KR20150027906A - Organic electro luminescent display device, and display panel and driving method thereof - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to an organic electroluminescent display device, a display panel, and a driving method thereof. Each pixel is defined by the intersection of a data line and a gate line. The each pixel includes: an organic light emitting diode, a driving transistor for driving the organic light emitting diode, a first transistor which is controlled by a scan signal supplied from the gate line and is connected between a first node of the driving transistor and a reference voltage line or a connection pattern which is connected to the reference voltage line, a second transistor which is controlled by the scan signal commonly supplied from the gate line and is connected between the data line and a second node of the driving transistor, and a capacitor which is connected between the first node and the second node of the driving transistor.

Description

유기전계발광 표시장치와, 그 표시패널 및 구동방법{ORGANIC ELECTRO LUMINESCENT DISPLAY DEVICE, AND DISPLAY PANEL AND DRIVING METHOD THEREOF}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an organic electroluminescence display, an organic electroluminescent display device, a display panel,

본 발명은 유기전계발광 표시장치와, 그 표시패널 및 구동방법에 관한 것이다. The present invention relates to an organic light emitting display, a display panel, and a driving method thereof.

최근, 표시장치로서 각광받고 있는 유기전계발광 표시장치는 스스로 발광하는 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 이용함으로써 응답속도가 빠르고, 발광효율, 휘도 및 시야각 등이 큰 장점이 있다. 2. Description of the Related Art In recent years, an organic light emitting display device that has been spotlighted as a display device has advantages of high response speed, high luminous efficiency, high brightness, and a wide viewing angle by using an organic light emitting diode (OLED)

이러한 유기전계발광 표시장치는 유기발광다이오드가 포함된 화소를 매트릭스 형태로 배열하고 스캔신호에 의해 선택된 화소들의 밝기를 데이터의 계조에 따라 제어한다. Such an organic light emitting display device arranges pixels including organic light emitting diodes in a matrix form and controls the brightness of the pixels selected by the scan signals according to the gradation of the data.

이러한 유기전계발광 표시장치의 각 화소는 유기발광다이오드 이외에도, 서로 교차하는 데이터 라인 및 게이트 라인과 이와 연결 구조를 갖는 트랜지스터 및 스토리지 캐패시터 등으로 이루어져 있다. Each pixel of the organic light emitting display device includes, in addition to the organic light emitting diode, a data line and a gate line intersecting with each other, and a transistor and a storage capacitor having a connection structure.

이러한 각 화소는, 각종 기능을 더 수행하기 위하여, 그에 맞는 트랜지스터를 더 포함할 수 있으며, 이로 인해, 트랜지스터들로 각종 신호를 공급하기 위한 신호 라인이 더 많아지고, 화소 구조도 복잡해질 수밖에 없다. 예를 들어, 화소 간의 휘도 불균일성을 보상하기 위한 내부 또는 외부 보상 회로가 화소 구조에 적용되는 경우, 보상을 위한 센싱 동작에 관여하는 트랜지스터가 추가되어야 하고, 이는 필요한 신호 라인의 수를 증가시키고 화소 구조를 복잡하게 하는 요인이 된다. Each of these pixels may further include a transistor suitable for performing various functions, thereby increasing the number of signal lines for supplying various signals to the transistors and also complicating the pixel structure. For example, when an internal or external compensation circuit for compensating the luminance non-uniformity between pixels is applied to the pixel structure, a transistor involved in the sensing operation for compensation must be added, which increases the number of required signal lines, As shown in FIG.

또한, 대면적 또는 고해상도에 대한 요구 증대에 따라, 신호라인의 수도 그만큼 많아질 수 밖에 없으며 화소 구조도 더 복잡해지고 있는 실정이다. Also, as the demand for a large area or a high resolution increases, the number of signal lines must be increased to such a large extent, and the pixel structure becomes more complicated.

전술한 바와 같이, 센싱 및 보상 기능 등의 각종 기능의 추가, 대면적 또는 고해상도 등의 요구 증대 등으로 인해, 신호라인의 수가 증가하고 이로 인해 IC 패드 및 IC의 수도 그 만큼 많아질 수밖에 없으며, 화소 구조도 더욱 복잡해질 수 밖에 없다. As described above, the number of signal lines increases due to addition of various functions such as sensing and compensating functions, increase in demand for a large area or a high resolution, and the number of IC pads and ICs accordingly increases. The structure also becomes more complicated.

이는, 제조를 어렵게 하고 결함 발생 확률을 높이는 것은 물론, 개구율을 현저히 떨어뜨리고, 유기발광다이오드의 수명도 상당히 단축시킬 수 있는 문제점을 초래할 수 있다. 궁극적으로는, 양질의 표시패널을 얻을 수 없도록 하여 수율을 감소시키는 문제점을 발생시킨다. This may cause difficulties in manufacturing, increase the probability of occurrence of defects, significantly lower the aperture ratio, and shorten the lifetime of the organic light emitting diode. Ultimately, the quality of the display panel can not be obtained and the yield is reduced.

이러한 배경에서, 본 발명의 목적은, 간단하고 컴팩트(Compact) 한 구조를 갖는 표시패널과 이를 포함하는 유기전계발광 표시장치를 제공하는 데 있다. In view of the foregoing, it is an object of the present invention to provide a display panel having a simple and compact structure and an organic light emitting display device including the same.

본 발명의 다른 목적은, 개구율을 높여주고, 발광다이오드의 수명을 길게 해주며, 결함 발생 확률도 낮추어줄 수 있도록 하는 화소 구조를 갖는 표시패널과 이를 포함하는 유기전계발광 표시장치를 제공하는 데 있다. Another object of the present invention is to provide a display panel having a pixel structure for increasing the aperture ratio, lengthening the life of the light emitting diode, and lowering the probability of occurrence of defects, and an organic light emitting display device including the display panel .

본 발명의 또 다른 목적은, 화소 구조가 대칭이 되도록 설계하여 간단하고 컴팩트(Compact) 한 구조를 갖는 표시패널과 이를 포함하는 유기전계발광 표시장치를 제공하는 데 있다. Still another object of the present invention is to provide a display panel having a simple and compact structure by designing the pixel structure to be symmetrical, and an organic light emitting display device including the same.

본 발명의 또 다른 목적은, 화소 간의 휘도 편차를 보상해주기 위한 효율적인 센싱 및 보상 기능을 제공함에 있어서, 간단하고 컴팩트 한 화소 구조에 맞는 센싱 및 보상 기능을 갖는 유기전계발광 표시장치와 그 구동 방법을 제공하는 데 있다. It is still another object of the present invention to provide an organic light emitting display device having a sensing and compensation function for a simple and compact pixel structure and a driving method thereof for providing an efficient sensing and compensation function for compensating a luminance deviation between pixels .

전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 측면에서, 본 발명은, 데이터 라인과 게이트 라인의 교차 영역마다 배치되는 다수의 화소를 포함하는 표시패널; 상기 데이터 라인을 통해 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부; 상기 게이트 라인을 통해 스캔신호를 공급하는 게이트 구동부; 및 상기 데이터 구동부 및 상기 게이트 구동부의 구동 타이밍을 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함하되, 상기 다수의 화소 각각은, 유기발광다이오드와, 상기 유기 발광다이오드를 구동하기 위한 구동 트랜지스터와, 상기 게이트 라인을 통해 공급되는 스캔신호에 의해 제어되며 기준전압 라인 또는 상기 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴과 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 사이에 연결되는 제1 트랜지스터와, 상기 게이트 라인을 통해 공통으로 공급되는 상기 스캔신호에 의해 제어되며 상기 데이터 라인과 상기 구동 트랜지스터의 제2노드 사이에 연결되는 제2 트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 제2노드 사이에 연결되는 캐패시터를 포함하는 유기전계발광 표시장치를 제공한다. In order to achieve the above-mentioned object, in one aspect, the present invention provides a display device comprising: a display panel including a plurality of pixels arranged at intersecting regions of a data line and a gate line; A data driver for supplying a data voltage through the data line; A gate driver for supplying a scan signal through the gate line; And a timing controller for controlling the driving timings of the data driver and the gate driver, wherein each of the plurality of pixels includes an organic light emitting diode, a driving transistor for driving the organic light emitting diode, A first transistor connected between a reference voltage line or a connection pattern connected to the reference voltage line and a first node of the driving transistor, the first transistor being controlled by a scan signal applied to the scan line, A second transistor connected between the data line and the second node of the driving transistor, and a capacitor connected between the first node and the second node of the driving transistor, .

다른 측면에서, 본 발명은, 일 방향으로 형성되는 데이터 라인; 상기 데이터 라인과 교차하는 타 방향으로 형성되는 게이트 라인; 및 상기 데이터 라인과 상기 게이트 라인이 교차하여 정의되는 다수의 화소를 포함하되, 상기 다수의 화소 각각은, 유기발광다이오드와, 상기 유기 발광다이오드를 구동하기 위한 구동 트랜지스터와, 상기 게이트 라인에서 공급된 스캔신호에 의해 제어되며 기준전압 라인 또는 상기 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴과 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 사이에 연결되는 제1 트랜지스터와, 상기 게이트 라인에서 공통으로 공급된 상기 스캔신호에 의해 제어되며 상기 데이터 라인과 상기 구동 트랜지스터의 제2노드 사이에 연결되는 제2 트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 제2노드 사이에 연결되는 캐패시터를 포함하는 유기전계발광 표시패널을 제공한다. In another aspect, the present invention provides a liquid crystal display comprising: a data line formed in one direction; A gate line formed in the other direction crossing the data line; And a plurality of pixels defined by intersecting the data line and the gate line, wherein each of the plurality of pixels comprises: an organic light emitting diode; a driving transistor for driving the organic light emitting diode; A first transistor which is controlled by a scan signal and is connected between a connection pattern connected to a reference voltage line or the reference voltage line and a first node of the driving transistor, A second transistor connected between the data line and a second node of the driving transistor, and a capacitor connected between a first node and a second node of the driving transistor.

또 다른 측면에서, 본 발명은, 일 방향으로 형성되는 다수의 데이터 라인; 상기 다수의 데이터 라인과 교차하는 타 방향으로 형성되는 다수의 게이트 라인; 및 상기 다수의 데이터 라인 및 상기 다수의 게이트 라인과 연결되는 다수의 화소를 포함하되, 4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 서로 대칭이 되고, 4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 서로 대칭이 되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치를 제공한다. According to another aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal display comprising: a plurality of data lines formed in one direction; A plurality of gate lines formed in the other direction crossing the plurality of data lines; And a plurality of pixels connected to the plurality of data lines and the plurality of gate lines, wherein a pixel structure of a pixel connected to the (4n-3) th data line and a pixel structure of a pixel connected to the (4n) th data line are symmetrical , The pixel structure of the pixel connected to the (4n-2) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n-1) th data line are symmetrical to each other.

또 다른 측면에서, 본 발명은, 구동 트랜지스터 및 유기발광다이오드가 포함된 화소를 포함하고, 상기 화소와 연결되는 데이터 라인이 형성된 표시패널을 포함하는 유기전계발광 표시장치의 구동 방법에 있어서, 기준전압 라인 또는 상기 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴과 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 사이를 연결하는 제1 트랜지스터와 상기 데이터 라인 및 상기 구동 트랜지스터의 제2노드 사이를 연결하는 제2 트랜지스터에 스캔신호를 공통으로 공급하고, 상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터를 통해 기준전압 및 데이터 전압을 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 및 제2노드에 각각 공급하는 단계; 및 상기 화소가 구동 모드 및 센싱 모드 중 하나의 동작 모드로 동작하도록, 상기 기준전압, 상기 데이터 전압 및 상기 스캔신호 중 하나 이상에 대한 공급을 제어하는 단계를 포함하는 유기전계발광 표시장치의 구동방법을 제공한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of driving an organic light emitting display including a display panel including a pixel including a driving transistor and an organic light emitting diode and a data line connected to the pixel, And a second transistor connected between the first node of the driving transistor and the second node of the data line and the driving transistor, and a second transistor connected between the data line and the second node of the driving transistor, Supplying a reference voltage and a data voltage to the first node and the second node of the driving transistor through the first transistor and the second transistor, respectively; And controlling supply of at least one of the reference voltage, the data voltage and the scan signal so that the pixel operates in one of a driving mode and a sensing mode. .

또 다른 측면에서, 본 발명은, 일 방향으로 형성된 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동부; 상기 데이터 라인과 교차하는 타 방향으로 형성된 제1 게이트 라인을 통해 제1 스캔신호를 공급하는 제1 게이트 구동부; 상기 제1 게이트 라인과 평행하게 형성된 제2 게이트 라인을 제2 스캔신호를 공급하는 제2 게이트 구동부; 상기 데이터 구동부, 상기 제1 게이트 구동부 및 제2 게이트 구동부의 구동 타이밍을 제어하는 타이밍 컨트롤러; 및 상기 데이터 라인, 상기 제1 게이트 라인 및 상기 제2 게이트 라인과 연결되는 다수의 화소를 포함하는 표시패널을 포함하되, 상기 다수의 화소 각각은, 유기발광다이오드와, 상기 유기 발광다이오드를 구동하기 위한 구동 트랜지스터와, 상기 제1 스캔신호에 의해 제어되며 기준전압 라인 또는 상기 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴과 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 사이에 연결되는 제1 트랜지스터와, 상기 제2 스캔신호에 의해 제어되며 상기 데이터 라인과 상기 구동 트랜지스터의 제2노드 사이에 연결되는 제2 트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 제2노드 사이에 연결되는 캐패시터를 포함하는 유기전계발광 표시장치를 제공한다. According to another aspect of the present invention, there is provided a data driver comprising: a data driver for driving a data line formed in one direction; A first gate driver for supplying a first scan signal through a first gate line formed in the other direction crossing the data line; A second gate driver for supplying a second scan signal to a second gate line formed in parallel with the first gate line; A timing controller for controlling the driving timings of the data driver, the first gate driver, and the second gate driver; And a display panel including a plurality of pixels connected to the data line, the first gate line, and the second gate line, wherein each of the plurality of pixels includes an organic light emitting diode, A first transistor connected between a first node of the driving transistor and a connection pattern which is controlled by the first scan signal and is connected to a reference voltage line or the reference voltage line; A second transistor connected between the data line and the second node of the driving transistor, and a capacitor connected between the first node and the second node of the driving transistor, .

또 다른 측면에서, 본 발명은, 일 방향으로 형성된 데이터 라인; 상기 데이터 라인과 교차하는 타 방향으로 형성된 제1 게이트 라인; 상기 1 게이트 라인과 평행하게 형성된 제2 게이트 라인; 상기 데이터 라인, 상기 제1 게이트 라인 및 상기 제2 게이트 라인과 연결된 다수의 화소를 포함하되, 상기 다수의 화소 각각은, 유기발광다이오드와, 상기 유기 발광다이오드를 구동하기 위한 구동 트랜지스터와, 상기 제1 게이트 라인에서 공급된 제1 스캔신호에 의해 제어되며 기준전압 라인 또는 상기 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴과 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 사이에 연결되는 제1 트랜지스터와, 상기 제2 게이트 라인에서 공급된 제2 스캔신호에 의해 제어되며 상기 데이터 라인과 상기 구동 트랜지스터의 제2노드 사이에 연결되는 제2 트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 제2노드 사이에 연결되는 캐패시터를 포함하는 유기전계발광 표시패널을 제공한다. In another aspect, the present invention provides a liquid crystal display comprising: a data line formed in one direction; A first gate line formed in the other direction crossing the data line; A second gate line formed in parallel with the one gate line; And a plurality of pixels connected to the data line, the first gate line, and the second gate line, wherein each of the plurality of pixels includes an organic light emitting diode, a driving transistor for driving the organic light emitting diode, A first transistor connected between a reference voltage line or a connection pattern connected to the reference voltage line and a first node of the driving transistor, the first transistor being controlled by a first scan signal supplied from a first gate line, A second transistor controlled by a second scan signal supplied and connected between the data line and a second node of the driving transistor; and a capacitor connected between the first node and the second node of the driving transistor. An electroluminescent display panel is provided.

또 다른 측면에서, 본 발명은, 일 방향으로 형성된 다수의 데이터 라인; 상기 다수의 데이터 라인과 교차하는 타 방향으로 형성된 다수의 제1 게이트 라인; 상기 다수의 제1 게이트 라인과 평행하게 형성된 다수의 제2 게이트 라인; 상기 다수의 데이터 라인, 상기 다수의 제1 게이트 라인 및 상기 다수의 제2 게이트 라인과 연결되는 다수의 화소를 포함하되, 4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n번째 데이터 라인과 연결되는 화소의 화소 구조는 서로 대칭이 되고, 4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 서로 대칭이 되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치를 제공한다.
In another aspect, the present invention provides a liquid crystal display comprising: a plurality of data lines formed in one direction; A plurality of first gate lines formed in the other direction crossing the plurality of data lines; A plurality of second gate lines formed in parallel with the plurality of first gate lines; A plurality of data lines, a plurality of first gate lines, and a plurality of pixels connected to the plurality of second gate lines, wherein a pixel structure of a pixel connected to the (4n-3) th data line and a And the pixel structure of the pixel coupled to the (4n-2) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n-1) th data line are symmetrical with respect to each other. Lt; / RTI >

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 간단하고 컴팩트(Compact) 한 구조를 갖는 표시패널과 이를 포함하는 유기전계발광 표시장치를 제공하는 효과가 있다. As described above, according to the present invention, it is possible to provide a display panel having a simple and compact structure and an organic light emitting display device including the same.

또한, 본 발명에 의하면, 개구율을 높여주고, 발광다이오드의 수명을 길게 해주며, 결함 발생 확률도 낮추어줄 수 있도록 하는 화소 구조를 갖는 표시패널과 이를 포함하는 유기전계발광 표시장치를 제공하는 효과가 있다. According to the present invention, there is provided a display panel having a pixel structure for increasing the aperture ratio, lengthening the lifetime of the light emitting diode, and lowering the probability of occurrence of defects, and an organic electroluminescent display device including the same have.

또한, 본 발명에 의하면, 화소 구조가 대칭이 되도록 설계하여 간단하고 컴팩트(Compact) 한 구조를 갖는 표시패널과 이를 포함하는 유기전계발광 표시장치를 제공하는 효과가 있다. In addition, according to the present invention, a display panel having a simple and compact structure by designing the pixel structure to be symmetrical, and an organic light emitting display device including the same are provided.

또한, 본 발명에 의하면, 화소 간의 휘도 편차를 보상해주기 위한 효율적인 센싱 및 보상 기능을 제공함에 있어서, 간단하고 컴팩트 한 화소 구조에 맞는 센싱 및 보상 기능을 갖는 유기전계발광 표시장치와 그 구동 방법을 제공하는 효과가 있다. According to the present invention, there is provided an organic light emitting display having a sensing and compensating function according to a simple and compact pixel structure and a driving method thereof in providing an efficient sensing and compensating function for compensating a luminance deviation between pixels .

이러한 점들로 인해, 양질의 표시패널을 높은 수율로 제조할 수 있다. With these points, a high-quality display panel can be manufactured with a high yield.

이러한 점들은 고해상도 및 대면적의 표시패널에 적용될 경우, 더욱 큰 효과가 될 것이다.
These points will be more effective when applied to high resolution and large area display panels.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치에 대한 전체 시스템 구성도이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 표시패널 내 하나의 화소에 대한 등가회로도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 표시패널의 일부를 간략하게 나타낸 평면도이다.
도 4는 도 3을 상세하게 나타낸 평면도이다.
도 5는 도 2에 도시된 하나의 화소에 대한 등가회로도를 4개의 화소에 적용한 회로도로서 도 4의 등가회로도이다.
도 6a는 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n)), 구동전압 라인(DVL), 기준전압 라인(RVL)에 대한 형성 위치 구조를 확인하기 위한 도 4에서의 Ⅰ-Ⅰ’ 단면도이다.
도 6b는 구동전압 라인 연결 구조를 확인하기 위한 도 4에서의 Ⅱ-Ⅱ' 단면도이다.
도 6c는 기준전압 라인 연결 구조를 확인하기 위한 도 4에서의 Ⅲ-Ⅲ' 단면도와 Ⅳ-Ⅳ’ 단면도이다.
도 7은 구동 트랜지스터의 소스 전극과 유기발광다이오드의 제1전극을 연결하기 위한 구조를 설명하기 위한 단면도로서, 도 4에서의 Ⅴ-Ⅴ' 단면도이다.
도 8은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 표시패널에 대한 대칭성 구조적 특징을 설명하기 위한 간략한 평면도이다.
도 9는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치에 포함된 외부 보상 구성을 간략하게 나타낸 도면이다.
도 10은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치에 포함된 외부 보상 구성의 구현 방식을 나타낸 도면이다.
도 11은 도 10의 구현 방식에 대하여, 외부 보상 구성을 하나의 화소에 대한 등가회로와 함께 나타낸 도면이다.
도 12는 도 10의 구현 방식에 따른 외부 보상 구성과 다수의 화소를 함께 나타낸 도면이다.
도 13은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치에 포함된 외부 보상 구성의 다른 구현 방식을 나타낸 도면이다.
도 14는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치에 포함된 외부 보상 구성의 또 다른 구현 방식을 나타낸 도면이다
도 15a 및 도 15b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치에 포함된 데이터 구동부에 대한 구성도이다.
도 16은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치에 포함된 게이트 구동부에 대한 구성도이다.
도 17은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 구동방법에 대한 흐름도이다.
도 18은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 화소가 동작하는 3가지 동작 모드에 대한 스캔신호의 파형과 제1 스위치 및 제2 스위치에 대한 동작 타이밍도이다.
도 19a 및 도 19b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 화소가 구동 모드로 동작할 때의 회로도이다.
도 20은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 화소가 구동 모드로 동작할 때의 전압 변화 그래프이다.
도 21a 및 도 21b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 화소가 S-센싱 모드로 동작할 때의 회로도이다.
도 22a는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 화소가 S-센싱 모드로 동작할 때의 전압 변화 그래프이다.
도 22b는 각 화소의 구동 트랜지스터의 문턱전압 편차를 나타낸 Vgs-Ids 그래프이다.
도 23a 및 도 23b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 화소가 F-센싱 모드로 동작할 때의 회로도이다.
도 24a는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 화소가 F-센싱 모드로 동작할 때의 전압 변화 그래프이다.
도 24b는 각 화소의 구동 트랜지스터의 이동도 편차를 나타낸 Vgs-Ids 그래프이다.
도 25a 내지 도 25f는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 표시패널에 대한 공정을 나타낸 도면이다.
도 26은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치에 대한 전체 시스템 구성도이다.
도 27은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 표시패널 내 하나의 화소에 대한 등가회로도이다.
도 28은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 표시패널의 일부를 간략하게 나타낸 평면도이다.
도 29는 도 28을 상세하게 나타낸 평면도이고,
도 30은 도 27에 도시된 하나의 화소에 대한 등가회로도를 4개의 화소에 적용한 회로도로서 도 29의 등가회로도이다.
도 31은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 표시패널에 대한 대칭성 구조적 특징을 설명하기 위한 간략한 평면도이다.
도 32는 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 외부 보상 구성 중에서 센싱부를 하나의 화소(P)에 대한 등가회로와 함께 나타낸 도면이다.
도 33은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치의 구동 모드와, 2가지 센싱 모드 각각에 대한 동작 타이밍도이다.
도 34는 본 발명의 제1 실시예 및 제2 실시예에 따른 이동도 편차를 보상 효과를 나타낸 도면이다.
도 35는 본 발명의 제1 실시예 및 제2 실시예에 따른 개구율을 비교한 도면이다.
1 is an overall system configuration diagram of an organic light emitting display according to a first embodiment of the present invention.
2 is an equivalent circuit diagram of one pixel in a display panel of an organic light emitting display according to a first embodiment of the present invention.
3 is a plan view schematically showing a part of a display panel of an organic light emitting display according to a first embodiment of the present invention.
4 is a plan view showing in detail FIG.
FIG. 5 is an equivalent circuit diagram of FIG. 4, which is a circuit diagram in which an equivalent circuit diagram for one pixel shown in FIG. 2 is applied to four pixels.
FIG. 6A is a graph showing the relationship between the voltages applied to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n), the driving voltage line DVL and the reference voltage line RVL 4 is a cross-sectional view taken along the line I-I 'in Fig. 4 for confirming the formation position structure.
6B is a cross-sectional view taken along the line II-II 'in FIG. 4 for confirming the driving voltage line connection structure.
6C is a cross-sectional view taken along a line III-III 'and a line IV-IV' in FIG. 4 for confirming a reference voltage line connection structure.
7 is a cross-sectional view illustrating a structure for connecting the source electrode of the driving transistor and the first electrode of the organic light emitting diode, taken along line V-V 'in FIG.
8 is a simplified plan view illustrating symmetrical structural features of a display panel of an organic light emitting display according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a simplified diagram illustrating an external compensation structure included in the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention. Referring to FIG.
10 is a view illustrating an embodiment of an external compensation structure included in the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention.
11 is a diagram showing, for the implementation of FIG. 10, an external compensation configuration, together with an equivalent circuit for one pixel.
12 is a diagram illustrating an external compensation structure and a plurality of pixels together according to the implementation of FIG.
13 is a view illustrating another embodiment of the external compensation structure included in the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention.
14 is a view illustrating another embodiment of the external compensation structure included in the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention
15A and 15B are block diagrams of a data driver included in the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention.
16 is a configuration diagram of a gate driver included in the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention.
17 is a flowchart illustrating a method of driving the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention.
18 is a waveform diagram of scan signals and operation timing diagrams for the first switch and the second switch for three operation modes in which pixels of the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention operate.
19A and 19B are circuit diagrams when a pixel of an organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention operates in a driving mode.
20 is a graph of voltage change when a pixel of the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention operates in a driving mode.
FIGS. 21A and 21B are circuit diagrams of a pixel of an organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention operating in an S-sensing mode.
22A is a graph of voltage change when a pixel of the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention operates in the S-sensing mode.
22B is a graph of Vgs-Ids showing a threshold voltage deviation of the driving transistor of each pixel.
23A and 23B are circuit diagrams when a pixel of the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention operates in the F-sensing mode.
24A is a graph of voltage change when a pixel of the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention operates in the F-sensing mode.
FIG. 24B is a Vgs-Ids graph showing the drift deviation of the driving transistor of each pixel.
25A to 25F are views illustrating a process for a display panel of an organic light emitting display according to a first embodiment of the present invention.
26 is an overall system configuration diagram of an organic light emitting display according to a second embodiment of the present invention.
27 is an equivalent circuit diagram of one pixel in a display panel of an organic light emitting display according to a second embodiment of the present invention.
28 is a plan view schematically showing a part of a display panel of an organic light emitting display according to a second embodiment of the present invention.
29 is a plan view showing in detail FIG. 28,
FIG. 30 is an equivalent circuit diagram of FIG. 29, which is a circuit diagram in which an equivalent circuit diagram for one pixel shown in FIG. 27 is applied to four pixels.
31 is a simplified plan view for explaining symmetrical structural features of a display panel of an organic light emitting display according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 32 is a diagram showing an external compensation structure of an organic light emitting display according to a second embodiment of the present invention, together with an equivalent circuit for one pixel P. FIG.
FIG. 33 is a timing chart of a driving mode and two sensing modes of the organic light emitting display according to the second embodiment of the present invention. Referring to FIG.
FIG. 34 is a view showing a compensation effect of mobility deviation according to the first and second embodiments of the present invention. FIG.
FIG. 35 is a diagram comparing aperture ratios according to the first and second embodiments of the present invention. FIG.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to exemplary drawings. In the drawings, like reference numerals are used to denote like elements throughout the drawings, even if they are shown on different drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used. These terms are intended to distinguish the components from other components, and the terms do not limit the nature, order, order, or number of the components. When a component is described as being "connected", "coupled", or "connected" to another component, the component may be directly connected or connected to the other component, Quot; intervening "or that each component may be" connected, "" coupled, "or " connected" through other components.

본 발명의 일부 실시예를 설명하기에 앞서, 먼저, 본 발명의 기술적 배경과 기술적 사상에 대하여 간략하게 설명한다.Before describing some embodiments of the present invention, the technical background and technical idea of the present invention will be briefly described.

본 발명의 일부 실시예는, 화소 구조가 복잡해지고 신호 라인의 수가 많아질 수 밖에 없는 기술 경향에도 불구하고, 트랜지스터, 캐패시터 및 유기발광다이오드 등의 형성 위치, 신호라인 연결 위치 등에 대한 화소 구조가 대칭이 되도록 설계하여 간단하고 컴팩트(Compact) 한 패널 구조를 갖는 유기전계발광 표시장치를 개시한다. Some embodiments of the present invention are directed to a pixel structure in which the pixel structure for a formation position of a transistor, a capacitor, an organic light emitting diode, etc., a signal line connection position, etc. is symmetric So as to provide a simple and compact panel structure.

이로 인해, 개구율을 높여주고 결함 발생 확률을 낮출 수 있으며, 제조를 더욱 용이하게 해 줄 수 있고, 양질의 패널을 높을 수율로 제조할 수 있는 효과가 있다. 특히, 이러한 효과는 고해상도 또는 대면적의 패널을 갖는 유기전계발광 표시장치를 제조할 때 더욱 커질 것이다. Accordingly, the aperture ratio can be increased, the probability of occurrence of defects can be lowered, manufacturing can be further facilitated, and a high-quality panel can be manufactured with a high yield. Particularly, such an effect will become even larger when an organic light emitting display having a panel of a high resolution or a large area is manufactured.

이러한 본 발명의 일부 실시예는, 각 화소가 1개의 스캔신호를 사용하는 1 스캔 구조의 기본 화소구조를 갖는 제1 실시예와, 각 화소가 2개의 스캔신호를 사용하는 2 스캔 구조의 기본 화소구조를 갖는 제2 실시예로 크게 나눌 수 있다. In some embodiments of the present invention, the first embodiment has a basic pixel structure of a one-scan structure in which each pixel uses one scan signal, and a second basic structure in which each pixel uses a two- Structure according to the second embodiment of the present invention.

이러한 본 발명의 일부 실시예 중 제1 실시예는, 각 화소의 구동 동작 및 센싱 동작(화소 간 휘도 불균형을 보상하기 위한 센싱 동작)이 정상적으로 이루어지면서도, 각 화소가 1개의 스캔신호만을 사용하기 때문에, 각 화소에 연결되는 게이트 라인의 수를 줄일 수 있어, 각 화소가 2개의 스캔신호를 사용하는 제2 실시예에 비해 개구율을 더욱 높일 수 있다. According to the first embodiment of the present invention, although the driving operation and sensing operation of each pixel (sensing operation for compensating the unevenness of luminance between pixels) are normally performed, each pixel uses only one scan signal Therefore, the number of gate lines connected to each pixel can be reduced, and the aperture ratio can be further increased as compared with the second embodiment in which each pixel uses two scan signals.

아래에서는, 본 발명의 제1 실시예로서 1 스캔 구조에 기반한 유기전계발광 표시장치와 그 구동 방법을 먼저 설명하고, 이어서, 본 발명의 제2 실시예로서 2 스캔 구조에 기반한 유기전계발광 표시장치와 그 구동 방법을 설명한다.
Hereinafter, an organic light emitting display device based on a one scan structure and a driving method thereof will be described first as a first embodiment of the present invention. Next, as a second embodiment of the present invention, an organic light emitting display device And a driving method thereof will be described.

<제1 <First 실시예Example >>

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)에 대한 전체 시스템 구성도이다.1 is an overall system configuration diagram of an organic light emitting display device 10 according to a first embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)는, 일방향으로 형성되는 다수의 데이터 라인(DL: Data Line)과 다수의 데이터 라인과 교차하는 타방향으로 형성되는 다수의 게이트 라인(GL: Gate Line)의 교차 영역마다 배치되는 다수의 화소(P: Pixel)를 포함하는 표시패널(11)과, 데이터 라인을 통해 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부(12)와, 게이트 라인을 통해 스캔신호를 공급하는 게이트 구동부(13)와, 데이터 구동부(12) 및 게이트 구동부(13)의 구동 타이밍을 제어하는 타이밍 컨트롤러(14) 등을 포함한다. 1, an organic light emitting display device 10 according to a first embodiment of the present invention includes a plurality of data lines DL formed in one direction and a plurality of data lines A display panel 11 including a plurality of pixels P arranged in an intersecting region of a plurality of gate lines GL to be formed, a data driver 12 for supplying a data voltage through the data lines, A gate driver 13 for supplying a scan signal through a gate line, and a timing controller 14 for controlling driving timings of the data driver 12 and the gate driver 13.

도 1을 참조하면, 표시패널(11)에는 일방향으로 다수의 데이터 라인(DL(1)~DL(4N))이 형성되고 다수의 데이터 라인(DL(1)~DL(4N))과 교차하는 타방향으로 다수의 게이트 라인(GL(1)~GL(M))이 형성되어 있다. 본 명세서에서는, 설명의 편의를 위해, 표시패널(11)에 형성된 데이터 라인 및 게이트 라인의 개수가 4N개 및 M개인 것으로 가정한다. 여기서, N과 M은 1 이상의 자연수이다. 그리고, 4N개의 데이터 라인 전체에서 각 데이터 라인을 식별하기 위한 용도로 사용되는 n은 1 이상이고 데이터 라인 개수의 1/4 이하인 자연수이다(1≤n≤(4N/4)).1, a plurality of data lines DL (1) to DL (4N) are formed in one direction on a display panel 11 and a plurality of data lines DL (1) to DL (4N) And a plurality of gate lines GL (1) to GL (M) are formed in the other direction. In this specification, for convenience of explanation, it is assumed that the number of data lines and gate lines formed on the display panel 11 is 4N and M. Here, N and M are natural numbers of 1 or more. The number n used for identifying each data line in all 4N data lines is a natural number of 1 or more and 1/4 or less of the number of data lines (1? N? (4N / 4)).

이러한 표시패널(11)에는, 4N개의 데이터 라인(DL(1)~DL(4N))과 M개의 게이트 라인(GL(1)~GL(M))이 서로 교차하는 영역에 화소(P)가 각각 정의된다. 각 화소(P)에 대한 화소 구조를 도 2를 참조하여 더욱 상세하게 설명한다.
In this display panel 11, pixels P are arranged in an area where 4N data lines DL (1) to DL (4N) and M gate lines GL (1) to GL (M) Respectively. The pixel structure for each pixel P will be described in more detail with reference to FIG.

도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 표시패널(11) 내 하나의 화소에 대한 등가회로도이다.2 is an equivalent circuit diagram of one pixel in the display panel 11 of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 각 화소(P)는 1개의 데이터 라인(DL)과 연결되고 1개의 게이트 라인(GL)을 통해 하나의 스캔신호(SCAN)만을 공급받는다Referring to FIG. 2, each pixel P is connected to one data line DL and receives only one scan signal SCAN through one gate line GL

이러한 각 화소는, 도 2에 도시된 바와 같이, 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 포함하고, 구동 트랜지스터(DT: Driving Transistor), 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2) 및 스토리지 캐패시터(Cst) 등을 포함한다. 이와 같이, 각 화소는 3개의 트랜지스터(DT, T1, T2)와 1개의 스토리지 캐패시터(Cst)를 포함하기 때문에, 각 화소는 3T(Transistor) 1C(Capacitor) 구조를 갖는다고 한다. Each of these pixels includes an organic light emitting diode (OLED) as shown in FIG. 2, and includes a driving transistor (DT), a first transistor T1, a second transistor T2, And a storage capacitor Cst. Since each pixel includes three transistors DT, T1, and T2 and one storage capacitor Cst, each pixel has a 3T (Capacitor) structure.

각 화소 내 구동 트랜지스터(DT)는, 구동전압 라인(DVL: Driving Voltage Line)에서 공급되는 구동전압(EVDD)을 인가 받고, 제2 트랜지스터(T2)를 통해 인가된 게이트 노드(N2)의 전압(데이터 전압)에 의해 제어되어 유기발광다이오드(OLED)를 구동시키는 트랜지스터이다. The driving transistor DT in each pixel is supplied with the driving voltage EVDD supplied from the driving voltage line DVL and the voltage of the gate node N2 applied through the second transistor T2 Data voltage) to drive the organic light emitting diode OLED.

이러한 구동 트랜지스터(DT)는 제1노드(N1), 제2노드(N2), 제3노드(N3)를 가지고 있으며, 제1노드(N1)로는 제1 트랜지스터(T1)와 연결되고, 제2노드(N2)로는 제2 트랜지스터(T2)와 연결되며, 제3노드(N3)로는 구동전압(EVDD)을 공급받는다. The driving transistor DT has a first node N1, a second node N2 and a third node N3. The first transistor N1 is connected to the first transistor T1, The node N2 is connected to the second transistor T2 and the third node N3 is supplied with the driving voltage EVDD.

여기서, 일 예로, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드는 소스 노드(Source Node, ‘소스 전극’이라고도 함)이고, 제2노드는 게이트 노드(Gate Node, ‘게이트 전극’이라고도 함)이며, 제3노드(N3)는 드레인 노드(Drain Node, ‘드레인 전극’이라고도 함)일 수 있다. 트랜지스터의 타입 변경, 회로 변경 등에 따라, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드, 제2노드 및 제3노드가 바뀔 수 있다. Here, the first node of the driving transistor DT is a source node (also referred to as a 'source electrode'), the second node is a gate node (also referred to as a gate electrode) The third node N3 may be a drain node (also referred to as a drain electrode). The first node, the second node, and the third node of the driving transistor DT may be changed depending on the type of the transistor, the circuit change, and the like.

또한, 제1 트랜지스터(T1)는, 게이트 라인(GL)에서 공급되는 스캔신호(SCAN)에 의해 제어되며, 기준전압(Vref: Reference Voltage)을 공급하는 기준전압 라인(RVL: Reference Voltage Line) 또는 기준전압 라인(RVL)에 연결되는 연결패턴(CP: Connection Pattern)과 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 사이에 연결된다. 이러한 제1 트랜지스터(T1)는 “센서 트랜지스터(Sensor Transistor)”라고도 한다. The first transistor T1 is controlled by a scan signal SCAN supplied from the gate line GL and is connected to a reference voltage line RVL for supplying a reference voltage Vref And is connected between a connection pattern CP connected to the reference voltage line RVL and the first node N1 of the driving transistor DT. The first transistor T1 is also referred to as a &quot; sensor transistor &quot;.

또한, 제2 트랜지스터(T2)는 게이트 라인(GL)에서 공통으로 공급되는 스캔신호(SCAN)에 의해 제어되며 해당 데이터 라인(DL)과 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2) 사이에 연결된다. 이러한 제2 트랜지스터(T2)는 “스위칭 트랜지스터(Switching Transistor)”라고도 한다. The second transistor T2 is controlled by a scan signal SCAN commonly supplied from the gate line GL and is connected between the corresponding data line DL and the second node N2 of the driving transistor DT do. The second transistor T2 is also referred to as a &quot; switching transistor &quot;.

또한, 스토리지 캐패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 연결되어, 데이터 전압을 한 프레임 동안 유지시켜 주는 역할을 할 수 있다.The storage capacitor Cst may be connected between the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT to maintain the data voltage for one frame.

위에서 언급한 바와 같이, 제1 트랜지스터(T1)와 제2 트랜지스터(T2)는, 하나의 동일한 게이트 라인(공통 게이트 라인)을 통해 공급되는 하나의 스캔신호에 의해 제어된다. 이와 같이, 각 화소는 하나의 스캔신호를 사용하기 때문에, 본 발명의 제1 실시예에서 각 화소는 “3T1C 기반의 1 스캔 구조”의 기본 화소구조를 갖는다고 한다. As described above, the first transistor T1 and the second transistor T2 are controlled by a single scan signal supplied through one and the same gate line (common gate line). As described above, since each pixel uses one scan signal, each pixel in the first embodiment of the present invention has a basic pixel structure of &quot; 3T1C-based one scan structure &quot;.

이러한 3T1C 기반의 1 스캔 구조와 관련하여, 제1 트랜지스터(T1)는 기본적으로 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 노드(N2)로 데이터 전압을 인가해주는 것으로 구동과 관련된 트랜지스터이고, 제2 트랜지스터(T2)는 구동과도 관련이 있을 수 있지만 기본적으로는 화소 간 휘도 편차를 보상해주기 위한 센싱(Sensing)과 관련된 트랜지스터로서, 2개의 트랜지스터(T1, T2)는 그 용도 및 기능이 다르기 때문에, 하나의 스캔신호에 의해 제어되는 것은, 그 관련 동작(구동 동작, 센싱 동작)에도 영향을 끼치게 된다. 따라서, 화소의 구동 동작 및 센싱 동작 등이 제대로 수행되기 위해서는 별도의 장치(예: 제2 스위치 등)와 동작 방식(예: 동작 타이밍 등)의 변경 등이 필요할 수 있으며, 이에 대해서는, 뒤에서 설명하게 될 보상 구성(기능) 설명 시 함께 설명하도록 한다. The first transistor T1 is basically a transistor associated with driving by applying a data voltage to the gate node N2 of the driving transistor DT and the second transistor T2 is a transistor associated with driving, Since the two transistors T1 and T2 have different uses and functions, the transistors T1 and T2 are related to the sensing for compensating for the luminance deviation between the pixels, (Driving operation, sensing operation) is also affected. Therefore, in order to properly perform the driving operation and the sensing operation of the pixel, it may be necessary to change the operation mode (for example, the operation timing) with a separate device (e.g., a second switch) The compensation configuration (function) will be explained together with the explanation.

전술한 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예의 유기전계발광 표시장치(10)에 따른 각 화소는, 3T1C 구조 하에서 1개의 게이트 라인(GL)을 통해 하나의 스캔신호(SCAN)만을 공급받는 “3T1C 기반의 1 스캔 구조(공통 스캔 구조)”를 갖는다. 즉, 제1 트랜지스터의 게이트 노드와 제2 트랜지스터의 게이트 노드 각각으로 스캔신호가 별도로 인가되는 것이 아니라, 하나의 게이트 라인(GL, 공통 게이트 라인)을 통해 공급된 스캔신호(공통 스캔신호)가 공통으로 인가된다.As described above, each pixel according to the organic light emitting display device 10 of the first embodiment of the present invention has a structure of 3T1C (hereinafter referred to as &quot; 3T1C &quot;) which receives only one scan signal SCAN through one gate line GL under the 3T1C structure. Based scan structure (common scan structure) &quot;. That is, the scan signals (common scan signals) supplied through one gate line (GL, common gate line) are not commonly applied to the gate node of the first transistor and the gate node of the second transistor, .

한편, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 화소 구조는, 도 2를 참조하여 설명한 “기본 화소 구조(3T1C 기반의 1 스캔 구조)” 이외에, 각 화소가 데이터 라인(DL), 게이트 라인(GL), 구동전압 라인(DVL), 기준전압 라인(RVL) 등의 여러 신호 라인과 연결되는 것과 관련된 “신호 라인 연결 구조”도 포함한다. The pixel structure of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention is different from the pixel structure of the basic pixel structure (one scan structure based on 3T1C) described with reference to FIG. 2, Signal line connection structure &quot; relating to being connected to various signal lines such as a data line DL, a gate line GL, a driving voltage line DVL, and a reference voltage line RVL.

