 검사가 간편하게 수행될 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 점등 검사 후, 테스트 라인들이 절단될 필요가 없기 때문에, 표시장치의 제조 공정이 단순화되고, 표시장치의 제조기간이 단축될 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 점등 검사 후, 테스트 라인들이 절단될 필요가 없기 때문에, 표시장치의 제조가 완료된 후, 또는 표시장치가 사용되고 있는 중에 패널 불량이 발생된 경우에도, 상기 패널에 대한 점등 검사가 실행될 수 있다.
이를 위해, 상기 점등 검사 장치(500)의 상기 신호전송부(510)는, 매 프레임별로, 상기 패널(100)의 상기 표시영역(X)에 형성되어 있는, 홀수번째 게이트 라인들과 짝수번째 게이트 라인들로 번갈아 가며 상기 테스트 스캔펄스를 공급하며, 상기 패널(100)의 상기 표시영역(X)에 형성되어 있는 상기 데이터 라인(110)들과 연결되어 있는 상기 테스트 라인(213)들로 공급되는 상기 데이터 전압을, 프레임마다 변경시킬 수 있다.
즉, 상기 신호전송부(510)는, 상기 패널의 표시영역에 형성되어 있는 상기 데이터 라인(110)들과 연결되어 있는 상기 테스트 라인(213)들로 공급될 데이터 전압을 공급하며, 상기 패널의 표시영역에 형성되어 있는 게이트 라인들에 순차적으로 테스트 스캔펄스를 공급한다.
특히, 상기 신호전송부는, 상기 테스트 라인(213)들과 연결되어 있는 상기 테스트 박막트랜지스터(T)를 턴온시킬 수 있는 상기 게이트 신호를 상기 테스트 박막트랜지스터들로 공급할 수 있다.
보다 구체적으로 설명하면, 상기 신호전송부(510)는, 제2n+1프레임에서는 홀수번째 게이트 라인들에 순차적으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급하고, 제2n+2프레임에서는 짝수번째 게이트 라인들에 순차적으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급하며, 상기 제2n+1프레임에서는, 상기 테스트 라인(213)들 중 기 설정된 패턴에 대응되는 테스트 라인들로만 상기 데이터 전압을 전송하고, 상기 제2n+2프레임에서는, 상기 테스트 라인(213)들 중 상기 패턴에 대응되는 또 다른 테스트 라인들로만 상기 데이터 전압을 전송할 수 있다.
여기서, n은 0보다 크거나 같은 수이다. 또한, 상기 패턴이란, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 레드픽셀들만 점등시키는 패턴을 의미한다. 따라서, 상기 패턴은, 그린픽셀들만 점등시키는 패턴이 될 수도 있고, 블루픽셀들만 점등시키는 패턴이 될 수도 있다. 또한, 예를 들어, 레드픽셀들만 점등시키는 패턴을 이용하여 점등 검사가 실행되는 경우, 상기 패턴에 대응되는 테스트 라인들이란, 도 6에서는 제4데이터 라인(D4)과 연결되어 있는 제4테스트 라인을 의미하며, 도 7에서는 제1데이터 라인(D1) 및 제7데이터 라인(D7)과 연결되어 있는 제1테스트 라인 및 제7테스트 라인을 의미한다.
또한, 상기 신호전송부는, 매 프레임별로, 상기 게이트 라인을 따라 다섯 개의 픽셀들을 사이에 두고 이격되어 있는 픽셀들을 점등시키고 있다.
즉, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널에서는, 하나의 게이트 라인에 연결되어, 동시에 점등될 수 있는 동일한 색상의 픽셀들이, 다섯 개의 픽셀들을 사이에 두고 형성되어 있기 때문에, 상기 신호전송부(5100는, 매 프레임별로, 상기 게이트 라인을 따라 다섯 개의 픽셀들을 사이에 두고 이격되어 있는 픽셀들을 점등시킬 수 있도록, 상기 데이터 전압을 상기 테스트 라인(213)을 통해 상기 데이터 라인(110)으로 공급하고 있다.
예를 들어, 도 7에서는, 제1데이터 라인(D1)과 제2데이터 라인(D2) 사이에 형성되어 있는 제1픽셀들과, 제7데이터 라인(D7)과 제8데이터 라인(D8) 사이에 형성되어 있는 제7픽셀들 사이에 다섯 개의 픽셀들이 형성되어 있다. 따라서, 도 7에 도시되어 있지는 않지만, 제13데이터 라인과 제14데이터 라인 사이에 형성되어 있는 제13픽셀들도 점등된다.
마찬가지로, 도 6에서는 제4데이터 라인(D4)과 제5데이터 라인(D5) 사이에 형성되어 있는 제4픽셀들만 점등된 것으로 도시되어 있으나, 제10데이터 라인과 제11데이터 라인 사이에 형성되어 있는 제10픽셀들도 점등된다.
상기한 바와 같은 기능을 수행하는 상기 점등 검사 장치가, 상기 패널에 대한 점등 검사를 실행하는 방법을, 도 6 및 도 7을 참조하여 설명하면 다음과 같다. 상기 점등 검사는, 예를 들어 레드픽셀들을 점등시키거나, 그린픽셀들을 점등시키거나 또는 블루픽셀들을 점등시켜 패널의 정상 동작 여부를 검사할 수 있으나, 이하에서는, 설명의 편의상, 레드픽셀들을 점등시켜 패널의 정상 동작 여부를 검사하는 방법을 일예로 하여, 본 발명에 따른 점등 검사 방법이 설명된다.
본 발명에 따른 점등 검사 방법은, 상기 테스트 박막트랜지스터(T)들이 형성되어 있는 상기 테스트부(B)가 형성되어 있고 게이트 쉐어링 구조를 갖는 상기 패널(100)의, 상기 표시영역(X)에 형성되어 있는, 상기 데이터 라인들과 연결되어 있는, 상기 테스트 라인(213)들로 데이터 전압을 공급하는 단계 및 상기 패널(100)의 상기 표시영역에 형성되어 있는 게이트 라인들에 순차적으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급하는 단계를 포함한다.
여기서, 상기 테스트 라인들로 상기 데이터 전압을 공급하는 단계는, 상기 테스트 라인들과 연결되어 있는 상기 테스트 박막트랜지스터(T)를 턴온시켜, 상기 데이터 전압을 상기 테스트 라인들로 공급하는 것을 특징으로 한다. 즉, 상기 테스트 라인(213)들로 상기 데이터 전압을 공급하기 위해서, 우선, 상기 점등 검사 장치(500)는, 적색 데이터 전압을 공급하는 상기 데이터 전압 공급라인을 통해, 적색 데이터 전압을 상기 테스트 박막트랜지스터(T)로 공급한다. 이 경우, 상기 점등 검사 장치(500)는, 상기 테스트 박막트랜지스터(T)를 턴온시킬 수 있는 게이트 신호를 상기 게이트 라인(211)으로 공급한다. 상기 테스트 박막트랜지스터(T)가 턴온됨에 따라, 상기 적색 데이터 전압이 상기 테스트 라인(213)을 통해 상기 데이터 라인(110)으로 공급된다.
또한, 상기 게이트 라인들에 순차적으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급하는 단계는, 제2n+1프레임에서는 홀수번째 게이트 라인들에 순차적으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급하고, 제2n+2프레임에서는 짝수번째 게이트 라인들에 순차적으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급한다. 또한, 상기 테스트 라인들로 상기 데이터 전압을 공급하는 단계는, 상기 제2n+1프레임에서는, 상기 테스트 라인들 중 기 설정된 패턴에 대응되는 테스트 라인들로만 상기 데이터 전압을 전송하고, 상기 제2n+2프레임에서는, 상기 테스트 라인들 중 상기 패턴에 대응되는 또 다른 테스트 라인들로만 상기 데이터 전압을 전송한다.
즉, 상기한 바와 같이, 상기 점등 검사 장치가 레드픽셀들을 점등시켜, 상기 패널(100)의 점등 상태를 검사한다고 할 때, 상기 점등 검사 장치는, 제2n+1프레임에서는, 도 6의 (b)에 도시된 바와 같이, 홀수번째 게이트 라인들(G1, G3, G5)에만 상기 테스트 스캔펄스를 공급하여, 홀수번째 게이트 라인들만 순차적으로 턴온시킨다. 따라서, 짝수번째 게이트 라인들(G2, G4)은 제2n+1프레임 동안에는 오프상태가 된다.