여기서, 여러 신호 라인은, 각 화소에 데이터 전압을 공급해주기 위한 데이터 라인과, 스캔신호를 공급해주기 위한 게이트 라인뿐만 아니라, 각 화소에 기준전압(Vref)을 공급하기 위한 기준전압 라인(RVL)과, 구동전압(EVDD)을 공급하기 위한 구동전압 라인(DVL) 등을 더 포함한다. Here, the signal lines include not only a data line for supplying a data voltage to each pixel, a gate line for supplying a scan signal but also a reference voltage line (RVL) for supplying a reference voltage (Vref) to each pixel , A driving voltage line (DVL) for supplying a driving voltage (EVDD), and the like.

위에서 언급한 기준전압 라인(RVL)과 구동전압 라인(DVL)은 데이터 라인(DL)과 평행하게 형성되는데, 각각의 개수는 데이터 라인 개수와 동일할 수도 있고 데이터 라인 개수보다 적을 수도 있다. The reference voltage line RVL and the driving voltage line DVL described above are formed in parallel with the data line DL, and each number may be equal to or less than the number of data lines.

만약, 기준전압 라인 개수 및 구동전압 라인 개수가 데이터 라인 개수와 동일한 경우, 각 화소는 하나의 데이터 라인(DL) 및 하나의 게이트 라인(GL)과 연결되는 것은 물론, 하나의 구동전압 라인(DVL) 및 하나의 기준전압 라인(RVL)과도 바로 연결될 수 있다. If the number of reference voltage lines and the number of driving voltage lines are equal to the number of data lines, each pixel is connected to one data line DL and one gate line GL, ) And one reference voltage line (RVL).

이 경우, 각 화소의 신호 라인 연결 구조는 모두 동일할 수도 있다. 즉, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위는 1개의 화소가 되어, 신호 라인 연결 구조의 규칙성이 1개의 화소(1개의 화소 열)마다 있을 수 있다. In this case, the signal line connection structures of the respective pixels may be the same. That is, the basic unit of the signal line connection structure is one pixel, and the regularity of the signal line connection structure may be one pixel (one pixel column).

만약, 기준전압 라인 개수 및 구동전압 라인 개수가 데이터 라인 개수보다 적은 경우, 일부 화소는 구동전압 라인(DVL) 및 기준전압 라인(RVL)과는 바로 연결될 수도 있고, 다른 일부 화소는 구동전압 라인(DVL) 및 기준전압 라인(RVL)과 바로 연결되지 않고 연결패턴(CP)을 통해 구동전압 라인(DVL) 및 기준전압 라인(RVL)과 각각 연결될 수 있다. If the number of reference voltage lines and the number of driving voltage lines are smaller than the number of data lines, some of the pixels may be directly connected to the driving voltage line DVL and the reference voltage line RVL, The driving voltage line DVL and the reference voltage line RVL may be connected to the reference voltage line RVL through the connection pattern CP without being directly connected to the reference voltage line DVL and the reference voltage line RVL.

이러한 경우, 각 화소의 신호 라인 연결 구조는 모두 동일하지 않을 수도 있다. 하지만, 각 화소가 신호 라인과 연결되는 구조가 동일하지 않더라도, 몇 개 화소마다 신호 라인과 연결되는 구조가 동일할 수 있다. 즉, 신호 라인 연결 구조의 단위는 1개의 화소(P)가 아닌 다수의 화소가 될 수 있으며, 신호 라인 연결 구조의 규칙성이 다수의 화소(다수의 화소 열)마다 반복적으로 나타날 수 있다.In this case, the signal line connection structures of the respective pixels may not be all the same. However, even if the structure in which each pixel is connected to the signal line is not the same, the structure in which the signal line is connected to every pixel can be the same. That is, the unit of the signal line connection structure may be a plurality of pixels instead of one pixel P, and the regularity of the signal line connection structure may repeatedly appear for a plurality of pixels (a plurality of pixel columns).

예를 들어, 4개의 화소(P1~P4)마다 신호 라인 연결 구조가 동일하게 반복될 수 있으며, 즉, 신호 라인 연결 구조의 규칙성이 4개의 화소(4개의 화소 열)마다 반복적으로 나타날 수 있으며, 이 경우, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위는 4개의 화소(4개의 화소 열)가 될 수 있다. For example, the signal line connection structure may be repeated for each of the four pixels P1 to P4, that is, the regularity of the signal line connection structure may repeatedly appear for every four pixels (four pixel columns) In this case, the basic unit of the signal line connection structure may be four pixels (four pixel columns).

이와 같이 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 화소(4개의 화소 열)인 경우, 기준전압 라인 개수는 데이터 라인 개수의 1/4일 수 있다. 즉, 데이터 라인 개수가 4N일 때, 기준전압 라인 개수는 N개일 수 있다. Thus, when the basic unit of the signal line connection structure is four pixels (four pixel columns), the number of reference voltage lines may be one fourth of the number of data lines. That is, when the number of data lines is 4N, the number of reference voltage lines may be N.

전술한 바와 같이, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 화소(4개의 화소 열)인 경우, 기준전압 라인 연결 구조는 다음과 같을 수 있다. As described above, when the basic unit of the signal line connection structure is four pixels (four pixel columns), the reference voltage line connection structure may be as follows.

임의의 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n), 1≤n≤N) 각각으로부터 데이터 전압을 공급받을 수 있는 화소(P1~P4), 즉, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)만을 고려하면, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)에 대해서 1개의 기준전압 라인(RVL)이 데이터 라인들과 평행하게 표시패널(11)에 형성되어 있다. A pixel capable of receiving a data voltage from each of four arbitrary data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1), DL (4n) Only the pixels P1 through P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) One reference voltage line RVL is connected to the pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) And is formed on the display panel 11 in parallel with the data lines.

이러한 1개의 기준전압 라인(RVL)은 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n)) 중 2개의 데이터 라인(예: DL(4n-2), DL(4n-1))과 연결된 각 화소에는 직접 연결되어 기준전압(Vref)을 공급하고, 나머지 2개의 데이터 라인(예: DL(4n-3), DL(4n))과 연결된 각 화소에는 연결된 연결패턴을 통해 기준전압(Vref)을 공급할 수 있다. The one reference voltage line RVL is connected to two data lines among the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) (4n-2) and DL (4n-1), and supplies the remaining two data lines (for example, DL (4n-3) The reference voltage Vref can be supplied to each pixel connected to the pixel through the connection pattern.

한편, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 화소인 경우, 구동전압 라인 개수는 데이터 라인 개수의 1/2 또는 1/4일 수 있다. 즉, 데이터 전압 라인 개수가 4N일 때, 구동전압 라인 개수는 2N 또는 N개일 수 있다. On the other hand, when the basic unit of the signal line connection structure is four pixels, the number of driving voltage lines may be 1/2 or 1/4 of the number of data lines. That is, when the number of data voltage lines is 4N, the number of driving voltage lines may be 2N or N. [

만약, 일 예로, 구동전압 라인 개수가 2N인 경우, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)에는 2개의 구동전압 라인(DVL)이 형성되어 있는데, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)에 대한 2개의 구동전압 라인 연결 구조는 다음과 같다. For example, if the number of driving voltage lines is 2N, the number of pixels connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) To P4 are connected to four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) The two driving voltage line connection structures for the pixels P1 to P4 are as follows.

2개의 구동전압 라인(DVL)은, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4) 중 2개의 데이터 라인(예: DL(4n-3), DL(4n))과 연결된 화소에는 직접 연결되어 구동전압(EVDD)을 공급하고, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4) 중 나머지 2개의 데이터 라인(예: DL(4n-2), DL(4n-1))과 연결된 화소에는 연결된 연결패턴을 통해 구동전압(EVDD)을 공급할 수 있다. The two driving voltage lines DVL are connected to one of the pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-3), DL (4n-3), and DL (4n) are supplied directly to the pixels connected to the two data lines (E.g., DL (4n-2), DL (4n-1)) among the pixels P1 through P4 connected to the data lines DL (4n-1) The driving voltage EVDD can be supplied through the connected connection pattern.

본 명세서 및 도면에서, P1 화소는 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 모든 화소(즉, 화소 열(Pixel Column))를 의미하거나 모든 화소 중 선택된 게이트 라인과 연결된 특정 화소만을 의미할 수도 있다. P2 화소도 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 모든 화소를 의미하거나 모든 화소 중 선택된 게이트 라인과 연결된 특정 화소만을 의미할 수도 있다. P3 화소도 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 모든 화소를 의미하거나 모든 화소 중 선택된 게이트 라인과 연결된 특정 화소만을 의미할 수도 있다. P4 화소도 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 모든 화소를 의미하거나 모든 화소 중 선택된 게이트 라인과 연결된 특정 화소만을 의미할 수도 있다. In this specification and the drawings, the P1 pixel refers to all the pixels (i.e., a pixel column) connected to the 4n-3th data line DL (4n-3) May mean only. The pixel P2 may refer to all the pixels connected to the (4n-2) -th data line DL (4n-2), or may denote only a specific pixel connected to the selected gate line among all pixels. The pixel P3 may refer to all the pixels connected to the (4n-1) -th data line DL (4n-1), or may be a specific pixel connected to the selected gate line among all the pixels. The pixel P4 may refer to all the pixels connected to the 4n-th data line DL (4n) or may denote only a specific pixel connected to the selected gate line among all the pixels.

또한, 본 명세서 및 도면에서, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소, 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소는, 일 예로, R(Red) 화소, G(Green) 화소, B(Blue) 화소 및 W(White) 화소일 수 있다. In this specification and the figures, the pixel connected to the 4n-3th data line DL (4n-3), the pixel connected to the 4n-2th data line DL (4n-2) A red pixel, a green pixel, a blue pixel, and a blue pixel, which are connected to a pixel connected to the first data line DL (4n-1) and a 4nth data line DL (4n) White) pixel.

또한, 본 명세서 및 도면에서는, 트랜지스터들(DT, T1, T2)이 N 타입인 것으로 도시되어 설명되었으나, 이는 설명의 편의를 위한 것일 뿐, 회로 설계 변경에 따라, 트랜지스터들(DT, T1, T2) 모두가 P 타입으로 변경되거나, 트랜지스터들(DT, T1, T2) 중 일부는 N 타입으로 다른 일부는 P 타입으로 구현될 수도 있다. 또한, 유기발광다이오드(OLED)는 인버티드(Inverted) 타입으로도 변경될 수 있을 것이다. Although the transistors DT, T1, and T2 are shown and described as being of the N type in the present specification and the drawings, ) May all be changed to P type, or some of transistors DT, T1, T2 may be implemented as N type and others as P type. In addition, the organic light emitting diode (OLED) may be changed to an inverted type.

또한, 본 명세서에 기재된 트랜지스터들(DT, T1, T2)은 박막 트랜지스터(TFT: Thin Film Transistor)라고도 한다. In addition, the transistors DT, T1, T2 described herein are also referred to as thin film transistors (TFTs).

아래에서는, 이상에서 간략하게 설명한 기본 화소 구조(3T1C 기반의 1 스캔 구조) 및 신호 라인 연결 구조를 포함하는 화소 구조에 대하여, 도 3 내지 도 5를 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. 단, 도 3 내지 도 5는 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 화소인 경우를 도시한 것이다. Hereinafter, the pixel structure including the basic pixel structure (one scanning structure based on 3T1C) and the signal line connecting structure briefly described above will be described in more detail with reference to FIGS. 3 to 5. FIG. 3 to 5 show the case where the basic unit of the signal line connection structure is four pixels.

전술한 바와 같이, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 4개의 화소(P1~P4)인 경우, 4개의 화소(P1~P4)에 대하여, 기준전압(Vref)을 공급하기 위한 기준전압 라인(RVL)이 1개가 형성되고, 구동전압(EVDD)을 공급하기 위한 구동전압 라인(DVL)이 2개가 형성될 수 있다.As described above, the basic unit of the signal line connection structure is divided into four pixels (four pixels) connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2) P1 to P4), one reference voltage line RVL for supplying the reference voltage Vref is formed for the four pixels P1 to P4, and a driving voltage Vdd for supplying the driving voltage EVDD Two lines DVL may be formed.

도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 표시패널(11)의 일부를 간략하게 나타낸 평면도이고, 도 4는 도 3을 상세하게 나타낸 평면도이며, 도 5는 도 2에 도시된 하나의 화소에 대한 등가회로도를 4개의 화소에 적용한 회로도로서 도 4의 등가회로도이다. FIG. 3 is a plan view schematically showing a part of the display panel 11 of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention, FIG. 4 is a plan view showing details of FIG. 3, 4 is an equivalent circuit diagram of the equivalent circuit diagram for one pixel shown in FIG. 2 applied to four pixels.

도 3 내지 도 5를 참조하면, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 4개의 화소(P1~P4)인 경우에 대하여, 3T1C 기반의 1 스캔 구조의 기본 화소구조와 신호 라인 연결 구조를 확인할 수 있다. 3 to 5, the basic unit of the signal line connection structure is connected to four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) In the case of four pixels (P1 to P4), the basic pixel structure and the signal line connection structure of 1T scan based on 3T1C can be confirmed.

도 3 내지 도 5를 참조하면, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n)) 각각은 4개의 화소(P1~P4) 각각으로 연결된다. 또한, 1개의 게이트 라인(GL(m), 1≤m≤M)은 4개의 화소(P1~P4)에 연결된다. 3 to 5, each of the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) Respectively. Further, one gate line GL (m), 1? M? M is connected to four pixels P1 to P4.

도 2에 도시된 바와 같이, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결되는 4개의 화소(P1~P4) 각각은, 구동전압(EVDD)을 인가 받아 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터(DT)와, 기준전압(Vref)을 인가 받아 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 전달하는 제1 트랜지스터(DL)와, 데이터 전압(Vdata)을 인가 받아 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 전달하는 제2 트랜지스터(T2)와, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 연결된 캐패시터(Cst) 등을 동일하게 포함한다. Four pixels P1 to P4 connected to four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) Each of the driving transistors DT includes a driving transistor DT receiving a driving voltage EVDD and driving the organic light emitting diode and a first transistor N1 receiving a reference voltage Vref and transmitting the reference voltage Vref to a first node N1 of the driving transistor DT. A second transistor T2 receiving the data voltage Vdata and transferring the data voltage Vdata to the second node N2 of the driving transistor DT; A capacitor Cst connected between the two nodes N2, and the like.

이와 같이, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결되는 4개의 화소(P1~P4) 각각은 3개의 트랜지스터(DT, T1, T2)와 1개의 캐패시터(Cst)를 포함하는 3T1C 구조를 공통으로 가질 뿐만 아니라, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)에 하나의 스캔신호만이 공급되는 구조를 갖고 있다. 전술한 바와 같이, 이러한 각 화소의 화소 구조를 “3T1C 기반의 1 스캔 구조”라고 한다. Each of the four pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) A structure in which only one scan signal is supplied to the first transistor T1 and the second transistor T2 is used as well as a 3T1C structure including one transistor DT, T1 and T2 and one capacitor Cst I have. As described above, the pixel structure of each of these pixels is referred to as &quot; 3T1C-based one-scan structure &quot;.

한편, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결된 4개의 화소(P1~P4) 각각은, 트랜지스터 및 캐패시터 개수, 스캔신호 개수 등이 동일하더라도, 데이터 전압, 구동전압 및 기준전압 등을 인가 받기 위한 신호 라인 연결 구조(신호 인가 방식)가 서로 다를 수 있다. 하지만, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결된 4개의 화소(P1~P4) 간의 신호 라인 연결 구조는 어떠한 규칙성과 대칭성이 존재한다. 이에, 도 3 내지 도 5를 참조하여, 신호 라인 연결 구조를 아래에서 상세하게 설명한다. Each of the four pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) And the number of scan signals are the same, signal line connection structures (signal applying methods) for receiving data voltages, driving voltages, reference voltages, and the like may be different from each other. However, the signal line connection structure between the four pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) There is regularity and symmetry. 3 to 5, the signal line connection structure will be described in detail below.

먼저, 기준전압 라인 연결 구조에 대하여 설명한다.First, the reference voltage line connection structure will be described.

표시패널(11)에서 데이터 라인 개수가 4N개이고 기준전압 라인 개수가 N개일 때, 하나의 n(1≤n≤N)에 대하여, 즉, 4개의 화소 열(Pixel Column)에 대하여, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1), 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2), 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3) 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P1)에 제1 전압(Vref)을 공급하기 위한 제1 전압 라인에 해당하는 1개의 기준전압 라인(RVL)이 데이터 라인들과 평행한 방향으로 형성된다. (N = 1 to n? N), that is, for four pixel columns when the number of data lines is 4N and the number of reference voltage lines is N in the display panel 11, (4n-1) -th data line DL (4n-2) connected to the first data line DL (4n-3) 1) corresponding to the first voltage line for supplying the first voltage (Vref) to the pixel P1 connected to the pixel P3 and the 4n-th data line DL (4n) RVL are formed in a direction parallel to the data lines.

이러한 기준전압 라인(RVL)의 형성 개수에 따라, 표시패널(11)에서 데이터 라인 개수가 4N개이고 기준전압 라인 개수가 N개일 때, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2)의 영역과 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))에 연결된 화소(P3)의 영역 사이에 제1 전압(기준전압, Vref)을 공급하기 위한 제1 전압 라인에 해당하는 기준전압 라인(RVL)이 1개 형성될 수 있다. 즉, 1개의 기준전압 라인(RVL)은 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)의 전체 영역의 가운데에 형성된다.According to the number of the reference voltage lines RVL, the display panel 11 is connected to the (4n-2) th data line DL (4n-2) when the number of data lines is 4N and the number of reference voltage lines is N (Reference voltage, Vref) for supplying a first voltage (reference voltage, Vref) between the region of the pixel P2 and the region of the pixel P3 connected to the 4n-1th data line DL (4n-1) One reference voltage line RVL may be formed. That is, one reference voltage line RVL is connected to the pixels P1 through P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n- As shown in FIG.

이러한 기준전압 라인의 형성 위치는 대칭적인 화소 구조를 가능하게 한다. The position of formation of these reference voltage lines enables a symmetrical pixel structure.

이러한 기준전압 라인(RVL)의 형성 위치에 따라, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2)의 제1 트랜지스터(T1)와 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))에 연결된 화소(P3)의 제1 트랜지스터(T1)는 기준전압 라인(RVL)에 직접 연결되고, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 제1 트랜지스터(T1)와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 제1 트랜지스터(T1)는 기준전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP, 점선)에 연결된다. The first transistor T1 and the (4n-1) th data line DL (4n-2) of the pixel P2 connected to the (4n-2) th data line DL The first transistor T1 of the pixel P3 connected to the first data line DLn (4n-1) is directly connected to the reference voltage line RVL and the pixel P1 connected to the (4n-3) The first transistor T1 of the pixel P4 connected to the first transistor T1 and the 4n th data line DL 4n is connected to a connection pattern CP connected to the reference voltage line RVL .

이러한 기준전압 라인 연결 구조에 따라, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2)의 제1 트랜지스터(T1)와 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))에 연결된 화소(P3)의 제1 트랜지스터(T1)는 기준전압 라인(RVL)으로부터 기준전압(Vref)을 직접 인가 받고, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 제1 트랜지스터(T1)와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 제1 트랜지스터(T1)는 기준전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP, 점선)으로부터 기준전압(Vref)을 인가 받는다. According to this reference voltage line connection structure, the first transistor T1 and the (4n-1) th data line DL (4n-1) of the pixel P2 connected to the (4n- The first transistor T1 of the pixel P3 connected to the first data line DL is directly supplied with the reference voltage Vref from the reference voltage line RVL and the pixel connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) The first transistor T1 of the pixel P4 connected to the first transistor T1 and the 4nth data line DL 4n of the first transistor P1 is connected to the reference voltage line RVL through a connection pattern CP And receives the reference voltage Vref.

다음으로, 구동전압 라인 연결 구조에 대하여 설명한다. Next, the driving voltage line connection structure will be described.

표시패널(11)에서 데이터 라인 개수가 4N개이고 구동전압 라인 개수가 2N개일 때, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1), 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2), 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3) 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P1)에 제2 전압(EVDD)을 공급하기 위한 제2 전압 라인에 해당하는 구동전압 라인(DVL)이 데이터 라인들과 평행한 방향으로 2개 형성된다. When the number of data lines is 4N and the number of driving voltage lines is 2N in the display panel 11, the pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) (4n-2), a pixel P3 connected to the (4n-1) th data line DL (4n-1) Two driving voltage lines DVL corresponding to the second voltage lines for supplying the second voltage EVDD are formed in a direction parallel to the data lines.

이러한 구동전압 라인(DVL)의 형성 개수에 따라 표시패널(11)에서 데이터 라인 개수가 4N개이고 구동전압 라인 개수가 2N개일 때, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 영역의 좌측과 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 영역의 우측 각각에 제2 전압(구동전압, EVDD)을 공급하기 위한 제2 전압 라인에 해당하는 구동전압 라인(RVL)이 2개 형성될 수 있다. When the number of data lines is 4N and the number of driving voltage lines is 2N in the display panel 11 according to the number of the driving voltage lines DVL, the number of pixels connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) (Drive voltage, EVDD) for supplying the second voltage (drive voltage, EVDD) to the left side of the region of the pixel P1 and the right side of the region of the pixel P4 connected to the 4nth data line DL (4n) Two driving voltage lines RVL may be formed.

이러한 구동전압 라인의 형성 위치는 대칭적인 화소 구조를 가능하게 한다. The formation position of such a driving voltage line enables a symmetric pixel structure.

이러한 구동전압 라인(DVL)의 형성 위치에 따라, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 구동 트랜지스터(DT)와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 구동 트랜지스터(DT)는 각기 다른 구동전압 라인(RVL)에 직접 연결된다. The driving transistor DT and the 4n-th data line DL (4n) of the pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) The driving transistor DT of the pixel P4 connected to the driving voltage line RVL is directly connected to the driving voltage line RVL.

즉, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 구동 트랜지스터(DT)는 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 영역의 좌측에 형성된 구동전압 라인(RVL)에 직접 연결되고, 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 구동 트랜지스터(DT)는 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 영역의 우측에 형성된 구동전압 라인(RVL)에 직접 연결된다. That is, the driving transistor DT of the pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) is connected to the And the driving transistor DT of the pixel P4 connected to the 4n-th data line DL (4n) is directly connected to the driving voltage line RVL formed on the 4n-th data line DL (4n) And is directly connected to the driving voltage line RVL formed on the right side of the area of the connected pixel P4.

그리고, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2)의 구동 트랜지스터(DT)는 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 영역의 좌측에 형성된 구동전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)에 연결된다. 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))에 연결된 화소(P3)의 구동 트랜지스터(DT)는, 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 영역의 우측에 형성된 구동전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)에 연결된다. The driving transistor DT of the pixel P2 connected to the (4n-2) th data line DL (4n-2) is connected to the pixel P1 connected to the (4n- And connected to the connection pattern CP connected to the driving voltage line RVL formed on the left side of the region. The driving transistor DT of the pixel P3 connected to the (4n-1) th data line DL (4n-1) is formed on the right side of the region of the pixel P4 connected to the 4nth data line DL And connected to a connection pattern CP connected to the driving voltage line RVL.

이러한 구동전압 라인 연결 구조에 따라, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 구동 트랜지스터(DT)와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 구동 트랜지스터(DT)는 각기 다른 구동전압 라인(RVL)으로부터 구동전압(EVDD)을 직접 인가 받는다. According to such a driving voltage line connection structure, a pixel connected to the driving transistor DT and the 4n-th data line DL (4n) of the pixel P1 connected to the 4n-3th data line DL (4n-3) P4 are directly supplied with the driving voltage EVDD from the different driving voltage lines RVL.

그리고, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2)의 구동 트랜지스터(DT)는, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 영역 좌측에 있는 구동전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)으로부터 구동전압(EVDD)을 인가 받고, 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))에 연결된 화소(P3)의 구동 트랜지스터(DT)는, 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 영역 우측에 있는 구동전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)으로부터 구동전압(EVDD)을 인가 받는다. The driving transistor DT of the pixel P2 connected to the (4n-2) th data line DL (4n-2) is connected to the pixel P1 connected to the (4n-3) The driving voltage EVDD is applied from the connection pattern CP connected to the driving voltage line RVL at the left side of the region of the pixel P3 and the driving of the pixel P3 connected to the (4n-1) th data line DL (4n-1) The transistor DT receives the driving voltage EVDD from the connection pattern CP connected to the driving voltage line RVL on the right side of the pixel P4 connected to the 4nth data line DL 4n.

또 다음으로, 데이터 라인 연결 구조를 설명한다. Next, the data line connection structure will be described.

4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n)) 각각은 4개의 화소 열(Pixel Column) 각각에 있는 화소들과 연결된다. Each of the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) is connected to pixels in each of four pixel columns.

4개의 데이터 라인(DL(4n-3)~DL(4n))의 형성 위치와 관련하여, 홀수번째 데이터 라인, 즉, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3)) 및 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1)) 각각은 연결된 해당 화소(P1, P3)의 영역의 우측에 형성된다. 그리고, 짝수번째 데이터 라인, 즉, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2)) 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n)) 각각은 연결된 해당 화소(P2, P4)의 영역의 좌측에 형성된다. (4n-3) th data line DL (4n-3) and the (4n-3) th data line DLn Each of the data lines DL (4n-1) is formed on the right side of the area of the corresponding pixel P1 or P3 connected thereto. Each of the even-numbered data lines, that is, the (4n-2) th data line DL (4n-2) and the 4nth data line DL (4n) do.

이러한 데이터 라인의 형성 위치는 대칭적인 화소 구조를 가능하게 한다. The formation position of such a data line enables a symmetrical pixel structure.

또 다음으로, 게이트 라인 연결 구조를 설명한다. Next, the gate line connection structure will be described.

하나의 화소 행(Pixel Row)에 대해서, 4N개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연속적으로 교차하는 방향으로 형성되는 신호 라인으로서는 1개의 게이트 라인(GL(m))만이 표시패널(11)에 형성된다. (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1), and DL (4n) with respect to one pixel row (Pixel Row) Only one gate line GL (m) is formed on the display panel 11 as a signal line to be formed.

하나의 화소 행(Pixel Row)에 대해서 형성된 1개의 게이트 라인(GL(m))은 하나의 화소 행에 있는 모든 화소(4개의 화소(P1~P4) 포함) 각각에 포함된 제1 트랜지스터(T1)와 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극을 동시에 만들어준다.One gate line GL (m) formed with respect to one pixel row is connected to the first transistor T1 (m) included in each of all the pixels (including four pixels P1 to P4) And the gate electrode of the second transistor T2.

그리고, 1개의 게이트 라인(GL(m))은 하나의 화소 행에 있는 모든 화소(4개의 화소(P1~P4) 포함) 각각에 포함된 제1 트랜지스터(T1)와 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극으로 스캔신호(공통 스캔신호)를 동시에 인가해준다. Each of the first transistor T1 and the second transistor T2 included in each of the pixels (including the four pixels P1 to P4) in one pixel row is connected to one gate line GL (m) And simultaneously applies a scan signal (common scan signal) to the gate electrode.

이와 같은 3T1C 기반의 1 스캔 구조와 관련하여, 제1 트랜지스터(T1)는 기본적으로 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 노드(N2)로 데이터 전압을 인가해주는 트랜지스터로서 유기발광다이오드의 구동과 관련된 트랜지스터이다. 이에 비해, 제2 트랜지스터(T2)는 유기발광다이오드의 구동과도 관련이 있을 수 있지만 기본적으로는 화소 간 휘도 편차를 보상해주기 위한 센싱(Sensing)과 관련된 트랜지스터이다. The first transistor T1 is basically a transistor that applies a data voltage to the gate node N2 of the driving transistor DT and is a transistor associated with the driving of the organic light emitting diode. In contrast, although the second transistor T2 may be related to the driving of the organic light emitting diode, it is basically a transistor related to sensing to compensate for the luminance deviation between pixels.

위와 같이, 2개의 트랜지스터(T1, T2)는 그 용도 및 기능이 다르기 때문에, 하나의 게이트 라인으로부터 스캔신호를 공통으로 인가하여 제어하는 것은, 2개의 트랜지스터(T1, T2)와 관련된 구동 동작 및 센싱 동작에도 큰 영향을 끼칠 수 있다. 따라서, 본 발명의 제1 실시예는 간단하고 컴팩트한 화소 구조, 즉, 3T1C 기반의 1 스캔 구조를 구현함에 있어서, 화소의 구동 동작 및 센싱 동작 등이 전혀 문제 없이 정상적으로 이루어질 수 있도록 하는 구동 방법(예: 구동 모드, S-센싱 모드, F-센싱 모드 각각에 대한 신호 공급 타이밍, 스위칭 동작 타이밍 등)과 추가적인 구성(예: 제2 스위치(SW2) 등)이 필요하다. 이러한 3T1C 기반의 1 스캔 구조에 맞는 구동 방법에서는 뒤에서 도 17 내지 도 24b를 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. As described above, since the two transistors T1 and T2 have different uses and functions, the common application of the scan signals from one gate line controls the driving operation related to the two transistors T1 and T2, It can have a great influence on the operation. Accordingly, the first embodiment of the present invention is a driving method for realizing a simple and compact pixel structure, that is, a 1-scan structure based on a 3T1C, without any problems in the driving operation and the sensing operation of the pixel For example, a signal supply timing for each of the driving mode, the S-sensing mode, and the F-sensing mode, a switching operation timing, etc.) and an additional configuration (for example, the second switch SW2). A driving method suitable for such a 3T1C-based one-scan structure will be described in detail later with reference to FIGS. 17 to 24B.

아래에서는, 이상에서 도 3 내지 도 5를 참조하여 설명한 신호라인 연결구조에 대하여, 도 6a, 도 6b 및 도 6c의 단면도를 참조하여 다시 한번 확인해본다.
Hereinafter, the signal line connection structure described above with reference to Figs. 3 to 5 will be described again with reference to Figs. 6A, 6B and 6C.

도 6a는 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n)), 구동전압 라인(DVL), 기준전압 라인(RVL)에 대한 형성 위치 구조를 확인하기 위한 도 4에서의 Ⅰ-Ⅰ’ 단면도이다. FIG. 6A is a graph showing the relationship between the voltages applied to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n), the driving voltage line DVL and the reference voltage line RVL 4 is a cross-sectional view taken along the line I-I 'in Fig. 4 for confirming the formation position structure.

도 6a의 Ⅰ-Ⅰ’ 단면도는 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 4개의 화소(P1~P4)의 영역에서 행(Row) 방향으로의 단면도이다. Sectional view of FIG. 6A shows four pixels P1 to P4 connected to four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) In the row direction.

도 6a를 참조하여, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 4개의 화소(P1~P4)의 영역에서, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n)), 구동전압 라인(DVL), 기준전압 라인(RVL)이 어떠한 위치에 형성되는지를 설명한다. 신호 라인들의 형성을 위한 공정은 도 25a 내지 도 25f를 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. Referring to FIG. 6A, in the region of four pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) , The driving voltage line DVL and the reference voltage line RVL are arranged at any positions of the four data lines DL 4n-3, DL 4n-2, DL 4n-1 and DL 4n, Is formed. The process for forming the signal lines is described in further detail with reference to FIGS. 25A to 25F.

도 6a를 참조하면, 기준전압 라인(RVL)은 기판(60)에 형성된 게이트 절연막(61) 상에 형성되되, 4개의 화소 영역 가운데 지점, 즉, P2 화소 영역과 P3 화소 영역 사이에 형성될 수 있다. 6A, the reference voltage line RVL is formed on the gate insulating film 61 formed on the substrate 60, and may be formed between the four pixel regions, that is, between the P2 pixel region and the P3 pixel region have.

도 6a를 참조하면, 구동전압 라인(DVL)은 4개의 화소 영역의 좌측과 우측에 하나씩 형성된다. 2개의 구동전압 라인(DVL) 중 P1 화소 영역 좌측에 있는 구동전압 라인(DVL)은 연결패턴(CP)과 연결되고, 이 연결패턴(CP)은 P2 화소에 포함된 구동 트랜지스터(DT)의 제3노드(N3)와 연결된다. 또한, 2개의 구동전압 라인(DVL) 중 P4 화소 영역 우측에 있는 구동전압 라인(DVL)은 연결패턴(CP)과 연결되고, 이 연결패턴(CP)은 P3 화소에 포함된 구동 트랜지스터(DT)의 제3노드(N3)와 연결된다.Referring to FIG. 6A, a driving voltage line DVL is formed on the left and right sides of four pixel regions. The driving voltage line DVL on the left side of the P1 pixel region of the two driving voltage lines DVL is connected to the connection pattern CP and the connection pattern CP is connected to the drain of the driving transistor DT 3 node N3. The driving voltage line DVL on the right side of the P4 pixel region of the two driving voltage lines DVL is connected to the connection pattern CP and the connection pattern CP is connected to the driving transistor DT included in the P3 pixel. And the third node N3.

도 6a를 참조하면, 홀수번째 데이터 라인, 즉, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))은 해당 화소(P1, P3)의 화소 영역 우측에 형성되고, 짝수번째 데이터 라인, 즉, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))은 해당 화소(P1, P3)의 화소 영역 우측에 형성된다. Referring to FIG. 6A, the odd-numbered data lines, that is, the (4n-3) th data lines DL (4n-3) (4n-2) th data line DL (4n-3) and the 4n-1th data line DL (4n-1) are formed on the right side of the pixel P1, P3 on the right side of the pixel region.

도 6a를 참조하면, P1 화소 영역에서의 신호라인들의 위치 및 연결구조는, P4 화소 영역에서의 신호라인들의 위치 및 연결구조와 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 서로 대칭이다. 또한, P2 화소 영역에서의 신호라인들의 위치 및 연결구조는, P3 화소 영역에서의 신호라인들의 위치 및 연결구조와 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 서로 대칭이다.
Referring to FIG. 6A, the positions and the connection structures of the signal lines in the P 1 pixel region are symmetrical with respect to the position and connection structure of the signal lines in the P 4 pixel region and the reference voltage line RVL. In addition, the positions and the connection structures of the signal lines in the P2 pixel region are symmetrical with respect to the position and connection structure of the signal lines in the P3 pixel region and the reference voltage line (RVL).

도 6b는 구동전압 라인 연결 구조를 확인하기 위한 도 4에서의 Ⅱ-Ⅱ' 단면도이고, 도 6c는 기준전압 라인 연결 구조를 확인하기 위한 도 4에서의 Ⅲ-Ⅲ' 단면도와 Ⅳ-Ⅳ' 단면도이다. FIG. 6B is a cross-sectional view taken along the line II-II 'in FIG. 4 for confirming the drive voltage line connection structure, FIG. 6C is a cross-sectional view taken along line III-III' and FIG. to be.

먼저, 도 6b 및 도 4를 참조하여 구동전압 라인 연결 구조를 확인해 본다. First, referring to FIG. 6B and FIG. 4, a driving voltage line connection structure will be described.

우선, 도 6b의 Ⅱ-Ⅱ' 단면도를 참조하면, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)와 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2) 각각의 구동 트랜지스터(DT)에서의 게이트 전극(N2)이 기판(60) 상에 형성된다. 이때, 연결패턴(CP)도 함께 기판(60) 상에 형성된다. 6B, the pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) and the (4n-2) th data line DL (4n-2) The gate electrode N2 in the driving transistor DT of each connected pixel P2 is formed on the substrate 60. [ At this time, a connection pattern CP is formed on the substrate 60 as well.

각 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(N2)과 연결패턴(CP) 위에 게이트 절연막(61)이 형성된다. The gate insulating film 61 is formed on the connection pattern CP and the gate electrode N2 of each driving transistor DT.

게이트 절연막(61) 상에서, 각 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(N1) 및 드레인 전극(N2) 간의 채널이 형성되어야 하는 위치에 반도체 층(62)을 형성하고, 각 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(N2) 및 드레인 전극(N3)이 형성된다. 이때, 구동전압 라인(DVL) 및 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2))도 함께 형성된다. 상기 형성 과정 이후, 평탄화 막(63), 유기발광다이오드의 제1전극(E: Electrode) 등이 형성된다. A semiconductor layer 62 is formed on the gate insulating film 61 at a position where a channel between the source electrode N1 and the drain electrode N2 of each driving transistor DT is to be formed, An electrode N2 and a drain electrode N3 are formed. At this time, the driving voltage line DVL and the data lines DL (4n-3) and DL (4n-2) are also formed. After the formation process, a planarization layer 63, a first electrode (E) of the organic light emitting diode, and the like are formed.

이러한 형성 과정을 통해, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극(N3)은, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 영역의 좌측에 구동전압 라인(RVL)과 직접 연결되고, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2)의 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극(N3)은 구동전압 라인(RVL)과 컨택 홀(Contact Hole)을 통해 연결된 연결패턴(CP)과 연결되어, 구동전압 라인 연결 구조를 만들어진다. Through this formation process, the drain electrode N3 of the driving transistor DT of the pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) 2) connected directly to the driving voltage line RVL to the left of the region of the pixel P1 connected to the (4n-2) -th data line DL (-3n-3) DT is connected to a connection pattern CP connected to the driving voltage line RVL through a contact hole to form a driving voltage line connection structure.

도 6b는 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 영역의 좌측에 구동전압 라인(RVL)이 2개의 화소(P1, P2)와 연결되는 구조를 나타낸 단면도로서, 이는, 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 영역의 우측에 구동전압 라인(RVL)이 나머지 2개의 화소(P3, P4)와 연결되는 구조를 나타낸 단면도와 동일하다. 이는 도 8을 참조하여 후술할 표시패널(11)의 대칭성 구조와 관련된다. 6B is a sectional view showing a structure in which the driving voltage line RVL is connected to the two pixels P1 and P2 on the left side of the region of the pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) Is the same as the cross-sectional view showing a structure in which the driving voltage line RVL is connected to the remaining two pixels P3 and P4 to the right of the region of the pixel P4 connected to the 4n-th data line DL (4n) Do. This relates to the symmetry structure of the display panel 11 to be described later with reference to Fig.

다음으로, 도 6c를 참조하여 기준전압 라인 연결 구조를 확인해본다. Next, referring to FIG. 6C, the reference voltage line connection structure is checked.

먼저, 도 6c의 Ⅲ-Ⅲ' 단면도를 통해, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2)와 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3) 각각의 제1 트랜지스터(T1)가 기준전압 라인(RVL)과 직접 연결되는 기준전압 라인 연결 구조를 살펴본다. First, the pixel connected to the (4n-2) th data line DL (4n-2) and the (4n-1) th data line DL (4n-1) are connected through the sectional view of III- A reference voltage line connection structure in which the first transistor T1 of each pixel P3 is directly connected to the reference voltage line RVL will be described.

우선, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2)와 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3) 각각의 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(64c, 65c)이 기판(60) 상에 형성된다. First, the first transistor T1 of each of the pixels P3 connected to the 4n-2th data line DL (4n-2) and the pixel P3 connected to the 4n-1th data line DL (4n-1) Gate electrodes 64c and 65c are formed on the substrate 60. [

각 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(64c, 65c) 위에 게이트 절연막(61)이 형성된다. A gate insulating film 61 is formed on the gate electrodes 64c and 65c of each first transistor T1.

게이트 절연막(61) 상에, 각 제1 트랜지스터(T1)의 소스 및 드레인 전극(64b, 64c, 65b, 65c)의 채널 역할을 하는 반도체 층(62)이 형성되고, 그 위에 각 제1 트랜지스터(T1)의 소스 및 드레인 전극(64a, 64b, 65a, 65b)이 형성된다. A semiconductor layer 62 serving as a channel of the source and drain electrodes 64b, 64c, 65b and 65c of each first transistor T1 is formed on the gate insulating film 61, T1 and the source and drain electrodes 64a, 64b, 65a, and 65b are formed.

각 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(64a, 65a) 형성 시 기준전압 라인(RVL)이 함께 또는 일체로 형성된다. The reference voltage lines RVL are formed together or integrally when the drain electrodes 64a and 65a of the first transistors T1 are formed.

따라서, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2)와 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3) 각각의 제1 트랜지스터(T1)가 기준전압 라인(RVL)과 직접 연결된다. Therefore, the first transistor T1 (T1) of each of the pixels P3 connected to the (4n-2) th data line DL (4n-2) and the pixel P3 connected to the (4n- Is directly connected to the reference voltage line RVL.

다음으로, 도 6c의 Ⅳ-Ⅳ' 단면도를 통해, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1)와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P4) 각각의 제1 트랜지스터(T1)가 기준전압 라인(RVL)에 연결된 연결패턴(CP)에 연결되는 기준전압 라인 연결 구조를 살펴본다. Next, the pixel connected to the 4n-3th data line (DL (4n-3)) and the pixel connected to the 4nth data line (DL (4n)) through the section IV-IV ' ) Are connected to a connection pattern (CP) connected to the reference voltage line (RVL).

우선, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1)와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P4) 각각의 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(66c, 67c)이 기판(60) 상에 형성된다. 이때, 금속 물질의 연결패턴(CP)도 함께 형성된다. The gate electrode of the first transistor T1 of each pixel P4 connected to the 4n-3th data line DL (4n-3) and the pixel P4 connected to the 4nth data line DL (4n) (66c, 67c) are formed on the substrate (60). At this time, a connection pattern CP of a metal material is also formed.

각 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(66c, 67c) 및 연결패턴(CP) 위에 게이트 절연막(61)이 형성된다. A gate insulating film 61 is formed on the gate electrodes 66c and 67c and the connection pattern CP of each first transistor T1.

게이트 절연막(61) 상에, 각 제1 트랜지스터(T1)의 소스 및 드레인 전극(66a, 66b, 67a, 67b)의 채널 역할을 하는 반도체 층(62)이 형성되고, 그 위에 각 제1 트랜지스터(T1)의 소스 및 드레인 전극(66a, 66b, 67a, 67b)이 형성된다. A semiconductor layer 62 serving as a channel of the source and drain electrodes 66a, 66b, 67a and 67b of each first transistor T1 is formed on the gate insulating film 61, T1 and source and drain electrodes 66a, 66b, 67a, 67b are formed.

각 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(66a, 67a)은, 컨택 홀을 통해 연결패턴(CP)과 연결된다. The drain electrodes 66a and 67a of each first transistor T1 are connected to the connection pattern CP through the contact holes.

이러한 형성 과정에 따라, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1)와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P4) 각각의 제1 트랜지스터(T1)가 기준전압 라인(RVL)에 연결된 연결패턴(CP)에 연결된다. According to this formation process, the first transistor T1 (T1) of each of the pixels P4 connected to the 4n-3th data line DL (4n-3) and the pixel P4 connected to the 4nth data line DL Is connected to the connection pattern CP connected to the reference voltage line RVL.