또한, 제2n+2프레임에서는, 도 7의 (b)에 도시된 바와 같이, 짝수번째 게이트 라인들(G2, G4)에만 상기 테스트 스캔펄스를 공급하여, 짝수번째 게이트 라인들만 순차적으로 턴온시킨다. 따라서, 홀수번째 게이트 라인들(G1, G3, G5)은 제2n+2프레임 동안에는 오프상태가 된다.
이 경우, 상기 점등 검사 장치는, 상기 제2n+1프레임에서는, 상기 테스트 라인들 중 기 설정된 패턴에 대응되는 테스트 라인들로만 상기 데이터 전압을 전송한다.
즉, 상기 점등 검사 장치는, 제2n+1프레임에서는, 상기 제4데이터 라인(D4)과 상기 제5데이터 라인(D5) 사이에 형성되는 제4픽셀들만 점등될 수 있도록, 상기 제4데이터 라인 및 상기 제5데이터 라인과 연결되어 있는 제4테스트 라인 및 제5테스트 라인으로만 상기 데이터 전압을 전송한다.
따라서, 제2n+1프레임에서는, 도 6의 (a)에 도시된 바와 같이, 상기 4픽셀들만이 점등된다. 이 경우, 도 6의 (b)에 도시된 바와 같이, 상기 제4데이터 라인(D4) 및 제5데이터 라인(D5)을 통해서는, 상기 제2n+1프레임 동안 지속적으로 데이터 전압이 공급되며, 나머지 데이터 라인들로는 상기 데이터 전압이 공급되지 않는다. 즉, 상기 데이터 라인들로 공급되는 데이터 전압은 제2n+1프레임 동안 일정한 레벨로 지속된다.
마찬가지로, 상기 점등 검사 장치는, 제2n+2프레임에서는, 상기 제1데이터 라인(D1)과 상기 제2데이터 라인(D2) 사이에 형성되어 있는 제1픽셀들 및, 상기 제7데이터 라인(D7)과 상기 제8데이터 라인(D8) 사이에 형성되어 있는 제7픽셀들만 점등될 수 있도록, 상기 제1데이터 라인, 상기 제2데이터 라인, 상기 제7데이터 라인, 상기 제8데이터 라인과 연결되어 있는 제1테스트 라인, 제2테스트 라인, 제7테스트 라인, 제8테스트 라인으로만 상기 데이터 전압을 전송한다.
따라서, 제2n+2프레임에서는, 도 7의 (a)에 도시된 바와 같이, 제1픽셀들 및 제7픽셀들만이 점등된다. 이 경우, 도 7의 (b)에 도시된 바와 같이, 상기 제1데이터 라인(D1), 상기 제2데이터 라인(D2), 상기 제7데이터 라인(D7), 상기 제8데이터 라인(D8)을 통해서는, 상기 제2n+2프레임 동안 지속적으로 데이터 전압이 공급되며, 나머지 데이터 라인들로는 상기 데이터 전압이 공급되지 않는다. 즉, 상기 데이터 라인들로 공급되는 데이터 전압은 제2n+2프레임 동안 일정한 레벨로 지속된다.
또한, 상기 점등 검사 장치는, 상기에서 설명된 바와 같이, 매 프레임별로, 상기 게이트 라인을 따라 다섯 개의 픽셀들을 사이에 두고 이격되어 있는 픽셀들이 점등되도록 상기 데이터 전압을 공급하고 있다.
한편, 상기한 바와 같은 본 발명에 의하면, 도 6의 (b) 및 도 7의 (b)에 도시된 바와 같이, 각 프레임의 초기에 데이터 전압의 지연이 발생될 수 있다. 이러한 데이터 전압의 지연은, 상기 지연에 대응되는 만큼 상기 테스트 스캔펄스를 지연시켜 상기 게이트 라인들로 공급하는 것에 의해 해결될 수 있다. 예를 들어, 도 6의 (b)에서 상기 제1데이터 라인(D1)으로 공급되는 데이터 전압이 정상적인 값을 갖은 상태가 된 이후에, 상기 제1게이트 라인(G1)으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급하면, 제2n+1프레임의 초기에 지연이 발생되지 않는다.
본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.　 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
100 : 패널 B : 테스트부
C : 드라이버IC 장착영역 X : 표시영역
Z : 비표시영역 Y : 패드부
110 : 데이터 라인 213 : 테스트 입력라인

Claims (10)

  1. 테스트 박막트랜지스터들이 형성되어 있는 테스트부가 형성되어 있고 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널과 연결되며, 상기 패널로 테스트 신호를 전송하는 신호전송부;
    상기 테스트부로 상기 테스트 신호를 전송하도록 하는 제어신호를 입력받는 입력부; 및
    상기 제어신호가 입력되면, 상기 테스트부로 상기 테스트 신호가 전송되도록, 상기 신호전송부를 구동시키기 위한 제어부를 포함하는 점등 검사 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호전송부는,
    매 프레임별로, 상기 패널의 표시영역에 형성되어 있는, 홀수번째 게이트 라인들과 짝수번째 게이트 라인들로 번갈아 가며 테스트 스캔펄스를 공급하며,
    상기 패널의 표시영역에 형성되어 있는 데이터 라인들과 연결되어 있는 상기 테스트 라인들로 공급되는 상기 데이터 전압을, 프레임마다 변경시키는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호전송부는,
    상기 패널의 표시영역에 형성되어 있는 데이터 라인들과 연결되어 있는 테스트 라인들로 공급될 데이터 전압을 공급하며,
    상기 패널의 표시영역에 형성되어 있는 게이트 라인들에 순차적으로 테스트 스캔펄스를 공급하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 신호전송부는,
    상기 테스트 라인들과 연결되어 있는 상기 테스트 박막트랜지스터를 턴온시킬 수 있는 게이트 신호를 상기 테스트 박막트랜지스터들로 공급하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  5. 제 3 항에 있어서,
    상기 신호전송부는,
    제2n+1프레임에서는 홀수번째 게이트 라인들에 순차적으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급하고, 제2n+2프레임에서는 짝수번째 게이트 라인들에 순차적으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급하며,
    상기 제2n+1프레임에서는, 상기 테스트 라인들 중 기 설정된 패턴에 대응되는 테스트 라인들로만 상기 데이터 전압을 전송하고, 상기 제2n+2프레임에서는, 상기 테스트 라인들 중 상기 패턴에 대응되는 또 다른 테스트 라인들로만 상기 데이터 전압을 전송하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 신호전송부는,
    매 프레임별로, 상기 게이트 라인을 따라 다섯 개의 픽셀들을 사이에 두고 이격되어 있는 픽셀들을 점등시키는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  7. 테스트 박막트랜지스터들이 형성되어 있는 테스트부가 형성되어 있고 게이트 쉐어링 구조를 갖는 패널의, 표시영역에 형성되어 있는, 데이터 라인들과 연결되어 있는, 테스트 라인들로 데이터 전압을 공급하는 단계; 및
    상기 패널의 상기 표시영역에 형성되어 있는 게이트 라인들에 순차적으로 테스트 스캔펄스를 공급하는 단계를 포함하는 점등 검사 방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 테스트 라인들로 상기 데이터 전압을 공급하는 단계는,
    상기 테스트 라인들과 연결되어 있는 상기 테스트 박막트랜지스터를 턴온시켜, 상기 데이터 전압을 상기 테스트 라인들로 공급하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 방법.
  9. 제 7 항에 있어서,
    상기 게이트 라인들에 순차적으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급하는 단계는,
    제2n+1프레임에서는 홀수번째 게이트 라인들에 순차적으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급하고, 제2n+2프레임에서는 짝수번째 게이트 라인들에 순차적으로 상기 테스트 스캔펄스를 공급하며,
    상기 테스트 라인들로 상기 데이터 전압을 공급하는 단계는,
    상기 제2n+1프레임에서는, 상기 테스트 라인들 중 기 설정된 패턴에 대응되는 테스트 라인들로만 상기 데이터 전압을 전송하고, 상기 제2n+2프레임에서는, 상기 테스트 라인들 중 상기 패턴에 대응되는 또 다른 테스트 라인들로만 상기 데이터 전압을 전송하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 테스트 라인들로 상기 데이터 전압을 공급하는 단계는,
    매 프레임별로, 상기 게이트 라인을 따라 다섯 개의 픽셀들을 사이에 두고 이격되어 있는 픽셀들이 점등되도록 상기 데이터 전압을 공급하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
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CN109448616A (zh) * 2018-12-21 2019-03-08 厦门天马微电子有限公司 显示面板及显示装置

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