아래에서는, 이상에서 전술한 화소 구조를 갖는 화소에서 유기발광다이오드의 제1전극(E)이 형성되는 구조를 도 7을 참조하여 설명한다.
Hereinafter, the structure in which the first electrode E of the organic light emitting diode is formed in the pixel having the above-described pixel structure will be described with reference to FIG.

도 7은 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(N1)과 유기발광다이오드의 제1전극(E: Electrode)을 연결하기 위한 구조를 설명하기 위한 단면도로서, 도 4에서의 Ⅳ-Ⅳ' 단면도이다.7 is a cross-sectional view illustrating a structure for connecting the source electrode N1 of the driving transistor DT and the first electrode (E: Electrode) of the organic light emitting diode, taken along line IV-IV 'in FIG.

도 7을 참조하면, 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(N2), 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(67c)이 기판(60)상에 형성된다. 이때, 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(N1)과 제1 트랜지스터(T1)의 소스 전극(67b)을 연결시켜 주고, 스토리지 캐패시터(Cst)의 일면이 되는 금속 물질의 제1플레이트(68)도 함께 기판(60)상에 함께 형성된다. 이후, 게이트 절연막(61)이 형성된다. Referring to Fig. 7, the gate electrode N2 of the driving transistor DT and the gate electrode 67c of the first transistor T1 are formed on the substrate 60. Fig. At this time, the source electrode N1 of the driving transistor DT is connected to the source electrode 67b of the first transistor T1, and the first plate 68 of metal material, which is one surface of the storage capacitor Cst, Are formed together on the substrate (60). Thereafter, a gate insulating film 61 is formed.

구동 트랜지스터(DT)의 소스/드레인 전극(N1, N3)의 채널이 되는 반도체 층(62)과 제1 트랜지스터(T1)의 소스/드레인 전극(67b, 67a)의 채널이 되는 반도체 층(62)이 게이트 절연막(61) 위에 형성된다. The semiconductor layer 62 serving as the channel of the source / drain electrodes N1 and N3 of the driving transistor DT and the semiconductor layer 62 serving as the channel of the source / drain electrodes 67b and 67a of the first transistor T1, Is formed on the gate insulating film 61.

이후, 구동 트랜지스터(DT)의 소스/드레인 전극(N1, N3), 제1 트랜지스터(T1)의 소스/드레인 전극(67b, 67a)이 형성된다. Thereafter, the source / drain electrodes N1 and N3 of the driving transistor DT and the source / drain electrodes 67b and 67a of the first transistor T1 are formed.

이때, 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(N1)은 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(N2), 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(67c)과 함께 형성된 제1플레이트(68)와 연결되어 형성되고, 제1 트랜지스터(T1)의 소스 전극(67b)은, 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(N2), 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극(67c)과 함께 형성된 제1플레이트 (68)와 연결되어 형성된다. 또한, 이때, 스토리지 캐패시터(Cst)를 형성하기 위해, 위에서 언급한 제1플레이트(68)와 대응하도록 제2플레이트(69)도 게이트 절연막(61) 위에 함께 형성된다. At this time, the source electrode N1 of the driving transistor DT is connected to the first plate 68 formed together with the gate electrode N2 of the driving transistor DT and the gate electrode 67c of the first transistor T1 And the source electrode 67b of the first transistor T1 is connected to the first plate 68 formed together with the gate electrode N2 of the driving transistor DT and the gate electrode 67c of the first transistor T1, Respectively. At this time, in order to form the storage capacitor Cst, the second plate 69 is also formed on the gate insulating film 61 so as to correspond to the first plate 68 mentioned above.

이후, 평탄화 층(63)이 위에 형성되고, 제1 트랜지스터(T1)의 소스 전극(67b)과 컨택홀 형태로 연결되는 보조전극(SE: Sub Electrode)이 형성되고, 그 위에, 유기발광다이오드의 제1전극(E)이 형성된다. Subsequently, a planarization layer 63 is formed on the organic light emitting diode, and an auxiliary electrode (SE: Sub Electrode) connected to the source electrode 67b of the first transistor T1 in the form of a contact hole is formed. A first electrode (E) is formed.

여기서, 유기발광다이오드의 제1전극(E)은 제1실시예에서 예로 든 회로 구성 상으로는 애노드 전극이지만, 회로 설계의 변경에 따라 캐소드 전극일 수 있다. 보조전극(SE)은 제1전극(E)과 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(N1)의 연결을 보조해주는 전극이다. Here, the first electrode E of the organic light emitting diode is an anode electrode in the circuit configuration exemplified in the first embodiment, but may be a cathode electrode according to a change in circuit design. The auxiliary electrode SE is an electrode for assisting the connection of the first electrode E and the source electrode N1 of the driving transistor DT.

유기발광다이오드의 제1전극(E)은, 일 예로, ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ITZO(Indium-Tin-Zinc-Oxide) 등의 투명전극일 수 있으며, 이 경우, 보조전극(SE)은, 일 예로, 은(Ag), 알루미늄(Al) 등의 금속전극일 수 있으며, 제1전극(E)과 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(N1)의 연결을 보조해주는 역할뿐만 아니라 반사판으로서의 역할을 할 수도 있다. The first electrode E of the organic light emitting diode may be a transparent electrode such as ITO (Indium Tin Oxide), IZO (Indium Zinc Oxide), ITZO (Indium-Tin-Zinc-Oxide) The auxiliary electrode SE may be a metallic electrode such as silver (Ag) or aluminum (Al), for example. The auxiliary electrode SE may be formed of a material that supports the connection between the first electrode E and the source electrode N1 of the driving transistor DT It can also serve as a reflector as well as a role.

전술한 형성 과정에 따라, 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(N1), 제1 트랜지스터(T1)의 소스 전극(67b), 스토리지 캐패시터(Cst)의 제1플레이트(68), 제1전극(E)이 연결된다. The source electrode N1 of the driving transistor DT, the source electrode 67b of the first transistor T1, the first plate 68 of the storage capacitor Cst and the first electrode E of the storage capacitor Cst in accordance with the above- ).

이상에서는, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 화소 구조, 즉, 3T1C 기반의 1 스캔 구조(기본 화소 구조)와 신호 라인 연결 구조를 설명하였다. 이하에서는, 도 8을 참조하여, 전술한 화소 구조와 관련된 표시패널(11)의 대칭성 구조적 특징에 대하여 설명한다.
The pixel structure of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention, that is, the 1-scan structure based on 3T1C (basic pixel structure) and the signal line connection structure have been described above. Hereinafter, the symmetrical structural features of the display panel 11 related to the above-described pixel structure will be described with reference to Fig.

도 8은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 표시패널(11)에 대한 대칭성 구조적 특징을 설명하기 위한 간략한 평면도이다. 8 is a simplified plan view for explaining symmetrical structural features of the display panel 11 of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention.

도 8을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 표시패널(11)은, 데이터 라인 개수가 4N개일 때, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1)의 화소 구조와 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2)의 화소 구조는 서로 대칭이 되고, 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3)의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P4)의 화소 구조는 서로 대칭이 되는 1차 대칭 구조를 갖는다. 8, the display panel 11 of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention includes a 4n-th data line DL (4n- 3) and the pixel structure of the pixel P2 connected to the (4n-2) th data line DL (4n-2) are symmetrical to each other, and the pixel structure of the (4n-1) and the pixel structure of the pixel P4 connected to the (4n) th data line DL (4n) are symmetrical to each other.

1차 대칭 구조에서, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1)의 화소 구조와 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2)의 화소 구조는 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2)) 사이의 가상의 대칭선을 기준으로 대칭이 된다. 그리고, 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3)의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P4)의 화소 구조는 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 4n 번째 데이터 라인(DL(4n)) 사이의 가상의 대칭선을 기준으로 대칭이 된다. The pixel structure connected to the (4n-2) th data line DL (4n-2) and the pixel structure of the pixel P1 connected to the 4n-3th data line DL (4n- Is symmetrical with respect to a virtual symmetry line between the (4n-3) th data line DL (4n-3) and the (4n-2) th data line DL (4n-2). The pixel structure of the pixel P3 connected to the (4n-1) th data line DL (4n-1) and the pixel structure of the pixel P4 connected to the 4nth data line DL (4n) Is symmetrical with respect to a virtual symmetry line between the data line DL (4n-1) and the 4nth data line DL (4n).

또한, 도 8을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 표시패널(11)은, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1)의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P4)의 화소 구조는 서로 대칭이 되고, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2)의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3)의 화소 구조는 서로 대칭이 되는 2차 대칭 구조를 갖는다. 8, the display panel 11 of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention includes a pixel 11 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) The pixel structure of the pixel P1 connected to the 4n-th data line DL (4n-2) and the pixel structure of the pixel P4 connected to the 4n-th data line DL (4n) And the pixel structure of the pixel P3 connected to the (4n-1) th data line DL (4n-1) have a quadratic symmetric structure symmetrical to each other.

2차 대칭 구조에서, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1)의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P4)의 화소 구조는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이 된다. 그리고, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2)의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3)의 화소 구조는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이다. The pixel structure of the pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) and the pixel structure of the pixel P4 connected to the 4n th data line DL (4n) And is symmetrical with respect to the reference voltage line RVL. The pixel structure of the pixel P3 connected to the 4n-2th data line DL (4n-2) and the pixel structure of the pixel P3 connected to the 4n-1th data line DL (4n-1) And symmetrical with respect to the reference voltage line RVL.

전술한 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 표시패널(11)에서, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결되는 4개의 화소(P1~P4)는 1차 대칭 구조를 이루면서도, 동시에 2차 대칭 구조를 이루는 “이중 대칭 구조”를 갖는다. As described above, in the display panel 11 of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention, four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL The four pixels P1 to P4 connected to the pixels 4n-1 and 4n have a first symmetry structure and a second symmetry structure simultaneously.

이러한 이중 대칭 구조와 관련된 화소 구조는, 3T1C 형성 위치를 포함할 수 있으며, 유기발광다이오드 형성 위치를 더 포함할 수도 있다. 여기서, 3T1C 형성 위치는, 트랜지스터 형성 위치, 캐패시터 형성 위치 등을 포함한다. The pixel structure associated with such a double symmetric structure may include a 3T1C forming position and may further include an organic light emitting diode forming position. Here, the 3T1C forming position includes a transistor forming position, a capacitor forming position, and the like.

각 화소 영역은 유기발광다이오드가 발광되는 발광 영역(81)과 3개의 트랜지스터(DT, T1, T2) 및 스토리지 캐패시터(Cst)가 형성되는 비발광 영역(82)으로 나누어지는데, 비발광 영역(82)에서의 3T1C 형성 위치 및 유기발광다이오드 형성위치와 관련된 이중 대칭 구조를 도 8을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. Each pixel region is divided into a light emitting region 81 in which organic light emitting diodes are emitted and a non-light emitting region 82 in which three transistors DT, T1 and T2 and a storage capacitor Cst are formed. ) And the position of the organic light emitting diode formation will be described in more detail with reference to FIG.

1차 대칭 구조와 관련하여, P1 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치와 P2 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치는 P1 화소와 P2 화소 경계를 기준으로 대칭이 되고, P3 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치와 P4 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치는 P3 화소와 P4 화소 경계를 기준으로 대칭이 된다. The forming positions of the driving transistor DT and the storage capacitor Cst of the P1 pixel and the forming positions of the driving transistor DT and the storage capacitor Cst of the P2 pixel are set so that the P1 pixel and the P2 pixel boundary And the formation positions of the drive transistor DT and the storage capacitor Cst and the formation positions of the drive transistor DT and storage capacitor Cst of the P4 pixel are symmetrical with respect to the P3 pixel and the P4 pixel boundary It is symmetrical by reference.

그리고, P1 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치와 P2 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치는 P1 화소와 P2 화소 경계를 기준으로 대칭이 되고, P3 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치와 P4 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치는 P3 화소와 P4 화소 경계를 기준으로 대칭이 된다. The formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P1 pixel and the formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P2 pixel are symmetrical with respect to the P1 pixel and the P2 pixel boundary , The formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P3 pixel and the formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P4 pixel are symmetrical with respect to the P3 pixel and the P4 pixel boundary.

그리고, P1 화소의 유기발광다이오드 형성위치의 형성위치와 P2 화소의 유기발광다이오드 형성위치는 서로 대칭이 된다. P3 화소의 유기발광다이오드 형성위치의 형성위치와 P4 화소의 유기발광다이오드 형성위치는 서로 대칭이 된다. The forming position of the organic light emitting diode forming position of the P1 pixel and the organic light emitting diode forming position of the P2 pixel are symmetrical to each other. The formation position of the organic light emitting diode forming position of the P3 pixel and the organic light emitting diode forming position of the P4 pixel are symmetrical to each other.

여기서, 유기발광다이오드 형성위치는, 유기발광다이오드의 제1전극(52; 애노드 전극이지만, 회로 구성을 달리하는 경우 캐소드 전극일 수도 있음)의 형성위치 또는 유기발광다이오드의 제1전극(E)이 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 연결되는 위치일 수 있다. Here, the formation position of the organic light emitting diode may be a position where the first electrode 52 (anode electrode, but may be a cathode electrode when the circuit configuration is different) of the organic light emitting diode or the first electrode E of the organic light emitting diode And may be connected to the first node N1 of the driving transistor DT.

2차 대칭 구조와 관련하여, P1 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치와 P4 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이 되고, P2 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치와 P3 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이 된다. Regarding the quadratic symmetry structure, the formation positions of the driving transistor DT and the storage capacitor Cst of the P1 pixel and the formation positions of the driving transistor DT and the storage capacitor Cst of the P4 pixel are the reference voltage line RVL, And the formation positions of the drive transistor DT and the storage capacitor Cst and the formation position of the drive transistor DT and the storage capacitor Cst of the P3 pixel are symmetrical with respect to the reference voltage line RVL It is symmetrical by reference.

그리고, P1 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치와 P4 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이 되고, P2 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치와 P3 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이 된다.The formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P1 pixel and the formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P4 pixel are symmetrical with respect to the reference voltage line RVL , The formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P2 pixel and the formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P3 pixel are symmetrical with respect to the reference voltage line RVL.

그리고, P1 화소의 유기발광다이오드 형성위치의 형성위치와 P4 화소의 유기발광다이오드 형성위치는 서로 대칭이 된다. P2 화소의 유기발광다이오드 형성위치의 형성위치와 P3 화소의 유기발광다이오드 형성위치는 서로 대칭이 된다. The forming position of the organic light emitting diode forming position of the P1 pixel and the organic light emitting diode forming position of the P4 pixel are symmetrical to each other. The formation position of the organic light emitting diode forming position of the P2 pixel and the organic light emitting diode forming position of the P3 pixel are symmetrical to each other.

한편, 2차 대칭 구조에서, P1 화소와 P4 화소는 신호 라인 연결 구조에 있어서 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 서로 대칭이 되고, P2 화소와 P3 화소는 신호 라인 연결 구조에 있어서 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 서로 대칭이 된다.On the other hand, in the quadratic symmetric structure, the P1 pixel and the P4 pixel are symmetrical with respect to the reference voltage line (RVL) in the signal line connection structure, and the P2 pixel and the P3 pixel are connected to the reference voltage line RVL).

더욱 상세하게 설명하면, P1 화소와 P4 화소는 구동전압 라인(DVL)과 직접 연결되어 구동전압(EVDD)을 공급받고 공급받는 위치가 기준전압 라인(RVL)의 위치를 기준으로 서로 대칭이다. 또한, P1 화소와 P4 화소는 기준전압 라인(RVL)과 직접 연결되지 않고 기준전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)로부터 기준전압(Vref)을 공급받고, 공급받는 위치가 기준전압 라인(RVL)의 위치를 기준으로 서로 대칭이다.More specifically, the P1 pixel and the P4 pixel are directly connected to the driving voltage line DVL, and the positions to which the driving voltage EVDD is supplied are symmetrical with respect to the position of the reference voltage line RVL. The P1 and P4 pixels are not directly connected to the reference voltage line RVL but are supplied with the reference voltage Vref from the connection pattern CP connected to the reference voltage line RVL, RVL) are symmetrical with respect to each other.

P2 화소와 P3 화소는 구동전압 라인(DVL)과 직접 연결되지 않고 구동전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)와 연결되어 구동전압(EVDD)을 공급받고 공급받는 위치가 기준전압 라인(RVL)의 위치를 기준으로 서로 대칭이다. 또한, P2 화소와 P3 화소는 기준전압 라인(RVL)과 직접 연결되어 기준전압(Vref)을 공급받고, 공급받는 위치가 기준전압 라인(RVL)의 위치를 기준으로 서로 대칭이다.The P2 pixel and the P3 pixel are connected directly to the connection pattern CP connected to the driving voltage line RVL without being directly connected to the driving voltage line DVL, and the driving voltage EVDD is supplied to the reference voltage line RVL ) Are symmetrical with respect to each other. The P2 and P3 pixels are directly connected to the reference voltage line RVL and are supplied with the reference voltage Vref and the supplied positions are symmetrical with respect to the reference voltage line RVL.

전술한 바와 같이, 표시패널(11)은 4개의 화소열(P1~P4) 단위로 대칭 구조(단일 대칭 구조)를 가지기 때문에, 3T1C 화소 구조 하에서도 패널 구조가 간단해지고 컴팩트해질 수 있고, 결함 발생 확률도 그만큼 줄일 수 있다. 또한, 2개의 스캔신호가 반드시 필요했던 3T1C 화소 구조에서 1개의 스캔신호를 이용할 수 있는 구조로 변경함으로써 개구율을 더욱 높일 수 있다. 이로 인해, 양질의 패널을 높은 수율로 제조할 수 있다. 특히, 고해상도 및 대면적의 패널을 보다 높은 품질 및 높은 수율로 제조할 수 있다.As described above, since the display panel 11 has a symmetrical structure (single symmetrical structure) in units of four pixel columns P1 to P4, the panel structure can be simplified and compact even under the 3T1C pixel structure, Probability can also be reduced by that much. Further, the aperture ratio can be further increased by changing the structure to use one scan signal in the 3T1C pixel structure in which two scan signals are necessarily required. As a result, a high-quality panel can be produced with a high yield. In particular, high resolution and large area panels can be manufactured with higher quality and higher yield.

한편, 도 8을 참조하여 설명한 이중 대칭 구조는 유기전계발광 표시장치(10)의 표시패널(11)의 패널 구조인 것으로 설명하였으나, 이러한 이중 대칭 구조는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display) 또는 그래핀 양자점 표시장치 등의 표시패널에도 적용될 수 있으며, 이뿐만 아니라, 매트릭스 형태로 화소가 정의될 수 있기만 하면 그 어떠한 표시장치의 표시패널에도 동일하게 적용될 수 있다. 이때, 이중 대칭 구조와 관련된 화소 구조는 트랜지스터 형성 위치, 캐패시터 형성 위치 등을 포함할 수 있다. 8 is a panel structure of the display panel 11 of the organic light emitting display device 10, the double symmetric structure may be a liquid crystal display (LCD) or a graphene A quantum dot display device, and the like. In addition, the present invention can be equally applied to a display panel of any display device as long as a pixel can be defined in a matrix form. At this time, the pixel structure related to the double symmetric structure may include a transistor forming position, a capacitor forming position, and the like.

이상에서는, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 표시패널(11)과 이 표시패널(11)에서의 화소 구조와 그 대칭성에 대하여 설명하였다. The display panel 11 of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention and the symmetry of the pixel structure in the display panel 11 have been described above.

이상에서 본 발명의 제1 실시예의 화소 구조와 그 대칭성에 따르면, 규칙성 있는 신호 라인 연결 구조와 이중 대칭 구조로 인해, 간단하고 컴팩트 한 패널 설계를 가능하게 하고, 패널 제조를 용이하게 해줄 뿐만 아니라 결함 발생 확률을 줄일 수 있어 높은 품질의 패널을 높은 수율로 생산할 수 있다.According to the pixel structure and the symmetry thereof of the first embodiment of the present invention, due to the regular signal line connection structure and the double symmetrical structure, a simple and compact panel design is possible, The probability of occurrence of defects can be reduced, and a high quality panel can be produced with a high yield.

또한, 본 발명의 제1 실시예의 화소 구조와 그 대칭성에 따르면, 2개의 스캔신호가 반드시 필요한 3T1C 화소구조에서 1개의 스캔신호만을 사용하기 때문에, 하나의 화소 행(Pixel Row)에 대하여 1개의 게이트 라인만을 표시패널(11)에 형성할 수 있고, 이로 인해, 개구율을 높일 수 있고 결함(Defect) 발생 확률도 그만큼 줄일 수 있다.According to the pixel structure and the symmetry of the pixel structure of the first embodiment of the present invention, since only one scan signal is used in the 3T1C pixel structure in which two scan signals are necessarily required, only one scan line is applied to one pixel row Only the lines can be formed on the display panel 11, thereby increasing the aperture ratio and reducing the probability of occurrence of defects.

본 발명의 제1 실시예의 화소 구조와 그 대칭성에 따른 전술한 장점들은, 특히, 고해상도 및 대면적의 패널 설계 및 제조 시 더욱 큰 장점을 가질 수 있다. The pixel structure of the first embodiment of the present invention and the aforementioned advantages in terms of its symmetry can have even greater advantages, especially in high resolution and large area panel design and manufacture.

한편, 3T1C 화소구조는 기본적으로 2개의 스캔신호(구동 트랜지스터(DT)의 게이트 노드(N2)에 데이터 전압을 인가하기 위한 스위칭 트랜지스터 역할을 하는 제2 트랜지스터(T2)를 제어하는 스캔신호와 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보(문턱전압, 이동도)를 파악하기 위한 전압 센싱에 이용되는 제1 트랜지스터(T1)를 제어하는 스캔신호)를 구별하여 사용해야만 한다. On the other hand, the 3T1C pixel structure basically includes two scan signals (a scan signal for controlling the second transistor T2 serving as a switching transistor for applying a data voltage to the gate node N2 of the driving transistor DT, (A scan signal for controlling the first transistor T1 used for voltage sensing to grasp characteristic information (threshold voltage, mobility) of the data DT) must be discriminated and used.

하지만, 본 발명의 제1 실시예는, 이상에서 설명한 여러 장점들을 위해, 하나의 스캔신호만을 이용하기 때문에, 하나의 스캔신호만을 사용하더라도 화소의 모든 동작(구동 동작, 센싱 동작)이 정상적으로 이루어질 수 있도록 해주기 위하여, 3T1C 기반의 1 스캔 구조와 맞는 구동 동작 및 센싱 동작이 이루어져야만 한다. However, since the first embodiment of the present invention uses only one scan signal for the various advantages described above, all operations (driving operation, sensing operation) of the pixel can be normally performed even if only one scan signal is used The driving operation and the sensing operation corresponding to the 3T1C based one scan structure must be performed.

이에, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)는 3T1C 기반의 1 스캔 구조에 맞는 구동방법을 제공한다. Accordingly, the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention provides a driving method for a 3T1C-based one-scan structure.

아래에서는, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)가 3T1C 기반의 1 스캔 구조에 맞는 유기발광다이오드를 구동하기 위한 효율적인 구동 동작(구동 기능 또는 발광 기능)과, 3T1C 기반의 1 스캔 구조에 맞는 각 화소에서의 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보를 파악하기 위한 전압을 센싱하고 센싱된 전압(Vsen)를 이용하여 각 화소 내 구동트랜지스터 간의 특성편차를 보상해주는 센싱 동작과 보상 동작을 수행하기 위한 방법에 대해서도 설명한다. 단, 센싱 동작과 보상 동작을 위한 각 구성을 모두 포함하여 보상 구성(외부 보상 구성 또는 외부 보상 회로)이라고도 한다.
The organic light emitting display 10 according to the first embodiment of the present invention includes an efficient driving operation (driving function or light emitting function) for driving the organic light emitting diode corresponding to a 1T scan structure based on 3T1C, A sensing operation for sensing a voltage for grasping characteristic information of the driving transistor DT in each pixel corresponding to one scanning structure of the pixel and compensating for the characteristic deviation between the driving transistors in each pixel by using the sensed voltage Vsen, A method for performing the operation will also be described. However, it is also referred to as a compensation configuration (external compensation configuration or external compensation circuit) including both configurations for sensing operation and compensation operation.

도 9는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)에 포함된 외부 보상 구성을 간략하게 나타낸 도면이다. 9 is a view schematically showing an external compensation structure included in the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention.

도 9를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 보상 구성으로서, 각 화소 간 휘도 불균형을 발생시킬 수 있는 각 화소(P) 내 구동 트랜지스터(DT)의 특성편차(예: 문턱전압 편차, 이동도 편차 등)를 보상해주기 위하여, 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보(예: 문턱전압, 이동도 등)를 파악하기 위한 전압을 센싱하는 센싱부(91)와, 센싱된 전압을 저장하는 메모리(92)와, 센싱된 전압을 토대로 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보를 파악하여 이를 보상해주는 보상부(93) 등을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 9, in the compensation structure of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention, the driving transistor DT in each pixel P capable of generating a luminance unbalance between pixels A sensing section 91 for sensing a voltage for grasping characteristic information (e.g., threshold voltage, mobility, etc.) of the driving transistor DT to compensate for the characteristic deviation (e.g., threshold voltage deviation, mobility deviation, A memory 92 for storing the sensed voltage, and a compensation unit 93 for sensing characteristic information of the driving transistor DT based on the sensed voltage and compensating for the characteristic information.

전술한 센싱부(91)는, 각 화소(P) 내 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보 파악을 위한 전압을 센싱하되, 각 화소(P)의 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압을 센싱할 수 있다. The sensing unit 91 senses the voltage for holding the characteristic information of the driving transistor DT in each pixel P and detects the voltage of the first node N1 of the driving transistor DT of each pixel P Voltage can be sensed.

이러한 센싱부(91)는, 도 9에 도시된 바와 같이, 기준전압원으로부터 공급되는 기준전압(Vref)을 아날로그 값으로 변환하는 디지털 아날로그 변환부(DAC: Digital Analog Converter, 911)와, 센싱부(91)와 연결이 가능한 각 화소(P)의 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 센싱된 전압을 디지털 값으로 변환하는 아날로그 디지털 변환부(ADC: Analog Digital Converter, 912)와, 디지털 아날로그 변환부(911)로부터 아날로그로 변환된 기준전압(Vref)이 공급되는 기준전압 공급 노드(9131)와 아날로그 디지털 변환부(912)에 연결된 센싱 노드(9132) 중 하나가 기준전압 라인(RVL)과 연결되도록 스위칭하는 제1 스위치(913) 등을 포함할 수 있다. 9, the sensing unit 91 includes a digital-analog converter (DAC) 911 for converting a reference voltage Vref supplied from a reference voltage source into an analog value, a sensing unit An analog digital converter (ADC) 912 for converting the sensed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT of each pixel P which can be connected to the driving transistor NT to a digital value, One of the reference voltage supply node 9131 to which the reference voltage Vref converted from the analog to digital conversion section 911 is supplied and the sensing node 9132 to which the analog to digital conversion section 912 is connected is connected to the reference voltage line RVL A first switch 913 for switching to be connected to the first switch 913, and the like.

구동 트랜지스터(DT)의 특성정보를 파악하기 위한 전압을 센싱하기 위해서는, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 각각에 일정 전압을 인가해두고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서 전압이 변하도록 하여 변화된 전압을 센싱 전압으로 측정해야만 한다. It is necessary to apply a constant voltage to each of the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT to sense the voltage for grasping the characteristic information of the driving transistor DT, The voltage must be changed at the first node N1 of the transistor N1 and the changed voltage must be measured as the sensing voltage.

이와 관련하여, 제1 스위치(913)에 의해 기준전압 공급 노드(9131)와 기준전압 라인(RVL)과 연결되면, 디지털 아날로그 변환부(911)로부터 아날로그로 변환된 기준전압(Vref)이 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 인가된다. 그리고, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에도 일정 전압을 인가해주어야 하는데, 본 발명의 제1 실시예에서는 해당 화소와 연결된 데이터 라인(DL)으로부터 데이터 전압(Vdata)를 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 인가한다. 이후, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 센싱하기 위해서, 본 발명의 제1 실시예는, 도 9에 도시된 바와 같이, 데이터 구동부(12)의 데이터 전압 출력 지점(9141)이 해당 데이터 라인(DL)과 연결되도록 온(ON) 되거나 데이터 구동부(12)의 데이터 전압 출력 지점(9141)이 해당 데이터 라인(DL)과 플로팅되도록 오프(OFF) 되게 스위칭하는 제2 스위치(914)를 하나의 데이터 라인마다 하나씩 구비할 수 있다. 이러한 제2 스위치(914)는 해당 화소(P)에 대응되는 센싱부(91)에 기능적으로 포함되는 구성으로 볼 수 있다. In this regard, when the first switch 913 is connected to the reference voltage supply node 9131 and the reference voltage line RVL, the reference voltage Vref converted from the analog-to-digital conversion unit 911 to the analog voltage is supplied to the driving transistor Is applied to the first node N1 of the data line DT. In the first embodiment of the present invention, the data voltage Vdata is applied from the data line DL connected to the corresponding pixel to the driving transistor DT To the second node N2. 9, in order to sense the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT, the first embodiment of the present invention is arranged so that the data voltage output point of the data driver 12 (ON) to be connected to the corresponding data line DL or to turn OFF the data voltage output point 9141 of the data driver 12 to be floated with the corresponding data line DL, One switch 914 may be provided for each data line. The second switch 914 may be functionally included in the sensing unit 91 corresponding to the pixel P. For example,

전술한 제2 스위치(914)는 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 센싱하는 센싱 타이밍을 제어하기 위해 필요한 구성이다. The second switch 914 described above is a configuration necessary for controlling the sensing timing for sensing the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT.

이와 관련하여, 각 화소 내 제1 트랜지스터(T1)과 제2 트랜지스터(T2)가 동일한 하나의 스캔신호를 인가 받는데, 이로 인해, 센서 트랜지스터인 제1트랜지스터(T1)에 의한 센싱 타이밍 제어가 어렵게 되고, 이를 보완하기 위해, 제2 스위치(914)를 추가 구성하여 센싱 타이밍을 구현할 수 있다. In this regard, the same first scan signal is applied to the first transistor T1 and the second transistor T2 in each pixel. This makes it difficult to control the sensing timing by the first transistor T1, which is a sensor transistor In order to compensate for this, the second switch 914 may be additionally provided to implement the sensing timing.

전술한 센싱부(91)가 각 화소(P) 내 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 제대로 센싱하기 위해서는, 제1 스위치(913)와 제2 스위치(914)가 센싱 동작에 맞도록 정확하게 스위칭 동작이 되어야만 한다. The first switch 913 and the second switch 914 are turned on to sense the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT in each pixel P The switching operation must be accurately performed to match the sensing operation.

따라서, 타이밍 컨트롤러(14)는, 기준전압 라인(RVL)이 기준전압 공급 노드(9131)와 연결되도록 온(ON) 되거나 기준전압 라인(RVL)이 센싱 노드(9132)와 연결되도록 오프(OFF) 되게 스위칭하는 제1 스위치(913)와, 데이터 구동부(12)의 데이터 전압 출력 지점(9141)이 데이터 라인(DL)과 연결되도록 온(ON) 되거나 데이터 구동부(12)의 데이터 전압 출력 지점(9141)이 데이터 라인(DL)과 플로팅(Floating)되도록 오프(OFF) 되게 스위칭하는 제2 스위치(914)에 대한 스위칭 동작을 센싱 동작 타이밍에 맞게 제어할 수 있다. 이러한 타이밍 컨트롤러(14)에 의한 제1 스위치(913)와 제2 스위치(914)에 대한 스위칭 동작 타이밍에 대해서는, 도 19를 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. The timing controller 14 is turned off so that the reference voltage line RVL is connected to the reference voltage supply node 9131 or the reference voltage line RVL is connected to the sensing node 9132, A first switch 913 for switching the data voltage output point 9141 of the data driver 12 to be connected to the data line DL or a data voltage output point 9141 of the data driver 12, ) To the data line DL can be controlled in accordance with the timing of the sensing operation so that the switching operation for the second switch 914 for switching to OFF is performed. The switching operation timing of the first switch 913 and the second switch 914 by the timing controller 14 will be described in more detail with reference to FIG.

이상에서 전술한 센싱부(91)는, 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되거나 외부에 포함될 수 있다. The sensing unit 91 described above may be included in the data driver 12 or included in the data driver 12.

또한, 센싱부(91)는 다수가 있을 수 있는데, 각 센싱부(91)는 하나의 데이터 라인마다 있을 수도 있고, 몇 개의 데이터 라인마다 하나씩 있을 수도 있다. 또한, 각 센싱부(91)는 하나의 기준전압 라인(RVL) 마다 하나씩 있을 수 있다. There may be a plurality of sensing units 91, and each sensing unit 91 may be provided for one data line or one for several data lines. In addition, each sensing unit 91 may be provided for each reference voltage line RVL.

전술한 센싱부(91)는, 센싱된 전압을 디지털 형태로 메모리(92)에 저장해두거나 보상부(93)로 전달하여 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보가 보상되도록 한다. The sensing unit 91 stores the sensed voltage in the memory 92 in a digital form or transmits the sensed voltage to the compensating unit 93 to compensate the characteristic information of the driving transistor DT.

센싱부(91)로부터 센싱된 전압을 전달받은 보상부(93)는 센싱부(91)로부터 전달받은 디지털 형태의 전압을 전달받아 이를 토대로 문턱전압 및 이동도 중 하나 이상을 포함하는 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보를 보상하는 데이터 변환 처리를 수행할 수 있다.The compensating unit 93 receiving the sensed voltage from the sensing unit 91 receives the voltage of the digital form received from the sensing unit 91 and receives the voltage of the driving transistor DT ) Can be performed.

전술한 보상부(93)는, 센싱부(91)로부터 센싱된 전압을 디지털 형태로 받기만 하면, 유기전계발광 표시장치(10) 내 그 어떠한 위치에 있어도 무관할 수 있다. The compensation unit 93 may be independent of any position in the organic light emitting display 10 only by receiving the voltage sensed from the sensing unit 91 in digital form.

예를 들어, 보상부(93)는, 타이밍 컨트롤러(14)의 내부에 포함되거나, 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되거나, 타이밍 컨트롤러(14)와 데이터 구동부(12)의 외부에 포함되어 구현될 수 있다.
For example, the compensation unit 93 may be included in the timing controller 14, included in the data driver 12, included outside the timing controller 14 and the data driver 12, .

도 10은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)에 포함된 외부 보상 구성 중 보상부(93)가 타이밍 컨트롤러(14)의 내부에 포함되어 구현된 경우(a), 타이밍 컨트롤러(14)와 데이터 구동부(12)의 외부에 포함되어 구현된 경우(b), 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되어 구현된 경우(c) 각각을 개념적으로 나타낸 구현방식의 예시도이다. 10 is a diagram illustrating a case where the compensation unit 93 of the external compensation scheme included in the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention is implemented by being included in the timing controller 14, (B) implemented in the timing controller 14 and outside the data driver 12, and (c) included in the data driver 12, respectively .

단, 도 10에서는, 센싱부(91)가 데이터 구동부(12) 내에 포함되어 구현된 경우로 가정한다. 10, it is assumed that the sensing unit 91 is included in the data driver 12 and implemented.

도 10의 (a)를 참조하면, 보상부(93)가 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되어 구현된 경우, 센싱부(91)가 해당 화소(P)에서 센싱한 전압(SI)을 타이밍 컨트롤러(14) 내부의 보상부(93)로 전달하고, 데이터 구동부(12)의 내부에 포함된 보상부(93)는 센싱부(91)에서 전달된 전압(SI)를 토대로 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보를 파악하고 이에 기초하여 외부에서 공급된 데이터(Data)를 전달받은 보상 데이터(Data’)로 변환하여 데이터 구동부(12)의 내부에 있는 DAC(Digital Analog Converter)로 공급할 수 있다. 이에 따라, 데이터 구동부(12)의 내부에 있는 DAC(Digital Analog Converter)는 보상부(93)로부터 공급받은 디지털 형태의 보상 데이터(Data’)를 아날로그로 변환하여 해당 화소(P)로 공급해준다. Referring to FIG. 10A, when the compensation unit 93 is implemented in the data driver 12, the sensing unit 91 outputs a voltage SI sensed by the pixel P, The compensation unit 93 included in the data driver 12 supplies the driving transistor DT to the compensation unit 93 based on the voltage SI transmitted from the sensing unit 91, And supplies the externally supplied data Data to the DAC (Digital Analog Converter) inside the data driver 12 by converting the externally supplied data Data into the received compensated data Data '. Accordingly, a digital analog converter (DAC) in the data driver 12 converts the digital compensation data Data supplied from the compensation unit 93 into analog data and supplies the analog data to the corresponding pixel P.

도 10의 (b)를 참조하면, 보상부(93)가 타이밍 컨트롤러(14)와 데이터 구동부(12)의 외부에 포함되어 구현된 경우, 센싱부(91)가 해당 화소(P)에서 센싱한 전압(SI)을 데이터 구동부(12)와 타이밍 컨트롤러(14)의 외부에 있는 보상부(93)로 전달하고, 보상부(93)는 센싱부(91)에서 전달된 전압(SI)를 토대로 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보를 파악하고 이에 기초하여 타이밍 컨트롤러(14)에서 공급된 데이터(Data)를 보상 데이터(Data’)로 변환하여 데이터 구동부(12)로 공급할 수 있다. 데이터 구동부(12)는 내부에 있는 DAC(Digital Analog Converter)를 통해 보상부(93)로부터 공급받은 디지털 형태의 보상 데이터(Data’)를 아날로그로 변환하여 해당 화소(P)로 공급해준다. 10 (b), when the compensation unit 93 is embodied outside the timing controller 14 and the data driver 12, the sensing unit 91 senses the pixel P The compensating unit 93 transmits the voltage SI to the compensating unit 93 outside the data driving unit 12 and the timing controller 14. The compensating unit 93 compensates the voltage SI based on the voltage SI transmitted from the sensing unit 91 The characteristic data of the transistor DT can be grasped and the data Data supplied from the timing controller 14 can be converted into the compensation data Data ' The data driver 12 converts the digital compensation data Data 'supplied from the compensation unit 93 through a DAC (Digital Analog Converter) provided therein and converts the compensated data Data' into analog data and supplies the analog data to the pixel P.

도 10의 (c)를 참조하면, 보상부(93)가 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되어 구현된 경우, 데이터 구동부(12) 내부의 센싱부(91)가 해당 화소(P)에서 센싱한 전압(SI)을 데이터 구동부(12) 내부의 보상부(93)로 전달하고, 보상부(93)는 센싱부(91)에서 전달된 전압(SI)를 토대로 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보를 파악하고 이에 기초하여 타이밍 컨트롤러(14)에서 공급된 데이터(Data)를 보상 데이터(Data’)로 변환하여 DAC(Digital Analog Converter)로 공급할 수 있다. 이에 따라, DAC(Digital Analog Converter)는 보상부(93)로부터 공급받은 디지털 형태의 보상 데이터(Data’)를 아날로그로 변환하고, 아날로그로 변환된 보상 데이터(데이터 전압)를 해당 화소(P)로 공급해준다. 10 (c), when the compensation unit 93 is included in the data driver 12, the sensing unit 91 in the data driver 12 may sense The compensating unit 93 transmits a voltage SI to the compensating unit 93 in the data driving unit 12. The compensating unit 93 compensates the characteristic information of the driving transistor DT based on the voltage SI transmitted from the sensing unit 91, And supplies data (Data) supplied from the timing controller 14 to the DAC (Digital Analog Converter) by converting the data (Data) into the compensation data (Data '). Accordingly, the DAC (Digital Analog Converter) converts the compensation data (Data ') of the digital form supplied from the compensation unit 93 to analog, and supplies the compensation data (data voltage) Supply.

도 10의 (b) 및 (c)에서, 보상부(93)가 데이터(Data)를 공급받는 방법에 있어서, 타이밍 컨트롤러(14)로부터 직접 공급받을 수도 있지만, 타이밍 컨트롤러(14)가 메모리에 데이터를 저장해두면, 메모리에 저장된 데이터를 읽어오는 방식으로 공급받을 수도 있다. 10 (b) and 10 (c), the compensation unit 93 may be supplied directly from the timing controller 14 in the method of receiving the data Data, but the timing controller 14 may supply data , It can be supplied by reading the data stored in the memory.

도 10의 (a) 내지 (c)에 도시된 보상부(93)의 구현 예는, 디지털 형태의 데이터(Data)를 디지털 형태의 보상 데이터(Data’)로 변환하여 보상하는 디지털 기반의 보상 방식(데이터 변환 방식)이다. 이 경우, 디지털 형태의 데이터(Data)에 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보의 디지털 값을 더하거나 빼는 등의 연산 처리를 통해 디지털 형태의 보상 데이터(Data’)를 생성할 수 있다.
An example of the compensation unit 93 shown in FIGS. 10A to 10C is a digital-based compensation method for converting digital data Data into digital compensation data Data ' (Data conversion method). In this case, it is possible to generate digital type compensation data Data 'through calculation processing such as adding or subtracting the digital value of the characteristic information of the driving transistor DT to the digital type data Data.

도 11은 도 10의 (a) 내지 (c)의 경우에 대하여, 외부 보상 구성(센싱부(91), 메모리(92) 및 보상부(93))을 하나의 화소(P)에 대한 등가회로와 함께 나타낸 도면이다. 11 is a circuit diagram showing an example in which the external compensation configuration (the sensing section 91, the memory 92 and the compensation section 93) is applied to the equivalent circuit for one pixel (P) Fig.

한편, 기준전압 라인 개수가 데이터 라인 개수와 동일한 경우, 즉, 수평 방향(타 방향)으로 배치된 각 화소(P) 마다 기준전압 라인이 하나씩 형성되어 있는 경우, 수평 방향(타 방향)으로 배치된 각 화소(P)에 대응되는 센싱부(91)가 있을 수 있다. 이렇게 되면, 수평 방향(타 방향)으로 배치된 모든 화소들에 대하여 동시에 센싱 동작을 수행할 수 있다. 즉, 도 5에서 기준전압 라인(RVL)이 4개의 화소(P1~P4) 각각에 대응되어 형성되어 있다면, 동시에, 4개의 화소(P1~P4) 각각에서의 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 센싱할 수 있다. On the other hand, when the number of reference voltage lines is equal to the number of data lines, that is, when one reference voltage line is formed for each pixel P arranged in the horizontal direction (the other direction) There may be a sensing unit 91 corresponding to each pixel P. [ In this case, the sensing operation can be performed simultaneously on all the pixels arranged in the horizontal direction (the other direction). In other words, if the reference voltage line RVL is formed in correspondence with each of the four pixels P1 to P4 in FIG. 5, at the same time, It is possible to sense the changed voltage at the node N1.

하지만, 기준전압 라인 개수가 데이터 라인 개수보다 적은 경우, 일 예로, 기준전압 라인 개수가 데이터 라인 개수의 1/4인 경우, 즉, 수평 방향(타 방향)으로 배치된 4개의 화소(P) 마다 기준전압 라인이 하나씩 형성되어 있는 경우, 수평 방향(타 방향)으로 배치된 모든 화소들에 대하여 동시에 센싱 동작을 수행할 수 없고, 4개의 화소 마다 하나의 화소에 대하여 센싱 동작을 수행할 수 있다. 즉, 도 5에서와 같이 4개의 화소(P1~P4)에 대하여 하나의 기준전압 라인(RVL)이 형성되어 있다면, 4개의 화소(P1~P4) 각각의 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 동시에 센싱할 수 없고, 특정 시점에서는 4개의 화소(P1~P4) 중 하나의 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압만을 센싱할 수 있다. However, when the number of reference voltage lines is smaller than the number of data lines, for example, when the number of reference voltage lines is 1/4 of the number of data lines, that is, every four pixels P arranged in the horizontal direction When one reference voltage line is formed, a sensing operation can not be performed for all the pixels arranged in the horizontal direction (the other direction) at the same time, and a sensing operation can be performed for one pixel for every four pixels. That is, if one reference voltage line RVL is formed for the four pixels P1 to P4 as shown in FIG. 5, the first node of the driving transistor DT of each of the four pixels P1 to P4 N1 can not be sensed at the same time and only the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT of one of the four pixels P1 to P4 can be sensed at a specific point in time .

따라서, 특정 시점에서 4개의 화소(P1~P4) 중 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 센싱하기 위한 화소를 선택하는 기능이 필요할 수 있다. Therefore, it may be necessary to select a pixel for sensing the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT among the four pixels P1 to P4 at a specific point in time.

이를 위한 방법의 예로서, 제2 스위치(SW2)의 온/오프를 제어하여 화소를 선택하는 제1방법과, 제2 스위치(SW2)를 모두 온 시키되 각 화소에 인가되는 전압을 다르게 하는 제2방법이 있을 수 있다. As a method for this, there is a first method of selecting pixels by controlling on / off of the second switch SW2, a first method of turning on the second switch SW2, and a second method of turning on the second switch SW2, There can be a way.

제1방법과 관련하여, 타이밍 컨트롤러(14)는, 일 예로, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3)), 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2)), 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1)) 및 4n 번째 데이터(DL(4n)) 라인 각각에 연결된 제2 스위치(SW2) 중에서 동일 시점에 하나만 온이 되도록 제어함으로써, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소, 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소 및 4n 번째 데이터(DL(4n)) 라인과 연결된 화소 중 하나의 화소에 포함된 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에만 데이터 전압(Vdata)가 인가되도록 해 줄 수 있다. 이로 인해, 센싱부(91)에 의해 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 센싱하기 위한 화소가 선택되도록 제어할 수 있다. 이러한 센싱을 위한 화소 선택 방식은 도 12를 참조하여 예시적으로 설명한다.
(4n-3) th data line DL (4n-2), 4n-1 th data line DL Th data lines DL (4n-1) and the 4n-th data lines DL (4n) by controlling only one of the second switches SW2 connected to the first data line DL (4n-1) th pixel connected to the (4n-2) th data line DL (4n-1) The data voltage Vdata may be applied only to the second node N2 of the driving transistor DT included in one of the pixels connected to the data line DL (4n). This allows the sensing unit 91 to control so that a pixel for sensing the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT is selected. The pixel selection method for such sensing will be described by way of example with reference to FIG.

도 12는 도 10의 구현 방식에 따른 외부 보상 구성과 다수의 화소(P1~P4)를 함께 나타낸 도면이다. FIG. 12 is a diagram illustrating an external compensation structure according to the embodiment of FIG. 10 and a plurality of pixels P1 to P4.

도 12는 4개의 화소(P1~P4) 중 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3)를 선택하고, 선택된 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 센싱하여 선택된 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보(문턱전압, 이동도)를 파악하고 이를 보상해주는 것을 나타낸 도면이다. FIG. 12 is a circuit diagram of a pixel driving circuit in which a pixel P3 connected to the 4n-1th data line DL (4n-1) among the four pixels P1 to P4 is selected and the first node N1 (Threshold voltage, mobility) of the driving transistor DT of the selected pixel to sense and compensate for the characteristic information (threshold voltage, mobility) of the selected pixel.

도 12를 참조하면, 타이밍 컨트롤러(14)는, 4개의 화소(P1~P4) 중 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3)를 선택하기 위하여, 4개의 화소(P1~P4)와 데이터 전압을 공급할 수 있는 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과의 연결을 스위칭하는 4개의 제2 스위치(914a, 914b, 914c, 914d) 중에서, 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과의 연결을 스위칭하는 제2 스위치(914c)만이 온(On) 되고 나머지 제1 스위치(914a, 914b, 914d)는 오프(Off) 되도록 하는 제어신호(제2 스위치 제어신호)를 각 센싱부(91) 또는 데이터 구동부(12)로 보낼 수 있다. 12, in order to select the pixel P3 connected to the (4n-1) th data line DL (4n-1) among the four pixels P1 to P4, the timing controller 14 selects four pixels (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) capable of supplying data voltages to the data lines DL Only the second switch 914c for switching the connection with the (4n-1) -th data line DL (4n-1) among the first to third switches 914a, 914b, 914c and 914d is turned on, The switches 914a, 914b and 914d can send a control signal (second switch control signal) to each sensing part 91 or the data driving part 12 to be turned off.

한편, 화소 선택을 위한 제2방법과 관련하여, 4n-3 번째 데이터 라인, 4n-2 번째 데이터 라인, 4n-1 번째 데이터 라인 및 4n 번째 데이터 라인 각각에 연결된 제2 스위치 (SW2)를 모두 온 시키되, 4n-3 번째 데이터 라인, 4n-2 번째 데이터 라인, 4n-1 번째 데이터 라인 및 4n 번째 데이터 라인 각각에 연결된 제2 스위치(SW2)를 통해 입력되는 전압을 다르게 제어함으로써, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소, 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소 및 4n 번째 데이터(DL(4n)) 라인과 연결된 화소 중 하나의 화소에 포함된 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에만 데이터 전압(Vdata)가 인가되도록 해 줄 수 있다. 이로 인해, 센싱부(91)에 의해 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 센싱하기 위한 화소가 선택되도록 제어할 수 있다.On the other hand, all of the second switches SW2 connected to the 4n-3th data line, the 4n-2th data line, the 4n-1th data line and the 4nth data line are all turned on (4n-3) th data line, the (4n-2) th data line, the (4n-1) th data line and the 4nth data line, A pixel connected to the data line DL (4n-1), a pixel connected to the (4n-1) th data line DL (4n-1) The data voltage Vdata may be applied only to the second node N2 of the driving transistor DT included in one of the pixels connected to the 4nth data line DL (4n). This allows the sensing unit 91 to control so that a pixel for sensing the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT is selected.

일 예로, 도 12에서와 같이, 타이밍 컨트롤러(14)는, 4개의 화소(P1~P4) 중 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3)를 선택하기 위하여, 센싱을 위한 화소(P3)에만 센싱에 필요한 데이터 전압(Vdata)가 입력되고, 나머지 화소(P1, P2, P4)에는 데이터 전압과는 다른 일정 전압(오프 되는 전압으로서, 일 예로, 0.5V)이 입력되도록 입력 전압을 제어함으로써, 센싱을 위한 화소가 선택되도록 제어할 수 있다.12, the timing controller 14 selects the pixel P3 connected to the (4n-1) th data line DL (4n-1) among the four pixels P1 to P4, A data voltage Vdata necessary for sensing is input to only the pixel P3 for sensing and a constant voltage (a voltage which is turned off, for example, 0.5 V) different from the data voltage is applied to the remaining pixels P1, P2, It is possible to control the pixel to be selected for sensing by controlling the input voltage to be input.

한편, 도 10의 (a) 내지 (c)에 도시된 보상부(93)의 구현 예, 즉, 디지털 기반의 보상 방식(데이터 변환 방식) 이외에도, 도 13에 도시된 바와 같이, 데이터 구동부(12)가 타이밍 컨트롤러(14)로부터 디지털 형태의 데이터(Data)를 공급받아 데이터 구동부(12)의 DAC가 디지털 형태의 데이터(Data)를 감마 기준전압을 이용하여 아날로그로 변환하고, 보상부(93)는 센싱부(91)로부터 전달받은 트랜지스터(DT)의 특성 정보(SI)를 아날로그 값으로 변환하여, 아날로그 값으로 변환된 특성 정보에 기초하여, 아날로그로 변환된 데이터(Analog Data)를 변환하여 보상 데이터로서의 데이터 전압을 생성할 수도 있다. 이 방식은 완전한 아날로그 기반의 보상 방식(데이터 변환 방식)이다. 13, in addition to the embodiment of the compensation unit 93 shown in FIGS. 10A to 10C, that is, the digital-based compensation scheme (data conversion scheme), the data driver 12 Receives the digital data Data from the timing controller 14 and the DAC of the data driver 12 converts the digital data Data into an analog signal using the gamma reference voltage, Converts the characteristic information SI of the transistor DT received from the sensing unit 91 into an analog value and converts the analog data into analog data based on the characteristic information converted into the analog value, And may generate a data voltage as data. This method is a complete analog-based compensation method (data conversion method).

이러한 완전한 아날로그 기반의 보상 방식 이외에도, 도 14에 도시된 바와 같이, 데이터 구동부(12)가 타이밍 컨트롤러(14)로부터 디지털 형태의 데이터(Data)를 공급받아 데이터 구동부(12)의 DAC(보상부(93) 포함)가 디지털 형태의 데이터(Data)를 감마 기준전압을 이용하여 아날로그로 변환할 때 센싱부(91)로부터 전달받은 트랜지스터(DT)의 특성 정보를 이용하여 보상 데이터(Data’)를 생성하고 이를 아날로그 형태로 변환하여 데이터 전압을 생성할 수도 있다. 이 방식도 엄밀히 말해서는 디지털 형태로 데이터가 변환되지만, 아날로그로 변환하는 단계(DAC 단계)에서 이루어지므로 아날로그 기반의 보상 방식(데이터 변환 방식)이라고 한다. 14, the data driver 12 receives the digital data Data from the timing controller 14 and outputs the digital data Data to the DAC (compensator) of the data driver 12 93) generates the compensation data Data 'using the characteristic information of the transistor DT received from the sensing unit 91 when converting the digital data Data to analog using the gamma reference voltage And convert it into an analog form to generate a data voltage. This method is also referred to as an analog-based compensation method (data conversion method) because the data is strictly converted in a digital form, but is performed in a step of converting to an analogue (DAC step).

이상에서 간략하게 설명한 센싱 동작(센싱 기능) 및 보상 기능(센싱 동작)은, 구동 동작(구동 기능)과 함께, 도 17 내지 도 24를 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. The sensing operation (sensing function) and compensation function (sensing operation) briefly described above will be described in more detail with reference to Figs. 17 to 24 together with the driving operation (driving function).

아래에서는, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 전체 시스템 구성 중에서 이상에서 설명한 표시패널(11), 센싱부(91), 보상부(93) 등을 설명하였으며, 이하에서는, 데이터 구동부(12) 및 게이트 구동부(13)에 대하여 도 15a, 도 15b 및 도 16을 참조하여 간략하게 설명한다.
The display panel 11, the sensing unit 91, the compensation unit 93, and the like have been described in the overall system configuration of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention, Hereinafter, the data driver 12 and the gate driver 13 will be briefly described with reference to FIGS. 15A, 15B, and 16. FIG.

도 15a 및 도 15b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)에 포함된 데이터 구동부(12)에 대한 구성도이다. 15A and 15B are block diagrams of a data driver 12 included in the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention.

도 15a는 데이터 구동부(12)가 보상 데이터를 공급받아 데이터 라인을 구동하는 경우에 대하여, 데이터 구동부(12)를 나타낸 도면이고, 도 15b는 보상부(93)를 포함하는 데이터 구동부(12)를 나타낸 도면이다.15A is a diagram showing the data driver 12 when the data driver 12 receives the compensation data and drives the data line and FIG. 15B shows the data driver 12 including the compensator 93 Fig.

도 15a를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)에 포함된 데이터 구동부(12)는, 쉬프트 레지스터(151), 제1 데이터 레지스터(152), 제2 데이터 레지스터(153), 디지털/아날로그 변환부(154; DAC: Digital Analog Converter), 출력 버퍼(155), 데이터 수신부(156) 등을 포함한다. 15A, the data driver 12 included in the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention includes a shift register 151, a first data register 152, A register 153, a digital / analog converter (DAC) 154, an output buffer 155, a data receiving unit 156, and the like.

데이터 수신부(156)는 타이밍 컨트롤러(14) 또는 데이터 구동부(12)의 내부에 포함되거나 타이밍 컨트롤러(14)와 데이터 구동부(12)의 외부에 포함된 보상부(93)으로부터 보상 데이터(Data’)를 입력받고 RGB별로 각각 소정의 비트 디지털 데이터로 전환하여 출력한다. The data receiving unit 156 receives the compensation data Data 'from the compensating unit 93 included in the timing controller 14 or the data driving unit 12 or included in the outside of the timing controller 14 and the data driving unit 12, And converts them into predetermined bit digital data for each RGB and outputs them.

쉬프트 레지스터(151)는, 라인 바이 라인(Line By Line) 구동을 하기 위하여, 수평클럭신호(Hclock)와 수평동기신호(Hsync)로 동작 시간을 제어하는데, 즉, 수평동기신호(Hsync), 수평클럭신호(Hclock)를 타이밍 컨트롤러(14)로부터 입력받아, 수평동기신호(Hsync)를 시작신호로 선택한 한 개의 게이트 라인(GL)에 해당하는 모든 데이터(Data’)가 수평클럭신호(Hclock)에 동기화되어 순차적으로 제1 데이터 레지스터(152)에 샘플링되어 저장되도록 한다. The shift register 151 controls the operation time by using a horizontal clock signal Hclock and a horizontal synchronization signal Hsync for driving a line by line, All the data Data 'corresponding to one gate line GL which receives the clock signal Hclock from the timing controller 14 and selects the horizontal synchronizing signal Hsync as the start signal is inputted to the horizontal clock signal Hclock Synchronized and sequentially sampled and stored in the first data register 152.

제1 데이터 레지스터(152)는 m-1 번째 게이트 라인(GL(m-1))의 화소들이 구현하려는 데이터(Data’)를 순서대로 저장한다. The first data register 152 sequentially stores the data Data 'to be implemented by the pixels of the (m-1) th gate line GL (m-1).

제2 데이터 레지스터(153)는 다음 수평동기신호(Hsync)에 따라 제1 데이터 레지스터(152)에 저장된 데이터(Data’)를 저장한다. 이때, 제1 데이터 레지스터(152)에는 m 번째 게이트 라인(GL(m))의 화소들이 구현하려는 데이터(Data’)가 순서대로 저장된다. The second data register 153 stores the data Data 'stored in the first data register 152 according to the next horizontal synchronization signal Hsync. At this time, data (Data ') to be implemented by the pixels of the m-th gate line GL (m) are sequentially stored in the first data register 152.

위에서 언급한 제1 데이터 레지스터(152) 및 제2 데이터 레지스터(153) 각각은, 인버터(Inverter) 두개로 출력과 입력이 서로 연결된 래치(Latch)로구현될 수 있으며, 따라서, 제1 데이터 레지스터(152) 및 제2 데이터 레지스터(153) 각각을 제1 래치 및 제2 래치라고도 한다. Each of the first data register 152 and the second data register 153 described above may be implemented as a latch in which an output and an input are connected to each other through two inverters, 152 and the second data register 153 are also referred to as a first latch and a second latch.

DAC(154)는 외부에서 공급된 감마 기준전압을 기준으로 제2 데이터 레지스터(153)에 저장된 디지털 형태의 데이터(Data’)를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환한다. The DAC 154 converts the digital data (Data ') stored in the second data register 153 into an analog data voltage on the basis of the gamma reference voltage supplied from the outside.

출력 버퍼(155)는, 화소 구동력을 증폭시켜, 즉, 데이터 라인을 구동하기에 충분한 전류 구동능력을 갖추도록 하여, 데이터 전압을 데이터 라인을 통해 공급한다.
The output buffer 155 supplies the data voltage through the data line so as to amplify the pixel driving force, that is, to have sufficient current driving capability for driving the data line.

도 15b는 보상부(93)를 포함하는 데이터 구동부(12)를 나타낸 도면이다.FIG. 15B is a diagram showing a data driver 12 including a compensation unit 93. FIG.

도 15b를 참조하면, 데이터 구동부(12)는 보상되지 않은 데이터를 타이밍 컨트롤러(14)로부터 공급받아, 내부에 포함된 보상부(93)가 데이터를 보상하여 데이터 라인을 구동할 수 있다. Referring to FIG. 15B, the data driver 12 receives uncompensated data from the timing controller 14, and the compensator 93 included therein can compensate the data to drive the data line.

도 15b에 도시된 데이터 구동부(12)는, 도 15a에 도시된 데이터 구동부(12)와는 다르게, 보상되지 않은 데이터를 공급받기 때문에, 데이터 수신부(156)와 DAC(154)의 기능이 달라진다.Since the data driver 12 shown in FIG. 15B receives uncompensated data differently from the data driver 12 shown in FIG. 15A, the functions of the data receiver 156 and the DAC 154 are different.

도 15b를 참조하면, 데이터 수신부(156)는 타이밍 컨트롤러(14)로부터 보상되기 전의 데이터(Data)를 입력받고 RGB별로 각각 소정의 비트 디지털 데이터로 전환하여 출력한다. Referring to FIG. 15B, the data receiving unit 156 receives the data Data before being compensated from the timing controller 14, and converts the data into predetermined bit digital data for each RGB.

DAC(154)는 외부에서 공급된 감마 기준전압을 기준으로 제2 데이터 레지스터(153)에 저장된 디지털 형태의 데이터(Data)를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환할 때, 센싱부(91)로부터 더 입력받은 센싱 전압(SI)를 더 고려하여, 변환할 수 있다. 따라서, 도 15b의 데이터 구동부(12)에 포함된 DAC(154)는 보상부(93)를 내부 구성으로 포함한다.
The DAC 154 further converts the digital data Data stored in the second data register 153 into an analog data voltage on the basis of the gamma reference voltage supplied from the outside, The sensing voltage SI received may be further converted. Therefore, the DAC 154 included in the data driver 12 of FIG. 15B includes the compensator 93 as an internal configuration.

도 16은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)에 포함된 게이트 구동부(13)에 대한 구성도이다.16 is a configuration diagram of the gate driver 13 included in the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention.

도 16을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)에 포함된 게이트 구동부(13)는, 쉬프트 레지스터(161), 레벨 쉬프터(162), 출력 버퍼(163) 등을 포함한다. 16, the gate driver 13 included in the organic light emitting display 10 according to the first embodiment of the present invention includes a shift register 161, a level shifter 162, an output buffer 163, And the like.

쉬프트 레지스터(161)는 타이밍 컨트롤러(14)로부터 한 프레임의 시작을 알리는 수직동기신호(Vsync)를 받아 스캔 펄스를 발생시키기 시작하여 수직클럭신호(Vclock)에 따라 스캔 펄스의 출력이 차례로 턴 온 되도록 한다. 또한, 출력 가능 신호(OE: Output Enable)를 이용하여 게이트 라인의 충전시간을 단축함으로써, 신호지연의 영향을 방지하는 등의 논리연산 회로가 포함될 수 있다. The shift register 161 receives a vertical synchronization signal Vsync notifying the start of one frame from the timing controller 14 and starts generating a scan pulse so that the output of the scan pulse is sequentially turned on in accordance with the vertical clock signal Vclock do. Further, a logic operation circuit such as preventing the influence of the signal delay by shortening the charging time of the gate line by using the output enable signal (OE) can be included.

레벨 쉬프터(162)는, 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)를 온/오프 시킬 수 있는 전압으로 스캔 펄스를 변환해준다. 즉, 온 전압 신호(Von) 및 오프 전압 신호(Voff)에 따라, 저전압을 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)를 턴 온시키거나 턴 온프 시키는데 필요한 일정 전압 이상의 온 전압(Von)과 일정 전압 이하의 오프 전압(Voff)으로 변환한다. The level shifter 162 converts the scan pulse into a voltage capable of turning on and off the first and second transistors T1 and T2. That is, the on-voltage Von and the constant voltage Von, which are lower than a predetermined voltage necessary for turning on or turning on the first and second transistors T1 and T2, may be set in accordance with the on-voltage signal Von and the off- To a turn-off voltage (Voff) below.

출력 버퍼(163)는 RC 부하를 갖는 게이트 라인(GL)을 구동하기에 적절하도록 전류 구동 능력을 향상시켜 스캔신호를 출력해 주는 회로로 구성될 수 있다.The output buffer 163 may be formed of a circuit for outputting a scan signal by improving the current driving capability so as to be suitable for driving the gate line GL having an RC load.

한편, 게이트 구동부(13)는 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)의 게이트 노드로 하나의 게이트 라인(GL)을 통해 스캔신호를 공급한다. The gate driver 13 supplies the scan signals to the gate nodes of the first and second transistors T1 and T2 through one gate line GL.

또한, 게이트 구동부(13)는, 타이밍 컨트롤러(14)의 제어신호에 따라 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호 레벨(제2레벨(VGH) 또는 제1레벨(VGL))로 유지되는 시간이 1 수평시간(HT: Horizontal Time) 이상이 되는 스캔신호를 공급할 수 있다. 여기서, 1 수평시간은 데이터 전압이 제2레벨(VGH)로 인가되는 시간일 수 있다. 이러한 관점에서, 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호가 1 수평시간 이상 공급된다는 것은, 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호가 공급되는 시간이 데이터 전압이 제2레벨(VGH)로 공급되는 시간 이상이 될 수 있다는 것을 의미하고, 즉, 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호가 제2레벨(VGH)의 데이터 전압보다 더 오래 공급된다는 것을 의미한다. The gate driver 13 applies a scan signal level (a second level VGH or a first level VGL) for turning on the first and second transistors T1 and T2 according to the control signal of the timing controller 14, ) Is greater than or equal to one horizontal time (HT). Here, one horizontal time may be a time at which the data voltage is applied to the second level (VGH). From this point of view, the fact that the scan signals for turning on the first and second transistors T1 and T2 are supplied for one horizontal time or longer means that the scan signals for turning on the first and second transistors T1 and T2 are supplied The time for which the data voltage is supplied to the second level VGH may be longer than the time for which the data voltage is supplied to the second level VGH, Lt; RTI ID = 0.0 &gt; of the &lt; / RTI &gt; data voltage.

또한, 게이트 구동부(13)는, 타이밍 컨트롤러(14)의 제어신호에 따라 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호 레벨(제2레벨(VGH) 또는 제1레벨(VGL))로 변경된 시점이 데이터 전압의 인가 시점보다 더 빠른 스캔신호를 공급할 수 있다. The gate driver 13 applies a scan signal level (a second level VGH or a first level VGL) for turning on the first and second transistors T1 and T2 according to the control signal of the timing controller 14, ) Can supply a scan signal faster than the application time of the data voltage.

전술한 바와 같이, 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)가 턴 온 되도록 하는 레벨(제2레벨(VGH) 또는 제1레벨(VGL))로 유지되는 시간이 1 수평시간(HT) 이상이 되는 스캔신호를 공급하거나, 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)가 턴 온 되도록 하는 레벨(제2레벨(VGH) 또는 제1레벨(VGL))로 변경된 시점이 데이터 전압의 인가 시점보다 더 빠른 스캔신호를 공급하는 이유는, 데이터 차징(Data Charging)을 위한 것이다. As described above, when the time for which the levels of the first and second transistors T1 and T2 are turned on (the second level VGH or the first level VGL) becomes equal to or longer than one horizontal time HT The time point at which the scan signal is supplied or the level at which the first and second transistors T1 and T2 are turned on (the second level VGH or the first level VGL) The reason for supplying the signal is for data charging.

이와 관련하여, 스캔신호의 공급 경로인 게이트 라인(GL)의 길이가 길어지는 경우, 선택된 게이트 라인(GL)에 연결된 화소 각각에 스캔신호가 도달하는데 걸리는 시간이 화소마다 달라질 수 있다. 즉, 스캔신호가 공급되는 방향으로 처음에 위치한 화소에서 뒤로 갈수록 스캔신호가 도달하는데 걸리는 시간이 더 오래 걸릴 수 있다. 이러한 경우, 스캔신호를 늦게 공급받은 화소는, 스캔신호를 일찍 공급받은 화소에 비해, 데이터 차징 시간이 부족하여 해당 화소에서의 발광 타이밍이 늦어지거나 원하는 밝기를 내지 못하는 현상이 발생할 수 있다. 이러한 현상은 대면적 또는 고해상도의 표시패널(11)에서 더 심각하게 발생할 수 있을 것이다. 따라서, 전술한 바와 같이, 스캔신호를 데이터 전압이 인가되기 이전에 미리 길게 인가해줌으로써, 화소 간의 스캔신호 도달 시간 차이에 따른 데이터 차징이 부족하거나 화질이 저하되는 현상을 줄여줄 수 있을 것이다.In this case, when the length of the gate line GL, which is the supply path of the scan signal, becomes long, the time taken for the scan signal to reach each of the pixels connected to the selected gate line GL may vary from pixel to pixel. That is, the time taken for the scan signal to reach the backward from the pixel located first in the direction in which the scan signal is supplied may take longer. In this case, a pixel supplied with a scan signal at a later time may have a shorter data-charging time than a pixel supplied with a scan signal earlier, resulting in a delay in the emission timing of the pixel or a failure to achieve a desired brightness. This phenomenon may occur more seriously in the large-area or high-resolution display panel 11. [ Therefore, as described above, by applying the scan signal to the scan signal for a long time before the data voltage is applied, it is possible to reduce a phenomenon in which the data charging is insufficient or the image quality is lowered due to the scan signal arrival time difference between the pixels.

또한, 게이트 구동부(13)는, 타이밍 컨트롤러(14)의 제어신호에 따라, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 센싱할 수 있는 센싱 타임을 길게 또는 짧게 조절할 수 있도록, 센싱 타임의 길이에 대응되는 시간 동안 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)가 온 되도록 하는 스캔신호를 공급할 수 있다. 이는 화소가 센싱 모드 중 S-센싱 모드와 F-센싱 모드를 구분하여 동작하는데 필요한 것이다.The gate driver 13 may control the sensing time to be able to sense the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT to be longer or shorter in accordance with the control signal of the timing controller 14 , And supply a scan signal for turning on the first and second transistors (T1, T2) for a time corresponding to the length of the sensing time. This is necessary for the pixel to operate separately from the S-sensing mode and the F-sensing mode during the sensing mode.

아래에서는, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 구동방법에 대하여 도 17 내지 도 24를 참조하여 설명한다.
Hereinafter, a driving method of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 17 to 24. FIG.

도 17은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 구동방법에 대한 흐름도이다. 17 is a flowchart of a method of driving the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention.

도 17을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 구동방법은, 기준전압 라인(RVL) 또는 기준전압 라인(RVL)에 연결되는 연결패턴(CP)과 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드 사이를 연결하는 제1 트랜지스터(T1)와, 데이터 라인 및 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드 사이를 연결하는 제2 트랜지스터(T2)에 스캔신호를 공통으로 공급하고, 스캔신호에 의해 공통으로 제어되는 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)를 통해 기준전압 및 데이터 전압을 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드 및 제2노드에 각각 공급하는 단계(S170)와, 화소가 구동 모드 및 센싱 모드 중 하나의 동작 모드로 동작하도록, 기준전압, 데이터 전압 및 스캔신호 중 하나 이상에 대한 공급을 제어하는 단계(S172) 등을 포함한다. Referring to FIG. 17, a method of driving an organic light emitting display 10 according to a first embodiment of the present invention includes a connection pattern CP connected to a reference voltage line RVL or a reference voltage line RVL, A scan signal is commonly supplied to the first transistor T1 for connecting between the first node of the driving transistor DT and the second transistor T2 for connecting the data line and the second node of the driving transistor DT, And supplying a reference voltage and a data voltage to the first node and the second node of the driving transistor DT through the first transistor T1 and the second transistor T2 commonly controlled by the scan signal S170) and controlling supply of at least one of the reference voltage, the data voltage, and the scan signal (S172) so that the pixel operates in one of the driving mode and the sensing mode.

도 17을 참조하면, S172 단계에서, 스캔신호의 레벨을 제1 레벨에서 제2 레벨로 바꾸어 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)를 턴 온시켜 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 및 제2노드(N2)에 기준전압(Vref) 및 데이터 전압(Vdata)이 각각 인가되도록 하고, 이후, 스캔신호의 레벨을 다시 제1 레벨로 바꿈으로써, 구동 트랜지스터(DT)에 의해 유기발광다이오드를 구동하는 구동 단계(S174)를 더 포함할 수 있다. 이때, 화소는 구동 모드(Driving Mode)로 동작한다고 한다. 17, in step S172, the level of the scan signal is changed from the first level to the second level to turn on the first transistor T1 and the second transistor T2 to turn on the first node T1 of the driving transistor DT, The reference voltage Vref and the data voltage Vdata are respectively applied to the first node N1 and the second node N2 and then the level of the scan signal is changed to the first level, And driving the organic light emitting diode (S174). At this time, it is assumed that the pixel operates in a driving mode.

또한, 도 17을 참조하면, S172 단계에서, 스캔신호의 레벨을 제1 레벨에서 제2 레벨로 바꾸어 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)를 턴 온시켜 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 및 제2노드(N2)에 기준전압(Vref) 및 데이터 전압(Vdata)이 각각 인가되도록 하고, 이후, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 인가된 기준전압(Vref)만을 플로팅(Floating) 시킴으로써, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서 변화된 전압을 센싱하는 S-센싱(Slow-Sensing) 단계(S176)를 더 포함할 수 있다. 이때, 화소는 S-센싱 모드(S-Sensing Mode)로 동작한다고 한다. 17, in step S172, the level of the scan signal is changed from the first level to the second level to turn on the first transistor T1 and the second transistor T2 to turn off the driving transistor DT The reference voltage Vref and the data voltage Vdata are applied to the first node N1 and the second node N2 respectively and then the reference voltage Vref applied to the first node N1 of the driving transistor DT (Slow-Sensing) step S176 for sensing a voltage changed at the first node N1 of the driving transistor DT by floating only the first node N1 of the driving transistor DT. At this time, the pixel is assumed to operate in the S-sensing mode.

또한, 도 17을 참조하면, S172 단계에서, 스캔신호의 레벨을 바꾸어 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)를 턴 온시켜 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 및 제2노드(N2)에 기준전압(Vref) 및 데이터 전압(Vdata)이 각각 인가되도록 하고, 이후, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 및 제2노드(N2)에 기준전압(Vref) 및 데이터 전압(Vdata)을 모두 플로팅(Floating) 시키거나 기준전압(Vref)만을 플로팅시킴으로써, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서 변화된 전압을 센싱하는 F-센싱(Fast-Sensing) 단계(S178)를 더 포함할 수 있다. 이때, 화소는 F-센싱 모드(F-Sensing Mode)로 동작한다고 한다. 17, in step S172, the level of the scan signal is changed to turn on the first transistor T1 and the second transistor T2 to turn on the first node N1 of the driving transistor DT and the second node N1 of the driving transistor DT. The reference voltage Vref and the data voltage Vdata are respectively applied to the node N2 and the reference voltage Vref and the reference voltage Vref are applied to the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT, A F-sensing step of sensing the voltage changed at the first node N1 of the driving transistor DT by floating all of the data voltage Vdata or floating only the reference voltage Vref S178). At this time, the pixel is assumed to operate in the F-sensing mode.

전술한 S-센싱 단계(S176)에서는, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 인가된 기준전압(Vref)만을 플로팅시킨 시점부터 스캔신호의 레벨이 제1 레벨로 다시 바뀔 때까지의 시간을 “S-센싱 타임(S-Sensing Time)”으로 하여 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서 변화된 전압을 센싱할 수 있다. In the above-described S-sensing step S176, from the time when only the reference voltage Vref applied to the first node N1 of the driving transistor DT is floated, until the level of the scan signal is changed back to the first level It is possible to sense the voltage changed at the first node N1 of the driving transistor DT by setting the time to &quot; S-sensing time &quot;.

전술한 F-센싱 단계(S178)에서는, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 및 제2노드(N2)에 기준전압(Vref) 및 데이터 전압(Vdata)을 모두 플로팅시키거나 기준전압(Vref)만을 플로팅시킨 시점부터 스캔신호의 레벨이 제1 레벨로 다시 바뀔 때까지의 시간을 “F-센싱 타임(F-Sensing Time)”으로 하여 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서 변화된 전압을 센싱할 수 있다. The reference voltage Vref and the data voltage Vdata are both floated or the reference voltage Vdata is applied to the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT in the F- The time until the level of the scan signal is changed back to the first level from the time when only the floating gate Vref is turned on is referred to as &quot; F-sensing time &quot;, and the time from the first node N1 of the driving transistor DT The changed voltage can be sensed.

위에서 언급한 S-센싱 타임은 F-센싱 타임보다 길다. S-센싱 타임과 F-센싱 타임은 화소 내 구동 트랜지스터(DT) 등의 소자 특성에 따라 달라질 수 있지만, 예를 들어, S-센싱 타임은 대략 10msec 정도되고, F-센싱 타임은 대략 100μsec 정도 된다. The above-mentioned S-sensing time is longer than F-sensing time. The S-sensing time and the F-sensing time may vary depending on the device characteristics of the driving transistor DT and the like in the pixel. For example, the S-sensing time is about 10 msec and the F-sensing time is about 100 μsec .

이러한 S-센싱 타임과 F-센싱 타임의 길이는, 타이밍 컨트롤러(14)의 제어신호에 따라 게이트 구동부(13)에서 제1, 2 트랜지스터에 공통으로 공급하는 스캔신호로 제어될 수 있다. 즉, S-센싱 타임과 F-센싱 타임의 길이는 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)를 턴 온시키는 스캔신호의 레벨이 유지되는 시간을 조절함으로써, 제어될 수 있다. The length of the S-sensing time and the F-sensing time can be controlled by a scan signal supplied to the first and second transistors in the gate driver 13 in accordance with the control signal of the timing controller 14. [ That is, the length of the S-sensing time and the F-sensing time can be controlled by adjusting the time during which the level of the scan signal for turning on the first and second transistors T1 and T2 is maintained.

전술한 S-센싱 단계(S176)는, 유기전계발광 표시장치(10)의 출하 이전에만 동작하는 단계이고, 전술한 F-센싱 단계(S178)는 유기전계발광 표시장치(10)의 출하 이전 및 이후에 모두 동작할 수 있는 단계로 설정될 수 있다. 여기서, 유기전계발광 표시장치(10)의 출하 이전 및 이후는, 유기전계발광 표시장치(10)의 시리얼 번호, 출하 여부 정보, 또는 동작 가능한 센싱 단계 식별 정보 등의 저장 여부에 따라 구분될 수 있다.The aforementioned S-sensing step S176 is a stage which is operated only before shipment of the organic light emitting display device 10 and the above-described F-sensing step S178 is performed before and after shipment of the organic light emitting display device 10 It can be set as a step that can be operated all after that. Here, before and after shipment of the organic light emitting display device 10 may be classified according to whether the serial number of the organic light emitting display device 10, shipping information, or sensing step identification information that can be operated is stored .

한편, 도 17에 도시된 바와 같이, S-센싱 단계(S176) 또는 F-센싱 단계(S178) 이후, 센싱된 전압을 토대로 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압 및 이동도 중 하나 이상을 보상하는 보상 단계(S180)를 더 포함할 수 있다. 17, after the S-sensing step S176 or the F-sensing step S178, a compensation for compensating for at least one of the threshold voltage and the mobility of the driving transistor DT on the basis of the sensed voltage, Step S180 may be further included.

이상에서 전술한 바와 같이, 화소는 구동 모드 및 센싱 모드(S-센싱 모드, F-센싱 모드) 중 하나로 동작할 수 있는데, 이러한 화소의 동작 모드를 타이밍 컨트롤러(14)가 제어할 수 있다. As described above, the pixel can operate in one of a driving mode and a sensing mode (S-sensing mode, F-sensing mode), and the timing controller 14 can control the operation mode of the pixel.

일 예로, 타이밍 컨트롤러(14)는, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)의 스위칭 동작(ON/OFF)과 스캔신호의 파형을 제어하여, 제2 스위치(SW2)에 의해 데이터 전압의 공급이 가능한 화소가 구동 모드 및 센싱 모드 중 하나의 동작 모드로 동작하도록 제어할 수 있다.
For example, the timing controller 14 controls the switching operation (ON / OFF) of the first switch SW1 and the second switch SW2 and the waveform of the scan signal so that the data voltage To be operated in one of the driving mode and the sensing mode.

도 18은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 화소가 동작하는 3가지 모드(구동 모드, S-센싱 모드, F-센싱 모드)에 대한 스캔신호의 파형과 제1 스위치(SW1, 913) 및 제2 스위치(SW2, 914)에 대한 동작 타이밍도이다.18 shows waveforms of scan signals for three modes (drive mode, S-sensing mode, and F-sensing mode) in which pixels of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention operate, 1 switches SW1, 913 and the second switches SW2, 914, respectively.

도 18에서, 스캔신호의 레벨은 제1레벨이거나 제2레벨일 수 있으며, 스캔신호의 레벨이 제2레벨일 때 제1 트랜지스터(T1)와 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온(Turn-On) 될 수 있다. 본 명세서에서는, 제1 트랜지스터(T1)와 제2 트랜지스터(T2)을 N타입으로 예시하고 있으므로, 제1레벨은 로우 레벨(VGL)이고 제2레벨은 하이 레벨(VGH)이다. 제1 트랜지스터(T1)와 제2 트랜지스터(T2)의 타입이 P타입으로 바뀌는 경우, 제2레벨이 로우 레벨(VGL)이고 제1레벨이 하이 레벨(VGH)일 수 있다 18, the level of the scan signal may be the first level or the second level. When the level of the scan signal is the second level, the first transistor T1 and the second transistor T2 are turned on ). In this specification, since the first transistor T1 and the second transistor T2 are N-type, the first level is the low level (VGL) and the second level is the high level (VGH). When the type of the first transistor T1 and the second transistor T2 is changed to P type, the second level may be a low level (VGL) and the first level may be a high level (VGH)

먼저, 구동 모드의 타이밍도를 나타낸 도 18의 (a)를 참조하면, 타이밍 컨트롤러(14)는, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)를 항상 온(ON)이 되도록 제어하고, 스캔신호 레벨이 제1레벨(VGL)에서 제2레벨(VGH)로 바뀌고, 다시 제1레벨(VGL)로 바뀌는 스캔신호를 공급함으로써, 제2 스위치(SW2)에 의해 데이터 전압의 공급이 가능한 화소가 구동 모드로 동작하도록 제어한다. First, referring to Fig. 18A showing the timing chart of the drive mode, the timing controller 14 controls the first switch SW1 and the second switch SW2 to be always on, The scan signal level is changed from the first level (VGL) to the second level (VGH) and then the scan signal is changed to the first level (VGL) To operate in the drive mode.

즉, 타이밍 컨트롤러(14)는, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호가 일정 시간 동안 공급되고, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 항상 온(ON)이 되도록 제어하여, 제2 스위치(SW2)에 의해 데이터 전압의 공급이 가능한 화소가 구동 모드로 동작하도록 제어할 수 있다. That is, the timing controller 14 supplies a scan signal for turning on the first transistor T1 and the second transistor T2 for a predetermined time, and the first switch SW1 and the second switch SW2 It can be controlled so as to be always on so that the pixel capable of supplying the data voltage by the second switch SW2 can be controlled to operate in the driving mode.

이러한 구동 모드에서, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호가 일정 시간 동안 공급되는 구간, 즉, 스캔신호 레벨이 제2레벨(VGH)인 구간은 초기화 단계(STEP1)이고, 스캔신호 레벨이 제1레벨(VGL)로 바뀐 이후 구간은 구동 단계(STEP2)이다. In this driving mode, a period during which the scan signal for turning on the first transistor T1 and the second transistor T2 is supplied for a predetermined time, that is, a period during which the scan signal level is the second level (VGH) (STEP1), and the period after the scan signal level is changed to the first level (VGL) is the drive step (STEP2).

또한, 구동 모드와 관련하여, 게이트 구동부(130)는, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 데이터 전압이 인가되도록 스캔신호의 레벨을 제1레벨(VGL)에서 제2레벨(VGH)로 바꾸어 공급하되, 제어 신호에 따라 스캔신호의 하이 제2레벨(VGH) 구간이 1 수평 시간 이상이 되도록 공급할 수 있다. 즉, 게이트 구동부(130)는, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 되도록 스캔신호를 1 수평 시간 이상 공급할 수 있다. In relation to the driving mode, the gate driving unit 130 changes the level of the scan signal from the first level (VGL) to the second level (VGH) so that the data voltage is applied to the second node (N2) ), And supply the scan signal in such a manner that the high second level (VGH) of the scan signal is equal to or longer than one horizontal time according to the control signal. That is, the gate driver 130 may supply the scan signal for at least one horizontal time such that the first transistor T1 and the second transistor T2 are turned on.

또한, 게이트 구동부(130)는, 스캔신호의 레벨을 제1레벨(VGL)에서 제2레벨(VGH)로 변경하는 시점이 데이터 전압의 레벨이 제2레벨(VGH)로 변경되는 시점(즉, 스캔신호 인가 시점)보다 앞서도록 제어 신호에 따라 스캔신호를 제어할 수 있다. 즉, 게이트 구동부(130)는, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호를 데이터 전압 공급 시점보다 앞서 공급할 수 있다. The gate driving unit 130 may control the timing at which the level of the scan signal is changed from the first level VGL to the second level VGH when the level of the data voltage is changed to the second level VGH, The scan signal can be controlled according to the control signal so as to be ahead of the scan signal application time. That is, the gate driver 130 may supply a scan signal for turning on the first transistor T1 and the second transistor T2 before the data voltage supply time.

다음으로, S-센싱 모드의 타이밍도를 나타낸 도 18의 (b)를 참조하면, 타이밍 컨트롤러(14)는, 제1 스위치(SW1)가 오프에서 온이 되도록 제어하고 이때 제2 스위치(SW2)가 온이 계속해서 유지되도록 제어하여, 제2 스위치(SW2)에 의해 데이터 전압의 공급이 가능한 화소가 센싱 모드 중 S-센싱 모드로 동작하기 시작하도록 제어할 수 있다. Next, referring to FIG. 18 (b) showing the timing chart of the S-sensing mode, the timing controller 14 controls the first switch SW1 to be turned off and the second switch SW2, So that the pixel capable of supplying the data voltage by the second switch SW2 can start to operate in the S-sensing mode during the sensing mode.

즉, 타이밍 컨트롤러(14)는, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호가 일정 시간(S-센싱 모드 전체 구간) 공급되는 동안, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 온 되어 있다가 제1 스위치(SW1)만 오프 되도록 제어함으로써, 제2 스위치(SW2)에 의해 데이터 전압의 공급이 가능한 화소가 센싱 모드 중 S-센싱 모드로 동작하도록 제어할 수 있다.That is, the timing controller 14 controls the first switch SW1 while the scan signal for turning on the first transistor T1 and the second transistor T2 is supplied for a predetermined period of time (the entire S-sensing mode) And the second switch SW2 are turned on so that only the first switch SW1 is turned off so that the pixel capable of supplying the data voltage by the second switch SW2 operates in the S-sensing mode during the sensing mode Can be controlled.

더욱 상세하게 설명하면, 타이밍 컨트롤러(14)는, 제2 스위치(SW2)가 온 일 때 제1 스위치(SW1)를 온 시켜서 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 함께 온이 되도록 제어하여, 스캔신호에 의해 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 제어되어 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2)에 기준전압(Vref)과 데이터 전압(Vdata)이 각각 인가되도록 제어한 이후, 제1 스위치(SW1)만 오프가 되도록 제어하여, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 전압이 변화되도록 제어할 수 있다. More specifically, the timing controller 14 turns on the first switch SW1 when the second switch SW2 is turned on so that the first switch SW1 and the second switch SW2 are turned on together The first transistor T1 and the second transistor T2 are controlled by the scan signal so that the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT receive the reference voltage Vref and data The voltage at the first node N1 of the driving transistor DT can be controlled to be changed by controlling only the first switch SW1 to be turned off after the voltage Vdata is applied to the driving transistor DT.

이에 따라, 센싱부(91)는, 제1 스위치(SW1)만 오프가 된 시점부터 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호의 공급이 끝나는 시점(즉, 스캔신호의 레벨이 제2레벨(VGH)에서 제1레벨(VGL)로 바뀌는 시점)까지를 S-센싱 타임으로 하여, S-센싱 타임 사이에 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압(Vdata-Vth)을 센싱할 수 있다. The sensing unit 91 senses the timing at which supply of the scan signal for turning on the first transistor T1 and the second transistor T2 from the time when only the first switch SW1 is turned off (The time point at which the level of the scan signal changes from the second level VGH to the first level VGL) is set to the S-sensing time, and the first node N1 of the driving transistor DT during the S- (Vdata-Vth) of the first transistor Q1 can be sensed.

스캔신호 레벨이 제2레벨(VGH)인 구간은 S-센싱 모드 전체 구간이고, 이러한 S-센싱 모드 전체 구간에서, 제1 스위치(SW1)과 제2 스위치(SW2)가 모두 온인 구간은 초기화 단계(STEP1)이고, 제1 스위치(SW1)만 오프가 된 구간은 센싱 단계(STEP2)이다. The period in which the scan signal level is the second level (VGH) is the entire S-sensing mode. In the entire S-sensing mode, a period in which the first switch (SW1) and the second switch (SW2) (STEP1), and the section in which only the first switch SW1 is turned off is the sensing step STEP2.

또 다음으로, F-센싱 모드의 타이밍도를 나타낸 도 18의 (c)를 참조하면, 타이밍 컨트롤러(14)는, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)를 함께 오프에서 온이 되도록 제어하여, 제2 스위치(SW2)에 의해 데이터 전압의 공급이 가능한 화소가 센싱 모드 중 F-센싱 모드로 동작하기 시작하도록 제어할 수 있다. Next, referring to FIG. 18 (c) showing the timing chart of the F-sensing mode, the timing controller 14 controls the first switch SW1 and the second switch SW2 to be turned off together So that the pixel capable of supplying the data voltage by the second switch SW2 can start to operate in the F-sensing mode during the sensing mode.

즉, 타이밍 컨트롤러(14)는, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호가 일정 시간(F-센싱 모드 전체 구간) 공급되는 동안, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 온 되어 있다가 모두 오프 되거나 제1 스위치(SW1)만 오프 되도록 제어함으로써, 제2 스위치(SW2)에 의해 데이터 전압의 공급이 가능한 화소가 센싱 모드 중 F-센싱 모드로 동작하도록 제어할 수 있다. That is, the timing controller 14 controls the first switch SW1 while the scan signal for turning on the first transistor T1 and the second transistor T2 is supplied for a predetermined time (F-sensing mode full period) And the second switch SW2 are turned on and all of them are turned off or only the first switch SW1 is turned off so that the pixel capable of supplying the data voltage by the second switch SW2 is turned off in the F- As shown in Fig.

더욱 상세하게 설명하면, 타이밍 컨트롤러(14)는, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 함께 온이 되도록 제어하여, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2)에 기준전압(Vref)과 데이터 전압(Vdata)이 각각 인가되도록 제어하고, 이후, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 모두 오프 되거나 제1 스위치(SW1) 만 오프되도록 제어하여, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2)에 공급되는 기준전압(Vref)과 데이터 전압(Vdata)을 플로팅(Floating)시키거나 기준전압(Vref)만을 플로팅시켜, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 전압이 변화되도록 제어할 수 있다. More specifically, the timing controller 14 controls the first switch SW1 and the second switch SW2 to be on together so that the first node N1 of the driving transistor DT and the second node N1 of the driving transistor DT are turned on, The first switch SW1 and the second switch SW2 are both turned off or only the first switch SW1 is turned off so that the reference voltage Vref and the data voltage Vdata are applied to the node N2, The reference voltage Vref and the data voltage Vdata supplied to the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT are floated or only the reference voltage Vref is floated , So that the voltage at the first node N1 of the driving transistor DT can be controlled to change.

이에 따라, 센싱부(91)는, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 모두 오프가 된 시점 또는 제1 스위치(SW1)만 오프 된 시점부터 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호의 공급이 끝나는 시점(스캔신호의 레벨이 제2레벨(VGH)에서 제1레벨(VGL)로 바뀌는 시점)까지를 F-센싱 타임으로 하여, F-센싱 타임 사이에 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 센싱할 수 있다. 여기서, F-센싱 타임은 S-센싱 타임보다는 상당히 짧은 시간이다. Accordingly, the sensing unit 91 is turned on when the first switch SW1 and the second switch SW2 are both turned off, or when the first switch SW1 is turned off, The time from when the supply of the scan signal for turning on the transistor T2 is completed (the time point at which the level of the scan signal changes from the second level (VGH) to the first level (VGL)) is taken as the F- It is possible to sense the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT during the sensing time. Here, the F-sensing time is considerably shorter than the S-sensing time.

제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호가 공급되는 시간, 즉, 스캔신호 레벨이 제2레벨(VGH)인 구간은 F-센싱 모드 전체 구간이다. 이러한 F-센싱 모드 전체 구간에서, 제1 스위치(SW1)과 제2 스위치(SW2)가 모두 온인 구간은 초기화 단계(STEP1)이고, 제1 스위치(SW1)과 제2 스위치(SW2)가 모두 오프이거나 제1 스위치(SW1)만 오프가 된 구간은 센싱 단계(STEP2)이다. The period during which the scan signal for turning on the first transistor T1 and the second transistor T2 is supplied, that is, the period during which the scan signal level is the second level (VGH), is the entire F-sensing mode. In the entire F-sensing mode, a period in which both the first switch SW1 and the second switch SW2 are ON is an initialization step (STEP1). When the first switch SW1 and the second switch SW2 are both off Or the section in which only the first switch SW1 is turned off is the sensing step STEP2.

여기서, F-센싱 모드의 센싱 단계(STEP2)는 S-센싱 모드의 센싱 단계(STEP2)보다 상당히 짧은 시간이다. 즉, F-센싱 타임은 S-센싱 타임보다는 상당히 짧은 시간이다. 이는, 타이밍 컨트롤러(14)의 제어에 따라, 게이트 구동부(13)가, S-센싱 모드에서보다 F-센싱 모드에서, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 턴 온 되도록 하는 스캔신호가 공급되는 시간을 훨씬 짧게 함으로써 가능해진다. Here, the sensing step STEP2 of the F-sensing mode is considerably shorter than the sensing step STEP2 of the S-sensing mode. That is, the F-sensing time is considerably shorter than the S-sensing time. This is because the gate driver 13 controls the first transistor T1 and the second transistor T2 to be turned on in the F-sensing mode rather than the S-sensing mode under the control of the timing controller 14 The time for supplying the signal can be made much shorter.

도 18에서, 스캔신호의 제1레벨(VGL)과 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)의 제1레벨(VGL)은 전압 값이 같을 수도 있고 다를 수도 있다. 또한, 스캔신호의 제2레벨(VGH)과 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)의 제2레벨(VGH)은 전압 값이 같을 수도 있고 다를 수도 있다.
In FIG. 18, the first level (VGL) of the scan signal and the first level (VGL) of the first switch (SW1) and the second switch (SW2) may have the same or different voltage values. The second level (VGH) of the scan signal and the second level (VGH) of the first switch (SW1) and the second switch (SW2) may have the same or different voltage values.

아래에서는, 위에서 간략하게 설명한 3가지 동작 모드(구동 모드, S-센싱 모드, F-센싱 모드)에 대하여 더욱 상세하게 설명한다.
In the following, three operation modes (drive mode, S-sensing mode, F-sensing mode) briefly described above will be described in more detail.

먼저, 도 19a, 도 19b, 도 20을 참조하여 구동 모드에 대하여 설명한다. First, the drive mode will be described with reference to Figs. 19A, 19B and 20.

도 19a 및 도 19b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 화소가 구동 모드로 동작할 때의 회로도이다. 도 20은 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 화소가 구동 모드로 동작할 때의 전압 변화 그래프이다. 19A and 19B are circuit diagrams when a pixel of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention operates in a driving mode. FIG. 20 is a graph of voltage change when a pixel of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention operates in a driving mode.

도 19a는 도 18의 (a)에서 구동 모드의 초기화 단계(STEP1)에 대한 회로도이고, 도 19b는 도 18의 (a)에서 구동 단계(STEP2)에 대한 회로도이다. FIG. 19A is a circuit diagram for the drive mode initialization step (STEP1) in FIG. 18A, and FIG. 19B is a circuit diagram for the drive step STEP2 in FIG.

도 19a를 참조하면, 구동 모드의 초기화 단계(STEP1)에서는, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 온(ON)이고, 스캔신호 레벨이 제1레벨(VGL)에서 바뀐 제2레벨(VGH)이 유지되는 단계이다. 이때, 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)는 턴 온 되어 있고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 기준전압(Vref)이 인가되고 제2노드(N2)에 데이터 전압(Vdata)가 인가된 상태이다.19A, in the initialization step (STEP1) of the drive mode, the first switch SW1 and the second switch SW2 are turned on and the scan signal level is changed from the first level VGL to the second level Level (VGH) is maintained. At this time, the first and second transistors T1 and T2 are turned on and the reference voltage Vref is applied to the first node N1 of the driving transistor DT and the data voltage Vdata is applied to the second node N2. Is applied.

여기서, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1: 소스노드)와 제2노드(N2: 게이트 노드)의 전위차(Vgs=Vdata-Vth)가 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)보다 높아지도록, 기준전압(Vref)과 데이터 전압(Vdata)이 설정될 수 있다. Here, the potential difference (Vgs = Vdata-Vth) between the first node N1 (source node) and the second node N2 (gate node) of the driving transistor DT is higher than the threshold voltage Vth of the driving transistor DT The reference voltage Vref and the data voltage Vdata can be set.

유기발광다이오드에 전류가 흐르려면, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압이 유기발광다이오드의 문턱전압과 기저전압(EVSS)을 합한 전압보다 높아야 한다. The voltage of the first node N1 of the driving transistor DT must be higher than the sum of the threshold voltage of the organic light emitting diode and the ground voltage EVSS to allow current to flow through the organic light emitting diode.

초기화 단계(STEP1)에서 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압이 기준전압(Vref)이고, 이 기준전압(Vref)은 유기발광다이오드에 전류가 흐를 수 있는 전압보다 낮은 전압이므로, 초기화 단계(STEP1)에서는 유기발광다이오드에 전류가 흐르지 않는다. 여기서, 기준전압(Vref)은, 유기발광다이오드에 전류가 흐를 수 있는 전압보다 낮도록, 기저전압(EVSS)에서 유기발광다이오드의 문턱전압(Vth’)만큼 높은 전압보다 낮게 설정될 수 있다(Vref<EVSS+Vth’). 일 예로, 기저전압(EVSS)을 그라운드(GND) 전압으로 설정한 경우, 기준전압(Vref)은 유기발광다이오드의 문턱전압보다 낮게 설정될 수 있다. Since the voltage of the first node N1 of the driving transistor DT in the initializing step STEP1 is the reference voltage Vref and the reference voltage Vref is lower than the voltage at which the current can flow in the organic light emitting diode, In the initialization step (STEP1), no current flows through the organic light emitting diode. Here, the reference voltage Vref may be set to be lower than a voltage which is higher than the threshold voltage Vth 'of the organic light emitting diode at the base voltage EVSS so that the current can flow through the organic light emitting diode (Vref &Lt; EVSS + Vth '). For example, when the ground voltage EVSS is set to the ground (GND) voltage, the reference voltage Vref may be set to be lower than the threshold voltage of the organic light emitting diode.

초기화 단계(STEP1)에서는, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 각각에는 구동 트랜지스터(DT)를 턴 온 시킬 수 있는 정전압이 인가되어 있고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 인가된 전압(Vref)은 유기발광다이오드로 전류가 흐르지 않도록 설정되어 있기 때문에, 구동 트랜지스터(DT)를 통해 흐르는 전류(Ids)는 제1노드(N1)를 거쳐 기준전압 라인(RVL)으로 흐르게 된다. 이때, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압은 바뀌지 않는다. A constant voltage capable of turning on the driving transistor DT is applied to the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT and the driving transistor DT is turned on in the initialization step STEP1, The voltage Vref applied to the first node N1 of the driving transistor DT is set such that the current does not flow to the organic light emitting diode and therefore the current Ids flowing through the driving transistor DT flows through the first node N1 Voltage line RVL. At this time, the voltage of the first node N1 of the driving transistor DT is not changed.

이후, 도 20에 도시된 바와 같이, t2와 t3 사이에 스캔신호의 전압이 낮아지게 되면, 즉, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)를 턴 온시켰던 스캔신호의 레벨이 제1레벨(VGL)로 바뀌어 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 턴 오프되면, 이 시점부터 구동 단계(STEP2)가 시작된다. 이 시점이 도 18의 (b)에서 스캔신호의 레벨이 제1레벨(VGL)로 바뀌는 시점이다. 20, when the voltage of the scan signal becomes lower between t2 and t3, that is, when the level of the scan signal, which turns on the first transistor T1 and the second transistor T2, When the first transistor T1 and the second transistor T2 are turned off by the level VGL, the driving step STEP2 starts from this point. At this point in time, the level of the scan signal is changed to the first level (VGL) in FIG. 18 (b).

이러한 구동 단계(STEP2)에서의 회로도를 나타낸 것이 도 19b이다. FIG. 19B shows a circuit diagram in the driving step STEP2.

도 19b 및 도 20을 참조하면, 구동 단계(STEP2)에서는, 스캔신호의 전압이 낮아짐에 따라, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 각각의 전압의 정전압으로 유지할 수 없게 되고, 초기화 단계(STEP1)에서 제1노드(N1)를 거쳐 기준전압 라인(RVL)으로 흐르던 구동 트랜지스터(DT)의 도통 전류(Ids)가 제1노드(N1)를 거쳐 기준전압 라인(RVL)으로 흐를 수 없게 되어 유기발광다이오드로 흐르게 되고, 유기발광다이오드가 발광을 하기 시작한다. 19B and 20, in the driving step STEP2, the voltage of the first node N1 and the voltage of the second node N2 of the driving transistor DT become constant And the conduction current Ids of the driving transistor DT which has flowed from the reference voltage line RVL via the first node N1 to the reference voltage line RVL in the initializing step STEP1 is supplied to the reference voltage line RVL through the first node N1, (RVL) and flows into the organic light emitting diode, and the organic light emitting diode starts to emit light.

또한, 구동 트랜지스터(DT)의 도통 전류(Ids)가 유기발광다이오드로 흐르게 됨에 따라, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압이 바뀌게 서서히 높아지게 되고, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)도 함께 서서히 높아지게 된다. 이러한 전압 상승은 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압이 기저전압(EVSS)과 유기발광다이오드의 문턱전압을 합한 전압이 될 때까지 발생하고, 상승된 전압은 스토리지 캐패시터(Cst)에 의해 유지된다.
As the conduction current Ids of the driving transistor DT flows into the organic light emitting diode, the voltage of the first node N1 of the driving transistor DT gradually increases, The node N2 also increases gradually. This voltage increase occurs until the voltage of the first node N1 of the driving transistor DT becomes equal to the sum of the ground voltage EVSS and the threshold voltage of the organic light emitting diode, Lt; / RTI &gt;

다음으로, 도 21a, 도 21b, 도 22a, 도 22b를 참조하여 센싱 모드의 일종인 S-센싱 모드에 대하여 설명한다. Next, the S-sensing mode, which is a type of sensing mode, will be described with reference to Figs. 21A, 21B, 22A, and 22B.

도 21a 및 도 21b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 화소가 S-센싱 모드로 동작할 때의 회로도이다. 도 22a는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 화소가 S-센싱 모드로 동작할 때의 전압 변화 그래프이다. 도 22b는 각 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압 편차를 나타낸 Vgs-Ids 그래프이다. 21A and 21B are circuit diagrams when a pixel of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention operates in the S-sensing mode. 22A is a voltage change graph when a pixel of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention operates in the S-sensing mode. 22B is a graph of Vgs-Ids showing a threshold voltage deviation of the driving transistor DT of each pixel.

도 21a는 도 18의 (b)에서 S-센싱 모드의 초기화 단계(STEP1)에 대한 회로도이고, 도 21b는 도 18의 (b)에서 센싱 단계(STEP2)에 대한 회로도이다. FIG. 21A is a circuit diagram for the S-sensing mode initialization step (STEP1) in FIG. 18B, and FIG. 21B is a circuit diagram for the sensing step STEP2 in FIG. 18B.

도 21a를 참조하면, S-센싱 모드의 초기화 단계(STEP1)에서는, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 온(ON)이고, 스캔신호 레벨이 제1레벨(VGL)에서 바뀐 제2레벨(VGH)이 유지되는 단계이다. 이때, 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)는 턴 온 되어 있고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 기준전압(Vref)이 인가되고 제2노드(N2)에 데이터 전압(Vdata)가 인가된 상태이다. 이때, 스토리지 캐패시터(Cst)는 충전되어, 양단(N1, N2)에 일정 전위차(Vdata-Vref)를 저장한다. 21A, in the initializing step (STEP1) of the S-sensing mode, when the first switch SW1 and the second switch SW2 are ON and the scan signal level is changed at the first level VGL And the second level (VGH) is maintained. At this time, the first and second transistors T1 and T2 are turned on and the reference voltage Vref is applied to the first node N1 of the driving transistor DT and the data voltage Vdata is applied to the second node N2. Is applied. At this time, the storage capacitor Cst is charged and stores a constant potential difference (Vdata-Vref) at both ends N1 and N2.

도 18의 (b)를 참조하면, 제1 스위치(SW1)만 오프시킴으로써, 센싱 단계(STEP2)가 시작하여 스캔신호의 레벨이 제1레벨(VGL)로 바뀔 때까지 계속된다. 센싱 단계(STEP2)의 시간 길이가 S-센싱 모드에서의 S-센싱 타임이다. Referring to (b) of FIG. 18, by turning off only the first switch SW1, the sensing step STEP2 starts and continues until the level of the scan signal is changed to the first level VGL. The time length of the sensing step (STEP2) is the S-sensing time in the S-sensing mode.

이러한 센싱 단계(STEP2)에서의 회로도가 도 21b이다. The circuit diagram in the sensing step STEP2 is shown in Fig. 21B.

도 21b 및 도 22a를 참조하면, 센싱 단계(STEP2)에서는, 제2 스위치(SW2)가 온 되어 있으므로, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)의 전압(게이트 전압)이 정전압(Vdata)로 일정하게 유지되고 있고, 초기화 단계(STEP1)에서 스토리지 캐패시터(Cst)에 충전되어 있던 전하(Q)가 방전되면서 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압(소스 전압)이 서서히 상승(Boosting)하기 시작한다. 21B and 22A, since the second switch SW2 is turned on in the sensing step STEP2, the voltage (gate voltage) of the second node N2 of the driving transistor DT becomes the positive voltage Vdata, And the voltage (source voltage) of the first node N1 of the driving transistor DT gradually rises as the charge Q charged in the storage capacitor Cst is discharged in the initializing step STEP1 (Boosting).

도 22a를 참조하면, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압(소스 전압)의 상승은 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 간의 전압 차이가 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)이 될 때까지 일어난다. 이는, 하기 수학식 1에서와 같이, 구동 트랜지스터(DT)의 Vgs가 문턱전압(Vth)이 되었을 때, 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 노드(N3) 및 소스 노드(N1) 간에 흐르는 전류(Ids)가 0이 되는 원리에 의한 것이며, 이는, 도 22b에 도시된 Vgs-Ids 그래프에서도 확인될 수 있다. 22A, the rise of the voltage (source voltage) of the first node N1 of the driving transistor DT causes a voltage difference between the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT And reaches the threshold voltage Vth of the driving transistor DT. This is because the current Ids flowing between the drain node N3 and the source node N1 of the driving transistor DT becomes equal to the threshold voltage Vth when Vgs of the driving transistor DT becomes equal to the threshold voltage Vth, Is 0, which can be confirmed also in the Vgs-Ids graph shown in Fig. 22B.

Figure pat00001
Figure pat00001

상기 수학식 1에서, Ids는 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 노드(N3) 및 소스 노드(N1) 간에 흐르는 전류이고, Vgs는 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 간의 전압 차이이고, Vth는 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압이다. k는 구동 트랜지스터(DT)의 이동도(Mobility)에 대한 성분으로서, 이동도(Mobility)인 μ, 옥사이드 캐패시턴스(Oxide Capacitance)인 Cox, 채널 폭(Channel Width)인 W, 채널 길이(Channel Length)인 L에 의해 정의된다. Ids is the current flowing between the drain node N3 and the source node N1 of the driving transistor DT and Vgs is the current flowing between the first node N1 of the driving transistor DT and the second node N2 ), And Vth is the threshold voltage of the driving transistor DT. k is a component for the mobility of the driving transistor DT, μ is a mobility, Cox is an oxide capacitance, W is a channel width, and is a channel length. Lt; / RTI &gt;

도 22a를 참조하면, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압(소스 전압)의 상승이 멈추었을 때, 센싱부(91)는 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압을 센싱하면 된다. 이때 센싱된 전압(Vsen)은 아래 수학식 2와 같다. 22A, when the rise of the voltage (source voltage) of the first node N1 of the driving transistor DT is stopped, the sensing section 91 is turned on at the first node N1 of the driving transistor DT And the voltage of the output terminal is sensed. The voltage (Vsen) sensed at this time is expressed by the following equation (2).

Figure pat00002
Figure pat00002

수학식 2에서, Vsen은 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서 센싱된 전압이고, Vdata는 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 인가된 정전압으로서의 데이터 전압이며, Vth는 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압이다. In the expression (2), Vsen is the voltage sensed at the first node N1 of the driving transistor DT, Vdata is the data voltage as the constant voltage applied to the second node N2 of the driving transistor DT, Is the threshold voltage of the driving transistor DT.

센싱부(91)에 의해 센싱된 전압(Vdata-Vth)을 디지털 값으로 변환하고, 이미 알고 있는 데이터 전압(Vdata)의 디지털 값에서 센싱 전압이 변환된 디지털 값을 빼면, 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)를 알아낼 수 있다. 알아내어진 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)은 메모리(92)에 저장될 수 있다. 데이터 전압(Vdata)가 이미 알고 있는 값이므로, 센싱 전압(Vdata-Vth)의 디지털 값을 메모리(92)에 그대로 저장해둘 수도 있다. If the voltage Vdata-Vth sensed by the sensing unit 91 is converted into a digital value and the digital value of the sensing voltage is subtracted from the digital value of the already known data voltage Vdata, The threshold voltage Vth can be obtained. The threshold voltage (Vth) of the found drive transistor (DT) can be stored in the memory (92). Since the data voltage Vdata is already known, the digital value of the sensing voltage Vdata-Vth may be stored in the memory 92 as it is.

도 22b를 참조하면, 메모리(92)에 저장된 각 화소 별 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압 (또는 센싱 전압)을 비교하면, 각 화소의 휘도 편차를 발생시킬 수 있는 각 화소 별 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압 편차(ΔVth)를 알아낼 수 있고, 이 문턱전압 편차를 보상하기 위해, 보상부(93)가 각 화소 별로 문턱전압 편차를 보상하기 위한 데이터 변환 처리를 수행될 수 있다. 22B, when the threshold voltage (or sensing voltage) of the driving transistor DT for each pixel stored in the memory 92 is compared, the driving transistor DT for each pixel, which can generate the luminance deviation of each pixel, The compensating unit 93 can perform data conversion processing for compensating the threshold voltage deviation for each pixel in order to compensate for the threshold voltage deviation.

도 22b를 참조하면, 만약, 기준 문턱전압(REF_Vth)이 0[volt]인 경우, 어떤 화소에서 문턱전압이 Vth로 파악된 경우, 이 화소에 데이터 전압을 공급할 때, 일 예로, 메모리(92)에서의 룩업 테이블(Lookup Table)에 저장된 기준 문턱전압(REF_Vth)을 참조하여, 이 화소에서 파악된 문턱전압과 기준 문턱전압의 편차(ΔVth=Vth-REF_Vth=Vth-0=Vth)를 보상해주기 위하여, 원래의 데이터 전압(Vdata)에 문턱전압(Vth)을 더하여 생성한 보상 데이터 전압(Vdata+Vth)를 공급하여 문턱전압 편차를 없애줄 수 있다. 이와 동일한 방식으로 다른 화소들에도 보상 데이터 전압을 공급해줌으로써 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압 편차에 따른 화소 간 휘도의 불균형을 해소해줄 수 있다.
Referring to FIG. 22B, when the threshold voltage REF_Vth is 0 [volt], when the threshold voltage is found to be Vth in a certain pixel, when the data voltage is supplied to the pixel, (Vth = Vth-REF_Vth = Vth-0 = Vth) between the threshold voltage and the reference threshold voltage detected in this pixel with reference to the reference threshold voltage REF_Vth stored in a lookup table in the pixel , The compensation data voltage (Vdata + Vth) generated by adding the threshold voltage (Vth) to the original data voltage (Vdata) can be supplied to eliminate the threshold voltage deviation. By supplying the compensation data voltage to other pixels in the same manner as described above, it is possible to eliminate the imbalance of the inter-pixel luminance according to the threshold voltage deviation of the driving transistor DT.

또 다음으로, 도 23a, 도 23b, 도 24a, 도 24b를 참조하여 센싱 모드의 일종인 F-센싱 모드에 대하여 설명한다.Next, the F-sensing mode, which is a type of sensing mode, will be described with reference to FIGS. 23A, 23B, 24A, and 24B.

도 23a 및 도 23b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 화소가 F-센싱 모드로 동작할 때의 회로도이다. 도 24a는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 화소가 F-센싱 모드로 동작할 때의 전압 변화 그래프이다. 도 24b는 각 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 이동도 편차를 나타낸 Vgs-Ids 그래프이다.23A and 23B are circuit diagrams when a pixel of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention operates in the F-sensing mode. 24A is a graph of voltage change when the pixel of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention operates in the F-sensing mode. FIG. 24B is a graph of Vgs-Ids showing the mobility deviation of the driving transistor DT of each pixel.

도 23a는 도 18의 (c)에서 F-센싱 모드의 초기화 단계(STEP1)에 대한 회로도이고, 도 23b는 도 18의 (c)에서 센싱 단계(STEP2)에 대한 회로도이다. Fig. 23A is a circuit diagram for the initializing step (STEP1) of the F-sensing mode in Fig. 18C, and Fig. 23B is a circuit diagram for the sensing step (STEP2) in Fig.

도 23a를 참조하면, F-센싱 모드의 초기화 단계(STEP1)에서는, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 온(ON)이고, 스캔신호 레벨이 제1레벨(VGL)에서 바뀐 제2레벨(VGH)이 유지되는 단계이다. 이때, 제1, 2 트랜지스터(T1, T2)는 턴 온 되어 있고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 기준전압(Vref)이 인가되고 제2노드(N2)에 데이터 전압(Vdata)가 인가된 상태이다. 이때, 스토리지 캐패시터(Cst)는 충전되어, 양단(N1, N2)에 일정 전위차(Vdata-Vref)가 걸린다. 23A, in the initializing step (STEP1) of the F-sensing mode, when the first switch SW1 and the second switch SW2 are ON and the scan signal level is changed at the first level VGL And the second level (VGH) is maintained. At this time, the first and second transistors T1 and T2 are turned on and the reference voltage Vref is applied to the first node N1 of the driving transistor DT and the data voltage Vdata is applied to the second node N2. Is applied. At this time, the storage capacitor Cst is charged and a constant potential difference (Vdata-Vref) is applied to both ends N1 and N2.

한편, 제2 트랜지스터(T)의 드레인 노드와 연결된 데이터 라인(DL)에 캐패시터(Cdl)이 연결되거나 형성되어 있다. 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 일정한 데이터 전압(Vdata)이 인가될 때, 데이터 라인(DL)의 캐패시터(Cdl)에도 동일한 데이터 전압(Vdata)이 인가된다. 여기서, 데이터 라인(DL)의 캐패시터(Cdl)는 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)의 전압이 일정하게 유지되도록 역할을 하는 캐패시터로서, 스토리지 캐패시터(Cst)의 캐패시턴스(Capacitance)보다 큰 캐패시턴스 값을 갖는다. Meanwhile, a capacitor Cdl is connected to or formed on the data line DL connected to the drain node of the second transistor T. The same data voltage Vdata is applied to the capacitor Cdl of the data line DL when a constant data voltage Vdata is applied to the second node N2 of the driving transistor DT. Here, the capacitor Cdl of the data line DL is a capacitor which serves to keep the voltage of the second node N2 of the driving transistor DT constant, and is larger than the capacitance of the storage capacitor Cst Capacitance value.

도 18의 (c)를 참조하면, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 모두 오프 됨으로써, 센싱 단계(STEP2)가 시작하여 스캔신호의 레벨이 제1레벨(VGL)로 바뀔 때까지 계속된다.Referring to (c) of FIG. 18, when both the first switch SW1 and the second switch SW2 are turned off, the sensing step STEP2 starts and the level of the scan signal is changed to the first level VGL .

F-센싱 모드의 센싱 단계(STEP2)의 시간 길이가 F-센싱 모드에서의 F-센싱 타임으로서, S-센싱 모드에서의 S-센싱 타임보다 짧다. The time length of the sensing step (STEP2) of the F-sensing mode is shorter than the S-sensing time in the S-sensing mode as the F-sensing time in the F-sensing mode.

이러한 센싱 단계(STEP2)에서의 회로도가 도 23b이다. The circuit diagram in the sensing step STEP2 is shown in Fig. 23B.

도 23b 및 도 24a를 참조하면, 센싱 단계(STEP2)에서는, 제1 스위치(SW1) 및 제2 스위치(SW2)가 오프 되면, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)의 전압(게이트 전압)이 데이터 라인(DL)의 캐패시터(Cdl)에 의해 일정 시간 동안 정전압(Vdata)으로 일정하게 유지되고, 초기화 단계(STEP1)에서 스토리지 캐패시터(Cst)에 충전되어 있던 전하(Q)가 방전되면서 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압(소스 전압)이 상승(Boosting)하기 시작하여 스캔신호의 레벨이 제1레벨(VGL)로 바뀔 때까지 조금씩 높아진다. Referring to FIGS. 23B and 24A, in the sensing step STEP2, when the first switch SW1 and the second switch SW2 are turned off, the voltage of the second node N2 of the driving transistor DT Is constantly maintained at a constant voltage Vdata for a certain period of time by the capacitor Cdl of the data line DL and the charge Q charged in the storage capacitor Cst is discharged in the initialization step STEP1, The voltage (source voltage) of the first node N1 of the transistor DT starts to increase and gradually increases until the level of the scan signal is changed to the first level VGL.

한편, 도 18의 (c) 및 도 23b를 참조하면, F-센싱 모드의 센싱 단계(STEP2)에서, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)의 전압(게이트 전압)을 일정 전압(Vdata)로 유지시켜 주기 위해, 데이터 라인(DL)의 캐패시터(Cdl)를 이용하였으나, S-센싱 모드의 센싱 단계(STEP2)에서처럼 데이터 전압(Vdata)를 공급해주는 데이터 전압원(미도시)을 이용할 수도 있다. 이러한 경우, F-센싱 모드의 센싱 단계(STEP2)의 제2 스위치(SW2)의 스위칭 동작을 위해, 정전압원으로서 데이터 라인(DL)의 캐패시터(Cdl)를 이용하는 경우에 해당하는 도 18의 (c)의 제2 스위치(SW2)에 대한 타이밍도를 사용하지 않고, 정전압원으로서 데이터 전압원을 이용하는 경우에 해당하는 도 18의 (b)의 제2 스위치(SW2)의 타이밍도를 이용할 수도 있다. 18 (c) and 23 (b), in the sensing step STEP2 of the F-sensing mode, the voltage (gate voltage) of the second node N2 of the driving transistor DT is set to a constant voltage Vdata , A data voltage source (not shown) for supplying the data voltage Vdata may be used as in the sensing step STEP2 of the S-sensing mode . 18 (c) corresponding to the case where the capacitor Cdl of the data line DL is used as the constant voltage source for the switching operation of the second switch SW2 in the sensing step STEP2 of the F-sensing mode, The timing diagram of the second switch SW2 in Fig. 18B corresponding to the case where the data voltage source is used as the constant voltage source can be used without using the timing chart for the second switch SW2.

도 24b를 참조하면, 구동 트랜지스터(DT)의 이동도(k)는 Vgs-Ids 그래프의 기울기와 대응되고, 이 기울기 차이가 발생하면 구동 트랜지스터(DT)의 이동도 편차가 발생한 것이므로, 이 이동도 편차를 보상해주기 위하여, 화소(들)로 공급할 데이터를 보상 데이터로 변환하여 공급해줌으로써 화소 각각의 구동 트랜지스터(DT)의 이동도 편차를 줄여줄 수 있다. 화소 각각의 구동 트랜지스터(DT)의 이동도가 메모리(92)에서의 룩업 테이블(Lookup Table)에서 참조될 수 있는 기준 이동도(REF_k)로 되도록 보상 데이터를 생성함으로써 이동도 편차를 줄여줄 수 있다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DT)의 이동도 편차에 따른 화소 간 휘도의 불균형을 해소해줄 수 있다.Referring to FIG. 24B, the mobility k of the driving transistor DT corresponds to the slope of the Vgs-Ids graph. When the slope difference occurs, the mobility deviation of the driving transistor DT occurs. In order to compensate for the deviation, the data to be supplied to the pixel (s) is converted into compensation data and supplied, so that the deviation of the mobility of the driving transistor DT of each pixel can be reduced. The mobility deviation can be reduced by generating the compensation data so that the mobility of the driving transistor DT of each pixel becomes the reference mobility REF_k that can be referred to in a lookup table in the memory 92 . Accordingly, it is possible to eliminate the unevenness of the inter-pixel luminance due to the drift variation of the driving transistor DT.

아래에서는, 이상에서 설명한 본 발명의 제1실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 표시패널(11)에 대한 공정방법을 도 25a 내지 도 25f를 참조하여 간략하게 설명한다.
Hereinafter, a method of processing the display panel 11 of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention described above will be briefly described with reference to FIGS. 25A to 25F.

도 25a 내지 도 25f는 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 표시패널(11)에 대한 제조 공정을 나타낸 도면이다. 단, 도 25b 내지 도 25f에서는, 설명의 편의를 위하여, 이전 단계에서 표시된 도면번호는 다음 단계에서 표시하지 않는다. 25A to 25F are views showing a manufacturing process of the display panel 11 of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention. However, in FIGS. 25B to 25F, for convenience of explanation, the drawing numbers shown in the previous step are not displayed in the next step.

제1 공정단계에서는, 도 25a를 참조하면, 각 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(251a), 각 제1 트랜지스터(T1) 및 각 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극을 형성하기 위한 게이트 라인(251b), 각 구동전압 라인(DVL)과 연결되는 연결패턴(252a), 각 기준전압 라인(RVL)과 연결되는 연결패턴(252b), 그리고, 각 스토리지 캐패시터(Cst)를 형성하기 위한 제1플레이트(252c) 등이 기판(250) 상에 형성된다. 25A, a gate line 251a for forming the gate electrodes of the first transistor T1 and the second transistor T2, a gate line 251b for forming the gate electrode of each driving transistor DT, A connection pattern 252a connected to each driving voltage line DVL and a connection pattern 252b connected to each reference voltage line RVL and a first plate 252b for forming each storage capacitor Cst, (252c) are formed on the substrate (250).

여기서, 게이트 라인(251b)은 연결되는 화소 각각에 포함된 제1 트랜지스터(T1) 및 각 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극으로 스캔신호를 공통으로 인가하기 위한 공통 게이트 라인이다. 따라서, 게이트 라인(251b)에서 게이트 전극이 형성될 부분은 설계치인 채널 길이(L)을 고려하여 다른 부분보다 넓게 형성된다. 아울러, 게이트 라인(251b)에서 게이트 전극이 형성되지 않은 부분은 기생 캐패시턴스를 최소화할 수 있도록 좁게 형성될 수 있다. Here, the gate line 251b is a common gate line for commonly applying a scan signal to the gate electrodes of the first transistor T1 and the second transistor T2 included in each of the connected pixels. Therefore, the portion where the gate electrode is to be formed in the gate line 251b is formed wider than the other portion in consideration of the designed channel length L. In addition, the portion where the gate electrode is not formed in the gate line 251b may be narrowed so as to minimize the parasitic capacitance.

제2 공정단계에서는, 도 25b를 참조하면, 각 구동 트랜지스터(DT)의 소스-드레인 영역의 반도체 층(253a), 각 제1 트랜지스터(T1)의 소스-드레인 영역의 반도체 층(253b), 각 제2 트랜지스터(T2)의 소스-드레인 영역의 반도체 층(253c) 등이 각 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(251a), 게이트 라인(251b), 각 구동전압 라인(DVL)과 연결되는 연결패턴(252a), 각 기준전압 라인(RVL)과 연결되는 연결패턴(252b), 그리고, 각 스토리지 캐패시터(Cst)를 형성하기 위한 제1플레이트(252c) 등이 형성된 기판(250) 상에 형성된다. 25B, the semiconductor layer 253a of the source-drain region of each driving transistor DT, the semiconductor layer 253b of the source-drain region of each first transistor T1, The semiconductor layer 253c of the source-drain region of the second transistor T2 is connected to the gate electrode 251a, the gate line 251b, and the driving voltage line DVL of each driving transistor DT, A connection pattern 252b connected to each reference voltage line RVL and a first plate 252c for forming each storage capacitor Cst are formed on a substrate 250. The substrate 252a is connected to the reference voltage line RVL,

제2 공정단계에서, 각 구동 트랜지스터(DT)의 소스-드레인 영역의 반도체 층(253a)은, 채널을 형성하기 위한 것으로서, 제1 공정단계에서 형성된 각 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(251a)의 형성위치에 대응되는 위치에 형성된다. 각 제1 트랜지스터(T1)의 소스-드레인 영역의 반도체 층(253b)은, 게이트 라인(251b)에서 각 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극 역할을 하는 부분에 대응되는 위치에 형성된다. 각 제2 트랜지스터(T2)의 소스-드레인 영역의 반도체 층(253c)은, 게이트 라인(251b)에서 각 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극 역할을 하는 부분에 대응되는 위치에 형성된다.In the second process step, the semiconductor layer 253a of the source-drain region of each driving transistor DT is for forming a channel, and the gate electrode 251a of each driving transistor DT formed in the first process step, As shown in Fig. The semiconductor layer 253b of the source-drain region of each first transistor T1 is formed at a position corresponding to a portion serving as a gate electrode of each first transistor T1 in the gate line 251b. The semiconductor layer 253c of the source-drain region of each second transistor T2 is formed at a position corresponding to a portion serving as a gate electrode of each second transistor T2 in the gate line 251b.

제3 공정단계에서는, 도 25c를 참조하면, 4개의 화소 열마다 1개의 기준전압 라인(254), 4개의 화소 열마다 2개씩의 구동전압 라인(255a, 255b), 1개의 화소 열마다 대응되는 데이터 라인(256a, 256b, 256c, 256d) 등의 신호 라인들이 형성된다. In the third process step, referring to Fig. 25C, one reference voltage line 254 for every four pixel columns, two driving voltage lines 255a and 255b for every four pixel columns, And signal lines such as data lines 256a, 256b, 256c, and 256d are formed.

도 25c를 참조하면, 제3 공정단계에서 형성된 기준전압 라인(254)은 4n-2번째 데이터 라인(256b)과 연결되는 화소의 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극과 4n-1번째 데이터 라인(256c)과 연결되는 화소의 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극으로서 역할을 하는 돌출부를 포함한다. Referring to FIG. 25C, the reference voltage line 254 formed in the third process step is connected to the drain electrode of the first transistor T1 of the pixel connected to the (4n-2) th data line 256b and the drain electrode of the And a protrusion serving as a drain electrode of the first transistor T1 of the pixel connected to the first transistor M1.

또한, 제3 공정단계에서 형성된 구동전압 라인(255a, 255b)은 4n-3번째 데이터 라인(256a)과 연결되는 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극과 4n번째 데이터 라인(256d)과 연결되는 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극으로서 역할을 하는 돌출부를 포함한다.The driving voltage lines 255a and 255b formed in the third process step are connected to the drain electrode of the driving transistor DT of the pixel connected to the 4n-3th data line 256a and the 4nth data line 256d And a projection serving as a drain electrode of the driving transistor DT of the pixel.

또한, 제3공정 단계에서 형성된 데이터 라인(256a, 256b, 256c, 256d)은 모든 화소의 제2 트랜지스터(T2)의 드레인 전극으로서 역할을 하는 돌출부를 포함한다. Further, the data lines 256a, 256b, 256c, and 256d formed in the third process step include protrusions serving as drain electrodes of the second transistors T2 of all the pixels.

한편, 제3 공정단계에서는, 도 25c를 참조하면, 제1 공정단계에서 형성된 연결패턴(252b; 기준전압 라인(254)의 연결패턴)와 컨택 홀로 연결되는 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극(257a)과, 제1 공정단계에서 형성된 연결패턴(252a; 구동전압 라인(255a, 255b)의 연결패턴)과 컨택 홀로 연결되는 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극(257b)과, 모든 화소의 각 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(257c)과, 각 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(251a)과 컨택 홀로 연결되는 부분과 각 화소의 제2 트랜지스터(DT)의 소스 전극 역할을 하는 부분을 포함하여 스토리지 캐패시터(Cst)를 형성하는 역할을 하는 제2플레이트(257d)와, 제1플레이트(252c)와 컨택 홀로 연결되는 각 화소의 제1 트랜지스터(T1)의 소스 전극(257e) 등이 더 형성된다. 25C, the connection pattern 252b (connection pattern of the reference voltage line 254) formed in the first process step and the drain electrode of the first transistor T1 connected to the contact hole And a drain electrode 257b of the driving transistor DT connected to the contact hole by a contact pattern formed in the first process step and a connection pattern 252a (connection pattern of driving voltage lines 255a and 255b) The source electrode 257c of the transistor DT and the portion connected to the gate electrode 251a of the driving transistor DT of each pixel through the contact hole and the portion serving as the source electrode of the second transistor DT of each pixel And a source electrode 257e of the first transistor T1 of each pixel connected to the first plate 252c and the contact hole are formed on the first plate 252c and the second plate 257d, .

도 25c를 참조하면, 제3공정 단계에서 연결패턴(252b; 기준전압 라인(254)의 연결패턴)과 연결되어 형성되는 드레인 전극(257a)은, 4n-3 번째 데이터 라인(256a)과 연결되는 화소의 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극과, 4n번째 데이터 라인(256d)과 연결되는 화소의 제1 트랜지스터(T1)의 드레인 전극이다.The drain electrode 257a connected to the connection pattern 252b (connection pattern of the reference voltage line 254) in the third process step is connected to the (4n-3) th data line 256a The drain electrode of the first transistor T1 of the pixel and the drain electrode of the first transistor T1 of the pixel connected to the 4nth data line 256d.

도 25c를 참조하면, 제3 공정단계에서 연결패턴(252a; 구동전압 라인(255a, 255b)의 연결패턴)과 연결되어 형성되는 드레인 전극(257b)는, 4n-2 번째 데이터 라인(256b)과 연결되는 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극과, 4n-1 번째 데이터 라인(256c)과 연결되는 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극이다.Referring to FIG. 25C, the drain electrode 257b connected to the connection pattern 252a (the connection pattern of the driving voltage lines 255a and 255b) in the third process step is connected to the (4n-2) th data line 256b and The drain electrode of the driving transistor DT of the pixel to be connected and the drain electrode of the driving transistor DT of the pixel connected to the (4n-1) th data line 256c.

제4 공정단계에서는, 도 25d를 참조하면, 각 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 소스전극(257c)와 연결된 제1플레이트(252c)와, 각 화소에서 제1 트랜지스터(T1)의 소스전극(257e)이 연결되는 컨택 홀에서 함께 연결되는 애노드 보조전극(258a)이 각 화소 마다 형성된다. 25D, the first plate 252c connected to the source electrode 257c of the driving transistor DT of each pixel and the source electrode 257e of the first transistor T1 at each pixel An anode auxiliary electrode 258a connected to each other is formed in each contact hole.

제5 공정단계에서는, 도 25e를 참조하면, 앞서 형성된 애노드 보조전극(258a)과 연결되는 유기발광다이오드의 애노드 전극(258b)이 형성된다. In the fifth process step, referring to FIG. 25E, the anode electrode 258b of the organic light emitting diode connected to the anode auxiliary electrode 258a formed previously is formed.

제6 공정단계에서는, 도 25f를 참조하면, 화소를 정의하는 화소정의막(259; ‘뱅크’라고도 함)이 형성된다. 각 화소의 화소정의막(259) 상에 각 화소에 대응하는 발광층을 포함하는 유기층(미도시)을 적층하고 유기층 상에 모든 화소에 대한 공통전극을 적층할 수 있다. 한편, WOLED(White Organic Light Emitting Diode)인 경우, 모든 화소에 동일한 발광층을 포함하는 유기층을 적층하고 발광하는 방향에 컬러필터를 형성할 수 있다.In the sixth process step, referring to FIG. 25F, a pixel defining layer 259 (also referred to as a &quot; bank &quot;) defining a pixel is formed. An organic layer (not shown) including a light emitting layer corresponding to each pixel may be stacked on the pixel defining layer 259 of each pixel, and common electrodes for all the pixels may be stacked on the organic layer. On the other hand, in the case of WOLED (White Organic Light Emitting Diode), a color filter can be formed in a direction in which organic layers including the same light emitting layer are laminated and emitted in all the pixels.

도 25a 내지 도 25f를 참조하여 설명한 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 표시패널(11)에 대한 공정에서, 게이트 전극(251a)이 반도체층(253b)의 하부에 위치하는 바텀 게이트(Bottom Gate)로 설명하였으나, 이는 설명의 편의를 위한 예시일 뿐, 게이트 전극(251a)이 반도체층(253b)의 상부에 존재하는 탑 게이트(Top Gate)일 수도 있다. 탑 게이트인 경우, 전술한 공정 단계들은 탑 게이트 구조에 맞게 변경될 수 있다. 한편, 바텀 게이트인 경우, 반도체 층(253b)은, 일 예로, 비정질 실리콘 또는 산화물 반도체일 수 있고, 탑 게이트인 경우, 반도체 층(253b)은, 일 예로, 비정질 실리콘을 결정화한 다결정 실리콘일 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.In the process for the display panel 11 of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment described with reference to Figs. 25A to 25F, the gate electrode 251a is located below the semiconductor layer 253b However, the gate electrode 251a may be a top gate located on the semiconductor layer 253b, which is an example only for convenience of explanation. In case of a top gate, the above-described process steps can be modified to match the top gate structure. On the other hand, in the case of a bottom gate, the semiconductor layer 253b may be, for example, amorphous silicon or an oxide semiconductor. In the case of a top gate, the semiconductor layer 253b may be, for example, a polycrystalline silicon But is not limited thereto.

이상에서는 1 스캔 구조를 갖는 제1 실시예에 대하여 설명하였으며, 이하에서는 2 스캔 구조를 갖는 제2 실시예에 대하여 설명한다.
The first embodiment having the one scan structure has been described above, and the second embodiment having the two scan structure will be described below.

<제2 <2nd 실시예Example >>

도 26은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)에 대한 전체 시스템 구성도이다.26 is an overall system configuration diagram of an organic light emitting display device 260 according to a second embodiment of the present invention.

도 26을 참조하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)는, 다수의 화소(P)를 포함하는 표시패널(261)과, 표시패널(261)에서 일 방향으로 형성된 데이터 라인(DL(1)~DL(4N))을 통해 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부(262)와, 표시패널(261)에서 데이터 라인(DL(1)~DL(4N))과 교차하는 타 방향으로 형성된 제1 게이트 라인(GL1(1)~GL1(M))을 통해 제1 스캔신호를 공급하는 제1 게이트 구동부(263)와, 제1 게이트 라인(GL1(1)~GL1(M))과 평행하게 형성된 제2 게이트 라인(GL2(1)~GL2(M))을 통해 제2 스캔신호를 공급하는 제2 게이트 구동부(264)와, 데이터 구동부(262), 제1 게이트 구동부(263) 및 제2 게이트 구동부(264)의 구동 타이밍을 제어하는 타이밍 컨트롤러(265) 등을 포함한다. 26, an organic light emitting display 260 according to a second embodiment of the present invention includes a display panel 261 including a plurality of pixels P, A data driver 262 for supplying a data voltage through the formed data lines DL (1) to DL (4N) and a data driver 262 for crossing the data lines DL (1) to DL (4N) A first gate driver 263 for supplying a first scan signal through the first gate lines GL1 (1) to GL1 (M) formed in the other direction; A second gate driver 264 for supplying a second scan signal through the second gate lines GL2 (1) to GL2 (M) formed in parallel with the first gate driver GL2 A timing controller 265 for controlling the driving timing of the first gate driver 263 and the second gate driver 264, and the like.

여기서, 데이터 라인 개수는 4N이고 제1 게이트 라인 개수 및 제2 게이트 라인 개수 각각은 M개이다. 그리고, N과 M은 1 이상의 자연수이다. 또한, 4N개의 데이터 라인 전체에서 각 데이터 라인을 식별하기 위한 용도로 사용되는 n은 1 이상이고 데이터 라인 개수의 1/4 이하인 자연수이다(1≤n≤(4N/4)).Here, the number of data lines is 4N, and the number of the first gate lines and the number of the second gate lines are M, respectively. N and M are natural numbers of 1 or more. In addition, n used for identifying each data line in the entire 4N data lines is a natural number of 1 or more and 1/4 or less of the number of data lines (1? N? (4N / 4)).

전술한 제1 게이트 구동부(263) 및 제2 게이트 구동부(264)는 각기 별도로 구현될 수도 있고, 경우에 따라서는, 하나의 게이트 구동부에 포함되어 구현될 수도 있다. The first gate driver 263 and the second gate driver 264 described above may be separately implemented, and in some cases, they may be included in one gate driver.

각 화소(P)는 1개의 데이터 라인(DL), 1개의 제1 게이트 라인(GL1) 및 1개의 제2 게이트 라인(GL2)과 연결된다. 이러한 각 화소(P)의 화소 구조를 도 27을 참조하여 설명한다.
Each pixel P is connected to one data line DL, one first gate line GL1, and one second gate line GL2. The pixel structure of each pixel P will be described with reference to FIG.

도 27은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)의 표시패널(261) 내 하나의 화소(P)에 대한 등가회로도이다. 27 is an equivalent circuit diagram of one pixel P in the display panel 261 of the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention.

도 27을 참조하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)의 표시패널(261) 내 하나의 화소(P)는, 기본적으로, 3개의 트랜지스터(DT, T1, T2)와 1개의 캐패시터(Cst)를 포함하는 3T1C 구조를 갖는다. 27, one pixel P in the display panel 261 of the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention basically includes three transistors DT, T1, T2 ) And one capacitor (Cst).

즉, 각 화소(P)는, 유기발광다이오드(OLED)와, 유기 발광다이오드를 구동하기 위한 구동 트랜지스터(DT)와, 제1 게이트 라인(GL1)에서 공급된 제1 스캔신호에 의해 제어되며 기준전압 라인(RVL) 또는 기준전압 라인(RVL)에 연결되는 연결패턴(CP)과 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 사이에 연결되는 제1 트랜지스터(T1)와, 제2 게이트 라인(GL2)에서 공급된 제2 스캔신호에 의해 제어되며 데이터 라인(DL)과 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2) 사이에 연결되는 제2 트랜지스터(T2)와, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 연결되는 스토리지 캐패시터(Cst) 등을 포함한다. That is, each pixel P is controlled by the organic light emitting diode OLED, the driving transistor DT for driving the organic light emitting diode, the first scan signal supplied from the first gate line GL1, A first transistor T1 connected between the connection pattern CP connected to the voltage line RVL or the reference voltage line RVL and the first node N1 of the driving transistor DT, A second transistor T2 controlled by a second scan signal supplied from the scan driver GL2 and connected between a data line DL and a second node N2 of the driving transistor DT, And a storage capacitor Cst connected between the first node N1 and the second node N2.

전술한 바와 같이, 각 화소(P)는 2개의 스캔신호(제1 스캔신호, 제2 스캔신호)를 2개의 게이트 라인(제1 게이트 라인, 제2 게이트 라인)을 통해 공급받는다. 이하에서는, 제1 스캔신호를 ‘센스 신호(SENSE)”라고도 기재하고, 제2 스캔신호를 ‘스캔신호(SCAN)’라고도 기재한다. As described above, each pixel P is supplied with two scan signals (a first scan signal and a second scan signal) through two gate lines (a first gate line and a second gate line). Hereinafter, the first scan signal is also referred to as a "sense signal (SENSE)", and the second scan signal is also referred to as a "scan signal (SCAN)".

이와 같이, 각 화소(P)에 2개의 스캔신호(SCAN, SENSE)를 공급받기 때문에, 본 발명의 제2 실시예의 기본 화소 구조를 “2 스캔 구조(2 SCAN STRUCTURE)”라고 한다. Since the two scan signals SCAN and SENSE are supplied to each pixel P in this way, the basic pixel structure of the second embodiment of the present invention is referred to as a &quot; 2 scan structure &quot;.

각 화소(P) 내 구동 트랜지스터(DT)는, 구동전압 라인(DVL)에서 공급되는 구동전압(EVDD)을 인가 받고 제2 트랜지스터(T2)를 통해 인가된 게이트 노드(N2)의 전압(데이터 전압)에 의해 제어되어 유기발광다이오드(OLED)를 구동시키는 트랜지스터이다. The driving transistor DT in each pixel P receives the driving voltage EVDD supplied from the driving voltage line DVL and the voltage of the gate node N2 applied through the second transistor T2 ) To drive the organic light emitting diode (OLED).

이러한 구동 트랜지스터(DT)는, 제1노드(N1), 제2노드(N2), 제3노드(N3)를 가지고 있으며, 제1노드(N1)는 제1 트랜지스터(T1)와 연결되고, 제2노드(N2)는 제2 트랜지스터(T2)와 연결되며, 제3노드(N3)는 구동전압(EVDD)을 공급받는다. The driving transistor DT has a first node N1, a second node N2 and a third node N3. The first node N1 is connected to the first transistor T1, The second node N2 is connected to the second transistor T2 and the third node N3 is supplied with the driving voltage EVDD.

여기서, 일 예로, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드는 소스 노드(Source Node; ‘소스 전극’이라고도 함)이고, 제2노드는 게이트 노드(Gate Node; ‘게이트 전극’이라고도 함)이며, 제3노드(N3)는 드레인 노드(Drain Node; ‘드레인 전극’이라고도 함)일 수 있다. 회로 구현 방식에 따라, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드, 제2노드 및 제3노드가 바뀔 수 있다. Here, the first node of the driving transistor DT is a source node (also referred to as a "source electrode"), the second node is a gate node (also referred to as a gate electrode) The third node N3 may be a drain node (also referred to as a drain electrode). Depending on the circuit implementation, the first, second and third nodes of the driving transistor DT may be switched.

또한, 제1 트랜지스터(T1)는, 제1 게이트 라인(GL1)에서 공급되는 제1 스캔신호(SENSE)에 의해 제어되며, 기준전압(Vref)을 공급하는 기준전압 라인(RVL) 또는 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴(CP)과 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 사이에 연결된다. 이러한 제1 트랜지스터(T1)는 “센서 트랜지스터(Sensor Transistor)”라고도 한다. The first transistor T1 is controlled by the first scan signal SENSE supplied from the first gate line GL1 and is connected to the reference voltage line RVL or the reference voltage line RVL for supplying the reference voltage Vref, And the first node N1 of the driving transistor DT. The first transistor T1 is also referred to as a &quot; sensor transistor &quot;.

또한, 제2 트랜지스터(T2)는 제2 게이트 라인(GL2)에서 공통으로 공급되는 제2 스캔신호(SCAN)에 의해 제어되며 해당 데이터 라인(DL)과 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2) 사이에 연결된다. 이러한 제2 트랜지스터(T2)는 “스위칭 트랜지스터(Switching Transistor)”라고도 한다. The second transistor T2 is controlled by a second scan signal SCAN commonly supplied from the second gate line GL2 and is connected to the second node N2 of the data line DL and the driving transistor DT . The second transistor T2 is also referred to as a &quot; switching transistor &quot;.

또한, 스토리지 캐패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 연결되어, 데이터 전압을 한 프레임 동안 유지시켜 주는 역할을 할 수 있다. The storage capacitor Cst may be connected between the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT to maintain the data voltage for one frame.

한편, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)의 화소 구조는, 도 27를 참조하여 설명한 “기본 화소 구조(3T1C 기반의 2 스캔 구조)” 이외에, 각 화소(P)가 데이터 전압을 공급하기 위한 데이터 라인(DL), 제1 스캔신호(SENSE)를 공급하기 위한 제1 게이트 라인(GL1), 제2 스캔신호(SCAN)를 공급하기 위한 제2 게이트 라인(GL2), 구동전압(EVDD)을 공급하기 위한 구동전압 라인(DVL), 기준전압(Vref)을 공급하기 위한 기준전압 라인(RVL) 등의 여러 신호 라인과의 “신호 라인 연결 구조”도 포함한다. The pixel structure of the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention is different from the pixel structure of the basic pixel structure (2T scan based on 3T1C) described with reference to FIG. 27, A data line DL for supplying a data voltage, a first gate line GL1 for supplying a first scan signal SENSE, a second gate line GL2 for supplying a second scan signal SCAN, A driving voltage line DVL for supplying a driving voltage EVDD, and a reference voltage line RVL for supplying a reference voltage Vref.

여기서, 여러 신호 라인은, 각 화소에 데이터 전압을 공급해주기 위한 데이터 라인과, 제1 스캔신호를 공급해주기 위한 제1 게이트 라인과, 제2 스캔신호를 공급해주기 위한 제2 게이트 라인 뿐만 아니라, 각 화소에 기준전압(Vref)을 공급하기 위한 기준전압 라인(RVL)과, 구동전압(EVDD)을 공급하기 위한 구동전압 라인(DVL) 등을 더 포함한다. The plurality of signal lines include not only a data line for supplying a data voltage to each pixel, a first gate line for supplying a first scan signal, a second gate line for supplying a second scan signal, A reference voltage line RVL for supplying the reference voltage Vref to the pixel, and a driving voltage line DVL for supplying the driving voltage EVDD.

위에서 언급한 기준전압 라인(RVL)과 구동전압 라인(DVL)은 데이터 라인(DL)과 평행하게 형성되는데, 각각의 개수는 데이터 라인 개수와 동일할 수도 있고 데이터 라인 개수보다 적을 수도 있다. The reference voltage line RVL and the driving voltage line DVL described above are formed in parallel with the data line DL, and each number may be equal to or less than the number of data lines.

만약, 기준전압 라인 개수 및 구동전압 라인 개수가 데이터 라인 개수와 동일한 경우, 각 화소는 하나의 데이터 라인(DL) 및 하나의 게이트 라인(GL)과 연결되는 것은 물론, 하나의 구동전압 라인(DVL) 및 하나의 기준전압 라인(RVL)과도 바로 연결될 수 있다. If the number of reference voltage lines and the number of driving voltage lines are equal to the number of data lines, each pixel is connected to one data line DL and one gate line GL, ) And one reference voltage line (RVL).

이 경우, 각 화소의 신호 라인 연결 구조는 모두 동일할 수도 있다. 즉, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위는 1개의 화소가 되어, 신호 라인 연결 구조의 규칙성이 1개의 화소(1개의 화소 열)마다 있을 수 있다. In this case, the signal line connection structures of the respective pixels may be the same. That is, the basic unit of the signal line connection structure is one pixel, and the regularity of the signal line connection structure may be one pixel (one pixel column).

만약, 기준전압 라인 개수 및 구동전압 라인 개수가 데이터 라인 개수보다 적은 경우, 일부 화소는 구동전압 라인(DVL) 및 기준전압 라인(RVL)과는 바로 연결될 수도 있고, 다른 일부 화소는 구동전압 라인(DVL) 및 기준전압 라인(RVL)과 바로 연결되지 않고 연결패턴(CP)을 통해 구동전압 라인(DVL) 및 기준전압 라인(RVL)과 각각 연결될 수 있다. If the number of reference voltage lines and the number of driving voltage lines are smaller than the number of data lines, some of the pixels may be directly connected to the driving voltage line DVL and the reference voltage line RVL, The driving voltage line DVL and the reference voltage line RVL may be connected to the reference voltage line RVL through the connection pattern CP without being directly connected to the reference voltage line DVL and the reference voltage line RVL.

이러한 경우, 각 화소의 신호 라인 연결 구조는 모두 동일하지 않을 수도 있다. 하지만, 각 화소가 신호 라인과 연결되는 구조가 동일하지 않더라도, 몇 개 화소마다 신호 라인과 연결되는 구조가 동일할 수 있다. 즉, 신호 라인 연결 구조의 단위는 1개의 화소(P)가 아닌 다수의 화소가 될 수 있으며, 신호 라인 연결 구조의 규칙성이 다수의 화소(다수의 화소 열)마다 반복적으로 나타날 수 있다.In this case, the signal line connection structures of the respective pixels may not be all the same. However, even if the structure in which each pixel is connected to the signal line is not the same, the structure in which the signal line is connected to every pixel can be the same. That is, the unit of the signal line connection structure may be a plurality of pixels instead of one pixel P, and the regularity of the signal line connection structure may repeatedly appear for a plurality of pixels (a plurality of pixel columns).

예를 들어, 4개의 화소(P1, P2, P3, P4)마다 신호 라인 연결 구조가 동일하게 반복될 수 있으며, 즉, 신호 라인 연결 구조의 규칙성이 4개의 화소(4개의 화소 열)마다 반복적으로 나타날 수 있으며, 이 경우, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위는 4개의 화소(4개의 화소 열)가 될 수 있다. For example, the signal line connection structure can be repeated for each of the four pixels P1, P2, P3, and P4, that is, the regularity of the signal line connection structure is repeated for every four pixels (four pixel columns) In this case, the basic unit of the signal line connection structure may be four pixels (four pixel columns).

이와 같이 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 화소(4개의 화소 열)인 경우, 기준전압 라인 개수는 데이터 라인 개수의 1/4일 수 있다. 즉, 데이터 라인 개수가 4N일 때, 기준전압 라인 개수는 N개일 수 있다. Thus, when the basic unit of the signal line connection structure is four pixels (four pixel columns), the number of reference voltage lines may be one fourth of the number of data lines. That is, when the number of data lines is 4N, the number of reference voltage lines may be N.

전술한 바와 같이, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 화소(4개의 화소 열)인 경우, 기준전압 라인 연결 구조는 다음과 같을 수 있다. As described above, when the basic unit of the signal line connection structure is four pixels (four pixel columns), the reference voltage line connection structure may be as follows.

임의의 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n), 1≤n≤N) 각각으로부터 데이터 전압을 공급받을 수 있는 화소(P1~P4), 즉, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)만을 고려하면, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)에 대해서 1개의 기준전압 라인(RVL)이 데이터 라인들과 평행하게 표시패널(11)에 형성되어 있다. A pixel capable of receiving a data voltage from each of four arbitrary data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1), DL (4n) Only the pixels P1 through P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) One reference voltage line RVL is connected to the pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) And is formed on the display panel 11 in parallel with the data lines.

이러한 1개의 기준전압 라인(RVL)은 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n)) 중 2개의 데이터 라인(예: DL(4n-2), DL(4n-1))과 연결된 각 화소에는 직접 연결되어 기준전압(Vref)을 공급하고, 나머지 2개의 데이터 라인(예: DL(4n-3), DL(4n))과 연결된 각 화소에는 연결된 연결패턴을 통해 기준전압(Vref)을 공급할 수 있다. The one reference voltage line RVL is connected to two data lines among the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) (4n-2) and DL (4n-1), and supplies the remaining two data lines (for example, DL (4n-3) The reference voltage Vref can be supplied to each pixel connected to the pixel through the connection pattern.

한편, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 화소인 경우, 구동전압 라인 개수는 데이터 라인 개수의 1/2 또는 1/4일 수 있다. 즉, 데이터 전압 라인 개수가 4N일 때, 구동전압 라인 개수는 2N 또는 N개일 수 있다. On the other hand, when the basic unit of the signal line connection structure is four pixels, the number of driving voltage lines may be 1/2 or 1/4 of the number of data lines. That is, when the number of data voltage lines is 4N, the number of driving voltage lines may be 2N or N. [

만약, 일 예로, 구동전압 라인 개수가 2N인 경우, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)에는 2개의 구동전압 라인(DVL)이 형성되어 있는데, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)에 대한 2개의 구동전압 라인 연결 구조는 다음과 같다. For example, if the number of driving voltage lines is 2N, the number of pixels connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) To P4 are connected to four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) The two driving voltage line connection structures for the pixels P1 to P4 are as follows.

2개의 구동전압 라인(DVL)은, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4) 중 2개의 데이터 라인(예: DL(4n-3), DL(4n))과 연결된 화소에는 직접 연결되어 구동전압(EVDD)을 공급하고, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4) 중 나머지 2개의 데이터 라인(예: DL(4n-2), DL(4n-1))과 연결된 화소에는 연결된 연결패턴을 통해 구동전압(EVDD)을 공급할 수 있다. The two driving voltage lines DVL are connected to one of the pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-3), DL (4n-3), and DL (4n) are supplied directly to the pixels connected to the two data lines (E.g., DL (4n-2), DL (4n-1)) among the pixels P1 through P4 connected to the data lines DL (4n-1) The driving voltage EVDD can be supplied through the connected connection pattern.

본 명세서 및 도면에서, P1 화소는 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 모든 화소(즉, 화소 열(Pixel Column))를 의미하거나 모든 화소 중 선택된 게이트 라인과 연결된 특정 화소만을 의미할 수도 있다. P2 화소도 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 모든 화소를 의미하거나 모든 화소 중 선택된 게이트 라인과 연결된 특정 화소만을 의미할 수도 있다. P3 화소도 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 모든 화소를 의미하거나 모든 화소 중 선택된 게이트 라인과 연결된 특정 화소만을 의미할 수도 있다. P4 화소도 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 모든 화소를 의미하거나 모든 화소 중 선택된 게이트 라인과 연결된 특정 화소만을 의미할 수도 있다. In this specification and the drawings, the P1 pixel refers to all the pixels (i.e., a pixel column) connected to the 4n-3th data line DL (4n-3) May mean only. The pixel P2 may refer to all the pixels connected to the (4n-2) -th data line DL (4n-2), or may denote only a specific pixel connected to the selected gate line among all pixels. The pixel P3 may refer to all the pixels connected to the (4n-1) -th data line DL (4n-1), or may be a specific pixel connected to the selected gate line among all the pixels. The pixel P4 may refer to all the pixels connected to the 4n-th data line DL (4n) or may denote only a specific pixel connected to the selected gate line among all the pixels.

또한, 본 명세서 및 도면에서, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소, 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소는, 일 예로, R(Red) 화소, G(Green) 화소, B(Blue) 화소 및 W(White) 화소일 수 있다. In this specification and the figures, the pixel connected to the 4n-3th data line DL (4n-3), the pixel connected to the 4n-2th data line DL (4n-2) A red pixel, a green pixel, a blue pixel, and a blue pixel, which are connected to a pixel connected to the first data line DL (4n-1) and a 4nth data line DL (4n) White) pixel.

또한, 본 명세서 및 도면에서는, 트랜지스터들(DT, T1, T2)이 N 타입인 것으로 도시되어 설명되었으나, 이는 설명의 편의를 위한 것일뿐, 회로 설계 변경에 따라, 트랜지스터들(DT, T1, T2) 모두가 P 타입으로 변경되거나, 트랜지스터들(DT, T1, T2) 중 일부는 N 타입으로 다른 일부는 P 타입으로 구현될 수도 있다. 또한, 유기발광다이오드(OLED)는 인버티드(Inverted) 타입으로도 변경될 수 있을 것이다. Although the transistors DT, T1, and T2 are shown and described as being of the N type in the present specification and the drawings, ) May all be changed to P type, or some of transistors DT, T1, T2 may be implemented as N type and others as P type. In addition, the organic light emitting diode (OLED) may be changed to an inverted type.

또한, 본 명세서에 기재된 트랜지스터들(DT, T1, T2)은 박막 트랜지스터(TFT: Thin Film Transistor)라고도 한다.In addition, the transistors DT, T1, T2 described herein are also referred to as thin film transistors (TFTs).

아래에서는, 이상에서 간략하게 설명한 기본 화소 구조(3T1C 기반의 1 스캔 구조) 및 신호 라인 연결 구조를 포함하는 화소 구조에 대하여, 도 28 내지 도 30을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. 단, 도 28 내지 도 30은 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 화소인 경우를 도시한 것이다.
Hereinafter, the pixel structure including the basic pixel structure (one scan structure based on 3T1C) and the signal line connecting structure briefly described above will be described in more detail with reference to FIG. 28 to FIG. However, Figs. 28 to 30 show the case where the basic unit of the signal line connection structure is four pixels.

도 28은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)의 표시패널(261)의 일부를 간략하게 나타낸 평면도이다. 도 29는 도 28을 상세하게 나타낸 평면도이다. 도 30은 도 27에 도시된 하나의 화소에 대한 등가회로도를 4개의 화소에 적용한 회로도로서 도 29의 등가회로도이다.28 is a plan view schematically showing a part of a display panel 261 of an organic light emitting display device 260 according to a second embodiment of the present invention. 29 is a plan view showing in detail FIG. FIG. 30 is an equivalent circuit diagram of FIG. 29, which is a circuit diagram in which an equivalent circuit diagram for one pixel shown in FIG. 27 is applied to four pixels.

도 28 내지 도 30을 참조하면, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))이 필요한 4개의 화소(P1~P4)인 경우에 대하여, 신호 연결 구조와 기본 화소 구조(3T1C 기반의 1 스캔 구조)를 확인할 수 있다. 28 to 30, if the basic unit of the signal line connection structure is four data lines (DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL The signal connection structure and the basic pixel structure (1 scan structure based on 3T1C) can be confirmed for four pixels (P1 to P4).

도 28 내지 도 29를 참조하면, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))은 4개의 화소(P1, P2, P3, P4) 각각으로 연결된다. 제1 게이트 라인(GL1(m), 1≤m≤M)과 제2 게이트 라인(GL2(m), 1≤m≤M) 각각은 4개의 화소(P1, P2, P3, P4)와 연결된다. 28 to 29, four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) And P4, respectively. Each of the first gate line GL1 (m), 1? M? M and the second gate line GL2 (m), 1? M? M is connected to four pixels P1, P2, P3 and P4 .

또한, 도 27에 도시된 바와 같이, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결되는 4개의 화소(P1~P4) 각각은, 구동전압(EVDD)을 인가 받아 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터(DT)와, 제1 스캔신호에 의해 제어되며 기준전압(Vref)을 인가 받아 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 전달하는 제1 트랜지스터(DL)와, 제2 스캔신호에 의해 제어되며 데이터 전압(Vdata)을 인가 받아 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 전달하는 제2 트랜지스터(T2)와, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 연결된 캐패시터(Cst) 등을 동일하게 포함한다. 27, four pixels P1 to Pn connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n- P4 are controlled by a first scan signal and are supplied with a reference voltage Vref to apply a first voltage Vdd to the first voltage Vref of the driving transistor DT, And a second transistor N2 which is controlled by a second scan signal and receives a data voltage Vdata and transmits the data voltage Vdata to a second node N2 of the driving transistor DT. T2 and a capacitor Cst connected between the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT.

이와 같이, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결되는 4개의 화소(P1~P4) 각각은 3개의 트랜지스터(DT, T1, T2)와 1개의 캐패시터(Cst)를 포함하는 3T1C 구조를 공통으로 기지고, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2) 각각에 제1 스캔신호 및 제2 스캔신호가 공급되는 구조를 갖고 있다. 전술한 바와 같이, 이러한 각 화소의 화소 구조를 “3T1C 기반의 2 스캔 구조”라고 한다.Each of the four pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) A first scan signal and a second scan signal are applied to the first transistor T1 and the second transistor T2 in common to the 3T1C structure including the data lines DT, T1 and T2 and the one capacitor Cst, And has a structure to be supplied. As described above, the pixel structure of each of these pixels is referred to as &quot; 3T1C-based 2-scan structure &quot;.

한편, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결된 4개의 화소(P1~P4) 각각은, 트랜지스터 및 캐패시터 개수, 스캔신호 개수 등이 동일하더라도, 데이터 전압, 구동전압 및 기준전압 등을 인가 받기 위한 신호 라인 연결 구조(신호 인가 방식)가 서로 다를 수 있다. 하지만, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결된 4개의 화소(P1~P4) 간의 신호 라인 연결 구조는 어떠한 규칙성과 대칭성이 존재한다. 이에, 도 28 내지 도 30을 참조하여, 신호 라인 연결 구조를 아래에서 상세하게 설명한다.Each of the four pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) And the number of scan signals are the same, signal line connection structures (signal applying methods) for receiving data voltages, driving voltages, reference voltages, and the like may be different from each other. However, the signal line connection structure between the four pixels P1 to P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) There is regularity and symmetry. 28 to 30, the signal line connection structure will be described in detail below.

전술한 바와 같이, 신호 라인 연결 구조의 기본 단위가 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))이 필요한 4개의 화소(P1~P4)인 경우, 4개의 화소(P1~P4)에 대하여, 기준전압(Vref)을 공급하기 위한 기준전압 라인(RVL)이 1개가 형성되고, 구동전압(EVDD)을 공급하기 위한 구동전압 라인(DVL)이 2개가 형성될 수 있다. As described above, since the basic unit of the signal line connection structure is four pixels (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) P1 to P4), one reference voltage line RVL for supplying the reference voltage Vref is formed for the four pixels P1 to P4, and a driving voltage Vdd for supplying the driving voltage EVDD Two lines DVL may be formed.

먼저, 기준전압 라인 연결 구조에 대하여 설명한다. First, the reference voltage line connection structure will be described.

표시패널(261)에서, 데이터 라인 개수가 4N개이고 기준전압 라인 개수가 N개일 때, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1), 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2), 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3) 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P1)에 제1 전압(Vref)을 공급하기 위한 제1 전압 라인에 해당하는 1개의 기준전압 라인(RVL)이 데이터 라인들과 평행한 일 방향으로 형성된다. In the display panel 261, when the number of data lines is 4N and the number of reference voltage lines is N, the pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) The pixel P3 connected to the 4n-th data line DL (4n-2), the pixel P3 connected to the 4n-1th data line DL (4n- One reference voltage line RVL corresponding to the first voltage line for supplying the first voltage Vref is formed in one direction parallel to the data lines.

이러한 기준전압 라인(RVL)의 형성 개수에 따라, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2)의 영역과 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))에 연결된 화소(P3)의 영역 사이에 제1 전압(기준전압, Vref)을 공급하기 위한 제1 전압 라인에 해당하는 기준전압 라인(RVL)이 1개 형성될 수 있다. 즉, 1개의 기준전압 라인(RVL)은 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))에 연결된 화소(P1~P4)의 전체 영역의 가운데에 된다. The region of the pixel P2 connected to the (4n-2) th data line DL (4n-2) and the region of the pixel P2 connected to the (4n-1) th data line DL (4n-1) depend on the number of the reference voltage lines RVL formed. One reference voltage line RVL corresponding to the first voltage line for supplying the first voltage (reference voltage, Vref) may be formed between the regions of the pixel P3 connected to the pixel P3. That is, one reference voltage line RVL is connected to the pixels P1 through P4 connected to the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n- In the middle of the entire area of the image.

이러한 기준전압 라인의 형성 위치는 대칭적인 화소 구조를 가능하게 한다. The position of formation of these reference voltage lines enables a symmetrical pixel structure.

이러한 기준전압 라인(RVL)의 형성 위치에 따라, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2) 및 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))에 연결된 화소(P3) 각각에 포함된 제1 트랜지스터(T1)는 기준전압 라인(RVL)에 직접 연결되고, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1) 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4) 각각에 포함된 제1 트랜지스터(T1)는 기준전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP, 점선)에 연결된다. (4n-1)) connected to the (4n-2) th data line DL (4n-2) according to the formation position of the reference voltage line RVL The first transistor T1 included in each of the pixels P3 is connected directly to the reference voltage line RVL and includes a pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) The first transistor T1 included in each of the pixels P4 connected to the line DL 4n is connected to a connection pattern CP connected to the reference voltage line RVL.

이러한 기준전압 라인 연결 구조에 따라, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2) 및 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))에 연결된 화소(P3) 각각에 포함된 제1 트랜지스터(T1)는 기준전압 라인(RVL)으로부터 기준전압(Vref)을 직접 인가 받이고, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1) 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4) 각각에 포함된 제1 트랜지스터(T1)는 기준전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP, 점선)으로부터 기준전압(Vref)을 인가 받는다. According to this reference voltage line connection structure, the pixel P3 connected to the pixel P2 connected to the 4n-2th data line DL (4n-2) and the 4n-1th data line DL (4n-1) The first transistor T1 included in each of the pixels T1 and T2 receives the reference voltage Vref directly from the reference voltage line RVL and is connected to the pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) The first transistor T1 included in each of the pixels P4 connected to the 4n-th data line DL (4n) applies the reference voltage Vref from the connection pattern CP connected to the reference voltage line RVL Receive.

다음으로, 구동전압 라인 연결 구조에 대하여 설명한다. Next, the driving voltage line connection structure will be described.

표시패널(261)에서, 데이터 라인 개수가 4N개이고 기준전압 라인 개수가 N개일 때, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1), 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2), 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3) 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P1)에 제2 전압(EVDD)을 공급하기 위한 제2 전압 라인에 해당하는 구동전압 라인(DVL)이 데이터 라인들과 평행한 방향으로 2개 형성된다. In the display panel 261, when the number of data lines is 4N and the number of reference voltage lines is N, the pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) The pixel P3 connected to the 4n-th data line DL (4n-2), the pixel P3 connected to the 4n-1th data line DL (4n- The driving voltage line DVL corresponding to the second voltage line for supplying the second voltage EVDD is formed in a direction parallel to the data lines.

이러한 구동전압 라인(DVL)의 형성 개수와 관련하여, 표시패널(11)에서 데이터 라인 개수가 4N개이고 구동전압 라인 개수가 2N개일 때, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 영역의 좌측과 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 영역의 우측 각각에 제2 전압(구동전압, EVDD)을 공급하기 위한 제2 전압 라인에 해당하는 구동전압 라인(RVL)이 2개 형성될 수 있다.With respect to the number of the driving voltage lines DVL, the number of the data lines DL (4n-3) is set to 4n-3 when the number of data lines is 4N and the number of driving voltage lines is 2N in the display panel 11 To a second voltage line for supplying a second voltage (drive voltage, EVDD) to the right side of the region of the connected pixel P1 and the right side of the region of the pixel P4 connected to the 4nth data line DL (4n) Two corresponding driving voltage lines RVL may be formed.

이러한 구동전압 라인의 형성 위치는 대칭적인 화소 구조를 가능하게 한다. The formation position of such a driving voltage line enables a symmetric pixel structure.

이러한 구동전압 라인(DVL)의 형성 위치에 따라, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 구동 트랜지스터(DT)와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 구동 트랜지스터(DT)는 각기 다른 구동전압 라인(RVL)에 직접 연결된다. The driving transistor DT and the 4n-th data line DL (4n) of the pixel P1 connected to the (4n-3) th data line DL (4n-3) The driving transistor DT of the pixel P4 connected to the driving voltage line RVL is directly connected to the driving voltage line RVL.

그리고, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2)의 구동 트랜지스터(DT)는, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 영역의 좌측에 형성된 구동전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)과 연결된다. 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))에 연결된 화소(P3)의 구동 트랜지스터(DT)는, 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 영역의 우측에 형성된 구동전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)과 연결된다. The driving transistor DT of the pixel P2 connected to the (4n-2) th data line DL (4n-2) is connected to the pixel P1 connected to the (4n-3) And a connection pattern CP connected to the driving voltage line RVL formed on the left side of the area of the driving voltage line RVL. The driving transistor DT of the pixel P3 connected to the (4n-1) th data line DL (4n-1) is formed on the right side of the pixel P4 connected to the 4nth data line DL And is connected to a connection pattern CP connected to the driving voltage line RVL.

이러한 구동전압 라인 연결 구조에 따라, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1) 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4) 각각에 포함된 구동 트랜지스터(DT)는 각기 다른 구동전압 라인(RVL)으로부터 구동전압(EVDD)을 직접 인가 받는다. According to such a driving voltage line connection structure, the pixel P4 connected to the 4n-3th data line DL (4n-3) and the pixel P4 connected to the 4nth data line DL (4n) The driving transistor DT receives the driving voltage EVDD directly from the different driving voltage lines RVL.

그리고, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))에 연결된 화소(P2)에 포함된 구동 트랜지스터(DT)는, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))에 연결된 화소(P1)의 영역의 좌측에 형성된 구동전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)으로부터 구동전압(EVDD)을 인가 받이고, 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))에 연결된 화소(P3)의 구동 트랜지스터(DT)는, 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))에 연결된 화소(P4)의 영역의 우측에 형성된 구동전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)으로부터 구동전압(EVDD)을 인가 받는다. The driving transistor DT included in the pixel P2 connected to the (4n-2) th data line DL (4n-2) is connected to the pixel connected to the (4n-3) th data line DL 1) th data line DL (4n-1) to which the driving voltage EVDD is applied from the connection pattern CP connected to the driving voltage line RVL formed on the left side of the region of the (4n-1) The driving transistor DT of the pixel P3 is driven from the connection pattern CP connected to the driving voltage line RVL formed on the right side of the region of the pixel P4 connected to the (4n) th data line DL (4n) ).

또 다음으로, 데이터 라인 연결 구조를 설명한다. Next, the data line connection structure will be described.

4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n)) 각각은 4개의 화소 열(Pixel Column) 각각에 있는 화소들과 연결된다. Each of the four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1) and DL (4n) is connected to pixels in each of four pixel columns.

4개의 데이터 라인(DL(4n-3)~DL(4n))의 형성 위치와 관련하여, 홀수번째 데이터 라인, 즉, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3)) 및 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1)) 각각은 연결된 해당 화소(P1, P3)의 영역의 우측에 형성된다. 그리고, 짝수번째 데이터 라인, 즉, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2)) 및 4n 번째 데이터 라인(DL(4n)) 각각은 연결된 해당 화소(P2, P4)의 영역의 좌측에 형성된다. (4n-3) th data line DL (4n-3) and the (4n-3) th data line DLn Each of the data lines DL (4n-1) is formed on the right side of the area of the corresponding pixel P1 or P3 connected thereto. Each of the even-numbered data lines, that is, the (4n-2) th data line DL (4n-2) and the 4nth data line DL (4n) do.

이러한 데이터 라인의 형성 위치는 대칭적인 화소 구조를 가능하게 한다. The formation position of such a data line enables a symmetrical pixel structure.

또 다음으로, 게이트 라인 연결 구조를 설명한다. Next, the gate line connection structure will be described.

표시패널(11)에서 하나의 화소 행(Pixel Row)에 대하여, 4N개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연속적으로 교차하는 방향으로 형성되는 신호 라인으로서, 2개의 게이트 라인, 즉, 각 화소의 제1 트랜지스터(T1)로 제1 스캔신호(SENSE)를 공급하기 위한 제1 게이트 라인(GL1(m))과 각 화소의 제2 트랜지스터(T2)로 제2 스캔신호(SCAN)를 공급하기 위한 제2 게이트 라인(GL2(m))이 형성된다. The 4N data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL (4n-1), and DL (4n) are sequentially connected to one pixel row (Pixel Row) A first gate line GL1 (m) for supplying a first scan signal SENSE to the first transistor T1 of each pixel, and a second gate line GL2 A second gate line GL2 (m) for supplying a second scan signal SCAN to the second transistor T2 of each pixel is formed.

이와 같이, 하나의 화소 행(Pixel Row)에 대하여, 2개의 게이트 라인(GL1(m), GL2(m))이 형성됨으로써, 하나의 화소 행(Pixel Row)에 있는 화소들 각각에 포함된 제1 트랜지스터(T1)와 제2 트랜지스터(T2)를 각기 다르게 제어할 수 있다. 이는 본 발명의 제2 실시예의 기본 화소 구조가 3T1C 기반의 2 스캔 구조를 갖기 때문이다.As described above, by forming the two gate lines GL1 (m) and GL2 (m) with respect to one pixel row, it is possible to reduce the number of pixels included in each pixel in one pixel row The first transistor T1 and the second transistor T2 can be controlled differently. This is because the basic pixel structure of the second embodiment of the present invention has a 3T1C-based 2-scan structure.

이상에서는, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)의 화소 구조, 즉, 3T1C 기반의 2 스캔 구조(기본 화소 구조)와 신호 라인 연결 구조를 설명하였다. 이하에서는, 도 31을 참조하여, 전술한 화소 구조와 관련된 표시패널(261)의 대칭성 구조적 특징에 대하여 설명한다.
The pixel structure of the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention, that is, the 2-scan structure based on 3T1C (basic pixel structure) and the signal line connection structure have been described above. Hereinafter, with reference to Fig. 31, symmetrical structural features of the display panel 261 related to the above-described pixel structure will be described.

도 31은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)의 표시패널(261)에 대한 대칭성 구조적 특징을 설명하기 위한 간략한 평면도이다.31 is a simplified plan view for explaining symmetrical structural features of the display panel 261 of the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention.

도 31을 참조하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)의 표시패널(261)은, 데이터 라인 개수가 4N개일 때, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1)의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P4)의 화소 구조는 서로 대칭이 되고, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2)))과 연결된 화소(P2)의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3)의 화소 구조는 서로 대칭이 되는 대칭 구조를 갖는다. 31, the display panel 261 of the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention includes a 4n-th data line DL (4n- 3) and the pixel structure of the pixel P4 connected to the 4n-th data line DL (4n) are symmetrical to each other and the pixel structure of the 4n-2th data line DL (4n-2) ) And the pixel structure of the pixel P3 connected to the (4n-1) th data line DL (4n-1) are symmetrical to each other.

이러한 대칭 구조에서, 4n-3 번째 데이터 라인(DL(4n-3))과 연결된 화소(P1)의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인(DL(4n))과 연결된 화소(P4)의 화소 구조는 제1 전압을 공급하는 제1 전압 라인에 해당하는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이 된다. 그리고, 4n-2 번째 데이터 라인(DL(4n-2))과 연결된 화소(P2)의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인(DL(4n-1))과 연결된 화소(P3)의 화소 구조는 제1 전압을 공급하는 제1 전압 라인에 해당하는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이다. In this symmetric structure, the pixel structure of the pixel P1 connected to the 4n-3th data line DL (4n-3) and the pixel structure of the pixel P4 connected to the 4nth data line DL (4n) 1 is symmetrical with respect to the reference voltage line RVL corresponding to the first voltage line supplying the first voltage. The pixel structure of the pixel P3 connected to the 4n-2th data line DL (4n-2) and the pixel structure of the pixel P3 connected to the 4n-1th data line DL (4n-1) And is symmetrical with respect to the reference voltage line (RVL) corresponding to the first voltage line supplying the first voltage.

전술한 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)의 표시패널(261)에서, 4개의 데이터 라인(DL(4n-3), DL(4n-2), DL(4n-1), DL(4n))과 연결되는 4개의 화소(P1~P4)는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 하는 “단일 대칭 구조”를 갖는다. As described above, in the display panel 261 of the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention, four data lines DL (4n-3), DL (4n-2), DL The four pixels P1 to P4 connected to the pixel electrodes 4n-1 and 4n have a single symmetrical structure with respect to the reference voltage line RVL.

단일 대칭 구조와 관련된 화소 구조는, 3T1C 형성 위치를 포함할 수 있으며, 신호 라인 연결 방식(위치) 및 유기발광다이오드 형성 위치를 더 포함할 수도 있다. 여기서, 3T1C 형성 위치는, 트랜지스터 형성 위치, 캐패시터 형성 위치 등을 포함한다. The pixel structure associated with the single symmetric structure may include a 3T1C forming position, and may further include a signal line connecting method (position) and an organic light emitting diode forming position. Here, the 3T1C forming position includes a transistor forming position, a capacitor forming position, and the like.

각 화소 영역은 유기발광다이오드가 발광되는 발광 영역(311)과 3개의 트랜지스터(DT, T1, T2) 및 스토리지 캐패시터(Cst)가 형성되는 비발광 영역(312)으로 나누어지는데, 비발광 영역(312)에서의 3T1C 형성 위치, 신호 라인 연결 방식(위치) 및 유기발광다이오드 형성위치와 관련된 대칭 구조(단일 대칭 구조)를 도 31을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. Each pixel region is divided into a light emitting region 311 in which organic light emitting diodes are emitted and a non-emitting region 312 in which three transistors DT, T1 and T2 and a storage capacitor Cst are formed. (Single symmetrical structure) related to the 3T1C formation position, the signal line connection method (position) and the organic light emitting diode formation position in the light emitting diode (OLED) will be described in more detail with reference to FIG.

대칭 구조와 관련하여, P1 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치와 P4 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이 되고, P2 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치와 P3 화소의 구동 트랜지스터(DT) 및 스토리지 캐패시터(Cst)의 형성 위치는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이 된다. Regarding the symmetrical structure, the forming positions of the driving transistor DT and the storage capacitor Cst and the forming positions of the driving transistor DT and the storage capacitor Cst of the P4 pixel are the same as the reference voltage line RVL And the formation positions of the drive transistor DT and the storage capacitor Cst and the formation position of the drive transistor DT and the storage capacitor Cst of the P3 pixel are symmetrical with respect to the reference voltage line RVL It becomes symmetrical.

또한, P1 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치와 P4 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이 되고, P2 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치와 P3 화소의 제1, 제2 트랜지스터(T1, T2)의 형성 위치는 기준전압 라인(RVL)을 기준으로 대칭이 된다.The formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P1 pixel and the formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P4 pixel are symmetrical with respect to the reference voltage line RVL , The formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P2 pixel and the formation positions of the first and second transistors T1 and T2 of the P3 pixel are symmetrical with respect to the reference voltage line RVL.

또한, P1 화소의 유기발광다이오드 형성위치와 P4 화소의 유기발광다이오드 형성위치는 서로 대칭이 된다. P2 화소의 유기발광다이오드 형성위치와 P3 화소의 유기발광다이오드 형성위치는 서로 대칭이 된다. In addition, the organic light emitting diode forming position of the P1 pixel and the organic light emitting diode forming position of the P4 pixel are symmetrical to each other. The positions where the organic light emitting diode is formed in the P2 pixel and the positions where the organic light emitting diode is formed in the pixel P3 are symmetrical to each other.

또한, P1 화소의 신호 라인 연결 방식과 P4 화소의 신호 라인 연결 방식은 서로 대칭이고, P2 화소의 신호 라인 연결 방식과 P3 화소의 신호 라인 연결 방식은 서로 대칭이다. The signal line connection method of the P1 pixel and the signal line connection method of the P4 pixel are symmetrical to each other, and the signal line connection method of the P2 pixel and the signal line connection method of the P3 pixel are symmetrical to each other.

더욱 상세하게 설명하면, P1 화소와 P4 화소는 구동전압 라인(DVL)과 직접 연결되어 구동전압(EVDD)을 공급받고 공급받는 위치가 기준전압 라인(RVL)의 위치를 기준으로 서로 대칭이다. 또한, P1 화소와 P4 화소는 기준전압 라인(RVL)과 직접 연결되지 않고 기준전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)로부터 기준전압(Vref)을 공급받고, 공급받는 위치가 기준전압 라인(RVL)의 위치를 기준으로 서로 대칭이다.More specifically, the P1 pixel and the P4 pixel are directly connected to the driving voltage line DVL, and the positions to which the driving voltage EVDD is supplied are symmetrical with respect to the position of the reference voltage line RVL. The P1 and P4 pixels are not directly connected to the reference voltage line RVL but are supplied with the reference voltage Vref from the connection pattern CP connected to the reference voltage line RVL, RVL) are symmetrical with respect to each other.

P2 화소와 P3 화소는 구동전압 라인(DVL)과 직접 연결되지 않고 구동전압 라인(RVL)과 연결된 연결패턴(CP)와 연결되어 구동전압(EVDD)을 공급받고 공급받는 위치가 기준전압 라인(RVL)의 위치를 기준으로 서로 대칭이다. 또한, P2 화소와 P3 화소는 기준전압 라인(RVL)과 직접 연결되어 기준전압(Vref)을 공급받고, 공급받는 위치가 기준전압 라인(RVL)의 위치를 기준으로 서로 대칭이다.The P2 pixel and the P3 pixel are connected directly to the connection pattern CP connected to the driving voltage line RVL without being directly connected to the driving voltage line DVL, and the driving voltage EVDD is supplied to the reference voltage line RVL ) Are symmetrical with respect to each other. The P2 and P3 pixels are directly connected to the reference voltage line RVL and are supplied with the reference voltage Vref and the supplied positions are symmetrical with respect to the reference voltage line RVL.

전술한 바와 같이, 표시패널(261)은 4개의 화소열(P1~P4) 단위로 대칭 구조(단일 대칭 구조)를 가지기 때문에, 2개의 스캔신호(SENSE, SCAN)가 반드시 필요한 3T1C 화소 구조 하에서도 패널 구조가 간단해지고 컴팩트해질 수 있고, 결함 발생 확률도 그만큼 줄일 수 있으며 개구율도 높일 수 있는 장점이 있다. 이로 인해, 양질의 패널을 높은 수율로 제조할 수 있다. 특히, 고해상도 및 대면적의 패널을 보다 높은 품질 및 높은 수율로 제조할 수 있다.As described above, since the display panel 261 has a symmetrical structure (single symmetrical structure) in units of four pixel columns (P1 to P4), even under the 3T1C pixel structure in which two scan signals (SENSE, SCAN) The panel structure can be simplified and compact, the probability of occurrence of defects can be reduced as much, and the aperture ratio can be increased. As a result, a high-quality panel can be produced with a high yield. In particular, high resolution and large area panels can be manufactured with higher quality and higher yield.

한편, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)는, 각 화소에 포함된 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보의 파악이 가능하도록 하는 효율적인 센싱 기능과 센싱된 정보를 토대로 각 화소에 포함된 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보를 파악하여 이를 보상해주어 각 화소 내 구동 트랜지스터(DT) 간의 특성편차를 줄여줄 수 있는 보상 기능, 그리고 이러한 센싱 기능과 보상 기능이 효율적으로 이루어질 수 있도록 하는 구조에 대하여, 도 32 및 도 33을 참조하여 설명한다.Meanwhile, the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention includes an efficient sensing function for enabling the characteristic information of the driving transistor DT included in each pixel to be grasped, A compensating function capable of compensating for the characteristic information of the driving transistor DT included in the pixel to reduce the characteristic deviation between the driving transistors DT in each pixel and to provide a sensing function and a compensating function efficiently Will be described with reference to Figs. 32 and 33. Fig.

본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)의 외부 보상 기능(센싱 기능과 보상 기능)은, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(10)의 외부 보상 기능과 기본적으로 동일하다. 특히, 보상 기능은 제1 실시예와 제2 실시예는 동일하다. 다만, 제1 실시예는 1 스캔 구조이지만 본 발명의 제2 실시예는 2 스캔 구조라는 점에서, 센싱 기능과 관련하여 센싱 타임을 제어하기 위한 방식 등에서만 다소 차이점이 있을 뿐이다. 따라서, 아래에서는, 제1 실시예와 동일한 보상 기능(즉, 보상부)에 대해서는 설명을 생략하고, 제1 실시예와 차이점이 있는 부분을 위주로 설명한다.
The external compensation function (sensing function and compensation function) of the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention is similar to that of the organic light emitting display device 10 according to the first embodiment of the present invention, It is basically the same as the function. Particularly, the compensation function is the same as the first embodiment and the second embodiment. However, since the first embodiment has a one scan structure, the second embodiment of the present invention is only a two scan structure, and there is only a slight difference in the method for controlling the sensing time with respect to the sensing function. Therefore, the description of the same compensation function (i.e., compensation section) as that of the first embodiment will be omitted below, and a description will be made mainly of the difference from the first embodiment.

도 32는 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)의 외부 보상 구성 중에서 센싱부(320)를 하나의 화소(P)에 대한 등가회로와 함께 나타낸 도면이다. FIG. 32 is a diagram showing an external compensation structure of the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention, together with an equivalent circuit for one pixel P. In FIG.

도 32를 참조하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)는, 각 화소 간 휘도 불균형을 발생시킬 수 있는 각 화소(P) 내 구동 트랜지스터(DT)의 특성편차(예: 문턱전압 편차, 이동도 편차 등)를 보상해주기 위하여, 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보(예: 문턱전압, 이동도 등)를 파악하기 위한 전압을 센싱하는 센싱부(320)와, 센싱된 전압을 저장하는 메모리(330)와, 센싱된 전압을 토대로 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보를 파악하여 이를 보상해주는 보상부(340) 등을 포함할 수 있다. 32, the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention is characterized in that a characteristic deviation (i.e., a variation in luminance) of the driving transistor DT in each pixel P A sensing unit 320 for sensing a voltage for grasping characteristic information (e.g., threshold voltage, mobility, and the like) of the driving transistor DT to compensate for variations in the threshold voltage And a compensation unit 340 for compensating the characteristic information of the driving transistor DT based on the sensed voltage.

전술한 센싱부(320)는, 각 화소(P) 내 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보 파악을 위한 전압을 센싱하되, 각 화소(P)의 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압(Vsen)을 센싱하는데, 이를 위해, 도 32에 도시된 바와 같이, 기준전압원으로부터 공급되는 기준전압(Vref)을 아날로그 값으로 변환하는 디지털 아날로그 변환부(DAC, 321)와, 센싱부(320)와 연결이 가능한 각 화소(P)의 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 센싱된 전압을 디지털 값으로 변환하는 아날로그 디지털 변환부(ADC, 322)와, 디지털 아날로그 변환부(321)로부터 아날로그로 변환된 기준전압(Vref)이 공급되는 기준전압 공급 노드(3231)와 아날로그 디지털 변환부(912)에 연결된 센싱 노드(3232) 중 하나가 기준전압 라인(RVL)과 연결되도록 스위칭하는 제1 스위치(323) 등을 포함할 수 있다. The sensing unit 320 senses a voltage for grasping the characteristic information of the driving transistor DT in each pixel P and detects the voltage of the first node N1 of the driving transistor DT of each pixel P 32, a digital-to-analog converter (DAC) 321 for converting a reference voltage Vref supplied from a reference voltage source to an analog value, a sensing unit 320 for sensing a voltage Vsen, An analog-to-digital converter (ADC) 322 for converting the sensed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT of each pixel P connectable to the digital-analog converter One of the reference voltage supply node 3231 to which the reference voltage Vref converted from the analog voltage conversion unit 321 is supplied and the sensing node 3232 connected to the analog digital conversion unit 912 is connected to the reference voltage line RVL, The first switch 323 and the like.

본 발명의 제2 실시예의 센싱부(320), 메모리(330) 및 보상부(340)는, 제1 실시예의 센싱부(91), 메모리(92) 및 보상부(93)와 각각 그 구성 및 동작 등이 모두 동일하다. The sensing unit 320, the memory 330 and the compensating unit 340 of the second embodiment of the present invention are the same as the sensing unit 91, the memory 92 and the compensating unit 93 of the first embodiment, Operation and the like are all the same.

특히, 본 발명의 제2 실시예의 센싱부(320)에서 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보(예: 문턱전압, 이동도 등)를 파악하기 위한 전압이 센싱되고 나면, 센싱된 전압(Vsen)이 메모리(330)에 저장되고, 보상부(340)가 센싱된 전압(Vsen)을 토대로 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보를 파악하여 이를 보상해주는 동작은 본 발명의 제1 실시예와 동일하다. Particularly, when the voltage for sensing the characteristic information (e.g., threshold voltage, mobility, etc.) of the driving transistor DT is sensed in the sensing unit 320 of the second embodiment of the present invention, the sensed voltage Vsen The operation of compensating the characteristic information of the driving transistor DT based on the voltage Vsen stored in the memory 330 and compensated by the compensating unit 340 is the same as that of the first embodiment of the present invention.

다만, 제1 실시예는 1 스캔 구조이고 제2 실시예는 2 스캔 구조라는 점에서의 화소 구조적인 차이점이 있고, 제1 실시예에서 데이터 전압에 대한 데이터 라인(DL)으로의 공급 여부를 스위칭하여 S-센싱 모드 및/또는 F-센싱 모드에서 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 대한 정전압을 인가해줄지 말지를 제어하기 위한 용도로 사용된 제2 스위치(SW2, 914)가 제2 실시예에서는 없어졌다는 점에서 차이점이 있다. However, there is a pixel structure difference in that the first embodiment has a one scan structure and the second embodiment has a two scan structure. In the first embodiment, whether or not the data voltage is supplied to the data line DL is switched The second switches SW2 and 914 used for controlling whether to apply a constant voltage to the second node N2 of the driving transistor DT in the S-sensing mode and / or the F-sensing mode There is a difference in that it is eliminated in the second embodiment.

이러한 두 가지 차이점(제1 실시예: 1 스캔 구조, SW2 있음, 제2 실시예: 2 스캔 구조, SW2 없음)으로 인해, 구동 모드, S-센싱 모드, F-센싱 모드 각각에서의 동작 타이밍에서 다소 차이점이 있다. Due to these two differences (first embodiment: one scan structure, with SW2, second embodiment: two scan structure, no SW2), operation timing in each of drive mode, S- There are some differences.

구동 트랜지스터(DT)의 특성정보를 파악하기 위한 전압을 센싱하기 위해서는, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 각각에 일정 전압을 인가해두고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서 전압이 변하도록 하여 변화된 전압을 센싱 전압으로 측정해야만 한다. It is necessary to apply a constant voltage to each of the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT to sense the voltage for grasping the characteristic information of the driving transistor DT, The voltage must be changed at the first node N1 of the transistor N1 and the changed voltage must be measured as the sensing voltage.

이와 관련하여, 제1 스위치(323)에 의해 기준전압 공급 노드(3231)와 기준전압 라인(RVL)과 연결되도록 제1 스위치(323)를 온(On) 시켜서, 디지털 아날로그 변환부(321)로부터 아날로그로 변환된 기준전압(Vref)이 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에 인가되도록 해줄 수 있다. 이는 제1 실시예와 동일하다. In this connection, the first switch 323 turns on the first switch 323 to be connected to the reference voltage supply node 3231 and the reference voltage line RVL by the first switch 323, The reference voltage Vref converted to the analogue voltage may be applied to the first node N1 of the driving transistor DT. This is the same as the first embodiment.

구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 대한 일정 전압(Vdata)을 인가해주기 위해서, 제1 실시예에서는 제2 스위치(914)를 온(On)시키는 것이 필요했으나, 제2 실시예에서는 제1 실시예에서의 제2 스위치(914)가 없기 때문에, 제2 트랜지스터(T2)만 턴 온되면, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 일정 전압(Vdata)이 인가될 수 있다. In order to apply a constant voltage Vdata to the second node N2 of the driving transistor DT, it is necessary to turn on the second switch 914 in the first embodiment, but in the second embodiment, The second switch 914 in the first embodiment does not exist and therefore when the second transistor T2 is turned on only a certain voltage Vdata may be applied to the second node N2 of the driving transistor DT .

따라서, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 각각에 일정 전압을 인가해두고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서 전압이 변하도록 하여 변화된 전압을 센싱 전압으로 측정하기 위해서는, 제1 스위치(323)의 스위칭 동작, 제1 트랜지스터(T1)의 턴온/턴오프를 제어하기 위한 제1 스캔신호(SENSE), 제2 트랜지스터(T2)의 턴온/턴오프를 제어하기 위한 제2 스캔신호(SCAN)를 제어하는 것이 필요하다. A constant voltage is applied to each of the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT so that the voltage at the first node N1 of the driving transistor DT changes, A first scan signal SENSE for controlling the switching operation of the first switch 323, a turn-on / turn-off of the first transistor Tl, a turn-on / turn-off of the second transistor T2, It is necessary to control the second scan signal SCAN for controlling the turn-off.

이러한 제1 스위치(323), 제1 스캔신호(SENSE) 및 제2 스캔신호(SCAN)의 타이밍 제어는 타이밍 컨트롤러(265)에 의해 수행될 수 있으며, 이는 도 33을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다.
Timing control of the first switch 323, the first scan signal SENSE, and the second scan signal SCAN can be performed by the timing controller 265, which will be described in more detail with reference to FIG. 33 .

도 33 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기전계발광 표시장치(260)의 구동 모드와, 2가지 센싱 모드(S-센싱 모드, F-센싱 모드) 각각에 대한 동작 타이밍도이다.FIG. 33 is an operation timing diagram for the driving mode and the two sensing modes (S-sensing mode and F-sensing mode) of the organic light emitting display device 260 according to the second embodiment of the present invention.

먼저, 도 33의 (a)를 참조하여 화소가 구동 모드로 동작하는 경우에 대하여 설명한다. First, a case where a pixel operates in a driving mode will be described with reference to Fig. 33 (a).

도 33의 (a)를 참조하면, 구동 모드에서 제1 스위치(SW1, 323)는 항상 온이 되어 있을 수 있으며, 경우에 따라서는 오프가 되어 있어도 무방하다. Referring to FIG. 33 (a), in the drive mode, the first switches SW1 and 323 may be always on, and may be off in some cases.

도 33의 (a)를 참조하면, 제1 스위칭(323)이 항상 온이 되어 있는 상태에서, 제1 트랜지스터(T1)에 제2레벨(VGH)의 제1 스캔신호(SENSE)가 인가되고, 제2 트랜지스터(T2)에 제2레벨(VGH)의 제2 스캔신호(SCAN)가 되는 단계가 구동 모드의 초기화 단계(STEP1)이다. 33A, a first scan signal SENSE of a second level VGH is applied to the first transistor Tl in a state in which the first switch 323 is always on, The step of the second transistor T2 becoming the second scan signal SCAN of the second level VGH is the initialization step of the drive mode STEP1.

그리고, 제1 트랜지스터(T1)에 인가되던 제1 스캔신호(SENSE)의 레벨이 제1레벨(VGL)로 바뀌고, 제2 트랜지스터(T2)에 인가되던 제2 스캔신호(SCAN)의 레벨이 제1레벨(VGL)로 바뀌고, 데이터 전압(Vdata)가 인가되지 않는 단계가 구동 모드의 구동 단계(STEP2)이다. When the level of the first scan signal SENSE applied to the first transistor T1 is changed to the first level VGL and the level of the second scan signal SCAN applied to the second transistor T2 is changed to the first level VGL, 1 level (VGL), and the step in which the data voltage (Vdata) is not applied is the driving step (STEP2) of the driving mode.

구동 모드의 초기화 단계(STEP1)에서는, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 모두 턴온되고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 및 제2노드(N2) 각각에 일정 전압인 기준전압(Vref)와 데이터 전압(Vdata)가 인가된다. The first transistor T1 and the second transistor T2 are all turned on and the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT are turned on The reference voltage Vref and the data voltage Vdata are applied.

이때, 스토리지 캐패시터(Cst)의 양단에도 기준전압(Vref)와 데이터 전압(Vdata)가 인가되어 데이터 전압(Vdata)와 기준전압(Vref) 간의 전위차에 해당하는 전하가 충전이 된다. At this time, the reference voltage Vref and the data voltage Vdata are applied to both ends of the storage capacitor Cst to charge charges corresponding to the potential difference between the data voltage Vdata and the reference voltage Vref.

구동 모드의 구동 단계(STEP2)에서는, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2)에 정전압을 인가해주는 것이 없어지게 되어, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압(소스전압)과 제2노드(N2)의 전압(게이트 전압)이 함께 서서히 높아지게 되고, 이에 따라, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압(소스전압)이 유기발광다이오드(OLED)에 전류가 흐를 수 있는 전압보다 높아지면, 유기발광다이오드로 전류가 흐르기 시작하여 유기발광다이오드가 발광한다. In the driving step STEP2 of the drive mode, no constant voltage is applied to the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT, and the first node N1 of the driving transistor DT The voltage (source voltage) of the first node N1 of the driving transistor DT becomes higher than the voltage (source voltage) of the second node N2, When the voltage becomes higher than a voltage at which a current can flow through the diode OLED, a current starts to flow to the organic light emitting diode and the organic light emitting diode emits light.

이와 같이, 화소가 구동 모드로 동작할 때의 전압 변화 그래프는 도 20과 동일하다. The voltage change graph when the pixel is operated in the drive mode is the same as in Fig.

다음으로, 도 33의 (b)를 참조하여 화소가 S-센싱 모드로 동작하는 경우에 대하여 설명한다.Next, a case where the pixel operates in the S-sensing mode will be described with reference to FIG. 33 (b).

도 33의 (b)를 참조하면, S-센싱 모드에서, 제1 스위치(323)가 오프에서 온이 되어 있을 때, 제1 트랜지스터(T1)에 제2레벨(VGH)의 제1 스캔신호(SENSE)가 인가되고, 제2 트랜지스터(T2)에 제2레벨(VGH)의 제2 스캔신호(SCAN)가 인가되는 동안이 S-센싱 모드의 초기화 단계(STEP1)이다. Referring to FIG. 33 (b), in the S-sensing mode, when the first switch 323 is turned off, the first transistor T1 is supplied with the first scan signal of the second level VGH SENSE) is applied to the second transistor T2 and the second scan signal SCAN of the second level VGH is applied to the second transistor T2.

그리고, 제1 스위치(323)가 오프되고, 제1 트랜지스터(T1)에 인가되던 제1 스캔신호(SENSE)의 레벨이 제2레벨(VGH)로 일정 시간(S-센싱 타임) 동안 유지되고, 제2 트랜지스터(T2)에도 제2 스캔신호(SCAN)의 레벨이 제2레벨(VGH)로 일정 시간(이 시간은 S-센싱 타임보다는 짧을 수 있음) 동안 유지되며, 제1 스캔신호(SENSE)의 레벨이 제1레벨(VGL)로 바뀌기 직전까지를 S-센싱 모드의 센싱 단계(STEP2)라고 한다. The first switch 323 is turned off and the level of the first scan signal SENSE applied to the first transistor T1 is maintained at the second level VGH for a predetermined time (S-sensing time) The level of the second scan signal SCAN is maintained at the second level VGH for a predetermined time (this time may be shorter than the S-sensing time) in the second transistor T2, (STEP2) in the S-sensing mode until the level of the first level (VGL) is changed to the first level (VGL).

이때, 제1 스위치(323)이 오프된 시점부터 제1 스캔신호(SENSE)의 레벨이 제1레벨(VGL)로 변할때까지를 S-센싱 타임이다. 이 S-센싱 타임 사이에 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압이 센싱될 수 있다. At this time, the time from when the first switch 323 is turned off until the level of the first scan signal SENSE changes to the first level VGL is the S-sensing time. During this S-sensing time, the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT can be sensed.

S-센싱 모드의 초기화 단계(STEP1)에서는, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 모두 턴온되고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 및 제2노드(N2) 각각에 일정 전압인 기준전압(Vref)와 데이터 전압(Vdata)가 인가된다. The first transistor T1 and the second transistor T2 are all turned on and the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT are turned on in the initializing step of the S- A reference voltage Vref and a data voltage Vdata, which are constant voltages, are applied.

이때, 스토리지 캐패시터(Cst)의 양단에도 기준전압(Vref)와 데이터 전압(Vdata)가 인가되어 데이터 전압(Vdata)와 기준전압(Vref) 간의 전위차에 해당하는 전하가 충전이 된다.At this time, the reference voltage Vref and the data voltage Vdata are applied to both ends of the storage capacitor Cst to charge charges corresponding to the potential difference between the data voltage Vdata and the reference voltage Vref.

S-센싱 모드의 센싱 단계(STEP2)에서는, 제2 트랜지스터(T2)의 턴 온되어 있어, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에 정전압(Vdata)가 걸려 있고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)의 전압이 변화되고, 그 변화는 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2)의 전압 차이가 구동 트랜지스터(DT)의 문턱전압(Vth)이 될 때까지 일어난다. The second transistor T2 is turned on and the constant voltage Vdata is applied to the second node N2 of the driving transistor DT and the driving transistor DT is turned on in the sensing step STEP2 of the S- The voltage difference between the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT is lower than the threshold voltage Vth of the driving transistor DT, It happens until it becomes.

따라서, S-센싱 타임 사이에 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압은 Vdata-Vth가 되고, 이 전압이 센싱 전압(Vsen)으로서 센싱될 수 있다. S-센싱 모드에서 센싱된 전압(Vsen)의 변화는 도 22a와 같다. Therefore, the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT during the S-sensing time becomes Vdata-Vth, and this voltage can be sensed as the sensing voltage Vsen. The change in the voltage (Vsen) sensed in the S-sensing mode is shown in FIG.

또 다음으로, 도 33의 (c)를 참조하여 화소가 F-센싱 모드로 동작하는 경우에 대하여 설명한다.Next, the case where the pixel operates in the F-sensing mode will be described with reference to Fig. 33 (c).

도 33의 (c)를 참조하면, F-센싱 모드에서, 제1 스위치(323)가 오프에서 온이 되어 있을 때, 제1 트랜지스터(T1)에 제2레벨(VGH)의 제1 스캔신호(SENSE)가 인가되고, 제2 트랜지스터(T2)에 제2레벨(VGH)의 제2 스캔신호(SCAN)가 인가되는 동안이 F-센싱 모드의 초기화 단계(STEP1)이다. Referring to (c) of FIG. 33, in the F-sensing mode, when the first switch 323 is turned off, the first transistor T1 is supplied with the first scan signal of the second level VGH (STEP1) while the second scan signal SCAN of the second level VGH is applied to the second transistor T2.

그리고, 제1 스위치(323)이 오프되고, 제1 트랜지스터(T1)에 인가되던 제1 스캔신호(SENSE)의 레벨이 제2레벨(VGH)로 일정 시간(S-센싱 타임) 동안 유지되는 반면, 제2 트랜지스터(T2)에 인가되던 제2 스캔신호(SCAN)의 레벨이 제1레벨(VGL)로 바뀐 이후 제1 스캔신호(SENSE)의 레벨이 제1레벨(VGL)로 바뀌기 직전까지를 S-센싱 모드의 센싱 단계(STEP2)라고 한다. The first switch 323 is turned off and the level of the first scan signal SENSE applied to the first transistor T1 is maintained at the second level VGH for a predetermined time (S-sensing time) Until the level of the first scan signal SENSE changes to the first level VGL after the level of the second scan signal SCAN applied to the second transistor T2 is changed to the first level VGL, Sensing step of the S-sensing mode (STEP2).

이때, 제1 스위치(323)이 오프된 시점부터 제1 스캔신호(SENSE)의 레벨이 제1레벨(VGL)로 변할때까지를 F-센싱 타임이다. 이 F-센싱 타임 사이에 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압이 센싱될 수 있다. 또한, F-센싱 타임은 S-센싱 타임보다 상당히 짧은 시간으로서, 이를 위해, F-센싱 모드를 위해 제2레벨(VGH)의 제1 스캔신호가 인가되는 시간을 S-센싱 모드를 위해 제2레벨(VGH)의 제1 스캔신호가 인가되는 시간보다 짧아지도록, 타이밍 컨트롤러(265)는 제1 스캔신호의 생성을 제어할 수 있다. The time from when the first switch 323 is turned off until the level of the first scan signal SENSE changes to the first level VGL is the F-sensing time. During this F-sensing time, the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT can be sensed. The F-sensing time is much shorter than the S-sensing time. To this end, the time for which the first scan signal of the second level (VGH) is applied for the F-sensing mode is applied to the second The timing controller 265 can control the generation of the first scan signal so that the first scan signal of the level VGH is applied.

F-센싱 모드의 초기화 단계(STEP1)에서는, 제1 트랜지스터(T1) 및 제2 트랜지스터(T2)가 모두 턴온되고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1) 및 제2노드(N2) 각각에 일정 전압인 기준전압(Vref)와 데이터 전압(Vdata)가 인가된다. The first transistor T1 and the second transistor T2 are both turned on and the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DT are turned on in the initializing step of the F- A reference voltage Vref and a data voltage Vdata, which are constant voltages, are applied.

이때, 스토리지 캐패시터(Cst)의 양단에도 기준전압(Vref)와 데이터 전압(Vdata)가 인가되어 데이터 전압(Vdata)와 기준전압(Vref) 간의 전위차에 해당하는 전하가 충전이 된다.At this time, the reference voltage Vref and the data voltage Vdata are applied to both ends of the storage capacitor Cst to charge charges corresponding to the potential difference between the data voltage Vdata and the reference voltage Vref.

F-센싱 모드의 센싱 단계(STEP2)에서는, 제2 트랜지스터(T2)가 턴 오프 되어 있으나, 제2 트랜지스터(T2)의 게이트노드 및 소스노드 사이에서의 캐패시터(Cgs) 성분으로 인해, 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에서의 전압이 Vdata로 짧은 시간동안 유지될 수 있다. In the sensing step STEP2 of the F-sensing mode, although the second transistor T2 is turned off, due to the capacitor (Cgs) component between the gate node and the source node of the second transistor T2, The voltage at the second node N2 of the transistors DT can be maintained at Vdata for a short time.

따라서, 제2 트랜지스터(T2)의 캐패시터(Cgs) 성분으로 인해 구동 트랜지스터(DT)의 제2노드(N2)에서의 전압이 Vdata로 짧은 시간동안 유지되고 있을 때, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 전압이 F-센싱 타임 사이에 미세하게 바뀔 수 있다.Therefore, when the voltage at the second node N2 of the driving transistor DT is held at Vdata for a short time due to the capacitor (Cgs) component of the second transistor T2, The voltage at the node N1 may be finely changed between the F-sensing time.

이에, F-센싱 타임 사이에, 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압이 센싱 전압(Vsen)으로서 센싱될 수 있다. Thus, during the F-sensing time, the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT can be sensed as the sensing voltage Vsen.

따라서, S-센싱 타임 사이에 구동 트랜지스터(DT)의 제1노드(N1)에서의 변화된 전압은 Vdata-Vth가 되고, 이 전압이 센싱 전압(Vsen)으로서 센싱될 수 있다. S-센싱 모드에서 센싱된 전압(Vsen)의 변화는 도 24a와 같다.Therefore, the changed voltage at the first node N1 of the driving transistor DT during the S-sensing time becomes Vdata-Vth, and this voltage can be sensed as the sensing voltage Vsen. The change in the voltage (Vsen) sensed in the S-sensing mode is shown in FIG.

도 33의 (b) 및 (c)를 참조하여 설명한 S-센싱 모드 및 F-센싱 모드에서 센싱된 전압(Vsen)을 이용하여 구동 트랜지스터(DT)의 특성정보(문턱전압, 이동도)의 편차를 보상해줌으로써, 화소 간 휘도 불균형을 줄여줄 수 있다. (Threshold voltage, mobility) of the driving transistor DT using the voltage Vsen sensed in the S-sensing mode and the F-sensing mode described with reference to FIGS. 33 (b) and 33 The luminance imbalance between pixels can be reduced.

아래에서는, 이상에서 설명한 본 발명의 제1 실시예 및 제2 실시예에 따른 외부 보상 기능에 따라 화소 각각의 구동 트랜지스터(DT)의 이동도 편차에 대한 보상 능력을 도 34에 도시된 실험 결과 표와 그래프를 통해 확인해본다.
In the following, the compensation capability for the mobility deviation of the driving transistor DT of each pixel according to the external compensation function according to the first and second embodiments of the present invention described above is shown in an experiment result table And graphs.

도 34는 본 발명의 제1 실시예 및 제2 실시예에 따른 이동도 편차를 보상 효과를 나타낸 도면이다.FIG. 34 is a view showing a compensation effect of mobility deviation according to the first and second embodiments of the present invention. FIG.

도 34를 참조하면, 5개의 화소가 있고, 각 화소의 구동 트랜지스터(DT)의 이동도가 0.8, 0.9, 1, 1.1, 1.2로 각각 다른 경우, 즉, 5개의 화소 간에 구동 트랜지스터(DT)의 이동도가 다른 경우, 5개의 화소의 휘도가 모두 200nit가 되도록 하는 전류(200nit 전류)를 기준으로 하여, 실제로 유기발광다이오드(OLED)로 전류가 얼마나 흘렀는지를 측정하고, 실제로 흐른 전류와 200nit 전류의 차이를 ΔIoled로서 산출하였다. 이러한 측정을 제1 실시예(1 스캔 구조)와 제2 실시예(2 스캔 구조) 각각에 따라 보상 전과 보상 후 각각에 대하여 수행하였다. 34, when there are five pixels and the mobility of the driving transistor DT of each pixel is different by 0.8, 0.9, 1, 1.1, and 1.2, that is, When the mobility is different, the current flowing through the organic light emitting diode (OLED) is actually measured based on the current (200 nit current) such that the luminance of all five pixels is 200 nit. The difference was calculated as? Ioled. These measurements were performed before and after compensation according to the first embodiment (1 scan structure) and the second embodiment (2 scan structure), respectively.

그 측정 결과를 표로 나타낸 것이 도 34의 (a)이고, 그래프로 나타낸 것이 도 34의 (b)이다. Fig. 34 (a) shows the results of the measurement, and Fig. 34 (b) shows the results.

도 34의 (b)를 참조하면, 제1 실시예(1 SCAN)에 따른 보상 전과 제2 실시예(1 SCAN)에 따른 보상 전에는, 5개의 구동 트랜지스터(DT) 간의 이동도 편차로 인해, 5개의 화소 모두가 동일한 휘도를 내기 위한 목표 전류(200nit 전류)와 유기발광다이오드로 실제로 흐른 전류의 차이, ΔIoled가 이동도 편차에 따라 크게 달라짐을 알 수 있다. 34 (b), before the compensation according to the first embodiment (1 SCAN) and before the compensation according to the second embodiment (1 SCAN), due to the mobility deviation between the five driving transistors DT, It can be seen that the difference (ΔIoled) between the target current (200 nit current) and the current actually flowing through the organic light emitting diode for all the pixels has a large variation with the mobility deviation.

하지만, 도 34의 (b)의 점선 박스 부분에서 보는 바와 같이, 제1 실시예(1 SCAN)에 따른 보상 후와 제2 실시예(1 SCAN)에 따른 보상 후에는, 5개의 구동 트랜지스터(DT) 간의 이동도 편차가 있기는 하지만, 각 실시예의 보상 전 결과에 비해, 5개의 화소 모두가 동일한 휘도를 내기 위한 목표 전류(200nit 전류)와 유기발광다이오드로 실제로 흐른 전류의 차이, ΔIoled가 이동도 편차에 따라 크게 달라지지 않는다는 것을 확인할 수 있다. However, after the compensation according to the first embodiment (1 SCAN) and the compensation according to the second embodiment (1 SCAN), as shown in the dotted box portion in Figure 34 (b), five driving transistors DT ), The difference between the target current (200 nit current) for causing all the five pixels to have the same luminance and the current actually flowing through the organic light emitting diode, ΔIoled is smaller than the mobility It can be confirmed that it does not greatly change according to the deviation.

따라서, 본 발명의 제1 실시예 및 제2 실시예 모두에 따른 이동도 편차를 보상 효과는 상당하다는 것을 도 34의 실험 결과를 통해 확인할 수 있다. Therefore, it can be confirmed from the experimental result of FIG. 34 that the compensation effect of the mobility deviation according to both the first embodiment and the second embodiment of the present invention is significant.

한편, 이상에서 전술한 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예의 표시패널(11)과 본 발명의 제2 실시예의 표시패널(261)은, 4개의 화소 열마다 대칭적인 구조를 갖도록 설계됨으로써, 패널 구조가 간단하고 컴팩트해질 수 있고, 개구율을 높여주고 유기발광다이오드의 수명을 연장시켜줄 수 있으며, 결함 발생 확률도 낮출 수 있고, 패널 제조가 보다 용이해지도록 해줄 수 있다. 이로 인해, 양질의 패널을 높은 수율로 제조할 수 있다. 특히, 이러한 본 발명의 제1 실시예 및 제2 실시예는 고해상도, 또는 대면적의 유기전계발광 표시장치에 적용될 경우 더 큰 효과가 있을 것이다. On the other hand, as described above, the display panel 11 of the first embodiment of the present invention and the display panel 261 of the second embodiment of the present invention are designed to have a symmetrical structure for every four pixel columns, The structure can be made simple and compact, the aperture ratio can be increased, the lifetime of the organic light emitting diode can be extended, the probability of occurrence of defects can be lowered, and the manufacture of the panel can be made easier. As a result, a high-quality panel can be produced with a high yield. Particularly, the first and second embodiments of the present invention will be more effective when applied to a high-resolution or large-area organic light emitting display device.

다만, 본 발명의 제1 실시예는 3T1C 구조에서 필요한 2개의 스캔신호를 사용하지 않고 1개의 스캔신호만으로도 구동/센싱 동작이 가능하도록 설계한 화소구조를 개시하는 실시예로서, 2개의 스캔신호를 이용하는 제2 실시예보다 개구율면에서 더 유리한 점이 있다. However, the first embodiment of the present invention discloses a pixel structure designed to enable a driving / sensing operation using only one scan signal without using two scan signals required in a 3T1C structure. There is a further advantage in terms of aperture ratio as compared with the second embodiment used.

이러한 본 발명의 제1 실시예와 제2 실시예의 개구율 차이는 도 35를 통해 확인해볼 수 있다.
The difference in aperture ratio between the first embodiment and the second embodiment of the present invention can be seen from FIG.

도 35는 본 발명의 제1 실시예 및 제2 실시예에 따른 개구율을 비교한 도면이다. FIG. 35 is a diagram comparing aperture ratios according to the first and second embodiments of the present invention. FIG.

도 35를 참조하면, 하나의 화소 행(Pixel Row)에 대하여, 본 발명의 제2 실시예(2 스캔 구조)는 2개의 게이트 라인(GL1, GL2)이 형성되어 있다. 하지만 본 발명의 제1 실시예(1 스캔 구조)는 1개의 게이트 라인(GL)만이 형성되어 있다. 즉, 하나의 화소 행에 대하여, 본 발명의 제1 실시예는 제2 실시예에 비해 1개의 게이트 라인이 감소하였다. Referring to FIG. 35, two gate lines GL1 and GL2 are formed in one pixel row in the second embodiment (two scan structure) of the present invention. However, in the first embodiment (one scan structure) of the present invention, only one gate line GL is formed. That is, for one pixel row, the first embodiment of the present invention has one gate line reduced compared to the second embodiment.

따라서, 본 발명의 제1 실시예는 제2 실시예에 비해, 표시영역(발광영역)이 더 커져 개구율이 더욱 커졌음을 알 수 있다. 이는 해상도가 높아지거나 면적이 커질 경우 더 큰 개구율 향상을 기대할 수 있다. Therefore, it can be seen that the display area (light emitting area) is larger and the aperture ratio is larger in the first embodiment of the present invention as compared with the second embodiment. It is expected that a larger aperture ratio can be expected if the resolution is increased or the area is increased.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 간단하고 컴팩트(Compact) 한 패널 구조를 갖는 유기전계발광 표시장치(10, 260)를 제공하는 효과가 있다. As described above, according to the present invention, it is possible to provide an organic light emitting display device (10, 260) having a simple and compact panel structure.

또한, 본 발명에 의하면, 개구율을 높여주고, 발광다이오드의 수명을 길게 해주며, 결함 발생 확률도 낮추어줄 수 있도록 하는 화소 구조를 갖는 유기전계발광 표시장치(10, 260)를 제공하는 데 있다. Also, according to the present invention, there is provided an organic light emitting display device (10, 260) having a pixel structure for increasing the aperture ratio, lengthening the lifetime of the light emitting diode, and lowering the probability of occurrence of defects.

또한, 본 발명에 의하면, 화소 구조가 대칭이 되도록 설계하여 간단하고 컴팩트(Compact) 한 패널 구조를 갖는 유기전계발광 표시장치(10, 260)를 제공하는 효과가 있다. Further, according to the present invention, it is possible to provide an organic light emitting display device (10, 260) having a simple and compact panel structure by designing the pixel structure to be symmetrical.

또한, 본 발명에 의하면, 화소 간의 휘도 편차를 보상해주기 위한 효율적인 센싱 및 보상 기능을 제공함에 있어서, 간단하고 컴팩트 한 화소 구조에 맞는 센싱 및 보상 기능을 갖는 유기전계발광 표시장치(10, 260)와 그 구동 방법을 제공하는 효과가 있다. According to the present invention, an organic light emitting display device (10, 260) having a sensing and compensating function suitable for a simple and compact pixel structure is provided in order to provide an efficient sensing and compensation function for compensating a luminance deviation between pixels There is an effect of providing the driving method thereof.

이러한 점들로 인해, 양질의 패널(11, 261)을 높은 수율로 제조할 수 있다. Due to these points, it is possible to manufacture the high-quality panels 11 and 261 with high yield.

이러한 점들은 고해상도 및 대면적의 패널(11, 261)에 적용될 경우, 더욱 큰 효과가 될 것이다.These points will be even more effective when applied to panels 11 and 261 of high resolution and large area.

이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the inventions. , Separation, substitution, and alteration of the invention will be apparent to those skilled in the art. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents should be construed as falling within the scope of the present invention.

10, 260: 유기전계발광 표시장치
11, 261: 표시패널
12, 262: 데이터 구동부
13, 263, 264: 게이트 구동부
14, 265: 타이밍 컨트롤러
DT: 구동 트랜지스터
T1: 제1 트랜지스터
T2: 제2 트랜지스터
DL: 데이터 라인
GL, GL1, GL2: 게이트 라인
DVL: 구동전압 라인
RVL: 기준전압 라인
10, 260: organic electroluminescence display device
11, 261: display panel
12, 262:
13, 263, 264: Gate driver
14, 265: Timing controller
DT: driving transistor
T1: first transistor
T2: second transistor
DL: Data line
GL, GL1, GL2: gate line
DVL: drive voltage line
RVL: Reference voltage line

Claims (59)

데이터 라인과 게이트 라인의 교차 영역마다 배치되는 다수의 화소를 포함하는 표시패널;
상기 데이터 라인을 통해 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부;
상기 게이트 라인을 통해 스캔신호를 공급하는 게이트 구동부; 및
상기 데이터 구동부 및 상기 게이트 구동부의 구동 타이밍을 제어하는 타이밍 컨트롤러를 포함하되,
상기 다수의 화소 각각은,
유기발광다이오드와, 상기 유기발광다이오드를 구동하기 위한 구동 트랜지스터와, 상기 스캔신호에 의해 제어되며 기준전압 라인 또는 상기 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴과 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 사이에 연결되는 제1 트랜지스터와, 상기 게이트 라인에서 공통으로 공급되는 상기 스캔신호에 의해 제어되며 상기 데이터 라인과 상기 구동 트랜지스터의 제2노드 사이에 연결되는 제2 트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 제2노드 사이에 연결되는 캐패시터를 포함하는 유기전계발광 표시장치.
A display panel including a plurality of pixels arranged at intersecting regions of the data line and the gate line;
A data driver for supplying a data voltage through the data line;
A gate driver for supplying a scan signal through the gate line; And
And a timing controller for controlling driving timings of the data driver and the gate driver,
Wherein each of the plurality of pixels comprises:
A driving transistor connected between the first node of the driving transistor and a connection pattern connected to the reference voltage line or the reference voltage line, the driving transistor being controlled by the scan signal, the organic light emitting diode, A second transistor coupled between the data line and a second node of the driving transistor, the second transistor being controlled by the scan signal supplied in common to the gate line, and a second transistor coupled between the first node and the second node of the driving transistor, And a capacitor connected between the first electrode and the second electrode.
제1항에 있어서,
상기 표시패널에는 상기 데이터 라인과 평행하게 상기 기준전압 라인이 형성되되, 기준전압 라인 개수는 데이터 라인 개수와 동일하거나 데이터 라인 개수보다 적은 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein the reference voltage line is formed on the display panel in parallel with the data line, and the number of reference voltage lines is equal to or less than the number of data lines.
제2항에 있어서,
상기 기준전압 라인 개수는,
상기 데이터 라인 개수의 1/4인 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
3. The method of claim 2,
The number of reference voltage lines may be,
And the number of the data lines is 1/4 of the number of the data lines.
제3항에 있어서,
상기 기준전압 라인은,
4n-2 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역과 4n-1 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역 사이에 형성되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
The method of claim 3,
The reference voltage line may include:
And between the pixel region connected to the (4n-2) th data line and the pixel region connected to the (4n-1) th data line.
제4항에 있어서,
4n-2 번째 데이터 라인에 연결된 화소 및 4n-1 번째 데이터 라인에 연결된 화소 각각에 포함된 제1 트랜지스터는 상기 기준전압 라인에 직접 연결되고,
4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소 및 4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소 각각에 포함된 제1 트랜지스터는 상기 기준전압 라인과 연결된 연결패턴에 연결되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
5. The method of claim 4,
The first transistor included in each of the pixels coupled to the (4n-2) th data line and the (4n-1) th data line is directly connected to the reference voltage line,
And the first transistor included in each of the pixels connected to the (4n-3) th data line and the pixel connected to the (4n) th data line is connected to the connection pattern connected to the reference voltage line.
제1항에 있어서,
상기 표시패널에는 상기 다수의 화소 각각에 포함된 상기 구동 트랜지스터의 제3노드로 구동전압을 공급하기 위한 구동전압 라인이 상기 데이터 라인과 평행하게 형성되되, 구동전압 라인 개수는 데이터 라인 개수와 동일하거나 적은 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
The method according to claim 1,
Wherein a driving voltage line for supplying a driving voltage to a third node of the driving transistor included in each of the plurality of pixels is formed in parallel with the data line, the number of driving voltage lines being equal to the number of data lines Wherein the organic electroluminescent display device comprises:
제6항에 있어서,
상기 구동전압 라인 개수는,
상기 데이터 라인 개수의 1/2 또는 1/4인 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
The method according to claim 6,
The number of the driving voltage lines may be,
And the number of the data lines is 1/2 or 1/4 of the number of the data lines.
제6항에 있어서,
상기 구동전압 라인 개수가 상기 데이터 라인 개수의 1/4인 경우,
4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 좌측과 4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 우측 각각에 상기 구동전압 라인이 형성되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
The method according to claim 6,
When the number of the driving voltage lines is 1/4 of the number of the data lines,
And the driving voltage line is formed on the left side of the pixel region connected to the (4n-3) th data line and the right side of the pixel region connected to the (4n) th data line.
제8항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 좌측에 형성된 구동전압 라인에 직접 연결되고,
4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 우측에 형성된 구동전압 라인에 직접 연결되며,
4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 좌측에 형성된 구동전압 라인과 연결된 연결패턴에 연결되며,
4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 우측에 형성된 구동전압 라인과 연결된 연결패턴에 연결되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
9. The method of claim 8,
The driving transistor included in the pixel connected to the (4n-3) th data line is directly connected to the driving voltage line formed on the left of the pixel region connected to the (4n-3) th data line,
The driving transistor included in the pixel connected to the 4n-th data line is directly connected to the driving voltage line formed on the right side of the area of the pixel connected to the 4n-th data line,
The driving transistor included in the pixel connected to the (4n-2) th data line is connected to the connection pattern connected to the driving voltage line formed on the left of the pixel region connected to the (4n-3)
And the driving transistor included in the pixel connected to the (4n-1) th data line is connected to a connection pattern connected to the driving voltage line formed on the right side of the pixel region connected to the (4n) th data line.
제1항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인과 4n-1 번째 데이터 라인 각각은 연결된 화소의 영역의 우측에 형성되고, 4n-2 번째 데이터 라인과 4n 번째 데이터 라인 각각은 연결된 화소의 영역의 좌측에 형성되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
The method according to claim 1,
The 4n-3th data line and the 4n-1th data line are formed on the right side of the connected pixel region, and the 4n-2th data line and the 4nth data line are formed on the left side of the connected pixel region, And the organic electroluminescent display device.
제1항에 있어서,
상기 표시 패널은,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조가 서로 대칭이 되고, 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조가 서로 대칭이 되는 1차 대칭 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
The method according to claim 1,
In the display panel,
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-3) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n-2) th data line are symmetrical to each other, and the pixel structure of the pixel connected to the Wherein the pixel structure of the pixel has a first-order symmetry structure symmetrical to each other.
제11항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 4n-3 번째 데이터 라인과 4n-2 번째 데이터 라인 사이의 가상의 대칭선을 기준으로 서로 대칭이 되고,
4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 4n-1 번째 데이터 라인과 4n 번째 데이터 라인 사이의 가상의 대칭선을 기준으로 서로 대칭이 되는 대칭 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
12. The method of claim 11,
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-3) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n-2) th data line are symmetrical with respect to the imaginary symmetry line between the (4n- Lt; / RTI &
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-1) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n) th data line are symmetric with respect to each other with respect to a virtual symmetry line between the (4n- And an organic light emitting diode (OLED).
제11항에 있어서,
상기 표시 패널은,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조가 서로 대칭이 되고, 4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조가 서로 대칭이 되는 2차 대칭 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
12. The method of claim 11,
In the display panel,
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-3) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n) th data line are symmetrical to each other, and the pixel structure of the pixel connected to the Wherein the pixel structure of the pixel is symmetric with respect to the pixel structure of the pixel.
제13항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 상기 기준전압 라인을 기준으로 서로 대칭이 되고,
4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 상기 기준전압 라인을 기준으로 서로 대칭이 되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
14. The method of claim 13,
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-3) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n) th data line are symmetrical with respect to the reference voltage line,
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-2) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n-1) th data line are symmetrical with respect to the reference voltage line.
제11항에 있어서,
상기 화소 구조는,
해당 화소의 트랜지스터 형성 위치, 캐패시터 형성 위치 및 유기발광다이오드 형성 위치인 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
12. The method of claim 11,
The pixel structure includes:
A capacitor formation position, and an organic light emitting diode formation position of the pixel.
제1항에 있어서,
상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압을 센싱하는 센싱부를 더 포함하는 유기전계발광 표시장치.
The method according to claim 1,
And a sensing unit sensing a voltage of a first node of the driving transistor.
제16항에 있어서,
상기 센싱부는,
상기 센싱된 전압을 디지털 값으로 변환하는 아날로그 디지털 변환부; 및
기준전압이 공급되는 기준전압 공급 노드와 상기 아날로그 디지털 변환부에 연결된 센싱 노드 중 하나가 상기 기준전압 라인과 연결되도록 스위칭하는 제1 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
17. The method of claim 16,
The sensing unit includes:
An analog-digital converter for converting the sensed voltage into a digital value; And
And a first switch for switching one of a reference voltage supply node to which a reference voltage is supplied and a sensing node connected to the analog-digital conversion section to be connected to the reference voltage line.
제16항에 있어서,
상기 센싱부는,
데이터 라인 개수 또는 기준전압 라인 개수만큼 포함되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
17. The method of claim 16,
The sensing unit includes:
The number of data lines or the number of reference voltage lines.
제16항에 있어서,
상기 타이밍 컨트롤러는,
상기 기준전압 라인이 기준전압 공급 노드와 연결되도록 온(ON) 되거나 상기 기준전압 라인이 상기 센싱 노드와 연결되도록 오프(OFF) 되게 스위칭하는 제1 스위치와,
상기 데이터 구동부의 데이터 전압 출력 지점이 데이터 라인과 연결되어 온(ON) 되거나, 데이터 라인과 플로팅 되어 오프(OFF) 되게 스위칭하는 제2 스위치에 대한 스위칭 동작을 제어하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
17. The method of claim 16,
The timing controller includes:
A first switch for turning on the reference voltage line to be connected to the reference voltage supply node or turning off the reference voltage line to be connected to the sensing node,
And a switching operation for a second switch for switching a data voltage output point of the data driver to be connected to the data line or to be turned off by floating the data line, Device.
제19항에 있어서,
상기 타이밍 컨트롤러는,
4n-3 번째 데이터 라인, 4n-2 번째 데이터 라인, 4n-1 번째 데이터 라인 및 4n 번째 데이터 라인 각각에 연결된 제2 스위치 중에서 동일 시점에 하나만 온이 되도록 제어하거나,
4n-3 번째 데이터 라인, 4n-2 번째 데이터 라인, 4n-1 번째 데이터 라인 및 4n 번째 데이터 라인 각각에 연결된 제2 스위치를 모두 온 시키되, 4n-3 번째 데이터 라인, 4n-2 번째 데이터 라인, 4n-1 번째 데이터 라인 및 4n 번째 데이터 라인 각각에 연결된 제2 스위치를 통해 각각 입력되는 전압을 다르게 제어함으로써,
상기 센싱부에 의해 상기 구동 트랜지스터의 제1노드에서의 변화된 전압을 센싱하기 위한 화소가 되도록 제어하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
20. The method of claim 19,
The timing controller includes:
One of the second switches connected to the (4n-3) th data line, the (4n-2) th data line, the (4n-1) th data line and the 4nth data line,
Th data line, the (4n-3) th data line, the (4n-2) th data line, the (4n-1) th data line and the The voltages inputted through the second switches connected to the (4n-1) -th data line and the (4n-1) -th data line are controlled differently,
And controls the sensing unit to be a pixel for sensing a changed voltage at the first node of the driving transistor.
제19항에 있어서,
상기 타이밍 컨트롤러는,
상기 제1 스위치 및 상기 제2 스위치의 스위칭 동작과 상기 스캔신호의 파형을 제어하여, 상기 제2 스위치에 의해 데이터 전압의 공급이 가능한 화소가 구동 모드 및 센싱 모드 중 하나의 동작 모드로 동작하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
20. The method of claim 19,
The timing controller includes:
And controlling the switching operation of the first switch and the second switch and the waveform of the scan signal so that the pixel capable of supplying the data voltage by the second switch operates in one of the driving mode and the sensing mode The organic light emitting display device comprising:
제21항에 있어서,
상기 타이밍 컨트롤러는,
상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터가 턴 온 되도록 하는 상기 스캔신호가 일정 시간 동안 공급되고, 상기 제1 스위치 및 상기 제2 스위치가 항상 온(ON)이 되도록 제어하여, 상기 제2 스위치에 의해 데이터 전압의 공급이 가능한 화소가 상기 구동 모드로 동작하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
22. The method of claim 21,
The timing controller includes:
The scan signal for turning on the first transistor and the second transistor is supplied for a predetermined time and the first switch and the second switch are controlled to be always on, And controls the pixel capable of supplying the data voltage to operate in the driving mode.
제22항에 있어서,
상기 게이트 구동부는,
상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터가 턴 온 되도록 하는 상기 스캔신호를 1 수평 시간 이상 공급하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
23. The method of claim 22,
Wherein the gate driver comprises:
And the scan signal for turning on the first transistor and the second transistor is supplied for at least one horizontal time.
제22항에 있어서,
상기 게이트 구동부는,
상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터가 턴 온 되도록 상기 스캔신호를 데이터 전압 공급 시점보다 앞서 공급하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
23. The method of claim 22,
Wherein the gate driver comprises:
And supplies the scan signal before the data voltage supply time so that the first transistor and the second transistor are turned on.
제21항에 있어서,
상기 타이밍 컨트롤러는,
상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터가 턴 온 되도록 하는 상기 스캔신호가 일정 시간 공급되는 동안, 상기 제1 스위치 및 상기 제2 스위치가 온 되어 있다가 상기 제1 스위치만 오프 되도록 제어함으로써, 상기 제2 스위치에 의해 데이터 전압의 공급이 가능한 화소가 상기 센싱 모드 중 S-센싱 모드로 동작하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
22. The method of claim 21,
The timing controller includes:
The first switch and the second switch are turned on while only the first switch is turned off while the scan signal for turning on the first transistor and the second transistor is supplied for a predetermined time, And the second switch controls the pixel capable of supplying the data voltage to operate in the S-sensing mode during the sensing mode.
제25항에 있어서,
상기 센싱부는,
상기 제1 스위치만 오프가 된 시점부터 상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터가 턴 온 되도록 하는 상기 스캔신호의 공급이 끝나는 시점까지를 S-센싱 타임으로 하여, 상기 S-센싱 타임 사이에 상기 구동 트랜지스터의 제1노드에서의 변화된 전압을 센싱하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
26. The method of claim 25,
The sensing unit includes:
Sensing time until a supply of the scan signal to turn on the first transistor and the second transistor is turned on from the time when only the first switch is turned off, And sensing a changed voltage at a first node of the transistor.
제21항에 있어서,
상기 타이밍 컨트롤러는,
상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터가 턴 온 되도록 하는 상기 스캔신호가 일정 시간 공급되는 동안, 상기 제1 스위치 및 상기 제2 스위치가 온 되어 있다가 모두 오프 되거나 상기 제1 스위치만 오프 되도록 제어함으로써, 상기 제2 스위치에 의해 데이터 전압의 공급이 가능한 화소가 상기 센싱 모드 중 F-센싱 모드로 동작하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
22. The method of claim 21,
The timing controller includes:
While the scan signal for turning on the first transistor and the second transistor is supplied for a predetermined time, the first switch and the second switch are turned on and all are turned off or only the first switch is turned off And a pixel capable of supplying a data voltage by the second switch operates in the F-sensing mode during the sensing mode.
제27항에 있어서,
상기 제1 스위칭 및 상기 제2 스위칭 모두 오프 된 경우, 상기 구동 트랜지스터의 제2노드의 전압이 일정하게 유지되도록 하는 캐패시터가 상기 데이터 라인에 연결 또는 형성된 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
28. The method of claim 27,
Wherein a capacitor is connected to or formed on the data line so that a voltage of a second node of the driving transistor is kept constant when both the first switching and the second switching are off.
제27항에 있어서,
상기 센싱부는,
상기 제1 스위치 및 상기 제2 스위치가 모두 오프가 된 시점 또는 상기 제1스위치만 오프 된 시점부터 상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터가 턴 온 되도록 하는 상기 스캔신호가 공급되는 시점까지를 F-센싱 타임으로 하여, 상기 F-센싱 타임 사이에 상기 구동 트랜지스터의 제1노드에서의 변화된 전압을 센싱하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
28. The method of claim 27,
The sensing unit includes:
The first transistor and the second transistor are turned on from the time point when the first switch and the second switch are both turned off or the time when the first switch is turned off to the time when the scan signal is supplied, And sensing the changed voltage at the first node of the driving transistor during the F-sensing time as the sensing time.
제16항에 있어서,
상기 센싱된 전압을 토대로 상기 구동 트랜지스터의 특성정보를 보상하는 데이터 변환 처리를 수행하는 보상부; 및
상기 센싱된 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 특성정보를 저장하는 메모리를 더 포함하는 유기전계발광 표시장치.
17. The method of claim 16,
A compensation unit for performing data conversion processing for compensating characteristic information of the driving transistor based on the sensed voltage; And
And a memory for storing the sensed voltage or characteristic information of the driving transistor.
제30항에 있어서,
상기 보상부는,
상기 타이밍 컨트롤러의 내부에 포함되거나, 상기 데이터 구동부의 내부에 포함되거나, 상기 타이밍 컨트롤러와 상기 데이터 구동부의 외부에 포함되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
31. The method of claim 30,
Wherein the compensation unit comprises:
Wherein the timing controller is included in the timing controller, is included in the data driver, or is included outside the timing controller and the data driver.
제31항에 있어서,
상기 보상부는,
상기 타이밍 컨트롤러의 내부에 포함된 경우, 외부에서 공급된 데이터를 상기 구동 트랜지스터의 특성정보에 기초하여 보상 데이터로 변환하여 상기 데이터 구동부로 공급하고,
상기 데이터 구동부의 내부에 포함된 경우, 상기 구동 트랜지스터의 특성정보에 기초하여, 상기 타이밍 컨트롤러에서 공급된 데이터를 아날로그로 변환하기 이전 또는 이후에 보상 데이터로 변환하고,
상기 타이밍 컨트롤러와 상기 데이터 구동부의 외부에 포함된 경우, 상기 타이밍 컨트롤러에서 공급된 데이터를 상기 구동 트랜지스터의 특성정보에 기초하여 보상 데이터로 변환하여 상기 데이터 구동부로 공급하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
32. The method of claim 31,
Wherein the compensation unit comprises:
And supplies the data supplied from the outside to the data driver in the case of being included in the timing controller, into the compensation data based on the characteristic information of the driving transistor,
The data supplied from the timing controller is converted into compensation data before or after conversion to analog based on the characteristic information of the driving transistor when included in the data driver,
And supplies the data supplied from the timing controller to the data driver when the data is included outside the timing controller and the data driver, Device.
일 방향으로 형성되는 데이터 라인;
상기 데이터 라인과 교차하는 타 방향으로 형성되는 게이트 라인; 및
상기 데이터 라인과 상기 게이트 라인이 교차하여 정의되는 다수의 화소를 포함하되,
상기 다수의 화소 각각은,
유기발광다이오드와, 상기 유기 발광다이오드를 구동하기 위한 구동 트랜지스터와, 상기 게이트 라인을 통해 공급된 스캔신호에 의해 제어되며 기준전압 라인 또는 상기 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴과 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 사이에 연결되는 제1 트랜지스터와, 상기 게이트 라인을 통해 공통으로 공급된 상기 스캔신호에 의해 제어되며 상기 데이터 라인과 상기 구동 트랜지스터의 제2노드 사이에 연결되는 제2 트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 제2노드 사이에 연결되는 캐패시터를 포함하는 유기전계발광 표시패널.
A data line formed in one direction;
A gate line formed in the other direction crossing the data line; And
And a plurality of pixels defined by intersecting the data line and the gate line,
Wherein each of the plurality of pixels comprises:
A driving transistor for driving the organic light emitting diode; a connection pattern which is controlled by a scan signal supplied through the gate line and is connected to a reference voltage line or the reference voltage line; A second transistor connected between the data line and a second node of the driving transistor, the second transistor being controlled by the scan signal supplied in common through the gate line, And a capacitor connected between the first node and the second node.
일 방향으로 형성되는 다수의 데이터 라인;
상기 다수의 데이터 라인과 교차하는 타 방향으로 형성되는 다수의 게이트 라인; 및
상기 다수의 데이터 라인 및 상기 다수의 게이트 라인과 연결되는 다수의 화소를 포함하되,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 서로 대칭이 되고, 4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 서로 대칭이 되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
A plurality of data lines formed in one direction;
A plurality of gate lines formed in the other direction crossing the plurality of data lines; And
A plurality of data lines and a plurality of pixels connected to the plurality of gate lines,
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-3) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n) th data line are symmetrical with each other. And the pixel structures of the pixels are symmetrical to each other.
제34항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소, 4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소, 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소 및 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소에 제1 전압을 공급하기 위한 제1 전압 라인이 상기 일 방향으로 형성되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
35. The method of claim 34,
A first voltage line for supplying a first voltage to a pixel connected to the (4n-3) th data line, a pixel connected to the (4n-2) th data line, a pixel connected to the Wherein the first electrode is formed in one direction.
제35항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 상기 제1 전압 라인을 기준으로 서로 대칭이 되고,
4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 상기 제1 전압 라인을 서로 대칭이 되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
36. The method of claim 35,
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-3) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n) th data line are symmetrical with respect to the first voltage line,
And a pixel structure of a pixel coupled to a (4n-2) th data line and a pixel structure of a pixel connected to a (4n-1) th data line are symmetrical with respect to the first voltage line.
제36항에 있어서,
4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소 및 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소 각각에 포함된 제1 트랜지스터는 상기 제1 전압 라인에 직접 연결되어 제1 전압을 공급받고,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소 및 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소 각각에 포함된 제1 트랜지스터는 상기 제1 전압 라인과 연결된 연결패턴에 연결되어 제1 전압을 공급받는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
37. The method of claim 36,
The first transistor included in each of the pixels connected to the (4n-2) th data line and the pixel connected to the (4n-1) th data line is directly connected to the first voltage line,
The first transistor included in each of the pixels connected to the (4n-3) th data line and the pixel connected to the (4n) th data line is connected to the connection pattern connected to the first voltage line and is supplied with the first voltage. Display device.
제34항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 서로 대칭이 되고,
4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 서로 대칭이 되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
35. The method of claim 34,
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-3) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n-2) th data line are symmetrical to each other,
And the pixel structure of the pixel connected to the (4n-1) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n) th data line are symmetrical to each other.
제38항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 4n-3 번째 데이터 라인과 4n-2 번째 데이터 라인 사이의 가상의 대칭선을 기준으로 서로 대칭이 되고,
4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 4n-1 번째 데이터 라인과 4n 번째 데이터 라인 사이의 가상의 대칭선을 기준으로 서로 대칭이 되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
39. The method of claim 38,
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-3) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n-2) th data line are symmetrical with respect to the imaginary symmetry line between the (4n- Lt; / RTI &
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-1) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n) th data line are symmetrical with respect to the imaginary symmetry line between the (4n-1) th data line and the The organic electroluminescent display device comprising:
제34항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 영역의 좌측과 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 영역의 우측 각각에 제2 전압을 공급하기 위한 제2 전압 라인이 상기 일 방향으로 형성되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
35. The method of claim 34,
A second voltage line for supplying a second voltage to each of the left side of the pixel region connected to the (4n-3) th data line and the right side of the pixel region connected to the (4n) th data line is formed in the one direction. An electroluminescent display device.
제40항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 좌측에 형성된 제2 전압 라인에 직접 연결되어 제2 전압을 공급받고,
4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 우측에 형성된 제2 전압 라인에 직접 연결되어 제2 전압을 공급받으며,
4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 좌측에 형성된 제2 전압 라인과 연결된 연결패턴에 연결되어 제2 전압을 공급받고,
4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 우측에 형성된 제2 전압 라인과 연결된 연결패턴에 연결되어 제2 전압을 공급받는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
41. The method of claim 40,
The driving transistor included in the pixel connected to the (4n-3) th data line is directly connected to the second voltage line formed on the left of the pixel region connected to the (4n-3) th data line,
The driving transistor included in the pixel connected to the 4n-th data line is directly connected to the second voltage line formed on the right side of the region of the pixel connected to the 4n-th data line to receive the second voltage,
The driving transistor included in the pixel connected to the (4n-2) th data line is connected to the connection pattern connected to the second voltage line formed on the left of the pixel region connected to the (4n-3) th data line,
The driving transistor included in the pixel connected to the (4n-1) th data line is connected to the connection pattern connected to the second voltage line formed on the right side of the pixel region connected to the (4n) th data line to receive the second voltage. An electroluminescent display device.
제34항에 있어서,
상기 화소 구조는,
해당 화소의 트랜지스터 형성 위치 및 캐패시터 형성 위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
35. The method of claim 34,
The pixel structure includes:
And a transistor forming position and a capacitor forming position of the corresponding pixel.
제42항에 있어서,
상기 화소 구조는,
해당 화소의 유기발광다이오드 형성 위치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
43. The method of claim 42,
The pixel structure includes:
Further comprising an organic light emitting diode forming position of the corresponding pixel.
구동 트랜지스터 및 유기발광다이오드가 포함된 화소를 포함하고, 상기 화소와 연결되는 데이터 라인이 형성된 표시패널을 포함하는 유기전계발광 표시장치의 구동 방법에 있어서,
기준전압 라인 또는 상기 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴과 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 사이를 연결하는 제1 트랜지스터와 상기 데이터 라인 및 상기 구동 트랜지스터의 제2노드 사이를 연결하는 제2 트랜지스터에 스캔신호를 공통으로 공급하고, 상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터를 통해 기준전압 및 데이터 전압을 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 및 제2노드에 각각 공급하는 단계; 및
상기 화소가 구동 모드 및 센싱 모드 중 하나의 동작 모드로 동작하도록, 상기 기준전압, 상기 데이터 전압 및 상기 스캔신호 중 하나 이상에 대한 공급을 제어하는 단계를 포함하는 유기전계발광 표시장치의 구동방법.
A method of driving an organic light emitting display device including a display panel including a pixel including a driving transistor and an organic light emitting diode and having a data line connected to the pixel,
To a reference voltage line or a connection pattern connected to the reference voltage line and a first node of the driving transistor and a second transistor which connects between the data line and a second node of the driving transistor, Supplying a reference voltage and a data voltage to the first node and the second node of the driving transistor through the first transistor and the second transistor, respectively; And
And controlling supply of at least one of the reference voltage, the data voltage, and the scan signal so that the pixel operates in one of an operation mode and a sensing mode.
제44항에 있어서,
상기 제어하는 단계에서, 상기 스캔신호의 레벨을 제1 레벨에서 제2 레벨로 바꾸어 상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터를 턴 온 시켜 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 및 제2노드에 기준전압 및 데이터 전압이 각각 인가되도록 하고, 이후, 상기 스캔신호의 레벨을 다시 제1 레벨로 바꿈으로써, 상기 구동 트랜지스터에 의해 상기 유기발광다이오드를 구동하는 구동 단계를 더 포함하거나,
상기 제어하는 단계에서, 상기 스캔신호의 레벨을 제1 레벨에서 제2 레벨로 바꾸어 상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터를 턴 온 시켜 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 및 제2노드에 기준전압 및 데이터 전압이 각각 인가되도록 하고, 이후, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드에 인가된 기준전압만을 플로팅(Floating) 시킴으로써 상기 구동 트랜지스터의 제1노드에서 변화된 전압을 센싱하는 S-센싱 단계를 더 포함하거나,
상기 제어하는 단계에서, 상기 스캔신호의 레벨을 바꾸어 상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터를 턴 온 시켜 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 및 제2노드에 기준전압 및 데이터 전압이 각각 인가되도록 하고, 이후, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 및 제2노드에 기준전압 및 데이터 전압을 모두 플로팅(Floating) 시키거나 기준전압만을 플로팅시킴으로써 상기 구동 트랜지스터의 제1노드에서 변화된 전압을 센싱하는 F-센싱 단계를 더 포함하는 유기전계발광 표시장치의 구동방법.
45. The method of claim 44,
Wherein the control signal turns the level of the scan signal from a first level to a second level to turn on the first transistor and the second transistor so that the first node and the second node of the driving transistor receive the reference voltage and data And driving the organic light emitting diode by the driving transistor by changing the level of the scan signal to a first level,
Wherein the control signal turns the level of the scan signal from a first level to a second level to turn on the first transistor and the second transistor so that the first node and the second node of the driving transistor receive the reference voltage and data Further comprising an S-sensing step of sensing a voltage changed at a first node of the driving transistor by allowing only a reference voltage applied to a first node of the driving transistor to float,
In the controlling step, the level of the scan signal is changed to turn on the first transistor and the second transistor so that the reference voltage and the data voltage are respectively applied to the first node and the second node of the driving transistor, Sensing the changed voltage at the first node of the driving transistor by floating both the reference voltage and the data voltage at the first node and the second node of the driving transistor or by floating only the reference voltage And a driving method of the organic light emitting display device.
제45항에 있어서,
상기 S-센싱 단계에서는, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드에 인가된 기준전압만을 플로팅시킨 시점부터 상기 스캔신호의 레벨이 제1 레벨로 다시 바뀔 때까지의 시간을 S-센싱 타임으로 하여 상기 구동 트랜지스터의 제1노드에서 변화된 전압을 센싱하고,
상기 F-센싱 단계에서는, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 및 제2노드에 기준전압 및 데이터 전압을 모두 플로팅시키거나 기준전압만을 플로팅시킨 시점부터 상기 스캔신호의 레벨이 제1 레벨로 다시 바뀔 때까지의 시간을 F-센싱 타임으로 하여 상기 구동 트랜지스터의 제1노드에서 변화된 전압을 센싱하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치의 구동방법.
46. The method of claim 45,
In the S-sensing step, the time from when only the reference voltage applied to the first node of the driving transistor is floated to when the level of the scan signal is changed back to the first level is S- Sensing a changed voltage at a first node of the first node,
In the F-sensing step, the reference voltage and the data voltage are both floated to the first node and the second node of the driving transistor, or until the level of the scanning signal is changed back to the first level Sensing the changed voltage at the first node of the driving transistor by using the F-sensing time.
제46항에 있어서,
상기 S-센싱 타임은 상기 F-센싱 타임보다 긴 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치의 구동방법.
47. The method of claim 46,
Wherein the S-sensing time is longer than the F-sensing time.
제45항에 있어서,
상기 S-센싱 단계는 상기 유기전계발광 표시장치의 출하 이전에만 동작하는 동작하는 단계이고, 상기 F-센싱 단계는 상기 유기전계발광 표시장치의 출하 이전 및 이후에 모두 동작하는 단계인 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치의 구동방법.
46. The method of claim 45,
Wherein the S-sensing step is a step of operating only before shipment of the organic light emitting display device, and the F-sensing step is a step of operating both before and after shipment of the organic light emitting display device. A method of driving an organic electroluminescent display device.
제45항에 있어서,
상기 S-센싱 단계 또는 상기 F-센싱 단계 이후,
상기 센싱된 전압을 토대로 상기 구동 트랜지스터의 문턱전압 및 이동도 중 하나 이상을 보상하는 보상 단계를 더 포함하는 유기전계발광 표시장치의 구동방법.
46. The method of claim 45,
After the S-sensing step or the F-sensing step,
And compensating at least one of a threshold voltage and a mobility of the driving transistor based on the sensed voltage.
일 방향으로 형성된 데이터 라인을 구동하는 데이터 구동부;
상기 데이터 라인과 교차하는 타 방향으로 형성된 제1 게이트 라인을 통해 제1 스캔신호를 공급하는 제1 게이트 구동부;
상기 제1 게이트 라인과 평행하게 형성된 제2 게이트 라인을 통해 제2 스캔신호를 공급하는 제2 게이트 구동부;
상기 데이터 구동부, 상기 제1 게이트 구동부 및 제2 게이트 구동부의 구동 타이밍을 제어하는 타이밍 컨트롤러; 및
상기 데이터 라인, 상기 제1 게이트 라인 및 상기 제2 게이트 라인과 연결되는 다수의 화소를 포함하는 표시패널을 포함하되,
상기 다수의 화소 각각은,
유기발광다이오드와, 상기 유기 발광다이오드를 구동하기 위한 구동 트랜지스터와, 상기 제1 스캔신호에 의해 제어되며 기준전압 라인 또는 상기 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴과 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 사이에 연결되는 제1 트랜지스터와, 상기 제2 스캔신호에 의해 제어되며 상기 데이터 라인과 상기 구동 트랜지스터의 제2노드 사이에 연결되는 제2 트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 제2노드 사이에 연결되는 캐패시터를 포함하는 유기전계발광 표시장치.
A data driver driving a data line formed in one direction;
A first gate driver for supplying a first scan signal through a first gate line formed in the other direction crossing the data line;
A second gate driver for supplying a second scan signal through a second gate line formed in parallel with the first gate line;
A timing controller for controlling the driving timings of the data driver, the first gate driver, and the second gate driver; And
And a display panel including a plurality of pixels connected to the data line, the first gate line, and the second gate line,
Wherein each of the plurality of pixels comprises:
A driving transistor connected between the first node of the driving transistor and a connection pattern which is controlled by the first scan signal and is connected to the reference voltage line or the reference voltage line, A second transistor coupled between the data line and a second node of the driving transistor, the second transistor being controlled by the second scan signal and coupled between a first node and a second node of the driving transistor; Wherein the organic electroluminescent display device comprises a capacitor.
일 방향으로 형성된 데이터 라인;
상기 데이터 라인과 교차하는 타 방향으로 형성된 제1 게이트 라인;
상기 1 게이트 라인과 평행하게 형성된 제2 게이트 라인;
상기 데이터 라인, 상기 제1 게이트 라인 및 상기 제2 게이트 라인과 연결된 다수의 화소를 포함하되,
상기 다수의 화소 각각은,
유기발광다이오드와, 상기 유기 발광다이오드를 구동하기 위한 구동 트랜지스터와, 상기 제1 게이트 라인에서 공급된 제1 스캔신호에 의해 제어되며 기준전압 라인 또는 상기 기준전압 라인에 연결되는 연결패턴과 상기 구동 트랜지스터의 제1노드 사이에 연결되는 제1 트랜지스터와, 상기 제2 게이트 라인에서 공급된 제2 스캔신호에 의해 제어되며 상기 데이터 라인과 상기 구동 트랜지스터의 제2노드 사이에 연결되는 제2 트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 제2노드 사이에 연결되는 캐패시터를 포함하는 유기전계발광 표시패널.
A data line formed in one direction;
A first gate line formed in the other direction crossing the data line;
A second gate line formed in parallel with the one gate line;
A plurality of pixels coupled to the data line, the first gate line, and the second gate line,
Wherein each of the plurality of pixels comprises:
A driving transistor for driving the organic light emitting diode; a connection pattern which is controlled by a first scan signal supplied from the first gate line and is connected to a reference voltage line or the reference voltage line; A second transistor coupled between the data line and a second node of the driving transistor, the second transistor being controlled by a second scan signal supplied from the second gate line, And a capacitor connected between the first node and the second node of the driving transistor.
일 방향으로 형성된 다수의 데이터 라인;
상기 다수의 데이터 라인과 교차하는 타 방향으로 형성된 다수의 제1 게이트 라인;
상기 다수의 제1 게이트 라인과 평행하게 형성된 다수의 제2 게이트 라인;
상기 다수의 데이터 라인, 상기 다수의 제1 게이트 라인 및 상기 다수의 제2 게이트 라인과 연결되는 다수의 화소를 포함하되,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n번째 데이터 라인과 연결되는 화소의 화소 구조는 서로 대칭이 되고, 4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 서로 대칭이 되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
A plurality of data lines formed in one direction;
A plurality of first gate lines formed in the other direction crossing the plurality of data lines;
A plurality of second gate lines formed in parallel with the plurality of first gate lines;
And a plurality of pixels coupled to the plurality of data lines, the plurality of first gate lines, and the plurality of second gate lines,
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-3) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n) th data line are symmetrical to each other, And the pixel structures of the connected pixels are symmetrical to each other.
제52항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소, 4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소, 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소 및 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소에 제1 전압을 공급하기 위한 제1 전압 라인이 상기 일 방향으로 형성되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
53. The method of claim 52,
A first voltage line for supplying a first voltage to a pixel connected to the (4n-3) th data line, a pixel connected to the (4n-2) th data line, a pixel connected to the Wherein the first electrode is formed in one direction.
제53항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 상기 제1 전압 라인을 기준으로 서로 대칭이 되고,
4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조와 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 화소 구조는 상기 제1 전압 라인을 서로 대칭이 되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
54. The method of claim 53,
The pixel structure of the pixel connected to the (4n-3) th data line and the pixel structure of the pixel connected to the (4n) th data line are symmetrical with respect to the first voltage line,
And a pixel structure of a pixel coupled to a (4n-2) th data line and a pixel structure of a pixel connected to a (4n-1) th data line are symmetrical with respect to the first voltage line.
제52항에 있어서,
4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소 및 4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소 각각에 포함된 제1 트랜지스터는 상기 제1 전압 라인에 직접 연결되어 제1 전압을 공급받고,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소 및 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소 각각에 포함된 제1 트랜지스터는 상기 제1 전압 라인과 연결된 연결패턴에 연결되어 제1 전압을 공급받는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
53. The method of claim 52,
The first transistor included in each of the pixels connected to the (4n-2) th data line and the pixel connected to the (4n-1) th data line is directly connected to the first voltage line,
The first transistor included in each of the pixels connected to the (4n-3) th data line and the pixel connected to the (4n) th data line is connected to the connection pattern connected to the first voltage line and is supplied with the first voltage. Display device.
제52항에 있어서,
4n-3 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 영역의 좌측과 4n 번째 데이터 라인과 연결된 화소의 영역의 우측 각각에 제2 전압을 공급하기 위한 제2 전압 라인이 상기 일 방향으로 형성되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
53. The method of claim 52,
A second voltage line for supplying a second voltage to each of the left side of the pixel region connected to the (4n-3) th data line and the right side of the pixel region connected to the (4n) th data line is formed in the one direction. An electroluminescent display device.
제56항에서,
4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 좌측에 형성된 제2 전압 라인에 직접 연결되어 제2 전압을 공급받고,
4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 우측에 형성된 제2 전압 라인에 직접 연결되어 제2 전압을 공급받으며,
4n-2 번째 데이터 라인과 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n-3 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 좌측에 형성된 제2 전압 라인과 연결된 연결패턴에 연결되어 제2 전압을 공급받고,
4n-1 번째 데이터 라인과 연결된 화소에 포함된 구동 트랜지스터는 4n 번째 데이터 라인에 연결된 화소의 영역의 우측에 형성된 제2 전압 라인과 연결된 연결패턴에 연결되어 제2 전압을 공급받는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
57. The method of claim 56,
The driving transistor included in the pixel connected to the (4n-3) th data line is directly connected to the second voltage line formed on the left of the pixel region connected to the (4n-3) th data line,
The driving transistor included in the pixel connected to the 4n-th data line is directly connected to the second voltage line formed on the right side of the region of the pixel connected to the 4n-th data line to receive the second voltage,
The driving transistor included in the pixel connected to the (4n-2) th data line is connected to the connection pattern connected to the second voltage line formed on the left of the pixel region connected to the (4n-3) th data line,
The driving transistor included in the pixel connected to the (4n-1) th data line is connected to the connection pattern connected to the second voltage line formed on the right side of the pixel region connected to the (4n) th data line to receive the second voltage. An electroluminescent display device.
제52항에 있어서,
상기 화소 구조는,
해당 화소의 트랜지스터 형성 위치 및 캐패시터 형성 위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
53. The method of claim 52,
The pixel structure includes:
And a transistor forming position and a capacitor forming position of the corresponding pixel.
제58항에서,
상기 화소 구조는,
해당 화소의 유기발광다이오드 형성 위치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
58. The method of claim 58,
The pixel structure includes:
Further comprising an organic light emitting diode forming position of the corresponding pixel.
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